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com NICO LIBRO

LIBRO fijacin fuerte

W! V m <OU 158285 Universidad de Osmania BIBLIOTECA Llame N (Fl ELEMENTOS DE X de difraccin de rayos ADDISON-WESLEY METALURGIA SERIES Morris Cohen, Editor Consulting ELEMENTOS DE Cidlity difraccin de rayos X ELEMENTOS Guy de Metalurgia Fsica Norton ELEMENTOS DE CERMICA Schuhmann Ingeniera Metalrgica . VOL I: PRINCIPIOS DE INGENIERA Wagner TERMODINMICA DE ALEACIONES ELEMENTOS DE X de difraccin de rayos por B. D. Cullity Profesor Asociado de la Metalurgia Universidad de Notre Dame ADDISON-WESLEY PUBLISHING COMPANY, INC Reading, Massachusetts Derechos de autor 1956 ADD1SON-Wesley Publishing Company, Inc. Impresa ni los Estados Unidos de Amrica TODOS LOS DERECHOS RESERVADOS. Este libro o partes hay OF, NO PUEDE SER REI'RODl CED en cualquier forma sin PERMISO POR ESCRITO DE LOS EDITORES Biblioteca del Congreso N de ref 56-10137 PREFACIO Difraccin de rayos X es una herramienta para la investigacin de la estructura fina de los materia. Esta tcnica tiene sus inicios en el descubrimiento de von Laue en 1912 que los cristales difractan los rayos X, la forma de la difraccin de revelar la estructura del cristal. Al principio, difraccin de rayos X se utiliza slo para la determinacin de la estructura cristalina. Posteriormente, sin embargo, otros usos eran desarrollado, y hoy en da el mtodo aplicado, no slo para estructurar disuadir determinacin, sino a problemas tan diversos como el anlisis qumico y el estrs medicin, para el estudio de equilibrio de fases y la medicin de los tamao de partcula, a la determinacin de la orientacin de un cristal o la

conjunto de orientaciones en un agregado policristalino. El propsito de este libro es dar a conocer al lector que no tena previamente conocimiento de la materia con la teora de la difraccin de rayos X, el mental expe mtodos involucrados, y las principales aplicaciones. Debido a que el autor es un metalrgico, la mayora de estas aplicaciones se describen en trminos de metales y aleaciones. Sin embargo, poca o ninguna modificacin de experimental mtodo es necesario para los materiales no metlicos examinatiorrof, en la medida como los principios fsicos que no dependen de la investi materia cerrada. Este libro, por tanto, ser til a los metalrgicos, qumicos, fsicos, ceramistas, mineralogistas, etc, es decir, a todos los que usan rayos X de difraccin cin un instrumento de laboratorio para el tipo de problemas ya mencionados. Los miembros de este grupo, a diferencia de cristalgrafos de rayos X, no son normalmente refiere a la determinacin de las estructuras cristalinas complejas. Por esta razn, el mtodo de rotacin de cristal y la teora del espacio-grupo, el jefe de dos herramientas en la solucin de tales estructuras, slo se describen brevemente. Se trata de un libro de principios y mtodos para el estudiante, y no es un libro de referencia para el investigador avanzado. As no metlico lurgical se dan datos ms all de las necesarias para ilustrar la difraccin mtodos involucrados. Por ejemplo, la teora y la prctica de la determinacin orientacin preferente se tratan en detalle, pero las razones de preferencia orientacin, las condiciones que afectan su desarrollo y orientaciones actuales encontrado en metales especficos y aleaciones no se describen, ya que estos los temas estn cubiertos adecuadamente en los libros existentes. Resumiendo, x-ray cin difraccin Se subraya en lugar de la metalurgia. El libro est dividido en tres partes principales: fundamentos, experimentales mtodos y aplicaciones. El tema de la estructura cristalina se acerc a travs de, y sobre la base, el concepto de la red punto (Bravais lattice), porque el enrejado punto de una sustancia est tan estrechamente relacionada con su difraccin VIPREFACIO cin patrn. Todo el libro est escrito en trminos de la ley de Bragg y se puede leer sin ningn conocimiento de la red recproca. (Sin embargo, un tratamiento breve de-red recproca teora se da en un apndice de los que deseen profundizar en el tema an ms.) Los mtodos de clculo de la intensidades de los haces difractados son introducidos al principio del libro y usados en todo. Desde una derivacin rigurosa de muchas de las ecuaciones para el DIF fracted intensidad es demasiado largo y complejo asunto de un libro de este tipo, yo hubiera preferido un enfoque semicuantitativo que, aunque s no presentar una prueba rigurosa del resultado final, por lo menos hace que sea fsicamente razonable. Esta preferencia se basa en mi conviccin de que es mejor para un estudiante a comprender la realidad fsica detrs de una ecuacin matemtica que ser capaz de reproducir con soltura una derivacin matemtica involucrados de cuyo significado fsico es apenas consciente. Los captulos sobre el anlisis qumico por difraccin y fluorescencia han sido incluido debido a la importancia actual de estos anlisis industrial mtodos. En el captulo 7 del difractmetro, el nuevo instrumento para la fraccin DIF experimentos, se describe con cierto detalle, aqu el material en la diversos tipos de contadores y sus circuitos asociados deben ser tiles, no slo a los del trabajo de difraccin, sino tambin para aquellos que trabajan con trazadores radiactivos o sustancias similares que deseen conocer cmo su instrumentos de medicin operar. Cada captulo incluye un conjunto de problemas. Muchas de ellas han sido elegido para amplificar y extender temas particulares discutidos en el texto, y

, como tales, forman parte integrante del libro. El captulo 18 contiene una lista de libros adecuados para su estudio posterior. El lector debe familiarizarse con al menos algunos de ellos, como lo pro congresos a travs de este libro, para que sepa a dnde acudir para informacin adicional. Al igual que cualquier autor de un libro tcnico, estoy en deuda con anterior escritores sobre temas ste y sus aliados. Tambin debo reconocer mi gratitud a dos de mis antiguos profesores del Massachusetts Institute of Technology, Profesor BE Warren y el profesor John T. Norton: encontrarn muchos el eco de sus propias conferencias en estas pginas. Profesor Warren ha tenido la amabilidad me permiti utilizar muchos problemas de su concepcin, as como la consulta y estmulo del profesor Norton ha sido inestimable. Mi colega en Notre Dame, el profesor G. C. Kuczynski, ha ledo todo el libro, ya que era escrito, y sus crticas constructivas han sido de gran ayuda. Lo hara Tambin agradecer a los siguientes, cada uno de los cuales ha ledo uno o ms captulos tros y ofrecieron sugerencias valiosas: Paul A. Beck, Herbert Friedman, SS Hsu, Lawrence Lee, Walter C. Miller, William Parrish, Howard Pickett, y Waldman Bernard. Tambin estoy en deuda con C. G. Dunn para el prstamo de material ilustrativo y para muchos estudiantes graduados de agosto PREFACIO VII Freda en particular, que han ayudado en la preparacin de la difraccin patrones. Finalmente, pero no superficialmente, quiero dar las gracias a la seorita Rose Kunkle por su paciencia y diligencia en la preparacin del manuscrito mecanografiado. B. D. Cullity Notre Dame, Indiana Marzo, 1956 CONTENIDO FUNDAMENTOS CAPTULO 1 PROPIEDADES DE LOS RAYOS X 1 1-1 Introduccin 1 2.1 Radiacin electromagntica 1 1-3 El espectro continuo. 4 1-4 El espectro caracterstico 6 1.5 Absorcin 10. 1-6 Filtros 16 1.7 La produccin de rayos X 17 1 -8 deteccin de rayos X 23 1 9 25 Precauciones de seguridad. CAPTULO 2 LA GEOMETRA DE LOS CRISTALES 29 ^ 2-1 Introduccin 29. J2-2 Rejas 29. 2-3 Crystal Systems 30 ^ 2-4 Simetra 34 2-5 clulas primitivas y no primitivas 36 2-6 direcciones de celosa y aviones * 37. 7.2 Estructura cristalina J 42 2-8 tamaos Atom y coordinacin 52 2-9 Crystal forma 54 2-10 cristales hermanados 55. 11.2 La proyeccin estereogrfica .. 60

CAPTULO 3 I DIFRACCIN: Las direcciones de haces difractados 78 3-1 Introduccin .. 78 3-2 f difraccin. 79 ^ 3-3 * La ley de Bragg ' 84. 3-4 espectroscopia de rayos X 85 3-5 direcciones de difraccin - 88 3-6 mtodos de difraccin. 89 3-7 Difraccin en condiciones no ideales. 96 CAPTULO 4 DIFRACCIN II: Las intensidades de los haces difractados 104. 4.1 Introduccin 104 4-2 Dispersin por un electrones .. 105 4.3 Dispersin por un> tomo. / 108 4.4 Dispersin de una celda unitaria * /. Ill CONTENIDO 4-5 Algunas relaciones tiles. 118 6.4 Factor de estructura-clculos ^ 118 Aplicacin 4.7 a 123 mtodo de polvo ' 4-8 factor de multiplicidad 124 4.9 Factor de Lorentz 124 10.1 Absorcin factor de 129 4.11 Temperatura factor de 130 4-12 Intensidades de lneas patrn de polvo 132 4-13 Ejemplos de clculos de intensidad 132 4-14 Medicin de la intensidad de rayos X 136 Mtodos experimentales LPTER 5 Laue FOTOGRAFAS 138 5.1 Introduccin 138 Cmaras 5-2. 138 Los titulares de 5-3 muestras 143 Colimadores 5-4 .. 144 5.5 Las formas de las manchas de Laue. 146 kPTER 6 FOTOGRAFAS EN POLVO .. 149 1.6 Introduccin. 149 6-2 Debye-Scherrer mtodo. 149 Preparacin de la muestra 3.6 .... 153 04.06 Cine de carga. 154. 6.5 Cmaras para altas y bajas temperaturas. 156 6-6 cmaras de enfoque .... 156 6-7 Seemann-Bohlin cmara. 157 6-8 reflexin Back-cmaras de enfoque ... 160 6-9 fotografas estenopeicas. 163 6-10 Eleccin de radiacin .. 165 6-11 de radiacin de fondo. 166 6-12 Crystal monocromadores 168. 13.6 Medicin de la posicin de la lnea 173 14.6 Medicin de la intensidad de la lnea 173.

VPTER 7 MEDIDAS DlFFRACTOMETER 177 1.7 Introduccin .. 177. 7.2 Caractersticas generales .... 177 7-3 de rayos X ptica. . . - 184 7-4 Clculos de intensidad .... 188 7-5 contadores proporcionales. . . 190. 7-6 Geiger contadores. ..... 193 7-7 contadores de centelleo. - 201 7-8 Selladores ......... 202 7-9 Ratemeters. - 206 Uso 7-10 de 211 monocromadores CONTENIDO XI APLICACIONES CAPTULO 8 DE ORIENTACIN MONOCRISTALES ... 215 1.8 Introduccin. ..... 215 8-2 Back-Laue reflexin mtodo ... 215 3.8 Mtodo de transmisin de Laue ..... 229 8-4 Difractmetro mtodo ' 237 .... 8-5 Configuracin de un cristal en una orientacin requerida. 240 8-6 Efecto de la deformacin plstica. 242 La orientacin relativa del 8-7 de cristales maclados 250 8-8 orientacin relativa de precipitado y de la matriz. .. 256 CAPTULO 9 LA ESTRUCTURA DE agregados policristalinos 259. 9-1 Introduccin 259. Tamao del cristal 9.2 Tamao de grano 259 9-3 tamao de partcula. 261 CRYSTAL PERFECCIN 9-4 Crystal perfeccin ..... 263 9.5 Profundidad de penetracin de rayos X .. 269 CRYSTAL ORIENTACIN General de 9-6 .. 272 07.09 Textura del alambre y varilla (mtodo fotogrfico). . . 276 8.9 Textura de hoja (mtodo fotogrfico) 280 9.9 Textura de hoja (mtodo difractmetro) .. 285 9-10 Resumen. . 295 CAPTULO 10 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL. . . 297 10.1 Introduccin .. 297 10.2 Tratamiento preliminar de los datos. . 299.

10.3 patrones de indexacin de cristales cbicos 301 10.4 patrones de indexacin de los cristales noncubic (mtodos grficos) 304 10.5 patrones de indexacin de los cristales noncubic (mtodos analticos) .. 311 10-6 El efecto de la distorsin de clulas en el patrn de polvo .. . 314 10-7 Determinacin del nmero de tomos en la celda unidad .. 316 8.10 Determinacin de las posiciones atmicas. 317 Ejemplo 10-9 de determinacin de la estructura ..... 320 CAPTULO 11 MEDIDAS parmetro preciso .... 324 11.1 Introduccin .... 324 2.11 Debye-Scherrer cmaras .... 326 .... 1 a 3 en la reflexin Back-333 cmaras de enfoque 11-4 cmaras estenopeicas 333 05.11 difractmetros 334 11.6 Mtodo de los mnimos cuadrados 0.335 Xll CONTENIDO 11-7 mtodo de Cohen .... 338 11.8 Mtodo de calibracin. . 342 CAPTULO 12 PHASE-DIAG RAM DETERMINACIN. .. 345 12.1 Introduccin. 345 02.12 Principios generales. . 346 03.12 soluciones slidas. 351 4.12 Determinacin de las curvas de solubilizacin (desaparicin de la fase mtodo) 354 12-5 Determinacin de curvas de solvus (mtodo paramtrico) 356 12-6 sistemas ternarios 359 CAPTULO 13 ORDER-DISO RDEN TRANSFORMACIONES 363 13-1 Introduccin. 363 13-2 orden de largo alcance en AuCus 363 13-3 Otros ejemplos de orden de largo alcance 369 13-4 Deteccin de superretcula de lneas 372 13-5 de corto alcance entre el orden y la agrupacin 375 CAPTULO 14 ANLISIS QUMICO por difraccin 378 14-1 Introduccin 378 ANLISIS CUALITATIVO Principios bsicos 14-2 379 14-3 Hanawait mtodo 379 14-4 Ejemplos de anlisis cualitativo 383 14-5 Las dificultades prcticas 386 14-6 Identificacin de depsitos de la superficie 387 ANLISIS CUANTITATIVO (monofsico) 14-7 Anlisis qumico por la medida del parmetro 388 Anlisis Cuantitativo (multifase) 14-8 Principios bsicos ... 388 14-9 mtodo de comparacin directa. .. 391 14-10 mtodo del estndar interno .. . 396 14-11 dificultades prcticas. . 398. CAPTULO 15 ANLISIS QUMICO DE FLUORESCENCIA 402 15-1 Introduccin .... 402

15-2 principios generales. 404. 15-3 Espectrmetros .... 407 15-4 Intensidad y resolucin. . . 410

15-5 Contadores ..... 414 15-6 Anlisis cualitativo ....... 414 15-7 Anlisis cuantitativo ..... 415 15-8 espectrmetros automticas. . 417 15-9 no dispersiva anlisis ...... 419 15-10 Medicin del espesor del recubrimiento 421 CONTENIDO xiil CAPTULO 16 ANLISIS QUMICO DE ABSORCIN. . . 423 16-1 Introduccin. . 423 .... 16-2 Absorcin de vanguardia mtodo. 424 .... 16-3 directo absorcin mtodo (monocromtica del haz). 427 16-4 directo absorcin mtodo (haz policromtico) 429 16-5 Aplicaciones. . 429 CAPTULO 17 EL ESTRS DE MEDIDA .... 431 17-1 Introduccin. 431 17-2 Aplicada estrs y la tensin residual. . 431 17-3 tensin uniaxial .. 434 17-4 tensin biaxial. 436 17-5 tcnica experimental (cmara oscura) 441 17-6 tcnica experimental (difractmetro) 444 17-7 macroesfuerzo Superpuesta y microestrs 447 17-8 Calibracin 449 7 a 9 enero 451 solicitudes CAPTULO 18 SUGERENCIA S PARA ESTUDIO ADICIONAL. 454 18-1 Introduccin 454 18-2 454 libros. 18-3 libros de referencia. 457 18-4 458 peridicos, APNDICES ANEXO 1 CELOSA GEOMETRA. 459 AL-1 espaciamientos Avin 459 AL-2 volmenes de celda. . 460 AL-3 ngulos interplanares. . . 460 ANEXO 2 LA TRANSFORMACIN rombodricos-HEXAGONAL 462 APNDICE 3 longitudes de onda (en angstroms) de alguna caracterstica Lneas de emisin y bordes de absorcin. . . 464 APNDICE 4 COEFICIENTES DE ABSORCIN DE MASAS 466 y densidades. APNDICE 5 VALORES DEL PECADO 2 8 469. APNDICE 6 formas cuadrticas de los ndices de Miller. . . 471 APNDICE 7 VALORES DE PECADO (0) / x. . . 472 APNDICE 8 factores de dispersin atmicos. 474 APNDICE 9 FACTORES DE FOTOGRAFAS multiplicidad polvo.

* . 477 APNDICE 10 LORENTZ-PO FACTOR cularizacin 478 APNDICE 11 constantes fsicas. 480 XIV CONTENIDO APNDICE 12 INTERNACIONALES pesos atmicos, 1953 481 APNDICE 13 ESTRUCTURA DE DATOS DE CRISTAL 482 APNDICE 14 electrones y difraccin de neutrones 486 A14-1 Introduccin ...... 486 A14r-2 Difraccin de electrones .... 486 A14-3 de difraccin de neutrones ..... 487 APNDICE 15 la red recproca. . 490 A15-1 Introduccin ...... 490 A15-2 Vector multiplicacin .... 490 A15-3 La red recproca. 491 .... A15-4 Difraccin y la red recproca. 496 A15-5 El mtodo de rotacin de cristal. 499 A15-6 El mtodo de polvo. 500 A15-7 El mtodo de Laue. . 502 RESPUESTAS A PROBLEMAS SELECCIONADOS 506.

INDICE ... 509 CAPTULO 1 PROPIEDADES DE LOS RAYOS X Introduccin 1-1. Rayos X fueron descubiertos en 1895 por el alemn Roentgen fsico y se llama as porque su naturaleza era desconocida en ese momento. A diferencia de la luz ordinaria, estos rayos son invisibles, pero viaj en lneas rectas y las pelculas fotogrficas afectado de la misma manera como la luz. Por otro lado, eran mucho ms penetrante que la luz y fcilmente podra pasar por el cuerpo humano, madera, piezas muy gruesas de metal y otros objetos "opacos". No siempre es necesario entender una cosa con el fin de usarlo, y radiografas fueron casi inmediatamente a utilizar por los mdicos y, algo ms tarde, por los ingenieros, que deseaba estudiar la estructura interna de opaco objetos. Al hacer una fuente de rayos X en un lado del objeto grfico y foto pelcula por el otro, una imagen sombra, o en la radiografa, se podra hacer, las porciones menos densas del objeto permite que una proporcin mayor de la x-radiacin pase a travs de la ms densa. De esta manera el punto de fractura en un hueso roto o la posicin de una grieta en una fundicin de metal podra ser localizado. La radiografa se inici por lo tanto sin ninguna comprensin precisa de la radiacin utilizada, ya que no fue hasta 1912 que la naturaleza exacta de rayos X se estableci. En ese ao el fenmeno de difraccin de rayos X

por los cristales fue descubierta, y este descubrimiento al mismo tiempo demostr la naturaleza de onda de los rayos X y proporciona un mtodo nuevo para investigar la estructura fina de la materia. Aunque la radiografa es una herramienta muy importante en s mismo y tiene un amplio campo de aplicabilidad, se limita normalmente en la detalle interno lo puede resolver, o revelar, a los tamaos del orden de 10 "" 1 cm. Difraccin, por otra parte, indirectamente puede revelar detalles de interior estructura del orden de 10 ~ ~ 8 cm de tamao, y es a este fenmeno, y sus aplicaciones a los problemas metalrgicos, que este libro se refiere. Las propiedades de los rayos X y la estructura interna de los cristales est aqu descrito en los dos primeros captulos preliminares necesarias para la discusin dis de la difraccin de rayos X por cristales que sigue. 2.1 Radiacin electromagntica. Sabemos hoy que los rayos X son electr electromagntica radiacin exactamente de la misma naturaleza que la luz, pero de muy menor longitud de onda. La unidad de medida en la regin de rayos X es el angstrom (A), igual a 10 ~ 8 cm, y los rayos X utilizados en difraccin tienen longitudes de onda acostado aproximadamente en el intervalo 0,5-2.5A, mientras que la longitud de onda de la luz visible es del orden de 6000A. rayos X por lo tanto ocupar el 1 PROPIEDADES DE LOS RAYOS X [CAP. 1 1 megaciclo 10_ 1 kilocycle IQL La figura. Ii. El espectro electromagntico. Los lmites entre regiones son arbitraria, ya que no hay lmites estrictos superiores o inferiores pueden ser asignados. (F. W. Sears, ptica, 3 ed., Addison-Wesley Publishing Company, Inc., Cambridge, Mass., 1949) regin entre los rayos gamma y los rayos ultravioleta en el electro magntica completa espectro (1-1 Fig.). Otras unidades utilizan a veces para medir x-ray longitud de onda son la unidad X (XU) y la unidad de kilo X (Kx = XU 1000). * La unidad X es slo ligeramente ms grande que el angstrom, la relacin exacta bemg LKX = 1.00202A. Vale la pena revisar brevemente algunas de las propiedades electromagnticas de ondas. Supongamos que un haz monocromtico de rayos X, es decir, los rayos X de una sola longitud de onda, se desplaza en la direccin x (Fig. 1-2). Entonces se ha asociado con ello un campo elctrico E en, por ejemplo, la direccin Y y, en ngulo recto a esto, un campo magntico H en la direccin z. Si el campo elctrico es CON multado al plano xy como la onda se desplaza a lo largo de, la onda se dice que est polarizada en un plano. (En una onda completamente no polarizada, el campo elctrico E vector y por lo tanto el vector de campo magntico H puede asumir todas las direcciones en el * Para el origen de estas unidades, vase cap. 3-4. 1-2] RADIACIN ELECTROMAGNTICA La figura. 1-2. Elctrico y magntico campos asociados a una onda que se mueve en el j-direccin. t/2-plane.) El campo magntico es de no nos conciernen aqu y necesitamos no la examinaremos. En el plano de polarizacin con onda considerado, E no es constante con el tiempo pero vara desde un mximo en la

+ Y direccin a travs de cero a una madre maxi en la direccin Y y la espalda de nuevo, en cualquier punto particular en espacio, digamos x = 0. En cualquier instante de tiempo, por ejemplo t = 0, E vara en el mismo moda con la distancia a lo largo del eje laX. Si ambas variaciones se supone que es sinusoidal, que se puede expresar en la ecuacin un E= Asin27r (- La (1-1) donde A = amplitud de la onda, X = longitud de onda y la frecuencia v =. La variacin de E no es necesariamente sinusoidal, pero la forma exacta de la ola importa poco, la caracterstica importante es su periodicidad Figura 1-3. muestra la variacin de E grficamente. La longitud de onda y la frecuencia estn conectados por la relacin c X -. (1-2) V donde c = velocidad de la luz = 3,00 X 10 10 cm / seg. La radiacin electromagntica, tal como un haz de rayos X, lleva la energa, y la tasa de flujo de esta energa a travs de unidad de rea perpendicular a la direccin cin de movimiento de la onda se denomina la intensidad I. El valor medio de la intensidad es proporcional al cuadrado de la amplitud de la onda, es decir, proporcional a A 2 . En unidades absolutas, la intensidad se mide en ergs / cm 2 / Seg, pero esta medicin es difcil y rara vez se realiza a cabo, la mayora de rayos X mediciones de la intensidad se realizan sobre una base relativa en +E -E +E yo (A) (b) La figura. 1-3. La variacin de E, (a) con t en un valor fijo de x y (b) con x en un valor fijo de t. 4 PKOPERTIES de los rayos X [CAP. 1 unidades arbitrarias, tales como el grado de ennegrecimiento de una pelcula fotogrfica expuesto al haz de rayos x. Una carga elctrica acelerada irradia energa. La aceleracin puede, por supuesto, ser positiva o negativa, y as continuamente un cargo oscila alrededor de una posicin media acta como una excelente fuente de electro magntica ondas de radiacin. radio, por ejemplo, son producidos por el Reglamento oscil cargo de un lado a otro en la antena emisora y visibles luz por electrones oscilantes en los tomos de la sustancia que emite el luz. En cada caso, la frecuencia de la radiacin es la misma que la fre cuencia del oscilador que produce. Hasta ahora hemos estado considerando la radiacin electromagntica como onda movimiento de acuerdo con la teora clsica. Segn la cuntica teora, sin embargo, la radiacin electromagntica tambin puede ser considerado como un corriente de partculas llamadas cuantos o fotones. Cada fotn tiene asociada

consigo una cantidad de energa hv, donde h es la constante de Planck (6,62 X 10 ~ 27 erg-seg). Un enlace se proporciona de este modo entre los dos puntos de vista, porque se puede utilizar la frecuencia del movimiento de onda para calcular la energa de la radiacin de fotones. tiene as un doble carcter onda-partcula, y se utiliza a veces un concepto, a veces el otro, para explicar diversos fenmenos, dando preferencia en general a la teora ondulatoria clsica, cuando cada vez que sea aplicable. 1.3 El espectro continuo. Los rayos X se producen cuando un electricista mente partcula cargada de suficiente energa cintica se frena rpidamente. Los electrones se utilizan generalmente para este fin, la radiacin que se produce en un tubo de rayos X que contiene una fuente de electrones y dos electrodos metlicos elec. El alto voltaje mantiene a travs de estos electrodos, algunas decenas de miles de voltios, rpidamente atrae los electrones hacia el nodo, o destino, que golpean con velocidad muy alta. rayos X se producen en la punto de impacto e irradian en todas las direcciones. Si e es la carga del tron elec (4,80 X 10 ~ 10 esu) y 1) el voltaje (en esu) * a travs de los electrodos, a continuacin, la energa cintica (en ergios) * de los electrones de impacto est dada por la ecuacin KE - eV = \ mv *, (1-3) donde m es la masa del electrn (9,11 X 10 ~ 28 gm) y v su velocidad justo antes del impacto. Con una tensin de 30.000 voltios tubo (unidades prcticas), esta velocidad es aproximadamente un tercio de la luz. La mayor parte de la energa cintica de los electrones que llegan a la diana se convierte en calor, menos de 1 por ciento se transforma en rayos x. Cuando los rayos provenientes de la diana se analizan, se encuentra que estn consisten en una mezcla de diferentes longitudes de onda, y la variacin de la intensidad * 1 voltio (unidades prcticas) = ^ fo voltios (esu). 1-3] El espectro continuo 1.0 2.0 Longitud de onda (angstroms) La figura. 1-4. Espectro de rayos X de molibdeno como una funcin del voltaje aplicado (sche matic). Anchos de lnea no es a escala. con longitud de onda se encuentra que dependen de la tensin del tubo. Figura 1-4 muestra el tipo de curvas obtenidas. La intensidad es cero hasta un cierto longitud de onda, llamada el corto wavelengthjimit (XSWL), aumenta rpidamente a un mximo y luego disminuye, sin lmite agudo en la longitud de onda larga lado. * Cuando el voltaje del tubo se levanta, la intensidad de todas las longitudes de onda aumenta, y tanto el lmite de longitud de onda corta y la posicin de la imum max cambiar a longitudes de onda cortas. Estamos preocupados ahora con la suaves curvas en la Fig. 1-4., los correspondientes a voltajes aplicados de 20 kV o menos en el caso de un objetivo de molibdeno. La radiacin represen tantes por estas curvas se llama cin heterochromatic, radiacin continua, o blanco, ya que se compone, como luz blanca, de los rayos de longitudes de onda de muchos. El espectro continuo es debido a la rpida desaceleracin de los electrones golpear el objetivo, ya que, como se mencion anteriormente, cualquier carga desacelerado emite No energa de cada electrn se desacelera de la misma manera, sin embargo;. algunos Se detuvo en un impacto y renunciar a toda su energa a la vez, mientras que otros se desvan de esta manera y que por los tomos del blanco, sucesivamente

perdiendo fracciones de su energa cintica total hasta que todo pas. Los electrones que son interceptados en un impacto dar lugar a fotones de la energa mxima, es decir, a los rayos X de longitud de onda mnima. Tales electrones transferir toda su energa en eV energa fotnica y escribir puede PROPIEDADES DE LOS RAYOS X [CAP. 1 c l 12.400 (1-4) Esta ecuacin da el lmite de longitud de onda corta (en angstroms) como de funcin de la tensin aplicada V (en unidades prcticas). Si un electrn no est detenido por completo en un encuentro pero se somete a un impacto mirando que slo parcialmente disminuye su velocidad, a continuacin, slo una fraccin de su energa eV es emitida como radiacin y el fotn producido tiene menos de energa que hpmax-En trminos de movimiento de las olas, la correspondiente radiografa tiene una frecuencia menor que v max y una longitud de onda ms larga que XSWL-La totalidad de estos longitudes de onda que van hacia arriba desde ASWL, constituye el continuo trum spec. Ahora vemos por qu las curvas de la figura 1-4. Tornan ms altas y pasar a la la izquierda como la tensin aplicada se incrementa, ya que el nmero de fotones producidos pro por segundo y la energa media por fotn estn ambos en aumento. El total de energa de rayos X emitida por segundo, que es proporcional a la rea bajo una de las curvas de la figura. 1-4, tambin depende de la atmica nm ero Z de la diana y en el tubo de corriente i, siendo esta ltima una medida de el nmero de electrones por segundo golpear el objetivo. Este total x-ray intensidad est dada por / = AlZV ciento espectro, (1-5) donde A es una constante de proporcionalidad y m es una constante con un valor de aproximadamente 2. Donde grandes cantidades de radiacin blanco se desea, es all tanto necesario el uso de un metal pesado como el tungsteno (Z = 74), como un objetivo y como una tensin alta como sea posible. Tenga en cuenta que el material de t el objetivo afecta la intensidad, pero no THG. wftVdfin fi ^ O h distribucin f t.hp.. p.ont.iniiniia spec trum, 1-4 el espectro caracterstico. Cuando el voltaje en un tubo de rayos X se eleva por encima de un cierto valor crtico, caracterstico del metal objetivo, fuerte intensidad maxima aparecen en ciertas longitudes de onda, superpuesta a el espectro continuo. Ya que son tan estrechas y sus longitudes de onda desde son caractersticos del metal objetivo utilizado, se les llama rstica caractersticas lneas. Estas lneas se dividen en varios grupos, se refiere como K, L, M, etc, en el orden de longitud de onda creciente, todas las lneas entre s formando el espectro caracterstico del metal utilizado como diana. Para una molibdeno molyb orientar las lneas K tienen longitudes de onda de alrededor de 0,7 A, las lneas L sobre 5A, y las lneas M longitudes de onda todava mayores. Normalmente slo la K lneas son tiles en la difraccin de rayos X, las lneas de mayor longitud de onda siendo demasiado fcilmente absorbido. Hay varias lneas en el conjunto K, pero el nico 1-4] el espectro caracterstico 7 ms fuerte tres se observ en el trabajo de difraccin normal. Estos son los ctz y KFA, y para el molibdeno sus longitudes de onda son: 0.70926A, Ka 2: 0.71354A, 0.63225A. Los componentes I y 2 tienen longitudes de onda tan juntos que se

no siempre se resuelven como lneas separadas, si se resuelven, se les llama la Ka doblete y, si no se resuelve, simplemente la lnea Ka * Del mismo modo, K & \ es normalmente se conoce como la lnea K @, con el subndice cado. Ka \ es siempre alrededor de dos veces tan fuerte como% Ka, mientras que la relacin de intensidad de Ka \a Kfli depende del nmero atmico, pero tiene un promedio de 5/1. Estas lneas caractersticas pueden verse en la curva superior de la figura. 1-4. Dado que el voltaje de excitacin K crtica, es decir, el voltaje necesario excitar radiacin caracterstica K, es 20,01 kv para el molibdeno, de las lneas K no aparecen en las curvas inferior de la figura. 1-4. Un aumento en el voltaje por encima de la tensin crtica aumenta la intensidad de la caracterstica lneas en relacin con el espectro continuo pero no cambia sus longitudes de onda. La figura 1-5 muestra el espectro de molibdeno a 35 kV en un comprimido de escala vertical con relacin a la de la Fig. 1-4;. el voltaje aumentado ha cambiado el espectro continuo de longitudes de onda ms cortas an y arrugado en las intensidades de las lneas K en relacin con el espectro continuo pero no ha cambiado sus longitudes de onda. La intensidad de cualquier lnea caracterstica, medida por encima de la continua espectro, depende tanto de la i corriente del tubo y la cantidad por la cual la tensin aplicada V sea superior a la tensin de excitacin crtico para esa lnea. Para una lnea K, la intensidad est dada por IK lnea = Bi (V - V K) n , (1-6) donde B es una constante de proporcionalidad, VK el voltaje de excitacin K, y n una constante con un valor de aproximadamente 1,5. La intensidad de una caracterstica lnea pueden ser bastante grandes: por ejemplo, en la radiacin de un objetivo de cobre operado a 30 kV, la lnea Ka tiene una intensidad de aproximadamente 90 veces la de la longitudes de onda inmediatamente adyacentes a ella en el espectro continuo. Sea lados siendo muy intensa, lneas caractersticas son tambin muy estrecha, la mayora de los ellos menos de 0,001 A de ancho medidos a su media mxima intensidad, como se muestra en la figura. 1-5. La existencia de este Ka fuerte fuerte. Lnea es lo que hace que una gran cantidad de difraccin de rayos X sea posible, ya que muchos de difraccin experimentos requieren el uso de aproximadamente monocromtica o mono cromtica radiacin. * La longitud de onda de una asignatura pendiente doblete Ka se toma generalmente como el promedio ponderado promedio de las longitudes de onda de sus componentes, Kai se administra dos veces el peso % de Ka, ya que es dos veces ms fuerte. As, la longitud de onda de la sin resolver Ka Mo lnea es J (2 x 0,70926 + 0,71354) = 0.71069A. PROPIEDADES DE LOS RAYOS X [CAP. 1 60 50 40 .5 1 30 20 10 Ka * - <0,001 A 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 Longitud de onda (angstroms) FIG. 1-5. Espectro de Mo a 35 kv (esquema). Anchos de lnea no es a escala.

Las caractersticas de rayos X de las lneas fueron descubiertas por WH Bragg y sistematizada por HG Moseley. Este ltimo encontr que la longitud de onda de cualquier lnea particular disminuy a medida que el nmero atmico del emisor aumentado. En particular, se encontr una relacin lineal (ley de Moseley) entre el raz cuadrada de la frecuencia de la lnea V y el nmero atmico Z: = C (Z er), (1-7) donde C y <r son constantes. Esta relacin se representa en la fig. 1-6 para la Kai y lneas Lai, siendo esta ltima la lnea ms fuerte en la serie L. Estos curvas muestran, por cierto, que las lneas L no siempre son de larga longitud de onda: la lnea de Lai de un metal pesado como el tungsteno, por ejemplo, tiene cerca el sintona con la lnea Ka \ del cobre, es decir, aproximadamente 1,5. La 1-4] el espectro caracterstico 3.0 2.5 2.0 X (angstroms) 1.5 1.0 0.8 0.7 80 70 60 Yo W w 50 u s 40 30 20 10 T III T Yo 1,0 1,2 1,4 1,6 1,8 2,0 2,2 X 10 9 FIG. 1-6. Relacin de Moseley entre \ / V y Z para dos lneas caractersticas. longitudes de onda de los rayos X caractersticos lneas de casi todos los gobiernos conocidos elementos Se han medido con precisin, principalmente por M. Siegbahn y su asociados, y una tabulacin de estas longitudes de onda de las lneas ms fuertes de la serie K y L se encuentra en el Apndice 3. Mientras que el cQntinuoi ^ s_srjex; truri ^ js causado byjthe T ^ ^ ^ ^ ^ dej tignj) ^ electrones por el t targe ; El origen de ^ M cscara tomos j3i_tl ^ _taj ^ J) _jrnaterial s mismo. Para comprender este fenmeno, es suficiente para considerar un tomo como con sisting de un ncleo central rodeado por los electrones situados en diversos shells (Fig. 1-7). Si uno de los electrones bombardear el objetivo tiene suficiente energa cintica, se puede llamar un tron elec

de la capa K, dejando la tomo en un estado excitado, de alta energa del estado, FLG ^ Elec trnicos transiciones en un m at0 (esquema). Emisin Proc eses indicado por las flechas. 10 Propiedades de los rayos X [CAP. 1 Uno de los electrones externos inmediatamente cae en la vacante en la capa K, emitiendo energa en el proceso, y el tomo est de nuevo en su posicin normal estado de energa. La energa emitida es en la forma de radiacin de una determinada longitud de onda y es, de hecho, la radiacin K caracterstica. La vacante JFF-shell puede ser llenado por un electrn de uno cualquiera de los corazas externas, dando lugar as a una serie de lneas K; Ka y K & lneas, para ejemplo, el resultado de la provisin de una vacante de la capa K por un electrn desde las conchas M LOT, respectivamente. Es posible llenar una vacante 7-shell ya sea de la capa L o M, de modo que un tomo de la diana puede estar emitiendo Ka radiacin mientras que su vecino est emitiendo Kfi \ sin embargo, es ms probable que una vacante jf-shell ser ocupado por un electrn L de un electrn M, y el resultado es que la lnea de Ka es ms fuerte que la lnea K $. Se Tambin se deduce que es imposible para excitar una lnea K sin excitar todos las otras lneas. L caractersticos se originan de forma similar: un electrn es eliminado de la capa L y la vacante se llena con un electrn de algunos carcasa exterior. Ahora vemos por qu debera haber una tensin de excitacin fundamental para carac terstica radiacin. K radiacin, por ejemplo, no puede ser excitado a menos que el voltaje del tubo es tal que los electrones que bombardean tienen suficiente energa para golpear un electrn de la capa K de un tomo de destino. Si WK es el trabajo necesario para quitar un electrn K, entonces la energa cintica necesaria de los electrones viene dada por ynxr = WK-(1 ~ 8) Requiere menos energa para arrancar un electrn L que un electrn K, ya que la primera est ms lejos del ncleo, por lo tanto, se deduce que la excitacin L tensin es inferior a la K y que la radiacin caracterstica K no puede se produce sin L, M, etc, la radiacin que lo acompaan. 1-6 Absorcin. Comprensin adicional de las transiciones electrnicas lo que puede ocurrir en los tomos puede ser adquirida por considerando no slo la accin inter de los electrones y tomos, sino tambin la interaccin de los rayos X y los tomos. Cuando los rayos X encuentra alguna forma de materia, estn en parte transmitida y en parte absorbida. Experimento muestra que la disminucin fraccionada en la intensidad 7 de un haz de rayos X a medida que pasa a travs de cualquier homognea sustancia es proporcional a la distancia recorrida, x. en forma diferencial, -J-/.AC, (1-9) donde la constante de proporcionalidad / u se denomina lineal coefi ciente de absorcin y depende de la sustancia considerada, su densidad, y el Integracin longitud de onda de los rayos-X. de la ec. (1-9) da 4 - / o **, (1-10) donde / o = intensidad del rayo X incidente del haz y I x = intensidad de trans cometidos haz despus de pasar a travs de un x espesor. 1-5] ABSORCIN 11 El coeficiente de absorcin lineal / z es proporcional a la densidad p, el cual significa que la cantidad M / P es una constante del material e independiente

de su estado fsico (slido, lquido o gas). Esta ltima cantidad, el llamado coeficiente de absorcin de masa, es la que habitualmente se tabularon. Ecuacin (1-10) a continuacin, puede ser reescrita en una forma ms til: (1-11) Los valores del coeficiente de absorcin de masa / i / p se dan en el Apndice 4 para diferentes longitudes de onda caractersticas utilizadas en la difraccin. Ocasionalmente es necesario conocer el coeficiente de absorcin de masa de un sustancia que contiene ms de un elemento. si la sustancia es un mezcla mecnica, una solucin, o un compuesto qumico, y si se est en el estado slido, lquido o gaseoso, su coeficiente de absorcin de masa es simplemente la media ponderada de los coeficientes de absorcin de masa de sus elementos constitutivos. Si Wi, w 2, etc, son las fracciones en peso de los elementos 1, 2, etc, en la sustancia y (M / P) I, (M / P) 2j etc, su absorcin de masa coeficientes, entonces el coeficiente de absorcin de masa de la sustancia se administra por - = Wl ( -J + W2 ( -J + .... (1-12) La forma en que la absorcin coeficiente vara con la longitud de onda da la clave de la interaccin de los rayos X y los tomos de la curva inferior. de la fig. 1-8 muestra esta variacin para una absorbedor de nquel, es tpico de todos los materiales. La curva se compone de dos ramas similares separados por una fuerte discontinuidad llama una absorcin borde. largo de cada rama de la absorcin cin coeficiente vara con la longitud de onda aproximadamente de acuerdo a una relacin de la forma M P donde k = una constante, con un diferente valor para cada rama de la curva, y Z = nmero atmico del absorbedor. Corto de longitud de onda de rayos X, por tanto, y son altamente penetrante 0,5 1,0 1,5 2,0 2. X (angstroms) La figura. 1-8. Variacin con la longitud de onda de la energa por rayos X cuntica y del coeficiente de absorcin de masa de nquel. 12 Propiedades de los rayos X [CAP. 1 denominado duro, mientras que a largo-longitud de onda de rayos X se absorbe fcilmente y se dijo a ser suave. La materia absorbe los rayos X en dos formas distintas, por dispersin y por cierto absorcin, y estos dos procesos juntos forman la absorcin total medida por la cantidad M/P- La dispersin de rayos X por los tomos es similar

en muchos aspectos a la dispersin de la luz visible por partculas de polvo en el aire. Se lleva a cabo en todas las direcciones, y puesto que la energa en los haces dispersos no aparece en el haz transmitido, que es, la medida en que la transmitida haz se refiere, dicho para ser absorbidos. El fenmeno de la dispersin se discuten en mayor detalle en el captulo 4;. es suficiente sealar aqu que, a excepcin de los elementos muy ligeros, es responsable de slo una pequea fraccin del total absorcin. absorcin verdadera es causada por la electrnica transiciones en el tomo y est mejor considerado desde el punto de vista la teora cuntica de la radiacin. As como un electrn de energa suficiente puede golpear un electrn K, por ejemplo, de un tomo y por lo tanto causar la emisin de radiacin caracterstica K, por lo que tambin puede un quantum incidente de rayos X, se ha previsto la cantidad mnima de energa mismo WK-En el este ltimo caso, el electrn expulsado se llama un fotoelectrones emitidos y el radiacin caracterstica se llama radiacin fluorescente. Se irradia en todas direcciones y tiene exactamente la misma longitud de onda de la radiacin caracterstica causada por bombardeo de electrones de un blanco de metal. (En efecto, una tomo con una vacante #-shell siempre emite radiacin K no importa cmo la vacante se cre originalmente.) Este fenmeno es la contraparte de rayos X del efecto fotoelctrico en la regin ultravioleta del espectro; all, fotoelectrones puede ser expulsado de las capas exteriores de un tomo de metal por la accin de la radiacin ultravioleta, siempre que el ltimo tiene una longitud de onda menos de un cierto valor crtico. Decir que la energa de los cuantos entrante debe exceder un cierto WK valor es equivalente a decir que la longitud de onda debe ser menor que un X ciertos umbrales #, ya que la energa cuntica es por hv y longitud de onda es inversamente proporcional a la frecuencia. Estas relaciones pueden ser escritos l donde V K y K \ son la frecuencia y la longitud de onda, respectivamente, de la Borde K de absorcin. Consideremos ahora la curva de absorcin de la fig. 1-8 en la luz de los anteriores. Supongamos que los rayos X de longitud de onda son 2.5A incidente sobre una hoja de nquel y que esta longitud de onda se disminuy constantemente. En primero el coeficiente de absorcin es de aproximadamente 180 cm 2 / G, pero como la longitud de onda disminuye, la frecuencia aumenta y tambin lo hace la energa por cuanto, como se muestra por la curva superior, haciendo as que el coeficiente de absorcin disminuir, ya que cuanto mayor es la energa de un cuanto ms fcilmente se pasa a travs de un absorbedor. Cuando la longitud de onda se reduce justo debajo 1-5] ABSORCIN 13 el valor crtico A #, que es 1.488A para el nquel, el coeficiente de absorcin de repente aumenta aproximadamente ocho veces su valor. absorcin verdadera es ahora oc curring y una gran fraccin de los cuantos incidente simplemente desaparecen, su energa se convierte en radiacin fluorescente y la energa cintica de fotoelectrones expulsados. Dado que la energa debe ser conservado en el proceso, se deduce que la energa por cuntica de la radiacin fluorescente debe ser menor que la de la radiacin incidente, o que la longitud de onda \ K de el borde de absorcin K debe ser ms corta que la de cualquier caracterstica K lnea. Como la longitud de onda del haz incidente se reduce por debajo Xx, la absorcin coeficiente comienza a disminuir de nuevo, a pesar de que la produccin de la radiacin fluorescente y K fotoelectrones se sigue produciendo. En una longitud de onda

l.OA de, por ejemplo, los cuantos incidente tiene ms que suficiente energa para quitar un electrn de la capa K de nquel. Pero la ms energticas de la quanta convertido, mayor es su probabilidad de pasar derecha a travs del absorbedor, con el resultado de que cada vez menos de ellos toman parte en la eyeccin de fotoelectrones. Si la curva de absorcin de nquel se traza para longitudes de onda mayores que 2,5 A, es decir, ms all del lmite de la fig. 1-8, otras discontinuidades agudas ser encontrado Estos son los L, M, N, etc, bordes de absorcin;. de hecho, hay tres muy juntas bordes L (Lj, Ln, y I / m), cinco aristas M, etc Cada de estas discontinuidades marca la longitud de onda del haz incidente cuya quanta tienen slo energa suficiente para expulsar una L, M, N, etc, de electrones desde el tomo. La rama derecha de la curva de la figura. 1-8, por ejemplo, se encuentra entre el K y L bordes de absorcin, en esta regin de longitud de onda abolladura INCI los rayos X tienen suficiente energa para eliminar L, M, etc, los electrones de nquel pero no lo suficiente como para eliminar los electrones K. borde de absorcin-longitudes de onda variar con el nmero atmico del absorbente de la misma manera, pero no tan exactamente, como longitudes de onda de emisin caractersticos, es decir, segn a la ley de Moseley. Valores de la longitud de onda K y L del borde de absorcinfiguran en el apndice 3. Los valores medidos de los bordes de absorcin se puede utilizar para construir un diagrama de niveles de energa para el tomo, que a su vez puede ser utilizado en la clculo de las longitudes de onda caracterstica de lnea. Por ejemplo, si tomamos la energa del tomo neutro como cero, entonces la energa de un tomo ionizado (Un tomo en un estado excitado) ser alguna cantidad positiva, ya que el trabajo se debe hacer para tirar de un electrn desde el ncleo cargado positivamente. Si un electrn K se retira, trabajan igual a WK debe hacerse y el tomo se dice que es en el estado de energa K. Las WK energa se puede calcular de la longitud de onda del borde de absorcin K por el uso de la ec. (1-14). De manera similar, las energas de la L, M, etc, los estados pueden calcularse a partir de la longitudes de onda de la L, M, etc, bordes de absorcin y los resultados graficados en la forma de un diagrama de niveles de energa para el tomo (Fig. 1-9). 14 Propiedades de los rayos X [CAP. 1 K estado (A electrn eliminado) Estado L (L electrn eliminado) M estado (M electrn eliminado) N Estado (N electrn eliminado) electrn de valencia eliminado tomo neutro FIG. 1-9. Niveles de energa atmica (esquema). Excitacin y emisin procesos indicado por las flechas. (De Estructura de los metales, por C. S. Barrett, McGraw-Hill Book Company, Inc., 1952.) Aunque este diagrama se simplifica, en que la subestructura de la L, M, etc, los niveles no se muestra, que ilustra los principios fundamentales. Las flechas mostrar las transiciones del tomo y sus direcciones, por lo tanto slo el opuesto de las flechas en la figura. 1-7, que muestra las transiciones de la electrn. As, si un electrn K es removido de un tomo (ya sea por una incidente de electrones o de rayos X-), el tomo es elevado al estado K. Si un tron elec a continuacin, se mueve desde la L hasta el nivel K para llenar la vacante, el tomo experimenta una transicin desde el K al estado L. Esta transicin se acompa ado por la emisin de radiacin Ka caracterstica y la flecha indi cando

Emisin Kot En consecuencia, se extrae del estado K para el estado L. La Figura 1-9 muestra claramente cmo las longitudes de onda de emisin caracterstica lneas puede ser calculado, puesto que la diferencia de energa entre dos estados ser igual a hv, donde v es la frecuencia de la radiacin emitida cuando el 1-5] ABSORCIN 15 tomo pasa de un estado a otro. Tenga en cuenta la caracterstica Kai lnea, por ejemplo. El "nivel L" de un tomo es en realidad un grupo de tres niveles muy juntos (Li, Ln, y LIU), y la emisin de la lnea de Kai se debe a una transicin Lm K>. La frecuencia VK ai de esta lnea es por lo tanto dado por las ecuaciones hi> K <* I (1-15) 1 X /, 111 donde los subndices K y Lm refieren a bordes de absorcin y el subndice Kai a la lnea de emisin. Tensiones de excitacin puede ser calculado por una relacin similar a la ecuacin. (1-4). Para excitar la radiacin K, por ejemplo, en el objetivo de un tubo de rayos X, la barda bom electrones deben tener una energa igual a WK> Por lo tanto W=K= i. l ' e\K 12.400 l . * (1-16) donde VK es el voltaje de excitacin K (en unidades prcticas) y \ K es la K absorcin de longitud de onda de borde (en angstroms). Figura 1-10 resume algunas de las relaciones desarrolladas anteriormente. Este curva da el lmite de longitud de onda corta del espectro continuo como funcin de la tensin aplicada. Debido a la similitud ser Tween Ecs. (1-4) y (1-16), la misma curva tambin nos permite crtico para determinar la exci tacin voltaje de la longitud de onda de un borde de absorcin. La figura. 1-10. Relacin entre el voltaje aplicado a una radiografa tubo y la longitud de onda corta limitar el espectro continuo, y entre el crtico cin excitacin voltaje de cualquier metal y el longitud de onda de su borde de absorcin. 0.5 1.0 1.5 2.0 X (angstroms) 2.5 3.0 16 propiedades de los rayos X [CAP. 1 A'a

1.2 1.4 1.6 X (angstroms) 1.8 1.2 1.4 1.6 X (angstroms) (B) Nquel filtro 1,8 (A) Ningn filtro La figura. 1-11. Comparacin de los espectros de radiacin de cobre (a) antes y (b) despus de pasar por un filtro de nquel (esquema). La lnea punteada es la masa de absorcin ab coeficiente de nquel. 1-6 Filtros. Muchas de rayos X experimentos de difraccin requiere radiacin que es tan estrechamente como sea posible monocromtica. Sin embargo, el haz de un tubo de rayos X operado a un voltaje por encima de VK contiene no slo los fuertes Ka lnea, sino tambin la lnea Kft ms dbil y el espectro continuo. La intensidad de estos componentes indeseables se puede disminuir en relacin con la intensidad de la lnea Ka haciendo pasar el haz a travs de un filtro hecho de una material cuyo borde K de absorcin se encuentra entre el Ka y longitudes de onda KFL del metal objetivo. Tal material tendr un nmero atmico 1 o 2 menos que la del metal objetivo. Un filtro de modo elegido va a absorber el componente Kfi mucho ms fuertemente que el componente de Ka, debido al cambio abrupto en su absorcin coeficiente de correlacin entre estas dos longitudes de onda. El efecto de la filtracin se muestran en la fig. 1-11, en el que los espectros parcial de la filtrada y no filtrada vigas de un objetivo de cobre (Z = 29) se muestra superpuesta sobre una parcela del coeficiente de absorcin de masa del filtro de nquel (Z = 28). Cuanto ms grueso que el filtro ms baja es la relacin de la intensidad de Kft a Ka en la haz transmitido. Pero filtracin nunca es perfecto, por supuesto, no importa el grosor del filtro, y hay un compromiso entre apoyo razonable depresin del componente Kfi y el debilitamiento inevitable de la Ka componente que lo acompaa. En la prctica se ha encontrado que una reduccin 1-7] LA PRODUCCIN DE RAYOS X-17 TABLA 1-1 FILTROS PARA SUPRESIN DE K / 3 RADIACIN en la intensidad de la lnea de Ka a aproximadamente la mitad de su valor original disminuir la relacin de la intensidad de K y Ka a partir de aproximadamente ^ en el haz incidente a sobre-GFA en el haz transmitido; este nivel es suficientemente bajo para la mayora propsitos. Tabla 1-1 muestra los filtros utilizados en conjuncin con el lun com metales diana, los espesores necesarios y los factores de transmisin para la lnea de Ka. Los materiales de filtro se utilizan generalmente en forma de lminas delgadas. Si no es posible obtener un metal dado en la forma de una lmina estable, la xido del metal se puede utilizar. El xido en polvo se mezcla con un aglomerante adecuado y se extendi sobre un soporte de papel, la masa requerida de metal por unidad de rea que se dan en la Tabla 1-1. 1.7 La produccin de rayos-X. Hemos visto que los rayos X son producidos cuando electrones de alta velocidad colisionan con un blanco metlico. Cualquier x-ray tubo por lo tanto debe contener (a) una fuente de electrones, (6) una aceleracin alta namiento voltaje, y (c) un metal objetivo. Adems, dado que la mayor parte de la la energa cintica de los electrones se convierte en calor en el objetivo, la este ltimo debe ser refrigerado por agua para evitar su fusin. Todos los tubos de rayos X contienen dos electrodos, un nodo (el blanco de metal) mantenido, con pocas excepciones, a potencial de tierra, y un ctodo, mantiene a un potencial negativo alto, normalmente del orden de 30.000

a 50.000 voltios para el trabajo de difraccin. tubos de rayos X puede ser dividido en dos tipos bsicos, de acuerdo con la manera en que los electrones se proporcionan: filamento tubos, en el que la fuente de electrones es un filamento caliente, y los tubos de gas, en el cual los electrones son producidos por la ionizacin de una pequea cantidad de gas en el tubo. Tubos de incandescencia, inventados por Coolidge en 1913, son, con mucho, el ms ampliamente utilizado \ Consisten en una envoltura de vidrio al vaco que asla el nodo en un extremo del ctodo al otro, siendo el ctodo un de filamento de tungsteno y el nodo de un bloque refrigerado por agua de cobre que contiene el objetivo deseado de metal como un inserto pequeo en un extremo. Figura 1-12 18 Propiedades de los rayos X [CAP. 1 1-7] LA PRODUCCIN DE X-19 EAY8 es una fotografa de un tubo, y la fig. 1-13 muestra su construccin interna cin. Un cable de transformador de alta tensin est conectado a la ambiente fila y el otro a tierra, el objetivo que se est conectado a tierra por su propia agua de refrigeracin conexin. El filamento se calienta mediante una corriente de filamento de aproximadamente 3 amp y emite electrones que son rpidamente atrado por el objetivo de la alto voltaje a travs del tubo. Rodeando el filamento es un metal pequea taza mantiene en el mismo alto (negativo) de tensin como el filamento: se por lo tanto, repele los electrones y tiende a concentrarse en una regin estrecha de la diana, llamado el punto focal. rayos X son emitidos desde la focal lugar en todas las direcciones y escapar de la sonda a travs de dos o ms ventanas victoria en la carcasa del tubo. Puesto que estas ventanas debe ser hermtico al vaco y sin embargo altamente transparente a los rayos X, se hacen generalmente de berilio, de aluminio o mica. Aunque se podra pensar que un tubo de rayos X que slo operan a partir una fuente de corriente continua, ya que el flujo de electrones debe ser slo en una direccin, es realmente posible hacer funcionar un tubo desde una fuente de CA tal como un transformador debido a las propiedades de rectificacin del propio tubo. actual existe durante el medio ciclo en el que el filamento es negativo con respecto a la objetivo, durante el medio ciclo inverso del filamento es positivo, pero no elec trones puede fluir ya que slo el filamento est lo suficientemente caliente para emitir electrones. As, un simple circuito, como se muestra en la fig. 1-14 suficiente para muchas instalaciones, aunque circuitos ms complejos, que contienen los tubos rectificadores, ing suave condensadores, y estabilizadores de voltaje, se utilizan a menudo, particularmente cuando la intensidad de rayos X debe mantenerse constante dentro de lmites estrechos. En la fig. 1-14, la tensin aplicada al tubo se controla por el autotransformador que controla la tensin aplicada al primario del alto voltaje transformador. El voltmetro muestra mide la tensin de entrada, pero puede ser calibrados, si se desea, para leer la tensin de salida aplicada al tubo. \ Tubo de rayos ri'ISZ ~ il transformador de alta tensin M AK Q-0-0-0 Q.ooo QQQQ Q, Q Q *. suelo f autotransformador 0000001) 1) 0 " filamento restato 000000000 filamento transformador

110 voltios de corriente alterna 110 voltios de corriente alterna La figura. 1-14. Esquema de conexin para la auto-rectificacin tubo de filamento. 20 OP Properties RAYOS X [CAP. 1 c o 1-8] DETECCIN DE RAYOS X-23 electrones radiografas objetivo metal nodo La figura. 1-16. Reduccin en aparente tamao de la mancha focal. La figura. 1-17. Esquemticos dibujos de dos tipos de nodo rotatorio de alta potencia x-rav tubos. Puesto que un tubo de rayos X es menor que 1 por ciento de eficiencia en la produccin de rayos X y desde la difraccin de rayos X por cristales es mucho menos eficiente que este, se sigue que las intensidades de difraccin de rayos X vigas son extremadamente bajos. De hecho, se puede requerir tanto como la exposicin de varias horas a una fotogrfico pelcula con el fin de detectar en absoluto. esfuerzos constantes consiguiente, se estn hizo para aumentar la intensidad de la fuente de rayos x. Una solucin a este problema es el tubo giratorio anodc, en el que la rotacin del nodo continuamente trae de metal blanco fresco en el rea del punto focal y por lo tanto permite una potencia mayor de entrada sin un calentamiento excesivo del nodo. Figura 1-17 muestra dos diseos que se han utilizado con xito, el rotar los ejes a travs del vaco cierres estancos en la carcasa del tubo. Tales tubos pueden operar a un nivel de potencia de 5 a 10 veces mayor que la de un tubo de foco fijo, con las correspondientes reducciones en el tiempo de exposicin. 1-8 Deteccin de rayos x. Los principales medios utilizados para detectar rayos X vigas son pantallas fluorescentes, pelculas fotogrficas y los dispositivos de ionizacin. Pantallas fluorescentes estn formadas por una fina capa de sulfuro de zinc, que contiene una traza de nquel, montado sobre un soporte de cartn. Bajo la accin de rayos X, este compuesto emite fluorescencia en la regin visible, es decir, emite visible luz, en este caso de color amarillo claro. Aunque la mayora de los haces difractados son demasiado dbil para ser detectada por este mtodo, pantallas fluorescentes se utilizan ampliamente en el trabajo de difraccin para localizar la posicin del haz primario cuando se ajusta aparato. Un cristal fluorescente tambin puede ser usado en conjuncin con una clula fotoelctrica, la combinacin, llamado un contador de centelleo, es un muy detector sensible de rayos-X. 24 Propiedades de los rayos X [CAP. 1 (A) (H) K borde de plata (0.48a). Un borde 'de bromo (0.92) V 115

X (angstroms) FIG. 1-18. Relacin entre el cine sensibilidad y la forma efectiva de estafa continua espectro (esquemtica): (a) con continuo espectro de un objetivo de tungsteno a 40 kV; (b) sensibilidad de la pelcula, (c) negro ening curva de espectro que se muestra en (a). La pelcula fotogrfica se ve afectada por los rayos X en mucho la misma manera que por la luz visible, y la pelcula es la ms medio ampliamente utilizado para la grabacin dif fracted haces de rayos X. Sin embargo, los emulsin en pelcula ordinario es demasiado delgado para absorber gran parte del incidente radiacin X, y slo se absorbe los rayos X. pueden ser eficaces en ennegrecimiento la pelcula. Por esta razn, las radiografas estn hechos con capas ms gruesas de emulsin en ambos lados con el fin de aumentar la absorcin total. La tamao de grano tambin se hace grande para el mismo fin: esto tiene el desafortunado consecuencia de que las radiografas tienen puntos, no resuelven bien la cola de, y no puede soportar mucho agrandar ambiente. Debido a que la absorcin de CO en masa eficiente de cualquier sustancia vara con longitud de onda, se deduce que sen sibilidad pelcula, es decir, la cantidad de blacken ING causada por haces de rayos X de la misma intensidad, depende de su longitud de onda. Esto se debe tener lh mente cuando la radiacin es blanco registran fotogrficamente; para uno cosa, esta variacin de la sensibilidad al tros la forma efectiva de la continua espectro. La figura l-18 (a) muestra la intensidad de la continua espectro como una funcin de la longitud de onda y (b) la variacin de pelcula sensibilidad. Esta ltima curva es simplemente un grfico de la masa cin absorcin coeficiente de bromuro de plata, el ingrediente activo de la emul sin, y se caracteriza por lazos discontinui en los bordes de absorcin K de plata y bromo. (Nota, incidental total, cuanto ms sensible sea el la pelcula es a la radiacin A 'de polica 1 9] MEDIDAS DE SEGURIDAD 25 por que a la radiacin K de molibdeno, en igualdad de condiciones.) La curva (c) de la fig. 1-18 muestra el resultado neto, es decir, la cantidad de pelcula

ennegrecimiento causado por los componentes de longitud de onda diferentes de las unidades organizativas continuamente espectro, o lo que podra llamarse la "efectiva fotogrfica en intensidad" del espectro continuo. Estas curvas son slo aproximados, Sin embargo, y en la prctica es casi imposible de medir photographi camente las intensidades relativas de dos haces de longitud de onda diferente. En la Por otro lado, las intensidades relativas de los rayos de la misma longitud de onda puede ser medido con precisin por medios fotogrficos, y mediciones tales se describen en el cap. 6. dispositivos de ionizacin medir la intensidad de los rayos X por la cantidad de ionizacin que producen en un gas. rayos X quanta pueden producir ionizacin como electrones de alta velocidad puedan, a saber, por la anulacin de un electrn de un molcula de gas y dejando atrs un ion positivo. Este fenmeno puede ser hizo la base de mediciones de la intensidad que pasa por el haz de rayos X a travs de una cmara que contiene un gas adecuado y dos electrodos que tienen una diferencia de potencial constante entre ellos. Los electrones son atrados al nodo y los iones positivos hacia el ctodo y la corriente es por lo tanto un producido en un circuito externo. En la cmara de ionizacin, esta corriente es constante para una constante de intensidad de rayos X, y la magnitud de la corriente es una medida de la intensidad de rayos x. En el contador Geiger y proporcional contador, esto pulsa actuales, y el nmero de impulsos por unidad de tiempo es proporcional a la intensidad de rayos x. Estos dispositivos se discuten ms plenamente en el Cap. 7. En general, las pantallas fluorescentes se utilizan hoy en da slo para la deteccin de haces de rayos X, mientras que la pelcula fotogrfica y las diversas formas de contadores permitir la deteccin y la medicin de la intensidad. pelcula fotogrfica es el mtodo ms ampliamente utilizado de la observacin de los efectos de difraccin, porque puede grabar un nmero de haces difractados en una vez y su relativa posiciones en el espacio y la pelcula se puede utilizar como una base para medir la intensidad de tos si se desea. Las intensidades se puede medir mucho ms rpidamente con contadores, y estos instrumentos estn volviendo ms y ms popular para los trabajo cuantitativo. Sin embargo, registran slo un haz difractado a una tiempo. 1.9 Precauciones de seguridad. El operador del aparato de rayos X se expone a dos peligros obvios, descargas elctricas y lesiones por radiacin, pero de tanto estos riesgos se pueden reducir a proporciones insignificantes por el diseo apropiado de equipamiento y cuidado razonable por parte del usuario. Sin embargo, es slo prudente que el trabajador radiografa para estar continuamente al tanto de estos peligros. El peligro de una descarga elctrica siempre est presente alrededor de alto voltaje utensilios y salas. El extremo del nodo de la mayora de los tubos de rayos X por lo general conectado a tierra y por lo tanto seguro, pero el extremo del ctodo es una fuente de peligro. tubos de gas y filamentos 26 Propiedades de los rayos X [CAP. 1 tubos de la variedad nonshockproof (como la que se muestra en la fig. 1-12) debern estar montado que su extremo del ctodo es totalmente inaccesible a los el usuario durante el funcionamiento, lo que puede llevarse a cabo colocando el ctodo terminar por debajo de una mesa, en una caja, detrs de una pantalla, etc La instalacin debera ser tan artificial que es imposible para el operador toque la partes de alto voltaje sin desconectar automticamente la alta tensin. A prueba de golpes acordonada tubos tambin estn disponibles: estos son encerradas en una

tierra cubierta de metal, y un cable aislado, a prueba de golpes conecta el extremo del ctodo al transformador. Ser a prueba de golpes, tal tubo tiene ventaja de que no necesita estar permanentemente fijado en posicin, pero puede ser establecido en varias posiciones segn sea necesario para los experimentos particulares. El riesgo de radiacin es debida al hecho de que los rayos X pueden destruir humano sue tis; de hecho, es precisamente esta caracterstica que se utiliza en terapia de rayos X por la muerte de las clulas cancerosas. Los efectos biolgicos de los rayos X son las quemaduras (Debido a la alta intensidad localizados vigas), enfermedad por radiacin (debido a la radiacin recibida generalmente por todo el cuerpo), y, en un nivel inferior de la radiacin intensidad, mutaciones genticas. Las quemaduras son dolorosas y pueden ser exposiciones leves difciles, si no imposibles, de sanar. hasta los rayos X no son acumulativo, pero por encima de un cierto nivel llamado "dosis de tolerancia," que tienen un efecto acumulativo y puede producir una lesin permanente. El rayos X utilizados en la difraccin son particularmente perjudiciales porque tienen relaciones relativamente longitudes de onda largas y por lo tanto se absorbe fcilmente por el cuerpo. No hay excusa hoy para recibir heridas graves ya x-ray trabajadores hizo a travs de la ignorancia. Probablemente habra ningn accidente si los rayos X eran visibles y producen una sensacin de ardor inmediato, pero son invisibles y quemaduras no se puede sentir de inmediato. Si el cuerpo ha recibido radiacin general por encima de la dosis de tolerancia, la primera notable efecto ser una reduccin del recuento de glbulos blancos de sangre de clulas, sangre de modo peridico que cuenta son aconsejables si hay alguna duda sobre el nivel general de intensidad en en el laboratorio. El procedimiento ms seguro para el experimentador a seguir es: primero, para localizar el haz primario del tubo con una pantalla fluorescente pequeo fijado a el extremo de una varilla y en lo sucesivo evitar, y segundo, para asegurarse de que l est bien protegida por pantallas de plomo o plomo de vidrio de la radiacin dispersa por la cmara u otro aparato que puede estar en el camino de la primaria viga. estricta y constante atencin a estas precauciones, se asegurar seguridad. PROBLEMAS 1-1. Cul es la frecuencia (por segundo) y la energa por cuntico (en ergs) de haces de rayos X de longitud de onda de 0,71 A (Mo Ka) y 1.54A l (Cu Ka) 1-2. Calcular la velocidad y la energa cintica con la que los electrones golpean el objetivo de un tubo de rayos X operado a 50.000 voltios. Cul es la longitud de onda corta PROBLEMAS 27 lmite del espectro continuo emitida y la energa mxima por cuntico de la radiacin? 1-3. Grficamente verificar la ley de Moseley para el K ($ \ lneas de Cu, Mo y W. 1-4. Representar la relacin de transmisin a la intensidad incidente vs espesor de plomo hoja de Mo radiacin Kot y un intervalo de espesor de 0,00 a 0,02 mm. 1-5. Grficamente verificar la ec. (1-13) para una absorcin de plomo y Mo Kot, Rh Ka, y Ag Ka radiacin. (Los coeficientes de absorcin de masa de plomo para estas radiaciones son 141, 95,8, y 74,4, respectivamente). partir de la curva, determinar la masa ab sorcin coeficiente de plomo para la radiacin de longitud de onda ms corta de un tubo op erated menos 60.000 voltios. 1-6. Plomo pantallas para la proteccin del personal de los laboratorios de difraccin de rayos X son generalmente por lo menos 1 mm de espesor. Calcular el "factor de transmisin" (/ trans. / / incidente) de tal pantalla para Cu Kot, Kot Mo, y la radiacin de menor longitud de onda a partir de una

tubo operado a 60.000 voltios. 1-7. (A) Clculo de los coeficientes de absorcin de masa de aire y lineal para Cr Ka radiacin. Suponga que el aire contiene 80 por ciento de nitrgeno y 20 por ciento de oxgeno en peso, (b) Grafique el factor de transmisin de aire para Cr radiacin Ka y un camino longitud de hasta 20 cm. 1-8. Una lmina de aluminio de espesor 1 mm reduce la intensidad de una monocromtica haz de rayos X a 23,9 por ciento de su valor original. Cul es la longitud de onda de la los rayos X? 1-9. Clculo de la tensin de excitacin K de cobre. 1-10. Calcular la longitud de onda del borde de absorcin Lm de molibdeno. 1-11. Calcular la longitud de onda de la lnea Cu Ka \. 1-12. Trazar la curva que se muestra en la fig. 1-10 y gurdelo para futuras consultas. 1-13. Qu voltaje debe ser aplicado a un tubo de molibdeno-objetivo con el fin que la emitida rayos X excitar una radiacin 'fluorescente a partir de una pieza de cobre colocado en el haz de rayos X. Cul es la longitud de onda de la radiacin fluorescente? En los problemas 14 y 15 toman los ratios de intensidad de Ka para K @ cin en radiacin no filtrada de la Tabla 1-1. 1-14. Supongamos que un filtro de nquel se requiere para producir una relacin de intensidad de Cu Ka de Cu K / 3 de 100/1 en el haz se filtra. Calcular el espesor de la fil ter y el factor de transmisin de la lnea Cu Ka. (JJL / P de nquel para Cu Kft ra diacin = 286 cm y ginebra.) 1-16. Filtros para el Co radiacin K son generalmente hechas de xido de hierro (Fe 2 03) en polvo en lugar de lmina de hierro. Si un filtro contiene 5 mg de Fe 2 3 / cm 2 , Cul es la transmisin factor para la lnea Co Ka? Cul es la relacin de intensidad de Co Co Ka a KQ en el haz filtrado? (Densidad de Fe 2 3 = 5,24 g / cm 3 , / I / p de hierro para la Cooperacin radiacin Ka = 59,5 cm 2 / g, M / P de oxgeno para la Cooperacin radiacin Ka = 20,2, pt / P de hierro para la Cooperacin Kfi radiacin = 371, JJL / P de oxgeno para la Cooperacin radiacin K0 = 15,0). 1-16. Cul es la potencia de entrada a una operacin tubo de rayos X a 40.000 voltios y a tube current of 25 ma? If the power cannot exceed this level, what is the maxi mum allowable tube current at 50,000 volts? 1-17, A copper-target x-ray tube is operated at 40,000 volts and 25 ma. The efficiency of an x-ray tube is so low that, for all practical purposes, one may as sume that all the input energy goes into heating the target. If there were no dissi 28 PROPIEDADES DE LOS RAYOS X [CAP. pacin de calor por refrigeracin por agua, conduccin, radiacin, etc, cunto tiempo se tener un objetivo de 100 g de cobre para fundir? (Punto de fusin del cobre = 1083C, con una media calor especfico = 6,65 cal / mol / C, el calor latente de fusin = 3.220 cal / mol.) 1-18. Supongamos que la sensibilidad de la pelcula de rayos x es proporcional a la masa ab sorcin coeficiente del bromuro de plata en la emulsin para la longitud de onda particular involucrado. Entonces, cul es la razn de sensibilidades de pelcula de Cu Ka y Ka Mo radiacin?

CAPTULO 2 LA GEOMETRA DE LOS CRISTALES 2.1 Introduccin. En cuanto a las propiedades de los rayos X, ahora debemos considerar la geometra y estructura de los cristales con el fin de descubrir lo no se trata de cristales en general que les permita difractar los rayos x. nosotros Tambin debe considerar cristales particulares de diversos tipos y cmo la muy gran nmero de cristales que se encuentran en la naturaleza se clasifican en una relativamente pequeo nmero de grupos. Por ltimo, vamos a examinar las formas en que el orientacin de las lneas y planos en cristales puede ser representado en trminos de smbolos o en forma grfica. Un cristal puede ser definido como un compuesto slido de tomos dispuestos en un tern pat peridico en tres dimensiones. Como tal, los cristales difieren en una fundamental forma de gases y de lquidos debido a las disposiciones atmicas en el ltimo no poseen el requisito esencial de la periodicidad. No todos los slidos son cristalina, sin embargo, algunos son amorfo, como el vidrio, y no tiene ningn disposicin regular interior de los tomos. Hay, de hecho, no esencial diferencia entre un slido amorfo y un lquido, y el primero est a menudo referido como un "lquido supercongelado." 2-2 Rejas. Al pensar en cristales, es a menudo conveniente ig nore los tomos, los resultados reales que componen el cristal y su peridico Ment organizar en el espacio, y pensar en lugar de un conjunto de puntos imaginarios que tiene una relacin fija en el espacio de los tomos del cristal y puede considerarse como una especie de marco o esqueleto sobre el que se construy el actual cristal arriba. Este conjunto de puntos se pueden formar como sigue. Imaginar el espacio que se divide por tres conjuntos de planos, los planos en cada conjunto que es paralelo e igualmente espaciados. Esta divisin del espacio va a producir un conjunto de clulas idnticas en cada uno tamao, la forma y la orientacin de sus vecinos. Cada celda es un paraleleppedo,

desde sus caras opuestas son paralelas y cada cara es un paralelogramo. ^ La la divisin del espacio-planos se cruzan entre s en un conjunto de lneas (Fig. 2-1), y estas lneas se cruzan a su vez en el conjunto de los puntos anteriormente mencionados. La conjunto de puntos as formada tiene una propiedad importante: constituye un punto de celosa, que se define como una matriz de puntos en el espacio dispuesto de modo que cada uno punto tiene un entorno idntico. Por "entorno idnticas * 'nos referimos a que la red de puntos, cuando se ve en una direccin particular de uno punto de la red, tendra exactamente el mismo aspecto cuando se ve en la misma direccin desde cualquier otro punto de la red. Dado que todas las clulas de la red se muestra en la figura. 2-1 son idnticos, podemos elegir uno cualquiera, por ejemplo el descrito en gran medida uno, como una clula de unidad. La 29 30 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 La figura. 2-1. Un punto de la red. tamao y forma de la celda unidad puede a su vez ser descrito por los tres vectores * a, b, y c dibujado desde una esquina de la clula tomada como origen (Fig. 2-2). Estos vectores definir la celda y se llaman los ejes cristalogrficos de la clula. Tambin se pueden describir en trminos de sus longitudes (a, 6, c) y los ngulos entre ellas (a, ft 7). Estas longitudes y ngulos son los constantes de red o parmetros de red de la celda unidad. Tenga en cuenta que los vectores a, b, c definir, no slo la clula de unidad, sino tambin la enrejado punto entero a travs de las traducciones realizadas por estos vectores. En otras palabras, todo el conjunto de puntos en la red puede ser producido por accin repetida de los vectores a, b, c en punto de la red situado en la origen, o, expresado de forma alternativa, la vector de coordenadas de cualquier punto en la celosa son Pa, Qb, y fc /, donde

P, Q, y R son nmeros enteros. Lo se deduce que la disposicin de los puntos en una red punto es absolutamente peridico en tres dimensiones, los puntos se repite a intervalos regulares a lo largo de toda una lnea opte por elaborar a travs de la red. La figura. 2-2. Una celda unidad. 2.3 Los sistemas de cristal, (espacio jn dividiendo por tres conjuntos de planos, podemos por supuesto, producir clulas de la unidad de varias formas, dependiendo de la forma en que ar rango planesT la) Por ejemplo, si los planos de los tres conjuntos son todos igualmente Vectores * son aqu representados por smbolos en negrita. El mismo smbolo en cursiva representa el valor absoluto del vector. 2-3] Crystal Systems 31 TABLA 2-1 CRISTAL Y SISTEMAS redes de Bravais (El smbolo ^ indica nonequality por razn de simetra. Igualdad Accidental puede ocurrir, como se muestra por ejemplo en la seccin. 2-4.) * Tambin llamado trigonal. espaciados y mutuamente perpendiculares, la celda unidad es cbica. En este caso el vectores a, b, c son todos iguales y en ngulo recto el uno al otro, o a = b = c y a. == 7 = 90 Por tanto, dando valores especiales para las longitudes axiales y los ngulos, se pueden producir clulas de la unidad de diversas formas y por lo tanto diversos tipos de retculos punto, ya que los puntos de la red se encuentran en las esquinas de clulas. Resulta que slo siete diferentes tipos de clulas son necesario incluir todas las retculas de puntos posibles. Estos corresponden a los los siete sistemas cristalinos en la que todos los cristales se pueden clasificar. Estos

sistemas se enumeran en la Tabla 2-1. Siete retculas de puntos diferentes se puede conseguir simplemente poniendo puntos en las esquinas de las celdas unitarias de los siete sistemas cristalinos. Sin embargo, existen otras disposiciones de los puntos que cumplen los requisitos de un punto de la red, es decir, que cada punto tiene un entorno idntico. La Bravais franceses cristalgrafo trabajado en este problema y en 1848 demostrado que hay catorce puntos posibles celosas y nada ms; este importante resultado es conmemorado por el uso de los trminos Bravais 32 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 SIMPLE Cbicos (P) Centrada en el cuerpo FACE-C 'ENTR CUBIC (/) CUBIC 1 (F) BOD SIMPLE Y-(CENTRADO SIMPLE centrada en el cuerpo TETRAGONAL ortorrmbico ortorrmbico TETRAGONAL (P) (/) (P) (/) CENTRADO EN BASE centrada en las caras rombodricos Ortorrmbica 1 ortorrmbico (/?) (O (F) SIMPLE Monoclnica CENTRADO EN BASE triclnico (P) (P) monoclnica 1 (C) La Figura. 2-3. Los catorce celosas de Bravais. enrejado de celosa y punto como sinnimos. Por ejemplo, si un punto se coloca en el centro de cada clula de un retculo cbico punto, la nueva matriz de puntos

tambin forma una celosa punto. Asimismo, otro punto reticular puede basarse 2-3] Crystal Systems 33 en una celda unidad cbica que tiene puntos de la red en cada esquina y en el centro de cada cara. Los catorce redes de Bravais se describen en la Tabla 2-1 y la ilustracin en la figura. 2-3, donde la P smbolos, F, /, etc, tienen los siguientes significados. En primer lugar debemos distinguir entre simples o primitivas, clulas (smbolo P o R) y las clulas no primitiva (cualquier otro smbolo): clulas primitivas tienen slo un punto reticular por clula, mientras que no primitiva tiene ms de una. Un enrejado punto en el interior de una clula "pertenece" a esa clula, mientras que uno en una cara clula es compartido por dos clulas y de una en una esquina es compartida por ocho. El nmero puntos de celosa por celda viene dado por N= -N-f 2 Nc , 8 (2-1; donde N t = nmero de puntos interiores, N / = nmero de puntos en las caras, y N c = nmero de puntos en las esquinas. Cualquier clula que contiene puntos reticulares en las esquinas slo es por lo tanto primitivo, mientras que uno que contenga datos adicionales puntos en el interior o en las caras es no primitiva. Los smbolos F y / se refieren a clulas centradas cara y centrado en el cuerpo, respectivamente, mientras que A, B, y C se refieren tqjmse centrados en las clulas, centradas en un par de caras opuestas A, B, o C. (La cara A es el definido por la cara b y c ejes, etc) La smbolo R se utiliza especialmente para el sistema rombodrico. En la fig. 2-3,

ejes de igual longitud en un sistema particular se les da el mismo smbolo para indicar su igualdad, por ejemplo, los ejes cbicos estn todos marcados a, los dos igual ejes tetragonales se marcan una y la tercera c, etc A primera vista, la lista de redes de Bravais en la Tabla 2-1 aparece incompletos. Por qu no, por ejemplo, una red tetragonal centrado en la base? La lneas continuas en la figura. 2-4 delinear tal clula, centrada en la cara C, pero ver que el mismo conjunto de puntos de la red se puede hacer referencia a los simples celda tetragonal se muestra por lneas de trazos, de modo que la base centrada en organizar cin de puntos no es un enrejado nuevo. La Figura. 2-4. Relacin de la figura C tetragonal. 2-5. Extensin de puntos reticulares celosa (lneas continuas) a tetragonal P IAT-a travs del espacio por los vectores unitarios celulares Tice (lneas discontinuas). a, b, c. 34 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 Los puntos de la red en una celda unitaria no primitiva se puede extender a travs por espacio de repetidas aplicaciones de los vectores de clulas de unidad a, b, c exactamente iguales a los de una clula primitiva. Podemos considerar los puntos de la red asociados con un unidad de celda como siendo traducida uno por uno o en grupo. En cualquier caso, equiv valente puntos de la red en las celdas unitarias adyacentes estn separados por uno de los vectores a, b, c, donde estos puntos sucede que se encuentra en la clula (Fig. 2-5). 2.4 Simetra, i Ambas redes de Bravais y los cristales reales que son construido sobre ellos exhiben diversos tipos de simetra. Un cuerpo o estructura se dice que es simtrica cuando sus partes componentes estn dispuestos de tal equilibrio, por as decirlo, que ciertas operaciones se pueden realizar en el cuerpo que ponerla en coincidencia con ella misma. Estos se denominan simetra operaciones. / Por ejemplo, si un cuerpo es simtrico con respecto a un plano que pasa a travs de ella, entonces la reflexin de cualquier mitad del cuerpo en el plano

como en un espejo producir un cuerpo que coincide con la otra mitad. As, una CUB ha SE IR-rales planos de simetra, uno de los cuales se muestra en la figura. 2-6 (a). Hay en las cuatro operaciones macroscpicas * simetra o elementos: reflexin, rotacin, inversin, y la rotacin de inversin-. Un cuerpo tiene n-veces simetra de rotacin alrededor de un eje si una rotacin de 360 / n se lleva a auto-coincidencia. As, un cubo tiene un eje de rotacin 4 veces el valor normal para cada ejes cara, un eje 3 veces a lo largo de cada cuerpo diagonales, y 2 veces la unin centros de edgesf opuesto Algunos de estos se muestra en la figura. 2-6 (b) cuando las pequeas figuras planas (cuadrado, tringulo y elipse) designar a los distintos (B) (ci) FIG, 2-6. Algunos elementos de simetra de un cubo, (a) plano de reflexin. AI se viene A%. (B) los ejes de rotacin. 4 veces el eje: A \ se convierte en A ^ 3-fold eje: A \ se convierte en AZ \ 2 veces eje: AI se convierte en A *, (c) Centro de Inversin. AI se convierte en un%. (D) Rotacin inversin de eje. 4 veces el eje: AI se convierte en A \ \ inversion centro: A \ se convierte en A *. * Los llamados para distinguirlos de ciertas operaciones de simetra microscpicas con lo que no se trata aqu. Los elementos macrosopic puede deducirse desde los ngulos entre las caras de un cristal bien desarrollado, sin ningn conocimiento de la disposicin tomo interior del cristal. Los elementos microscpicos mentos de simetra, por otra parte, depende totalmente de acuerdo tomo, y su rencia pres no se puede deducir a partir del desarrollo externo del cristal. 2-4] SYMMETRY 35 tipo de ejes. En general, los ejes de rotacin pueden ser 1 -, 2 -, 3 -, 4 -, o 6 veces. La 1-pliegue eje indica que no hay simetra en absoluto, mientras que un eje de 5 veces o uno de mayor grado que 6 es imposible, en el sentido de que las clulas unitarias tener metra sym tal no se puede hacer para llenar el espacio sin dejar huecos. Un cuerpo tiene un centro de inversin si los puntos correspondientes del cuerpo estn

situado a la misma distancia del centro en una lnea que pasa por los centro. Un cuerpo que tiene un centro de inversin entrar en coincidencia con s mismo si cada punto en el cuerpo se invierte, o "refleja", en la inversin de centro. Un cubo tiene un centro en la interseccin de su cuerpo diagonales [fig. 2-6 (c)]. Por ltimo, un cuerpo puede tener una rotacin-inversin eje, ya sea 1 -, 2 -, 3 -, 4 -, o 6 veces. Si tiene un n-veces rotacin-inversin eje, que se puede poner en coincidencia con ella misma por una rotacin de 360 / n alrededor del eje seguida de una inversin en un centro de tendido en el eje. ; Figura 2-6 (d) ilustra el funcionamiento de un 4-fold rotacin de inversin de eje en un cubo. ^ Ahora, la posesin de un mnimo determinado conjunto de elementos de simetra es una propiedad fundamental de cada sistema cristalino, y un sistema se muestra distinguido de otro apenas tanto por sus elementos de simetra como por la valores de sus longitudes axiales y ngulos * "De hecho, estos son interdependientes El nmero mnimo de elementos de simetra que posee cada cristal sistema se listan en la Tabla 2-2. { Algunos cristales pueden poseer ms de la elementos mnimos simetra requeridos por el sistema al que pertenecen, pero ninguno puede tener menos.) Operaciones de simetra se aplican no slo a las clulas unitarias] se muestra en la figura. 2-3J considerarse simplemente como formas geomtricas, sino tambin a las celosas puntuales asociadas con ellos. Las normas de esta ltima condicin descarta la posibilidad de que el sistema cbico, por ejemplo, podra incluir una celosa punto base centrada, ya que este tipo de matriz de puntos no tendra el conjunto mnimo de metra sym elementos requeridos por el sistema cbico, a saber, cuatro de 3 veces de rotacin ejes. Tal red sera clasificado en el sistema tetragonal, que no tiene ejes 3 veces y en la que la igualdad es accidental de los ejes A y C

TABLA 2-2 Elementos de simetra Elementos mnimos del sistema simetra Cbico Tetragonal C Orthorhombi Romboedro Hexagonal Monoclnico Triclnico Cuatro 3 - ejes de rotacin veces Una rotacin de 4 veces (o rotacin - inversin) eje Tres perpendicular de 2 veces la rotacin (o rotacin - inversin) ejes Una rotacin de 3 veces (o rotacin - inversin) eje Una rotacin de 6 veces (o rotacin - inversin) eje Una rotacin de 2 veces (o rotacin - Inversin), el eje Ninguno 36 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 permitido, como se ha mencionado antes, sin embargo, esta red es simple, no la base centrada, tetragonal. Los cristales en el rombodrico (trigonal) sistema puede hacer referencia a cualquiera de los dos un rombodrico o una red hexagonal. ^ Apndice 2 da la relacin entre estos dos celosas y las ecuaciones de transformacin que permiten los ndices de Miller de un. plano (vase la Seccin. 2-6) que se expresa en trminos de alguno de los conjuntos de ejes. 2-5 clulas primitivas y no primitivas. En cualquier punto reticular una celda unitaria puede ser elegido en un nmero infinito de formas y pueden contener uno o ms

puntos de la red por clula. Es importante observar que las clulas de la unidad no "existen" como tal en un enrejado: son una construccin mental y puede ser consecuencia elegido a nuestra conveniencia. Las clulas convencionales se muestra en la figura. 2-3 son elegidos simplemente por conveniencia y para ajustarse a los elementos de simetra de la celosa. Cualquiera de las catorce redes de Bravais puede ser referido a una unidad primitiva clula. Por ejemplo, la cara centrada red cbica se muestra en la figura. Mayo 2 a 7 se refiri a la primitiva clula indi cado por lneas de trazos. La clula ltimo es rombodrica, su ngulo axial es un 60, y cada uno de sus ejes es l / \ / 2 veces la longitud de los ejes de los celda cbica. Cada celda cbica tiene cuatro puntos de la red asociados con l, cada uno celda rombodrica tiene uno, y el primero tiene, correspondientemente, cuatro veces el volumen de este ltimo. No obstante, por lo general es ms conveniente usar la celda cbica en lugar de la un rombodrica porque el primero sugiere inmediatamente la cbica simetra que la red posee realmente. De manera similar, el otro centrado Las clulas no primitiva que figuran en la Tabla 2-1 son preferibles a la primitiva clulas posibles en sus respectivas retculas. Si las clulas no primitiva de celosa se utilizan, el vector desde el origen a cualquier punto en la red ahora tendr componentes que son no integrales tiples mul de los vectores de clulas de unidad a, b, c. La posicin de cualquier punto de la red en un

clula puede ser dado en trminos de sus coordenadas] si el vector desde el origen de la celda unidad para el punto dado tiene componentes xa, yb, zc, donde x, y, y z son fracciones, entonces las coordenadas del punto son xy z. Por lo tanto, el punto A en la figura. 2-7, tomada como el origen, tiene coordenadas 000, mientras que los puntos Bj C, y D, cuando se hace referencia a los ejes cbicos, se coordina Off, ff, y f f 0, respectivamente. El punto E tiene coordenadas de f \ 1 y equivale La Figura. 2-7. Centrada en las caras punto cbico celosa refiere Hedral cbico y rhombo las Clulas. 2-6] INSTRUCCIONES celosa y 37 AVIONES al punto Z), estando separado de l por el vector c. Las coordenadas de puntos equivalentes en diferentes celdas unitarias siempre se puede hacer por idntico la adicin o sustraccin de un conjunto de coordenadas integrales, en este caso, la resta de 1 de f ^ 1 (las coordenadas de E) da ^ f (la coordenadas de D). Tenga en cuenta que las coordenadas de un punto de centrado en el cuerpo, por ejemplo, son siempre | ^ ^ no importa si la celda unidad es cbica, tetragonal, o rmbica orto, y cualquiera que sea su tamao. Las coordenadas de un punto de posicin, tales como ^ ^ \, tambin puede ser considerado como un operador que, cuando "aplicado" a un punto en el origen, se mover o traducir a la posicin \ \ \, la posicin final se obtiene por simple adicin del operador \ \ \ y la posicin original 000. En este sentido, las posiciones 000, \ \ \ que se llama "centrado cuerpo traducciones", ya que producir la dos posiciones de puntos caractersticos de una clula centrada en el cuerpo cuando se aplica a un punto en el origen. De manera similar, las cuatro posiciones de puntos caractersticos de una centrada en las caras de clulas, es decir, 0, \ ^ \ ^ y \ \ 0, se llaman cara centrada traducciones. Las traducciones de centrado de base depende de Qu par de caras opuestas estn centradas; si se centra en la cara C, para

ejemplo, son 0, \ \ 0. 2-6 direcciones de celosa y aviones. La direccin de una lnea en una tica lat puede ser descrito por primera trazando una lnea a travs del origen paralelo a la lnea dada y luego dando las coordenadas de cualquier punto de la lnea por el origen. Dejar pasar la lnea a travs del origen de la celda unidad y cualquier punto cuyas coordenadas UVW, donde estos nmeros no son necesa riamente integral. (Esta lnea tambin pasar por los puntos 2U 2V 2W, 3u 3w 3V, etc), entonces [UVW], escrito entre corchetes, son los ndices de la direccin de la lnea. Son tambin los ndices de cualquier lnea paralela a la recta dada, ya que la red es infinita y el origen se puede tomar en cualquier punto. Cualesquiera que sean los valores de i /, v, w, que siempre se convierten a un conjunto de nmeros enteros ms pequeos por plicatura de mltiples o divisin a travs de: por lo tanto, [| | L], [112] y [224] representan todos la misma direccin, pero [112] es el forma preferida. Los ndices negativos son escrito con una barra sobre el nmero, por ejemplo, [uvw]. ndices de direccin son ilus trado en la figura. 2-8. Direccin ^ relacionados por la simetra son direcciones llamadas de un formulario y establezca un de estos se | Pepresented por los ndices de uno de ellos encerrado en angular bracHts; por ejemplo, la carrocera de cuatro Fib / ^ -8. [100] [233]

[001] [111] [210] HO [100] '[120] ndices de direcciones. 38 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 diagonales de un cubo, [111], [ill], [TTL], y [Til], todo puede ser representado por el smbolo (111). La orientacin de los planos en una red tambin puede ser representado sym bolically, de acuerdo con un sistema popularizado por el cristalgrafo Ingls Miller. En el caso general, el plano dado puede ser inclinada con respecto a los ejes cristalogrficos, y, desde estos ejes forman un marco conveniente de referencia, se puede describir la orientacin del plano dando el distancias reales, medidos desde el origen, en el que intercepta las tres ejes. Mejor an, mediante la expresin de estas distancias como fracciones de la longitudes axiales, podemos obtener los nmeros que son independientes de la par ticular longitudes axiales que intervienen en la red dada. Pero entonces una dificultad surge cuando el plano dado es paralelo a un eje cristalogrfico cierto, porque dicho plano no intercepta ese eje, es decir, su "interseccin" puede slo ser descrito como "infinito". Para evitar la introduccin de la infinidad en la descripcin de la orientacin del plano, se puede utilizar el recproco de la fraccin internacional intercepcin, esta siendo cero recproco cuando el avin y el eje son paralelo. Llegamos as a un simbolismo viable para la orientacin de un avin en una red, los ndices de Miller, que se definen como los recprocos de las fracciones que intercepta el plano hace con los ejes cristalogrficos.

Por ejemplo, si los ndices de Miller de un plano son (AW), escrito en parntesis tesis, entonces el avin hace intercepta fraccionarias de I / A, I / A *, \ / l con la ejes, y, si las longitudes axiales son a, 6, c, el plano hace que intercepta reales de A / A, b / k, c / l, tal como se muestra en la figura. 2-9 (a). Paralelo a cualquier avin en cualquier red, hay un conjunto de planos paralelos equidistantes, uno de los cuales pasa por el origen, los ndices de Miller (hkl) por lo general se refieren a ese avin en el conjunto que es la ms cercana al origen, a pesar de que se puede tomar como referencia a cualquier otro plano en el conjunto o a todo el conjunto en su conjunto. Podemos determinar los ndices de Miller del plano que se muestra en la figura. 2-9 (b) como sigue: 1A 2A 3A 4A (A) (b) La Figura. 2-9. Plano designacin por los ndices de Miller. 2-6] INSTRUCCIONES celosa y 39 AVIONES Longitudes axiales Longitudes de Intercepcin Intercepta fraccionarios Miller ndices 4A 2A Yo Yo 2 16 8A 6A

3 1 4 3A 3A 1 1 3 ndices de Miller siempre se borran de fracciones, como se muestra arriba. Como se ha indicado anterior, si un plano es paralelo a un eje dado, su interseccin fraccionada en que eje se toma como infinito y el correspondiente ndice de Miller es cero. Si un plano corta el eje negativo, el ndice correspondiente es negativa y est escrito diez con una barra sobre l. Planes cuyos ndices son los aspectos negativos de una otro son paralelos y se encuentran en lados opuestos del origen, por ejemplo, (210) y (2LO). Los planos (NH nk nl) son paralelos a los planos (hkl) y tiene 1 / n el espaciado. El mismo avin puede pertenecer a dos grupos diferentes, el molinero ndices de un conjunto de ser mltiplos de los de la otra, por lo que el mismo plano pertenece al conjunto (210) y el conjunto (420), y, de hecho, los planos de la (210) fijado formar cada segundo plano en el conjunto (420). JJN el sistema cbico, es conveniente recordar que una direccin [hkl] es siempre perpendicular a un plano (hkl) de los mismos ndices, pero esto no es cierto en general en otro sistemas. Adems familiaridad con ndices de Miller se pueden obtener de un estudio de la figura. 2-10. Un sistema ligeramente diferente de indexacin plano se utiliza en la hexagonal sistema. La celda unitaria de una red hexagonal est definida por dos iguales y vectores coplanares ai y un 2, en 120 el uno al otro, y un tercero en el eje C

ngulos rectos [fig. 2-11 (a)]. El enrejado completo se construye, como de costumbre, por HfeocH (110) (110) (111) La Figura. 2-10. Miller ndices de planos reticulares. (102) 40 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 [001] (0001) (1100) [100] ' [Aceite] (1210) [010] (1011) '[210] (A) (b) La Figura. 2-11. (A) La clula de unidad hexagonal y (b) los ndices de planos y direcciones. traducciones repetidas de los puntos de las esquinas de la celda unidad por los vectores EI, a 2, c. Algunos de los puntos generados de esta forma se muestran en la figura, en la extremos de las lneas de trazos, con el fin de exhibir la simetra hexagonal de la celosa, que tiene un eje de rotacin 6-pliegue paralelo a c. El tercer eje de un 3, situada en el plano basal del prisma hexagonal, es tan simtricamente relacionado a la IE y un 2 que se utiliza a menudo en conjuncin con los otros dos. As los ndices de un avin en el sistema hexagonal, llamado Miller-Bra vais ndices, se refieren a cuatro ejes y se escriben (hkil). El ndice i es la cal reciprocidad

de la iiltercept fraccionada sobre el eje a 3. Dado que las intersecciones de una plano en el ai y 2 un determinar su interseccin con un 3, el valor de i depende los valores de h y k. La relacin es h + k =-i. (2-2) Puesto que i es determinado por H y A;, a veces se sustituye por un punto y el smbolo de plano por escrito (hk-l). Sin embargo, este uso derrota a los pur pose para que Miller-BRA ndices VAIS han sido concebidos, es decir, para dar semejante ndices a aviones similares. Por ejemplo, los planos laterales de la hexagonal prisma en la figura. 2-1 l (b) son todas similares y situados simtricamente, y sus relacin se muestra claramente en sus plenos Miller-BRA smbolos vais: (10K)), (OlTO), (TlOO), (T010), (OTlO), (iTOO). Por otro lado, the_abbreviated smbolos de estos aviones, (10-0), (01-0), (11-0), (10-0), (01-0), (11-0) no inmediatamente sugerir esta relacin. Llegar en una red hexagonal se expresa mejor en trminos de los tres bsicos vectores ai, 2 A, y c. Figura 2-1 l (b) muestra varios ejemplos de tanto plano y la direccin de ndices. (Otro sistema, que afecta a cuatro ndices, se utiliza a veces para designar direcciones. La direccin requerida se rompe en cuatro vectores componentes, paralelas al ai, un 2, aa, y c y as elegido que el ndice tercero es el negativo de la suma de los dos primeros. As 2-6] INSTRUCCIONES celosa y 41 AVIONES [100], por ejemplo, se convierte en [2110], [210] se convierte en [1010], [010] se convierte [T210], etc) En cualquier sistema de cristal hay conjuntos de planos reticulares equivalentes relacionados por simetra. Estos son llamados planos de una forma, y los ndices de cualquier un avin, entre llaves) M /}, representan todo el conjunto. En general, los planos de una forma tienen el mismo espaciamiento pero diferentes ndices de Miller. Para ejemplo, las caras de un cubo, (100), (010), (demasiado), (OTO), (001) y (001),

son planos de la forma {100}, ya que todos ellos pueden ser generados a partir cualquiera de operacin de los ejes de rotacin de 4 veces perpendiculares al cubo rostros. En el sistema tetragonal, sin embargo, slo los planos (100), (010), (TOO), y (OTO) pertenecen a la forma | 100) y los otros dos planos, (001) y (OOT), pertenece a la forma diferente {001); los primeros cuatro hombres aviones mencionados estn relacionadas por un eje 4 veces y las dos ltimas por un eje de 2 veces. * Los planos de una zona son planos que son todas paralelas a una lnea, que se llama zona del eje, y la zona, es decir, el conjunto de planos, se especifica dando la ndices del eje de zona. Estos aviones pueden tener ndices muy diferentes y espaciados, siendo el nico requisito su paralelismo a una lnea. Figura 2-12 muestra algunos ejemplos. Si el eje de una zona tiene ndices [uvw], luego cualquier plano que pertenece a la zona cuya ndices (hkl) satisfacen la relacin hu + kv + Iw = 0. (2-3) (A prueba de esta relacin se da en la Seccin 4 del Apndice 15.) Cualquiera de los dos planos no paralelos son planos de una zona ya que ambos son paralelos a su lnea de interseccin. Si sus ndices son (/ hfci / i) y (h ^ kj ^ j entonces el en dados de su eje de zona [uvw] se dan por las relaciones [001] (210)

UOO) \ (11) (210) , (100) FIG, 2-12, Todos los planos sombreados en el red cbica muestra son planos de la zona [001]. (2-4) W = / & 1/T2 h? Jk \. * Algunos planos cristalinos importantes se refieren a menudo por su nombre sin la mencin de sus ndices de Miller. Por lo tanto, los aviones de la forma (111 | en el sis tema cbico a menudo son llamados planos octadricos, ya que estos son los planos de delimitacin de un octaedro. En el sistema hexagonal, el plano (0001) se denomina plano basal, planos de la forma {1010) se llaman planos prismticos, y) los planos de la forma {1011 son llamados planos piramidales. 42 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 (13) La Figura. 2-13. Bidimensional de celosa, que muestra que las lneas de ms bajos ndices tienen el mayor espaciamiento y la mayor densidad de puntos de la red. Los diversos conjuntos de planos en una red tienen diferentes valores de interplanar espaciado. Los planos del espacio general tienen ndices bajos y pasar a travs de un alta densidad de puntos de la red, mientras que lo contrario es cierto de los planos de pequea espaciado. La figura 2-13 ilustra esto para una red bidimensional, y no lo es menos en tres dimensiones. El espaciado interplanar rf ^. /, Meas ured en ngulo recto a los planos, es una funcin tanto de los ndices de avin (Hkl) y las constantes de red (a, />, r, a, 0, 7). Las relaciones exactas depende de en el sistema de cristales implicados y para el sistema cbico toma la forma relativamente simple

(Cbico) d hk i = - ^-JL. === (2-5) En el sistema tetragonal de la ecuacin separacin implica, naturalmente, tanto A y C ya que estos no son generalmente iguales: (Tetragonal) d h ki = (2-0) Espaciamiento interplanar ecuaciones para todos los sistemas estn en el Apndice 1. 2-7 Estructura cristalina. Hasta ahora los temas que hemos discutido desde el campo de matemtica (geomtrica) y cristalografa han dicho prcticamente nada de cristales reales y los tomos de los que estn compuestos. De hecho, todo lo anterior se conoce bien mucho antes del descubrimiento de rayos X difraccin, es decir, mucho antes de que hubiera cierto conocimiento del interior arreglos de tomos en los cristales. Ahora es el momento para describir la estructura de algunos cristales reales y a relacionar esta estructura a las retculas de puntos, sistemas de cristal, y la simetra 2-7] Estructura cristalina 43 BCC FCC La Figura. 2-14. Estructuras de algunos lun com metales. Cuerpo cbico centrado en: aFe, Cr, Mo, V, etc; centrada en las caras cbico: 7-Fe, Cu, Pb, Ni, etc elementos discutidos anteriormente. El cardenal principio de la estructura cristalina es que los tomos de un cristal se establecen en espacio, ya sea en los puntos de un Bravais celosa o en alguna relacin fija con los Puntos. Se sigue de esto th el tomos de un cristal se organizarn

peridicamente en tres dimensiones y que esta disposicin de los tomos se exhiben muchas de las propiedades de un Bravais celosa, en particular, muchos de los sus elementos de simetra. Los cristales simples que uno puede imaginar son los formados por tomos de colocacin de la misma clase en los puntos de una red de Bravais. No todos los cristales de estas existen, pero, afortunadamente para los metalrgicos, muchos metales cristalizan en esta de manera simple, y la fig. 2-14 muestra dos estructuras comunes basados en la centrada en el cuerpo cbicos (BCC) y la cara cbica centrada en (FCC) celosas. La primero tiene dos tomos por celda unidad y el segundo cuatro, ya que podemos encontrar por reescribir la ecuacin. (2-1) en trminos del nmero de tomos, en lugar de celosa puntos, por clula y su aplicacin a las clulas unitarias se muestran. El siguiente grado de complejidad se encuentra cuando dos o ms tomos de la misma clase son "asociados" con cada punto de una red de Bravais, como ejemplificada por la hexagonal compacta (HCP) estructura comn a muchos metales. Esta estructura es simple hexagonal y se ilustra en la La figura. 2-15. Hay dos tomos por celda unidad, como se muestra en (a), uno en y el otro en \ | (o en \ ff, que es una posicin equivalente). Figura 2-15 (b) muestra la misma estructura con el origen de la celda unidad cambiado, de modo que el punto 1 en la nueva clula est a medio camino entre los tomos a 1 y \ | en (a), los nueve tomos se muestra en (a) correspondiente a la nueve tomos marcados con una X en (b). La 'asociacin "de pares de tomos con los puntos de una red de Bravais hexagonal sencillo es sugerido por el lneas de trazos en (b). Ntese, sin embargo, que los tomos de un empaquetamiento compacto estructura hexagonal mismos no forman una red punto, las envolventes reuniones de un tomo a ser diferentes de las de un tomo en 3 ^.

La figura 2-15 (c) muestra otra representacin de la estructura HCP: los tres tomos en el interior del prisma hexagonal son directamente encima los centros de los tringulos alternos en la base y, si se repite a travs del espacio por los vectores ai y un 2, ALSD formara un arreglo hexagonal al igual que los tomos de las capas por encima y por debajo. La estructura HCP se llama as porque es una de las dos formas en las esferas que pueden ser empacados juntos en el espacio con la mayor posible densidad y todava tiene un arreglo peridico. Tal disposicin de esferas en contacto se muestra en la figura. 2-15 (d). Si estas esferas se consideran 44 LA GEOMETRIA DE LOS CRISTALES (A) (C) La Figura. 2-15. El hexagonal compacta estructura, compartida por Zn, Mg, Se, un-Ti, etc como tomos, entonces la imagen resultante de un metal HCP est mucho ms cerca realidad fsica que es la estructura relativamente abierta sugerido por el dibujo de la figura. 2-15 (c), y esto es cierto, en general, de todos los cristales. Por Por otra parte, se puede demostrar que la relacin de C a A en una estructura HCP formado de esferas en contacto es 1 0,633, mientras que el c / una proporcin de metales que tienen esta estructura vara desde alrededor de 1,58 (Be) a 1,89 (Cd). Como no hay razn para suponer que los tomos en los cristales no estn en contacto, se 'Deduce que deben ser de forma elipsoidal en lugar de esfrica. La estructura FCC es un acuerdo igualmente de empaquetamiento compacto. Su relacin cin a la estructura HCP no es inmediatamente obvia, pero la figura. 2-16 muestra que los tomos de los planos (111) de la estructura de FCC estn dispuestos en una patrn hexagonal igual que los tomos de los planos (0002) de la HCP estructura. La nica diferencia entre las dos estructuras es la manera en que estas lminas hexagonales de tomos estn dispuestos uno encima de otro.

En un metal HCP, los tomos de la segunda capa estn por encima de los huecos en 2-7] ESTRUCTURA DE CRISTAL Me escond 45 [001] Hexagonal compacta La Figura. 2-16. La comparacin de las estructuras de la FCC y HCP. 46 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 j; HH La Figura. 2-17. La estructura de un uranio. 59, 2588, 1937. ") (C. W. Jacob y BE Warren, JACS la primera capa y los tomos en la tercera capa estn por encima de los tomos en el primera capa, de modo que la secuencia de apilamiento de las capas se pueden resumir como A AB AB B. . . . Las dos primeras capas atmicas de un metal FCC se dej de la misma manera, pero los tomos de la tercera capa se colocan en los huecos de la segunda capa y no hasta la cuarta capa tiene una repeticin de la posicin. FCC apilado por lo tanto tiene la secuencia ABC ABC ... . Estos ing pila esquemas se indica en las vistas en planta que muestran en la figura. 2-1 (>. Otro ejemplo de la "asociacin" de ms de un tomo en cada punto de una red de Bravais se da por el uranio. La estructura de la forma estable a temperatura ambiente, una de uranio, se ilustra en la figura. 2-17 por el plan de y alzados. En dichos dibujos, la altura de un tomo (ex presionado como una fraccin de la longitud axial) por encima del plano del dibujo (Que incluye el origen de la celda unidad y dos de los ejes de la celda) se da por los nmeros marcados en cada tomo. La red de Bravais es la base centrada

ortorrmbica, centrada en la cara C, y la fig. 2-17 muestra cmo los tomos ocurren en pares a travs de la estructura, cada par asociado con una celosa punto. Hay cuatro tomos por celda unidad, situada en O / -}, yf, \ (\ + Y} T> ei (2 "~ y) T Aqu tenemos un ejemplo de una variable parmetro y en las coordenadas atmicas. Cristales contienen a menudo variable tal parmetros, que puede tener cualquier valor fraccional sin destruir cualquiera de los elementos de simetra de la estructura. Una sustancia muy diferente podra tener exactamente la misma estructura que el uranio excepto ligeramente diferentes valores de a, 6, c, e y. Por uranio y es 0,105 0,005. En cuanto a la estructura cristalina de los compuestos de la diferencia de los tomos, encontramos que la estructura se construye en el esqueleto de una red de Bravais pero que ciertas otras reglas deben ser obedecidas, precisamente porque hay diferencia tomos presentes. Consideremos, por ejemplo, un cristal de A y E que x podra ser un compuesto qumico ordinario, una fase intermedia de relativamente fijo composicin en algn sistema de aleacin, o una solucin slida ordenada. Entonces el disposicin de los tomos de A y x E debern cumplir las siguientes condiciones: 2-7] Estructura cristalina 47 O CB + [010] (A) CsCl (b) NaCl La Figura. 2-18. Las estructuras de (a) CsCl (comn a CsBr, NiAl, ordenado / 3-latn, orden CuPd, etc) y (b) de NaCl (comn a KC1, Case, Pbf correo, etc.) (1) Cuerpo-, cara, o la base de centrado de traducciones, si est presente, debe comenzar y al final en los tomos de la misma clase. Por ejemplo, si la estructura se basa en un entramado de Bravais centrada en el cuerpo, entonces debe ser posible pasar de un

Un tomo, por ejemplo, a otro tomo A por la traduccin ^ ^ f. (2) El conjunto de A tomos en el cristal y el conjunto de tomos de B por separado debe poseer los elementos de simetra mismos como el cristal en su conjunto, ya que de hecho forman el cristal. En particular, el funcionamiento de los cualquier elemento de simetra presente debe llevar un tomo dado, A, por ejemplo, en coincidencia con otro tomo de la misma clase, es decir, A. Supongamos que consideramos la estructura de cristales de unas pocas comunes a la luz de los requisitos anteriores. La figura 2-18 ilustra las clulas de la unidad de dos compuestos inicos, CsCl y NaCl. Estas estructuras, tanto cbico, son com lun a muchos otros cristales y, dondequiera que se produzcan, se denominan la "estructura CsCl" y la "estructura NaCl. "Al considerar un cristal estructura, una de las cosas ms importantes para determinar que es su Bravais red, ya que es el marco bsico en el que se construye el cristal y porque, como se ver ms adelante, tiene un profundo efecto en el cin de rayos X de difraccin patrn de ese cristal. Qu es la red de Bravais de CsCl? Figura 2-1 8 (a) muestra que el celda unidad contiene dos tomos, iones realmente, ya que este compuesto es com pletamente ionizado incluso en estado slido: un ion de cesio en cloro y un ion a ^ \ \. La red de Bravais obviamente no es centrada en las caras, pero tomamos nota de que la traduccin cuerpo-centrado \ \ \ conecta dos tomos. Sin embargo, estos son a diferencia de los tomos y el enrejado no es por lo tanto el cuerpo 48 LA GEOMETRA DE CRISTALES [CAP. 2 centrada. Es, por eliminacin, cbica simple. Si se quiere, uno puede pensar de ambos iones, el cesio y el cloro en en \ \ ^, como ser ing asociado con el punto de la red en 0. No es posible, sin embargo, para asociar cualquier ion cesio uno con cualquier ion particular cloro y re fer

a ellos como una molcula de CsCl, el trmino "molcula" por lo tanto no tiene un verdadero significado fsico de tal cristal, y lo mismo ocurre con la mayora orgnica inor compuestos y aleaciones. Cierre inspeccin de la figura. 2-18 (b) muestra que la celda unidad de NaCl contiene 8 iones, ubicadas de la siguiente manera: 4 + Na a 0, \ \ 0, \ | y \ \ 4 Cl ~ en \ \ \, \, \ 0, y ^ 00. Los iones de sodio son claramente centrada en las caras, y tomamos nota de que el ing cara centro traducciones (0 0, \ \ 0, \ \ \ ^), cuando se aplica al cloro ion en \ \ \, se reproducirn todas las posiciones cloro-ion. Los Bravais celosa de NaCl es por lo tanto cara cbica centrada. Las posiciones de iones, inci dentalmente, puede ser escrita en forma resumida como: 4 Na 4 " + centrado en cara traducciones 4 Cl ~ en \ \ \ + cara de centrado traducciones. Tenga en cuenta tambin que en estos, como en todas las otras estructuras, el funcionamiento de cualquier elemento de simetra posedo por la red debe traer tomos similares o iones en coincidencia. Por ejemplo, en la fig. 2-18 (b), 90 rotacin alrededor el 4-veces [010] eje de rotacin mostrado trae el ion de cloro en 1 \ en coincidencia con el ion cloro a ^ 11, el ion sodio a 1 1 con el ion de sodio a 1 1 1, etc Elementos y compuestos a menudo tienen estructuras muy similares. Figura 2-19 muestra las celdas unitarias de diamante y el formulario de zinc-blenda ZnS de. Ambos son la cara cbica centrada. Diamond tiene 8 tomos por celda unidad, lo cado en 000 + centrado cara traducciones

1 i I + centrado cara traducciones. Las posiciones de los tomos en la blenda de zinc son idnticos a ellos, pero primero el conjunto de posiciones est ahora ocupado por un tipo de tomo (S) y por el otro un tipo diferente (Zn). Tenga en cuenta que el diamante y un metal como el cobre tiene turas estructuras muy diferentes, aunque ambos se basan en una red de Bravais cbica centrada en las caras. Para distinguir entre estos dos, los trminos "diamantes cbicos" y la cara ", centrado cbicos'' se utilizan generalmente. 2-7] Estructura cristalina 51 O Fe Posicin C < (A) (b) La Figura. 2-21. Estructura de soluciones slidas: (a) en Mo Cr (sustitucin), (b) en C una Fe-(intersticial). en la retcula del disolvente, mientras que en los ltimos tomos de soluto, encajar en el intersticios de la red cristalina disolvente. Lo interesante de estas estructuras es que los tomos de soluto se distribuyen ms o menos al azar. Para ejemplo, considere una solucin de 10 por ciento atmico de cromo molibdeno en prima, que tiene una estructura BCC. Los tomos de molibdeno puede ocupar ya sea de la esquina o posiciones centradas en el cuerpo del cubo de forma aleatoria, ir regularmente manera, y una pequea parte del cristal podra tener la miento aparecen de la fig. 2-21 (a). Cinco celdas unitarias adyacentes se muestran all, que contiene un total de 29 tomos, de las cuales 3 son de molibdeno. Esta seccin de la cristal contiene por lo tanto un poco ms de 10 por ciento de molibdeno atmica, pero los prximos cinco clulas probablemente contienen algo menos.

Esta estructura no obedece a las reglas ordinarias de la cristalografa: por ejemplo, la clula de la derecha del grupo de muestra no tiene cbico simetra, y se encuentra a lo largo de la estructura que la traduccin dado por uno de los vectores unitarios de clulas pueden comenzar en un tomo de un tipo y terminar en un tomo de otro tipo. Todo lo que se puede decir de esta estructura es que es CCB en el medio, y experimentalmente encontramos que muestra la difraccin de rayos X propios de una red BCC efectos. Esto no es sorprendente ING puesto que el haz de rayos X para examinar el cristal es tan grande en comparacin con el tamao de una celda unidad que observa, por as decirlo, millones de clulas unitarias al mismo tiempo, y por lo tanto slo se obtiene un promedio de "imagen" de la estructura. Las observaciones anteriores se aplican igualmente a las soluciones slidas intersticiales. Estos forman siempre que el tomo de soluto es lo suficientemente pequeo como para caber en la rejilla de ventilacin sol celosa sin causar demasiada distorsin. Ferrita, la solucin slida de carbono en un hierro-, es un buen ejemplo. En la celda unidad se muestra en la La figura. 2-21 (b), hay dos tipos de "agujeros" en la red: una en | (Marcado) y las posiciones equivalentes en los centros de las caras del cubo y los bordes y uno en J ^ (marcado x) y las posiciones equivalentes. Todos los pruebas en puntos de la mano al hecho de que los tomos de carbono en la ferrita son situado en los agujeros en ff y posiciones equivalentes. En promedio, sin embargo, no ms de aproximadamente 1 de estas posiciones en 500 clulas de la unidad es ocu 2 8] ATOM TAMAOS Y COORDINACIN 53 la distancia de mxima aproximacin en las tres estructuras metlicas comunes: BCC = 2 ' V2

2 a> (2-7) HCP a (l) etwcen tomos en el plano basal), un 2 c 2 (Entre tomo en el plano basal \ 3 4 y vecinos por encima o por debajo). Los valores de la distancia de enfoque ms cercano, junto con las estructuras cristalinas y parmetros de red de los elementos, se tabulan en el apndice 13. En una primera aproximacin, el tamao de un tomo es una constante. En otro palabras, un tomo de hierro tiene el mismo tamao si se produce en hierro puro, una fase intermedia, o una solucin slida Este es un hecho muy til volver miembro en la investigacin de estructuras desconocidas de cristal, ya que nos permite para predecir aproximadamente el tamao de un orificio es necesario en una estructura propuesta para acomodar un tomo dado. Ms precisamente, se, se sabe que el tamao de los un tomo tiene una ligera dependencia en su nmero de coordinacin, que es el nmero de vecinos ms prximos del rido tomo dado que depende de estructura cristalina. El nmero de coordinacin de un tomo en el FCC o Estructuras HCP es 12, en BCC 8, y en el diamante cbico 4. Cuanto menor el nmero de coordinacin, menor es el volumen ocupado por un dado tomo, y la cantidad de contraccin que se espera con disminucin de la coordinacin nmero se encuentra que es: Cambio en el tamao coordinacin contraccin, porcentaje Marzo 12 a 8 12 -> 6 4

12 -> 4 12 Esto significa, por ejemplo, que el dimetro de un tomo de hierro es mayor si el hierro se disuelve en cobre FCC que si existe en un cristal de BCC un hierro. Si se disolvieron en cobre, su dimetro sera aproximadamente 2.48/0.97, o 2.56A. El tamao de un tomo en un cristal depende tambin de si su unin es inico, covalente y metlico, o de van der Waals, y en su estado de ionizacin. Los electrones se eliminan ms de un tomo neutro el ms pequeo que se viene, como se muestra sorprendentemente para el hierro, cuyos tomos y los iones de Fe, Fe "1" 1 "4" tienen dimetros de 2,48, 1,66, y L34A, respectivamente. 54 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 2-9 Crystal forma. No hemos dicho nada hasta ahora sobre la forma de cristales, prefiriendo concentrarse en cambio en su estructura interior. Sin embargo, la forma de los cristales es, para el profano, tal vez su racterstica ms caracteres propiedad, y casi todo el mundo est familiarizado con el bonito desarrollados caras planas que exhiben los minerales naturales o cristales artificialmente crecido a partir de una solucin salina supersaturada. De hecho, fue con un estudio de estas caras y los ngulos entre ellos que la ciencia de la grafa crystallog Comenzo. Sin embargo, la forma de los cristales es realmente una caracterstica secundaria, ya que depende, y es una consecuencia de la disposicin interior de tomos. A veces, la forma externa de un cristal es ms bien obviamente volver lated a su bloque de edificio ms pequeo, la celda unidad, como en el poco cbica granos de sal de mesa comn (NaCl tiene una red cbica) o la cara de seis prismas de cristal de cuarzo (naturales red hexagonal). En muchos otros casos, sin embargo, el cristal y su celda unitaria tener formas bastante diferentes;

oro, por ejemplo, tiene una red cbica, pero los cristales naturales de oro son Hedral octa en la forma, es decir, delimitada por ocho planos de la forma {111}. Un hecho importante sobre las caras cristalinas se conoca mucho antes de que hubiera ningn conocimiento de los interiores de cristal. Se expresa como la ley de racional ndices, que establece que los ndices de cristal naturalmente desarrollado enfrenta se compone siempre de nmeros enteros pequeos, rara vez superior a 3 o 4. Por lo tanto, las caras de la forma {100}, {1 1 1}, {iTOO), {210), etc, pero se observ no caras tales como (510}, {719}, etc Hoy en da sabemos que los aviones de bajo ndices tienen la mayor densidad de puntos de la red, y es un derecho de cristal crecimiento que tales planos se desarrolle a expensas de aviones con altos ndices y pocos puntos reticulares. Para un metalrgico, sin embargo, con cristales bien desarrollados son caras en la categora de las cosas odo hablar pero difcil de verlos. Se producen de vez en cuando en la superficie libre de piezas de fundicin, en algunos electrodepsitos, o en virtud de otras condiciones de no restriccin externa. Para un metalrgico, un cristal es ms por lo general un "grano", visto a travs de un microscopio, en compaa de muchos otros granos sobre una seccin pulida. Si l tiene un cristal aislado nico, Se habr aumentado artificialmente o bien de la masa fundida, y por lo tanto tienen la forma del crisol en el que se solidific, o por recristalizacin, y por tanto, tienen la forma del material de partida, si lmina, varilla o alambre. Las formas de los granos en una masa policristalina de metal son el resultado de varios tipos de fuerzas, todos los cuales son lo suficientemente fuertes como para contrarrestar la tendencia natural de cada grano de crecer con bien desarrollada plana rostros. El resultado es un grano aproximadamente de forma poligonal con no obvio aspecto de cristalinidad. Sin embargo, que el grano es un cristal y como se acaba "Cristalino", como, por ejemplo, un prisma bien desarrollado de cuarzo natural, puesto que la esencia de cristalinidad es una periodicidad de interior atmica ordenar cin

y no cualquier regularidad de forma externa. 2-10] Cristales maclados 55 2-10 cristales hermanados. Algunos cristales tienen dos partes simtricamente relacionados entre s. Estos llamados, cristales maclados, son bastante comunes tanto en minerales y en metales y aleaciones. La relacin entre las dos partes de un cristal maclado se describe por la operacin de simetra que traer una parte en coincidencia con el otro o con una extensin de la otra. Existen dos tipos principales de hermanamiento se distinguen, en funcin de si la opera cin simetra es (a) 180 de rotacin alrededor de un eje, llamado eje doble, o (6) cin reflexin a travs de un plano, llamado plano gemelo. El plano en el que los dos partes de un cristal maclado estn unidos se denomina plano de composicin. En el caso de una doble reflexin, el plano de composicin puede o no coincidir con el plano gemelo. De mayor inters para los metalrgicos, que se ocupan principalmente de la FCC, BCC, y las estructuras HCP, son los siguientes tipos de gemelos: Gemelos (1) recocido, como ocurre en los metales y las aleaciones de la FCC (Cu, Ni, un latn, aluminio, etc), que han sido trabajado en fro y recocido a continuacin causar recristalizacin. (2) gemelos deformacin, como ocurre en los metales HCP deformadas (Zn, Mg, Be, etc) y los metales BCC (a-Fe, W, etc.) Gemelos de recocido en metales FCC son gemelos de rotacin, en el que los dos partes estn relacionadas por una rotacin de 180 alrededor de un eje doble de la forma (111). Debido a la alta simetra de la red cbica, esta orientacin lacin relacin Tambin se da por una rotacin 60 alrededor del eje gemelo o por reflexin cin a travs del plano j {111 normal al eje gemelo. En otras palabras, FCC gemelos de recocido tambin se pueden clasificar como gemelos reflexin. El avin gemelo

es tambin el plano de composicin. En ocasiones, los gemelos de recocido aparecen bajo el microscopio como en la figura. 22.2 (a), con una parte de un grano (E) hermanada con respecto a la otra la parte (A). Las dos partes estn en contacto en el plano de composicin (111) lo que hace que una traza de lnea recta en el plano de pulido. Ms comn, sin embargo, es del tipo mostrado en la figura. 2-22 (b). El grano se muestra consiste tres partes: dos partes (Ai y A2) de idntica orientacin separados por un tercera parte (B), que est hermanada con respecto a A \ y A 2. B se conoce como una banda gemela. (A) La Figura. 2-22. Granos gemelas: (a) y (b) gemelos FCC recocido; (c) HCP defor macin gemelo. 56 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 C A BC PLAN DE PLAN DE CRISTAL DE TWIN La Figura. 2-23. Banda doble en FCC red. Plano del dibujo principal es (110). 2-10] Cristales maclados 59 hermanamiento esquilar [211] (1012) avin gemelo PLAN DE PLAN DE CRISTAL DE TWIN La Figura. 2-24. Banda doble en celosa HCP. Plano de dibujo principal es (1210). 60 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 se dice que son gemelos de primer orden, de segundo orden, etc, de la matriz cristalina A. No todas estas orientaciones son nuevos. En la fig. 2-22 (b), por ejemplo, B puede

considerarse como el doble de primer orden de AI, y 2 A como el orden gemelo primera de B. -4-2 tanto, es de segundo orden gemelo de la IA, pero tiene la misma orientacin tacin como A i. 11.2 La proyeccin estereogrfica. Crystal dibujos hechos en perspectiva tiva o en la forma de planta y alzado, mientras que tienen sus usos, se no es adecuado para la visualizacin de la relacin angular entre planos reticulares y las direcciones. Pero con frecuencia estamos ms interesados en estos angular relaciones que en cualquier otro aspecto del cristal, y entonces necesita un clase de dibujo en el que los ngulos entre planos puede ser exactamente medida y que permitir solucin grfica de los problemas de las dichos ngulos. La proyeccin estereogrfica llena esta necesidad. La orientacin de cualquier plano en un cristal puede ser igualmente bien representados por la inclinacin de la normal a dicho plano con respecto a alguna referencia avin como por la inclinacin del propio avin. Todos los planos en un cristal por lo tanto puede ser representado por un conjunto de normales plano radiante de alguien punto dentro del cristal. Si una esfera de referencia se describe ahora acerca este punto, las normales de avin se cruzar con la superficie de la esfera en una conjunto de puntos llamados polos. Este procedimiento se ilustra en la figura. 2-25, la cual se limita a los planos {100} de un cristal cbico. El polo de un avin representa, por su posicin en la esfera, la orientacin de ese plano. Un plano tambin puede ser representado por la traza del plano extendida hace en la superficie de la esfera, como se ilustra en la figura. 2-26, donde la traza ABCDA representa el plano cuyo polo es PI. Este seguimiento es un gran crculo, es decir, un crculo de dimetro mximo, si el plano pasa por el centro de la esfera. Un avin no pasa por el centro se cruzar con la esfera en un crculo pequeo. En un mundo gobernado, por ejemplo, las lneas de longitud 100

010 La Figura. 2-25. cristal. 100 {1001 polos de un cbico M La Figura. 2-26. ngulo entre dos planos. 2-1 1J La proyeccin 8TEREOGRAPHIC 61 (meridianos) son crculos mximos, mientras que las lneas de latitud, a excepcin de la lnea ecuatorial, son pequeos crculos. El ngulo entre dos planos es evidentemente igual al ngulo entre sus crculos grandes o con el ngulo entre las normales (Fig. 2-26). sino este ngulo, en grados, tambin se puede medir en la superficie de la esfera a lo largo de la KLMNK gran crculo que conecta el PI polos P y 2 de los dos aviones, si este crculo se ha dividido en 360 partes iguales. La medida ambiente de un ngulo de este modo se ha transferido de los propios aviones a la superficie de la esfera de referencia. Prefiriendo, sin embargo, para medir ngulos en una hoja plana de papel en lugar que en la superficie de una esfera, nos encontramos en la posicin de la , Proyeccin plana - Crculo bsico Referencia Esfera \ punto de proyeccin

4 observador SECCIN A TRAVS DE AB Y PC La Figura. 2-27. La proyeccin estereogrfica. 62 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 gegrafo que quiere transferir un mapa del mundo desde un globo a un pgina de un atlas. De los muchos tipos conocidos de proyecciones, que generalmente elige una proyeccin ms o menos de igual rea para que los pases de igual rea estar representado por reas iguales en el mapa. En cristalografa, como siempre, preferimos la proyeccin estereogrfica equiangular ya que conserva relaciones angulares fielmente aunque las zonas de distorsin. Se hace por la colocacin de un plano de proyeccin normal hasta el final de cualquier dimetro elegido de la esfera y mediante el otro extremo de ese dimetro como el punto de proyeccin. En la fig. 2-27 el plano de proyeccin es normal al dimetro AB, y la proyeccin se realiza desde el punto B. Si un plano tiene su polo en P, entonces la proyeccin estereogrfica de P se encuentra en P ', obtenida por sorteo ING la BP y la produccin de la lnea hasta que se encuentra con el plano de proyeccin. Alternativamente dicho, la proyeccin estereogrfica del polo P es la sombra emitidos por P en el plano de proyeccin cuando una fuente de luz se coloca en B. La observador, por cierto, considera que la proyeccin desde el lado opuesto de la fuente de luz. El NESW plano es normal a AB y pasa a travs del centro C. Por lo tanto, corta la esfera por la mitad y su huella en la esfera es una gran crculo. Este proyecto de crculo mximo hasta formar el bsico N'E'S'W circk en el proyeccin, y todos los polos en el hemisferio izquierdo se proyectar dentro de este crculo base. Los polacos en el hemisferio derecho se proyectar fuera de

este crculo bsico, y los B cerca habr proyecciones en gran mentira distancias desde el centro. Si queremos trazar dichos polos, movemos el punto de proyeccin para A y el plano de proyeccin a B y distinguir el nuevo conjunto de puntos as formado por signos menos, el conjunto anterior (proyectado de B) estn marcadas con signos ms. Tenga en cuenta que el movimiento de la proyeccin pro plano a lo largo de AB o su extensin slo altera la ampliacin; por lo general lo hacen tangente a la esfera, como se ilustra, pero tambin podemos hacer que pase a travs del centro de la esfera, por ejemplo, en cuyo caso el crculo bsico se identifica con la NESW gran crculo. Un avin de red en un cristal es varios pasos alejados de su grfico estreo proyeccin, y puede ser que valga la pena en este momento para resumir estos pasos: (1) El plano C est representado por su CP normal. (2) El CP normal est representado por su polo P, que es su interseccin cin con la esfera de referencia. (3) El polo P se representa por su proyeccin estereogrfica P '. Despus de adquirir cierta familiaridad con la proyeccin estereogrfica, la estudiante ser capaz mentalmente para omitir estos pasos intermedios y lo har a continuacin se refieren al punto P proyectado "como el polo del plano C o, incluso ms directamente, como el plano C en s. Grandes crculos sobre el proyecto esfera de referencia como arcos circulares en la proyeccin o, si pasan a travs de los puntos A y B (Fig. 2-28), como recta 2-11] La proyeccin estereogrfica 63 lneas a travs del centro de la proyeccin. Proyectado grandes crculos siempre cortar el crculo bsico en puntos diametralmente opuestos, ya que el lugar geomtrico de un gran crculo en la esfera es un conjunto de puntos diametralmente opuestos. As los ANBS gran crculo en la figura. 2-28 proyectos como el de la lnea recta N 'y

AW ser como nosotros '\ El NGSH gran crculo, que est inclinado con respecto al plano de proyeccin, proyectos como "el crculo del arco N'G'S. Si el WAE medio crculo se divide en 18 partes iguales y estos puntos de divisin proyectada en WAE ', se obtiene una escala graduada a intervalos de 10, en el ecuador de del crculo base. La Figura. 2-28. Proyeccin estereogrfica de los crculos grandes y pequeos. 64 LOS CRISTALES DE GEOMETRA OP [cap. 2 La figura. 2-29. Neto Wulff dibujado a intervalos de 2. Pequeos crculos de la esfera tambin se proyectan como crculos, pero su proyeccin centro no coincide con su centro en la proyeccin. Por ejemplo, AJEK el crculo cuyo centro est en P AW SER proyectos como AJ'E'K '. Su centro en la proyeccin est en C, que se encuentra a igual distancia de A y A ', pero su centro es proyectado en P ', que se encuentra un nmero igual de grados (45 en este caso) a partir de A y E '. El dispositivo ms til para resolver los problemas que afectan la estereogrfica proyeccin es la red de Wulff muestra en la figura. 2-29. Es la proyeccin de un esfera gobern con los paralelos de latitud y longitud en un plano paralelo para el eje norte-sur de la esfera. Las lneas de latitud en una red de Wulff son pequeos crculos que se extienden desde un lado a otro y las lneas de longitud (meridiano IANS) son crculos mximos que unen el norte y el polo sur de la red. 2-11] La proyeccin estereogrfica 65 Proyeccin Wulff neto La Figura. 2-30. Stereographie proyeccin superpuesta en red Wulff para la medicin de ngulo entre polos. Estas redes estn disponibles en varios tamaos, uno de dimetro 18-cm dando una

precisin de aproximadamente un grado, lo cual es satisfactorio para la mayora de problemas; para obtener una mayor precisin, ya sea una red de mayor tamao o clculo matemtico debe ser utilizado. Wulff redes se utilizan al hacer la proyeccin estereogrfica sobre papel de calco y con el crculo de base del mismo dimetro que la de la red Wulff, la proyeccin es entonces superpuesta a la Wulff neta y articulada en el centro, de manera que est libre para girar con respecto a la neta. Volviendo a nuestro problema de la medicin del ngulo entre los dos aviones de cristal, vimos en la figura. 2-26 que este ngulo se puede medir en la superficie de la esfera a lo largo del gran crculo que conecta los polos de los dos planos. Esta medida tambin puede llevarse a cabo en el grfico estreo proyeccin si, y slo si, los polos proyectados se encuentran en un gran crculo. En la fig. 2-30, por ejemplo, el ngulo entre los planos A y B * o C y D se puede medir directamente, simplemente contando el nmero de Grees de separa a lo largo del gran crculo en que se encuentran. Tenga en cuenta que el CD ngulo es igual al ngulo de EF, no siendo la misma diferencia en latitud entre C y D como entre E y F. Si los dos polos no se encuentran en un gran crculo, entonces la proyeccin se hace girar relativo a la red de Wulff hasta que mienten en un gran crculo, donde el-de * Estamos aqu usando la terminologa abreviada mencionado anteriormente. 66 PROYECCIN (A) La Figura. 2-31. (A) grfico estreo proyeccin de polos Pi y P de la figura 2. 2-26. (B) La rotacin de proyeccin para poner polos en un mismo crculo grande de Wulff

neta. ngulo entre polos = 30. (B) 2-11] La proyeccin estereogrfica 67 medicin deseada ngulo puede entonces ser hecho. Figura 2-31 (a) es una proyeccin de los dos polos PI y P 2 se muestra en perspectiva en la figura. 2-26, y el ngulo entre ellos se encuentra por la rotacin ilustrada en la figura. 2-3 l (b). Esta rotacin de la proyeccin es equivalente a la rotacin de los polos en crculos de latitud de una esfera cuyo eje norte-sur es perpendicular a la proyeccin plana. Como se muestra en la figura. 2-26, un plano puede ser representado por su traza en la esfera de referencia. Este seguimiento se convierte en un gran crculo en el estereogrfica proyeccin. Desde cada punto de este crculo mximo es 90 desde el polo de el avin, el gran crculo se puede encontrar girando la proyeccin hasta el poste se cae en el ecuador "de la red subyacente Wulff y localizacin que meridiano que corta el ecuador 90 del polo, como se ilustra en la figura. 2-32. Si esto se hace por dos postes, como en la figura. 2-33, el ngulo entre el planos correspondientes tambin se puede encontrar desde el ngulo de interseccin de los dos grandes crculos correspondientes a estos polos, es en este sentido que la proyeccin estereogrfica se dice que es cierto ngulo. Este mtodo de una gle medicin no es tan preciso, sin embargo, como que shpwn en la figura. 2-3 l (b). La Figura. 2-32. Mtodo para hallar la huella de un polo (el polo P 2 'En la figura. 2-31). 68 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 Proyeccin La Figura. 2-33. La medicin de un ngulo entre dos polos (Pi y P de la figura 2. 2-26) por la medicin del ngulo de interseccin de las trazas correspondientes. Proyeccin

La Figura. 2-34. Rotacin alrededor del eje de los polos NS de proyeccin. 2-11] La proyeccin estereogrfica 69 A menudo desea girar en torno a varios ejes polos. Tenemos ya visto que la rotacin alrededor de un eje normal a la proyeccin se realiza simplemente por la rotacin de la proyeccin alrededor del centro de la red Wulff. Rotacin alrededor de un eje situado en el plano de la proyeccin se realiza por, primero, al girar el eje sobre el centro de la red Wulff hasta que coincida con el eje norte-sur, si es que an no lo hacen, y, en segundo lugar, mover los polos involucrados a lo largo de su respectiva gira alrededor de la latitud re requerido nmero de grados. Supongamos que se requiere para hacer girar los polos A \ y BI se muestra en la figura. 2-34 por 60 alrededor del eje NS, la direccin de mo cin siendo de W a E en la proyeccin. Luego se traslada a AI A 2 a lo largo de su crculo de latitud como se muestra. # 1, sin embargo, puede girar slo 40 antes encontrndose en el borde de la proyeccin; entonces debe imaginar que se mueva 20 desde el borde hasta el punto B [en el otro lado de la proyeccin, permanecer siempre en su propio crculo de latitud. La posicin final de este polo en el lado positivo de la proyeccin est en B 2 diametralmente opuesto B \. Rotacin alrededor de un eje inclinado respecto al plano de proyeccin se lleva a cabo mediante la composicin rotaciones alrededor de ejes situados en y perpendicular a la proyeccin plana. En este caso, el eje dado primero se debe girar en coincidencia con uno o el otro de los dos ejes de estos ltimos, la rotacin dada realizar, y el eje gira entonces de vuelta a su posicin original. Cualquier movimiento del eje dado debe ser acompaado por un movimiento similar de todos los polos de la proyeccin. Por ejemplo, podramos estar obligados a girar sobre AI BI por 40 en una direccin hacia la derecha (Fig. 2-35). En (a) el poste para girar A} y el BI eje de rotacin se muestran en su posicin inicial. En (b) la proyeccin

se ha girado para llevar BI hasta el ecuador de una red de Wulff. Una rotacin de 48 alrededor del eje NS de la red trae BI hasta el punto B 2 en el centro de la red; al mismo tiempo AI debe ir a un 2 a lo largo de un paralelo de latitud. El eje de rotacin es perpendicular al plano de proyeccin, y el rotacin requerida de 40 trae un 2 a un 3 a lo largo de una trayectoria circular centrada en B 2. Las operaciones que llevaron a BI B 2 ahora son objeto de reversin Para volver B 2 a su posicin original. En consecuencia, B 2 se lleva a JBs y un% de A *, por una rotacin inversa 48 alrededor del eje NS de la red. En (c) la proyeccin se ha girado de nuevo a su posicin inicial, cin construccin lneas han sido omitidos, y slo las posiciones inicial y final de la polo girado se muestran. Durante su rotacin alrededor de B ^ mueve a lo largo de AI el pequeo crculo se muestra. Este crculo se centra en C en la proyeccin y no en su centro de BI proyectada. Para encontrar C se utiliza el hecho de que todos los puntos en el crculo debe encontrarse a distancias angulares iguales de BI] en este caso, medicin en una red de Wulff muestra que tanto la AI y A son de 76 B \. Por consiguiente, localizar cualquier otro punto, tal como D, que es de 76 B \, y conociendo tres puntos en el crculo requerido, podemos localizar su centro C. 70 LOS CRISTALES DE GEOMETRA OP [cap. 2 48 40 (B) (A) (c) La Figura. 2-35. La rotacin de un polo alrededor de un eje inclinado. 2-11] LA PROYECCIN 8TEREOGRAPHIC 71 Al tratar con los problemas de la orientacin de los cristales de una proyeccin estndar de gran valor, ya que muestra de un vistazo la orientacin relativa de los todos los planos importantes en el cristal. Tal proyeccin se hace por s nando

algunos plano cristalino importante de los ndices bajos como el plano de proyeccin pro [Por ejemplo, (100), (110), (111), o (0001)] y la proyeccin de los polos de varios planos de cristal sobre el plano seleccionado. La construccin de una proyeccin estndar de un cristal requiere un conocimiento de la interplanar para todos los ngulos de los planos principales del cristal. Un conjunto de valores aplicables a todos los cristales en el sistema cbico se dan en la Tabla 2-3, pero para los cristales de otros sistemas dependen de las relaciones particulares implicados axiales y debe ser calculado para cada caso por las ecuaciones dadas en el apndice 1. Mucho tiempo se pueden guardar en la toma de las proyecciones estndar haciendo uso zonal de la relacin: las normales a todos los planos que pertenezcan a una zona son coplanar y en ngulo recto con el eje de zona. Por consiguiente, los polos de planos de una zona de todos situados en el crculo grande en la misma proyeccin, y el eje de la zona ser a las 90 de este gran crculo. Adems, planos importantes suelen pertenecer a ms de una zona y sus polos por lo tanto, se encuentra en la interseccin de los crculos de zona. Tambin es til recordar que las direcciones importantes, que en el sistema cbico son normal a los planos de los mismos ndices, son por lo general los ejes de importante Zonas. Figura 2-36 (a) muestra los polos principales de un cristal cbico proyectada en el plano (001) del cristal o, en otras palabras, un estndar (001) cin proyector. La ubicacin de los polos cubo {100} se deduce inmediatamente de la figura. 2-25. Para localizar los polos {110} observamos en primer lugar de la tabla 2-3 que debe estar a 45 desde {100} polos, que son a 90 de distancia. En 100 100 no no 110

1) 10 Aceite no 111 La Figura. 2-36. Proyecciones estndar de cristales cbicos, (a) en (001) y (b) el (petrleo). 72 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 TABLA 2-3 NGULOS interplanares (en grados) en cristales cbicos entre PLANOS DE LA FORMA \ hik \ li \ Y En gran parte de R. M. Bozorth, Phys.. Rev. 26, 390 (1925), redondeado al ms prximo 0,1. 2-11] La proyeccin estereogrfica 73 [112] zona mi] 1110] [001] zona [100] / / zona La Figura. 2-37. Estndar (001) de proyeccin de un cristal cbico. (De la estructura de Los metales, por CS Barrett, McGraw-Hill Book Company, Inc., 1952.) esta forma de localizar (aceite), por ejemplo, en el gran crculo unirse (001) y (010) y en 45 de cada uno. Despus de todos los {110} polos se trazan, podemos encontrar los polos {111} en la interseccin de los crculos de zona. Inspeccin de un modelo o dibujo de cristal o el uso de la relacin propuesta por JEQ zona. (2-3) mostrar que (111), por ejemplo, pertenece tanto a la zona [101] y la zona de [aceite]. El polo de (111) est as situado en la interseccin

de la zona a travs de crculo (OLO), (101), y (010) y la zona de crculo a travs de (TOO), (Petrleo), y (100). Esta ubicacin puede ser comprobada por medicin de su distancia angular desde (010) o (100), que debe ser 54.7. La proyeccin estndar (aceite) se muestra en la figura. 2-36 (b) se representa grficamente en de la misma manera. Alternativamente, se pueden construir haciendo girar todo el polos en la proyeccin (001) 45 a la izquierda alrededor del eje NS de la inyeccin pro, Puesto que esta operacin traer el polo (aceite) hacia el centro. En estos dos smbolos simetra proyecciones se han dado cada polo de conformidad con la figura. 2-6 (b), y se observar que la proyeccin s mismo tiene la simetra del eje perpendicular a su plano, las Figs. 2-36 (a) y (b) que tiene simetra de 4 veces y 2 veces, respectivamente. 74 LA GEOMETRIA DE CRISTALES [CAP. 2 Jl20 T530, 1321 0113. Papel de aluminio no. IOT. 53TO 320 La Figura. 2-38. Estndar (0001) de proyeccin de zinc (hexagonal, c / a = 1,86). (De Estructura de los metales, por CS Barrett, McGraw-Hill Book Company, Inc., 1952.) Figura 2-37 es un estndar (001) proyeccin de un cristal cbico con considerablemente con ms detalle y unas pocas zonas importantes se indica. Una norma (0001) de proyeccin de un cristal hexagonal (zinc) se dan en la figura. 2-38. A veces es necesario para determinar los ndices de Miller de un dado poste en una proyeccin de cristal, por ejemplo el polo A en la figura. 2-39 (a), el cual

se aplica a un cristal cbico. Si una proyeccin estndar detallado est disponible, la proyeccin con el polo desconocido puede ser superpuesta sobre el mismo y su ndices se describen por su coincidencia con uno de los polos conocidos en el estndar. Alternativamente, el mtodo ilustrado en la fig. 2-39 de mayo ser usado. El polo A define una direccin en el espacio, normal al plano (Hkl) cuyos ndices se requiere, y esto hace que los ngulos de direccin p, <r, r con los ejes de coordenadas a, b, c. Estos ngulos se miden en la proyeccin pro como se muestra en (a). Deje que la distancia perpendicular entre el ori gen y el plano (hkl) ms cercano al origen ser d [fig. 2-39 (b)], y dejar que el cosenos directores de la lnea A. sea p, g, r Por lo tanto CEP d o / fc ' cos a d bjk d cos r 2-11] La proyeccin estereogrfica 75 100 (A) (b) La Figura. 2-39. Determinacin de los ndices de Miller de un poste. h: k: l = pa: qb: rc. (2-8) Para el sistema cbico tenemos el simple resultado de que los ndices de Miller requiere estn en la misma relacin que los cosenos de direccin. La reorientacin red causada por el hermanamiento puede ser claramente demostrado en la proyeccin estereogrfica. En la fig. 2-40 los smbolos abiertos son la {100}

polos de un cristal cbico proyecta en la jplane (OOL). Si este cristal es FCC, a continuacin, uno de sus planos gemelos es posible (111), representada en la proyeccin, tanto por su polo y su seguimiento. Los polos del cubo del doble formado por la reflexin en este plano se muestran como smbolos slidos; estos polos se encuentra girando la proyeccin en una red de Wulff hasta el polo de la plano gemela se encuentra en el ecuador, despus de lo cual los polos del cubo del cristal se puede mover a lo largo de crculos de latitud de la red a su posicin final. Los principios fundamentales de la proyeccin estereogrfica se han presentado, y vamos a tener ocasin para usarlos ms adelante en el tratamiento de diversas problemas prcticos en la radiografa metalografa. El estudiante se le recuerda, sin embargo, que la simple lectura de esta seccin no es preparacin suficiente Para evitar dichos problemas. Con el fin de ganar familiaridad real con el estereogrfica proyeccin, se debe practicar, con Wulff neto y papel de calco, la operaciones descritas anteriormente y resolver problemas del tipo dado a continuacin. Slo de esta manera ser capaz de leer y manipular el grfico estreo proyeccin con facilidad y pensar en tres dimensiones de lo que es representados en dos. 100 010 010

(111) doble plano 100 La Figura. 2-40. Proyeccin estereogrfica de un cristal de FCC y su gemela. 76 LOS CRISTALES DE GEOMETRA OP [cap. 2 PROBLEMAS 2-1. Dibuja los siguientes planos y direcciones en una celda unidad tetragonal: (001), (Petrleo), (113), [110], [201], [I01]. _ 2-2. Mostrar por medio de un dibujo (110) en seccin que [111] es perpendicular a (111) en el sistema cbico, pero no, en general, en el sistema tetragonal. 2-3. En un dibujo de un prisma hexagonal, indican los planos siguientes correcciones y di: (1210), (1012), (T011), [110], [111), [021]. 2-4. Deducir la ecuacin. (2-2) del texto. 2-5. Muestran que los planos (110), (121) y (312) pertenecen a la zona [111] ^ 2-6. Los planos siguientes pertenecen todos a la misma zona: (110), (311), (132)? Si es as, cul es el eje de la zona? Dar a los ndices de cualquier otro avin que pertenecen a este zona. 2-7. Preparar un dibujo en seccin transversal de una estructura HCP que mostrar que todos los tomos no tienen un entorno idnticos y por lo tanto no se encuentran en un punto celosa. 2-8. Demuestre que c / a para empaquetamiento compacto hexagonal de esferas es 1,633. 2-9. Demostrar que la estructura HCP (con c / a = 1,633) y la estructura FCC son igualmente de empaquetamiento compacto, y que la estructura BCC est menos estrechamente empaquetados que cualquiera de los primeros. 2-10. Las clulas de la unidad de varios cristales ortorrmbicos se describen a continuacin. Qu es la red de Bravais de cada uno y cmo lo sabes?

