El microscopio electrnico de barrido

En el SEM, Scanning Electron Microscope, un haz de electrones es generado por un filamento incandescente. Estos electrones son acelerados por una rejilla cercana de filamento incandescente. En su viaje a travs del vaco, estos tienden a separarse debido a las fuerzas de repulsin electrostticas que actan entre ellos. Un campo elctrico, generado por placas, se encarga de focalizar el haz y condensarlo. Por ltimo, el haz es deflactado hacia un punto mediante bobinas electromagnticas de manera que estas permitan realizar un barrido en la zona que queremos estudiar. EJEMPLO: Microscopa de un embalse en Montaa de Taco (Buena Vista del Norte), Espaa. Ventajas Facilidad de manejo. Elevada Resolucin. Amplia profundidad de campo. Limitaciones: Las muestras deben de ser metlicas o recubiertas de oro. Posible dao en el material. Necesita vaco. Alto coste.

El Microscopio de transmisin electrnico

El TEM, Transmition electron microscope, funciona esencialmente como un SEM, pero la seal que utilizamos para formar la imagen es la que proviene de los electrones transmitidos a travs de la muestra. Tenemos acceso a dos tipos de imgenes: Una directo de la estructura de la muestra que estudiamos y otra del diagrama Diagrama de difraccin producido por los electrones al atravesar un medio ordenado.

Uno de los aspectos ms importantes para lograr imgenes TEM de buena calidad es la preparacin de las muestras. La mayor parte de los mtodos para esto, se basan en un adelgazamiento homogneo de la lmina. Ejemplo: Microscopa de una nano partcula de Hierro.