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Boletn Tcnico

Abril 2010 No. 7

MEDICIN DE RUGOSIDAD
Los equipos para medicin de rugosidad lucen como es mostrado en la Figura 1, aunque tambin existen de tipo porttil. Sobre una base se coloca un dispositivo de nivelacin/sujecin/alineacin sobre el que se coloca la pieza a medir, un palpador con una punta cnica con un radio esfrico muy pequeo recorre una pequea distancia sobre la superficie a la que se desea medir la rugosidad el palpador es movido por el dispositivo de alimentacin que esta montado sobre una columna. Las caractersticas nominales del equipo de medicin de rugosidad estn representadas en la Figura 2. Estos equipos pueden transmitir los datos obtenidos a una PC para evaluar los parmetros de acuerdo con norma desde tres perfiles diferentes, el primario, el de rugosidad y el de ondulacin mediante filtrado.
Columna Dispositivo de alimentacin Ciclo de medicin Palpador Punta del palpador Pieza

Dispositivo

Base

Figura 1
Palpador Superficie de la pieza Punta del palpador Entrada/Salida
Unidad de transferencia de la seal del eje Z

Entrada/Salida

Medicin del perfil

Transductor

Amplificador

Convertidor A/D

Medicin del perfil cuantificado

Supresin del acabado nominal

Filtro del perfil

Perfil primario

Ciclo de medicin

Gua de referencia

Lnea de referencia

Evaluacin de parmetros de acuerdo con norma

Apariencia

Dispositivo de alimentacin

Figura 2

Unidad conductora

Forma de la punta Una forma tpica para el extremo de un palpador es cnica con una punta esfrica. Radio de la punta = 2 m, 5 m 10 m ngulo de la pendiente del cono: 60, 90 En medidores de rugosidad tpicos, el ngulo de la pendiente del cono del extremo de la punta es 60 a menos que otra cosa sea especificada.

Figura 3

Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V.


CONTENIDO Medicin de rugosidad Pgina 1 Verificacin geomtrica de producto sin contacto con equipo ptico y lser Pgina 9
Oficinas de servicio: Naucalpan: ingenieria@mitutoyo.com.mx Monterrey: m3scmty@mitutoyo.com.mx Aguascalientes: mitutoyoags@mitutoyo.com.mx Quertaro: mitutoyoqro@mitutoyo.com.mx Tijuana: Mitutoyotj@mitutoyo.com.mx
Colaboradores de este nmero Ing. Jos Ramn Zeleny Vzquez Ing. Hugo D. Labastida Jimnez Ing. Hctor Ceballos Contreras

Fuerza de medicin esttica Fuerza de medicin en la posicin media de un palpador: 0.75 mN Proporcin de variacin de la fuerza: 0 N/m Valor caracterstico estndar: Fuerza de medicin esttica en la posicin media de un palpador Radio de curvatura nominal de la punta del palpador m 2 5 Fuerza de medicin esttica en la posicin intermedia de la punta mN 0.75 0.75 (4.0)
Nota 1

Flujo del procesamiento de datos


Perfil de la superficie sobre la superficie real Definicin: Perfil que resulta de la interseccin de la superficie real y un plano rectangular a ella

Medicin Perfil medido


Definicin: Lugar geomtrico del centro de la punta del palpador que traza la superficie de la pieza

Tolerancia de la proporcin de las variaciones de la fuerza de medicin esttica mN/m 0.035 0.2

Conversin A/D Perfil cuantificado Definicin: Datos obtenidos cuantificando el perfil medido

10

Suprime geometra irrelevante de la superficie tal como inclinacin de un elemento plano y curvatura de un elemento cilndrico usando el mtodo de mnimos cuadrados

Filtro paso bajo con valor de cutoff s

Nota 1 El valor mximo de la fuerza de medicin esttica en la posicin promedio de un palpador tiene que ser 4.0 mN para un palpador con estructura especial incluyendo una punta reemplazable.