(A) dos tomos del mismo tipo por celda unidad situado en J 0, \. (6) cuatro tomos del mismo tipo por celda unidad situado en z, J z, f (^ + z), 00 (| + 2). (C) cuatro tomos del mismo tipo por celda unidad situado en xy z, xyz, (J + x) (I - y) *, (I - *) (* + y) * (D) dos tomos de un tipo A ubicado en J 0, JJ, y dos tomos de otro B especie se encuentra en \ \ \ 0. 2-11. Hacer un dibujo, similar a la figura. 2-23, de un gemelo (112) en una red BCC y mostrar la fuerza cortante responsable de su formacin. Obtener la magnitud de la deformacin de corte grficamente. 2-12. Construir una red de Wulff, de 18 cm de dimetro y graduadas en intervalos de 30, por el uso de la brjula, comps, regla y solo. Mostrar todas las lneas de construccin. En algunos de los problemas siguientes, las coordenadas de un punto en una proyeccin estereogrfica pro se dan en trminos de su latitud y longitud, medida desde el centro de la proyeccin. As, el polo N es 90N, 0E, el polo E es 0N, 90E, etc 2-13. Un plano se representa en una proyeccin estereogrfica por un gran crculo pasa por los polos N y S y el punto de 0N, 70W. El polo del plano B se encuentra en 30N, 50W. (A) Hallar el ngulo entre los dos planos. (B) Dibuje el crculo de plano B y demostrar que el estereogrfica proyeccin es cierto ngulo midiendo con un transportador el ngulo entre los grandes crculos de A y B. PROBLEMAS 77 2-14. Polo A, cuyas coordenadas son 20N, 50E, se va a girar alrededor de la ejes se describe a continuacin. En cada caso, hallar las coordenadas de la posicin final de Un polo y mostrar el camino trazado durante su rotacin.

(A) 100 de rotacin alrededor del eje NS, a la izquierda mirando desde N a 8. (B) 60 rotacin alrededor de un eje normal al plano de proyeccin, en sentido horario para El Observador. (C) 60 rotacin alrededor de un eje inclinado B, cuyas coordenadas son 10S, 30W, hacia la derecha para el observador. 2-16. Dibujar un estndar (111) de proyeccin de un cristal cbico, que muestra todos los polos de la forma {100}, { 1 10 1, (111) y los crculos de zonas importantes entre ellos. Com pare con las Figs. 2-36 (a) y (b). 2-16. Dibuje un estndar (001) proyeccin de estao blanco (tetragonal, c / a = 0.545), mostrando todos los polos de la forma 1 001 1, {100), {1 10), (01 1 1, { 1 1 1) y la importante crculos de zona entre ellos. Comparar con la figura. 2-36 (a). 2-17. Dibuje un estndar (0001) de proyeccin de berilio (hexagonal, c / a = 1,57), mostrando todos los polos de la forma {2l70j, {Loto}, {2TTl |, (10TL | y el importante crculos de zona entre ellos. Comparar con la figura. 2-38. 2-18. En un estndar (001) de proyeccin de un cristal cbico, en la orientacin de La figura. 2 ~ 36 (a), el polo de un cierto plano tiene coordenadas 53.3S, 26.6E. Qu son sus ndices de Miller? Verifique su respuesta mediante la comparacin de los ngulos medidos con los que figuran en la Tabla 2-3. 2-19. Duplicado las operaciones mostradas en la figura. 2-40 y as encontrar las ubicaciones de los polos del cubo de la reflexin (TTL) con camas individuales en un cristal cbico. Cules son sus coordina? 2-20. Demostrar que la orientacin gemelo encontrado en el problema. 2 a 1 septiembre tambin se puede conseguir Por (A) Reflexin en un 1112) avin. Cul?

(6) 180 de rotacin alrededor de un eje (III). Cul? (C) 60 de rotacin alrededor de un eje (III). Cul? En (c), muestran los caminos trazados por los polos cubo durante su rotacin. CAPTULO 3 DIFRACCIN I: Las direcciones de haces difractados Introduccin 3-1. Despus de nuestro estudio preliminar de la fsica de los rayos X y la geometra de los cristales, que ahora puede proceder a encajar los dos juntos y analizar el fenmeno de difraccin de rayos X, que es una interaccin de los dos. Histricamente, esta es exactamente la forma en que este campo de la ciencia desarrollada. Durante muchos aos, mineralogistas y cristalgrafos tena acumulacin lated conocimientos sobre los cristales, sobre todo mediante la medicin de la interfase ngulos, anlisis qumico, y la determinacin de las propiedades fsicas. Hay se saba poco de la estructura interior, sin embargo, a pesar de algunas muy conjeturas astutos haban hecho, a saber, que los cristales fueron construidos por repeticin peridica de alguna unidad, probablemente un tomo o molcula, y que estas unidades se encuentra a unos 1 o 2A aparte. Por otro lado, hay indicios, sino slo indicaciones, que los rayos X pueden ser electromagnticas magntica ondas de alrededor de 1 o 2A en longitud de onda. Adems, el fenmeno de difraccin se entiende bien, y se sabe que la difraccin, como de la luz visible por una rejilla gobernados, se produjo cuando la onda en movimiento contrarrestado un conjunto de objetos de dispersin regularmente espaciados, a condicin de que el longitud de onda de la onda de movimiento era del mismo orden de magnitud que el repetir distancia entre los centros de dispersin. Tal era el estado de los conocimientos en el ao 1912 cuando el fsico alemn von Laue abord el problema. Lleg a la conclusin de que, si los cristales se plantea com de tomos regularmente espaciados que podran actuar como centros de dispersin para

rayos X, y si los rayos X eran ondas electromagnticas de longitud de onda sobre igual a la distancia interatmica en cristales, entonces debera ser posible difractan los rayos X por medio de cristales. Bajo su direccin, los experimentos para probar esta hiptesis se llevaron a cabo: un cristal de sulfato de cobre se fij en el camino de un haz estrecho de rayos X y una placa fotogrfica fue dispuesto para registrar la presencia de haces difractados, si los hay. El mismo primer experimento tuvo xito y mostr sin duda que los rayos X fueron difractados por el cristal de la viga principal para formar un patrn de manchas en la placa fotogrfica. Estos experimentos demostraron, en un y al mismo tiempo, la naturaleza de onda de los rayos X y la periodicidad de los disposicin de los tomos dentro de un cristal. La retrospeccin es siempre fcil y estas ideas parecen bastante sencillo para nosotros ahora, cuando se ve desde el mirador punto de desarrollo de ms de cuarenta aos sobre el tema, pero eran no es en absoluto evidente en 1912, y la hiptesis de von Laue y su experimental verificacin debe presentarse como un logro de gran intelectual. 78 3-2] DIFRACCIN 79 El relato de estos experimentos fue ledo con gran inters por dos Fsicos ingleses, WH Bragg y su hijo WL Bragg. Este ltimo, aunque slo un joven estudiante en el momento en que segua siendo el ao 1912 analizado con xito el experimento Laue y era capaz de expresar la condiciones necesarias para la difraccin en un matemtico algo ms sencillo forma que el utilizado por von Laue. Tambin atac el problema de cristal estructura con la nueva herramienta de difraccin de rayos X y, en el ao siguiente, resuelto las estructuras de NaCl, KC1, KBr, KI y, todos los cuales han de la Estructura NaCl, que fueron los primeros completos estructura cristalina-ciones determinaciones jams se ha hecho.

3-2 de difraccin. La difraccin es debido esencialmente a la existencia de ciertas eliminar las relaciones entre dos o ms olas, y es aconsejable, en el inicio, para tener una nocin clara de lo que se entiende por relaciones de fase. Con sider un haz de rayos X, tal como haz en la figura 1. 3-1, procediendo de izquierda a derecha. Por conveniencia, este haz se supone que es polarizada en un plano con el fin de que podamos dibujar el vector de campo elctrico E siempre en un plano. Podemos imaginar esta viga se compone de dos partes iguales, y dos rayos ray 3, cada uno de la mitad de la amplitud de haz 1. Estos dos rayos, en la onda frontal AA ', se dice que son completamente en fase o en el paso, es decir, su campo elctrico vectores tienen la misma magnitud y direccin en el mismo instante en cualquier punto x mide a lo largo de la direccin de propagacin de la onda. Un frente de onda es una superficie perpendicular a esta direccin de propagacin. La Figura. 3-1. Efecto de la diferencia de trayectoria en la fase relativa. 80 DIFFRACTIO N II Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 Ahora consideremos un experimento imaginario, en el que tres rayos se le permite continuar en lnea recta pero rayos 2 se desva de alguna manera en una trayectoria curva antes de reunirse con rayos 3. Cul es la situacin en la onda frente BB ', donde los rayos estn avanzando en la direccin original? En este frente, el vector elctrico de rayos 2 tiene su valor mximo en el instante se muestra, pero que de rayos 3 es cero. Los dos rayos son por lo tanto fuera de fase. Si sumamos estos dos componentes imaginarios de la viga juntos, nos encontramos con 1 haz que ahora tiene la forma mostrada en la parte superior derecha del dibujo. Si las amplitudes de los rayos 2 y 3 son cada unidad 1, entonces la amplitud de viga 1 a la izquierda es de 2 unidades y la de haz 1 de la derecha es 1,4 unidades, si una variacin sinusoidal de E con x se asume. Dos conclusiones se pueden extraer de esta ilustracin: (1) Las diferencias en la longitud del trayecto recorrido lugar a diferencias en

CFEE. (2) La introduccin de diferencias de fase produce un cambio en la ampli tud. Cuanto mayor es la ruta de diferencia, mayor ser la diferencia de fase, ya la diferencia de camino, medida en longitudes de onda, es exactamente igual a la fase de diferencia, tambin se mide en longitudes de onda. Si la ruta de desvi de rayos 2 en La figura. 3-1 fueron un cuarto de onda ms larga que se muestra, la diferencia de fase cia sera una longitud de onda media. Los dos rayos entonces sera completamente fuera de fase en la onda "frente BB y ms all, y que, por tanto, anular entre s, ya que en cualquier punto de sus vectores elctricos sera ya sea ambos cero o de la misma magnitud y opuestas en direccin. Si la Conferencia DIF en longitud del camino se hicieron tres cuartos de longitud de onda mayor lo que se muestra, los dos rayos sera una longitud de onda completa fuera de fase, una condicin indistinguible de estar completamente en fase desde ir + casos, las dos ondas se combinan para formar un haz de amplitud 2 al igual que el haz original. Podemos concluir que dos rayos son completamente en fase cuando sus longitudes de trayectoria difieren ya sea por cero o> nmero entero de longitudes de onda. Las diferencias en la longitud de la trayectoria de los rayos surgen varios naturalmente v consideramos como un cristal difracta los rayos x. La figura 3-2 muestra una seccin cristal, sus tomos dispuestos en un conjunto de planos paralelos A 5,, C, D, normal al plano del dibujo y separadas una distancia d 'aparte. Culo que un haz de perfectamente paralelas, perfectamente monocromtica de rayos X de \ v X longitud es incidente sobre este cristal en un ngulo 0, llamado un Bragg, donde se mide entre el haz incidente y lo particular cr; planos considerados. Queremos saber si este haz incidente de rayos X se diffrd por el cristal y, en caso afirmativo, en qu condiciones. Un haz difractado me

define como un haz compuesto de un gran nmero de rayos dispersos mutuamente forzando uno del otro. La difraccin es, por lo tanto, esencialmente una dispersin de 3 2 | 83 DIFRACCIN Hemos considerado aqu como un rayo difractado est construyendo de scat rayos registradas por planos sucesivos de los tomos dentro del cristal. Sera una error suponer, sin embargo, que un solo plano de tomos A difractara rayos X as como el cristal completo hace pero menos fuertemente. En realidad, la solo plano de tomos que produce, no slo el haz en la direccin 1 ' como el cristal completo hace, pero tambin haces adicionales en otras direcciones, algunos de ellos no se limita al plano del dibujo. Estas adicional vigas no existen en la difraccin del cristal completo precisamente porque los tomos en las vigas de otros planos de dispersin que destructivamente interferir con los dispersados por los tomos en el plano A, excepto en la direccin cin I7 . A primera vista, el archivo. difraccin de rayos X por cristales y el reflejo de luz visible por los espejos son muy similares, ya que ambos fenmenos en el ngulo de incidencia es igual al ngulo de reflexin. Parece que nos podra considerar que los planos de tomos como pequeos espejos que "reflejan" la las radiografas. Difraccin y reflexin, sin embargo, difieren fundamentalmente en a por lo menos tres aspectos: (1) El haz difractado desde un cristal se construye de rayos dispersos por todos los tomos del cristal que se encuentran en la trayectoria del haz incidente. La reflexin de la luz visible se lleva a cabo en una fina capa superficial solamente. (2) El anlisis de difraccin de rayos X monocromtica tiene lugar slo en aquellos ngulos particulares de incidencia que satisfacen la ley de Bragg. La reflexin de la luz visible se lleva a cabo en cualquier ngulo de incidencia.

(3) La reflexin de la luz visible por un buen espejo es casi 100 por ciento eficiente. La intensidad difractada de un haz de rayos X es muy pequea en comparacin com a la del haz incidente. A pesar de estas diferencias, a menudo hablamos de "planos" que reflejan y "Haces reflejados", cuando en realidad queremos decir difraccin planos y difractada Vigas. Esto es de uso comn y, a partir de ahora, vamos a utilizar con frecuencia estos trminos sin comillas pero con el entendimiento tcito de que que realmente queremos decir difraccin y no la reflexin. * Para resumir, la difraccin es esencialmente un fenmeno de dispersin en el que un gran nmero de tomos de cooperar. Dado que los tomos estn dispuestos perodo camente en una red, los rayos esparcidos por ellos tienen determinadas relaciones de fase entre ellos, estas relaciones de fase son tales que la interferencia destructiva ocurre en la mayora de las direcciones de dispersin, pero en algunas direcciones constructivo interferencia tiene lugar y haces difractados forman. Los dos essen tials son un movimiento de onda capaz de interferencia (rayos X) y un conjunto de peridicamente dispuestas centros de dispersin (los tomos de un cristal). * Por el bien de la integridad, debe mencionarse que los rayos X pueden ser totalmente reflejada por una superficie slida, como la luz visible por un espejo, pero slo a muy pequeos ngulos de incidencia (por debajo de alrededor de un grado). Este fenmeno es de poco importancia prctica en la radiografa de metalografa y no tiene por qu preocuparnos ms. 84 DIFFRACTIO N i: Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 3-3 La ley de Bragg. Dos hechos geomtricos que vale la pena recordar: (1) El haz incidente, la normal a la superficie reflectante, y el DIF fracted haz siempre son coplanares. (2) El ngulo entre el haz difractado y el haz transmitido es siempre 26. Esto se conoce como el ngulo de difraccin, y es este ngulo,

en lugar de 6, que generalmente se mide experimentalmente. Como se dijo anteriormente, la difraccin en general slo se produce cuando la longitud de onda del movimiento de las olas es del mismo orden de magnitud que la repeticin distancia entre centros de dispersin. Este requisito se desprende de la Bragg ley. Puesto que el pecado no puede exceder a la unidad, se puede escribir n\ Sin0 = <l. (3-2) 2RF ' Por lo tanto, n \ debe ser menor que 2d '. Por difraccin, el valor ms pequeo de n es 1. (N = se corresponde con el haz difractado en la misma direccin como el haz transmitido. No se puede observar.) Por lo tanto la condicin cin para la difraccin observable en cualquier ngulo 26 es X <2d '. (3-3) Para la mayora de conjuntos de planos del cristal d r es del orden de 3A o menos, lo que significa que X no puede exceder de aproximadamente 6A. Un cristal no poda difractar ultravioleta radiacin, por ejemplo, de longitud de onda de aproximadamente 500A. Por el otro lado, si X es muy pequeo, los ngulos de difraccin son demasiado pequeos para ser convenientemente medido. La ley de Bragg se puede escribir en la forma X = 2 - sen 6. (3-4) n Puesto que el coeficiente de X es ahora la unidad, se puede considerar un reflejo de cualquier orden como una reflexin de primer orden de los aviones, reales o ficticios, espaciados a una distancia 1 / n de la separacin anterior. Esta resulta ser una conveniencia con real, as que nos pusimos d = d '/ n y escribir la ley de Bragg en forma

(3-5) Este formulario se utiliza en este libro. Este uso se ilustra por la figura. 3-3. Considere el segundo orden 100 * re flexin se muestra en (a). Dado que es de segundo orden, la diferencia de camino ABC entre los rayos dispersados por la adyacente (100) planos deben ser de onda Jwo todo * Esto significa que la reflexin ^ desde los planos (100). Convencionalmente, la Miller ndices hkl de un plano reflectante, escrito sin parntesis, representan el reflejado haz del plano (hkl). 3-4] espectroscopa de rayos X 85 (100) (200) La Figura. 3-3. Equivalencia de (a) un segundo orden 100 reflexin y (b) una orden de primera 200 reflexin. longitudes. Si no hay un plano real de los tomos entre los planos (100), se siempre puede imaginar uno como en la figura. 3-3 (b), donde la mitad de camino plano punteado entre los planos (100) forma parte del conjunto (200) de los planos. Para el reflexin misma que en (a), la DEF diferencia de caminos entre los rayos dispersos por adyacentes (200) aviones es ahora slo una longitud de onda completa, para que este reflexin propiamente puede llamarse de primer orden 200 la reflexin. De manera similar, 300, 400, etc, reflexiones son equivalentes a las reflexiones de la cuarta tercera,, etc, los pedidos de los planos (100). En general, una reflexin de orden n a partir de (hkl) df planos de separacin puede ser considerado como una reflexin de primer orden a partir de los planos (nh nk nl) del espaciamiento d = d '/ n. Tenga en cuenta que esta convencin est de acuerdo con la definicin de los ndices de Miller desde (NH nk nl) son los Miller ndices de planos paralelos a los planos (hkl) pero con 1 / n el espaciamiento de este ltimo.

3-4 espectroscopia de rayos X. Experimentalmente, la ley de Bragg puede ser utilizado de dos maneras. Mediante el uso de rayos X de X de longitud de onda conocida y midiendo 6, se puede determinar la separacin d de varios planos en un cristal: este es Anlisis de estructura y es el sujeto, en una u otra forma, de la mayor parte de este libro. Alternativamente, se Puede utilizar un cristal con planos de conocido separacin d, medida 0, y as mina disuadir la longitud de onda de la radiacin utilizado: esta es la espectroscopa de rayos x. Las caractersticas esenciales de una radiografa espectrmetro se muestra en la figura. 3-4. Los rayos X de los tubos T son incidente C en un cristal que se puede fijar en cualquier ngulo deseado para la figura incidente. 3-4. El espectrmetro de rayos x. 86 DIFFRACTIO N i: Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 haz por rotacin alrededor de un eje que pasa por 0, el centro del espectrmetro crculo. D es una cmara de ionizacin o alguna forma de contador que mide la intensidad de la difraccin de rayos X, sino que tambin puede girar alrededor de y ajustarse en cualquier posicin angular deseada. El cristal suele cortar o escindido de modo que un conjunto particular de reflejar planos de separacin conocido es paralela a su superficie, como se sugiere en el dibujo. En uso, el cristal se coloca de manera que sus planos reflectantes hacer algo determinado ngulo 6 con el incidente haz, y D se fija en el ngulo correspondiente 26. La intensidad de la haz difractado se mide y se calcula su longitud de onda de la Bragg ley, este procedimiento se repite para varios ngulos 6. Es en este manera que se curva tal como la figura. 1-5 y el carcter tab longitudes de onda lated

En el Apndice 3 se obtuvieron. W. H. Bragg diseado y utilizado el primero espectrmetro de rayos X, y el fsico sueco que desarroll Siegbahn en un instrumento de alta precisin. Excepto por una aplicacin, el objeto de anlisis fluorescente descrito en el Cap. 15, nos ocupa con espectroscopa de rayos X slo en la la medida en que se refiere a determinadas unidades de la longitud de onda. Mediciones de longitud de onda hizo en la forma que acabamos de describir son obviamente relativa, y su precisin no es mayor que la precisin con la que el espaciado plano del cristal es conocido. Para un cristal cbico esta separacin se puede conseguir de forma independiente a partir de una medicin de su densidad. Para cualquier cristal, peso de los tomos en la celda unidad Densidad = -> volumen de celda unidad ZA p =, (3-6) NV donde p = densidad (g / cm 3 ), SA = suma de los pesos atmicos de los tomos en la celda unidad, N = nmero de Avogadro, y V = volumen de la unidad clula (cm 3 ). NaCl, por ejemplo, contiene cuatro tomos de sodio y cloro cuatro tomos por celda unidad, de manera que SA = 4 (nmero atmico en peso de Na) + 4 (nmero atmico peso de Cl). Si este valor se inserta en la ecuacin. (3-6), junto con el nmero de Avogadro y el valor medido de la densidad, el volumen de la celda unitaria V puede encontrarse. Desde NaCl es cbica, el parmetro de red a viene dado simplemente por

la raz cbica de V. A partir de este valor de un plano cbico y el espaciamiento de los ecuacin (Ec. 2-5), la separacin de cualquier conjunto de planos se pueden encontrar. De esta manera, Siegbahn obtuvo un valor de 2,8 14 A para la separacin de la (200) planos de la sal de roca, que se podran utilizar como base para la longitud de onda mediciones. Sin embargo, l fue capaz de medir longitudes de onda en trminos de este espacio, mucho ms precisa que la separacin en s se conoce en el sentido de que podra tomar medidas con relacin de longitud de onda precisa 3-4] X-RAY 8PECTRO8COPY 87 a seis cifras significativas, mientras que la separacin en unidades absolutas (angstroms) slo se conoca a cuatro. Se decidi, por tanto, definir arbitrariamente la separacin (200) de la sal de roca como 2.814,00 unidades X (XU), esta nueva unidad es escogida para ser lo ms prximas posible igual a 0,001 A. Una vez que una longitud de onda particular se determin en trminos de esta separacin, la separacin de un conjunto dado de aviones en cualquier otro cristal podra ser medido. Siegbahn mide as la separacin (200) de la calcita, que le pareca ms adecuado como un cristal estndar, y en base a partir de entonces toda su longitud de onda mediciones en este espaciado. Su valor es de 3029,45 XU. Ms tarde, el kilo unidad X (Kx) fue introducido, mil veces mayor que la unidad X y casi igual a un angstrom. La unidad kX tanto, se define por la Relacin (200) avin espaciamiento de calcita 1 KX = (37) 3,02945 V; Sobre esta base, Siegbahn y sus asociados mentos medida muy precisa de longitud de onda en relativos (KX) unidades y se forman estas mediciones basndose en tablas de longitud de onda ms publicados.

Ms tarde se descubri que los rayos X podra ser difractado por una rejilla de descartar tal como se utiliza en la espectroscopia de la luz visible, siempre que el ngulo de incidencia (el ngulo entre el rayo incidente y el plano de la rejilla) se mantiene por debajo del ngulo crtico para la reflexin total. Rejillas as ofrecer un medio de hacer medidas absolutas de longitud de onda, independiente de cualquier conocimiento de la estructura cristalina. Mediante una comparacin de los valores as obtenidos con los encontrados por Siegbahn de difraccin de cristal, era posi ble para calcular la siguiente relacin entre la relativa y absoluta Unidades: 1 KX = 1.00202A (3-8) Este factor de conversin se decidi en 1946 por acuerdo internacional, y se recomend que, en el futuro, las longitudes de onda de rayos X y los parmetros de red de cristales de ser expresada en angstroms. Si V en la ecuacin. (3-6) para la densidad de un cristal se expresa en un 3 (No en kX 3 ) Y el momento valor aceptado del nmero de Avogadro insertada, entonces la ecuacin se convierte en 1.66020S4 P= (3-9) La distincin entre kX y A no es importante si no ms unos tres cifras significativas estn involucrados. En un trabajo preciso, por otra mano, las unidades deben estar correctamente dicho, y en este punto se ha producido con considerable confusin en el pasado. Algunos valores de longitud de onda publicados antes a aproximadamente 1946 se indica para ser en unidades angstrom, pero en realidad estn en kX unidades. Algunos cristalgrafos han utilizado un valor tal como la base para un

'88; DIFRACCIN II Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 medicin precisa del parmetro de red de un cristal y el resultado se ha dicho, tambin incorrectamente, en unidades angstrom. Muchos publicado parmetros son por lo tanto en error, y lamentablemente no es siempre fcil para determinar cules son y cules no lo son. La nica regla segura a seguir, al sealar un parmetro preciso, es dar a la longitud de onda de la radiacin utilizada en su determinacin. Del mismo modo, cualquier tabla publicada de longitudes de onda pueden ser probados por la exactitud de sus unidades sealando la longitud de onda dada por una lnea en particular caracterstica, Cu Ka \ por ejemplo. La longitud de onda de esta lnea es 1.54051A o kX 1,53740. 3-5 direcciones de difraccin. Qu determina las direcciones posibles, es decir, los ngulos posibles 20, en el que un cristal dado puede difractar un rayo de monocromtico de rayos X? Haciendo referencia a la figura. 3-3, vemos que varios cin difraccin ngulos 20i, 20 2, 20 3, ... puede obtenerse a partir de los planos (100) por utilizando un haz que incide en el ngulo correcto 0i, 2, 0s, y producir primera, segunda, tercera,. . . reflexiones de orden. Pero tambin puede ser difraccin producida por los planos (110), los planos (111), los planos (213), y as sobre. Est claro que necesitamos una relacin general que predice la difraccin cin ngulo para cualquier conjunto de planos. Esta relacin se obtiene combinando la ley de Bragg y la ecuacin del plano-spacing (Apndice 1) aplicable a el cristal particular implicado. Por ejemplo, si el cristal es cbica, luego X = 2d pecado y 1 (ft 2 + fc 2+I

2 } Combinando estas ecuaciones, hemos X2 Pecado 2=(H 2+k2+l 2 ). (3-10) 4a 2 Esta ecuacin predice, por una determinada longitud de onda incidente X y un par ticular cristal cbico de tamao de celda unidad A, todos los posibles ngulos de Bragg en difraccin que se puede producir a partir de los planos (hkl). Para (110) planos, para ejemplo, la ec. (3-10) se convierte en Si el cristal es tetragonal, con ejes A y C, entonces el correspondiente gen eral ecuacin es 4ac2 2 y ecuaciones similares se pueden obtener fcilmente por los sistemas cristalinos otros. 3-6] mtodos de difraccin de 89 Estos ejemplos muestran que las direcciones en las que un haz de longitud de onda dada es difractada por un conjunto determinado de planos de la red se determina por la sistema de cristal a la que pertenece el cristal y sus parmetros de red. En corto, direcciones de difraccin se determina nicamente por la forma y el tamao de la unidad de celda. Este es un punto importante y tambin lo es su inversa: todo lo que podamos pos blemente

determinar sobre un cristal desconocido por las mediciones de las indicaciones de haces difractados son la forma y el tamao de su celda unitaria. Lo haremos encontrar, en el prximo captulo, que las intensidades de los haces difractados se deter minado por las posiciones de los tomos en la celda unidad, y se deduce que debemos medir intensidades si vamos a obtener ninguna informacin en absoluto sobre las posiciones atmicas. Nos encontramos, por muchos cristales, que hay particulares disposiciones atmicas que reducen las intensidades de algunos DIF fracted vigas a cero. En tal caso, simplemente no hay haz difractado en el ngulo predicho por una ecuacin del tipo de las Ecs. (3-10) y (3-11). Es en este sentido que las ecuaciones de este tipo es posible predecir difractada Vigas. 3-6 mtodos de difraccin. Difraccin puede ocurrir cuando la Bragg ley, X = 2d sen 0, se satisface. Esta ecuacin pone ciones condiciones muy estrictas en X y 6 para cualquier cristal dado. Con la radiacin monocromtica, un entorno arbitrario de un solo cristal en un haz de rayos X no lo har en ge neral producir ningn haces difractados. Algunos manera de satisfacer la ley de Bragg deben concebirse, y esto se puede hacer variar continuamente o bien X o 6 durante el experimento. Las formas en que estas cantidades son variados distinguir los tres principales mtodos de difraccin: Variable Fijo Mtodo de Laue Rotacin de cristal mtodo fijo variable (en parte) Polvo Variable mtodo fijo El mtodo de Laue fue el mtodo de difraccin por primera vez utilizado, y volver produce experimento original de von Laue. Un haz de radiacin blanca, la espectro continuo de un tubo de rayos X, se deja caer en un nico fijo cristal. El ngulo de Bragg 6 Por consiguiente, se fija para cada conjunto de planos en la cristal, y cada conjunto escoge y que difracta determinada longitud de onda

que satisface la ley de Bragg para los valores particulares de d e involucrado. Cada haz difractado por lo tanto tiene una longitud de onda diferente. Hay dos variaciones del mtodo de Laue, dependiendo de la relativa posiciones de fuente, el cristal y la pelcula (Fig. 3-5). En cada uno, la pelcula es plana y se coloca perpendicular al haz incidente. La pelcula en la misin trans Laue mtodo (el mtodo de Laue original) se coloca detrs de la Tal crys as como para registrar los haces difractados en la direccin de avance. Esta 90 DIFFRACTIO N i: Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 (A) (b) La figura. 3-5. (A) La transmisin y (b) la reflexin posterior mtodos de Laue. mtodo se llama as porque los haces difractados son parcialmente transmitida a travs del cristal. En el mtodo de Laue back-reflexin de la pelcula se coloca entre el cristal y la fuente de rayos X, el haz incidente que pasa a travs un agujero en la pelcula, y las vigas difractada en una direccin hacia atrs son Grabado. En cualquiera de los mtodos, los haces difractados formar una matriz de manchas sobre la pelcula como se muestra en la figura. 3-6. Este conjunto de puntos que comnmente se llama una golondrina de mar pat, pero el trmino no se utiliza en un sentido estricto, y no implica ninguna arreglo peridico de las manchas. Por el contrario, las manchas se ven acostarse en ciertas curvas, como se muestra por las lneas dibujadas en las fotografas. (A) La Figura. <H *. (A) la transmisin y (b) Laue back-reflexin patrones de un nmero alumi cristal (cbico). Radiacin Tungsteno, 30 kV, 19 mA. 3-6] mtodos de difraccin de 91 ZA (B)

La Figura. 3-7. Ubicacin de los Puntos de Laue (a) en elipses en el Mtodo de transmisin y (b) en hiprbolas en el Mtodo de back-reflexin. (C = Cristal, Pelcula F, ZA = zona eje.) ESTAS Curvas hijo elipses o hiprbolas generalmente de los patrones de transmisin [Fig. 3-6 (a)] y hiprbolas de patrones de reflexin posterior [fig. 3-6 (b)]. Los Puntos de Encuentro los situados bao Cualquier curva de la ONU hijo reflejos de los Aviones pertenecientes una zona UNA. ESTO it debido al Hecho De que las vegas Reflexiones de Laue de Aviones Una zona de s encuentran Todos en la Superficie De Un cono imaginario Cuyo eje es la zona EJE. Como s Muestra en la Figura. 3-7 (a), Uno de los Lados del cono es tangente a la trans cometidos haz, y el Angulo de inclinacin de la <f> eje de zona (ZA) a la haz transmitido es Igual al Angulo de semi-vrtice del cono. Una Pelcula colocada Cmo S Muestra intersecta el cono en elipse imaginaria Un paso a Travs El Centro de la pelicula, las manchas de difraccin de los planos de Una zona Que Se est dispuestos en this elipse. De Cuando el ngulo superior de <t> 45, Una Pelcula colocada Entre el cristal y la fuente de rayos X prr registrador el patrn de back-Reflexin cruzar el cono en Una Hiperbola, Cmo S Muestra en la Figura. 3-7 (b). 92 DIFFRACTIO N i: Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 ZA La Figura. 3-8. proyeccin estereogrfica mtodo de transmisin de Laue. La Figura. 3-9. Rotacin de cristal mtodo. El hecho de que las reflexiones de Laue de planos de una mentira zona de la superficie de un cono puede ser demostrado muy bien con la proyeccin estereogrfica. En la fig. 3-8, haz 7 entra a la izquierda, y el haz transmitido T sale a la derecha. El punto que representa el eje de la zona est situado en la circunferencia de la base

crculo y los polos de cinco planos pertenecientes a esta zona, PI a P5, se encuentran en el gran crculo se muestra. La direccin del haz difractado por una cualquiera de estos planos, por ejemplo el plano P2, se puede encontrar como sigue. 7, P2, D2 (La direccin de difraccin es necesario), y T son coplanares. Por lo tanto 7> 2 radica en el gran crculo a travs de 7, P2, y T. El ngulo entre 7 y P2 es (0 90), y 7) 2 debe estar a una distancia angular igual en el otro lado de P2, tal como se muestra. Los haces difractados por lo encontr, D \ to Z> 5, se ven que se acueste en un pequeo crculo, la interseccin con la esfera de referencia de un cono cuyo eje es el eje de zona. Las posiciones de las manchas de la pelcula, tanto para la transmisin y la back-reflexin mtodo, dependen de la orientacin relativa del cristal al haz incidente, y las manchas se distorsione y se difuminada si el cristal se ha doblado o torcido de ninguna manera. Estos hechos representan los dos usos principales de los mtodos de Laue: la determinacin de orientacin de los cristales y la evaluacin de la perfeccin cristalina. En el mtodo de rotacin de cristal de un solo cristal est montado con uno de sus ejes, o alguna direccin cristalogrfica importante, normal a un monocromtica haz de rayos X. Una pelcula cilndrica se coloca alrededor de ella y el cristal es girado alrededor de la direccin elegida, el eje de la pelcula coincidiendo con el eje de rotacin del cristal (Fig. 3-9). A medida que el cristal gira, 3-6] mtodos de difraccin de 93 ^ M ^ mm ^ 'S'lililtt La figura. 3-10. Rotacin de cristal patrn de un cristal de cuarzo (hexagonal) girado alrededor de su eje c. Filtrado de radiacin de cobre. (Las rayas son debidas a la radiacin blanca no se elimina por el filtro.) (Cortesa de BE Warren.) un conjunto particular de planos de la red ser, por un instante, hacer la correcta

ngulo de Bragg para la reflexin del haz incidente monocromtica, y en ese instante un rayo reflejado se formar. Los haces reflejados son de nuevo situado en conos imaginarios pero ahora los ejes de cono coincide con el eje de rotacin. El resultado es que las manchas de la pelcula, cuando la pelcula est el plano presentado, se encuentran en lneas horizontales imaginarias, como se muestra en la figura. 3-10. Dado que el cristal se hace girar alrededor de un solo eje, el ngulo de Bragg no se tomar todos los valores posibles entre y 90 para cada conjunto de planos. No cada conjunto, por lo tanto, es capaz de producir un haz difractado; establece perpendicular o casi perpendicular al eje de rotacin son ejemplos obvios. El principal uso del mtodo giratorio de cristal y sus variaciones en el determinacin de las estructuras cristalinas desconocidos, y para este propsito es la herramienta ms poderosa del cristalgrafo de rayos X tiene a su disposicin. Sin embargo, la determinacin completa de las estructuras cristalinas complejas es un tema ms all del alcance de este libro y fuera de la provincia de la media metalrgico que utiliza la difraccin de rayos x como una herramienta de laboratorio. Por esta razn, el mtodo de rotacin de cristal no se describir en ms lejos detalle, a excepcin de un breve debate en el Apndice 15. En el mtodo del polvo, el cristal a examinar se redujo a un muy polvo fino y se coloc en un haz monocromtico de rayos x. Cada partcula del polvo es un pequeo cristal orientado al azar con respecto a la incidente viga. Slo por casualidad, algunas de las partculas ser orientado correctamente de manera que sus (100) planos, por ejemplo, puede reflejar el haz incidente. Otras partculas estar correctamente orientado para (110) reflexiones, y as sucesivamente. El resultado es que cada conjunto de planos de la red ser capaz de reflexin. La masa de polvo es equivalente, de hecho, hace girar a un solo cristal, no alrededor de un eje, sino de todos los ejes posibles.

Considere la posibilidad de una reflexin hkl particular. Una o ms partculas de polvo ser, por casualidad, ser tan orientado que sus (hkl) planos hacer la correcta 94 DIFFRACTIO N 1 1 Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 (A) La figura. 3-11. Formacin de un cono de radiacin difractada en el mtodo de polvo. Bragg ngulo de reflexin, fig. 3-11 (a) muestra un plano en este conjunto y el haz difractado formado. Si este plano se gira ahora sobre el incidente haz como eje de tal manera que 6 se mantiene constante, entonces el haz reflejado viajar sobre la superficie de un cono, como se muestra en la figura. 3-1 l (b), el eje de el cono coincidente con el haz transmitido. Esta rotacin no hace realidad ocurren en el mtodo de polvo, pero la presencia de un gran nmero de partculas de cristal que tienen todas las orientaciones posibles es equivalente a esta rotacin, ya que entre estas partculas habr una cierta fraccin cuyo (Hkl) planos que el derecho ngulo de Bragg con el haz incidente y que en la mentira mismo tiempo en todas las posiciones posibles de rotacin alrededor del eje de el haz incidente. La reflexin hkl partir de una masa fija de polvo por lo tanto tiene la forma de un cono de radiacin difractada, y es un cono separado formado para cada conjunto de planos reticulares espaciadas de manera diferente. La figura 3-12 muestra cuatro conos tales y tambin ilustra el ms comn de polvo de difraccin de mtodo. En este sentido, el mtodo de Debye-Scherrer, una estrecha tira de pelcula se curva en un cilindro corto con el espcimen se coloc op su eje y el haz incidente dirigida en ngulo recto a este eje. La conos de radiacin difractada se cruzan la tira cilndrica de pelcula en lneas y, cuando la tira se desenrolla y el plano presentado, el patrn resultante tiene la aparicin de la que se ilustra en la figura. 3-12 (b). Patrones reales, producido por polvos metlicos diferentes, se muestran en la figura. 3-13. Cada difraccin lnea se compone de un gran nmero de pequeos puntos, cada uno de un separado

partculas de cristal, los puntos situados tan prximos entre s que aparecen como una lnea continua. Las lneas estn generalmente curvada, a menos que aparezcan exactamente a 26 == 90 cuando van a ser rectas. Desde la posicin medida de un dada la lnea de difraccin en la pelcula, 6 se puede determinar, y, X sabiendo, que puede calcular la separacin d de los planos reticulares reflectantes producidas la lnea. > A la inversa, si la forma y el tamao de la celda unidad del cristal son conocidos, se puede predecir la posicin de todas las posibles lneas de difraccin en la pelcula. La lnea de las ms bajas valor 28 es producido por la reflexin a partir de los planos de los ms grandes 3-6] mtodos de difraccin de 95 punto en el que haz incidente entra (26 = 180) - / (A) \ 26 = (B) La figura. 3-12. Debye-Scherrer polvo mtodo: (a) la relacin del cine con la muestra y haz incidente, (b) el aspecto de la pelcula cuando se extiende a toda mquina. 26 = 180 26 = ii (A) La figura. 3-13. Debye-Scherrer patrones de polvo de (a) cobre (FCC), (b) de tungsteno (BCC), y (c) de zinc (HCP). Cobre filtrada radiacin, dimetro de cmara * 5,73 cm. 96 DIFFRACTIO N i: Las direcciones de haces difractados [CAP. 3

espaciado. En el sistema cbico, por ejemplo, d es un mximo cuando (H 2 + k2 + I 2 ) Es un mnimo, y el mnimo v # Lue de este trmino es 1, correspondiente a (hkl) igual a (100). La reflexin 100 es en consecuencia la de ms bajo valor de 20. La reflexin siguiente tendr ndices hkl correspondiente para el siguiente valor ms alto de (h 2 + k2 + / 2 ), A saber, 2, en el que caso (hkl) es igual a (110), y as sucesivamente. El Debye-Scherrer y otras variaciones del mtodo de polvo son muy ampliamente utilizados, especialmente en metalurgia. El mtodo de polvo es, por supuesto, el nico mtodo que puede ser empleado cuando un espcimen de cristal nico es no disponible, y este es el caso que no ms a menudo en metalrgica trabajar. El mtodo es especialmente adecuado para la determinacin de parmetros de red con alta precisin y para la identificacin de las fases, se producen whetrier solos o en mezclas, tales como aleaciones polifsicas, productos de corrosin, refractarios, y las rocas. Estos y otros usos de el mtodo de polvo ser totalmente se describe en los captulos siguientes. Finalmente, el espectrmetro de rayos X se puede usar como una herramienta en el anlisis de difraccin. Este instrumento se conoce como un difractmetro cuando se utiliza con rayos X de longitud de onda conocida para determinar el espaciamiento desconocido de cristal aviones, y como un espectrmetro, en el caso inverso, cuando los planos de cristal de espaciamiento conocido se utilizan para determinar las longitudes de onda desconocidos. El difractmetro

se utiliza siempre con radiacin monocromtica y mediciones se pueden hacer en cualquiera de cristales individuales o muestras policristalinas, en la este ltimo caso, su funcin es muy similar a una cmara de Debye-Scherrer en que el intercepta contador y mide slo un arco corto de cualquier cono uno de difractado rayos. 3-7 Difraccin en condiciones no ideales. Antes de ir ms lejos, es importante parar y considerar con cuidado la derivacin de la La ley de Bragg dado en la seccin. 2.3 con el fin de entender con precisin en qu condiciones es estrictamente vlida. En nuestra derivacin asumimos cierto ideal condiciones, a saber, un cristal perfecto y un haz incidente de compuesto radiacin monocromtica perfectamente paralelos y en sentido estricto. Estas condiciones en realidad nunca existe, por lo que debemos determinar el efecto sobre la difraccin de los diversos tipo de salida de la ideal. En particular, la forma en que se produce una interferencia destructiva en todas las direcciones excepto las de los haces difractados la pena considerar en cierto detalle, tanto porque es fundamental para la teora de la difraccin y porque nos llevar a un mtodo para estimar el tamao de muy pequeo cristales. Vamos a encontrar que slo el cristal infinito es realmente perfecto y que el tamao pequeo solo, de un cristal perfecto de lo contrario, se puede considerar una cristal imperfeccin. La condicin para el refuerzo utilizado en la seccin. 3-2 es que las ondas involucrado deben diferir en longitud del camino, es decir, en fase, por exactamente una integral 3-7J DIFRACCIN EN CONDICIONES no ideal 97 nmero de longitudes de onda. Pero supongamos que el ngulo en la figura 9. 3-2 es tal que la diferencia de camino de los rayos dispersos por los planos primero y segundo es slo un cuarto de onda. Estos rayos no anulan entre s, sino

como vimos en la figura. 3-1, simplemente se unen para formar un haz de menor amplitud que el formado por dos rayos que son completamente en fase. Entonces, cmo se llevar a cabo una interferencia destructiva? La respuesta est en las contribuciones de aviones ms profundo en el cristal. Bajo las condiciones supuestas, los rayos dispersos por los planos segundo y tercero tambin sera cuarto longitud de onda fuera de fase. Pero esto significa que los rayos dispersados por la planos primero y tercero son exactamente la mitad de una longitud de onda fuera de fase y hara cancelar completamente uno del otro. De manera similar, los rayos procedentes de la segunda y aviones, aviones tercera cuarta y quinta, etc, a travs del cristal, son completamente fuera de fase, el resultado es una interferencia destructiva y no difractada viga. Interferencia destructiva tanto, es justo tanto una consecuencia de la periodicidad de la disposicin de tomo como una interferencia constructiva. Este es un ejemplo extremo. Si la diferencia de caminos entre los rayos dispersos por los dos primeros planos difiere slo ligeramente de un nmero entero de longitudes de onda, entonces el plano de dispersin de un rayo exactamente fuera de fase con el rayo desde el primer plano se encuentran profundamente dentro del cristal. Si el cristal es tan pequeo que este plano no existe, entonces la cancelacin completa de todos los rayos dispersos no resultar. De ello se deduce que hay una conexin entre la cantidad de "fuera de phaseness" que se puede tolerar y el tamao del cristal. Supongamos, por ejemplo, que el cristal tiene un espesor t medido en un direccin perpendicular a un conjunto particular de planos reflectantes (Fig. 3-14). Sea (m + 1) los aviones en este conjunto. Vamos a considerar el ngulo de Bragg 6 como una variable y llamar al OB el ngulo que exactamente satisface la ley de Bragg para los valores particulares de X y d involucrado, o

X = 2d pecado 6B. En la fig. 3-14, rayos A, D,. . . , M hacer exactamente este OB ngulo con el que refleja aviones. Ray D ', difundida por el primer plano por debajo de la superficie, es por lo tanto, una longitud de onda fuera de fase con A ', y rayos M', difundida por la m-simo plano debajo de la superficie, es m longitudes de onda fuera de fase con un '. Por lo tanto, en un ngulo de difraccin de 20 #, rayos A ', D',. . . , M 'son completamente en fase y se unen para formar un difractada La figura. 3-14. difraccin. Efecto del tamao de cristal en 98 DIFFRACTIO N i: Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 haz de amplitud mxima, es decir, un haz de intensidad mxima, desde el intensidad es proporcional al cuadrado de la amplitud. Cuando consideramos los rayos incidentes que forman ngulos de Bragg slo ligeramente diferente de 0 #, se encuentra que la interferencia destructiva no es completa. Ray B, por ejemplo, hace un ngulo 0i un poco ms grandes, de modo que L rayo ' desde el plano MTH debajo de la superficie es (m + 1) longitudes de onda fuera de ph6.se con B ', el rayo desde el plano de la superficie. Esto significa que a mitad de camino en la cristal hay un plano de dispersin de un rayo que es la mitad (en realidad, una nmero entero ms una mitad) de longitud de onda fuera de fase con el rayo B 'de la superficie

avin. Estos rayos se anulan mutuamente, y tambin lo hacen los otros rayos de similares pares de planos de todo el cristal, el efecto neto es que los rayos dispersada por la mitad superior de la anule cristal aquellos dispersada por la parte inferior media. La intensidad del haz difractado a un ngulo 20i es por tanto cero. Tambin es cero en un ngulo 202, donde 2 es tal que rayos N 'de la m-sima plano debajo de la superficie es (m 1) longitudes de onda fuera de fase con rayos C ' desde el plano de la superficie. De ello se deduce que la intensidad difractada en ngulos 2Fe cerca, pero no mayor de 261 o menos de 202, no es cero, pero tiene un valor intermedio entre cero y la mxima intensidad del haz difractada en un ngulo de 20 aos-La curva de intensidad difractada frente a 28 se por tanto, tienen la forma de la figura. 3-15 (a) en contraste con la figura. 3-15 (b), que ilustra el caso hipottico de difraccin se produce slo en el exacto Bragg ngulo. La anchura de la curva de difraccin de la figura. 3 a 1 mayo (a) aumenta a medida que el espesor de las disminuciones de cristal. La anchura B generalmente se mide en radianes a una intensidad igual a la mitad de la intensidad mxima. Como medida aproximada 202 20i 20 20 * 20 (A) (b) La figura. 3-15. Efecto del tamao de partcula fino en las curvas de difraccin (esquemtica). 3-7] DIFRACCIN EN CONDICIONES no ideal 99 de J5, podemos tomar la mitad de la diferencia entre los dos puntos de vista extremos en que la intensidad es cero, o B = f (20i - 202)

= 0i - 2. Las ecuaciones de diferencia de caminos de estos dos ngulos son Sen 2t 2 = (m - 1) X. Por sustraccin encontramos (Sen 0i pecado 2) = X, (/> i \ n / /) /) \ CM ~ "~ T f2 \ i ^ 1 ^ 2 \ Un pecado que ) = X. 2/\2/ Pero 0i y 2 son ambos casi igual a 0 #, por lo que 0i + 02 = 200 (aprox.) y f pecado ^J =F j (Aprox.). Por lo tanto 2t) [- cos B = X, t = (3-12) JS cos SB Un tratamiento ms exacta del problema da ,. _ * _. (3-13) B cos BR que se conoce como la frmula de Scherrer. Se utiliza para estimar la partcula

tamao de cristales muy pequeos de la anchura medida de su difraccin curvas. Cul es el orden de magnitud de este efecto? Supongamos que X = 1,5 A, d = LOA, y 49 =. Entonces, para un cristal de 1 mm de dimetro, la amplitud J5, debido al efecto de cristal pequeo solo, sera de aproximadamente 2 X 10 ~ 7 radin (0,04 segundos), o demasiado pequeo como para ser observables. Tal cristal contendra Unas 107 planos paralelos de celosa de la separacin anteriormente mencionada. Sin embargo, si el cristal eran slo de espesor 500A, contendra slo 500 aviones, y la curva de difraccin sera relativamente amplio, a saber, aproximadamente 4 X 10 ~ ~ 3 radin (0,2). No paralelas rayos incidentes, tales como B y C en la figura. 3-14, realmente existen en cualquier experimento de difraccin real, ya que la "viga perfectamente paralelo" 100 DIFFRACTIO N i: Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 asumido en la figura. 3-2 nunca se ha producido en el laboratorio. Como se se muestra en la Sec. 5-4, cualquier rayo real de rayos X contiene divergentes y rayos convergentes, as como los rayos paralelos, de modo que el fenmeno de difraccin en ngulos no exactamente satisfacer la ley de Bragg realmente tiene lugar. Tampoco se viga real nunca estrictamente monocromtica. Lo de siempre "Monocromtica" haz es simplemente uno que contiene el componente Ka fuerte superpuesto sobre el espectro continuo. Pero la lnea Ka en s tiene una anchura de aproximadamente 0,001 A y este estrecho intervalo de longitudes de onda en la nominalmente haz monocromtico es otra causa de la ampliacin de la lnea, es decir, de medible en ngulos de difraccin de cerrar, pero no es igual, a 20 #, ya que para cada valor de A no es un valor correspondiente de 8. (Traducido en trminos de

anchura de la lnea de difraccin, una gama de longitudes de onda que se extiende sobre 0,001 A conduce a un aumento de la anchura de la lnea, para X = 1,5 y 8 = 45, de aproximadamente 0,08 en todo el ancho sera de esperar si el haz incidente eran estrictamente monocromtica). Lnea de ensanchamiento debido a esta natural "ancho espectral" es proporcional al bronceado 8 y se hace muy notable como 8 acerca a los 90. Por ltimo, existe un tipo de cristal imperfeccin conocida como estructura de mosaico que es poseda por todos reales cristales en un grado mayor o menor y que tiene un efecto decisivo sobre fenmenos de difraccin. Es una especie de infraestructura en el cual un "single" cristal se rompe y se ilustra en la figura. 3-16 en una enormemente exagerada la moda. Un cristal con estructura de mosaico no tiene su tomos dispuestos en un perfectamente regular celosa que se extiende desde un lado de la cristal a la otra, en su lugar, la red se divide en un nmero de pequeos bloques, cada una ligeramente desorientado uno de otro. El tamao de estos bloques es del orden de 1000 A, mientras que el ngulo mximo de desorientacin entre ellos puede variar desde un valor muy pequeo para tanto como un grado, dependiendo del cristal. Si este ngulo es , Entonces difraccin de ^ un paralelo haz monocromtico de un "single" de cristal se produce no slo en el ngulo de incidencia 0 # pero en todos los ngulos entre 8s y O + c. Otro

efecto de la estructura de mosaico es aumentar la intensidad del haz reflejado relativa a que, tericamente calculado para un cristal perfecto ideal. Estos, pues, son algunos ejemplos de difraccin en condiciones no ideales, es decir, de difraccin de que ocurra realmente. No debemos considerar esto como "Desviaciones" de la ley de Bragg, y no vamos todo el tiempo que recordamos que esta ley se deriva de ciertas condiciones ideales y es que la difraccin La figura. 3-K). La estructura de mosaico de un cristal real. 3-7] DIFRACCIN EN CONDICIONES no ideal 101 (A) (1)) La figura. 3-17. (A) Dispersin por tomo, (b) Difraccin por un cristal. cristal lquido o slido amorfo 90 180 DIFFRAC CIN (dispersin) ANGULO 28 (grados) La figura. 3-18. Comparativa dispersin de rayos X por slidos cristalinos, amorfos slidos, lquidos y gases monoatmicos (Esquemtica). slo un tipo especial de dispersin. Este ltimo punto no puede ser demasiado fuertemente destac. Un solo tomo dispersa un haz incidente de rayos X en todo direcciones en el espacio, pero un gran nmero de tomos dispuestos en un perfectamente matriz peridica en tres dimensiones para formar un cristal (dispersa difracta) los rayos X en direcciones relativamente pocos, como se ilustra esquemticamente en la figura. 3-17.

Lo hace precisamente porque la disposicin peridica de tomos hace interferencia destructiva de los rayos dispersos en todas las direcciones excepto aquellos predicho por la Ley de Bragg, y en estas direcciones de interferencia constructiva (Refuerzo) se produce. No es sorprendente, por lo tanto, que mensurable difraccin (dispersin) se produce en los ngulos de Bragg no siempre que una resultados cristal imperfeccin en la ausencia parcial de uno o ms de los condiciones necesarias para que la interferencia destructiva perfecta en estos ngulos. 102 DIFFRACTIO N i: Las direcciones de haces difractados [CAP. 3 Estas imperfecciones son generalmente leve en comparacin con la regularidad sobre-todo de la red, con el resultado de que haces difractados se limitan a muy estrechos rangos angulares centradas en los ngulos predichos por la ley de Bragg para condiciones ideales. Esta relacin entre la interferencia destructiva y la periodicidad estructural puede ilustrarse mediante una comparacin de rayos X de dispersin de slidos, lquidos y gases (fig. 3-18). La curva de intensidad dispersada vs 26 para una slido cristalino es casi cero en todas partes excepto en determinados ngulos cuando alto mximos fuerte ocurrir: son los haces difractados. Tanto amorfo slidos y lquidos han estructuras caracterizado por una casi completa falta de periodicidad y una tendencia a la "orden" slo en el sentido de que el los tomos estn muy apretados entre s y muestran una preferencia estadstica para una distancia interatmica en particular, el resultado es una curva de dispersin de rayos X mostrando nada ms que uno o dos mximos amplio. Por ltimo, hay los gases monoatmicos, que no tienen periodicidad estructural en lo que sea; estos gases, los tomos estn dispuestos perfectamente al azar y su relacin posiciones cambian constantemente con el tiempo. La dispersin correspondiente curva muestra no mximos, ms que una disminucin regular de intensidad con el aumento en ngulo de dispersin.

PROBLEMAS 3-1. Calcular el "x-ray densidad" [la densidad dada por la ecuacin. (3-9)] de cobre a cuatro cifras significativas. 3-2. Un patrn Laue transmisin est hecho de un cristal cbico que tiene una celosa parmetro de 4.00a. El haz de rayos X es horizontal. _ El [olo] eje del cristal puntos a lo largo del haz hacia el tubo de rayos X, los [100] eje apunta verticalmente hacia arriba, y el eje [001] es horizontal y paralelo a la pelcula fotogrfica. La pelcula es 5,00 cm del cristal. (A) Cul es la longitud de onda de la radiacin difractada de los planos (3Para)? (6) Dnde estar el reflejo 310 golpear la pelcula? 3-3. Un patrn Laue back-reflexin est hecho de un cristal cbico en la orientacin del problema. 3-2. Por medio de una proyeccin estereogrfica similar a la figura. 3-8, muestran que los haces difractados por los planos (120), (T23), y (121), todos los cuales pertenecen a la zona [210], se encuentran en la superficie de un cono cuyo eje es el eje de zona. Qu es <f> el ngulo entre el eje de zona y el haz transmitido? 3-4. Determinar los valores de 20 y (hkl) para las tres primeras lneas (los de ms bajo 26 valores) en los patrones de polvo de las sustancias con las siguientes estructuras, la radiacin incidente es Cu Ka: (A) simple cbico (a = 3.00A) (6) Sencillo tetragonal (a = 2.00A, c = 3.00A) (C) Simple tetragonal (a == 3.00A, c = 2.00A) (D) rombodrico simple (a = 3.00A, a = 80) PROBLEMAS 103 3-6. Calcular la amplitud B (en grados de 26), debido al efecto pequeo cristal solo, de las lneas modelo en polvo de partculas de dimetro 1000, 750, 500 y 250A. Supongamos que 6 = 45 y X = 1,5. Para partculas 250A de dimetro, calcular la B = anchura de 10, 45, y 80.

3-6. Compruebe el valor indicado en la seccin. 3-7 para el aumento de la amplitud de la difraccin la lnea debido a la anchura natural de la lnea de emisin Ka. (Pista: Diferenciar la ley de Bragg y encontrar una expresin para la velocidad de cambio de 26 con X.)

CAPTULO 4 DIFRACCIN II: Las intensidades de los haces difractados

4.1 Introduccin. Como se dijo anteriormente, ^. l posiciones de los tomos en el celda unidad afectar las intensidades pero no las direcciones de los haces difractados. Que esto debe ser as puede verse al considerar las dos estructuras que se muestran en la figura. 4-1. Ambos son ortorrmbica con dos tomos del mismo tipo por celda unidad, pero el de la izquierda es la base centrada y uno el de la derecha centrada en el cuerpo. O bien es derivable de la otra por un simple cambio de ope tomo por el vector c ^. / Considerar las reflexiones de los planos (001) que se muestran en perfil en FTG. 4-2. Para la red de base centrado se muestra en (a), supngase que el La ley de Bragg se satisface para los valores particulares de X y 6 empleados. Esta significa que la diferencia de caminos entre los rayos ABC 1 'y 2' es una longitud de onda, de modo que los rayos 1 'y 2' estn en fase y difraccin ocurre en la direccin que se muestra. Del mismo modo, en la red cristalina centrada en el cuerpo se muestra en (b), rayos 1 'y 2' estn en fase, ya que su trayectoria diferencia ABC es una longitud de onda. Sin embargo, en este caso, existe otro plano de la mitad de los tomos entre los planos (001), y la DEF diferencia de caminos entre los rayos 1 ' y 3 'es exactamente la mitad de ABC, o una media longitud de onda. As, los rayos 1 'y 3 'estn completamente fuera de fase y anular entre s. Del mismo modo, rayo 4 ' desde el prximo avin hacia abajo (no se muestra) anula rayos 2 ', y as sucesivamente durante todo el cristal. No hay reflexin 001 de la latticeTJ centrada en el cuerpo

Este ejemplo muestra cmo un reordenamiento simple de tomos dentro de la celda unitaria puede eliminar un reflejo completamente. Ms en general, la intensidad de un haz difractado se cambia, no necesariamente a cero, por cualquier cambiar en posiciones atmicas, y, a la inversa, slo podemos determinar atmica posiciones por las observaciones de la intensidad difractada. Para establecer una exacta relacin entre la posicin del tomo de intensidad y es el principal propsito de esta captulo. El problema es complejo debido a las muchas variables implicadas, y tendremos que ir paso a paso: vamos a considerar cmo los rayos X son dispersos primero por un solo electrn, a continuacin, por un tomo, y, finalmente, por todo el ,$ (A) (b) La figura. 4-1. (A) Base-centrado y (b) centradas en el cuerpo clulas unitarias ortorrmbicos. 104 4-2] DISPERSIN POR UN ELECTRON ri 3 105 (A) (b) La figura. 4-2. Difraccin de los planos (001) de (a) la base centrada y (b) bodycentered celosas orthorhombir. tomos en la celda unidad. Vamos a aplicar estos resultados al mtodo de polvo de difraccin de rayos x solamente, y, para obtener una expresin de la intensidad de un lnea de polvo patrn, tendremos que considerar una serie de otros factores que afectan a la forma en la que un polvo cristalino difracta los rayos x. 4-2 Dispersin por un electrn. Hemos visto en el Cap. 1 que aq | x-ray haz es una onda electromagntica caracterizada por un campo elctrico cuya resistencia vara de forma sinusoidal con el tiempo en cualquier punto en el haz., Sipce

anVlectric campo ejerce una fuerza sobre una partcula cargada como un electrn ^ lhe oscilacin del campo elctrico de un haz de rayos X se fija ningn electrn se encuentra con en un movimiento oscilatorio alrededor de su posicin media.} Wow un electrn acelerar o desacelerar emite una electromagntico ola. Ya hemos visto un ejemplo de este phenoinejionjn el x-ray tubo, donde los rayos X son emitidos a causa de la rpida desaceleracin de la electrones que golpean la blanco. De manera similar, un electrn que se ha establecido en oscilacin por un haz de rayos X es continuamente acelerar y decelerar durante su movimiento y por lo tanto emite una electromagntico. wjave. En este sentido, un electrn se dice que la dispersin de rayos X, el haz dispersado estar simplemente Itie haz radiado por el electrn bajo la accin del incidente viga. El haz dispersado tiene la misma longitud de onda y frecuencia el haz incidente y se dice que es coherente con ella, ya que existe una definida relacin T> etwee7fT1ie "fase de Lite scattereHbeam anJTEat del incidenFfieam que haya elaborado. \ "" "" Aunque los rayos X se dispersa en todas direcciones por un electrn, la intensidad del haz dispersado depende del ngulo de dispersin, de una manera que fue elaborado por primera vez por J. J. Thomson. Se encontr que la intensidad / Del haz dispersado por un electrn de carga ey masa m, a una ^ R postura del electrn, est dada por pecado 2 A, (4-1) 106 DIFFRACTIO N II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 donde / o = intensidad del haz incidente, c = velocidad de la luz, y a = ngulo entre la direccin de dispersin y la direccin de la aceleracin

la del electrn. Supongamos que el haz incidente est viajando en la direccin Ox (Fig. 4-3) y se encuentra con un electrn en 0. Queremos saber la intensidad dispersada en P en el plano xz, donde OP est inclinado en una dispersin ngulo de 26 al haz incidente. Un haz incidente no polarizada, tales como que sale de un tubo de rayos X, tiene su vector elctrico E en un azar direccin en el plano yz. Esta viga puede ser resuelto en dos planepolarized componentes, teniendo elctrico Ey vectores E2 y donde En promedio, Ey ser igual a E, puesto que la direccin de E es perfectamente aleatorio. Por lo tanto E, 2 = Ez 2 = E2 . La intensidad de estos dos componentes del haz incidente es proporcional al cuadrado de sus vectores elctricos, puesto que E mide la amplitud de la onda y la intensidad de una onda es proporcional al cuadrado de su amplitud. Por lo tanto IQV IQ = Z = 2 ^ 0 El componente y del haz incidente acelera el electrn en la direccin Oy. Por lo tanto, da lugar a un haz dispersado cuya intensidad P se encuentra en la ecuacin. (4-1) a ser r 2 ra 2 c 4

ya que a = ^ Yop = w / 2. De manera similar, la intensidad de la componente z dispersa est dada por ya que a = r / 2 20. La intensidad total dispersada en P se obtiene la suma de las intensidades de estos dos componentes dispersos: IP = IPV + IPZ e 4 =-R-r-r (7o + cos2 hz 20) r'm'c ' e 4 / / O / o 2o \ = (~ - ^ ^ cos2 2) r 2m2 c 4\22/ ^ V + cos2 4-2] DISPERSIN POR UN ELECTRON 107 \ antes del impacto La figura. 4-3. Dispersin coherente de las radiografas por un solo electrn. despus de impartir La figura. 4-4. Colisin elstica de fotones y electrones (efecto Compton). Esta es la ecuacin de Thomson para la dispersin de un haz de rayos X por una

solo electrn. Si los valores de las constantes e, r, m, y c se insertan en esta ecuacin, se encontr que la intensidad del haz disperso es slo una fraccin de minuto de la intensidad del haz incidente. La ecuacin Tambin muestra que la intensidad dispersada disminuye como el cuadrado inverso de la distancia desde el tomo de dispersin, como una \ vould esperar, y que el haz dispersado es ms fuerte en direcciones hacia adelante o hacia atrs que en un direccin en ngulo recto con el haz incidente. La ecuacin de Thomson da la intensidad absoluta (en ergios / sq cm / sec) del haz dispersado en trminos de la intensidad absoluta de la incidente viga. Estas intensidades absolutas son difciles de medir y difcil para calcular, por lo que es una suerte que los valores relativos son suficientes para nuestra efectos en prcticamente todos los problemas de difraccin. En la mayora de los casos, todos los factores en la ecuacin. (4-2), excepto el ltimo son constantes durante el experimento y puede omitirse. * Este ltimo factor, ^ (1 + cos2 26), se llama la polamation factor, este es un trmino bastante desafortunado porque, como acabamos de ver, esta factor entra la ecuacin simplemente porque el haz incidente no est polarizada. El factor de polarizacin es comn a todos los clculos de intensidad, y nos utilizar ms tarde en nuestra ecuacin para la intensidad de un haz difractado por una polvo cristalino. Hay otra manera muy diferente y en el que un electrn puede dispersar rayos X, y que se manifiesta en el efecto Compton. Este efecto, descubierto por AH Compton en 1923, se produce cuando los rayos X encuentro libremente electrones ligados o libres y pueden entenderse mejor considerando la haz incidente, no como un movimiento de onda, pero como una corriente de rayos X o quanta fotones, cada uno de energa HVI. Cuando un fotn choca un poco ligados

electrn, la colisin es uno elstico como el de dos bolas de billar (Fig. \ El electrn se cae a un lado y el fotn es desviado a travs de Jigle 26. Dado que parte de la energa del fotn incidente se utiliza en / Iding energa cintica para el electrn, la energa del fotn hv2 108 DIFFRACTIO N II! Las intensidades de haces difractados [CAP. 4 despus del impacto es menor que su energa \ hv antes del impacto. La longitud de onda X2 de la radiacin dispersada es por lo tanto ligeramente mayor que la longitud de onda Xi del haz incidente, la magnitud del cambio que se est dado por la ecuacin El aumento de la longitud de onda depende solamente del ngulo de dispersin, y se vara desde cero en la direccin de avance (26 = 0) a 0,05 A en el extremo direccin hacia atrs (20 = 180). Radiacin tan dispersos se llama radiacin Compton modificado, y, adems que tiene su longitud de onda mayor, que tiene la caracterstica importante que su fase no tiene ninguna relacin fija con la fase del haz incidente. Para esta razn, tambin se conoce como radiacin incoherente. No puede participar en difraccin debido a que su fase es slo azar relacionada con la de la incidente haz y por lo tanto no puede producir ningn efecto de interferencia. Compton dispersin modificada no se puede evitar, sin embargo, y tiene la indeseable efecto de oscurecer el fondo de los patrones de difraccin. [Cabe sealar que la teora cuntica puede explicar tanto el coherente y la dispersin incoherente, mientras que la teora de las ondas es slo aplicable a la primera. En trminos de la teora cuntica, la dispersin coherente se produce cuando un fotn incidente rebota en un electrn que es tan fuertemente unidos que no recibe ningn momento del impacto, la dispersin fotn por lo tanto tiene la misma energa, y por lo tanto la longitud de onda, como se tena antes 4-3 Dispersin por un tomo. 1 Cuando un haz de rayos X se encuentra con un tomo,

cada electrn que se dispersa parte de la radiacin coherente de acuerdo con la ecuacin de Thomson. Tambin se podra esperar que el ncleo de tomar parte en la dispersin coherente, ya que tambin lleva una carga y debe ser capaz de oscilar bajo la influencia del haz incidente,} Sin embargo, el ncleo tiene una masa muy grande en relacin a la de TNE electrn y no puede hacerse oscilar en una medida apreciable, de hecho, la Ecuacin de Thomson muestra que la intensidad de la dispersin coherente es inversamente proporcional al cuadrado de la masa de la partcula de dispersin. El efecto neto es que la dispersin coherente por un tomo que es debido slo a la electrones contenidos en dicho tomo. La siguiente pregunta que surge es: es la onda dispersada por un tomo simplemente la suma de las ondas dispersadas por los electrones que lo componen? Ms precisamente, hace un tomo de nmero atmico Z, es decir, un tomo que contiene Z electrones, la dispersin de una onda cuya amplitud es Z veces la amplitud de la onda dispersada por un electrn? La respuesta es s, si la dispersin es en la direccin de avance (20 = 0), porque las ondas scattered1 " por todos los electrones del tomo son entonces en fase y las amplitudes de todos las ondas de dispersin se puede aadir directamente. 4-3] DISPERSIN POR UN IT9 ATOM Esto no es cierto para otras direcciones de dispersin. iLa hecho de que el electrones de un tomo estn situados en diferentes puntos en el espacio introduce diferencias de fase entre las ondas dispersadas por electrones diferentes: ^ Considere la figura. 4-5, en el que, por simplicidad, los electrones se muestran como puntos dispuestos alrededor del ncleo central. Las ondas dispersadas en la direccin de avance por electrones and_J A ^ son exactamente * en fase on_a_3Kave

delante como XX ', porque cada ola ha recorrido la misma distancia antes y despus de la dispersin. Las ondas dispersas que se indican en "la" figura, sin embargo, tienen una diferencia de camino igual a (AD CB) y son por lo tanto algo fuera de fase a lo largo de un frente de onda tal como YY ', la diferencia de camino ser menos de una longitud de onda. Interferencia parcial se produce entre las ondas dispersadas por A y 5, con el resultado de que la amplitud de la red de la onda dispersada en esta direccin es menor que la de la onda dispersada por los mismos electrones en la direccin de avance. IA cantidad /, el factor de dispersin atmico, se utiliza para describir la "eficiencia" de la dispersin de un tomo dado en una direccin dada. Se define como una relacin de amplitudes: / = Amplitud de la onda dispersada por un tomo amplitud de la onda dispersada por un electrn f De lo que se ha dicho ya *, lit es claro que / = Z para cualquier tomo dispersin en la direccin de avance ^ A medida que aumenta, sin embargo, las ondas dispersada por los electrones individuales se vuelven ms y ms fuera de fase y / Disminuye. El factor de dispersin atmico tambin depende de la longitud de onda del haz incidente: en un valor fijo de 0, f ser menor cuanto menor sea el X' FIG, 4-5. Dispersin de rayos X por un tomo. La figura. 4-6. El factor de dispersin atmico de cobre. 110 DIFFRACTIO N II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 longitud de onda, ya que las diferencias de camino ser mayor en relacin con la longitud de onda, dando lugar a una mayor interferencia entre los dispersos

vigas. El clculo real de / implica pecado 6 en lugar de 6, de modo que el efecto neto es que / disminuye cuando la cantidad (sen 0) / X aumenta! Los valores calculados de / para varios tomos y diversos valores de (sen 0) / X se tabulan en el Apndice 8, y un curva que muestra la variacin tpica de /, en este caso para el cobre, se da en la figura. 4-6. Obsrvese de nuevo que el curva comienza en el nmero atmico de cobre, 29, y disminuye a muy valores bajos de dispersin hacia atrs en la direccin (0 cerca de 90) o para longitudes de onda muy cortas. Puesto que la intensidad de una onda es proporcional a el cuadrado de su amplitud, una curva de ajuste intensidad dispersada) m un tomo se puede obtener simplemente elevando al cuadrado las ordenadas de una curva de tal Fig &. 4-6. (La curva resultante se aproxime a la intensidad dispersada observada por tomo de un gas monoatmico, como se muestra en la figura. 3-18.) La dispersin que acabamos de discutir, cuya amplitud se expresa en trminos de el factor de dispersin atmico, es coherente, o sin modificar, la dispersin, la cual es la nica clase capaz de ser difractado. Por otro lado, incoherente, Compton o modificado, la dispersin se est produciendo al mismo tiempo. Puesto que el Esto ltimo es debido a las colisiones de los cuantos con electrones dbilmente ligados, su intensidad respecto a la de la radiacin aumenta sin modificar como la proporcin de electrones aumenta dbilmente unida. La intensidad de Compton

radiacin modificada por tanto aumenta a medida que disminuye el nmero atmico Z. Lo Es por esta razn que es difcil obtener buenas fotografas de difraccin de materiales orgnicos, que contienen elementos ligeros tales como carbono, oxgeno, e hidrgeno, ya que la fuerte dispersin de Compton modificado a partir de estos sustancias oscurece el fondo de la fotografa y hace que sea difcil ver las lneas de difraccin formado por la radiacin no modificado. Es Tambin se ha encontrado que la intensidad de la radiacin modificada aumenta a medida que el cantidad (sen 0) / X aumenta. Las intensidades de dispersin modificado y de dispersin sin modificar por lo tanto varan en sentidos opuestos con Z y con (Sin0) / X. yo Para resumir, | cuando un haz monocromtico de rayos X golpea un tomo, dos procesos de dispersin occur4 electrones fuertemente unidos son jet, en pscTP " mento e irradian rayos X de la longitud de onda saiffi como la de la incidente Dispersin por una celda unitaria haz incidente sustancia absorbente rayos X fluorescentes sin modificar (Coherente) Compton modificado (Incoherente) Compton retroceso electrones fotoelectrones La figura. 4-7. Efectos producidos por el paso de los rayos X a travs de la materia. (Despus

NFM Henry, Lipson H., and Wooster WA, La interpretacin de Difraccin de Rayos X Fotografas, Macmillan, Londres, 1951.) viga. Ms dbilmente ligado electrones parte de dispersin del haz incidente y aumentar ligeramente su longitud de onda en el proceso, la cantidad exacta de aumentar en funcin del ngulo de dispersin. El primero se llama coherente o la dispersin sin modificar y el ltimo incoherente o modificado; ambos tipos ocurren simultneamente y en todas las direcciones. Si el tomo es una parte de un gran grupo de tomos dispuestos en spaceTh forma peridica aTegular como en un cristal, a continuacin, se produce otro fenmeno. La radiacin coherente dispersos de todos los tomos se somete refuerzo en ciertas direcciones y la cancelacin en otras direcciones, lo que produce haces difractados. Djttjw ^ p ^ es, esencialmente, reforzado dispersin coherente. I ^ 1 Nos encontramos ahora en una posicin para resumir, a partir de las secciones anteriores y desde el Cap. 1, los principales efectos asociados con el paso de rayos X a travs cuestin. Esto se hace de forma esquemtica en la figura. 4-7. El incidente de los rayos X son supone que es de alta energa suficiente, es decir, de longitud de onda lo suficientemente corto, para causar la emisin de fotoelectrones y la radiacin fluorescente caracterstica. Los electrones de retroceso Compton se muestra en el diagrama son libremente electrones ligados eliminado del tomo por rayos X quanta, la interaccin dando lugar a la radiacin Compton modificado. Dispersin por una celda unidad. Para llegar a una expresin para la intensidad de un haz difractado, ahora debemos limitarnos a una consideracin de la dispersin coherente, y no de un tomo aislado, sino de todo los tomos que forman el cristal. El mero hecho de que los tomos estn dispuestos de una forma peridica en mftans espacio que la radiacin dispersada se ~ nowjeverely limitado a ciertas direcciones definidas y que ahora se conoce como un conjunto de haces difractados. "Las direcciones de estas vigas son fijados por

112 DIFFRACTIO N II: Las intensidades de Diffra ' 2' - (MO) p. 4 o La figura. 4-8. El efecto de la posicin del tomo de la diferencia de fase entre difractada rayos. la ley de Bragg, Avhich es, en cierto sentido, una ley negativa. Si la ley de Bragg no est satisfecho, no. haz difractado puede ocurrir, sin embargo, la ley de Bragg puede ser satisfecho para un cierto conjunto de planos atmicos y todava no difraccin se pueden producir, como en el ejemplo dado al principio de este captulo, a causa de un disposicin particular de los tomos en la celda unidad [fig. 4-2 (b)]. Vssuming que la ley de Bragg se satisface, queremos hallar la intensidad oMhhe difractada por "frftftm. fgrgjgjjis fl fijnrtinn nf Desde fl.tnrjijvisit.inn el cristal es simplemente una repeticin de la celda unidad fundamental, es lo suficientemente a considerar la forma en que la disposicin de los tomos dentro de una sola celda unidad afecta a la intensidad difractada. \ Cualitativamente, el efecto es similar a la dispersin de * ar ^ tomo, discutido en la seccin anterior. [No encontramos diferencias de fase ocurren en las ondas dispersadas por plentrnns thejndividual j para cualquier direccin de la dispersin excepto the.extreme hacia adelante. De manera similar, las ondas dispersados por los tomos individuales de una celda unitaria no son necesariamente en fase excepto en la direccin de avance,! y ahora debemos determinar cmo el diferencia de fase depende de la disposicin de los tomos. | Este problema es ms simplemente se acerc al encontrar la diferencia de fase

entre las ondas dispersadas por un tomo en el origen y otro tomo cuyo posicin es variable en la direccin x solamente. \ Para mayor comodidad. * consklex un orjJvjgoriaJunit celular, una seccin del cual se muestra en la figura. 4-8. Taice.aiDm ^ ^ Origm como la difraccin y dejar que se producen a partir de los planos (AOO) que se muestran como pesados dibujos hnftsJiTthe Esto significa que la ley de Bragg se satisface para esta reflexin y que 52'iV $ se diferencia de camino entre rayos 2 'y el rayo I ^ t. _ ^ ^ '... . . .. f. () _ *. I IM.I ........ | / 52 'i' = MCN = 2RF /, 00 = sen X. 4-4] DISPERSIN POR UNA UNIDAD DE LA CELDA 113 De la definicin de los ndices de Miller, un = AC = n Cmo se ve afectada por esta reflexin rayos X dispersados en la misma direccin por tomo de B, situado a una distancia x de la Nota Al que slo esta direccin necesita ser considerada, ya que slo en esta direccin es la ley de Bragg satisfecho para la reflexin AGO. Claramente, la diferencia de camino entre% ra. _ 3 'y. ray 1 ', 63' i>, ser menor que X; por simple proporcin que se encuentra para ser (X) = (X). AC ... _a / ft Diferencias de fase puede ser expresado en medida angular, as como en longitud de onda: dos rayos, que difieren en longitud de la trayectoria por una longitud de onda completa, se dice que difieren en fase en 360, o 2? r radianes. Si la diferencia de camino es 6, entonces la diferencia de fase 'jjn_ =(27T). . El uso de la medida angular es conveniente, ya que hace que la expresin

de diferencias de fase independientes de longitud de onda, mientras que el uso de un camino diferencia para describir una diferencia de fase no tiene sentido a menos que la longitud de onda es especificado. La diferencia de fase, entonces, entre la onda dispersada por un tomo de B y que dispersada por tomo A en el origen est dado por 2irhx 5vi '^ Si la posicin del tomo B est especificado por su coordenada fraccional u = , a continuacin, la diferencia de fase se convierte Este razonamiento puede extenderse a tres dimensiones, como en la figura. 4-9, en xyz tomo que B tiene coordenadas xyz real o coordenadas fraccionarias --una c o igual a U V W, respectivamente. A continuacin, llegar a la siguiente importante relacin de la diferencia de fase entre la onda dispersada por un tomo de B y que dispersada por tomo A en el origen, para la reflexin hkl: Fal ^ BJM). (4-4) Esta relacin es general y aplicable a una celda unitaria de cualquier forma. 114 DIFFRACTIO N II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 La figura. 4-9. El anlogo tridimensional de la figura. 4-8. Estas dos ondas pueden diferir, no slo en la fase, jbut ^ tambin en amplitud, si B y el tomo de ongih atonTstr-TRRE "^ l ^ ^ d ^ ferentes tipos. En ese caso, v.ie amplitudes de estas ondas se dan, con respecto a la amplitud de la onda dispersada por un solo electrn, por los valores apropiados de /, los factor de dispersin atmico. Ahora vemos que el problema de la dispersin de una celda unidad se resuelve en uno de la adicin de ondas de diferente fase y amplitud a fin de encontrar

la onda resultante. Ondas dispersadas por todos los tomos de la celda unidad, incluyendo el que est en el origen, se debe aadir. La manera ms conveniente de llevar a cabo esta suma es mediante la expresin de cada ola y complejo como funcin exponencial. +E La figura. 4-10. La adicin de ondas sinusoidales de fase y amplitud diferente. 4-4] DISPERSIN POR UNA UNIDAD DE CELDA 117 ~ -2 La figura. 4-11. Vector adicin de ondas. La figura. 4-12. La plano complejo. vector de onda en la Las dos ondas se muestra como lneas continuas en la figura. 4-10 representan las variaciones en la intensidad del campo elctrico E con el tiempo t de dos rayos en cualquier frente de onda dada en un difractada haz de rayos X. Sus ecuaciones puede escribirse EI = A \ sin (2irvt ^ i), (4-5) E2 = A2 sen (2wt - $ 2). (4 ~ ^) Estas ondas son de la misma frecuencia v y por lo tanto, de la misma longitud de onda A, pero difieren en amplitud y en fase A </>. La curva de puntos E3 muestra su suma, que es tambin una onda sinusoidal, pero de diferente amplitud y la fase. Ondas difieren en amplitud y fase tambin se pueden aadir mediante la representacin ellos como vectores. En la fig. 4-11, cada onda componente est representado por un vector cuya longitud es igual a la amplitud de la onda y que se inclina a la: r-eje en un ngulo igual al ngulo de fase. La amplitud y la fase de la onda resultante se encuentra entonces simplemente aadiendo la los vectores por la ley del paralelogramo.

Esta construccin geomtrica puede evitarse mediante el uso de la siguiente tratamiento analtico, en el que los nmeros complejos se utilizan para representar la vectores. Un nmero complejo es la suma de un nmero real y anjmaginary, como (a + 6z), donde a y 6 son reales andjt = V-il es imaginario. Estos nmeros pueden ser representados en el "plano complejo", en el que los nmeros reales se representan como nmeros de abscisas y ordenadas como imaginario. Cualquier punto en este plano o el vector dibujado desde el origen hasta este punto, entonces representa un nmero determinado complejo (a + bi). Para encontrar una expresin analtica para un vector que representa una onda, se dibujar el vector de onda en el plano complejo como en la figura. 4-12. Aqu de nuevo la amplitud y la fase de la onda viene dada por A, la longitud del vector, y 0, el ngulo entre el vector y el eje de los nmeros reales. La expresin analtica de la onda es ahora el nmero complejo (A <t> cos + iA pecado </>), ya que estos dos trminos son los componentes horizontales y verticales DIFRACCIN II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 MD en el vector. Tenga en cuenta que la multiplicacin de un vector por i jtates hacia la izquierda por 90, por lo que la multiplicacin por i convierte la vector horizontal 2 en la vertical 2i vector. Multiplicacin por dos veces i, que es, por i 2 = 1, hace girar un vector a travs de 180 o invierte su sentido; por lo tanto la multiplicacin por dos veces i convierte el vector horizontal 2 en la 2 vector horizontal apuntando en la direccin opuesta. Si escribimos los desarrollos en serie de power-e ix , Cos xy sen x, tenemos encontrar que e

ix = cos x + i sen x (4-7) o Ae * = A cos <t> + Ai pecado 4. (4-8) As, el vector de onda puede ser expresada analticamente por cada lado de Eq. (4-8). La expresin de la izquierda se denomina exponencial compleja funcin. Puesto que la intensidad de una onda es proporcional al cuadrado de su amplitud, ahora tenemos una expresin para A2 , El cuadrado del valor absoluto del vector de onda. Cuando una onda se expresa en forma compleja, esta cantidad se obtiene multiplicando la expresin compleja de la onda por su complejo conjugado, que se obtiene simplemente reemplazando i por i. As, el complejo conjugado de * AEL es Ae ~ l *. Tenemos \ Ae l *\ 2 = Ael + Ae-* = A2 , (4-9) que es la cantidad deseada. O bien, con la otra forma dada por la ecuacin. (4-8), tenemos A (cos + i sen 4) A (cos <pecado i <) = A2 (Cos 2 <t> + sin 2 </>)

A2 == . Volvamos ahora al problema de la adicin de las ondas de dispersin de cada de los tomos en la celda unidad. La amplitud de cada onda es dado por la valor apropiado de / para el tomo de dispersin considerados y el valor de la de (sen 0) / X implicado en la reflexin. La fase de cada onda viene dada por Eq. (4-4) en trminos de la reflexin hkl considerado y las coordenadas UVW del tomo. Utilizando nuestras relaciones anteriores, podemos expresar cualquier dispersa en la forma de onda exponencial compleja (4-10) La onda resultante dispersada por tomos de alljbhe de la celda unidad se denomina factor de estructura y se designa por el smbolo F. Es "se" obtiene simplemente la suma de todas las ondas dispersadas por los tomos individuales> Si un celda unidad contiene tomos 1, 2, 3,. . . , N, con coordenadas fraccionarias Ui vi!, U2 v2 tt? 2, MS *> 3 MS, ... y factores de dispersin atmicos / i, / 2, / a,. . . , entonces el factor de estructura para la reflexin hkl est dada por ^ Y e2 * i (hu2 + + kvi lwti i / g2iri (AU3-H; i> s-Fiwi) i ... 4-4] DISPERSIN POR UNA UNIDAD DE CELDA 117 Esta ecuacin puede escribirse de forma ms compacta como N 1 hkl Z ^ Jn 1

\~* f 14-11) la suma se extiende sobre todos los tomos de la celda unidad. F es, en general, un nmero complejo, y que expresa tanto la amplitud y la fase de la onda resultante. {Su valor absoluto | F | da la amplitud de la onda resultante en termsofr tne amplitud de la wa / ve ^ scaTEered ay un solo electrn ~ Te gusta el factoFJT dispersin atmico |. ^ '| es ~ definect como i relacin de amplitudes: \ ** " amplitud de la onda dispersada por todos los tomos de una celda unidad | / P | = amplitud de la onda dispersada por un electrn 0.4 La intensidad de la beanL difractada por todos los tomos de la celda unidad en un direccin predicha por la ley de Bragg es proporcional simplemente para | f | 2 , La cuadrado de la amplitud oQiiejresul ^ ^ ^ | F | 2 se obtiene ^ dad multiplicando la expresin dada por F en la ecuacin. (4-1 1) por su complejo conjugado * La ecuacin (4-11) es por lo tanto una relacin muy importante en x-ray cristalografa, ya que permite el clculo de la intensidad de cualquier hkl reflexin a partir del conocimiento de las posiciones atmicas. Hemos encontrado la onda dispersada resultante de la suma de las olas, que difieren en fase, dispersada por los tomos individuales en la celda unidad. Nota que la diferencia de fase entre los rayos dispersos por cualquiera de los dos tomos, tales como A y B en la figura. 4-8, es constante para cada celda unitaria. No hay duda de

aqu de estos rayos cada vez ms fuera de fase medida que profundizamos en el cristal, ya que haba cuando consideramos la difraccin en ngulos no exactamente igual al ngulo de Bragg-OB en la direccin predicha por la Bragg ley, los rayos esparcidos por todos los tomos en el cristal A son exactamente en fase y por lo tanto son los rayos dispersos por todo el B tomos, pero entre estos dos conjuntos de rayos existe una diferencia de fase definida que depende las posiciones relativas de los tomos A y B en la celda unidad y que se da por la ec. (4-4). Aunque es ms difcil de manejar, la ecuacin trigonomtrica siguiente puede ser en lugar de la ecuacin. (4-11): N F = Z / n [cos 2ir (7Wn + + KVN lwn) + I SU1 2v (hun + + KVN LWN)]. 1 Uno de dichos trminos deben ser escritas para cada tomo en la celda unitaria. En general, los la suma ser un nmero complejo de la forma F = a + ib, 118 DIFFRACTIO N III Las intensidades de haces difractados [CAP. 4 donde N <* A = / n cos 2ir (hun + + kvn JWN), JV b = / n pecado 27r (/ mn + ^ n + lwn), 1 \F\ 2 - (a + ib) (a - ib) = a2 + y 2 . Sustitucin de una Fe y da la forma final de la ecuacin: \ F \ = * [/ i cos 2r (hui + ventilador + Ztin) + / 2 cos 2r (ATII + fa * + ^ 2) +]

2 + [/ I sen 2n (hui + + kvi Iwi) + /, sen 2n (fctt2 + + KV2 EW2) + -] 2 La ecuacin (4-11) es mucho ms fcil de manipular, en comparacin con este trigonomtrica forma, particularmente si la estructura es en absoluto complicado, ya que la exponencial forma es ms compacto. 4-5 Algunas relaciones tiles. En el clculo de los factores de estructura por complejo funciones exponenciales, muchas relaciones particulares se producen con bastante frecuencia para merecer la pena indicando aqu. Pueden ser verificada por medio de la ecuacin. (4-7). (A) e vi = e * Ti e == 5iri = -1, (Fc) c * '** <= 6 " +1, (C) En general, e NTL = (l) n , Donde n es cualquier nmero entero, (D) e nvi = e ~ ~ NTL , Donde n es cualquier nmero entero, (E) e lx + e ~ lx = 2 cos z.

4R-6 factores estructura-clculos. Facilidad en el uso de la ec. (4-11) puede obtenerse slo mediante la elaboracin de algunos ejemplos reales, y consideramos que se algunos problemas tales aqu y de nuevo en el Cap. 10. (A) El caso ms simple es la de una celda unitaria que contiene un solo tomo en el origen, es decir, cuyas coordenadas de fraccional 000. Su factor de estructura es F=/e 2TL (0) = / y F2 = / 2 . F2 es por tanto independiente de un Fc, y I y es el mismo para todas las reflexiones. (6) Consideremos ahora la celda base centrada discutido al principio de este captulo y se muestra en la figura. 4-1 (a). Tiene dos tomos de la misma naturaleza por unidad de celda ubicada en 0, y J J 0. / [I 4-6] FACTOR DE ESTRUCTURA-CLCULOS 1U Esta expresin puede ser evaluada sin la multiplicacin por el complejo conjugado, ya que (h + fc) es siempre integral, y la expresin de F ig lo real y no compleja. Si h y fc son ambos pares o ambos impares,:. Te, "Sin mezcla", entonces su suma es siempre uniforme y e * l (h + k} tiene el valor 1. Por lo tanto F = 2 / hy sin mezclar para k; F2 = 4 / 2 . Por otro lado, si h y k son una par e impar uno, es decir, "mixtos",

entonces su suma es impar y correo 7RL ^ + / r) tiene el valor 1. Por lo tanto F = para h y k mixto; F2 = 0. Tenga en cuenta que, en cualquier caso, el valor del ndice I no tiene ningn efecto sobre la estructura factor. Por ejemplo, las reflexiones 111, 112, 113, y 021, 022, 023 todas tienen el mismo valor de F, es decir, 2 /. Del mismo modo, el Aceite de reflexiones, 012, 013, y 101, 102, 103 tienen un factor de estructura cero. (C) La estructura factorial de la r-hody ppntfifpH, el] ahnwn en la fig. 4-1 (b ^ tambin puede ser calculada. Esta celda tiene dos tomos del mismo tipo situados a y f | |. F = Fe 27n (0) + S e2iri (h / 2 + k / 2 + l / 2) F = 2f cuando (H + K + I) es par; F2 = 4 / 2 . Cuando F = (h + k + I) es impar; Habamos concertado con anterioridad a partir de consideraciones geomtricas que la base de centrado celular sera producir una reflexin 001 pero que el centrado en el cuerpo clulas no lo hara. Este resultado est de acuerdo con las ecuaciones de factor de estructurapara estas dos clulas. Un examen detallado de la geometra de todo reflexiones posibles, sin embargo, sera un proceso muy laborioso en comparacin para el clculo directo del factor de estructura, un clculo que se obtiene un conjunto de reglas que rigen el valor de F2

para todos los valores posibles de ndices otene. (D) una celda cbica centrada en las caras, tal como el mostrado en la figura. 2-14, puede ahora ser considerados. Supongamos que contienen cuatro tomos de la misma clase, Situado a 0, | f 0, \ | y \ \. t20 DIFRACCIN II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 Si un Fc, y que estn sin mezclar, a continuacin, las tres sumas (h + ft), (h + Z), y (fc + son enteros pares, y cada trmino de la ecuacin anterior tiene el valor 1. F = 4f para los ndices sin mezclar; F2 = 16 / 2 . ^ *> V; ^< Si m, / c, y Z se mezclan, entonces la suma de los tres exponenciales es 1, si dos de los ndices son impares y un par o dos pares e impares uno. Supongamos por ejemplo, que h e i son incluso y k es impar, por ejemplo, 012. Entonces F = / (1-f I 1 1) = 0, y no se produce reflexin. F = para los ndices mixtos; F2 = Por lo tanto, se producirn reflexiones para aviones tales como (111), (200), y (220) pero no para los planos (100), (210), (112), etc El lector habr visto en los ejemplos anteriores que algunos de los proporcionado informacin no se usa en los clculos. En (a), por ejemplo, la clula se dice que contiene slo un tomo, pero fue la forma de la clula no especificado; en (6) y (c), las clulas fueron descritas como ortorrmbica y en (d), cbico, pero esta informacin no se ha introducido en la estructura del factor

clculos. Esto ilustra el punto importante que el factor de estructura es independiente de la forma y el tamao de la celda unidad. Por ejemplo, cualquier bodycentered celda se les faltan reflexiones para los aviones que tienen (H + fc + I) igual a un nmero impar, si la celda es cbica, tetragonal, o ortorrmbica. Las reglas que han derivado en los ejemplos anteriores son por lo tanto, de una mayor aplicabilidad de lo que parece a primera vista y demostrar la estrecha conexin entre la red de Bravais de una sustancia y su patrn de difraccin. Se resumen en la Tabla 4-1. Estas reglas son someterse a alguna calificacin, ya que algunas clulas pueden contener ms tomos que las dadas en los ejemplos (a) a (d), y estos tomos pueden estar en tales posiciones que las reflexiones normalmente presente se han perdido. Para ejemplo, el diamante tiene una red cbica centrada en las caras, sino que contiene ocho TABLA 4-1 * Estas relaciones se aplican a una clula centrado en la cara C. Si estn presentes reflexiones slo cuando H e I estn sin mezclar, o cuando k y que estn sin mezclar, a continuacin, la celda est centrada en la cara B o A, respectivamente. 4-6] FACTOR DE ESTRUCTURA-121 CLCULOS tomos de carbono por celda unidad. Todas las reflexiones de la presente han sin mezclar ndices, pero los reflejos, tales como 200, 222, 420, etc, han desaparecido. El hecho ndices que las presentes reflexiones slo han mezcladas demuestra que la red est centrada en las caras, mientras que las reflexiones adicionales que faltan son un indicio de la disposicin tomo real en este cristal. (E) Este punto puede ilustrarse adicionalmente por la estructura de NaCl (Fig. 2-18). Este cristal tiene una red cbica con 4 Na y 4 tomos de Cl clulas por unidad, que se encuentra de la siguiente manera: Na 000 f | | Off

HI Cl 00 i OFO Foo En este caso, los factores de dispersin atmicos apropiados para cada tomo debe estar insertada en la ecuacin de estructura-factor: F = / Na [l + e + E '* 7+e* lk + Como se discuti en la seccin?. 2-7, las posiciones de los tomos de sodio estn relacionadas por la la cara de centrado de traducciones y as son las posiciones de los tomos de cloro. Cuando una red contiene traducciones comunes, los trminos correspondientes en la ecuacin de estructura de factor siempre puede ser un factor fuera, dando lugar a una considerable simplificacin. En este caso se procede de la siguiente manera: F = / + Natl Los signos de los exponentes en el segundo soporte se puede cambiar, por relacin (D) de la seccin. 4-5. Por lo tanto He aqu los trminos correspondientes a las traducciones de centrado cara aparece en el primer factor. Estos trminos han aparecido ya en el ejemplo (d), y que se encontr que tenan un valor total de cero para los ndices mixtos y 4 para ndices sin mezclar. Esto demuestra una vez que el NaCl tiene una red centrada en las caras y que F = para los ndices mixtos; 122 DIFFRACTIO N II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 Para los ndices sin mezclar, F - 4 (/ N + / ci) si (H + K + es par; f2 = 16 (/ Na + / Cl) 2

. F - 4 (/ Na - / ci) if (ft + fc + 9 es impar; F2 - 16 (/ Na ~ En este caso, hay ms de cuatro tomos por celda unidad, pero el enrejado sigue centrada en las caras. La introduccin de tomos adicionales no ha eliminado las reflexiones presentes en el caso de la celda de cuatro tomos, pero tiene disminucin alguna en intensidad. Por ejemplo, la reflexin 111 ahora implica la diferencia, ms que la suma de las potencias de dispersin de los dos tomos. (/) Otro ejemplo de clculo de factor de estructura se dar aqu. La clula hexagonal compacta mostrada en la figura. 2-15 tiene dos tomos de la mismo tipo situada en y J. F = Fe 2iri (0) - FM _ | _ e Por conveniencia, poner [(h + 2 / c) / 3 + 1/2] = g. F = / (I + e 2 '). Como g puede tener valores fraccionarios, como ^ - ^, $,, etc, esta expresin sigue siendo complejo. La multiplicacin por la conjugada compleja, sin embargo, se dar el cuadrado del valor absoluto de la amplitud de la onda resultante F. |F| a=/2 (L + e 2 "') (L + c-"

2't ') =/ 2 (2 + e 2VI * + <T2Tl *). Por relacin (e) de la seccin. 4-5, esto se convierte |F| 2=/ 2 (2 + 2 2 * cos 0) =/ 2 [2 + 2 (2 cos2 * G - 1)] cuando (h + 2fc) es un mltiplo de 3 y I es impar. 4-7] SOLICITUD DE 123 EN POLVO MTODO Es por estas reflexiones que faltan, como el 11-1, 11-3, 22-1, 22-3, que un estructura hexagonal es reconocido como empaquetamiento compacto. No todas las reflexiones presentar tienen el factor misma estructura. Por ejemplo, si (h + 2k) es un mltiplo de 3 y I es par, entonces / H + 2k l \ I-h) = N, donde n es un nmero entero; \ O / 2t cos irn = 1

, cos2 trn = 1 , |F| 2=4/ 2 . Cuando todos los valores posibles de H, K, y 7 son considerados, los resultados pueden ser resumirse como sigue: Impar 3n 3w hasta 4 / 2 3n impar 1 3 / 2 3A? 1 par / 2 Aplicacin a 4-7 mtodo de polvo. Cualquier clculo de la intensidad de un haz difractado siempre debe comenzar con el factor de estructura. El resto del clculo, sin embargo, vara con la difraccin en particular mtodo utilizado. Para el mtodo de Laue, los clculos de intensidad son por lo difcil que rara vez se hace, ya que cada haz difractado tiene una diferente longitud de onda y ennegrece la pelcula por una cantidad variable, en funcin en tanto la intensidad como la sensibilidad de la pelcula para esa longitud de onda particular. Los factores que regulan la intensidad difractada en la rotacin de cristal y mtodos en polvo son algo similares, en que la radiacin monocromtica es usado en cada uno, pero difieren en detalle. El resto de este captulo se dedicar a el mtodo de polvo, ya que es de la mayor utilidad general

en el trabajo metalrgico. Hay ^ re_six_factorsaffecting la intensidad relativa de la difraccin lneas en un patrn de polvo: (1) factor de polarizacin, (2) estructura factorial, (3) la multiplicidad de factores, (4) factor de Lorentz, (5) la absorcin de los factores, (6) factor de temperatura ^ Los dos primeros de estos ya se han descrito, y los dems s discute en las siguientes secciones. 124 DIFFRACTIO N II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 4-8 factor de multiplicidad. Tenga en cuenta la reflexin 100 de una red cbica. En la muestra de polvo, algunos de los cristales ser tan orientada que reflexin puede ocurrir a partir de sus (100) aviones. Otros cristales de diferente orientacin puede estar en una posicin tal que la reflexin se puede producir a partir de su (010) o planos (001). Dado que todos estos planos tienen el mismo espaciamiento, la haces difractados por todos ellos forma parte del cono mismo. Ahora considere la reflexin 111. Hay cuatro juegos de planos de la forma {111) que tienen el mismo espaciamiento pero diferente orientacin, a saber, (111), (111), (111), y (III), mientras que slo hay tres conjuntos de la forma (100). Por lo tanto, la probabilidad de que los planos {111} ser correctamente orientado para reflexin es F la probabilidad de que los planos {100} ser orientado correctamente. De ello se deduce que la intensidad de la reflexin 1 11 f ser la de la 100 reflexin, en igualdad de condiciones. Esta proporcin relativa de los planos que contribuyen a la misma reflexin entra en la ecuacin de la intensidad como la cantidad p, el factor de multiplicidad,

que puede ser definida como el nmero de diferentes planos en una forma que tiene el mismo espaciado. Planos paralelos con diferentes ndices de Miller, tales como (100) y (TOO), se cuentan por separado como planos diferentes, produciendo nmeros que son el doble de los indicados en el prrafo anterior. As, la factor de multiplicidad de los planos {100} de un cristal cbico es 6 y para el {111} planos 8. El valor de p depende del sistema de cristal: en un cristal tegragonal, el (100) y (001) planos no tienen la misma separacin, de manera que el valor de p para los planos {100} se reduce a 4 y el valor para los planos {001} a 2. Los valores del factor multiplicidad como una funcin del sistema hkl y cristal figuran en el apndice 9. 4-9 Lorentz factor. Ahora debemos considerar ciertos factores trigonomtricos que influyen en la intensidad del haz reflejado. Supongamos que hay incidente sobre un cristal [fig. 4-13 (a)] un haz estrecho de forma paralela monocromtica rayos, y dejar que el cristal de "girar a una velocidad angular uniforme alrededor de un eje a travs de y normal a los dibujos, de modo que una determinada conjunto de planos reflectantes, supone por conveniencia para ser paralelo al cristal superficie, pasa a travs del ngulo de Fe, en la que la ley de Bragg es exactamente satisfecho. Como se mencion en la seccin. 3-7, la intensidad de la reflexin es mayor en el exacto ngulo de Bragg, pero todava apreciable en ngulos desviarse ligeramente desde el ngulo de Bragg, de manera que una curva de intensidad vs 20 es de la forma se muestra en la figura. 4-13 (b). Si todos los haces difractados enviado por el cristal a medida que gira a travs del ngulo de Bragg se reciben en una pelcula fotogrfica o en un mostrador, la energa total del haz difractado se puede medir. Esta energa se llama la intensidad integrada de la reflexin y se le da por el rea bajo la curva de la figura. 4-13 (b). La intensidad integrada es de inters mucho ms que la intensidad mxima, ya que el primero es

4-9] factor de Lorentz 125 (A) ngulo de difraccin 26 (B) La figura. 4-13. Difraccin por una rotacin de cristal a travs del ngulo de Bragg. caracterstica de la muestra mientras que la ltima est influida por pequeos ajustes del aparato experimental. Por otra parte, en la comparacin visual de las intensidades de las lneas de difraccin, que es la intensidad integrada de la lnea en lugar de la intensidad mxima que el ojo se evala. La intensidad integrada de una reflexin depende del valor particular de BB involucrados, a pesar de que todas las otras variables se mantienen constantes. Podemos encontrar esta dependencia, considerando, por separado, dos aspectos de la difraccin curva: la intensidad mxima y la anchura. Cuando la reflejando planos BB crea un ngulo con el haz incidente, la ley de Bragg es exactamente satisfecho y la intensidad difractada en la direccin 26S es un mximo. Pero algo de energa es todava difractada en esta direccin cuando el ngulo de incidencia difiere ligeramente de Fe, (y la energa total difractada en la direccin 20 # como el cristal se gira a travs del ngulo de Bragg est dada por la valor de / max de la curva de la figura. 4-13 (b). ^ El valor de / mx por lo tanto depende del rango angular de rotacin de cristal sobre la cual la energa difractada en la direccin 20 es apreciable.) en la fig. 4-14 (a), el discontinua lneas muestran la posicin del cristal despus de la rotacin a travs de un pequeo ngulo 2, 2' (A) (b) La figura. 4-14. La dispersin en una direccin fija durante la rotacin del cristal. 126 DIFFRACTIO N II! Las intensidades de haces difractados [CAP. 4

A0 de la posicin de Bragg. El haz incidente y el haz difractado considerado ahora forman ngulos desiguales con los planos que reflejan, la primera, formando un ngulo 0i = OB + A0 y el ltimo un ngulo 2 OB A0. La situacin a escala atmica se muestra en la figura. 4-14 (b). Aqu basta considerar un nico plano de tomos, ya que los rayos dispersados por todos los otros planos estn en fase con los rayos correspondientes esparcidos por el primer plano. Deje un espacio igual al tomo en el plano y Na del total * La longitud del avin. La diferencia en la longitud de la trayectoria de los rayos 1 'y 2' dispersada por tomos adyacentes est dada por 5R2 = 'AD - CB = A cos a cos 62 B \ = A [cos (Bs A0) - cos (SB + A0)]. Con la ampliacin de los trminos coseno y la creacin A0 pecado igual a A0, ya que el Esto ltimo es pequeo, encontramos: $ I> 2 '= 0 # 2AA0 pecado, y la diferencia entre la trayectoria de los rayos dispersados por tomos en cada extremo de que el avin est simplemente N veces esta cantidad. Cuando los rayos dispersados por los dos tomos finales son (N + 1) longitudes de onda fuera de fase, la difractados intensidad ser cero. (El argumento aqu es exactamente anloga a la utilizado en la seccin. 3-7.) La condicin para la intensidad difractada cero es por lo tanto 2JVaA0 sen B = (N + 1) X, o (AT + 1) X A0 2Na pecado 6B Esta ecuacin da el mximo rango angular de rotacin sobre cristal apreciable de energa que se difractar en la direccin 20 #. Desde

/ Mx depende de este rango, se puede concluir que / max es proporcional a I / 0FL pecado. En igualdad de condiciones, / max es por lo tanto en gran dispersin bajo ngulos y pequeas en la regin posterior reflexin. La amplitud de la curva de difraccin vara en el sentido opuesto, siendo ms grande en valores grandes de 20 #, como se demostr en la seccin. 3-7, donde el halfmaximum B amplitud se encontr que era proporcional a I / BB cos. El integrado intensidad de la reflexin est dada por el rea bajo la difraccin curva y es por lo tanto proporcional al producto / max-B, que es a su vez proporcional a (l/sin0 #) (l/cos0B) o a I sen / 26B. (As, como un cristal se gira a travs del ngulo de Bragg, la intensidad integrada de una reflexin, que es la cantidad de inters ms experimental, resulta ser mayor * Si el cristal es mayor que el haz incidente, a continuacin, Na es la longitud irradiada del plano, si es menor, Na es la longitud real del avin. 4-9] LORENTZ FACTOR 127 para valores grandes y pequeos de 200 que para los valores intermedios, otras cosas en igualdad de condiciones. Las observaciones precedentes se aplican igual de bien para el mtodo de polvo a medida que hacer para el caso de un cristal giratorio, ya que la gama de orientaciones disponibles entre las partculas de polvo, algunos satisfacer la ley de Bragg exactamente, algunos no tan exactamente, son el equivalente de un solo cristal de rotacin. Sin embargo, en el mtodo de polvo, un factor geomtrico segunda surge cuando consideramos intensidad thatfyhe integrado de una reflexin a cualquier particular, ngulo de Bragg depende del nmero de partculas orientadas en o cerca de esa acodado Este nmero no es constante, aunque las partculas se orientan completamente al azar. En la fig. 4-15

una esfera de referencia de radio r se traza alrededor de la muestra de polvo situado a 0. Para la reflexin hkl en particular muestra, ON es la normal a esta conjunto de planos en una partcula de la polvo. Supongamos que el intervalo de ngulos cerca del ngulo de Bragg ms que la reflexin es apreciable es A0. Entonces, para esta reflexin particular, slo aquellas partculas ser en un reflejo posicin que tienen los extremos de sus normales plano de colocacin de una banda de ancho RA0 en la superficie de la esfera. Dado que las partculas se supone para ser orientado en el azar, extremos de las normales su avin se distribuye uniformemente sobre la superficie de la esfera; la fraccin favorablemente orientada para una reflexin se dar por la relacin de la superficie de la tira a la de toda la esfera. Si AAT es el nmero de tales partculas y N el nmero total, luego AAT RA0 2nr pecado (90 - B) A0 cos 6B La figura. 4-15. La distribucin de avin las normales para un cono particular de reflejarse rayos. El nmero de partculas orientadas favorablemente para la reflexin es as proporcional cos a B y es bastante pequea para las reflexiones en la direccin hacia atrs. En la evaluacin de las intensidades relativas, no se pueden comparar el total difractada energa en un cono de rayos con que en otro, sino ms bien el integrado

intensidad por unidad de longitud de la lnea de difraccin uno con la del otro. Para ejemplo, en la disposicin ms comn de la muestra y de la pelcula, la Debye-Scherrer mtodo, que se muestra en la figura. 4-16, la pelcula obviamente recibe una una mayor proporcin de un cono de difraccin cuando la reflexin est en el delantero o hacia atrs direccin que lo hace cerca de 20 = 90. La inclusin de este efecto 128 DIFFRACTIO N II! Las intensidades de haces difractados [CAP. 4 R sen 20 / i La figura. 4-16. Interseccin de conos de rayos difractados con Debye-Scherrer pelcula. por lo tanto conduce a un tercer factor geomtrico afecta a la intensidad de la reflexin. La longitud de cualquier lnea de difraccin ser 2vR 20s pecado, donde R es el radio de la cmara, la intensidad relativa por unidad de longitud de lnea es proporcional a I / sen 20B. En los clculos de intensidad, los tres factores que acabamos de mencionar se combinan en una sola y se llama el factor de Lorentz. Dejar caer el subndice de la ngulo de Bragg, se tiene: Factor de Lorentz == () [Cos 6} [I Vsin 207 \ / Vsin 207 CO80 1 pecado 2 28 4 sin 2 6 cos Esto a su vez se combina con el factor de polarizacin Sec. 4-2 para dar la Lorentzpolarization combinado factor que, con una constante factor de - ^ omite, se da por

Lorentz-polarizacin factor = ^ o 1 + cos2 26 5 | CSJ pecado " Cos 2 6 6 3 + Cos2 26) de Los valores de este factor se dan en la Apndice 10 y se representa en la figura. 4-17 como una funcin de 6. (Jhe sobre-todo efecto de estos factores geomtricos es disminuir la intensidad de las reflexiones en ngulos intermedios, en comparacin con los en direccin hacia adelante o hacia atrs. 10 45 90 ngulo de Bragg 6 (grados) La figura. 4-17. Lorentz-polarizacin factor. 4-10] FACTOR DE ABSORCIN 129 \ (A) (h) La figura. 4-18. Absorcin en Debye-Scherrer muestras: (a) el caso general, (b) altamente absorcin de la muestra. 4.10 Factor de Absorcin. Todava otro factor que afecta a las intensidades de los los rayos difractados se debe considerar, y que es la absorcin de la cual tiene lugar en la propia muestra. La muestra en el Debye-Scherrer

mtodo tiene la forma de un cilindro muy fina de polvo colocado en la cmara eje, y la fig. Agosto 4 a 1 (a) muestra la seccin transversal de un espcimen. Para la reflexin de bajo ngulo que se muestra, la absorcin de un rayo particular en el incidente haz se produce a lo largo de una trayectoria tal como AB] en 5 una pequea fraccin de la energa incidente es difractado por una partcula de polvo, y la absorcin de este haz difractado se produce a lo largo de la ruta de BC. Del mismo modo, para un alto ngulo reflexin, absorcin tanto del incidente y haces difractados se produce a lo largo de una trayectoria tal como (DE + EF). El resultado neto es que el difractada haz es de menor intensidad de lo que cabra esperar de un espcimen de no absorcin. Un clculo de este efecto demuestra que la absorcin relativa aumenta como 6 disminuye, para cualquier modelo que figura cilndrica. Que esto debe ser as puede verse en la figura. 4-18 (b) que se aplica a una muestra (por ejemplo, tungsteno) de absorcin muy alta. El haz incidente es muy rpidamente absorbido, y la mayora de los haces difractados se originan en la superficie delgada capa en el lado izquierdo de la muestra,-F haces reflejados hacia atrs luego someterse a una absorcin muy poco, pero con visin de rayos reflejados tienen que pasar a travs de toda la muestra y se absorben en gran medida. ^ En realidad, la con visin de rayos reflejados en este caso provienen casi en su totalidad a partir de la parte superior e bordes inferiores de la muestra. * Esta diferencia en la absorcin entre * Los patrones de polvo se reproducen en la figura. 3-13 muestran este efecto. El lowestangle lnea en cada patrn se divide en dos, porque el haz difractado a travs de la centro de la muestra est tan altamente absorbida. Es importante tener la posibilidad de este fenmeno en mente al examinar Debye-Scherrer fotografas, o divisin de ngulo bajo lneas pueden interpretarse incorrectamente como lneas de difraccin separadas a partir de dos conjuntos diferentes de aviones.

