GRADO EN FSICA

LABORATORIO DE FSICA II
1ER CUATRIMESTRE

CURSO 2014-2015

LABORATORIO DE TERMODINMICA
Variacin de la resistencia de un conductor y de un semiconductor
con la temperatura
1. Objetivo
Calibracin de un conductor y un semiconductor como termmetros de resistencia frente a un termmetro de
mercurio.
2. Introduccin terica
Desde un punto de vista prctico, resulta muy conveniente medir la temperatura mediante un sensor que
proporcione una seal electrnica para la automatizacin en la adquisicin de datos. Una posibilidad es utilizar
la variacin de la resistencia de un conductor o de un semiconductor con la temperatura. Para el uso de este
tipo de termmetros es necesaria una calibracin previa.
La bondad de un termmetro basado en la medida de resistencias elctricas, ya sea fabricado a partir de
material conductor o semiconductor, se cuantifica a travs de la sensibilidad, , definida como:
=

(1)

donde R es la resistencia y T la temperatura. La sensibilidad es un parmetro que, en general, depende de la

temperatura.
Un termistor es un semiconductor con resistencia extremadamente sensible a los cambios de temperatura. La
variacin de su resistencia elctrica con la temperatura R(T) se ajusta razonablemente bien a la ley:

() = exp ( )

(2)

donde T es la temperatura absoluta (Kelvin). B y R son dos constantes que dependen del termistor. A partir
de esta ecuacin y utilizando la ec. (1) se puede obtener la sensibilidad de un termistor. Cuanto mayor sea la
constante B del termistor, mayor ser su sensibilidad (en valor absoluto).
En Fsica del Estado Slido [3] se demuestra, utilizando la estadstica de Fermi-Dirac, que la relacin entre la
constante B del termistor y la anchura de la banda prohibida del semiconductor, , viene dada por
B = 2 , donde k es la constante de Boltzmann. Ntese que si hubiramos utilizado la estadstica clsica
para un sistema con dos niveles, suponiendo que la resistencia es inversamente proporcional al nmero de
electrones en el nivel excitado, no hubiese aparecido el factor 2 en el denominador. La presencia del 2 en el
denominador es un efecto cuntico y tambin porque en un semiconductor existen electrones y huecos.
Para los metales, la resistencia aumenta con la temperatura. El principal mecanismo fsico responsable de la
resistencia elctrica de los conductores son las colisiones (scattering) con los fonones (vibraciones de la red
atmica). Segn la teora de Debye [3], la densidad de fonones n(T) depende de la temperatura, de la
velocidad del sonido en el material y de la temperatura de Debye, , que depende del material. Si se supone
que la resistencia elctrica es proporcional a la densidad de fonones, se obtiene:

3
2
() =
( )

0 () 1
1

donde R es la resistencia a la temperatura de Debye, = 0

2
()1

(3)
0.354 y T la temperatura absoluta.

A partir de (3) se observa que, para muy bajas temperaturas la resistencia va como el cubo de la
temperatura absoluta, mientras que para se obtiene desarrollando asintticamente (4):
() =

1
1
( ) + ( ) 0 (1 + 0 )
2 3
3

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Variacin de la resistencia de un conductor y de un semiconductor con la temperatura

(4)
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Por consiguiente, la resistencia aumenta linealmente con la temperatura para . En la segunda parte de
la ecuacin, t es la temperatura en C, R0 la resistencia a 0C y 0 es el coeficiente de temperatura de la
resistividad a 0C (que coincide con la sensibilidad del termmetro a esa temperatura). El termmetro de
resistencia que se emplea en esta prctica es de hilo de platino, enrollado en un cilindro de vidrio y protegido
dentro de una cpsula de acero inoxidable o de cobre. La temperatura de Debye para el platino es 240 K por
lo que la aproximacin para (ec. (4)) puede considerarse vlida en nuestro caso.
3. Mtodo experimental
3.1. Material. Matraz lleno de agua. Tubo de ensayo conteniendo glicerina, un termmetro de mercurio de 0
a 100 C y termmetros de resistencia (Pt-100 y termistor). Manta calefactora. Multmetro para la medida de
resistencias.
3.2. Realizacin experimental. Aunque un calibrado riguroso exigira medir la resistencia de nuestras
sondas en los distintos puntos fijos de la escala de temperatura, en esta prctica adoptaremos un mtodo
ms directo, suponiendo que nuestro termmetro de Hg es un termmetro patrn. El dispositivo experimental
consiste, por tanto, en un termistor y una sonda Pt-100, que se introducen en un tubo de ensayo junto al
termmetro patrn de Hg. El tubo de ensayo se llena de un lquido de capacidad calorfica pequea y
conductividad trmica relativamente alta (glicerina) para asegurar la homogeneidad de temperaturas del
sistema (termistor + sonda Pt100 + termmetro patrn). El conjunto est dentro de un matraz con agua
rodeado a su vez de un calefactor. Para medir la resistencia elctrica se usa un multmetro digital. Primero se
hace un ciclo de calentamiento para el termistor: se enciende el calefactor y -a medida que va aumentando la
temperatura- se toman pares de valores {T,R}. Es conveniente dejar pasar un tiempo desde que se enciende
el calefactor hasta que se empiezan a tomar lecturas, para asegurarse de que el ritmo de calentamiento es
homogneo. Una vez concluido el ciclo de calentamiento con el termistor, se sustituye el agua del matraz por
agua fra, se espera a que descienda la temperatura del tubo de ensayo y se realiza un nuevo ciclo, tomando
ahora pares de valores {T,R} para el conductor.
4. Resultados y cuestiones
4.1. Tabule y represente grficamente los pares {Resistencia-Temperatura} para el semiconductor y el
conductor, junto con los ajustes a las ecuaciones (2) y (4) respectivamente.
4.2. Determine los valores de las constantes de calibrado, con su error, para el termistor a partir de los
parmetros de ajuste de la ecuacin (2). Calcule la anchura de la banda de energas prohibidas (en eV) del
semiconductor con el que est fabricado el termistor.
4.3. Ajuste los datos del conductor a una recta. A partir del ajuste, determine el coeficiente de temperatura
de la resistividad del Pt a 0C y compare con el valor tabulado.
4.4. Calcule y compare la sensibilidad de los dos termmetros a 0C (273 K). Determine el error relativo del
multmetro utilizado en la medida de la resistencia elctrica. Cul ser el mnimo incremento de temperatura
detectable para cada uno de los termmetros?
Determine la temperatura a partir de la cual el mnimo incremento de temperatura detectable por el termistor
empieza a ser mayor que 0.1K.
4.5. Es aceptable el mtodo experimental? Es homognea la temperatura del matraz? Influye esto en las
medidas? Razonen las respuestas.
4.6. Por qu debemos poner la temperatura en Kelvin cuando ajustamos los datos del semiconductor? Y en
el caso del conductor, en qu unidades es ms conveniente trabajar? Por qu?
5. Bibliografa
[1] Introduccin a la Termodinmica, C. Fernndez-Pineda y S. Velasco. Ed. Sntesis (2009)
[2] Termodinmica, J. Aguilar. Ed. Pearson Educacin (2006)
[3] Solid State Physics, Ashcorft y Mermin. (Ver Ec. (8.20) y su justificacin).
6. Elaboracin del informe
En el informe deben aparecer TODOS los apartados del punto 4, adems de una breve introduccin terica
(NO COPIA DEL GUIN) y discusin de los resultados.

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