Perfil primario

Parmetros del perfil primario

Caracterizacin metrolgica de filtros de fase corregida (ISO 11562-1996) Un filtro de perfil es un filtro de fase corregida sin retraso de fase (causa de distorsin del perfil dependiente de la longitud de onda. La funcin peso de un filtro de fase corregida muestra una distribucin normal (Gaussiana) en la cual la amplitud de transmisin es 50% de la longitud de onda cutoff.

Filtro paso alto con valor de cutoff c

Filtro paso banda que pasa longitudes de onda entre los valores de cutoff c y f

Perfil de rugosidad

Perfil de ondulacin

Parmetros del perfil de rugosidad

Parmetros del perfil de ondulacin

PROXIMOS CURSOS Metrologa Dimensional 1 (MD1) Metrologa Dimensional 2 (MD2) Calibracin de Instrumentos (CIVGP) Control Estadstico del Proceso (CEP) Tolerancias Geomtricas Norma ASME Y14.5-2009 Especificacin y Verificacin Geomtrica de Producto Incertidumbre en Metrologa Dimensional Anlisis de Sistemas de Medicin (MSA) Aplicacin de ISO 17025 en Laboratorios de Calibracin Verificacin Geomtrica de Producto con CMM Medicin de Acabado Superficial para Verificacin Geomtrica de Producto Equipo ptico y lser para Verificacin Geomtrica de Producto sin contacto Cualquiera de los cursos anteriores en sus instalaciones Informes e inscripciones: capacitacion@mitutoyo.com.mx Tel: (0155) 5312 5612 www.mitutoyo.com.mx

INSTITUTO DE METROLOGA MITUTOYO 19 - 20 Abril Naucalpan 21 22 Junio Naucalpan 21 22 - 23 Abril Naucalpan 23 24 25 Junio Naucalpan 04, 05 y 06 Mayo Tijuana 26 27 28 Abril Naucalpan 29 y 30 Abril Naucalpan 03 04 05 Mayo Naucalpan 23 24 25 Junio Monterrey 07 de Mayo Naucalpan 17 18 19 Mayo Naucalpan 28 29 30 Abril Monterrey 20 21 de Mayo Naucalpan 27 28 Mayo Monterrey 24 25 -26 Mayo Naucalpan 26 Mayo Naucalpan 27 Mayo Naucalpan 28 Mayo Naucalpan Fechas de comn acuerdo $ 4300 ms IVA $ 6200 ms IVA $ 6600 ms IVA $ 4300 ms IVA $ 7500 ms IVA $ 5100 ms IVA $ 6200 ms IVA $ 4400 ms IVA $ 6200 ms IVA $ 2100 ms IVA $ 2100 ms IVA $ 2100 ms IVA

Relacin entre el valor del cutoff y el radio de la punta del palpador La siguiente tabla lista la relacin entre el perfil de rugosidad cutoff valor c, radio de punta del palpador y proporcin de cutoff c/s.
c mm 0.08 0.25 0.8 2.5 8 s mm 2.5 2.5 2.5 8 25 c/s 30 100 300 300 300 rtip mximo m 2 2 2 Nota 1 5 Nota 2 10 Nota 2 Longitud de muestreo mxima mm 0.5 0.5 0.5 1.5 5

Perfil de rugosidad
Perfil obtenido desde el perfil medido aplicando un filtro De paso bajo con un valor de cutoff s.

Perfil de ondulacin Perfil obtenido aplicando un filtro paso banda al perfil primario para remover las longitudes de onda ms largas arriba de f y las longitudes de onda debajo de c.