130 DIFFRACTIO N III Las intensidades de haces difractados [CAP. 4 reflexiones de alto y bajo-0 0-disminuye a medida que el coeficiente de absorcin lineal de la muestra disminuye, pero la absorcin es siempre mayor para el bajo-0 reflexiones. (Estas observaciones se aplican slo a la muestra cilndrica utilizado en el mtodo de Debye-Scherrer. El factor de absorcin tiene un totalmente forma diferente para la muestra de placa plana usado en un difractmetro, como se se muestra en la Sec. 7-4.) El clculo exacto del factor de absorcin de una muestra cilndrica es a menudo difcil, as que es una suerte que este efecto por lo general puede ser descuidado en el clculo de las intensidades de difraccin, cuando el mtodo de Debye-Scherrer se utiliza. La justificacin de esta omisin se encuentran en la siguiente seccin. 4.11 Factor de temperatura. Hasta ahora hemos considerado como un cristal coleccin de tomos situados en puntos fijos en la red. En realidad, la tomos de someterse a vibracin trmica de sus posiciones medias, incluso a la cero absoluto de temperatura, y la amplitud de esta vibracin aumenta cuando la temperatura aumenta. En aluminio a temperatura ambiente, la desplazamiento medio de un tomo de su posicin media es de aproximadamente 0,1 7A, que es para nada despreciable, siendo aproximadamente 6 por ciento de la distancia de mximo acercamiento de las posiciones de los tomos de medias en este cristal. ^ Agitacin trmica disminuye la intensidad de un haz difractado porque tiene el efecto de manchas a cabo los planos reticulares; tomos * puede considerarse como la mentira ya no en los aviones matemticos, sino ms bien en las regiones laminares de mal definida espesor. As, el refuerzo de las ondas dispersas en la ngulo de Bragg por varios planos paralelos, el refuerzo que se llama haz difractado, no es tan perfecto como lo es para un cristal con tomos fijos. Este refuerzo requiere que la diferencia de camino, que es una funcin de la separacin d avin, entre las ondas dispersadas por los planos contiguos ser un

nmero entero de longitudes de onda. Ahora, el grosor de la platelike "Planos" 'En la que la mentira vibrando tomos es, en promedio, 2? /, Donde u es el desplazamiento medio de un tomo de su posicin media. Bajo estas condiciones refuerzo ya no es perfecta, y se hace ms imperfecta como la relacin U / d aumenta, es decir, como la temperatura aumenta, ya que aumenta aumentos U, o como, desde alta-0 reflexiones implican planos de valor d baja. TThus la intensidad de un haz difractado disminuye como se eleva la temperatura, y, para una temperatura constante, trmica vibracin provoca una mayor disminucin en la intensidad reflejada a altos ngulos que a ngulos bajos. / El efecto de la temperatura y el efecto de absorcin discutido previamente en probetas cilndricas por lo tanto dependen de ngulo en sentidos opuestos y, en una primera aproximacin, se anulan entre s. En la reflexin de vuelta, por ejemplo, la intensidad de un haz difractado se disminuye muy poco a la absorcin pero muy gran medida por la agitacin trmica, mientras que en la direccin de avance de la ocurre lo contrario. Los dos efectos no se cancelan uno al otro en absoluto 4-11] FACTOR DE TEMPERATURA 131 ngulos, sin embargo, si la comparacin de las intensidades de lnea se restringe a las lneas no difieran demasiado grandemente en 6 valores, la absorcin y la temperatura efectos pueden ser ignorados. Esto es. una circunstancia afortunada, ya que ambos estos efectos son bastante difciles de calcular con exactitud. Cabe sealar aqu que la vibracin trmica de los tomos de un cristal no causa ninguna ampliacin de las lneas de difraccin, sino que permanecen afilados hasta el punto de fusin, pero su intensidad mxima disminuye gradualmente. Es tambin digno de mencin que la amplitud media de vibracin atmica no es una funcin de la temperatura por s sola, sino que depende tambin de la

constantes elsticas del cristal. A cualquier temperatura dada, la menos "rgida" el cristal, mayor ser la amplitud de la vibracin u. Esto significa que u es mucho mayor a cualquier temperatura uno para un suave, de bajo punto de fusin de metal Como el plomo de lo que es, digamos, el tungsteno. Las sustancias con puntos de fusin bajos tienen valores bastante grandes de u incluso a temperatura ambiente y por lo tanto producir ms bien pobres reflexin posterior fotografas. La vibracin trmica de los tomos tiene otro efecto sobre los patrones de difraccin. Adems de disminuir la intensidad de las lneas de difraccin, que causa algunos dispersin general coherente en todas las direcciones. Esto se llama temperaturediffuse dispersin, contribuye nicamente al fondo general de la patrn y su intensidad aumenta gradualmente con 26. Contraste entre lneas y el fondo natural sufre, por lo que este efecto es muy indeseable uno, lo que en casos extremos a las lneas de difraccin en la parte posterior de reflexin regin apenas distinguible del fondo. En el fenmeno de la temperatura de la dispersin difusa-tenemos otro ejemplo, ms all de las que se alude en Sec. 3-7, de la dispersin en la no-Bragg ngulos. Aqu de nuevo, no es sorprendente que la dispersin as ocurre, ya que el desplazamiento de los tomos de sus posiciones medias constituye una tipo de imperfeccin cristal y lleva a una ruptura parcial de las condiciones necesario para la interferencia destructiva perfecta entre los rayos dispersos a no Bragg ngulos. El efecto de la vibracin trmica tambin ilustra lo que se ha llamado "La ley aproximada de conservacin de la energa difractada. "Esta ley afirma que la energa total difractada por una muestra particular bajo especial condiciones experimentales es ms o menos constante. Por lo tanto, cualquier cosa hacer para alterar el estado fsico de la muestra no altera el total

cantidad de energa difractada sino slo su distribucin en el espacio. Esta "ley" no es del todo riguroso, pero s ser til en la consideracin de difraccin muchos fenmenos. Por ejemplo, a bajas temperaturas hay muy poco de fondo debido a la agitacin trmica de dispersin y las lneas de difraccin son relativamente intensa, si la muestra est ahora calentado a una temperatura alta, las lneas se har muy dbil y la energa que se pierde desde las lneas aparecern en una forma dispersa como la dispersin de la temperatura difusa. 132 DIFFRACTIO N II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 4-12 Intensidades de lneas patrn de polvo . Ahora estamos en condiciones de reunir a los factores mencionados en los apartados anteriores en una ecuacin para la intensidad relativa de las lneas de patrn de polvo: Y1 + C0s22g> ) , (4-12) \ Sin 2 6 cos 6 / donde I = intensidad relativa integrado (unidades arbitrarias), F = estructura factor, p = factor de multiplicidad, y 6 = ngulo de Bragg. Al llegar a esta ecuacin, se han omitido los factores que son constantes para todas las lneas de la patrn. Por ejemplo, todo lo que se conserva de la ecuacin de Thomson (Ec. 4-2) es el factor de polarizacin (1 + cos2 26), con factores constantes, tales como la intensidad del haz incidente y la carga y la masa del electrn, omitido. La intensidad de una lnea de difraccin es tambin directamente proporcional para el volumen irradiado de la muestra e inversamente proporcional al radio cmara, pero estos factores son de nuevo constante para todos difraccin

lneas y puede despreciarse. La omisin de la temperatura y la absorcin factores significa que la ec. (4-12) es vlida slo para el mtodo de Debye-Scherrer y entonces slo para las lneas bastante cerca juntos en el patrn, lo ltimo restriccin no es tan grave como puede parecer. La ecuacin (4-12) tambin se restringe con el mtodo de Debye-Scherrer debido a la manera particular en que el factor de Lorentz se determin; otros mtodos, tales como los participacin de las cmaras de enfoque, se requiere una modificacin de la de Lorentz factor dado aqu. Adems, los cristales individuales que constituyen el muestra de polvo debe tener orientaciones completamente al azar si la ecuacin. (4-12) es aplicar. Finalmente, se debe recordar que esta ecuacin da la intensidad relativa integrada, es decir, el rea relativa bajo la curva de intensidad frente a 20. Cabe sealar que "intensidad integrada" no es realmente intensidad, dado que la intensidad est expresada en trminos de rea de la unidad de energa por unidad de cruce de tiempo. Un haz difractado por una muestra en polvo contiene una cierta cantidad de energa por unidad de tiempo y se podra muy bien referirse al total potencia del haz difractado. Si este haz es entonces incidente en una medicin dispositivo, tal como una pelcula fotogrfica, por un cierto perodo de tiempo y si una curva de intensidad difractada vs 26 est construido a partir de las mediciones, a continuacin, el rea bajo esta curva da la energa total en el haz difractado. Esta es la cantidad comnmente como intensidad integrada. La trmino ms descriptivo sera "energa difractada total", pero el trmino "Intensidad integrada" ha sido demasiado tiempo arraigado en el vocabulario de difraccin de rayos X para ser cambiado. 13.4 Ejemplos de clculos de intensidad. El uso de la ecuacin. (4-12) se ser ilustrada por el clculo de la posicin y las intensidades relativas de los

4-13] EJEMPLOS DE CLCULOS DE INTENSIDAD 133 las lneas de difraccin en un patrn de polvo de cobre, hecho con Cu Ka. radiacin. Los clculos son ms fcilmente lleva a cabo en forma de tabla, como en la Tabla 4-2. TABLA 4-2 Observaciones: Columna 2: Puesto que el cobre es cara cbica centrada, F es igual a 4/Cu para lneas de sin mezclar ndices y cero para las lneas de ndices mixtos. Los ndices que reflejan todos los planos, sin mezclar, se anotan en esta columna el fin de aumentar los valores de (h 2 FFC2+Z 2 ), Del Apndice 6. Columna 4: Para un cristal cbico, valores de sen2 6 estn dadas por la ecuacin. (3-10): sm "0 = j-gC / r-h / r-h r;. En este caso, X = 1.542A (Cu Ka) y un 3.615A = (parmetro de red de cobre). Por lo tanto, la multiplicacin de los nmeros enteros en la columna 3 por X2/4a2 = 0,0455 da la valores de sen2 indicados en la columna 4. En este y otros similares clculos, la regla de clculo la precisin es suficiente. Columna 6: Se necesita para determinar el factor de Lorentz-polarizacin y (sen 0) / X. Columna 7: Se obtiene del Apndice 7. Necesario para determinar / CuColumna 8: Leer de la curva de la figura. 4-6. Columna 9: Se obtiene de la relacin F2 = 16/Cu 2 -

Columna 10: Se obtiene del Apndice 9. 134 DIFFRACTIO N II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 Columna 11: Se obtiene del Apndice 10. Columna 12: Estos valores son el producto de los valores en las columnas 9, 10 y 11. Columna 13: Los valores de la columna 12 recalculados para dar la primera lnea arbitraria intensidad de 10. Columna 14: Estas entradas se dan las intensidades observadas, estimadas visualmente segn a la escala siguiente sencilla, desde el patrn que se muestra en la figura. Marzo 3 a 1 (una) (Vs = muy fuerte, s = fuerte, m = medio, w = dbil). El acuerdo obtenido en este caso entre las intensidades observadas y calculadas es satisfactoria. Por ejemplo, las lneas 1 y 2 se observan a ser de fuerte y mediana intensidad, sus intensidades respectivas calculadas ser 10 y 4,0. Convenio similar se puede encontrar mediante la comparacin de las intensidades de cualquier par de lneas vecinas en el patrn. Tenga en cuenta, sin embargo, que la comparacin debe ser hecha entre lneas que no estn demasiado separados: por ejemplo, la intensidad calculada de la lnea 2 es mayor que la de la lnea 4, mientras lnea 4 se observa que es ms fuerte que la lnea 2. De manera similar, las lneas ms fuertes en el patrn son las lneas 7 y 8, mientras que los clculos muestran que la lnea 1 ms fuerte. Los errores de este tipo surgen de la omisin de la absorcin y factores de temperatura del clculo. Una estructura ms complicada ahora se puede considerar, a saber, la de la forma de zinc-blenda de ZnS, que se muestra en la figura. 2-19 (b). Esta forma de ZnS es cbico y tiene un parmetro de red de 5.41A. Vamos a calcular la relacin intensidades de los primeros seis lneas en un patrn hecho con radiacin Cu Ka. Como siempre, el primer paso es calcular el factor de estructura. ZnS tiene cuatro de zinc y cuatro tomos de azufre por celda unidad, ubicados en las siguientes posiciones: 'Zn: \ \ \ + centrado cara traducciones,

S: + cara de centrado traducciones. Puesto que la estructura es centrada en las caras, se sabe que el factor de estructura ser cero para planos de ndices mixtos. Tambin sabemos, a partir del ejemplo (e) de la seccin. 4-6, que los trminos en la ecuacin de estructura-factor correspondiente a las traducciones de centrado de cara puede ser un factor fuera y la ecuacin para ndices sin mezclar escritas hacer vn \ a la vez: |F| 2 se obtiene mediante la multiplicacin de la anterior por su conjugado complejo: Esta ecuacin se reduce a la forma siguiente: |F| 2 = 16 I /!, 2 + / Zn 2 + 2/s/Zn cos * (H + k + J 4-13] EJEMPLOS DE CLCULO DE INTENSIDAD 135 La simplificacin es posible que varios casos especiales: \F\ 2 = 16 (/ s 2 + / Zn 2 ) Al (h + k + I) es impar, (4-13) \F\ 2 = 16 (/ s - / Z n) 2 cuando (h + k + 1} es un mltiplo impar de 2; (4-14) |^|

2 = 16 (/ s + / Zn) 2 cuando (h + k + i) es un mltiplo de 2. (4-15) Los clculos de intensidad se lleva a cabo en la Tabla 4-3, con algunas columnas omitido en aras de la brevedad. TABLA 4-3 Observaciones: Columnas 5 y 6: Estos valores se leen a partir de curvas de factor de dispersin trazaa partir de los datos del Apndice 8. Columna 7: \ F \ ~ se obtiene por el uso de la ecuacin. (4-13), (4-14), o (4-15), dependiendo en los valores particulares de hkl involucrados. Por lo tanto, la ecuacin. (4-13) se utiliza para la reflexin 111 y Eq. (4-15) para la reflexin 220. Columnas 10 y 11: El acuerdo alcanzado entre aqu calculados y observados intensidades es de nuevo satisfactorio. En este caso, el acuerdo es bueno cuando cualquier par de lneas se compara, a causa de la limitada gama de 6 valores involucrados. Una observacin adicional sobre los clculos de intensidad es necesario. En el polvo mtodo, dos juegos de planos con diferentes ndices de Miller puede reflejar la mismo punto en la pelcula: por ejemplo, los planos (411) y (330) en la sistema cbico, ya que tienen el mismo valor de (h 2 + k2 + I 2 ) Y por lo tanto el mismo espaciamiento, o los planos (501) y (431) del sistema tetragonal, JLJO DIFRACCIN II: Las intensidades de los haces difractados [CAP. 4 ya que tienen los mismos valores de (h? + fc 2 )YI

2 . En tal caso, la intensidad de cada reflexin debe calcularse por separado, ya que en general los dos tendr diferente multiplicidad y factores de estructura y, a continuacin aadido a encontrar la intensidad total de la lnea. 4-14 Medicin de la intensidad de los rayos x. En los ejemplos que se acaba de dar, la intensidad observada se calcul simplemente por comparacin visual de una lnea con otra. Aunque este sencillo procedimiento es satisfactorio en un sorprendentemente gran nmero de casos, existen problemas en que un ms precisas medicin de la intensidad difractada es necesario. Dos mtodos son en uso general hoy en da para la fabricacin de tales mediciones, uno dependiente de la efecto fotogrfico de los rayos X y la otra en la capacidad de los rayos X para ionizar gases y causan fluorescencia de la luz en los cristales. Estos mtodos tienen ya se han mencionado brevemente en la seccin. 1-8 y se describe ms completamente en los Caps. 6 y 7, respectivamente. PROBLEMAS 4-1. Mediante la adicin de las ecuaciones. (4-5) y (4-6) y la simplificacin de la suma, muestran que E3, la resultante de estas dos ondas sinusoidales, es tambin una onda sinusoidal, de amplitud A3 = [Ai 2 + A2 * 2A +, A2 cos fa <*> 2)] y de fase . AI pecado fa + Az 92 pecado </> 3 = tan "1 -; ^,

, AI COS COS fa + A2 02 4-2. Obtener el mismo resultado resolviendo el diagrama vectorial de la figura. 4-11 para el tringulo de ngulo recto de la que A3 es la hipotenusa. 4 ^ 3. Deducir expresiones simplificadas para F2 para diamante, incluidas las normas que rigen observado reflexiones. Este cristal es cbica y contiene 8 tomos de carbono por celda unidad, que se encuentra en las siguientes posiciones: 000 HO $ 0i OH Hi Hi Hi Hi 4-4. Un cristal tetragonal cierto tiene cuatro tomos del mismo tipo por celda unidad, situado en H. i i, \ f, H(A) Deducir expresiones simplificadas para F2 . (B) Cul es la red de Bravais de este cristal? (C) Cules son los valores de F2 para los 100, 002, 111, reflexiones de aceite y? 4-6. Deducir expresiones simplificadas para F2 para la forma wurtzita de ZnS, incluyendo las normas que regulan los reflejos observados. Este cristal es hexagonal y contiene 2 ZnS por celda unidad, ubicados en las siguientes posiciones: Zn: 000, Hi S: Uf, Hi PROBLEMAS 137 Tenga en cuenta que estas posiciones implican una traduccin comn, que puede ser un factor de la ecuacin de estructura-factor. 4-6. En la seccin. 4-9, en la parte dedicada a la dispersin cuando el incidente y dispersada vigas forman ngulos desiguales witli los planos reflectantes, se afirma que "Rayos dispersados por todos los otros planos estn en fase con los rayos correspondientes dispersos

por el primer plano. "Demostrar esto. 4-7. Calcular la posicin (en trminos de 6) y la intensidad integrada (en relacin unidades) de los primeros cinco lneas en el patrn de Debye de plata hecha con Cu Ka radiacin. No haga caso de la temperatura y factores de absorcin. 4 - ^ 8. Un patrn de Debye-Scherrer de tungsteno (BCC) se realiza con radiacin Cu Ka. Las primeras cuatro lneas en este patrn se observ que tena las siguientes 8 valores: Lnea 6 1 20.3 2 29.2 3 36.7 4 43.6 ndice de estas lneas (es decir, determinar los ndices de Miller de cada reflexin por el uso de la ecuacin. (3-10) y en el Apndice 6) y calcular sus intensidades integradas relativas. 4-9. Un patrn de Debye-Scherrer est hecha de estao gris, que tiene la misma estructura como el diamante, con radiacin Cu Ka. Cules son los ndices de las dos primeras lneas en el patrn, y lo que es la relacin de la intensidad integrada de la primera a la que de la segunda? 4-10. Un patrn de Debye-Scherrer se hace de la fase intermedia con InSb Cu Ka radiacin. Esta fase tiene la estructura de la blenda de zinc-y un parmetro de red de 6.46A. Cules son los ndices de las dos primeras lneas en el patrn, y es lo la relacin de la intensidad integrada de la primera a la segunda? 4-11. Clculo de las intensidades relativas integradas de los primeros seis lneas de la Debye-Scherrer patrn de zinc, hecha con radiacin Cu Ka. Los ndices y observadas 6 valores de estas lneas son: Line 6 hkl (Lnea 5 se compone de dos lneas no resueltas de planos de casi los mismos

espaciado.) Compare sus resultados con las intensidades observadas en el patrn se muestra en la figura. 3-13 (b).

CAPTULO 5 FOTOGRAFAS Laue

1.6 Introduccin. Los mtodos experimentales utilizados en la obtencin de difraccin patrones se describe en este captulo y los dos siguientes. Aqu nos referimos con el mtodo de Laue slo desde el experimental punto de vista, sus principales aplicaciones se tratarn en el Cap. 8. Fotografas de Laue son el tipo ms fcil de patrn de difraccin de hacer y slo requieren el tipo ms simple de aparato. Radiacin blanca es necesario, y la mejor fuente es un tubo con una pesada-meta! objetivo, tal como tungsteno, ya que la intensidad del espectro continuo es proporcional a la atmica nmero del metal objetivo. Buenos patrones tambin se puede conseguir con la radiacin de otros metales, tales como molibdeno o cobre. Ordinariamente, la presencia de fuertes componentes caractersticos, tales como W Lai, Cu Ka, Mo Ka, etc, en la radiacin utilizada, no complica la difraccin patrn en cualquier forma o presentar dificultades en su interpretacin. Tal componente slo se reflejar si un conjunto de planos en el cristal pasa a estar orientado en slo tal manera que la ley de Bragg se satisface para ese componente, y luego el efecto slo ser la formacin de un punto de Laue intensidad excepcionalmente alta. La muestra utilizada en el mtodo de Laue es un nico cristal. Esto puede significa un cristal aislado o solo un grano de cristal especial, no demasiado pequeo, en un agregado policristalino. La nica restriccin sobre el tamao de un cristal en una masa policristalina es que debe ser ms pequea que el incidente haz de rayos X, si el patrn obtenido es corresponder a ese cristal

solo. Manchas de Laue se han formado por la superposicin de las reflexiones de los diferentes rdenes. Por ejemplo, la 100, 200, 300,. . . reflexiones se superponen todos desde los planos correspondientes, (100), (200), (300), ... son todos paralelos. La reflexin de primer orden se compone de la radiacin de longitud de onda X, la de segundo orden de X / 2, la tercera orden de X / 3, etc, hasta XSWL, la shortwavelength limitar el espectro continuo. La posicin de cualquier punto Laue no es alterada por un cambio en el espaciamiento de avin, ya que el nico efecto de este cambio es el de alterar la longitud de onda de la haz difractado. De ello se deduce que dos cristales de la misma orientacin y estructura cristalina, pero de parmetro de red diferente, producir idnticos Laue patrones. Cmaras 5-2. Cmaras de Laue son tan fciles de construir que hecho en casa Los modelos se encuentran en un gran nmero de laboratorios. La Figura 5-1 muestra una cmara de transmisin tpico, en este caso una unidad comercial, y la fig. 138 5-2] CMARAS 139 La figura. 5-1. Transmisin Laue cmara. Soporte de la muestra no se muestra. (Cortesa de General Electric Co., X-Ray Department.) 5-2 ilustra sus partes esenciales. A es el colimador, un dispositivo utilizado para producir un haz incidente estrecho formado por los rayos casi paralelos como sea posible; por lo general se compone de dos pequeos agujeros en lnea, una en cada uno de dos de plomo discos fijado en los extremos del tubo colimador. (7 es el nico cristal espcimen soportado sobre el soporte de B. cassette, hecha de un armazn, un extrable posterior de metal, y una hoja de opaco papel, la pelcula, por lo general de 4 por 5 pulgadas en

tamao, se intercala entre el metal espalda y el papel. S es la viga detener, diseado para impedir la transmitida rayo al golpear la pelcula y causando ennegrecimiento excesivo. La F es el soporte de la pelcula a prueba de luz, o La figura. 5-2. Transmisin Laue cmara. 140 fotografas de Laue [cap. 5 disco de cobre pequeo, alrededor de 0,5 mm de espesor, cimentada en la cubierta de pelcula de papel sirve muy bien para este propsito: que se detenga todo, pero una pequea fraccin de la haz transmitido a travs del cristal, mientras que esta pequea fraccin sirve para registrar la posicin de este rayo en la pelcula. La sombra de una parada de viga de este tipo puede verse en la figura. 3-6 (a). El ngulo de Bragg correspondiente a cualquier punto Laue transmisin se encuentra muy simplemente de la relacin tan 20 = -> (5-1) D donde r \ = distancia del punto desde el centro de la pelcula (punto de incidencia del transmitida haz) y D = espcimen a pelcula distancia (generalmente 5 cm). Ajuste de la distancia muestra-pelcula se realiza mejor mediante el uso de un calibrador de separaciones de la longitud correcta. El voltaje aplicado al tubo de rayos X tiene un efecto decisivo en la aparicin de un patrn de transmisin de Laue. Por supuesto, es cierto que la mayor la tensin del tubo, el ms intensas las manchas, otras variables, tales como el tubo hora actual y la exposicin, se mantienen constantes. Pero todava hay otro efecto debido al hecho de que el espectro continuo se corta bruscamente en el lado de longitud de onda corta en un valor de la longitud de onda que vara inversamente

como la tensin del tubo [ec. (1-4)]. Manchas de Laue, cerca del centro de una patrn de transmisin son causadas por reflexiones de primer orden de los planos inclinados en ngulos de Bragg muy pequeas al haz incidente. Slo de onda corta radiacin puede satisfacer la ley de Bragg para tales planos, pero si el tubo tensin es demasiado baja para producir la longitud de onda requerida, la correspondiente Punto Laue no aparecer en el patrn. Por lo tanto, se deduce que hay es una regin cerca del centro del patrn que est desprovisto de manchas de Laue y que el tamao de esta regin aumenta a medida que disminuye la tensin del tubo. La voltaje del tubo por lo tanto no slo afecta a la intensidad de cada punto, pero tambin el nmero de manchas. Esto es cierto tambin de puntos muy alejados del centro del patrn, algunos de estos son debido a los planos y por lo orientado de tal espaciamiento que reflejan la radiacin de longitud de onda prxima a la longitud de onda corta limitar, y manchas de este tipo ser eliminado por una disminucin de la tensin del tubo sin importar el tiempo de la exposicin. Una cmara de visin posterior reflexin se ilustra en las figuras. 5-3 y 5-4 .. Aqu el casete admite tanto la pelcula y el colimador. Este ltimo tiene una reducida seccin en un extremo que se atornilla en la placa posterior de la casete y proyecta una corta distancia delante de la cassette a travs de orificios perforados en la pelcula y su cubierta de papel. El ngulo de Bragg para cualquier punto en un patrn de back-reflexin puede ser encontrado a partir de la relacin Tan (180 - 20) = -> (5-2) 6-2] CMARAS 141 t Back-re F CE L

cin cmara Laue. El titular de la modelo que figura permisos la h tm 1th6 Spedme \ "nosotros" como girar alrededor de un cubo ** para haz incidente. La muestra es una muestra de grano grueso polycrystaJline uno poBitioned de modo que slo un solo grano, seleccionado ser golpeado por el rayo incidente! La figura. 5-4. Back-Laue reflexin cmara (esquema). donde r2 = distancia del punto desde el centro de la pelcula y D = espcimen a pelcula distancia (normalmente 3 cm). En contraste con los patrones de transmisin, copia de la reflexin patrones pueden tener manchas tan cerca del centro de la pelcula como el tamao de los permisos colhmator. Estas manchas son causadas por orden superior se superponen reflexiones de planos casi perpendiculares al haz incidente BMCE cada haz difractado est formado de un nmero de longitudes de onda el nico efecto de una disminucin de la tensin del tubo es eliminar uno o ms corto waveength componentes de algunos de los haces difractados. Las longitudes de onda ms largas todava ser difractada, y la disminucin de la tensin no en general, eliminar las manchas del patrn. ' Los patrones de transmisin se puede obtener generalmente con exposiciones mucho ms cortos de reflexin back-patrones. Por ejemplo, con un tungstentarget tubo opera a 30 kV y 20 mA y un cristal de aluminio sobre 1 mm de espesor, la exposicin requerida es de aproximadamente 5 min en la transmisin y 30 mm en la reflexin posterior. Esta diferencia se debe al hecho de que la atmica factor de dispersin / disminuye a medida que la cantidad (sin0) / A aumenta, y este 142 Laue FOTOGRAFAS [cap. 5 cantidad es mucho mayor en la reflexin posterior que en la transmisin. Transmisin patrones son tambin ms claro, en el sentido de tener un mayor contraste entre las manchas de difraccin y el fondo, desde el coherente

dispersin, que forma las manchas, y el incoherente (modificado Compton) dispersin, lo que contribuye a los antecedentes, varan en sentidos opuestos con (sen 0) / X. La dispersin incoherente alcanza su valor mximo en la regin de la espalda-reflexin, como se muestra claramente en la figura. 3-6 (a) y (b), es en esta regin tambin que la dispersin difusa de la temperatura es ms intensa. En ambos mtodos de Laue, la radiacin de corta longitud de onda en el incidente haz har que la mayora de los especmenes para emitir K radiacin fluorescente. Si este llega a ser molesto en la reflexin de nuevo, puede ser minimizado mediante la colocacin de un filtro de chapa de aluminio 0,01 pulgadas de grosor delante de la pelcula. Si es necesario, la intensidad de un punto Laue se puede aumentar por medio de una pantalla de intensificacin, como se usa en la radiografa. Esto se asemeja a un fluorescente en la pantalla que tiene un material activo recubierto sobre un soporte inerte tal como el cartn, el material activo que tiene la capacidad de fluorescencia en la regin visible bajo la accin de los rayos x. Cuando tal pantalla se coloca con su superficie activa en contacto con la pelcula (Fig. 5-5), la pelcula se ennegrece no slo por el incidente haz de rayos X, sino tambin por la luz visible que la pantalla emite bajo la accin de la viga. Mientras que las pantallas fluorescentes emite luz amarilla, pantallas intensificadoras estn diseados para emitir luz azul, que es ms eficaz que el amarillo en ennegrecimiento de la pelcula. Dos tipos de intensificacin de las pantallas estn en uso hoy en da, uno de tungstato de calcio que contiene y el sulfuro de zinc otro con una traza de plata, el primero es ms eficaz en cortas longitudes de onda de rayos X (alrededor de 0,5 o menos), mientras que el segundo puede ser utilizado en longitudes de onda mayores. Una pantalla de intensificacin no debe ser utilizado si es importante para registrar detalle en los puntos de Laue, como en algunos estudios de distorsin de cristal, ya que la presencia de la pantalla har que las manchas a ser ms difusa que

pantalla de papel pelcula / placa trasera r difractada haz emulsin pelcula de base D lado activo de pantalla La figura. 5-5. Disposicin de cine y pantalla de intensificacin (despiece). (A) (b) La figura. 5-6. Efecto de la doble capa de pelcula en el aspecto de la mancha de Laue: (a) en la casilla a travs de haz difractado y de la pelcula, (b) Vista frontal de la mancha se duplic en la pelcula. 5-3] portamuestras 143 lo haran normalmente bo. Cada partcula de la pantalla que es golpeado por rayos X emite luz en todas las direcciones, por lo que oscurece la pelcula fuera la regin ennegrecida por el haz difractado en s, como se sugiere en la figura. 5-5. Este efecto se ve agravado por el hecho de que la mayora de pelculas de rayos X es de doble capa, las dos capas de emulsin de estar separados por un espesor apreciable de pelcula base. Incluso cuando una pantalla de intensificacin no se utiliza, con doble revestimiento pelcula hace que el tamao de una mancha de difraccin formado por un incidente oblicuamente haz que sea mayor que la seccin transversal de la viga en s; en extrema casos, una duplicacin aparente de los resultados de difraccin de punto, como se muestra en

La figura. 5-0. Titulares 5-3 muestra. Antes de entrar en la cuestin de la muestra titulares, podramos considerar la propia muestra Obviamente, una muestra para el mtodo de transmisin debe tener una baja absorcin suficiente para transmitir la haces difractados, en la prctica, esto significa que los especmenes relativamente gruesas de un elemento ligero como el aluminio puede ser utilizado, pero que el espesor de una elemento bastante pesado como el cobre debe ser reducido, por ataque qumico, por ejemplo, a unas pocas milsimas de una pulgada Por otra parte, la muestra debe no sea demasiado delgado o la intensidad difractada ser demasiado baja, ya que la intensidad de un haz difractado es proporcional al volumen de difraccin material. En el mtodo de back-reflexin, no hay ninguna restriccin sobre el espcimen especmenes de espesor y bastante masiva puede ser examinado, ya que la difractado vigas se originan en slo una fina capa superficial de la muestra. Esta diferencia entre los dos mtodos puede expresarse de otra manera y uno que vale la pena recordar: la informacin sobre un grueso espcimen obtenido por el mtodo de respaldo reflexin se aplica slo a una delgada capa superficial de ese espcimen, mientras que la informacin grabada en un patrn de transmisin es representat ive del espesor total de la muestra, simplemente porque la transmisin espcimen necesariamente deben ser delgadas suficiente para transmitir haces difractados de todas partes de su seccin transversal. * Hay una gran variedad de espcimen titulares en uso, cada uno adecuado para algunos propsito particular. El ms simple

consiste en un poste fijo al que modelo que se adjunta con cera o plastilina. Un soporte es ms elaborado requerido cuando es necesario fijar una cristal de alguna orientacin particular * La figura 5-7. Gonimetro con ejes de rotacin, (Cortesa de Cena Co,) A ver Sec. 9-5 para continuar el debate de este punto. 144 Laue FOTOGRAFAS [cap. 5 con relacin al haz de rayos x. En este caso, un gonimetro de tres crculos se utiliza (Fig. 5-7), con tres ejes perpendiculares entre s de rotacin, dos horizontales y una vertical, y est construido de manera que el cristal, cementado a la punta de la varilla de metal corto en la parte superior, no es desplazado en el espacio por cualquiera de las tres rotaciones posibles. En el estudio de muestras de hoja, con frecuencia es necesario obtener patrones de difraccin desde diversos puntos en la superficie, y esta requiere el movimiento de la muestra, entre las exposiciones, en dos direcciones en ngulo recto en el plano de la superficie de la muestra, esta superficie es perpendicular con el incidente haz de rayos X. La etapa mecnica de un microscopio se puede convertir fcilmente a este fin. A menudo es necesario conocer exactamente donde el incidente haz de rayos X golpea la muestra, como, por ejemplo, cuando se quiere obtener un patrn a partir de un grano particular, o una parte particular de un grano, en un policristalino masa. Esto es a veces una cuestin bastante difcil en un back-reflexin cmara debido a la corta distancia entre la pelcula y la muestra. Un mtodo consiste en proyectar un haz de luz a travs del colimador y observar

su punto de incidencia sobre la muestra con un espejo o prisma mantenido cerca de la colimador. Un mtodo an ms simple es empujar un alambre recto rgido a travs el colimador y observar en la que toca la muestra con una pequea espejo, del tipo de los utilizados por los dentistas, fijados en un ngulo con el extremo de una varilla. 6-4 colimadores. Colimadores de un tipo u otro se utilizan en todos variedades de cmaras de rayos X, por lo que es importante para entender su funcin y saber lo que puede y no puede hacer. Para "colimar" significa, literalmente, "render paralela", y sera el colimador perfecto producir un haz compuesto de rayos perfectamente paralelos. Tal colimador no existe, y la razn, esencialmente, se encuentra en la fuente de la radiacin, puesto que cada fuente emite radiacin en todas las direcciones posibles. Considere el tipo ms simple de colimador (Fig. 5-8), que consta de dos aberturas circulares de dimetro d separados por una distancia u, donde u es grande en comparacin con d. Si hay una fuente puntual de radiacin en S, entonces todo los rayos en el haz del colimador son no paralelas, y es la viga de forma cnica con un ngulo mximo de divergencia f $ \ propuesta por el La figura. 5-8. Pinhole colimador y pequea fuente. 5-4] ecuacin Colimadores t Hola d / 2 tan = 2v 145 donde v es la distancia de la salida del agujero de alfiler de la fuente. Como 1 es

siempre muy pequea, esta relacin puede estar estrechamente aproximada por la ecuacin d ft = i - radianes. (5-3) v Cualquier cosa que hagamos para disminuir 0 \ y por lo tanto hacer que el haz de luz ms casi paralelo al mismo tiempo disminuir la energa del haz. Nosotros Observamos tambin que el agujero de alfiler entrada no tiene ninguna funcin cuando la fuente es muy pequeo, y puede ser omitido. No fuente real es un punto matemtico, y, en la prctica, por lo general tienen que tratar con tubos de rayos X que tienen puntos focales de tamao finito, por lo general de forma rectangular. La forma proyectada de tal sitio, en un pequeo targettongulo del haz, es un cuadrado pequeo o una lnea muy estrecha (fig. 1-16), dependiendo de la direccin de proyeccin. Estas fuentes producen haces tener rayos paralelas, divergentes y convergentes. La Figura 5-9 ilustra el caso cuando la forma es cuadrada fuente proyectada y de una altura h tal que los rayos convergentes de los bordes de la fuente cruzan en el centro del colimador y luego divergen. El mximo ngulo de divergencia se da ahora por ,. ($ 2 = radin, u (5-4) y el centro del colimador puede ser considerado como la fuente virtual de estos rayos divergentes. El haz de emisin desde el colimador no contiene slo los rayos paralelos y divergentes, sino tambin los convergentes, el mximo ngulo de convergencia est dada por u + w radianes, (5-5)

La figura. 5-9. Pinhole colimador y fuente grande. S = fuente, (7 = cristal. 146 Laue FOTOGRAFAS [cap. 5 donde w es la distancia del cristal desde el orificio de salida. El tamao de la fuente que se muestra en la figura. 5-9 est dada por / 2U \ -D (\-u-l) /. (5-6) En la prctica, v es muy a menudo alrededor de dos veces tan grande como u, lo que significa que el las condiciones ilustradas en la figura. 5-9 se obtienen cuando los orificios estn a punto un tercio del tamao de la fuente proyectada. Si el valor de h es menor que la dada por la ecuacin. (5-6), entonces las condiciones ser intermedia entre los que se muestran en las Figs. 5-8 y 5-9; como h se aproxima a cero, el mximo ngulo de divergencia disminuye desde el valor dado por la ecuacin. (5-4) a la dada por la ec. (5-3) y la proporcin de rayos paralelos en la viga y el mximo ngulo de convergencia tanto tienden a cero. Cuando h supera el valor dada por la ecuacin. (5-6), ninguna de las condiciones representadas en la figura. 5-9 se cambian, y el aumento en el tamao de la fuente meramente representa un desperdicio de energa. Cuando la forma de la fuente proyectada es una lnea muy fina, la geometra de los el haz vara entre dos extremos en dos mutuamente perpendiculares aviones. En un plano en ngulo recto con respecto a la fuente de lnea, la forma est dada por La figura. 5-8, y en un plano paralelo a la fuente de la fig. 5-9. Aparte de la componente que diverge en el plano de la fuente, el haz resultante tiene forma de cua. Puesto que la longitud de la lnea fuente en gran medida excede el valor dado por la ecuacin. (5-6), una gran fraccin de la radiografa la energa se pierde con esta disposicin de la fuente y el colimador. El alcance de la nonparallelism reales de haces de rayos X se puede ilustrar

tomando, como valores tpicos, d = 0,5 mm, U = 5 cm, y W = 3 cm. Entonces, la ecuacin. (5-4) da 2 = 1,15 y la ecuacin. (5-5) da un 0,36 =. Estos valores supuesto, se pueden reducir disminuyendo el tamao de los poros, para ejemplo, pero esta reduccin se obtiene a expensas de la disminucin energa en el haz y el tiempo de exposicin mayor. 6.5 Las formas de las manchas de Laue. Veremos ms adelante que las manchas de Laue convertirse en difuminada si el cristal reflectante est distorsionada. Aqu, sin embargo, estamos preocupados por las formas de las manchas obained__from perfecta y sin distorsiones cristales. Estas formas estn muy influenciadas por la naturaleza de la haz incidente, es decir, por su convergencia o divergencia, y es importante para darse cuenta de este hecho, o manchas de Laue de "inusual" forma puede ser errneamente tomado como evidencia de distorsin de cristal. Considere el caso de transmisin de primera, y asumen que el cristal es delgada y mayor que la seccin transversal de la viga principal en el punto de incidencia. Si este haz es principalmente divergente, que es el caso habitual en la prctica (Fig. 5-8 o 5-9), a continuacin, una accin de enfoque tiene lugar en la difraccin. Figura 5-10 es una seccin a travs del haz incidente y cualquier rayo difractado; la haz incidente, cuya seccin transversal en cualquier punto es circular, se muestra la emisin 5-5] LAS FORMAS DE SPOTS Laue 147 H La figura. 5-10. El enfoque de haz difractado en el mtodo de Laue transmisin. S T= fuente, C = cristal, F = punto focal. de una pequea fuente, real o virtual. Cada rayo del haz incidente que est en el plano del dibujo golpea los planos reticulares reflectantes del cristal en un ngulo de Bragg ligeramente diferente, este ngulo es mximo i

' A y disminuyendo progresivamente hacia B. Los rayos ms inferiores son por lo tanto se desvi a travs de un ngulo mayor 28 que las superiores, con la provocar que el haz difractado converge a un foco en F. Esto es cierto slo de los rayos en el plano del dibujo, los de un plano en ngulo recto continuar a divergir despus de difraccin, con el resultado de que la difractado haz es elptica en seccin transversal. La pelcula se cruza diferente difractada vigas a distancias diJerent del cristal, as manchas elpticas de diversos los tamaos se observ, tal como se muestra en la figura. 5-11. Esto no es un boceto de un Laue patrn sino una ilustracin del tamao de la mancha y la forma como una funcin de la mancha posicin en un cuadrante de la pelcula. Tenga en cuenta que las manchas son elpticas con sus ejes menores alineados en una direccin radial y que los puntos cerca de la centro y el borde del patrn son ms gruesas que las de posiciones intermedias, siendo este ltimo formado por vigas cerca de su punto focal. Spots teniendo las formas ilustradas son bastante comunes, y la fig. 3-6 (a) es una ejemplo. En la reflexin posterior, no se produce centrndose y un haz divergente incidente intinues a divergir en todas las direcciones ter difraccin. Back-reflexin manchas LE son por lo tanto ms o menos * Cerca del centro de la pa1 se vuelven cada vez ms alejar el borde, debido a la > Nce de los rayos en la R) los ejes de las elipses ltimamente radial. Figura flg. ^ _1L Forma de transmisin

. Al. Manchas de Laue como una funcin de la posicin. 148 FOTOGRAFAS Laue [cap. 5 PROBLEMAS 5-1. Un patrn Laue transmisin est hecho de un cristal de aluminio con 40-kv tungsteno radiacin. La pelcula es 5 cm del cristal. Qu tan cerca del centro del patrn puede Laue manchas estar formado por reflejando planos de separacin mxima, a saber, (111), y los de espaciamiento siguiente ms grande, a saber, (200)? 6-2. Un patrn Laue transmisin est hecho de un cristal de aluminio con un espcimena pelcula distancia de 5 cm. Los planos (111) del cristal crea un ngulo de 3 con el haz incidente. Qu voltaje mnimo del tubo se requiere para producir un 111 reflexin? 6-3. (A) Un patrn Laue back-reflexin est hecho de un cristal de aluminio en 50 kv. Los planos (111) forman un ngulo de 88 con el haz incidente. Qu rdenes de reflexin estn presentes en el haz difractado por estos planos? (Suponga que longitudes de onda mayores que? A son demasiado dbiles y demasiado fcilmente absorbida por el aire para registrar en la pelcula.) (6) Qu rdenes de la reflexin 111 estn presentes si la tensin del tubo se reduce ' ) 40 kv?

CAPTULO 6 FOTOGRAFAS EN POLVO

1.6 Introduccin. El mtodo de polvo de difraccin de rayos X fue ideado independientemente en 1916 por Debye y Scherrer en Alemania y en 1917 por Hull en los Estados Unidos. Es el ms til en general de todo mtodos de difraccin y, cuando se emplea correctamente, puede generar una gran cantidad de informacin estructural sobre el material bajo investigacin. Bsicamente,

Este mtodo implica la difraccin de rayos X monocromtica por una polvo de la muestra. En este sentido, "monocromtica" por lo general significa la K fuerte componente caracterstico de la radiacin en general de un tubo de rayos X operado por encima del potencial de excitacin K de la diana mate-] rial. "Powder" puede significar tanto un polvo real, fsica unidos con un aglutinante adecuado o cualquier espcimen en forma policristalina. La mtodo es por lo tanto muy adecuada para el trabajo metalrgico, ya que los cristales individuales no siempre estn disponibles para el metalrgico y de materiales tales como policristalino alambre, lmina, varilla, etc, pueden ser examinados no destructiva sin ningn tipo de preparacin especial. Hay tres mtodos principales que se utilizan en polvo, que se diferencian por el familiar posicin de la muestra y de la pelcula: (1) Debye-Scherrer mtodo. La pelcula se coloca sobre la superficie de un cilindro y la muestra sobre el eje del cilindro. (2) mtodo de enfoque. La pelcula, muestra, y la fuente de rayos X estn todos colocados en la superficie de un cilindro. (3) Pinhole mtodo. La pelcula es plana, perpendicular al rayo X incidente haz, y situado a cualquier distancia conveniente de la muestra. En todos estos mtodos, los haces difractados se encuentran en las superficies de los conos cuyos ejes se encuentran a lo largo del haz incidente o de su prolongacin; cada cono de rayos es difractada de un conjunto particular de planos reticulares. En el Debye-Scherrer y centrndose mtodos, slo una estrecha franja de pelcula se utiliza y se registr la patrn de difraccin consiste en lneas cortas formadas por las intersecciones de la conos de la radiacin con la pelcula. En el mtodo de agujero de alfiler, todo el cono interseca la pelcula para formar un anillo de difraccin circular. 6-2 Debye-Scherrer mtodo. Una tpica cmara de Debye se muestra en la La figura. 6-1. Consiste esencialmente en una cmara cilndrica con una prueba de luz

cubrir, un colimador para admitir y definir el haz incidente, un haz de detener a limitar y detener el haz transmitido, un medio para sujetar la pelcula firmemente contra la circunferencia interior de la cmara, y un espcimen titular que se pueden girar. 149 150 fotografas polvo [cap. 6 \ La figura. 6-1. Debye-Scherrer cmara, con placa de cubierta. (Cortesa de la North American Philips Company, Inc.) Cmara dimetros varan de aproximadamente 5 a aproximadamente 20 cm. Cuanto mayor es la dimetro, mayor ser la resolucin o la separacin de un par particular de lneas en la pelcula. En la espectroscopia, el poder de resolucin es el poder de distinguir entre dos componentes de radiacin que tienen longitudes de onda muy juntos y est dado por X / AX, donde AX es la diferencia entre las dos longitudes de onda y X es su valor medio, en el cristal estructura anlisis, podemos tomar el poder como la capacidad de resolver a la difraccin por separado lneas de conjuntos de planos de casi el mismo espaciamiento, o como el valor de d / M. * As, si S es la distancia medida en la pelcula a partir de una determinada difraccin de lnea hasta el punto donde el haz transmitido podra golpear la pelcula (Fig. 6-2), luego S = 2dr * Poder de resolucin se define a menudo por la cantidad de AX / X, que es el recproco de la dada anteriormente. Sin embargo, el poder de resolucin de dos longitudes de onda que son casi iguales es una cantidad que, lgicamente, debe aumentar a medida AX, la diferencia entre las dos longitudes de onda a ser separados, disminuye. Esta es la razn por la

definicin que figura en el texto. El mismo argumento se aplica a las distancias interplanares d. 6-2] Debye-Scherrer MTODO 151 y AS = A20 #, (6-1) donde R es el radio de la cmara. Dos juegos de planos de casi la misma separacin que dar lugar a dos haces difractados separadas por una A20 ngulo pequeo; para un valor dado de A20, Eq. (6-1) muestra que a medida, la separacin de las lneas en la pelcula, aumenta con R. El poder de resolucin se puede obtener mediante la diferenciacin de la ley de Bragg: * X = 2d pecado d0 -1 = Tan 0. , (6-2) dd d Sino _ DS 6~ 2R Por lo tanto dS 2R 1G ^ '^ "^' ^ ^ ry eome = '. un 0, el mtodo de Scherrer. Seccin a travs de d dd pelcula y un cono de difraccin. ^ d-2R El poder de resolucin tan == 0, (6-3, Arf COMO donde d es la separacin media de los dos juegos de planos, la diferencia de Ad sus separaciones, y como la separacin de dos lneas de difraccin que aparecen acaba de resolver sobre la pelcula. La ecuacin (6-3) muestra que el poder rcsolyjng aumenta con el tamao de la cmara; este aumento de la resolucin, se obtiene

sin embargo, a costa de tiempo de aumento de la exposicin, y las cmaras ms pequeas Normalmente se prefieren para todos, pero los patrones ms complicados. Una cmara dimetro de 5,73 cm se utiliza con frecuencia y se ha encontrado adecuado para la mayora del trabajo. Este dimetro particular,. Igual a 1/10 el nmero de grados de un radin, facilita el clculo, ya que 0, (en grados) se obtiene simplemente por la multiplicacin de S (en cm) por 10, a excepcin de algunas correcciones necesarias en precisa trabajar. La ecuacin (6-3) tambin muestra que el poder de resolucin de un dado la cmara se incrementa con 0, siendo directamente proporcional a tan 0. El tiempo de aumento de la exposicin requerido por un aumento en el dimetro de cmara se debe no slo a la disminucin de la intensidad <rf el rayo difractado con una mayor distancia de la muestra, sino tambin a la absorcin parcial tanto del incidente y haces difractados por el aire en la cmara. Para ejemplo, prob. 1-7 y las curvas de la figura. 6-3 muestran que, en una cmara de 19 cm de dimetro (aproximadamente el ms grande de uso comn), la disminucin de la intensidad debido a la absorcin del aire es de aproximadamente 20 por ciento de radiacin Cu Ka y alrededor del 52 por ciento de Cr radiacin Ka. Esta disminucin en la intensidad puede ser * Una minscula romana d se utiliza en este libro para los diferenciales con el fin de evitar la confusin con el smbolo d la distancia entre los planos atmicos. 152 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 evitarse mediante la evacuacin de la cmara o llenndolo con un gas ligero tal como hidrgeno o helio durante la exposicin. El correcto diseo del sistema de agujero de alfiler que colima el haz incidente es importante, especialmente cuando se difracta dbil vigas debe ser registrada. La

salir del agujero de alfiler dispersa los rayos X en todas las direcciones, y estos rayos dispersos, si al que se deja golpear la pelcula, seriamente puede aumentar la intensidad del fondo. Un "guardedpinhole" asamblea que prcticamente 5 10 15 20 CAMINO LARGO (cm) La figura. 6-3. La absorcin de Cu Ka y Cr radiacin Ka por aire. elimina este efecto se muestra en la figura. 6-4, donde el divergente y convergente rayos en el haz incidente se ignoran y slo el componente paralelo es mostrado. El tubo colimador se extiende una distancia considerable ms all de la salida del agujero de alfiler y se estrechan de manera que el extremo A est lo suficientemente cerca a la viga principal para confinar la radiacin dispersada por el orificio de salida a un rango angular muy estrecho y todava no lo suficientemente cerca para tocar el haz principal y ser en s misma una causa de la dispersin adicional. La parada del haz es generalmente una gruesa pieza de vidrio de plomo colocado detrs de una pantalla fluorescente, la combinacin permitiendo que el haz transmitido para ser visto con seguridad cuando ajustando la cmara en frente del tubo de rayos X. A la vuelta de la dispersin parada se reduce al mnimo mediante la extensin del tubo de rayo hacia atrs-stop y con mucha presin su extremo B. Otra razn para extender el colimador y parada haz de tubos lo ms cerca posible de la muestra es reducir al mnimo el medida en que la viga principal se dispersa por el aire, a medida que pasa a travs la cmara. Ambos tubos estn ahusados para interferir lo menos posible con haces difractados de ngulo bajo y alto ngulo.

Algunas cmaras emplear ranuras rectangulares en lugar de puntos de aguja para definir el haz, los bordes largos de las ranuras son paralelas al eje de la specifluorescent pantalla La figura. 6-4. Diseo de colimador y haz de parada (esquemtica). 6-3] PREPARACIN DE LAS MUESTRAS 153 hombres. El uso de hendiduras en lugar de orificios disminuye el tiempo de exposicin mediante el aumento el volumen irradiado de la muestra, pero requiere ms precisa posicionamiento de la cmara con respecto a la fuente y produce difraccin lneas que son ntidas slo a lo largo de la lnea media de la pelcula. 6.8 Preparacin de las muestras. Metales y aleaciones se pueden convertir en polvo por presentacin o, si son suficientemente frgil, por trituracin en un pequeo gata mortero. En cualquier caso, el polvo debe ser presentada o molido como fino como sea posible, preferiblemente a pasar un tamiz de malla 325-, con el fin de producir lneas suaves y continuas de difraccin. El polvo tamizado se suele recocido en vidrio evacuado o cpsulas de cuarzo con el fin de aliviar las tensiones debido a la presentacin o esmerilado. Precauciones especiales son necesarias en la seleccin de dos fases aleaciones. Si un pequea y representativa muestra se selecciona de un lingote para anlisis de rayos x, a continuacin, que muestra entera debe ser molido o presentada a pasar a travs de la pantalla. El mtodo comn de molienda hasta una cantidad suficiente para el x-ray espcimen ha pasado la pantalla, el gran tamao de ser rechazado, puede conducir a resultados muy errneos. Una fase de la aleacin es generalmente ms frgiles que los fase de la otra, y que ser ms fcilmente ser molido en partculas finas, y si la molienda y el cribado se interrumpe en cualquier punto, entonces el material restante en la pantalla contendr menos de la fase ms frgil que el muestra original, mientras que la medida inferior contendr ms, y no ser ni

representante. El final de la muestra para la cmara de Debye debe estar en la forma de una delgada varilla, 0,5 mm o menos de dimetro y una longitud de 1 cm. Hay varios maneras de preparar un espcimen, uno de los ms simples a ser la capa polvo en la superficie de una fibra de vidrio fina con una pequea cantidad de pegamento o vaselina. Otros mtodos consisten en el embalaje el polvo en una de paredes finas tubo hecho de una sustancia dbilmente absorbente, tal como celofn o litio borato de vidrio, o en la extrusin de una mezcla de polvo y aglutinante a travs de un pequeo agujero. Cables policristalinos se pueden usar directamente, pero ya que por lo general presentan una orientacin preferida, la difraccin resultante patrn debe ser interpretado con ese hecho en mente (cap. 9). Fuertemente absorcin de sustancias puede producir divididos bajo ngulo lneas (vase la Seccin 4-10.); si este efecto llega a ser molesto, puede ser eliminado mediante la dilucin de la sustancia en cuestin con alguna sustancia dbilmente absorbente, de modo que el coeficiente de absorcin de la muestra compuesta es baja. Tanto la harina y almidn de maz se han utilizado para este propsito. El diluyente elegido debe no produce ningn lneas de difraccin fuertes propios y demasiado de l no se debe utilizar, o las lneas de la sustancia que se examina se llegar a ser irregular. Despus de que la varilla de muestra se prepara, se monta en el soporte de modo que se encuentran exactamente a lo largo del eje de la cmara cuando el soporte de la muestra 154 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 se hace girar. (Rotacin de la muestra durante la exposicin es una prctica comn pero no es una parte intrnseca del mtodo de polvo; su nico propsito es producir continuos, ms que irregular, lneas de difraccin mediante el aumento de la nmero de partculas de polvo en la reflexin posiciones. |

04.06 Cine de carga. La Figura 6-5 ilustra tres mtodos de organizacin la tira de pelcula en el mtodo de Debye. Los pequeos bocetos de la derecha muestran la pelcula cargada en relacin con el haz incidente, mientras que las pelculas diseada plana se indican a la izquierda. En (a), un agujero es perforado en el centro de la pelcula de manera que la pelcula puede ser deslizado sobre el tope del haz; transmitida la haz lo tanto, deja a travs del agujero en la pelcula. El patrn es simtrico a cada lado, y el valor 6 de una reflexin particular se obtiene de medicin U, la distancia de separacin de dos lneas de difraccin formada por la mismo cono de radiacin, y usando la relacin 4BR = U. Pelcula fotogrfica siempre se encoge ligeramente durante el procesamiento y secado, y esta contraccin efectivamente cambia el radio de la cmara. La pelcula de encogimiento error puede ser permitido por el deslizamiento de los extremos de la pelcula debajo de metal cuchillos bordes que arrojan una sombra afilada cerca de cada extremo de la pelcula. En este manera, una distancia estndar se imprime en la pelcula que se encoger en la misma proporcin que la distancia entre un par dado de lneas de difraccin. Si la separacin angular 40 * de los bordes de cuchillo en la cmara es conocido, bien por medicin directa o mediante la calibracin con una sustancia de conocida parmetro de red, entonces el valor de reflexin para un particular puede ser obtenido por simple proporcin: 6U donde Reino Unido es la distancia de separacin de las sombras de borde de cuchillo en la pelcula. La figura 6-5 (b) ilustra un mtodo para cargar la pelcula, que es slo el reverso de la anterior. Aqu el haz incidente entra a travs de la agujero en la pelcula, y se obtiene de la relacin (27T - 4S) R ^ V.

Cuchillo bordes tambin se puede utilizar en este caso como una base para las correcciones encogimiento de la pelcula. El mtodo asimtrico, o Straumanis, de carga de la pelcula se muestra en la La figura. 6-5 (c). Dos agujeros se perforan en la pelcula de manera que pueda deslizarse tanto sobre el colimador de entrada y la parada del haz. Dado que es posible determinar a partir de mediciones en la pelcula en la que el haz incidente entr el crculo pelcula y donde el haz transmitido dejado, sin bordes de cuchillo estn obligados a hacer la correccin pelcula contraccin. El punto X (20 = 6-4] Carga de la pelcula 155 54 filo de la navaja sombra 2 1 12 45 26 12 3 4 5 5 4 (C) La figura. 6-5. Mtodos de carga de la pelcula en las cmaras de Debye, tienen los mismos nmeros en todas las pelculas. Lneas correspondientes 180), donde el haz incidente entr, est a medio camino entre la medida posiciones de las lneas 5,5, de manera similar, el punto Y (26 = 0), donde la transmisin izquierda del haz, est a medio camino entre las lneas 1,1. La diferencia entre las posiciones de X e Y indica W, y 6 se encuentra en proporcin: 29 _ 8 7 ~ W

Carga asimtrica proporciona as para la correccin de pelcula de contraccin sin necesidad de calibracin de la cmara o el conocimiento de cualquier dimensin cmara. Las formas de las lneas de difraccin en la fig. 6-5 Hay que sealar. El lowangle lneas estn fuertemente curvado porque estn formadas por los conos de radiacin que tienen un pequeo ngulo en el vrtice 48. Lo mismo es cierto de la alto ngulo lneas, aunque, naturalmente, se curvan en la direccin opuesta. Lneas 40 para los que es casi igual a 180 son prcticamente recto. Este cambio de forma de la lnea con el cambio en 6 tambin se puede observar en las fotografas en polvo se muestra en la figura. 3-13. 156 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 6.6 Cmaras para altas y bajas temperaturas. Investigaciones metalrgicas con frecuencia requieren que la estructura cristalina de una nica fase estable a temperatura alta por determinar. En muchos casos, esto se puede lograr enfriando la muestra a una velocidad suficientemente alta para suprimir la descomposicin de la fase de alta temperatura y luego examinar la espcimen en una cmara ordinaria a temperatura ambiente. En otros casos, la transformacin en las fases estables a temperatura ambiente no puede ser suprimida, y una cmara de alta temperatura es necesario para que el espcimen puede ser examinado en la temperatura a la que la fase en cuestin es estable. El diseo de las cmaras de alta temperatura de Debye vara desde casi un laboratorio a otro. Todos implican un horno pequeo, generalmente de la resistencia elctrica tipo, para calentar la muestra y un termopar para medir su temperatura. El problema de diseo principal es mantener la pelcula fresca sin demasiado grande un aumento en el dimetro de la cmara, lo que requiere refrigeracin por agua del cuerpo de la cmara y / o la colocacin cuidadosa de la radiacin

escudos entre el horno y la pelcula, escudos diseados de modo que se no interfiere con los difractados haces de rayos x. El horno que rodea la muestra tambin debe estar provista de una ranura de algn tipo para permitir el paso de la incidente y haces difractados. Si el espcimen es susceptible a la oxidacin a altas temperaturas, medios de evacuacin de la o cmara de llenado con un gas inerte debe ser proporcionado; alternativamente, la espcimen en polvo puede ser sellado en un tubo de pared delgada de slice. Debido a el pequeo tamao de la caldera en una cmara de alta temperatura, la temperatura gradientes en que suelen ser bastante empinada, y el cuidado especial debe ser tomado para asegurar que la temperatura registrada por el termopar es en realidad que de la propia muestra. Puesto que la intensidad de cualquier reflexin se reduce por un aumento de la temperatura, el tiempo de exposicin necesario para una alta temperatura patrn de difraccin es normalmente bastante largo. Cmaras de Debye tambin en ocasiones se requiere para trabajo a temperaturas por debajo de la temperatura ambiente. Refrigeracin de la muestra se logra generalmente ejecutando una fina corriente de refrigerante, tal como aire lquido, sobre el espcimen durante toda la exposicin de rayos x. El patrn de difraccin del lquido refrigerante tambin se registran pero se distingue fcilmente de la de un cristalino slido, debido a que el patrn tpico de un lquido contiene slo uno o dos muy difundir mximos en contraste con las lneas de difraccin agudas de un slido. Dispersin a partir de la voluntad lquido, sin embargo, aumentar el fondo ennegrecimiento de la fotografa. 6-6 cmaras de enfoque. Cmaras en el cual los rayos difractados originarios desde una regin extendida de la muestra, convergen a un punto de la pelcula se llaman centrndose cmaras. El diseo de todas estas cmaras se basa en el siguiente teorema geomtrico (Fig. 6-6): todos los ngulos inscritos en un 6-7] 8EEMANN BOHLIN-157 CMARA

La figura. 6-6. Geometra de las cmaras de enfoque. crculo y con base en los SF mismo arco son iguales entre s e iguales a la mitad del ngulo subtendido en el centro por el mismo arco. Supongamos que radiografas de proceder en las SA y SB direcciones encontrarse con un ejemplar polvo situado en el arco AB. Entonces los rayos difractados por los planos (hkl) en los puntos A y B se produce una desviacin a travs del mismo ngulo 26. Pero estos ngulos de desviacin 26 son cada uno igual a (180 a), lo que significa que el Los rayos difractados debe proceder a lo largo de AF y BF, y llegar a un enfoque en F en una pelcula colocada a lo largo de la circunferencia del crculo. 6-7 Seemann-Bohlin cmara. Este principio de enfoque se utiliza en la Seemann-Bohlin cmara que se muestra en la figura. 6-7. La rendija S acta como un virtual fuente de lnea de rayos X, la fuente real de ser el punto focal extendida en el blanco T del tubo de rayos x. Slo convergen los rayos de la diana puede entrar en esta ranura y, despus de pasarlo, divergen al AB muestra. (Alternativamente, si un tubo con una mancha focal de lnea fina est disponible, la rendija pueden ser eliminados y se acorta el tiempo de exposicin mediante el diseo de la cmara utilizar la mancha focal a s misma como una fuente de radiacin divergente.) para un determinado reflexin hkl, cada rayo difractado es entonces el mismo ngulo 26, con el resultado de que todos los rayos difractados de diversas partes de la muestra convergen a un foco en F. Como en cualquier mtodo de polvo, el difractada vigas se encuentran en las superficies de los conos cuyos ejes son coincidentes con el incidente viga, en este caso, un nmero de haces incidentes contribuyen a cada uno reflexin y una lnea de difraccin est formada por la interseccin de un nmero de conos con la pelcula. Como en el mtodo de Debye-Scherrer, una difraccin lnea est curvado en general, la cantidad de curvatura en funcin del par158 PHOTOGEAPHS POLVO La

[CAP. 6 B N pelcula La figura. 6-7. Seemann-Bohlin centrndose cmara. Slo una reflexin hkl se muestra. valor particular de 6 involucrados. La figura 0-8 muestra un patrn de polvo tpico hecha con esta cmara. Los extremos de la tira de la pelcula estn cubiertos por los bordes de cuchillo M y N, que sombras de referencia en la pelcula. El valor de 6 para cualquier lnea de difraccin se pueden encontrar a partir de la distancia U, medido en la pelcula, desde la lnea de la sombra de la de bajo ngulo de filo de cuchilla N, mediante el uso de la relacin 46R * rcSABN. (6-4) En la prctica, se encuentra por calibracin de la cmara con una sustancia patrn de celosa conocido parmetro, tal como NaCl, en lugar de por el uso de la ecuacin. (6-4). Varios patrones se preparan de la misma norma con radiaciones de longitud de onda diferente, con el fin de obtener lneas de difraccin a un gran nmero de 26 posiciones. Posiciones de lnea se mide en cada pelcula, as como la longitud total de la pelcula entre las sombras de borde de cuchillo M y N. Debido a encogimiento de la pelcula variable, estas pelculas tendrn generalmente longitudes desiguales. La longitud de uno se toma como un estndar, y la multiplicacin de una factor se encontraron para cada una de las otras pelculas que harn que su longitud igual a la longitud estndar. Este factor se aplica a continuacin el valor U de cada lnea de difraccin. Los valores corregidos de U se trazan contra calculado valores de 6 para obtener una curva de calibracin de la cmara. La figura. 6-8. Patrn de polvo de tungsteno, realizado en una cmara de Seemann-Bohlin, 8,4 cm de dimetro. Esta cmara cubre un rango de 28 92 a 166. De alto ngulo final de pelcula de la izquierda. Filtrado de radiacin de cobre. (Cortesa de John T. Norton.)

6-7] SEEMANN BOHLIN-159 CMARA Un procedimiento similar es seguido cuando un "desconocido" espcimen es siendo examinada. Un factor de correccin se encontr que convertir la medida largometraje de lo desconocido a la longitud estndar. Este factor es luego se aplican a cada valor medido U antes de encontrar el correspondiente valor de la curva de calibracin. Si se desea una mayor precisin de este mtodo grfico puede dar, la datos de calibracin pueden ser manejados analticamente. La ecuacin (6-4) se escribe en la forma U = K1 + K2, donde KI y K2 son constantes. Los valores de estas constantes son luego determin por el mtodo de los mnimos cuadrados (vase la Seccin. 11-6). Una vez que el constantes se conocen, esta ecuacin se puede usar para calcular 0, o una mesa correspondientes valores de U y puede ser construido. Al diferenciar la ecuacin. (0-4), se obtiene dU dd = 4R Esta relacin se puede combinar con la ec. ((5-2) para dar dU 4R = Tan 6. dd d d 4R El poder de resolucin = M = AU tan 6. (6-5) El poder de resolucin, o la capacidad para separar las lneas de difraccin de los planos de casi la misma separacin, por lo tanto, es dos veces la de una de Debye-Scherrer cmara del mismo radio. Adems, el tiempo de exposicin es mucho ms corto,

por el hecho de que una muestra mucho ms grande se utiliza (el arco AB de La figura. 6-7 es del orden de 1 cm) y los rayos difractados de un considerable volumen de material son trados a un foco. El Seemann-Bohlin cmara es, por lo tanto, muy til en el estudio de los patrones de difraccin de complejas, si se deben a una sola fase o de una mezcla de fases tales como ocurrir en los sistemas de aleacin. Para el trabajo metalrgico, esta cmara tiene la ventaja adicional de que una espcimen policristalino masiva puede ser utilizado tambin como un polvo. Para ejemplo, un espcimen metalogrfico, montado en el usual 1-en. dimetro baquelita de montaje para el examen microscpico, se puede fijar a la circunferencia de la cmara y utilizado directamente. Cuando una muestra plana colocada tangencialmente al crculo cmara est sustituido por un espcimen curvada, la accin de enfoque de la cmara se reduce ligeramente pero no objetablemente as, mientras que la ventaja de ser capaces de examinar la misma zona de la muestra tanto con el microscopio y con los rayos X es obvio. Es 160 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 Cabe destacar tambin que ambos mtodos de examen, la ptica y la x-ray, proporcionan informacin nicamente sobre la capa de superficie de la muestra, ya que el mtodo de rayos X aqu en cuestin es de la reflexin, y no la transmisin, tipo. Una muestra de polvo tambin se pueden usar en esta cmara mediante la fijacin de una delgada capa del polvo a una hoja de papel con pegamento o jalea de petrleo. La papel se curva y mantiene contra la circunferencia de la cmara por una conexin que se suministra con la cmara. Si la muestra est en la masivo o forma de polvo, ms suaves lneas de difraccin se puede conseguir por oscilando la muestra sobre el eje de la cmara. En el lado negativo, la cmara Seemann-Bohlin tiene la desventaja de que

las reflexiones registradas en la pelcula de cubrir slo una gama limitada de 26 valores, particularmente en el lado de ngulo bajo, por esta razn, es mejor hacer una estudio preliminar de todo el patrn con una cmara de Debye, reservando el enfoque de la cmara para un estudio ms detallado de ciertas porciones. Algunos investigadores utilizar un conjunto de tres cmaras Seemann-Bohlin, diseado para cubrir prcticamente toda la gama de valores de 26 en la superposicin de intervalos angulares. Lneas de difraccin formado en una cmara de Seemann-Bohlin son normalmente ms amplios que los de un modelo de Debye-Scherrer. La lnea de actividades es, en un sentido, una imagen de la ranura, y la disminucin de la abertura de la hendidura disminuir la anchura de lnea, pero aumentan el tiempo de exposicin. El ancho de lnea aumenta como 26 se hace ms pequeo, ya que a bajas 26 valores de los rayos difractados golpear la pelcula en un ngulo muy bajo. Este efecto se ve agravado por el doubleemulsion pelcula se utiliza normalmente para difraccin de rayos x. En casos especiales, puede pagar para usar una sola emulsin de la pelcula en el costo del tiempo de exposicin aumenta. 6-8 Back-reflexin se centra cmaras. La medicin ms precisa de parmetro de red se realiza en la regin de la espalda-reflexin, como se discute en mayor detalle en el Cap. 11. La cmara ms adecuada para tales mediciones es la simtrica back-reflexin enfoque de la cmara se ilustra en la La figura. 6-9. Se emplea el mismo principio como la cmara enfocando Seemann-Bohlin, pero la pelcula extiende a ambos lados de la hendidura y la muestra se coloca diametralmente enfrente de la hendidura. Los medios son prestados normalmente por la lenta oscilacin espcimen a travs de unos pocos grados sobre el eje de la cmara a fin de producir suaves lneas de difraccin. Una pelcula tpica, perforado en el centro para permitir el paso del haz incidente, se muestra en la figura. 6-10. El valor de 6 para cualquier lnea de difraccin puede ser calculada a partir de la relacin (4T - 86) R = V, (6-6)

donde V es la distancia en la pelcula entre las lneas de difraccin correspondientes a cada lado de la rendija de entrada. 6-8] REFLEXIN DE REGRESO CMARAS DE ENFOQUE 161 pelcula La figura. 6-9. Symmetrical back-reflexin cmara de enfoque. Slo una reflexin hkl es mostrado. La diferenciacin de la ecuacin. (6-6) da - 4R'f \ t2 / A0 (6-7) donde A (F / 2) es la separacin en la pelcula de dos reflexiones diferentes en ngulo de Bragg por A0. Combinacin de esta ecuacin con la ecuacin. (6-2) muestra que d 4R El poder de resolucin == tan 6. M A (F / 2) El poder de resolucin de esta cmara es por lo tanto el mismo que el de un Seemann-Bohlin cmara del mismo dimetro. En el modelo que se muestra en la figura. 6-10, dos pares de lneas muy juntas pueden verse, las lneas 1 y 2 y las lneas 4 y 5. Cada par est formado por un doblete 321 i 654321 La figura. 6-10. Fotografa polvo de tungsteno hecha en un simtrico back-reflexin centrndose cmara, 4,00 mm de dimetro. Radiacin de cobre sin filtrar. 162 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 reflejo de un conjunto de planos de los dos componentes, Ka y Ka \ ^ que constituyen la radiacin Ka. Estas lneas de los componentes se encuentran comnmente a resolver, o separados, en la regin de la espalda-reflexin. (Las lneas pies en esta fotografa no se resuelven desde K / 3 radiacin consiste slo de un

longitud de onda nica.) Para determinar las condiciones bajo las cuales una determinada cmara puede separar dos componentes de radiacin que tienen casi el misma longitud de onda, debemos usar la definicin espectroscpico de resolver poder, es decir, X / AX, donde AX es la diferencia entre las dos longitudes de onda y X es su valor medio. Para radiacin Cu Ka, estas longitudes de onda son: \ (CuKa2) = 1.54433A X (Cu # a!) = 1,54051 A AX = 0.00382A Por lo tanto X 1,542 == 404. AX 0,00382 El poder de resolucin de la cmara debe superar este valor, para el particular reflexin considerado, si las lneas de los componentes deben ser separados en la pelcula. Al diferenciar la ley de Bragg, se obtiene X = 2d sen 0, d <9 1 tan tan pecado 2d 2d cos dX S X bronceado S AX A0 La sustitucin de la ecuacin. (0-7) da (6-8) X 4J? Tan0 El poder de resolucin == (6-9) AX A (7/2) El signo negativo aqu puede pasar por alto, sino que simplemente significa que un aumento

en X provoca una disminucin de F / 2, ya que este ltimo se mide desde el centro de la pelcula. La ecuacin (6-9) demuestra que el poder de resolucin aumenta con el radio de la cmara y con 6, llegando a ser muy grande cerca de 90. Este ltimo punto es claramente evidente en la figura. 6-10, que muestra una mayor separacin de los de mayor ngulo de 400 reflexiones en comparacin con los 321 reflejos. Mediante el uso de la ec. (6-9), se puede calcular el poder de resolucin, para el 321 reflexiones, de la cmara utilizada para obtener la figura. 6-10. El radio de la cmara est 6-9] FOTOGRAFAS Pinhole 163 2,00 pulgadas, y la media de 6 valor de estas reflexiones es aproximadamente 65,7. La ancho de lnea a la mitad de la intensidad mxima es de aproximadamente 0,04 cm. El de dos componentes lneas del doblete se resuelve claramente en la pelcula si su separacin es el doble de su anchura. Por lo tanto 0 - 2 (0,04) = 0,08 cm, X AX (4) (2,00) (2,54) (05,7 bronceado) (0.08) = 5 (8. Puesto que este valor excede el poder de resolucin de 404, que se encuentra arriba para ser necesaria para la resolucin del doblete Cu Ka, esperaramos que este doblete a ser resuelto por la reflexin 321, y tal se ve que es el caso en La figura. (> -10. En algn ngulo menor, esto no sera verdad y los dos componentes se fusionaran en una sola lnea, sin resolver. El hecho de que la resolucin del doblete Ka normalmente se produce slo en la regin de la espalda-reflexin puede verse en las fotografas reproducidas en la figura Debye. 3-13. 6-9 fotografas estenopeicas. Cuando la radiacin monocromtica se utiliza para

examinar un espcimen policristalino en una cmara Latie, el resultado se llama, sin ninguna razn en particular bueno, una fotografa estenopeica. Una transmisin o una cmara trasera de reflexin puede ser utilizado. Una transmisin tpica fotografa, de chapa de aluminio de grano fino, se muestra en la figura. 6-11. El mtodo de agujero de alfiler tiene la ventaja que todo un anillo de Debye, y no slo una parte de l, se registra en la pelcula. Por otro lado, la rango de 6 valores que se registran es ms bien limitado: o de bajo ngulo o de alto ngulo reflexiones se pueden obtener, pero no los de la mediana La figura. 6-11. Transmisin del agujero de alfiler fotografa de una hoja de aluminio espcimen. Filtrado de radiacin de cobre. (La banda difusa circular cerca de la centro est causado por la radiacin blanca. La no uniforme ennegrecimiento de la Anillos de Debye es debido a la orientacin preferida en la muestra, vase el cap. 9.) La figura. 6-12. Relaciones angulares en el mtodo del agujero de alfiler. 164 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 rango de 6 (vase la fig. 6-12). En el mtodo de transmisin, el valor de por una reflexin particular se encuentra en la relacin U bronceado 21? =. (6-10)

2D donde U = dimetro del anillo "Debye y D = distancia muestra a pelcula. La relacin correspondiente para el mtodo de respaldo reflexin es tan (* - 28) => (6-11) donde V = dimetro del anillo de Debye. La distancia D es por lo general de la orden de 3 a 5 cm. Muestras en polvo se pueden preparar simplemente mediante la difusin de un poco de la polvo mezclado con un aglutinante sobre un portaobjetos de vidrio o una pequea pieza de papel. Sin embargo, la mayor utilidad del mtodo de agujero de alfiler en el trabajo metalrgico radica en el hecho de que las muestras masivas, policristalino puede ser utilizado. En reflexin posterior, montado muestras metalogrficas se pueden examinar directamente, mientras que el mtodo de transmisin es, por supuesto, restringida a cable y especmenes de hoja que no son demasiado altamente absorbente. Hay un espesor de muestra ptimo para el mtodo de transmisin, porque los haces difractados ser muy dbil o ausente por completo si el espcimen es demasiado delgada (volumen insuficiente de difraccin de materiales) o demasiado grueso (absorcin excesiva). Como se muestra en la Sec. 9-9, el espcimen espesor que produce la intensidad difractada mximo viene dado por I / M, donde M es el coeficiente de absorcin lineal de la muestra. Inspeccin de la ecuacin. (1-10) muestra que esta condicin tambin puede ser declarado como sigue: un espcimen de transmisin es de espesor ptimo cuando la intensidad del haz transmitido a travs de la muestra es 1 / c, o aproximadamente, de la intensidad del haz incidente. Normalmente, este espesor ptimo es del orden de unas pocas milsimas de una pulgada. Hay una forma, sin embargo, en el que un patrn de transmisin parcial se pueden obtener de un grosor espcimen y que es por difraccin desde un borde (Fig. 6-13). Slo el media superior del patrn se registra en la pelcula, pero eso es todo lo que es

necesario en muchas aplicaciones. La misma tcnica tambin se ha utilizado en algunas cmaras de Debye-Scherrer. El mtodo del agujero de alfiler se utiliza en los estudios de orientacin preferida, el grano tamao y perfeccin cristalina. Con una cmara de visin posterior reflexin, bastante precisa mediciones de parmetros puede ser hecha por este mtodo. El conocimiento preciso de la distancia muestra-pelcula D no es necesario, siempre que la adecuada extrapolacin se utiliza la ecuacin (cap. 1 1) o la cmara de calibrado. La calibracin se realiza generalmente por cada exposicin, simplemente untando una delgada capa de polvo de calibracin sobre la superficie de la muestra; en As, las lneas de referencia de 8 conocida valor se forman en cada pelcula. 6-10] ELECCIN DE RADIACIN 165 espcimen (A) pelcula (B) La figura. 6-13. Mtodo de transmisin ojo de aguja para muestras gruesas: (a) a travs de la seccin haz incidente; (b) patrn parcial obtenida. Cuando el mtodo de agujero de alfiler se utiliza para las mediciones de parmetros, la pelcula o la muestra, o ambos, se mueve durante la exposicin para producir liso, lneas continuas de difraccin. Al girar u oscilar la pelcula sobre la eje del haz incidente, las reflexiones de cada partcula que refleja o cereales se ha manchado a lo largo del anillo de Debye. La propia muestra puede ser girar alrededor del eje del haz incidente o sobre cualquier eje paralelo al haz incidente, o traducido a otro en cualquier direccin en un plano paralela a la superficie de la muestra. Tales movimientos aumentar el nmero de granos en posiciones que reflejan y permitir que una mayor proporcin del total espcimen superficie para tomar parte en la difraccin, lo que garantiza que la informacin

grabada en la pelcula es representativa de la superficie en su conjunto. Cualquier cmara en la que se puede mover el espcimen de manera que durante la exposicin las del haz incidente atraviesa una gran parte de su superficie se denomina un integrador cmara. 6-10 Eleccin de radiacin. Con cualquiera de los mtodos descritos en polvo anteriormente, el investigador debe elegir la radiacin ms adecuada para el problema a mano. Al tomar esta decisin, las dos consideraciones ms importantes son: (1) La longitud de onda caracterstica utilizada no debe ser ms corto que el Borde K absorcin de la muestra, o la radiacin fluorescente producida mal se empaa la pelcula. En el caso de aleaciones o compuestos, puede ser difciles o imposibles de satisfacer esta condicin para cada elemento en la espcimen. (2) La ley de Bragg muestra que cuanto ms corta la longitud de onda, la ms pequea el ngulo de Bragg para los aviones de una separacin dada. La disminucin de la longitud de onda Por lo tanto, cambiar todas las lneas de difraccin a ngulos ms bajos de Bragg y aumentar el nmero total de lneas en la pelcula, mientras que el aumento de la longitud de onda ser tener el efecto opuesto. La eleccin de un corto o largo una longitud de onda depende en el problema particular implicado. 166 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 Las radiaciones caractersticas habitualmente empleados en difraccin de rayos X estn el siguiente: Moka: 0.711A CuKa: 1,542 Coka: 1.790 Yeka: 1,937 CrKa: 2,291

En cada caso, el filtro adecuado se utiliza para suprimir la K / 3 componente de la radiacin. Con todo, la radiacin Cu Ka es en general el ms til. No se puede emplear con materiales ferrosos, sin embargo, puesto que esto hara radiacin fluorescente del hierro en la muestra, en su lugar, Co Ka, Fe Ka o Cr radiacin Ka se debe utilizar. Precisas de los parmetros de celosa mediciones requieren que haya un nmero de lneas en la regin de la espalda-reflexin, mientras que algunos especmenes pueden producir slo uno o dos. Esta dificultad puede evitarse mediante el uso de la radiacin no filtrada, con el fin de tener Kfi as como lneas Ka presentes, y mediante el uso de una aleacin objetivo. Por ejemplo, si un 50 por ciento atmico de Fe-Co aleacin se utiliza como un objetivo, y no se utiliza el filtro en el haz de rayos X, la radiacin contendr el Fe Ka, K0 Fe, Ka Co, Co y longitudes de onda K / 3, ya que cada elemento se emiten su radiacin caracterstica de forma independiente. Por supuesto, los objetivos especiales slo se puede utilizar con desmontables tubos de rayos X. Antecedentes de radiacin. Una fotografa buen polvo tiene agudo intenso lneas superpuesta sobre un fondo de intensidad mnima. Sin embargo, las lneas de difraccin mismos varan en intensidad, debido a la estructura del cristal mismo, y una intensidad de fondo apreciable puede existe, debido a una serie de causas. Los dos efectos pueden causar la ms dbil de difraccin de lnea a ser casi invisible en relacin con el fondo. Esta intensidad de fondo se debe a las siguientes causas: (1) la radiacin fluorescente emitida por la muestra. No puede ser demasiado hincapi en que la longitud de onda caracterstica utilizada debe ser ms largo que el borde de absorcin K de la muestra, a fin de evitar la emisin de la radiacin fluorescente. La radiacin incidente elegidos de tal forma, sin embargo, no se eliminan completamente de fluorescencia, ya que la longitud de onda corta componentes del espectro continuo tambin excitar la radiacin K en la

espcimen. Por ejemplo, supongamos que un espcimen de cobre est siendo examinado con radiacin CuKa longitud de onda de 1.542A de un tubo de funcionar a 30 kv. Bajo estas condiciones el lmite de longitud de onda corta es 0.413A. La Borde K de absorcin del cobre es a 1.380A. El componente de la Ka radiacin incidente no causar fluorescencia, pero todas longitudes de onda entre 0.413 y 1.380A voluntad. Si un filtro de nquel se utiliza para suprimir la K / 3 componente del haz incidente, tambin tendr el efecto deseable de reducir 6-11] la radiacin de fondo 167 la intensidad de algunas de las longitudes de onda corta que causan fluorescencia, pero no ser, por supuesto, de eliminarlos completamente, en particular en la longitud de onda regin cerca de 0,6 A, donde la intensidad del espectro continuo es alta y el coeficiente de absorcin de nquel ms bien bajo. A veces es posible filtrar parte de la radiacin fluorescente desde el espcimen colocando el filtro adecuado de la pelcula. Por ejemplo, si una muestra de acero se examina con radiacin de cobre, que no es generalmente conveniente, la situacin puede mejorarse cubriendo la pelcula con aluminio frustrar, ya que el aluminio tiene una mayor absorcin de la fluorescencia Fe radiacin KOL contribuir al fondo que para la radiacin de Cu Ka formacin de las lneas de difraccin. De hecho, el siguiente es un buen general regla a seguir: si no es posible utilizar una longitud de onda ms larga que la K borde de absorcin de la muestra, elija uno que es considerablemente ms corto y cubrir la pelcula con un filtro. A veces el mismo aire proporcionar filtracin suficiente. As patrones excelentes de aluminio se puede conseguir con radiacin CuKa, aunque esta longitud de onda (1.54A) es mucho ms corto que el borde de absorcin K de aluminio (6.74A), simplemente porque la radiacin Ka Al excitado tiene una longitud de onda larga (8.34A) que es absorbe casi completamente en unos pocos centmetros de aire.

(2) Difraccin de espectro continuo. Cada cristal en un polvo espcimen forma un patrn de Laue dbil, a causa de la radiacin continua componente del haz incidente. Esto es cierto, por supuesto si es o no que cristal en particular se encuentra en la posicin correcta para reflejar las caractersticas componente en el anillo de Debye. Muchos cristales en la muestra son por lo tanto contribuir nicamente al fondo de la fotografa y para no el anillo de difraccin, y la totalidad de los patrones de Laue de todo el cristales es una distribucin continua de la radiacin de fondo. Si el incidente la radiacin se ha elegido para que muy poca radiacin fluorescente emitida, entonces difraccin del espectro continuo es la ms grande la causa de la alta intensidad de fondo en las fotografas de polvo. (3) la dispersin difusa de la propia muestra. (A) incoherentes (Compton modificado) dispersin. Este tipo de dispersin se vuelve ms intenso a medida que el nmero atmico del espcimen disminuye. (6) la dispersin coherente. (I) Temperatura difuso dispersin. Esta forma es ms intenso con materiales blandos de bajo punto de fusin. (Ii) difusa debido a diversos tipos de imperfeccin en la dispersin los cristales. Cualquier tipo de aleatoriedad o la tensin har que tales dispersin. (4) de difraccin y la dispersin de otro que el material de muestra. (A) Parada de colimador y la viga. Este tipo de dispersin puede minimizarse por el diseo correcto de la cmara, como se discute en la seccin. 6-2. 168 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 (B) Muestra aglutinante, soporte o gabinete. El pegamento u otro adhesivo utilizado para compactar la muestra en polvo, la fibra de vidrio a

el cual el polvo se adjunta, o el tubo de vidrio o cuarzo fundido en que est encerrado todo contribuye al fondo de la fotografa, ya que stos son todas las sustancias amorfas. La cantidad de estos materiales deben mantenerse a un mnimo absoluto. (C) Air. Dispersin difusa del aire puede ser evitado mediante la evacuacin la cmara de llenado o con un gas ligero tal como hidrgeno o helio. 6-12 de cristal monocromador. La forma ms pura de la radiacin para utilizar en un experimento de difraccin es la radiacin que ha sido difractada, desde es totalmente monocromtica. * Si un cristal nico se establece para reflejar la fuerte Ka componente de la radiacin en general de un tubo de rayos X y esto se refleja viga se utiliza como el haz incidente en una cmara de difraccin, a continuacin, las causas de radiacin de fondo aparece en (1) y (2) anteriores puede ser eliminado completamente. Dado que las otras causas de la dispersin de fondo son menos graves, la el uso de cristal-monocromado radiacin produce fotografas de difraccin de una claridad excepcional. Hay dos tipos de monocromadores en uso, dependiendo de si el cristal reflectante es sin doblar o doblado y corte. Un cristal no curvado no es un reflector muy eficiente, como se puede ver a partir de La figura. 6-14. El haz de luz de un tubo de rayos X no se compone solamente de paralelo rayos, incluso cuando se define por una hendidura o colimador, pero contiene una gran proporcin de la radiacin convergente y divergente. Cuando el cristal est configurado en el correcto ngulo de Bragg para el componente paralelo del haz incidente, que puede reflejar solamente ese componente y ninguno de los otros rayos, con la * Esta afirmacin requiere alguna matizacin. Cuando un cristal monocromador est ajustado para difractar la radiacin de longitud de onda X de un conjunto particular de aviones, a continuacin, estos mismos planos tambin una difraccin de radiacin de longitud de onda A / 2 y A / 3 en la

segundo y tercer orden, respectivamente, y en exactamente el mismo ngulo 26. Estos componentes de longitud de onda son submltiplo de intensidad relativamente baja cuando la componente principal es la radiacin caracterstica Ka, pero, aun as, su presencia es indeseable cuando clculos precisos de la intensidad difractada por el espcimen se debe hacer. Los componentes submltiplo puede ser eliminada de la viga desde el monocromador mediante la reduccin de la tensin del tubo al punto donde estos longitudes de onda no se producen. Si el componente principal es la radiacin Cu Ka, este procedimiento es generalmente impracticable debido a la disminucin de la intensidad en operadora una reduccin de la tensin del tubo a 16 kv (necesario para eliminar los componentes A / 2 y A 3 /). Por lo general, un compromiso se hace por funciona a una tensin insuficiente slo para generar el componente A / 3 (24 kv para radiacin de cobre) y mediante el uso de un cristal que tiene, para un cierto conjunto de planos, que refleja una potencia insignificante para la A / 2 componente. Fluorita (CaF2) es un cristal, el factor de estructura para el 222 reflexin ser mucho menor que para la 111. Los cristales de diamante cbicos, de silicio y germanio, son an mejores, ya que sus factores de estructura para la reflexin 222 son realmente cero. 6-12] CRYSTAL monocromadores 169 La figura. 6-14. Monocromtico reflexin cuando el haz incidente es no paralela. provocar que el haz reflejado es de muy baja intensidad, a pesar de que es en s misma perfectamente paralelos, al menos en el plano del dibujo. En un plano de la derecha ngulos, el haz reflejado puede contener tanto convergente y divergente radiacin.

Un gran ganancia en la intensidad puede ser obtenido mediante el uso de un doblado y cristal tallado, que opera en el enfoque principio ilustrado en la fig. 6-15. La lnea fuente de rayos X, la lnea focal del objetivo tubo, est situado en S perpendicular al plano del dibujo. El cristal AB es en la forma de un placa rectangular y tiene un conjunto de planos paralelos que refleja a su superficie. Se elsticamente doblado en una forma circular de manera que el radio de curvatura de el plano que pasa por C es 2R = CM, de esta manera, todos los planos son normales hizo pasar a travs de M, que se encuentra en el mismo crculo, radio de J?, como la fuente S. Si la cara del cristal se corta entonces lejos detrs de la lnea de puntos a un radio de 72, entonces todos los rayos divergentes desde la fuente S se encontrar los planos de la red en el mismo ngulo de Bragg, dado que los ngulos SDM, SCM, y SEM son todos iguales entre s, siendo inscrito en la SM mismo arco, y tiene el valor (IR / 2 8). Cuando el ngulo de Bragg se ajusta al requerido para la reflexin de la Ka componente del haz incidente, a continuacin, un fuerte haz monocromtico enfoque crculo La figura. 6-15. Monocromador de enfoque (reflexin). 170 fotografas polvo [cap. 6 ser reflejada por el cristal. Adems, puesto que los rayos difractados todo originan en un crculo que pasa a travs de la fuente S, que converge a un centrarse en F, situada en el mismo crculo como S y a la misma distancia desde C, en mucho la misma manera que en las cmaras de enfoque previamente discutidos. En la prctica, el cristal no est doblada y luego se corta como se ha descrito anteriormente, pero el cristal sin doblar, generalmente de cuarzo, se corta primero a un radio de 2R y luego

doblada contra una forma circular de radio R. Este procedimiento producir el resultado neto mismo. El valor de 6 requerido para la difraccin de un determinado X de longitud de onda de planos de espaciamiento d est dada por la ley de Bragg: X = 2rfsin0. (0-12) La fuente-a-8C cristal distancia, que es igual que el cristal de enfocar distancia CF, est dada por SC = cos 2FL (- 0V (0-13) Mediante la combinacin de las ecuaciones. (6-12) y (0-13), se obtiene SC = R - (0-M) d Para la reflexin de la radiacin Cu Ka de los planos (10-1) de cuarzos, los SC distancia es de 14,2 cm para un valor de K de 30 em. El valor principal de la monocromador centrndose radica en el hecho de que todos los rayos monocromticos en el haz incidente y difractado se utilizan el los rayos de un rea considerable de la superficie del cristal estn llevado a un enfocar. Esto conduce a una gran concentracin de energa y una considerable reduccin del tiempo de exposicin en comparacin con el monocromador de cristal sin doblar primero descrito. Sin embargo, esta ltima no produce un haz de semiparallel radiacin, y, a pesar de que es de muy baja intensidad, tal haz se requiere en algunos experimentos. Si el cristal monocromtico se dobla pero no se cort, algo de concentracin de energa se logra en la medida P, S el haz reflejado ser convergente, pero no converger a un enfoque perfecto. El monocromador enfoque se utiliza mejor con las cmaras de polvo especialmente hizo para tomar ventaja de la propiedad particular del haz reflejado,

a saber, su accin se centra. Figura 0-10 (a) muestra la mejor disposicin. Una cmara cilndrica se utiliza con el espcimen y la pelcula dispuesta en la superficie del cilindro. De bajo ngulo reflexiones estn registrados en la cmara colocado en la posicin C, en cuyo caso la muestra D debe ser lo suficientemente delgada para ser examinado en la transmisin. De alto ngulo reflexiones se obtienen la reflexin posterior con la cmara en la posicin C ", que se muestra con puntos, y el espcimen en D1 . En este ltimo caso, la geometra de la cmara es exactamente similar a la de la cmara Seemann-Bohlin, el punto focal F de la 6-12] CRYSTAL monocromadores 171 (H) "/" La figura. 6-16. Cmaras utilizados con monocromadores enfoque (a) se centran cmaras; (B) Debye-Scherrer y las cmaras de pelcula plana Slo un haz difractado se muestra en la cada caso. (Despus de A. (Juinier, tecnologa de rayos X cristalogrfica, Hilger y Watts, Ltd., Londres, 1952) monocromtica haz que acta como una fuente virtual de radiacin divergente. En cualquier caso, los rayos difractados de la muestra se centr en la pelcula para todas las reflexiones hkl, el nico requisito es que la pelcula se encuentra en un crculo que pasa a travs de la muestra y el punto F. Una cmara de Debye-Scherrer o plana de pelcula tambin se puede usar con un centrndose monocromador, si el colimador de haz incidente se retira. Figura Junio 6 a 1 (b) muestra una disposicin tal, donde D es la muestra, E es un Debye cmara, y "El PP es la posicin en la que puede ser una pelcula plana colocada. En ningn caso, sin embargo, es el requisito anteriormente mencionado se centra satisfecho, con el resultado de que no ms de un haz difractado, correspondiente a una reflexin hkl particular, se puede centrar en la pelcula en el mismo tiempo.

Un cristal doblado tambin se puede usar en la transmisin como un monocromador de enfoque. Debe ser lo suficientemente delgada como para transmitir una gran fraccin de la rido radiacin incidente tiene un conjunto de planos reflectantes en ngulo recto a su superficie; mica se utiliza a menudo. En la fig. 6-17, la lnea representa la ACB cristal, se inclin a un radio de 2/2, su centro de curvatura situado en M. Tres de sus planos transversales que reflejan se muestran. Si la radiacin convergente a A 'fueron incidente en estos planos, y se refleja en los puntos de / /, C, y / (, la radiacin reflejada converger hacia un foco perfecto en F, todos los puntos mencionados estar en un crculo centrado de radio r centrado en 0. Pero los planos reflectantes en realidad no se extienden fuera de la superficie del cristal en la forma mostrada en el dibujo y la reflexin debe producirse en los puntos 172 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 enfoque crculo La figura. 6-17. Centrndose monoohromator (tipo de transmisin). D, C y K. En estas condiciones, los rayos reflejados desde todas las partes de el cristal no convergen en un foco perfecto en F. Sin embargo, hay concentracin suficiente de energa difractada en una regin muy estrecha cerca F para hacer de este dispositivo un monocromador muy eficiente y til. La cristal a distancia de enfoque CF est dada por CF = 2R cos 0. (0-15) Combinacin de esta ecuacin con la ley de Bragg dar la flexin radio necesario para aplicaciones especficas. El uso de un monocromador produce un cambio en las intensidades relativas de los haces difractados por la muestra. La ecuacin (4-12), por ejemplo, se obtuvo para el haz incidente no polarizada completamente obtenido a partir de el tubo de rayos X. Cualquier haz difractado por un cristal, sin embargo, se vuelve parcialmente

polarizada por el proceso de difraccin en s, lo que significa que el haz de luz de un monocromador de cristal est parcialmente polarizada antes de que llegue la muestra. Bajo estas circunstancias, el factor de polarizacin habitual (1 + cos2 20) / 2, que se incluye en la ecuacin. (4-12), debe ser reemplazado por el factor (I + cos2 2 cos2 20) / (l + cos2 2a), donde 2a es la difraccin ngulo en el monocromador [fig. 6-16 (b)]. Puesto que el denominador en esta expresin es independiente de 0, puede ser omitida; el combinado Lorentz-polarizacin factor para una cmara de Debye-Scherrer y crystalmonochromated la radiacin es por lo tanto (1 + cos 2 2a cos2 20) / sen 2 cos 6. 6-14] MEDICIN OP intensidad de la lnea 173 La figura. 6-18. Film dispositivo de medicin. Departamento.) (Cortesa de General Electric Co., X-Ray 13.6 Medicin de la posicin de lnea. La solucin de cualquier fotografa en polvo comienza con la medicin de las posiciones de la difraccin lneas en la pelcula. Un dispositivo del tipo mostrado en la figura. 6-18 es comnmente utilizado para este propsito. Se trata esencialmente de una caja con una placa de vidrio opalino en parte superior, iluminada desde abajo, en la que la pelcula a medir se coloca. En la parte superior de la placa de vidrio es una escala graduada que lleva un control deslizante equipado con un vernier y la cruz de pelo, la cruz se mueve sobre el sistema de iluminacin

pelcula de la lnea de difraccin de uno a otro, y sus posiciones observ. La pelcula se mide generalmente sin aumento. Un bajo consumo de energa lente mano puede ser de uso ocasional, pero dimetros magnificacin mayor que 2 o 3 por lo general hace que la lnea se funden en el fondo y se vuelven invisibles, porque de la granularidad extrema de pelcula de rayos x. 14.6 Medicin de la intensidad de la lnea. Muchos de los problemas de difraccin requieren una medida precisa de la intensidad integrada, o la amplitud en media mxima intensidad, de una lnea de difraccin en polvo de una fotografa. Para este propsito es necesario para obtener una curva de intensidad vs 26 para la lnea en cuestin. La intensidad de un haz de rayos X se puede medir por la cantidad de ennegrecimiento que provoca en una pelcula fotogrfica. La densidad fotogrfico D, o ennegrecimiento, de una pelcula es, a su vez mide por la cantidad de luz visible 174 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 se transmitir y se define por la relacin , / 0 y D = Iog10 donde / = intensidad de un haz de luz incidente sobre la pelcula y / = intensidad del haz transmitido. Para la mayora de pelculas de rayos X, la densidad es directamente proporcionales a la exposicin hasta una densidad de aproximadamente 1,0 (que corresponde a 10 por ciento de transmisin de la luz incidente). En este caso, la "exposicin" se define por la relacin Exposicin = (intensidad del haz de rayos X) (tiempo). Puesto que el tiempo es constante para todas las lneas de difraccin sobre una pelcula, esto significa que la densidad fotogrfica es directamente proporcional a la intensidad de rayos x. La densidad se mide por medio de un microfotmetro. Hay varios

las formas de dichos instrumentos, el ms simple consiste en una fuente de luz y una disposicin de lentes y aberturas que permite que un haz estrecho de la luz pase a travs de la pelcula de rayos X y atacar una clula fotoelctrica o termopila conectado a un galvanmetro de grabacin. Puesto que la corriente a travs de la galvanmetro es proporcional a la intensidad de la. luz que incide en el fotoclula, la deflexin del galvanmetro 8 es proporcional a la transmitida intensidad de la luz /. El haz de luz es rectangular en seccin transversal, normalmente de aproximadamente 3 mm mm de alto y 0,1. Con el movimiento de la pelcula, esta viga est hecha a atravesar la pelcula lateralmente, cruzando una lnea tras otra figura de difraccin [. 6-19 (a)]. El galvanmetro resultante registro [fig. 6 a 1 sept (b)] muestra galvanmetro deflexin en ordenadas y la distancia a lo largo de la pelcula como abscisa, este ltimo se incrementa en un factor de aproximadamente 5 a fin de difundir la lneas de espera. La lnea A en la parte superior del registro de marca cero de la deflexin galvanmetro, la lnea B en la parte inferior marca el galvanmetro mximo deflexin S cuando el haz de luz pasa a travs de una porcin no expuesta de la pelcula, una porcin que ha sido protegido de todo rayos X dispersos. SQ es por lo tanto, constante y proporcional a la intensidad de luz incidente 7. En de esta manera las lecturas se corrigieron para la niebla de fondo normal de pelcula virgen. La densidad de cualquier parte expuesta de la pelcula se obtiene a partir de la relacin r, i /0 yo SQ D = Iog10 - = Logio 1o

Finalmente, una curva se construye de intensidad de rayos X como una funcin de 26 [fig. 6-19 (c)]. Tal trama se ve que constan de un nmero de picos de difraccin superpuesta sobre una curva de variacin lenta de la intensidad de fondo, debido a radiacin fluorescente, la difraccin del espectro continuo, Compton 6-14] Medicin de la intensidad de la lnea 175 DISTANCIA ALONCJ PELCULA (Yj>) 20 1C) La figura. 6-19. Medicin de la intensidad de la lnea con un microphotomctci (esquemtica) (A) pelcula; (b) galvanometei recoul, (c) x-IAY intensidad curva dispersin, etc, como se discuti previamente. Una lnea de fondo continuo se dibuja en debajo de cada pico, despus de lo cual las mediciones de la integrado la intensidad y la amplitud K en medio intensidad mxima puede ser hecho. Tenga en cuenta que la intensidad integrada est dada por el rea sombreada, medido por encima del fondo. Un registro microphotorneter de un patrn real es se muestra en la figura (> -20. En un trabajo muy preciso, o cuando la densidad de lnea sobrepasa un valor de 1,0, lo ya no es seguro suponer que la densidad es proporcional a la radiografa En lugar de exposicin, cada pelcula debe ser calibrado mediante la exposicin de una tira cerca su borde a una intensidad constante haz de rayos X para cantidades crecientes de tiempo de modo que una serie de exposiciones crecientes escalonadas se obtiene. La hora exacta de relacin entre la densidad y la exposicin de rayos X, se puede determinar experimentalmente. 1 * 10. 6-20. Polvo patrn de cuarzo (arriba) y mirrophotometer correspondiente trace (abajo). (JW Ballard, Oshry HI, y II. Schrcrik II, TS Bur Minas R. I. 520. Cortesa de la U. S. Direccin de Minas.) 176 FOTOGRAFAS EN POLVO [cap. 6 PROBLEMAS

6-1. Construir una curva similar a la de la fig. 6-4 que muestra la absorcin de Fe Ka radiacin por aire. Tomar la composicin del aire como nitrgeno del 80 por ciento y 20 por ciento oxgeno, en peso. Si una exposicin de 1-hr en el aire se requiere para producir un cierto difraccin de intensidad de la lnea en una cmara de 19-cm de dimetro con Fe radiacin Ka, lo exposicin se requiere para obtener la intensidad misma lnea con la cmara evacuada, en igualdad de condiciones? 6-2. Deducir una ecuacin para la potencia de resolucin de una cmara de Debye-Scherrer para dos longitudes de onda de casi el mismo valor, en trminos de AS, donde S se define por la figura. 6-2. 6-3. Para un patrn de Debye hizo en una cmara de 5,73-crn de dimetro con radiacin Cu Ka, calcular la separacin de los componentes del doblete Ka en grados y en centmetros para = 10, 35, 60, y 85. 6-4. Cul es el valor ms pequeo de 6 en el que el Cr doblete Ka se resolver en una cmara de 5,73 cm de dimetro Debye? Supongamos que el ancho de lnea es 0,03 cm y que la separacin debe ser el doble de la anchura de resolucin. 6-5. Un patrn de polvo de zinc se realiza en una cmara de Debye-Scherrer 5,73 cm en dimetro con radiacin Cu Ka. (A) Calcular la potencia de resolucin necesario para separar la difraccin de 11,0 y 10,3 lneas. Supongamos que el ancho de lnea es 0,03 cm. (B) Calcular la potencia de resolucin de la cmara utilizada, para estas lneas. (C) Qu dimetro de cmara mnima se requiere para producir la resolucin de estos lneas? (Vase la fig. 3-13 (c), que muestra estas lneas sin resolver una de la otra. Ellos formar la quinta lnea de la parte baja de ngulo). 6-6. Una fotografa pinhole transmisin est hecho de cobre con radiacin Cu Ka. La pelcula mide 4 x 5 pulg Cul es el mximo espcimen a pelcula distancia

que puede ser utilizado y todava tienen los dos primeros anillos de Debye completamente grabados en la pelcula? 6-7. Un patrn de polvo de hierro se realiza con radiacin Cu Ka. Supongamos que el fondo se debe enteramente a la radiacin fluorescente de la muestra. La intensidad mxima (medida por encima del fondo) de la lnea dbil en la patrn se encuentra para ser igual a la intensidad de fondo s en ese ngulo. Si la pelcula se cubre con papel de aluminio 0,0015 pulgadas de espesor, lo que ser la relacin de / Mximo para esta lnea a la intensidad de fondo? 6-8. Un registro microfotmetro de una lnea de difraccin muestra el galvanmetro siguiente deflexiones: Posicin de la desviacin del haz de luz En la pelcula virgen 5. cm En el fondo, justo a la izquierda de la lnea 3.0 En el fondo, justo a la derecha de la lnea de 3,2 El centro de la lnea de difraccin 1. 2 Supongamos que x-ray intensidad es proporcional a la densidad fotogrfica. Calcular la relacin de 7max para la lnea de difraccin (medido por encima del fondo) a la intensidad del fondo en el mismo ngulo de Bragg.

CAPTULO 7 MEDIDAS difractmetro

1.7 Introduccin. El espectrmetro de rayos X, se ha mencionado brevemente en la seccin. 3-4, ha tenido una historia larga y desigual en el campo de la difraccin de rayos x. Lo fue utilizado por primera vez por WH Bragg y WL en sus primeros trabajos en la radiografa espectros y la estructura de cristal, pero luego se pasa por un largo perodo de relativa desuso durante el cual registro fotogrfico de las cmaras fue el ms mtodo popular de observar efectos de difraccin. Los espectrmetros de pocos

Se utiliza toda casera y limita en gran medida a los laboratorios de investigacin los fsicos. En aos recientes, sin embargo, de fabricacin comercial instrumentos (Basado principalmente en un diseo desarrollado por Friedman acerca de 1943) se han convertido en disponible, y su uso est creciendo rpidamente debido a ciertas particular, ventajas que ofrecen respecto a las tcnicas cinematogrficas. Inicialmente un herramienta de investigacin, el espectrmetro de rayos X se ha convertido en un instrumento para control y anlisis en una amplia variedad de laboratorios industriales. Dependiendo nicamente en la forma en que se utiliza, el espectrmetro de rayos X es realmente dos instrumentos: s (1) Un instrumento para medir los espectros de rayos x por medio de un cristal de estructura conocida. (2) Un instrumento para el estudio de cristalinos (y no cristalina) materiales por mediciones de la forma en que se difractan los rayos X de la conocida longitud de onda. El espectrmetro trmino ha sido, y sigue siendo, utilizado para describir ambos instrumentos, pero, correctamente, se debe aplicar slo al instrumento primero. El segundo instrumento se ha llamado acertadamente un difractmetro: se trata de un trmino de acuacin relativamente reciente pero que sirve tambin para destacar la especial utilizar para que el instrumento se ha puesto, es decir, el anlisis de difraccin en lugar de espectrometra. En este captulo, el diseo y la operacin difractmetros de se describir con particular referencia a la comercial modelos disponibles. 7.2 Caractersticas generales. En una cmara de difraccin, la intensidad de un difractada haz se mide a travs de la cantidad de ennegrecimiento que produce en una pelcula fotogrfica, una medicin microfotmetro de que la pelcula sea requerida para convertir "cantidad de ennegrecimiento" en intensidad de rayos X. En la

difractmetro, la intensidad de un haz difractado se mide directamente, . Ya sea por medio de la ionizacin que produce en un gas o de fluorescencia de la 177 178 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 que produce en forma de un slido. Como vimos en la seccin. 1-5, rayos X incidente quanta puede expulsar electrones de los tomos y as convertirlos en iones positivos. Si un haz de rayos X pasa a una cmara que contiene un gas y dos electrodos, una cargada positivamente y el otro negativamente, entonces el expulsado electrones sern atrados hacia el electrodo positivo (el nodo) y el positivo iones hacia el electrodo negativo (el ctodo). Una corriente por lo tanto existe en el circuito de conexin exterior nodo al ctodo. En especial condiciones, que se describen ms adelante en detalle, esta corriente puede ser causada a sobretensin o pulso en lugar de ser continua, cada impulso de los resultados de la ionizacin causada por una nica entrada de rayos X cuntica. Mediante el uso de la circuito externo adecuado, el nmero de impulsos de corriente producida por unidad de tiempo puede ser contado, y este nmero es directamente proporcional a la intensidad del haz de rayos X entra en la cmara de gas. Apropiadamente, Este dispositivo se llama un contador, y dos variedades son de uso comn, la contador proporcional y el contador Geiger. En otro tipo, el centelleo contador de rayos X incidente quanta producen destellos o centelleos de fluorescente luz azul en un cristal y estos destellos de luz se convierten en pulsos de corriente en una clula fotoelctrica. Bsicamente, un difractmetro est diseado tanto como un Debye-Scherrer cmara, excepto que un contador mvil sustituye a la tira de pelcula. En ambos instrumentos, la radiacin esencialmente monocromtica se utiliza y el rayo X detector (pelcula o contador) se coloca en la circunferencia de un crculo centrado en la muestra de polvo. Las caractersticas esenciales de un difractmetro

se muestra en la figura. 7-1. Una muestra de polvo de C, en forma de una placa plana, se apoya en una mesa de H, que se puede girar alrededor de un eje perpendicular * 0 al plano del dibujo. La fuente de rayos X es S, la lnea focal punto en el blanco T del tubo de rayos X, S es tambin normal al plano de la dibujo y por lo tanto paralelo al eje 0 del difractmetro. Los rayos X divergen de esta fuente y son difractados por la muestra para formar un convergente haz difractado que llega a un foco en la ranura F y luego entra en el contador A y B son G. ranuras especiales que definen y colimar el incidente y haces difractados. Las ranuras receptoras y de venta libre son compatibles con el carro que Ey puede ser rotado alrededor del eje y cuya posicin angular 26 puede ser leer en la escala graduada K. La E y H son soportes mecnicamente acopladas de manera que una rotacin del contador a travs de grados 2x es automticamente acompaada por la rotacin de la muestra a travs de x grados. Este acoplamiento se asegura de que los ngulos de incidencia y reflexin sobre de, el plano espcimen ser siempre iguales entre s e iguales a la mitad del total ngulo de difraccin, un arreglo necesario para preservar las condiciones de enfoque. El contador puede ser de accionamiento accionado a una velocidad angular constante alrededor del eje difractmetro o mover con la mano a cualquier angular deseada posicin. 7-2] CARACTERSTICAS GENERALES 179 FKJ 7 1. X-ray difTrartoinetei (esquemtica) Las figuras 7-2 y 7-3 ilustran dos instrumentos comerciales. Bsicamente, tanto se adhieren a los principios de diseo descritos anteriormente, pero difieren en detalle y en el posicionamiento: en la unidad (General Electric, el difractmetro eje es vertical y se mueve el contador en un plano horizontal, mientras que el eje de la unidad de Xorelco es horizontal y se mueve el contador en una vertical

avin. La forma en que se utiliza un potencimetro difractan para medir un patrn de difraccin depende del tipo de circuito utilizado para medir la velocidad de produccin de impulsos en el contador. El pulso puede ser medido en t \ \ o diferente uuys: (1) La sucesin de impulsos de corriente se convierte en una corriente continua, que se mide en un contador denominado medidor de conteo de tasa, calibrado en unidades tales como cuentas (pulsos) por segundo. Tal circuito da un continuo indicacin de intensidad de rayos X. (2) Los pulsos de corriente se cuentan electrnicamente en un circuito llamado sellador, y la tasa media de recuento se obtiene simplemente dividiendo el nmero de pulsos contados por el tiempo de permanencia en el conteo. Esta operacin es esencialmente discontinuo debido al tiempo empleado en el conteo, y un circuito de escala no se puede utilizar para seguir los cambios continuos en intensidad de rayos X. En correspondencia con estos dos tipos de circuitos de medicin, hay dos formas en las que el patrn de difraccin de una sustancia desconocida puede ser obtenido con un ometer difractan: 180 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 La figura. 7-2. General difractmetro Electric. (Cortesa de General Electric Co., X-Ray Department.) 7-2] CARACTERSTICAS GENERALES 181 ' '' La figura. 7-3. Norelco difractmetro. En esta fotografa en particular, el espcimen titular de un espcimen varilla delgada se muestra en lugar del titular habitual en una placa plana espcimen. Tubo de rayos X no se muestra. (Cortesa de la North American Philips Co., Inc.) Ig2 MEDIDAS difractmetro [CAP. 7

(1) Continua. El contador se ajusta alrededor de 26 = y conectado a un conteo de cambio del medidor. La salida de este circuito se alimenta a una accin rpida registrador automtico del tipo de los utilizados para grabar los cambios de temperatura como medida por un termopar. El contador se acciona a una constante velocidad angular a travs de valores crecientes de 20 hasta que el conjunto angular rango se "escanea". Al mismo tiempo, el papel de grfico en la grabadora mueve a una velocidad constante, de modo que las distancias a lo largo de la longitud de la tabla son proporcionales a 26. El resultado es un grfico, tal como la figura. 7-4, que da un registro de cuentas por segundo (proporcional a la intensidad difractada) vs difraccin ngulo de 26. (2) Intermitente. El contador est conectado a un sellador y se fij en un fijo valor de 26 durante un tiempo suficiente para hacer un recuento exacto de los pulsos obtenido a partir de la barra. El contador se mueve entonces a una nueva angular posicin y el funcionamiento repetido. Toda la gama de 26 est cubierta en esta manera, y la curva de intensidad vs 26 finalmente se trazan a mano. Cuando el fondo continuo entre lneas de difraccin que se est midiendo, el contador puede ser movido en pasos de varios grados, pero las determinaciones de perfil de lnea puede requerir medidas de intensidad en angular intervalos tan pequeos como 0,01. Este mtodo de obtencin de un patrn de difraccin es mucho ms lenta que la tasa de participacin de un metro y registrador automtico pero produce mediciones ms precisas de la intensidad. Existe una diferencia fundamental entre la operacin de un polvo cmara y un difractmetro. En una cmara, todas las lneas de difraccin se registran simultneamente, y las variaciones en la intensidad del rayo X incidente haz durante la exposicin puede tener ningn efecto sobre la intensidad de las lneas relativas. En Por otro lado, con un difractmetro, lneas de difraccin se graban de una despus de la otra, y por tanto es imperativo mantener el incidente de haz

intensidad constante cuando las intensidades relativas de lnea deben ser medidos con precisin. Dado que las variaciones habituales de la tensin de lnea son bastante apreciable, el circuito del tubo de rayos X de un difractmetro debe incluir un estabilizador de voltaje y un estabilizador de tubo de corriente, a menos que un sistema de seguimiento se utiliza (vase Sec. 7-8). El tipo de muestra utilizada depende de la forma y cantidad de material disponible. Lmina metlica plana o placa puede ser examinada directamente, sin embargo, tales materiales casi siempre exhiben orientacin preferida y este hecho debe tenerse en cuenta en la evaluacin de las intensidades relativas. Esto tambin es cierto de alambres, que son los ms examinados por consolidar una serie de largos, dispuestos en lado a una placa de vidrio. Esta placa se inserta entonces en el soporte de la muestra de modo que los ejes de alambre estn en ngulo recto con el eje difractmetro. Muestras en polvo se preparan mejor por la colocacin del polvo en un rebaje en una placa de vidrio o de plstico, compactacin bajo presin justa suficiente para causar la cohesin sin el uso de un aglutinante, y alisar la superficie. Demasiada presin hace que la orientacin preferida de las partculas de polvo. Alternativamente, el polvo puede ser mezclado con un aglutinante y se unta en la 7-2] GEKKRAL CARACTERSTICAS 183 (Wb) 3TVDS A1ISN31NI 184 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 superficie de un portaobjetos de vidrio. El polvo debe ser molido extremadamente fino, a una tamao de 10 micras o menos, las intensidades relativas de lnea si son de forma precisa reproducible, ya que la muestra no se gira el plano como un Debye-Scherrer espcimen es la nica forma de obtener un nmero suficiente de partculas que tiene la orientacin correcta para la reflexin es reducir su tamao medio. La rugosidad superficial tambin tiene un marcado efecto sobre la intensidad de lnea relativos. Si la superficie es rugosa, como en el caso de un compacto de polvo grueso, y el

lineal del coeficiente de absorcin alto, las intensidades de las reflexiones de bajo ngulo ser anormalmente baja, debido a la absorcin de los rayos difractados cada porcin saliente de la superficie. La nica manera de evitar este efecto es utilizar un compacto de superficie plana de polvos muy finos o una muestra con una superficie pulida. Si no se dispone de suficiente polvo para una muestra plana, una muestra delgada varilla del tipo de los utilizados en Debye-Scherrer cmaras se pueden utilizar, sino que est montado en el eje difractmetro y girar continuamente por un motor pequeo (Vase la fig. 7-3). Sin embargo, el uso de un espcimen pequeo debe ser evitarse si es posible, ya que conduce a intensidades muy inferiores a los obtenible con una muestra plana,. Solo cristal de muestras tambin pueden ser examinados en un difractmetro por montar el cristal sobre un gonimetro de tres crculos, tal como el mostrado en La figura. 5-7, que permitir la rotacin independiente de la muestra y el contador alrededor del eje difractmetro. Un difractmetro se puede utilizar para mediciones a altas o bajas temperaturas por que rodea la muestra con el calentamiento o enfriamiento adecuado unidad. Tal adaptacin del instrumento es mucho ms fcil con el difractmetro que con una cmara debido a la cantidad de generalmente ms grandes espacio de trabajo libre alrededor de la muestra en la primera. En las secciones siguientes, las diversas partes del difractmetro se se describir con mayor detalle. Este resumen de las caractersticas generales de el instrumento es suficiente para mostrar su principal ventaja sobre el polvo cmara: la medicin cuantitativa de la posicin de la lnea y la intensidad es hecha en una sola operacin con un difractmetro, mientras que la misma medicin con la tcnica de pelcula requiere tres pasos (grabar el patrn en una pelcula que muestra un registro microfotmetro de la pelcula, y la conversin de

deflexiones galvanmetro a intensidades) y conduce a un resultado sobre-todo que es generalmente de menor precisin. Esta superioridad del difractmetro se refleja en el coste mucho ms alto del instrumento, un costo debido no slo para el mecanizado de precisin necesario en sus partes mecnicas, sino tambin a los circuitos costosos necesarios para estabilizar el suministro de energa y medir la intensidad de los haces difractados. 7-3 de rayos X ptica. La razn principal para el uso de una muestra plana es tomar ventaja de la accin de enfoque descrito en la seccin. 6-6 y as aumentar la 7-3] X-RAY PTICA iffract crculo omc'tor 185 (A) La figura. 7-5. Centrndose geometra para muestras planas en (a) la reflexin hacia delante y (H) hack reflexin. intensidad del dbiles haces difractados a un punto en el que se puede precisin medido. La figura 7-5 muestra cmo se hace esto. Para cualquier posicin de la contador, el F rendija receptora y la fuente de rayos X S estn situadas siempre en el crculo difTractometer, lo que significa que la cara de la muestra, porque de su acoplamiento mecnico con el contador, es siempre tangente a una centrndose crculo centrado en la normal a la muestra y que pasa a travs F y $. El crculo centrado no es de tamao constante pero aumenta en radio como el ngulo 26 disminuye, como se indica en la figura. 7-5. Perfecto centrado en F requiere que la muestra sea curva para encajar en el crculo de enfoque, pero es que no es prctico porque el radio de cambio de curvatura del crculo. Esto inevitablemente hace que algunos ampliacin del haz difractado a F, pero no en un grado inaceptable, tanto tiempo como la divergencia del incidente haz no es demasiado grande.

La fuente de lnea $ extiende considerablemente por encima y por debajo del plano de el dibujo de la figura. 7-5 y emite radiacin en todas las direcciones, pero centrando la descrito anteriormente requiere que todos los rayos en el haz incidente sea paralelo al plano del dibujo. Esta condicin se realiza lo ms cerca posible experimentalmente al pasar el rayo incidente a travs de una rendija Soller (Fig. 7-0), corte A en la fig. 7-1, que contiene un conjunto de poco espaciados, delgada metlicas paralelas al plano del crculo difractmetro de placas. Estas placas eliminar una gran proporcin de rayos inclinada respecto al plano del difractmetro crculo y todava permiten el uso de una fuente de lnea de longitud considerable. Tpico dimensiones de una rendija Soller son: longitud de las placas de 32 mm, espesor de placas de 0,05 mm, distancia clara entre placas 0,43 mm. En cada extremo del el conjunto de hendidura son hendiduras rectangulares y un 6, la entrada al lado de una hendidura la fuente ms estrecha que la rendija de salida b. La combinacin de ranuras y las placas se rompe el haz incidente en un conjunto de cuas triangulares de radiacin, como se indica en la figura. 7-6. Hay, por supuesto, algunos rayos, no muestra en el dibujo, que divergen en planos perpendiculares al plano 186 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 o TJ o 03 G c3 G 6 r 7-3] X-RAY PTICA 187

haz incidente rendijas espcimen S * - Iecei \ ING rendija . ^ ^ _ Para contrarrestar La figura. 7-7. Disposicin de ranuras en difractmetro. de las placas y rayos estas hacen que las cuas de radiacin para fundirse en entre s una corta distancia de la rendija de salida. Sin embargo, el largo, estrechamente placas espaciadas limiten esta divergencia no deseada a un ngulo de aproximadamente 1,5. Rendijas A y B definen la divergencia del haz incidente en la plano del crculo difractmetro. Las hendiduras comnmente disponibles tienen ngulos de divergencia que van desde valores muy pequeos de hasta aproximadamente 4. En la adelante-reflexin regin, un ngulo de divergencia de 1 es suficiente, ya que de la baja inclinacin de la superficie de la muestra al haz incidente, pero en reflexin posterior un aumento en el ngulo de divergencia a 3 o 4 aumentar la intensidad difractada. Pero si las intensidades de lnea son para ser comparados con la toda la gama de 26, la misma divergencia debe ser utilizado a lo largo de y el muestra debe ser ms amplio que el haz a todos los ngulos. El haz difractado por la muestra pasa a travs de otra rendija Soller el montaje y el F rendija receptora antes de entrar en el mostrador. Puesto que el recibir hendidura define el ancho de la viga admitido en el mostrador, una aumento de su anchura aumenta la intensidad mxima de cualquier difraccin la lnea que se est midiendo, pero a costa de una cierta prdida de resolucin. Por Por otra parte, la intensidad relativa integrada de una lnea de difraccin es independiente de anchura de la rendija, que es una de las razones para su mayor importancia fundamental. * La figura 7-7 ilustra la disposicin relativa de los diversos

* Un nmero de cosas, adems de anchura de la rendija (por ejemplo, tubo de rayos X actual) va a cambiar la intensidad integrada de una sola lnea de difraccin. Lo importante a destacar, sin embargo, es que un cambio en cualquiera de las variables de operacin cambia el integrado intensidades de todas las lneas de difraccin en la misma proporcin, pero puede producir muy efectos desiguales en las intensidades mximas. As, "si / i / / 2 es la relacin de la integrado intensidades de dos lneas de medida con una cierta anchura de la rendija y la Mi/M2 relacin de las intensidades mximas, a continuacin, otra medicin con un diferente anchura de la rendija se traducir en la misma proporcin I \ / h para las intensidades integradas, pero la relacin de las intensidades mximas de ahora, en general, difieren de Afi/Af2. 188 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 ranuras en un difractmetro tpico y muestra el paso de unos pocos seleccionados Los rayos de la fuente de contrarrestar. Debido a la concentracin de los rayos difractados y la relativamente grandes radio del crculo difractmetro, a unos 15 cm de instrumentos comerciales, un difractmetro puede resolver muy espaciadas estn las lneas de difraccin. Indicativo de esto es el hecho de que la resolucin del doblete de Cu Ka se puede conseguir en 20 ngulos tan baja como aproximadamente 40. Tal resolucin slo puede lograrse con un instrumento ajustado correctamente, y es necesario para alinear de modo que el componentes que las siguientes condiciones se cumplen para todos difraccin ngulos: (1) fuente de lnea, superficie de la muestra, y el eje de recepcin de rendija son todas paralelas, (2) la superficie de la muestra coincide con el eje difractmetro, y (3) de la lnea de origen y de recepcin de hendidura ambos se encuentran en el crculo difractmetro. 7-4 Clculos intensidad. El clculo de la relacin integrada intensidades de los haces difractados por una muestra en polvo en un difractmetro

sigue los principios generales descritos en el Cap. 4, pero los detalles de el clculo depender de la forma de la muestra. El uso de una muestra de placa plana, haciendo ngulos iguales con el incidente y haces difractados, no slo produce centrndose como se describi anteriormente pero hace que el factor de absorcin inde-FIG. 7 - * - Difraccin de un piso independiente del ngulo 0. Podemos probar f tarde: ^ Identificacin F nt un F d diffmcted vigas , Iii rr ti tienen un espesor de 1 cm en una direccin esto calculando el efecto de absorcin normfll t () del plano () f el dibujo. cin en la muestra de la intensidad del haz difractado, y, ya que este efecto vendr de nuevo ms tarde en partes de este libro, vamos a hacer nuestro clculo muy general. En la fig. 7-8, el haz incidente tiene intensidad 7 (ergs / cm 2 / Ec), es de 1 cm cuadrado en cruz seccin, y es incidente sobre la placa de polvo en un ngulo a. Consideramos la energa difractada desde este haz por una capa de polvo de la longitud / y espesor dr, situado en un x profundidad debajo de la superficie. Desde el incidente haz experimenta una absorcin por la muestra sobre la longitud de la trayectoria

AB, la energa incidente por segundo sobre la capa considerada es I e ~ ^ (AB} (Ergs / sec), donde M es el coeficiente de absorcin lineal del polvo compacto. Sea a la fraccin de volumen de la muestra que contiene partculas que tiene la orientacin correcta para la reflexin del haz incidente, y b la fraccin de la energa incidente que es difractada por unidad de volumen. Entonces la energa difractada por la capa considerada, que tiene un volumen Ind, viene dada por w / e ~ "u * '} dx. Pero esta energa difractada es tambin disminuy por absorcin, por un factor e ~ ~ (BC \ Ya que los rayos difractados 7-4] CLCULOS DE INTENSIDAD 189 tiene una longitud de trayectoria de BC en la muestra. El flujo de energa por segundo en el haz difractado fuera de la muestra, es decir, la intensidad integrada, es por lo tanto, dada por DID = Abli c-(AB + BC} dx (ergs / seg). (7-1) Sino 1xx cometer un pecado un pecado ft Por lo tanto, in / J) dj (7_2) sn a. Para la disposicin espcimen particular utilizado en el difractmetro, a = ^ 0, y la ecuacin anterior se convierte m 9 dx (7 _ 3) sen 6

La intensidad difractada total se obtiene mediante la integracin de ms de una infinitamente gruesa muestra: x ID = Aqu 7, 6, y M son constantes para todas las reflexiones (independiente de 8) y nos Tambin puede considerar como una constante. En realidad, un vara con 0, pero esta variacin ya est a cargo de la parte cos0 del factor de Lorentz (ver Sec. 4-9) y no necesitamos preocuparnos nosotros aqu. Llegamos a la conclusin de que la absorcin factor, l/2/i, es independiente de la de una muestra plana, formando ngulos iguales con el incidente y haces difractados, siempre que la muestra llena el haz incidente en todos los ngulos y es efectivamente de espesor infinito. * Esta * '1 El criterio adoptado para "espesor infinito" depende de la sensibilidad del pur mediciones de la intensidad o de lo que consideramos como la intensidad difractada insignificante. Por ejemplo, podra arbitrariamente pero bastante razonable definir espesor infinito como que espesor t que un espcimen debe tener a fin de que la intensidad difractada por una capa delgada en la parte trasera ser T ^ Vo f intensidad TNE difractado por una capa delgada en el lado frontal. Entonces, de la ecuacin. (7-3) tenemos DIP (en x = 0) = ^ t / e = Bm] 0 () 0 d D (en x - = de la cual. _ 3,45 pecado 8 M Esta expresin muestra que "el espesor infinito", para una muestra de metal, es muy pequeo. Por ejemplo, supongamos que una muestra de polvo de nquel est siendo examinado con radiacin Cu KOL en 8 valores cercanos a 90. La densidad de la

compacto en polvo puede tomarse como aproximadamente 0,6 de la densidad de nquel granel, que es 8,9 g/cm3 , Dando lugar a un valor de M para el compacto de 263 cm "1 . El valor de t por lo tanto es 1,31 X 10 ~ 2 cm, o aproximadamente 5/1000 de una pulgada. 190 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 independencia de 6 se debe al equilibrio exacto de dos efectos opuestos. Cuando 6 es pequea, la superficie de la muestra irradiada por un haz incidente de fijo seccin transversal es grande, pero la profundidad efectiva de rayos X de penetracin es pequea; cuando es grande, el rea irradiada es pequea, pero es la profundidad de penetracin relativamente grande. El efecto neto es que el volumen irradiado es eficaz constante e independiente de 6. La absorcin se produce en cualquier caso, sin embargo, y cuanto mayor es el coeficiente de absorcin de la muestra, menor ser la intensidad de los haces difractados, en igualdad de condiciones. El importante hecho a sealar es que disminuye la absorcin de las intensidades de todos difractada vigas por el mismo factor, y por lo tanto no entran en el clculo de intensidades relativas. Esto significa que la ec. (4-1 2) para la relacin integrada intensidad de una lnea de difraccin de una muestra de polvo, a saber, + Cos2 20 sm2 Cos 6 8 necesita slo la insercin de un factor de temperatura para que sea preciso, para la trata de una probeta plana examin en un difractmetro. En su forma actual, es posible que todava se usa para calcular las intensidades relativa aproximada de dos adyacentes lneas en el patrn, pero la intensidad calculada de la mayor ngulo

lnea, con relacin a la de la inferior-ngulo, siempre ser algo demasiado grande debido a la omisin del factor de temperatura. Cuando la muestra utilizada en el difractmetro tiene la forma de una delgada varilla, no centrndose ocurre y las rendijas de haz incidente, se eligen para producir un haz delgado, esencialmente paralelo. La geometra de rayos X es entonces enteramente equivalente a la de una cmara de Debye-Scherrer equipado con ranuras, y Eq. (4-12) se aplica, con exactamente las mismas limitaciones como se menciona en Sec. 4-12. 7-5 contadores proporcionales. Proporcional, Geiger y centelleo Los contadores se pueden utilizar para detectar, no slo x-y 7-radiacin, pero tambin partculas cargadas, tales como electrones o partculas a, y el diseo de la circuitos de venta libre y asociado depende en cierta medida de lo que ser detectado. Aqu nos interesa slo con contadores para la deteccin de radiografas de las longitudes de onda empleadas comnmente en la difraccin. Consideremos el dispositivo mostrado en la figura. 7-9, compuesto de un metal cilndrica shell (el ctodo) llena de un gas y que contiene un alambre de metal fino (la nodo) que se ejecuta a lo largo de su eje. Supongamos que hay una diferencia de potencial constante de alrededor de 200 voltios entre el nodo y el ctodo. Un extremo de la cilindro se cubre con un material de la ventana, tal como mica o de berilio, de alta transparencia a los rayos x. De los rayos X que penetran en el cilindro, una pequea fraccin pasa a travs, pero la mayor parte es absorbida por el gas, y la absorcin de esto es acompaado por la eyeccin de fotoelectrones 7-5] contadores proporcionales 191 aislador a detector

circuito Compton y retroceso de electrones los tomos del gas. El resultado neto es la ionizacin del gas, produciendo electrones, que se mueven bajo la influencia del campo elctrico hacia el nodo de alambre, y los iones positivos de gas, que se mueven hacia el ctodo concha. A una diferencia de potencial de unos 200 voltios, todos estos electrones y los iones se recogieron en los electrodos, y, si la intensidad de rayos X es constante, flg? _g contador de gas (prop rtional habr una pequea corriente constante orGeiger) y las conexiones de circuitos bsicos, del orden de 10 ~ 12 amperios o menos a travs de la resistencia R \. Esta corriente es una medida de la intensidad de rayos x. Cuando se opera de esta manera, este dispositivo se llama ionizacin cmara. Se us en el original espectrmetro de Bragg, pero ahora est obsoleto para la medicin de intensidades de los rayos x debido a su baja sensibilidad. El mismo instrumento, sin embargo, se puede hacer que acte como proporcional contrarrestar si el voltaje se eleva a la zona de 600 a 900 voltios. Un nuevo fenmeno se produce ahora, a saber, la ionizacin mltiple o "amplificacin de gas". La intensidad de campo elctrico es ahora tan alta que los electrones producido por la ionizacin primaria se aceler rpidamente hacia el alambre nodo y a un ritmo cada vez mayor de aceleracin, ya que el campo intensidad aumenta a medida que el alambre se aproxima. Los electrones adquieren as suficiente energa para expulsar electrones de los tomos del gas, y estas a su vez, causar una mayor ionizacin y as sucesivamente, hasta que el nmero de tomos ionizados por

la absorcin de una sola radiografa cuntico es de unos 103 a 105 veces ms grande como el nmero ionizado en una cmara de ionizacin. Como resultado de esta amplificacin una verdadera avalancha de electrones golpea el alambre y causa una facilidad pulso detectable de corriente en el circuito externo. Esta fuga de pulso lejos a travs de la resistencia RI grande, pero no antes de que el cargo momentneamente aadido al condensador Ci ha sido detectado por el tacmetro o descamacin circuito conectado a Ci. Al mismo tiempo, los iones positivos se mueven a gas el ctodo, pero a una velocidad mucho ms baja debido a su mayor masa. Esta proceso, que es extremadamente rpido, se activa mediante la absorcin de los una radiografa cuntica. Se puede definir un factor de amplificacin de gas A como sigue: si n es el nmero de tomos ionizados por una radiografa cuntica, entonces An es el nmero total ionizado por el proceso acumulativo descrito anteriormente. Figura 7-10 muestra esquemticamente cmo el factor de amplificacin del gas vara con la aplicada tensin. En las tensiones presentes en las cmaras de ionizacin, A = 1, es decir, hay hay amplificacin de gas, puesto que los electrones producidos por el primario ioniza192 MEDIDAS difractmetro [CAP. 7 l () n O 10 "' E-I <^ 10s ^ 1 () 7 O r <! (). E KM

i io * ^ H) 2 10 1 brillo descargar corona descargar avalancha regin VOLTAC5E La figura. 7-10. Efecto de la tensin en el factor de amplificacin de gas. (H. Friedman, Proc. /. #. #. 37.791 de 1949.) cin no adquieren suficiente energa para ionizar otros tomos. Pero cuando el voltaje se eleva en la regin de contador proporcional, A se convierte de la orden de 103 a 105 . El pulso de corriente en el cable del nodo se expresa normalmente en trminos de la cambio momentneo de la tensin en el cable, y este cambio es del orden de unos pocos milivoltios. El contador proporcional recibe su nombre de la hecho de que el tamao de este pulso, para una tensin aplicada dada, es directamente proporcional a n, el nmero de iones formados por el proceso de ionizacin primaria, y este nmero es a su vez proporcional a la energa de los cuantos de rayos X absorbido. Por lo tanto, si la absorcin de un cuanto de Cu Ka (hv = 9.000 ev) produce un impulso de voltaje de 1 .0 mV, entonces la absorcin de un cuanto Mo Ka (Hv = 20.000 ev) producir un pulso de (20000/9, 000) (1,0) = 2,2 mv.

El contador proporcional es esencialmente un contador muy rpido, es decir, que puede resolver pulsos separados lleguen a una tasa tan alta como 10 por segundo. Se puede hacer esto porque cada avalancha se limita a una regin muy estrecha del alambre, 0,1 mm o menos, y no se extiende longitudinalmente a lo largo de la contador de tubo. Esta es una caracterstica importante del proceso y de uno a wrhich volveremos en el siguiente apartado. Mediante la insercin de circuitos especiales entre un contador proporcional de medicin y la instrumento (sellador o tacmetro), es posible aprovechar el hecho de que los tamaos de los impulsos producidos son inversamente proporcionales a las longitudes de onda de los rayos X a su produccin. Por ejemplo, un circuito de este tipo permita slo pulsos mayor que un cierto tamao seleccionado para pasar y discrimina a los ms pequeos; se llama un discriminador de pulso de altura. Si dos de estos circuitos se utilizan juntos, uno 7-6] contadores Geiger 193 configurado para pasar slo los pulsos ms grande que Vi voltios y el otro slo los de ms de ^ 2 voltios, entonces la diferencia entre sus dos salidas se debe slo a pulsos que tienen tamaos en el V \ - a VVvolt rango. Esta resta se puede hacer electrnicamente, en cuyo caso el circuito compuesto se llama un canal nico pulso de altura analizador. Tal dispositivo permite un contador proporcional a ser operado bajo esencialmente condiciones monocromticas. Por ejemplo, si un patrn de difraccin se obtiene con radiacin de cobre, el analizador se puede configurar para transmitir pulsos slo debido a Cu Ka radiacin y rechazar los debidos a otras longitudes de onda, tales como Cu Kft, fluorescente la radiacin de la muestra, la radiacin blanca, etc 7-6 Geiger contadores. Si el voltaje en un contador proporcional, se incrementa algunos cientos de voltios, actuar como un contador Geiger. La hora exacta de tensin de funcionamiento se determina de la siguiente manera. El contador se

expone a un haz de rayos X de intensidad constante y conectado a un circuito apropiado que medir su velocidad de recuento, es decir, la tasa de produccin de impulsos de corriente en el circuito externo. El voltaje aplicado se incrementa gradualmente desde cero, y la velocidad de recuento se encuentra a variar con el voltaje de la manera mostrada en Pig. 7-11. No hay cargos se obtienen por debajo de un cierto mnimo de tensin llamada tensin de arranque, pero * por encima de este valor la velocidad de recuento aumenta rpidamente con la tensin hasta el umbral de la regin Geiger se alcanza. En esta regin, la llama meseta, la tasa de conteo es casi ^ meseta independiente de la tensin. A tensiones ms all de la meseta, el contador va & i ^ ( -L! Lg ( l! en un estado de descarga continua. p \ \ \ continuo Un contador Geiger es operado en el ~ 441^^' meseta, normalmente a una sobretensin de alrededor de 100 voltios, es decir, a 100 voltios mayor que el umbral. El APPLIMI meseta) \ () LTA (JK tiene una pendiente finita, de aproximadamente 0,05 por. . . ,, PIG. 7-11. Efecto de la tensin en ciento / voltios, lo que significa que el oper-( . Ountmg rato para (IN_> x.ray onstant namiento tensin debe ser estabilizado si el intensidad, contar el ritmo es ser exactamente proporcional

a intensidad de rayos X. (Lo mismo es cierto de los contadores proporcionales.) No hay cifras exactas se pueden dar para la tensin de umbral de tensin de partida, y la longitud de meseta de los contadores Geiger, ya que stos dependen de variables tales como dimensiones de venta libre y de la naturaleza de la mezcla de gas, pero la operacin Pulsos * se producen por debajo de / su tensin, pero son demasiado pequeos para ser contados por el circuito de medicin (sellador o tacmetro). Por debajo de la tensin inicial, la contador acta como un contador proporcional, y los pulsos son mucho menores que los producidos en la regin (Jeiger. Puesto que el circuito de medicin utilizado con un Geiger contador est diseado para funcionar solamente con impulsos ms grandes que un cierto tamao, generalmente 0,25 voltios, no hay pulsos son contados en los voltajes menor que la tensin de partida 194 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 voltaje de la mayora de los contadores se encuentra comnmente para estar en el rango de 1000 a 1500 voltios. Cabe sealar que algunos de los contadores pueden ser permanentemente daado si se somete, incluso por perodos breves, a voltajes suficientemente altos como para causar una descarga continua. Hay varias diferencias importantes entre la accin de un Geiger contador y la de un contador proporcional: (1) La absorcin de un cuanto de rayos X en cualquier lugar dentro del volumen de un contador Geiger desencadena una avalancha que se extiende sobre la totalidad La longitud de la barra. (2) El factor de amplificacin de gas de un contador Geiger es por lo tanto mucho ms grande, aproximadamente 108 a 109 (Vase la fig. 7-10), y tambin lo es el impulso de tensin en la alambre, ahora aproximadamente de 1 a 10 voltios. Esto significa que se necesita menos amplificacin en el circuito externo. (Pulsos de uno u otro tipo de mostrador son siempre

amplificada antes de ser alimentada a un sellador o tacmetro.) (3) Con una tensin constante aplicada, todos los impulsos de Geiger son del mismo tamao, independiente de la energa de los cuantos de rayos X que caus la primaria ionizacin. x.ra> (iuantimi Estas diferencias se ilustran absorbido hmschematically en la figura. 7-12. La absorcin de un cuanto de rayos X en un contador proporcional produce una muy PHU]) () lrn () NAL (, n NT,, K columna radial localizada ot iones ana electrones. En un contador Geiger, en la Por otro lado, la tensin aplicada es tan alta que no slo son algunos tomos ionizados pero otros son criados para excitado estados y caus emitir ultra-r.KKiKK <'orvrat ultravioletas. Estos Figura ultravioleta. 7-12. Las diferencias en el grado fotones y luego viajar por la ionizacin de entre proporcionales y contador a la velocidad de la luz, los contadores Geiger en cadena. Cada signo ms (o menos) . ,,. smbolo representa un nmero ol grande mg electrones de los tomos de gas otros positiye kms (o elementos (, trons). y fuera de la cscara ctodo. Todos los electrones as producido avalanchas otro disparador, y es el resultado neto de que una avalancha de electrones tremendo realiza toda la longitud del nodo cablear cada vez que un quantum de rayos X se absorbe en cualquier parte del tubo. Todos estos electrones chocan el alambre en menos de un microsegundo, pero lentamente la se desplazan los iones positivos requieren alrededor de 200 microsegundos para alcanzar el ctodo.

Esto significa que la avalancha de electrones en un contador Geiger deja que una funda cilndrica de iones positivos alrededor del alambre de nodo. La presencia de esta vaina de iones reduce el campo elctrico entre l y el cable por debajo el valor umbral necesario para producir un pulso de Geiger. Hasta este ion vaina se ha movido lo suficientemente lejos del alambre, el contador es insensible a entrar en x-ray quanta. Si estos cuantos estn llegando a un muy rpido 7-6] (A) 6EIGER CONTADORES 195 TIEMPO O (B) TIEMPO TIEMPO sensibilidad de entrada de circuito detector Muerto tiempo /, / * - | resolucin de tiempo / s tiempo de recuperacin /, TIEMPO La figura. 7-13. La dependencia de la amplitud del pulso en separacin entre impulsos. tasa, se sigue que no cada uno causar un pulso separado y el contador llegar a ser "ahogado". Esto establece un lmite superior en la velocidad a la que entrar en quanta puede cuente con precisin sin prdidas. Esta lmite es mucho menor que la de un contador proporcional, ya que el positivo iones producidos por una descarga estn muy localizados en el contador proporcional y no hacen que el resto del volumen contador insensible.

