USO DE LA TABLA MIL STD 105 D

. El MIL-STD-15D proporciona planes de muestreo tanto para el caso de inspeccin de fraccin defectuosa y defectos por la inspeccin de 100 unidades. Para el empleo de estas tablas es necesario conocer: El tamao del lote que se presente a inspeccin La proteccin por NCA que se desea para el material considerado. Estas tablas indican el tamao de la muestra requerida y el nmero de defectuosos que se pueden permitir en ese tamao de muestra. Si la muestra no contiene un mayor nmero de defectuosos que los permitidos, se acepta el lote. Pero si la muestra contiene mayor nmero de defectuosos que los que se pueden permitir, el lote puede ser rechazado o bien, inspeccionado 100%. El criterio de decisin llamado regla de cambio en trminos tcnicos de muestreo se relaciona con la magnitud del promedio estimado del proceso. Para obtener los planes de muestreo aplicando el MIL STD 105D, se procede de acuerdo con los siguientes pasos: Determinar el tamao del lote. Especificar el NCA

Escoger el nivel de inspeccin. De acuerdo con el tamao del lote y el nivel de inspeccin, encontrar la letra cdigo correspondiente para el tamao de la muestra. Determinar el tipo del plan de muestreo a ser usado (simple, doble o mltiple). De acuerdo con la letra cdigo y el NCA, buscar el plan simple para inspeccin normal, el plan para inspeccin severa y el plan de inspeccin reducida.

El contenido de la norma es el siguiente: Los planes de muestreo de MIL-STD-105E se basan en el NCA, que deber fijarse entre cliente y proveedor. En principio estos planes estn pensados para inspeccin lote a lote aunque tambin se puede utilizar para el caso de lotes aislados; en este caso es necesario especificar cul es la CL mxima que se admite. Existen tres niveles ordinarios de inspeccin, niveles I, II, y III, y otros cuatro especiales, niveles S-1, S-2, S-3 y S-4, que se utilizan en caso de ensayos destructivos o de inspecciones muy costosas. Estos niveles van en funcin de la complejidad y la responsabilidad del producto. Cuanto ms alto es el nivel, mayor es el tamao de la muestra y aumenta la discriminacin del plan de muestreo. Si no se indica otra cosa se toma el nivel II. Existen tres tipos de planes: simples, dobles y mltiples, cuya eleccin queda a cargo del inspector que aplica la norma. Como se ha dicho anteriormente, esta norma est diseada para series de lotes. Existen por tanto tres niveles de muestreo distintos segn haya sido la historia de los lotes anteriores: _ Inspeccin Rigurosa. _ Inspeccin Normal. _ Inspeccin Reducida.

5.2.1.2 USO DE LA TABLA DODGE ROMIG

En la dcada de los veinte, H. F. Dodge y H. G. Roming disearon un juego de tablas de inspeccin para la aceptacin de producto lote por lote mediante el muestreo de atributos. Estas tablas se basan en dos de los conceptos expuestos en el captulo 8, nivel de calidad lmite (NCL)1 y lmite de la calidad media de salida (LCMS). Por cada uno de estos conceptos hay tablas, tanto para muestreo sencillo como doble. No hay tablas para el muestreo mltiple. En el texto presente slo se ha incluido el muestreo sencillo. La ventaja principal de las tablas de Dodge-Roming es la reducida inspeccin necesaria para un procedimiento de inspeccin determinado. Esta ventaja hace especialmente atractivas las tablas en la inspeccin que se hace en el mismo sitio donde se obtienen los productos. 1. Nivel de calidad lmite (NCL). Estas tablas se basan en la probabilidad de que un lote en particular, cuyo porcentaje de no conformidad sea igual al NCL, resulte aceptado. Esta probabilidad es el riesgo del consumidor, , y es igual a 0.10. Los planes NCL garantizan que los lotes individuales de mala calidad rara vez resulten aceptados. Hay dos juegos de tablas NCL: uno para el muestreo sencillo y otro para el muestreo doble. Cada juego tiene tablas para valores de NCL de 0.5, 1.0, 2.0, 3.0, 4.0, 5.0, 7.0 Y 10.0%, con un total de 16 tablas. Para propsitos de explicacin, se

muestra la tabla 9-6 para muestreo sencillo, empleando NCL = 1.0%. No se publican las tablas de los dems valores de NCL. Para usar las tablas, antes hay que tomar una decisin acerca de si se va a utilizar el muestreo sencillo o el muestreo doble. Para tomarla se puede recurrir a la informacin que se present en el captulo 8. Adems, el NCL tiene que calcularse, lo que se puede hacer de manera semejante al caso de NCA, como tambin se explic en el mismo

Captulo 8. El tipo de muestro (sencillo o doble) y el NCL determinarn qu tabla hay que utilizar. Una vez que se sabe cul es el tamao del lote y el promedio del proceso, es fcil obtener el plan de muestreo de aceptacin.

Por ejemplo, si el tamao del lote, N, es 1500 y el promedio del proceso es 0.25%, el plan de muestreo sencillo necesario para NCL = 1.0% se encuentra en la tabla 9-6. La respuesta es: N = 1500 n = 490 c=2

El NCL que corresponde a este plan es 10.2% De un anlisis de las tablas LCMS se desprende lo siguiente: a. Conforme aumenta el tamao del lote disminuye el tamao de la muestra. b. No se ofrecen planes para promedios de procesos que rebasan el LCMS, dado que el muestreo no es econmico cuando la calidad de entrada promedio es menor que el LCMS especificado. c. Cuanto ms bajo es el promedio del proceso, menor el tamao de la muestra, lo que se traduce en menos costo por inspeccin.