Nota 1: Para una superficie con Ra>0.5 m Rz>3 m un error significativo usualmente no ocurrir en una medicin an si rtip = 5 m Nota 2: Si un valor de cutoff s es 2.5 m u 8 m, atenuacin de la seal debida al efecto de filtrado mecnico de una punta con el radio recomendado aparece fuera del perfil de rugosidad paso banda. Por lo tanto un pequeo error en el radio o forma de la punta no afecta los valores del parmetro calculado desde mediciones si una proporcin de cutoff especifica es requerida, la proporcin debe ser definida

Definicin de parmetros (pico y valle) Parmetros de amplitud (pico y valle) Altura mxima de picos del perfil primario Pp Altura mxima de picos del perfil de rugosidad Rp Altura mxima del perfil de ondulacin Wp Mayor altura del perfil de picos Zp dentro de una longitud de muestreo
Rp

Perfiles de la superficie ISO 4287:1997 (JIS B0601)


Amplitud de transmisin %

100 50 Perfil de rugosidad

Perfil primario Perfil de ondulaci Longitud de muestreo s c Longitudes de onda f

Mxima profundidad de valles del perfil primario Pv Mxima profundidad de valles del perfil de rugosidad Rv Mxima profundidad de valles perfil de ondulacin Wv

Perfil primario Perfil obtenido desde el perfil medido aplicando un filtro paso bajo con valor de cutoff s

Mayor profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de muestreo

NOMBRE DEL CURSO GEOPAK-WIN V 3.0 CMM SOFTWARE SCANPAK CAT100 PS VISION SOFTWARE QVPAK V 7.0 QSPAK V 7.0 FORMPAK-1000 FORM SOFTWARE ROUNDPAK V 5.0 SURFPAK

M3SC Naucalpan Abril 12, 13 y 14 Abril 15 Abril 16 Mayo 03, 04 y 05 Mayo 06 y 07 Junio 07 y 08 Junio 09 y 10 Junio 11

M3SC Monterrey Abril 19, 20 y 21 Abril 22 Abril 23 Mayo 10, 11 y 12 Mayo 13 y 14 Junio 14 y 15 Junio 16 y 17 Junio 18

Rv M3SC Tijuana Abril 26, 27 y 28 Abril 29 Abril 30 Mayo 17, 18 y 19 Mayo 20 y 21

COSTO $ 7500.00 ms IVA $ 2500.00 ms IVA $ 2500.00 ms IVA $ 7500.00 ms IVA $ 5000.00 ms IVA $ 5000.00 ms IVA $ 5000.00 ms IVA $ 2500.00 ms IVA

Altura mxima del perfil primario Pz Altura mxima del perfil de rugosidad Rz Altura mxima del perfil de ondulacin Wz
Suma de la altura del pico ms alto y la mayor profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de muestreo

Rz

Rv

Longitud de muestreo

En JIS antigua e ISO 4287-1:1984 Rz fue usada para indicar la altura de irregularidades de diez puntos. Debe tenerse cuidado dado que las diferencias entre los resultados obtenidos de acuerdo a las normas actuales y normas antiguas no son siempre despreciablemente pequeas. Asegrese de verificar si las instrucciones del dibujo estn de acuerdo con las normas actuales o las antiguas. Altura promedio de elementos del perfil primario Pc Altura promedio de elementos del perfil de rugosidad Rc Altura promedio de elementos del perfil de ondulacin Wc Valor promedio de las alturas de elementos del perfil Zt dentro de una longitud de muestreo

Pc, Rc,Wc =

1 m Zti m i =1
Zt5 Zt6

Zt1

Zt2

Zt3

Longitud de muestreo

Zt4

Rp

Altura total del perfil primario Pt Altura total del perfil de rugosidad Rt Altura total del perfil de ondulacin Wt
Suma de la altura ms grande altura del perfil de picos Zp y la mayor profundidad del perfil de valles Zv dentro de una longitud de evaluacin Rz Rz Rt

Longitud de muestreo

Longitud de evaluacin

Rz

Duracin 8 horas Solo en instalaciones del usuario fecha y horario de comn acuerdo Costo $ 12850.00 ms IVA ms gastos de viaje desde la Ciudad de Mxico. Lneas y Smbolos, Proyecciones en el tercer cuadrante (sistema americano), Cortes y secciones, Vistas auxiliares, Tolerancias y ajustes Disponible tambin usando proyecciones en el primer cuadrante (sistema europeo).