La forma en que se producen los pulsos en un contador Geiger la pena examinar con cierto detalle. Se debe recordar que la llegada de rayos X quanta en el contador es aleatoria en el tiempo. Por lo tanto la produccin de impulsos en el contador es tambin aleatorio en el tiempo, y una curva que muestra el cambio en el voltaje de el cable de nodo con el tiempo tendra el aspecto de la figura. 7-13 (a). Durante cada pulso, la tensin aumenta muy rpidamente hasta un mximo y luego 196 DIFFRACTOM ETER mediciones [cap. 7 disminuye ms lentamente a su valor normal. Todos los pulsos tienen la misma amplitud y estn espaciados a intervalos de tiempo aleatorios. Pero si la tasa de produccin del pulso es tan alta que dos impulsos sucesivos ocurrir muy cerca entre s, se encuentra que el segundo tiene menos amplitud normal, como se indica en la figura. 7-13 (b) el ampliada de tensin-tiempo escalas. Si el intervalo entre impulsos se hace menor que la que se muestra en (B), entonces la amplitud del segundo impulso se vuelve todava ms pequeo, como se muestra en (c). La figura 7-13 (d) resume una serie de curvas de este tipo, es decir, es una superposicin de una serie de curvas como (b) y (c), y muestra el amplitud que cualquier pulso dado tendr cuando se sigue el pulso inicial en el intervalo de tiempo indicado por su posicin en el eje de tiempo. Esta disminucin en la altura del pulso con disminucin de la separacin entre impulsos se ha correlacionado con los fenmenos que ocurren en el contador de la siguiente manera. Cuando la avalancha de electrones golpea el alambre de nodo para formar el pulso inicial, el voltaje rpidamente se acumula en su valor mximo y luego decae ms lentamente a cero como la carga de las fugas de alambre de distancia. Pero, como se ha indicado anteriormente, la positiva vaina ion dejado atrs reduce la intensidad de campo entre ste y el alambre. La intensidad de campo aumenta a medida que los iones se mueven en alejamiento del cable, y la hora en la que el campo alcanza el valor umbral marcas theVhid

del tiempo muerto, /, durante el cual el contador es absolutamente insensible a entrar en quanta. La llegada de la vaina de iones en el ctodo restaura la campo a su fuerza normal y marca el final de la tr tiempo de recuperacin. Entre Identificacin y tr el campo es superior al umbral, pero an no vuelve a la normalidad; durante este intervalo de quanta de entrar puede causar pulsos, pero no lo harn tienen la caracterstica de amplitud completa de la tensin aplicada. La recuperacin tiempo, en el que los impulsos de recuperar su amplitud completa, es fijado por el diseo contador y generalmente es del orden de 2 X 10 ~ 4 sec. Sin embargo, el circuito de deteccin puede detectar generalmente pulsos ms pequeo que el mximo amplitud, y por lo tanto, se puede hablar de la ts tiempo de resolucin del countercircuit combinacin, se define, en el momento despus de que el pulso inicial a la que un pulso siguiente primero se puede detectar. Si la llegada, y la absorcin, de entrar cuantos eran absolutamente peridico en el tiempo, la tasa mxima de contaje sin prdidas se dara simplemente por \ / t8. Pero incluso si su tasa media de llegada no es mayor que l/t8, algunos quanta sucesivas pueden estar espaciados menos de t8 distinguen por su aleatoriedad en el tiempo. De ello se deduce que las prdidas de conteo se producir a tasas menos de \ / t8 y que las prdidas aumentarn a medida que aumenta la tasa, como se muestra en la figura. 7-14. Aqu "quanta absorbidos por segundo" son directamente proporcional a la intensidad de rayos X, de modo que esta curva tiene una importante teniendo en mediciones difractmetro, ya que muestra el punto en el cual la tasa de conteo observada ya no es proporcional a la intensidad de rayos x. La lnea recta muestra la respuesta ideal que se puede obtener con un contador proporcional a las tasas que se muestran. 7-6] CONTADORES GEIGER 197 5000 rsingle-

su cadena CJcieer contador 1000 2000 3000 4000 5000 QUANTA ABSOHBKI) SEGUNDA PKK La figura. 7-14. El efecto de la tasa de recuento de las prdidas de conteo (esquema). Puesto que el tiempo de resolucin de la corriente contador Geiger es del orden de 10 ~ 4 seg, la tasa de recuento de las curvas debe ser lineal hasta aproximadamente 10.000 cps (Cuentas por segundo), si la llegada de los cuantos eran peridica en el tiempo. Sin embargo, prdidas de conteo se observa que comienzan a tasas mucho ms bajas, es decir, en unos pocos cientos de cuentas por segundo, como se muestra en la figura. 7-14. En la multicmara frente a la tasa de conteo es lineal hasta ms de 1000 cps; un contador tiene un nmero de cmaras de lado a lado, cada una con su propio cable del nodo, y por lo tanto una cmara puede registrar un nmero, mientras que otro uno se encuentra en su periodo insensible. (El contador proporcional, mucho ms rpido que cualquiera de estos, tiene una curva lineal contando hasta aproximadamente 10.000 cps. Su tiempo de resolucin es menos de un microsegundo, lo que es el tiempo requerido para una avalancha de electrones para golpear el alambre, inmediatamente despus de que el proporcional contador est listo para registrar otro pulso, ya que los iones positivos formado producir ninguna interferencia.) La tasa de recuento especial, donde las prdidas comienzan con un determinado Geigercountercombinacin escalador debe determinarse experimentalmente, y esta se puede hacer de la siguiente manera. Coloque el contador a recibir una fuerte difractada haz, e insertar en esta viga de un nmero suficiente de lminas de metal de uniforme espesor para reducir la tasa de conteo casi hasta el fondo csmico. (Rayos csmicos, debido a su alto poder de penetracin, pasar a travs de

las paredes del mostrador y continuamente producen un recuento de algunos por segundo.) Medir la tasa de conteo, retire una hoja, mida la tasa de conteo y continuar de esta manera hasta que todas las lminas se han eliminado. Dado que cada 198 DIFPRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 10.000 wH <S tf CQ O 1000 2 4 S 10 FOILS Nt'MHKK OK REMOVIDO La figura. 7-15. Las curvas de calibracin de un contador Geiger multicmara para dos valores de la tensin del tubo de rayos X pico. Cu A'a radiacin. Lminas de nquel, cada uno de 0,01 mm de espesor, que se utiliza como amortiguadores. papel de aluminio produce la misma absorcin fraccional de la energa incidente sobre el mismo, una trama de tasa de conteo observada (en una escala logartmica) frente al nmero de lminas retirados de la viga (en una escala lineal) ser lineal hasta el punto en el que comienzan las prdidas y, de hecho, se asemejan a la figura. 7-14. Una curva de este tipo se muestra en la figura. 7-15. Una vez que la longitud de la porcin lineal de la curva de calibracin se ha determinado, lo mejor es hacer todo ms mediciones en esta regin. Por supuesto, las prdidas que en muy alto tasas de conteo se puede determinar a partir de la curva de calibracin y se utilizan para corregir la tasa observada, pero por lo general es ms seguro para reducir la intensidad de un haz muy fuerte, por medio de lminas de absorcin conocida, a un punto donde la tasa de conteo observada es en la porcin lineal de la curva. Figura 7-15 tambin muestra que el intervalo de linealidad de una tasa de conteo

curva depende de la tensin del tubo de rayos X y es ms corto a tensiones inferiores. La razn de esta dependencia es el hecho de que el tubo de rayos X emite caracterstico los rayos X no continuamente, sino slo a rfagas durante los momentos en que 7-6] CONTADORES GEIGER 199 - \ Ciclo - Yo excitacin crtico voltaje TIEMPO La figura. 7-16. Variacin de tensin del tubo con el tiempo para un rectificado de onda completa tubo de rayos X (esquemtica). la tensin del tubo excede el crtico voltaje de excitacin del material objetivo. Supongamos, por ejemplo, que un objetivo de cobre (excitacin = tensin 9 kV) se hace funcionar a una tensin de pico de 50 kv. Entonces, si la forma de onda es como el mostrado en la figura. 7-16, Cu Ka radiacin se emite durante el intervalos de tiempo t ^ 2 y ^ pero no durante <2Fe-Pero si la tensin de pico se disminuy a 25 kv, Cu Ka emisin se limita a los intervalos de tiempo ms cortos t5tG y / 7 <8. Si la intensidad de rayos X es hizo lo mismo en ambas tensiones por el ajuste de la corriente del tubo, entonces se sigue que el mismo nmero de Cu Ka

cuantos se agrupan en tiempos ms cortos en la tensin del tubo inferior a el ms alto. La reduccin de la tensin del tubo por lo tanto disminuye el promedio intervalo de tiempo entre los cuantos de entrar en el contador Geiger durante cada media de ciclo y puede causar contar las prdidas que se produzcan en tasas a las que no prdidas se producen en voltajes del tubo superior. De ello se deduce que un contador de calibracin curva slo se aplica a las mediciones realizadas en los voltajes no menos de la tensin a la que se realiz la calibracin. Otro aspecto de Geiger-contador de operaciones merece mencin, y que es el mtodo usado para prevenir la descarga accionado por la absorcin de un cuanto de continuar indefinidamente. Si el contador se llena con un solo gas, tal como argn, los iones de argn positivos al llegar a la ctodo son capaces de expulsar electrones desde el material del ctodo. Estos los electrones son acelerados hacia el nodo e iniciar otra cadena de ionizacin, con el resultado de que una descarga continua est configurado en el contador, hacindolo incapaz de contar el quanta de entrar despus de la primera. Este flujo puede ser prevenida o "apaga" si un circuito externo es utilizado que abruptamente disminuye el voltaje en el contador despus de cada pulso a un valor por debajo del necesario para mantener una descarga, pero lo suficientemente alto para borrar todos los iones del gas. Tan pronto como los iones se neutralizan en la ctodo, la alta tensin se vuelve a aplicar y el contador es de nuevo sensible. Para evitar la necesidad de un circuito de enfriamiento, los contadores se han diseado que son auto-extincin en virtud de la mezcla de gases que contienen. A el principal gas en el contador, generalmente argn o criptn, se aade una pequea proporcin de "gas de enfriamiento rpido", que es bien un poliatmico vapor orgnico, tal como alcohol, o un halgeno, tal como cloro o bromo. Como su nombre implica, el gas de enfriamiento rpido desempea el papel del circuito de enfriamiento utilizado con

Solo Gas contadores y evita la avalancha inicial de ionizacin de 200 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 convertirse en una descarga continua. En un contador de argn-cloro, por ejemplo, ionizados tomos de argn adquirir electrones de las molculas de cloro por colisin, formando neutros tomos de argn y molculas ionizados de cloro. Estos ltimos no son ms que neutralizado al llegar al ctodo y no suelte electrones como iones de argn hacer. La mayora de los contadores que se usan hoy en da son de la auto-apagado variedad. La eficiencia de un contador Geiger o proporcional y su asociado circuitos est dada por el producto de dos eficiencias, que de absorcin cuntica y la de deteccin cuntica. La eficacia de absorcin depende en el coeficiente de absorcin y el grosor de la ventana del contador, ambos de los cuales debe ser tan pequea como sea posible, y en el coeficiente de absorcin del contador de gas y la longitud de la barra, ambos de los cuales debe ser tan grande como sea posible. La eficiencia en la deteccin de un contador Geiger, como hemos visto, depende de la tasa de conteo y es efectivamente 100 por ciento en tasas bajas; con un contador proporcional de esta eficiencia es alrededor de 100 por ciento en cualquier caso, probablemente se encontrarn en los experimentos de difraccin. El general de eficiencia de cualquiera de contador en tasas bajas est determinado por la eficiencia de absorcin, que es comnmente de 60 a 80 por ciento. La eficacia de absorcin, sin embargo, es muy dependiente de la longitud de onda de rayos X, el tipo de gas utilizado, y su presin, ya que estos factores determinar la cantidad de radiacin absorbida en un contador de longitud dada. Figura 7-17 muestra cmo la cantidad absorbida depende de la longitud de onda para los dos gases ms utilizado en rayos X contadores. Tenga en cuenta que una kryptonfilled contador tiene una alta sensibilidad para

todas las radiaciones caractersticas normalmente utilizado en la difraccin, pero que un contador atmsfera de argn es sensible slo a las longitudes de onda ms largas. Este ltimo caracterstica puede ser ventajoso en algunas circunstancias. Por ejemplo, si un patrn de difraccin se hace con radiacin filtrada de un objetivo de cobre, el uso de un wr atmsfera de argn contador enfermo producir condiciones semimonochromatic, en que el contador se muy sensibles a la radiacin Cu Ka y relativamente insensible a la corta longitud de onda de la radiacin que forma la parte ms intensa de la continua espectro. El fondo de difraccin por lo tanto, ser menor que si un criptn lleno de contador haba sido utilizado. A Mo c KM) 05 10 1.5 LONGITUD DE ONDA 2,0 (A) La figura. 7-17. La absorcin de los rayos X en

un 10-cm de longitud de trayectoria de criptn y argn, cada uno a una presin de 65 cm Hg. 7-7] contadores de centelleo 201 7-7 contadores de centelleo. Este tipo de contador utiliza la capacidad de rayos X para producir ciertas sustancias fluorescentes a la luz visible. La cantidad de la luz emitida es proporcional a la intensidad de rayos X y se puede medir por medio de una clula fotoelctrica. Puesto que la cantidad de luz emitida es pequea, una tipo especial de clula fotoelctrica llamado un fotomultiplicador se tiene que emplear en , a fin de obtener una salida de corriente mensurable. La sustancia generalmente se utiliza para detectar los rayos X es un cristal de yoduro de sodio activado con una pequea cantidad de talio. Emite una luz azul bajo x-ray bombardeo. El cristal se cementa a la cara de una foto. Multiplicador de tubo, como se indica en la figura. 7-18, y protegido de la luz externa por medio de una lmina de aluminio. Un destello de luz se produce en el cristal para cada cuntico de rayos X absorbidos, y esta luz pasa dentro del fotomultiplicador tubo y expulsa un nmero de electrones desde el fotoctodo, vhich es un material fotosensible generalmente de un intermetlico cesio-antimonio compuesto. (Por simplicidad, slo uno de estos electrones se muestra en la figura. 7-18.) Los electrones emitidos son extradas de la primera de varias dnodos de metal, cada uno mantiene a un potencial de aproximadamente 100 voltios ms positivo que la precedente, el ltimo estando conectado a la medicin circuito. Al llegar a la primera dnodo, cada electrn desde el fotoctodo golpes dos electrones, por ejemplo, fuera de la superficie del metal, como se indica en la dibujo. Estos se sienten atrados por la segunda dnodo donde cada noquea dos electrones ms y as sucesivamente. En realidad, la ganancia en cada dnodo puede ser 4 o 5 y por lo general hay al menos 10 dnodos. Si la ganancia por dnodo

es 5 y hay 10 dnodos, entonces el factor de multiplicacin es 510 = 107 . As, la absorcin de uno de rayos X cuntica en los resultados de cristal en la coleccin de un gran nmero de electrones en el dnodo final, produciendo un pulso casi tan grande como un pulso Geiger, es decir, del orden de voltios. Adems, el proceso requiere menos de un microsegundo, de modo que una de centelleo contador puede operar a velocidades tan altas como 10 5 cuentas por segundo sin Como en el contador proporcional, los pulsos producidos en un contador de centelleo contrarrestar tienen tamaos proporcionales a la energa de los cuantos absorbidos. fotoctodo dynodes vaco \ photoniultiplicr tubo de cristal La figura. 7-18. Contador de centelleo (esquema). Las conexiones elctricas no se muestra. 202 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 Pero el tamao de impulso que corresponde a una cierta energa cuntica es mucho menos definidos que en un contador proporcional, es decir, scintillationcounter impulsos producidos por rayos X quanta de una energa dada tienen una media tamao de la caracterstica de que la energa, pero tambin hay una distribucin bastante amplia del tamao del pulso sobre este medio. Como resultado, es difcil discriminar entre x-ray quanta de energas diferentes en la base del tamao de pulso. La eficiencia de un contador de centelleo se acerca al 100 por ciento durante el amplia gama de longitudes de onda de rayos X, a corto y largo plazo, porque todo incidente x-ray quanta son absorbidos en el cristal. Su principal desventaja es su recuento de fondo bastante alto; una denominada "corriente oscura" de impulsos se produce incluso cuando no quanta de rayos X son incidentes sobre el mostrador. El principal fuente de esta corriente oscura es la emisin termoinica de electrones de la

fotoctodo. 7-8 selladores. Un sellador es un dispositivo electrnico que cuenta cada pulso producido por el contador. Una vez que el nmero de impulsos durante un medido perodo de tiempo se conoce, la tasa de conteo promedio se obtiene por simple divisin. Si la tasa de produccin de pulso eran siempre bajo, digamos de unos pocos recuentos por segundo, los pulsos se poda contar satisfactoriamente por un rpido mecnico dispositivos de venta libre, pero tal no puede manejar altas tasas de conteo. Es por lo tanto necesario dividir, o de bajar, los pulsos por un factor conocido antes la alimentacin de ellos para el contador mecnico. Como su nombre implica, el sellador cumple esta ltima funcin. Hay dos clases principales, el sellador binario, en la que el factor de escala es de una potencia de 2, y el sellador dcada, en que es una potencia de 10. Consideraremos operacin sellador slo en trminos de selladores binarios pero los principios implicados son aplicables a cualquier tipo. Un binario tpico sellador tiene varios factores de escala disponibles a la vuelta de un interruptor, que van de 2 (= 1) a alrededor de 2 14 (= 16 384). El circuito de escala se compone de un nmero de idnticas "etapas" conectados en serie, el nmero de etapas es igual a n, donde 2 n es el factor de escala deseado. Cada etapa se compone de una serie de tubos de vaco, condensadores y resistencias tan conectados que slo un pulso de corriente se transmite por cada dos impulsos recibidos. Puesto que la salida de una etapa est conectado a la entrada de otro, esta la divisin por dos se repite tantas veces como hay etapas. La salida de la ltima etapa puede ser conectado a un contador mecnico que se registrar un cargo por cada pulso que le ha transmitido la ltima etapa. Por lo tanto, si N impulsos de un contador se pasan a travs de un circuito de n etapas, slo

N/2n se registrar en el contador mecnico. Hay dos formas de usar un sellador para obtener una tasa media de recuento: contando durante un tiempo fijo y contar un nmero fijo de impulsos. En la primero mtodo, el sellador se enciende durante un tiempo t y luego se apaga. Si el contador mecnico a continuacin, muestra NQ cuenta, el nmero de impulsos de entrada 7-8] 8CALER8 203 debe haber sido AT = N (2 n ) + A, (7-5) donde a es un nmero entero de hasta dos (2 n 1). El entero da una el nmero de impulsos todava "en el circuito" cuando los pulsos de entrada se cerraron apagado, y su valor se encuentra por sealar que varios de interpolacin nen lmparas conectadas a las varias etapas estn todava en. Como se indica en la figura. 7-19 para un circuito de escala-de-16, hay una lmpara de nen conectado a cada etapa y el nmero opuesto cada lmpara es 2n ~ 1 donde n es el nmero de la etapa. El pulso inicial entrando en una etapa enciende la lmpara y en el segundo pulso que se apague. Dado que el segundo pulso de entrar provoca un pulso a ser transmitido a la siguiente etapa, la lmpara en esa etapa que sucede en el mismo tiempo que la lmpara en la etapa precedente se apaga. El entero a es por lo tanto, dada por la suma de los nmeros opuestos lmparas de nen encendidas. El recuento total se muestra en la figura. 7-19, por ejemplo, es N = 18 (16) + (2 + 4) = 294. Una vez que el nmero total de recuentos se sabe, el promedio de recuento velocidad est dada simplemente por N / t.

En el segundo mtodo de escalamiento (contando un nmero fijo de impulsos), el contador mecnico es sustituido por un temporizador elctrico. El temporizador est conectado para el circuito de tal manera que se inicia cuando el sellador se inicia y se detiene en el instante en que un pulso se transmite desde la ltima etapa. Para ejemplo, si el temporizador est conectado a un sellador 10-etapa, se detendr cuando exactamente 1.024 (= 2 10 Legumbres) han entrado en la primera etapa, porque en ese instante en que la dcima etapa transmitir su primer impulso, el conteo promedio velocidad viene dada por el cociente entre 1024 y el momento indicado en el temporizador. Tal circuito no requiere interpolacin ya que no se cuenta en el circuito permanecer en el instante de la etapa final transmite su impulso para el temporizador, es decir, todos los luces de nen se apagan. El nmero total de recuentos, que debe ser una potencia de 2 en un sellador binario, es seleccionado por un interruptor que conecta el temporizador cualquier etapa deseada, haciendo as que la etapa de la etapa final y en cortocircuito el resto. Debido a la llegada de rayos X cuantos en el contador es aleatoria en el tiempo, la precisin de la medicin de la tasa de conteo se rige por las leyes de probabilidad. Dos cargos de la misma haz de rayos X durante perodos idnticos de el tiempo no ser precisamente el mismo debido a la separacin aleatorio entre interpolacin x v nmeros ~ ~ ^ \ I) mecnico contrarrestar La figura. 7-19. Determinacin de los recuentos de sellador. 204 MEDIDAS DE ETER DIFFRACTOM [CAP. 7 pulsos, aunque el contador y el sellador estn funcionando perfectamente.

Evidentemente, la precisin de una medicin de la frecuencia de este tipo mejora a medida que el tiempo de recuento se prolonga, y por ello es importante saber cmo tiempo contar con el fin de alcanzar un cierto grado de precisin. La probable error * en un solo conteo de N pulsos, con relacin a un valor medio Se obtiene de un gran nmero de repeticiones de la operacin de recuento mismo, es propuesta por 67 EN ciento ==, (7-6) siempre y cuando N es bastante grande. Para algunos de los recuentos totales obtenibles a partir un sellador binario, esta frmula no proporciona los siguientes errores: Tenga en cuenta que el error depende slo del nmero de pulsos contados y no en el tipo, lo que significa que las tasas altas y bajas tasas se puede medir con la misma precisin, si los tiempos de conteo se eligen para producir la mismo nmero total de recuentos en cada medicin. Tambin se deduce que el mtodo de escalado segunda descrito anteriormente, en la que el tiempo se mide para un nmero fijo de conteos, es generalmente preferible a la primera, ya que permite mediciones de la intensidad de la misma precisin tanto de alta y vigas de baja intensidad. La ecuacin (7-6) es vlida slo cuando la tasa de conteo debido a la radiacin que se mide es grande en relacin con el fondo. (Aqu "background" significa que la tasa de fondo inevitable contar medida con el x-ray tubo apagado, y no el "fondo de difraccin" de no-ngulos de Bragg debido a cualquiera de las varias causas enumeradas en la seccin. 6-11 y de los cuales fluorescente la radiacin es normalmente la ms importante. El fondo es inevitable debido a los rayos csmicos y puede ser aumentada, en algunos laboratorios, por perdida * El error probable es que lo que es igual de probable que se supere como no. Tres veces el error probable es una figura algo ms til, ya que la probabilidad de que

esto ser superado es slo 0,04. Por lo tanto, si una sola medicin da cuenta 1000, entonces el error probable es 67 / ^ / 1000 = 2,1 por ciento o tallas 21. Entonces, la probabilidad es 0,5 que este recuento se encuentra en el rango de 21 Nt, donde Nt es el nmero real de cuenta, mientras que la probabilidad es 0,96 que el valor medido se encuentra en el intervalo Nt 63. 7-8] SCALER8 205 radiacin de un material radiactivo cercano, ya que puede ser bastante elevada, si un contador de centelleo se utiliza, debido a la corriente de oscuridad de este contador.) Supongamos que una medicin se requiere de la difraccin de fondo, siempre ms bien baja, en presencia de un fondo inevitable bastante grande. En estas circunstancias, la ec. (7-6) no se aplica. Vamos TV ser el nmero de pulsos contados en un tiempo dado con el tubo de rayos X en, Nb y el nmero contados en el mismo tiempo con el tubo fuera. A continuacin, los recuentos Nb se deben a el fondo inevitable y (N Nb) para el fondo de difraccin se est midiendo, y es probable que el error relativo en (N Nb) 07V'N Nb + E *-x * = - ~ 7 ^ ^ 7T ~ Porcentaje-(7-7) (N - Nb) La comparacin de las ecuaciones. (7-0) y (7-7) muestra que ya no cuenta debe estar hizo inevitable cuando el fondo es de una intensidad comparable a la radiacin a medir que cuando el fondo es inevitable completamente insignificante en comparacin, si la misma precisin que se desea obtener en ambas mediciones. Como se indica en la seccin. 7-2, la intensidad integrada de una lnea de difraccin puede ser medida con un sellador mediante la determinacin de la tasa media de recuento en varias posiciones angulares de la barra. El perfil de la lnea, la curva de

intensidad vs 26, se representan a continuacin en papel cuadriculado, y el rea bajo la curva, y por encima del fondo continuo, se mide con un planmetro. Para obtener la misma precisin relativa de ambos el perfil de lnea y la adyacente fondo, todas las medidas deben hacerse contando un fijo nmero de pulsos. Otros tres mtodos de medicin de intensidades integradas Se han utilizado, todos los cuales utilizan las propiedades de integracin de la escala circuito para reemplazar la curva trazado y medicin planmetro: (1) La lnea se explora de un lado a otro en un angular constante tasa, el sellador se inici a principios de la exploracin y se detuvo en su extremo. El nmero total de recuentos registrados por el sellador, menos el nmero de conteos por el fondo, es entonces proporcional a la integral intensidad de la lnea. Todas las lneas en el patrn debe medirse con la misma ranura de recepcin y la misma velocidad de exploracin. El fondo adyacente a, y en cada lado de, la lnea se puede medir por el mismo procedimiento, es decir, mediante el escaneo a la misma velocidad en el rango angular mismo, o por recuento en una posicin fija durante el mismo tiempo requerido para escanear el lnea. (2) El contador se mueve paso a paso a travs de la lnea y se mantiene en cada posicin durante el mismo perodo de tiempo, el sellador siendo operado continuamente excepto cuando se cambian las posiciones contrarias. El recuento total acumulado por el sellador, menos la correccin de fondo, es de nuevo proporcional a la intensidad integrada. Una rendija ancha recepcin se utiliza, y el 206 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [CAP. 7 intervalo angular entre las posiciones de contador se elige de manera que el solapamiento entre los ajustes adyacentes de la ranura es insignificantemente pequea y constante y nunca coincide con la intensidad mxima de la lnea que se est midiendo. (3) Una rendija receptora se utiliza lo que es ms ancha que la lnea que se est midiendo.

La ranura est centrada en la lnea y un recuento realizado durante un tiempo dado. La fondo se mide contando en una posicin adyacente a la lnea de con la misma ranura para la misma duracin de tiempo. Debido a que todos estos mtodos implican contar durante un tiempo fijo, el fondo y de baja intensidad porciones de la lnea de difraccin se miden con menos precisin que las porciones de alta intensidad. El tiempo de recuento debe elegirse de forma que las bajas intensidades se miden a la exactitud requerida por el problema particular implicado, sino que seguir entonces que el altas intensidades se miden con una precisin innecesariamente alta, pero que es inevitable en tiempo fijo mtodos como estos. La capacidad de integracin de un sellador tambin se empez a utilizar en los monitores de tubo de rayos x. En la seccin. 7.2 se mencion que la intensidad del haz incidente tuvo para mantenerse absolutamente constante en un difractmetro y que esta constancia requiere estabilizadores de tubo de corriente y tensin. Estos estabilizador circuitos no son necesarios si un contador adicional y el sellador estn disponibles para los "Ver", o el monitor, la salida del tubo. El contador del monitor se puede colocar para recibir el haz directo, los filtros adecuados para reducir su intensidad, de otra ventana del tubo de rayos X, o un cristal auxiliar se puede configurar para difractar una porcin del haz utilizado en el difractmetro en el monitor contrarrestar. En cualquier caso, cada medicin de intensidad con el difractmetro se hace poniendo en marcha el difractmetro de sellador y sellador del monitor simultneamente y detener tanto cuando el sellador monitor ha registrado un nmero constante de recuentos de N. De esta manera, cada medicin de intensidad se hace en trminos de la misma cantidad de energa que incide sobre la muestra, y las variaciones en la salida del tubo no tienen ningn efecto. 7-9 Ratemeters. El medidor de conteo de cambio, como su nombre lo indica, es una

dispositivo que indica la tasa promedio contando directamente sin requerir, como en el temporizador de sellador a la combinacin, mediciones separadas de la nmero de cuenta y el tiempo. Esto se logra mediante un circuito que, en efecto, suaviza la sucesin de impulsos espaciados aleatoriamente desde el contador en una corriente constante, cuya magnitud es proporcional a la media tasa de produccin de impulsos en el contador. El corazn de un circuito de tacmetro es una disposicin en serie de un condensador y la resistencia. Para entender la accin de un tacmetro, debemos revisar algunas de las propiedades de un circuito, en particular la forma en que el corriente y el voltaje varan con el tiempo. Considere el circuito mostrado en la figura. 7-20 (a), en el que el interruptor S se puede utilizar ya sea para conectar un c a y por lo tanto aplicar un voltaje al condensador, o para conectar a b c y por lo tanto de cortocircuito 7-9] RATEMETERS 207 La figura. 7-20. El circuito condensador-resistencia. el condensador y la resistencia. Cuando A es repentinamente conectado a c, la tensin a travs del condensador alcanza su valor final V no instantneamente, sino slo durante un perodo de tiempo, y a una velocidad que depende de la resistencia R y la capacitancia C, como se muestra en la figura. 7-20 (b). El producto de R y C tiene las dimensiones del tiempo (segundos, de hecho, si R es en megaohmios y C en microfaradios), y se puede demostrar que el voltaje a travs del condensador alcanza 63 por ciento de su valor final en un tiempo dado por RC, conocido como el tiempo constante del circuito. El tiempo necesario para alcanzar el 99 por ciento de su ltimo valor es 4.6RC. A la inversa, si el condensador completamente cargada, teniendo una carga Q = CV, es repentinamente en cortocircuito a travs de la resistencia mediante la conexin b en c, la carga no desaparecen inmediatamente, pero lejos fugas a una tasa depende de la constante de tiempo. La carga cae a 37 por ciento de su valor inicial en un tiempo igual a RC y a 1 por ciento en un tiempo igual a

Un circuito de tacmetro completo consta de dos partes. El primero es un pulseamplifying y de conformacin de impulsos porcin que convierte electrnicamente la pulsos de contador, que varan en amplitud y forma de contador de contrarrestar, en pulsos rectangulares de dimensiones fijas en el voltaje y tiempo. Estos pulsos se incorporan despus en la segunda parte, que es el circuito de medicin se muestra en la figura. 7-21, un circuito bsicamente pulso de entrada similar a la de la fig. 7-20 (a) y que tiene una constante de tiempo # 2 ^ 2 - $, se muestra como un simple interruptor, es en realidad un circuito electrnico que conecta un para C cada vez que un pulso llega y luego conecta a b c inmediatamente despus. Una carga constante es, pues, aadido al condensador para cada cerdo pulso. 7.21. Porcin de medicin de recibido y este fugas de carga de distancia circuito tacmetro. 208 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [cap. 7 travs de la resistencia hasta que, en el equilibrio, la velocidad de adicin de la carga es slo equilibrado por el ndice de fuga. La tasa de fuga de carga es simplemente la corriente a travs de la M microampermetro, que indica por lo tanto la tasa de produccin de impulsos en el contador y, a su vez, la intensidad de rayos x. El circuito contiene normalmente, adems de la indicacin metros, un grfico grabadora que produce un registro continuo de la intensidad. Incluso cuando la intensidad de rayos X es constante (constante recuento promedio tasa), la separacin de los pulsos de contador es aleatoria en el tiempo, lo que significa que la tasa de conteo en realidad vara con el tiempo en periodos cortos. La tacmetro responde a estas fluctuaciones estadsticas en la tasa de conteo, y su velocidad de respuesta es mayor cuanto menor es la constante de tiempo. Esto se deduce

a partir de la discusin del circuito condensador-resistencia: cualquier cambio en el la frecuencia del pulso provoca un cambio en la corriente a travs del circuito, pero el Este ltimo cambio siempre va por detrs del antiguo, la cantidad de retraso es menor para una constante de tiempo pequeo que para uno grande. Fluctuaciones aleatorias en la tasa de conteo son por lo tanto ms evidente con una constante de tiempo pequea, porque la corriente en el circuito, luego sigue los cambios en el conteo de tasa ms de cerca. Esta caracterstica se ilustra en la figura. 7-22, que muestra la registran automticamente la salida de un tacmetro cuando el contador est recibiendo una constante de intensidad de rayos X de haz. Las fluctuaciones grandes en la parte izquierda tienen ha reducido en magnitud por aumentos sucesivos de la constante de tiempo, efecta cambiando el valor de C2. Evidentemente, una nica lectura de la posicin de la aguja del indicador del instrumento o de la pluma grabadora de un tacmetro puede ser seriamente por error, y ms an en las constantes de tiempo bajas que a altas. En la seccin. 7-8 vimos que el error en la medicin conteo disminucin de la tasa como el nmero de cuentas aumenta. Ahora bien, puede ser demostrado que un tacmetro acta como si se contaron durante un tiempo 2R2C2, en el sentido de que el exactitud de la lectura nica es equivalente a un recuento realizado con un sellador durante un tiempo 2R2C2. Por lo tanto, el error relativo probable en cualquier sola lectura tacmetro est dada por la contraparte de la ecuacin. (7-G), a saber, por C7 E =; por ciento, (7-8) \ / 2nR2C2 donde n es la tasa de conteo promedio. Esta ecuacin muestra tambin que la error probable es menor para altas tasas de conteo que para bajo, cuando el tiempo constante sigue siendo el mismo. Esto se ilustra grficamente en la figura. 7-23, que muestra cmo las fluctuaciones registradas en la disminucin de la tasa de conteo

como la misma tasa se incrementa. La caracterstica ms til de un tacmetro es su capacidad para seguir los cambios en la tasa de conteo promedio, una funcin que el sellador es totalmente incapaz realizar, ya que un cambio en la tasa media de recuento que ocurra durante el vez que se hizo un recuento con un sellador, se destinar ntegramente sin ser detectados. Es Esta caracterstica de un tacmetro que es tan til en difractometra. A diffrac79] RATEMETERS 209 La figura. 7-22. Efecto de la constante de tiempo (TC) de las fluctuaciones registradas en el conteo velocidad a la constante de intensidad de rayos X (esquemtica). Constantes de tiempo cambi bruscamente en Siempre se muetsra hora. (T.C.) i <(T.C.) 2 <(T.C.) 3. patrn cin se pueden escanear de un extremo al otro, y moviendo el contador transmite automticamente, a travs del tacmetro, un continuo registro de la intensidad que se observa como el ngulo de difraccin es cambiado. En Por otro lado, el tacmetro es menos preciso que el sellador, tanto porque de las fluctuaciones inevitables estadsticos en su produccin y debido a la errores inherentes a su indicacin o registro de instrumentos. Como se mencion anteriormente, una gran constante de tiempo suaviza las fluctuaciones en la tasa media de recuento mediante el aumento del tiempo de respuesta a los cambios en tasa. Pero cuando una fuerte lnea de difraccin se est escaneando, el promedio tasa de conteo est cambiando rpidamente y nos gustara que el tacmetro para indicar este cambio con la mayor precisin posible. Desde este punto de vista un poco tiempo de respuesta, producido por una constante de tiempo pequea, se requiere. Un tacmetro por lo tanto deben ser diseados con estos dos factores en conflicto en TIEMPO La figura. 7-23. Efecto de la tasa media de recuento de las fluctuaciones registradas en el conteo tasa, para una constante de tiempo fijo (esquemtica). Intensidad de rayos X cambia abruptamente en

Siempre se muetsra hora. 210 DIFFRACTOM EtBr mediciones [cap. 7 mente, y la constante de tiempo debe elegirse lo suficientemente grande como para suavizar la mayora de las fluctuaciones estadsticas y todava lo suficientemente pequeo como para dar un razonablemente tiempo de respuesta corto. Ratemeters ms comerciales tienen varias escalas disponibles para cubrir diversas rangos de intensidad de rayos X (cps 100, 1000, y 10.000 para la escala completa deflexin de la pluma grabadora, por ejemplo). Constantes de tiempo ms pequeas son utilizado con las escalas mayores, tal como cortos tiempos de conteo se utiliza con un sellador cuando la tasa de recuento es alto. En algunos instrumentos, la constante de tiempo apropiado para cada escala est fijado por el fabricante, y en otros el operador puede seleccionar cualquiera de varias constantes de tiempo, que van desde aproximadamente 0,5 a 15 segundos, por interruptores que insertar la capacitancia adecuada en la circuito. El tiempo apropiado constante a utilizar es, por supuesto, no sin relacin con la velocidad de exploracin, para una exploracin rpida exige una respuesta rpida del tacmetro y por lo tanto una constante de tiempo corta. Una constante de tiempo que es demasiado grande para la velocidad de exploracin utilizado se desplazar ligeramente los picos de las lneas de difraccin en la direccin de la exploracin y disminuir su intensidad mxima y porque, de su accin suavizado excesivo, en realidad puede destruir difraccin dbil lneas y les hacen pasar desapercibidos. En la eleccin de una constante de tiempo, por lo que es mejor errar en el lado corto. Una buena regla a seguir es hacer que la constante de tiempo de menos de la mitad de la anchura de tiempo de la rendija receptora, donde la anchura de tiempo se define como el tiempo requerido para la ranura para viajar su propia anchura. Por ejemplo, si una hendidura 0,2 se utiliza a una velocidad de escaneado de 2/min, a continuacin, la anchura de tiempo de la ranura es (0,2 / 2) (60) = 6 segundos, y el

constante de tiempo por lo tanto, debe ser inferior a 3 segundos. La misma regla puede ser utilizado para encontrar la anchura de la rendija adecuada para una velocidad de exploracin dada cuando el tiempo constante es fijo. La relacin entre la intensidad de rayos X, es decir, la tasa de conteo promedio, y la desviacin de la aguja del indicador del instrumento o pluma grabadora es lineal para algunos ratemeters y logartmicas para los dems. La relacin exacta puede ser encontrado por un procedimiento de calibracin similar a la utilizada para el Geiger contador y sellador, tal como se describe en la seccin. 7-8. Un nmero idntico de metal lminas se colocan en un haz difractado fuerte de entrar en el mostrador y estos se retiran de uno en uno, con el contador en una posicin fija. Despus cada retiro, la tasa de conteo se mide con precisin con un sellador, y el tacmetro en funcionamiento durante un tiempo al menos igual al tiempo de escalamiento, la velocidad de grfico de grabacin se selecciona para proporcionar un rastro de razonable longitud. Una lnea recta promedio se pasa luego por cada traza, de tal de manera que haga que las fluctuaciones positivas y negativas tan iguales como posible. (Figura 7-23 muestra una parte de una carrera de calibracin hecha en este manera.) Por ltimo, las distancias de las lneas rectas de la tabla son cero representa frente los correspondientes tipos medios de recuento determinados por el sellador, y la curva de calibracin obtenida de este modo se utiliza como una base para la futura * mediciones de la intensidad con la combinacin de tacmetro-grabadora. 7-10] USO DE monocromadores 211 Uso 7-10 de monocromadores. Algunos problemas de investigacin, en particular los medicin de la dispersin difusa a no Bragg ngulos, requieren un estricto haz monocromtico incidente si los efectos a medir no son para ser borrados por el espectro continuo. En tal caso, el enfoque cristal monocromador se describe en la seccin. 6 a 12 mayo ser usado en conjuncin

con un difractmetro de la manera mostrada en la figura. 7-24. Los rayos del S fsico fuente en lnea de los destinatarios T tubo de rayos X son difractados por la inclinacin y cortar M cristal a un foco lineal a S ', situada en el crculo difractmetro, y luego divergen para la muestra C. Despus de difraccin de la muestra, se centra de nuevo en F, la hendidura contador de recepcin. El difractmetro geometra es por lo tanto idntica a la indicada en la figura. 7-1, pero con la importante diferencia de que el incidente de los rayos sobre la muestra son monocromticos y la emisin de 'virtual de origen S, la lnea central de la monocromtico cristal. Hay otro mtodo de operar bajo esencialmente monocromtica condiciones, un mtodo peculiar para el difractmetro, y que es por la el uso de filtros de Ross, tambin llamados filtros equilibrados. Este mtodo depende el hecho de que los coeficientes de absorcin de todas las sustancias varan en la misma forma con la longitud de onda, es decir, que son proporcionales a X3 , Como se muestra por la ecuacin. (1-13). Si los filtros estn hechos de dos sustancias diferentes en el nmero atmico por una parte, y sus espesores ajustado de modo que produzcan la misma absorcin para una longitud de onda particular, a continuacin, tendrn la misma absorcin para todas las longitudes de onda excepto los que se encuentran en la regin de longitud de onda estrecha entre los bordes de absorcin K de las dos sustancias. Esta regin es llama la banda de paso del filtro de combinacin. Si estos filtros se colocan alternativamente en un heterochromatic haz de rayos X, es decir, un haz de rayos que contiene de diferentes longitudes de onda, entonces la diferencia entre las intensidades de transmisin en cada caso se debe slo a longitudes de onda situadas en la banda de paso. La figura. 7-24. El uso de cristal monocromador con difractmetro. 212 DIFFRACTOM MEDIDAS Eter [CAP. 7

Cuando la banda de paso se elige para incluir un componente fuerte caracterstica del espectro, a continuacin, el efecto neto es el de una fuerte monocromtica viga. El aislamiento de radiacin Cu Ka se puede tomar como un ejemplo. Su longitud de onda es 1.542A, lo que significa que el cobalto y el nquel se puede utilizar como materiales de filtracin desde sus bordes K de absorcin (1.608 y 1.488A, respectivamente) eficaz soporte de la lnea de Cu Ka. Sus coeficientes de absorcin lineales M se representan en la figura. 7-25 (a), que muestra que el equilibrio puede ser obtenido al hacer el nquel filtrar algo ms delgado que el cobalto uno. Cuando sus espesores x se ajusta a la proporcin correcta, entonces MN ^ NI = MCO ^ CO excepto en la banda de paso, y una parcela de px vs X tiene la apariencia de la fig. 7-25 (b). Puesto que / LT = In / x / /, los factores de transmisin / V / S (Relacin de transmisin a la intensidad incidente) de los dos filtros son ahora iguales para todas las longitudes de onda excepto los de la banda de paso, que es slo 0,1 2A de ancho. En cada ngulo 20 en la que la intensidad se mide con la difractmetro, primero un filtro y luego en la otra se coloca en el difractada haz antes de que entre el contador. La intensidad del haz difractado pasa a travs de cada filtro se mide entonces, y la diferencia en la mediciones da la intensidad difractada de la nica lnea de Cu y A'a las longitudes de onda relativamente dbiles inmediatamente adyacentes a ella en el paso banda. Se debe enfatizar que el haz entra en el contador nunca se fsicamente monocromtica, como lo es cuando un monocromador de cristal se utiliza. La radiacin con una longitud de onda muchos grandes entra en el contador cuando sea filtro est en su lugar, pero tiene cada longitud de onda transmitida por un filtro de la misma intensidad que la transmitida por el filtro, excepto aquellas longitudes de onda acostado en la banda de paso, y stos se transmiten muy desigual

por los dos filtros. Por lo tanto, cuando la intensidad medida con un filtro se resta de la medida con el otro filtro, la diferencia es cero para cada longitud de onda, excepto los de la banda de paso. En la prctica, el equilibrio de los filtros se lleva a cabo mediante la insercin de dos lminas de aproximadamente el mismo espesor en los soportes adecuados que se pueden deslizado en su lugar en el haz entra en el contador. Una lmina es siempre perpendicular al haz de rayos X, mientras que el otro se puede girar alrededor un eje en ngulos rectos a la viga, de esta manera la segunda lmina puede estar inclinado a la viga en un ngulo tal que su espesor efectivo es igual a x el espesor necesario para el equilibrio. Equilibrio perfecto en todas las longitudes de onda fuera de la banda de paso no es posible, aunque puede ser abordado bastante estrechamente, ya que n no vara exactamente como X3 y porque la magnitud el salto de absorcin K (relacin de coeficientes de absorcin de longitudes de onda slo ms corto y slo ms largo que el borde K) no es exactamente la misma para todos los elementos. 7-10] USO DE monocromadores 213 c3 O -3 c <U 1 yo ,0 o g

8 ^ 5 II MdlL ^ KX) XOLIxIHOSHV HVMXTI 214 MEDIDAS DE ETER DIFFRACTOM [CAP. 7 PROBLEMAS 7-1. Una muestra de polvo en la forma de una placa rectangular tiene una anchura de 0,5 cm, medida en el plano del crculo difractmetro, que tiene un radio de 5,73 pulg Si se requiere que la muestra llene completamente el haz incidente en todos los ngulos y que las mediciones deben hacerse en ngulos tan bajo como 26 = 10, cul es la ngulo de divergencia mxima (medida en el plano del crculo difractmetro) que el haz incidente puede tener? 7-2. Demostrar la declaracin hecha en la seccin. 7-4 que el volumen irradiado eficaz de un espcimen de placa plana en un difractmetro es constante e independiente de 6. 7-3. En la medicin de la intensidad mxima de una lnea de difraccin con una cierta sellador, 2048 impulsos fueron contados en 1,9 seg. Cuando el "difraccin de fondo" unos pocos grados de distancia de la lnea se midi, 2048 pulsos fueron contados en 182 segundos. La tasa de conteo promedio determinado durante un largo perodo de tiempo con el tubo de rayos X apagado fue de 2,2 cps. (A) Cul es la relacin de la intensidad mxima de la lnea a la de la difraccin " fondo "? (6) Cul es el error probable en cada una de estas intensidades? (C) Cunto tiempo es necesario que el "fondo de difraccin" se contar con el fin de obtener su intensidad con la misma precisin que la de la lnea de difraccin? 7-4. (A) Calcular la relacin entre el espesor eficaz de cobalto y nquel filtros cuando estn equilibradas para todas las longitudes excepto Cu Ka. (Obtenga un promedio

valor aplicable a una gama de longitud de onda se extiende desde aproximadamente 0,5 a aproximadamente 2A.) (6) Cuando los filtros estn en equilibrio, el clculo de la relacin de la intensidad de Cu Ka radiacin transmitida por el filtro de nquel a la transmitida por el filtro de cobalto, suponiendo la intensidad incidente misma en cada caso. El espesor efectivo de la nquel filtro es 0,00035 pulg

CAPTULO 8 ORIENTACIN DE MONOCRISTALES

1.8 Introduccin. Mucho de nuestro conocimiento de las propiedades de policristalino materiales ha sido adquirida por los estudios de monocristales aislados, desde dicha medicin permiso de estudios de las propiedades de la persona bloques de construccin en la masa compuesta. Debido a que los cristales individuales son generalmente investigacin anisotrpico, de este tipo siempre requiere de un conocimiento exacto de la orientacin de la muestra de ensayo de cristal nico, a fin de que las mediciones se puede hacer a lo largo de direcciones cristalogrficas conocidas o planos. Al variar la orientacin de los cristales, se puede obtener datos sobre la propiedad medir (por ejemplo la fuerza, el rendimiento, la resistividad elctrica, la velocidad de corrosin) como un funcin de la orientacin del cristal. En este captulo, los tres principales mtodos de rayos X de la determinacin de cristal orientacin se describir: el mtodo de Laue back-reflexin, la transmisin Mtodo de Laue, y el mtodo difractmetro. Tambin es conveniente para tratar aqu la cuestin de la deformacin del cristal y medicin de la de esta deformacin por rayos X mtodos. Por ltimo, el tema de la relacin orientacin de los cristales se discute, y se dan mtodos para la determinacin

la orientacin relativa de los dos cristales asociados de forma natural, tales como la dos partes de un gemelo o un cristal precipitado y la fase de los padres. 8.2 El mtodo de Laue back-reflexin. Como se mencion en la seccin. 3-6, la Laue patrn de un solo cristal se compone de un conjunto de manchas de difraccin sobre la pelcula y las posiciones de estos puntos dependen de la orientacin del cristal. Esto es cierto de cualquier mtodo de transmisin de Laue, o la reflexin posterior-, por lo tanto se puede utilizar para determinar la orientacin del cristal. Sin embargo, la retrorreflexin mtodo es el ms ampliamente utilizado de los dos ya que no requiere preparacin especial de la muestra, que puede ser de cualquier espesor, mientras que el mtodo de transmisin requiere muestras relativamente delgadas de bajo absorcin. En cualquier caso, ya que la orientacin de la muestra se determina a partir de la ubicacin de los puntos de Laue en la pelcula, es necesario orientar la muestra respecto a la pelcula de alguna manera conocida. El single especmenes de cristal en situaciones de trabajo metalrgico son por lo general en la forma de alambre, varilla, lmina o placa, pero los cristales de forma irregular en ocasiones debe ser tratado. Especmenes de alambre o varilla est mejor montado con su eje paralelo a un borde de la pelcula cuadrada o rectangular; un fiducial marcar en la superficie de la muestra, por ejemplo en el lado ms cercano de la pelcula, a continuacin, fija la orientacin de la muestra completamente. Es conveniente 215 216 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES ZA [CAP. 8 La figura. 8-1. Interseccin de una matriz cnica de haces difractados con una pelcula colocada en la posicin posterior-reflexin. C = cristal, F = pelcula, Z.A = eje de zona.

montar especmenes lmina o placa con su plano paralelo al plano de la pelcula y un borde de la lmina o placa paralela a un borde de la pelcula. Cristales de forma irregular debe tener las marcas de referencia en su superficie que definitivamente fijar su orientacin con relacin a la de la pelcula. El problema ahora es determinar la orientacin del cristal de la posicin de las manchas de Laue reflexin posterior sobre la pelcula. Si desea wo, nos podra determinar el ngulo de Bragg correspondiente a cada punto de Laue Eq. (5-2), pero que no sera de ayuda en la identificacin de los aviones que producen ese lugar, ya que la longitud de onda del haz difractado es desconocida. Nosotros Sin embargo, puede determinar la orientacin de la normal a los pianos que causan cada punto, debido a que el plano normal de siempre biseca el ngulo entre incidente y haces difractados. Las direcciones de las normales tho piano puede entonces bo representa en una proyeccin steroographic, los ngulos entre espina medido, y los planos identificados por comparacin con una lista de los conocidos ngulos interplanares para el cristal involucrados. Nuestro primer problema, por lo tanto, es derivar, a partir de la posicin medida de cada punto de difraccin en la pelcula, la posicin sobre una proyeccin estereogrfica del polo del plano causando ese lugar. Al hacer esto, es til Recordamos que todos los planos de una zona reflejar vigas que se encuentran en la superficie de Tho de un eje del cono que fuere aunque zono eje y quien ngulo somi-apox es igual al ngulo en el que <t> tho zono eje est inclinado a la transmitida viga (Fig. 8-1). Si no doos <t> exceder de 45 aos, aunque cono no se cruzar un pelcula colocada en la parte posterior tho-reflexin regin; si <encuentra entre 45 y 90, la cono intersecta pelcula aunque en una hiprbola, y, si es </> oquals 90, la interseccin es una lnea recta que pasa a travs del haz incidente Tho. (Si </> excede 90, el cono se desplaza a una posicin por debajo tho haz transmitido y se cruza

la mitad inferior de la pelcula, como puede ser mediante la visualizacin de la figura pronto. 8-1 al revs.) Manchas de difraccin en una pelcula Laue back-reflexin por lo tanto se encuentran en Hyper82] EL REGRESO REFLEXIN Laue MTODO 217 pelcula [Ornri corte tor identificacin 2 S Fid Locucin oi buck-ieflertion hnuo lugar. Tenga en cuenta que 7 = - 1) 0 0. bolas o lneas rectas, y la distancia de cualquier hiprbola desde el centro de la pelcula es una medida de la inclinacin del eje de zona. En la fig. 8 2 la pelcula es \ decir, \ \ ed del cristal. Ejes de coordenadas son configurar * tal que el haz incidente proceder a lo largo del eje z en la direccin Oz y el. R-y / /-ejes que en el plano de la pelcula. El haz reflejado por el plano que se muestra golpea la pelcula en S. La normal a esta reflejando plano es (\ \ y el propio avin se supone que pertenecen a una zona de \ \ manguera eje se encuentra en el directorio / /; plano. Si imaginamos que este plano para girar alrededor de la zona eje, se pasan a travs de todas las posiciones en las que los planos de esta zona en una cristal real puede mentir. Durante esta rotacin, el plano normal sera cortar la pelcula en la lnea recta AB y el haz reflejado en el HK hiprbola. AB es por lo tanto el lugar geomtrico de intersecciones plano normal con la pelcula y HK el locus de intersecciones haz difractado. El plano \ \ hich refleja una haz a N, por ejemplo, tiene una normal que intersecta la pelcula en N, desde el haz incidente, normal plano, y el haz difractado son coplanares. Desde la orientacin de la normal de plano en el espacio puede ser descrito por su angular coordenadas 7 y 6, el problema es determinar 7 y 6 de la medida coordenadas x y / / S de la mancha de difraccin sobre la pelcula. Un mtodo grfico de hacer esto fue ideado por (Ireninger que desarroll

un grfico que, cuando se coloca sobre la pelcula, da directamente el 7 y 5 coordenadas correspondientes a cualquier punto de difraccin. Para trazar un grfico, observamos en la figura. 8-2 que jc = OK pecado / x, U = M cos OS y OS = OC bronceado 2a, 218 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 donde OC = D = distancia espcimen de pelcula. Los ngulos y ju r <se obtienen de 7 y d como sigue: FN CF bronceado bronceado 8 6 bronceado M === FO CF pecado pecado 7 7 OC \ sin M / \ CF cos y / \ sin M / \ CF cos 7 tan 5 sen / cos i 7 Con estas ecuaciones, la posicin (en trminos de x e y) de cualquier difraccin punto se pueden trazar para valores dados de 7 y d y cualquier deseado specimenfilm distancia D. El resultado es el grfico Greninger, graduada en intervalos de 2 se muestra en la figura. 8-3. Las hiprbolas se ejecutan de izquierda a derecha curvas de la constante 7, y cualquiera de estas curvas es el lugar geomtrico de difraccin manchas de planos de una zona cuyo eje est inclinado lejos del plano de la pelcula por el ngulo indicado 7. Si los puntos que tienen el mismo valor de d se unido, otro conjunto de hiprbolas que corre de arriba a abajo es obtenido. La mitad inferior de la tabla contiene un transportador cuyo uso se har referencia ms adelante. Grficos Greninger deben tener lneas oscuras sobre un transparente de fondo y estn mejor preparados como impresiones positivas sobre fotogrfico pelcula. En uso, la tabla se coloca sobre la pelcula con su centro en coincidencia con el centro de la pelcula y con los bordes del grfico y paralelo pelcula. El 7 y

S coordenadas correspondientes a cualquier punto de difraccin se leen directamente. Tenga en cuenta que el uso de la tabla evita cualquier medicin de la coordenada real distancias x e y de la localizacin. La tabla da directamente, no la x e y las coordenadas del punto, pero el angular coordenadas Y y D de la normal a el plano causando el lugar. Conocer los 7 y 8 de coordenadas de cualquier normal de avin, por ejemplo CN en la figura. 8-2, podemos trazar el polo del plano en una proyeccin estereogrfica. Imagnese una esfera de referencia centrado en el cristal en la figura. 8-2 y tangente a la pelcula, y dejar que el plano de proyeccin coincide con la pelcula. El punto de proyeccin se toma como la interseccin del haz transmitido y el esfera de referencia. Puesto que el CN plano normal intersecta el lado de la mbito ms cercano a la fuente de rayos X, la proyeccin debe ser visto desde que lado y la pelcula "leer" de ese lado. Con el fin de saber, despus de la elaboracin, la orientacin de la pelcula tuvo durante la exposicin de rayos X, la superior derecha esquina de la pelcula (visto desde el cristal) se corta antes de que sea colocado en el casete, como se muestra en la figura. 8-2. Cuando la pelcula se lee, esta 8-2] LA PARTE POSTERIOR 219 Laue-REFLEXIN MTODO 6 20 7 = 20 7 = 10 7=0 21) La figura. (S-3. (jreniiifter Chait para la solucin de los patrones de Laue reflexin de fondo, reproducido en el tamao correcto para una distancia D espcimen a pelcula de 3 cm. esquina cortada por lo tanto debe estar en la parte superior izquierda, como se muestra en la figura. 8-4 (a). Los ngulos de 7 y 6, ledos de la tabla, luego se puso sobre la proyeccin

como se indica en la figura. 8-4 (b). Tenga en cuenta que la red subyacente debe ser Wulff orientada de manera que sus meridianos ejecutar de lado a lado, no arriba a abajo. La razn de esto es el hecho de que las manchas de difraccin que se encuentran en las curvas de y constante provienen de los planos de una zona, y debe los polos de estos planos 220 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES cortar y esquina [CAP. 8 RO.JI-Xtion (B) P'IG. <S-4. El uso de la tabla Greninger para trazar el polo de un plano reflectante en un proyeccin estereogrfica. M polo 1 '(b) es el polo de la difraccin plano causando punto 1 en (a). 8-2] EL MTODO DE RESPALDO Laue REFLEXIN por lo tanto, se encuentran en un gran crculo en el proyeccin. Los 7,6 coordenadas correspondientes a manchas de difraccin sobre la la mitad inferior de la pelcula se obtienen simplemente invirtiendo el Greninger trazar los extremos. Este procedimiento puede ser ilustrada mediante la determinacin de la orientacin de la aluminio cristal cuya espalda-reflexin Laue patrn se muestra en la figura. 3 - (> (b) -. Fig. 8-5 es un trazado de este fotografa, mostrando la ms importante manchas de un nmero de referencia. Los polos de los aviones que causan estos

puntos numerados se trazan estereogrficamente en la figura. 8-0 por el mtodo de la fig. 8-4 y se muestran como slido crculos. 221 La figura. X-5. Seleccin de los puntos de difraccin patrn de Laue back-reflejo de una aluminio cristal, trazada en la figura. 3-6 (b). La figura. 8-6. Proyeccin estereogrfica correspondiente al patrn de back-reflejo de La figura. 8-5. 222 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 El problema ahora es el de "index" estos aviones, es decir, para encontrar sus Miller ndices, y as revelar la orientacin del cristal. Con la ayuda de un Wulff netas grandes crculos, se dibujan a travs de los diversos conjuntos de polos correspondientes a las hiprbolas de varios puntos en la pelcula. Estos grandes crculos conectar planos de una zona, y son planos situados en sus intersecciones generalmente de ndices bajos, tales como j 100}, {110}, {11 1 } Y {112}. Los ejes de las zonas en s son tambin de ndices bajos, por lo que es til para localizar estos ejes en la proyeccin. Se muestran como crculos abiertos en la fig. 8-6, PA siendo el eje de la zona de .4, PB el eje de la zona B, etc A continuacin, medir los ngulos entre importantes polos (intersecciones zona y los ejes de zona) y tratar de identificar los polos por comparacin de estos ngulos medidos con los calculados para cristales cbicos (Tabla 2-3). El mtodo es esencialmente uno de ensayo y error. Observamos, por ejemplo, que los ngulos PA PB,

PA _ 5 '? y pB 5 'son todos 90. Esto sugiere que uno o ms de estos polos podra ser | 100 | o {110}, ya que el ngulo entre dos polos {100} o entre dos polos jllOj es 90. Supongamos que tentativamente asumir que PA, PB y 5 '} J100 son polos. * Luego PE <, que se encuentra en la gran crculo entre PA y PB y a una distancia angular de 45 de cada uno, debe ser un j 1 10} polo. A continuacin, centrar nuestra atencin en la zona C y encontrar que la distancia entre el poste 6 'y cualquiera de los polos 5' o PR es tambin 45. Sino la referencia a una proyeccin estndar, tales como la fig. 2-37, muestra que hay no importante polo situado a mitad de camino en el crculo mximo entre {100}, que hemos identificado con 5 ', y {110}, que se han identificado con PR. Nuestra hiptesis inicial es por lo tanto mal. Por lo tanto, hacer Una segunda suposicin, lo que es consistente con los ngulos medidos hasta el momento, es decir, que 5 'es un {100! polo, como antes, pero que PA y PB son {110} polos. PE entonces debe ser un polo {100} y un poste y {110}. Podemos comprobar esta hiptesis mediante la medicin de los ngulos en el tringulo ab 5 '. Ambos A y B se encontr que 55 de 5 ', y 71 uno de otro, que concluyente identifica a y b como {111} polos. Observamos tambin, de una norma proyeccin, que un polo {111} debe acostarse en un crculo mximo entre {100 j y {110}, lo que concuerda con el hecho de que una, por ejemplo, se encuentra en la gran crculo entre 5 ', supone que {100}, y PB, que se supone {110} Nuestra suposicin segundo tanto, se demostrado ser correcto. * 1 iLa lector puede detectar un error evidente en la nomenclatura aqu. Polo 5 'para ejemplo, se supone que es un polo {100} y el punto 5 en el patrn de difraccin se asume, tcitamente, que es debido a una reflexin 100. Sin embargo, el aluminio es centrada en las caras cbico y sabemos que no hay reflexin 100 de dicha red, ya que hkl

se debe mezclar para que se produzca difraccin. En realidad, SPOT 5, si nuestra hiptesis es correcta, se debe a la superposicin de reflexiones desde las (200), {400}, (600), etc, aviones. Pero estos planos son paralelos y estn representadas en la proyeccin estereogrfica por uno de los polos, que se denomina convencionalmente como {100}. La correspondiente punto de difraccin tambin se denomina, convencionalmente, pero sin apretar, el punto 100. 8-2] LA ESPALDA mtodo de Laue-223 REFLEXIN La figura. 8-7. Proyeccin estereogrfica de la fig. 8-6 con polos identificados. La Figura 8-7 muestra la proyeccin estereogrfica de una forma ms completa, con todos los polos del tipo {100}, {110} y {111} localizado e identificado. Tenga en cuenta que no era necesario para indexar todos los puntos de difraccin observados con el fin de determinar la orientacin de los cristales, que se especifica por completo, de hecho, por las ubicaciones de cualquiera de los dos polos de {100} en la proyeccin. La informacin dada en la figura. 8-7 es por lo tanto todo lo que normalmente se requiere. Ocasionalmente, sin embargo, es posible que desee conocer los ndices de Miller de un determinado punto de difraccin en la pelcula, por ejemplo, detectar 11. Para encontrar estos ndices, observamos que el polo Se encuentra a 35 de (001) en el gran crculo pasa a travs de (001) y (111). La referencia a una proyeccin estndar y una tabla de ngulos interplanares muestra que sus ndices son (112). Como se ha mencionado anteriormente, la proyeccin estereogrfica de la figura. 8-7 es una completa Descripcin de la orientacin del cristal. Otros mtodos de Descripcin son tambin posibles. El cristal para que la fig. Remite el 8-7 tena la forma de una placa cuadrada y se monta con su plano paralelo al plano de la pelcula (y la proyeccin) y sus bordes paralelos a los bordes de la pelcula, que a su vez son paralelos a los ejes NS y EW de la proyeccin. Desde el polo (001) est cerca del centro de la proyeccin, que corresponde a 224 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8

la muestra normal, y el polo (010) cerca del borde de la proyeccin y aproximadamente a medio camino entre el K y S * Y polos, que puede muy aproximadamente describir la orientacin de los cristales de la siguiente manera: un conjunto de planos de cubo es aproximadamente paralela a la superficie de la placa mientras que otro conjunto pasa diagonalmente a travs de la placa y aproximadamente en ngulo recto con respecto a su superficie. Otro mtodo de descripcin puede ser utilizado cuando una sola direccin en el cristal es de importancia fsica, tal como la placa normal en el presente caso. Por ejemplo, es posible que desee hacer una prueba de compresin de este cristal, con el eje de compresin normal a la superficie de la placa. Somos entonces inters en la orientacin del cristal relativa a la compresin eje (placa normal) o, expresado de forma inversa, en la orientacin de la compresin eje con respecto a ciertas direcciones de bajos ndices en el cristal. Ahora inspeccin de una proyeccin estndar, tal como la figura. 2-36 (a) muestra que cada uno medio de la esfera de referencia est cubierto por 24 esfrica similar y equivalente tringulos, cada uno teniendo j f} 100, 1 110), y 1 1 1 1 como sus vrtices La placa normal caer en uno de estos tringulos y es necesario llamar slo uno de ellos con el fin de describir la localizacin precisa de la normal. En La figura. 8-7, la normal de la placa se encuentra en el (001) - (101) - (1 Jl) tringulo que est redibuja en la figura. 8-8 en la orientacin convencional, como si se form parte de una proyeccin estndar (001). Para encontrar la placa normal en este nuevo dibujo, se miden los ngulos entre el centro de la proyeccin en la figura. 8-7 y los tres polos adyacentes. Deja que estos ngulos se Pooi, Pioi,

y pin-Estos ngulos se utiliza entonces para determinar los tres arcos mostrados en la figura. 8-8. Estos son arcos de crculo, pero no se centran en el correspondiente polos, sino que cada uno es el lugar geomtrico de puntos situados a un igual distancia angular desde el polo involucrado y por lo tanto, su interseccin localiza el punto deseado. Un mtodo alternativo de llegar a la fig. 8-8 de la fig. 8-7 consiste simplemente en girar el conjunto de proyeccin, postes y la placa normal juntos, a partir de la orientacin que se muestra en la figura. 8-7 para que de un estndar (001) de proyeccin. De manera similar, la orientacin de una de cristal nico alambre o varilla puede ser de-la figura. 8-8. El uso de la unidad stereoscribed en trminos de la ubicacin de su ff? P hic . que ^ e t () . A&*^l . . xl. A,,. ,. , Orientacin. El punto dentro del tnaxis en el tringulo unidad estenogrfica. ngulo ig ^ normal a la cryg gingle. Tenga en cuenta que este mtodo no tiene en placa tal cuya orientacin se muestran describen completamente la orientacin en la figura. 8-7.

g-2] El mtodo de Laue RESPALDO REFLEXIN 225 del cristal, ya que permite un grado de libertad de rotacin sobre el espcimen eje. Esto no tiene ninguna importancia, sin embargo, cuando slo somos interesado en el valor de alguna propiedad fsica medida o mecnico a lo largo de una direccin particular en el cristal. Hay arco alternate maneras de manipular tanto en el grfico y la Gremnger proyeccin estereogrfica, y el mtodo particular usado es puramente una cuestin de preferencia personal, por ejemplo, podemos hacer caso omiso de los puntos individuales de la pelcula y centrar nuestra atencin en lugar de las hiprbolas diferentes en donde se hallan. La puntos en un hiprbola son debido a las reflexiones de los planos de una zona y, por medio de la tabla de Greninger, podemos representar directamente el eje de esta zona sin graficar los polos de cualquiera de los planos que pertenecen a ella. El procedimiento se ilustra en la figura. S-9. Mantener los centros de la pelcula y el grfico coincidentes, rotamos la pelcula sobre este centro hasta una hiprbola particular de manchas coincide con una curva de constante 7 en la lista, como en (a). La cantidad de rotacin requerida se lee desde la interseccin de una lnea de lpiz vertical, anteriormente gobernado por el centro de la pelcula y paralela a un borde, con el transportador de la tabla Greninger. Supongamos que este ngulo es e. A continuacin, la proyeccin se mtftted por el c mismo ngulo con respecto a la Wulff neto subyacente y el zojueaxis es j representada en el eje vertical de la proyeccin en un ngulo {7 circunferencia wm y e ', como en (b). (Tenga en cuenta que la zona A en s est representado por un greatyrcle situado en un ngulo de 7 por encima del centro de la proyeccin. Sin embargo, tlprpK) tting del crculo zona no es necesaria, ya que normalmente el eje de zona representa adecuadamente toda la zona.) Procedimiento * de esta manera,

graficamos los polos de todas las zonas importantes y, por el mtodo de la figura. 8-4, la polo del plano haciendo que el punto ms importante o manchas en el patrn. (La Estas ltimas son, como punto 5 de la figura. S-5, de alta intensidad, en la interseccin de un nmero de hiprbolas, y bien separados de sus vecinos.) Los puntos as obtenidos son siempre de ndices bajos y por lo general puede ser indexado sin dificultad. Un mtodo alternativo de indexacin representan polos depende de tener disponible un conjunto de proyecciones detalladas estndar en una serie de orientaciones, tales como {100 (, ( 1 10 |, y (11 1 1 para cristales cbicos. Tambin es un mtodo de ensayo y error y puede se ilustrar con referencia a la figura S-6. En primer lugar, una zona prominente y se selecciona Se asume en cuanto a sus ndices, por ejemplo, podramos suponer que la zona B es una zona (100). Este supuesto se analiza luego por (a) hacer girar la proyeccin alrededor de su centro hasta que el pH se encuentra en el ecuador de la red de Wulff y los extremos de la zona crculo coinciden uith el N y A> polos de la red, y (b) hacer girar todo el importante puntos de la proyeccin sobre el eje MS-de la red hasta que se encuentra en el PB centro y la zona de crculo en la circunferencia. La nueva proyeccin es entonces superpuesto en una proyeccin (100) estndar y se hace girar alrededor del centro hasta que todo puntos de la proyeccin coinciden con los del estndar. Si no hay tal coincidencia se obtiene otra proyeccin estndar est probado. Para el caso particular * Tenga en cuenta que, cuando una hiprbola de manchas est alineada con una hiprbola horizontal en el grfico como en la figura. 8-9 (a), las hiprbolas verticales pueden usarse para medir la diferencia en el ngulo 5 para cualesquiera dos puntos y que este ngulo es igual al ngulo entre los planos que causan las manchas, as como el ngulo entre dos polos acostado en un meridiano de una red de Wulff est dada por la diferencia en latitud.

226 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 cortar esquina hilera de manchas. a partir de los planos de la zona A (B) La figura. 8-9. El uso de la tabla de Greninger para trazar el eje de una zona de los aviones en la proyeccin estereogrfica. PA es el eje de la zona A. 8-2] LA PARTE POSTERIOR REFLEXIN Laue-METODO 227 plano La figura. 8-10. Relacin entre el punto de difraccin 8 y P proyeccin estereogrfica del plano causando el lugar, para la reflexin de vuelta. de la fig. 8-6, una coincidencia que se obtendra slo en un { 11 1 estndar, ya que PB en realidad es un polo (110). Una vez que el partido ha sido encontrado, los ndices de lo desconocido polos se dan simplemente por los ndices de los polos en el estndar con el cual coinciden. En ausencia de un grfico Greninger, el polo correspondiente a cualquier observada Punto Laue pueden representarse por medio de una fcil construccin "regla estereogrfica." La construccin de la regla se basa en las relaciones mostradas en la figura. 8-10. Esta dibujo es una seccin a travs del haz incidente OC y cualquier difractada CS haz. Aqu es conveniente utilizar el plano normal ON 'en lugar de en y para hacer que el proyeccin de T, la interseccin de la esfera de referencia con el haz incidente. La proyeccin del polo N 'es por lo tanto en P. de la distancia medida OS del punto de difraccin desde el centro de la pelcula, se puede encontrar la distancia de PQ

el polo proyectado desde el centro de la proyeccin, desde y OS = OC bronceado (180 - 20) = D bronceado (180 - 26) PQ = TQ tan ~ f) = 2r bronceado (8-1) (8-2) donde D es la distancia muestra-pelcula y r el radio de la esfera de referencia. El valor de r se fija por el radio R de la red Wuiff utilizado, ya que esta ltima es igual a el radio del crculo de base de la proyeccin. Observamos que, si el polo de la 228 ORIENTACIO N CRISTALES monooperador [CAP. 8 PROYECCIN La figura. 8-11. El uso de una regla estereogrfica para representar el polo de un plano reflectante en un proyeccin estereogrfica en el mtodo de Laue back-reflexin. Polo 1 'es el polo del plano causando punto de difraccin 1. avin eran en su posicin extrema a M, entonces su proyeccin que lo hara en U. La punto U por lo tanto se encuentra en el crculo de base de la proyeccin, y UQ es el radio R del crculo base. Debido a que los tringulos Tuq y TMC son similares, ft = 2r y PQ = R bronceado ^ 45 -) (8-3) La regla se construye mediante el marcado fuera, desde un punto central, una escala de centmetros por lo que la distancia en se puede medir. La distancia correspondiente PQ para cada distancia OS se calcula a partir de las Ecs. (S-l) y (S 3), y marcadas

fuera del centro de la regla en la direccin opuesta. Graduaciones correspondientes se les da el mismo nmero y el resultado es el rulei muestra en la figura. 8-11, que tambin ilustra el mtodo de uso de la misma. [Clculo de las diferentes distancias PQ se puede evitar mediante el uso de la red Wulff s mismo. La figura. 8-10 muestra que el polo de la superficie reflectante se encuentra en un ngulo 6 desde el borde de la proyeccin, y 6 se da para cada OS distancia por la ecuacin. (8-1). El gobernante se coloca a lo largo del ecuador de la red Wulff, su centro coincide con el centro de la red, y la distancia PQ correspondiente a cada ngulo 6 se marca con la ayuda de la escala angular en el ecuador.] Desde la eleccin de lo normal avin hizo en la figura. 8-10, es evidente que la proyeccin debe ser visto desde el lado opuesto a la fuente de rayos x. Esto requiere que la pelcula de lectura desde ese lado tambin, es decir, con su esquina cortada en la superior derecha posicin. La proyeccin se coloca entonces sobre la pelcula, iluminada desde abajo, como se muestra en la figura. 8-11. Con el centro de la regla coincide con el centro de la proyeccin, la regla se hace girar hasta que su borde pasa a travs de una determinada 8-3] Mtodo de transmisin de Laue 229 difraccin lugar. La distancia 08 se observa y el polo correspondiente trazan como se muestra, en el otro lado del centro y a la distancia correspondiente PQ. Esta procedimiento se repite para cada punto de difraccin importante, despus de lo cual la proyeccin se transfiere a una red de Wulff y los polos indexado por cualquiera de los mtodos se ha descrito previamente. Tenga en cuenta que este procedimiento da una proyeccin del cristal desde el lado opuesto de la fuente de rayos X, mientras que el grfico Oreninger da una proyeccin del cristal como se ve desde la fuente de rayos x. Una orientacin de los cristales puede, por supuesto, se acaba de describir, as como de un lado al otro, y la proyeccin sea puede hacerse coincidir con la otra por una rotacin de 180 de la proyeccin alrededor de su eje EW-. Aunque fcil de usar y construir, el gobernante estereogrfica

no es tan preciso como el cuadro Greninger en la solucin de los patrones de reflexin de fondo. Los mtodos de determinacin y descripcin de orientacin de los cristales tienen han presentado aqu exclusivamente en trminos de cristales cbicos, debido a que estos son el tipo ms simple de considerar y se encontr con mayor frecuencia. Estos mtodos son muy generales, sin embargo, y se puede aplicar a un cristal de cualquier sistema, siempre y cuando sus ngulos interplariar se conocen. 3.8 Mtodo de Laue de Transmisin. Dada una muestra de lo suficientemente baja absorcin, un patrn de Laue transmisin se puede obtener y utilizar, en tanto de la misma manera como un patrn de Laue back-reflexin, para revelar la orientacin del cristal. En cualquier mtodo de Laue, la difraccin de manchas en la pelcula, debido a la planos de una nica zona en el cristal, siempre se encuentran en una curva que es algo tipo de seccin cnica. Cuando la pelcula est en la posicin de transmisin, esta curva es una elipse completa para valores suficientemente pequeos de </>, el ngulo entre el eje de zona y el haz transmitido (Fig. 8-12). Por algo valores ms grandes de </>, la elipse es incompleta debido al tamao finito de la pelcula. Cuando = 45, la curva se hace una parbola, cuando </> excede 45, una La figura. 8-12. Interseccin de una matriz cnica de haces difractados con una pelcula colocada en la posicin de transmisin. C = cristal, F = pelcula, Z.A. = Eje de zona. 230 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 ZA La figura. 8-13, Relacin entre la orientacin del plano normal y posicin de la mancha de difraccin en el mtodo de Laue transmisin. hiprbola, y cuando </> = 90, una lnea recta. En todos los casos, la curva pasa a travs del punto central formado por el haz transmitido. Las relaciones angulares implicados en el mtodo de transmisin de Laue

se ilustran en la figura. 8-13. Aqu una esfera de referencia se describe acerca el cristal a C, el haz incidente entrar en la esfera en / y transmite la haz dejando a 0. La pelcula se coloca tangente a la esfera en 0, y su parte superior derecha de la esquina, vista desde el cristal, se interrumpe por identificacin de su posicin durante la exposicin de rayos x. El haz reflejado por el plano de enrejado mostrado golpea la pelcula en R, y la normal a esta plano corta a la esfera en P. Supongamos que consideramos la difraccin de una zona de aviones cuyo eje est situado en jyz el plano en un ngulo a la <t> transmitida (o incidentes) haz. Si un solo plano de esta zona se hace girar de modo que su polo, inicialmente a una viajes, a lo largo de la APEBWA gran crculo, y luego pasar a travs de todas las orientaciones en la que los planos de esta zona podra ocurrir en un cristal real. Durante esta rotacin, el punto de difraccin en la pelcula, inicialmente a D, viajara a lo largo de la trayectoria elptica DROD se muestra por la lnea discontinua. Ninguna orientacin particular del avin, tal como la que se muestra en la dibujo, se caracteriza por valores particulares de <t> y 5, el angular CO83] Mtodo de transmisin de Laue 10 20 231 60 La figura. (S-14. grfico Leonhardt para la solucin de los patrones de transmisin de Laue, reproducido en el tamao correcto para una distancia muestra-pelcula de 3 cm. El discontinua las lneas son lneas de constante </>, y las lneas continuas son lneas de constante 5. (Cortesa de C. G. Dunn.) coordenadas de su polo. Estas coordenadas a su vez, para un determinado cristal de pelcula distancia D (= A), determine la coordenadas x, y del punto de difraccin

R en la pelcula. Desde la posicin de la mancha por lo tanto, puede determinar el manera orientacin del plano, y uno de hacer esto es por medio de la Leonhardt grfico que se muestra en la figura. 8-14. Esta tabla es exactamente anloga a la carta Greninger para resolver retrorreflexin patrones y se utiliza exactamente de la misma manera. Se compone de un rejilla compuesta de dos conjuntos de lneas: las lneas de un conjunto son lneas de constante <t> y corresponden a los meridianos en una red de Wulff, y las lneas de la otra son lneas de constante 5 y corresponden a las lneas de latitud. Por medio de esta grfico, el polo de un plano causar ningn punto de difraccin en particular puede ser trazado estereogrficamente. El plano de proyeccin es tangente a la esfera en el punto en / de la figura. 8-13 y la proyeccin se realiza desde el punto 0. Esto requiere que la pelcula de lectura desde el lado orientado hacia el cristal, es decir, 232 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES r [CAP. 8 FILM 10 20 30 PROYECCIN subyacente Wulff neto La figura. 8-15. El uso de la tabla de Leonhardt para trazar el polo de un avin en un estereogrfica proyeccin. Polo 1 'en (b) es el polo del plano causando punto de difraccin 1 en (a). 8-3] Mtodo de transmisin de Laue FILM 233 (A)

Elipse de puntos de planta de la zona A 10 20 / JO cortar cornel (B) La figura. S-16. El uso de la tabla de Leonhardt para trazar el eje de una zona de los aviones en la proyeccin. PA es el eje de la zona A. con la esquina cortada en la parte superior derecha. La figura 8-15 muestra cmo el polo correspondiente a un punto en particular cuando se traza la pelcula y el grfico son en la posicin paralela. Una forma alternativa de utilizar la tabla es para girar que alrededor de su centro hasta una lnea de constante <t> coincide con una fila de manchas a partir de los planos de una sola zona, como se muestra en la figura. 8-16; conocimiento y la ngulo de rotacin 6, que puede entonces trazar el eje de la zona directamente. 234 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 referencia esfera cine /? La figura. 8-17. Relacin entre la S y la P punto de difraccin proyeccin estereogrfica del plano haciendo que el lugar, en la transmisin. La figura. 8-18. El uso de una regla estereogrfica para representar el polo de un plano reflectante en una proyeccin estereogrfica en el mtodo de Laue transmisin. Pole 1 'es el polo de el plano causando punto de difraccin 1. 8-3] Mtodo de transmisin de Laue 235 Una regla estereogrfica se pueden construir para el mtodo de transmisin y le dar una mayor precisin de trazado de la grfica Leonhardt, particularmente cuando el ngulo se aproxima a 90 <t>. La figura 8-17, que es una

seccin a travs del haz incidente y cualquier rayo difractado, muestra que la distancia del punto de difraccin desde el centro de la pelcula se da por OS = D tan 20. La distancia del polo de la superficie reflectante del centro de la proyeccin est dada por PQ = R bronceado ( 45 V2 La figura 8-18 ilustra el uso de una regla construido de acuerdo con estas ecuaciones. En este caso, la proyeccin se realiza en un plano situado en la misma lado del cristal como la pelcula y, en consecuencia, la pelcula debe ser ledo con su corte en la esquina superior izquierda de la posicin. Si la tabla o la regla se utiliza para representar los polos de reflexin aviones, que se indexan de la misma manera como patrones de reflexin de fondo. Para ejemplo, el patrn de transmisin de Laue se muestra en la figura. 8-19 en la forma de unos rendimientos de seguimiento de la proyeccin estereogrfica muestra en la figura. 8-20. La smbolos slidos en esta ltima son los polos de aviones responsables de manchas en la pelcula y se numeran en consecuencia, los smbolos vacos son polos derivados por construccin. (El lector notar que los polos de aviones encargados para manchas observadas en una pelcula de transmisin estn situados cerca del borde de la proyeccin, ya que estos aviones deben necesariamente estar inclinado a pequea ngulos al haz incidente. Lo contrario ocurre con los patrones de reflexin de fondo, como inspeccin de la figura. 8-6 se muestran.) La solucin de la fig. 8-20 articulada en la identificacin de la zona de los ejes PA, PB y PC. Medicin mostr que el tringulo estereogrfica formado por estos ejes tena lados iguales al 35 (PA - PB), 45 (PB - PC), y 30 (PC - PA), que

identificado PA, PB y PC como {211}, {100} y {110} polos, respectivamente. Ahora el patrn de transmisin se muestra en la figura. 8-19 y la reflexin posteriorpatrn que se muestra en la figura. 8-5 fueron ambos obtenidos de la misma en el cristal misma orientacin con relacin al haz incidente. Las proyecciones correspondientes, Las Figs. 8-20 y 8-7, por lo tanto, se refiere a un cristal de la misma orientacin. Pero stos fueron hechos a partir de los lados opuestos del cristal y as parecen completamente diferentes. Sin embargo, una rotacin de cualquiera de proyeccin por 180 sobre sus y EW-xis se hacen coincidir con el otro, aunque no se ha intentado realizar la indizacin de una proyeccin consistente con la de la otra. 236 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 ---- ^ 3 La figura. 8-19. Transmisin patrn Laue de un cristal de aluminio, trazada en la figura. 3-6 (a). Slo manchas de difraccin seleccionados se muestran. La figura. 8-20. La proyeccin estereogrfica correspondiente al patrn de transmisin de La figura. 8-19. 8-4] METODO difractmetro 237 8-4 Difractmetro mtodo. Todava otro mtodo de determinacin de cristal Orientacin implica el uso del difractmetro y un procedimiento radicalmente diferente de la de cualquiera de los mtodos Laue. Con la esencialmente radiacin monocromtica utilizada en el difractmetro, un solo cristal se producir una reflexin slo cuando su orientacin es tal que un cierto conjunto de planos reflectantes est inclinado respecto al haz incidente en un ngulo 6 que satisface la ley de Bragg para ese conjunto de planos y la radiacin caracterstica empleado. Pero cuando el contador, en una posicin fija en el correspondiente ngulo 20, describe que una reflexin que se produce, entonces la inclinacin de la planos reflectantes a cualquier lnea o plano elegido en la superficie del cristal se conoce

a partir de la posicin del cristal. Hay dos tipos de operacin son necesarios: (1) la rotacin del cristal alrededor de ejes distintos hasta una posicin se encuentra para los que la reflexin se produce, (2) Ubicacin del polo del plano de la reflexin sobre una proyeccin estereogrfica a partir de los ngulos conocidos de rotacin. El mtodo difractmetro tiene muchas variaciones, dependiendo de la particular tipo de gonimetro utilizado para sostener y girar la muestra. Slo uno de estas variaciones se describe aqu, que implica el gonimetro utilizado en el mtodo de reflexin de la determinacin de la orientacin preferida, desde que es el tipo ms generalmente disponibles en laboratorios metalrgicos. Este soporte de muestras, que se describir en detalle en la seccin. 9-9, necesita muy pequea modificacin para su uso con cristales simples, el jefe de uno de ellos sea un aumento en la anchura de las rendijas de haz primarios en una direccin paralela a la difractmetro de eje con el fin de aumentar la intensidad difractada. Este tipo de soporte proporciona las tres posibles ejes de rotacin se muestran en la figura. 8-21: uno coincide con el eje difractmetro, la segunda (AA ') est en el plano del / haz incidente y difractado haz D y tangente a la muestra superficie, que se muestra aqu como una placa plana, mientras que el tercero (BBr ) Es normal a la superficie de la muestra. Supongamos que la orientacin de un cristal cbico se va a determinar. Para tales cristales es conveniente utilizar los planos {111) como reflectores, hay cuatro conjuntos de estos y su poder reflectante es generalmente alta. En primer lugar, el 26 valor de la reflexin 111 (o, si se desea, la reflexin 222) se calcula a partir de la separacin conocida de los planos {111} y la longitud de onda conocida de la radiacin utilizada. El contador se fija entonces en esta posicin 28. La portamuestras se gira ahora alrededor del eje difractmetro hasta que su superficie,

y el eje de rotacin AA ', est igualmente inclinado al haz incidente y el haz difractado, o ms bien, a la lnea de cristal para contrarrestar con que el haz difractado, cuando se forman, coincidir. El espcimen titular se fija entonces en esta posicin, no hay rotacin sobre el difractmetro eje que se requiere. A continuacin, por rotacin alrededor del eje bbf , Uno borde de la muestra o una lnea dibujada en que se hace paralela a la difractmetro eje. Esta es la posicin inicial ilustrada en la fig. 8-21. 238 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 El cristal es entonces girar lentamente alrededor de los ejes AA 'y BE' hasta un indicacin de una reflexin se observa en el medidor de conteo de tasa. Una vez que un que refleja la posicin del cristal tiene ha encontrado, se sabe que la normal a un conjunto de (111! planos coincide con la CN9 lnea, es decir, se encuentra en el plano del crculo y difractmetro biseca el ngulo entre incidente y haces difractados. El polo de estos planos de difraccin puede ser ahora trazan estereogrficamente, como se muestra en La figura. 8-22. La proyeccin se hace en un plano paralelo a la muestra superficie, y con el MS-eje de la proyeccin paralela a la de referencia borde o lnea se ha mencionado anteriormente. Cundo

el cristal es rotado grados alrededor BB 'desde su posicin inicial, la proyeccin es tambin rotado grados alrededor de su centro. El CAT direccin, lo que podra llamarse la normal a "potenciales" planos reflectantes, es repreLa figura. 8-21. Crystal ejes de rotacin para el mtodo de determinar difractmetro orientacin. PROYECCIN La figura. 8-22. Trazado mtodo utilizado para determinar la orientacin del cristal con el difractmetro. (Las direcciones de las rotaciones mostradas aqu corresponden a la direcciones de las flechas en la figura. 8-21.) 8-4] METODO DIFFEACTOMETER 239 presentado por el polo Nf , Que est inicialmente en el centro de la proyeccin, pero Y que se mueve grados largo de un radio cuando se gira el cristal grados Y sobre A A '. Lo que estamos tratando de hacer, bsicamente, es hacer coincidir con una Nf {111 J polo y as revelar la ubicacin de esta ltima sobre la proyeccin. La bsqueda puede realizarse variando continuamente y para valores fijos de 4 o 5 adems, la proyeccin se cubre entonces, punto por punto a lo largo de una serie de radios. Basta examinar un cuadrante de esta manera ya que siempre habr ser al menos un {111} polo en cualquier cuadrante uno. Una vez que ha sido uno de los polos encuentra, la bsqueda de la segunda es ayudado por el conocimiento que debe 70,5 ser de la primera. Aunque dos {111) postes son suficientes para solucionar el orientacin del cristal, tercera debe estar ubicado como un cheque. Entre parntesis, cabe sealar que la colocacin del cristal superficie y el eje AA 'a los ngulos iguales al incidente y difractado vigas se hace slo por conveniencia en el trazado de la proyeccin estereogrfica.

No hay duda de enfocar cuando la radiacin monocromtica es reflejada de un cristal nico no deformada, y el haz incidente ideales para la determinacin de la orientacin de los cristales es un haz paralelo, no un divergente uno. En las manos de un operador experimentado, el mtodo es difractmetro ms rpido que cualquier mtodo de Laue. Adems, se pueden producir resultados de una mayor precisin si rendijas estrechas se utilizan para reducir la divergencia de la haz incidente, aunque el uso de hendiduras muy estrechas lo har ms difciles de localizar las posiciones reflectantes del cristal. Por el otro mano, el mtodo no proporciona difractmetro registro permanente de la determinacin de la orientacin, mientras que los patrones de Laue puede ser archivado por referencia en el futuro. Pero lo que es ms importante, el mtodo difractmetro no revelar fcilmente el estado de perfeccin del cristal, mientras que un Patrn Laue produce este tipo de informacin de un vistazo, como veremos en el Sec. 8-6, y en muchas investigaciones el metalrgico tiene tanto inters en la perfeccin relativa de un solo cristal como l est en su orientacin. A fin de cuentas, los mtodos de Laue son preferibles cuando slo ocasional determinaciones de orientacin son necesarios, o cuando existe alguna duda en cuanto a la perfeccin del cristal. Cuando las orientaciones de grandes nmeros de los cristales tienen que ser determinadas de una manera rutinaria, el difractmetro mtodo es superior. De hecho, este mtodo se ha desarrollado en gran medida para tal solicitud durante la Segunda Guerra Mundial, cuando la orientacin de un gran nmero de cristales de cuarzo tena que determinarse. Estos cristales fueron utilizados en transmisores de radio para controlar, a travs de su frecuencia natural de vibracin, la frecuencia de la seal transmitida. Para este propsito obleas de cuarzo tuvo que ser cortado con precisin las caras paralelas a cristalogrfica determinada

aviones, y el difractmetro se utiliz para determinar la orientaciones de estos planos en el cristal. 240 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 8-5 Configuracin de un cristal en una orientacin requerida. Algunas investigaciones de rayos X requieren que un patrn de difraccin se obtiene de un solo cristal que tiene una orientacin especificada con respecto al haz incidente. Para obtener esta orientacin, el cristal est montado en un gonimetro de tres crculos como que se muestra en la figura. 5-7, cuyos arcos se han fijado en cero, y su orientacin se determina, por ejemplo, el mtodo de Laue back-reflexin. La proyeccin del cristal se hace entonces, y desde esta proyeccin del gonimetro rotaciones que traer el cristal en la posicin indicada se determinan. Por ejemplo, supongamos que se requiere para hacer girar el cristal cuya orientacin est dada por la figura. 8-7 en una posicin en la [petrleo] puntos a lo largo del incidente haz y [100] puntos horizontalmente hacia la izquierda, es decir, en el estndar (Aceite) orientacin que se muestra en la figura. 2-36 (b) si se tratase de girar 90 sobre el centro. La orientacin inicial (posicin 1) se muestra en la figura. 8-23 por los smbolos abiertos, se refiri a NSEW-& xes. Puesto que (01 1) se llev para el centro de la proyeccin y (100) hacia el lado izquierdo, (010) se encuentran en el eje vertical de la proyeccin cuando el cristal est en su posicin final. El primer paso es por lo tanto para localizar un punto 90 lejos del (de aceite) en el gran crculo uniendo (010) a (Petrleo), porque este punto debe coincidir con el polo norte de la proyeccin final. Esto es simplemente un punto de construccin; La figura. 8-23. Crystal rotacin para producir orientacin especificada. Las posiciones 1 y 2 se indican mediante los smbolos abiertos, posicin 3 por smbolos sombreados, y la posicin 4 por smbolos slidos. 8-5] AJUSTE DE UN CRISTAL EN UNA ORIENTACIN necesario 241

en el presente caso, coincide con el polo (aceite), pero generalmente que no es de importancia cristalogrfica. La proyeccin es entonces girar en sentido horario 22 alrededor del eje del haz incidente para traer este punto sobre el eje vertical de la red Wulff subyacente. (En la fig. 8-23, la lneas de latitud y longitud de esta red se han omitido para mayor claridad.) La cristal est ahora en posicin 2, que se muestra por smbolos abiertos mencionados N'S'E'Waxes. El siguiente rotacin se realiza sobre el. EW-eje, lo que requiere que la red subyacente Wulff ser dispuesto con su ecuador vertical, de manera que las lneas de latitud se ejecutar de arriba a abajo. Esta rotacin, de 38, se mueve todos los polos a lo largo de las lneas de latitud, que se muestran como crculos pequeos trazos, y trae (Petrleo) a la N 'pole, y (100) y (aceite) a los dxis' E'W'-de la proyeccin, como se indica por los smbolos sombreados (posicin 3). La orientacin final se obtiene por una rotacin de 28 sobre la JV'S'-eje, con el ecuador de la red subyacente Wulff ahora horizontal, los polos se mueven a las posiciones se muestra por smbolos slidos (posicin 4). La necesidad de seleccionar un punto de construccin de 90 (aceite) se ahora ser evidente. Si este punto, que aqu pasa a ser (aceite), se lleva al Af' polos, entonces (aceite) y (100) debe de mentira en la necesidad SW-eje; la rotacin final sobre 'N, entonces se mover ste a su necesaria posiciones sin alterar la posicin del polo (aceite), ya que [petrleo] coincide con '$' la N-eje. El orden de estas tres rotaciones no es arbitraria. El estereogrfica rotaciones corresponden a rotaciones fsicas en el gonimetro y debe ser hecha de tal manera que una rotacin no alteran fsicamente la posicin de cualquier eje alrededor del cual una rotacin posterior se hizo. El gonimetro utilizado aqu se estableci inicialmente con el eje horizontal de su arco superior

y coincidente con el haz primario, y con el eje de la horizontal arco siguiente y en ngulo recto con el haz incidente. La primera la rotacin alrededor del eje del haz por lo tanto no perturbar la posicin de el segundo eje (el eje UW-), y ninguna de las primeras dos rotaciones disLa figura. 8-24. Back-Laue reflexin patrn de un cristal de aluminio. El incidente haz es paralelo a [petrleo], [aceite] puntos verticalmente hacia arriba, y [100] puntos verticalmente a la izquierda. Tungsteno radiacin, 30 kV, 19 mA, 40 minutos de exposicin, 5 cm espcimen a pelcula distancia. (La sombra en la parte inferior es la del gonimetro que contiene la muestra.) 242 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 perturbado la posicin del tercer eje (el eje vertical de WS'-). O si no las orientaciones estereogrficas se realizan en el orden correcto hace una gran diferencia en los ngulos de rotacin encontradas, pero una vez que los ngulos rectos estn determinados por el procedimiento estereogrfica correcta, la fsica real rotaciones en el gonimetro se puede realizar en cualquier secuencia. El patrn de Laue back-reflejo de un cristal de aluminio girado en la orientacin descrita anteriormente se muestra en la figura. 8-24. Tenga en cuenta que el disposicin de manchas tiene 2-simetra de rotacin sobre la primaria haz, que corresponde a la simetra rotacional de 2 veces de cristales cbicos acerca de sus (110) ejes. (A la inversa, la simetra observada de la Laue patrn de un cristal de estructura desconocida es una indicacin de la clase de

simetra posedo por ese cristal. As, el mtodo de Laue se puede utilizar como una ayuda en la determinacin de la estructura cristalina.) Hay otro mtodo de fijacin de un cristal en una orientacin normal, que no requiere ni registro fotogrfico de la difraccin patrn o manipulacin estereogrfica de los datos. Depende del hecho que los haces difractados formados en el mtodo de Laue transmisin son tan intenso, para un cristal de espesor apropiado, que las manchas que se forman en una pantalla fluorescente son visibles en una habitacin oscura. El observador slo rota el cristal de los arcos distintos del gonimetro hasta que el patrn correspondiente a la orientacin requerida aparece en la pantalla. Obviamente, debe ser capaz de reconocer este patrn cuando aparece, pero un poco estudio de algunas fotografas de Laue pocos hechos de cristales en las orientaciones estndar le permitir hacer esto. La necesidad de trabajar en una habitacin oscura puede evitarse mediante el uso de un cuadro de visualizacin hermtica a la luz, si el trabajo de cristal ajuste se produce con una frecuencia suficiente para justificar su construccin. Este cuadro encierra la pantalla fluorescente que el observador ve a travs de un binocular ocular situado en la pared de la caja, ya sea directamente a lo largo de la direccin de el haz transmitido, o indirectamente en una direccin en ngulo recto por medio de un espejo o un prisma en ngulo recto. Para rayos X de proteccin, el sistema ptico debe incluir vidrio de plomo, y las manos del observador debe ser protegido durante la manipulacin del cristal. 8-6 El efecto de la deformacin plstica. En ninguna parte los mtodos de rayos X sido ms fructfero que en el estudio de la deformacin plstica. La manera en que un solo cristal se deforma plsticamente es marcadamente anistropo, y casi todo nuestro conocimiento de este fenmeno ha sido adquirida por rayos X examen de difraccin de cristales en diversas etapas durante la deformacin plstica.

En primer lugar, podemos distinguir entre dos tipos de deformacin, que de la red cristalina en s y la del cristal como un todo. Esta distincin es la pena porque la deformacin de cristal, que se define como una cambio en la forma del cristal debido a la rotacin de celosa, puede ocurrir con o sin deformacin de celosa, que se define como la flexin y / o torsin de 8-6] El efecto de la deformacin plstica 243 planos de la red originalmente planas. Por otro lado, la deformacin de celosa no puede ocurrir sin una cierta deformacin del cristal como un todo. Una red cristalina por lo tanto puede comportarse de dos maneras muy distintas durante deformacin plstica, sino que slo puede girar sin experimentar deformacin s mismos, o pueden doblarse y / o trenzado. Fotografas de Laue puede fcilmente decidir entre estas dos posibilidades. En el mtodo de Laue, cualquier cambio en la orientacin de los planos reflectantes est acompaada por una correspondiente cambiar en la direccin (y longitud de onda) del haz reflejado. En hecho, la reflexin Laue de rayos X se compara a menudo a la reflexin de lo visible la luz por un espejo. Si la red simplemente rota durante la deformacin, a continuacin, Patrones de Laue realizadas antes y despus simplemente mostrar un cambio en la posicin de las manchas de difraccin, que corresponde al cambio en la orientacin de la red, pero las manchas se permanecer agudo. Por el otro mano, si la red est doblado o torcido, las manchas de Laue se convertir untado a cabo en vetas debido al cambio continuo en la orientacin de la reflejando los aviones, as como un punto de luz reflejado por un espejo plano se convierte alargado cuando el espejo est curvada. Un ejemplo clsico de rotacin de celosa sencilla durante la deformacin cristal Se ofrece el alargamiento a la traccin de largos cristales cilndricos metlicos individuales. Cuando estos cristales se extendieron plsticamente, fotografas de Laue de la seccin central hecha antes y despus de la funcin de extensin que el enrejado

ha sido girada pero no deformado. Sin embargo, el propio cristal ha experimentado deformacin considerable como evidencia por su cambio en la forma que se ha convertido ms largo y delgado. Cmo se produce esto es sugerido por la fig. 8-25. La forma inicial de los cristales se muestra en (a), con el deslizamiento potencial planos visto de perfil. Las fuerzas de traccin aplicadas se pueden resolver en ^. unin unin t? (B) Co P'iG. 8-25. Resbaln en tensin (esquema). 244 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 fuerzas de cizalla paralelas a estos planos de deslizamiento y de las fuerzas de traccin normales a ellos. Las fuerzas normales no tienen ningn efecto, pero que causan las fuerzas de cizallamiento deslizarse a producirse, y el cristal sera, en consecuencia, asumir la forma mostrada en (b) si los extremos no se vieron limitados lateralmente. Sin embargo, las garras de la mquina de traccin mantener los extremos del cristal alineados, causando flexin de la red cristalina cerca de cada agarre, como se indica en (c), que ilustra el aspecto del cristal despus de la extensin considerable. Tenga en cuenta que el enrejado de la porcin central ha sido objeto de reorientacin pero la distorsin no. Esta reorientacin claramente consiste en una rotacin que hace que el plano de deslizamiento activo ms casi paralelo al eje de tensin. Anlisis de los patrones de Laue da ms informacin sobre la deformacin proceso. Los cambios en la orientacin que se producen en el centro la seccin puede ser seguido estereogrficamente, ya sea por el trazado de la antes y despus de orientaciones del cristal en un plano de proyeccin fija, o por trazar las orientaciones antes y despus de la muestra en el eje de la unidad tringulo estereogrfica. El ltimo mtodo es el ms comn y

se ilustra en la figura. 8-26, que se aplica a un cristal cbico de caras centradas. La posicin inicial del eje de tensin est representada por el punto 1. Despus extensiones sucesivas, la posicin de este eje se encuentra que es en puntos 2, 3, 4,. . . ; Es decir, el eje se mueve a lo largo de un crculo mximo que pasa por la posicin inicial y la direccin [T01], que es la direccin de deslizamiento. Durante esta extensin del deslizamiento activo es plano (111). Se puede concluir que la reorientacin de celosa se produce de tal de manera que tanto el plano de deslizamiento y la direccin de deslizamiento en el avin gire hacia el eje de tensin. Esta proceso se vuelve ms complicado en etapas posteriores de la deformacin, y el lector interesado puede consultar libros sobre la plasticidad de cristal para mayor detalles. Bastante se ha dicho aqu para indicar la forma en que x-ray difraccin se puede aplicar a este problema particular. Otro ejemplo de reorientacin de celosa durante deslizamiento se puede administrar en Para ilustrar el mtodo alternativo de Representacin de los datos. En la fig. 8-27, las orientaciones sucesivas que un cristal de magnesio cilndrico asume durante la torsin de plstico se representan en un plano paralelo proyeccin fija a la espcimen eje (el eje de torsin). Dado que los polos de planos reflectantes

se encuentran a moverse a lo largo de crculos de latitud en la proyeccin, se sigue que deslizamiento plano NAiii La figura. 8-26. Lattice rotacin durante deslizarse en el alargamiento de la FCC cristal metal. 8-6] El efecto de la deformacin plstica 245 -MODELO DE EJE DESPUS DE TWIST OF 2 DESPUS DE 11 DE TWIST La figura. 8-27. El cambio en la orientacin de celosa durante la torsin de plstico de una aleacin de magnesio cristal. El plano de deslizamiento activo es (0001), el plano basal de la red hexagonal. (SS Hsu y Cullity BD, Trans. AIME 200, 305, 1954). la reorientacin de celosa es principalmente uno de rotacin sobre el eje de la muestra. La distorsin reticular tambin se produce, ya radiogrficas especiales mtodos revelan que la torsin de los planos de la red se lleva a cabo, pero la caracterstica principal de la deformacin es la rotacin de celosa se ha descrito anteriormente. De manera similar, en la alargamiento plstico de cristales simples, no debe suponerse que absolutamente no se produce deformacin de celosa. Aqu de nuevo la caracterstica principal es celosa rotacin, pero sensible a rayos X mtodos siempre se muestran algunos de flexin o de torsin de planos de la red, y en algunos casos, esta distorsin puede ser enrejado tan severa que los patrones ordinarios de Laue lo revelar. Un buen ejemplo de distorsin severa de celosa est proporcionada por las partes de un solo cristal de tensin inmediatamente adyacente a las mordazas de la muestra. Como mencionado anteriormente, estas porciones de la red cristalina se ven obligados a doblarse durante fotografas de elongacin de la muestra, y Laue de estas secciones en consecuencia se mostrar manchas alargadas. Si la curvatura es de alrededor de un solo eje, los ndices de Miller del eje de flexin se puede determinar generalmente

246 ORIENTACIO N CRISTALES monooperador [CAP. 8 (A) Transmisin (b) Volver reflexin La figura. 8-28. Laue fotografas de un cristal de aluminio deformado. Muestra-tofilm distancia de 3 cm, la radiacin de tungsteno, 30 kV. estereogrficamente; cada racha Laue se representa grficamente como un arco que representa la rango de orientacin del plano de celosa correspondiente, y un eje de rotacin que se representan las direcciones de estos arcos en la proyeccin se encontrado. Las longitudes de los arcos angulares son una medida de la cantidad de de flexin que se ha producido. En la medicin de la cantidad de flexin por este mtodo, se debe recordar que las longitudes de onda presentes en la haz incidente no cubren una gama infinita. No hay radiacin de longitud de onda ms corta que el lmite de longitud de onda corta, y en el longwavelength lado la intensidad disminuye continuamente a medida que la longitud de onda aumentos -. Esto significa que, para un grado dado de celosa de flexin, algunos Rayas Laue no puede ser tan largo como podran ser si una amplia gama de longitudes de onda estaban disponibles. La cantidad de flexin estimado a partir de las longitudes de estas vetas tanto, sera menor que la realmente presente. Transmisin y reflexin posterior patrones de Laue hechos de la misma regin deformada generalmente difieren marcadamente en apariencia. Las fotografas en la figura. 8-28 se realizaron, en idnticas condiciones, de la misma regin de un aluminio deformado cristal que tiene la misma orientacin relativa a la haz incidente para cada fotografa. Ambos puntos muestran alargados, que se evidencia de celosa doblado, pero las manchas son alargadas principalmente en una direccin radial sobre el patrn de transmisin, mientras que en la parte posterior-reflexin patrn tienden a seguir las lneas de zona. El asterismo trmino (del griego aster = estrella) fue utilizado inicialmente para describir la apariencia de estrella de un transmisin patrn tal como la figura. 28.8 (a), pero ahora se utiliza para describir cualquier

forma de rayas, radial o nonradial, a cada tipo de fotografa de Laue. La notable diferencia entre estas dos fotografas se entiende mejor considerando un caso muy general. Supongamos que un cristal est tan deformada EL EFECTO DE LA DEFORMACIN PLSTICA 247 pelcula La figura. 8-29. Efecto de la distorsin de celosa en la forma de una transmisin de Laue spot. CN es la normal a la reflejando avin. La figura. 8-30. Efecto de la distorsin de celosa en la forma de un Laue back-reflexin spot. CN es la normal a la reflejando avin. que la normal a un conjunto particular de planos reticulares que reflejan describe un pequeo cono de vrtice ngulo 2e, es decir, en diversas partes del cristal de la normal se desva por un ngulo C en todas las direcciones desde su posicin media. Es equivalente al movimiento de balanceo de un espejo plano a travs del mismo rango angular y, como la figura. 8-29 muestra, el punto S reflejada es ms o menos elptica sobre una pelcula colocada en la posicin de transmisin. Cuando el avin rocas normales a travs del 2c ngulo en el plano de ACN, se mueve el haz reflejado a travs de un ngulo 4c, y el eje mayor de la elipse est dada aproximadamente por t (AC) cuando 26 es pequea. Por otra parte, cuando el avin rocas normales a travs del 2e ngulo en una direccin normal al plano de reflexin ACN, el nico efecto es el de sacudir el plano de la reflexin a travs de la misma 2c ngulo sobre el haz incidente. El eje menor de la mancha elptica lo tanto se da por 2e (AS) 2e (AC) tan 26 2e (AC) 26. La forma de la mancha se caracteriza

por la relacin Eje mayor 2e eje menor (AC) 26 6 Para 26 = 10, el eje mayor es de unos 12 veces la longitud del eje menor. 248 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 En la regin de la espalda-reflexin, la situacin es completamente diferente y el S punto es aproximadamente circular, como se muestra en la figura. 8-30. Ambos ejes de la mancha subtienden un ngulo de aproximadamente 4c en el cristal. Por lo tanto, puede la conclusin de que la forma de una mancha de back-reflexin es ms directamente relacionada a la naturaleza de la distorsin de celosa que es la forma de una transmisin detectar, ya que, en el caso general, el movimiento circular del extremo de la reflejando plano normal provoca el movimiento circular del haz reflejado hacia atrs pero movimiento elptico de la viga hacia el reflejado. Por esta razn, la retrorreflexin mtodo general, es preferible para los estudios de distorsin de celosa. No debe suponerse, sin embargo, que slo rayas radial disponible en el los patrones de transmisin. La direccin de rayado depende de la orientacin del eje alrededor del cual los planos reflectantes estn dobladas y si, por ejemplo, estn dobladas slo sobre un eje situado en el plano de la figura ACN. 8-29, entonces el punto ser alargada en una direccin en ngulo recto con el radio AS. ^ x enlaiged \ Laue lugar Lugar Laue - ^ ^ \ \ 1 Deb \ e un ic potencial - * -

; ' Debye anillo / (A) sin deformar cristal (l>) Deformed cnstal La figura. 8-31. Formacin de Debye arcos en los patrones de Laue de cristales deformados. Una caracterstica del patrn de back-reflexin de la figura. 8-28 merece comentarios, a saber, los arcos cortos, concntrico con el centro de la pelcula, que pasar a travs de muchos de los lugares de Laue alargados. Estas son las partes de Debye anillos, tal como se podra esperar en una fotografa hecha de un agujero de alfiler policristalino muestra con radiacin caracterstica (Sec. 6-9). Con una muestra policristalina de orientacin aleatoria y un anillo completo de Debye se forma, porque las normales a cualquier conjunto particular de planos (hkl) tienen todas las orientaciones posibles en el espacio; en un cristal nico deformado, el mismo normales se limitan a un rango finito de orientaciones con el resultado de que slo fragmentos de anillos Debye aparecer. Podemos imaginar un crculo en el pelcula a lo largo de la cual un anillo de Debye se formaran si un espcimen policristalino Se utilizaron, como se indica en la figura. 8-31. Si un punto Laue luego se agranda como resultado de la deformacin de celosa y se extiende sobre el potencial de Debye anillo, entonces una parte corta de un anillo de Debye se formarn. Ser mucho ms oscuro que el punto Laue, ya que la radiacin caracterstica que * * En la fig. 8-28 (b), la radiacin caracterstica en cuestin es la radiacin de tungsteno L. El voltaje que se utiliza (30 kV) es demasiado bajo para excitar las lneas K de tungsteno (excitacin = tensin de 70 kv), pero lo suficientemente alto como para excitar las lneas de tensin de excitacin (L = 12 kv). 8-6] El efecto de la deformacin plstica 249 HKXT POLYGOMZKD

FLG. 8-32. (Esquemtica). Reflexin de la radiacin blanca por celosas curvadas y polygonized forma que es mucho ms intensa que las longitudes de onda inmediatamente adyacente para que en el espectro continuo. De hecho, si la exposicin de rayos X no est suficientemente largo, slo los arcos Debye pueden ser visibles en la pelcula, y el observador podr ser llevado a conclusiones errneas sobre la naturaleza y medida de la deformacin de celosa. Con estos hechos en mente, un nuevo examen de los patrones mostrados en la fig. 8-28 conduce a las siguientes conclusiones: (1) Dado que el asterismo en el patrn de transmisin es predominantemente planos radiales, de celosa inclinados en ngulos pequeos para el haz incidente se doblan sobre un nmero de ejes, de tal manera que sus normales de avin son confinado a un pequeo cono en el espacio. (2) Dado que el asterismo en el patrn de back-reflejo principalmente las siguientes zonas lneas, la mayor parte de los planos inclinados en ngulos grandes con el incidente haz se doblan alrededor de un eje nico. Sin embargo, la existencia de Debye arcos muestra que hay latentes manchas de Laue de rea considerable superposicin en los puntos alargados visibles, y que una pequea parte de los aviones se refiere, por lo tanto doblada sobre un nmero de ejes. El recocido de un cristal deformado a una temperatura suficientemente alta, uno de los siguientes efectos se produce generalmente: (1) Polygonization. Si la deformacin no es demasiado grave, plsticamente porciones curvadas de cristal se rompen en bloques ms pequeos, que son strainfree y desorientado por aproximadamente la misma cantidad total (nunca ms de unos pocos grados) como el fragmento de doblado del que proceden, como sugerido por la fig. 8-32. (El trmino "polygonization" describe el hecho

que una cierta direccin cristalogrfica [uvw] forma parte de un arco antes recocido y parte de un polgono despus.) Por otra parte, la orientacin media de los bloques es el mismo que el del fragmento de matriz. El efecto de polygonization en un patrn de Laue es por lo tanto, para sustituir un alargado Racha Laue (de la celosa doblado) con una fila de pequeos puntos cortantes (desde los bloques individuales) que ocupa la misma posicin en la pelcula, siempre cada bloque est suficientemente desorientado de su vecino modo que los haces 250 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CHAP 8 La figura. 8-33. Laue transmisin ampliada manchas de un cristal de silicio fino ferrita (Un hierro que contiene 3,3 por ciento de silicio en solucin slida): (a) como curvar hasta un radio de f pulg, (b) despus del recocido 10 min a 950C, (c) despus del recocido 4 horas a 300C 1. (C. G. Dunn y F. W. Daniels, Trans. (C) A.I.M.E. 191, 147, 1951) reflejada por los bloques adyacentes se resuelven uno de otro. Figura 8-33 muestra un ejemplo de polygonization en un cristal de silicio de ferrita. (2) Recrystalhzalion. Si la deformacin es lo suficientemente grave, el cristal puede recristalizar en un nuevo conjunto de cepa libres de granos completamente diferentes en la orientacin del cristal original. La aparicin de la difraccin patrn depende entonces del tamao de los granos nuevos en relacin con la seccin transversal sea rea del rayo X incidente del haz. La aparicin de tales patrones se discute y se ilustra en la Sec. 9-2. La orientacin relativa del 8-7 de cristales maclados. En esta seccin y la siguiente vamos a considerar, no de cristales individuales, pero los pares de cristales que son naturalmente asociados unos con otros en ciertas formas particulares. Hermanado

cristales son claros ejemplos de tales pares: las dos partes de la doble tienen diferentes orientaciones, pero no hay una relacin clara entre la orientacin los dos. Adems, las dos partes estn unidas en un plano, la plano de composicin, que tambin es fija e invariable, no slo al azar un superficie de contacto, como la que existe entre dos granos adyacentes en una policristalino masa. Cristales hermanados por lo tanto presentan un doble problema, la de determinar la relacin de orientacin y el de la determinacin los ndices de la composicin plano. La relacin de orientacin se establece mediante la bsqueda de la orientacin de cada parte del conjunto gemelo y trazar los dos en el mismo estereogrfica proyeccin. Determinacin de los ndices de avin composicin-requiere un conocimiento de cmo trazar la huella, o una lnea de cruce, de un en otro plano, y debemos hacer una digresin en este punto a considerar ese problema. Supongamos que, en la superficie pulida de un grano maclado, la traza de la composicin plano forma un ngulo A con algunas NST lnea de referencia, como se muestra en la figura. 8-34 (a). Entonces, si hacemos que el plano de proyeccin paralela a la plano de pulido, el ltimo estar representado por el crculo de base de la proyeccin y cualquier direccin en el plano de pulido por diametralmente opuesto puntos en el crculo de base. As, en la figura. 8-34 (b), los polos $-AT-y representan el NS lnea de referencia y los puntos A y B, que se encuentra en un ngulo a ORIENTACIN FAMILIAR 8-7] DE CRISTALES hermanadas 251 rastro de composicin plano (A) La figura. 8-34. Proyeccin de la traza de un plano en una superficie. de N y S, representan la traza. Tenga en cuenta que el dimetro ACB no hace

representan la traza; ACB representa un plano perpendicular al plano de pulimento que podra haber causado el rastro observado, pero tambin lo puede la inclinada aviones ADB, AFB, y AGB. Evidentemente, cualquier nmero de planos podra haber causado el rastro observado, y lo nico que podemos decir con certeza es que el polo del plano de la composicin se sita en algn lugar de la HK dimetro, donde H y K son 90 desde la direccin traza A, B. HK se llama un rastro normal. Para corregir la orientacin del plano de composicin requiere informacin adicional que se puede obtener por la seccin del grano hermanada por otro AT ^^la direccin A, H (A) (b) La figura. 8-35. Proyeccin de la traza de un plano en dos superficies. 252 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 plano y determinar la direccin de seguimiento en este nuevo plano. Supongamos que el seccin se hace a travs de una lnea de WE, elegido por comodidad de estar en derecho ngulos a NS, y que el nuevo plano de uas (Plano 2) forma un ngulo 4 con el original (plano 1), como se muestra en la figura. 8-35 (a). Ahora es conveniente de usar el borde WE como una direccin de referencia. Que las huellas de la plano de composicin en las superficies 1 y 2 forman ngulos de pies (igual a 90 - a) y 7 con el borde WE. Entonces, si el plano de proyeccin es estenogrfica nuevamente paralela a la superficie 1, superficie 2 est representado por un gran crculo a travs de W y E y en un ngulo #> de la circunferencia [fig. 8-35 (b) J. La traza del plano de composicin en superficie 1 se representa entonces por A, B como antes y la misma traza en la superficie 2 por la direccin C, tanto ft ngulos (C) A y B

Figura 8-36 reflexin Back-fotografas de Laue de dos partes, A y B, de un hermanamiento cristal de cobre. Radiacin Tungsteno, 30 kV, 20 mA. Film cubierto con 0,01-m. aluminio grueso para reducir la intensidad de la radiacin K fluorescente de la muestra. 8-7J orientacin relativa de Cristales maclados 253 e y que se mide desde el borde \ V, K. Dos lneas no paralelas en la composicin desconocida plano-Y son ahora conocidos, a saber, la direccin A, B y la direccin C. Un gran crculo dibujado a travs de B, (\ A y por lo tanto describe la orientacin del plano-Y, y PA 'es su polo. Una aplicacin de este mtodo se proporcion por el recocido gemelos en cobre. La reflexin posterior fotografas carril de la figura. 8-30 se obtuvieron a partir de una grano grande que contiene una banda gemela, al trasladar la muestra en su propia plano entre las exposiciones, el haz incidente se hizo caer en una primera parte del gemelo [patrn (a)], y luego en la otra [patrn (b)], y finalmente a cada lado de la traza del plano de composicin [patrn (c)]. La fotografa ltimo es por lo tanto un patrn doble de ambas partes de la gemelos juntos. Las orientaciones derivado de patrones (a) y (b) se muestran en la figura. 8-37, y los polos de ciertos de cada parte de la doble se considera que coinciden, en particular el polo (111) en el cuadrante inferior derecho. Estas coincidencias tambin son evidentes en la figura. 8-3 () (<0 en la forma de manchas de Laue coincidentes. Por la medicin de las direcciones ot la traza de la composicin X plano en dos superficies, la orientacin de X se determin, como se muestra en la proyeccin. l> x se encuentra que coincide con el polo (111) comn para cada parte de la La figura. 8-37. Proyeccin de la parte A (smbolos abiertos) y la parte B (smbolos slidos) de un gemelo en cobre, a partir de las Figs. 8-36 (a) y (b). 254 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 doble, y conocer as los ndices de la composicin plano. Mediante los mtodos

descrito en la seccin. 2-11, tambin puede demostrarse que las dos partes de la doble estn relacionadas por la reflexin en este mismo plano (111). El avin de hermanamiento (El plano de reflexin) en el cobre por lo tanto se demostr ser idntica con el plano de composicin. Surgen problemas similares en los estudios de deformacin plstica. Por ejemplo, es posible que desee encontrar los ndices de planos de deslizamiento responsables de lo observable deslizarse lneas sobre una superficie pulida. O tal vez desee determinar la composicin plano de una doble deformacin. El procedimiento ms simple, si se puede utilizado, es la de convertir la muestra de ensayo en granos suficientemente grande para que el orientacin de cualquier grano seleccionado puede ser determinado directamente por uno de los Laue mtodos. El espcimen de pulido despus se filtra para producir plsticamente lneas visibles de deslizamiento o gemelos deformacin. La orientacin de un grano que muestran estas huellas se determina y son las direcciones de estas trazas medido. Si quedan residuos se miden en dos superficies, el mtodo de solucin es idntica a la descrita anteriormente para el cobre hermanada. Si las huellas son midi slo en un plano, entonces las normales de rastreo se trazan en un estereogrfica proyeccin de los granos; la orientacin de los cristales y las normales de rastreo se hacen girar en una orientacin estndar y superpuesta sobre una proyeccin estndar detallado. Interseccin de las normales con cierta polos de la norma entonces revelar los ndices de los aviones que causan la observaron rastros. Pero puede suceder que el tamao de grano es demasiado pequea para permitir una determinacin de la orientacin del grano. El problema ahora es mucho ms difcil, incluso cuando las instrucciones de seguimiento se midi en dos superficies. El primer paso es trazar las normales de la traza correspondiente a las huellas en ambas superficies; estas normales sern lneas rectas para las huellas en la superficie sobre la cual

la proyeccin se est realizando y grandes crculos de las huellas en la otra superficie. Un estndar (/ IDP) de proyeccin es entonces superpuesta a la proyeccin de las normales de traza, y una rotacin se solicita que traer [H \} kili polos en coincidencia con las intersecciones de rectas y curvas rastrear las normales. Si tal coincidencia no puede ser encontrado, un estndar (h ^ h) proyeccin se pretende, y as sucesivamente. Si las trazas, ya sea en plano tiene ms una direccin, que ser til para observar cuntos diferentes direcciones se involucrado. Por ejemplo, si hay ms de tres direcciones diferentes en un grano de un metal cbico, las huellas no puede ser causada por planos {100}; si hay ms de cuatro direcciones se observan, tanto {100} y {111} planos se descartan, y as sucesivamente. Hasta este punto, se han preocupado por el problema de encontrar los ndices de aviones que causan ciertas trazas observada, generalmente en un grano de orientacin conocida. El mismo problema puede ser resuelto en sentido inverso: dada trazas en dos superficies de un avin de ndices conocidos (hkl \ la orientacin de el cristal se puede encontrar sin el uso de las radiografas. Los oligoelementos son normales ORIENTACIN FAMILIAR 8-7] DE CRISTALES hermanadas N 255 La figura. 8-38. Determinacin de la orientacin de los cristales de cobre a partir de trazas de dos conocido aviones gemelos en una superficie. traza en una hoja de papel y en este se superpone una proyeccin estndar mostrando solamente {hkl \ aviones. Por ensayo y error, una rotacin se encuentra lo que har que el {hkl \ polos caer en las normales trazas observadas. Por el mismo mtodo, la orientacin del cristal puede determinarse tambin a partir dos trazos no paralelas de planos de ndices conocidos en una superficie. En este As, a veces es posible determinar la orientacin de un solo grano

en una masa policristalina cuando el tamao de grano es demasiado pequeo para permitir directa x-ray determinacin. Por ejemplo, podemos utilizar el hecho de que el recocido 256 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 gemelos en cobre tienen {111} planos composicin para determinar la orientacin del grano se muestra en la figura. 8-38 (a), donde las bandas individuales se han formado en dos diferentes planos {111} de la matriz de grano. Los oligoelementos son normales representados en la figura. 8-38 (b), y en este se coloca un estndar (001) de proyeccin que contiene solamente (111) polos. Si el estndar es girado alrededor de su centro a la posicin que se muestra, entonces es posible por una rotacin adicional sobre la eje AB para llevar los polos {111} de la norma, que se muestran por los smbolos abiertos, a las posiciones situadas en las normales de rastreo, que se muestran con smbolos slidos. El slido smbolos muestran por lo tanto una orientacin del cristal que representar para las trazas observados. Desafortunadamente, no es la nica: la orientacin encontrado por que refleja la que se muestra en el plano de proyeccin es tambin un posible solucin. Una eleccin entre estas dos posibilidades se pueden hacer slo seccionando el cristal para exponer direcciones traza en una segunda superficie. 8-8 orientacin relativa de precipitado y de la matriz. Cuando un sobresaturada solucin slida precipita una segunda fase, la segunda frecuencia toma la forma de placas delgadas que son paralelas a los planos de bajo ciertas ndices en la matriz. El plano de la matriz en la que la placa precipitado la mentira se llama plano hbito y sus ndices se refieren siempre a la red del matriz. Hay tambin una relacin de orientacin definida entre la celosa del precipitado y el de la matriz. Ambos de estos efectos resultar de una tendencia de la disposicin atmica en el precipitado para ajustarse lo estrechamente como sea posible a la disposicin atmica en la matriz en la interfase entre los dos. Por ejemplo, la precipitacin de una fase HCP de un

FCC solucin slida a menudo se produce de tal manera que la basal (0001) avin del precipitado es paralelo a un plano (111) de la matriz, ya que en ambos de estos planos de los tomos tienen una disposicin hexagonal. Relaciones de este tipo se ilustra en una escala atmica en la figura. 8-39. En este caso hipottico el plano hbito es (HO) y es la relacin de celosa de tal manera que el plano (010) del precipitado es paralelo al plano (110) de la matriz; la direccin [100] en el plano anterior es paralela a la direccin [110] en el ltimo, o, en el notacin abreviada de costumbre, MATRIX PRECIPITADO CELL CELL UNIDAD UNIDAD La figura. 8-39. Matrix-precipitado relacin. donde los subndices p y m se refieren a precipitado y de la matriz, respectivamente. 8-8] orientacin relativa de precipitado y MATRIX 257 La figura. X-40. Widmanstatten estructura (esquemtica). Matriz cbica tiene (100) hbito. Grano superior est cortada en paralelo a {100). Si una solucin slida tiene un cierto \ hkl avin hbito \, entonces la precipitacin Por supuesto, puede tener lugar en todos los planos de la forma \ hkl \. As, un grano puede contener juegos de placas de precipitado que tienen orientaciones muy diferentes. Cuando un grano est seccionada, las placas delgadas precipitar aparecen como agujas en el plano de pulido que resulta en una estructura tal como la mostrada

en la figura. 8-40 en una forma altamente idealizada. Esto se llama un Widmanstatten estructura. Es muy a menudo el producto de la nucleacin y crecimiento de las reacciones, como la precipitacin y descomposicin eutectoide. Algo similar estructuras tambin se observ como resultado de la reaccin de las aleaciones, as otras transformaciones diffusionless. (Hay algunas diferencias secundarias, sin embargo: martensita a menudo toma la forma de agujas, as como placas y los ndices de su plano hbito son a menudo irracional, por ejemplo, (259), y puede incluso, como en el caso de Fe-C martensita, cambiar con la composicin.) Los problemas presentados por cristalogrficos tales estructuras son muy lo mismo que los descritos en la seccin. 8-7, excepto en que las placas de la segunda fase casi siempre difieren en la estructura cristalina de la matriz, a diferencia de las dos partes de un gemelo o el material a cada lado de un plano de deslizamiento. El plano de hbito es identificado por los mtodos anteriormente descritos para la identificacin de los planos de deslizamiento o de hermanamiento. La relacin de orientacin es determinar fcilmente si una placa precipitado solo se puede encontrar que es grande suficiente para permitir la determinacin de su orientacin por uno de los Laue mtodos. Ordinariamente, sin embargo, el precipitado es tan fino que este mtodo no se puede aplicar y debe alguna variante del mtodo de rotacin de cristal ser usado. 258 ORIENTACIO N DE MONOCRISTALES [CAP. 8 PROBLEMAS 8-1. Una fotografa de Laue back-reflexin est hecho de un cristal de aluminio con una distancia de cristal a pelcula de 3 cm. Cuando se ve desde la fuente de rayos X, el Laue manchas tienen la siguiente ^-coordenadas, medida (en pulgadas) del centro de la pelcula: xyxy +0,26 +0,09 -0,44 +1,24

+0,45 +0,70 -1,10 +1,80 + 1,25 +1,80 -1,21 +0,40 + 1,32 +0,40 -1,70 +1,19 +0,13 -1,61 -0,76 -1,41 +0,28 -1,21 -0,79 -0,95 +0,51 -0,69 -0,92 -0,26 +0.74 -0.31 Trazar estos puntos en una hoja de papel cuadriculado graduado en pulgadas. Por medio de un Tabla de Greninger, determinar la orientacin del cristal, trazar todos los polos de la forma (100), (110), y (111), y las coordenadas de los polos {100J en trminos de latitud y la longitud medida desde el centro de la proyeccin. 8-2. Una fotografa de Laue transmisin est hecho de un cristal de aluminio con una cristal a pelcula distancia de 5 cm. Para un observador que mire a travs de la pelcula hacia la fuente de rayos X, los puntos tienen el siguiente ^ coordenadas (en pulgadas): xyxy +0,66 +0,88 -0,10 +0,79 +0,94 +2,44 -0,45 +2,35 + 1,24 +0,64 -0,77 +1,89 + 1,36 +0,05 -0,90 +1,00 + 1,39 +1,10 -1,27 +0,50 +0,89 -1,62 -1,75 +1,55 + 1,02 -0,95 -1,95 +0,80 + 1,66 -1,10 -0,21 -0,58 -0.59 -0.28 -0.85 -1.31 -1.40 -1.03 -1.55 -0.36

Proceda como en el problema. 8-1, pero usar una regla para trazar estereogrfica de los polos de reflexin aviones. 8-3. Determinar las rotaciones necesarias angulares sobre (a) el haz incidente eje (6), el eje este-oeste, y (c) el eje norte-sur para que el cristal de Problema resuelto. 8-2 en el "cubo de orientacin / ', es decir, que se muestra en la figura. 2-36 (a). 8-4. Con referencia a la figura. 8-35 (a), si m = 120, y = 135, y = 100 <t>, cules son las coordenadas (en trminos de latitud y longitud) del polo de la plano de composicin? 8-6. Placas de precipitado en una matriz cbica formar una estructura Widmanstatten. La restos de las placas en el plano de la mentira de uas en tres direcciones en un determinado grano, haciendo que los ngulos acimutales de 15, 64 y 113, medido en sentido horario desde un "Vertical" NS lnea de referencia. Determinar los ndices del avin y el hbito orientacin de la veta de la matriz (en trminos de las coordenadas de sus polos {100}).

CAPTULO 9 LA ESTRUCTURA DE agregados policristalinos

1.9 Introduccin. En el captulo anterior se refiere a la y orientacin relativa perfeccin de los cristales individuales. Pero el metal solo cristal es, despus de todo, un poco de una curiosidad de laboratorio; la manera normal en metales y aleaciones que se usan es en la forma de agregados policristalinos, compuesto de un gran muchos cristales individuales generalmente de tamao microscpico. Como las propiedades de tales agregados son de gran importancia tecnolgica, que han sido intensamente estudiado en muchas maneras. En tales estudios las dos tcnicas ms utilizadas son el examen microscpico y rayos X difraccin, y el investigador sabio usar los dos, uno complementa el otro, y ambos juntos pueden proporcionar una gran cantidad de informacin acerca la estructura de un agregado.

Las propiedades (mecnicas, elctricas, qumicas, etc) de una sola fase agregado se determina por dos factores: (1) las propiedades de un cristal nico del material, y (2) la forma en la que los cristales individuales se juntan para formar el masa compuesta. En este captulo se ocupa del segundo factor, a saber, la estructura del agregado, usando este trmino en su sentido ms amplio para significar el tamao relativo, la perfeccin y la orientacin de los granos que componen el agregado. Si estos granos son grandes o pequeos, se cuela o no deformado, orientadas al azar o en alguna direccin preferida, tiene con frecuencia muy efectos importantes sobre las propiedades del material. Si el agregado contiene ms de una fase, sus propiedades naturalmente dependen de las propiedades de cada fase considerarse por separado y en la manera en que estas fases se producen en el agregado. Dicho material ofrece amplia posibilidades estructurales ya que, en general, el tamao, la perfeccin y la orientacin de los granos de una fase pueden diferir de los de la otra fase o fases. Tamao del cristal 9.2 Tamao del grano. El tamao de los granos en un metal policristalino o aleacin se ha pronunciado efectos sobre muchas de sus propiedades, la ms conocida siendo el aumento de la resistencia y la dureza que acompaa una disminucin en el tamao de grano. Esta dependencia de las propiedades de tamao de grano hace que la medicin tamao de grano de una cuestin de cierta importancia en el control de la mayora mjetal operaciones de formacin. Los tamaos de grano se encuentran en metales y aleaciones comerciales varan desde sobre 10 ""

1 a 10 ~ 4 cm. Estos lmites son, por supuesto, arbitrario y repre259 260 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 envi valores ms extremos, los valores tpicos caen en un rango mucho ms estrecho, a saber, alrededor de 10 ~ 2 a 10 ~ 3 cm El mtodo ms exacto para medir tamao de grano de este rango es por examen microscpico, el procedimiento usual es determinar el nmero medio de granos por unidad de rea del pulido seccin y de este informe en trminos de un "nmero ndice" establecido por el American Society for Testing Materials. La ecuacin n= se refiere n, el nmero de granos por pulgada cuadrada cuando se ve con un aumento de 100 X y TV, la ASTM "nmero ndice" o "grano de tamaonmero ". Aunque difraccin de rayos X es decididamente inferiores a examen microscpico en la medida precisa del tamao de grano, una fotografa de difraccin pueden proporcionar informacin semicuantitativa sobre el tamao de grano, junto con la informacin acerca de la perfeccin cristalina y la orientacin. Una transmisin o retrorreflexin fotografa estenopeica hecha con radiacin filtrada es mejor. Si el back-reflexin mtodo se utiliza, la superficie de la muestra (que necesitan no estar pulido) debe ser grabado para eliminar cualquier capa de la superficie perturbada que podra estar presente, ya que la mayora de la radiacin difractada se origina en una capa superficial delgada (ver Sees. 9-4 y 9-5). * La naturaleza de los cambios que se producen en las fotografas estenopeicas por la progresiva reducciones en el tamao de grano espcimen se ilustra en la figura. 9-1. El gobierno efecto aqu es el nmero de granos que toman parte en la difraccin.