3. Comentarios adicionales sobre las tablas de Dodge-Roming. El promedio del proceso l00p- se obtiene mediante las mismas tcnicas utilizadas para la grfica p. Con base en los primeros 25 lotes se obtiene el porcentaje promedio de no conformidad. En el caso del muestreo doble, solo la primera muestra figura en el clculo. Se descarta todo lote cuyo porcentaje de no conformidad rebase el lmite de 3 (100p -(1 - 100p_)/n), (si su causa es atribuible) y se procede a calcular un nuevo promedio del proceso. Sin embargo, hasta que no se logre obtener un promedio de proceso mediante la tcnica anterior, deber utilizarse el promedio de proceso ms grande posible. Es decir, se utilizar la ltima columna de las tablas hasta que se logre determinar lOOp-. En las tablas de Dodge-Romig no se menciona nada sobre el tipo de no conformidad, si bien se pueden emplear diversos valores de NCL o LCMS; los ms bajos para no conformidades graves y los ms altos para las no conformidades secundarias. No se menciona nada sobre la inspeccin rigurosa o reducida, si bien tambin se pueden utilizar diversos valores de NCL o LCMS. Para el promedio del proceso se utilizan la cantidad de no conformidades por 100 unidades, en vez del porcentaje de no conformidad. Por ejemplo, 1m promedio de proceso de 2.00% de no conformidad es lo mismo que dos no conformidades por cada 100 unidades.1 USO DE LA TABLA MIL STD 414

La MIL-STD-414 est estructurada de una forma parecida a la MIL-STD-105E. Utiliza el concepto de NCA, cuenta con cinco niveles de inspeccin (I - V) y niveles de inspeccin normal, reducida y rigurosa. Si no se indica otra cosa el nivel a aplicar es el IV. Consta a su vez de cuatro secciones A, B, C y D. Seccin A Descripcin General. Seccin B Varianza desconocida. Mtodo de la desviacin tpica muestral. Parte I Un solo lmite especificado. Parte II Dos lmites especificados (Mismo NCA / Distinto NCA). Parte III Estimacin de la media del proceso y criterios de cambio Rigurosa - Normal - Reducida. Seccin C Varianza desconocida. Mtodo del rango muestral. Parte I Un solo lmite especificado. Parte II Dos lmites especificados (Mismo NCA / Distinto NCA). Parte III Estimacin de la media del proceso y criterios de cambio

Rigurosa - Normal - Reducida. Seccin D Varianza conocida. Parte I Un solo lmite especificado. Parte II Dos lmites especificados. (Mismo NCA / Distinto NCA). Parte III Estimacin de la media del proceso y criterios de cambio Rigurosa Normal - Reducida. La mecnica es la siguiente: 1. Fijacin del NCA y nivel de inspeccin (por ejemplo NCA=0.65 Nivel desconocida, que la especificacin marca un solo lmite (por ejemplo el superior U) y que se quiere utilizar el mtodo de la desviacin tpica muestral. 2. Comprobar en la Tabla A-1 el NCA equivalente que hay que utilizar. Bsqueda de la letra - cdigo en la Tabla A-2. En este caso resulta ser la H. Si se trata de un lote aislado sera necesario comprobar que la CL es aceptable. Ello se puede comprobar en este caso utilizando la Tabla A-3. 3. A continuacin depende si se desea utilizar la forma 1 o la forma 2. La forma 1 se basa en comparar el valor obtenido de z con el valor k que deja una cola de la normal igual a la fraccin defectiva admisible M. Es decir:

La forma 2 se basa en comparar la fraccin defectiva del lote Pu con la fraccin defectiva admisible M. Pu se calcula

Si se sigue la forma 1 se va a la Tabla B-1 y se halla el tamao de la muestra (n=20 en este caso) y k=1,96. Si se sigue la forma 2 se va a la Tabla B-3 y se halla el tamao de la muestra (que naturalmente coincide con la calculada de la otra forma) y M=2,05. 4. Se calcula el valor de m (media muestral) y de s, desviacin tpica

muestral:

5. Se calcula el valor de:

Si se est utilizando la forma 1 basta comparar z con k. Si z > K se acepta el lote, si z < k se rechaza. Si se utiliza la forma 2 se halla la fraccin defectiva estimada del lote Pu utilizando la Tabla B-5 y entrando con el valor hallado de z y el tamao del lote, si Pu < M se acepta. Si la especificacin hubiese puesto dos lmites, U y L, solo se puede utilizar la forma 2. En este caso el criterio de aceptacin es el siguiente: i) En ambos lmites se ha impuesto el mismo NCA. Si Pu + Pl > M Rechazar Si Pu + Pl < M Aceptar ii) Distintos NCA en U y L. Para aceptar en este caso es necesario que simultneamente se den las siguientes circunstancias: Pu < Mu, Pl < Ml, Pu + Pl < max(Mu,Ml)

FIGURA 9-16 Conformacin de la norma MIL-STD-414/Z1.9