Parmetros de amplitud (promedio de ordenadas) Altura total del perfil primario Pa Altura total del perfil de rugosidad Ra Altura total del perfil de ondulacin Wa Media aritmtica de los valores absolutos de las ordenadas Z(x) dentro de una longitud de muestreo

Altura total del perfil primario Pq Altura total del perfil de rugosidad Rq Altura total del perfil de ondulacin Wq Valor de la raz cuadrtica media de los valores de la ordenada Z(x) dentro de una longitud de muestreo

Pa, Ra, Wa =

1 Z ( x) dx l 0
4

Pq, Rq,Wq =

1 2 Z ( x)dx l 0

Siendo l = a lp, lr o lw de acuerdo al caso

Siendo l = a lp, lr o lw de acuerdo al caso

Sesgo del perfil primario Psk Sesgo del perfil de rugosidad Rsk Sesgo del perfil de ondulacin Wtsk Cociente del promedio del valor cbico de los valores ordenados Z(x) y el cubo de Pq, Rq o Wq respectivamente, dentro de una longitud de muestreo
lr 1 1 Rsk = Z 3 ( x)dx 3 Rq lr 0

Curso de Tolerancias Geomtricas (GD&T) basado en la nueva norma ASME Y14-5-2009


Despus de 15 aos la norma ASME sobre dimensionado y tolerado fue actualizada incluyendo diversas mejoras entre las que destacan la diferenciacin de los modificadores de la condicin de material cuando es aplicada a la tolerancia o a los datos llamando a esto ultimo frontera de mximo o mnimo material. Se introducen algunos smbolos nuevos incluyendo el de perfil desigualmente dispuesto y la aplicacin de una zona de tolerancia no uniforme. Se usa el concepto de grados de libertad con relacin al establecimiento de marcos de referencia dato. Se permite la aplicacin de marcos de referencia dato, personalizados y datos movibles. Se introduce el concepto de sistema coordenado con relacin al marco de referencia dato. Se permite usar ms segmentos en los marcos de control de elemento compuestos. Todo el material fue reacomodado en 9 secciones en vez de las 6 de la versin anterior. Para saber ms: capacitacion@mitutoyo.com.mx

La ecuacin anterior define Rsk. Psk y Wsk son definidos en una manera similar. Psk, Rsk y Wsk son medidas de la asimetra de la funcin de densidad de probabilidad de los valores ordenados Kurtosis del perfil primario Pku Kurtosis del perfil de rugosidad Rku Kurtosis del perfil de ondulacin Wku

Cociente del promedio del valor a la cuarta de los valores ordenados Z(x) y la cuarta potencia de Pq, Rq o Wq respectivamente, dentro de una longitud de muestreo.

Rku =

1 Rq 4

1 lr 4 Z ( x)dx lr 0

La ecuacin anterior define Rku. Pku y Wku son definidos en una manera similar. Pku, Rku y Wku son medidas de la asimetra de la funcin de densidad de probabilidad de los valores ordenados Parmetros de espaciamiento Altura total del perfil primario PSm Altura total del perfil de rugosidad RSm Altura total del perfil de ondulacin WSm Valor promedio de los anchos de elementos de perfil Xs dentro de una longitud de muestreo

PSm, RSm,WSm =
XS1 XS2 XS3 XS4

1 m X Si m i =1
XS5 XS6

Longitud de muestreo Parmetros Hbridos Raz cuadrtica media pendiente del perfil primario Pq Raz cuadrtica media pendiente del perfil de rugosidad Rq Raz cuadrtica media pendiente del perfil de ondulacin Wq Valor de la raz cuadrtica media de la pendientes ordenadas dZ/dX dentro de una longitud de muestreo