Este nmero es a su vez relacionada con el rea de seccin transversal del incidente rayo, y su profundidad de penetracin (en la reflexin posterior) o la muestra espesor (en la transmisin). Cuando el tamao de grano es bastante gruesa, como en La figura. 9-1 (a), solamente unos pocos cristales difractan y la fotografa se compone de un conjunto de patrones de Laue superpuestos, uno de cada cristal, debido a la blanco radiacin presente. Un tamao de grano algo ms fino aumenta el nmero de Manchas de Laue, y aquellos que se encuentran sobre los posibles anillos Debye generalmente son ms intensa que el resto, porque se forman por la fuerte componente caracterstico de la radiacin incidente. Por lo tanto, la sugerencia de un anillo de Debye comienza a aparecer, como en (b). Cuando el tamao de grano es ms reducido, las manchas de Laue se funden en un fondo general y Debye slo anillos son visibles, como en (c). Estos anillos son irregulares, sin embargo, ya no suficientes cristales estn presentes en el volumen irradiado de la muestra a reflejar a todas las partes del anillo. Un tamao de grano ms fino an produce-la lisa, continuas anillos de Debye se muestra en (d). Varios mtodos han sido propuestos para la estimacin del tamao de grano puramente en trminos de varios factores geomtricos. Por ejemplo, una ecuacin se puede derivar que relaciona el nmero observado de manchas en una Debye anillo al tamao de grano y otras variables tales como el dimetro del haz incidente-, multiplicidad de la reflexin, y la distancia espcimen de pelcula. Sin embargo, muchos aproximaciones se tratara, y la ecuacin resultante no es muy accu93] TAMAO DE LAS PARTCULAS 261 (A) (b) (C) (d) La figura. 9-1. Reflexin Back-patrones del agujero de alfiler de muestras recristalizadas aluminio; tamao de grano disminuye en el orden (a), (b), (c), (d). Filtrado de radiacin de cobre. tasa. La mejor manera de estimar el tamao de grano por difraccin es obtener un conjunto

de especmenes que hayan conocido ASTM granulomtricas nmeros, y se preparan para de stos un conjunto estndar de fotografas de la clase mostrada en la fig. 9-1. El nmero de tamao de grano de una muestra desconocida de el mismo material est Se obtiene entonces simplemente haciendo coincidir su patrn de difraccin con uno de los fotografas estndar, siempre que ambas se realizan en condiciones idnticas. I 32ia, el tamao de grano llega a un valor en algn lugar en el rango de 10 a ~ 3 10 "" 4 cm, el valor exacto en funcin de las condiciones experimentales, la Debye anillos pierden su carcter irregular y convertirse en permanente. Entre este valor y 10 ~ 5 cm (1000A), no se produce el cambio en el patrn de difraccin. A unos 10 ~ 5 cm los primeros signos de la ampliacin de la lnea, debido al pequeo cristal tamao, empiezan a ser detectables. Por tanto, existe un intervalo de tamao, desde 10 ~ ~ 3 (O 10 "" " 4 ) A 10 ~ ~ 5 cm, donde difraccin de rayos X es bastante insensible a las variaciones en el tamao de grano. Yo 9-3 tamao de partcula. Cuando el tamao de los cristales individuales es menor que alrededor de 10 ~ ~ 6 cm (1000A), el trmino "tamao de partcula" se utiliza generalmente. Como hemos 262 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 vio en la seccin. 3-7, cristales en esta causa intervalo de tamao de la ampliacin de Debye anillos, la medida del ser ampliar dada por la ecuacin. (3-13): B = ^ L, (3-13)

* Cos0 donde B = ampliacin de la lnea de difraccin medido a la mitad de su mximo intensidad (radianes) y t = dimetro de partcula de cristal. Todos difraccin lneas tienen una anchura medir, incluso cuando el tamao de cristal superior 1000A, debido a causas tales como la divergencia del haz incidente y el tamao de la muestra (En las cmaras de Debye) y la anchura de la fuente de rayos X (en difractmetros). La anchura B de la ecuacin. (3-13) se refiere, sin embargo, a la anchura adicional, o ampliacin, debido al efecto de tamao de partcula solo. En otras palabras, B es esencialmente cero cuando el tamao de partcula excede de aproximadamente 1000A. El problema principal en la determinacin de tamao de partcula de anchuras de lnea es determinar la amplitud de B mide BM de la lnea de difraccin. De los muchos mtodos propuestos, de Warren es la ms sencilla. El desconocido se mezcla con un estndar que tiene un tamao de partcula mayor que 1000 A, y que produce una lnea de difraccin alrededor de esa lnea de lo desconocido que ha de ser utilizado en la determinacin. Un patrn de difraccin se hace entonces de la mezcla ya sea en una cmara de Debye o, preferiblemente, un difractmetro. Este patrn contendr las lneas agudas de las lneas estndar y amplio de la desconocido, supone que consisten en partculas muy finas. Sea B $ el medido anchura, a media intensidad mxima, de la lnea de la norma. Entonces B no es dado, simplemente por la diferencia entre BM y 5 $, pero por la ecuacin R2 _ r> 2 _ r> 2 (Esta ecuacin resulta de la suposicin de que la lnea de difraccin tiene la forma de una curva de error.) Una vez que B se ha obtenido de la ecuacin. (9-1), que se puede insertar en la ecuacin. (3-13) para producir el tamao de partcula /. Hay varios otros mtodos de bsqueda de BM B ', en comparacin con Warren mtodo, son algo ms precisa y considerablemente ms intrincado. Las dificultades experimentales implicados en la medicin de tamao de partcula desde

aumento de ensanchamiento de lnea con el tamao de la partcula medido. Aproximadamente hablando, las mediciones relativamente crudo suficiente en el rango de 0-500A, pero tcnica experimental muy bueno se necesita en el rango de 500-1000A. La tamao mximo medible por la ampliacin de la lnea por lo general ha sido puesto a 1000A, principalmente como resultado de la utilizacin de tcnicas de cmara. Recientemente, Sin embargo, el difractmetro se ha aplicado a este problema y la superior lmite ha sido empujado a casi 2000A. Un trabajo muy cuidadoso wasjgcmired reflexin y back-lneas se trabaja por su cuenta, ya que estas lneas muestran la mayor pSrtictePSize ampliacin, como se muestra por la ecuacin *, (SHIS). De la discusin anterior se podra deducir Tha ^ ampliacin de la lnea se principalmente usado para medir el tamao de partcula de los polvos sueltos en lugar de la 9-4] PERFECCIN DE CRISTAL 263 tamao de los cristales individuales en un agregado slido.! Eso es correcto. Los intentos se han hecho para aplicar la ecuacin. (3-13) para la difraccin ampliado lneas de muy probetas de metal de grano fino y as determinar el tamao de los granos individuales. Tales determinaciones no son muy fiables, sin embargo, porque los granos individuales de dicho material son a menudo no uniforme tensas, y esta condicin, como veremos en la siguiente seccin, tambin pueden ampliar las lneas de difraccin; una incertidumbre lo tanto existe como a la causa exacta de la ampliacin observada. Por otro lado, la cristales individuales que componen un polvo suelto de tamao de partcula fino puede a menudo se supone que la cepa libre, siempre que el material en cuestin es un frgil (no plstico), y toda la ampliacin observada con confianza puede atribuirse al efecto del tamao de partcula. (Sin embargo, tenga en cuenta que suelta, no recocido polvos metlicos, producidos por presentacin, molienda, molienda por bolas, etc, casi siempre contienen la cepa no uniforme.) La. aplicaciones principales de la linebroadening

mtodo han sido en la medicin del tamao de partcula de materiales tales como negros de carbn, catalizadores, y polvos industriales. JAnother x-ray mtodo para medir el tamao de las partculas pequeas merece mencin alguna, aunque una descripcin completa est ms all del alcance de esta libro. Este es el mtodo de pequeo ngulo de dispersin. Es una forma de difuso dispersin muy cerca del haz transmitido no desviada, es decir, en ngulo 20 que van desde un mximo de aproximadamente 2 o 3. De la variacin observada de la intensidad dispersada vs ngulo 20, el tamao, y en cierta medida la forma, de pequeas partculas se puede determinar, si son amorfos o cristalinos. De ngulo pequeo de dispersin tambin se ha utilizado para estudiar la precipitacin efectos metlicos en soluciones slidas. | CRYSTAL PERFECCIN 9-4 perfeccin Crystal. De los muchos tipos de imperfeccin cristal, los que nos interesa aqu es la tensin no uniforme debido a que es tan caracterstico el estado de trabajado en fro de metales y aleaciones. Cuando un policristalino pieza de metal se deforma plsticamente, por ejemplo mediante laminado, deslizarse se produce en cada grano y el grano cambia su forma, cada vez aplanado y alargada en la direccin de laminado. El cambio en la forma de una cualquiera grano se determina no slo por las fuerzas aplicadas a la pieza como un todo, pero tambin por el hecho de que cada grano retiene contacto en las superficies de contorno con todos sus vecinos. Debido a esta interaccin entre los granos, un solo grano en una masa policristalina no es libre para deformarse en el mismo manera como un solo cristal aisladas podran, si se somete a la misma deformacin por laminacin. Como resultado de este sistema de sujecin por sus vecinos, un plsticamente grano deformado en un agregado slido generalmente tiene regiones de su enrejado quedan en un estado elsticamente doblado o retorcido o, ms raramente, en un estado de

tensin uniforme o compresin. El metal se dice que contiene residual 264 CRYSTAL DIFRACCIN CELOSA LNEA NO STRAIN (A) LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 (Ese estrs es a menudo llamada "tensin interna", pero el trmino no es muy informativo ya que todas las tensiones, residual o impuestas externamente, son interno. El trmino "tensin residual", subraya el hecho de que el estrs restos despus de todas las fuerzas externas se eliminan.) Destaca de este tipo son tambin llamado microstresses ya que varan de un grano a otro, o desde una parte de un grano a otro parte, en una escala microscpica. Por el otro mano, el estrs puede ser bastante uniforme a lo largo de grandes distancias, sino que se remite como macroesfuerzo. El efecto de la cepa, tanto uniforme y no uniforme, en la direccin de x-ray reflexin se ilustra en la figura. 9-2. Una porcin de un grano unstrained aparece en (a) a la izquierda, y el conjunto de transversales planos reflectantes que se muestran tiene en todas partes su espaciamiento equilibrio d. La lnea de difraccin de estos planos aparece a la derecha. Si el grano se da entonces una traccin uniforme colar en ngulo recto a la reflejando aviones, de su separacin se hace ms grande

que d> y la difraccin correspondiente lnea se desplaza hacia ngulos ms bajos pero no cambiar de otro modo, como se muestra en (b). Este cambio de lnea es la base de el mtodo de rayos X para la medicin de macroesfuerzo, como se describir en el Cap. 17. En (c) el grano se dobla y la cepa no es uniforme, por el superior (tensin) hacia el espacio plano excede d, en la parte inferior (compresin) lado es menor que d, y algunos-NONTNIFORM STRAIN donde entre en l es igual a d. Nosotros puede imaginar este grano que se compone de un nmero de pequeas regiones en jach de que el espaciado plano es sustancialmente constante pero diferente a partir de la separacin en las regiones adyacentes. Estas regiones causar los diversos afiladas lneas de difraccin indica a la derecha de (c) por las curvas discontinuas. La suma de estas lneas agudas, cada una ligeramente desplazada de la otra, es el ampliado lnea de difraccin mostrado por la curva completa y, por supuesto, la lnea ampliado es el nico experimentalmente observable. Podemos encontrar una relacin entre la produccin y la ampliacin de la no uniformidad de la la cepa mediante la diferenciacin de la ley de Bragg. Obtenemos CEPA DE UNIFORME (C) La figura. 9-2. Efecto de la cepa de celosa de Debye-line anchura y posicin. A20 -2 tan0,

d (9-2) 9-4] PERFECCIN DE CRISTAL 265 donde b es el ensanchamiento debido a una variacin fraccional en el espaciamiento de avin Ad / d. Esta ecuacin permite la variacin de la cepa, Ad / d, que se calculan de lo observado ampliacin. Este valor de Ad / d, sin embargo, incluye tanto a la traccin y de compresin y tensin se debe dividir por dos para obtener la tensin de traccin mxima solo, o la tensin mxima de compresin solo, Si estos dos se suponen iguales. La tensin mxima para encontrar luego puede se multiplicar por el mdulo de elasticidad E para dar el presente esfuerzo mximo. Por ejemplo, / Ad \ Eb (No. mximo de diez, estrs) = E - (?) (Mx. decenas, tensin) = (E) \ ~) = "A ~ * ' \ A / 4 bronceado B Cuando un metal o aleacin recocida es trabajado en fro, sus lneas de difraccin llegar a ser ms amplio. Este es un sistema bien establecido, experimental fcilmente verificadas hecho, pero su explicacin ha sido motivo de controversia. Algunos investigadores han considerado que el efecto principal de trabajo en fro es fragmentar el granos a un punto donde su pequeo tamao por s solo es suficiente para explicar todo el observado ampliacin. Otros han concluido que la falta de uniformidad cepa de producido por trabajo en fro es la principal causa de la ampliacin, con la fragmentacin del grano posiblemente una causa menor contribuyente. En realidad, es imposible generalizar, en la medida en diferentes metales y aleaciones pueden se comportan de manera muy diferente. Por mtodos avanzados de anlisis matemtico, es posible dividir el cambio observado en la forma de la lnea producida por el fro trabajar en dos partes, uno debido al tamao de partcula fino y la otra debido a

cepa no uniforme. Cuando se hace esto, se ha encontrado, por ejemplo, que en latn alfa que contiene 30 por ciento de zinc la ampliacin observada es debida casi en su totalidad a la cepa no uniforme, mientras que en el tungsteno toriado (tungsteno que contiene 0,75 por ciento de xido de torio) que se debe tanto a no uniforme cepa y tamao de partcula fina. Pero ningn ejemplo se sabe donde est toda la observado ampliacin puede ser atribuido a tamao de partcula fino. De hecho, es difcil imaginar cmo se podra fragmentar el trabajo en fro de los granos a la grado necesario para hacer que las partculas de tamao sin ampliar en el mismo tiempo de la introduccin de cepas no uniformes, en vista de las fuerzas muy complejas que debe actuar sobre cualquier grano uno de un conjunto no importa lo simple que el las fuerzas aplicadas al agregado como un todo. La ampliacin de una lnea de difraccin por trabajo en fro no puede ser siempre observados por la simple inspeccin de una fotografa a menos que una norma es disponibles para la comparacin. Sin embargo, la separacin del doblete Ka proporciona una muy buena "norma interna". En la regin de la espalda-reflexin, un metal recocido produce un doblete bien resueltas, uno de los componentes debido Kai a la radiacin y la otra a Ka2 - Para un conjunto dado de experimental condiciones, la separacin de este doblete en la pelcula es constante e independiente de la cantidad de trabajo en fro. Pero como la cantidad de trabajo en fro se incrementa, aumenta la ampliacin, hasta que, finalmente, los dos componentes 266 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 de la superposicin de doblete de tal manera que aparecen como uno sin resolver lnea. Un doblete sin resolver Ka por lo tanto se puede tomar como prueba de trabajo en fro, si el doblete mismo se resuelve cuando el metal est en el recocido condicin. Ahora estamos en condiciones de considerar algunos de los efectos de difraccin asociado con los procesos de crecimiento de recuperacin, recristalizacin y grano.

Cuando un metal trabajado en fro o de aleacin se somete a recocido a una temperatura baja, la recuperacin se lleva a cabo; a una temperatura algo ms alta, recristalizacin; y en un crecimiento de grano temperatura todava ms alta,. O en un alto suficientemente temperatura constante, estos procesos pueden ser consideradas como que ocurren consecutivamente en el tiempo. La recuperacin suele definirse como un proceso que implica cambios en ciertas propiedades sin ningn cambio observable en la microestructura, mientras recristalizacin produce una estructura fcilmente visible de nuevos granos, que luego crecen a expensas de la otra durante el -la etapa de crecimiento de grano. Lo anterior es una descripcin muy simplificada de algunos muy complejo procesos que an no se entiende completamente. En particular, la naturaleza exacta de la recuperacin es todava bastante oscuro. Parece claro, sin embargo, que alguna forma de polygonization tiene lugar durante la recuperacin y puede, de hecho, constituyen la parte ms importante de ese proceso. (Polygonization puede ocurrir en los granos individuales de un agregado tal como en una sola cristal. La estructura as producida se denomina una subestructura, y el en unidades ms pequeas que un grano se rompe para arriba se llaman subgrains. Subgranos lmites puede hacerse visible bajo el microscopio si el ataque qumico adecuado tcnica se utiliza.) En algunos metales y aleaciones, la recuperacin parece superponerse recristalizacin (en temperatura o el tiempo), mientras que en otros es bastante independiente. Por lo general se asocia con un alivio parcial de la tensin residual, en tanto un microscpico y una escala macroscpica, sin ningn cambio notable en dureza. Desde microestrs es la principal causa de la ampliacin de la lnea, se por lo general encontramos que las grandes lneas de difraccin caractersticos de trabajado en fro metal parcialmente afilar durante la recuperacin. Cuando se produce la recristalizacin, las lneas de alcanzar su mxima nitidez y disminuye la dureza

ms bien abrupta. Durante el crecimiento del grano, las lneas se vuelven cada vez ms irregular a medida que aumenta de tamao de grano. La naturaleza de estos cambios se ilustra para el latn alfa que contiene 30 por ciento de peso de zinc por la curva de dureza y patrones de difraccin de La figura. 9-3. La dureza se mantiene prcticamente constante, para un recocido perodo de una hora, hasta una temperatura de 200 C se excede, y luego disminuye rpidamente al aumentar la temperatura, como se muestra en (a). La difraccin patrn en (b) muestra las lneas generales difusas producidas por Debye el laminado en fro, recocido aleacin. Estas lneas se vuelven algo ms estrecha para las muestras recocidas a 100 y C 200, y el doblete Ka se convierte parcialmente resuelto a 250C. En 250, por lo tanto, el proceso de recuperacin 9-4] PERFECCIN DE CRISTAL 267 (E) 1 hora a UK) 200 300 400 500 Temperatura de hibridacin (O (A) Dureza curva (d) 1 houi 4f tit> 0 "(' La figura. 9-3. Los cambios en la dureza y las lneas de difraccin de las muestras de latn, 70-30 reduce en espesor por 90 por ciento del laminado en fro, recocido y foi 1 hora a la temperaturas indicadas en (a), (b), (c) y (d) son poitions de back-reflexin patrones del agujero de alfiler de especmenes recocida a las temperaturas indicadas (cobre filtrada radiacin). parece ser sustancialmente completa en una hora y es recristalizacin empezando, como se evidencia por la disminucin de la dureza Rockwell B desde 98 a 90. A 300 C las lneas de difraccin son muy afiladas y los dobletes resuelto completamente, como se muestra en (c). El recocido a temperaturas por encima 300C hace que las lneas a ser cada vez ms irregular, lo que indica que el granos recin recristalizado estn aumentando de tamao. El patrn de un espcimen

recocido a 450 C, cuando la dureza haba cado a 37 Rockwell B, aparece en (d). Difractmetro mediciones realizadas en los mismos especmenes revelar tanto ms, y menos, la informacin. Algunos perfiles registrados automticamente de la lnea 331, el anillo exterior de los patrones mostrados en la figura. 9-3, se reproducen en la figura. 9-4. Es mucho ms fcil de seguir los cambios en la forma de la lnea por medio de estas curvas que por inspeccin de fotografas agujero de alfiler. As la ligera agudizacin de la lnea a 200 C es claramente evidente en el difractmetro registro, y tambin lo es la resolucin doblete que se produce a 250 C. Pero tenga en cuenta que el difractmetro no puede "ver" las lneas de difraccin irregular causada por los cereales secundarios. No hay nada en el difractmetro de registros 268 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 Yo x; 135 134 133 132 ES (grados) 131 130 129 La figura. 9-4. Trazas difractmetro de la lnea 331 del laminado en fro y recocido Especmenes 70-30 latn mencionado en la fig. 9-3. Filtrado de radiacin de cobre. Logartmica escala de intensidad. Todas las curvas desplazado verticalmente por cantidades arbitrarias. 09.05 | PROFUNDIDAD DE PENETRACIN DE RAYOS X 269 La figura 9-5. Back-reflexin agujero de alfiler patrones de grano grueso lecrystallized cobre. Vnfiltered radiacin coppei (A) desde la superficie del suelo en un cinturn Sandei, (h) despus de la eliminacin de 0,003 FIOM en este suiface por ataque.

hizo en 300 y 450C que inmediatamente. sugieren que el espcimen recocido a 450 O tena el tamao de grano ms grueso, cabaa este hecho es bastante evidente en los patrones de agujero de alfiler que se muestran en las Figs. 9-3 (c) y (d). Siempre hay que recordar que una fotografa hack-reflexin es representante de slo una fina capa superficial de la muestra. Por ejemplo, La figura. 9-5 (a) se obtuvo a partir de una pieza de cobre y exhibe sin resolver dobletes en la regin de ngulo alto. El observador inexperto podra la conclusin de que este material era altamente trabajado en fro. Lo que la radiografa "Ve" es trabajado en fro, pero no ve ms que a una profundidad limitada. En realidad, la mayor parte de esta muestra se encuentra en la condicin de recocido, pero la superficie de que el patrn de rayos X se hizo haba tenido 0,002 pulg eliminadas mediante lijado en una lijadora de banda despus del recocido. Este fro tratamiento funcion la superficie a una profundidad considerable. Mediante sucesivos tratamientos de grabado y difraccin patrones realizados despus de cada etch, el cambio en la estructura del trabajado en fro capa podra ser seguido como una funcin de la profundidad debajo de la superficie. No hasta un total de 0,003 pulg haba sido eliminado tena el patrn de difraccin de convertirse caracterstica de la mayor parte del material, vase la fig. 9-5 (b), donde la sf> Lneas Otty indicar una de grano grueso, estructura recristalizada. 9.6 Profundidad de penetracin de rayos x. Las observaciones de este tipo sugieren que puede ser bien en considerar con cierto detalle el problema general de x-ray penetracin. Especmenes ms metalrgicos absorben fuertemente los rayos X, y la intensidad del haz incidente se reduce casi a cero en un muy corto distancia por debajo de la superficie. Los haces difractados por lo tanto se originan principalmente en una capa superficial fina siempre que una tcnica de reflexin, a diferencia a una tcnica de transmisin, * se utiliza, es decir, cada vez que un patrn de difraccin * Ni siquiera en los mtodos de transmisin, sin embargo, es la informacin en una difraccin patrn verdaderamente representativa de toda la seccin transversal de la probeta. Clculos

tales como las indicadas en esta seccin muestran que una mayor proporcin de la energa difractada total proviene en una capa de espesor dado en la parte trasera de la muestra (el lado desde el que sale el haz transmitido) que en una capa de igual espesor en el lado frontal. Si la muestra es altamente absorbente, una transmisin mtodo puede ser tan no representativo de la muestra completa como una retrorreflexin mtodo, en que la mayor parte de la energa difractada se origina en una delgada capa superficial. * vea el problema. 9-5. 270 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 se obtiene en una cmara trasera reflexin de cualquier tipo, un Seemann-Bohlin cmara o un difractmetro como se utiliza normalmente. Acabamos de ver cmo un back-reflejo fotografa estenopeica de una superficie de suelo revela el coldworked condicin de una fina capa superficial y no da informacin alguna sobre la mayor parte del material por debajo de esa capa. Estas circunstancias plantean naturalmente la siguiente pregunta: cul es el profundidad efectiva de rayos X de penetracin? O, dicho de una manera ms til, a lo que la profundidad de la muestra tiene la informacin de tal difraccin patrn aplicar? Esta pregunta no tiene una respuesta precisa porque la intensidad del haz incidente no se convierte sbitamente cero a cualquier profundidad uno pero ms bien disminuye exponencialmente con la distancia por debajo de la superficie. Sin embargo, se puede obtener una respuesta que, aunque no es preciso, es al menos til, en de la siguiente manera. La ecuacin (7-2) da la intensidad difractada integrado por una capa infinitamente delgada situada a una profundidad por debajo de la x superficie como d / /> = e-^ (1/8in 1/8 pulgadas y dx, (7-2) sen a donde los diversos smbolos se definen en la seccin. 7-4. Esta expresin, integrado

sobre cualquier profundidad de material, da la intensidad integrada total difractado por esa capa, pero slo en trminos de las constantes desconocidas / O, a, y b. Sin embargo, estas constantes se cancelarn si expresamos la intensidad difractada por la capa considerada como una fraccin del total integrado intensidad difractada por una muestra de espesor infinito. (Como se vio en la seccin. 7-4, "infinitos" de espesor asciende a slo unas pocas milsimas de pulgada para la mayora de los metales.) Llama a esta fraccin Gx. Entonces [ Jri JlfrSL-= 1 - e - X (ll * ina + llB {adj. Jx X-X DLD G Esta expresin nos permite calcular la fraccin Gx del total difractada intensidad que es aportado por una capa superficial de la profundidad x. Si arbitrariamente se decide que una contribucin de esta capa de superficie de 95 por ciento (O 99 o 99,9 por ciento) del total es suficiente para que podamos pasar por alto la contribucin del material por debajo de esa capa, entonces x es la eficaz profundidad de la penetracin. Entonces sabemos que la informacin registrada en la patrn de difraccin (o, ms precisamente, 95 por ciento de la informacin) se refiere a la capa de la profundidad x y no al material por debajo de ella. En el caso del difractmetro, un 8 ==, y Eq. (9-3) se reduce a Gx = (1 9-5] PROFUNDIDAD OP X-RAY PENETRACIN lo que demuestra que la profundidad efectiva

de penetracin disminuye a medida que disminuye 6 y por lo tanto vara de una difraccin lnea a otra. En el back-reflexin cmaras, a = 90, y 271 Gx = [1 - (9-5) 03 1.0 1.5 x (milsimas de pulgada) La figura. 9-6. La fraccin de la Gx intensidad difractada total aportado por una capa superficial de la profundidad x, para M = 473 cm "1 , 26 = 136,7, y normales incidencia. donde m = 20 - 90. Por ejemplo, las condiciones aplicables al anillo de difraccin exterior de la fig. 9-5 son m = 473 cm "1 y" 26 = 136,7. Mediante el uso de la ec. (9-5), que puede construir el grfico de G r como de funcin de x que se muestra en la fig. 9-6. Observamos que el 95 por ciento de la infor macin en las re fiere patrn de difraccin a una profundidad de slo alrededor de 0,001 pulg Por lo tanto, no es sorprendente que el patrn de la fig. 9-5 (a) da a conocer slo la presencia de metal trabajado en fro, ya que se ha encontrado por los repetidos tratamientos de decapado que la profundidad del trabajado en fro capa fue aproximadamente 0,003 pulg Por supuesto, la informacin registrada en el patrn se inclina fuertemente en trminos de material justo debajo de la superficie; por lo tanto 95 por ciento de la informacin registrada se aplica a una profundidad de 0,001 cm, pero 50 por ciento de la informacin que se origina en la primera 0,0002 pulgadas (Nota que una penetracin efectiva de 0,001 pulg significa que una capa de superficie slo un grano grueso est contribuyendo eficazmente a la figura de difraccin si el espcimen tiene un tamao de grano ASTM nmero de 8.) La ecuacin (9-4) se puede poner en la forma siguiente, que es ms adecuado

para el clculo: - ^ - = In sen 6 1 K x sen B x= Del mismo modo, podemos volver a escribir la ec. (9-5) en la forma MT (l + - ^} = A (V) = K x, \ Sen / 3 / \ 1 - Gj K x sin pies x= + Sen / 3) 272 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 TABLA 9-1 Los valores de x K correspondientes a diferentes valores supuestos de x G se dan en la Tabla 9-1. Clculos de la profundidad efectiva de penetracin puede ser valiosa en muchas aplicaciones de la difraccin de rayos x. Podemos desear para hacer efectiva la profundidad de penetracin lo ms grande posible en algunas aplicaciones. Entonces un y pies en la ec. (9-3) debe ser tan grande como sea posible, indicando el uso de highangle lneas, y ^ tan pequeas como sea posible, indicando de corta longitud de onda cin Radia. Otras aplicaciones pueden exigir penetracin muy poco, ya que cuando desean informacin, por ejemplo, la composicin qumica o de celosa parmetro, a partir de una superficie muy delgada capa. Entonces tenemos que hacer M grande, utilizando radiacin que es altamente absorbida, y en una pequea y, mediante el uso de un difractmetro valores bajos de 20. * por estos medios la profundidad de penetracin puede ser a menudo hizo sorprendentemente pequeo. Por ejemplo, si una muestra de acero se examina en una difractmetro con Cu Ka. radiacin, 95 por ciento de la informacin ofrecida por la lnea de menor ngulo de ferrita (la lnea 110 a 26 = 45) se aplica a un profundidad de tan slo 9 X 10 ~ 5 in Hay lmites, por supuesto, a reducir el informacin de la profundidad de penetracin de rayos X, y cuando se requiere de muy pelculas finas superficiales, difraccin de electrones es un instrumento mucho ms adecuado (ver apndice Appen 14). CRYSTAL ORIENTACIN General de 9-6. Cada grano en un agregado policristalino normalmente tiene una orientacin cristalogrfica diferente de la de sus vecinos. Con considerado como un todo, las orientaciones de los granos puede ser al azar distribuidos en relacin con algn marco de referencia seleccionada, o puede que tienden a agruparse, a un mayor o menor grado, sobre algunos orientacin particular u orientaciones. cualquier agregado que se caracterizan por la ltima condicin se dice que tiene una orientacin preferida, o textura, que puede ser definida simplemente como una condicin en la que la distribucin de las orientaciones de cristal es no aleatoria. Hay muchos ejemplos de la orientacin preferida. Las pitales individuales crys en un alambre estirado en fro, por ejemplo, son tan orientada que la lographic mismo cristal direccin [uvw] en la mayora de los granos es paralelo o casi paralelo * Algunos de estos requisitos pueden ser contradictorias. Por ejemplo, en medir ing el parmetro de red de una capa superficial delgada con un difractmetro, debemos compromiso entre el valor bajo de 6 necesaria para la penetracin poco profunda y la

alto valor de la requerida para mediciones de parmetros precisos. 9-6] CRYSTAL ORIENTACIN GENERAL 273 al eje del alambre. En chapas laminadas en fro, la mayora de los granos estn orientados con un cierto plano (hkl) aproximadamente paralela a la superficie de la lmina, y un cierto direccin [uvw] en ese plano aproximadamente paralelo a la direccin en la que el hoja se rod. Estos se llaman texturas de deformacin. Bsicamente, se deben a la tendencia, ya se ha sealado en la seccin. 8-6, para un grano para girar durante la deformacin plstica. Hay que considerar la rotacin de un solo cristal sometido a fuerzas de traccin, pero rotaciones similares ocurren para cada grano de un agregado como resultado de las fuerzas de complejos implicados, con la provocar que una orientacin preferida de los granos individuales se produce por la deformacin impuesta sobre el conjunto como un todo. Cuando un metal trabajado en fro o aleacin, posedo de una textura de deformacin, es recristalizado por recocido, la estructura de grano por lo general tiene una nueva preferida orientacin tambin, a menudo diferente de la del rial compaero de trabajado en fro. Esto se denomina una textura de recocido textura o recristalizacin, y dos tipos se distinguen generalmente, primaria y secundaria, en funcin de la proceso de recristalizacin en cuestin. Tales texturas son debido a la influencia que la textura de la matriz tiene en la nucleacin y / o crecimiento de los nuevos granos en esa matriz. Orientacin preferencial tambin puede existir en piezas fundidas, recubrimientos por inmersin en caliente, pelculas evaporadas electrodepositada capas, etc Tampoco se limita al metal lurgical productos: rocas, fibras naturales y artificiales y sbanas, y similares agregados orgnicos o inorgnicos usualmente exhiben orientacin preferida. En hecho, la orientacin preferida suele ser la regla, no la excepcin, y la preparacin de un agregado con una orientacin de los cristales completamente al azar es una cuestin difcil. En cierta medida, sin embargo, la orientacin preferida en productos metalrgicos puede ser controlada por los estafadores condiciones de operacin adecuadas. Por ejemplo, un cierto control de la textura de la hoja laminada es posible por la eleccin correcta del grado de deformacin, la temperatura de recocido, y tiempo de recocido. La importancia industrial de orientacin preferida radica en el efecto, a menudo muy marcada, lo que lo ha hecho en los sobre-todo, las propiedades macroscpicas de los mate riales. Dado el hecho de que los cristales ms simples son anisotrpicas, es decir, tienen diferentes propiedades en diferentes direcciones, se deduce que un agregado que tiene una orientacin preferida tambin debe tener propiedades direccionales a un mayor o menor grado. Tales propiedades son generalmente objetable. Para ejemplo, en la embuticin profunda de la hoja del metal debe fluir uniformemente en todo direcciones, pero esto no OCCUF si el metal tiene un alto grado de preferencia orientacin, desde el punto de fluencia, y de hecho todo el flujo curva de esfuerzo del material, a continuacin, sern diferentes en diferentes direcciones en la hoja. Ms rara vez, el uso previsto del material requiere propiedades direccionales, y a continuacin, la orientacin preferida es deseable. Por ejemplo, la lmina de acero utilizado para ncleos de transformadores deben someterse a repetidos ciclos de magnetizacin y desmagnetizacin en uso, lo que requiere una alta permeabilidad en la direccin 274 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 del campo aplicado. Puesto que los cristales individuales de hierro son ms fcilmente mag netized en la direccin [100] que en cualquier otra parte, la laminacin y recocido tratamientos dados la chapa de acero se eligen deliberadamente para producir un alto

grado de orientacin preferida, en la que los granos como nmero posible tener sus [100] direcciones paralelas a una direccin nica en la hoja, en este caso la direccin de laminacin. Cabe sealar que la orientacin preferida es nicamente un cristalogrfica condicin y no tiene nada que ver con la forma del grano, como se describe por el mbito micro. Por lo tanto, la presencia o ausencia de orientacin preferida no puede ser revelada por el examen microscpico. Es cierto que la forma es de grano afectado por las mismas fuerzas que producen la orientacin preferida, por lo granos se aplanan rodando y rodando suele ir acompaado de orientacin preferente, pero una forma aplanada no es en s misma una evidencia directa de orientacin preferida. Slo difraccin de rayos X puede dar tales pruebas. Este hecho es ms evidente en los metales recristalizados, que pueden tener un microestructura equiaxial y, al mismo tiempo, un alto grado de preferencia orientacin. En varios lugares de este libro, ya hemos sealado que un agujero de alfiler fotografa hecha de una muestra policristalina con radiacin caracterstica consiste en anillos concntricos Debye. Tenemos ms o menos tcitamente supone que estos anillos son siempre continua y de intensidad constante alrededor de su circunferencia, pero en realidad estos anillos no se forman a menos que los cristales individuales en la muestra tienen orientaciones completamente aleatorias. * Si la muestra exhibe orientacin preferida, los anillos de Debye son de intensidad no uniforme alrededor de su circunferencia (si la preferida orientacin es leve), o discontinua en realidad (si hay un alto grado de orientacin preferida). En este ltimo caso, ciertas porciones de la Debye anillo faltan porque las orientaciones que reflejan a los partes del anillo no son simplemente presente en la muestra. no uniforme Anillos de Debye por lo tanto se puede tomar como una evidencia concluyente para preferida orientacin, y mediante el anlisis de la no uniformidad se puede determinar la tipo y grado de la orientacin preferida. Orientacin preferida se describe mejor por medio de una figura polar. Esta es una proyeccin estereogrfica que muestra la variacin en la densidad de polo con orientacin poste para un conjunto seleccionado de planos de cristal. Este mtodo de texturas que describen primero fue utilizado por el Wever metalrgico alemn en 1924, y su significado puede ser mejor ilustrada por la siguiente ex amplio simple. Supongamos que tenemos una hoja muy gruesa de grano de un metal cbico que contiene slo 10 granos, y que se determina la orientacin de cada uno 10 de estos granos por uno de los mtodos de Laue. Decidimos representar las orientaciones de todos estos granos juntos trazando las posiciones de los 1 Consulte la siguiente seccin para obtener una excepcin a esta norma. 9-6] orientacin de los cristales: GENERAL RD RD 275 TD TD TD TDK (A) (b) La figura. 9-7. (100) figuras de polo para el material de la hoja, que ilustra (a) orientacin aleatoria y (b) la orientacin preferida. RD (direccin de laminacin) y TD (transversal direccin) son direcciones de referencia en el plano de la lmina. {100J sus polos en una sola proyeccin estereogrfica, con la proyeccin plano paralelo a la superficie de la lmina. Puesto que cada grano tiene tres polos {100}, habr un total de 3 X 10 = 30 polos representa en la proyeccin. Si los granos tienen una orientacin completamente al azar, estos postes se mostrar contribuido * uniformemente encima de la proyeccin, como se indica en la figura. 9-7 (a). Pero

si est presente la orientacin preferida, los polos tienden a agruparse en ciertas reas de la proyeccin, dejando otras reas prcticamente UNOC cupied. Por ejemplo, este agrupamiento puede tomar la forma particular mostrada en la figura. 9-7 (b). Esto se conoce como el "cubo" textura / porque cada grano es orientada con sus (100) planos casi paralelos a la superficie de la lmina y el [001] direccin en estos planos casi paralelos a la direccin de laminacin. (Esta textura simple, que puede ser descrito por la notacin abreviada (100) [001], en realidad se forma como una textura de recristalizacin en muchos centrada en las caras metales y aleaciones cbicos en condiciones adecuadas.) Si hubiramos optado por construir una figura polar (111), mediante el trazado solamente {111) polos, la resultante figura polar sera totalmente diferente de la fig. 9-7 (b) para la misma preferida orientacin, de hecho, que consistira en cuatro "alta intensidad" reas situado cerca del centro de cada cuadrante. Esto ilustra el hecho de que la aparicin de una figura polar depende de los ndices de los polos trazados, y que la eleccin de los ndices depende de qu aspecto de la textura de una quiere mostrar con mayor claridad. * Si la orientacin es al azar, habr el mismo nmero de polos en igual reas de la superficie de una esfera de referencia centrado en la muestra. Habr No tenga el mismo nmero, sin embargo, en las reas iguales de la figura polar, ya que el grfico estreo proyeccin no es de rea verdad. Esto se traduce, por granos orientados al azar, en un agrupamiento aparente de polos en el centro de la figura polar, ya que las distancias que representan ngulos iguales son mucho ms pequeas en esta regin central que en otro partes de la figura polar. 276 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 Naturalmente, cuando el tamao de grano es pequeo, como se hace normalmente, separar disuadir minacin de las orientaciones de un nmero representativo de los granos es de la cuestin, por lo que de rayos X se utilizan mtodos en los que los efectos de difraccin de miles de granos son automticamente promediados. El polo (hkl) figura de un material de grano fino se construye mediante el anlisis de la distribucin de intensidad alrededor de la circunferencia de la correspondiente Debye hkl anillo. Hay dos formas de hacerlo, fotografa y el DIF Fractmetro mtodo. mtodo fotogrfico es cualitativa y, aunque al proporcionando una precisin suficiente para muchos propsitos, est siendo rpidamente obsoleta por el mtodo difractmetro ms precisa. Ambos mtodos se describen en las siguientes secciones. Aunque slo una figura polar puede proporcionar una descripcin completa de los preferida orientacin, alguna informacin puede ser obtenida simplemente por un parisn com calculados de las intensidades de difraccin de lnea con los observados con una Debye-Scherrer cmara o un difractmetro. Como se indica en la seccin. 4-12, rela tiva intensidad de las lneas se dan con precisin por la ec. (4-12) slo cuando el cristales de la muestra tienen orientaciones completamente aleatorias. Por lo tanto cualquier desacuerdo radical entre las intensidades observadas y calculadas es evidencia inmediata de orientacin preferida en la muestra, y, desde la naturaleza de las diferencias, algunas conclusiones limitadas por lo general puede ser dibujado sobre la naturaleza de la textura. Por ejemplo, si una hoja muestra se examina en el difractmetro de la forma habitual (el espcimen haciendo ngulos iguales con el incidente y haces difractados), entonces el slo granos que pueden contribuir a la reflexin hkl son aquellos cuya (Hkl) planos son paralelos a la superficie de la lmina. Si la textura es tal que

hay muy pocos de estos granos, la intensidad de la reflexin hkl ser anormalmente bajo. O una reflexin dada puede ser de inten sidad anormalmente alta, lo que indicara que los planos correspondientes fueron preferencial cialmente orientadas en paralelo o casi paralelo a la superficie de la lmina. Como ilustracin, la reflexin difractmetro de 200 en una muestra que tiene la textura cbica es anormalmente alta, y de este hecho por s solo es posible concluir que hay una orientacin preferida de (100) planos paralelos a la superficie de la lmina. Sin embargo, no es posible conclusin en cuanto a si o no hay una direccin preferida en el plano paralelo (100) a alguna referencia direccin sobre la superficie de la lmina. Tal informacin puede ser obtenido slo por hacer una figura polar. 9-7 La textura de alambre y la varilla (mtodo fotogrfico). Como se mencion en la seccin anterior, alambre estirado en fro normalmente tiene una textura en la que un cierta direccin cristalogrfica [uvw] en la mayora de los granos es paralelo, o casi paralelo, al eje del alambre. Desde una textura similar se encuentra en natural y artificial, de lo que se llama una textura de fibra y el eje de la alambre se llama el eje de la fibra Los materiales que tienen una textura de fibra tienen rotacin 9. 7] LA TEXTURA DE ALAMBRE Y ROD (mtodo fotogrfico) 277 FA reflexin crculo "V. referencia esfera . Debye anillo La figura. 9-8. Geometra de reflexin a partir de material que tiene una textura de fibra. FA = fibra eje. cional simetra alrededor de un eje en el sentido de que todas las orientaciones relativas a esta eje son igualmente probables. Una textura de fibra es de esperar, pues en cualquier material formado por fuerzas que tienen simetra rotacional alrededor de un lnea, por ejemplo, en el alambre y la varilla, formado por estirado, estampacin, extrusin o sin. Ejemplos menos comunes de la textura de fibra se encuentran a veces en la hoja formado por compresin simple, en recubrimientos formados por inmersin en caliente, electrodeposicin, y la evaporacin, y en las piezas fundidas entre los cristales columnares junto a la pared del molde. El eje de la fibra en ellos es perpendicular al plano de la lmina o revestimiento, y paralelo al eje de los cristales columnares. Texturas de fibras varan en la perfeccin, es decir, en la dispersin de la direccin [Uvw] sobre el eje de la fibra, y las texturas de fibras individuales y dobles tienen ha observado. As, alambre estirado en fro de aluminio de una sola [111] textura, pero el cobre, tambin centrada en las caras cbico, tiene una doble [111] + [100] textura; es decir, en hilo de cobre dibujado hay dos conjuntos de granos, el eje de la fibra de uno conjunto que es [111], y que el otro conjunto de [100]. El nico problema presentado por las texturas cristalogrficas de fibra es que de la determinacin de los ndices [uvw] del eje de la fibra, y el problema de que es mejor se acerc al considerar los efectos de difraccin asociados a un ideal caso, por ejemplo, la de un alambre de un material que tiene una cbico perfecto [100] textura de la fibra. Supongamos que consideramos ms que el reflejo 111. En la fig. 9-8, la muestra de alambre est en C con su eje a lo largo de NS, normal a la incidente haz 1C. CP es la normal a un conjunto de (111) planos. Difraccin de estos planos se puede producir slo cuando se inclinan al haz incidente 278 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9

A. F FA reflejar crculo ion (B) Figura 9-9 Perfect [100] textura de fibra: (a) (1 11) figura polar, (b) la ubicacin de Reflect ing.. normales planas. en un ngulo que satisface la ley de Bragg, y esto requiere que el (111) polo estar en algn lugar en la VUP crculo, ya que entonces el ngulo entre la plano normal y el rayo incidente ser siempre 90 6. Por esta razn, PUQV se llama el crculo de reflexin. Si los granos del alambre tena orientaciones completamente al azar, entonces (111) polos se encuentran en todas las posiciones en el crculo de la reflexin y la reflexin 111 consistira en la com pleto Debye anillo indicado en el dibujo. Pero si el alambre tiene un perfecto [100] textura de fibra, entonces el patrn de difraccin producido por un estacionario espcimen es idntica a la obtenida a partir de un solo cristal girar alrededor de el eje [100], debido a la simetra de rotacin del alambre. Durante esta rotacin, el polo (111) se limita a la PAQB pequeo crculo, todos los puntos de los cuales hacen un ngulo constante p = 54,7 con el [100] direccin fraccin N. Dif Ahora puede ocurrir slo cuando el polo (111) se encuentra en las intersecciones del crculo de la reflexin y la PAQB crculo. Estas intersecciones se ubican en P y Q, y las manchas de difraccin correspondientes a /? T y, en una ngulo_Azimutal una de una lnea vertical a travs del centro de la pelcula. Dos otros puntos, no mostrados, estn situados en posiciones simtricas en la inferior medio de la pelcula. Si la textura no es perfecto, cada uno de estos puntos se ampliar perifricamente en un arco cuya longitud es una funcin del grado ^ F dispersin en la textura. Al resolver el IPN tringulo esfrico, se encuentra el general siguiente relacin entre los ngulos de p, 0, y un: cos p = eos B eos a. (9-6) Estos ngulos se muestran en la figura estereogrficamente. 9-9, proyectados en un plano lormal al haz incidente. La figura polar (111) en (a) consiste simplemente 9-7] LA TEXTURA DE ALAMBRE Y ROD (mtodo fotogrfico) 279 de dos arcos que son los caminos trazados por llenado} polos durante la rotacin de un solo cristal sobre [100]. En (b), esta figura polar se ha superpuesto en una proyeccin del crculo de reflexin a fin de encontrar las ubicaciones de los reflejando las normales de avin. Los radios trazada a travs de estos puntos (P, Q, P ', y Q ') a continuacin, habilitar el ngulo a medir y la aparicin de la patrn de difraccin que se predijo. Un eje de la fibra desconocido es identificado midiendo el ngulo a en el el cine y la obtencin de la ecuacin p. (9-6). Cuando se hace esto para un nmero de dife rentes hkl reflexiones, un conjunto de valores de p se obtiene a partir de las cuales los ndices [Uvw] del eje de la fibra se puede disuadir minado. El procedimiento ser ilus trado con referencia a la difraccin patrn de alambre de aluminio dibujado se muestra en la fig. 9-10. El primer paso es para indexar los anillos incompletos Debye. Valores de 6 de cada anillo se calculan a partir de mediciones de dimetro de anillo, y los ndices hkl son asignados por el uso

de la ec. (3-10) y en el Apndice 0. En de esta manera el anillo interior se identifica como una reflexin 111 y la exterior como 200. El ngulo a continuacin, se mide desde una lnea vertical a travs del centro de la pelcula para el centro de cada arco fuerte Debye. Los valores medios de estos ngulos se dan a continuacin, junto con los valores calculados de p: La figura. 9-10. Transmisin pinhole patrn de alambre de aluminio estirado en fro, alambre eje vertical. cobre filtrada radiacin, (Las rayas radiales cerca el centro est formado por el blanco radiacin en el haz incidente.) Lnea Interior Exterior hkl 111 200 69 52 19,3 22,3 70 55 Las normales a la (111) y los planos (200) por lo tanto, forman ngulos de 70 y 55, respectivamente, con el eje de la fibra. Podemos determinar los ndices [Uvw] de este eje, ya sea por la construccin grfica que se muestra en la fig. 8-8 o mediante la inspeccin de una tabla de ngulos interplanares. En este caso, la inspeccin de La Tabla 2-3 muestra que [uvw] debe ser [111], ya que el ngulo entre (111) y (111) es 70,5 y que entre (111) y (100) es 54,7, y estos Los valores estn de acuerdo con los valores de p dados anteriormente dentro del error experimental. El eje de la fibra de alambre de aluminio estirado es por lo tanto [111]. Hay una cierta dispersin de la direccin [111] alrededor del eje de alambre, sin embargo, en la medida en las reflexiones sobre la pelcula son arcos cortos en lugar de los puntos fuertes. Si 280 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 desea, esto puede ser tomado en cuenta al medir el intervalo angular de una para cada arco y el clculo de la gama angular correspondiente de p. A (111) figura polar del alambre entonces se parecera a la fig. 9-9 (a) excepto que se las dos lneas curvadas se sustituye por dos bandas curvadas, cada iguales de ancho para el rango calculado de p para los polos (111). Otro aspecto de texturas de fibra deben tenerse en cuenta. En los materiales que tienen una textura de fibra, los granos individuales tienen una cristalogrfica comn direccin paralela al eje de la fibra, pero pueden tener cualquier posicin rotacional cin alrededor de ese eje. ello se deduce que el patrn de difraccin de mate riales tales tendr continuas anillos Debye si el incidente haz de rayos X es paralelo al eje de la fibra. Sin embargo, las intensidades relativas de estos anillos no se ser los mismos que los calculados para una muestra que contenga orientadas al azar granos. Por lo tanto, continuas anillos Debye no son, en s mismos, evi dencia por la falta de orientacin preferida. 9-8 La textura de la hoja (mtodo fotogrfico). La textura de laminado

hoja, ya sea como laminado o despus de la recristalizacin, difiere de la de dibujado alambre en tener menos simetra. Ya no hay un grfico comn Crystallo direccin alrededor de la cual los granos pueden tener cualquier posicin de giro. Hoja de texturas por lo tanto, se puede describir adecuadamente slo por medio de un figura polar, puesto que slo esto da un mapa completo de la distribucin de los Orientacin cristalina. El mtodo fotogrfico de la determinacin de la figura polar de la hoja es bastante similar al mtodo recin descrito para la determinacin de texturas de alambre. A transmisin cmara estenopeica se utiliza, junto con con radiacin en general contengan un componente caracterstico. La muestra de hoja, se reduce su espesor ness por ataque a unas pocas milsimas de pulgada, se ha instalado inicialmente por pendicular al haz incidente con la direccin de laminacin verticales. La fotografa resultante se asemeja tha, t de un alambre trefilado: contiene Debye anillos de intensidad no uniforme y el patrn es simtrico alrededor de un lnea vertical a travs del centro de la pelcula. Sin embargo, si la hoja es ahora girada por, digamos, 10 sobre la direccin de laminacin y la fotografa otro hecho, el patrn resultante. ser diferente de la primera, porque la textura hoja de no tiene simetra de rotacin alrededor de la direccin de laminacin. Este nuevo patrn no ser simtrica alrededor de una lnea vertical, y el regiones de alta intensidad en los anillos de Debye no tendr el mismo Muthal azi posiciones que tenan en la primera fotografa. Figura 9-11 Trates illus este efecto para el laminado en fro de aluminio. Para determinar la completa textura de la hoja, por lo que es necesario medir la distribucin de los orientaciones sobre la direccin de laminacin haciendo varias fotografas con la hoja normal en varios ngulos para el haz incidente. La figura 9-12 muestra la disposicin experimental y define el ngulo ft entre la normal de lmina y el haz incidente. La intensidad de la 9-8] LA TEXTURA DE LA HOJA (mtodo fotogrfico) 281 La figura. 9-11. Transmisin patrones del agujero de alfiler de sneet aiummum laminado en fro, turbulentas direccin vertical: (a) paralelo hoja normal al haz incidente; (b) hoja normal en 30 de haz incidente (la muestra se ha girado hacia la derecha alrededor de la laminacin direccin, como en la fig. 9-12). Filtrado de radiacin de cobre. rayos difractados en cualquier Cone One Debye se disminuye por la absorcin en el ft espcimen por una cantidad que depende del ngulo 0, y cuando no est cero los rayos que va al lado izquierdo de la pelcula se someten a ms absorcin que ir al. derecho Por esta razn, a menudo es aconsejable hacer mediciones slo en el lado derecho de la pelcula, particularmente cuando FT se grande. La prctica usual es hacer fotografas a intervalos de unos 10 ft = a m = 80, y para medir la distribucin de intensidad en torno a un par de pelcula RD TD hoja normal de TD La figura. 9-12. Seccin a travs de hoja muestra y el haz incidente (figura muestra. 9-13. Medicin de azimutal espesor exagerado). Rodando direc-posicin de los arcos de alta intensidad en un cin normal al plano del dibujo. Debye anillo, ft = 40, RD = rodadura TD = direccin transversal. direccin. 282 LA ESTRUCTURA DE agregados policristalinos RD

[CAP. 9 TD + == i TD. La figura. 9-14. Mtodo de trazado que reflejan poles para los valores distintos de cero de Dibujado pies por 6 = 10 y m = 40. ticular Debye anillo en cada fotografa. El procedimiento para el trazado de la figura polar de estas mediciones se muestran aqu como una idealizada caso como el que se muestra en la fig. 9-13, donde la intensidad del anillo de Debye es constante en ciertos rangos angulares y cero entre ellos. La gama de ennegrecimiento de los arcos de Debye se representa estereogrficamente como una gama de reflejando poles a lo largo del crculo de reflexin, el ngulo azimutal un en la pelcula igual al ngulo azimutal una en la proyeccin. Aunque el crculo de reflexin se fija en el espacio (vase la fig. 9-8 donde SCN es ahora la la direccin de laminado de la muestra de hoja), su posicin sobre la proyeccin vara con la posicin de rotacin de la muestra, ya que la proyeccin plano es paralelo a la superficie de la hoja y gira con l. Cuando m = 0, el crculo de reflexin es concntrico con el crculo de base de la proyeccin y grados en el interior, como se muestra en la fig. 9-14, que es elaborado por = 10. cuando la muestra se hace girar a continuacin, por ejemplo por 40 en el sentido mostrado en la fig. 9-12, la nueva posicin del crculo de reflexin se encuentra girando dos o tres puntos en la reflexin. crculo bv 40 9-8] LA TEXTURA DE 6HEET (mtodo fotogrfico) 283 9-8 La textura de la hoja (mtodo fotogrfico). La textura de laminado hoja, ya sea como laminado o despus de la recristalizacin, difiere de la de dibujado alambre en tener menos simetra. Ya no hay un cristalogrfica comn direccin alrededor de la cual los granos pueden tener cualquier posicin de giro. Hoja de texturas por lo tanto, se puede describir adecuadamente slo por medio de un figura polar, puesto que slo esto da un mapa completo de la distribucin de los Orientacin cristalina. El mtodo fotogrfico de la determinacin de la figura polar de la hoja es bastante similar al mtodo recin descrito para la determinacin de texturas de alambre. La transmisin cmara estenopeica se utiliza, junto con la radiacin general que contiene un componente caracterstico. La muestra de hoja, se reduce su espesor por ataque qumico a unas pocas milsimas de una pulgada, se ha instalado inicialmente perpendicular al haz incidente con la direccin de laminacin verticales. La fotografa resultante se asemeja tha, t de un alambre trefilado: contiene Debye anillos de intensidad no uniforme y el patrn es simtrico alrededor de un

lnea vertical a travs del centro de la pelcula. Sin embargo, si la hoja es ahora girada por, digamos, 10 sobre la direccin de laminacin y la fotografa otro hecho, el patrn resultante. ser diferente de la primera, porque la textura hoja de no tiene simetra de rotacin alrededor de la direccin de laminacin. Este nuevo patrn no ser simtrica alrededor de una lnea vertical, y el regiones de alta intensidad en los anillos de Debye no tendr el mismo azimutal posiciones que tenan en la primera fotografa. Figura 9-11 ilustra este efecto para el laminado en fro de aluminio. Para determinar la completa textura de la hoja, por lo que es necesario medir la distribucin de los orientaciones sobre la direccin de laminacin haciendo varias fotografas con la hoja normal en varios ngulos para el haz incidente. La figura 9-12 muestra la disposicin experimental y define el ngulo ft entre la normal de lmina y el haz incidente. La intensidad de la 9-8] LA TEXTURA DE LA HOJA (mtodo fotogrfico) 281 % / Miffim f4? si VHP j [Ji . fr >:! v ^,, i( yo '; ,% V \ I ^ ^, * ^ / ^ K r , ,

^ "MJ / I \ A / '' / ^ L "^" '^ 1 ; Igvj La figura. 9-11. Los patrones de transmisin del agujero de alfiler de laminado en fro aiummum sneet, enturbiando direccin vertical: (a) paralelo hoja normal al haz incidente; (b) hoja normal en 30 de haz incidente (la muestra se ha girado hacia la derecha alrededor de la laminacin direccin, como en la figura. 9-12). Filtrado de radiacin de cobre. rayos difractados en cualquier Cone One Debye se disminuye por la absorcin en el ft espcimen por una cantidad que depende del ngulo 0, y cuando no est cero los rayos que va al lado izquierdo de la pelcula se someten a ms absorcin de los que van a la derecha. Por esta razn a menudo es aconsejable hacer mediciones slo en el lado derecho de la pelcula, particularmente cuando FT se grande. La prctica usual es hacer fotografas a intervalos de unos 10 ft = a m = 80, y para medir la distribucin de intensidad en torno a un parfilm RD TD hoja normal de TD La figura. 9-12. Seccin a travs de hoja muestra y el haz incidente (figura muestra. 9-13. Medicin de azimutal espesor exagerado). Rodando direc-posicin de los arcos de alta intensidad en un cin normal al plano del dibujo. Debye anillo, ft = 40, = R. D. rodante T.D. = direccin transversal. direccin. 282 LA ESTRUCTURA DE agregados policristalinos

R. D. [CAP. 9 T.D. + == i TD. La figura. 9-14. Mtodo de trazado que reflejan poles para los valores distintos de cero de Dibujado pies por 6 = 10 y m = 40. ticular Debye anillo en cada fotografa. El procedimiento para el trazado de la figura polar de estas mediciones se muestran aqu como una idealizada caso como el que se muestra en la figura. 9-13, donde la intensidad del anillo de Debye es constante en ciertos rangos angulares y cero entre ellos. El rango de ennegrecimiento de los arcos de Debye se representa estereogrficamente como una gama de reflejando poles a lo largo del crculo de reflexin, el ngulo azimutal un en la pelcula igual al ngulo azimutal una en la proyeccin. Aunque el crculo de reflexin se fija en el espacio (vase la fig. 9-8 donde SCN es ahora la la direccin de laminado de la muestra de hoja), su posicin sobre la proyeccin vara con la posicin de rotacin de la muestra, ya que la proyeccin plano es paralelo a la superficie de la hoja y gira con l. Cuando m = 0, el crculo de reflexin es concntrico con el crculo de base de la proyeccin y grados en el interior, como se muestra en la figura. 9-14, que es elaborado por = 10. Cuando la muestra se hace girar entonces, por ejemplo, por 40 en el sentido mostrado en la figura. 9-12, la nueva posicin del crculo de reflexin se encuentra girando dos o tres puntos en la reflexin. crculo bv 40 9-8] LA TEXTURA DE 6HEET (mtodo fotogrfico) 283 a la derecha a lo largo de las lneas de latitud y arcos de crculo de giro, centrado en la ecuador o su extensin, a travs de estos puntos. Esta nueva posicin de la crculo de reflexin se indica por la ABCDA arcos en la figura. 9-14; ya que en este ejemplo superior a 0, parte del crculo de reflexin, a saber, CDA, se encuentra en la de nuevo hemisferio. Los arcos de la fig. 9-13 se representa en la primera reflexin

crculo, como si el plano de proyeccin eran todava perpendicular a la haz incidente, y luego girar a la derecha a lo largo de los crculos de latitud en el 40 reflexin crculo. Por lo tanto, el arco M \ N \ en la figura. 9-13 se convierte M2A ^ 2 y luego, finalmente, M37V3 en la figura. 9-14. De manera similar, Debye arco U \ Vi se representa grficamente como U ^ Vz, tirado en el hemisferio posterior. La textura de la hoja suele ser tal que dos planos de simetra existen, normal a la direccin de laminacin (RD) y uno normal a la direccin transversal direccin (T.D.). Por esta razn, de arco M3W3 puede reflejarse en el plano de este ltimo para dar el arco M ^ N ^ lo que ayuda a llenar el polo figura. Estos elementos de simetra son tambin la justificacin para el trazado el arco t T 3 F3 como si estuviera situado en el hemisferio frontal, ya que reflejo en el centro de la proyeccin (para llevarlo al hemisferio frontal) y reflexiones sucesivas en los dos planos de simetra traer a esta posicin de todos modos. Si los patrones de difraccin indican que estos planos de simetra no estn presentes, entonces estos atajos en el trazado de mayo no se utiliza. Por cambios sucesivos en 0, el crculo de reflexin puede ser hecho para moverse a travs de la proyeccin y as revelar las posiciones de los polos que refleja. Con el procedimiento descrito, sin embargo, las regiones cerca de los polos N y S de la proyeccin nunca ser reducido en un crculo de reflexin. Para explorar estos regiones, se debe girar la muestra 90 en su propio plano, de modo que el direccin transversal es vertical, y tomar una fotografa con @ ~ 5. La figura 9-15 muestra lo que puede resultar de una decisin figura polar implique mediciones a = 0, 20, 40, 60, y 80 (RD vertical) y

R.D R.D T.D. T.D. La figura. 9-15. Trazado de una figura de palo. La figura. 9-16. Figura polar Hipottico derivado de la figura. 9-15. 284 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CHAP, 9 R.D = 5 (T.D. vertical). Los arcos de la fig. 9-14 se vuelve a representarse aqu con la mismos smbolos y los arcos E \ Fi y E2F2 situados en el crculo de reflexin 5 con la direccin vertical transversal. El conjunto completo de arcos define reas de densidad poste alto y, al reflejar estas reas en la simetra planos mencionados anteriormente, se llega a la cifra de polo completo muestra en La figura. 9-16. En la prctica, la variacin de intensidad alrededor de un anillo de Debye no es abrupta pero gradual, como la fig. 9-11 demuestra. Esto se tiene en cuenta por rangos de trazado en el que la intensidad es sustancialmente constante, y no ms de cuatro rangos de dichos normalmente se requiere, a saber, cero, dbil, media y fuerte. El resultado es una figura de palo en el que las diversas reas, distinguen por diferentes tipos de esgrafiado, representan diversos grados densidad de polo de cero a un

mximo. Figura 9-17 es un fotogrficamente polo determinado figura en que esto se ha hecho. Se repreT.D La figura. 9-17. (III) polo figura de recristalizaron Latn 70-30, determinado por el mtodo fotogrfico. (R. M. Brick, Trans. A.I.M.E. 137, 193, 1940.) senta la textura de recristalizacin primaria de latn 70-30 que ha sido laminado en fro a una reduccin de 99 por ciento de espesor y luego recocida a 400C durante 30 minutos. La textura de la hoja se describe a menudo en trminos de una "orientacin ideal," es decir, la orientacin de un cristal nico cuyos polos se encuentran en la alta densidad las regiones de la figura polar. Por ejemplo, en la fig. 9-17 el slido smbolos triangulares marque la posicin de los Jill} polos de un nico cristal que tiene su (113) plano paralelo al plano de la hoja y el [211] direccin en este plano paralelo a la direccin de laminacin. Esta orientacin, cuando se refleja en los dos planos de simetra perpendiculares a la rodadura y direcciones transversal, aproximadamente se cuenta de toda la alta densidad regiones en la figura polar. En consecuencia, esta textura se ha llamado una (113) [2LL] textura. La figura polar real, sin embargo, es una descripcin mucho mejor de la textura de anystatement de una orientacin ideal, ya este ltimo no es con frecuencia muy exacta y no da informacin sobre el grado de dispersin de la textura real acerca de la orientacin ideal. Las inexactitudes de figuras de polo fotogrficamente determinadas se deben a dos factores: (1) intensidad "mediciones" hechas en la pelcula son por lo general slo visual

estimaciones y 9-9] LA TEXTURA DE LA HOJA (MTODO difractmetro) 285 (2) no se toman en cuenta el cambio en el factor de absorcin con cambios en pies y una. Esta variacin en el factor de absorcin hace que sea muy difcil relacionar intensidades observadas en una pelcula a los observados en otro, incluso cuando el tiempo de exposicin se vara para diferentes pelculas en un intentando adaptarse a los cambios en la absorcin. 9-9 La textura de la hoja (mtodo difractmetro). En los ltimos aos se han desarrollado mtodos para la determinacin de figuras de polo con el difractmetro. Estos mtodos son capaces de precisin muy alto porque (1) la intensidad de los rayos difractados se mide cuantitativamente con un contador, y (2) bien las mediciones de la intensidad se corrigen por cambios en la absorcin, o la ptica de rayos X estn diseados de modo que la absorcin es constante y no se requiere correccin. Por razones expuestas ms adelante, dos mtodos diferentes debe ser utilizado para cubrir la figura polar conjunto. El primero de stos, llamado el mtodo de transmisin, se debe a Decker, Asp, y Harker, y la fig. 9-18 ilustra sus caractersticas principales. Para determinar una figura polar (hkl), el contador se fija en posicin en la correcta ngulo 26 para recibir la reflexin hkl. La muestra de lmina, en especial una soporte, se coloca inicialmente con la direccin de laminacin vertical y coincidente con el eje difractmetro, * y con el plano del espcimen la bisectriz del ngulo entre el incidente

y haces difractados. El espcimen soporte permite la rotacin de la espcimen sobre el difractmetro eje y alrededor de un eje normal horizontal a la superficie de la muestra. Aunque es imposible mover el frente a alrededor del anillo Debye y as explorar la variacin en la intensidad difractada alrededor de este anillo, podemos lograr esencialmente la misma cosa manteniendo la contracuchilla fija y rotativa el espcimen en su propio plano. Esta rotacin, combinado con la rotacin adicional sobre el difractmetro eje, mueve el poste de la (hkl) espcimen Yo normal / difractmetro eje contrarrestar La figura. 9-18. Mtodo de transmisin para la determinacin de polos figura. (Despus A. H. Geisler, "Crystal Orientacin y el Polo Determinacin Figura "en Investigacin Fsica Moderna Techniquesin Metalurgia, American Society for Metals, Cleveland, 1953.)

* Por simplicidad, el mtodo se describe aqu slo en trminos de un eje vertical difractmetro. 286 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS POLYCRY8TALLINE [CAP. 9 La figura. 9-19. Soporte de la muestra utilizada en el mtodo de transmisin, visto desde transmitida larguero lateral. (Cortesa de Paul A. Beck.) reflejando plano sobre la superficie de la figura polar, que se representa en una proyeccin paralela al plano de muestra plano, como en el fotogrfica mtodo. En cada posicin de la muestra, la intensidad medida de la haz difractado, despus de la correccin para la absorcin, se obtiene una cifra que es proporcional a la densidad de polo en el punto correspondiente de la figura polar. Figura 9-19 muestra el tipo de soporte de la muestra utilizada para este mtodo. El mtodo de trazado de los datos se indica en la figura. 9-20. El ngulo a mide la cantidad de rotacin alrededor del eje difractmetro; * es cero cuando la hoja biseca el ngulo entre incidente y difractado vigas. El sentido positivo de una convencionalmente se toma como hacia la izquierda. El ngulo 6 mide la cantidad por la que el transverso direccin es girado alrededor de la hoja fuera normal del plano horizontal y * A es el smbolo convencional para este ngulo, que se mide en una horizontal avin. No se debe confundir con el ngulo a utilizar en la Sec.. 9-8 para medir posiciones azimutales en un plano vertical. 9-9] LA TEXTURA DE LA HOJA (MTODO difractmetro) R. D. 287 reflectingplane * -) / T.D. diffrartometer

eje (A) (b) La figura. 9-20. Relaciones angulares en la transmisin de polos figura mtodo (a) en espacio y (b) la proyeccin estereogrfica. (En la proyeccin, la posicin de la normal plano reflectante se muestra por 5 = 30 y A = 30.) es cero cuando la direccin transversal es horizontal. El plano reflectante normales biseca el ngulo entre incidente y haces difractados, y permanece en una posicin fija cualquiera que sea la orientacin de la muestra. Para trazar el polo del plano de la reflexin sobre la figura polar, observamos que coincide Inicialmente, cuando a y 6 son ambos cero, con la direccin transversal izquierda. La rotacin de la muestra por grados D en su propio plano, entonces se mueve el polo de las que reflejan plano 8 grados alrededor de la circunferencia de la figura polar, y una rotacin de unos grados sobre el eje difractmetro entonces se mueve IT un grados de la circunferencia a lo largo de un radio. Para explorar el polo figura, es conveniente realizar lecturas de la intensidad en intervalos de 5 o 10 de una para un valor fijo de d: la figura polar de este modo a lo largo de un trazado serie de radios. * Por este procedimiento, la figura polar de todo se puede determinar excepto para una regin en el centro se extiende desde aproximadamente un 50 = a un 90 =; en esta regin no slo la correccin de absorcin convertido inexacto, sino el marco del portamuestras obstruye el difractada haz de rayos X. Una correccin de absorcin es necesario en este mtodo debido a variaciones en un provocan variaciones tanto en el volumen de material de difraccin y el longitud del trayecto de los rayos X dentro de la muestra. Las variaciones en 6 no tienen efecto. Podemos determinar la dependencia angular del factor de absorcin * El grfico que se muestra en forma de esqueleto en la figura. 9-20 (b) es til para este propsito. Se llama una red estereogrfica polar, ya que muestra las lneas de latitud (crculos)

y las lneas de longitud (radios) de un globo gobernado proyectados en un plano normal a la polar NS-eje. En ausencia de dicha red, o el ecuador del meridiano central de un Wulff neta se puede usar para medir el ngulo. 288 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 por un procedimiento similar al utilizado para el caso considerado en la Sec. reflexin. 7-4. El haz incidente en la figura. 9-21 tiene una intensidad 7 (ergs / cm 2 / Sec) y es 1 cm cuadrado en seccin transversal. Es incidente en una muestra de hoja de espesor t y p coeficiente de absorcin lineal, y los granos individuales de este espcimen se supone que tienen una orientacin completamente aleatoria. Deja que un ser la fraccin de volumen de la muestra que contiene granos orientados correctamente para la fraccin de reflexin del haz incidente, y b de la energa incidente difractado por unidad de volumen. Entonces la energa total por segundo en el difractada haz fuera de la muestra, originario de una capa de espesor dx situado en una profundidad x, est dado por DID = ab (DB) IQE-(AB + BC} dx (ergs / seg), donde 1xtx AB =. y BC = COS (0 a) COS (0 a) COS (0 + a) Por sustitucin, se obtiene a = ^ o, ffi ^ Q,>, _ C (0-a) -l/cos (0 + a) J J ^. COS (0 a) (Rotacin en sentido horario nicamente de la muestra sobre el eje difractmetro, es decir, la rotacin en el sentido generalmente designado por una, se considera aqu.

Sin embargo, en estas ecuaciones y en la fig. 9-21, el signo adecuado tiene ya sido insertada, y el smbolo A representa el valor absoluto de este ngulo.) Si ponemos a = en la ecuacin. (9-7) e integrar desde x = a x = /, obtenemos la energa total difractada por segundo, la intensidad integrada, para este posicin de la muestra: * Identificacin (a = 0) = - e-TLCO '. (9-8) 9-9) M [COS (0 - a) / COS (0 + a) ~ 1] * En la seccin. 6-9 se hizo mencin del hecho de que los haces difractados en cualquier mtodo de transmisin fueron de intensidad mxima cuando el espesor de la muestra se ha hecho igual a I / M. Este resultado se deduce de la ecuacin. (9-8). Si ponemos a = a = 0, entonces el haz primario ser incidente sobre la muestra en ngulo recto (vase La figura. 9-21), como en el mtodo de transmisin de agujero de alfiler usual, y nuestro resultado se aplicar aproximadamente a haces difractados formadas en ngulos pequeos 20. La intensidad de una viga viene dado por ID = Al diferenciar esta expresin con respecto a t y estableciendo el resultado igual a cero, podemos encontrar que el DI es un mximo cuando t = 1 / / *. 9-9] LA HOJA DE OP TEXTURA (MTODO difractmetro) 289 -10 -20 -30 -40 -50 -60 -70 -80 ngulo de giro a (grados) La figura. 9-21. De longitud de trayectoria e irradiado volumen en el mtodo de transmisin. La figura. 9-22. Variacin de la correccin factor R con un sentido de giro horario

de la posicin cero, pi = 1,0, 6 = 19,25. Estamos interesados slo en la relacin de estas dos intensidades integradas, a saber, R = D un ~ a = COB * e .. ^ :: (9-10) JD (a = 0) '[cos (6 - a) / cos (6 + a) - 1] Un grfico de R frente a una se le da en la figura. 9-22 para valores tpicos involucrados en el 111 reflexin a partir de aluminio con radiacin Cu Ka, es decir, pi = 1,0 y 6 = 19,25. Este grfico muestra que la intensidad integrada de la reflexin disminuye a medida que A aumenta en la direccin de las agujas del reloj desde cero, incluso para un espcimen que contiene granos orientados al azar. En la medicin de los orientacin preferente, lo que es necesario para dividir cada intensidad medida por el valor correspondiente del factor de correccin 7? para llegar a una cifra proporcional a la densidad de polos. De la forma en que el R factor de correccin se deriva, se deduce que hay que medir la intensidad integrada del haz difractado. Para hacer esto con un contador fijo, las hendiduras contador debe ser tan amplio como el haz difractado para todos los valores de un de manera que toda la anchura de la viga puede entrar en el contador. El ideal haz incidente para este mtodo es uno paralelo. Sin embargo, un divergente haz puede ser utilizado sin demasiado error, siempre que la diferencia no es demasiado grande. No hay duda de centrarse aqu: si el haz incidente est divergente, el haz difractado se desviar tambin muy amplio y la lucha contra ranuras debern admitir toda su anchura. El valor de PT utilizado en la ecuacin. (9-10) debe ser obtenida por medicin directa, ya que no es suficientemente precisa para utilizar un valor tabulado de M

junto con el espesor t medido de la muestra. Para determinar pi se utiliza un haz difractado fuerte de cualquier material conveniente y medida su intensidad cuando la muestra de hoja se inserta en el haz difractado 290 La estructura AGREGADOS OP policristalino [cap. 9 contrarrestar La figura. 9-23. Reflexin mtodo para la determinacin de polos figura. y de nuevo cuando no lo es. El valor de PT se obtiene entonces de lo general ecuacin de absorcin, It = / o ^ ~ " M , Cuando 7 y / / son la intensidad incidente en y transmitida por la muestra de hoja, respectivamente. Como ya se ha mencionado, la parte central de la figura polar no puede ser cubierto por el mtodo de transmisin. Para explorar esta regin debemos utilizar un mtodo de reflexin, en el que los problemas de medicin del haz difractado de ese lado de la hoja en la que el haz primario es incidente. La reflexin mtodo aqu descrito fue desarrollado por Schulz. Se requiere un especial soporte que permite la rotacin de la muestra en su propio plano alrededor de un eje normal a su superficie y alrededor de un eje horizontal; estos ejes se muestran como BB 'y AA1 en la figura. 9-23. El eje horizontal AA 'se encuentra en el espcimen superficie y se ajusta inicialmente, por rotacin alrededor del eje difractmetro, que forman ngulos iguales con el incidente y haces difractados. Despus de este se realiza, sin rotacin sobre el eje difractmetro est hecho. Desde el eje AA 'permanece en una posicin fija durante las rotaciones de la otras espcimen, la superficie irradiada de la muestra es siempre tangente a una crculo centrado pasa a travs de la fuente de rayos X y en las ranuras de venta libre. La haz divergente por lo tanto puede ser utilizado desde el haz difractado convergern

a un foco en las rendijas de venta libre. La figura 9-24 muestra un portamuestras para el mtodo de reflexin. Cuando la muestra se gira alrededor del eje AA ', el eje BB' normal a la superficie de la muestra gira en un plano vertical, pero CAT, lo que refleja la normal, plano, permanece fijo en una posicin horizontal normal a AA '. La ngulos de rotacin y un 6 se definen en la figura. 9-23. El ngulo a es cero cuando 9-9] LA TEXTURA DE LA HOJA (MTODO difractmetro) 291 La figura. 9-24. Soporte de la muestra utilizada en el mtodo de reflexin, visto desde reflejada larguero lateral. (Cortesa de Paul A. Beck.) la hoja es horizontal y tiene un valor de 90 cuando la hoja est en la posicin vertical mostrada en el dibujo. En esta posicin de la muestra, la normal plano reflectante est en el centro de la proyeccin. El ngulo de 5 mide la cantidad en la que se gira la direccin de laminacin de distancia desde el extremo izquierdo del eje AA 'y tiene un valor de 90 para la posicin ilustrada. Con estas convenciones los ngulos a y 5 pueden ser trazados en el poste de la figura de la misma manera como en el mtodo de transmisin [fig. 9-20 (b)]. La gran virtud del mtodo de reflexin es que ninguna correccin de absorcin se requiere para valores de a entre 90 y aproximadamente 40, es decir, hasta sobre 50 desde el centro de la figura polar. En otras palabras, un espcimen cuyos granos tienen una orientacin completamente aleatoria se puede girar sobre este rango de unos valores sin ningn cambio en la intensidad medida de la haz difractado. Bajo estas circunstancias, la intensidad de la difraccin haz es directamente proporcional a la densidad de polo en la muestra, sin correccin alguna. La constancia del factor de absorcin se debe esencialmente a la estrecha ranura horizontal colocada en el beanr primaria en D (Fig. 9-23). La abertura vertical en esta ranura es slo alrededor de 0,020 cm en altura, lo que significa que la muestra es irradiada slo durante un largo y estrecho

rectngulo centrado en el eje fijo AA '. Se puede demostrar que un 292 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 RD. La figura. 9-25. (III) figura polar de laminado en fro de latn 70-30, determinado por el difractmetro mtodo. (H. Hu, Sperry PR, y Beck PA, Trans. A.LM.E. 194,76, 1952.) cambio en la absorcin se produce, como la muestra se hace girar alrededor A 'A, Pero es exactamente cancelado por un cambio en el volumen del material de difraccin, el resultado neto es una intensidad difractada constante para una muestra aleatoria cuando se encuentra entre un 90 y aproximadamente 40. Para lograr esta condicin, la superficie de reflexin de la muestra debe ser ajustado para coincidir con precisin con el eje A A 'para todos los valores de a y 5. Este ajuste es extremadamente importante. Es evidente que los mtodos de transmisin y reflexin complementar unos a otros en su cobertura de la figura polar. La prctica habitual es utilizar el mtodo de transmisin para cubrir el rango de una a partir de 50 y el mtodo de reflexin 40 a 90. Esto produce un solapamiento de 10 que es til en el control de la precisin de un mtodo contra la otro, y necesario a fin de encontrar un factor de normalizacin para un conjunto de lecturas que les hacen de acuerdo con el otro conjunto en la regin de superponen. Cuando se hace esto, los nmeros que son proporcionales a la densidad de polo a continuacin, pueden ser trazados en la figura polar en cada punto en el que una medicin Se hizo. Las curvas de nivel se dibujan en los niveles seleccionados de conexin puntos de la densidad de un mismo polo, y el resultado es una figura polar de tal como la que se muestra en la figura. 9-25, que representa la textura de deformacin

70-30 latn laminado en fro a una reduccin de espesor de 95 por ciento. La nmeros asociados a cada lnea de contorno dan la densidad de polo en arbitraria 9-9] LA TEXTURA DE LA HOJA (MTODO difractmetro) 293 unidades. Una figura polar tal como esto es mucho ms preciso que cualquier fotogrficamente determinado, y representa la mejor descripcin disponible hoy de la clase y el grado de orientacin preferida. La precisin obtenible con el mtodo difractmetro es suficiente para permitir la investigacin, con un poco de confianza, de la posible asimetra en las texturas de la hoja. En la mayora hoja, sin asimetra de textura se encuentra (vase la fig. 9-25), pero ocurre cuando la hoja es cuidadosamente enrollado en la misma direccin, es decir, sin ningn inversin de extremo a extremo entre las pasadas. En tal hoja, la textura tiene slo una reflexin plano de simetra, perpendicular a la direccin transversal; la plano normal a la direccin de laminacin ya no es un plano de simetra. En la fig. 9-25, los smbolos triangulares slidos que representan la orientacin ideal (110) [LT2] se encuentran aproximadamente en las regiones de alta densidad del polo figura. Pero aqu de nuevo la figura polar en s mismo debe ser considerada como una medida mejor descripcin de la textura que cualquier simple declaracin de una orientacin ideal. Una figura de polo cuantitativa de este tipo tiene aproximadamente la misma relacin a una orientacin ideal como un mapa de contorno preciso de una colina tiene una declaracin de la altura, anchura, y la longitud de la colina. Geisler ha sealado recientemente dos fuentes de error en el difractmetro mtodo, ambos de los cuales pueden conducir a la intensidad maxima espuria en el polo averiguar si el investigador no tiene conocimiento de los mismos: (1) Cuando una figura de palo (Aimi) est siendo determinada, el contador se pone en el ngulo apropiado 26 para recibir la radiacin reflejada desde la Ka (Hikili) planos. Pero en alguna posicin de la muestra, puede haber otro conjunto de planos, (/ ^ tt), de manera orientada que pueden reflejar un componente de la

espectro continuo en el mismo ngulo 26. Si los planos (hjtj, ^) tienen una alto poder reflector, esta reflexin puede ser tan fuerte que se puede tomar para una reflexin fcjJMi de la longitud de onda Ka. Al parecer, el seguro slo manera de eliminar esta posibilidad es utilizar filtros equilibrados. (2) La estructura cristalina del material que se investig puede ser tal que un conjunto de planos, (h3kM, tiene casi la misma separacin que los (Hikili) planos. Las reflexiones Ka de estos dos conjuntos por lo tanto, se producir en casi el mismo ngulo 26. Si el contador est configurado para recibir la hik ^ i reflexin, entonces existe la posibilidad de que parte de la reflexin feaMs puede tambin ser recibidas, especialmente en el mtodo de transmisin para que una amplia rendija receptora se utiliza. La mejor manera de salir de esta dificultad es seleccionar otro reflexin, A4fc4 / 4, bien separados de sus vecinos, y construir un A4fc4 / 4 polos en lugar de una figura ftiMi-(No es aconsejable tratar de excluir la reflexin hjc ^ no deseado por el estrechamiento de las rendijas. Si este es hecho, el contador no puede recibir todo el hik ^ i haz difractado, y si todo esto haz no se recibe, la ec. (9-10) ya no dar el valor correcto de R. Si una estrecha rendija receptora debe ser utilizado, entonces la variacin de R con un debe determinarse experimentalmente. Esta determinacin requiere una muestra del mismo material que el objeto de la investigacin, con 294 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 el mismo valor de \ d y una orientacin perfectamente al azar de su constituyente granos.) Otro punto sobre las determinaciones de la figura de polos debe ser mencionado, y que es la necesidad de la integracin de dispositivos cuando el tamao de grano de la espcimen es grande, como en los metales y las aleaciones recristalizadas. Con tales especmenes, el incidente haz de rayos X no tropieces con granos suficientes para dar un buen promedio estadstico de las orientaciones actuales. Esto es cierto de ambos mtodos,

la fotografa y el difractmetro. Con muestras de grano grueso por lo que es necesario el uso de algn tipo de integracin de dispositivo, que se mover la muestra de un lado a otro, o en forma de espiral, en su propio plano, y as exponer a un mayor nmero de granos al haz incidente. Polo-figura determinacin es de ninguna manera un tema cerrado, y variaciones y las mejoras son constantemente se describe en la tcnica literatura. El ms interesante entre estos son dispositivos para la automtica trazado de figuras de polo por el mtodo difractmetro. JN estos dispositivos, el espcimen es rotado lentamente alrededor de los ejes diferentes por un mecnico unidad, y la salida del circuito contador-tacmetro se alimenta a una registrador cuyo grfico es accionado en sincronismo con la rotacin de la espcimen. El grfico puede ser cualquiera de la variedad tira simple, o incluso un circular polar figura grfico en el que el registrador imprime niveles seleccionados de polo densidad en las posiciones apropiadas. El tiempo probablemente no es lejano el da en la mayora de las figuras de polo ser determinado en un sistema automtico o semi-automtico manera, al menos en los laboratorios ms grandes. TABLA 9-2 Apariencia de difraccin Condicin lneas de espcimen Continuo Manchado Narrow (1) Broad (1) Intensidad uniforme Intensidad no uniforme De grano fino (o de grano grueso y trabajado en fro) De grano grueso

Strain-libre Las tensiones residuales y posiblemente partcula pequea tamao (si la muestra es un agregado slido) Pequeo tamao de partcula (si es un espcimen polvo quebradizo) Orientacin al azar (2) Orientacin preferencial Notas: (1) Mejor juzgado por observando si o no el doblete Ka se resuelve en la reflexin posterior. (2) O, posiblemente, la presencia de una textura de fibra, si el haz incidente es paralela a la fibra eje. 9-10] RESUMEN, LOS PROBLEMAS 295 9-10 Resumen. En este captulo se han "considerado varios aspectos de la estructura de agregados policristalinos y de los efectos cuantitativos de variaciones en el tamao de cristal, la perfeccin y la orientacin de la difraccin patrn. Aunque una investigacin completa de la estructura de un agregado requiere una cantidad considerable de tiempo y un aparato bastante complejo, la gran utilidad de la fotografa estenopeica simple no debe pasarse por alto. Es sorprendente la cantidad de informacin que un observador experimentado puede obtener simplemente por inspeccin de una fotografa pinhole, sin ningn conocimiento de la muestra, es decir, sin conocer su identidad qumica, estructura cristalina, o incluso si es amorfa o cristalina. La Este ltimo punto puede resolverse de un vistazo, ya que las lneas de difraccin indican cristalinidad y amplios halos un estado amorfo. Si la muestra es cristalina, las conclusiones que se pueden extraer de la aparicin de la lneas se resumen en la Tabla 9-2.

PROBLEMAS 9-1. Un trabajado en fro policristalino pieza de metal, que tiene un mdulo de Young de 30.000.000 psi, se examina con radiacin Cu Ka. Una lnea de difraccin ocurre en 28 = 150 se observa que es 1,28 grados 28 ms amplias que la misma lnea de un recristaliz espcimen. Si este ensanchamiento se supone que es debido a microstresses residuales variando de cero hasta el punto de rendimiento tanto en tensin como en compresin, lo que es el punto de fluencia del material? 9-2. Si el ensanchamiento observado dada en el problema. 9-1 se atribuye exclusivamente a una fragmentacin de los granos en pequeas partculas de cristal, lo que es el tamao de estas partculas? 9-3. Para valores dados de 6 y / x, que se traduce en una mayor profundidad efectiva de penetracin de rayos X, una cmara estenopeica back-reflexin o un difractmetro? 9-4. Supongamos que la profundidad efectiva de penetracin de un haz de rayos X es que espesor de material que contribuye 99 por ciento de la energa total de difractado por un espcimen infinitamente gruesa. Calcular la profundidad de penetracin en pulgadas para una acero de bajo carbono espcimen bajo las siguientes condiciones: (A) Difractmetro, menor ngulo de reflexin, radiacin Cu Ka. (6) Difractmetro, mayor ngulo de reflexin, radiacin Cu Ka. (C) Difractmetro, mayor ngulo de reflexin; Cr radiacin Ka. (D) Back-reflexin agujero de alfiler cmara, mayor ngulo de reflexin; Cr radiacin Ka. 9-6. (A) Una fotografa pinhole transmisin se hace de una muestra de hoja de espesor t y p coeficiente de absorcin lineal. Muestran que la fraccin del total energa difractada en cualquier reflexin uno aportado por una capa de espesor w es propuesta por _ Tt (x + (t x) / 6O6 2ff \ T0 nw (l / cos 29) I] TTT I? J w = donde x es la distancia a la cara de la capa involucrado, medida desde el lado

de la muestra en la que el haz primario es incidente. 296 LA ESTRUCTURA DE LOS AGREGADOS policristalino [CAP. 9 (B) Una fotografa pinhole transmisin se hace de una hoja de aluminio de 0,5 mm de espesor con radiacin Cu Ka. Considere la posibilidad de que el reflejo que se produce a 111 26 = 38.4. Imagnese que la lmina se divide en cuatro capas, el espesor de siendo cada uno igual a un cuarto del espesor total. Calcular W para cada capa. 9-6. Un patrn de agujero de alfiler transmisin se hace con Co radiacin Ka de una plancha alambre que tiene una casi perfecta [110] textura de la fibra. El eje de alambre es vertical. Cmo muchos de alta intensidad maxima aparecer en el menor ngulo de 110 anillo de Debye y cules son sus ngulos azimutales de la pelcula?

CAPTULO 10 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL

10.1 Introduccin. Desde 1913, cuando W. L. Bragg resuelto la estructura de NaCl, las estructuras de alrededor de cinco mil cristales, orgnico y inorgnico, se han determinado. Este vasto cuerpo de conocimiento es de fundamental importancia en campos como la qumica de cristal, fsica del estado slido, y las ciencias biolgicas, ya que, en gran medida, la estructura determina propiedades y las propiedades de una sustancia no se entienden completamente hasta que su estructura es conocida. En la metalurgia, el conocimiento de la estructura cristalina es un requisito previo necesario para la comprensin de estos fenmenos como transformaciones de deformacin plstica, formacin de la aleacin, o de fase. El trabajo de determinacin de la estructura pasa continuamente desde all hay escasez de estructuras sin resolver. Las nuevas sustancias estn siendo constantemente sintetizada, y las estructuras de muchas antiguas son todava desconocidos. En propias estructuras de cristal pueden variar ampliamente en complejidad: el ms simple puede

resolverse en unas pocas horas, mientras que el complejo puede requerir ms o meses incluso aos para su solucin completa. (Las protenas constituyen un ejemplo notable de este ltimo tipo, a pesar de los intensos esfuerzos de muchos investigadores, sus estructura no ha sido an completamente determinadas.) Las estructuras complejas requieren mtodos complejos de la solucin y determinacin de la estructura en su totalidad es ms propiamente el tema de un libro que de un solo captulo. Todo lo que podemos hacer aqu es considerar algunos de los principios involucrados y cmo que se puede aplicar a la solucin de estructuras bastante simples. Por otra parte, vamos a limitar nuestra atencin a los mtodos de determinacin de la estructura de patrones de polvo solamente, ya que tales patrones son el tipo ms a menudo se encuentran por el metalrgico. Los principios bsicos que intervienen en la determinacin de estructuras ya han se han introducido en los Caps. 3 y 4. Vimos all que la estructura cristalina de una sustancia determina el patrn de difraccin de dicha sustancia o, ms especficamente, que la forma y el tamao de la celda unidad determina el posiciones angulares de las lneas de difraccin, y la disposicin de los tomos dentro de la celda unidad determina las intensidades relativas de las lneas. Se puede valdra la pena sealar esto de nuevo en forma de cuadro: Estructura cristalina patrn de difraccin Unidad de celda <- posiciones de la lnea Posiciones de los tomos <-> intensidades de lnea 297 298 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 Puesto que la estructura determina el patrn de difraccin, debera ser posible ir en la otra direccin y deducir la estructura del patrn. Es posible, pero no de forma directa. Dada una estructura, podemos calcular su patrn de difraccin de una manera muy sencilla, y ejemplos de

estos clculos fueron dadas en la seccin. 4-13, pero el problema inverso, que de calcular directamente la estructura del patrn observado, nunca tiene sido resuelto, por razones que se discuten en la seccin. 10-8. El procedimiento adoptada es esencialmente uno de prueba y error. Sobre la base de un educado adivinar, una estructura se supone, su patrn de difraccin calculado, y el calculado patrn en comparacin con los observados. Si los dos estn de acuerdo en todos los detalles, la presunta estructura es correcta, si no, el proceso se repite tan a menudo como es necesario para encontrar la solucin correcta. El problema no es a diferencia de la de descifrar un cdigo, y requiere de la cristalgrafo la mismas cualidades que posee un criptoanalista bueno, a saber, el conocimiento, perseverancia, y no un poco de intuicin. La determinacin de una estructura desconocida procede en tres grandes pasos: (1) La forma y tamao de la celda unidad se deducen de la angular posiciones de las lneas de difraccin. Una primera suposicin es que decidir cul de los siete sistemas cristalinos la estructura desconocida pertenece a y, a continuacin, sobre la base de esta hiptesis, los ndices de Miller correctas se asignan a los cada reflexin. Este paso se denomina "indexar el patrn" y es slo posible cuando la eleccin correcta del sistema de cristal se ha hecho. Una vez esto se hace, la forma de la celda unidad es conocida (desde el sistema de cristal), y su tamao es calculable a partir de las posiciones y los ndices de Miller de la difraccin lneas. (2) El nmero de tomos por celda unidad se calcula a partir de la forma y el tamao de la celda unidad, la composicin qumica de la muestra, y su midieron la densidad. (3) Por ltimo, las posiciones de los tomos en la celda unidad se deducen a partir de las intensidades relativas de las lneas de difraccin.

Slo cuando estas tres medidas se han logrado es la estructura determinacin completa. El tercer paso es generalmente la ms difcil, y hay muchas estructuras que son conocidos slo de forma incompleta, en la sentido de que este ltimo paso no se ha realizado todava. Sin embargo, un conocimiento de la forma y tamao de la celda unidad, sin ningn conocimiento del tomo posiciones, es en s misma de gran valor en muchas aplicaciones. El metalrgico medio es rara vez, o nunca, llamado a determinar una estructura de cristal desconocido. Si la estructura es en absoluto complejo, su determinacin es un trabajo para un especialista en cristalografa de rayos X, que puede traer tcnicas especiales, tanto experimentales y matemticas, para influir en el problema. El metalrgico debe, sin embargo, sabemos lo suficiente acerca de la estructura 10-2] TRATAMIENTO PRELIMINAR DE LOS DATOS 299 determinacin de desentraar las estructuras simples que puede encontrar y, lo que es ms importante, tiene que ser capaz de indexar los patrones de polvo de sustancias de estructura conocida, ya que este es un problema de rutina en casi todos difraccin de trabajo. Los procedimientos que se indican a continuacin para los patrones de indexacin son aplicable si la estructura es conocido o no, pero por supuesto son mucho ms fcil de aplicar si la estructura es conocida de antemano. 10.2 Tratamiento preliminar de los datos. El patrn de polvo de la desconocida se obtiene con una cmara de Debye-Scherrer o un difractmetro, la objeto que se va a cubrir tan amplia de un margen angular de 26 como sea posible. Una cmara tales como la Seemann-Bohlin, que registra lneas de difraccin ms de slo un rango angular limitado, es de muy poca utilidad en el anlisis de la estructura. El espcimen preparacin debe asegurar la orientacin aleatoria de las partculas individuales de polvo, si las intensidades observadas relativas de las lneas de difraccin han de tener algn significado en trminos de estructura cristalina. Despus de que el patrn

Se obtiene el valor de sen 2 6 se calcula para cada lnea de difraccin; este conjunto de pecado 2 6 valores es la materia prima para la determinacin del tamao de la clula y la forma. Dado que el problema de la determinacin de la estructura es el de encontrar una estructura que dar cuenta de todas las lneas en el patrn, en tanto la posicin y la intensidad, el investigador debe asegurarse desde el principio que la observada patrn no contiene lneas extraas. El patrn ideal contiene lneas formadas por los rayos X de una sola longitud de onda, slo por difractados la sustancia cuya estructura se va a determinar. Hay por lo tanto dos fuentes de lneas extraas: (1) Difraccin de rayos X tiene longitudes de onda diferentes de la del director componente de la radiacin. Si la radiacin filtrada se utiliza, a continuacin, Ka la radiacin es el componente principal, y rayos X caractersticos de cualquier otra longitud de onda puede producir lneas extraas. El delincuente principal es Kf $ radiacin, que nunca es completamente desplazada por un filtro y puede ser un fuente de lneas extraas cuando difractados por planos reticulares de reflexin de alto potencia. La presencia de K0 lneas en un patrn generalmente puede ser revelado por el clculo, ya que si un cierto conjunto de planos reflejan K / radiacin 3 en una ngulo fy, tambin deben reflejar la radiacin Ka en un ngulo a (a menos que excede 90), y el ngulo se puede calcular a partir de la otra. De ello se deduce a partir de la ley de Bragg que ( X2

pecado 2 a, (10-1) donde X # a 2 / XX / 3 2 tiene un valor de alrededor de 1,2 para la mayora de radiaciones. Si se sospecha que una lnea particular se debe a la radiacin K $, multiplicacin de sus pecado 2 Valor de X / ra 2 /A#0 2 dar un valor igual, o casi igual, a la 300 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 valor del pecado 2 8 por alguna lnea Ka en el patrn, a menos que el producto excede unidad. La lnea K0 correspondiente a una lnea dada Ka siempre se encuentra en un menor ngulo de 26 y tiene una menor intensidad. Sin embargo, puesto que Ka y KFL lneas (desde planos diferentes) se pueden solapar en el patrn, la ec. (10-1) solo slo puede establecer la posibilidad de que una lnea dada es debido a KFT radiacin, pero nunca podr demostrar que lo es. Otra posible fuente de extraos lneas L es la radiacin caracterstica de la contaminacin de tungsteno en la objetivo del tubo de rayos X, en particular si el tubo es de edad. Si dicha contaminacin se sospecha, tales como ecuaciones (10-1) se puede configurar para probar la posibilidad que algunas lneas son debido a la radiacin de tungsteno.

(2) Difraccin por otras sustancias que lo desconocido. Tales sustancias son por lo general las impurezas en la muestra, pero tambin puede incluir el espcimen montar o mal alineados rendijas. Una cuidadosa preparacin de la muestra y experimental bueno tcnica eliminar lneas extraas debido a estas causas. Por razones que se discutirn en el Cap. 11, los valores observados de pecado 2 siempre contienen errores sistemticos pequeos. Estos errores no son lo suficientemente grandes para causar alguna dificultad en los patrones de indexacin de los cristales cbicos, pero pueden seriamente interferir con la determinacin de algunas estructuras noncubic. El mejor mtodo de eliminacin de tales errores de los datos es para calibrar el difractmetro cmara o con una sustancia de parmetro de red conocida, mezclado con el desconocido. La diferencia entre la observada y calcu0,008 2 0,4 6 0,8 1 sm2 (observado) La figura. 10-1. Un ejemplo de una curva de correccin para sin2 6 valores. valores lated del pecado 2 para la sustancia estndar da el error en el pecado 2 6, y este error puede ser representada como una funcin de los valores observados de pecado 2 6. La Figura 10-1 muestra una curva de correccin de este tipo, obtenido con un determinado muestras y una cmara especial de Debye-Scherrer. * Los errores representada por las ordenadas de tal curva puede entonces ser aplicado a cada

de los valores observados de pecado 2 6 para las lneas de difraccin de la desconocida sustancia. Para la determinacin particular representado por la figura. 10-1, los errores indicados deben ser restados de los valores observados. * Para la forma de esta curva, vea el problema. 11-5. 03.10] Los modelos de indexacin de los cristales cbicos 301 10.3 patrones de indexacin de cristales cbicos. Un cristal cbico da difraccin lneas cuyo pecado 2 6 valores satisfacen la siguiente ecuacin, que se obtiene mediante la combinacin de la ley de Bragg con la ecuacin del plano de espaciamiento para la cbico sistema: pecado 2 B pecado 2 B X2 Dado que la suma s = (h? + K2 + I 2 ) Es siempre integral y A2 / 4a 2 es una constante para cualquier patrn de una parte, el problema de la indexacin del patrn de un cbico sustancia es el de encontrar un conjunto de nmeros enteros s que produce una constante

cociente cuando se divide una por una en el pecado observada 2 6 valores. (Ciertos enteros, tales como 7, 15, 23, 28, 31, etc, son imposibles ya que no puede estar formada por la suma de tres nmeros enteros cuadrados.) Una vez que los nmeros enteros apropiados s se encuentran, los ndices hkl de cada lnea puede ser escrito por inspeccin o de la tabulacin en el Apndice 6. Los enteros apropiados S puede ser determinada por medio de las escalas C y D de una regla de clculo ordinario, que permiten la divisin simultnea de un conjunto de nmeros por otro, si el cociente es constante. Lpiz marca correspondiente al pecado 2 valores de los primeros cinco o seis lneas en el patrn se colocan en la escala D. Un solo ajuste de la escala de Do Se busca entonces que se traer un conjunto de nmeros enteros en la escala C en coincidencia con todo el lpiz marcas en la escala D. Debido a los errores sistemticos se mencion anteriormente, estas coincidencias no son exactas, pero por lo general son lo suficientemente cerca como para permitir seleccin del nmero entero adecuado, particularmente si la escala C se desplaza un poco de lnea a lnea para compensar los errores sistemticos en el pecado 2 6. Si un conjunto de nmeros enteros que satisfacen la ecuacin. (10-2) no puede ser encontrado, entonces la sustancia involucrado no pertenece al sistema cbico, y otras posibilidades (tetragonal hexagonal, etc) deben ser exploradas. El siguiente ejemplo ilustra las etapas implicadas en la indexacin de la patrn de una sustancia cbico y encontrar su parmetro de red. En este

ejemplo particular, la radiacin Cu Ka fue utilizado y ocho lneas de difraccin Se observaron. Su pecado 2 Los valores se enumeran en la segunda columna de Tabla 10-1. Por medio de una regla de clculo, los enteros s enumeran en la tercera columna se encontraron para producir los cocientes razonablemente constantes enumeradas en la cuarta columna, cuando se divide en el pecado observada 2 valores. La quinta columna muestra el parmetro de red calculado a partir de cada posicin de lnea, y la sexta columna da los ndices de Miller de cada lnea. La sistemtica error en el pecado 2 6 se muestra como una disminucin gradual en el valor de X2 / 4a 2 , Y un aumento gradual en el valor de a, como 8 aumentos. Nos encontraremos en el Cap. 11 que el error sistemtico disminuye a medida que aumenta, por lo que puede seleccionar el valor de a para la lnea ms alta de ngulo, a saber, 3.62A, como siendo el ms exacta de los enumerados. Nuestro anlisis de las posiciones de la lnea por lo tanto conduce a 302 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 TABLA 10-1 la conclusin de que la sustancia en cuestin, en este caso de cobre, es cbica en estructura con un parmetro de red de 3.62A. Tambin se puede determinar la red de Bravais de la muestra mediante la observacin que las lneas estn presentes y que ausente. El examen de la columna sexta

de la Tabla 10-1 muestra que todas las lneas que se han mezclado pares e impares ndices, tales como 100, 110, etc, estn ausentes en el patrn. La referencia a las normas relativas a redes de Bravais reflexiones observadas y ausentes, dado en la Tabla 4-1, que muestra la red de Bravais de este espcimen se facecentered. Ahora tenemos cierta informacin sobre la disposicin de tomos en la celda unidad, y debe tenerse en cuenta que hemos tenido que hacer el uso de intensidades de lnea observados con el fin de obtener esta informacin. En este caso particular, la observacin consista simplemente en sealar que lneas tenan intensidad cero. Cada uno de los cuatro tipos comunes de red cbica es reconocible por una caracterstica secuencia de lneas de difraccin, y estos a su vez puede ser descrito s por sus valores secuenciales: Cbica simple: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 16, ... Centrada en el cuerpo cbico: 2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16, ... Cara cbica centrada en: 3, 4, 8, 11, 12, 16, ... Diamante cbico: 3, 8, 11, 16, ... La misma informacin se tabula en el Apndice 6 y se muestran grficamente en la figura. 10-2, en la forma de los patrones de difraccin calculados. Los clculos se hacen para radiacin Cu Ka y un parmetro de red de una 3.50A. Las posiciones de todas las lneas de difraccin que se formaran en virtud estas condiciones se indican como apareceran en una pelcula o grfico de la longitud de la muestra. (Con fines comparativos, el patrn de un hexagonal de empaquetamiento compacto estructura se ilustra tambin, ya que esta estructura es frecuentemente La figura. 10-2. Patrones de difraccin calculados para diversas celosas, s ti 2 + k2 + I 2

. encontrado entre los metales y aleaciones. Las posiciones de las lneas se calculan por radiacin CuKa, a = 2.50A, y c / a = 1,633, que corresponde a el empaquetamiento compacto de esferas.) Patrones de polvo de sustancias cbicos por lo general se pueden distinguir en un mirada de las de las sustancias noncubic, ya que los patrones ltimos nor304 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 normalmente contienen muchas lneas ms. Adems, la red de Bravais usualmente puede ser identificados por inspeccin: existe una secuencia de casi regular lneas simples patrones cbicos cbicos y el cuerpo centrado, pero el primero contiene casi el doble de lneas, mientras que un modelo cbico centrado en las caras se caracteriza por un par de lneas, seguido de una sola lnea, seguido por un par, otra lnea, etc El problema de la indexacin de un modelo cbico es por supuesto muy simplificado si la sustancia en cuestin es conocido por ser cbico y si el enrejado parmetro tambin se conoce. El procedimiento ms sencillo es, entonces, para calcular la valor de (\ 2 / 4a 2 ) Y divida este valor en el pecado observada 2 6 valores a obtener el valor de s para cada lnea. Hay una dificultad que puede surgir en la interpretacin de los patrones de polvo cbicos, y que es debido a una posible ambigedad entre cbica simple y bodycentered patrones cbicos. Hay una secuencia regular de lneas en los dos patrones de hasta

a la sexta lnea, la secuencia contina regularmente centrada en el cuerpo cbico patrones, pero se interrumpe en simples patrones cbicos desde s = 7 es imposible. Por lo tanto, si X es tan grande, o una pequea, as, que seis lneas o menos aparecen en el patrn, las dos redes de Bravais son indistinguibles. Por ejemplo, supongamos que el sustancia en cuestin es realmente centrada en el cuerpo cbico, pero errneamente el investigador ndices tan simple cbico, asignando el valor s = 1 para la primera lnea, s = 2 a la segunda lnea, etc Se obtiene as un valor de X2/4a2 dos veces tan grande como el verdadero, y un valor de una que es L / \ / 2 veces la verdadera. Este tipo de dificultad puede ser evitado simplemente por la eleccin de una longitud de onda lo suficientemente corto como para producir al menos siete lneas en el patrn. 10.4 patrones de indexacin de los cristales noncubic (mtodos grficos). La problema de difraccin en polvo de indexacin se hace ms difcil, ya que el nmero de los aumentos de los parmetros desconocidos. Slo hay un parmetro desconocido para cristales cbicos, un borde de la clula, pero los cristales noncubic tienen dos o ms, y especiales tcnicas grficas y analticas han tenido que ser ideado en Para indexar los patrones de tales cristales. El sistema tetragonal se tendrn en cuenta en primer lugar. La ecuacin del plano de espaciado para este sistema implica dos parmetros desconocidos, A y C: I h2 + k2 Yo 2 -5 - + T (10-3) a2 d2 c 2 Esto puede ser reescrita en la forma

yo - [(* + * ") + _ a2 d2 L (c / o) 10-4] CRISTALES NONCUBIC (mtodos grficos) 305 o ri 2 yo 2 log d = 2 log a - log (h 2 + k2 ) + (10-4) L (c / a) 2 J Supongamos que ahora escribir la ecuacin. (10-4) para cualquiera de los dos planos de un cristal tetragonal, distinguir los dos planos por subndices 1 y 2, y despus restar las dos ecuaciones. Obtenemos = - Log [ L 2 log d, - 2 d2 log (V + fc, 2 )+ (C / a) 2 2

r ^ + fc2 2 ) +-A-1. L (c / arj Esta ecuacin muestra que la diferencia entre los 2 valores de log d para cualquier dos planos es independiente de una y slo depende de la relacin axial c / a y los ndices hkl de cada plano. Este hecho fue utilizado por Hull y Davey como la base para un mtodo grfico de la indexacin de los patrones de polvo de tetragonal cristales. La construccin de un grfico de Hull-Davey se ilustra en la figura. 10-3. En primer lugar, la variacin de la cantidad de [(/ i 2 + k2 )+L 2 / (C / a) 2 ] Con c / a se representa grficamente en dos rango papel semilogartmico para valores particulares de hkl. Cada conjunto de ndices hkl, siempre que correspondan a los planos de separacin diferente, produce una curva diferente, y cuando I = la curva es una lnea recta paralela a la c / de un eje. Planos de ndices diferentes pero con la misma separacin, tales como (100) y (010), estn representados por la misma curva en el grfico, el cual es luego marcados con los ndices de cualquiera de ellos, en este caso (100). [El grfico que se muestra es para una red tetragonal simple; una para una centrada en el cuerpo retculo tetragonal se hace simplemente omitiendo todas las curvas para las que (H + k + I) es un nmero impar.] Una escala logartmica de un rango d es luego construido; se extiende sobre dos rangos de la [(h

2 + k2 )+Z 2 / (C / a) 2 ] escala y se ejecuta en la direccin opuesta, ya que el coeficiente de logd en Eq. (10-4) es -2 veces el coeficiente de log [(h 2 + k2 )+I 2 / (C / a) 2 ]. Esta significa que los valores d de dos planos, para una determinada c / A, estn separados por la misma distancia en la escala como la separacin horizontal, en la misma c / A, de las dos curvas correspondientes en el grfico. El grfico y la escala se utilizan para la indexacin de la siguiente manera. La d espaciamiento de los planos que reflejen correspondientes a cada lnea de la difraccin patrn se calcula. Supongamos que la primera siete de estos valores para un patrn particular son 6,00, 4,00, 3,33, 3,00, 2,83, 2,55, y 2.40A. La tira de papel A continuacin se coloca junto a la escala de d en la posicin I de la figura. 10-3, y los valores observados d estn marcadas en su borde con un lpiz. La 306 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 s U: aC

-E . Yo 03 68 -C Yo + J, Yo CRISTALES (10-4 NONCUBIC mtodos grficos) 307 tira de papel se coloca a continuacin en la tabla y se mova, tanto vertical y horizontalmente, hasta una posicin donde se encuentra cada marca en la tira coincide con una lnea en la tabla. Los movimientos verticales y horizontales corresponden a tratar diversos c / a y los valores de A, respectivamente, y slo el restriccin de estos movimientos es que el borde de la tira siempre debe ser horizontal. Cuando un ajuste correcto se ha obtenido, tal como se muestra por la posicin II de la figura. 10-3, los ndices de cada lnea son simplemente leer de la correspondiente curvas, y el valor aproximado de c / a de la vertical posicin de la tira de papel. En el presente ejemplo, el c / c proporcin es 1,5 y la primera lnea del patrn (formado por los planos de separacin 6.00A) es un 001 lneas, la segunda una lnea 100, el tercero de una lnea 101, etc Despus de todas las lneas se han indexado de esta manera, los valores de d de las dos de mayor ngulo lneas se utilizan para la creacin de dos ecuaciones de la forma de la ecuacin. (10-3), y estos son resolverse simultneamente para producir los valores de a y c. A partir de estos valores, la relacin axial c / a entonces se puede calcular con ms precisin de lo que puede se encuentra grficamente. La figura 10-3 es slo parcial Hull-Davey grfico. A uno completo, mostrando

Las curvas de los ndices ms altos, se reproduce a pequea escala en la figura. 10-4, que se aplica a celosas centradas en el cuerpo tetragonales. Tenga en cuenta que las curvas de altos ndices son a menudo tan lleno que es difcil asignar la debida ndices a las lneas observadas. Entonces se hace necesario calcular la ndices de estas lneas de alto ngulo sobre la base de unos valores y C derivada de los ya indexados de bajo ngulo lneas. Algunos grficos Davey Hull-, como la que se muestra en la figura. 10-4, estn diseados para uso con el pecado 2 6 valores en lugar de los valores d. No hay cambio en el grfico es en s mismo implicado, slo un cambio en la escala de acompaamiento. Esto es posible porque una ecuacin similar a la ecuacin. (10-4) se puede establecer en trminos de pecado 2 8 en lugar de d, mediante la combinacin de la ecuacin. (10-3) con la ley de Bragg. Esta ecuacin es iniciar pecado 2 = log 2 + Log [(h 2 + k2 ) + - ^ T 4AL (c / a El pecado 2 6 escala es por lo tanto uno de dos rango logartmico (de 0,01 a 1,0), de longitud igual a la de dos rango [(h 2 + fc 2

)+I 2 / (C / a) 2 ] Escala de la charl y que se ejecuta en la misma direccin. A escala de este tipo aparece en la parte superior de la fig. 10-3. Cuando la relacin C / a se hace igual a la unidad, se convierte en una celda tetragonal cbico. De ello se deduce que un modelo cbico puede ser indexado en un tetragonal HullDavey grfico, manteniendo la tira de papel siempre en la lnea horizontal correspondiente para c / a = 1. Esto rara vez es necesario porque un wil regla de clculo servir igual de bien. Sin embargo, es instructivo considerar una anguila tetragonal como la salida de un cbico y para examinar una tabla de Hull-Davey ii 308 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 0,01 I IM | immil | IIM | MM [IIM | IIM | IIM [llll | IMI [IIM [UII | Mll | IIMI | MII [llll | llll | llll | llll | . .. I.. I. .. I. .. I.. ,,! ..,. I,,,!,,,,!,,,, Me,,,, me,,,,,,,, l.i i.li ml. 1I.J La figura. Relacin axial 10-4. Completa el Hull-Davey grfico para celosas centradas en el cuerpo tetragonales. 10-4] CRISTALES NONCUBIC (mtodos grficos) 309 que la luz, ya que el cuadro muestra a simple vista cmo el patrn de polvo cambios de cualquier cambio dado en la relacin C / a. Se muestra, por ejemplo, cmo ciertas lneas divide en dos tan pronto como el c / una relacin se aparta de la unidad, y cmo incluso el orden de las lneas en el patrn puede cambiar con los cambios en c / a.

Otro mtodo grfico de indexacin de los patrones tetragonales se ha diseado por Bunn. Al igual que el grfico de Hull-Davey, un grfico consiste en una Bunn red de curvas, una para cada valor de hkl, pero las curvas se basan en los funciones algo diferentes de hkl yc / a que los utilizados por Hull y Davey, con el resultado de que las curvas se aprietan menos en ciertas regiones de la tabla. El grfico Bunn se acompaa de una escala logartmica de d valores, y la combinacin de grfico y la escala se usa exactamente de la misma manera como un grfico de Hull-Davey y escala. Los patrones de cristales hexagonales tambin pueden ser indexados por mtodos grficos, desde la celda unidad hexagonal, como el tetragonal, se caracteriza por dos parmetros variables, a y c. La ecuacin del plano de espaciamiento es 1 _ 4 h2 + k2 + hk Yo 2 d* = 3 tf + 72 ' Despus de una cierta manipulacin, esto se convierte 21ogd 21oga = - log \ - (h 2 + hk + k2 ) + -4 L3 (c / a que es exactamente de la misma forma que la ecuacin. (10-4) para el sistema tetragonal. Un grfico de Hull-Davey para el sistema hexagonal por lo tanto se puede construir

representando grficamente la variacin de log [(h 2 + hk + k2 )+I 2 / (C / a) 2 ] Con c / a. Un grfico de Bunn tambin se pueden construir para este sistema. Cartas especiales para hexagonal compacta celosas pueden prepararse tambin omitiendo todos curvas para las que (h + 2k) es un mltiplo entero de 3 y I es impar. La figura 3-13 (c), el patrn de polvo de zinc hecho con radiacin Cu Ka, servirn para ilustrar cmo el patrn de una sustancia hexagonal est indexado. Trece lneas se observaron en este patrn, su pecado 2 6 valores relativos y intensidades se enumeran en la Tabla 10-2, un ajuste se obtuvo en una HullDavey grfico para hexagonales apretadas celosas en un aproximado de c / c relacin de 1,87. Las lneas de la grfica revel los ndices que figuran en la cuarta columna de la tabla. En el caso de la lnea 5, dos lneas del grfico (10-3 y 11-0) casi se cruzan en c / a = 1,87, por lo que la lnea observada es evidente que la suma de dos lneas que se superponen casi, uno de los planos (10-3) y el otro de (11 -0) aviones. Lo mismo es cierto de la lnea 11. Cuatro lneas en el grfico, a saber, 20-0, 10-4, 21-0 y 20-4, no aparecen en el patrn, y debe deducirse que stos son demasiado dbiles para ser observados. Por el otro mano, todas las lneas observadas se tienen en cuenta, por lo que llegamos a la conclusin de que puede 310 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL

TABLA 10-2 [CAP. 10 la red de zinc es realmente hexagonal compacta. El siguiente paso es calcular los parmetros de red. La combinacin de la ley de Bragg y el plano-spacing ecuacin da (H 2 + hk + k2 )1 2~ sm "20 = _ - 1 C 2\ donde X2 / 4 tiene un valor de 0.595A2 por radiacin Cu Ka. Escribir este ecuacin para los dos de mayor ngulo de las lneas, es decir, 12 y 13, se obtiene: .,7 0,806 = 0,595 (r i + 0,879 = 0,595 {- = + -; Solucin simultnea de estas dos ecuaciones se obtiene a = 2.66A, c = 4.95A, y c / a = 1,86. Cristales rombodricos tambin se caracterizan por clulas unitarias que tienen de dos parmetros, en este caso una y una. No hay grfico nuevo que se necesita, sin embargo, a ndice de los patrones de sustancias rombodricos, ya que, como se menciona en Sec. 2-4, cualquier cristal rombodrico puede ser denominado ejes hexagonales. La hexagonal Hull-Davey o grfico Bunn por lo tanto puede ser utilizado para indexar la patrn de un cristal rombodrico. Los ndices as que encontramos, por supuesto,

se refieren a una celda hexagonal, y el mtodo de conversin a rombodrico Los ndices se describe en el Apndice 2. Se puede concluir que el patrn de cualquier cristal de dos parmetros (tetragonal, hexagonal o rombodrica) pueden ser indexados en la correspondiente HullDavey o grfico Bunn. Si se conoce la estructura, el procedimiento es bastante sencillo. El mejor mtodo es el clculo de la relacin C / A de la 10-5] CRISTALES (NONCUBIC MTODOS DE ANLISIS) 311 parmetros conocidos, haba una regla en la tabla para descubrir la correcta secuencia de lnea para este valor de c / a, calcular el valor de sen 2 6 para cada lnea a partir de los ndices que aparecen en la tabla, y luego determinar los ndices de las lneas observadas por una comparacin de pecado calculadas y observadas 2 6 valores. Si la estructura es desconocida, el problema de la indexacin no siempre es as fcil como parece en la teora. La fuente ms comn de problemas es la presencia de lneas extraas, tal como se definen en la Seccin. 10-2, en el patrn observado. Estas lneas pueden ser muy confusos y, en su caso dificultad en la indexacin se encuentra, todos los esfuerzos deben hacerse para eliminarlos de la patrn, ya sea experimentalmente o por clculo. Adems, la observ pecado 2 6 valores suelen contener errores sistemticos que hacen una simultnea el ajuste de todas las marcas de lpiz en la tira de papel con las curvas en el grfico imposible, incluso cuando la tira de papel se encuentra en la correcta c / a posicin. Porque

de estos errores, la tira tiene que ser desplazado ligeramente de lnea a lnea con el fin de hacer marcas sucesivas lpiz coinciden con las curvas en el grfico. Dos reglas importantes siempre hay que tener en cuenta al utilizar Hull-Davey Bunn o grficos: (1) Toda marca en la tira de papel debe coincidir con una curva en la trazar, a excepcin de lneas extraas. Una estructura que representa slo una parte de las lneas observadas no es correcta: todas las lneas en el patrn debe tenerse en cuenta, ya sea como debido a la estructura de la sustancia en cuestin o como lneas extraas. (2) No tiene que haber una marca en la tira de papel para cada curva en la grfico, ya que algunas lneas pueden tener una intensidad cero o demasiado dbil para ser observado. Sustancias ortorrmbico, monoclnico y triclnico producir patrones de polvo que son casi imposibles de ndice por mtodos grficos, aunque los patrones de algunos cristales ortorrmbicos han sido indexados por una combinacin de mtodos grficos y analticos. La dificultad es esencial el gran nmero de parmetros variables que intervienen. En la ortorrmbica sistema existen tres parmetros de tipo (a, b, c), en el monoclnico cuatro (A, b, c, 0), y en el triclnico seis (a, b, c, a, 0, 7). Si se conoce la estructura, patrones de sustancias en estos sistemas cristalinos pueden ser indexados comparacin 6y del pecado observada 2 Los valores B con los calculados para todas las posibles valores de hkl. 10.5 patrones de indexacin de los cristales noncubic (mtodos analticos). Los mtodos de anlisis de la indexacin implican la manipulacin aritmtica de los pecado observado

2 6 valores en un intento de encontrar ciertas relaciones entre ellos. Dado que cada sistema cristalino se caracteriza por las relaciones particulares entre el pecado 2 valores, el reconocimiento de estas relaciones se identifican el sistema cristalino y lleva a una solucin de los ndices de lnea. 312 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 Por ejemplo, el pecado 2 6 valores en el sistema tetragonal debe obedecer la relacin: pecado 2 = A (h 2 + k2 ) + Cl2 , (10-7) donde A (X2 = / 4a 2 ) Y C (= X2 / 4c 2 ) Son constantes para cualquier patrn de uno. El problema es encontrar estas constantes, ya que, una vez encontrada, se divulgarn los parmetros de la celda A y C y permitir que los ndices de lnea a calcular. El valor de A se obtiene a partir de las lneas de HKO. Cuando / = 0, la ecuacin. (10-7)

se convierte en pecado 2 - A (h 2 + k2 ). Los valores permisibles de (h 2 + k2 ) Son 1, 2, 4, 5, 8, etc Por lo tanto la lneas HKO debe tener pecado 2 6 valores en la relacin de estos nmeros enteros, y la voluntad de un ser algn nmero que es 1, ^, F, ^,, etc, veces el pecado 2 6 valores de estos lneas. C se obtiene a partir de las otras lneas en el patrn y el uso de Eq. (10-7) en la forma k2 ) = Cl2 . Las diferencias representadas por el lado izquierdo de la ecuacin se configuran, para diferentes valores supuestos de h y k, en un intento de encontrar una consistente conjunto de Cl2 valores, que deben estar en la relacin de 1, 4, 9, 16, etc Una vez que estos Los valores se encuentran, C se puede calcular. Para cristales hexagonales, un procedimiento similar se utiliza exactamente. En este caso, el pecado 2

8 valores se dan por donde A = X2 / 3a 2 y C = X2 / 4c 2 . Los valores permitidos de (h 2 + hk + k2 ) se tabulan en el apndice 6, son 1, 3, 4, 7, 9, etc El procedimiento de indexacin se ilustra mejor por medio de un ejemplo especfico, a saber, el polvo patrn de zinc, cuya observada pecado 2 8 valores se listan en la Tabla 10-2. En primer lugar, dividir el pecado 2 8 valores de los nmeros enteros 1, 3, 4, etc, y tabular los resultados, como se muestra en la Tabla 10-3, que se aplica a las primeras seis lneas de el patrn. A continuacin examinamos estas cifras, en busca de cocientes que son iguales entre s o igual a uno de los pecado observada 2 8 valores. En TABLA 10-3 10-5] CRISTALES (NONCUBIC MTODOS DE ANLISIS ^ TABLA 10-4 313 este caso, las dos entradas de favoritos, 0,112 y 0,111, son los ms casi

iguales, por lo que asumimos que las lneas 2 y 5 son lneas HKO. A continuacin, tentativamente poner A = 0,112, que es equivalente a decir que la lnea 2 es 100. Puesto que el pecado 2 6 Valor de la lnea 5 es casi tres veces mayor que la de la lnea 2, lnea 5 debe ser 1 10. Para encontrar el valor de C, debemos utilizar la ecuacin pecado 2 0 - A (h2 + k2 + hk ) = Cl2 . Ahora restar de cada pecado 2 6 Valor de los valores de A (= 0,112), 34 (= 0.336), 4A (= 0,448), etc, y buscar los restos (Cl 2 ) Que estn en la relacin de 1, 4, 9, 16, etc Estas cifras se dan en la Tabla 10-4. Aqu las cinco entradas favoritos son de inters, ya que estos nmeros (0,024, 0,097, 0,221, y 0,390) son muy aproximadamente en la relacin de 1, 4, 9, y 16. Nosotros por lo tanto, poner 0,024 = C (l) 2 , 0,097 = C (2) 2 , 0,221 = C (3) 2 , Y 0,390 = C (4)

2 . Esto da C = 0,024 e inmediatamente identifica la lnea 1 como 002 y lnea 6, 004. Desde la lnea 3 tiene un pecado 2 valor igual a la suma de A y C, sus ndices debe ser 101. De manera similar, los ndices de las lneas 4 y 5 se encuentran a ser 102 y 103, respectivamente. De este modo, los ndices son asignados a todos las lneas del patrn, y una comprobacin final de su correccin se realiza en de la manera habitual, por una comparacin de pecado observados y calculados 2 valores. En el sistema ortorrmbico, la ecuacin bsica que regula el pecado 2 valores es pecado 2 6 = Ah2 Bk2 + + Cl2 . El problema de indexacin es considerablemente ms difcil aqu, en que tres constantes desconocidas, A, B, y C, tienen que ser determinadas. El general procedimiento, que es demasiado largo para ilustrar aqu, es importante buscar las diferencias entre los diversos pares de pecado 2 6 valores. Por ejemplo, considere cualquiera de las dos lneas que tienen ndices de HKO y hkl, con hk el mismo para cada uno, tales como 120 y 121, la diferencia entre su pecado 2 valores es C. De manera similar, la diferencia entre el pecado

2 valores de dos lneas como 310 y 312 es 4C, y as sucesivamente. Si la estructura es tal que hay muchas lneas falta en el patrn, a causa de un factor de estructura cero para el correspondiente aviones, a continuacin, las dificultades de indexacin se incrementan considerablemente, la medida en que las lneas que faltan pueden ser los mismos que suministrara 314 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 el ms fcilmente reconocible pistas si estuvieran presentes. A pesar de estas dificultades, Este mtodo de anlisis se ha aplicado con xito a un nmero de patrones ortorrmbicos. Requisito para el xito de uno es bastante alta precisin en el pecado 2 6 valores (al menos 0,0005), y el investigador debe por lo tanto, corregir sus observaciones de los errores sistemticos antes de intentar para indexar el patrn. Monoclnico y triclnico sustancias patrones de rendimiento en polvo de gran complejidad porque el nmero de constantes independientes implicados es ahora cuatro y seis, respectivamente. No existe un mtodo generalmente exitoso, ya sea analtico o grfico, de la indexacin de estos patrones se ha ideado. Por lo tanto, se puede concluir que el patrn de polvo de una sustancia que tiene ms de dos parmetros de la celda independientemente variables es extremadamente difcil, si no imposible, resolver. Las estructuras de estos materiales son casi siempre determinado por el examen de un nico cristal, ya sea por el mtodo de rotacin de cristal o una de sus variaciones. Con estos mtodos es un asunto relativamente sencillo determinar la forma y el tamao de un desconocido celda unidad, no importa qu tan bajo su simetra. Muchas sustancias, de Por supuesto, son muy difciles de preparar en forma de cristal nico, sino que, por el Por otro lado, si la sustancia en cuestin es uno de simetra bajo, el tiempo

gastado en tratar de obtener un solo cristal suele ser ms fructfero que el tiempo gastado para tratar de resolver el patrn de polvo. La muestra de cristal nico no necesita ser grande: un cristal tan pequeo como 0,1 mm en cualquier dimensin puede ser manejado con xito y dar un patrn de difraccin satisfactoria. Los lectores interesados en estos mtodos de un solo cristal se encuentran los describi en algunos de los libros mencionados en el Cap. 18. 10-6 El efecto de la distorsin de clulas en el patrn de polvo. En este punto podramos divagar un poco del tema principal de este captulo, y examinar algunos de los cambios que se producen en un patrn de polvo cuando la celda unidad de la sustancia en cuestin se distorsiona de varias maneras. Como ya hemos visto, hay muchas ms lneas en el patrn de una sustancia de baja simetra, tales como triclnico, que en el patrn de una sustancia de alta simetra, tales como cbica, y podemos tomar como regla general de que cualquier distorsin de la celda unidad que disminuye su simetra, en el sentido de introducir adicionales parmetros variables, aumentar el nmero de lneas en el patrn de polvo. Figura 10-5 ilustra grficamente este punto. A la izquierda est la calculada patrn de difraccin de la sustancia cbica centrada en el cuerpo, cuya unidad de clulas se muestra en la parte superior. Las posiciones de las lneas se calculan para un 4.00a = y Cr Ka radiacin. Si esta clula es expandido o contrado de manera uniforme pero sigue siendo cbico, las lneas de difraccin ms que cambiar sus posiciones, pero hacer no aumentan en nmero, ya que ningn cambio en la simetra clula est implicada. Sin embargo, si la celda cbica est distorsionada a lo largo de un solo eje, entonces se vuelve 10-6] el efecto de distorsin CELULAR EN EL MODELO DE POLVO 315 26 La figura. 10-5. Efectos de la distorsin de clulas en los patrones de polvo, posicin estn conectados por lneas de trazos.

Lneas sin cambios en tetragonal, disminuye su simetra, y ms lneas de difraccin se forman. El dibujo central muestra el efecto de estiramiento de la celda cbica por 4 por ciento a lo largo de su [001] eje, de modo que c es ahora 4.16A. Algunas lneas no se han modificado en posicin, algunos se desplazan, y las nuevas lneas han aparecido. Si el tetragonal 316 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 clula est ahora estirada por 8 por ciento a lo largo de su [010] eje, se convierte en ortorrmbica, con a = 4.00a, b = 4.32A, 4.16A y c =, como se muestra en la derecha. El resultado de esta distorsin ltimo es aadir lneas an ms con el patrn. El aumento en el nmero de lneas se debe esencialmente a la introduccin de espaciamientos nuevo plano, causado por la distorsin no uniforme. Por lo tanto, en la celda cbica, el (200), (020), y los planos (002) todos tienen el mismo espaciamiento y slo una lnea est formada, llamada la lnea 200, pero esta lnea se divide en dos cuando la clula se vuelve tetragonal, ya que ahora el (002) espaciamiento plano difiere de los otros dos. Cuando la clula se convierte en ortorrmbica, los tres distancias son diferentes y tres lneas se forman. Los cambios de esta naturaleza no son infrecuentes entre las transformaciones de fase y ordenar reacciones. Por ejemplo, el patrn de polvo de enfriada lentamente acero al carbono simple que muestra las lneas debido a ferrita (centrada en el cuerpo cbico) y cementita (FEAC, ortorrmbico). Cuando el mismo acero se templa desde la regin de austenita, las fases presentes son martensita (centrada en el cuerpo tetragonal) y, posiblemente, algunos no transformada austenita (cara centrada cbico). Los parmetros a y c de la clula de martensita no difieren mucho a partir del parmetro de la celda de una ferrita (vase la fig. 12-5). El resultado es que el patrn de difraccin de un acero bonificado muestra pares de lneas de martensita ocurre en aproximadamente los mismos 20 posiciones como las lneas individuales de ferrita en el modelo anterior. Si el acero templado est templado, la martensita

en ltima instancia, se descompondr en ferrita y cementita, y cada par de las lneas de martensita se unen en una sola lnea de ferrita. Algo similar efectos se pueden producir en una aleacin de cobre-oro que tiene la composicin representada por la frmula AuCu. Esta aleacin es cbico en el estado desordenado pero se hace ya sea tetragonal o ortorrmbica cuando es ordenado, dependiendo de la temperatura del pedido (vase cap. 13-3). Los cambios que se producen en un patrn de polvo por la distorsin clula depender, en grado, de la cantidad de distorsin. Si este ltimo es pequeo, el patrn retiene las principales caractersticas del patrn de la celda no distorsionada original. Por lo tanto, en la figura. 5.10, las lneas de diecinueve de la cada patrn ortorrmbica a los seis grupos entre corchetes se muestra, cada grupo corresponde a una de la sola lneas en el patrn cbico. De hecho, un cristalgrafo experimentado, si Ante este patrn ortorrmbica, puede reconocer esta agrupacin y supongo que la celda unidad de la sustancia en cuestin no estaba lejos de forma cbica, y que la red de Bravais era simple o bodycentered, ya que los grupos de lneas estn espaciadas de una forma bastante regular. Pero si la distorsin de la celda cbica haba sido mucho ms grande, cada lnea de el patrn original se dividi en lneas tan ampliamente separados que no caractersticas del patrn original permanece. 10-7 Determinacin del nmero de tomos en la celda unidad. Para volver al tema de la determinacin de la estructura, el siguiente paso despus de establecer 10-8] DETERMINACIN DE POSICIONES ATOM 317 la forma y el tamao de la celda unidad es encontrar el nmero de tomos en el que celda, porque el nmero de tomos deben ser conocidos antes de sus posiciones puede ser determinado. Para encontrar este nmero se utiliza el hecho de que el volumen de la celda unidad, calculada a partir de los parmetros de red por medio de la ecuaciones dadas en el apndice 1, multiplicado por la densidad medida de la

sustancia es igual al peso de todos los tomos en la celda. De la ecuacin. (3-9), tenemos V SA = 1,66020 donde SA es la suma de los pesos atmicos de los tomos en la celda unidad, p es la densidad (g / cm 3 ), Y V es el volumen de la celda unidad (A 3 ). Si el sustancia es un elemento de peso atmico A, luego SA = donde HI es el nmero de tomos por celda unidad. Si la sustancia es una sustancia qumica compuesto, o una fase intermedia cuya composicin puede representarse mediante una frmula qumica simple, luego ZA = N2M, donde n2 es el nmero de "molculas" por celda unidad y el M molecular peso. El nmero de tomos por celda puede entonces ser calculada a partir de N2 y la composicin de la fase. Cuando se determina de esta manera, el nmero de tomos por celda es siempre una nmero entero, dentro del error experimental, a excepcin de unas pocas sustancias que tienen "estructuras de defectos." En estas sustancias, los tomos son simplemente falta a partir de una cierta fraccin de los sitios de la red que se esperara para ocupar, y el resultado es un nmero no entero de tomos por celda. FeO y la fase de pies en el sistema Ni-Al son ejemplos bien conocidos. 8.10 Determinacin de las posiciones atmicas. Ahora tenemos que encontrar las posiciones

de un nmero conocido de los tomos en la celda unidad de la forma y tamao conocido. Para solucionar este problema, tenemos que hacer uso de las intensidades relativas observadas de los haces difractados, ya que estas intensidades estn determinadas por posiciones de los tomos. En la bsqueda de las posiciones de los tomos, sin embargo, debemos de nuevo proceder por ensayo y error, porque no hay ningn mtodo conocido de directamente clculo de posiciones de los tomos de intensidades observadas. Para ver por qu esto es as, debemos tener en cuenta las dos ecuaciones bsicas involucradas, a saber, 318 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL [CAP. 10 que da a las intensidades relativas de los haces reflejados, y N F = ^ fne 2 l (hu * + + kvn lw n \ (4-11) 1 que da el valor del factor F estructura para la reflexin hkl en trminos de la uvw tomo de posiciones. Puesto que la intensidad relativa 7, la multiplicidad factor p, y el ngulo de Bragg son conocidos para cada lnea en el patrn, se puede encontrar el valor de \ F \ para cada reflexin de la ecuacin. (4-12). Pero \ F \ medidas slo la amplitud relativa de cada reflexin, mientras que el fin de utilizar Eq. (4-11) para el clculo de las posiciones atmicas, debemos conocer el valor de F, que mide tanto la amplitud y fase de una reflexin relativa a otro. Este es el quid del problema. Las intensidades de dos reflejado vigas son proporcionales a los cuadrados de sus amplitudes, pero independiente de su fase relativa. Puesto que todo lo que se puede medir es la intensidad, se puede determinar de amplitud de fase, pero no, lo que significa que no podemos calcular el factor de estructura, pero solamente su valor absoluto. Cualquier mtodo de evitar

esta dificultad bsica constituira el mtodo directo, muy codiciada de determinacin de la estructura. Esta dificultad parece ser insuperable, Sin embargo, dado que ningn mtodo directo, aplicable en general a todas las estructuras, tiene sin embargo, ha ideado, a pesar de la gran cantidad de esfuerzo dedicado al problema. Posiciones de los tomos, por lo tanto, slo puede determinarse por ensayo y error. Un conjunto de posiciones de los tomos se supone, las intensidades correspondientes a estos posiciones se calculan, y las intensidades calculadas se comparan con los observados, el proceso se repite hasta que un acuerdo satisfactorio se alcanza. El problema de seleccionar una estructura de ensayo no es tan irremediablemente amplia como parece, ya que el investigador tiene muchas ayudas para guiar l. El principal de ellos es el conocimiento acumulado previamente de resuelto las estructuras. A partir de estas estructuras conocidas que pueden ser capaces de seleccionar unos pocos candidatos probables, y luego proceder en el supuesto de que su desconocido estructura es la misma que, o muy similar, a uno de estos conocidos. A grandes muchas estructuras conocidas pueden clasificarse en grupos de acuerdo a el tipo de unin (inicas, covalentes, metlicos, o mezclas de stos) que mantiene unidos a los tomos, y una seleccin entre estos grupos es ayudada por una el conocimiento del tipo probable de enlace atmico en la fase desconocida, segn se juzga a partir de las posiciones de sus elementos constituyentes en la tabla peridica. Por ejemplo, supongamos que la fase de estructura desconocida tiene la qumica frmula AB, donde A es fuertemente electropositivo y electronegativo B fuertemente, y que su patrn de polvo es caracterstico de un simple cbico celosa. A continuacin, la unin es probable que sea inico, y es la estructura de CsCl sugiere fuertemente. Pero la estructura FeSi se muestra en la figura. 2-19 es tambin un posibilidad. En este caso particular, uno o el otro puede ser excluida por medicin de densidad, ya que la clula CsCl contiene una "molcula" y el

FeSi de cuatro clulas. Si esto no fuera posible, las intensidades de difraccin tendra 10-8J DETERMINACIN DE POSICIONES ATOM 319 que se calcula sobre la base de cada clula y en comparacin con la observada los. Es este tipo de determinacin de estructura sencilla, ilustrada por una ejemplo en la siguiente seccin, que el metalrgico debe ser capaz de llevar a cabo sin ayuda. Huelga decir que muchas estructuras son demasiado complejos para ser resueltos por la presente enfoque simple y cristalgrafo debe recurrir a la ms poderosa mtodos. El principal de ellos son espacio-teora de grupos y series de Fourier. Aunque cualquier descripcin completa de estos temas est ms all del alcance de este libro, algunas observaciones generales pueden servir para demostrar su utilidad en la estructura determinacin. La teora de los grupos espaciales, uno de los triunfos de cristalografa matemtica, se relaciona la simetra del cristal, en la atmica escala, a los posibles arreglos atmicos que poseen esa simetra. Por ejemplo, si una sustancia dada se sabe que es hexagonal y tener n tomos en su celda unidad, entonces el espacio-la teora de grupos muestra todos los posibles arreglos de n tomos que tienen simetra hexagonal. Esta lista de posibles arreglos ayuda enormemente en la seleccin de estructuras de ensayo. Una reduccin adicional en el nmero de posibilidades a continuacin, se pueden hacer sealando los ndices de las reflexiones ausentes del patrn de difraccin. Por tales medios por s solos, es decir, antes de cualquier consideracin de forma detallada relativa intensidad difractada, el espacio-la teora de grupos a menudo puede excluir todos excepto dos o tres disposiciones atmicas posibles. Una serie de Fourier es un tipo de serie trigonomtrica infinita por el que toda tipo de funcin peridica puede ser expresada. Ahora la propiedad esencial una de un cristal es que sus tomos estn dispuestos en el espacio de una forma peridica.