Calibracin de anillos patrn de 6 a 120 mm con mquina que incorpora una holo escala lser con resolucin de 0,1 m y repetibilidad de 0,2 m SERVICIOS ACREDITADOS

dZ(x) dx dZ(x) dx dZ(x) dx dZ(x) dx

dZ(x) dx

Servicio de calibracin de patrones de rugosidad y medicin de rugosidad


El laboratorio de calibracin de Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. ha instalado un equipo de medicin de rugosidad para proporcionar a sus clientes usuarios servicio de calibracin de patrones de rugosidad, as como, servicio de medicin de rugosidad, ambos acreditados. De acuerdo con los requerimientos actuales de los sistemas de gestin de calidad, todos los equipos y patrones de medicin, deben ser calibrados peridicamente y antes de usarlos cuando son nuevos. En muchos casos, los equipos de medicin de rugosidad son calibrados de acuerdo con lo anterior, sin embargo, no ocurre lo mismo con los patrones. Los patrones de rugosidad son utilizados para determinar si, en un momento dado, es necesario ajustar la ganancia de los equipos, para verificaciones peridicas de los mismos y para la calibracin de los rugosmetros. El servicio, ya esta disponible con ACREDITACIN a los patrones nacionales

Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. a travs de su departamento de ingeniera de servicio tiene disponible servicio de medicin de piezas, para lo cual cuenta con variedad de equipo, tal como Mquinas de Medicin por Coordenadas (CMM), equipo de medicin por visin (QV, QS, QI), mquina de medicin de redondez y otras caractersticas geomtricas, equipo de medicin de contorno (perfil), mquinas de medicin de dureza, equipo de medicin de rugosidad, comparadores pticos y microscopios, lo cual permite una gran variedad de opciones para resolver eficientemente cualquier tipo de medicin dimensional.

Incluye 20% de descuento en refacciones y en servicio de reparacin durante la vigencia del contrato

Prioridad en programacin

Se requiere dibujo o modelo CAD o instrucciones detalladas de, que es lo que se desea medir para obtener una cotizacin y acordar tiempo de entrega. Este servicio se ofrece con trazabilidad a patrones nacionales de longitud. Se entrega reporte de medicin.

Sin gastos de viaje dentro de un radio de 50 km desde nuestros centros de servicio

PAQUETES DE CALIBRACIN 3 equipos 10% 6 equipos 15% Ms de 6 equipos 20%


Uso de software de inspeccin original de Mitutoyo

Condiciones sujetas a cambio sin previo aviso

Curvas, Funcin de Densidad de Probabilidad y parmetros relacionados Curva de proporcin de material del perfil (Curva Abbot-Firestone)

Parmetros especficos JIS Altura de irregularidades de diez puntos

Curva representando la proporcin de material del perfil como una funcin del nivel corte, c Lnea media

Suma de la altura promedio absoluta de los cinco picos ms altos del perfil y la profundidad promedio absoluta de los cinco valles ms profundas, medidas desde la lnea media dentro de la longitud de muestreo de un perfil de rugosidad. Este perfil es obtenido desde el perfil primario usando un filtro paso banda de fase corregida con valores de cutoff de lc y ls.
Rz JIS = Zp1 + Zp2 + Zp3 + Zp4 + Zp 5 + Z v1 + Zv2 + Zv3 + Zv4 + Zv 5 5

Longitud de muestreo

0 20 40 60 100 Rmr(c), %

Proporcin de material del perfil primario Pmr(c) Proporcin de material del perfil de rugosidad Rmr(c) Proporcin de material del perfil de ondulacin Wmr(c)
Proporcin de la longitud de material de los elementos del perfil Ml(c) en un nivel dado c a la longitud de evaluacin