Pero esto significa que la densidad de electrones es tambin una funcin peridica de posicin en el cristal, llegando a un mximo en el punto en que es un tomo situado y cayendo a un valor bajo en la regin entre los tomos. Considerar un cristal de esta manera, como una variacin de posicin de la densidad de electrones en lugar de como una disposicin de tomos, es particularmente adecuado cuando difraccin est involucrado, ya que los rayos X son dispersados por los electrones y no por tomos como tal. Puesto que la densidad de electrones es una funcin peridica de la posicin, un cristal puede describirse analticamente por medio de series de Fourier. Este mtodo de descripcin es muy til en la determinacin de la estructura porque se puede demostrar que los coeficientes de los diversos trminos de la serie estn relacionados con los valores F de las diversas reflexiones de rayos x. Pero tal serie no es de uso inmediato, ya que los factores de estructura no son generalmente conocido tanto en magnitud como en fase. Sin embargo, otro tipo de serie tiene han ideado cuyos coeficientes estn relacionados con la experimentalmente observable | F valores y que da, la densidad de electrones no, pero la informacin sobre los diversos vectores interatmicas en la celda unitaria. Esta informacin es la frecuencia suficiente para determinar la fase de los factores de estructura diferentes; a continuacin, el primer tipo de serie se puede utilizar para trazar el electrn real densidad en toda la clula y por lo tanto revelar las posiciones de los tomos. 320 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA CRISTALINA OP [CAP. 10 Ejemplo 10-9 de determinacin de la estructura. Como un simple ejemplo, podemos considerar una fase intermedia que se produce en el cadmio-telurio sistema. El anlisis qumico de la muestra, que apareci esencialmente una fase bajo el microscopio, mostr que contena 46,6 por ciento en peso Cd y 53,4 por ciento en peso de Te. Esto es equivalente a 49,8 por ciento atmico Cd y puede ser representado por la frmula CdTe. La muestra se redujo para polvo y un patrn de difraccin obtenido con un Debye-Scherrer

cmara y radiacin de Cu Ka. Los valores observados de pecado 2 6 para los primeros 16 lneas se enumeran en la Tabla 10-5, junto con las intensidades de lnea estimada visualmente relativos. Este patrn puede ser indexado en la base de una celda unidad cbica, y los ndices de la observada lneas se dan en la tabla. El parmetro de red, calculada a partir el pecado 2 6 Valor para la lnea de mayor ngulo, es 6.46A. La densidad de la muestra, como se determina pesando una cantidad de el polvo en una botella picnmetro, era 5,82 g/cm3 . Entonces nos encontramos, desde Eq. (3-9), que ^ J (5,82) (6,46) 3 1,66020 948. Puesto que el peso molecular de 240,02 CdTe es, el nmero de "molculas" por celda unidad es 948/240.02 = 3,94, o 4, dentro del error experimental. En este punto, se sabe que la clula de unidad de CdTe es cbica y que se consta de 4 "molculas" de CdTe, es decir, 4 tomos de cadmio y 4 tomos de telurio. Ahora debemos estudiar los posibles arreglos de los tomos en la celda unidad. En primer lugar se examinan los ndices listados en la Tabla 10-5 para pruebas de la red de Bravais. Dado que los ndices de matriz de las lneas observadas son TABLA 10-5 EJEMPLO] 10-9 de determinacin de la estructura 321

sin mezclar, la red de Bravais debe ser centrada en las caras. (No todos los posibles conjuntos de ndices sin mezclar estn presentes, al menos: 200, 420, 600, 442, 622, y 640 no se encuentran en el patrn. Pero estas reflexiones puede ser demasiado dbil para ser observado, y el hecho de que les falta no invalida nuestra conclusin que la red est centrada en las caras.) Ahora bien, hay dos comunes facecentered estructuras cbicas del tipo AB, es decir, que contienen dos diferentes tomos en proporciones iguales, y ambos contienen cuatro "molculas" por unidad clula: se trata de la estructura de NaCl [fig. 2-18 (b)] y la forma de zinc-blenda de ZnS [fig. 2-19 (b)]. Ambos son posibilidades lgicas aunque la unin en NaCl es inico y en ZnS covalentes, ya que ambos tipos de unin se han observado en las estructuras de telururo. El siguiente paso es el clculo de las intensidades relativas de difraccin para cada estructura y compararlas con el experimento, con el fin de determinar si o no una de estas estructuras es la correcta. Si CdTe tiene el NaCl estructura, entonces su factor de estructura para los ndices sin mezclar [vase el Ejemplo (e) de la seccin. 4-6] viene dada por F2 = 16 (/ cd + / Te) 2 , si (H + K + I) es par, F2 = 16 (/ cd - / Te) 2 , Si (H + K + I) es impar. Por otro lado, si la estructura ZnS es correcta, entonces el factor de estructura para los ndices sin mezclar (vase cap. 4-13) viene dada por \F\ 2 = 16 (/ cd

2 + / Te 2 ), Si (h + k + l) es impar, \F\ 2 = 16 (/ cd - / Te) 2 , si (H + K + I) es un mltiplo impar de 2, (10-9) \F\ 2 = 16 (/ cd + / Te) 2 , si (H + K + I) es un mltiplo de 2. Incluso antes de hacer un clculo detallado de las intensidades relativas difractados por medio de la ecuacin. (4-12), casi podemos descartar la estructura del NaCl como una posibilidad simplemente por inspeccin de las ecuaciones. (10-8). Los nmeros atmicos de cadmio y telurio son 48 y 52, respectivamente, por lo que el valor de (Alimentado + / Te) 2 es varios cientos de veces mayor que el valor de (/ cd / Te) 2 , para todos los valores de sen 0 / X. Entonces, si CdTe tiene la estructura NaCl, la 111 reflexin debe ser muy dbil y el reflejo 200 muy fuerte. En realidad, 111 es fuerte y 200 no se observa. Otras pruebas de que el Estructura de NaCl es incorrecta se da en la cuarta columna de la Tabla 10-6, donde las intensidades calculadas de los primeros ocho lneas posibles se enumeran:

no hay cualquier acuerdo entre estos valores y las intensidades observadas. Por otro lado, si la estructura ZnS se supone, clculos de intensidad conducir a los valores que figuran en la quinta columna. El acuerdo entre estos valores y las intensidades observadas es excelente, excepto para unos pocos inconsistencias menores entre las reflexiones de ngulo bajo, y stos se deben a la negligencia del factor de absorcin. En particular, observamos que el ZnS 322 LA DETERMINACIN DE LA ESTRUCTURA DE CRISTAL TABLA 10-6 [CAP. 10 (NB intensidades calculadas se han ajustado de modo que el 220 lnea tiene una intensidad de 10,0 para ambas estructuras.) estructura satisfactoriamente representa todas las reflexiones que faltan (200, 420, etc), puesto que las intensidades calculadas de estas reflexiones son todos extremadamente bajo. Por lo tanto, se puede concluir que CdTe tiene la estructura de la blenda de zinc forma de ZnS. Despus de una estructura dada se ha demostrado que estar de acuerdo con la difraccin datos, es conveniente calcular las distancias interatmicas que participan en esa estructura. Este clculo no slo es de inters en s mismo, sino que sirve a comunicar cualesquiera grandes errores que se hayan podido realizar, puesto que obviamente existe algo malo en una propuesta de estructura si trae ciertos tomos imposiblemente cerca. En la estructura actual, el vecino ms cercano al tomo de Cd a es el tomo de Te en \ \. El interatmica Cd-Te por lo tanto, la distancia es \ / 3 a / 4 = 2.80A. Para la comparacin, se puede calcular un " terico "Cd-Te distancia interatmica simplemente promediando la

distancias de enfoque ms cercano en los elementos puros. Al hacer esto, consideramos los tomos como esferas rgidas en contacto y pasar por alto los efectos de coordiPROBLEMS 323 nacin nmero y tipo de unin en tamao de tomo. Estas distancias de mxima aproximacin son 2.98A en cadmio puro y 2.87A en puro telurio, siendo el promedio 2.93A. La observ Cd-Te distancia interatmica es 2.80A, o un 4,5 por ciento ms pequeo que el valor calculado, y esta diferencia no es razonable y puede ser ampliamente atribuida a la unin covalente que caracteriza a esta estructura. De hecho, es una norma general que la Distancia interatmica AB en un AxBj fase intermedia, es siempre algo menor que la distancia promedio de mxima aproximacin en A puro y B puro, porque la sola existencia de la fase muestra que el atractivo a diferencia de fuerzas entre los tomos es mayor que entre los tomos como. Si esto no fuera as, la fase no se formaran. PROBLEMAS 10-1. El patrn de polvo de aluminio, hecho con radiacin Cu Ka, contiene diez lneas, cuyos sen2 6 valores son 0,1118, 0,1487, 0,294, 0,403, 0,439, 0,583, 0,691, 0,727, 0,872, y 0,981. ndice estas lneas y calcular el parmetro de red. 10-2. Un patrn est hecho de una sustancia cbico con radiacin cromo sin filtrar. Los valores observados sin2 6 e intensidades son 0.265 (m), 0,321 (vs), 0,528 (w), 0,638 (8) 0,793 f (s), y 0.958 (vs). ndice de estas lneas y el estado que se deben a Ka y que a K0 radiacin. Determinar la red de Bravais y parmetro de red. Identificar la sustancia de referencia al Apndice 13. 10-3. Construya una grfica de huIL-Davey, y acompaando sen2 6 escala, para hexagonal apretadas celosas. Utilice dos de gama papel semilogartmico, 8J x 11 pulgadas Cubrir ac / un intervalo de 0,5 a 2,0, y la trama slo las curvas de 00-2, 10-0, 10-1, 10-2, y 11-0.

10-4. Use la tabla construida en el problema. 10-3 a ndice de los primeros cinco lneas en la polvo de un patrn de titanio. Con radiacin Cu Ka, estas lneas tienen la siguiente B sin2 valores: 0,091, 0,106, 0,117, 0,200 y 0,268. En cada uno de los siguientes problemas el patrn de polvo de un elemento est representado por los valores observados y in2 de los primeros siete u ocho lneas en el dibujo, hecho con Cu Ka radiacin. En cada caso, el ndice de las lneas, encuentre el sistema cristalino, Bravais celosa, y parmetro de red aproximada (o parmetros), e identificar el ekment de la tabulacin figura en el apndice 18. 10-5 10-6 10-7 10-8 0,0806 0,0603 0,1202 0,0768 0,0975 0,1610 0,238 0,0876 0,1122 0,221 0,357 0,0913 0,210 0,322 0,475 0,1645 0,226 0,383 0,593 0,231 0,274 0,484 0,711 0,274 0,305 0,545 0,830 0,308 0.321 0.645 0.319

CAPTULO 11 MEDICIONES PRECISAS DE PARMETROS

11.1 Introduccin. Muchas aplicaciones de difraccin de rayos X requieren precisa conocimientos del parmetro de red (o parmetros) de la materia en estudio. En general, estas aplicaciones implican soluciones slidas; desde el parmetro de red de una solucin slida vara con la concentracin de el soluto, la composicin de una solucin dada puede ser determinada a partir de un medicin de su parmetro de red. Coeficientes de expansin trmica Tambin se puede determinar, sin un dilatmetro, por mediciones de celosa

parmetro como una funcin de la temperatura en una cmara de alta temperatura. O el estrs en un material puede ser determinada midiendo la expansin o contraccin de su red como resultado de que el estrs. Puesto que, en general, una cambio en la concentracin de soluto (o temperatura, o el estrs) produce slo un pequeo cambio en el parmetro de red, las mediciones de parmetros bastante precisas deben realizarse con el fin de medir estas cantidades con precisin. En este captulo vamos a considerar los mtodos que se utilizan para obtener alta precisin, dejando las diversas aplicaciones que se discutirn en una tarde tiempo. Sustancias cbicos se tratar primero, porque son los ms sencillos, pero nuestras conclusiones generales tambin ser vlido para los materiales noncubic, que se discutir en detalle ms adelante. El proceso de medicin de un parmetro de red es muy indirecta, y afortunadamente es de tal naturaleza que la alta precisin es bastante fcil de obtener. El parmetro a de una sustancia cbico es directamente proporcional a la separacin d de cualquier conjunto particular de celosa aviones. Si medimos la Bragg ngulo 6 para este conjunto de planos, podemos utilizar la ley de Bragg para determinar d y, sabiendo d, podemos calcular. Sino es pecado 0, no 0, que aparece en la Bragg ley. La precisin en la d, o un tanto, depende de la precisin en el pecado 0, a magnitud derivada, y no en la precisin en 0, la cantidad medida. Es afortunado porque el valor de sin0 cambios muy lentamente con la

vecindad de 90, ya que la inspeccin de La figura. 1.11 o una tabla de senos se mostrar. Por esta razn, un valor muy preciso 324 20 40 60 6 (grados) 80 La figura. 11-1. La variacin de pecado con 0. El error en el pecado causado por una error dado en disminuye a medida que aumenta (A0 exagerada). H_l] INTRODUCCIN 326 de pecado puede obtenerse a partir de una medicin de 6 que no es en s especialmente precisa, siempre que 6 es cerca de 90. A = 85, por ejemplo, un 1 por ciento de error en conduce a un error en B pecado de slo 0,1 por ciento. Expresado en de otro modo, la posicin angular de un haz difractado es mucho ms sensible a un cambio dado en el espaciamiento de avin cuando 6 es grande que cuando es pequeo. Podemos obtener el mismo resultado directamente por la diferenciacin de la ley de Bragg con respecto a B. Obtenemos = ~ Cot0A0. (H-1) d En el sistema cbico, a = dVh2 + k2 + I 2 . Por lo tanto _Aa Arf, - rts = _ = - cot0A0. (11-2)

un d Cuna Desde 6 se aproxima a cero cuando se acerca 90, Aa / a, el error relativo en una causada por un error que aparece en 0, tambin se aproxima a cero a medida que acerca a los 90, o como enfoques 20 180. La clave para la precisin en las mediciones de parmetros por lo tanto, reside en el uso de rayos reflejados hacia atrs-que tienen 20 valores como cerca a 180 como sea posible. Aunque el error de parmetro desaparece como 20 180 planteamientos, no podemos observar un haz reflejado en este ngulo. Pero puesto que los valores de una calculado para las diferentes lneas en el patrn de acercarse al valor verdadero ms de cerca de 20 aumentos, deberamos ser capaces de encontrar el verdadero valor de una simple por el trazado de los valores medidos contra 20 y extrapolar a 20 = 180. Desafortunadamente, esta curva no es lineal y la extrapolacin de una relacin no lineal curva no es exacta. Sin embargo, puede demostrarse que si la medida los valores de a se representan frente a determinadas funciones de 0, en lugar de contra o 20 directamente, la curva resultante es una lnea recta que se pueden extrapolar con confianza. La mayor parte de este captulo est dedicado a mostrar cmo estas funciones pueden ser derivados y usados. Debido a que la forma exacta de la funcin depende del tipo de cmara empleada, que se tiene que considerar sucesivamente las distintas cmaras que se utilizan normalmente para el parmetro mediciones. Pero en primer lugar, podramos preguntar: qu clase de precisin es posible con tal mtodos? Sin ningn tipo de extrapolacin o ninguna atencin especial a la buena tcnica experimental, simplemente por la seleccin del parmetro calculado para la lnea de mayor ngulo en el patrn, por lo general puede obtener una precisin de 0,01. Dado que los parmetros de red de la mayora de las sustancias de metalrgica inters estn en la vecindad de 3 a 4A, esto representa una exactitud de

aproximadamente 0,3 por ciento. Con una buena tcnica experimental y el uso de la funcin adecuada extrapolacin, esta precisin se puede aumentar a 0,001 A, 326 mediciones de parmetros precisa [CAP. 11 o un 0,03 por ciento, sin mucha dificultad. Por ltimo, acerca de la mejor precisin que se puede esperar es 0.0001A, o 0,003 por ciento, pero esto se puede obtener slo por el gasto de esfuerzo considerable, tanto experimental y computacional. En el trabajo de alta precisin, es imperativo que las unidades en las que el parmetro medido se expresa, kX o A, se declar correctamente. En orden para evitar la confusin en este punto, se advierte al lector que revise el tema de estas unidades dado en la seccin. 3-4. 2.11 Debye-Scherrer cmaras. El enfoque general en la bsqueda de un funcin de extrapolacin es considerar los diversos efectos que pueden conducir a errores en los valores medidos de 6, y para averiguar cmo estos t errores en 6 variar con el ngulo 6 en s. Para una cmara de Debye-Scherrer, jefe fuentes de error en 6 son los siguientes: (1) Cine contraccin. (2) Radio de cmara incorrecta. (3) Off-centrado del espcimen. (4) La absorcin en la muestra. Puesto que slo la regin de la espalda-reflexin es adecuado para mediciones precisas, vamos a considerar estos diversos errores en trminos de "las cantidades S y 0, definida en la figura. 11-2. Sf es la distancia en la pelcula entre dos correspondientes reflexin back-lneas; 2 <f> es el suplemento de 26, es decir, </> = 90 6. Estas cantidades se relacionan con el radio R de la cmara por la ecuacin Sf

4R (H-3) El encogimiento de la pelcula, causado por el procesamiento y secado, se produce un error AS 'en la cantidad S'. El radio de la cmara tambin puede tener un error de un ascender na Afl. Los efectos de estos dos errores en el valor de <t> se pueden encontrar por escrito Eq. (11-3) en logartmica forma: En <f> = In S '- En 4 - En R. Diferenciacin a continuacin, da A <AS 'Aft = (11-4) 4> S 'R El error en <j> debido a la contraccin y el error radio viene dado por ^ AS 'y R \ U. (11-5) R 'FIGURA 11-2 11-2] Debye-Scherrer CMARAS (A) v,,, La figura. 11-3. Efecto de desplazamiento de la muestra en posiciones de la lnea. El error de contraccin puede ser minimizado mediante la carga de la pelcula de manera que el incidente haz entra a travs de un agujero en la pelcula, ya que retrorreflexin correspondiente lneas son entonces slo una corta distancia en la pelcula, y su separacin S 'es poco afectada por contraccin de la pelcula. El mtodo de carga de la pelcula se muestra en la figura. 6-5 (a) no es en absoluto adecuado para mediciones precisas. En su lugar, los mtodos de (b) o (c) de la figura. 6-5 se debe utilizar. Mtodo (c), la asimtrica o mtodo Straumanis de carga de la pelcula, se recomienda especialmente

desde ningn conocimiento de la radio de la cmara se requiere. Un espcimen fuera del centro tambin conduce a un error en 0. Cualquiera que sea el desplazamiento de la muestra del centro de la cmara, este desplazamiento puede siempre se divide en dos componentes, uno (Ax) paralelas al incidente la viga y otra (Ay) en ngulo recto con el haz incidente. El efecto del desplazamiento paralelo se ilustra en la figura. 11-3 (a). En lugar de estar en el centro de la cmara C ", el espcimen se desplaza una distancia a la Ax punto 0. Las lneas de difraccin estn registrados en D y C en lugar de a A y B, las posiciones de la lnea para una muestra debidamente centrado. El error en S 'es entonces (AC + DB) = 2DB, que es aproximadamente igual a 20AT, o AS '= 20N <t> 2Aaxsin 2. (11-6) El efecto de un desplazamiento espcimen en ngulo recto con el haz incidente [Fig. ll-3 (b)] es cambiar las lneas de A a C y de B a D. Cuando se Ay es pequeo, AC es casi igual a BD y as, con una buena aproximacin, ningn error en S 'es introducido por un desplazamiento de ngulo recto. El error total en S 'debido al desplazamiento muestra en una direccin inclinada al haz incidente viene dado por la ecuacin. (11-6). Este error en Sf provoca un error en el valor calculado de. Puesto que estamos considerando los diversos errores de uno en uno, ahora se puede poner el error radio A # igual a cero, por lo que la ecuacin. (11-4) se convierte en *S' (H-7) 328 mediciones de parmetros precisa [cap. 11 que muestra cmo un solo error en S 'afecta el valor de <t>. Mediante la combinacin Ecs. (11-3), (ll-), y (11-7), se encuentra que el error en <t> debido al hecho que la muestra est fuera del centro viene dada por

sen 2 ^>) Ax pecado </> cos </>. (11-8) o lo 4/i0 No se debe asumir que el error de centrado se retira cuando la espcimen es tan ajustado, con respecto al eje de rotacin de la cmara, que sin oscilacin perceptible puede ser detectada cuando se gira el eje. Este tipo de ajuste se da por sentado en esta discusin. El error fuera del centro se refiere a la posibilidad de que el eje de rotacin del eje no se encuentra en el centro de la cmara, debido a la construccin inadecuado de la cmara. La absorcin en la muestra tambin se produce un error en <. Este efecto, a menudo la principal causa de error en las mediciones de los parmetros, es, por desgracia muy difcil de calcular con precisin. Pero ya hemos visto, en La figura. 4-18 (b), que los rayos reflejados de nuevo-llegado casi en su totalidad de ese lado de la muestra que se enfrenta el colimador. Por lo tanto, a una aproximacin, el efecto de una muestra centrada, altamente absorbente es el mismo que que de una muestra no absorbente desplazado del centro de la cmara en la manera que se muestra en la figura. 11-3 (a). Por lo tanto, podemos suponer que la error en <t> debido a la absorcin, A fo <, se incluye en el error de centrado dado byEq. (11-8). Por lo tanto, el error de sobre-todo en </> debido a la contraccin de la pelcula, el error de radio, centrado error, y la absorcin, est dada por la suma de las Ecs. (11-5) y (11-8): / AS A # \ Ax A te <, / 2, c, A = I) <t> + sm </> cos </>. (1 1-9) \OK/1 Sino

= 90 0, A0 = A0, el pecado <t> = cos 0, y = sen cos <f> 0. Por lo tanto la ecuacin. (11-2) se convierte Ad cos = sen : A0 = A </> d sen cos <t> y Anuncio sin ^ r / AS 'A = # \ Ax 1 () <H pecado cos (11-10) d cos <L \ S 'R I R J En la regin posterior reflexin, <es pequeo y puede ser reemplazado, en el segundo trmino de la ecuacin. (11-10), por el pecado <cos <, puesto que el pecado << f> y cos </> 1, para 11-2] Debye-Scherrer CMARAS 329 valores pequeos de <t>. Entonces tenemos Ad / AS 'Ax popa \ = (1 h pecado 2 <t>. d \ S 'R R Los trminos entre parntesis son constantes para cualquier pelcula de uno, por lo que = K pecado 2 4 K = cos2 6, (11-11) d donde K es una constante. En consecuencia, tenemos el resultado importante que los errores fraccionarios en d son directamente proporcionales a cos 2

0, y por lo tanto enfoque de cero como cos2 6 se aproxima a cero o como enfoques 6 90. En la sistema cbico, == Tfcos2 0. (11-12) da Por lo tanto, para las sustancias cbicos, si el valor de una calculada para cada lnea en el patrn se representa frente a cos2 6, una lnea recta que debera dar como resultado, y la una, verdadero valor de una, se puede encontrar mediante la extrapolacin de esta lnea a cos2 6 = 0. (O, puesto que el pecado 2 0 = 1 cos 2 0, los diversos valores de A puede ser trazada contra sen2 0, y la lnea extrapolada al pecado 2 0 = 1.) De las diversas aproximaciones implicadas en la derivacin de la ecuacin. (1 1-12), es evidente que esta ecuacin es verdadera slo para valores grandes de 6 (pequea valores de #). Por lo tanto, slo las lneas que tiene de 6 valores mayores que aproximadamente 60 se debe utilizar en la extrapolacin, y las lneas ms hay con mayor que 80, ms precisa es el valor de un () obtenido. Para aumentar el nmero de lneas en la regin de la espalda-reflexin, es prctica comn emplear radiacin no filtrada de modo que K / 3 as como Ka puede ser reflejado. Si

el tubo de rayos X es desmontable, objetivos especiales de aleacin tambin se puede utilizar para aumentar el nmero de lneas; o exposiciones dos puede ser hecha en la misma pelcula con diferentes radiaciones caractersticas. En cualquier caso, no debe ser nunca asume que el proceso de extrapolacin puede producir automticamente una valor preciso de una de las mediciones hechas por descuido sobre una pelcula de pobres calidad. Para alta precisin, las lneas deben ser agudo y el doblete Ka bien resuelto en ngulos altos, lo que significa a su vez que las partculas individuales de la muestra debe estar libre de tensin y no muy bien tambin. Las posiciones de las lneas se debe determinar con cuidado y lo mejor es medir cada uno dos o tres veces y promedie los resultados. En el cmputo de cada lnea, la longitud de onda adecuada se debe asignar a cada componente del doblete Ka cuando se resuelve que la lnea y, cuando no se ha resuelto, la media ponderada longitud de onda debe ser utilizado. Para ilustrar este mtodo de extrapolacin, vamos a considerar un patrn de polvo de tungsteno hecho en una cmara de Debye-Scherrer 5,73 cm de dimetro con radiacin de cobre filtrada. Los datos para todas las lneas que tienen valores de 330 mediciones de parmetros PRECISAS TABLA 11-1 [CAP. 11 mayor que 60 se dan en la Tabla 11-1. La deriva en el un computarizada valores es evidente: en general aumentan con 6 y tienden a acercarse a la un verdadero valor a altos ngulos. En la fig. 11-4, estos valores se trazan de una contra el pecado 2 6, y ao se encuentra por extrapolacin a ser 3.165A. Otras funciones de 0, adems de pecado

2 o cos2 0, se puede utilizar como una base para extrapolacin. Por ejemplo, si sustituimos el pecado <cos <f> en la ecuacin. (11-10) por <t>, en lugar de reemplazar </> por el pecado 4> cos <, obtenemos = K <t> tan 0. d Por lo tanto, una trama de una contra </> tan <tambin ser lineal y extrapolar a una en <t> tan = 0. En la prctica, no hay mucha diferencia entre un extrapolacin contra <<f> bronceado y otro en contra cos2 (O pecado 2 0), y ya sea dar resultados satisfactorios. Si las diversas fuentes de error, en particular absorcin, se analizan con ms rigor que hemos hecho aqu, se puede se muestra que la relacin ~ cos2 d Arf T / Cos2 K( \ Sin0 cos2 6 \ = 3,170 tf i 3165 1 0.2 0.3 sostiene con bastante precisin a muy bajos valores de 6 y no slo en el alto

ngulos. El valor de AO se puede encontrar trazando una contra (cos 2 0/sin 6 + cos2 0/6), que se aproxima a cero como 6 W|3 3 155 J.O 0,9 n <2 08 07 La figura. 11-4. La extrapolacin de las medidas parmetros de red contra sen2 6 (O cos2 0). enfoques 90. Aunque es dudoso si cualquier ventaja resultados el uso de (cos 2 0/sin 6 + cos2 6/6) en lugar de cos 2 6 en la regin de la espalda-reflexin, la mayor gama de linealidad de la primera funcin es una ventaja en ciertos casos. Cristales Noncubic presentar dificultades adicionales, independientemente de la particular funcin de extrapolacin elegido. (En la discusin siguiente, se

11-2] Debye-Scherrer CMARAS 331 limitaremos nuestra atencin a los cristales hexagonales y tetragonales, pero el mtodos que se describen pueden ser generalizados a aplicar a cristales de todava . menor simetra) La dificultad es simplemente esto: la posicin de una lnea que ha hkl ndices est determinada por dos parmetros, a y c, y es imposible para calcular tanto de ellos del pecado observada 2 El valor de esa lnea solo. Una forma de evitar este problema es hacer caso omiso de las lneas hkl y dividir el resto en dos grupos, aquellos con ndices HKO y los con ndices 001. Un valor de a se calcula para cada lnea HKO y un valor de c de cada lnea 001, dos extrapolaciones separados entonces se hacen para encontrar a y c. Dado que por lo general hay muy pocos HKO y 001 lneas en la retrorreflexin regin, algunas lneas de bajo ngulo tienen que ser incluidos, lo que significa las extrapolaciones que se debe hacer frente a (cos 2 0/sin + cos 2 0/0) y no contra cos 2 0. Y si no hay lneas del tipo HKO y 001 con mayor que 80, incluso la primera funcin no asegurar una precisa extrapolacin. Un mtodo mejor, pero ms laborioso, y uno que utiliza todos los datos, es el de aproximaciones sucesivas. En el sistema tetragonal, por ejemplo, el valor de a para cualquier lnea est dada por Yo

2 (11-13) xr a = (2sm0L El primer paso es calcular los valores aproximados, \ a, y CI, de la red parmetros de las posiciones de las dos lneas de mayor ngulo, como se hizo en la seccin. 10-4. La relacin axial aproximada Ci / a \ A continuacin se calcula y utilizado en la ecuacin. (11-13) para determinar un valor de una para cada lnea de alto ngulo en la patrn. Estos valores de a se extrapolan contra cos 2 para encontrar una valor ms exacto de una, es decir, a2. El valor de c2 se encuentra en semejante moda por el uso de la relacin 2sm0 y otro extrapolacin contra cos 2 6. El proceso se repite con el nuevo valor de la c2/a2 relacin axial para producir valores todava ms precisas de los parmetros, a saber, C3 y A3. Tres extrapolaciones son generalmente suficientes para fijar los parmetros con alta precisin. Adems, la exactitud de cada extrapolacin puede ser mejorada mediante una eleccin adecuada de las lneas. Para ejemplo, el valor de una calcula a partir de la ecuacin. (11-13) es slo ligeramente afectado por inexactitudes en c / a cuando (h 2 + k2 ) Es grande en comparacin con Z 2 , Ya que el

plazo, que incluye c / a es en s pequeo. Por lo tanto, las lneas con gran h y k ndices y un pequeo ndice I debe ser elegido para cada determinacin de una. Justo lo contrario es cierto en la determinacin de C, como la inspeccin de la ecuacin. (11-14) se mostrar. 332 mediciones de parmetros precisa [cap. 11 cos2 e (] e cos2 (A) (b) La figura. 11-5. Las formas extremas de las curvas de extrapolacin (esquema): (a) grandes sistemticos errores, pequeos errores aleatorios, (b) errores sistemticos pequeos, grandes aleatorios errores. Para concluir esta seccin, algunas observaciones generales sobre la naturaleza de los errores No estar de ms. En la medicin de un parmetro de red, como en muchos otras observaciones fsicas, dos tipos de error estn involucrados y sistemticas ^ y al azar. Un error sistemtico es uno que vara de una manera regular con algn parmetro en particular. As, los errores fraccionarios en una debido a los diferentes efectos considerados anteriormente (contraccin de la pelcula, radio incorrecto, descentrado espcimen, absorcin) son todos los errores sistemticos debido a que varan en una forma regular con B, disminuyendo a medida que aumenta B. Adems, una sistemtica error es siempre del mismo signo: por ejemplo, el efecto de absorcin en un Debye-Scherrer cmara es siempre hacer que el valor calculado de menos de un el valor real. Los errores aleatorios, por otro lado, son la oportunidad ordinaria errores que intervienen en cualquier observacin directa. Por ejemplo, los errores implicados en la medicin de las posiciones de las distintas lneas en una pelcula de arco errores aleatorios; que puede ser positivo o negativo y no varan de manera peridica con la posicin de la lnea en la pelcula. Como ya hemos visto, los errores sistemticos en un enfoque de cero como B

enfoques 90, y pueden ser eliminados por el uso de la extrapolacin adecuada funcin. La magnitud de estos errores es proporcional a la pendiente de la lnea de extrapolacin y, si estos errores son pequeos, la lnea ser bastante plana. De hecho, si a propsito aumentar los errores sistemticos, por ejemplo, mediante el uso un valor ligeramente incorrecta de la cmara de radio en nuestros clculos, la pendiente de la lnea se incrementar, pero el valor extrapolado de un permanecer la misma. Los errores aleatorios involucrados en la medicin de posiciones de la lnea muestran como errores aleatorios en una, y son responsables de la desviacin de los diversos puntos desde la lnea de extrapolacin. Los errores aleatorios en una tambin disminuir en magnitud a medida que aumenta B, debido fundamentalmente a la variacin lenta de pecar con ngulos grandes. Estos diversos efectos se resumen grficamente en la figura. 1 a 5 en. En (a) los puntos calculados conforme muy de cerca a la lnea, indicando pequeo errores aleatorios, pero la lnea en s es bastante elevado debido a la gran sistemtica 11-4] 333 cmaras estenopeicas errores. La situacin opuesta se muestra en (b): aqu el error sistemtico es pequeo, pero la amplia dispersin de los puntos de muestra que los errores aleatorios grandes Se han hecho. En la medida en la dificultad de extraer los aumentos de lnea con el grado de dispersin, es evidente que todos los esfuerzos posibles deben hacerse para reducir al mnimo los errores aleatorios en la salida. 11.03 Back-reflexin se centra cmaras. Una cmara de este tipo se prefiere para el trabajo de la ms alta precisin, ya que la posicin de una difraccin lnea en la pelcula es dos veces ms sensible a pequeos cambios en el espaciado plano con esta cmara, ya que es con una cmara de Debye-Scherrer del mismo dimetro. Es, por supuesto, no est libre de fuentes de error sistemtico. El ms importante de estos son los siguientes: (1) Cine contraccin.

(2) Radio de cmara incorrecta. (3) Desplazamiento de muestra de la circunferencia de la cmara. (4) La absorcin en la muestra. (Si la muestra tiene una absorcin muy baja, muchos de los rayos difractados se originan en puntos fuera de la circunferencia de la cmara a pesar de que la superficie de la muestra coincide con la circunferencia.) Un anlisis detallado de estas diversas fuentes de error muestra que producen errores fraccionarios en d que son muy cercanamente proporcional a <0, bronceado donde </> es de nuevo igual a (90 8). Esta funcin es por tanto el de utilizar en la extrapolacin de los parmetros de red medidos con esta cmara. 11-4 cmaras estenopeicas. La cmara oscura, que se utiliza en la reflexin posterior, es realmente no es un instrumento de alta precisin en la medicin de la celosa parmetros, pero se menciona aqu por su utilidad muy grande en metalrgica trabajar. Dado que tanto la pelcula y la superficie de la muestra son planas, sin de enfoque de los rayos difractados se produce, y es el resultado de que la difraccin las lneas son mucho ms amplio que es normalmente deseable para la medicin precisa de sus posiciones. Las principales fuentes de error sistemtico son las siguientes: (1) Cine contraccin. (2) Incorrecto muestra a pelcula distancia. (3) La absorcin en la muestra. En este caso, puede demostrarse que el error relativo de d es proporcional al pecado 40 <bronceado, oa los cos expresin equivalente 2 8 (2 cos 2 6 1), donde = (90 6). Con cualquiera de estos extrapolacin funciona bastante precisa una valor del parmetro de red se puede conseguir, adems, la retrorreflexin

cmara estenopeica tiene la ventaja particular de que montado metalogrfico las muestras pueden ser examinados directamente. Esto significa que un parmetro determinacin se puede hacer en la misma parte de una muestra como la examinada bajo el microscopio. Un examen doble de este tipo es muy valioso en muchos problemas, especialmente en la determinacin de los diagramas de fase. 334 mediciones de parmetros precisa [cap. 11 06.11 difractmetros. El difractmetro comercial es un lugar nuevo uso de instrumentos y relativamente poco se ha hecho de la misma para la precisin medicin de parmetros de red. Por esa razn, no vlidas en general procedimiento para su uso en tales mediciones se ha ideado, y hasta esto se hace la cmara de visin posterior reflexin se centra debe ser reconocido como el instrumento ms preciso para mediciones de parmetros. Una razn de la inferioridad del difractmetro a este respecto es el imposibilidad de observar el mismo cono de respaldo de la radiacin reflejada tanto en lados del haz incidente. Por lo tanto, el experimentador no tiene ninguna automtico verificar la exactitud de la escala angular del instrumento o de la precisin de su alineacin. Cuando un difractmetro se utiliza para medir distancias del plano, el ms importantes fuentes de error sistemtico en d son las siguientes: (1) La desalineacin del instrumento. En particular, el centro de la haz incidente debe formar interseccin con el eje y la posicin del difractmetro de la rendija receptora. (2) El uso de una muestra plana en lugar de una muestra curvada para adaptarse a el crculo de enfoque. (3) La absorcin en la muestra. (4) Desplazamiento de la muestra desde el eje difractmetro. (Esta suele ser la mayor fuente de error.)

(5) divergencia vertical del haz incidente. Estas fuentes de error que el error relativo de d a variar en un complicado forma con 0, de modo que ninguna funcin simple extrapolacin se puede utilizar para obtener una alta precisin. Debido a que algunos de, pero no todas, estas fuentes de error causar Ad / d es aproximadamente proporcional a cos 2 0, a bastante exacta valor del parmetro de red se puede conseguir por simple extrapolacin contra cos2 0, al igual que con la cmara de Debye-Scherrer. Por lo tanto, en la luz de los conocimientos actuales, el procedimiento sugerido es: (A) Alinee cuidadosamente las partes componentes del instrumento de acuerdo con las instrucciones del fabricante. (B) Ajuste de la superficie de la muestra para que coincida lo ms estrechamente posible con el eje difractmetro. (C) Extrapolar los parmetros calculados contra cos2 8. Este procedimiento, sin duda, se mejorar la experiencia adicional con este instrumento se acumula. De hecho, algunos investigadores consideran que parmetros de red que un da ser medible con el difractmetro con mayor precisin que con cualquier tipo de cmara de polvo, pero si esta es verdad o no an est por verse. Hay, sin embargo, una circunstancia en que el difractmetro es superior a una cmara para mediciones de parmetros y que es wheij las lneas de difraccin son anormalmente amplio; este aplicacin particular se presenta en la medicin de la tensin y se describirn en el Cap. 17. 11-6] mtodo de los mnimos 335 PLAZAS

11-6 mtodo de mnimos cuadrados. Todos los mtodos previamente descritos de mediciones en parmetros de red depender en parte de extrapolacin grfica. Su exactitud por lo tanto depende de la precisin con la que una lnea recta se puede dibujar a travs de un conjunto de puntos experimentales, cada uno de los que est sujeto a errores aleatorios. Sin embargo, las personas diferentes, en general, dibujar lneas ligeramente diferentes a travs del mismo conjunto de puntos, de modo que sea deseable disponer de un mtodo objetivo, analtico de encontrar la lnea que mejor ajuste a los datos. Esto se puede hacer por el mtodo de los mnimos cuadrados. Desde este mtodo puede ser utilizado en una variedad de problemas, que se describirn aqu de una manera muy general, en la siguiente seccin, su aplicacin al parmetro mediciones se abordar en detalle. Si un nmero de mediciones se realizan de la misma magnitud fsica y si estas medidas estn sujetas nicamente a errores aleatorios, entonces el teora de estados menos plazas que el valor ms probable de la medida cantidad es la que hace que la suma de los cuadrados de los errores de un mnimo. La demostracin de este teorema es demasiado largo para reproducirlo aqu, pero podemos por lo menos demostrar su razonabilidad por el siguiente ejemplo. Supongamos cinco mediciones separadas estn hechos de la misma magnitud fsica, decir el tiempo requerido para que un cuerpo que cae para dejar caer una distancia dada, y que estas mediciones dan los siguientes valores: 1,70, 1,78, 1,74, 1,79, y 1,74 seg. Sea X igual a el valor ms probable del tiempo. Entonces el error en la primera medicin es ei = (x - 1,70), el error en el segundo es e2 = (x - 1,78), y as sucesivamente. La suma de los cuadrados de los errores se da por Z (e 2 ) = (X - 1,70)

2 + (x - 1,78) 2 + (X - 1,74) 2 + (x - 1,79) 2 + (x - 1,74) 2 . Podemos minimizar la suma de los errores cuadrticos mediante la diferenciacin de esta expresin con respecto a x e igualando el resultado a cero: ^-T = 2 (x - 1,70) + 2 (x - 1,78), + 2 (x - 1,74) + 2 (x - 1,79) dx + 2 (x - 1,74) de dnde x = 1,75 seg. Por otra parte, la media aritmtica de las mediciones es tambin 1,75 seg. Esto no nos debe sorprender que sabemos, casi intuitivamente, que la media aritmtica de un conjunto de mediciones da la ms probable valor. Este ejemplo puede parecer trivial, en el que nadie se tome la apuro para utilizar el mtodo de los mnimos cuadrados cuando el mismo resultado puede ser obtenido por un simple promedio, pero al menos ilustra el principio bsico implicado en el mtodo de mnimos cuadrados. 336 mediciones de parmetros precisa [cap. 11 Naturalmente, hay muchos problemas en los que el mtodo de sencillo promediacin no se puede aplicar y se convierte entonces en el mtodo de los mnimos cuadrados particularmente valioso. Consideremos, por ejemplo, el problema mencionado anteriormente, el de encontrar la lnea recta que mejor se ajusta a un conjunto de experimentalmente

determinar puntos. Si slo hay dos puntos, no hay ningn problema, porque las dos constantes que definen una lnea recta puede ser inequvocamente determina a partir de estos dos puntos. Pero, en general, no habr ms puntos disponibles de las constantes que se determinen. Supongamos que los diversos puntos tienen coordenadas x \ y \, X2Y2, # 32/3, y que se sabe que X e Y estn relacionados por una ecuacin de la forma y - a + bx. (11-15) Nuestro problema es encontrar los valores de las constantes a y 6, ya que stos definen la lnea recta. En general, la lnea no pasa exactamente a travs cualquiera de los puntos ya que cada uno est sujeto a un error aleatorio. Por lo tanto cada uno punto est en error por una cantidad determinada por su desviacin de la lnea recta. Por ejemplo, la ecuacin. (11-15) establece que el valor de y correspondiente a x = x \ es (a tei +). Sin embargo, el punto experimental primero tiene un valor de y = y \. Por lo tanto e ^ el error en el primer punto, se da por ei = (a + 6x0 - yi. Podemos calcular los errores en los otros puntos de manera similar, y luego escribir la expresin para la suma de los cuadrados de estos errores: 2 (e 2 ) = (A + bx l - Yi) 2 + (a + bx2 - y2) 2 +. (1 1-16) De acuerdo con la teora de los mnimos cuadrados, el "mejor" lnea recta es que lo que hace que la suma de los errores cuadrticos mnimos. Por lo tanto, la mejor valor de a se encuentra diferenciando la ecuacin. (11-16) con respecto a una e igualando el resultado a cero:

= 2 (a + bxl - Yi) + 2 (A + bx2 - y2) + --- = 0, da o Sa + fcSz - Zy = 0. (11-17) El mejor valor de b se encuentra en una forma similar: 2xi = (a + bxl - Yi) + 2x2 (a + 6 bis * - 2) + = 0> d& o + + B2 - 2x = 0. (11-18) Las ecuaciones (11-17) y (11-18) son las ecuaciones normales. Simultneo solucin de estas dos ecuaciones se obtienen los mejores valores de a y 6, el cual a continuacin, se puede sustituir en la ecuacin. (11-15) para obtener la ecuacin de la lnea. 11-6] mtodo de mnimos cuadrados 337 Las ecuaciones normales como escritas anteriormente puede reordenarse como sigue: Zt / = Sa + 62x y (11-19) La comparacin de estas ecuaciones y Eq. (11-15) muestra que la siguiente reglas pueden ser establecidas para la formacin de las ecuaciones normales: (A) Sustituye los valores experimentales de xey en la ecuacin. (11-15). Si hay n puntos experimentales, n ecuaciones en A y B se traducir. (B) Obtener la ecuacin normal en primer lugar, multiplicar cada una de estas n ecuaciones por el coeficiente de una en cada ecuacin, y aadir. (C) Para obtener la segunda ecuacin normal, se multiplica cada ecuacin el coeficiente de b, y aadir. A modo de ejemplo, supongamos que determinar la mejor lnea recta a travs de los siguientes cuatro puntos: Las ecuaciones normales se obtienen en tres pasos:

(A) La sustitucin de los valores dados: 15 = a + 106 11 = a + 186 11 = a + 306 8 = a + 426 (B) Multiplicacin por el coeficiente de un: 15 = 11 = 11 = 8= 106 186 306 426 45 = 4a + 1006 (primera ecuacin normal) (C) Multiplicacin por el coeficiente de 6: 150 = 10a + 1006 198 = 18a + 3246 330 = 30a + 9006 336 = 42a + 17 646 1014 = 30.886 + lOOa (segunda ecuacin normal) 338 mediciones de parmetros precisa [CAP. 11 Solucin simultnea de las dos ecuaciones normales da un 16,0 y = 6 = -0,189. La recta requerida lnea es por lo tanto y = 16,0 a 0,189 *.

Esta lnea se muestra en la figura. 11-6, junto con los cuatro puntos dados. El mtodo de mnimos cuadrados no es confinado a encontrar las constantes de un lnea recta, sino que puede ser aplicado a cualquier tipo de curva. Supongamos, por ejemplo, que x e y son conocidas por estar relacionadas por una ecuacin parablica y = a + bx + ex 2 . 20 15 10 10 20 30 40 50 La figura. 11-6. Mejor lnea recta, determinada por mtodo de mnimos cuadrados. Puesto que hay tres constantes desconocidas aqu, tenemos tres ecuaciones normales. Estos son Si / = Sa + + b2x cSx2 , (11-20) 2x2 y - aZz2 blx + * + cSx4 , Estas ecuaciones normales se pueden encontrar por los mismos mtodos que se usaron para el caso de lnea recta, es decir, la multiplicacin sucesiva del n observacional

ecuaciones por los coeficientes de a, 6, y C, seguido de la adicin de las ecuaciones en cada conjunto. Cabe sealar que el mtodo de mnimos cuadrados no es una manera de encontrar la mejor curva para ajustarse a un conjunto dado de observaciones. El investigador debe saber desde el principio, desde su comprensin del fenmeno involucrado, el tipo de relacin (lineal, parablica, exponencial, etc), las dos cantidades x e y se supone que obedecer. Todo el mtodo de mnimos cuadrados se puede hacer es dar l los mejores valores de las constantes de la ecuacin que elige, pero lo hace esto de una manera muy objetiva e imparcial. 11-7 mtodo de Cohen. En las secciones anteriores hemos visto que la valor ms preciso del parmetro de red cbica de una sustancia se encuentra representando grficamente el valor de una calculada para cada reflexin contra un determinado funcin, que depende del tipo de cmara utilizada, y extrapolando a un valor en un 6 = 90. Dos cosas diferentes se consiguen mediante este procedimiento: (A) Los errores sistemticos son eliminados por la seleccin de la adecuada funcin de extrapolacin, y (b) errores aleatorios se reduce en proporcin a la habilidad del investigador en la elaboracin de la mejor lnea recta a travs de la 11-7] mtodo de Cohen 339 puntos experimentales. MU Cohen propone, en efecto, que los mnimos cuadrados mtodo se utiliza para encontrar la mejor lnea recta de manera que los errores aleatorios se reducira al mnimo de una manera reproducible y objetiva. Supongamos que una sustancia cbico est siendo examinado en una cmara de Debye-Scherrer. Entonces, la ecuacin. (11-12), a saber, DA AA == # Cos2 0, (11-12) da

define la funcin de extrapolacin. Pero en lugar de utilizar los mnimos cuadrados mtodo para encontrar la mejor lnea recta sobre una parcela de una contra cos2 0, Cohen Aplicando el mtodo a la observada pecado 2 6 valores directamente. Al elevar al cuadrado la ley de Bragg y tomando logaritmos de cada lado, se obtiene (X -2 \ J - En 2 d. Diferenciacin a continuacin, da Un pecado 2 6 2Ad d sm Sustituyendo esto en la ecuacin. (11-12) se encuentra como el error en el pecado 2 6 vara con 6: Un pecado 2 6 =-2K pecado 2 6 cos 2 6 = D pecado

2 26, (11-22) donde D es una nueva constante. [Esta ecuacin es vlida solamente cuando el cos2 funcin de extrapolacin es vlida. Si alguna funcin extrapolacin es otro utilizado, la ec. (11-22) debe modificarse en consecuencia.] Ahora, el verdadero valor de pecado 2 6 para cualquier lnea de difraccin se da por X2 pecado 2 9 (true) = (H 2 + k2 + I 2 ), 4a 2 donde a, el verdadero valor del parmetro de red, es la cantidad que se buscando. Sino pecado 2 6 (observado) pecado 2 6 (true) = A sen 2 6, X2

pecado 2 e --(H 2 + fc 2+I 2 ) = D pecado 2 20, 4oo 2 pecado 2 = Ca + Ad, (11-23) donde C = X2 / 4a 2 , A = (ft 2 + k2 + I 2 ), A = D/10, y 6 = 10 pecado 2 20. (El factor de 10 se introduce en las definiciones de las cantidades A y d nicamente para hacer los coeficientes de los diversos trminos en las ecuaciones normales del mismo orden de magnitud.)

340 mediciones de parmetros precisa [cap. 11 Los valores experimentales del pecado 2 0, a, d y ahora se sustituye en Eq. (11-23) para cada una de las n lneas de reflexin posterior-utilizados en la determinacin. Esto da n ecuaciones en el desconocido C constantes y A, y estos ecuaciones se pueden resolver para los valores ms probables de C y A por la mtodo de los mnimos cuadrados. Una vez que C se encuentra, OQ puede calcularse directamente a partir de la relacin dada anteriormente; la constante A se relaciona con la cantidad de error sistemtico implicado y es constante para cualquier pelcula, pero vara ligeramente de una pelcula a otra. Las dos ecuaciones normales que tenemos que encontrar C y A se encuentra de la ecuacin. (11-23) y las reglas previamente determinado. Ellos son Sasin2 = 26 pecado 2 6 = C2a5 + A282 . Para ilustrar la forma en que estos clculos se llevan a cabo, nosotros aplicar el mtodo de Cohen a una determinacin del parmetro de red de tungsteno a partir de las mediciones realizadas en el patrn que se muestra en la figura. 6-10. Desde este patrn se hizo con una copia de la reflexin simtrica cmara de enfoque, la funcin de extrapolacin es correcta Anuncio = K <t> tan <t>. d Sustituyendo esto en la ecuacin. (11-21), tenemos

Un pecado 2 =-2K <t> pecado 2 Tan 6 = ^ 2K0cos2 bronceado = D <t> pecado 20, donde D es una nueva constante. Por tanto, podemos escribir, por cada lnea de la patrn, X2 pecado 2 B = cos2 --(H? + K2 + I 2 ) + D <t> pecado 20, (11-24) 4a 2 C0s 2 = Ca + A5, (11-25) donde C = X2 / 4a 2 , A = (h 2 + k2 + I 2 ), A = D/10, y 8 = 100 sen 20. Ecuacin 11-24 no se puede aplicar directamente porque las lneas debido a tres

longitudes de onda diferentes (Cu Kai, Cu Ka%, y Cu K / 3) estn presentes en la patrn, lo que significa que X vara de lnea a lnea, mientras que en la ecuacin. (11-24) se trata como una constante. Sin embargo, los datos pueden ser "normalizado" con una cualquiera longitud de onda mediante el uso del factor de multiplicacin adecuada. Por ejemplo, supongamos decidimos normalizar todas las lneas a la longitud de onda Kfi. Entonces, por un 11-7] mtodo de Cohen TABLA 11-2 341 determinada lnea formada por la radiacin Kai, por ejemplo, tenemos COS2 <t> Kai = Ot + A8xai, / X A, + (2) ASKai. \ X VA / JCai / - 2 / De la ley de Bragg, Cosj 4> A-ai = COS2 <t> Ka, = COS2 <t> KTL, cos donde (\ K0 2 / ^ Kai 2 ) F> Ka}

es un normalizado 5. La ecuacin (11-26) se refiere ahora slo a la longitud de onda K / 3. Lneas debido a la radiacin Ka ^ pueden normalizarse de una manera similar. Cuando esto se ha hecho para todas las lneas, la cantidad C en la ecuacin. (11-25) es entonces una verdadera constante, igual a XAR j3 2 / 4a 2 . Los valores de de los dos factores de normalizacin, para la radiacin de cobre, estn = 0.816699 y 0.812651 =. La Tabla 11-2 muestra los valores observados y normalizado de cos2 <t> y 6 para cada lnea en el patrn de tungsteno. Los valores de 6 no necesita ser calculado a ms de dos cifras significativas, ya que se produce en la ecuacin 6. (11-25) slo en el ltimo trmino, que es muy pequeo en comparacin con los otros dos. De los datos de la tabla 11-2, se obtiene Sa 2 = 1628, 252 = 21.6, 2A5 = 157,4, Sa cos2 <t> = 78,6783, 25 cos 2 <f> = 7,6044. 342 mediciones de parmetros precisa [cap. 11 Las ecuaciones normales son = 78,6783 + 1628C 157.4A, 7,6044 = 157.4C + 21.6A. La resolucin de estos, encontramos

C=X*0 2 / 4a 2 = 0,0483654 y a = 3. 1651A, A = -0,000384. La constante A, llamado la constante de deriva, es una medida del total sistemtica error involucrado en la determinacin. Mtodo de Cohen de la determinacin de parmetros de red es an ms valioso cuando se aplica a las sustancias noncubic, ya que, como vimos en la seccin. En 1 a 2, directo extrapolacin grfica no puede utilizarse cuando hay ms de un parmetro de red implicados. Mtodo de Cohen, sin embargo, proporciona una directa medios de determinacin de estos parmetros, aunque las ecuaciones son naturalmente ms complejos que los que se necesitan para las sustancias cbicos. Por ejemplo, suponer que la sustancia en cuestin es hexagonal. Entonces X2 4 h2 + k2 + hk \ 2 Yo 2 pecado 2 6 (true) = - + ^ y X2 X2 pecado 2 6 (h 2 + hk + k2

) (I 2 ) = D pecado 2 26, 3a 4c 2 2 si el patrn se realiza en una cmara de Debye-Scherrer. Reordenando esta ecuacin y la introduccin de nuevos smbolos, obtenemos sen2 6 = Ca + By +, 46, (11-27) donde C = X2 / 3a 2 , A = (h 2 + hk + / c 2 ), B = X2 / 4c 2 ,7=I 2 , A = D/10, y 6 = 10 pecado 2 26. Los valores de C, #, y A, de las cuales slo las dos primeras son realmente necesarias, se encuentran desde las tres ecuaciones normales:

Za pecado 2 6 = CZa2 + + B2ay Azat, S7 pecado 2 6 = CZay + + BZy2 AZyd, S6 pecado 2 6 = CSA + + fiZfry A282 . 11.8 Mtodo de calibracin. Un procedimiento para la obtencin de otro precisa parmetros de red vale la pena mencionar, aunque slo sea por su relativa simplicidad, y que es el mtodo de calibracin ya mencionado en la seccin. 6-7. Es sobre la base de una calibracin de la cmara de la pelcula (o difractmetro escala angular) por medio de una sustancia de parmetro de red conocida. PROBLEMAS 343 Si la muestra cuyo parmetro se va a determinar es en la forma de un en polvo, que se mezcla simplemente con la sustancia en polvo estndar y un patrn hecho del polvo compuesto. Si la muestra es una policristalino pieza de metal, el polvo estndar puede ser mezclado con petrleo jalea y se unta sobre la superficie de la muestra en una pelcula delgada. La cantidad de la sustancia estndar utilizada debe ajustarse de modo que las intensidades de las lneas de difraccin de la norma y los de la muestra no son muy desiguales. Puesto que el ngulo real puede calcularse para cualquier lnea de difraccin de la sustancia estndar, una curva de calibracin Se pueden preparar relacionar el ngulo real de 6 a distancia a lo largo de la pelcula de la cmara (O posicin angular en la escala difractmetro). Esta curva se utiliza luego para encontrar el ngulo 6 cierto para cualquier lnea de difraccin de la muestra, ya

se puede suponer que los errores sistemticos involucrados en la determinacin afectar a las lneas de difraccin de ambas sustancias en la misma forma. Este mtodo funciona mejor cuando hay una lnea de difraccin de la norma sustancia muy cerca de una lnea de la muestra y las dos lneas estn en la regin de la espalda-reflexin. Prcticamente todos los errores sistemticos son as eliminados. Para lograr esta condicin requiere una eleccin inteligente de la sustancia estndar y / o la longitud de onda incidente. El ms popular sustancias estndar son probablemente cloruro de sodio y de cuarzo, aunque metales puros tales como el oro y la plata son tambin tiles. Una desventaja del mtodo de calibracin es que la exactitud de la la determinacin de parmetros depende de la precisin con la que el parmetro de la sustancia estndar es conocida. Si el valor absoluto de la parmetro de la norma es conocida, entonces el mtodo de calibracin da la valor absoluto del parmetro de la muestra con bastante precisin. Si no, a continuacin, slo un valor relativo del parmetro de la muestra se puede obtener, pero es un valor relativo exacto. Y muchas veces esto no es una desventaja en absoluto, ya que se han interesado solamente en las diferencias en la parmetros de un nmero de muestras y no en los valores absolutos de estos parmetros. Si se requieren valores absolutos, el nico procedimiento seguro es medir la valor absoluto del parmetro de la sustancia estndar por uno de los mtodos descritos en las secciones anteriores. No se debe suponer que una muestra particular de cuarzo, por ejemplo, tiene los parmetros de red exactas tabulados en "cuarzo" en algn libro de referencia, debido a esta particular muestra puede contener impurezas en solucin slida suficientes para hacer sus parmetros de red difieren sensiblemente de los valores tabulados. PROBLEMAS

11-1. El parmetro de red de cobre se ha de determinar con una exactitud de dbO.OOOlA a 20C. Dentro de qu lmites debe la temperatura de la muestra ser controlado si los errores debidos a la expansin trmica deben ser evitados? El lineal coeficiente de expansin trmica del cobre es de 16,6 X 10 ~ 6 in. / in. / C. 344 mediciones de parmetros precisa [cap. 11 11-2. Los siguientes datos se obtuvieron de un modelo de Debye-Scherrer de un sustancia cbica simple, hecha con radiacin de cobre. Los dados sin2 6 valores son para las lneas de Koli solamente. h * + A: P 2 + sen2 38 0.9114 40 0.9563 41 0.9761 42 0.9980 Determinar el parmetro de red a, una precisin de cuatro cifras significativas, por grfica extrapolacin de una contra cos2 6. 11-3. A partir de los datos dados en el problema. 11-2, determinar el parmetro de red a cuatro cifras significativas por el mtodo de Cohen. 11-4. A partir de los datos dados en la Tabla 11-2, determinar el parmetro de red de tungsteno cinco cifras significativas por extrapolacin grfica de un contra <j> tan <t>. 11-5. Si el error relativo en el plano de separacin d es exactamente proporcional a la funcin (cos 2 0/sin 6 + cos2 6/6) en toda la gama de 0, muestran que una parcela Una de sen2 sen2 6 contra 6 tiene un mximo, como se ilustra para un caso particular por

La figura. 10-1. Aproximadamente a qu valor de 6 es el mximo ocurrir?

CAPTULO 12 DIAGRAMA DE FASE DETERMINACIN

12.1 Introduccin. Una aleacin es una combinacin de dos o ms metales, o de metales y no metales. Puede consistir en una sola fase o de una mezcla de fases, y estas fases pueden ser de diferentes tipos, dependiendo slo en la composicin de la aleacin y la temperatura, * siempre que la aleacin est en equilibrio. Los cambios en la constitucin de la aleacin producida por los cambios propuestos en la composicin o temperatura puede ser convenieptly mostrado por medio de un diagrama de fase, tambin llamada un diagrama de equilibrio o de la constitucin diagrama. Es una grfica de la temperatura frente a composicin, dividida en zonas en las que una fase particular o mezcla de fases es estable. Como tal, se forma una especie de mapa del sistema de aleacin implicado. Diagramas de fase son por lo tanto, de gran importancia en la metalurgia, y mucho tiempo y esfuerzo tienen ha dedicado a su determinacin. En este captulo vamos a considerar cmo x-ray mtodos se pueden utilizar en el estudio de los diagramas de fase, en particular de sistemas binarios. Sistemas ternarios se tratar por separado en la seccin. 12-6. X-ray mtodos son, por supuesto, no son los nicos que pueden ser utilizados en investigaciones de este tipo. Los dos mtodos clsicos son anlisis trmico y los diagramas examen microscpico, y muchos se han determinado por este medio solo. Difraccin de rayos X, sin embargo, estos suplementos mayor tcnicas de muchas maneras tiles y proporciona, adems, el nico medio de la determinacin de las estructuras cristalinas de las distintas fases. Ms diagramas de fase de hoy estn por lo tanto determinada por una combinacin de todos tres mtodos. Adems, las mediciones de otras propiedades fsicas se puede utilizar con ventaja en algunos sistemas de aleacin: el ms importante de

estas tcnicas auxiliares que son mediciones de la variacin de longitud y del cambio en la resistencia elctrica como una funcin de la temperatura. En general, las tcnicas experimentales diferentes difieren en la sensibilidad, y por lo tanto, en la utilidad, de una porcin del diagrama de fase a otra. As, el anlisis trmico es el mejor mtodo para determinar los liquidus y solidus, incluyendo horizontales eutcticas y peritctica, pero es posible que no revelan la existencia de horizontales y eutectoides peritectoid debido a la lentitud de algunas reacciones en estado slido o los efectos trmicos pequeos involucrados. Tales caractersticas del diagrama se determina mejor mediante el examen microscpico o difraccin de rayos X, y el mismo se aplica a la determinacin de solvus (Solubilidad slida) curvas. Es un error de depender totalmente de uno u otro mtodo, y el investigador sabio utilizar cualquier tcnica es ms adecuada para el problema en cuestin. * La presin en la aleacin es otra variable eficaz, pero es generalmente constante a la de la atmsfera y puede despreciarse. , 345 346 PHASE-DIAG DETERMINACIN RAM [CAP. 12 lquido 02.12 Principios generales. La clave para la interpretacin de los polvos patrones de aleaciones es el hecho de que cada fase produce su propio patrn de forma independiente de la presencia o ausencia de cualquier otra fase. As, una monofase aleacin produce un patrn nico, mientras que el patrn de una aleacin de dos fases consta de dos patrones superpuestos, uno por cada fase. Supongamos, por ejemplo, que dos metales A y B son totalmente solubles en el estado slido, como se ilustra en el diagrama de fases de la figura. 12-1. La

una fase slida, llamada una solucin slida continua, es del tipo de sustitucin; vara en composicin, pero no en la estructura cristalina, pura desde la A a la pura B, que necesariamente debe tener la misma estructura. El parmetro de red de una tambin vara continuamente de la de A puro a la de puro B. Desde todas las aleaciones en un sistema de este tipo consisten en la misma fase nica, su patrones de polvo parecer muy similar, el nico efecto de un cambio en la composicin siendo para cambiar el diffractionline posiciones de acuerdo con la cambios en parmetro de red. Ms comnmente, los dos metales A y B son slo parcialmente solubles en el estado slido. Las primeras adiciones de B A go en solucin slida en la A celosa, que se puede expandir o contraer como resultado, dependiendo de la relativa tamaos de los tomos A y B y los tipo de solucin slida formada (sustitucional o intersticial). Al final la solubilitylimit de B en A se alcanza, y adiciones de B causan la precipitacin de una fase segunda. Esta segunda fase puede ser un slido B-rico solucin con la misma estructura que B, como en el sistema de aleacin ilustra por la figura. 12-2 (a). A continuacin, las soluciones slidas y un 3 / son llamados primarios soluciones slidas o soluciones slidas de terminales. O la segunda fase que aparece puede tener ninguna conexin con el slido B-rico solucin, como en el sistema mostrado en la figura. 12-2 (b). Aqu el efecto de la sobresaturacin

una. con el metal B es para precipitar la fase designado 7. Esta fase se llama una solucin intermedia slida o fase intermedia. Por lo general, tiene una estructura cristalina completamente diferente de la de cualquiera de una o 0, y que est separado de cada una de estas soluciones slidas de terminales, en el diagrama de fase, por lo menos una regin de dos fases. Los diagramas de fase mucho ms complejas que las que acabo de mencionar son a menudo encontrado en la prctica, pero siempre son reducibles a una combinacin de tipos bastante simples. Cuando un diagrama de fase desconocida se est investigando, lo mejor es hacer un estudio preliminar de todo el sistema de prePORCENTAJE B B La figura. 12-1. Fase diagrama de dos metales, que muestran solubilidad slida completa. 12-2] PRINCIPIOS GENERALES 347 lquido PORCENTAJE B (A) PORCENTAJE B (B) La figura. 12-2. Los diagramas de fase muestran (a) solubilidad slida parcial, y parcialmente (b) solubilidad slida junto con la formacin de una fase intermedia. para pelar una serie de aleaciones a intervalos composicin definida, por ejemplo 5 o 10 atmica por ciento, de la A a la puro puro B. El patrn de polvo de aleacin de cada y cada uno metal puro se prepara a continuacin. Estos patrones pueden parecer bastante complejo Pero, no importa lo que las complejidades, los patrones pueden ser descifrados y la secuencia correcta de las fases a travs del diagrama se puede establecer, si se preste la debida atencin a los siguientes principios:

(1) Equilibrio. Cada aleacin tiene que estar en equilibrio a la temperatura donde las relaciones de fase estn siendo estudiados. (2) Fase de secuencia. A horizontal (temperatura constante) lnea trazada a travs del diagrama debe pasar a travs de regiones de una sola fase y de dos fases alternativamente. (3) monofsicos regiones. En una regin de una sola fase, un cambio en la composicin generalmente produce un cambio en el parmetro de red y por lo tanto un cambio en las posiciones de las lneas de difraccin de esa fase. (4) dos regiones de fase. En una regin de dos fases, un cambio en la composicin de la aleacin produce un cambio en las cantidades relativas de las dos fases pero ningn cambio en sus composiciones. Estas composiciones se fijan en el intersecciones de una "lnea de unin" horizontal con los lmites de la fase de dos campo. As, en el sistema ilustrado en la figura. 12-2 (a), la lnea de interconexin elaborado en temperatura TI muestra que las composiciones de un pie y en equilibrio a esta temperatura son x e y respectivamente. El patrn de polvo de una de dos fases aleacin presentada a equilibrio a la temperatura TI tanto, consistir de los patrones superpuestos de una composicin de x y pies de composicin y. Los patrones de una serie de aleaciones en el intervalo xy todos contienen la misma lneas de difraccin en las mismas posiciones, pero la intensidad de las lneas de la una fase relativa a la intensidad de las lneas de la fase ft disminuir en 348 PHASE-DIAG DETERMINACIN RAM [CAP. 12 de manera regular como la concentracin de B en los cambios de aleacin de X a Y, ya que este cambio en la composicin total disminuye la cantidad de un pariente a la cantidad de pies Estos principios se ilustran con referencia a la aleacin hipottico sistema que se muestra en la figura. 12-3. Este sistema contiene dos terminales de sustitucin soluciones slidas a y p, tanto asume que la cara cbica centrada, y

una fase intermedia 7, que es centrada en el cuerpo cbico. La solubilidad de los o A o B en 7 se supone que es despreciable: el parmetro de red de 7 es por lo tanto constante en todas las aleaciones en las que esta fase aparece. Por Por otro lado, los parmetros de un pie y varan con la composicin de la manera mostrado por la parte inferior de la figura. 12-3. Dado que el tomo B se supone que es mayor que el tomo de A, la adicin de B se expande la red A, y el parmetro de un aumento de ai de A puro a3 a una solucin de composicin x, que representa el lmite de solubilidad de B en A a temperatura ambiente. En dos fases (a + 7) las aleaciones que contienen ms de ciento x B, la parmetro de una permanece constante en su valor a3 saturada. De manera similar, la Adems de la A a la B hace que el parmetro de pies a disminuir a partir de a2 a a4 en el lmite de solubilidad, y luego permanece constante en las dos fases (7 + ft) campo. Calculados patrones de polvo se muestran en la figura. 12-4 para los ocho aleaciones designado por el nmero en el diagrama de fases de la figura. 12-3. Se supone que los las aleaciones se han llevado a equilibrio a temperatura ambiente por lenta enfriamiento. El examen de estos modelos revela lo siguiente: (1) Modelo de A pura. (Cara cbica centrada) (2) Patrn de una casi saturado con B. La expansin de la red cristalina hace que las lneas de cambiar a ngulos ms pequeos 20. (3) patrones superpuestos de a y 7. La fase A est ahora saturado y tiene su a3 parmetro mximo. (4) Igual que el patrn 3, excepto por un cambio en las intensidades relativas de los dos patrones que no se indica en el dibujo. (5) Plan de puro 7 (centrada en el cuerpo cbico). (6) Superpuesta patrones de 7 y de pies saturada con un parmetro de a4. (7) Modelo de pies puro con un parmetro de algo mayor que A4.

(8) Patrn de puro B (cara cbica centrada). Cuando un diagrama de fase desconocida est siendo determinada, el investigador debe, por supuesto, funcionan en la direccin inversa y deducir la secuencia de todo el diagrama de fases de los patrones de polvo observados. Es hecho por la comparacin visual de los patrones preparados a partir de aleaciones que van en composicin de A puro puro a B, y el ejemplo anterior ilustra la naturaleza de los cambios que se pueden esperar de un patrn a otro. Lneas correspondientes en diferentes patrones se identifican mediante la colocacin las pelculas de lado a lado como en la figura. 12-4 y tomando nota de que las lneas son comunes a 12-2] PRINCIPIOS GENERALES 349 PORCENTAJE B * La figura. 12-3. Fase diagrama y constantes de red de un sistema de aleacin hipottico. 26 = 26 = 180 La figura. 12-4. Calculados patrones de polvo de aleaciones de 1 a 8 en el sistema de aleacin mostrado en la figura. 12-3. 350 PHASE-DIAG RAM determinacin [CAP. 12 los dos patrones. * Esto puede ser difcil en algunos sistemas de aleacin donde la fases involucradas tienen patrones complejos de difraccin, o donde se sospecha que las lneas debido a la radiacin K $ puede estar presente en algunos patrones y no en otros. Es importante recordar que un modelo de difraccin de un dado fase se caracteriza no slo por las posiciones de lnea, sino tambin por las intensidades de lnea. Esto significa que la presencia de la etapa X en una mezcla de fases no puede ser result simplemente por coincidencia de las lneas de la etapa X con un conjunto de lneas en el patrn de la mezcla; las lneas en el patrn de la mezcla, la cual coinciden con las lneas de fase X tambin debe tener las mismas intensidades relativas

como las lneas de fase X. La adicin de una o ms fases a una determinada fase debilita las lneas de difraccin de fase que, simplemente por dilucin, pero no puede cambiar las intensidades de las lneas respecto a la otra. Finalmente, debe sealarse que la estructura cristalina de una fase no necesita ser conocido la presencia de fase que se detecten de una mezcla: es suficiente para conocer las posiciones e intensidades de las lneas de difraccin de esa fase. Determinacin de fase diagrama por rayos X mtodos generalmente comienza con un determinacin de los equilibrios a temperatura ambiente. El primer paso es preparar una serie de aleaciones por fusin y moldeo, o por fusin y solidificacin en el crisol de fusin. Los lingotes resultantes se homogeneiza a una temperatura justo por debajo del solidus para eliminar la segregacin, y muy lentamente se enfri a temperatura ambiente, las muestras de t en polvo se prepara a continuacin molienda o presentar, en funcin de si la aleacin es frgil o no. Si el aleacin es lo suficientemente quebradiza como para ser molido en polvo, el polvo resultante es por lo general lo suficientemente libre de estrs para dar lneas claras de difraccin. Archivado en polvo, sin embargo, debe ser re-recocido para eliminar las tensiones producidas por deformacin plstica durante la presentacin antes de estar listos para la exploracin radiolgica. Slo temperaturas relativamente bajas se necesitan para aliviar las tensiones, pero las limaduras de nuevo se enfra lentamente, despus de la liberacin de tensiones recocido, para asegurar el equilibrio a temperatura ambiente. La deteccin es generalmente necesario para obtener partculas finas suficientes para examen de rayos X, y cuando dos fases aleaciones son controlados, las precauciones mencionadas en la seccin. 6-3 debe estar observado. Despus de que el equilibrio a temperatura ambiente se conocen, una determinacin de las fases presentes en las temperaturas altas puede ser emprendido. Polvo *

La superposicin de las dos pelculas es generalmente confusa y puede hacer que algunas de las lneas ms dbiles casi invisibles. Un mejor mtodo de comparacin consiste en corte longitudinal cada pelcula Debye-Scherrer longitudinalmente por su centro y colocar el centro de una pelcula adyacente al centro del otro. La curvatura de la difraccin lneas entonces no interfiere con la comparacin de las posiciones de la lnea. enfriamiento lento t por s sola no puede ser suficiente para producir la habitacin temperatura de equilibrio, que a menudo es muy difcil de lograr. Puede ser promovido por trabajo en fro y recristalizacin de la aleacin colada, con el fin de disminuir su tamao de grano y por lo tanto acelerar difusin, antes del enfriamiento de homogeneizacin y lento. 12-3] SOLID 351 SOLUCIONES las muestras se sellaron en pequeos tubos de slice evacuados, se calienta a la deseada temperatura lo suficiente para alcanzar el equilibrio, y rpidamente apaga. Los patrones de difraccin de los polvos templados continuacin, se realizan en temperatura ambiente. Este mtodo funciona muy bien en muchos sistemas de aleacin, en que el polvo templado conserva la estructura que tena en el elevado temperatura. En algunas aleaciones, sin embargo, las fases estables a alta temperatura se descompone al enfriar a temperatura ambiente, no importa lo rpido la apagar, y estas fases slo pueden ser estudiados por medio de una alta temperatura cmara o difractmetro. Este ltimo instrumento es de especial valor en este tipo de trabajos porque que permite la observacin continua de una lnea de difraccin. Por ejemplo, la temperatura por debajo del cual una fase de alta temperatura es inestable, tal como un temperatura eutectoide, puede determinarse estableciendo el difractmetro contrarrestar para recibir un haz difractado prominente de la alta temperatura fase, y luego midiendo la intensidad de dicho haz como una funcin de la temperatura

como la muestra se enfra lentamente. La temperatura a la que el intensidad cae a la del fondo general es la temperatura requerida, y cualquier histresis en la transformacin puede ser detectada por una similar medicin de calefaccin. 03.12 soluciones slidas. En la medida en solubilidad en estado slido, a un mayor o en menor medida, es tan comn entre los metales, podramos divagar un poco a la este punto a considerar cmo los diversos tipos de soluciones slidas pueden ser distinguidos experimentalmente. Independientemente de su extensin o su posicin sobre la diagrama de fase, cualquier solucin slida se puede clasificar como una de las siguientes tipos, nicamente sobre la base de su cristalografa: (1) intersticial. (2) JSubstitutional. (A) al azar. (B) Pedido. (Debido a su especial inters, este tipo se describe por separado en el Cap. 13.) (C) Defectos. (Un tipo muy raro). Una solucin slida intersticial de B en A es de esperar slo cuando el B tomo es tan pequeo en comparacin con el tomo de A que puede entrar en los intersticios de la red A sin causar distorsin mucho. Como consecuencia, sobre las nicas soluciones slidas intersticiales de alguna importancia en la metalurgia son las formadas entre un metal y uno de los elementos, carbono, nitrgeno, hidrgeno, y boro, todos los cuales tienen tomos de menos de 2A de dimetro. La adicin intersticial de B a A est siempre acompaado por un aumento en el volumen de la celda unidad. Si A es cbico, entonces el parmetro de red nico una debe aumentar. Si A no es cbica, a continuacin, un parmetro puede aumentar y la disminucin de la otra, siempre que estos cambios resultan en un aumento de la clula 352 PHASE-DIAG DETERMINACIN RAM [CAP. 12

3,10 g 305 j w 3,00 i H 2,95 ! 3 290 :S Si 2,85 280 un (austenita) _l L_ 3,65 B 3 3,60 3,55 1.0 15 20 PESO DE CARBONO POR CIENTO La figura. 12-5. Variacin de los parmetros de red de martensita y austenita con contenido de carbono. (Despus de CS Roberts, Trans. AIME 197, 203, 1953.) volumen. As, en la austenita, que es una solucin slida de carbono intersticial en la cara cbica centrada-y-hierro, la adicin de carbono aumenta la clula un borde. Pero en martensita, una solucin sobresaturada intersticial slido de carbono en un hierro, el parmetro c de la clula aumenta centradas en el cuerpo tetragonales mientras que el parmetro A disminuye, cuando el carbono se aade. Estos efectos se ilustran en la figura. 12-5. La densidad de una solucin slida intersticial est dada por la densidad bsica ecuacin

1.660202 ^ 1, ^ p. (3-9) donde NLA l] (12-1) nl n8 y son nmeros de tomos de disolvente o intersticial, respectivamente, por celda unidad, y A8 y At son los pesos atmicos de solvente e intersticial tomos, respectivamente. Tenga en cuenta que el valor de n8 es constante e independiente de la concentracin del elemento intersticial, y que es normalmente un nt pequea fraccin de la unidad. La formacin de una solucin de sustitucin aleatoria slido de B y A puede ser acompaado por un aumento o disminucin en el volumen celular, dependiendo de si el tomo B es mayor o menor que el tomo a. En continuas soluciones slidas de sales inicas, el parmetro de red de la solucin es directamente proporcional a la presente por ciento atmico de soluto. Esta relacin, conocida como ley de Vegard, no es estrictamente obedecidas por metlico soluciones slidas y, de hecho, no hay ninguna razn por la que debe ser. Sin embargo, se utiliza a menudo como una especie de vara con la que se puede producir una solucin en comparacin con otra. La Figura 12-6 muestra ejemplos de tanto positivos como desviaciones negativas de la ley de Vegard entre las soluciones de cara centrada metales cbicos, y las desviaciones ms grandes incluso se han encontrado en hexagonal close123] SOLUCIONES SOLID 353 Ni 40 (> () 80 Por ciento atmico l (H) La figura. 12-6. Parmetros de red de algunas soluciones slidas continuas. Puntos y rayas

lneas indican ley de Vegard. (De Estructura de los metales, por CS Barrett, 1952, McGraw-Hill Book Company, Inc.) embalado soluciones. En las soluciones slidas de terminales e intermedias, el enrejado parmetro puede o no puede variar linealmente con el soluto por ciento atmico y, cuando la variacin es lineal, el parmetro se ha encontrado mediante la extrapolacin a 100 soluto por ciento no suele corresponder al tamao tomo deducida a partir del parmetro del soluto puro, asignacin, incluso cuando se hace para un posible cambio en el nmero de coordinacin. La densidad de una solucin slida sustitucional aleatorio se encuentra de la ecuacin. (3-9) con el factor 2A est dada por ^ ^ Solvente disolvente I (12-2) donde n se refiere de nuevo al nmero de tomos por celda y A a la atmica peso. Si una solucin propuesta es intersticial o sustitutivo puede ser decidido por determinar si la densidad de rayos X calculado segn Eq. (12-1) o el calculado de acuerdo con Eq. (12-2) est de acuerdo con el directamente midieron la densidad. Defecto soluciones slidas por sustitucin son aquellas en las que algunos de celosa , sitios normalmente ocupados por tomos en ciertas composiciones, son simplemente vacante en otras composiciones. Soluciones de este tipo son raros entre los metales; el ejemplo ms conocido es la solucin intermedia pies en el nquel y aluminio sistema. Una solucin defecto se da a conocer por anomalas en las curvas de parmetro de densidad y composicin de celosa vs. Supongamos, por ejemplo, que la solucin slida de B y A es perfectamente normal hasta B x por ciento, 354 PHASE-DIAG RAM determinacin [CAP. 12 pero ms all de ese punto una celosa defecto se forma; es decir, aumentos adicionales en Contenido de B se obtienen no, por sustitucin adicional de B para A, pero por Dejar caer un tomos de la red cristalina de dejar los sitios vacantes. Bajo estas circunstancias,

las curvas de densidad y el parmetro mostrar los cambios repentinos en pendiente, o incluso mximos o mnimos, en la composicin de x. Adems, la densidad de rayos X calculado segn Eq. (12-2) ya no estn de acuerdo con la densidad de particular simplemente porque Eq. (12-2), en el uso habitual, se aplica slo a las soluciones normales donde todos los sitios de la red estn ocupados, es decir, es tcitamente hay que suponer (n80 iVent + i nso ute) es igual al nmero total de sitios de la red en la estructura implicada. La estructura real de un defecto solucin slida, incluyendo la proporcin de sitios de la red vacantes en cualquier composicin dada, puede determinarse mediante una comparacin de la densidad directo con el x-ray densidad, calculado segn Eq. (12-2), y un anlisis de la difraccin intensidades. 4.12 Determinacin de las curvas de solubilizacin (desaparicin de la fase del mtodo). A Volviendo al tema principal de este captulo, que ahora podra considerar la mtodos utilizados para determinar la posicin de una curva de solvus en una fase diagrama. Tal curva forma el lmite entre un slido monofsico y una regin de dos fases slido, y el slido de una sola fase puede ser un primaria o solucin slida intermedia. Un mtodo de localizacin de dichas curvas se basa en la "ley de la palanca." Esta ley, con referencia a la figura. 12-7 por ejemplo, afirma que las proporciones relativas de una. y pies en una aleacin de ^ composicin en equilibrio a temperatura TI est dado por las longitudes relativas de las lneas zy y zx, o que Wa (z - x) = donde Wa y W & denotar la relacin pesos de a y m si x, y, y z son expresado en porcentaje en peso. De ello se deduce de la ecuacin. (12-3) que el peso

fraccin de pies en la aleacin vara linealmente con la composicin de en el punto x a 1 en el punto a. La intensidad de cualquier lnea de difraccin de la fase ft tambin vara de cero en x para un mximo a Y, pero con la variacin B por ciento en peso no es generalmente lineal. * Sin embargo, esta variacin puede ser utilizado para localizar el punto x. La serie de aleaciones en la regin de dos fases (12-3) PS w Ciento en peso de B *> La figura. 12-7. Lever-ley de construccin para encontrar las cantidades relativas de dos fases de un campo de dos fases. * Las razones de la no linealidad se discuten en la seccin. 14-9. 12-4] CURVAS Solvus DESAPARICIN DE FASE (MTODO) 355 se trae el equilibrio a temperatura T \ y templado. De difraccin patrones realizaron a temperatura ambiente, la relacin de la intensidad / # de un lnea prominente de la fase de pies a Ia intensidad de una lnea prominente de la una fase se representa grficamente como una funcin del porcentaje en peso B. La composicin en que la relacin / 0 / / extrapola a cero se toma como el punto x. (Uso de la relacin I $ / Ia lugar de / alone # elimina el efecto de cualquier cambio lo que puede ocurrir en la intensidad del haz incidente de una difraccin

patrn a otro. Sin embargo, esta relacin tambin vara no linealmente con el peso puntos porcentuales B.) Otros solvus de la curva se encuentra por experimentos similares en aleaciones inactiv desde otras temperaturas. Este mtodo es conocido, por razones obvias, como el mtodo de fase desapareciendo. Dado que la curva de Ip / Ia vs B por ciento del peso no es lineal precisin, de alta en la extrapolacin depende de tener varios puntos experimentales estrecha para el lmite de fase que se est determinando. La precisin de la desapareciendo mtodo en fase se rige por la sensibilidad de la x-ray mtodo en la deteccin de pequeas cantidades de una segunda fase en una mezcla, y esta sensibilidad vara ampliamente de un sistema de aleacin a otro. La intensidad de una lnea de difraccin depende de, entre otras cosas, la atmica dispersin / factor, que a su vez es casi directamente proporcional a la nmero atmico Z. Por lo tanto, si A y B tienen casi el mismo atmica nmero, la una. y fases ft consistir de tomos que tienen casi el mismo poderes de dispersin, y las intensidades de la una y los patrones de difraccin de pies Tambin ser aproximadamente igual cuando las dos fases estn presentes en cantidades iguales. En circunstancias favorables, tales como estos, un patrn de rayos X pueden revelar la presencia de menos de 1 por ciento de una segunda fase. Por otra parte, si el nmero atmico de B es considerablemente menor que la de A, la intensidad del patrn de pies puede ser mucho menor que la de un patrn de la que una cantidad relativamente grande de pies en una mezcla de dos fases se quedar completamente desapercibida. Esta cantidad podr superar el 50 por ciento en casos extremos, donde la nmeros atmicos de A y B difieren en unos 70 o 80 unidades. "Bajo tales circunstancias, la desaparicin de la fase de rayos X mtodo es prcticamente intil. En general, el microscopio es superior a los rayos X cuando el disappearingphase

el mtodo utilizado, ya que la sensibilidad del microscopio para detectar la presencia de una segunda fase es en general muy alta e independiente (2) de los nmeros atmicos de los elementos involucrados. Sin embargo, esta sensibilidad no depende del tamao de partcula de la fase segunda, y si este es muy pequea, ya que a menudo es a bajas temperaturas, la segunda fase puede estar detectables bajo el microscopio. Por lo tanto el mtodo de examen microscpico no es particularmente exacto para la determinacin de solvus curvas a bajas temperaturas. Independientemente de la tcnica utilizada para detectar la segunda fase, la exactitud de los La desaparicin de fase aumenta mtodo como el ancho de la regin de dos fases disminuye. Si la regin (a ft +) es slo un pequeo porcentaje de ancho, entonces el 356 PHASE-DIAG RAM determinacin [CAP. 12 cantidades relativas de una y ft variar rpidamente con ligeros cambios en la composicin total de la aleacin, y esta variacin rpida de Wa / Ws se permitir que el lmite de la fase de fijarse con bastante precisin. Esto es cierto, para la x-ray mtodo, incluso si los nmeros atmicos de A y B son muy diferentes, porque, si la regin (a ft +) es estrecha, las composiciones de un pie y no hacer difieren mucho ni tampoco sus facultades de rayos X de dispersin. 12-6 Determinacin de curvas de solvus (mtodo paramtrico). Como tenemos acaba de ver, el mtodo desapareciendo en fase de localizacin de la frontera de la un campo se basa en una determinacin de la composicin en la que la fase ft desaparece de una serie de (un ft +) aleaciones. El mtodo paramtrico, en Por otro lado, se basa en observaciones de la solucin un slido mismo. Esta mtodo depende del hecho, se ha mencionado anteriormente, que el parmetro de red de una solucin slida generalmente cambia con la composicin hasta la lmite de saturacin, y luego permanece constante ms all de ese punto.

Supongamos que la ubicacin exacta de la curva de solvus muestra en la figura. 12-8 (a) es que se determine. Una serie de aleaciones, de 1 a 7, se llev a equilibrio a temperatura T \, donde se cree que el campo para tener un casi su mximo anchura, y enfriada rpidamente a temperatura ambiente. El parmetro de red de a es medido para cada aleacin y se represent frente composicin de la aleacin, lo que resulta en una curva tal como la mostrada en la figura. 12-8 (b). Esta curva tiene dos ramas: una rama inclinada 6c, que muestra cmo el parmetro de un vara con la composicin de una, y una rama horizontal de, que muestra que la fase de un en aleaciones 6 y 7 est saturado, debido a que su parmetro de red no cambia con cambio en la composicin de la aleacin. De hecho, las aleaciones 6 y 7 estn en una de dos fases regin a la temperatura T \, y la nica diferencia entre ellos es en las cantidades de un saturadas que contienen. El lmite del campo de una a temperatura TI viene dado por la interseccin de las dos ramas de Identificacin H 12345 6 7 Axy PESO POR CIENTO B - * (A) PESO POR CIENTO B (B) La figura. 12-8. Paramtrico mtodo de Tor determinar una curva de solvus. 12-5] CURVAS Solvus (mtodo paramtrico) 357 la curva de parmetro. De esta manera, hemos localizado un punto a los solvus curva, es decir, x B ciento a T \. Otros puntos se pudo encontrar de una manera similar. Por ejemplo, si el misma serie de aleaciones se equilibraron a temperatura T2, un parmetro

curva similar a la figura. 12-8 (b) se obtendra, pero su rama inclinada sera ms corto y ms bajo su rama horizontal. Pero los tratamientos trmicos y mediciones de parmetros en todas estas aleaciones son innecesarios, una vez que el -parmetro composicin curva de la solucin slida se ha establecido. Slo uno de dos fases de aleacin es necesaria para determinar el resto de los solvus. Por lo tanto, si la aleacin 6 se equilibra a T2 y se inactiv a continuacin, es contendr una saturado a esa temperatura. Supongamos que el parmetro medido de una en esta aleacin es ay. Entonces, a partir de la curva de parmetro de composicin, encontramos que de un parmetro contiene ay por ciento y B. Esto fija un punto en los solvus en temperatura T2. Los puntos en los solvus a otras temperaturas se pueden encontrar equilibrando la misma aleacin, aleacin 6, a diversas temperaturas, temple, y medir el parmetro de red de la figura una. El parmetro de composicin curva, rama ser de la fig. 12-8 (b), por lo tanto sirve como una especie de curva maestra para la determinacin de los solvus enteros. Para una precisin dada de medicin de parmetro de celosa, la precisin con la que los solvus puede ser localizado depende marcadamente de la pendiente de la parametercomposition curva. Si la curva es casi plana, es decir, si los cambios en la composicin de la solucin slida producir cambios muy pequeos en el parmetro, y luego la composicin, tal como se determina a partir del parmetro, estar sujeto a considerable error y por lo que la ubicacin de los solvus. Sin embargo, si la curva est pendiente, todo lo contrario es cierto, y mediciones de parmetros relativamente crudo puede ser suficiente para fijar la posicin de los solvus con bastante precisin. En cualquiera de los casos, las mediciones relativas de los parmetros son tan buenos como absoluta mediciones de parmetros de la misma precisin. La figura 12-9 ilustra el uso del mtodo paramtrico para determinar la solubilidad en estado slido de antimonio en cobre como funcin de la temperatura.

La curva con pendiente en (a) se encontr a partir de mediciones efectuadas en los parmetros en una serie de aleaciones, que contiene de 12 a alrededor de Sb por ciento en peso, equilibrada a 630C. Las lneas horizontales representan los parmetros de dos fases aleaciones, que contiene aproximadamente 12 por ciento en peso, Sb equilibradas a la temperaturas indicadas. La curva de solvus construido a partir de estos datos es dada en (b), junto con porciones adyacentes del diagrama de fases. En la mayora de los casos, el mtodo paramtrico es ms precisa que la desaparicinfase mtodo, ya sea sobre la base de mediciones de rayos X o microscpicas examen, en la determinacin de las curvas de solvus a bajas temperaturas. Como se mencion anteriormente, tanto difraccin de rayos X y el examen microscpico puede no revelar la presencia de pequeas cantidades de un segundo fase, aunque por razones diferentes. Cuando esto ocurre, el disappearingphase mtodo siempre resulta en un grado medido de solubilidad mayor que 358 PHASE-DIAG DETERMINACIN RAM [CAP. 12 XM un % $ 2 814 Y 3 W H tf una. G 8 10 12 14

PESO POR CIENTO ANTIMONIO (A) ^ ANTIMONIO POR CIENTO yEIGHT (H) La figura. 12-9. Determinacin curva Solvus en el sistema de cobre-antimonio por el mtodo paramtrico: (a) parmetro funcin de la curva composicin; (b) solubilidad frente a la temperatura curva. (JC Mertz y Mathevvson CH, Trans. AIME 124, 59, 1937.) la medida real. Pero el mtodo paramtrico, ya que se basa en mediciones hizo en la fase de cuyo rango de solubilidad se determina (La fase), no est influenciado por cualquier propiedad de la segunda fase (la fase). La fase pies pueden tener un poder de dispersin de rayos X mucho mayor o menor que la de la fase A, y la fase puede precipitar en los forma de partculas grandes o pequeas, sin afectar el parmetro mediciones efectuadas en la fase a. Tenga en cuenta que el mtodo paramtrico no se limita a determinar la medida de soluciones slidas primarias, como en los ejemplos dados anteriormente. Se puede Tambin puede usarse para determinar las curvas de solvus que unan a un intermedio solucin slida en el diagrama de fases. Tenga en cuenta tambin que el mtodo paramtrico Se pueden emplear incluso cuando la estructura cristalina de la fase a es tan complejo que sus lneas de difraccin no pueden ser indexados. En este caso, el plano espacio correspondiente a una lnea de alto ngulo, o, an ms directamente d, el valor de la lnea 28, se representa frente a la composicin y la resultante curva utilizada exactamente de la misma forma que una curva de parmetro-composicin. En hecho, el "paramtrico" mtodo podra basarse en la medicin de cualquier caracterstica de la solucin slida que cambia con la composicin de la solucin slida, por ejemplo, su resistividad elctrica.

12-6] sistemas ternarios 359 6.12 Los sistemas ternarios. La determinacin de un diagrama de fases ternario es naturalmente ms compleja que la de un diagrama binario, debido la variable composicin extra involucrados, pero los mismos principios generales puede ser aplicado. Los mtodos de rayos X se ha descrito anteriormente, ya sea basado en la desapareciendo de fase o el paramtrico, se puede usar con muy poca modificacin y han demostrado ser muy tiles en el estudio de ternario sistemas. Equilibrio de fases en un sistema ternario slo puede ser representado completamente en tres dimensiones, ya que hay tres variables independientes (dos composiciones y la temperatura). La composicin se traza en un equiltero tringulo cuyos vrtices representan los tres componentes puros, A, B, y C, y la temperatura se representa grficamente en ngulos rectos con el plano de la composicin tringulo. Cualquier seccin isotrmica de las tres dimensiones modelo es, pues, un tringulo equiltero en el que el equilibrio de fases en ese temperatura se puede representar en dos dimensiones. Por esta razn, generalmente prefieren estudiar sistemas ternarios mediante la determinacin de los equilibrios de fases en una una fase dos fases tres fases nmero de temperaturas seleccionadas. El estudio de un sistema ternario de componentes A, B, y C comienza con una determinacin de la binario de tres diagramas de fase AB, BC, y CA, si stos no son ya conocidos. Luego constituyen un nmero de aleaciones ternarias,

la eleccin de sus composiciones casi al azar, sino con respecto a algunos lo que los diagramas binarios puede sugerir el equilibrio ternario a ser. La patrones de difraccin de estos exploratorio aleaciones revelar el nmero y tipo de fases en equilibrio en cada aleacin a la temperatura seleccionada. Estos datos preliminares aproximadamente delinear los campos en varias fases la seccin isotrmica, y le sugerir qu otras aleaciones necesita estar preparado con el fin de fijar los lmites de la fase ms exactamente. Supongamos que estos resultados preliminares sugieren una seccin isotrmica de la tipo que se muestra en la figura. 12-10, donde los lmites de fase se han elaborado para ajustarse a los resultados de la difraccin representados por los crculos pequeos. Esta seccin se muestran tres soluciones ternarias terminales slidos, a, / 3, y 7, se unieron en por tres pares de dos fases, las regiones (un + 0), (ft + 7), y (a + 7), y en el centro de una nica regin donde las tres fases, a, 0, y 7, estn en equilibrio. En una regin de una sola fase de la composicin de la fase involucrado, por ejemplo una, es continuamente variable. En una lnea de interconexin regin de dos fases existen, al igual que en Ac La figura. 12-10. Seccin isotrmica de diagrama ternario hipottico. 360 PHASE-DIAG RAM determinacin [CAP. 12 diagramas binarios, a lo largo de la cual las cantidades relativas de las dos fases cambian pero no sus composiciones. As, en el campo (a + 7) de la figura. 12-10, empate lneas se han dibujado para conectar las composiciones de una sola fase que son en equilibrio en el campo de dos fases. A lo largo de la lnea de, por ejemplo, una de

d composicin est en equilibrio con Y de la Composicin E, y la relativa cantidades de estas dos fases se pueden encontrar por la ley de la palanca. As, la constitucin de aleacin de X est dada por la relacin Wa (Xd) = Wy (Xe). Tanto las cantidades relativas y las composiciones de las dos fases variar a lo largo de cualquier lnea que no es una lnea de interconexin. En un campo de tres fases, las composiciones de las fases son fijos y estn dado por las esquinas del tringulo de tres fases. As, las composiciones de a, 0, y 7 que estn en equilibrio en cualquier aleacin dentro de la trifsico campo de la fig. 12-10 estn dadas por una, 6, y c, respectivamente. Para determinar el 8 fa < a lo largo de nhc CIENTO POR CIENTO A (C) La figura. 12-11. Mtodo paramtrico de la localizacin de los lmites de fase en diagramas ternarios. PROBLEMAS 361 cantidades relativas de estas fases, por ejemplo en Y aleacin, trazamos una lnea a travs de Y a cualquier rincn del tringulo, por ejemplo 6, y aplicar la ley de la palanca: y Wa (ag) = Wy (ge). Estas relaciones son la base del mtodo desapareciendo en fase de localizacin los lados y las esquinas del tringulo de tres fases. Mtodos paramtricos son muy tiles en la localizacin de los lmites de fase sobre todo porciones de la seccin isotrmica. Supongamos, por ejemplo, que se desea

determinar el lmite a / (a. + 7) del diagrama de fases en la figura. 12 a 11 (a). Entonces podramos preparar una serie de aleaciones a lo largo de la lnea ABC, donde se es un atar lnea en el campo (a + 7), y medir el parmetro de una en cada uno. El parmetro resultante de composicin curva despus vera la figura. 12-ll (b), ya que la composicin y el parmetro de una de las aleaciones a lo largo de ser es constante. Sin embargo, generalmente no conocer la direccin de la lnea sea en esta etapa, las lneas de unin porque no puede ser localizado por cualquier construccin geomtrica sino que debe determinarse por experimentacin. Pero supongamos que medimos el parmetro de una lnea arbitraria a lo largo de algunos, dicen que el Abd lnea. Entonces nos puede esperar que la curva de parmetro de composicin para parecerse a la figura. 12-1 l (c). El parmetro de una a lo largo de la lnea BD no es constante, ya bd no es un empate lnea, pero en general se va a cambiar a un tipo diferente que a lo largo de la lnea AB en el mbito de una fase. Esto nos permite localizar el punto b de la fase lmite por el punto de inflexin en la curva de parmetro. El punto de / en el lmite (a + 7) / (a + + + 7) puede ser ubicado en manera similar, a lo largo de una lnea tal como efg elegido al azar. A lo largo de la EF parmetro de un cambiar continuamente, porque ef cruza sobre una serie de lneas de unin, pero a lo largo de fg en el campo de tres fases el parmetro de un ser constante e igual al parmetro de un saturada de composicin h. La -parmetro composicin curva por lo tanto, tendr la forma de la figura. 12-ll (b). PROBLEMAS 12-1. Metales A y B forman una solucin de terminal de un slido, en la estructura cbica. La variacin del parmetro de red de una con la composicin, determinada por extincin monofsicos aleaciones de una temperatura elevada, se encuentra que es lineal, la parmetro que vara de 3.6060A de A puro a 3.6140A en un peso que contiene 4,0 por ciento B. La curva de solvus se determinar por enfriamiento de una aleacin de dos fases

que contiene 5,0 por ciento en peso de B una serie de temperaturas y la medicin de la parmetro de la una contenida. Con qu precisin debe ser medido el parmetro si la curva de solvus es a estar situado dentro de 0,1 por ciento en peso B a cualquier temperatura? 12-2. La aleacin de dos fases en el problema mencionado. 12-1, despus de ser desactivada desde una serie de temperaturas, contiene una que tiene los siguientes parmetros medidos: 362 PHASE-DIAG DETERMINACIN RAM [CAP. 12 Temperatura de parmetros 100C 3.6082A 200 3.6086 300 3.6091 400 3.6098 500 3.6106 600 3.6118 Trazar la curva solvus en este rango de temperatura. Cul es la solubilidad de B en A menos 440C?

CAPTULO 13 TRASTORNO DE PEDIDO TRANSFORMACIONES

13-1 Introduccin. En las soluciones slidas ms sustitutivos, los dos tipos de tomos A y B estn dispuestos ms o menos al azar en el atmica sitios de la red. En las soluciones de este tipo slo el efecto principal de un cambio de temperatura sea para aumentar o disminuir la amplitud de trmica vibracin. Pero, como se ha sealado en la seccin. 2-7, hay algunas soluciones que tienen esta estructura aleatoria slo a temperaturas elevadas. Cuando estas soluciones se enfra por debajo de una cierta temperatura crtica TV, los tomos A se disponen de forma ordenada y peridica en un conjunto de armas atmicas sitios, y los tomos de B hacer lo mismo en otro conjunto. La solucin es luego

dicho proceso ser condenada o poseer una superred. Cuando este arreglo peridico de A y B tomos persiste a travs de distancias muy grandes en el cristal, lo es conocido como orden de largo alcance. Si la solucin se calienta por encima ordenado Tc, la disposicin atmica se hace aleatoria de nuevo y la solucin se dice ser desordenado. El cambio en la disposicin atmica que se produce en el pedido produce cambios en un gran nmero de propiedades fsicas y qumicas, y los existencia de pedidos puede inferirse de algunos de estos cambios. Sin embargo, la nica prueba concluyente para una transformacin desorden-orden es una tipo particular de cambio en el patrn de difraccin de rayos X de la sustancia. La evidencia de este tipo se obtuvo por primera vez por el estadounidense Bain metalrgico en 1923, para una solucin de oro y cobre slido que tiene la composicin AuCua. Desde ese momento, el mismo fenmeno se ha descubierto en muchas otras sistemas de aleacin. 13-2 orden de largo alcance en AuCua. Los tomos de oro y cobre de AuCu3, por encima de una temperatura crtica de aproximadamente 395C, estn dispuestas ms o menos al azar en las instalaciones atmicas de una red cbica centrada en las caras, como se ilustra en la figura. 13-1 (a). Si el trastorno es completa, la probabilidad de que un sitio en particular est ocupado por un tomo de oro es simplemente f, la fraccin atmica de oro en la aleacin, y la probabilidad de que est ocupado por un tomo de cobre f es la fraccin atmica de cobre. / Estas probabilidades son las mismas para los cada sitio y, teniendo en cuenta la estructura como un todo, podemos considerar que cada sitio, ocupado por una diferencia estadsticamente "promedio" de oro y cobre tomo. Abajo la temperatura crtica, los tomos de oro en una aleacin perfectamente ordenada ocupar slo las posiciones de esquina de la unidad de cubo y los tomos de cobre el centrados en la cara-posiciones, como se ilustra en la figura. 13-1 (b). Ambas estructuras estn cbico y tienen prcticamente los mismos parmetros de red. La figura 13-2 muestra

TRASTORNO DE PEDIDO transformaciones [cap. 13 oro tomo tomo de cobre V_y ' "Promedio" tomo de oro y cobre (A) Trastornos (b) Pedido La figura. 13-1. Celdas unitarias de las formas desordenadas y ordenadas de AuCu3. cmo los dos arreglos atmicos difieren en un plano reticular particular. La mismo tipo de pedido se ha observado en PtCu3, FeNi3, MnNi3, y (MnFe) nica fase Ni3. Qu diferencias existen entre los patrones de difraccin de ordenada y desordenada AuCu3? Puesto que slo hay un cambio muy ligero en el tamao de la celda unidad en el pedido, y ninguno en su forma, habr prcticamente ningn cambio en las posiciones de las lneas de difraccin. Pero el cambio en la posiciones de los tomos necesariamente debe causar un cambio en la intensidad de las lneas. Podemos determinar la naturaleza de estos cambios mediante el clculo de la estructura factor F para cada acuerdo tomo: (A) Completar el desorden. El factor de dispersin atmico del "promedio" oro-cobre tomo viene dada por / Av = (fraccin atmica Au) / Au + (Cu fraccin atmica) / cu, / Av = 4/Au + f/CuHay cuatro "promedio" de tomos por celda unidad, a 0, f \ 0, \ \, y \ \. Por lo tanto, el factor de estructura se da por F = 2f Q 2 * i (k u + kv + iw) F = Av [l + e

Trastornos Pedido (J ^ B cobre oro La figura. 13-2. Arreglos Atom en un plano (100), desordenado y ordenado AuCu3. 13-2] DE LARGO ALCANCE EN ORDEN AuCu3 365 Por ejemplo, (d) de la seccin. 4-6, esto se convierte F = 4/av = (/ Au + 3/cu), por hkl sin mezclar, F = 0, para hkl mezclado. Por lo tanto, encontrar, como era de esperar, que la aleacin desordenada produce un patrn de difraccin similar al de cualquier metal cbica centrada en las caras, por ejemplo oro puro o cobre puro. No hay reflexiones de ndices mixtos estn presentes. (B) pedido completo. Cada celda unidad contiene ahora un tomo de oro, a las 0, y tres tomos de cobre, a ^ ^ 0, f ^ y ^ f. F=/A F = (/ AU + 3/cu), por hkl sin mezclar, (13-1) F = (/ AU - / Cu), para hkl mixto. La aleacin orden por lo tanto produce lneas de difraccin para todos los valores de hkl, y su patrn de difraccin por lo tanto se parece al de una sustancia cbica simple. En otras palabras, ha habido un cambio de red de Bravais sobre pedido; la Red de Bravais de la aleacin desordenada es cara cbica centrada y la de la orden sencillo aleacin cbico. Las lneas de difraccin de planos de ndices sin mezclar se llaman fundamental lneas, puesto que se encuentran en las mismas posiciones y con las mismas intensidades en los patrones de ambas aleaciones ordenada y desordenada. Las lneas adicionales que aparecen en el patrn de una aleacin ordenado, que surge de los planos de ndices mixtos, se denominan lneas superpuesta, y su presencia es evidencia directa ordenamiento que ha tenido lugar. La razn fsica para la formacin

lneas de superred puede deducirse de un examen de la figura. 13-1. Considere la reflexin de los planos (100) de la estructura desordenada, y dejar que un haz incidente de longitud de onda X crea un ngulo de incidencia B que la diferencia de caminos entre los rayos dispersos por adyacentes (100) planos es una longitud de onda entera. Pero hay otro plano a mitad de camino entre estos dos, que contiene, por trmino medio, exactamente la misma distribucin de oro y tomos de cobre. Este plano dispersa una ola que por lo tanto X / 2 de fase con la onda dispersada por cualquiera de los dos adyacentes (100) plano y de exactamente la misma amplitud. Completar los resultados de cancelacin y no hay 100 reflexin. En la aleacin ordenado, por otra parte, adyacente (100) planos contienen tomos de cobre y oro, pero el avin a mitad de camino entre contiene slo tomos de cobre. Los rayos dispersos por los planos (100) y los dispersada por los planos medios son todava exactamente fuera de fase, pero ahora difieren en amplitud debido a la diferencia en la potencia de dispersin del oro y los tomos de cobre. La estructura ordenada por lo tanto produce un dbil 100 la reflexin. Y a medida que las Ecs. (13-1) muestran, todas las lneas superpuesta son mucho ms dbiles que las lneas fundamentales, ya que sus factores de estructura implica 366 ORDER-DISO RDEN TRANSFORMACIONES [CAP. 13 /1 111 200 220 /// /I/\ KM) 110 210 211 La figura. 13-3. Patrones de polvo de AuCiis (muy de grano grueso) hecho con filtrado radiacin de cobre: (a) apagado de 440C (desordenado), (b) celebr 30 min a 360C y enfriada rpidamente (parcialmente ordenado); (c) se enfra lentamente desde la temperatura ambiente a 360C

(Completamente ordenados). la diferencia, en lugar de la suma, de los factores de dispersin atmicos de cada uno tomo. Este efecto se muestra muy claramente en la figura. 13-3, donde / s son se utiliza para designar las lneas fundamentales y superpuesta, respectivamente. A bajas temperaturas, el orden de largo alcance en AuCua es prcticamente perfecto pero, como Tc se acercaba, algo de aleatoriedad establece pulg Esto salida de perfecto orden puede ser descrita por medio del parmetro de orden de largo alcance S, definido como sigue: S= i-F (13-2) donde TA = fraccin de A sitios ocupados por el "derecho" los tomos, es decir, un tomo, y FA = fraccin de tomos en la aleacin. Cuando el orden de largo alcance es perfecto, rA = 1 por definicin, y por lo tanto $ = 1. Cuando el atmico disposicin es completamente aleatoria, rA = FA y S = 0. Por ejemplo, considerar 100 tomos de AuCus, es decir, 25 tomos de oro y 75 tomos de cobre. Supongamos que el orden no es perfecto y slo 22 de estos tomos de oro se encuentran en "Los sitios de oro", es decir, las posiciones de esquina de cubo, el otro es 3 en "sitios de cobre." Entonces, considerando el tomo de oro como el tomo A en la ecuacin. (13-2), se encuentra que rA = f | = 0,88 y =-FA fifc = 0,25. Por lo tanto, S 0,88 a 0,25 1,00 a 0,25 = 0,84 describe el grado de la orden de largo alcance. El mismo resultado se obtiene si tenemos en cuenta la distribucin de los tomos de cobre. 13-2] DE LARGO ALCANCE EN ORDEN AuCu3 367 Cualquier desviacin de perfecto orden de largo alcance en un superretculo hace que el

lneas superpuesta a debilitarse. Se puede demostrar que la estructura factores de parcialmente ordenado AuCua estn dadas por F = (/ AU + 3/cu), por hkl sin mezclar, F = S (/ Au - / cu), por hkl mixtos. (13-3) io 08 De) 04 02 s AuOus Comparando estas ecuaciones con las ecuaciones. (13-1), se observa que slo la superred lneas se vean afectadas. Pero el efecto es muy fuerte, porque la intensidad de una lnea de superred es proporcional a \ F \ 2 y por lo tanto a S2 . Para ejemplo, una disminucin de la orden de K = 1 .00 a S = 0,84 disminuye la intensidad de una lnea superretcula por aproximadamente 30 por ciento. El debilitamiento de la superretcula lneas por trastorno parcial se ilustra en la figura. 13-3. Al comparar la relacin de intensidad integrada de una lnea de superred y fundamental, S puede determinar experimentalmente. Los valores de S obtenidos de esta manera son se muestra en la figura. 13-4 como una funcin de la temperatura absoluta T, expresado como una fraccin de la temperatura crtica Te. Para AuCu3 el valor de S disminuye gradualmente, con el aumento

temperatura, a aproximadamente 0,8 a Tc y luego cae abruptamente a cero. Arriba Tc la distribucin atmica es al azar y no hay lneas superpuesta. Recordando la ley aproximada de conservacin de la energa difractada, ya alude en la seccin. 4-12, se podra esperar que la prdida de energa a partir de la superretcula lneas deben aparecer en algunos forma en el patrn de un completamente aleacin desordenada. Como cuestin de hecho lo hace, en la forma de una difusa dbil fondo que se extiende sobre la totalidad rango de 26. Esta dispersin difusa se debe al azar, y es otro ilustracin de la ley general de que cualquier desviacin de periodicidad perfecta de los resultados de arreglo de tomos en algunos dispersin difusa a no Bragg ngulos. Von Laue demostr que si dos tipos de tomos A y B se distribuyen completamente al azar en una solucin slida, entonces la intensidad de la difusa dispersin producida est dada por o 4 0,5 G 07 08 09 1,0 T / TC La figura. 13-4. Variacin del largo alcance orden de los parmetros con la temperatura, para AuCu3 y CuZn. (AuCu3 datos de D. T. Keating y E. B. Warren, J. Appl. P% s. 22, 286, 1951;

CuZn datos de Chipman y D. B. E. Warren, J. Appl. Phys. 21, 696, 1950.) donde k es una constante para cualquier composicin, y / A y / B son atmicos dispersando factores. Ambos / A y / B como disminucin (sen 0) / \ aumenta, y as 368 1100 1000 900 800 W 700 t> g 600 Yo 500 400 300 TRASTORNO DE PEDIDO transformaciones [cap. 13 200 AuOu Ou 10 20 30 40 50 60 ATOMIC 1 PERC1KNT Au 70 90 KK) Au La figura. En 3 a 5. Fase diagrama del sistema de oro y cobre. De dos fases campos no marcado por la falta de espacio. (Compilado de Metales Manual, la Sociedad Americana del

Para los metales, 1948; J. B. Newkirk, Trans. A.I.M.E. 197, 823, 1953; F. N. Rhines, WE Bond, y RA Rummel, Trans, ASM, de 47 aos, de 1955; RA Onani, Ada Metallurgica 2, 608, 1954, y Kuczynski GC, resultados no publicados). hace su diferencia, por lo tanto ID es mxima a 20 = y disminuciones como 20 aumentos. Esta dispersin difusa es muy difcil de medir experimentalmente. Es dbil, para empezar y se superpone sobre otras formas de dispersin difusa que tambin pueden estar presentes, a saber, Compton modificado dispersin, la temperatura difuso dispersin, etc Cabe sealar, sin embargo, que la ec. (13-4) es muy general y se aplica a cualquier solucin slida al azar, si es o no es capaz de experimentar ordenar a bajas temperaturas. Volveremos a este punto en la seccin. 13-5. 13-3] OTROS EJEMPLOS DE LARGO ALCANCE PARA 369 Otro aspecto de orden de largo alcance que requiere alguna mencin es la efecto del cambio en la composicin. Puesto que la relacin de sitios de esquina para facecentered sitios en la red AuCu3 es de 1:3, se sigue que perfecto orden puede slo se logra cuando la relacin de oro a tomos de cobre es tambin exactamente 1: 3. Pero pedido tambin puede tener lugar en las aleaciones que contienen algo ms, o algo menos, del 25 por ciento de oro atmico, como se muestra por el diagrama de fases de la fig. 13-5. (Aqu la fase ordenado se designa "Para distinguir que a partir de la fase desordenada un estables a altas temperaturas.) En un ordenado aleacin que contiene un poco ms de 25 por ciento de oro atmico, toda la esquina sitios estn ocupados por tomos de oro, y el resto de los tomos de oro ocupar algunos de los sitios de cara centrada normalmente ocupados por tomos de cobre. Justo lo contrario es cierto para una aleacin que contiene menos de 25 por ciento atmico oro. Pero, como muestra el diagrama de fases, existen lmites a la variacin en composicin que el entramado ordenado aceptar sin llegar a ser inestable.

De hecho, si el contenido de oro se aumenta hasta aproximadamente 50 por ciento atmico, una aleacin completamente diferente ordenado, AuCu, se puede formar. 13-3 Otros ejemplos de orden de largo alcance. Antes de considerar el orden transformacin en AuCu, que es bastante complejo, podramos examinar el comportamiento de / 3-latn. Esta aleacin es estable a temperatura ambiente durante un composicin intervalo de aproximadamente 46 a casi 50 por ciento atmico de zinc, y as puede ser representado bastante de cerca por el CuZn frmula. A altas temperaturas su estructura es, estadsticamente, centrada en el cuerpo cbico, con el cobre y tomos de zinc distribuidas al azar. Por debajo de una temperatura crtica de aproximadamente 465C, ordenando se produce, las esquinas de clulas son entonces ocupado slo por el cobre tomos y los centros de las celdas slo por tomos de zinc, como se indica en la figura. 13-6. La aleacin ordenado por lo tanto tiene la estructura CsCl y su red de Bravais es simple cbico. Otras aleaciones que tienen la misma estructura ordenada son Cubo, CuPd, AgZn, FeCo, NiAl, etc * No todas las aleaciones de estos, sin embargo, ( j zinc tomo tomo de cobre F j "promedio" cobre-zinc tomo (A) Trastornos (b) Pedido La figura. 13-6. Celdas unitarias de las formas desordenadas y ordenadas de CuZn. * NiAl es la fase ft mencionado en el Sec. 12-3 como que tiene un defecto reticular en cierta composiciones. 370 ORDER-DISO RDEN TRANSFORMACIONES [CAP. 13 someterse a una transformacin de orden-desorden, ya que algunos de ellos siguen siendo

ordenado hasta su punto de fusin. Mediante clculos similares a los realizados en el apartado anterior, la estructura factores de 0-latn, para la CuZn composicin ideal, puede ser demostrado ser F = (/ Cu + / Zn), para (h + k + l) incluso, F = S (FCU ~ / Zn), para (h + k + I) impar. En otras palabras, hay lneas fundamentales, aquellos para los que (h + k + l) es par, que no se modifican en intensidad si la aleacin es ordenado o no. Y hay lneas superpuesta, aquellos para los cuales (h + k + l ') es impar, que slo estn presentes en el patrn de una aleacin exhibe algn grado de orden, y despus con una intensidad que depende del grado de orden presentar. Figura 13-4 muestra cmo el grado de orden de largo alcance en CuZn vara con la temperatura. El parmetro para CuZn disminuye continuamente a cero cuando T enfoques Te, mientras que para AuCu3 sigue siendo bastante alta hasta Tc y luego cae abruptamente a cero. Tambin hay una diferencia notable en la velocidad de la transformacin trastorno de orden en estos dos aleaciones. La transformacin en AuCu3 es relativamente lento por lo que el estructura de esta aleacin a cualquier temperatura puede ser retenido por temple a temperatura ambiente, como se evidencia por los patrones de difraccin en la fig. 13-3. En CuZn, por otro lado, la ordenacin es tan rpida que el trastorno existente en una temperatura elevada, no puede mantenerse a temperatura ambiente, no importa cmo el rpido enfriamiento. Por lo tanto, cualquier espcimen de CuZn a temperatura ambiente puede presumirse que ser completamente ordenado. (El S vs T / TC curva de CuZn, que se muestra en la figura. 13-4, se basa necesariamente en las mediciones hizo a la temperatura con un difractmetro de alta temperatura.) No todas las transformaciones de orden-desorden son tan simples, cristalogrficamente hablando, como los que ocurren en AuCu3 y CuZn. Complejidades se encuentran,

por ejemplo, en aleaciones de oro y cobre en o cerca de la composicin AuCu; estas aleaciones se vuelven ordenado por debajo de una temperatura crtica de aproximadamente 420C o inferior, dependiendo de la composicin (vase la fig. 13-5). Mientras la proporcin de oro a tomos de cobre en AuCu3 es 1: 3, esta relacin es de 1: 1 para AuCu, y la estructura de AuCu ordenado por lo tanto debe ser tal que la relacin de yacimientos de oro a sitios cobre tambin es 1:1. Dos formas ordenadas se producen, dependiendo de la temperatura de pedido, y estos tienen cristalina diferente estructuras: (A) AuCu tetragonal, designada "(I), formado por un enfriamiento lento desde altas temperaturas o por debajo de aproximadamente isotrmica pedido 380C. La unidad de clulas se muestra en la figura. 13-7 (a). Es casi cbico en forma, ya que c / a es igual a aproximadamente 0,93, y los tomos de oro y cobre ocupar alternos (002) planos. (B) Ortorrmbico AuCu, designada "(II), formado por isotrmica ordenando entre aproximadamente 420 y 380C. Su unidad muy inusual de clulas, que se muestra 13-3] OTROS EJEMPLOS DE LARGO ALCANCE PARA 371 (A) "(I)-Utragonal (H) una "(1 1 l-oithorhombic La figura. 13-7. Celdas unitarias de las dos formas de AuCu ordenado. en la figura. 13-7 (b), se forma colocando diez celdas tetragonales como la de un "(I) lado a lado y luego traducir cinco de ellos por los vectores c / 2 y un 2 / con respecto a los otros cinco. (Algunos se produce distorsin, con el resultado thateach de los diez clulas componentes, que en conjunto forman la celda unidad verdadera, pero no es tetragonal ortorrmbico, es decir, b no es exactamente diez veces, pero igual a aproximadamente 10.02a. El c / a relacin es aproximadamente 0,92.) El resultado es una estructura en el que los tomos en una cualquiera de (002) plano son totalmente de oro para una distancia de 6/2, entonces cobre totalmente por una distancia de 6/2, y as sucesivamente.

Desde un punto de vista cristalogrfico, hay una diferencia fundamental entre el tipo de pedido que se produce en AuCu3 o CuZn, en el que mano, y que se produce en AuCu, por el otro. En AuCu3 hay una cambiar en red de Bravais, pero ningn cambio en el sistema de cristal, que acompaa la transformacin desorden-orden: tanto las formas desordenadas y ordenadas son cbicos. En AuCu, los cambios en el proceso de pedido, tanto la red de Bravais y el sistema cristalino, el ltimo de cbico a tetragonal, AuCu (I), o ortorrmbica, AuCu (II). Estos cambios se deben a cambios en la simetra de acuerdo tomo, ya que el sistema de cristal para que un dado estructura pertenece depende en ltima instancia de la simetra de esa estructura (Vase cap. 2-4). En el sistema de oro y cobre, la fase desordenada a es cbico, porque la disposicin de los tomos de cobre y oro sobre un enrejado de cara centrada tiene simetra cbica, en un sentido estadstico, en cualquier composicin. En 3, el proceso de pedido pone los tomos de oro y cobre en definitiva 372 ORDER-DISO RDEN TRANSFORMACIONES [CAP. 13 posiciones en cada celda (Fig. 13-1), pero este acuerdo todava tiene simetra cbica por lo que la clula sigue siendo cbico. En AuCu ordenado, por otra parte, a considerar slo la modificacin tetragonal, la disposicin es tal tomo que ya no hay tres simetra de rotacin sobre direcciones de la forma (111). Puesto que este es el requisito de simetra mnimo para el sistema cbico, esta celular [fig. 13-7 (a)] no es cbica. Hay, sin embargo, cuatro veces la simetra rotacional alrededor de [001], pero no acerca de [010] o [100]. La forma ordenada es consecuencia tetragonal. La segregacin de los oro y cobre en tomos alternos (002) aviones causa c diferir de una, en este caso en la direccin de una pequea contraccin de c con respecto a una, porque de la diferencia de tamao entre el oro y los tomos de cobre. Pero incluso si c eran igual a a, la celda mostrada en la figura. 13-7 (a) todava sera clasificado como

tetragonal sobre la base de su simetra. 13-4 Deteccin de lneas superpuesta. Ya hemos visto que la intensidad de una lnea de superretcula de una solucin ordenada slida es mucho menor que la de una lnea fundamental. Ser capaz de ser tan bajo que la lnea no puede ser detectado? Podemos hacer una estimacin aproximada ignorando la variacin en el factor de multiplicidad y el factor de Lorentz-polarizacin de lnea a lnea, y suponiendo que las intensidades relativas integradas de una superretcula y lnea fundamental vienen dados por su pariente \ F \ 2 valores. Para completamente ordenado AuCu3, por ejemplo, nos encontramos con las ecuaciones. (13-1) que Intensidad (lnea de superred) \ F \ 8 2 _ (/ AU ~ / GU) " Intensidad (lnea fundamental) | F | / 2 (/ AU + 3/cJ A (sen 0) / X = podemos poner / = Z y, puesto que los nmeros atmicos de oro y el cobre son 79 y 29, respectivamente, Eq. (13-6) se convierte, para los pequeos ngulos de dispersin, _ ^ zz 0.09. Si [79 + 3 (29)] 2 Lneas de superred, por tanto, slo una dcima parte tan fuerte como fundamental lneas, pero todava se puede detectar sin ninguna dificultad, como se muestra por La figura. 13-3. Pero en CuZn, incluso cuando est completamente ordenada, la situacin es mucho peor. La nmeros atmicos de cobre y zinc son 29 y 30, respectivamente, y, por lo los mismos supuestos que antes, nos encontramos con que

Yo, (cu / - / Zn) 2 (29 - 30) 2 / / ~ (/ Cu + / Zn) 2 (29 + 0,0003. Esta proporcin es tan baja que las lneas superpuesta de CuZn ordenado pueden ser detectados por difraccin de rayos X slo en circunstancias muy especiales. La Lo mismo es cierto de cualquier superretcula de elementos A y B que se diferencian en atmica DETECCIN DE LNEAS superred 02 04 0.6 8 La figura. 13-8. Variacin de A / con X / X / t. (Datos de R. W. James, The Optical Principios de la difraccin de los rayos X, G. Bell and Sons, Ltd., Londres, 1948, p. 608.) nmero por slo una o dos unidades, porque la intensidad superretcula de lnea es generalmente proporcional a (/ a / e) 2 Hay una forma, sin embargo, de aumento de la intensidad de una superred lnea con respecto a la de una lnea fundamental, cuando los dos tomos involucrados tienen casi los mismos nmeros atmicos, y que es por la adecuada eleccin de la longitud de onda incidente. En el anlisis de los factores de dispersin atmicos dado en la seccin. 4-3 se asumi tcitamente que el factor de dispersin atmico era independiente de la longitud de onda incidente, siempre y cuando la cantidad (Sen 0) / X era constante. Esto no es del todo cierto. Cuando la longitud de onda incidente

X es casi igual a la longitud de onda \ K del borde de absorcin K de el elemento de dispersin, entonces el factor de dispersin atmico de dicho elemento pueden ser varias unidades ms bajo que cuando X es mucho ms corto que X #. Si ponemos / = factor de dispersin atmico para X \ K (este es el valor usual tabulados como, por ejemplo, en el Apndice 8) y un cambio / = en / cuando X es cerca de XA, a continuacin, la cantidad / '= / + A / da el valor de la dispersin atmico Factor X cuando est cerca de XA-Figura 13-8 muestra aproximadamente A / vara con X / Xa, y esta curva se puede utilizar para estimar la correccin A / que se debe aplicar para cualquier combinacin particular de longitud de onda y elemento de dispersin. * * Estrictamente hablando, A / depende tambin del nmero atmico del elemento de dispersin, lo que significa que una curva de correccin diferente se requiere para cada elemento. Pero la variacin de A / con Z no es muy grande, y la fig. 13-8, que se calcula para un elemento de nmero atmico medio (alrededor de 50), se puede utilizar con bastante buen de precisin, segn una curva de correccin maestro para cualquier elemento. 374 ORDER-DISO RDEN TRANSFORMACIONES [CAP. 13 La figura. 13 9. 04 06 sen 6 ^'' Factores atmicos de dispersin de cobre de dos longitudes de onda diferentes. Cuando A/AA- es menor que aproximadamente 0,8, la correccin es prcticamente despreciable. Cuando A / A A-excede de aproximadamente 1,6, la correccin es prcticamente constante y independiente de las variaciones pequeas en AA. Pero cuando A es cerca de AA, la pendiente de la curva de correccin es bastante elevado, lo que significa que el A / correccin pueden ser muy diferentes para dos elementos de casi el mismo nmero atmico.

Al tomar ventaja de este hecho, a menudo puede aumentar la intensidad de un superred lnea por encima de su valor normal. Por ejemplo, si se ha pedido CuZn se examina con Mo radiacin Ka \ / \ K es 0,52 para el tomo de cobre y 0,55 para el tomo de zinc. El valor de A / es a continuacin, sobre cualquier tomo de 0,3 para, y la intensidad de una lnea de superretcula sera proporcional a [(29 + 0,3) - (30 + 0,3)] 2 = 1 para valores bajos de 20. Bajo estas circunstancias la lnea sera invisible en presencia del fondo usual. Pero si Zn radiacin Ka se utiliza, A / AA se convierte en 1,04 y 1,11 para los tomos de cobre y zinc, respectivamente, y la fig. 13-8 muestra que las correcciones son 3,6 y 2,7, respectivamente. El superretculointensidad de lnea es ahora proporcional a [(29 3,6) (30 2,7)] 2= 3,6, que es lo suficientemente grande como para permitir la deteccin de la lnea. Cu Ka radiacin tambin ofrece alguna ventaja sobre Mo Ka, pero no tan grande una ventaja como Zn / fa, y el orden en CuZn se puede detectar con Cu Ka slo si crystalmonochromated se usa la radiacin. Para una buena aproximacin, el cambio en el factor de dispersin atmico A / es independiente del ngulo de dispersin y por lo tanto una constante para todas las lneas en el patrn de difraccin. Por lo tanto, podemos construir una corregida / 'curva aadiendo, algebraicamente, el mismo valor A / a todas las ordenadas de la usual / Vs (sen 0) / curva A, como en la figura. 13-9. 13-5] CORTO PLAZO PARA AGRUPACIONES Y 375 Por tanto, aprovecharse de este cambio anmalo en el factor de dispersin cerca de un borde de absorcin, en realidad estamos empujando el mtodo de rayos X sobre como hasta el tope. Una mejor herramienta para la deteccin de la orden en aleaciones de metales de casi el mismo nmero atmico es difraccin de neutrones (Anexo 14).