Longitud de muestreo
Smbolo RzJIS 82 RzJIS 94 Perfil usado Perfil de superficie como es medido Perfil de rugosidad derivado a partir de un perfil primario usando un filtro paso alto de fase corregida

Pmr (c), Rmr (c),Wmr (c) =

Ml (c) ln

Distancia vertical entre dos niveles de seccin de una proporcin dada de material Rdc = c(Rmr1) c(rmr2); Rmr1<Rmr2

Desviacin promedio aritmtico del perfil Ra75


Promedio aritmtico de los valores absolutos de las desviaciones del perfil desde la lnea media dentro de la longitud de muestreo del perfil de rugosidad (75%). Este perfil es obtenido a partir de la medicin de un perfil usando un filtro analogo paso alto con un factor de atenuacin de 12db/oct y un valor de cutoff de c.

Ra75 =

1 Z ( x)d x ln 0

ln

Proporcin de material relativo del perfil primario Pmr Proporcin de material relativo del perfil de rugosidad Rmr Proporcin de material relativo del perfil de ondulacin Wmr

Tabla 1. Longitudes de muestreo para parmetros del perfil de rugosidad no peridicos (Ra, Rq, Rsk, Rku,Rq), curva de proporcin de material, funcin de densidad de probabilidad y parmetros relacionados Ra mm (0.006)<Ra0.02 0.02<Ra0.1 0.1<Ra2 2<Ra10 10<Ra80 Longitud de muestreo lr mm 0.08 0.25 0.8 2.5 8 Longitud de evaluacin ln mm 0.08 0.25 0.8 2.5 8

Proporcin de material determinada en un nivel de seccin de perfil Rc (o Pc o Wc), relacionada al nivel de seccin de referencia c0 Pmr,Rmr,Wmr=Pmr(c1),Rmr(c1),Wmr(c1) Donde c1 = c0 Rdc (o Pdc o Wdc) c0 = c(Pm0, Rmr0, Wmr(0) Funcin de densidad de probabilidad Curva de distribucin de amplitud del perfil Funcin de densidad de probabilidad muestra de la ordenada Z(x) dentro de la longitud de evaluacin Lnea media

Tabla 2. Longitudes de muestreo para parmetros del perfil de rugosidad no peridicos (Rz, Rp, Rc, Rt) Rz Rz1max mm (0.025)<Rz, Rz1max0.1 0.1< Rz, Rz1max 0.5 0.5< Rz, Rz1max 10 10< Rz, Rz1max 50 50< Rz, Rz1max 200 Longitud de muestreo lr mm 0.08 0.25 0.8 2.5 8 Longitud de evaluacin ln mm 0.08 0.25 0.8 2.5 8

Longitud de evaluacin

Densidad de amplitud

Tabla 3. Longitudes de muestreo para medicin de parmetros del perfil de rugosidad peridicos y parmetros RSm de perfil peridico o no peridico

Rsm mm (0.013)<RSm0.04 0.04<RSm0.13 0.13<RSm0.4 0.4<RSm1.3 1.3<RSm4

Longitud de muestreo lr mm 0.08 0.25 0.8 2.5 8

Longitud de evaluacin ln mm 0.08 0.25 0.8 2.5 8

Estimar Ra, Rz, Rz1max RSm de acuerdo a las formas de onda registradas, inspeccin visual, etc

Estimar la longitud de muestreo desde un valor estimado y las tablas 1 a 3

Medir Ra, Rz, Rz1max RSm de acuerdo al valor estimado de la longitud de muestreo

Cada valor medido esta dentro de los intervalos de las tablas 1, 2 3? Si

No

Cambiar a una longitud de muestreo mayor o menor

Ha sido usada una longitud de muestreo ms corta?