Dos elementos pueden diferir en nmero atmico en una sola unidad y, sin embargo su poderes de dispersin de neutrones puede ser totalmente diferente, una situacin propicia a alta intensidad superpuesta-line. 13-5 de corto alcance entre el orden y agrupamiento. Por encima de la temperatura crtica Tc orden de largo alcance desaparece y se convierte en la distribucin atmica ms o menos aleatoria. Esto se indica por la ausencia de lneas superpuesta del patrn de polvo. Pero un anlisis cuidadoso de la dispersin difusa que forma el fondo de la muestra patrn que la aleatoriedad perfecta no se alcanza. En su lugar, hay una tendencia mayor que a diferencia de promedio para tomos de ser vecinos ms cercanos. Esta condicin se conoce como de corto alcance orden. Por ejemplo, cuando perfecto orden de largo alcance existe en AuCu3, un tomo de oro situado en est rodeado por 12 tomos de cobre en f \ y equivalente posiciones (vase la fig. 13-1), y cualquier tomo de cobre est igualmente rodeado dado por 12 tomos de oro. Este tipo de agrupamiento es un resultado directo de la existente orden de largo alcance, que tambin requiere que los tomos de oro se encuentren en sitios de esquina y los tomos de cobre en la cara centrados en los sitios. Por encima de Tc este fin se rompe y, si la distribucin atmica convirti verdaderamente aleatorio, un tomo de oro dado se puede encontrar en cualquiera de una esquina o en el sitio de caras centradas. Entonces sera slo tiene f (12) = 9 tomos de cobre como vecinos ms cercanos, ya que en promedio 3 fuera de 4 tomos en la solucin son de cobre. En realidad, se observa que algo de orden de corto alcance existe por encima de Tc: a 460C, por ejemplo, que est por encima de 65 C TC1 hay en promedio aproximadamente 10,3 tomos de cobre alrededor cualquier tomo dado oro. Este es un efecto bastante general. Cualquier solucin slida que exhibe largo alcance orden por debajo de una cierta temperatura exhibe un orden de corto alcance

por encima de esa temperatura. Por encima de Tc el grado de orden de corto alcance disminuye como se eleva la temperatura, es decir, aumentando la agitacin trmica tiende para hacer la distribucin atmica ms y ms al azar. Una interesante hecho acerca de orden de corto alcance es que tambin se ha constatado que existe en slido soluciones que no sean objeto de largo alcance or4ering a bajas temperaturas, tales como soluciones de plata y oro-nquel-oro. Podemos imaginar otro tipo de desviacin de la aleatoriedad en un slido solucin, a saber, una tendencia de los tomos como para ser vecinos cercanos. Esta efecto es conocido como el agrupamiento, y se ha observado en aluminio y plata y de aluminio-cinc soluciones. De hecho, probablemente no hay tal cosa como una solucin slida perfectamente aleatoria. Todas las soluciones reales probablemente exhiben ya sea de corto alcance ordenar o agrupar en un grado mayor o menor medida, simplemente be376 TRASTORNO DE PEDIDO transformaciones [cap. 13 04 0,8 12 20 24 2 Mx S 3.2 3 (> La figura. 13-10. Calculado intensidad / D de dispersin difusa en los patrones de polvo de soluciones slidas (aqu, la aleacin cbica centrada en las caras Xi4Au), que presentan completa aleatoriedad, de corto alcance orden y agrupamiento. La curva de orden de corto alcance es calculado sobre la base de uno adicional a diferencia vecino ovei la configuracin aleatoria, y la agrupacin curva sobre la base de una diferencia de menos vecino. (BE Warren y Averbach BL, Tcnicas Modernas de Investigacin en Metalurgia Fsica, American Society for Metals, Cleveland, 1953, p. 95.) causar que se componen de tomos con diferencia de fuerzas particulares de atraccin o repulsin de operacin entre ellos. El grado de orden de corto alcance o de agrupamiento puede ser definido en trminos de un parmetro adecuado, tal como orden de largo alcance es, y el valor de este parmetro puede estar relacionado con los efectos de difraccin producidos. El general

la naturaleza de estos efectos se ilustra en la figura. 13-10, donde la intensidad de la dispersin difusa se representa, no contra 26, pero con una funcin de pecado B. (Las lneas fundamentales no estn incluidos en la fig. 13-10 porque su intensidad es demasiado alta en comparacin con la dispersin difusa se muestra, pero la posiciones de dos de ellos, 111 y 200, se indican en la abscisa.) Si la distribucin atmica es perfectamente aleatoria, la intensidad dispersada disminuye poco a poco como 20 o pecado 6 aumenta desde cero, de conformidad con Eq. (13-4). Si de corto alcance orden existe, la dispersin a ngulos pequeos se convierte en amplio mximos menos intensos y ocurren bajo de la curva de dispersin; estos mximos se encuentran normalmente en las mismas posiciones angulares como el fuerte superred formada por lneas de largo alcance ordenamiento. Clustering hace fuerte dispersin en ngulos bajos. Estos efectos, sin embargo, son muy dbiles y estn enmascarados por el otro formas de dispersin difusa, que estn siempre presentes. Como resultado, los dePROBLEMS 377 colas se muestra en la figura. 13-10 nunca se observan en un patrn de polvo ordinario hizo con radiacin filtrada. Para revelar estos detalles y as aprender algo acerca de la estructura de la solucin slida, es necesario utilizar estrictamente radiacin monocromtica y tener en cuenta para el otro, las formas de dispersin difusa, principalmente la temperatura difusa y modificado Compton, que estn siempre presentes. PROBLEMAS 13-1. Un modelo de Debye-Scherrer se hace con radiacin Cu Ka de AuCu3 inactiv a partir de una temperatura de TV La relacin de la intensidad integrada de la 420 lnea a la de la lnea 421 se encuentra que es 4,38. Calcular el valor del largo alcance orden de los parmetros S a una temperatura T \. (Tomar el parmetro de red de AuCua como 3.75A. No haga caso de la pequea diferencia entre los factores de polarizacin de Lorentz-

para estas dos lneas y las correcciones a los factores de dispersin atmicos mencionados en la seccin. 13-4.) 13-2. Calcular la relacin de la intensidad integrada de la lnea 100 superretcula a la de la lnea 110 fundamental para completamente ordenada #-latn, si la radiacin Cu Ka se utiliza. Estimar las correcciones a los factores de dispersin atmicos de la fig. 13-8. El parmetro de red de / 3-latn (CuZn) es 2.95A. 13-3. (A) Qu es la red de Bravais de AuCu (I), el tetragonal ordenado modificacin? (B) Calcular los factores de estructura para el (tetragonal) desordenado y ordenado formas de AuCu. (C) Sobre la base de los clculos realizados en (6) y un examen del cambio en el C / A, describir las diferencias entre los patrones de polvo de la ordenada y desordenados (tetragonal) formas de AuCu.

CAPTULO 14 ANALISIS QUIMICO por difraccin

14-1 Introduccin. Una determinada sustancia produce siempre una caracterstica patrn de difraccin, si dicha sustancia est presente en el estado puro o como un constituyente de una mezcla de sustancias. Este hecho es la base para los el mtodo de difraccin de anlisis qumico. El anlisis cualitativo para un determinado sustancia se lleva a cabo mediante la identificacin del patrn de que sustancia. El anlisis cuantitativo tambin es posible, debido a que las intensidades de las lneas de difraccin debido a uno de los constituyentes de una mezcla depender de la proporcin de ese constituyente en la muestra. La ventaja particular de anlisis de difraccin es que da a conocer la presencia de una sustancia como sustancia que existe de hecho en la muestra, y no en trminos de sus elementos qumicos constitutivos. Por ejemplo, si una muestra

contiene el compuesto A ^ Por el mtodo de difraccin revelar la presencia de AXEV como tal, mientras que el anlisis qumico ordinario slo mostrara la presencia de elementos A y B. Por otra parte, si la muestra contiene tanto AxBy y axb2 | /, ambos de estos compuestos puede ser revelada por el Mtodo de anlisis de difraccin, sino qumico volvera a indicar slo la presencia de A y B. * Para considerar otro ejemplo, el anlisis qumico de un acero al carbono simple revela slo las cantidades de hierro, carbono, manganeso, etc, que el acero contiene, pero no proporciona ninguna informacin con respecto las fases presentes. Es el acero en cuestin totalmente martenstica, se contienen tanto martensita y austenita, o est compuesto slo de ferrita y cementita? Preguntas como estas pueden ser respondidas por la difraccin mtodo. Otra aplicacin ms obvia de anlisis de difraccin es la hora de distinguir entre diferentes modificaciones alotrpicas de la misma sustancia: slice slida, por ejemplo, existe en uno y seis amorfo cristalino modificaciones, y los patrones de difraccin de estas siete formas son todos diferentes. El anlisis de difraccin por lo tanto es til siempre que es necesario conocer el estado de la combinacin qumica de los elementos involucrados o particular, la las fases en las que estn presentes. Como resultado, el mtodo de difraccin * Por supuesto, si la muestra contiene slo A y B, y si se puede suponer con seguridad que cada uno de estos elementos est totalmente en una forma combinada, a continuacin, la presencia de AJB, y A ^ B ^ se puede demostrar mediante clculos basados en la cantidad de A y B en la muestra. Pero este mtodo no es aplicable en general, y por lo general se comporta que se asuman previo de la constitucin de la muestra. Por ejemplo, una determinacin de los importes totales de A y B presente en una muestra compuesta por A AjBy, y B no puede, por s misma, revelar la presencia de AxBy, ya sea cualitativamente

o cuantitativamente. 378 14-3] Anlisis cualitativo: EL MTODO Hanawalt 379 ha sido ampliamente aplicado para el anlisis de materiales tales como minerales, arcillas, refractarios, aleaciones, productos de corrosin, productos de desgaste, los polvos industriales etc En comparacin con el anlisis qumico ordinario, el mtodo de difraccin tiene la ventaja adicional de que es por lo general mucho ms rpido, slo requiere una muestra muy pequea, y no es destructiva. ANLISIS CUALITATIVO 14-2 principios bsicos. El patrn de polvo de una sustancia es caracterstico de tal sustancia y forma una especie de huella digital por el cual la sustancia pueden ser identificados. Si tuviramos a la mano una coleccin de patrones de difraccin para un gran nmero de sustancias, fue posible identificar un desconocido mediante la preparacin de su patrn de difraccin y luego localizar en nuestro archivo de patrones conocidos uno que coincidi con el patrn de la exactitud desconocida. La coleccin de patrones conocidos tiene que ser bastante grande, si se desea que sea til en absoluto, y luego patrn por patrn de comparacin con el fin de encontrar una coincidencia se convierte fuera de la cuestin. Lo que se necesita es un sistema de clasificacin de los patrones conocidos de modo que el una que coincide con el desconocido puede ser localizada rpidamente. Un sistema de este fue ideado por Hanawalt en 1936. Cualquier patrn de polvo de uno se caracteriza por un conjunto de 26 posiciones de lnea y un conjunto de intensidades relativas de lnea I. Pero las posiciones angulares de las lneas depender de la longitud de onda utilizada, y una cantidad ms fundamental es la separacin d de los planos de la red que forman cada lnea. Hanawalt decidido describir cada patrn por el listado las D y / valores de sus lneas de difraccin, y para disponer los patrones conocidos

en la disminucin de los valores de d para la lnea ms fuerte en el patrn. Esta arreglo hecho posible un procedimiento de bsqueda que rpidamente se ubicara el patrn deseado. Adems, el problema de resolver el patrn era evitarse y el mtodo podra ser utilizado incluso cuando la estructura cristalina de la sustancia en cuestin era desconocido. 14-3 El mtodo Hanawalt. La tarea de construir una coleccin de patrones conocidos fue iniciado por Hanawalt y sus colaboradores, quienes obtuvieron y datos clasificados de difraccin de alrededor de 1000 sustancias diferentes. Este trabajo se extendi ms tarde por la Sociedad Americana para Pruebas de Materiales con la ayuda, a escala internacional, de un nmero de otras sociedades cientficas. La ASTM public por primera vez una coleccin de difraccin datos en 1941 en forma de un conjunto de 3 X 5 "tarjetas que contenan datos sobre unas 1300 sustancias. Varios conjuntos complementarios han aparecido desde vez en cuando, la ms reciente en 1955, y todos los juegos de los tomados juntos ahora cubrir algunas sustancias 5900. La mayora de estos son elementos inorgnicos y compuestos, aunque algunos compuestos orgnicos y minerales tambin estn incluidos. 380 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 El conjunto original (1941) y el conjunto complementario de primera (1944) han estado fuera de impresin desde 1947. Ambos conjuntos se han revisado y reeditado en 1949. El siguiente conjuntos estn disponibles actualmente: Aprox Ao. nmero Nombre de la Seccin conjunto emitido de sustancias Revisado originales 1 1949 1300 Suplementario Revisado primero 2 1949 1300 En segundo suplementario 3 1949 1300 Cuarto *

4 1952 700 Quinta 5 1954 700 Sexto 6 1955 600 Cada tarjeta contiene un cdigo de cinco dgitos: x-xxxx. El dgito antes del guin es el nmero de la seccin y de los dgitos despus del guin forma que el nmero de tarjeta en la seccin. Por lo tanto, la tarjeta es la tarjeta 3-0167 167a en la Seccin 3 (el segundo complementario de ajuste). Dado que ms de una sustancia puede tener el mismo, o casi el mismo, d valor para su lnea ms fuerte e incluso su lnea de segundo ms fuerte, Hanawalt decidi caracterizar cada sustancia por los valores de d de su ms enrgica tres lneas, es decir, di, d2, y c? 3 para el ms fuerte, el ms fuerte de segundo, y thirdstrongest lnea, respectivamente. Los valores de di, d2, d3 y, junto con los intensidades relativas, generalmente son suficientes para caracterizar el patrn de un desconocido y habilitar el patrn correspondiente en el archivo que se encuentra. En cada seccin del archivo de ASTM, las tarjetas estn dispuestos en grupos que se caracterizan por un cierto rango de d \ espaciamientos. Dentro de cada grupo, por ejemplo, la grupo cubierta d \ valores de 2,29 a 2.25A, las tarjetas estn dispuestos en la disminucin orden de los valores de d2, en lugar de valores di. Cuando varias sustancias en el mismo grupo tienen los mismos valores de d2, el orden decreciente valores d3 es seguido. Los mismos grupos estn dispuestos en la disminucin orden de sus d \ rangos. Una tarjeta tpica del archivo de ASTM se reproduce en la fig. 14-1. Al parte superior izquierda aparecen las valties d para las tres lneas ms fuertes (2,28, 1,50, 1.35A) y, adems, el mayor valor de d (2.60A) para esta estructura. A continuacin estos valores de d son las intensidades relativas / / / i, expresado como porcentajes de la lnea ms fuerte en el patrn. Inmediatamente debajo de la smbolo I / I \ es el nmero de serie de la tarjeta, en este caso 1-1188. Abajo

los datos de intensidad se dan detalles del mtodo utilizado para obtener el patrn (radiacin, el dimetro de la cmara, el mtodo de medicin de la intensidad, etc), y una referencia al trabajo experimental original. El resto de la izquierda parte de la tarjeta contiene espacio para varios cristalogrfica, ptico, y los datos qumicos que se describen completamente en las tarjetas de introduccin de el conjunto. Cuanto menor porcin derecha de la tarjeta contiene una lista de los valores de d y / / / I para todas las lneas de difraccin observados. 14-3] ANLISIS CUALITATIVO! EL MTODO Hanawalt 381 La figura. 14-1. Estndar 3 X 5 "tarjeta de datos de difraccin de ASTM tor molibdeno carburo. (Cortesa de la American Society for Testing Materials.) Aunque un patrn particular puede ser localizado por una bsqueda directa de la archivo de tarjeta, un gran ahorro de tiempo por lo general puede efectuarse mediante el uso del ndice libros que acompaan al archivo. Cada libro contiene dos ndices: (1) Un ndice alfabtico de cada sustancia por su nombre. Despus de que el nombre tienen la frmula qumica, los valores de d y las intensidades relativas de los tres lneas ms fuertes, y el nmero de serie de la tarjeta en el archivo de la sustancia en cuestin. Todas las entradas son completamente indexado transversal, es decir, tanto "sodio cloruro "y" cloruro, sodio "se enumeran. Este ndice se va a utilizar si el investigador tiene ningn conocimiento de uno o ms elementos qumicos en la muestra. (2) un ndice numrico, el cual da las distancias y las intensidades de la tres lneas ms fuertes, la frmula qumica, nombre y nmero de serie de la tarjeta. Cada sustancia aparece tres veces, una vez con los tres principales lneas de aparecen en el orden usual hizo ^ d ^ de nuevo en el orden d ^ d \ d ^ y, finalmente, en el orden d ^ did2. Todas las entradas se dividen en grupos de acuerdo con la espaciamiento primera lista, la disposicin dentro de cada grupo en el descenso

Para la separacin de segunda lista. El propsito de estos listados adicionales (Segundos ms fuerte lnea primero y tercero ms fuerte-primera lnea) es permitir que el usuario para que coincida con un desconocido con una entrada en el ndice incluso cuando complicando factores han alterado las intensidades relativas de los tres mayores lneas de lo desconocido. * Estos factores de complicacin generalmente se deben a la * En el conjunto original de las tarjetas (1941) y el conjunto complementario de primera (1944), esta triple mtodo de lista extensiva a las tarjetas ellos mismos, es decir, hubo tres tarjetas en el archivo para cada sustancia. Debido a que el archivo de la tarjeta resultante era demasiado voluminoso, este mtodo fue abandonado en todos los conjuntos emitidos en 1949 y en adelante. 382 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 presencia de ms de una fase en la muestra. Esto conduce a adicionales lneas y lneas incluso superpuestas. El uso del ndice numrico no requiere el conocimiento de la composicin qumica de la muestra. El anlisis cualitativo por el mtodo Hanawalt comienza con la preparacin del patrn de la desconocida. Esto se puede hacer con un DebyeScherrer cmara o un difractmetro, y cualquier otra caracterstica conveniente radiacin, siempre que se elige de manera que la fluorescencia se reduce al mnimo y un nmero adecuado de lneas aparecen en el patrn. (La mayora de los datos en la Archivo de ASTM se obtuvieron con una cmara de Debye-Scherrer y radiacin Mo Ka. Puesto que un cambio en la longitud de onda altera las intensidades relativas de los lneas de difraccin, lo que significa que un patrn hecho con radiacin Cu Ka, por ejemplo, pueden no ser directamente comparable con uno en el archivo. Factores para convertir las intensidades de una Ka de Cu a una base Mo Ka se dan en una preparacin introductoria Modelo de la ficha en el archivo de ASTM.) debe ser tales como para reducir al mnimo la orientacin preferida, ya que este ltimo puede causar relativa intensidad de las lneas que difieren notablemente de sus valores normales. Si el espcimen

tiene un gran coeficiente de absorcin y se examina en un Debye-Scherrer cmara, las lneas de bajo ngulo puede aparecer duplicado, y tanto sus posiciones y las intensidades relativas pueden ser seriamente en error. Este efecto puede ser evitarse mediante dilucin de la desconocida, tal como se describe en la seccin. 6-3. Despus de que el patrn de la desconocida se prepara, el espaciado d correspondiente plano para cada lnea en el patrn se calcula, u obtenidos a partir de tablas que dan d como una funcin de 26 para diversas longitudes de onda caractersticas. Alternativamente, una escala puede ser construido que da d directamente como una funcin de posicin de lnea cuando se colocan en la tabla de pelcula o difractmetro, la precisin obtenible por tal escala, aunque no es muy alta, es generalmente suficiente para fines de identificacin. Si el patrn de difraccin ha sido obtenido en la pelcula, las intensidades relativas de lnea se calcula por ojo. La ASTM sugiere que estas estimaciones se asignan los valores numricos siguientes: Muy, muy fuerte (40 (Lnea ms fuerte) = 100 1 30 Muy fuerte Faint = 90 = 20 80 Muy dbil = 10 Fuerte [GO Media. N [OU En muchos casos, estimaciones muy aproximadas son todo lo que se necesita. Si es mayor exactitud se requiere, las intensidades relativas de lnea pueden ser obtenidos por la comparacin con una escala de intensidad graduada, mediante la exposicin de diversas porciones de una tira de pelcula a una intensidad constante haz de rayos X para las longitudes conocidas de tiempo. (Muchos de los datos de intensidad en el archivo de ASTM, incluyendo los valores se muestra para el carburo de molibdeno en la figura. 14-1, se obtuvieron de esta manera.) 14-4] EJEMPLOS DE ANLISIS CUALITATIVO 383

Si un difractmetro se utiliza para obtener el patrn, la grabacin automtica se proporcionar la suficiente precisin, y es costumbre para tomar la intensidad mxima por encima del fondo en lugar de la intensidad integrada como una medir la "intensidad" de cada lnea, a pesar de la intensidad integrada es la cantidad ms fundamental. Despus de que los valores experimentales de d y I / l \ estn tabulados, el desconocido se pueden identificar mediante el siguiente procedimiento: (1) Localice el propio grupo d \ en el ndice numrico. (2) Leer abajo de la segunda columna de valores de d para encontrar la coincidencia ms cercana a d2. (En la comparacin de valores d experimentales y tabulados, siempre permita la posibilidad de que cualquiera de los conjuntos de valores puede tener un error de 0,01.) (3) Despus de la coincidencia ms cercana se ha encontrado d1? d2 y d3, comparar sus intensidades relativas con los valores tabulados. (4) Cuando un buen acuerdo se ha encontrado los tres principales lneas de que figuran en el ndice, busque la tarjeta de datos sea correcta en el archivo, y comparar el d y 7 / / i valores de todas las lneas observadas con los tabulados. Cundo acuerdo total se obtiene, la identificacin es completa. 14-4 Ejemplos de anlisis cualitativo. Cuando lo desconocido es una sola fase, el procedimiento de identificacin es relativamente sencillo. Considere, por ejemplo, el patrn descrito en la Tabla 14-1. Se obtuvo Mo con radiacin Ka y una cmara de Debye-Scherrer; intensidades de lnea eran estima. Los valores experimentales de di, d2, y da son 2,27, 1,50, y 1.34a, respectivamente. Mediante el examen del ndice ASTM numrico nos encontramos que la lnea ms fuerte cae dentro del grupo de 2,29 a 2.25A de valores di. La inspeccin de los valores de d2 lista describe cuatro sustancias que tienen valores de d2 cerca de 1.50A. Los datos sobre las mismas se muestran en la Tabla 14-2, en la forma dada en el ndice. De estos cuatro molibdeno, carburo slo tiene

d3 un valor cercano al de nuestro desconocido, y observamos tambin que la relacin intensidades indicadas para los tres principales lneas de esta sustancia concuerdan bien TABLA 14-1 PATRN DE DESCONOCIDO 384 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 TABLA 14-2 PARTE DEL INDICE NUMERICO ASTM con las intensidades observadas. A continuacin, se refieren a la tarjeta de datos rodamiento nmero de serie 1-1188, reproducido en la fig. 14-1, y comparar el total patrn tabular all con los observados. Dado que el acuerdo es satisfactorio para todas las lneas observadas, el desconocido es identificado como molibdeno carburo, Mo2C. Cuando el desconocido se compone de una mezcla de fases, el anlisis naturalmente se vuelve ms compleja, pero no imposible. Considerar el patrn descrito en la Tabla 14-3, para el que dl = 2.09A, 2.47A = RF2, y d3 = 1.80A. Examen del ndice numrico en el grupo c / i 2,09 a 2.05a revela varias sustancias que tienen valores de d2 cerca 2.47A, pero en ningn caso las tres lneas ms fuertes, en conjunto, de acuerdo con los de el desconocido. Este impasse sugiere que lo desconocido es en realidad una mezcla de fases, y que son incorrectos en el supuesto de que los tres ms fuertes lneas en el patrn de lo desconocido son todos debidos a la misma sustancia. Supongamos que asumimos que la lnea ms fuerte (d = 2.09A) y el segundo-lnea ms fuerte (d = 2. 47A) estn formados por dos fases distintas, y que la tercera lnea ms fuerte (d = 1.80A) es debido a, por ejemplo, la primera fase. En otras palabras, se asume que di = 2.09A y d2 = 1.80A para uno fase. Una bsqueda en el mismo grupo de valores de DI, pero ahora en la proximidad de d2 = 1.80A, da a conocer un acuerdo entre las tres principales lneas de la

patrn de cobre, el nmero de serie 4-0836, y tres lneas en el patrn de nuestro desconocido. En cuanto a la tarjeta 4-0836, encontramos buen acuerdo entre todas las lneas del patrn de cobre, que se describe en la Tabla 14-4, con la estrellada lneas de la Tabla 14-3, el patrn de la desconocida. Una fase de la mezcla de este modo se ve que ser de cobre, proporcionando podemos cuenta para el resto de las lneas como debido a alguna otra sustancia. Estas lneas restantes se enumeran en la Tabla 14-5. Multiplicando todos los intensidades observadas por un factor de normalizacin de 1,43, aumentamos la intensidad de la lnea ms fuerte a 100. A continuacin, busque el archivo de ndice y tarjetas 14-4] EJEMPLOS DE ANLISIS CUALITATIVO 385 TABLA 14-3 PATRN DE DESCONOCIDO TABLA 14-4 MODELO DE COBRE en la forma habitual y se encuentra que estas lneas restantes de acuerdo con el patrn de xido cuproso, Cu2O, que se da a la derecha de la Tabla 14-5. La desconocido este modo se ve que es una mezcla de cobre y xido cuproso. El anlisis de las mezclas se vuelve an ms difcil cuando una lnea desde una fase est superpuesta sobre una lnea de otro, y cuando este compuesto lnea es uno de los tres ms fuertes lneas en el patrn de la desconocida. La procedimiento usual entonces slo conduce a una identificacin muy tentativo de una fase, en el sentido de que se obtiene un acuerdo para algunos valores de D, pero no para todas las intensidades correspondientes. Esto en s mismo es una prueba de superposicin de lnea. Estos patrones pueden ser desenredado por la separacin de las lneas que estn de acuerdo en el valor de d con los de la etapa X, la intensidad observada de cualquier superpuesta las lneas que se divide en dos partes. Una parte est asignado a la fase

X, y el equilibrio, junto con las restantes lneas no identificadas, es trata como en el ejemplo anterior. Algunos grandes laboratorios les resulta ventajoso el uso de datos de difraccin de tarjetas que contiene un cdigo perforado. Estos son de dos tipos, ambos obtenibles a partir la ASTM: Keysort tarjetas, que se pueden ordenar semimechanically, y TABLA 14-5 386 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 tarjetas estndar de IBM, que pueden ser ordenados por mquina. Un archivo de tarjeta de cualquiera tipo se pueden buscar en la base de valores observados d, y, adems, categoras particulares de tarjetas se puede quitar desde el archivo ms rpidamente que a mano. Por ejemplo, supongamos que una mezcla compleja se identifica y se sabe que un determinado elemento, por ejemplo de cobre, est presente. Entonces la codificacin punzn permitir la rpida eliminacin de las tarjetas de todos los compuestos que contiene cobre, y los datos de difraccin de estas tarjetas a continuacin, se pueden comparar con el patrn de la desconocida. 14-5 dificultades prcticas. En teora, el mtodo debera Hanawalt conducir a la identificacin positiva de cualquier sustancia cuyo patrn de difraccin se incluye en el archivo de tarjetas. En la prctica, plantean varios inconvenientes, y estos son por lo general ya sea debido a errores en el patrn de difraccin de lo desconocido o errores en el archivo de la tarjeta. Los errores del primer tipo, las que afectan a las posiciones observadas y las intensidades de las lneas de difraccin, se han discutido en varias partes de este libro y no necesita ser reexaminado aqu. Hay, sin embargo, un punto que merece una atencin y que se refiere a la difractmetro. Debe ser recordar que el elemento de absorcin de este instrumento es independiente del ngulo 20, mientras que, en una cmara de Debye-Scherrer, absorcin disminuye

intensidad de la lnea ms pequea en que a ngulos grandes, el resultado es que el lowangle lneas de la mayora de las sustancias parecen ms fuertes, en relacin a mediano o alto ngulo lneas, en una carta difractmetro de que en una fotografa de Debye-Scherrer. Este hecho debe tenerse en cuenta cada vez que un patrn difractmetro es comparado con uno de los patrones estndar en el archivo ASTM, porque prcticamente todos estos ltimos se obtuvieron con una cmara de Debye-Scherrer. Por otra parte, no debe llegarse a la conclusin de que el uso exitoso de la Hanawalt mtodo requiere mediciones relativas de intensidad extremadamente alta precisin. Es suficiente, en la mayora de los casos, para ser capaz de enumerar las lneas en el orden correcto de intensidad decreciente. Los errores en el archivo de tarjetas en s generalmente son ms graves, ya que pueden no se detectan por el investigador y conducir a identificaciones errneas. Incluso un examen somero del ndice alfabtico ASTM divulgarn numerosos ejemplos de sustancias representadas en el archivo por dos o ms tarjetas, a menudo con grandes diferencias en las tres principales lneas de la lista. Esta ambigedad puede hacer la identificacin de lo desconocido bastante difcil, porque el usuario debe decidir qu patrn en el archivo es el ms fiable. Trabajar est en curso de la Oficina Nacional de Normas para resolver tales ambigedades, corregir otros tipos de errores, y la obtencin de nuevos patrones estndar. Los resultados de este trabajo, que se hace todo con el difractmetro, se publican de vez en cuando en NBS Circular 539, "Standard X-Ray Patrones de difraccin de polvo, "* Y se incorporan en forma de tarjeta en la mayora de los * Cuatro secciones de la presente circular se han publicado hasta la fecha: Vols. I y II en 1953, Vol. III en 1954, y vol. IV en 1955. 14-6] IDENTIFICACIN DE LOS DEPSITOS DE SUPERFICIE 387 ha publicado recientemente las secciones del archivo de ASTM.

Siempre existe alguna duda en la mente del investigador en cuanto a la validez de una identificacin especial, debe preparar su propio patrn estndar. As, si el desconocido se ha identificado tentativamente como la sustancia X, los patrn de X puro se elaborar bajo exactamente el mismo diseo experimental condiciones utilizadas para el patrn de lo desconocido. La comparacin de los dos patrones se presentar la prueba positiva, o refutacin, de la identidad. El mtodo Hanawalt falla completamente, por supuesto, cuando el desconocido no es una sustancia incluida en el archivo de tarjeta, o cuando lo desconocido es una mezcla y el componente que se ha identificado no est presente en cantidad suficiente para producir un patrn de difraccin de buena. Este ltimo efecto puede ser bastante problemtico, y, como se mencion en la seccin. 4.12, las mezclas que se pueden encontrar contener ms de 50 por ciento de un componente en particular sin el patrn de que un componente est visible en el patrn de la mezcla. 14-6 Identificacin de depsitos en la superficie. Las superficies de metal con frecuencia se convierten contaminada, ya sea por reaccin de una sustancia con la base metal para producir una escala de xido, sulfuro, etc, o por adherencia simple de algn material extrao. Deteccin e identificacin de tales depsitos es por lo general una cuestin fcil si el objeto metlico se examina directamente por algunos reflexin mtodo de difraccin, sin hacer ningn intento de quitar el depsito de superficie para examen por separado. Un mtodo de reflexin es particularmente adecuada debido a la muy baja la penetracin de los rayos X en la mayora de los metales y aleaciones, como se discute en detalle en la seccin. 9-5. El resultado es que la mayor parte del patrn de difraccin registrado es producido por una capa superficial muy delgada, una circunstancia favorable a la deteccin de pequeas cantidades de depsitos en la superficie. El difractmetro se un instrumento ideal para este propsito, en particular para el examen directo

de material de lmina. Su sensibilidad para un trabajo de este tipo es a menudo sorprendentemente alta, como se evidencia por los patrones de difraccin fuertes producidos por depsitos superficiales que son apenas visibles. Un ejemplo de este tipo de anlisis de superficie producido en las operaciones de una planta de fabricacin de acero de chapa de acero templado para "estao" latas. El revestimiento de estao se aplic por inmersin en caliente, y el proceso es totalmente satisfactoria excepto para algunos lotes de hoja encontradas de vez en cuando que eran no humedecer de manera uniforme por el estao fundido. La nica diferencia visible entre la chapa de acero y satisfactorio insatisfactorio fue que la superficie de este ltimo apareci algo ms apagado que el de la primera. Examen de una pieza de la lmina insatisfactoria en el difractmetro de revelado el patrn de hierro (ferrita) y un fuerte patrn de algn material extrao. Referencia al archivo de tarjeta ASTM mostr que el depsito superficial era grafito finamente dividido. Una de las dificultades que se pueden encontrar en la identificacin de depsitos superficiales a partir de los patrones de difraccin de sus es causada por el hecho de que el individuo 388 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 cristales de tales depsitos son a menudo preferentemente orientados con respecto a la superficie sobre la que se encuentran. El resultado es una marcada diferencia entre los las intensidades observadas relativas de las lneas de difraccin y las dadas en las tarjetas de ASTM para muestras compuestas de cristales orientados al azar. En el ejemplo que acabamos de referirnos, la reflexin de los planos basales de los cristales hexagonales de grafito era anormalmente fuerte, indicando que la mayor de estos cristales se orientan con sus planos basales paralelo a la superficie de la lmina de acero. ANLISIS CUANTITATIVO (monofsico)

14-7 Anlisis qumico por la medida del parmetro. El parmetro de red de una solucin slida binario de B en A depende slo del porcentaje de B en la aleacin, siempre y cuando la solucin es insaturado. Este hecho puede ser constituir la base de un anlisis qumico mediante la medicin de parmetros. Todos que se necesita es una curva de parmetro vs composicin, tal como curva de estar La figura. 12-8 (b), que puede establecerse mediante la medicin del parmetro de red de una serie de aleaciones analizados previamente. Este mtodo se ha utilizado en estudios de difusin para medir el cambio en la concentracin de una solucin con distancia desde la interfaz original. Su precisin depende enteramente de la pendiente de la curva de parmetro-composicin. En los latones alfa, que puede para contener de aproximadamente el 40 por ciento de zinc en cobre, con una precisin de 1 por ciento zinc se puede lograr sin dificultad. Este mtodo slo es aplicable a las aleaciones binarias. En soluciones ternarias slidos, por ejemplo, los porcentajes de los dos componentes pueden ser independientemente variada. El resultado es que dos soluciones ternarias de composiciones muy diferentes puede tener el mismo parmetro de red. Anlisis Cuantitativo (multifase) 14-8 principios bsicos. El anlisis cuantitativo por difraccin se basa en el hecho de que la intensidad del patrn de difraccin de una fase particular en una mezcla de fases depende de la concentracin de esa fase en la mezcla. La relacin entre la intensidad y la concentracin no es generalmente lineal, ya que la intensidad difractada depende marcadamente de la coeficiente de absorcin de la mezcla y esto en s vara con la concentracin. Para encontrar la relacin entre la intensidad difractada y concentracin, se debe ir de nuevo a la ecuacin bsica de la intensidad difractada por un polvo espcimen. La forma de esta ecuacin depende del tipo de aparato

utilizado, es decir, la cmara o difractmetro, vamos a considerar slo el difractmetro aqu. [Aunque el trabajo cuantitativo bien se puede hacer, y tiene se ha hecho, con una cmara de Debye-Scherrer y microfotmetro, el mod148] Anlisis cuantitativo: PRINCIPIOS BSICOS 389 ern tendencia es hacia el uso del difractmetro, porque (a) este instrumento permite la rpida medicin de la intensidad y (b) su absorcin factor es independiente de B.] La expresin exacta de la intensidad difractada por una muestra de polvo de una sola fase en un difractmetro es: /7e 4\/ - GSO ( ~ 2M donde / = intensidad integrada por unidad de longitud de la lnea de difraccin, 7 = intensidad del haz incidente, e, m = carga y masa del electrn, c = velocidad de la luz, X = longitud de onda de la radiacin incidente, r = radio de difractmetro de crculo, A = rea de seccin transversal del haz incidente, v = volumen de celda unidad, F = factor de estructura, la multiplicidad p, = ngulo de Bragg, e -2M _ factor de temperatura (una funcin de 6) (previamente denominado cualitativamente en la seccin. 4-11), y M = coeficiente de absorcin lineal (que entra como 1/2M, el factor de absorcin). Esta ecuacin, cuya derivacin se pueden encontrar en diversos textos avanzados, se aplica a una muestra de polvo en forma de una placa plana de efectivamente infinita espesor, formando ngulos iguales con el incidente y haces difractados. [El cuarto trmino en la ecuacin. (14-1), que contiene el cuadrado de la estructura factor, el factor de multiplicidad, y el factor de Lorentz-polarizacin, se

ser reconocida como la ecuacin aproximada de la intensidad integrada relativa utilizado hasta ahora en este libro.] Podemos simplificar la ecuacin. (14-1) considerablemente para casos especiales. Tal como est, slo se aplica a una sustancia pura. Pero supongamos que queremos analizar una mezcla de dos fases, una y / 3. Entonces podemos concentrarnos en una determinada lnea de la fase de reescritura y Eq. (14-1) en trminos de esa fase solo. / Ahora se convierte en /, la intensidad de la lnea seleccionada de la fase A, y el lado derecho de la ecuacin debe ser multiplicado por ca, la fraccin de volumen de una en la mezcla, para permitir el hecho de que el volumen de difraccin de una en la mezcla es menor de lo que sera si la muestra fuera un puro. Por ltimo, hay que sustituir por M Mm, Mm, donde es la absorcin lineal coeficiente de la mezcla. En esta nueva ecuacin, todos los factores son constantes e independiente de la concentracin de un excepto ca y Mm, y podemos escribir la = (14-2) Mm donde Ki es una constante. Para poner la ecuacin. (14-2) en una forma til, hay que expresar M en trminos de la concentracin. De la ecuacin. (1-12) tenemos Ma \ ) Pa / Mm Ma M / 3 Pm = M \ Pa 390 ANALISIS QUIMICO BT difraccin [CAP. 14 donde w denota la fraccin de peso y la densidad p. Considere la posibilidad de la unidad volumen de la mezcla. Su peso es de pm y el peso de un contenido es wapm. Por lo tanto, el volumen de una es wapm / PA, que es igual a CA, y un

expresin similar es aplicable a cp. La ecuacin (14-3) se convierte entonces en Mm = CAMA + CPUP = Ca / Ca + ~ ia) / * / 3 = Ca (fJLa M0) + M/3J Esta ecuacin relaciona la intensidad de una lnea de difraccin de una fase a la fraccin de volumen de fase y que los coeficientes de absorcin lineal de ambas fases. Podemos poner la ecuacin. (14-4) en una base de peso por unidad de masa de considerar la mezcla. El volumen de la contena una es wa / PA y el volumen de ft es wp / pp. Por lo tanto, L ^ (14-5) Wa / Pa + V> P/P0 77) -. / /> _ (14-6) Pa - 1/P0) Combinando las ecuaciones. (14-4) y (14-6) y simplificando, obtenemos / -. __ (14-7) Pa [u> a (PALP * - M0/P0) + M0/P0] Para el puro una fase, ya sea Eq. (14-2) o (14-7) da Iap = ^ - (14-8) Mam donde el subndice p denota difraccin de la fase pura. Divisin de la ecuacin. (14-7) en la ecuacin. (14-8) elimina el KI constante desconocida y da vuelta Wa (v-a/Pa ~ M/8/P /?) + M/3/P/3 Esta ecuacin permite el anlisis cuantitativo de una mezcla de dos fases, siempre

que los coeficientes de absorcin de masa de cada fase se conocen. Si no son conocidos, una curva de calibracin se pueden preparar mediante el uso de mezclas de composicin conocida. En cada caso, una muestra de un puro deben estar disponibles como un material de referencia, y las mediciones de Ia y debe ser Iap realizada en condiciones idnticas. 14-9] Anlisis cuantitativo: MTODO COMPARADO CON 391 En general, la variacin de la / 7a intensidad relacin / AP con wa no es lineal, como se muestra por las curvas de la figura. 14-2. Los puntos experimentales fueron obtenido mediante mediciones en mezclas binarias de polvo sintticos cuarzo, cristobalita, xido de berilio, y cloruro de potasio; las curvas se calcularon por la ecuacin. (14-9). La acuerdo es excelente. La lnea de obtenido para el cuarzo-cristobalita mezcla es recto, porque estas sustancias son dos formas alotrpicas del slice y por lo tanto tienen una masa idntica coeficientes de absorcin. Cuando el coeficientes msicos de absorcin de la dos fases son iguales, la ecuacin. (14-9) se convierte en o simplemente 05 1 o FRACCIN DE WK1GHT j CUARZO W (l - = Wa. Figura regazo. 14-2. Mediciones difractmetro hecha con radiacin Cu Ka La figura. 14-2 ilustra muy claramente cmo las mezclas binarias. / Q es el iritenthe

intensidad de un determinado difraccin * y de la reflexin desde el d = ,. r " i, i 3.34A j) carriles de cuarzo en una mezcla. lino cin de una fase depende de ^ w ^ intenjty () f ^ ^ flamc el coeficiente de absorcin de la otra fle (, Flom cin cuarzo puro. (L. E. fase. Para radiacin Cu Ka, el Alexander ami HP Klug, Anal. coeficiente de absorcin de masa Sea () es Chew. 20, XSG, 194S.) 8,0, de Si () 2 es 34,9, y de KC1 es 124. Por diversas razones, el procedimiento analtico esbozado no puede ser aplicar a la mayora de los especmenes de inters industrial. Una variedad de otros mtodos, Sin embargo, se ha ideado para resolver problemas particulares, y los dos ms importante de stos, el mtodo de comparacin directa y la interna mtodo estndar, se describirn en las siguientes secciones. Vale la pena sealar que todos estos mtodos de anlisis tienen una caracterstica esencial en comn: la medicin de la concentracin de una fase particular depende de la medicin de la relacin de la intensidad de una lnea de difraccin de que fase a la intensidad de alguna lnea de referencia estndar. En la "lnea nica" mtodo descrito anteriormente, la lnea de referencia es una lnea de la fase pura. En el mtodo de comparacin directa, es una lnea de otra fase en la mezcla. En el mtodo de patrn interno, es una lnea de un material extrao mezclado con la muestra. 14-9 mtodo de comparacin directa. Este mtodo es de mayor metalrgico inters, ya que se pueden aplicar directamente a policristalino masivo, especmenes. Se ha utilizado para medir la cantidad de retenido 392 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14

austenita en acero endurecido y se describir aqu en trminos de que problema especfico, aunque el mtodo en s es bastante general. Muchos aceros, cuando se inactiv a partir de la regin de austenita, no transforman completamente en martensita, incluso en la superficie. A temperatura ambiente, tales aceros consisten de martensita y austenita retenida y, adems, no disuelto carburos pueden o no estar presentes. La austenita retenida se inestable y puede transformar lentamente mientras que el acero est en servicio. Desde esta transformacin est acompaada por un aumento de volumen de aproximadamente 4 por ciento, la tensin residual est configurado adems de que ya est presente, o reales se producen cambios dimensionales. Por estos motivos, la presencia de incluso un pequeo porcentaje de austenita residual no es deseable en algunas aplicaciones, tales como bloques calibradores, piezas de mquinas hermticas, etc Por lo tanto, considerable inters en mtodos para determinar la cantidad exacta de austenita presentar. Examen microscpico cuantitativo es bastante satisfactoria como siempre que el contenido de austenita es bastante alto, pero deja de ser fiable por debajo aproximadamente 15 por ciento en muchos aceros de austenita. El mtodo de rayos X, por el otro mano, es bastante exacto en este rango de baja austenita, a menudo el intervalo de mayor inters prctico. Supongamos que un acero endurecido contiene slo dos fases, martensita y austenita. El problema es determinar la composicin de la mezcla, cuando las dos fases tienen la misma composicin, pero diferente de cristal estructura (martensita tetragonal centrada en el cuerpo y austenita se facecentered cbico). La "lnea nica" mtodo podra ser usado si una muestra de austenita puro o contenido de austenita conocida es disponible como un estndar. Normalmente, sin embargo, se procede de la siguiente manera. En la equaturn intensidad de base, Eq. (14-1), ponemos \ 32

(14-10) La intensidad difractada viene dado por / = ^, (14-11) 2n donde K2 es una cantidad constante, independiente del tipo y de la difraccin sustancia, y R depende de d, hkl, y el tipo de sustancia. Designando austenita y por el subndice y martensita por el subndice a, se puede escribir la ecuacin. (14-11) para una lnea de difraccin particular de cada fase: /, = 7 14-9] ANLISIS CUANTITATIVO! MTODO COMPARADO CON 393 / Y2/taCa 7a = ~ ^ r Divisin de los rendimientos de las ecuaciones p /. (14-12) El valor de cy / ca tanto, puede obtenerse a partir de una medicin de 77 / / a y un clculo de Ry y Ra. Una vez cy / ca, se utilizar el valor de la TC puede obtenerse a partir de la relacin adicional: De este modo podemos realizar una medicin absoluta del contenido de austenita del acero por comparacin directa de la intensidad integrada de una austenita lnea con la intensidad integrada de una lnea de martensita. * Al comparar varios pares de austenita-martensita lneas, podemos obtener varios independientes valores del contenido de austenita; cualquier desacuerdo serio entre estos valores indica un error en la observacin o clculo. Si el acero contiene una tercera fase, es decir, carburo de hierro (cementita), se puede determinar la concentracin de cementita bien por cuantitativa microscpica

examen o por la difraccin. Si medimos 7C, el integrado intensidad de una lnea de cementita en particular, y calcular RC, entonces podemos establecer una ecuacin similar a la ecuacin. (14-12) de la que se puede conseguir c7/cc. El valor de C7 se encuentra entonces a partir de la relacin cy + ca + cc = 1. En la eleccin de lneas de difraccin a medida, tenemos que estar seguros de evitar la superposicin o estrechamente las lneas adyacentes de las diferentes fases. La figura 14-3 muestra los patrones calculados de austenita y martensita en un carbono del 1,0 por ciento acero, hecho con Co radiacin Ka. Adecuadas lneas de austenita son el 200, 220, y 311 lneas, los cuales pueden ser comparados con la 002-200 y 112-211 dobletes martensita. Estos dobletes no suelen resolverse en separado lneas porque todas las lneas son normalmente bastante amplio, tanto desde la martensita y austenita, como se muestra en la figura. 14-4. (Figura 14-4 tambin muestra como la refrigeracin, inmediatamente despus del temple a temperatura ambiente, se puede disminuir la cantidad de austenita retenida y cmo una interrupcin en el enfriamiento rpido, seguido de un enfriamiento del aire, puede aumentarlo.) Las causas de la ampliacin de la lnea son el no uniforme microstrains presente en ambas fases del acero bonificado y, en muchos casos, el tamao de grano muy fino. * Recordando la discusin anterior sobre la desaparicin de la fase de rayos X mtodo de localizacin una lnea solvus (Sec. 12-4), observamos la ecuacin. (14-12) que la intensidad de la relacin Iy / Ia no es una funcin lineal de la fraccin en volumen c ^, o, para el caso, de la peso wy fraccin. 394 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 La figura. 14-3. Calculados patrones de polvo de austenita y martensita, que contienen cada uno 1,0 por ciento de carbono. Co radiacin Ka.

Al calcular el valor de R para una lnea de difraccin particular, diversos factores debe tenerse en cuenta. La celda unidad de volumen v se calcula a partir de la medidos parmetros de red, que son una funcin del contenido de carbono y aleaciones. Cuando los dobletes martensita estn sin resolver, la estructura factorial y multiplicidad de la martensita se calculan sobre la base de un bodyaustenite martensita 200 220 labrador-bonificado despus se enfri a-321F 2 9'V austenita v \ ATEI-apagado V * ^ ^ ^ ** XvHrtv 9 3r (, Austenita inactiv a 125F, aire a enfriar a temperatura ambiente 14 \ c' (L austenita La figura. 14-4. Huellas microfotmetro de Debye-Scherrer patrones de templado 1,07 por ciento de carbono de acero. Co Ka. radiacin, inonochromated por reflexin desde un cristal de XaCl. (BL Averbach y Colien M., Trans. AIME 176, 401, 1948.) 14-9] Anlisis cuantitativo: MTODO COMPARADO CON 395 celda cbica centrada; este procedimiento, en efecto, aade juntos el integrado intensidades de las dos lneas del doblete, que es exactamente lo que se hace experimentalmente cuando la intensidad integrada de un doblete no resuelto es medido. Para una mayor precisin en el clculo de F, la dispersin atmico

factor / debe ser corregida para la dispersin anmala por una cantidad A / (vase la fig. 13-8), en particular cuando Co radiacin Ka se utiliza. El Lorentzfactor de polarizacin dada en la ecuacin. (14-10) se aplica slo a no polarizada radiacin incidente; si el cristal monocromtico radiacin se utiliza, este factor tendr que ser cambiado a la dada en la seccin. 6-12. El valor de la temperatura factor e ~ 2M se pueden tomar a partir de la curva de la figura. 14-5. 1 .2 3 4 5 7 8 La figura. 14-5. Temperatura factor e ~ * M de hierro a 20 C como una funcin de (sen 0) / X. Preparacin de la muestra implica la molienda en hmedo para eliminar la capa superficial, que puede ser descarburada o de otra manera no representativo de la mayor parte de los la muestra, seguido por el pulido metalogrfico estndar y el aguafuerte. Este procedimiento asegura una superficie plana y reproducible para el examen de rayos X, y permite un examen preliminar de la muestra que se hizo con el microscopio. En esmerilado y pulido, el cuidado debe ser tomado no para producir calor excesivo o deformacin plstica, lo que causara parcial descomposicin tanto de la martensita y austenita. En la medicin de la intensidad de difraccin de lnea, es esencial que el intensidad integrada no, la intensidad mxima, se midi. Grandes variaciones en lnea de forma puede ocurrir debido a las variaciones en microstrain y grano tamao. Estas variaciones en la forma de la lnea no afectar a la intensidad integrada, pero pueden hacer que los valores de intensidad mxima absolutamente de significado La sensibilidad del mtodo de rayos X en la determinacin de pequeas cantidades de austenita retenida est limitada principalmente por la intensidad del fondo continuo presentar. Cuanto menor es el fondo, ms fcil es detectar y medir dbiles lneas de austenita. Los mejores resultados se obtuvieron con por lo tanto cristal-monocromado radiacin, que permite la deteccin de tan poco como 0,1 por ciento en volumen de austenita. Con la radiacin ordinaria filtr, el

cantidad detectable mnima es de 5 a 10 por ciento en volumen. 396 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 TABLA 14-6 COMPARACIN DE DETERMINACIN austentica en X-RAY difraccin y * ANLISIS LINEAL * B. L. Averbach y M. Cohen, Trans. A.LM.E. 176, 401 (194X). Tabla 14-6 da una comparacin entre retenidas determinaciones austenita hizo en el mismo acero (1,0 por ciento C, 1,5 por ciento de Cr, y 0,2 por ciento V) por difraccin de rayos X y por el examen microscpico cuantitativo (lineal anlisis). El acero se austenitized durante 30 minutos a las temperaturas indicado y se inactiv en aceite. Los resultados de rayos X se obtuvieron con un Debye-Scherrer cmara, una muestra plana estacionaria, y el cristal monocromadoradiacin. El contenido de carburo se determin mediante anlisis lineal. Tenga en cuenta que el acuerdo entre los dos mtodos es bueno cuando la austenita contenido es bastante alto, y que el anlisis lineal tiende a mostrar menor austenita contenido que el mtodo de rayos X cuando el contenido de austenita en s es bajo (bajas temperaturas de austenizacin). Esto no es inesperado, en la que partculas de austenita convertido ms fino con la disminucin de las temperaturas de austenizacin y por lo tanto ms difcil de medir microscpicamente. Bajo tales circunstancias, el mtodo de rayos X es definitivamente ms precisa. 14-10 mtodo del estndar interno. En este mtodo, una lnea de difraccin la fase que se est determinada se compara con una lnea de una sustancia patrn mezcla con la muestra en proporciones conocidas. El patrn interno mtodo se restringe a las muestras en forma de polvo. Supongamos que deseamos determinar la cantidad de fase A en una mezcla de fases A, B, C,. . .

, Donde las cantidades relativas de las otras fases presentes (B, C, D, ...) puede variar de muestra a muestra. Con un conocido cantidad de muestra original que mezclar una cantidad conocida de una sustancia patrn S para formar una muestra compuesta de nuevo. Vamos CA y CA 'Ser las fracciones en volumen de la fase A en las muestras originales y compuesto, respectivamente, y cs let ser la fraccin de volumen de S en la muestra compuesta. Si un patrn de difraccin est ahora preparado a partir de la muestra compuesta, a continuacin, a partir de la ecuacin. (142) la intensidad de una lnea particular de la fase A est dada por , KSCA ' 14-10] Anlisis cuantitativo: MTODO ESTNDAR INTERNO 397 y la intensidad de una lnea particular de la S estndar por Mm Divisin de una expresin por la otra da IA ^ 3CA = (14-13) (Tenga en cuenta que Mm, el coeficiente de absorcin lineal de la mezcla y una desconocida cantidad, desaparece. Fsicamente, esto significa que las variaciones en absorcin, debido a las variaciones en las cantidades relativas de B, C, D,. . . , no tienen efecto en la proporcin A / A / S / ya que afectan 7A y 7g en la misma proporcin). Al extender la ecuacin. (14-5) a un nmero de componentes, se puede escribir WA VPA + WB / PB + Aseos / PC H h y una expresin similar para p. ej. Por lo tanto La sustitucin de esta relacin en la ecuacin. (14-13) da (14-14)

WQ si se mantiene constante en todas las muestras compuestas. La relacin entre los las fracciones en peso de A en las muestras originales y compuesto es: WJJ wA = (l - w &). (14-15) La combinacin de las ecuaciones. (14-14) y (14-15) da ^ = K, WA. (14-16) ^S La relacin de intensidad de una lnea de fase A y una lnea desde el S estndar es por lo tanto una funcin lineal de WA, la fraccin en peso de A en el original muestra. Una curva de calibracin se pueden preparar a partir de mediciones en una conjunto de muestras sintticas, que contienen concentraciones conocidas de A y una constante concentracin de un estndar adecuado. Una vez que la curva de calibracin es establecido, la concentracin de A en una muestra desconocida se obtiene simplemente mediante la medicin de la relacin IA / I y para una muestra de material compuesto que contiene desconocido y la misma proporcin de estndar que se us en la calibracin. 398 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 5 PESO DE LA FRACCIN DE CUARZO ITQ La figura. 14-6. Curva de calibracin para anlisis cuarzo, fluorita con lo interno estndar. / Q es la intensidad de el d = 3.34A lnea de cuarzo, y 7F es la intensidad de la lnea d = 3.16A de fluorita. (L. E. Alexander y H. P. King, Anal. Chern. 20, 886, 1948). El mtodo de patrn interno tiene

sido ampliamente utilizado para la medicin del contenido de cuarzo industrial polvos. (El conocimiento del contenido de cuarzo es importante para la salud industrial programas, porque inhalado o cuarzo material silceo otro es la causa de la enfermedad pulmonar conocida como silicosis.) En este anlisis, la fluorita (CaF2) tiene ha encontrado que es un interno adecuado estndar. La Figura 14-6 muestra una calibracin curva preparada a partir de mezclas de carbonato de calcio y cuarzo, de composicin conocida, cada mixta con fluorita suficiente para hacer el peso fraccin de fluorita en cada compuesto muestra igual a 0,20. La curva es lineal y pasa por el origen, como se predijo por la ec. (14-16). En sentido estricto, la ec. (14-16) slo es vlida para intensidades integradas, y lo mismo puede decirse de todas las ecuaciones de intensidad correspondientes en este captulo. An se ha encontrado que es posible determinar el contenido de cuarzo de polvos con una precisin satisfactoria, simplemente midiendo las intensidades mximas. Esta corte corto es admisible aqu slo por la forma de las lneas de difraccin se encuentra que es esencialmente constante a partir de una muestra a otra. Por tanto, existe una constante de proporcionalidad entre la intensidad mxima e integrado y, siempre que todos los patrones se realizan bajo condiciones experimentales idnticas,

la medicin de las intensidades mximas da resultados satisfactorios. Resultados muy errneos se obtiene por este procedimiento si la partcula tamao de las muestras era muy pequea y variable, desde entonces una variable cantidad de ensanchamiento de lnea se producira, y que esto causara una variacin intensidad mxima en independiente de la composicin de la muestra. 14-11 dificultades prcticas. Hay ciertos efectos que pueden causar gran dificultad en el anlisis cuantitativo, ya que causa intensidades observadas apartarse mucho de la terica. El ms importante de los estas complicaciones son: (1) Orientacin preferencial. La ecuacin de la intensidad de base, la ecuacin. (14-1), se derivado en la premisa de orientacin aleatoria de los cristales constitutivos en la muestra y no es vlida si cualquier orientacin preferida existe. De ello se deduce que, en la preparacin de muestras en polvo para el difractmetro, haga todo lo posible por evitar la orientacin preferida. Si la muestra es un agregado slido policristalino, el analista no tiene control sobre la 14-11] Anlisis cuantitativo: dificultades prcticas 399 distribucin de orientaciones en el mismo, pero debera al menos ser conscientes de la posibilidad de error debido a la orientacin preferida. (2) Microabsorption. Considere difraccin de un cristal dado de una en una mezcla de una y cristales. El haz incidente pasa a travs de tanto una y | 8 cristales en su camino hacia un particular, un cristal difracta, y tambin lo hace el haz difractado en su camino fuera de la muestra. Ambos haces son disminuidos en intensidad por la absorcin, y la disminucin puede ser calculado a partir la longitud total del recorrido y / zm, el coeficiente de absorcin lineal de la mezcla. Pero una pequea parte de la trayectoria total se encuentra enteramente dentro de la difraccin un cristal, y por esta porcin / * es el coeficiente de absorcin aplicable. Si na es mucho mayor que JL% o si el tamao de partcula de una es mucho mayor que

que de 0, entonces la intensidad total del haz difractado por los cristales de unas ser mucho menor que el calculado, ya que el efecto de microabsorption en cada uno de difraccin de un cristal no est incluido en la ecuacin de la intensidad de base. Evidentemente, el efecto microabsorption es insignificante cuando Ma M / J y tanto fases tienen el mismo tamao de partcula, o cuando el tamao de partcula de las dos fases es muy pequea. Las muestras de polvo por lo tanto debe ser finamente molido antes de anlisis. (3) Extincin. Como se mencion en la seccin. 3-7, todos los cristales reales son imperfectos, en el sentido de que tienen una estructura de mosaico, y el grado de imperfeccin puede variar mucho de un cristal a otro. Ecuacin (14-1) se deriva sobre la base de la denominada "idealmente imperfecta'' cristal, uno en el que los bloques de mosaico son bastante pequeas (del orden de 10 ~ 4 a 10 ~ ~ 5 cm de grosor) y tan desorientado que todos ellos son esencialmente paralelos. Tal cristal tiene su mxima capacidad reflectante. Un cristal compuesto de gran bloques de mosaico, algunos o todos los cuales son exactamente paralelas entre s, es ms perfecto y tiene una potencia inferior reflectante. Esta disminucin en la la intensidad del haz difractado como el cristal se hace ms casi perfecto se llama extincin. La extincin es una falta para el ideal imperfecto cristal, y la presencia de extincin invalida Eq. (14-1). Cualquier tratamiento lo que har que un cristal ms imperfecto reducir la extincin y, Slo por esta razn, las muestras de polvo debern rectificarse tan fina como sea posible. Molienda no slo reduce el tamao de los cristales, pero tambin tiende a disminuir el tamao de bloque del mosaico, desorientar a los bloques, y la tensin que no uniformemente. Microabsorption extincin y, si est presente, puede disminuir seriamente la exactitud del mtodo de comparacin directa, ya que este es un absoluto mtodo. Afortunadamente, ambos efectos son despreciables en el caso de endurecido

acero. Puesto que tanto la austenita y martensita tienen la misma composicin y slo un 4 por ciento diferencia de densidad, su absorcin lineal coeficientes son prcticamente idnticos. Sus tamaos medios de partcula son tambin aproximadamente la misma. Por lo tanto, no se produce microabsorption. Extincin est ausente debido a la naturaleza misma de acero endurecido. Cambio en el volumen especfico que acompaa la transformacin de austenita a mar400 ANALISIS QUIMICO por difraccin [CAP. 14 tensite establece cepas no uniformes en ambas fases tan severa que ambos tipos de cristales puede considerarse altamente imperfecto. Si estas circunstancias afortunadas no existen, y no lo hacen en la mayora de los sistemas de aleacin de otro modo, la mtodo de comparacin directa debe ser utilizado con precaucin y verificados por algn mtodo independiente. Por otra parte, la presencia de microabsorption y extincin hace no invalida el mtodo estndar interno, siempre y cuando estos efectos se constante de muestra a muestra, incluyendo las muestras de calibracin. Microabsorption extincin y slo afectan a los valores de las constantes y K3 K4 en la ecuacin. (14-13), y por lo tanto el KQ constante en la ecuacin. (14-16), y el constante ltimo determina solamente la pendiente de la curva de calibracin. Por lo tanto, microabsorption y la extincin, si est presente, no tendr ningn efecto sobre la exactitud del mtodo de patrn interno, siempre y cuando los cristales de la fase est determinado, y las de la sustancia estndar, no varan en grado de perfeccin o tamao de partcula de una muestra a otra. PROBLEMAS El d e l / l \ valores tabulados en problemas resueltos. 14 ~ 1 a 14 ~ 4 representan los patrones de difraccin de diversas sustancias desconocidas. Identificar las sustancias que intervienen en funcin de un archivo de difraccin de ASTM.

14-1. d (A) i I / I rf (A) / / / i d (A) / / i / 3,66 ~ 5 (T 1,46 10 1,06 10 3,17 100 1,42 50 1,01 10 2,24 80 1,31 30 0,96 10 1,91 40 1,23 10 0,85 10 1,83 30 1,12 10 1,60 20 1,08 10 14-2. 5,85 60 2,08 10 1,47 20 3,05 30 1,95 20 1,42 10 2,53 100 1,80 60 1,14 20 2,32 10 1,73 20 1,04 10 14-3. 240 5 (1,25 20 0,85 10 2,09 50 1,20 10 0,81 20 2,03 100 1,06 20 0,79 20 1.75 40 1.02 10 1,47 30 0,92 10 1.26 10 14-4. d (A) / / i / 3702 TocT 2AI 10 L46 10 2,79 10 1,90 20 1,17 10 2.52 10 1.65 10 2,31 30 1,62 10 PROBLEMAS 401 14-6. El examen microscpico de una endurecida de acero 1 .0 por ciento de carbono no muestra ningn

carburos no disueltos. Examen de rayos X de este acero en un difractmetro con radiacin filtrada cobalto muestra que la intensidad integrada de la austenita 311 lnea es 2,325 y la intensidad integrada de la martensita sin resolver 112-211 doblete es 16,32, tanto en unidades arbitrarias. Calcular el porcentaje en volumen de austenita en el acero. (Tome parmetros de red de la fig. 12-5, A / correcciones de la fig. 13-8, y los factores de temperatura e ~ 23f de la figura. 14-5.)

CAPTULO 15 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA

16-1 Introduccin. Vimos en el Cap. 1 que cualquier elemento, si el hecho objetivo en un tubo de rayos X y bombardea con electrones de energa lo bastante alta, emitira un espectro de lneas caracterstico. Las lneas ms intensas de este espectro son el Ka y las lneas K $. Ellos son siempre llamados "caracterstica lneas "para enfatizar el hecho de que sus longitudes de onda son fijos y caracterstica del elemento emisor. Tambin hemos visto que este mismo sera emitido si el elemento se bombardearon con rayos X de alta suficientemente energa (fluorescencia). En estos fenmenos tenemos la base para un mtodo de anlisis qumico. Si los diversos elementos en la muestra a analizar se hacen para emitir sus lneas caractersticas de electrones o de rayos X bombardeo, entonces estos elementos se pueden identificar mediante el anlisis de la radiacin emitida y mostrando que estas longitudes de onda especficas estn presentes. El anlisis se lleva a cabo en un espectrmetro de rayos X de difraccin de la radiacin de los planos de la red de conocido espaciado d en un solo cristal. De acuerdo con la ley de Bragg, radiacin de slo una nica longitud de onda se refleja para cada ajuste angular del cristal y la intensidad de esta radiacin se puede medir con un contador adecuado. El anlisis de la muestra puede ser cualitativa, si

las diversas lneas caractersticas en el espectro emitido se identifican simplemente, o cuantitativa, si las intensidades de estas lneas se comparan con la intensidades de las lneas de un patrn adecuado. Dos tipos de espectroscopa de rayos X son posibles, dependiendo de los medios utilizada para excitar las lneas caractersticas: (1) La muestra se hizo la diana en un tubo de rayos X y bombardeados con electrones. Histricamente, este fue el primer mtodo. Fue empleado por Moseley en su trabajo sobre la relacin entre la longitud de onda caracterstica y nmero atmico. No se utiliza hoy en da, excepto como una herramienta de investigacin ocasional, porque tiene ciertas desventajas para el trabajo rutinario. Por ejemplo, la espcimen debe ser colocado en una desmontable tubo de rayos X, que debe entonces ser evacuados antes de que el anlisis puede comenzar. El mismo procedimiento tiene que ser repite para cada muestra. Adems, el calor producido en la muestra por bombardeo de electrones puede causar algunos elementos contenidos para vaporizar. (2) La muestra se coloca fuera del tubo de rayos X y bombardeados con las radiografas. La radiacin primaria (Fig. 15-1) hace que la muestra emiten secundaria radiacin fluorescente, que luego se analiz en un espectrmetro. Este mtodo, comnmente conocido como anlisis fluorescente, ha entrado en ancho 402 15-11 INTRODUCCI N 403 espectrmetro crculo x-IAY nueve rountci La figura. 15-1. X fluorescentes rav espectroscopia. utilizar en los ltimos aos. Tlie fenmeno ot fluorescencia, que es slo una molestia en los experimentos de difraccin, se hace aqu para servir a un propsito til.

Puede ser til para comparar algunas de las caractersticas de anlisis de rayos X fluorescente con los de la espectroscopia ptica, es decir, la espectroscopia en la regin visible del el espectro, ya que el ltimo mtodo ha sido utilizado durante aos como una rutina instrumento analtico y de sus caractersticas esenciales, al menos son bien conocidos. El principal diferencias entre los dos mtodos son los siguientes: Emocionante agente La radiacin emitida Analizador Detector Naturaleza de los espectros ptico speotroscopy arco o chispa luz visible prisma o rejilla pelcula fotogrfica o fototubo complejo Fluorescente anlisis radiografas radiografas cristal pelcula fotogrfica o contador simple Ambos mtodos proporcionan informacin acerca de los elementos qumicos presentes

en la muestra, independientemente de su estado de combinacin qumica o la fases en las que existan. Difraccin de rayos X, por otra parte, como hemos vimos en el captulo anterior, da a conocer los diversos compuestos y fases presentes en la muestra. Anlisis fluorescente y anlisis de difraccin por lo tanto complementan entre s en el tipo de informacin que proporcionan. Anlisis fluorescente no es destructiva y mucho ms rpida que la ordinarias mtodos hmedos de anlisis qumico. Es el ms adecuado para la determinacin elementos presentes en cantidades que van desde un pequeo porcentaje hasta 100 por ciento, y en este rango es superior a la espectroscopia ptica. En general, los anlisis fluorescente es inferior a la espectroscopia ptica en la concentracin rango por debajo del 1 por ciento, pero puede usarse con ventaja en esta gama en casos especiales. Anlisis fluorescente se utiliza hoy en da en el anlisis de aleaciones (Aceros de alta aleacin especial y aleaciones de alta temperatura), minerales, aceites, gasolina, Etctera. 404 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA [CAP. 15 El anlisis qumico por espectroscopia de rayos X se remonta a los trabajos pioneros de von Hevesy y Coster en Alemania alrededor de 1923. Usaron fotogrfico filmar para registrar los espectros. El mtodo de rayos X nunca lleg a ser popular, Sin embargo, hasta hace pocos aos, cuando el desarrollo de diversos tipos de contadores permite la medicin directa de la intensidad de rayos X y por lo tanto disminuye el tiempo necesario para el anlisis. Los mtodos de anlisis son fluorescente an en fase de desarrollo rpido, y una gama ms amplia de aplicacin, junto con mayor velocidad y precisin, se puede esperar en un futuro prximo. 16-2 principios generales. Espectrmetros ms fluorescentes, de los cuales hay muchas formas, tienen el cristal analizar y contador mecnico acoplado, como en un difractmetro. As, cuando el cristal se fija en un determinado ngulo de Bragg 0, el contador se pone automticamente en el ngulo correspondiente

26. El contador est conectado a un sellador, o con un tacmetro y automtica grabadora. La intensidad de cada uno de las lneas espectrales emitidas por la muestra puede ser medida con la combinacin contra el sellador, o todo el espectro puede ser continuamente escaneados y registrados automticamente. La Figura 15-2 muestra un ejemplo de un espectro fluorescente automticamente registr con un espectrmetro comercial. La longitud de onda de cada espectral lnea se puede calcular a partir del correspondiente ngulo de Bragg y el interplanar espaciado del cristal analizar utilizado. La radiacin primaria era suministrado por un tubo de tungsteno-objetivo operado a 50 kV, y la muestra fue de acero inoxidable que contiene 18 por ciento de cromo y 8 por ciento de nquel. La K lneas de todos los componentes principales (Fe, Cr y Ni) y de algunos de los constituyentes menores (Mn y Co) son evidentes. (Adems, L tungsteno lneas se puede ver, los cuales siempre estarn presentes cuando un tubo de tungsteno se utiliza, ya que se excitan en el tubo y dispersada por la muestra en la haz de radiacin secundaria. Las lneas K de cobre se deben a la existencia de cobre como impureza en el objetivo de tungsteno.) En espectrometra fluorescente, la radiacin fluorescente emitida por el muestra y difractado por el cristal debe ser tan intensa como sea posible, de modo que se puede medir con precisin en un tiempo de recuento corto. La intensidad de esta radiacin emitida depende tanto de la longitud de onda y la intensidad de la radiacin incidente primaria del tubo de rayos x. Suponer que la radiacin monocromtica de intensidad constante y de longitud de onda X es incidente sobre un elemento que tiene un borde de absorcin K a X #, y que nos puede variar continuamente X. A medida que disminuyen X de un valor mayor que \ K, sin fluorescencia K se produce hasta que X es menor que \ K-La fluorescente intensidad es entonces un mximo. Disminucin adicional en X hace que el fluorescente intensidad a disminuir, en gran parte del mismo modo que el coeficiente de absorcin.

Esto es natural, ya que, como se mencion en la seccin. 1-5, y fluorescencia absorcin verdad no son ms que dos aspectos de un mismo fenmeno. En cualquier 15-2] PRINCIPIOS GENERALES 405 406 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA 100 [CAP. 15 w ffl 80 60 20 fluorescente normal anlisis de rango JL 05 1,0 1,5 20 25 3,0 EMISIN DE LONGITUD DE ONDA-LINE (angstroms) La figura. 15-3. Variacin con el nmero atmico del avelength \ \ de los ms fuertes lneas de la serie K y L. un valor de X, la intensidad de fluorescencia es directamente proporcional a la incidente intensidad. El mejor agente excitante por lo tanto sera una lnea caracterstica fuerte de longitud de onda ms corta que slo X #. Est claro que es imposible satisfacer esta requisito para el elemento fluorescente ms de uno a la vez, y en la prctica se utiliza un tubo de tungsteno como objetivo con una capacidad de potencia alta como sea posible. La radiacin de excitacin es entonces esa parte del espectro continuo y tales lneas L de tungsteno como tienen longitudes de onda menores de la absorcin borde del elemento fluorescente. Diana de molibdeno tubos tambin se utilizan. El haz de radiacin secundaria que sale de la muestra consiste en gran

de la radiacin fluorescente, pero hay algunos otros componentes dbiles presentar tambin. Estos son radiacin coherente dispersa, la radiacin difractada coherente, -E incoherente (Compton modificado) la radiacin. Estos componentes estn parcialmente dispersa y difractada por el cristal en el anlisis de la contador, y aparecen como un fondo en el que las lneas espectrales se superponen. Este fondo es normalmente bajo (ver fig. 15-2), pero es posible que llegar a ser bastante alto si la muestra contiene una gran proporcin de los elementos de bajo nmero atmico, porque la muestra es luego emiten una gran cantidad de Compton modificada por radiacin. El intervalo til de longitudes de onda fluorescentes se extiende desde aproximadamente 0,5 a acerca de 2.5A. El lmite inferior est impuesto por la tensin mxima que se puede ser aplicado al tubo de rayos X, que es 50 kV en instrumentos comerciales. En esta tensin el lmite de longitud de onda corta del espectro continuo desde el tubo es de 12.400 / 50.000 = 0,25. La intensidad mxima se produce aproximadamente 1,5 veces este valor, o 0.38A. Incidente de radiacin de esta longitud de onda 15-3] espectrmetros 407 causara K fluorescencia en telurio (nmero atmico 52), y el radiacin emitida Ka tendra una longitud de onda de 0.45A. En un tubo de voltaje de 50 kv, poco o nada de K fluorescencia se produce en los elementos con atmica nmeros mayores que aproximadamente 55, y para tales elementos de las lneas L que ser usado. La Figura 15-3 muestra cmo la longitud de onda de la lnea ms fuerte en cada una de estas series vara con el nmero atmico. El lmite superior de aproximadamente 2,5 A viene impuesta por la absorcin muy grande de radiacin de esta longitud de onda por el aire y la ventana del contador. Este factor limita los elementos detectables por fluorescencia para aquellos con nmeros atmicos mayor que aproximadamente 22 (titanio). Ti radiacin Ka (X = 2.75A) se reduce a la mitad de su intensidad original por el paso a travs de slo 10 cm de

aire. Si un camino lleno de helio se proporcionan para los rayos X atraviesan el espectrmetro, la absorcin se reduce hasta tal punto que el lmite inferior de nmero atmico se reduce a aproximadamente 13 (de aluminio). Boro (atmico nmero 5) debe ser detectable en un espectrmetro de vaco. Otro factor importante que limita la deteccin de elementos ligeros es absorcin en la propia muestra. Radiacin fluorescente se produce no slo en la superficie de la muestra, sino tambin en su interior, a una profundidad dependiendo en la profundidad de penetracin efectiva de la viga principal, que a su vez depende del coeficiente de absorcin sobre-todo de la muestra. El fluorescente radiacin producida dentro de la muestra se somete despus absorcin en su salida. Desde larga longitud de onda de radiacin fluorescente ser altamente absorbida por la muestra, la radiacin fluorescente fuera de la muestra viene slo a partir de una superficie de la piel delgada y su intensidad es en consecuencia bajo. De ello se deduce que la deteccin de pequeas cantidades de un elemento de luz en un elemento de gran matriz es prcticamente imposible. Por otra parte, incluso unas pocas partes por millones de un elemento pesado en una matriz de luces-elemento puede ser detectado. 16-3 espectrmetros. Hay varios tipos de espectrmetros fluorescentes, diferencian por el tipo de anlisis de cristal utilizado: plana, curvada transmitir, o curvada reflectante. El cristal de tipo plano, que se ilustra en la figura. 15-4, es el ms simple en diseo. El tubo de rayos X se coloca lo ms cerca posible a la muestra, de modo que la primaria radiacin sobre el mismo, y la radiacin fluorescente que emite, ser tan intenso como sea posible. Para la proteccin del operador contra la radiacin dispersa, la muestra est encerrado en una caja de metal de espesor, que contiene una nica abertura a travs del cual el haz de las hojas fluorescente. El rea de la muestra irradiada es del orden de f pulgadas cuadradas. Radiacin fluorescente es emitida en todas las direcciones

por esta zona, que acta como una fuente de radiacin para el espectrmetro adecuada. Debido al gran tamao de esta fuente, el haz de fluorescente la radiacin que sale de la caja de proteccin contiene una gran proporcin de los radiacin muy divergentes y convergentes. Colimacin de este rayo antes golpea el cristal analizar tanto, es absolutamente necesario, si los hubiera 408 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA [CAP. 15 x-rav tubo muestra La figura. 15-4. Las partes esenciales de un fluorescente espectrmetro de rayos X, TV de cristal de tipo (Esquemtica). resolucin en absoluto se va a obtener. Esta colimacin se consigue pasando el haz a travs de una rendija de la librera cuyas placas son, en ngulos rectos con el plano del crculo espectrmetro, porque es la divergencia (y convergencia) en este plano que queremos eliminar. Radiacin esencialmente paralelo desde el colimador es entonces incidente en la cristal plano, y una parte de ella se difracta en el contador por planos reticulares paralela a la cara del cristal. Dado que no se produce centrado, el haz difractado por el cristal es bastante amplia y la hendidura contador receptor tambin debe ser amplia. El cristal de anlisis es generalmente NaCl o LiF, con su cara cortada paralela a los planos (200). tubo de rayos X muestra / Conn lor La figura. 15-5. Fluorescente espectrmetro de rayos X, curvas de transmisin-ciystul tipo (Esquemtica).

15-3] espectrmetros 409 Tanto los difractmetros comerciales mencionadas en la seccin. 7-2 puede ser convertirse fcilmente en espectrmetros fluorescentes de este tipo. La conversin implica la sustitucin de una de alta potencia (50-kv, 50-ma) tungstenor molibdeno-blanco del tubo para el tubo habitual utilizado en los experimentos de difraccin, y la adicin de un cristal de anlisis, un cuadro de muestra blindado, y una rendija Soller diferente. Las principales caractersticas de un espectrmetro que emplea un transmisor curvada cristal se muestra en la figura. 15-5. El cristal es generalmente mica, que es fcilmente obtenible en forma de delgadas lminas flexibles. El haz de secundaria la radiacin de la muestra pasa a travs de un tnel desconcertado, que elimina la mayor parte de la radiacin nonconverging. El haz convergente se refleja luego por las transversales (33l) planos del cristal doblado mica, y se centr en la rendija receptora del contador. (La accin de enfoque de tal cristal se describe en la seccin. 6-12.) El tnel de haz no es una parte esencial de la instrumento; para un ajuste dado del cristal, slo incidente radiacin convergente de una sola longitud de onda se difractar en la ranura del contador. La nico propsito del tnel es para proteger al operador mediante la limitacin de la viga. Un conjunto de dos o tres cristales de mica de espesores diferentes que se necesita para obtener la mayor eficiencia de difraccin en todo el rango de longitudes de onda, en la medida en cristales finos se debe utilizar en el anlisis de fcil absorcin radiacin de onda larga y ms gruesos cristales para ms radiacin. El rango de espesor es de aproximadamente 0,0006 a 0,004 pulg Adems de la habitual de dos-a-uno acoplamiento entre el contador y el cristal, Este espectrmetro debe tener tambin un mecanismo para cambiar el radio de curvatura del cristal con cada cambio de 0, con el fin de que el difractada Los rayos se centra siempre en la ranura del contador. La relacin necesaria entre

el radio de curvatura 27? (R es el radio del crculo de enfoque) y la cristal de enfocar distancia D viene dada por la ecuacin. (6-15), que se puede escribir en la forma D 2R = Cos0 hacer hincapi en el hecho de que D es fijo e igual al radio del espectrmetro crculo. El cambio en la 2R con cambio de 6 se lleva a cabo automticamente en instrumentos comerciales de este tipo. La General Electric difractmetro se muestra en la figura. 7-2 mayo ser convertidos en cualquiera de este tipo de espectrmetro o el cristal de tipo plano. El espectrmetro de curva que refleja cristal se ilustra en la figura. 15-6. La radiacin de la muestra pasa a travs de la estrecha rendija S y diverge al cristal (normalmente NaCl o LiF), que tiene sus planos reflectantes dobladas a un radio de 2R y su superficie de tierra a un radio de la radiacin difractada R. de una sola longitud de onda es llevado a un foco en la rendija contador de recepcin, situado en el crculo que pasa centrado a travs de S y la cara del cristal, 410 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA tubo de rayos X [CAP. 15 cristal muestra \ Contador La figura. 15-6. Fluorescente espectrmetro de rayos X, curvada reflectante de cristal de tipo. como se describe en la seccin. 6-12. Pero ahora el radio R del crculo de enfoque es fija, para un cristal de curvatura dada, y la hendidura de cristal-y-crystalto distancias de enfoque debe ser variado tanto como 6 es variada. La relacin de enfoque,

encontrado de la ecuacin. (6-13), es D = 2R sen 0, donde D indica tanto la rendija-a-cristal y cristal distancias sistema de enfoque, que deben mantenerse iguales el uno al otro. Esto se logra por la rotacin de tanto el cristal y el contador sobre el centro del crculo de enfoque, de tal manera que la rotacin del cristal a travs de un ngulo x (sobre 0) se acompaa de la rotacin del contador a travs de un ngulo de 2x. Al mismo tiempo, el contador se hace girar alrededor de un eje vertical a travs de su ranura, por medio de otro acoplamiento, de modo que siempre apunta en el cristal. D aumenta a medida que aumenta 6 y puede llegar a ser excesivamente grande, por una cristal de radio de curvatura determinado R \, a valores grandes. Con el fin de mantener D dentro de lmites razonables, es necesario cambiar a otro cristal, de menor radio 7? 2, para este alto-0 (longitud de onda larga) rango. Espectrmetros emplean curvas cristales que reflejan son fabricados por Applied Research Laboratories. 15-4 Intensidad y resolucin. Ahora debemos considerar las dos principales problemas en anlisis fluorescente, a saber, la consecucin de una intensidad suficiente y la resolucin adecuada. La intensidad de la radiacin fluorescente 15-4] INTENSIDAD Y LA RESOLUCIN 411 emitida por la muestra es mucho menor que la de la radiacin primaria incidente sobre ella, y puede llegar a ser realmente muy bajo cuando el elemento fluorescente es slo un componente menor de la muestra. Esta radiacin fluorescente entonces es difractada por el cristal de analizar, y otra gran prdida de intensidad se produce, debido a la difraccin es un proceso tan ineficiente. El difractada haz entrar en el mostrador por lo tanto puede ser muy dbil, y un largo contar el tiempo ser necesario para medir su intensidad con aceptable precisin. Espectrmetro de diseo deben garantizar la mxima intensidad

de la radiacin que entra el contador. Al mismo tiempo, el espectrmetro debe ser capaz de alta resolucin, si la muestra contiene elementos que tiene lneas caractersticas de casi la misma longitud de onda y que debe ser separado ident cado. Estos dos factores, la intensidad y la resolucin, se ven afectados por el tipo de cristal utilizado analizar y por otros detalles de espectrmetro de diseo. Si definimos la resolucin, o resolver poder, como la capacidad de separar lneas espectrales de casi la misma longitud de onda, entonces vemos en la figura. 15-7 que la resolucin depende tanto de la A20, la dispersin, o separacin, de lnea centros, y en B, la lnea de amplitud en y media mxima intensidad. La resolu-H cin ser adecuada si A20 es igual a o superior a 2B. Al diferenciar la ley de Bragg, se obtiene A20 X AX 2 tan A20 (15-1) Cuando el valor mnimo de A20, a saber, 2B, se inserta, esto se convierte X bronceado = (15-2)

AX B La figura. 15 7. Resolucin de cerca espaciadas lneas espectrales. Las lneas sho \ \ n tienen A20 2B =. Cualquier separacin menor podra hacer las dos lneas aparecen como uno. El lado izquierdo de esta ecuacin da la resolucin requerida para separar dos lneas de media longitud de onda A y AX longitud de onda diferencia. La derecha lado da el poder de resolucin disponibles, y esto implica tanto la significa ngulo de Bragg de las lneas y su amplitud. Tenga en cuenta que la disposicin poder de resolucin se incrementa rpidamente con 0, para un ancho de lnea dado. Esta significa que, de los dos cristales que producen la amplitud misma lnea, uno con la el d plano espaciado menor tendr la mayor poder de resolucin, porque se reflejan en mayores ngulos de 20. Los cristales utilizados normalmente en los espectrmetros tienen los siguientes valores: d mica, (33l) aviones, 1,5 A; LIF, (200) aviones, 2,01 A; NaCl, (200) planos, 2.82A. Para un cristal dado, second412 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA [CAP. 15 reflexiones de orden ofrecer una mayor capacidad de resolucin de las reflexiones de primer orden, porque se producen en ngulos ms grandes, pero su intensidad es inferior a un quinto de la de primer orden reflexiones. Los factores que afectan a la anchura de la lnea B puede ser discutido con referencia slo a los espectrmetros particulares. En el tipo de cristal plano (Fig. 15-4), el valor de B depende en parte de la colimacin del haz de golpear el cristal y en parte en la perfeccin del propio cristal. El haz reflejado por el cristal en el contador es bastante amplia, en un sentido lineal, pero casi paralelo; su anchura angular se mide por su divergencia, y es esta igual, si el cristal es perfecta, a la divergencia del haz de golpear el

cristal. La divergencia ltimo est controlado por la rendija Soller. Si I es la longitud de la ranura y 5 la separacin entre placas, a continuacin, la mxima divergencia permitido es de 2 $ un radin =. Para una hendidura tpica con I = 4 cm y s = 0,010 pulgadas, un 0,3 =. Pero an ms divergencia es producido por la estructura de mosaico del cristal analizar: Esta divergencia se relaciona con el grado de desorientacin del mosaico bloques, y tiene un valor de aproximadamente 0,2 para los cristales usados normalmente. La ancho de la lnea B es la suma de estos dos efectos y por lo tanto es de la orden de 0,5. La anchura de la lnea se puede disminuir al aumentar el grado de colimacin, pero la intensidad tambin se reducir. A la inversa, si el problema que nos ocupa no requiere de resolucin fina, una ms "abierto" se utiliza colimador con el fin de aumentar la intensidad. Normalmente, la colimacin est diseado para producir un ancho de lnea de alrededor de 0,5, lo que proporcionar una resolucin adecuada para la mayora del trabajo. En la curva de transmisin espectrmetro de cristal (fig. 15-5), la lnea B anchura depende casi enteramente del grado de focalizacin de la reflejada haz en la rendija contador. La accin de enfoque del cristal doblado mica, aunque nunca es perfecto, se puede hacer lo suficientemente bueno para producir extremadamente fina lneas si una ranura muy estrecha se utiliza, sin embargo, la intensidad sera entonces bajo, por lo que la anchura de la rendija contador se hace generalmente igual a 0,3 para lograr una equilibrio razonable entre la anchura de la lnea y la intensidad. Aun as, la intensidad es todava menor que la producida por un cristal plano de NaCl o LiF. Cuando un cristal curvada que refleja (Fig. 15-6) se utiliza, la anchura de la lnea depende principalmente en la anchura de la rendija S fuente y la precisin con la que el cristal es baja y doblada. El ancho de lnea es normalmente de aproximadamente el mismo

como la obtenida con un cristal plano, es decir, alrededor de 0,5. Cuando se consideran las intensidades, encontramos tha't un cristal curvada que refleja proporciona la mayor intensidad y un cristal curvado transmitir al menos la, con un cristal plano en una posicin intermedia. Volviendo a la cuestin de la resolucin, que ahora se puede calcular la resolucin poderes disponibles con espectrmetros tpicos, y comparar estos valores 15-4] INTENSIDAD Y LA RESOLUCIN 413 con la mxima resolucin necesaria para separar espectral estrechamente espaciada lneas. La menor diferencia de longitud de onda en la serie K se produce entre la lnea K / 3 de un elemento de nmero atmico Z y la lnea de Ka de un elemento de nmero atmico (Z + 1). Esto se diferencia vara con el nmero atmico y por lo menos es para la lnea K0 de vanadio (Z = 23) y la lnea de Ka cromo (Z = 24); estas dos longitudes de onda son 2,284 y 2,291 A, respectivamente, y su diferencia es slo 0.007A. Un problema ms comn es el separacin de la lnea Kft de cromo (Z = 24) desde la lnea de Ka de manganeso (Z = 25), ya que ambos de estos elementos se producen en todos los aceros inoxidables. La diferencia de longitud de onda es aqu 0.018A y 2.094A la longitud de onda media. La resolucin requerida X / AX es por lo tanto 2.094/0.018 116. La disposicin poderes de resolucin se usan dada por (bronceado 0) / B, y son iguales a 182 para mica curvada en la transmisin, 70 para LiF plana o curva en la reflexin, y 46 para plana o curva de NaCl en la reflexin, para anchos de lnea asumidos de 0,3, 0,5, y 0,5, respectivamente, y las reflexiones de primer orden. Mica por lo tanto proporcionar una resolucin adecuada, pero LiF y NaCl no lo hara. * Figura 15-2 muestra los Cr. K / 3 y Mn lneas Ka resueltos con un cristal de mica en el espectro de un acero inoxidable. En resumen, cristales planos o curvados de cualquiera de LiF o NaCl producir mucho mayor intensidad reflejada pero tienen menor resolucin que la mica curvo

cristales. De alta intensidad es deseable en el anlisis fluorescente con el fin de que el tiempo de recuento necesario para obtener una buena precisin ser razonablemente corto; si el elemento a detectar est presente slo en pequeas concentraciones y un cristal de baja potencia que refleja se utiliza, los tiempos requeridos conteo ser prohibitivamente largo. En la determinacin de los elementos principales, cualquiera de los tres tipos de cristales que dan intensidad suficiente. Alta resolucin es deseable siempre que el anlisis requiere el uso de una lnea espectral que tiene muy casi la misma longitud de onda como otra lnea de la muestra o la radiografa tubo objetivo. Hay otro punto que merece cierta consideracin, a saber, la ngulo 26 en el que se refleja una longitud de onda particular, por la analizar cristal. Este ngulo depende slo de la distancia d del cristal. La Bragg ley muestra que la mayor longitud de onda que puede ser reflejada es igual a 2d. Pero longitudes de onda se aproximan 2d en magnitud se reflejan casi hacia atrs, y su intensidad reflejada es baja en estos ngulos grandes. Nosotros por consiguiente se limita en la prctica a longitudes de onda mucho ms largas que no d. Esto significa que un cristal como el yeso (d = 7. 6A) debe ser utilizado para detectar una elementos ligeros como el aluminio cuya longitud de onda es Ka 8.3A. Algunos de los * Una alternativa, pero equivalente, forma de llegar al mismo resultado es calcular la A20 dispersin producida por un cristal dado y compararlo con la dispersin requerida, a saber, 2B. El valor de A20 est dada por 2 bronceado 0 (AX / X), desde Eq. (15-1), y es igual a 1,0 para mica, 0,6 para LiF, NaCl y 0,4 para, por primer orden reflexiones. Los correspondientes valores asumidos de 2B son 0,6, 1,0, y 1,0. 414 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA [CAP. 15 otros cristales que se han utilizado para la deteccin de luz elemento son oxlico cido (d = 6.1A) y la mica en la reflexin (d = 10. 1A). 15-5 contadores. Se informa al lector a revisar en este momento el general

discusin de contadores dados en el Cap. 7. Aqu nos interesa sobre todo con la variacin en el comportamiento de contador con variacin en la longitud de onda de rayos x. Esta variacin no es de gran importancia en las mediciones difractmetro, ya que todos los haces difractados tienen la misma longitud de onda. En espectrometra, sin embargo, cada lnea espectral tiene una longitud de onda diferente, y las variaciones en comportamiento contador con longitud de onda debe ser considerado. El tamao del pulso es inversamente proporcional a la longitud de onda de rayos X en proporcional y contadores de centelleo, pero independiente de la longitud de onda de Geiger contadores. De mayor importancia, sin embargo, es la variacin de la eficiencia contador con longitud de onda. La eficiencia de un relleno de gas contador (proporcional o Geiger) depende del gas utilizado, en este sentido, el criptn es superior a argn para el anlisis fluorescente, en que criptn detecta toda la radiacin con longitudes de onda superiores a 0,5 A bastante eficiente, mientras que el argn tiene no (ver fig. 7-17). A continuacin 0.5A, ambos gases tienen baja eficiencia. La contador de centelleo, por otra parte, es casi 100 por ciento eficiente para todas las longitudes de onda. El uso de contadores de centelleo junto con tubos de rayos X se abren a voltajes ms altos que los que ya est disponible hara permitir la deteccin de los elementos pesados por sus lneas fluorescentes A "que tiene longitudes de onda por debajo de 0,5. Contador de velocidad es otro factor importante en el anlisis cuantitativo, porque un contador que puede operar a altas tasas de conteo sin prdidas se puede utilizar para medir ambas lneas fuertes y lneas dbiles sin correcciones o el uso de hojas absorbentes. A este respecto, proporcional y de centelleo contadores son definitivamente superiores a los contadores Geiger. 15-6 El anlisis cualitativo. En la precisin suficiente trabajo cualitativo puede se obtiene mediante el escaneo automtico del espectro, con la salida del contador alimentada a un registrador grfico. Interpretacin del espectro registrado se

se facilitara si el analista tiene a la mano (a) una tabla de valores correspondientes X y de 26 para el cristal analizando en particular utilizado, y (b) una sola tabla de las principales lneas K y L de todos los elementos dispuestos en numrico orden de longitud de onda. Puesto que es importante saber si una lnea observada se debe a un elemento en la muestra o a un elemento en el blanco del tubo de rayos X, un preliminar las mismas deben hacerse del espectro emitido por el blanco solo. Para este propsito una sustancia como carbono o de plexigls se coloca en la muestra titular e irradiado de la manera habitual; tal sustancia simplemente dispersa parte de la radiacin primaria en el espectrmetro, y no contribuye cualquier radiacin fluorescente observable de su propio. El espectro tan 15-7] ANLISIS CUANTITATIVO 415 obtenido revelar las lneas L de tungsteno, si un tubo de tungsteno-objetivo es utilizado, as como las lneas caractersticas de cualesquiera impurezas pasar a estar presente en la diana. 15-7 El anlisis cuantitativo. En la determinacin de la cantidad de elemento A en una muestra, el mtodo de una sola lnea se utiliza normalmente: la intensidad / u de un lnea particular caracterstica de A partir de lo desconocido se compara con la 7b intensidad de la misma lnea de un A. estndar, normalmente puro La forma en el que la relacin IU/I8 vara con la concentracin de A en la muestra depende marcadamente de los otros elementos presentes y no pueden ser en general predicho por clculo. Por tanto, es necesario establecer la variacin por medio de mediciones efectuadas en muestras de composicin conocida. Figura 15-8 ilustra las curvas tpicas de este tipo durante tres mezclas binarias que contiene hierro. Estas curvas muestran que la intensidad fluorescente de una lnea de elemento A no es en general proporcional a la concentracin de A. Este comportamiento no lineal

se debe principalmente a dos efectos: (1) Matriz de absorcin. Como la composicin de los cambios de aleacin, tambin lo hace su coeficiente de absorcin. Como resultado hay cambios tanto en la absorcin de la radiacin primaria viajando en la muestra y en la absorcin de la radiacin fluorescente viajar fuera. La absorcin de la primaria la radiacin es difcil de calcular, porque la parte de esta radiacin eficaces para provocar la fluorescencia K, por ejemplo, en un EXL tiene longitudes de onda. o 08 06 /U /S 0,4 0,2 Fe-Ni 30 40 50 60 ATOMICA POR CIENTO Fe 70 80 90 100 La figura. 15-8. Efecto de la concentracin de hierro en la intensidad de la radiacin Ka Fe fluorescencia por diversas mezclas. Y 7U / B son las intensidades Fe Ka a partir de la mezcla y de hierro puro, respectivamente. (H. y L. Friedman S. Birks, Rev. 8CI. Inst. 19, 323, 1948.) 416 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA [CAP. 15 tendiendo de XSWL, el lmite de longitud de onda corta del espectro continuo, a X # A, el borde de absorcin K de A. Para cada una de estas longitudes de onda incidentes corresponde una intensidad incidente diferente y una matriz de absorcin diferente coeficiente. La absorcin de la radiacin fluorescente, de longitud de onda

X / A, depende slo del coeficiente de absorcin de la muestra para que longitud de onda particular. (Efectos de absorcin son particularmente notables en la Fe-Al y Fe-Ag curvas de la figura. 15-8. El coeficiente de absorcin de un Aleacin de Fe-Al es menor que la de una aleacin de Fe-Ag de la misma contenido en hierro, con el resultado de que la profundidad de penetracin efectiva del haz incidente es mayor para la aleacin Fe-Al. Un mayor nmero de tomos de hierro, por consiguiente contribuir a la viga fluorescente, este mismo haz se someter a menos absorcin que en la aleacin Fe-Ag. El resultado sobre-todo es que la intensidad de la radiacin fluorescente Fe Ka fuera de la muestra es mayor para el Aleacin de Fe-Al.) (2) excitacin mltiple. Si la radiacin primaria hace que el elemento B en la muestra para emitir su radiacin caracterstica, de longitud de onda X / B, y si X / B es menor que \ KA, radiacin K entonces fluorescente de A ser excitado no slo por el haz incidente, sino tambin por la radiacin fluorescente de B. (Este efecto es evidente en la curva de Fe-Ni de la fig. 15-8. Ni radiacin Ka puede excitar Fe radiacin Ka, y el resultado es que la intensidad observada de la radiacin Ka Fe de una aleacin de Fe-Ni es ms cercana a la de una aleacin de Fe-Al del contenido de hierro mismo de lo que cabra esperar de una simple comparacin los coeficientes de absorcin de las dos aleaciones. En el caso de una Fe-Ag aleacin, la intensidad observada Fe Ka es mucho menor, aunque Ag Ka puede excitar Fe Ka> debido a la absorcin muy grande en la muestra.) Debido a las complicaciones estos efectos introducir en cualquier clculo de intensidades fluorescentes, el anlisis cuantitativo se realiza siempre sobre una base emprica, es decir, por la utilizacin de muestras estndar de composicin conocida. El mayor uso de anlisis de fluorescencia es en el trabajo de control, donde un gran muchas muestras de aproximadamente la misma composicin que analizar para ver si su composicin cae dentro de los lmites especificados. Para este trabajo, la

curvas de calibracin no tiene que ser preparado en un rango de 0-100 por ciento, como en La figura. 15-8, pero slo durante intervalos de composicin bastante limitados. La referencia habitual material para este tipo de anlisis es una de las muestras estndar utilizados en la calibracin, en lugar de un metal puro. Preparacin de la muestra para el anlisis fluorescente no es particularmente difcil. Las muestras slidas se muelen para producir una superficie plana pero no necesita ser pulida; Sin embargo, un mtodo estandarizado de preparacin de la muestra debe ser adherida para obtener mejores resultados. Muestras en polvo, finamente molido y mezclado bien puede, ser presionado en soportes especiales; una mezcla adecuada es esencial, ya que slo una delgada capa superficial se analizaron en realidad y esta debe ser representativa de la totalidad de la muestra. Las muestras lquidas pueden estar contenidos en diversos tipos de las clulas. 16-8] espectrmetros AUTOMATICO 417 Intensidades de lnea debe ser medida con un sellador, ms que tomada desde un grfico registrado. Para una intensidad de lnea dada, la exactitud de los anlisis depende del tiempo pasado en recuento, ya que el error relativo en probable una medicin de los recuentos de N es proporcional a l / \ / Af. Si una lnea es dbil, correccin debe hacerse por el fondo de dispersin y difraccin radiacin. Debido a estos antecedentes, el nmero de cuentas requiere obtener una determinada precisin en la medicin de una lnea dbil es mayor que que se requiere para una lnea fuerte (ver ec. 7-7). Puesto que la intensidad de una lnea particular de la muestra se compara generalmente con la intensidad de la misma lnea de un estndar, la salida de la tubo de rayos X debe ser estabilizado o el tubo debe ser supervisado. La resolucin del espectrmetro no debe ser mayor que la requerida por el problema analtico particular implicado. La analizar

cristal y el colimador o hendidura contador debe ser elegido para producir este cantidad mnima de la resolucin y la intensidad medida de lo posible, ya cuanto mayor es la intensidad, el tiempo requerido para el anlisis menos. 16-8 espectrmetros automticas. Automticos de lectura directa espectrmetros pticos han estado en uso durante varios aos y han demostrado ser de gran valor en el control del proceso industrial. Una muestra se inserta y las concentraciones de un nmero de elementos seleccionados son rpidamente y directamente indicada en una tabla o un conjunto de diales. Debido a que estos espectrmetros debe ser programado y precalibrado para cada elemento en particular determinado, son adecuados slo para los laboratorios de control donde un gran nmero de muestras deben ser analizadas para el mismo conjunto de elementos, cada uno de los cuales es variable slo en una limitado rango de concentracin. Recientemente, los rayos X homlogos de estos espectrmetros pticos de lectura directa se han hecho disponibles. Hay dos tipos: (1) un solo tipo de canal. Un instrumento de este tipo es fabricado por North American Philips Co. y llam a la Autrometer. Se utiliza un plano analizar cristal en la reflexin y un contador de centelleo como detector. Correspondiente a los elementos A, B, C, ... a detectar son las longitudes de onda X / A, VB, VC de sus lneas espectrales caractersticas, y estos corresponden ciertos ngulos de difraccin 20a, 20b, 20c, ... en el que estas longitudes de onda ser difractada por el cristal. El contador est diseado para mover paso a paso de una posicin angular predeterminada a otra en lugar de a escanear un rango angular determinada. Los diversos elementos se determinan en secuencia: se mueve el contador para posicionar 20A, permanece el tiempo suficiente para medir con precisin la intensidad de la lnea espectral del elemento A se mueve, rpidamente a la posicin 20B, mide la intensidad de la lnea de B, y as sucesivamente. En cada paso la intensidad de la lnea de la muestra se comparan automticamente

con la intensidad de la misma lnea de la norma y la relacin de estas dos intensidades se imprime sobre una cinta de papel. El instrumento puede ser tambin 418 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA [CAP. 15 para controlar canal estndar muestra cristal ^ x crculo centrado recibir sli contrarrestar La figura. 15-9. Disposicin relativa de tubo de rayos X, muestra, y anlisis de uno canal de la cuantmetro X-Ray (esquemtica). (El tubo es de la "final en" tipo: la cara del blanco est inclinado respecto al eje del tubo y produjo los rayos X escapar a travs de una ventana en el extremo del tubo.) ajustarse de modo que la concentracin real del elemento involucrado se imprime en la cinta. Tanto como doce elementos por muestra puede ser determinada. La curva de cristal que refleja espectrmetro fabricado por Applied Research Laboratorios (vase cap. 15-3) tambin se puede disponer de este tipo de medicin automtica, lnea secuencial. (2) tipo multicanal, fabricado por Applied Research Laboratories y llam a la cuantmetro X-Ray. El cristal es un anlisis de doblado y cortar cristal LiF o NaCl, que se utiliza en la reflexin. Cerca de la muestra es una ranura que acta como una fuente virtual de radiacin divergente para el cristal Enfoque (Fig. 15-9). Ocho conjuntos como el que se muestra, cada uno compuesto de hendiduras, analizando cristal, y el contador, estn dispuestos en un crculo alrededor del centro

situado tubo de rayos X; siete de estos recibir la radiacin fluorescente mismo de la muestra, mientras que el octavo recibe la radiacin fluorescente de un estndar. Cada uno de estos siete conjuntos de forma independiente un "canal" para la determinacin de un elemento particular en la muestra. En el canal A, por ejemplo, que se utiliza para detectar elemento A, las posiciones del cristal y el contador estn preestablecidos para que la radiacin X de longitud de onda nica / A puede ser reflejado en el contador. Los componentes de los otros canales anlisis estn posicionados de manera similar, de modo que una lnea espectral es separado medido en cada canal. El octavo, o el control, controla el canal de salida del tubo de rayos X. En este instrumento cada contador ofrece sus impulsos, no a un sellador o tacmetro, pero a un condensador de integracin en los que la carga total suministrada por el contador en un determinado perodo de tiempo se recoge. Cuando una muestra es siendo analizados, todos los contadores se inician simultneamente. Cuando el control contador ha entregado a su condensador una carga predeterminada, es decir, una predeterminada nmero total de recuentos, todos los contadores se detiene automticamente. A continuacin, el condensador de integracin en cada uno de los canales que analizan las descargas en convertirlo en un circuito de medicin y grabadora, y se recoge la carga total L5-9] no dispersivo ANLISIS 419 en cada canal se graban en secuencia en un grfico. La cantidad indicada en la tabla para cada elemento es la relacin de la intensidad de un dado lnea espectral de la muestra a la de una lnea de la norma, y el instrumento se puede calibrar de modo que la concentracin de cada elemento en la muestra se puede leer directamente en el grfico de registro. Como el total energa fluorescente recibida en cada contador de anlisis est relacionada con un fijo cantidad de energa que entra en el contador de control, las variaciones en el tubo de rayos X

salida no afectan a la exactitud de los resultados. 16-9 no dispersiva anlisis. Hasta aqu hemos considerado slo mtodos de anlisis por dispersin, es decir, mtodos en los que haces de rayos X de diferente longitudes de onda se separan fsicamente, o disperso, en el espacio por una anlisis de cristal de manera que la intensidad de cada uno puede ser medido por separado. Pero la medicin separada de las intensidades de los rayos de longitudes de onda diferentes a menudo se puede realizar sin la separacin espacial de estos vigas. Los mtodos para hacer esto son llamado no dispersivo. No analizar cristal se utiliza y el experimental ,,,,,, R tubo de rayos X disposicin adquiere la torm sencillo x "~ x ilustrado en la figura. 15-10. El contador recibe la radiacin fluorescente directamente de la muestra, y el filtro mostrado puede o no estar presente. * Tres mtodos de anlisis no dispersivo muestra c Se han utilizado: excitacin selectiva, FLG Aparato 15_ia para nondisselective filtracin, y el anlisis persive selectiva. contando. Excitacin selectiva de una lnea espectral particular se logra simplemente por el control de la tensin del tubo de rayos x. Supongamos, por ejemplo, que un catalizador de Cu-Sn aleacin se va a analizar. Si el tubo se hace funcionar a 28 kV, a continuacin, Cu Ka ser excitado (tensin de excitacin kv = 9), pero no Sn Ka (tensin de excitacin = 29 kV). Las lneas L de Sn se entusiasma a 28 kv pero sus longitudes de onda son tan largas (aproximadamente 3A) que esta radiacin se absorbe casi completamente

en el aire. La radiacin entra en el contador lo tanto, consiste casi enteramente de Cu Ka junto con una pequea cantidad de radiacin dispersa blanco de la viga principal por la muestra; la salida del contador, por consiguiente ser calibrado en trminos de la concentracin de cobre de la muestra. Evi* El tubo de rayos X y el contador debe estar tan cerca como sea posible a la muestra, pero, si es necesario, un espectrmetro de fluorescencia se puede utilizar, con el cristal analizar retirados y poner el contador a 20 = 0. O un difractmetro se puede utilizar, con la muestra en la posicin normal y el conjunto de contadores casi en cualquier lugar excepto en la posicin de un haz difractado. En cualquier caso, ya no de enfoque del fluorescente haz se produce, la hendidura contador de recepcin debera ser eliminado con el fin de ganar intensidad. 420 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA ^ [CAP. 15 temente, el mtodo de excitacin selectiva funciona mejor cuando los elementos involucrados difieren bastante ampliamente en el nmero atmico. Cuando las radiaciones K de ambos elementos se excitan en la muestra, selectivo filtracin se puede utilizar para garantizar que slo uno de ellos entra en la contrarrestar. Considere el anlisis de una aleacin de Cu-Zn. La tensin de excitacin K del cobre es de 9,0 kV y la de zinc 9,7 kv. Incluso si la tensin de funcionamiento se podra establecer con precisin entre estos valores, la intensidad de la fluorescencia Radiacin Cu Ka sera muy baja. Es mejor operar a un voltaje mayor que cualquiera de estos, por ejemplo 12-15 kv, y utilizar un filtro de nquel entre la muestra y el contador. Este filtro absorbe la mayor parte del Ka Zn y pasar la mayor parte de la radiacin Cu Ka. Filtracin selectiva de este tipo es ms eficaz cuando los dos elementos tienen o casi los mismos nmeros atmicos o nmeros atmicos ampliamente diferentes, debido a que, en cualquier caso, un material de filtro se puede elegir que tienen coeficientes de absorcin muy diferentes para la dos radiaciones. (Por supuesto, el aire entre la muestra y el contador propio

acta como un filtro selectivo muy eficaz en muchas aplicaciones. Considere la posibilidad de la determinacin de cobre en una aleacin de Cu-Al. Las lneas K de ambos elementos se ser excitado en cualquier voltaje por encima de 9 kv pero Ka Al, de longitud de onda 8.3A, es tan fuertemente absorbida por el aire que prcticamente ninguna de que llegue al contador.) Filtros equilibrados no parece que se han utilizado en el anlisis no dispersivo, pero no hay ninguna razn por la que no debe ser tan eficaces en este campo como en difractometra. Finalmente, el mtodo de estimacin selectiva puede ser utilizado. Como se ha mencionado en la seccin. 7-5, es posible medir la intensidad de la radiacin de una longitud de onda en presencia de radiaciones de otras longitudes de onda por medio de un contador proporcional y un analizador de canal nico pulso de altura. As, la la lucha contra el analizador combinacin puede recibir dos o ms radiaciones caractersticas de la muestra y ser sensible a slo uno de ellos. No filtracin se necesita y las intensidades medidas son muy altos. Este mtodo funciona mejor cuando los elementos involucrados difieren en el nmero atmico por lo menos tres. Si la diferencia es menor, sus radiaciones caractersticas no difieren suficientemente en longitud de onda para la discriminacin eficiente por el analizador. Hay, por supuesto, ninguna razn por cualquiera de estos mtodos no pueden ser en combinacin con cualquier otro, o los tres pueden ser utilizados conjuntamente. As, una determinada problema analtico puede requerir el uso de excitacin selectiva y filtracin selectiva, una tcnica de ayudar al otro. Tales combinaciones normalmente ser necesario cuando la muestra contiene ms de dos elementos. En general, el anlisis no dispersivo es ms eficaz cuando se aplica a binario aleaciones, ya que las dificultades para distinguir entre una de las caractersticas radiacin y otro, o en una emocionante y no otra, aumentar con el nmero de elementos en la muestra. Estas dificultades pueden ser aliviados

por una disposicin de mltiples canales, y la cuantmetro X-Ray describe en la seccin anterior se puede utilizar para el anlisis dispersivo en 15-10] Medicin del espesor del recubrimiento 421 que forma, simplemente mediante la eliminacin de los cristales analizando y cambiando el puestos de venta libre. Cada canal contiene un material de filtro diferente, elegido de acuerdo con el elemento particular que est siendo determinado en ese canal. La ventaja principal de los mtodos de anlisis no dispersivas es el muy gran ganancia en intensidad en los mtodos de dispersin. La elevada prdida de intensidad involucrado en la difraccin de un cristal de analizar se evita completamente. Como resultado, el haz entra en el mostrador de un sistema no dispersivo es relativamente intenso, incluso despus de pasar a travs de los filtros ms bien gruesa que se utilizan para evitar la interferencia de otras longitudes de onda. Cuanto mayor es la intensidad, ms corto es el tiempo de recuento necesario para obtener una precisin dada, o mayor ser la precisin para un tiempo de recuento dado. 15-10 Medicin del espesor del recubrimiento. Radiacin fluorescente puede puede utilizar no slo como un medio de anlisis qumico, sino tambin como un mtodo para medir el espesor de las capas superficiales. Los siguientes mtodos, ambos basados en fluorescencia, se han utilizado para medir el espesor de una superficie de revestimiento de A en B: (1) Un sistema de dispersin se utiliza y el contador est colocado para recibir A la lnea de Ka a partir de la muestra. La intensidad de la lnea A Ka aumenta con el espesor de la capa A hasta el punto en el que esta capa se convierte efectiva de espesor infinito, y luego se vuelve constante. (De hecho, espesor infinito, que es aproximadamente 0,001 pulgadas para un metal como el nquel, corresponde a la profundidad de penetracin efectiva de la viga principal golpear la muestra, y este mtodo es, de hecho, una forma de determinar esta profundidad.)

La relacin entre una intensidad de Ka y el grosor de A debe obtenerse por calibracin. El funcionamiento de este mtodo es independiente de la composicin del material de base B, que puede ser un metal o un no metal. Este mtodo tambin puede utilizarse con un sistema no dispersivo, siempre que B es un no metal, o, si B es un metal, siempre que la atmica nmero de A y B son tales que la separacin no dispersivo de un ka y B Ka es prctica (ver la seccin anterior). (2) Un sistema de dispersin se utiliza y es la intensidad de la radiacin Ka B medido. Esta intensidad disminuye a medida que el espesor de A aumenta, y se convierte efectivamente cero a un cierto espesor lmite que depende las propiedades de ambos, A y B. Calibracin de nuevo es necesario. A no dispersivo sistema tambin se puede usar si las condiciones son favorables, como son, por ejemplo, en la medicin del espesor de la placa de estao en chapa de acero. En este caso, la excitacin selectiva de Fe Ka es el procedimiento ms simple en la medida como las condiciones de funcionamiento son exactamente similares a los involucrados en el anlisis de las aleaciones de Cu-Sn se describe en la seccin anterior. Esta mtodo se utiliza industrialmente: chapa de acero estaado pasa continuamente por debajo de un analizador no dispersivo, y el espesor de la capa de estao es continuamente registraron en un grfico. 422 ANALISIS QUIMICO DE FLUORESCENCIA [CAP. 15 A pesar de que no tienen nada que ver con fluorescencia, es conveniente mencionar aqu los mtodos de difraccin correspondientes para la medicin de la espesor de un recubrimiento de A en B: (1) La muestra se coloca en un difractmetro y la intensidad de un lnea de difraccin fuerte de A se mide. La intensidad de esta lnea, relativa a la intensidad de la misma lnea de una muestra infinitamente gruesa de A, es una medida del espesor de A. El espesor puede que calcula directamente

a partir de esta relacin de intensidad por medio de la ecuacin. (9-4) y la forma de la intensidad de la lnea frente a la curva espesor se parecer a la de la fig. 9-6. La Un recubrimiento debe ser cristalino, pero B puede ser cualquier material. (2) La intensidad de una lnea de difraccin fuerte de B se mide en un difractmetro. La intensidad observada 7 depende del espesor t de la Una capa de una manera fcilmente calculable. Puesto que la longitud total de la ruta de la incidente y haces difractados en la capa A es 2 / / sen 8, la intensidad de un lnea de difraccin de B viene dada por donde / o = intensidad de la misma lnea de difraccin de B sin recubrimiento, y H = coeficiente de absorcin lineal de A. En este caso B debe ser cristalino, pero A puede ser cualquier cosa. Cualquiera de estos mtodos, ya sea basado en fluorescencia o difraccin, se puede usar para medir el espesor de las lminas delgadas, simplemente montando la lmina en un material de soporte adecuado. PROBLEMAS 16-1. Supongamos que la anchura B en una lnea fluorescente espectrmetro de rayos X es 0,3 para un cristal de mica anlisis utilizado en la transmisin y 0,5, ya sea para un LiF o cristal de NaCl en la reflexin. Cul de estos cristales proporcionar una resolucin adecuada de los siguientes pares de lneas? (A) Co K $ y Ka Ni (b) Sn K y Ka $ Sb Calcular los valores A20 para cada cristal. 16-2. Qu condiciones de funcionamiento recomendara usted para la no dispersivo El anlisis por fluorescencia de los siguientes aleaciones con un contador de centelleo? (A) Cu-Ni (b) Cu-Ag 15-3. Difraccin mtodo (2) de la seccin. 15-10 se utiliza para medir el espesor de un electrochapa nquel sobre cobre con Cu Ka. radiacin incidente. Cul es el mximo espesor mensurable de nquel si la intensidad mnima lnea medible es

1 por ciento de los que no revestida de cobre?

CAPTULO 16 ANLISIS QUMICO DE ABSORCIN

16-1 Introduccin. Al igual que la longitud de onda de una lnea caracterstica es caracterstica de un elemento emisor, por lo que es la longitud de onda de una absorcin borde caracterstica de un elemento absorbente. Por lo tanto, si una muestra contiene una serie de elementos se utiliza como un absorbente y si la absorcin que produce se mide como una funcin de la longitud de onda, bordes de absorcin se darse a conocer, y las longitudes de onda de estos bordes servir para identificar el diversos elementos de la muestra. El mtodo tambin puede hacerse cuantitativo, si el cambio en la absorcin ocurre en cada borde se mide. Estas mediciones requieren una radiacin monocromtica de longitud de onda controlado, y esto se obtiene normalmente mediante la reflexin de un solo cristal en un difractmetro. La muestra cuya absorcin se va a medir se coloca en el haz difractado, como se indica en la figura. 16-1 (a), y los rayos X de cualquier deseado longitud de onda son recogidos de la radiacin que sale del blanco tubo simplemente poniendo el cristal analizar en el ngulo apropiado 6. Alternativamente, la muestra puede ser colocado en el haz incidente sobre el cristal. Otra fuente de radiacin monocromtica de longitud de onda controlada es un elemento fluorescente su radiacin caracterstica. La disposicin se muestra en la figura. 16-1 (b) se utiliza, con el conjunto de cristal para reflejar las caractersticas radiacin de cualquier elemento se usa como radiador. Al tener en entregar un conjunto de elementos de nmero atmico Z, (Z + 1), (Z + 2),. . . , Nos tener disponible un rango discontinuo de longitudes de onda caractersticas, y La figura. 16-1. Disposicin experimental para mediciones de absorcin: (a) con difractmetro, (b) con el espectrmetro de fluorescencia.

423 424 ANLISIS QUMICO DE ABSORCIN [CAP. 16 la intensidad de esta radiacin en la muestra ser considerablemente ms grande que la de los componentes de la radiacin blancos utilizados en el difractmetro mtodo. A pesar de que las longitudes de onda proporcionadas por fluorescencia no forman un continuo, que estn lo suficientemente cercanos como para ser til en la medicin de la variacin en la absorcin de la muestra con la longitud de onda. En la longitud de onda intervalo de 0,5 a 1,5, por ejemplo, la diferencia media entre las longitudes de onda Ka de un elemento de nmero atmico Z y uno de (Z + 1) es slo 0.06A. Si un elemento particular no est disponible en la forma pura, su xido, o algn otro compuesto o aleacin que contiene una cantidad sustancial del elemento, se puede utilizar como un radiador de la radiacin fluorescente. 17 (K) 8. o~ 161x) W CQ Q W tf ^O ^H 5! wH 1500 1400

1300 1200 1100 1000 900 040 0,45 0,50 055 057 Longitud de onda (angstroms) La figura. 16-2. Variacin de la intensidad transmitida \ \ i-simo de longitud de onda cerca de una absorcin borde. (Para esta curva en particular, tres espesores de pelcula fotogrfica fueron utilizado como un absorbente y el borde de absorcin que se muestra es el borde A 'de la plata en la emulsin.) 16-2 Absorcin de vanguardia mtodo. Supongamos que queremos determinar la concentracin del elemento A en una muestra que contiene un nmero de otros elementos. La muestra, preparado en la forma de una placa plana o una hoja de espesor uniforme, se coloca en un haz de longitud de onda controlable, y la intensidad / de la radiacin transmitida se mide por una serie de longitudes de onda en cada lado de un borde de absorcin de A. elemento La curva resultante de / Vs X tendr la forma de la figura. 16-2, ya que la intensidad transmitida se aumentar bruscamente en el lado de longitud de onda larga del borde. (La hora exacta de 16-2] ABSORCION-EDGE 425 MTODO forma de la curva depende del tipo de radiacin disponible. Los datos en la figura. 16-2 se obtuvieron con la radiacin reflejada desde el continuo espectro en un difractmetro; la pendiente ascendente de la curva en longitudes de onda ms largo que el borde es debido al hecho de que la intensidad del incidente haz aumenta con la longitud de onda en esta regin del espectro continuo y este efecto ms que compensa el aumento en la absorcin

coeficiente de la muestra con la longitud de onda.) Por las extrapolaciones muestran se obtienen los valores de / i y 72, las intensidades de transmisin de longitudes de onda slo ms largo y ms corto slo, respectivamente, que la longitud de onda de el borde. El coeficiente de absorcin de masa de la muestra est dada por donde w denota fraccin en peso, y la ra subndices, A, y r denotan la mezcla de elementos en la muestra, el elemento A, y los elementos restantes en la muestra, respectivamente. En una longitud de onda no es igual a la de los un borde de absorcin de la intensidad transmitida viene dada por donde 7 es la intensidad del haz incidente, pm es la densidad de la muestra, y t es el espesor de la muestra. A longitudes de onda ms largo slo y slo ms corta que la del borde de absorcin de A, sea la absorcin de masa coeficientes de un ser (M / P) y AI (M / P) A2> respectivamente. Entonces la transmitida intensidades de estas dos longitudes de onda ser desde (M / P) T es la misma para ambos. Divisin de una ecuacin por el otro da = EW) Al (M / P) A2-(M / P) Ailpm ^ (16-1) ^2 Si ponemos [(M / P) A2 ~ WP) AI] = & A y PMT = AFM, entonces la ecuacin. (16-1) se convierte en (16-2) Esta ecuacin se puede usar para determinar WA desde mide y se tabulan cantidades. La constante y A, que mide el cambio en la masa coeficiente de absorcin de A en el borde de absorcin, es una caracterstica de la elemento involucrado y disminuye a medida que aumenta el nmero atmico. Mm es 426 ANLISIS QUMICO DE ABSORCIN [CAP. 16 la masa de la muestra por unidad de rea y est dado por la masa de la muestra dividido por el rea de una cara.

Desde mm vara con \ w para muestras de espesor constante, y pueden, en hecho variar independientemente de w \, es conveniente agrupar a los dos juntos y poner WAMM M \ = masa de A por unidad de rea de la muestra. Una parcela de En (/ i / / 2) vs MA ser entonces una lnea recta a travs del origen con una pendiente de A. Si hay alguna duda sobre la exactitud de la absorcin tabulados coeficientes de la que se deriva A'A, esta curva puede ser establecida por mediciones en muestras de contenido conocido A. Es importante sealar que la pendiente de esta curva depende slo de la clement un ser determinado y es independiente, no slo de los otros elementos presentes, pero tambin de cualquier variacin en las concentraciones de estos elementos con respecto el uno al otro. Los otros elementos presentes slo afectan Mm, que debe se midi para cada muestra. El valor de w \ viene dado por M \ / Mm. El hecho de que la curva de En (I \ / I <z) vs MA forma una trama maestra para el determinacin de A independientemente de los otros constituyentes de la muestra representa una clara ventaja del mtodo de absorcin ventaja sobre fluorescente anlisis. Por ejemplo, si un elemento est siendo determinada por fluorescencia en muestras que contienen A, B, y C, una curva de calibracin para la determinacin de A es vlida slo para muestras que contienen una concentracin fija de B o C. La principal desventaja del mtodo de absorcin de punta, cuando se aplica a el anlisis de aleaciones, la muestra es muy delgada requerida para obtener medible JBB <N Y 150 H 125 g 8

O E 50 25 L\L\\L\\\ Yo 0,2 04 0,6 0,8 1,0 12 Longitud de onda (angstroms) La figura. 16-3. Los coeficientes de absorcin de plomo, mostrando K y L bordes de absorcin. (Trazada a partir de datos del Manual de Qumica y Fsica, 23 ed., Chemical Rubber Publishing Co., Cleveland, 1939.) 16-3] MTODO DIRECTO DE ABSORCIN (Haz monocromtico) 427 intensidad transmitida. Muchas de las muestras de aleacin tiene que ser molidos hasta un espesor de una o dos milsimas de pulgada, y este es un proceso tedioso y operacin que consume tiempo. El mtodo es el ms adecuado para la determinacin de un elemento bastante pesado en una matriz de luz-elemento. Es difcil para determinar los elementos de luz, a pesar de que tienen grandes valores de fc, debido a que sus bordes de absorcin se producen en dichas longitudes de onda largas que el radiacin incidente se absorbe casi completamente incluso por las muestras muy delgadas. (Sin embargo, las dificultades en la preparacin de muestras finas de slidos materiales pueden ser evitados mediante la disolucin de la muestra, en una concentracin conocida, en un lquido adecuado. La solucin resultante est contenido en un flatsided clulas de algn material altamente transparente, y el espesor total de la muestra puede ser de varios milmetros.) Cuando el nmero atmico del elemento est determinado excede de aproximadamente 50, la LIU en lugar de borde de absorcin de la A 'se debe utilizar. No slo k es mucho mayor para el borde Lm de tales elementos, pero su absorcin K

bordes se producen en longitudes de onda ms cortas que las que pueden obtenerse en una radiografa tubo operado a 50 kV. La Figura 16-3 muestra el tamao relativo y la ubicacin de la K y L bordes de absorcin de plomo. 16-3 directo absorcin mtodo (monocromtica del haz). Absorcin mtodos que no implican mediciones en un borde de absorcin han sido tambin utilizado. El coeficiente de absorcin de masa de una mezcla de dos elementos A y B, para una longitud de onda no es igual a la de un borde de absorcin de cualquiera, es propuesta por \P/AyB La relacin entre la intensidad incidente 7 y la intensidad transmitida 7 es por lo tanto En ~ = LA (-} + (1 - A) (-) 1 Pmt. (16 -) I I \ / p Vp / BJ Esta relacin se puede utilizar para la determinacin de la cantidad de un presente, siempre que pm, la densidad de la muestra, que se conoce como una funcin de la composicin. Una lnea caracterstica fuerte se utiliza normalmente para tales mediciones: por su longitud de onda mayor sensibilidad debe estar entre la absorcin bordes de A y B. Naturalmente, si pm se conoce como una funcin de la composicin, las mediciones de densidad nico que puede revelar la composicin de un desconocido sin ninguna necesidad de mediciones de absorcin. Sin embargo, hay circunstancias en las que una medicin de la absorcin es ms conveniente que una densidad medicin. Tales circunstancias surgen en los estudios de difusin. Metales A y B se unen entre s para formar un par de difusin [fig. 16-4 (a)], que se celebr 428 ANLISIS QUMICO DE ABSORCIN [CAP. 16

muestra para la absorcin mediciones / Original Una interfaz / 100 B/ XI 7 H 50 o (A) x+zDISTANCIA INTERFAZ ORIGINAL (B) La figura. 16-4. Aplicacin del mtodo directo de absorcin a mediciones de difusin. a una temperatura constante elevada durante un periodo de tiempo determinado, y luego se enfri a temperatura ambiente. El problema es determinar la penetracin de un metal en otro, es decir, para llegar a una curva como en la figura. l (> -4 (b), mostrando el cambio en la composicin de la aleacin a lo largo de una lnea normal a la original interfaz. Esto se realiza normalmente mediante la reduccin de la pareja en un nmero de fina rebanadas, paralelas a la / / z-plano de la interfaz original, y la determinacin la composicin de cada rebanada. En el mtodo de absorcin, una sola rebanada es tomada paralela a la zz-plano, normal a la interfaz original. Este corte Luego se coloca entre el contador ometer difractan y una rendija fija estrecha que define la coordenada x de la zona irradiada. Si la muestra es luego

movido en relacin paso a paso a la ranura en la direccin x, una serie de mediciones puede estar hecho de que la composicin frente a la curva distancia puede ser trazada. Otra forma en que puede ser el mtodo de absorcin directa realizada til implica la realizacin de mediciones en dos longitudes de onda, \ i y X2, puesto que ningn conocimiento de la densidad o espesor de la muestra es entonces necesario. Designando las mediciones realizadas en cada una de estas longitudes de onda por subndices 1 y 2, encontramos la ecuacin. (16-3) que In - (M / P) BI] + (M / P) BI En (1 Q2 / 1 2) WA [(M / P) A2 ~ (M / P) B2L Wp +) Fi2 (16-4) El Xi longitudes de onda y X2 se deben elegir para encuentran cerca, y en ambos lados de, un borde de absorcin de A. Una forma de aplicar este mtodo a la rutina anlisis es el uso de un analizador no dispersivo fluorescente multicanal. Tres Se requieren canales: canal 1 contiene un elemento que emite fluorescencia radiacin de longitud de onda caracterstica Xi, canal 2 contiene otro elemento productores de radiacin de longitud de onda X2, y el canal 3 se utiliza para controlar. La absorcin producida por la muestra se mide primero en canal 1 y luego en el canal 2, y la relacin de las intensidades / I y 72 16-5] APLICACIONES 429 transmitida en estos dos canales se toma como una medida del contenido de A de la muestra. El canal de control se utiliza para garantizar que todas las muestras recibir la misma energa total de la radiacin incidente. No se hace uso de Eq. (16-4). En cambio, una curva de calibracin que muestra la relacin entre WA y en (/ i / / 2) se prepara a partir de muestras de composicin conocida. Los mtodos descritos en esta seccin se utiliza normalmente slo para la anlisis de las muestras de dos componentes. Si hay ms de dos componentes son

presentar y ecuaciones de la forma de (16-3) y (16-4) se utilizan, entonces todo pero dos componentes de la muestra debe haber concentraciones conocidas. Si la concentracin de un elemento en particular se obtiene a partir de una calibracin curva en lugar de a partir de estas ecuaciones, la curva de calibracin se aplica slo a muestras que contienen concentraciones fijas de todos menos dos componentes. 16-4 directo absorcin mtodo (haz policromtico). La absorcin de un haz policromtico, compuesta de la suma total de continua y radiacin caracterstica de emisin a partir de un tubo de rayos X, tambin se puede hacer la base para el anlisis qumico. La disposicin experimental es muy simple: la muestra est simplemente colocado en el haz directo desde el tubo de rayos X, y un contador detrs de la muestra mide la intensidad transmitida. Porque de la multiplicidad de las longitudes de onda presentes, ningn clculo exacto de transmisin intensidad como una funcin de la composicin de la muestra se pueden hacer. Sin embargo, una curva de calibracin se puede establecer sobre la base de las mediciones realizadas en muestras de composicin conocida, y esta curva ser vlido para el determinacin de un elemento particular en una serie de muestras, siempre que todos muestras tienen el mismo grosor y las concentraciones de todos menos dos componentes son fijos. La principal ventaja de este mtodo es la ganancia muy grande en la intensidad sobre mtodos que implican haces monocromticos. Un haz monocromtico, ya sea producida por difraccin o de fluorescencia, es bastante dbil en comparacin para el haz directo de un tubo de rayos X. Cuanto mayor sea el incidente intensidad, el grueso de la muestra que se puede usar, o bien, para la misma muestra espesor, mayor es la intensidad, ms corto ser el tiempo de anlisis para una dada la precisin del conteo. 16-5 Aplicaciones. Mtodos de absorcin de anlisis se limitan a muestras cuya absorcin total es lo suficientemente bajo como para producir un haz transmitido

intensidad de medir con precisin. Esto significa que las muestras de ms aleaciones metlicas tienen que ser extremadamente delgada, al menos por mtodos que implican intensidad baja vigas monocromticos, o tienen que ser disueltos en un lquido. En la industria de hoy en da, los mtodos de absorcin se limita casi exclusivamente a el anlisis de lquidos orgnicos y materiales similares de baja absorcin coeficiente. Un ejemplo tpico de este tipo de anlisis es la determinacin de tetraetilo de plomo en la gasolina. 430 ANLISIS QUMICO DE ABSORCIN [CAP. 16 PROBLEMAS 16-1. Los valores de I \ y 2 /, tomada de la figura. 16-2, para la absorcin producida por tres espesores de sin procesar pelcula de rayos x son 1337 y 945 cps, respectivamente. Los valores superior e inferior del coeficiente de absorcin de masa de plata en su borde de absorcin K son 62,5 y 9,8 cm2 / G, respectivamente. Calcular el contenido de plata (en mg/cm2 ) De una sola pieza de esta pelcula. 16-2. Si el aumento mnimo detectable en la intensidad transmitida a una absorcin borde es de 5 por ciento, cul es la cantidad mnima detectable de cobre (en peso por ciento) en una aleacin de Al-Cu si el mtodo de absorcin de borde se utiliza en una muestra de 1 mm grueso? Suponga que la densidad de la muestra es el mismo que el del aluminio puro. Los valores superior e inferior del coeficiente de absorcin de masa de cobre en su borde de absorcin K son 307 y 37 cm2 / G, respectivamente. 16-3. La composicin de una aleacin de Fe-Ni, se sabe que contiene aproximadamente 50 peso por ciento de hierro, se va a determinar por el mtodo de absorcin directa con Cu Ka

radiacin. Su densidad es de 8,3 g/cm3 . La intensidad mxima incidente disponible es de 10.000 cps. La intensidad mnima de transmisin puede medir con precisin en un La longitud de tiempo razonable en la presencia del fondo es de 30 cps. Qu es el espesor mximo de la muestra?