No

Cambiar a una longitud de muestreo ms corta

Si Medir el parmetrom de acuerdo al valor de la longitud de muestreo final Figura 1. Procedimiento para determinar la longitud de muestreo de un perfil no peridico si no es especificada

Rugosmetro porttil SJ-210 Perfiles: P, R, DF y R-Motif Parmetros: Ra, Rq, Rz, Ry, Rv, Rt, R3z, Rsk, Rku, Rc, RPc, RSm, Rmax*1 Rz1max, S, HSC, RzJIS*2, Rppi, Ra, Rq, Rlr, Rmr, Rmr(c), Rc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rpm, tp, Htp, R, Rx, AR Normas: JIS'82, JIS'94, JIS'01, ISO, ANSI, VDA Filtros digitales: 2CR75 / PC75 / Gaussian

Estimar RSm desde un perfil de rugosidad medido

Rugosmetro porttil SJ-500 Con impresora interconstruida

Estimar la longitud de muestreo desde un valor estimado y la tabla 3

Medir RSm de acuerdo al valor estimado de la longitud de muestreo

Cada valor medido esta dentro de los intervalos de la tabla 3? Si Medir el parmetro de acuerdo a longitud de muestreo final

No

Cambiar la longitud de muestreo para satisfacer las condiciones de la tabla 3

Figura 2. Procedimiento para determinar la longitud de muestreo de un perfil peridico si no es especificada

VERIFICACIN GEOMTRICA DE PRODUCTO SIN CONTACTO CON EQUIPO OPTICO Y LSER


La medicin de piezas sin contacto es requerida cuando se desea realizar mediciones repetibles sobre piezas hechas de materiales facilmente deformables Los equipos pticos tradicionalmente usados para la medicin de piezas pequeas sin contacto son el comparador ptico y el microscopio. Ambos pueden ser utilizados en conjunto con un procesador de datos 2D para hacer fciles mediciones que de otra manera son dificiles o requieren el uso de plantillas o retculas. Algunos microscopios pueden ser solo utilizados para observacin como los estreo microscopios pero otros como los microscopios de taller o microscopios de medicin que estn provistos de sistemas de medicin de desplazamiento pueden ser utilizados para hacer mediciones en 2D e incluso 3D basndose en el enfoque de la superficie observada. Algunos microscopios pueden ser equipados con una unidad de Visin para hacer mediciones ms rpidamente al utilizar un software con herramientas de un clic. Equipos especficamente diseados para medir mediante Visin (sin contacto) estn disponibles ya sea para realizar mediciones manual o automticamente, permitiendo medir una gran cantidad de piezas en poco tiempo con alta exactitud y repetibilidad usando poderoso software con herramientas de un clic. Microscopio de medicin Comparador ptico La utilizacin de micrometros lser permite hacer mediciones de gran exactitud en piezas de tamao pequeo, siendo aplicaciones muy comunes la medicin de alambres, cintas, hojas plasticas, de papel o metalicas durante sus procesos de manufactura. Siendo importante hacer las mediciones an cuando la pieza a medir esta en movimiento. El desarrollo de "palpadores lser" que pueden ser utilizados para tomar una gran cantidad de puntos sobre una pieza al ser montados en equipos de medicin 3D tales como brazos articulados y mquinas de medicin por coordenadas permite actualmente verificar con facilidad la geometra de superficies de forma libre o aplicaciones de ingeniera inversa. La medicin sin contacto a cobrado auge por la miniaturizacin de diversos componentes, utilizacin de materiales no rigidos, necesidad de mantener limpias partes manufacturadas o evitar daos tales como pequeas rayaduras que pueden ser producidas cuando se hace medicin con contacto. Diversas industrias como la automotriz, electrnica, medica plsticos etc. estn usando cada vez ms medicin sin contacto. A travs de nuestro curso de verificacin geomtrica de producto sin contacto con equipo ptico y lser conocer ms acerca de este tema. Solicite informes: capacitacion@mitutoyo.com.mx

Microscopio de taller

Micrmetro lser

Palpador lser

Equipo de medicin por Visin