CAPTULO 17 MEDICIN DEL ESTRS

17-1 Introduccin. Cuando una pieza de metal policristalino se deforma elsticamente de tal manera que la cepa es uniforme sobre relativamente grande distancias, las distancias reticulares planas en los granos que constituyen cambiar de su libre de estrs valor a un valor nuevo correspondiente a la magnitud de la tensin aplicada, este nuevo espaciado siendo esencialmente constante de un grano a otro para cualquier conjunto particular de aviones. Esta macrostrain uniforme, como vimos en la seccin. 9-4, provoca un desplazamiento de las lneas de difraccin a la nueva 26 posiciones. Por otro lado, si el metal se deforma plsticamente, la planos de la red generalmente se deforman de tal manera que la separacin de cualquier particular (hkl) conjunto vara de un grano a otro o de una parte de un grano a otro. Esta microstrain no uniforme provoca un ensanchamiento de la lnea de difraccin correspondiente. En realidad, ambos tipos de deformacin son generalmente superpuesta en metales deformadas plsticamente, y las lneas de difraccin son a la vez cambiado y ampliado, ya que no slo los espacios de avin variar de grano a grano, pero su valor medio difiere de la de la sin deformar metal. En este captulo vamos a estar preocupados por el cambio de lnea debido al uniforme colar. De este cambio de la cepa se puede calcular y, conociendo la cepa, se puede determinar la presencia de estrs, ya sea por un clculo que implica

las constantes medidos mecnicamente elstico del material, o por una calibracin procedimiento que implica la medicin de las tensiones producidas por conocida tensiones. Difraccin de rayos X por lo tanto puede ser utilizado como un mtodo de "Estrs" de medicin. Ntese, sin embargo, que el estrs no se mide directamente por el mtodo de rayos X o, para el caso, por cualquier otro mtodo de "estrs" medicin. Siempre es la cepa que se mide, el estrs se determina indirectamente, por clculo o calibracin. Los diversos mtodos de "estrs" medicin slo se diferencian en el tipo de Sensores de eje utilizado. En el comn resistencia elctrica mtodo, el calibrador es una longitud corta de alambre fino cementada a la superficie del metal que se est probado; cualquier cepa en el metal es compartida por el cable, y cualquier extensin o contraccin del hilo es acompaado por un cambio en su resistencia, que por lo tanto se puede utilizar como una medida de la cepa. En el mtodo de rayos X, el medidor de deformacin es el espaciado de planos reticulares. 17-2 Aplicada estrs y la tensin residual. Antes de que el mtodo de rayos X es examinado en detalle, es aconsejable considerar primero una ms general sujeto, a saber, la diferencia entre la tensin aplicada y la tensin residual, 431 432 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 y para obtener una idea clara de lo que significan estos trminos. Considere la posibilidad de una barra de metal deformada elsticamente, por ejemplo, en una tensin uniforme. La tensin aplicada se da simplemente por la fuerza aplicada por unidad de rea de seccin transversal. Si el fuerza externa se retira, la tensin desaparece, y la barra recupera su iniciales sin estrs dimensiones. Por otro lado, hay ciertas operaciones que se puede realizar en una pieza metlica, que se deje en un destac condicin incluso despus de todas las fuerzas externas se han eliminado. Esta

estrs, que persiste en ausencia de una fuerza externa, se llama residual estrs. Por ejemplo, considere el conjunto mostrado en la figura. 17-1 (a). Consiste de una seccin hueca a travs del cual se pasa un perno queden flojos con extremos roscados. Si las tuercas se enroscan sobre estos extremos y se aprieta, los lados del conjunto se comprimen y el perno se coloca en tensin. La tensiones presentes son residuales, en la medida en que no hay fuerzas externas acta sobre el conjunto como un todo. Note tambin que las tensiones de traccin en una parte del conjunto se equilibran con tensiones de compresin en otra partes. Este equilibrio de tensiones opuestas, requerido por el hecho de que el conjunto como un todo est en equilibrio, es caracterstico de todos los estados de estrs residual. Una condicin exactamente equivalente de estrs residual puede ser producido por soldadura de una barra transversal en una seccin abierta, como se muestra en la figura. 17-1 (b). Nosotros puede asumir razonablemente que, en el instante de la segunda soldadura se ha completado, una parte sustancial de la barra central est caliente pero que los dos miembros laterales son lo suficientemente lejos de la zona calentada a estar a temperatura ambiente. En enfriamiento, la barra central trata de contraerse trmicamente pero est restringida por la miembros laterales. Se hace contrato parcialmente, pero no tanto como lo hara si estaba libre, y el resultado final es que los miembros laterales se colocan en compresin y la varilla central en tensin cuando el conjunto queda en soldar (A) (b) La figura. 17-1. Ejemplos de estrs residual. T = tensin, compresin C =. 17-2] tensin aplicada y la tensin residual 433 temperatura ambiente. Las tensiones residuales es bastante comn en soldados

estructuras. Flujo plstico tambin puede configurar las tensiones residuales. La viga que se muestra en la figura. 17-2 (a) se apoya en dos puntos y se carga por dos fuerzas iguales aplicadas F cerca de cada extremo. En cualquier punto entre los dos soportes de la tensin en la fibras fuera es constante, la traccin en la parte superior de la viga y de compresin en la parte inferior. Estas tensiones son un mximo en las superficies exteriores y disminuir a cero en el eje neutro, como se indica por el diagrama de tensin a la derecha de (a). Este diagrama muestra cmo vara la tensin longitudinal a travs de la "seccin AA, cuando todas las partes de la viga estn por debajo del elstico limitar. Supongamos que la carga sobre la viga est ahora aumentado hasta el punto donde El lmite elstico es excedido, no slo en las fibras exteriores pero a una considerable profundidad. A continuacin, el flujo de plstico tendr lugar en las porciones exteriores de la haz, indicado por el sombreado en (b), pero habr una regin interior todava slo elsticamente tensas, ya que el estrs todava hay debajo de la elstica limitar. Las tensiones por encima del eje neutro son todava enteramente a la traccin, tanto en las porciones elsticamente y plsticamente colado y enteramente por debajo de los compresin. Si la carga se retira ahora, estas tensiones tratar de aliviar se enderezando el haz. Bajo la accin de estos interno fuerzas, el haz es parcialmente enderezarse, y hasta tal punto que /' A' La figura. 17-2. Estrs residual inducida por el flujo plstico en flexin: (a) cargado por debajo lmite elstico; (b) cargar ms all del lmite elstico; (c) descargada. Regiones sombreadas tienen sido plsticamente tensas. 434 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 el estrs en las regiones externas no slo es reducida a cero, pero es en realidad

cambiado de signo, como se indica en (c). El resultado final es que la carga haz contiene la tensin de compresin residual en su porcin superior y fuera tensin de traccin residual en su parte inferior exterior. Es bastante comn a encontrar la tensin residual en las partes metlicas que han sido deformados plsticamente, no slo por flexin pero por estirado, estampacin, extrusin, etc 17-3 tensin uniaxial. Con estas ideas bsicas en mente, ahora podemos ir a una consideracin del mtodo de rayos X de la medicin de la tensin. La manera ms simple de abordar este mtodo es a travs del caso de la tensin pura, donde la tensin slo acta en una nica direccin. Considere una varilla cilndrica de rea de seccin transversal A hincapi elsticamente en tensin por una fuerza F (Fig. 17-3). Hay una tensin vy F / A en el ^ /-direccin, pero ninguno en el xor 2-direcciones. (Este estrs es la tensin normal que acta solo, tambin hay esfuerzos cortantes presentes, pero estos no son medibles por difraccin de rayos x.) La vy estrs produce una tensin en el ev? /-Direccin dada por AL Lf L y=-=-' L Lo donde L y L / son las longitudes originales y finales de la barra. Esta cepa est relacionada con el estrs por la ecuacin elstica fundamental v = E * y, (17-1) donde E es el mdulo de Young. El alargamiento de la barra se acompaa por una disminucin de su dimetro D. Las cepas en las R-y ^-direcciones En consecuencia, da por D donde Z) y D / son los dimetros originales y finales de la barra. Si el material de la barra es isotrpico, estas cepas estn relacionadas por la ecuacin

. -, -? (17-2) donde v es el coeficiente de Poisson para el material de la barra. El valor de v vara de aproximadamente 0,25 a aproximadamente 0,45 para la mayora de los metales y aleaciones. Para medir y * por rayos X requerira difraccin de los planos perpendiculares al eje de la barra. Dado que este es generalmente fsicamente imposible, Utilizamos lugar reflejando planos que son paralelos, o casi paralelos, al eje de la barra tomando una fotografa de back-reflexin en condiciones normales incidencia, como se muestra en la figura. 17-3. (Es esencial que una copia de reflexin tcnica de utilizar, a fin de obtener la suficiente precisin en la medicin de espaciamiento plano. Incluso tensiones muy grandes causan slo un cambio muy pequeo 17-3] tensin uniaxial 435 superficie buck-reflejan ion pinliole caineia m J_ La figura. 17-3. Tensin pura. La figura. 17-4. Difraccin de colado agregado, vertical tensin del eje. Enrejado planos mostrados pertenecen, al mismo (Hkl) set. A '=-reflejando plano normal. en rf.) De esta manera se obtiene una medicin de la deformacin en la direccin z ya que esto est dado por - '^'. (.7-3) donde dn es el espaciamiento de los planos reflectantes en incidencia normal bajo estrs, y ORP es el espaciamiento de los mismos planos en ausencia de estrs. Combinando las ecuaciones. (17-1), (17 2), y (17-3), se obtiene la relacin 77T / V\

dn (17-4) que da la tensin necesaria en trminos de cantidades conocidas y observado. Cabe sealar que slo un conjunto particular de granos contribuye a una reflexin hkl particular. Son los granos cuyo (hkl) planos son casi paralela a la superficie de la barra, como se indica en la figura. 17-4, y que estn comprimida por el esfuerzo aplicado, es decir, dn es menor que d (). Los granos cuyas (Hkl) planos son normales a la superficie se han extendido estos planos, como se muestra de manera exagerada en el dibujo. El espaciamiento dhki por lo tanto vara con la orientacin del cristal, y por lo tanto no hay posibilidad de utilizar cualquiera de los procedimientos de extrapolacin descritos en el Cap. 11 para medir 436 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 lnea de muestra lnea de material de referencia La figura. 17-5. Back-reflexin mtodo en incidencia normal. con precisin. En su lugar debemos determinar esta distancia desde la posicin de de una lnea de difraccin individual en la pelcula. Un mtodo de comparacin directa se utiliza generalmente. Un polvo de alguna referencia material de parmetro de red conocida se unta sobre la superficie de la muestra, y el resultado es una fotografa como la que se ilustra en la figura. 17-5, donde las lneas Ka se muestran sin resolver de una mayor claridad. Puesto que el lnea desde el material de referencia calibra la pelcula, no es necesario conoce la distancia de muestra a pelcula /). Los espaciamientos de plano de la muestra se determinan simplemente por la medicin de los dimetros de los anillos de Debye de la muestra (2S8) y del material de referencia (2SR). La ecuacin (17-4) muestra que una medida de d en el material no sometido a esfuerzo

se debe hacer. Si la muestra contiene slo la tensin aplicada, y luego d se obtiene a partir de una medicin en la muestra sin carga. Pero si estrs residual est presente, d debe ser medido sobre una pequea porcin libre de estrs cortada de la muestra. 17-4 tensin biaxial. En un sujeto bar a pura tensin la tensin normal acta slo en una nica direccin. Pero en general, habr componentes de esfuerzo en dos o tres direcciones en ngulos rectos entre s, formando los llamados sistemas de tensin biaxial o triaxial. Sin embargo, la tensin a la derecha ngulos a una superficie libre es siempre cero, de modo que en la superficie de un cuerpo, que es el nico lugar donde podemos medir el estrs, nunca tenemos que tratar con ms de dos componentes de la tensin y una mentira estos en el plano de la superficie. Slo en el interior de un cuerpo puede ser las tensiones triaxiales. Consideremos una porcin de la superficie de un cuerpo estresado, mostrado en la figura. 17-6. Hemos creado un sistema de coordenadas xyz rectangular, con x e y acostado en el plano de la superficie en cualquier orientacin conveniente. Cualquiera que sea el estrs sistema, tres direcciones perpendiculares entre s (1,2, y 3) se pueden encontrar que son perpendiculares a los planos sobre los que no acta ninguna tensin de cizallamiento. Estos se llaman las direcciones principales, y las tensiones que actan en estas direcciones, ffiy a2, y <73, se llaman los esfuerzos principales. En la superficie libre muestra, 0-3, como <r, es igual a cero. Sin embargo, 3, la tensin normal a la 17-4] ESTRS BIAXIAL "3 437 La figura. 17-6. Relaciones angulares entre la tensin a medir (o0), principal tensiones (<TI, 0-2, y 0-3), y los ejes arbitrarios (x, y, z). superficie, no es cero. Se administra por (17-5)

El valor de 3 se puede medir por medio de un patrn de difraccin de hecho en incidencia normal y est dada por la ecuacin. (17-3). Sustituyendo este valor en (17-5), obtenemos dn dQ (17-6) Por lo tanto, en el caso general, slo la suma de las tensiones principales pueden obtenerse a partir de un patrn en incidencia normal. [Si slo un esfuerzo individual es actuando, por ejemplo una tensin de traccin en la direccin 1, entonces 0-2 = y Eq. (17-6) se reduce a la ec. (17-4).] Normalmente, sin embargo, queremos medir la tensin <r + actuando en algunos direccin especificada, dicen que el OB direccin de la fig. 17-6, donde hace un OB <t> ngulo con direccin principal 1 y un ngulo / 3 con el eje z. Es realiza haciendo dos fotografas, una con el haz incidente normal a la superficie y uno con ella inclinada a lo largo de OA en algn ^ ngulo a la superficie normal. OA est en un plano vertical a travs de la direccin en la que OB se desea medir la tensin, y \ l / se hace generalmente igual a 45. La incidencia normal patrn mide la cepa aproximadamente normal a la superficie, y el patrn de incidencia inclinada-mide la cepa aproximadamente paralela a OA. Estas cepas son medidos por lo tanto aproximadamente igual a 3 y ^, respectivamente, donde ^ es la cepa en una direccin 438 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 en un ngulo ^ para la normal de la superficie. Teora de la elasticidad da la siguiente relacin de la diferencia entre estas dos cepas: ^ - ^ 3 = (l + ") sin 2 ^ (17-7) E

Sino (17-8) hacer donde di es el espaciamiento de los planos inclinados que reflejan, aproximadamente normal a OA, bajo estrs, y d es la distancia libre de estrs. Combinando Ecs. (17-3), (17-7), y (17-8), se obtiene di-d dn - d dl - Dn o ^. (I _) -,,) sin ^ ^ /. (17-9) ddd Puesto que d, que se producen en el denominador anteriormente, puede ser sustituida por dn con muy poco error, Eq. (17-9) se puede escribir en la forma E '"' ~" 1 (17-10) (1 + v) sin 2 $ \ dn Esta ecuacin nos permite calcular la tensin en cualquier direccin elegida de espaciamientos plano determinado a partir de dos fotografas, una hecha en condiciones normales incidencia y el otro con el haz incidente inclinado en un ngulo \ f / a la normal de la superficie. Observe que el ngulo <t> no aparece en esta ecuacin y afortunadamente es as, ya que por lo general no conocen las direcciones de las tensiones principales a priori. Tampoco es necesario conocer la unstressed plano de separacin d, la medicin es por lo tanto, no destructiva, porque no hay necesidad de cortar parte de la muestra para obtener un stressfree muestra.

El mtodo de comparacin directa se utiliza de nuevo para obtener una medicin exacta de las separaciones, y la fig. 17-7 ilustra el aspecto de la pelcula en la exposicin inclinada-incidencia. El anillo de Debye de la muestra ya no es perfectamente circular. La razn radica en el hecho de que el tensin a lo largo de la normal a los planos que refleja vara con el ngulo \ f / entre estas normales de avin y la normal de la superficie, como se muestra por la ecuacin. (17-7). Habr, pues, ngulos de difraccin ligeramente diferentes para 26 aviones reflejando a la "baja" de la pelcula (punto 1) y aquellas que se derivan de la "Alto" lado (punto 2). Estos planos por lo tanto forman dos conjuntos de ligeramente orientacin diferente, los juegos 1 y 2, que tiene las normales NI y N% en ngulos de i y 2 al haz incidente, (CQ y a2 son casi iguales el uno al otro y para 90 0.) Medidas de Si el espcimen radios Debye-ring y 82 por tanto, dar informacin sobre cepas en direcciones en ngulos de (^ + E * i) y (\ l / 2) a la superficie normal. La prctica habitual es 17-4] 439 ESTRS BIAXIAL lino de referencia material espcimen superficie * lnea de espcimen La figura. 7 a 7 en. Back-reflexin mtodo de incidencia inclinada. medir solamente Si, desde la posicin de este lado del anillo es ms sensible a la tensin. * Para ahorrar tiempo en el clculo, podemos poner la ecuacin. (17-10) en ms usable

formulario. Al diferenciar la ley de Bragg, se obtiene = Cot 6 A0. d (17-11) El radio de S Debye-anillo, en la reflexin posterior, est relacionada con la specimentofilm distancia D por S = D bronceado (180 - 26) =-D bronceado 26, AS =-20a0 2Dsec2. Combinando las ecuaciones. (17-11) y (17-12), obtenemos Anuncio AS = 2D seg 2 Tan 26 d (17-12) * S \ Sz y no se puede medir directamente por el agujero en el centro de la pelcula, pero se puede encontrar indirectamente. Si el dimetro medido de la Debye anillo del material de referencia es 2SR, entonces el punto donde el haz incidente pasa a travs de la pelcula se encuentra en un Sr distancia desde cualquier punto de la referencia anillo. Si xi y z2 son las distancias medidas entre la muestra y de referencia anillos en el "bajo" y el lado "alto", respectivamente, de la pelcula [vase fig. 17-8 (c)], entonces Si = Sr x \ y 2 = Sr 2 440 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 Ad di dn Ponga = un dn

y AS = St - Sn, donde St es el radio de Debye-ring en la fotografa inclinado incidencia, generalmente se toma como \ la radio S en la figura. 17-7, y Sn es el radio del anillo en la fotografa incidencia normal. La combinacin de las tres ltimas ecuaciones con Eq. (17-10), encontramos ~ 2D (l + v) sec 2 20 6 bronceado pecado 2f Poner E Esto forma una ecuacin de trabajo conveniente. K \ es conocido como el estrs factor, y se puede calcular una vez por todas para una muestra dada, radiacin, y la distancia de muestra a pelcula. Para asegurarse de que la muestra-tofilm distancia D es efectivamente igual tanto para la inclinado-y normal-incidencia exposiciones, es suficiente para ajustar esta distancia dentro de 1 mm de su valor nominal con un medidor de distancia y realizar la correccin final por medio de la 2SR dimetro medido del anillo de Debye de la referencia material. Por ejemplo, con polvo de tungsteno como material de referencia, Co radiacin Ka, y una distancia muestra-pelcula de 57,8 mm, 2SR es 50 mm para la lnea 222 de tungsteno. Luego, para cada pelcula un factor de multiplicacin es encontrado que har que el dimetro de tungsteno anillo exactamente igual a 50,00 mm; este mismo factor se aplica luego a la medida radios S y Sn de los anillos de muestras antes de insertarlos en la ecuacin. (17-14). Todas las mediciones se realiza mejor en el componente de \ a del doblete Ka.

Qu clase de exactitud se puede esperar en la medicin de la tensin por los rayos X? Para una muestra de acero examinado con Co Ka. radiacin, la highestangle reflexin es la lnea 310, que se produce a aproximadamente 160 20. Entonces E = 30 X 106 psi, v = 0,28, D = 57,8 mm, = 80, y = 45 ^ + (90 - 0) = 55, si el haz incidente est inclinado en un ngulo de 45 a la superficie normal y se mide el radio de Si, en lugar de S2, en la inclinedincidence fotografa. Poniendo estos valores en la ecuacin. (17-13), encontramos el KI factor de estrs para 47.000 psi / mm. Si la cantidad (St - Sn) es medir con una exactitud de 0,1 mm, lo que requiere una precisin de 0,05 mm en la medicin de la cantidad separada de Si y Sn, entonces el estrs se puede determinar con una precisin de 4700 psi. Precisiones algo mejor que esto a veces se puede conseguir en la prctica, pero-prob17 un 5] tcnica experimental (cmara oscura) 441 capaz error de 4000 a 5000 psi es probablemente tpica de la mayora de las mediciones hizo en muestras de acero. Alta precisin, pueden alcanzarse en los materiales que tiene sustancialmente ms bajos mdulos de elasticidad, tales como aleaciones a base de aluminio, ya que el factor de estrs es directamente proporcional al mdulo. El estrs o ^ actuando en cualquier direccin especificada tambin se puede medir por una sola exposicin inclinada como la mostrada en la figura. 17-7, la exposicin incidencia normal-estar omitido. Ambos radios de Debye-ring, Si y $ 2, se miden, siendo el primero utilizado para calcular la deformacin en un ngulo (^ + i) a la superficie normal y el este ltimo la cepa en un ngulo (^ o ^) - Ecuacin (17-9) A continuacin se aplica por separado para cada medicin: E / dt i - dn Q __ I \

J, (1 + v) sen 2 (\ / / + Aceite) \ do / (1 + v) sen2 (^ # 2) \ do donde i dl dl y% son los espaciamientos de plano calculados a partir de S \ y $ 2, respectivamente. Poner un 2 \ == (90 0), y la eliminacin de dn de las dos ecuaciones arriba, encontramos / E \ Mi - dl2 \ (1 \ >= (T ~ T ~) (^) ( ~ R ~ ^ r ^ T) \ 1 + v / \ do / \ 2 ^ sm pecado 2a / En esta ecuacin no necesita ser conocida con exactitud. Puesto que solamente una exposicin es requerida, este mtodo es el doble de rpido que el habitual de dos exposicin mtodo, pero implica un error probable dos o tres veces ms grande. 17-6 tcnica experimental (cmara oscura). En este y el siguiente seccin vamos a considerar las tcnicas utilizadas en la aplicacin de la twro-exposicin mtodo para la medicin de la tensin. Cmaras estenopeicas de diseo especial se utilizan para la medicin de la tensin. La diseo est determinado por dos requisitos normalmente no encontradas: (1) Dado que las muestras a ser examinadas con frecuencia son grandes y difciles de manejar, es necesario llevar la cmara para la muestra en lugar de la muestra a la cmara. (2) Dado que la mayor exactitud se requiere en la medicin de la difraccin posiciones de lnea, las lneas deben ser lisas y continuas, no irregular. Esto se consigue mediante la rotacin u oscilacin de la pelcula sobre el incidente de haz eje. (Rotacin completa de la pelcula es admisible en la incidencia normal

la exposicin, pero no en la hecha con incidencia inclinada. En este ltimo caso el anillo de Debye es no circular, para empezar, y la rotacin completa de la pelcula hara que la lnea muy amplia y difusa. En su lugar, la pelcula es oscil a travs de un ngulo de aproximadamente 10. Si el tamao de grano es espcimen extremadamente grueso, el espcimen mismo debe hacerse oscilar, si es posible, a travs de un ngulo de 2 o 3 alrededor de un eje normal al haz incidente.) 442 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 Estos dos requisitos son satisfechos por la cmara diseo ilustrado en la figura. 17-8 (a). La cmara est unida rgidamente a un porttil tubo de rayos X (Un tubo a prueba de golpes energizado a travs de un cable flexible de a prueba de golpes), que se lleva a cabo en un soporte ajustable, permitiendo que la cmara sea orientada en cualquier manera deseada con relacin a la muestra. La pelcula se mantiene en una circular casete que puede oscilar o girar por medio de un engranaje de tornillo sin fin-y arreglo. Tanto la incidencia normal e inclinadas de incidencia fotografas puede ser registrada en una pelcula mediante el uso de la cubierta de metal pelcula opaca se muestra en (b). Tiene dos aberturas diametralmente opuestas; despus de una exposicin se hace, el soporte de pelcula se hace girar 90 en su propio plano con respecto a la cubierta, y la otra exposicin hecha. La pelcula resultante tiene la aparicin de (c). La figura 17-9 muestra una tpica cmara utilizada para el estrs mediciones. Algunos investigadores les gusta usar un haz incidente colimado bien, al igual que el que se indica en la figura. 17-8 (a). Otros prefieren utilizar un haz divergente y utilizan el principio de centrado mostrado en la figura. 17-10. Un agujero de alfiler fino se encuentra detrs de la pelcula en el punto A y una ms grande, para limitar la divergencia, en punto B. A continuacin, un crculo que pasa por A y tangente a la muestra gusano conducir

(Activo tf lo cubren (A) (b) lnea de espcimen inclinedincidence exposicin (0 exposicin La figura. 17-8. Pinhole cmara para la medicin de la tensin (esquemtico): (a) en la casilla a travs del haz incidente, (b) Vista frontal del casete, (c) el aspecto de la pelcula expuesta. 17-5] tcnica experimental (cmara oscura) 443 La figura. 17-9. El estrs de la cmara en posicin para la medicin del esfuerzo en un soldado placa de acero. Un medidor de distancia combinada y el indicador de haz ha sido temporalmente unido al colimador para ayudar en el ajuste de la distancia de muestra de pelcula y la ngulo entre el haz incidente rido la superficie de la muestra. El ajuste de este ltimo puede hacerse rpidamente con el transportador mostrado. (H. J. Isenburger, Maquinaria, Julio de 1947, p. 167.) crculo centrado pelcula tubo de rayos X espcimen La figura. 17-10. Back-reflexin cmara estenopeica utiliza en condiciones semifocusing. 444 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 se cruzar con la pelcula en el punto donde un haz reflejado se centrar. La resultado es una lnea ntida y tiempo de exposicin reducida. Tenga en cuenta, sin embargo, que la condicin de centrarse slo puede ser satisfecha por una lnea en el patrn.

Pero la nitidez de la lnea y el tiempo de exposicin no son el nico criterio a tener en cuenta para decidir entre las tcnicas de haces colimados y divergentes. Una de las ventajas reales del mtodo de rayos X sobre todos los otros mtodos de medicin de la tensin es la capacidad de medir la tensin en un punto casi en la muestra. Esto se puede hacer con un haz colimado, que puede ser hizo muy estrecho, pero no con un haz divergente, que cubre una bastante amplia rea de la muestra. La tcnica de haz colimado es por lo tanto se prefiere cuando la tensin en la muestra vara rpidamente desde el punto a punto en la superficie, y cuando es importante que la tensin existente gradiente de ser evaluado. Cuando el gradiente de tensin normal a la superficie es grande, los errores de interpretacin puede surgir a menos que se dio cuenta de que la profundidad efectiva de rayos X penetracin vara con el ngulo de incidencia de los rayos-X. Supongamos, por ejemplo, que 6 = 80 y \ l / = 45. Entonces se puede demostrar, por medio de Eq. (9-3), que la profundidad de penetracin efectiva es 83 por ciento mayor en la incidencia normal exposicin de lo que es en la inclinados. Preparacin de la muestra correcta es extremadamente importante. Si la suciedad y la escala estn presentes, pueden ser muele apagado, pero la molienda debe ser seguido por profundidad de grabado para eliminar la capa superficial a la izquierda en la compresin de la molienda. La superficie se pule ligeramente con papel de esmeril fino, para eliminar el rugosidad causada por ataque profundo y ligeramente re-grabada. Rugosidad de la superficie Debe evitarse estrictamente, ya que los puntos altos de una superficie rugosa no se destac en la misma forma que la mayor parte del material y sin embargo ms contribuyen al patrn de difraccin, especialmente la realizada en incidencia inclinada, como se indica en la figura. 17-11. Por supuesto, la superficie debe

no ser tocado en absoluto antes de la tensin de medicin, si el objeto est para medir las tensiones residuales superficiales causada por algn tratamiento, tales como mecanizado, pulido, granallado, Tales tratamientos, etc producir empinada gradientes de estrs normal a la superficie, y la eliminacin de cualquier material por FLQ 1? _ n Difraccin de un pulido o grabado ira en contra de la superficie spera cuando el guin haz propsito de la medicin. est inclinada. 17-6 tcnica experimental (difractmetro). El difractmetro puede tambin se utiliza para la medida de tensiones, y muchos detalles de la difractmetro tcnica, por ejemplo, la preparacin de muestras, son idnticos a los mencionados en 17-6] TECNICA EXPERIMENTAL (difractmetro) 445 el apartado anterior. Los nicos cambios necesarios instrumentales son el Adems de un soporte de la muestra que permitir la rotacin independiente de la espcimen sobre el eje difractmetro, y un cambio en la posicin de la recibir hendidura. Figura 17-12 ilustra las relaciones angulares involucradas. En (a), la muestra se inclina igualmente a los hechos y haces difractados; \ l / es cero y el * espcimen normal N coincide con el plano reflectante normales Np. Radiacin divergente desde la fuente S es difractado a un foco en F en el crculo difractmetro. A pesar de que el haz primario es incidente en la superficie en un ngulo 8 en lugar de en 90, una medida de difraccin hizo con la muestra en esta posicin corresponde a una incidencia normalfotografa hecha con una cmara, con la excepcin de que los planos reflectantes son ahora

exactamente paralela a la superficie y la deformacin se mide exactamente normal a la superficie. En (b) la muestra se ha girado un ngulo \ l / para la medicin inclinado. Desde el crculo de enfoque es siempre tangente a la superficie de la muestra, la rotacin de la muestra altera el crculo centrado tanto en la posicin y el radio, y los rayos difractados llegado ahora a un enfoque en F ', que se encuentra a una distancia r F. Si R es el radio del difractmetro crculo, entonces puede demostrarse que r _ cos R ~ cos + (90 - 0)] - (90 - 0)] Si ^ = 45, entonces r / R es de 0,30 por 6 = 80 y 0,53 para 8 = 70 espcimen diffractometcr * S "crculo contrarrestar (A) (b) La figura. 17-12. El uso de un difractmetro para la medicin de la tensin: (a) ^ = 0; (b) ^ ^. 446 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 Cuando ^ no es cero, el punto focal del rayo difractado por lo tanto se encuentra entre F, la posicin habitual de la hendidura mostrador de recepcin, y la muestra. Si la rendija receptora se mantiene a F, la intensidad del haz de entrar el contador ser muy baja. Por otro lado, si una rendija ancha se utiliza en F, resolucin se ver afectada. Lo ms apropiado que hacer es poner una estrecha rendija en F 'y una ranura de ancho en F, o poner una estrecha rendija en F' y mover el contador a un

posicin justo detrs de l. En teora, los diferentes arreglos de hendidura, por tanto, necesarios para la medicin efectuada en \ l / = y la realizada en ^ = 45. En la prctica, un cambio en la posicin de la rendija entre cada una de estas mediciones se evita haciendo un compromiso entre la intensidad y la resolucin, y la colocacin de una estrecha hendidura en algn punto entre F y F 'donde experimento indica que se obtienen resultados satisfactorios. La hendidura se deja entonces en esta posicin para ambas mediciones. Puesto que la posicin angular 26 del haz difractado se mide directamente con un difractmetro, es conveniente escribir la ecuacin de estrs en trminos de 26 en lugar de espaciamientos de avin. Diferenciando la ley de Bragg, se obtiene Ad _ cuna 6 A20 ~D ~ 2 Combinando esta relacin con la ec. (17-10) da _ E cuna 6 (26n - 20t) '* 2 (1 + IoSin 2* Poner E cot6 2 "" 2 (1 + v) sin 2^ Entonces er,

= K2 (26n - 20 t), (17-15) donde 20n es el valor observado del ngulo de difraccin en el "normal" medicin ($ = 0) y 20, su valor en la medicin inclinado (^ = ^). Para las mediciones realizadas en la lnea 310 de acero con Co Ka radiacin, poniendo E = 30 X 10 6 psi, v = 0,28, = 80, y = ^ 45, es obtener para el estrs factor K2 un valor de 720 psi/0.01 20. Si 20n y 20t se miden con una precisin de 0,02, entonces el error probable en la tensin medida es de 2880 psi. Esencialmente, la cantidad medida en el mtodo es difractmetro A20 = (20n 20), el desplazamiento de la lnea de difraccin debido a la tensin como la ngulo \ l / ha cambiado. Sin embargo, algunos efectos geomtricos, en particular el compromiso posicin de la rendija receptora, introducir errores pequeos que causan un cambio en el 20, incluso para una muestra libre de estrs, cuando \ l / se cambia de a 45. Por tanto, es necesario determinar este cambio experimentalmente y se aplican como una correccin (A20) para todos los valores medidos en A20 subray 17-7 macroesfuerzo] superpuestas y microestrs 447 especmenes. La correccin se determina mejor mediante mediciones en un muestra de polvo fino, que est necesariamente libre de macrostrain, a = ^ y ^ = 45. El polvo debe tener la misma composicin que el material en el que la tensin se va a medir con el fin de que su lnea de difraccin se producen en la misma posicin 20, ya que la propia correccin, (A20), depende de 26. 17-7 macroesfuerzo Superpuesta y microestrs. Como se menciona en la introduccin, una muestra puede contener tanto un macroesfuerzo uniforme y un microestrs no uniforme. El resultado es una lnea de difraccin que es a la vez cambiado y ampliado. Este efecto se produce con bastante frecuencia en endurecido

piezas de acero: microestrs no uniforme es creado por la austenita a martensita transformacin y en esta se superpone un macroesfuerzo residual uniforme, debido a cualquiera de un nmero de causas, tales como enfriamiento, antes deformacin plstica, o moliendo. Medicin de la tensin por rayos X requiere la medicin de diffractionline cambiar. Si las lneas son ntidas, es relativamente fcil de medir este cambio visualmente con un dispositivo tal como se muestra en la figura. 6-18. Pero si las lneas estn amplio (y una anchura a la mitad de la intensidad mxima de 5 a 10 26 no es infrecuente en el caso de acero endurecido), una medicin visual precisa se hace imposible. Entonces es necesario para determinar el perfil de la lnea, ya sea a partir de un registro microfotmetro de la pelcula si una cmara se utiliz, o por medicin directa de la intensidad en varios ngulos 28 con el difractmetro. Despus de que el perfil de la lnea se obtiene, el problema sigue siendo de localizacin el "centro" de la lnea. Puesto que la lnea puede ser, y frecuentemente es, asimtrico, "Centro" no tiene un significado preciso, pero se toma generalmente como el pico de la lnea, es decir, el punto de mxima intensidad. Pero la parte superior de un amplio lnea es a menudo casi plana de manera que la determinacin directa del punto exacto de intensidad mxima es extremadamente difcil. Dos mtodos se han utilizado para fijar las posiciones de las lneas ensanchadas. La primera se ilustra en la figura. 17 a 13 (a) y puede ser utilizado siempre que las lneas lnea central lnea de perfil lnea central lnea de perfil parbola parbola 20 26 (A) (b)

La figura. 17-13. Los mtodos de localizacin de los centros de las lneas de difraccin amplios. 448 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 involucrados tienen lados rectos. Las porciones lineales estn simplemente extrapolada y su punto de interseccin toma como el "centro" de la lnea. Si el lnea es asimtrica, el punto por lo encontr no tendr el mismo valor 26 como el punto de mxima intensidad. Pero esto no tiene ninguna importancia en la medicin de la tensin, siempre que este "centro" es reproducible, ya que todos que se requiere es la diferencia entre dos valores de 26 y no el absolutos magnitud de cualquiera de los dos. El otro mtodo depende del hecho de que el perfil de una amplia lnea cerca de su pico tiene la forma de una parbola de eje vertical, como se muestra en La figura. 17 a 13 (b), incluso cuando la forma sobre-todos de la lnea es asimtrica. Ahora la ecuacin y = ax2 + bx + c (17-16) es la ecuacin general de una parbola cuyo eje es paralelo al eje y. El mximo de esta curva se produce cuando = 2ax + b = 0, dx x = - (17-17) 2a Si ponemos x = 26 ey = /, entonces la ecuacin. (17-16) representa la forma de la difraccin de lnea cerca de su pico. A continuacin, sustituir varios pares de observados 26, 1 valores en esta ecuacin y despejar los mejores valores de las constantes A y B por el mtodo de los mnimos cuadrados. La ecuacin (17-17) da entonces la valor exacto de x (= 20) en el que el mximo ocurre. Slo dos o tres puntos a cada lado del pico cerca de su mximo son suficientes para localizar la parbola con una precisin sorprendente. Las posiciones de las lneas de difraccin

tan amplio como 8 26 en la mitad del mximo de intensidad se han determinado reproducible a dentro de 0,02 por este mtodo. Eleccin de la radiacin adecuada es un asunto importante cuando las posiciones de lneas de difraccin grandes tienen que ser medido con precisin. Todos los esfuerzos debe hacerse para reducir el fondo, ya que la medicin precisa de una amplia lnea de difraccin difusa superpuesta sobre un fondo de alta intensidad es muy difcil. Por lo tanto, la radiacin de cobalto filtr a travs de xido de hierro es satisfactoria para el acero recocido, porque las lneas de difraccin son afilados. Sin embargo, el fondo es alto, ya que los componentes de longitud de onda corta espectro de fluorescencia de la causa continua de hierro radiacin K por la espcimen. Por esta razn, la radiacin de cobalto es completamente inadecuado para mediciones de tensin en acero templado, donde las lneas muy generales tienen que ser medido. Por tal radiacin cromo muestras se utilizarn, en junto con un filtro de vanadio entre la muestra y el fotogrfico pelcula o contador difractmetro. El filtro de vanadio suprime no slo el Cr KFL componente de la radiacin incidente, sino tambin la 17-8] CALIBRACIN 449 fluorescente hierro K radiacin de la muestra, dado que el borde K de vanadio se encuentra entre las longitudes de onda de Fe y Ka Ka Cr. La tensin del tubo Tambin hay que tener bastante bajo, aproximadamente 30 a 35 kV, para minimizar la intensidad de la radiacin fluorescente. La gran ganancia en la lnea-a-fondo relacin de intensidad obtenida mediante el uso de cromo en lugar de la radiacin de cobalto ms que compensa el hecho de que las lneas de difraccin se producen en 26 valores ms pequeos con el primero. 17-8 Calibracin. Para la medicin de la tensin por los rayos X que tienen desarrollado dos ecuaciones de trabajo, normas de calidad ambiental. (17-14) y (17-15), uno para la cmara oscura y una para el difractmetro. Cada uno de ellos contiene un

estrs apropiado factor K, por el cual se convierte cambio de difraccin de lnea a estrs. Adems cada una se deriva en la suposicin de que el material bajo estrs era un cuerpo istropo obedecer las leyes habituales de la elasticidad. Este supuesto tiene que ser examinado con bastante cuidado si un valor calculado de K se va a utilizar para la medicin de la tensin. El factor K estrs contiene la cantidad E / (l + p), y se tiene tcitamente que los valores de E y V medida en la forma ordinaria durante un ensayo de traccin se van a utilizar en el clculo del valor de K. Pero estos valores medidos mecnicamente no son necesariamente las correctas para se aplican a una medida de difraccin. En este ltimo, las cepas se miden en direcciones cristalogrficas particulares, a saber, las direcciones normales a la (Hkl) que refleja los aviones, y sabemos que E y v varan con cristalogrfica direccin. Esta anisotropa de las propiedades elsticas vara de un metal a otro: por ejemplo, mediciones en cristales individuales de un hierro demostrar que E tiene un valor de 41,2 X 106 psi en la direccin [111] y 19.2 X 106 psi en [100], mientras que los valores de E para el aluminio muestran muy poco variacin, siendo 10,9 X 106 psi en [111] y 9,1 X 106 psi en [100]. La mecnicamente valores medidos son 30 X 10 X 106 y 106 psi para policristalino hierro y aluminio, respectivamente. Estos ltimos valores son evidentemente Los valores medios de los agregados de granos contiguos teniendo azar orientacin. En el mtodo de rayos X, sin embargo, slo los granos que tengan un especial orientacin con relacin al haz incidente, y por lo tanto una orientacin particular

con respecto a la tensin medida, son capaces de reflejar. Hay por lo tanto, sin una buena razn por qu los valores medidos de forma mecnica y E v debe ser aplicado a estos granos particulares. Expresado alternativamente, una agregado de granos orientados al azar puede comportarse istropa sino individual granos de orientaciones particulares de ese agregado no. Estas consideraciones son ampliamente respaldada por la experiencia. Al hacer x-ray mediciones en materiales sometidos a tensiones conocidas, podemos determinar el factor K estrs experimental. Los valores de K as obtenido difieren hasta en un 40 por ciento de los valores calculados a partir de la mecnicamente medido constantes elsticas. Adems, para el mismo material, la 450 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 de rayos X -Ray (A) (b) La figura. 17-14. Los especmenes utilizados para la calibracin de rayos X mtodo. valores medidos de K varan con la longitud de onda de la radiacin utilizada y los ndices de Miller de los planos reflectantes. Con el acero, por ejemplo, la valor calculado de K pasa a ser en buen acuerdo con el valor medido valor si la radiacin se refleja COKA de los planos (310), pero no si alguna otra combinacin de X y (hkl) es empleado. Se han propuesto mtodos para el clculo de los valores propios de E y v para usar con rayos X de las mediciones de los valores medidos en diferentes instrucciones de cristales simples, pero los clculos no son muy exactos. El procedimiento ms seguro consiste en medir K en las muestras sometidas a conocer subraya. Vamos a considerar esta calibracin en trminos de la difractmetro mtodo, pero el mismo procedimiento tambin se puede utilizar para calibrar el cmara mtodo.

La prctica habitual es la creacin de tensiones conocidos en un cuerpo doblando. Ambas vigas planas y pesados anillos divididos se han utilizado, como se ilustra en La figura. 17-14. La viga que se muestra en (a) se apoya en dos puntos y cargado por las dos fuerzas F \; esfuerzo de traccin se produce por lo tanto en la superficie superior en el que las mediciones de rayos X se hizo. El anillo partido se muestra en (b) puede ser ya sea expandido en la F2 fuerzas que producen esfuerzos de compresin en el punto de medicin de rayos X, o comprimido por el F3 fuerzas, produciendo esfuerzo de traccin en el mismo punto. Si las fuerzas aplicadas y las dimensiones y el exceso de todas las propiedades elsticas del miembro tensado se conocen, entonces la tensin en el punto de medicin de rayos X puede ser calculado a partir de elasticidad teora. Si no, la tensin debe ser medida por un mtodo independiente, generalmente por medio de galgas extensomtricas resistencia elctrica situados en los puntos marcado X. En ningn momento durante la calibracin si el lmite elstico del el material se exceda. Una curva de calibracin tpica podra tener el aspecto de la figura. 17-15, donde el conocido estrs o> se representa frente al valor observado de A20 = (26n - 20t), en este caso para una aplicacin positiva (de traccin) estrs. La pendiente de esta lnea es el factor de estrs K2. Sin embargo, la curva experimental debe 17-9] APLICACIONES 451 ser corregidos por una cantidad (A20), medido en una muestra libre de estrs en la manera descrita anteriormente. La curva corregida de trabajo es por lo tanto un lnea de la misma pendiente que la experimental curva sino que se desplaza por una cantidad (A20). La curva de trabajo puede o no puede pasar a travs de cero,

en funcin de si o no la calibracin miembro residual contiene estrs. En el ejemplo mostrado aqu, un pequeo esfuerzo de traccin residual fue presentar. La figura. 17-15. Curva de calibracin para estrs medicin. 17-9 Aplicaciones. El campo propio de la aplicacin del mtodo de rayos X se har evidente si comparamos sus caractersticas con las de otros mtodos de estrs, o ms bien la tensin, la medicin. Si una cmara con un colimador de agujero de alfiler se utiliza, el incidente haz de rayos X se puede hacer bastante pequea en dimetro, decir TV cm, y la cepa en la muestra por lo tanto puede ser medido casi en un punto. Por otro lado, la cepa de la medidores elctricos o tipo mecnico tienen una longitud de una pulgada o ms, y por lo tanto medir slo la deformacin media en esta distancia. Por consiguiente, la x-ray mtodo es preferible cuando se desea medir muy localizada tensiones que varan rpidamente de un punto a otro, en un sentido macroscpico. Hay una diferencia an ms fundamental entre el mtodo de rayos X y mtodos que implican medidores elctricos o mecnicos. Esta ltima medida la deformacin total, ms elstico plstico, que se ha producido, mientras que los rayos X medir slo la parte elstica. La razn de esto es el hecho de que el espaciamiento de los planos de la red no se ve alterada por el flujo plstico, en s mismo, sino slo por los cambios en la tensin elstica a la que se someten los granos. La x-ray "strain gauge" por lo tanto se puede medir la tensin residual, pero electricresistance un medidor no puede. Supongamos, por ejemplo, que una resistencia elctricamedidor est fijado a la superficie de una muestra de metal que se deforma plsticamente de una manera no homognea. La cepa indicada por la

calibre despus de las fuerzas de deformacin se eliminan no es el elstico residual cepa de la que el esfuerzo residual puede ser calculado, puesto que el indicado cepa incluye un componente desconocido de plstico que no se recupera cuando la fuerza de deformacin se retira. El mtodo de rayos X, por el otro mano, revela la tensin elstica residual en realidad presente en el momento de la la medicin se realiza. Sin embargo, el mtodo de rayos X no es la nica manera de medir residual estrs. Hay otro mtodo ampliamente usado (denominado relajacin mecnica), que consiste en (a) la eliminacin de parte del metal por corte, trituracin, 452 MEDICIN DEL ESTRS [CAP. 17 1,5 -10 -05 05 1 1,5 Distancia desde el centro DEL REA CALIENTE (in) (A) -1,5 -1,0 -05 05 1,0 1,5 DISTANCIA A TENTER DEL REA CALIENTE (in) (B) La figura. 17-16. Patrn de tensiones residuales creado por el calentamiento localizado: (a) transversal estrs, (b) la tensin longitudinal. c? es el dimetro de la zona caliente. (J. T. Norton y D. Rosenthal, Proc. oc. Exp. Anlisis de tensin 1 (2), 77, 1943.) grabado, etc, y (b) medir la cambiar de forma o dimensiones producidos como resultado de esta eliminacin.

Por ejemplo, la tensin residual en la soldadura se discuti anteriormente [fig. 17-1 (b)] se puede medir mediante la reduccin de a travs de la varilla central a lo largo de la la lnea AA 'y la medicin de la longitud I antes y despus del corte. Cuando el varilla se corta a travs de, el esfuerzo de traccin en ella se libera y, los dos miembros laterales originalmente en la compresin, estn libre para alargar. La longitud final Si es por lo tanto mayor que la original longitud i y la tensin presente antes el corte se hizo debe haber sido (Si lG) / LF. Esta cepa, multiplicado por el mdulo elstico, da la residual presente esfuerzo de compresin en los elementos laterales antes de que el centro caa fue cortada. De manera similar, el residual estrs a diferentes profundidades de la inclinacin viga de la figura. 17-2 (c) puede ser medido por eliminacin sucesiva de capas paralelas al plano neutro, y una medida del cambio en curvatura de la viga producida por cada extraccin. Hay muchas variaciones de este mtodo y todos ellos son destructivos,

en la medida en que dependen de la parcial o la relajacin total de residuos estrs por la eliminacin de una parte de la destac metal. El mtodo de rayos X, por otra parte, es completamente no destructiva: todas las mediciones necesarias se pueden hacer en la estresado metal, que no necesita ser daado en ninguna manera. Podemos concluir que la radiografa mtodo es ms til para emplearse la medicin no destructiva de estrs residual, particularmente cuando el PROBLEMAS 453 estrs vara rpidamente sobre la superficie de la muestra. Esta ltima condicin se encuentra con frecuencia en estructuras soldadas, y la medicin de los la tensin residual en y cerca de las soldaduras es una de las principales aplicaciones de la x-ray mtodo. Para la medicin de la tensin aplicada, los mtodos que implican medidores elctricos o mecnicos son sin duda mejor: son mucho ms preciso, ms rpido y requiere aparatos ms baratos. De hecho, son comnmente utilizado para calibrar el mtodo de rayos x. La figura 17-16 muestra un ejemplo de medicin de tensiones residuales en las radiografas. La muestra era una barra de acero fino, 3 pulgadas de ancho y 10 de largo. Una pequea rea circular, cuyo tamao se indica en el grfico, se calienta localmente a por encima de 1 100 F durante unos segundos por la barra de sujecin en este punto entre los dos electrodos de una mquina de soldadura a tope. El rea central rpidamente expandido, sino que estaba limitada por el metal relativamente fro a su alrededor. Como

En consecuencia, el flujo de plstico tuvo lugar en y alrededor de la regin central de calefaccin y probablemente tambin en el enfriamiento como la regin central trat de contrato. Residual tensiones se crearon por lo tanto, y las curvas muestran cmo estas tensiones, tanto longitudinal y transversal, pueden variar a lo largo de una lnea a travs del espcimen a travs de la zona calentada. En y cerca de esta zona hay un estado biaxial de tensin que asciende a cerca de 55.000 psi, que est muy cerca de la produccin punto de este acero particular, a saber, 60.500 psi. Tambin hay un muy elevado gradiente de estrs a las afueras de la zona caliente: el esfuerzo transversal baja tensin de 55.000 psi a cero en una distancia de una pulgada, y la longitudinal tensin cae de tensin psi 55.000 psi 25.000 a compresin en menos de media pulgada. Las tensiones residuales de magnitud similar y gradiente se puede esperar en muchas estructuras soldadas. PROBLEMAS 17-1. Calcular el error probable en la medicin de la tensin en aluminio por el exposicin de dos puntos de aguja cmara mtodo. Considere E = 10 X 106 psi y v = 0,33. La lnea de mayor ngulo observado con radiacin Cu Ka se utiliza. Para la inclinedincidence fotografa, el haz incidente forma un ngulo de 45 con la muestra superficie, y el radio S \ (vase la fig. 17-7) del anillo de Debye de la muestra se mide. Supongamos una precisin de 0,05 mm en la medicin de la lnea posicin y una distancia muestra-pelcula de 57,8 mm. Compare su resultado con dado que en la seccin. 17-4 para el acero. 17-2. Una parte determinada de aluminio es examinado en el difractmetro, y el 20 valor de la lnea de 511.333 que se observa que cuando 163,75 ^ = 0, y 164,00 para \J/ = 45. Los mismos valores para una muestra de polvo de aluminio y son 163,81 163,88, respectivamente. Qu es la tensin en la parte de aluminio, si se supone

que el factor de estrs que resulta de las constantes elsticas dadas en el problema. 17-1 es corregir? 17-3. Verifique que la declaracin hecha en la seccin. 17-5 que la profundidad efectiva del x-ray penetracin es 83 por ciento mayor en incidencia normal que a una incidencia de 45, cuando 6 = 80.

CAPTULO 18 SUGERENCIAS PARA ESTUDIO ADICIONAL

18-1 Introduccin. En los captulos anteriores se ha tratado de hacer para suministrar una cobertura amplia y bsica de la teora y la prctica de la radiografa difraccin y sus aplicaciones a los problemas metalrgicos. Pero en un libro de esta envergadura mucho teora fundamental y muchos detalles de la tcnica han tenido que ser omitido. El lector que desee pasar al trabajo avanzado en este campo, por lo tanto, tendrn que recurrir a otras fuentes para obtener ms informacin. El propsito de las siguientes secciones es sealar estas fuentes e indicar el tipo de material de cada una contiene, en particular el material que se se menciona slo brevemente o no en este libro. Una cosa es absolutamente necesaria en el trabajo avanzado en la difraccin y que es la familiaridad con el concepto de la red recproca. Este concepto proporciona un medio para describir los fenmenos de difraccin de forma bastante independiente de la ley de Bragg y de una manera mucho ms potente y general. En particular, se proporciona una forma de visualizar los efectos difusos de dispersin que son difciles, si no imposible, para entender en trminos de la ley de Bragg. Estos efectos se deben a imperfecciones del cristal de un tipo y otro, y que proporcionan un medio valioso de estudiar tales imperfecciones. Estos defectos en la red cristalina, aunque aparentemente menor en carcter, puede tener un profundo efecto sobre las propiedades fsicas y mecnicas de metales y

aleaciones, por esta razn, no hay duda de que gran parte de la investigacin metalrgica del futuro tendr que preocuparse por imperfecciones del cristal, y en esta investigacin el estudio de la difusa de rayos X de dispersin jugar un papel importante. La utilidad de la red recproca en el tratamiento de los efectos de dispersin difusa Se indica en el apndice 15, donde el lector interesado se encuentra el principios bsicos y las aplicaciones ms importantes de la red recproca describen brevemente. 18-2 libros de texto. La siguiente es una lista parcial de los libros en Ingls que tratan de la teora y la prctica de difraccin de rayos X y cristalografa. (1) Estructura de los metales, 2 ed., Por Charles S. Barrett. (McGraw-Hill Book Company, Inc., New York, 1952.) Deservedly el estndar de trabajo en el campo, se ha servido durante mucho tiempo como un texto y libro de referencia en el cristalogrfica aspectos de la metalurgia fsica. En realidad dos libros en uno, el primero parte que trata de la teora y los mtodos de difraccin de rayos X, y el segunda parte con la estructura de los metales en el sentido ms amplio de la palabra. 454 18-2] LIBROS DE TEXTO 455 Incluye una explicacin muy lcida de la proyeccin estereogrfica. Contiene un tratamiento hasta al da de las transformaciones, la deformacin plstica estructura, de trabajado en fro del metal, y orientaciones preferentes. Ofrece una gran cantidad de referencias a los documentos originales. (2) X-Ray cristalogrfico Tecnologa, por Andr6 Guinier. (Hilger y Watts Ltd., London, 1952. Traduccin de f. L. Tippel, editado por Kathleen Lonsdale, de Radiocristallographie de Guinier, Dunod, Pars, 1945.) Escrito con claridad francesa cierto, este libro ofrece un excelente tratamiento de la teora y la prctica de difraccin de rayos x. Un cuerpo considerable de la teora

se presenta, aunque esto no se sugiere el ttulo de la traduccin en Ingls, y tcnicas experimentales se dan en detalle. La teora y los aplicaciones de la red recproca estn muy bien descritos. Caractersticas inusuales incluir una descripcin completa de la utilizacin de monocromadores y centrados captulos sobre el pequeo ngulo de dispersin y difraccin de sustancias amorfas. Crystal-estructura determinacin no est incluido. (3) X-Ray Procedimientos de difraccin, por Harold P. Klug y Leroy E. Alexander. (John Wiley & Sons, Inc., New York, 1954.) Como su ttulo indica, este libro hace hincapi en los mtodos experimentales. La teora y el funcionamiento de cmaras de polvo y difractmetros se describen en considerable y til detalle. (Un solo cristal mtodos, Laue y cristal giratorio, no estn incluidos.) Particularmente valioso para el debate de anlisis cuantitativo por difraccin, un tema al que estos autores han hecho contribuciones importantes. Tambin incluye captulos sobre la medicin del tamao de partcula de la lnea ampliacin, la difraccin por sustancias amorfas, y la dispersin de ngulo pequeo. (4) Difraccin de Rayos X de materiales policristalinos, editado por HS Peiser, H. P. Rooksby y Wilson A. J. C.. (Instituto de Fsica, Londres, 1955.) Este libro contiene algunos captulos treinta, aportados por una treintena de diferentes autores, sobre la teora y la prctica del polvo mtodo en sus muchas variantes. Estos captulos se agrupan en tres secciones principales: La tcnica experimental, interpretacin de los datos, y aplicaciones en campos especficos de la ciencia y la industria. Una gran cantidad de tiles informacin se presenta en este libro, que ser de mayor valor para la trabajador de investigacin para el estudiante que comienza, en la mayora de los contribuyentes asumir un cierto conocimiento del tema por parte del lector. (5) Applied X-Rays, 4 ed., De George L. Clark. (McGraw-Hill Book Company, Inc., New York, 1955.) A bodk muy completo, dedicado

a las aplicaciones de los rayos X en muchas ramas de la ciencia y la industria. Adems de difraccin, tanto mdicos como radiografa industrial (y microrradiografa) estn incluidos, as como secciones sobre la qumica y biolgica efectos de los rayos-x. Las estructuras cristalinas de una amplia variedad de sustancias, que van desde los compuestos orgnicos a las aleaciones, se describen completamente. 456 SUGERENCIA S PARA ESTUDIO ADICIONAL [CAP. 18 (6) Rayos-X en la prctica, Wayne T. Sproull. (McGraw-Hill Book Company, Inc., New York, 1946.) Difraccin de rayos X y la radiografa, con nfasis en sus aplicaciones industriales. (7) Una introduccin a la X-Ray Metalografa, por A. Taylor. (Juan Wiley & Sons, Inc., New York, 1945.) Contiene abundante material sobre el estructura cristalogrfica de metales y aleaciones y en mtodos de determinacin aleacin de diagramas de equilibrio por difraccin de rayos x. Secciones en la radiografa y microrradiografa tambin se incluyen. (8) Rayos X en Teora y Experimento, de Arthur H. Compton y Samuel K. Allison. (D. Van Nostrand Company, Inc., New York, 1935.) Un tratado estndar de la fsica de los rayos X y difraccin de rayos X, con nfasis en el primero. (9) El estado cristalino. Vol. I: Un Estudio General, por W. L. Bragg. (The Macmillan Company, New York, 1934.) Este libro y los dos listados inmediatamente a continuacin forman una serie continua, editado por WL Bragg, para que este libro constituye una introduccin. Se trata de un estudio muy legible de la campo por el padre del anlisis de la estructura. Contiene cuentas muy claras en trminos amplios y generales de la cristalografa (incluyendo la teora del espacio-grupo), difraccin, y anlisis de la estructura. La resea histrica del desarrollo de cristalografa de rayos X tambin se incluye. (10) El estado cristalino. Vol. II: los principios pticos de la difraccin

de los rayos X, por R. W. James. (George Bell & Sons, Ltd., Londres, 1948.) Probablemente el mejor libro disponible en Ingls en la teora avanzada de rayos X difraccin. Incluye tratamientos exhaustivos de dispersin difusa (debido a agitacin trmica, tamao de partcula pequeo, imperfecciones del cristal, etc), el uso de serie de Fourier en el anlisis de la estructura, y la dispersin por gases, lquidos y slidos amorfos. (11) El estado cristalino. Vol. III: La determinacin de estructuras cristalinas, por H. Lipson y W. Cochran. (George Bell & Sons, Ltd., London, 1953.) Anlisis de la estructura avanzada por medio de la teora del espacio-grupo y Series de Fourier. Los mtodos experimentales no estn incluidos, es decir, el problema de anlisis de la estructura est cubierta desde el punto en el que \ F \ 2 valores tienen sido determinado por experimento para la solucin final. Contiene muchos ilustrativo ejemplos. (12) La interpretacin de las fotografas de difraccin de rayos X, por NFM Henry, H. Lipson, W. y A. Wooster. (The Macmillan Company, London, 1951.) Giratorio y oscilante mtodos de cristal, as como polvo mtodos, se describen. Buena parte de los mtodos analticos de indexacin fotografas en polvo. (13) cristalografa de rayos X, por M. J. Buerger. (John Wiley & Sons, Inc., New York, 1942.) Teora y prctica de la rotacin y oscilacin mtodos de cristal. Space-teora de grupos. (14) Pequea ngulo de dispersin de rayos X, por Andrg Guinier y Gerard Fournet. Traducido por Christopher B. Walker, y seguido por un bibli183] LIBROS DE REFERENCIA 457 grafa por Kenneth L. Yudowitch. (John Wiley & Sons, Inc., Nueva York, 1955.) Una descripcin completa de los fenmenos de dispersin de ngulo pequeo, incluyendo

teora, la tcnica experimental, interpretacin de los resultados, y las aplicaciones. 18-3 libros de referencia. Los datos fsicos y matemticos e informacin en las estructuras cristalinas especficas se pueden encontrar en los libros siguientes: (1) Internationale Tabellen zur Bestimmung von Kristallstrukturen [International Tablas para la determinacin de estructuras cristalinas]. (Gebriider Borntraeger, Berln, 1935. Tambin disponible de Edwards Brothers, Ann Arbor, Michigan, 1944.) Vol. 1. Grupo Space-tablas. Vol. 2. Tablas matemticas y fsica (por ejemplo, los valores del pecado 2 0, atmico factores de dispersin, coeficientes de absorcin, etc.) (2) Tablas Internacionales de Cristalografa de rayos X. (Kynoch Press, Birmingham, Inglaterra.) Estas tablas son publicadas por el International Unin de Cristalografa y estn diseados para reemplazar la Internacional Tabellen (1935), gran parte del cual estaba en la necesidad de una revisin. Vol. I. grupos de simetra (tablas de grupos puntuales y grupos espaciales) (1952). El lector no debe pasar por alto la interesante introduccin histrica escrito por M. von Laue. Vol. II. Tablas matemticas (en preparacin). Vol. IIL fsicas y qumicas tablas (en preparacin). (3) Los coeficientes de absorcin y las longitudes de onda de las lneas de emisin y bordes de absorcin, no incluidos en el Tabellen Internationale (1935), pueden generalmente se encuentran en el libro de Compton y Allison (artculo 8 de la seccin anterior) o en el Manual de Qumica y Fsica (Chemical Rubber Publishing Co., Cleveland). Las longitudes de onda se dan en unidades KX. (4) Longueurs d'onde des emisiones de NOx et des d1 discontinuidad

Absorcin X [longitudes de onda de las lneas de emisin de rayos X y los bordes de absorcin], por Y. Caiichois y Hulubei H.. (Hermann & Cie, Paris, 1947.) Las longitudes de onda de las lneas de emisin y los bordes de absorcin en X unidades, muestran tanto en numrico orden de longitud de onda (til en el anlisis fluorescente) y con el fin de atmico nmero. (5) Strukturbericht. (Akademische Verlagsgesellschaft, Leipzig, 1931 1943. Tambin disponible de Edwards Brothers, Ann Arbor, Michigan, 1943.) Una serie de siete volmenes que describe las estructuras cristalinas cuyas soluciones fueron publicados en los aos 1913 a 1939, ambos inclusive. (6) Los informes de estructura. (Oosthoek, Utrecht, 1951 hasta la fecha). A continuacin, patrocinado por la Unin Internacional de Cristalografa, de Strukturbericht. Los nmeros de volumen que ocupan Strukturbericht dejado: Vol. 8. (En preparacin). Vol. 9. (1956) Estructura de resultados publicados desde 1942 hasta 1944. Vol. 10. (1953) Estructura de resultados publicados en 1945 y 1946. Vol. 11. (1952) Estructura de resultados publicados en 1947 y 1948. 458 SUGERENCIA S PARA ESTUDIO ADICIONAL [CAP. 18 Vol. 12. (1951) Estructura de resultados publicado en 1949. Vol. 13. (1954) Estructura de resultados publicado en 1950. Los resultados de las determinaciones de la estructura se dan generalmente en suficiente detalle que el lector no tiene necesidad de consultar el documento original. (7) La estructura de los cristales, 2 ed., Por Ralph WG Wyckoff. (Chemical Empresa Catlogo, New York, 1931. Suplemento para 1930-34, Reinhold Publishing Corporation, New York, 1935.) Cristalografa (incluyendo espacio-teora de grupos) y difraccin de rayos x. Adems, las descripciones completas se dan de un gran nmero de estructuras cristalinas conocidas.

(8) Las estructuras de cristal, por Ralph W. G. Wyckoff. (Interscience Publishers, Inc., Nueva York.) La continuacin de los trabajos Wyckoff (ver anterior elemento) de clasificacin y presentacin de datos de estructura cristalina. Tres volmenes se han publicado hasta la fecha (Vol. I, 1948;. Vol. II, 1951;. Vol. III, 1953) y se prev para el futuro. Cada volumen se encuentra en hojas sueltas forma para que la informacin ms adelante en una estructura particular puede ser insertado en el lugar apropiado. (9) Las listas de estructuras conocidas y parmetros celosas tambin se puede encontrar en el Manual de Qumica y Fsica (compuestos orgnicos e inorgnicos) y en el libro de Taylor, el punto 7 de la seccin anterior (intermetlico "Compuestos"). 18-4 Periodicals. En trminos generales, documentos tcnicos relacionados con rayos X cristalografa son de dos tipos: (A) Aquellos en los que la cristalografa o algn aspecto de difraccin de rayos X constituyen el tema central, por ejemplo, documentos que describen las estructuras cristalinas, cristalogrficas transformaciones, la teora de la difraccin, los mtodos de difraccin, etc, tales documentos fueron publicados en la revista internacional Zeitschrift fr Kristallographie, en el que cada documento apareci en el idioma del autor (Ingls, Francs o alemn). La publicacin de esta revista ces en 1945 y un nueva revista internacional, Acta Crystallographica, una publicacin de la Organizacin Internacional Unin de Cristalografa, fue establecido para tomar su lugar, publicacin comienzo en 1948. (Publicacin de Zeitschrift fur Kristallographie se reanud en 1954.) Aunque la mayor parte de los papeles que aparezcan en Acta Crystallographica se limitan a los resultados de estructura sobre complejo compuestos orgnicos e inorgnicos, documentos ocasionales de inters metallurical

aparecer. Los documentos sobre la teora y los mtodos de difraccin tambin se encuentran en las revistas de la fsica, fsica aplicada, y la instrumentacin. (B) Aquellos en los que difraccin de rayos X aparece en el papel de un experimental herramienta en la investigacin de algn otro fenmeno. Mucho puede ser aprendido de tales papeles sobre las aplicaciones de difraccin de rayos x. Muchos documentos de este tipo se encuentran en diversas revistas metalrgicos. ANEXO 1 CELOSA GEOMETRA AL-1 espaciamientos avin. El valor de d, la distancia entre adyacente aviones en el conjunto (hkl), se puede encontrar a partir de las siguientes ecuaciones. 1 h2 + k2 + I 2 Cilindrada: - = d2 cr 1 h2 + k2 Yo 2 Tetragonal: h = -5 a2 d2 (? 1 4 / h2 + hk + k? \ I 2 3 \ a2 Romboedro: 1 _ (h 2 + k2 + I 2

) Sen 2 a + 2 (hk + + hi kl) (cos 2 a - cos a) d2 " a2 (L - 3 cos2 a + 2 cos3 a) 1 h2 k2 Yo 2 OrthoMic: 1 1 / h2 k2 siu 2 Yo 2 2cos0 \ ) Monochnic: = - I H - - h-r sm2 d2 /8\a 2 6 2 c 2 ac / TricUnic: ~ T2 =

2 (SNH 2 + + S22k2 S33 ^ 2 + + 2S12/ifc 2S23kl + 2Sl3hl) En la ecuacin para cristales triclnico V = volumen de la celda unidad (ver ms abajo), Sn = 6 2 c 2 pecado 2 una, 2 ft S33 = a2 6 2 pecado 2 7, Si2 = abc2 (Cos a cos) S cos 7), ^ 23 = a2 6c (COS COS 7 pies cos a), <= Si3 ob2 c (COS 7 cos a cos ft). 459

a2 c 2 pecado 460 CELOSA GEOMETRA [APP. 1 AL-2 volmenes de celda. Las siguientes ecuaciones dar el volumen V de la unidad de celda. Cilindrada: V = a3 Tetragonal: V = a2 c Hexagonal: V = - = 0.866a2 c Rombodrico: V = a3VI 3 cos2 a + 2 cos3 un Ortorrmbico: V = abc Monoclnico: V = abc pecado ft Tridinic: V abcV 1 cos2 un cos2 ft cos2 7 + 2 cos a cos cos 7 AL-3 ngulos interplanares. El ngulo </> entre el plano (AiA'i / i), de dj espaciamiento, y el plano (/ i2/c2fe), de espaciamiento RF2, se puede encontrar a partir de la despus de ecuaciones. (F es el volumen de la celda unidad.) Cilindrada: cos = <t> Tetragonal: cos <= , 2 + fc, 2 + / IW + * 2 2

"" + cos <t> = Romboedro: 3a2 Z 4c2 fc2 2 + * 2 + fc2 4c2 cos </> = [pecado 2 una (/ ii/i2 + fc ^ g + + (Cos 2 a - cos a) (* fe + fc2 ^ i + * + hh fefci + + ftifc2 Al-3] ANGLES interplanares 461 Ortorrmbicos: cos </> = / 2 2 2 2 iT 2 Monocfo'm'c: cos ^> = ^ I I TT ~~ pecado 2 18 L a2 6 2 c 2 ac

TricKrac: ^ 1 ^ 2 077 Q 1 1 ANEXO 2 LA TRANSFORMACIN rombodricos-HEXAGONAL El retculo de puntos de muestra en la figura. A2-1 es rombodrica, es decir, se posee los elementos de simetra caractersticos del sistema rombodrico. La celda rombodrica primitiva tiene ejes ai (R), a2 (R), y AA (R). El enrejado mismo de puntos, sin embargo, puede ser denominado una clula hexagonal teniendo ejes ai (H), a2 (H), y C (H). La clula hexagonal ya no es primitivo, ya que contiene tres puntos de la red por celda unidad (en 000, ^ ^, y fff), y tiene tres veces el volumen de la celda rombodrica. Si uno quiere conocer los ndices (HK-L), que se refiere a los ejes hexagonales, de un plano cuya ndices (/ i / c /), que se refiere a los ejes rombodricos, son conocidos, las siguientes ecuaciones se pueden utilizar: H = h - k, K = k-l, L = h + k + l. La figura. A2-1. Rombodricos y hexagonal celdas unitarias en un attice rombodrica. 462 APP. 2] rombodricos-HEXAGONAL DE TRANSFORMACIN 463 Por lo tanto, la cara (001) de la celda rombodrica (muestra sombreada en la figura) tiene ndices (01 1) cuando se refiere a los ejes hexagonales. Desde un enrejado rombodrico puede ser denominado ejes hexagonales, se deduce que el patrn de polvo de una sustancia rombodrico pueden ser indexados en un hexagonal Hull-Davey o grfico Bunn. Cmo podemos reconocer la verdadera naturaleza de la red? De las ecuaciones dadas anteriormente, se desprende que

-H + K + L = 3 / r. Si la red es realmente rombodrica, entonces k es un nmero entero y las nicas lneas que aparece en el patrn tendr ndices hexagonales (HK L) de tal manera que el suma (H + K + L) es siempre un mltiplo entero de 3. Si esta condicin no es satisfecha, la red es hexagonal. Cuando el patrn de una sustancia rombodrico ha sido tan indexado, es decir, con referencia a los ejes hexagonales, y la verdadera naturaleza de la red determinada, por lo general quieren conocer los ndices (hkl) de los planos que reflejen cuando se hace referencia a los ejes rombodricos. Las ecuaciones de transformacin son h = J (2H + K + L), I = (- / / - 2K + L). Hay, pues, el problema de determinar los parmetros de red y un una de la celda unidad rombodrica. Pero las dimensiones de la rombodrico clula puede determinarse a partir de las dimensiones de la celda hexagonal, y esta es un proceso ms fcil de resolver el complicado bastante plano-spacing ecuacin para el sistema rombodrico. El primer paso es el ndice de patrn sobre la base de los ejes hexagonales. A continuacin, los parmetros y un c de la clula hexagonal se calculan de la manera habitual. Finalmente, los parmetros de la celda rombodrica se determinan a partir de las siguientes ecuaciones: +C 2 , Por ltimo, cabe sealar que si el c / una relacin de la clula hexagonal en La figura. A2-1 toma el valor especial de 2,45, entonces el ngulo a de la rombodrico clula ser igual a 60 y la red de puntos ser centrada en las caras cbico. Comparar la figura. A2-1 con las Figs. 2-7 y 2-16. Para ms informacin sobre la relacin rombodrico-hexagonal y en

transformaciones de celda unidad en general se puede obtener de la Internacional Tablesjor cristalografa de rayos X (1952), vol. 1, pp 15-21. ANEXO 3 Longitudes de onda (en angstroms) de alguna caracterstica Lneas de emisin y bordes de absorcin En promedio, A'ai se administra dos veces el peso de A ~ e * 2. 464 (Cont.) APP. 3] LNEAS caracterstica de emisin 405 L lneas caractersticas del tungsteno Las longitudes de onda anteriores se basan en los de Longueurs d'onde des emisiones de NOx et des discontinuidad d 'Absorcin X por Y. Cauchois y Hulubei H. (Hermann, Pars, 1947). Los valores Cauchois-Hulubei se han multiplicado por 1,00202 X 10 ~ 3 para convertir de X unidades de angstroms. Los valores, en angstroms, para la Lneas K y K borde de absorcin fueron proporcionados amablemente por G. 1). Rieck antes publicacin en vol. Enfermo de las Tablas Internacionales de Cristalografa de rayos X y Se publican aqu con el permiso de la Comisin Editorial de la International Tablas. APNDICE 4 MISA DE ABSORCIN DE COEFICIENTES (| t / p) y densidades (p) (Con.) 466 APP. 4] Los coeficientes msicos de absorcin y densidades de 467 (Conf.) 468 COEFICIENTES masa de absorcin y densidad [APP. 4 *C JO ^

C3 g o.% * OC O -3-bl ss . Si ^ o Ec ^. >> S APNDICE 5 VALORES DE sen2 9 (Cont.) 469 470 VALORES pecado OP 2 6 [APP. 5 A partir de la interpretacin de fotografas de difraccin de rayos X, por NFM Henry, H. Lipson y W. A, Wooster (Macmillan, Londres, 1951). APNDICE 6 Formas cuadrticas de ndices de Miller (Cont.) 471 472 valores de (sen 0) / X [APP. 7 APNDICE 7 VALORES DE pecado (6) / X (A ~ ') (Con *). APP. 7] Los valores de (sen 0) / 473 x

ANEXO 8 FACTORES DE ATOMIC DISPERSIN (Cont.) 474 APP. 8] Los factores de dispersin atmico 475 (Cont.) 476 factores de dispersin atmica [APP. 8 A partir de Difraccin de Rayos X por materiales policristalinos, editado por HS Peiser, HP Rooksby y AJC Wilson (Instituto de Fsica, Londres, 1955). APNDICE 9 FACTORES DE FOTOGRAFIAS EN POLVO multiplicidad Cilindrada: hkl hhl Okl Okk hhh 001 48 * 24 24 * 12 8 ~ 6 ~ Hexagonal y hk-hh-l l l Ok-hk-0-0 hh Ok-0 00-1 Rombodrico: 04 * 19 * 12 * 12 * 6 6 2 Tetragonal: hkl hhl Okl HKO HHO Oko 001 16 * 8 8 8 * 4 4 2 Ortorrmbico: h8kl O4kl 4hOl 4hkO 2hOO2OkO2001 Monodinic: hkl Hol ko T IT T Triclnico: hkl ~2 * Estos son los factores habituales de multiplicidad. En algunos cristales, los aviones que tienen estos ndices comprenden dos formas con la misma separacin pero el factor de estructura diferente, y el factor de multiplicidad para cada forma es la mitad del valor dado anteriormente. En la sistema cbico, por ejemplo, hay algunos cristales en el que las permutaciones de la

ndices (hkl) producir aviones que no son estructuralmente equivalentes; en tales cristales (Aube, discutido en la seccin. 2-7, es un ejemplo), el plano (123), por ejemplo, pertenece a una forma y tiene un factor de cierta estructura, mientras que el plano (321) pertenece a otra forma y tiene un factor de estructura diferente. Hay ~ ^ - = 24 aviones en la primera forma y los planos 24 en la segunda. Esta cuestin se discute ms completa de Henry, Lipson y Wooster: La interpretacin de Difraccin de Rayos X Fotografas (MacMillan). 477 ANEXO 10 Lorentz-Polarizacin FACTOR / l + cos2 29 \ \ Sen2 6 cos 6 / (Cont.) 478 APP. 10] Lorentz-Polarizacin FACTOR 479 A partir de la interpretacin de fotografas de difraccin de rayos X, por NFM Henry, H. Lipson, y Wooster WA (Macmillan, London, 1951). APNDICE 11 CONSTANTES FISICAS Carga del electrn (e) = 4.80 X 10 ~ ~ 10 esu Masa del electrn (m) = 9,11 X 10 ~ 28 gm Masa del neutrn = 1,67 X 10 ~ 24 g La velocidad de la luz (c) = 3.00 X 1010 cm / sec La constante de Planck (h) = 6.62 X 10 ~ 27 erg-seg

La constante de Boltzmann (k) = 1,38 X 10 ~ 16 erg / A Nmero de Avogadro (JV) = 6,02 X 1023 por mol Constante de los gases (R) = 1,99 cal / mol A / 1 electrn volt = 1,602 X 10 ~ ~ 12 ergio 1 cal = 4,182 X 107 ergs 1 KX = 1.00202A 480 ANEXO 12 INTERNACIONALES pesos atmicos, 1953 * El valor entre parntesis es el nmero de masa del istopo de larga vida media conocida. t Debido a las variaciones naturales en la abundancia relativa de sus istopos, la peso atmico del azufre tiene un rango de 0,003. 481 APNDICE 13 DATOS estructura cristalina (Nota: el smbolo Al, Bl, etc, en este apndice son aquellos utilizados en Strukturbericht para designar ciertos tipos estructurales comunes.) TABLA A13-1 LOS ELEMENTOS (Cont.) * Forma ordinaria de un elemento que existe (o se cree que existe) en ms de un formulario.

482 APP. 13] Crystal estructura de datos de 483 (Cont.) * Forma ordinaria de un elemento que existe (o se cree que existe) en ms de un formulario. 484 datos de estructura cristalina [APP. 13 * Forma ordinaria de un elemento que existe (o se cree que existe) en ms de un formulario. De la Estructura de los Metales, 2 edicin, de Charles S. Barrett (McGraw-Hill Book Company, Inc., Nueva York, 1952). APP. 13] DATOS estructura cristalina TABLA A13-2. Algunos compuestos y soluciones slidas 485 ANEXO 14 Electrones y difraccin de neutrones A14-1 Introduccin. As como un haz de rayos X tiene un doble onda-partcula carcter as, a la inversa, hace una corriente de partculas tienen ciertas propiedades peculiar de movimiento de las olas. En particular, dicha corriente de partculas puede ser difractado por un arreglo peridico de centros de dispersin. Esta fue la primera predicho tericamente por De Broglie en 1924 y demostr experimentalmente por Davisson y Germer en 1927 (los electrones) y por Von Halban y Preiswerk en 1936 (para neutrones). Si una corriente de partculas pueden comportarse como movimiento de las olas, que debe tener un longitud de onda asociada con l. La teora de la mecnica ondulatoria indica que esta longitud de onda es dado por la relacin de la constante h de Planck a la

momento de la partcula, o h \ => (1) mv donde m es la masa y V la velocidad de la partcula. Si una corriente de partculas est dirigida a un cristal bajo las condiciones apropiadas, la difraccin se se producen de acuerdo con la ley de Bragg al igual que para los rayos X, y las direcciones de los difraccin de se puede predecir mediante el uso de la ley y que la longitud de onda calcula a partir de la ecuacin. (1). Los dos electrones y neutrones han demostrado que son partculas tiles para el estudio de la estructura cristalina por difraccin y numerosas aplicaciones de estas tcnicas se han encontrado en la metalurgia. Las diferencias entre los rayos X, electrones, y por difraccin de neutrones cristales son tales que estas tres tcnicas complementan entre s a una grado notable, dando cada uno un tipo particular de informacin que el otros son incapaces de suministrar. A14-2 de difraccin de electrones. Una corriente de ^ electronsjg rpido btjdned. JN una tubgjopgrating ^ en muchj / hg mismo ^ ^ s rmcipl como un tubo de rayos x. Thej5! Y veiength asociada a los electrones depende de la a ^ pjifijj.xo [taget desde la energa cintica de los electrones viene dada por 2m ^ J = j! ^ (2) donde e es la carga del electrn y D la tensin aplicada (en esu). La combinacin de las ecuaciones. (1) y (2) muestra la relacin inversa entre la longitud de onda y tensin: / ISO \~F 486 A14-3] difraccin de neutrones 487

donde X est en angstroms y la tensin V aplicada es en voltios. Esta ecuacin requiere pequeas correcciones relativistas con tensiones elevadas, debido a la variacin de masa del electrn con velocidad. A una tensin de servicio de 50.000 voltios, la longitud de onda de electrones es de aproximadamente 0,05 A, o considerablemente ms corto que el longitud de onda de los rayos X utilizados en difraccin. El hecho importante a destacar es que los electrones son mucho menos penetracin de los rayos x. Se absorbe fcilmente por va area, lo que significa que el espcimen y la placa fotogrfica en el que el patrn de difraccin se registra tanto debe ser encerrado dentro del tubo de vaco en el que el haz de electrones se produce. Un electrn de difraccin "cmara" por lo tanto contiene fuente, espcimen, y el detector en un solo aparato. Otro de los resultados es que los patrones de transmisin slo puede hacerse de especmenes tan delgadas como para ser clasificados como lminas o pelculas, y patrones de reflexin ser representativa slo de una fina capa superficial de la muestra, ya que se produce ms de difraccin una profundidad de slo unos pocos cientos de angstroms o menos. Pero incluso estos delgada capas de material dar buenos patrones de difraccin de electrones, ya que los electrones se dispersan mucho ms intensamente que los rayos x. Estas caractersticas de difraccin de electrones darle una ventaja particular ms de difraccin de rayos X cuando se trata de investigar la estructura de pelculas delgadas, hojas, y similares. Difraccin de electrones ha sido exitosamente utilizado para estudiar las estructuras de lminas de metal, electrodepsitos, pelculas de xido en metal, capas superficiales debido al pulido, y las pelculas metlicas depositadas por evaporacin. A14-3 de difraccin de neutrones. Al hacer una pequea abertura en la pared de una pila cadena de reaccin, un haz de neutrones puede ser obtenido. Los neutrones de tal viga han energas cinticas que se extiende sobre una gama considerable, pero una "monocromtica" haz, es decir, un haz compuesto de neutrones con una

nico de la energa, se puede conseguir por difraccin de un solo cristal y esta haz difractado puede ser utilizado en experimentos de difraccin. Si E es la energa cintica energa de los neutrones, entonces E = imv 2 , (3) donde m es la masa del neutrn (1,67 X 10 ~ 24 gm) y v es su velocidad. La combinacin de las ecuaciones. (1) y (3) da la longitud de onda del haz de neutrones: X =-_ (4) Los neutrones que salen de una pila tienen sus energas cinticas distribuidos en de la misma manera como las de las molculas de gas en equilibrio trmico, es decir, siguen la ley de distribucin de Maxwell. La mayor parte de ellos las llamadas "neutrones trmicos" por lo tanto tiene una energa cintica igual a kT, donde k es la constante de Boltzmann y T la temperatura absoluta. Si este 488 electrones y difraccin de neutrones [APP. 14 fraccin es seleccionado por el cristal monocromtico, entonces se puede insertar E = kT en la ecuacin. (4) y encontrar X= T es del orden de 300 a 400 A, lo que significa que X es de aproximadamente 1 o 2A, es decir, del mismo orden de magnitud que las longitudes de onda de rayos x. Experimentos de difraccin se llevan a cabo con un difractmetro de neutrones, en el que la intensidad del rayo difractado por la muestra se mide con un proporcional Contador de llenado con gas BF3. La principal diferencia entre la difraccin de neutrones por un lado y de rayos X y difraccin de electrones en el otro se encuentra en la variacin de la energa atmica * Potencia de dispersin con nmero atmico Z y con ngulo de dispersin 26.

El poder de dispersin de un tomo aumenta a medida que aumenta y disminuye a medida Z 20 aumenta, tanto para los rayos X y los electrones, aunque no exactamente de la misma manera. Los neutrones, sin embargo, estn dispersos, con la misma intensidad en todos los ngulos de dispersin y con una indiferencia muy bien para el nmero atmico, en otras palabras, no hay variacin regular entre poder de dispersin para neutrones y el nmero atmico del dispersor. Los elementos con casi los mismos valores de Z puede tener muy diferentes de dispersin de neutrones poderes y los elementos con valores muy distantes de dispersin de neutrones Z MAYO igualmente bien. Adems, algunos neutrones elementos de dispersin de luz ms intensamente que algunos elementos pesados. El valuesf siguientes ilustran cmo irregularmente la potencia de dispersin de neutrones vara con el nmero atmico: Elemento ~~H C Al Fe Co Ni Cu WU De ello se deduce que los anlisis de estructura puede llevarse a cabo con la difraccin de neutrones que son imposibles, o posible slo con gran dificultad, con rayos X * Este trmino se usa aqu como una denominacin suelto para la eficacia de un tomo en forma coherente dispersin de la radiacin incidente o partculas. La dispersin "atmica poder "de los rayos X es evidentemente proporcional a f2 , La plaza de la dispersin atmico factor.

f En gran parte de la fsica nuclear experimental, vol. 2. Editado por E. (John Wiley & Sons, Inc., Nueva York, 1953.) A14-3] de difraccin de neutrones 489 o la difraccin de electrones. En un compuesto de hidrgeno o de carbono, por ejemplo, con un metal pesado, los rayos X no va a "ver" la luz de hidrgeno o carbono tomo debido a su poder de dispersin relativamente baja, mientras que su posicin en la red se puede determinar con facilidad mediante la difraccin de neutrones. Los neutrones Tambin se puede distinguir en muchos casos entre elementos diferentes por un solo nmero atmico, los elementos que dispersan los rayos X con una intensidad casi igual; difraccin de neutrones, por ejemplo, muestra fuertes lneas de superred ordenado FeCo, mientras que con los rayos X son prcticamente invisibles. Neutrn difraccin por consiguiente, complementa difraccin de rayos X de una manera muy til, y el nico obstculo para su aplicacin ms amplia parece ser el nmero muy reducido de fuentes de neutrones de alta intensidad disponibles para uso general utilizar. APNDICE 15 La red recproca A15-1 Introduccin. Todos los fenmenos de difraccin descritos en este libro han sido discutidos en trminos de la ley de Bragg. Esta ley simple, admirable por su simplicidad, es de hecho aplicable a una gama muy amplia de los fenmenos y es todo lo que se necesita para la comprensin de una gran muchas aplicaciones de la difraccin de rayos x. Sin embargo, hay efectos de difraccin que la ley de Bragg es totalmente incapaz de explicar, sobre todo las que implican difundir la dispersin en ngulos de Bragg no, y estos efectos pedir ms teora general de la difraccin para su explicacin. La red recproca proporciona el marco para esta teora. Este poderoso concepto fue introducido en el campo de la difraccin por el fsico alemn Ewald en

1921 y desde entonces se ha convertido en una herramienta indispensable en la solucin de muchos problemas. Aunque la red recproca al principio puede parecer bastante abstracto o artificial, el tiempo empleado para captar sus rasgos esenciales es tiempo bien gastado, porque la teora recproco del retculo de difraccin, siendo general, es aplicable a todos los fenmenos de difraccin desde los ms simples hasta los ms complejos. La familiaridad con la red recproca por lo tanto no slo proporcionan el estudiante con la clave necesaria para efectos de difraccin complejos, pero se profundizar su comprensin de incluso el ms simple. A15-2 Vector de multiplicacin. Dado que la red recproca se formulan mejor en trminos de vectores, lo primero que debe revisar unos pocos teoremas del vector lgebra, a saber, las que implican la multiplicacin de las cantidades vectoriales. El producto escalar (o producto punto) de dos vectores a y b *, escrito ab, es una cantidad escalar igual en magnitud a la del producto de la absoluta los valores de los dos vectores y el coseno del ngulo entre ellos una o a-b = ab cos a. Geomtricamente, la fig. A15-1 muestra que el producto escalar de dos vectores puede ser considerado como el producto de la longitud de un vector y la proyeccin de la otra sobre la primera. Si uno de los vectores, por ejemplo una, es un vector unitario (Un vector de unidad de longitud), entonces ab da inmediatamente la longitud de la proyeccin de b en a. El producto escalar de sumas o diferencias de vectores es formado simplemente por trmino-a-trmino multiplicacin: (A + b) - (c - d) - (a-c) - (a-d) + (b-c) - (b-d). * Negrita smbolos representan vectores. El mismo smbolo en cursiva representa el valor absoluto del vector. 490 A15-3] La red recproca 491

abx v La figura. En 5-1. vectores. Producto escalar de dos FIG. A15-2. Vector producto de dos vectores. El orden de la multiplicacin no es de importancia, es decir, a, b = b a. El producto rector (o producto cruzado) de dos vectores a y b, escrito A x B, es un vector c en ngulo recto al plano de a y b, y de igual magnitud para el producto de los valores absolutos de los dos vectores y la seno del ngulo entre ellos una, o c = a x b, c ab pecado. La magnitud de c es simplemente el rea del paralelogramo construido en A y B, como se sugiere en la figura. A15-2. La direccin de c es aquel en el que un tornillo de la derecha se movera si alternarn de tal manera que se provoque una en b. Se sigue de esto que la direccin del vector de producto c se invierte si el orden de la multiplicacin se invierte, o que a X b = - (b X a). A16-3 La red recproca. Correspondiente a cualquier red cristalina, se puede construir una red recproca, llamada as porque muchas de sus propiedades son recprocas a los de la red cristalina. Deje que la red cristalina tiene una unidad de celda definida por la ai vectores, a2, y a3. Entonces el recproco correspondiente celosa tiene una celda unidad definida por los vectores bi, b2, y ba, donde bi = - (a2 Xa3), (1) b2 = - (a3 X

ba = i Xa2), (2) (3) y V es el volumen de la celda unidad del cristal. Esta manera de definir los vectores b2 bi,, b3 en trminos de los vectores a1? a2, a3 ofrece la red recproca ciertas propiedades tiles que ahora vamos a investigar. 492 La red recproca Ab; La figura. A15-3. Ubicacin del b3-red recproca eje. Considere el general triclnico celda unidad que se muestra en la figura. A15-3. El recproco celosa eje b3 es, de acuerdo con Eq. (3), normal al plano de ai y a2, como se muestra. Su longitud est dada por | Ai X a2 | V (rea del paralelogramo OACB) (rea del paralelogramo OA CB) (altura de celda) 1 OP 1 ya que de, la proyeccin de a3 en b3, es igual a la altura de la celda, la cual a su vez, es simplemente la separacin d de los planos (001) de la red cristalina. Asimismo, encontramos que los ejes red recproca bi y b2 son normales a el (100) y (010), respectivamente, los planos de la red cristalina, y son iguales en longitud a los recprocos de las separaciones de estos planos. Por extensin, relaciones similares se encuentran para todos los planos del cristal celosa. El agujero w ^ red recproca se construye por las traducciones repetidas

de la celda unidad por los vectores bi b2, b3. Esto produce una matriz de puntos cada uno de los cuales est marcado writh sus coordenadas en trminos de los vectores bsicos. Por lo tanto, el punto en el extremo del vector bi se etiqueta 100, que al final de el vector b2 010, etc red recproca extendida tiene las siguientes propiedades: (1) Un vector de H / ^ trazada desde el origen de la red recproca a cualquier punto en que tiene coordenadas hkl es perpendicular al plano en el cristal cuyo enrejado Miller ndices hkl son. Este vector se dan en trminos de su Las coordenadas de la expresin (2) La longitud del vector d de los planos (hkl), o i + KB2-f IB3. es igual al recproco del espaciado 1 A15-3] La red recproca 0,25 A-1 493 1A I< (010) 020 220 (110) v (210) (100) , 200 cristal red recproca celosa La figura. A15-4. La red recproca de un cristal cbico que tiene ai = 4A. La

ejes A y B son normales al dibujo. Lo importante a tener en cuenta sobre estas relaciones es que el reciprocallattice matriz de puntos describe completamente el cristal, en el sentido de que cada punto del retculo recproco est relacionada con un conjunto de planos en el cristal y representa la orientacin y el espaciamiento de ese conjunto de planos. Antes de probar estas relaciones generales, podramos considerar todo ejemplos de la red recproca, como se muestra en las Figs. A15-4 y A15-5 para cristales cbicos y hexagonales. En cada caso, la red recproca se dibuja de cualquier origen conveniente, no necesariamente la de la red cristalina, y a cualquier escala conveniente de angstroms recprocas. Tenga en cuenta que las ecuaciones. (1) a (3) tomar una forma muy sencilla para cualquier cristal cuya clula es la unidad 0,25 A-1 1A 020 (100) reticular cristalina enrejado recproco 220 La figura. A15-5. La red recproca de un cristal hexagonal que tiene ai = 4A. (Aqu, el sistema de tres smbolo de indexacin plano se utiliza y como es el eje generalmente designado c.) Los ejes como son normales y BA para el dibujo. 494 La red recproca [APP. 15 basado en los vectores perpendiculares entre s, es decir, tetragonales cbico, o ortorrmbica. Para tales cristales, b1? b2 y b3 son paralelas, respectivamente, a EI, a2 y a3, mientras que el 61, 62 y 63 son simplemente los recprocos de ai, a2, y a3. En las Figs. A15-4 y A15-5, cuatro celdas de la red recproca se muestra, junto con dos vectores de H en cada caso. Por medio de las escalas que se muestran, puede verificarse que cada vector de H es igual en longitud a la recproca de

el espaciamiento de los planos correspondientes y normales a ellos. Tenga en cuenta que puntos reticulares recprocas tales como n / i, nk, nl, donde n es un nmero entero, corresponden a los planos paralelos al (hkl) y que tiene 1 / n su espaciamiento. Por lo tanto, es H220 perpendicular a (220) planos y por lo tanto paralelas a HHO, desde (110) y (220) son paralelos, pero H220 es el doble de largo como HHO desde el (220) aviones tienen la mitad de la separacin de los planos (110). Otras relaciones tiles entre el cristal y vectores recprocos seguir a partir de las Ecs. (1) a (3). Desde b3, por ejemplo, es normal tanto ai y a2, su producto escalar con cualquiera de estos vectores es cero, o b3-ai = b3-a2 = 0. El producto escalar de b3 y a3, sin embargo, es la unidad, ya que (ver fig. A15-3) b3-a3 = (63) (proyeccin de a3 en b3) = (^) (OP) En general, los = 1. am-bn = 1, si m = 0, si m n. (4) (5) El hecho de que H / ^ es normal (hkl) y Hhki es el recproco de puede probarse como sigue. Sea ABC de la figura. A15-6 sea parte de la placa ms cercano al origen del conjunto (hkl). Luego, desde la definicin de Miller ndices, los vectores desde el origen a los puntos A, 5, y C son de ia / A, a2 / fc, y a3 / Z, respectivamente. Considerar el vector AB, es decir, un vector

extrada de A a B, situada en el plano (hkl). Desde H entonces + AB =. k La figura. A15-6. Relacin entre recprocaenrejado vector H y llorar y tal plano (hkl). A15-3] La red recproca 495 Formando el producto escalar de H y AB, hemos H AB = (FCBI + + pies fcb2> 3) (- V \Kh/ La evaluacin de esta con la ayuda de las ecuaciones. (4) y (5), encontramos H-AB = 1-1 = 0. Dado que este producto es cero, H debe ser normal a AB. Del mismo modo, puede ser demostrado que H es normal a la CA. Puesto que H es normal para dos vectores en el plano (hkl), es normal para el propio avin. Para demostrar la relacin recproca entre H y D, sea n el vector unitario en la direccin de H, es decir, normal (hkl). Entonces d = ON = - n. h Sino H n= H Por lo tanto

EI H d == hH hH 1~ #' Usado puramente como una herramienta geomtrica, la red recproca es de considerable ayudar en la solucin de muchos problemas en la geometra del cristal. Consideremos, por ejemplo, la relacin entre los planos de una zona y el eje de dicha zona. Dado que los aviones de una zona son todas paralelas a una lnea, el eje de zona, sus normales deben ser coplanares. Esto significa que los planos de una zona estn representados, en la red recproca, por un conjunto de puntos que se encuentran en un plano que pasa a travs el origen de la red recproca. Si el plano (hkl) pertenece a la zona cuyo eje es [uvw], entonces la normal al (hkl), a saber, H, debe ser perpendicular a [uvw]. Expresar el eje de zona como un vector en la red cristalina y H como un vector en la red recproca: Zona eje = UBL \ + va.% + H = HBI + + KB2 fl> 3. Si estos dos vectores son perpendiculares, su producto escalar debe ser cero: VA2 + WA3) (HBI + + fcb2 ft> 3) = 0, hu + kv + Iw - 0. 496 La red recproca [APP. 15 Esta es la relacin dada sin pruebas en la seccin. 2-6. Mediante el uso similar de recproco de celosa vectores, otros problemas de geometra del cristal, tales como la derivacin de las ecuaciones de espaciamiento plano que figuran en el apndice 1, puede ser simplificado en gran medida. A15-4 Difraccin y la red recproca. La gran utilidad de la

red recproca, sin embargo, radica en su relacin con los problemas de difraccin. Vamos a considerar cmo los rayos X dispersados por el tomo en el origen de la reticular cristalina (Fig. A15-7) se ven afectados por los dispersada por cualquier otro Un tomo cuyas coordenadas con respecto al origen son pai, GA2 y RA3, donde p, q, y r son nmeros enteros. Por lo tanto, OA = pai + q + 2 + 3. Deja que el incidente de los rayos X tienen una longitud de onda X, y dejar que el incidente y difractado vigas de ser representado por los vectores unitarios S y S, respectivamente. S, S, y OA son, en general, no coplanares. Para determinar las condiciones en que se producir la difraccin, debemos determinar la diferencia de fase entre los rayos dispersados por los tomos y A. Las lneas en y OV en la figura. A15-7 son frentes de ondas perpendiculares al haz incidente S y la S haz difractado, respectivamente. Vamos a 6 la diferencia de trayectoria de los rayos dispersos y por A. Entonces 5 = uA + Av Om = + A OA = S + (-S)-OA -OA = (S-S). - S) (S - S) La figura. A15-7. Dispersin de rayos X y los tomos a A. (Despus Guinier, X-Ray Crystdlographic Technology, Hiiger & Watts, Ltd., London, 1952.) A15-4] difraccin y la red recproca La diferencia de fase correspondiente est dada por 497 (6)

La difraccin es ahora en relacin con la red recproca mediante la expresin del vector (S S) / x como un vector en el que enrejado. Dejar S-Sn KB2 Esta es ahora la forma de un vector en el espacio recproco, pero, en este punto, no importancia particular est unido a los parmetros A, fc, y I. Son continuamente variable y puede asumir cualquier valor, integral o no integral. La ecuacin (6) se convierte ahora fcb2 + ZB3) ra3) =-2n (CV + kq + Ir). Un haz difractado se formar slo si se produce refuerzo, y este requiere que <t> ser un mltiplo entero de 2? r. Esto puede suceder slo si h, fc, y yo estamos enteros. Por lo tanto la condicin de difraccin es que el vector (S SQ) / X final en un punto en la red recproca, o que S-S = H = + fcb2 + n> 3 (7) donde h, &, y que ahora estn restringidas a valores enteros. Tanto las ecuaciones de Laue y la ley de Bragg se puede derivar de la ecuacin. (7). El primero se obtiene formando el producto escalar de cada lado de la ecuacin y los tres vectores de la red cristalina de la IE, a2, como sucesivamente. Para ejemplo, o De manera similar, EI (S - S) = h \. a2 - (S - S) = FCX, aa-(S - S) * ZX. (8) (9) (10)

498 La red recproca [APP. 15 Ecuaciones (8) a (10) son la forma de vector de las ecuaciones derivadas _ En 1912 para expresar las condiciones necesarias lejos de difraccin. Ellos mustHbe satisfechas simultneamente por difraccin de ocurrir. Como se muestra en la figura. A15-7, el vector (SS) biseca el ngulo entre el haz incidente S y el haz difractado S. S El haz difractado por lo tanto, puede ser considerado como reflejada desde un conjunto de planos perpendiculares a (S - S). De hecho, la ec. (7) estados que (S S) es paralela a H, que es a su vez perpendiculares a los planos (hkl). Vamos a 6 el ngulo entre S (o algo as) y aviones de estos. Entonces, puesto que S y E son esfera de reflexin La figura. A15-8. La construccin Ewald. Corte a travs de la esfera de reflexin que contiene el incidente y Vectores haz difractado. (S - S) - 2 sen 0. Por lo tanto 2 sen S - S =H= o X = sen 2d 6. Las condiciones para la difraccin expresada por la ecuacin. (7) puede ser representado

grficamente por la "construccin Ewald" que se muestra en la figura. A15-8. El vector S / X se traza paralela al haz incidente y 1 / X de longitud. El terminal punto de este vector se toma como el origen de la red recproca, dibujado a la misma escala que el vector S / X. Una esfera de radio 1 / X es elaborado sobre C, el punto inicial del vector de haz incidente. Entonces el condicin para la difraccin de los planos (hkl) es que el punto en el hkl recproco de celosa (punto P en la figura. A15-8) toque la superficie de la esfera, y la direccin del haz difractado-vector S / X se encuentra uniendo C P. Cuando se cumple esta condicin, el vector OP es igual tanto en HAH y (S So) / X, lo que satisface la ecuacin. (7). Desde difraccin depende de una recproca-red punto est tocando la superficie de la esfera elaborado sobre C, esta esfera se conoce como la "esfera de reflexin. " Nuestra suposicin inicial de que p, g, r son nmeros enteros y aparentemente excluye todos los cristales excepto los que tienen solamente un tomo por clula, que se encuentra en la celda esquinas. En efecto, si la celda unidad contiene ms de un tomo, entonces el vector OA desde el origen a "cualquier tomo" en el cristal puede tener no entero coordina. Sin embargo, la presencia de estos tomos adicionales en la unidad clula afecta slo a las intensidades de los haces difractados, no sus direcciones, y es slo la orientacin de difraccin que se predice por el Ewald construccin. Dicho de otra manera, la red recproca depende slo en la forma y tamao de la celda unitaria de la red cristalina y no en todos A15-5] EL MTODO DE GIRO-CRYSTAL 499 en la disposicin de los tomos dentro de esa celda. Si queremos tomar tomo disposicin en consideracin, podemos ponderar cada red recprocapunto hkl con el valor apropiado de la potencia de dispersin (= | F |

2 , donde F es el factor de estructura) de los particulares (hkl) aviones implicados. Algunos aviones pueden entonces tener poder de dispersin cero, eliminando as algunos recproca-celosa puntos de consideracin, por ejemplo, todos los puntos recprocos de celosa tener valores impares de (H + K + I) para el cuerpo-'cristales centrados. Los mtodos comunes de difraccin de rayos X se diferencian por el mtodos utilizados para llevar recproco de celosa puntos en contacto con la superficie de la esfera de la reflexin. El radio de la esfera se puede variar mediante la variacin de la longitud de onda incidente (mtodo de Laue), o la posicin de la red recproca se puede variar por cambios en la orientacin del cristal (Giratoria de cristal y mtodos en polvo). A15-6 El mtodo de rotacin de cristal. Como se ha indicado en la seccin. 3-6, cuando monocromtica la radiacin es incidente en un solo cristal girar alrededor de uno de sus ejes, los haces reflejados se encuentran en la superficie de los conos imaginario coaxial con el eje de rotacin. La forma en que esto se produce reflexin puede ser mostrado muy bien por la construccin de Ewald. Supongamos que un cristal cbico simple es girar alrededor del eje [001]. Esto es equivalente a la rotacin de la recproca celosa sobre el eje bs. Figura A15-9 muestra una parte de la recproca celosa orientado de esta manera, junto con la esfera adyacente de la reflexin. rotacin del eje de cristal y eje de pelcula eje de rotacin red recproca

esfera de reflexin La figura. A15-9. Recproca-celosa tratamiento de rotacin de cristal mtodo. 500 La red recproca [APP. 15 Todos los planos del cristal que tienen ndices (hkl) estn representados por puntos que estn en un plano (el llamado "I = 1 capa") en la red recproca, normal a b3. Cuando la red recproca gira, este plano corta a la esfera en la reflexin el pequeo crculo mostrado, y cualquiera de los puntos de la I = 1 capa que toque el superficie de la esfera debe tocarlo en este crculo. Por lo tanto todo haz difractado vectores de S / X debe terminar en este crculo, lo que equivale a decir que el haces difractados debe yacer sobre la superficie de un cono. En este caso particular, todos los puntos que se muestran hkl intersectan la superficie de la esfera en algn momento durante su rotacin alrededor del eje b3, la produccin de los haces difractados mostrado en la figura. A15-9. Adems, muchos HKO y reflexiones hkl se producira, pero estos se han omitido en el dibujo en aras de la claridad. Este sencillo ejemplo puede sugerir cmo la fotografa de rotacin de un cristal de estructura desconocida, y por lo tanto tener una red recproca desconocido, puede dar pistas sobre la distribucin en el espacio de reciprocidad-red puntos. Al tomar una serie de fotografas con el cristal girado sucesivamente sobre varios ejes, el cristalgrafo poco a poco descubre el distribucin completa de reflejar puntos. Una vez que la red recproca es conocido, la red cristalina se deriva fcilmente, debido a que es un corolario de las Ecs. (1) a (3) que el recproco de la red recproca es el cristal celosa. A15-6 El mtodo de polvo. Las orientaciones aleatorias de la persona cristales en una muestra de polvo son equivalentes a la rotacin de un solo

cristal sobre todos los ejes posibles durante la exposicin de rayos x. El recproco enrejado por lo tanto asume todas las orientaciones posibles en relacin con el incidente haz, pero su origen queda fija en el extremo del vector As / X. Considere cualquier hkl punto en la red recproca, inicialmente a PI (Fig. A15-10). Este punto puede ser llevado a una posicin que refleja en la superficie de la esfera de la reflexin mediante una rotacin de la malla alrededor de un eje a travs y normal a OC, por ejemplo. Esta rotacin se movera PI a P2. Pero el punto hkl todava puede permanecer en la superficie de la esfera [es decir, la reflexin todava se producir desde el mismo conjunto de planos (hkl)] si la red recproca A continuacin se hace girar alrededor del eje OC, ya que el punto hkl se mover alrededor de la P2P.3 pequeo crculo. Durante este movimiento, el vector H barre un cono cuyo vrtice est en 0, y los haces difractados mentira todo en la superficie de otro cono cuyo vrtice est en C. Los ejes de ambos conos coinciden con el haz incidente. El nmero de reflexiones hkl diferentes obtenido en una fotografa polvo depende, en parte, en las magnitudes relativas de la longitud de onda y los red cristalina parmetros o, en lenguaje recproco del retculo, en lo relativo tamao de la esfera de la reflexin y la celda unidad recproca-red. Para encontrar el nmero de reflexiones, podemos considerar que la red recproca como fijo y el incidente de haz vector S / X como girando alrededor de su punto terminal A15-6] EL POLVO MTODO 501 de La figura. A15-10. Formacin de un cono de los rayos difractados en el mtodo de polvo. La figura. A15-11. La esfera limitar por el mtodo de polvo. a travs de todas las posiciones posibles. La esfera de reflexin por lo tanto columpios unos

el origen de la red recproca y barre una esfera de radio 2 / X, llama la "esfera limitante" (Fig. A15-11). Todos los puntos recprocos de celosa dentro de la esfera limitante puede tocar la superficie de la esfera reflexin y causar que se produzca la reflexin. Tambin es un corolario de las Ecs. (1) a (3) que el volumen V de la recproca-red celda unidad es el recproco de la V volumen del cristal unidad de celda. Puesto que hay una recproca-red punto por clula de la recproca celosa, el nmero de puntos reticulares recproco dentro de la esfera es limitante propuesta por (47r / 3) (2 / X) 3 327TF n =. (11) v 3) r No todos estos n puntos provocar una reflexin aparte: algunos de ellos pueden tienen un factor de estructura cero, y algunos pueden estar a distancias iguales desde la recproca-red origen, es decir, corresponden a los planos de la misma separacin. (Este ltimo efecto es atendida por el factor de multiplicidad, ya que esto da el nmero de planos diferentes en una forma que tiene el mismo espaciado.) Sin embargo, Eq. (11) siempre se puede usar directamente para obtener un lmite superior a la nmero de reflexiones posibles. Por ejemplo, si V = 50A3 y X = 1.54A, entonces n = 460, Si la muestra pertenece al sistema triclnico, este nmero se reduce en un factor de slo 2, el factor de multiplicidad, y el fotografa polvo contendr 230 lneas de difraccin separadas! A medida que el simetra de los aumentos de cristal, tambin lo hace el factor de multiplicidad y la fraccin del enrejado recproco puntos que tienen cero factor de estructura, lo que resulta en una disminucin en el nmero de lneas de difraccin. Por ejemplo, la patrn de polvo de un cristal de diamante cbico tiene slo 5 lneas, para el mismo

valores de V y X anteriormente mencionada. 502 La red recproca [APF. 15 , 120 reflejo 1410 reflexin A15-7 El mtodo de Laue. Difraccin ocurre en el mtodo de Laue porque de la gama continua de longitudes de onda presentes en el haz incidente. Dicho de forma alternativa, el contacto entre un fijo recproca-red y punto la esfera de la reflexin se produce variando continuamente el radio de la esfera. Por tanto, existe toda una serie de esferas de reflexin, no slo uno; cada uno tiene un centro diferente, pero todos pase a travs del origen de la recproca celosa. La gama de longitudes de onda presentes en el haz incidente es por supuesto, no es infinito. Tiene un lmite inferior agudo en XSWL, la longitud de onda corta limitar el espectro continuo, el lmite superior es menos definido pero a menudo se toma como la longitud de onda del borde de absorcin K de la plata en la emulsin (0.48a), debido a que el intensidad efectiva fotogrfica de la espectro continuo cae abruptamente en esa longitud de onda [vase fig. L-18 (c)]. Para estas dos longitudes de onda extremas corresponden dos reflejo extremo esferas, como se muestra en la figura. A15-12, que es una seccin a travs de estos esferas y la capa / = de un recproco celosa. El haz incidente es a lo largo del vector bi, es decir, perpendicular a los planos (M) 0) del cristal.

La esfera ms grande muestra se centra en B y tiene un radio igual a la recproco de XSWL, mientras que la ms pequea esfera se centra en A y tiene un radio igual a la recproca de la longitud de onda del borde de absorcin K de plata. Hay toda una serie de esferas que se encuentran entre estos dos y centrada en el segmento AB. Por lo tanto cualquier punto del retculo recproco acostado en la regin sombreada del diagrama est en la superficie de una de estas esferas y corresponde a un conjunto de planos cristalinos orientados para reflejar uno de los incidente longitudes de onda. En la direccin de avance, por ejemplo, una reflexin 120 ser producido. Para encontrar su direccin, localizar un punto C sobre AB, que es equidistantes del origen y el punto de retcula de 120 recproco; es C por lo tanto, el centro de la esfera reflexin pasa por el punto 120. Junto C a 120 da la viga difractada vector S / X para esta reflexin. La direccin de la reflexin 410, uno de los muchos hacia atrs-que se reflejan vigas, se encuentra en la misma forma, aqu el punto recproca-red en cuestin est situado en una esfera centrada en la reflexin D. Existe otra forma de tratar el mtodo de Laue que es ms conveniente para muchos propsitos. La ecuacin bsica de difraccin, Eq. (7), es reescrito en forma limpiar La figura. tratamiento de la (S - So) A = H. \ SWL Al 5 ~ 12. Recproca-red

Laue mtodo. A15-7] EL MTODO Laue 503 (12) Ambos lados de esta ecuacin son ahora adimensional y el radio de la esfera de la reflexin es simplemente la unidad, ya que S y S son vectores unitarios. Sino la posicin de los puntos recprocos celosa ahora depende de la longitud de onda utilizado, ya que su distancia desde el origen de la red recproca est dada por \ H. En el mtodo de Laue, cada punto del retculo recproco (excepto 0) se dibuja a cabo en un segmento orientado al origen, debido a la gama de longitudes de onda presentes en el haz incidente. El resultado se muestra en la figura. A15-13, * que se dibuja para corresponder a la figura. A15-12. El punto ms cercano al origen en cada segmento de lnea tiene un valor de \ H correspondiente a la longitud de onda ms corta ' presente, mientras que el punto en el otro extremo tiene un valor de \ H correspondiente a la ms larga longitud de onda efectiva. As, el reciprocallattice 100 lnea se extiende desde A hasta B, donde OA = Xmm ^ ioo y OB = Amax # iooPuesto que la longitud de cualquier lnea aumenta a medida que aumenta h, para un intervalo dado de longitudes de onda, la superposicin se produce para los rdenes superiores, como se muestra por 200, 300, 400, etc La esfera reflexin se dibuja con radio unidad, y la reflexin se produce siempre que una lnea-red recproca se cruza la superficie de la esfera. Grficamente, la ventaja de esta construccin sobre la de la fig. Alo-12 es que todos los haces difractados se dibujan ahora desde el mismo punto C, as facilitar la comparacin de los ngulos de difraccin 26 para diferentes reflejos. Esta construccin tambin muestra por qu los haces difractados de planos de una zona estn dispuestos en un cono en el mtodo de Laue. Todas red recprocalneas que representan los planos de mentira zona uno en un plano que pasa a travs

120 reflexin esfera de la reflexin 410 reflexin 000 100 400 La figura. A15-13. Alterna-red recproca tratamiento del mtodo de Laue. S - So = XH. * En esta figura, as como en las Figs. A15-11 y 12-A15, el tamao de la recproca celosa, con relacin al tamao de la esfera de la reflexin, se ha exagerado para mayor claridad. 504 El IAPP red recproca. 15 - Esfera de la reflexin La figura. A15-14. El efecto de la vibracin trmica en la red recproca. el origen de la red recproca. Este plano corta a la esfera reflejo en un crculo, y todos los vectores de haz difractado S debe terminar en este crculo, por lo tanto produciendo una matriz cnica de haces difractados, el eje del cono coincidiendo con el eje de zona. Otra aplicacin de esta construccin para el problema de la temperaturediffuse dispersin ilustrarn la utilidad general de la recproca de celosa mtodo en el tratamiento de los fenmenos de dispersin difusa. La red recproca de cualquier cristal puede ser considerada como una distribucin de "intensidad dispersada" en el espacio recproco, en el sentido de que un haz dispersado se produce siempre que la esfera de la reflexin intersecta un punto en el espacio recproco donde la "intensidad dispersada" no es igual a cero. Si el cristal es perfecto, la intensidad dispersada se concentra en los puntos en el espacio recproco, los puntos de la red recproca, y es cero en todas partes. Pero si algo ocurre

perturbar la regularidad de la red cristalina, entonces estos puntos se convierten difuminada, y la intensidad apreciable dispersos existe en las regiones del recproco espacio donde fe, fr, y / son no entero. Por ejemplo, si los tomos del cristal estn experimentando vibracin trmica, entonces cada punto de la recproca celosa se extiende en una regin que puede ser considerado, a una primera aproximacin, como aproximadamente de forma esfrica, como se sugiere en la figura. A15-14 (a). En otras palabras, las olas producidas trmicamente elsticas que se ejecutar a travs de la red cristalina para perturbar la regularidad de la bomba atmica aviones que el correspondiente extremo H vectores, no en puntos, pero en los pequeos regiones esfricas. La intensidad dispersada no se distribuye uniformemente dentro de cada regin: sigue siendo muy alta en el punto central, donde A, K, y / son integrales, pero es muy dbil y difusa en el volumen circundante, como se indica en el dibujo. A15-7J EL MTODO Laue 505 Lo que entonces ser el efecto de agitacin trmica en, por ejemplo, una patrn de transmisin de Laue? Si utilizar la construccin de la figura. A15-13, es decir, si hacemos las distancias en el recproco celosa igual a \ H, entonces cada uno volumen esfrico en el recproco celosa ser extrado en una varilla, aproximadamente de forma cilndrica y dirigida al origen, como se indica en La figura. A15-14 (b), que es una seccin a travs de la esfera reflexin y uno varilla de tal. El eje de cada varilla es un

lnea de alta intensidad y esta rodeado est por una regin de baja intensidad. Esta lnea se cruza con la reflexin en una esfera y produce el fuerte haz difractado A, la corriente Laue la reflexin. Pero en ambos lados de un hay dbiles rayos dispersos, que se extiende de B a C, debido a la interseccin, que se extiende desde B a C, de la parte difusa de la varilla con la esfera de reflexin. En una direccin normal a los dibujos, sin embargo, la difusa varilla corta a la esfera en un arco igual a slo el dimetro de la varilla, la cual es mucho ms corto que el arco sea. Llegamos as a esperar, en una pelcula colocada en la posicin de transmisin, una racha dbil y difusa corriendo radialmente a travs de la habitual punto fuerte, Laue intenso. Figura A15-15 muestra un ejemplo de este fenmeno, a menudo llamado asterismo trmica debido a la direccin radial de las bandas difusas. Esta fotografa se obtuvo de aluminio a 280C iri 5 minutos. En realidad, la agitacin trmica es bastante pronunciada en aluminio, incluso en la sala de temperatura y asterismo trmico suele ser evidente en sobreexpuesta temperatura ambiente fotografas. Incluso en la figura. 3-6 (a), que fue dada una normal exposicin de aproximadamente 15 minutos, estras radiales son ligeramente visibles. En este fotografa ltimo, hay una vena cerca del centro que no pasa a travs de cualquier punto de Laue: es debido a una varilla recproca-celosa as casi tangente a la esfera de la reflexin de que ste se cruza solamente la parte difusa de la vara y no de su eje. La figura. A15-15. La transmisin de Laue modelo que muestra asterismo trmica.

Aluminio cristal, 280C, 5 min de exposicin. RESPUESTAS A PROBLEMAS SELECCIONADOS CAPTULO 1 1-1. 4,22 X lOlrtsec-1 , 2,79 X 10 ~ 8 erg; 1,95 X 1 & * sec'1 , 1,29 X 10 ~ 8 ergio 1-5. 4 cmVgm 1-7. (A) 30,2 cm2 / G, 3,88 X 10 ~ 2 cm "1 1-9. 8980 voltios 1-11. 1.54A 1-14. 0.000539 cm, 0.55 1.16. 1000 vatios, 20 mA 1-18. 3,28 a 1 CAPTULO 2 2-7. Una seccin (T210) mostrar este 2-11. Deformacin por esfuerzo cortante = 0,707 2-14. (A) 20S, 30W, (6) 27S, 48E, (r) 39S, 61 E 2-19. 42N, 26E; 19S, 45W, 42S, 63E CAPTULO 3 3-1. 8,929 g/cm3 3-3. 63,5 3-5. t B SB 1000 A 0,11 10 0,31 750 0,14 45 0,43 500 0,22 80 1,76 250 0.43 CAPTULO 4 4-3. F2 = para los ndices mixtos; para F2 = (h + k + i) es un mltiplo impar de 2; F = 64 * / r 2 para (h + k + /) un mltiplo de 2, F ~ - 32 / r

2 para (h + k + I) impar. 4-5. h + 2k / F2 3n 2p +} (como 1, 3, 5, 7 ...) 3n 8p (as8, 10,24 ...) 4 (fZn + fs) 2 3n 4 (2 /> + 1) (como 4, 12, 20, ... 2S) 4 (fZn - / s) 2 3n 2 (2p + 1) (como 2, (5, 10, 14 ...) 4 (/ Zn 2+/s 2 ) 3n 1 8p 1 (como 1, 7, 9, 15, 17 ...) 3 (/ Zn 2+/s 23n db 1 4 (2p + 1) d = 1 (como 3, 5, 11, 13, 19, 21 ...) 3 (fZn 2 + fs 2+ 3NL 8;; (/ Zn-f / s) 2 3n db 1 4 (2p + 1) (/ 2n - fs) 2 3NL 2 (2p + l) (/ zn 2 + / s2 ) n y p son enteros, incluyendo cero. 4-8. Lnea hkl Gale. Int.

1 110 10.0 2 200 17 3 211 3.3 4 220 1.1 4-10. Ill y 200. La relacin es de 2100 a 1. 506 RESPUESTAS A PROBLEMAS SELECCIONADOS 507 CAPTULO 5 6-1. 0,67 cm para (111); 0,77 cm para (200) 5.3. (A) En tercer, cuarto y quinto; (6) tercero y cuarto. CAPTULO 6 6-1. 38 minutos 6-3. 6 COMO A20 6-5. (A) 144, (b) 67 (c) 12,3 cm 6-7. 1,58 a 1 CAPTULO 7 7-1. 0.44 7-4. (A) 1,14 (Co) a 1 (Ni), (6) 10,5 CAPTULO 8 8-1. 8N, 23E, 74S, 90E, 16S, 8-3 64W. 26 alrededor del eje del haz, en sentido horario, buscando de cristal a fuente de rayos X; 3 sobre EW, en sentido horario, mirando desde E a W; 9 sobre NS, hacia la izquierda, en busca de N a S 8-6. Hbito j es plano 100}. 26N, 14W, 14S, 69E, 60S, 46W. CAPTULO 9 9-1. 45.000 psi 9-3. Difractmetro 9-5. (6) 0,11, 0,18, 0,28, y 0,43, aparecen en el orden en el que los atraviesa las capas del haz incidente CAPTULO 10 10-1. Ill, 200, 220, 311, 222, 400, 331, 420, 422, y 511 (333); una 4.05A = 10-4. 100, 002, 101, 102, 110 10-6. Ill, 220, 311, 400, 331, 422, 511 (333),

440. Diamante cbico; a = 5.4A; silicio. 10-8. 100, 002, 101, 102, 110, 103, 200, 112. Hexagonal compacta, a = 3,2 A, c = 5.2A; magnesio. CAPTULO 11 11-1. = Bl.7C 11-3. 4.997A 11-5. Cerca de 6 = 30 CAPTULO 12 12-1. 0.0002A CAPTULO 13 13-2. 0,0015 508 RESPUESTAS A LOS PROBLEMAS SELECCIONADOS CAPTULO 14 14-1. BaS 14-3. Mezcla de Ni y NiO 14-5. 12,5 por ciento en volumen austenita CAPTULO 15 16-1. (A) A20 = 1,75 (mica), 1,20 (LiF), 0,81 (NaCl). Mica y LiF adecuada, NaCl inadecuada, (6) A20 = 1,41 (mica), 1,05 (LiF), 0,75 (NaCl). Mica y LiF adecuada, NaCl inadecuada. 16-3. 0,0020 pulg CAPTULO 16 16-1. 2,20 mg/cm2 16-3. 0,00147 pulg CAPTULO 17 17-1. dblSOOpsi NDICE La absorcin de rayos X, 10 Anlisis de absorcin (vase el anlisis qumico por absorcin) Los coeficientes de absorcin, 10, 11 tabla, 466 Bordes de absorcin, de mesa, 464

Factor de absorcin, Debye-Scherrer, 129 difractmetro, 189 para la reflexin de placa plana, 189 para la transmisin a travs de la placa plana, 287 ALEXANDER, LEROY E., 455 ALLISON, Samuel K., 456 Textura de recocido, 273 Gemelos de recocido, 55 Applied Research Laboratories, 410, 418 Asterismo, 246 505 trmico, ASP, E. T., 285 A.S.T.M., datos de difraccin de tarjetas, 379 grano nmero de tamao, 260 Factor de dispersin atmico, 109 cambiar cerca de un borde de absorcin, 373 tabla, 474 Pesos atmicos, tabla, 481 Tamaos Atom, 52 Estructura Aube, 49 AuCu, ordenando en, 370 AuCus, ordenando en, 363 Determinacin de austenita, 391 Espectrmetros automticas, 417 La radiacin de fondo, el mtodo de polvo, 166

Back-reflexin enfoque de la cmara, 160 errores, 333 Back-reflexin cmara Laue, 140 Back-reflexin mtodo de Laue, 90 orientacin para el cristal, 215 Back-reflexin cmara estenopeica, 163 errores, 333 semifocusing, 443 Filtros equilibrados, 211 BARRETT, CHARLES S., 454 Body estructura cbica centrada, 43 BRAGG, W. H., 8, 79, 177 BRAGG, W. L., 79, 82, 177, 297, 456 Bragg ley, 82, 84 Bravais, M. A., de 31 aos Bravais celosa, 31 tabla, 31 Lneas generales, la medicin de, 447 Buerger, M. J., 456 BUNN, CW, 309 Bunn tabla, 309 Estructura de cloruro de cesio, de 47 Mtodo de calibracin (para parmetros de red), 342 Distorsin celular, efecto en el patrn de polvo, 314 Radiacin caracterstica, 6

longitud de onda de la tabla, 464 El anlisis qumico por absorcin, 423 absorcin de vanguardia mtodo, 424 mtodo directo, monocromtico, 427 policromtica, 429 El anlisis qumico por difraccin, 378 379 cualitativa, cuantitativo, 388 mtodo de comparacin directa, 391 mtodo de patrn interno, 396 mtodo de lnea nica, 389 El anlisis qumico por fluorescencia, 402 automtico, 417 contadores, 414 intensidad y resolucin, 411 no dispersivo, 419 cualitativa, 414 cuantitativo, 415 espectrmetros, 407 rango de longitud de onda, 406 El anlisis qumico por medicin de parmetros, 388 509 510 NDICE Eleccin de radiacin, 165 Clark, George L., 455 Clustering, 375

El espesor del recubrimiento, 421 COCHRAN, W., 456 COHEN, M. U., 338 Mtodo de Cohen, 338 para las sustancias cbicos, 339 para las sustancias noncubic, 342 Dispersin coherente, 105, 111 Trabajo en fro, 263 Colimadores, 144, 152 Complejas funciones exponenciales, 115 COMPTON, ARTHUR H., 107, 456 Efecto Compton, 107 Compton modificado radiacin, 108, 111 Conservacin de la energa difractada, 131 Espectro continuo, 4 COOLIDGE, W. D., 17 Nmero de coordinacin, de 53 COSTER, D., 404 Contadores Geiger, 193 proporcional, 190 centelleo, 201 Conteo de cambio del medidor (ver Tacmetro) Monocromador de cristal, reflexin, 168 transmisin, 171 utilizar con difractmetro, 211 Perfeccin cristalina, 100, 263 Crystal rotacin durante el deslizamiento, 243

Ajuste de Crystal, 240 Formas de los cristales, de 54 Estructura cristalina, de 42 de compuestos, mesa, 485 de elementos, tabla, 482 Estructura cristalina determinacin, 297 ejemplo de, 320 Crystal Systems, 30 tabla, 31 Estructura de CsCl, 47 CuZn, ordenando en, 369 DAVEY, W. P., 305 Debye, P. 149 Debye-Scherrer cmara, 149 de alta temperatura, 156 Debye-Scherrer mtodo, 94 errores, 326 Debye-Scherrer mtodo (continuacin) pelcula de carga, 154 ecuacin intensidad, 132 preparacin de la muestra, 153 DECKER, B. F., 285 Estructuras de defectos, 317, 353 Textura de deformacin, 273 Gemelos de deformacin, 58 Densidades, mesa, 466 Profundidad de penetracin de rayos X, 269

Deteccin, de lneas superpuesta, 372 de rayos X, 23 Estructura del diamante, 48 Energa difractada, la conservacin de, 131 Difraccin, 79 Difraccin y red recproca, Laue mtodo, 502 mtodo de polvo, 500 giratoria de cristal mtodo, 499 Lneas de difraccin, extraos, 299 Mtodos de difraccin, 89 Difractmetro, 96 factor de absorcin, 189 errores, 334 caractersticas generales, 177 clculos de intensidad, 188, 389 ptica, 184 preparacin de la muestra, 182 utilizar en la determinacin de la orientacin del cristal, 237 Estudios de difusin, por mediciones de absorcin, 428 por mediciones de parmetros, 388 Desaparicin de fase mtodo, 354 Doblete, 7 La radiacin electromagntica, 1 Difraccin de electrones, 272, 486

Clculos de nivel de energa, 13 Errores, back-reflexin mtodo de enfoque, 333 Debye-Scherrer mtodo, 326 mtodo difractmetro, 334 mtodo del agujero de alfiler, 333 332 azar, en mediciones tacmetro, 208 en las mediciones de sellador, 204 332 sistemtica, NDICE 511 EWALD, P. P., 490 Construccin Ewatd, 498 El voltaje de excitacin, 7 Extincin, 399 Funciones de extrapolacin, la reflexin backmtodo de enfoque, 333 Debye-Scherrer mtodo, 329, 330 mtodo difractmetro, 334 mtodo del agujero de alfiler, 330 Cara estructura cbica centrada, 43 Ferrita, 51 Estructura FeSi, 49 Eje de la fibra, 276 Textura de fibra, 276 Film (ver pelcula fotogrfica) Filtros, 16

equilibrado (Ross), 211 tabla, 17 Anlisis fluorescente (vase el anlisis qumico por fluorescencia) Radiacin fluorescente, 12, 111 Pantallas fluorescentes, 23 Punto focal, 22 Cmaras de enfoque, 156 Forma, 37, 41 Series de Fourier, 319 FOURNBT, GERARD, 456 FRIEDMAN, H., 177 Lneas fundamentales, 363 Contador Geiger, 193, 414 prdidas de conteo, 197 eficiencia, 200 enfriamiento rpido, 199 GEISLER, A. H., 293 General Electric Co., 179, 409 Gonimetro, 143 El crecimiento del grano, 266 El tamao del grano, 259 Greninger, A. B., 217 Greninger tabla, 218 Guinier, un AIS y, 455, 456 Hbito plano, 256 Hanawalt, J. D., 379

Mtodo Hanawalt, 379 Harker, D., 285 HENRY, N. F. M., 456 Hevesy, GEORQ VON, 404 Hexagonal compacta estructura, 43 Hexagonal-rombodrico transformacin, 462 Cmaras de alta temperatura, 156 HULL, A. W., 149, 305 Hull-Davey tabla, 305 IBM tarjetas de difraccin de datos, 386 Difusin incoherente, 108, 111 Patrones de indexacin en polvo, cristales cbicos, 301 cristales noncubic, analticas, 311 304 grfica, ndices, de direcciones, 37 de aviones, 38 Intensidad integrada, 124, 132, 175 medicin con el sellador, 205 La integracin de la cmara, 165, 294 Intensificacin de las pantallas, 142 Las intensidades de lneas del patrn en polvo, en Debye-Scherrer cmara, 132 en difractmetro, 188, 389 Clculos de intensidad, CdTe, 320 cobre, 133

ZnS (blenda de zinc), 134 Las mediciones de intensidad, fotografa o 173 con contador Geiger, 193 con contador proporcional, 190 con un contador de centelleo, 201 El estrs interno (ver * Las tensiones residuales) ngulos interplanares, sistema cbico, mesa, 72 ecuaciones, 460 Intersticiales soluciones slidas, 51, 351 cmara de ionizacin, 191 dispositivos de ionizacin, 25 JAMES, ty. W., 456 Keysort tarjetas de datos de difraccin, 385 KLUG, HAROLD P., 455 kX u "; t, 87 Lattice, 29 Parmetros de red, 30 512 NDICE Parmetro de red-mediciones, 324 con cmara de visin posterior reflexin de enfoque, 333 con Debye-Scherrer cmara, 326 con difractmetro, 334 con cmara estenopeica, 333

Laue, M. VON, 78, 367, 457 Cmaras de Laue, la reflexin posterior, 140 portamuestras, 143 transmisin, 138 Ecuaciones de Laue, 497 \ f Laue mtodo, 89, 502 back-reflejo, 90, 215 difraccin forma del punto, 146 tcnica experimental, 1 38 transmisin, 89, 229 Mnimos cuadrados, el mtodo de, 335 Leonhardt tabla, 231 Limitar esfera, 501 Ensanchamiento de lnea, debido a las partculas finas tamao, 97-99, 262 debido a la tensin no uniforme, 264 Lipson, H., 456 Orden de largo alcance, 363 Orden de largo alcance parmetro, 366 LONSDALE, Kathleen, 455 Lorentz factor, 124 Lorentz-polarizacin factor, 128 tabla, 478 monocromador cuando se utiliza, 172 Cmaras de baja temperatura, 156 Macrostrain, 431 Macroesfuerzo, 264, 447

Absorcin de la matriz (en la fluorescencia), 415 Microabsorption, 399 Microfotmetro, 174 Microstrain, 431 Microestrs, 264, 447 MILLER, W. H., de 38 aos Miller-Bravais ndices, 40 Miller ndices, 38 Monitores, 206 Monocromadores (vase el monocromador de cristal) Estructura Mosaic, 100 Moseley, H. G. J., 402 La ley de Moseley, 8 Excitacin mltiple (en la fluorescencia), 416 Factor de multiplicidad, 124 tabla, 477 Estructura de NaCl, 47 Oficina Nacional de Normalizacin, 386 Difraccin de neutrones, 375, 486, 487 Anlisis no dispersiva, 419 Clulas no primitiva, 33, 36 Amrica del Norte Philips Co., 179, 417 Espesor de la muestra ptima, 164 Orden, de largo alcance, 363 parmetro, 366 de corto alcance, 375

Trastorno de orden transformaciones, 363 en AuCu, 370 en AuCu3, 363 en CuZn, 369 Ordenadas soluciones slidas, 52, 363 Orientacin de los cristales individuales, 215 por el mtodo de Laue back-reflejo, 215 por el mtodo difractmetro, 237 por mtodo de transmisin de Laue, 229 Mtodo paramtrico, 356 Tamao de partcula, 261 Partculas de tamao ampliacin, 97-99, 262 Peiser, H. S., 455 La profundidad de penetracin (rayos X), 269 Los diagramas de fase, la determinacin de, 345 Fotoelectrones, 12, 111 Pelculas fotogrficas, 24 Medicin fotogrfica de intensidad, 173 Fotomultiplicador, 201 Constantes fsicas, mesa, 480 Mtodo del agujero de alfiler, cmaras, 163 conclusiones de la inspeccin de pelcula, 294 errores, 333 para la medicin de parmetros, 333 bajo condiciones semifocdsing, 443 para la medicin de la tensin, 441

para la determinacin de la textura, 276, 280 Espaciamiento Plano-ecuaciones, tablas, 459 Deformacin plstica, en efecto Laue fotografas, 242 NDICE 513 La deformacin plstica (continuacin) efecto en las fotografas en polvo, 263 Punto de la red, 29 Factor de polarizacin, 107 monocromador cuando se utiliza, 172 Polo cifra, 274 Agregados policristalinos, 259 orientacin cristal, 272 perfeccin cristalina, 263 tamao de cristal, 259 Polygonization, 249, 266 Mtodo de polvo, 93, 149, 500 Orientacin preferencial (ver textura) Clulas primitivas, 33, 36 Tensiones principales, 436 Contadores proporcionales, 190, 414 Pulse-altura analizador de un solo canal, 193 Pulse-altura discriminador, 192 Formas cuadrticas de los ndices de Miller, tabk, 471 Determinacin de cuarzo, en polvo, 398

Radiografa, 1 Random solucin slida, 50, 352 dispersin de rayos X a partir de, 367, 376 Tacmetro, 179, 206 calibracin, 210 errores, 208 ndices racionales, el derecho de, 54 Recproco de celosa, 454, 490 Recuperacin, 266 La recristalizacin, 250, 266 Textura de recristalizacin, 273 Las tensiones residuales, 263, 431 en soldaduras, 432, 453 El poder de resolucin, para separaciones de avin, 151, 159, 161 para longitudes de onda, 162, 411 Determinacin de austenita retenida, 391 Rombodrico-hexagonal transformacin, 462 Rock-sal estructura, 47 ROENTGEN, W. C, 1 Rooksby, H. P., 455 Ross filtros, 211 Mtodo de rotacin de cristal, 92, 314, 499 Selladores, 179, 202 errores, 204 tilizar en la medicin de la intensidad integrada,

205 Dispersin (vase dispersin de rayos X) Scherrer, P., 149 Scherrer frmula, 99 SCHULZ, L. G., 290 Contador de centelleo, 201, 414 Seemann-Bohlin cmara, 157 Configuracin de un cristal en una orientacin requerida, 240 De corto alcance para, 375, 376 Longitud de onda corta lmite, 5 Siegbahn, M., 9, 86 (Sen 0) / valores de X, tabla, 472 B sin2 valores, tabk, 469 Slip, 243 Resbaln plano, la determinacin de los ndices, 254 Small-ngulo de dispersin, 263 Sodio estructura de cloruro, 47 Soluciones slidas, defecto, 317, 353 intersticial, 51, 351 ordenado, 52, 363 sustitucin, 51, 352 Ranuras del Vendedor, 185, 408 Grupos de espacio, 319 Portamuestras, para el mtodo de Laue, 143 para la determinacin de la textura, 286, 291 Preparacin de la muestra, Debye-Scherrer

mtodo, 153 mtodo difractmetro, 182 Espectrmetro, 85 automtico, 417 cristal curvo que refleja, 409 cristal curvado de transmisin, 409 piso de cristal, 407 mbito de reflexin, 498 Sproull, WAYNE T., 456 Proyecciones estndar, 71, 73, 74 Proyeccin estereogrfica, 60 Gobernante estereogrfica, para back-reflexin Laue, 227 para la transmisin de Laue, 235 Straumanis mtodo, 154 Medicin de tensin, 431 aplicaciones, 451 biaxial, 436 514 NDICE Medicin de estrs (continuacin) calibracin, 449 tcnica de la cmara, 441 tcnica difractmetro, 444 condiciones de enfoque, 442 uniaxial, 434 cuando las lneas son anchas, 447 Factor de estructura, 116

elemento de BCC, 119 de FCC elemento, 119 elemento de HCP, 122 de NaCl, 121 de ZnS (blenda de zinc), 134 Sustitucionales soluciones slidas, 51, 352 Superred, 52, 363 Depsitos superficiales, identificacin de, 387 Elementos de simetra, 34 tabla, 35 TAYLOR, A., 456 Temperatura de dispersin difusa, 131 Factor de temperatura, 130, 389, 395 Sistemas ternarios, 359 Textura (orientacin preferida), 272, 398 Determinacin de la textura, de la hoja, mtodo difractmetro, 285 mtodo fotogrfico, 280 de alambre, mtodo fotogrfico, 276 Asterismo trmica, 505 Vibracin trmica, 130 Espesor de la muestra, ptimo. 164 THOMSON, J. J., 105 Thomson ecuacin, 107 Constante de tiempo, 207 Tiempo ancho de la hendidura, 210 Tippel, T. L., 455

Torsin, 244 Transmisin Laue cmara, 1 38 Transmisin mtodo de Laue, 89 orientacin para el cristal, 229 Cristales hermanados, 75 determinacin de la composicin de plano, 250 Mellizos, recocido, 55 deformacin, de 58 Celda unitaria, 29 Unidad de volumen de clulas, las ecuaciones, 460 Estructura de uranio, de 46 Multiplicacin de vectores, 490 Ley de Vegard, 352 WALKER, CHRISTOPHER B., 456 WARREN, B. E., 262 Las longitudes de onda, de bordes de absorcin, mesa, 464 de lneas caractersticas, tofcfe, 464 WEVER, F., 274 Estructura Widmanstatten, 257 WILSON, A. J. C., 455 Textura de alambre, 276 WOOSTER, W. A., 456 Wulff red, 64 WYCKOPP, RALPH W. G., 458 Los rayos X, absorcin de, 10

6 caracterstica, 4 continua, profundidad de penetracin de, 269 deteccin de, 23 fluorescente, 12, 111 produccin de, 17 las precauciones de seguridad, 25 Dispersin de rayos X, 12 por slidos amorfos, 102 por un tomo, 108 coherente, 105 Compton modificado, 108 por un electrn, 105 por gases y lquidos, 102 108 incoherente, por azar soluciones slidas, 367 a ngulos pequeos, 263 temperatura difusa, 131 por una clula de unidad, 111 Espectroscopia de rayos X, 85 Tubos de rayos X, tipo de gas, 21 filamento caliente tipo, 17 -nodo giratorio tipo, 23 Unidad X, 87 YUDOWITCH, KENNETH L., 457 ZnS (zinc-blenda) estructura, 49 Zona 41

Zona de ley, 41, 495