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ESTRUTURA E PROPRIEDADES DOS

MATERIAIS
ANLISE DA ESTRUTURA CRISTALINA

Prof. Rubens Caram

ANLISE DA ESTRUTURA CRISTALINA

ESTRUTURA CRISTALINA TIPO DE CLULA UNITRIA


MTODO DE ANLISE DIFRAO DE RAIOS-X
RAIOS-X 0,05 nm < < 0,25 nm
LUZ VISVEL 600 nm
RAIO ATMICO 0,1 nm

REDE CRISTALINA PODE


DIFRATAR OS RAIOS-x
(PROVOCAR
INTERFERNCIA
CONSTRUTIVA
DE RAIOS-X)

R. Caram - 2

GERAO DE RAIOS-X
APLICAO DE VOLTAGEM DE 35 kV ENTRE CATODO E
ANODO EM VCUO
FILAMENTO DE TUNGSTNIO AQUECIDO E LIBERA
ELTRONS POR EMISSO TERMO-INICA
ELTRONS SO ACELERADOS E ATINGEM O ALVO
E=eV=h 98% DA ENERGIA CONVERTIDA EM CALOR
2% EM RAIOS-X
Raios-X
Alvo
Metlico
Vcuo

V
Fluxo de
Eltrons
Filamento de
Tungstnio

Janela de Berlio

Sistema de
Refrigerao
Raios-X
R. Caram - 3

ESPECTRO DE RAIOS-X
IONIZAO
N n=4
M n=3

L
L n=2

K n=1

ELTRONS K SO RETIRADOS DO TOMO PELO BOMBARDEIO DE ELTRONS


ELTRONS DAS CAMADAS L E M SO DESLOCADOS PARA A CAMADA K
TRANSIO DE L PARA K GERA ENERGIA COM K
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ESPALHAMENTO DE RAIOS-X
QDO. UM FEIXE DE RAIOS-X ATINGE TOMOS, ELTRONS VIBRAM E EMITEM
ONDAS COM A MESMA FREQUNCIA E EM TODAS AS DIREES
SUPERPOSIO DE ONDAS POR DIVERSOS TOMOS RESULTA NA DIFRAO:

EM ALGUMAS DIREES
OCORRE INTERFERNCIA
CONSTRUTIVA

EM ALGUMAS DIREES
OCORRE INTERFERNCIA
DESTRUTIVA
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DIFRAO DE RAIOS-X
PARA HAVER INTERFERNCIA CONSTRUTIVA FEIXES 1 E
2 DEVEM ESTAR EM FASE
1
Raio-X
Incidente

Raio-X
Difratado

dhkl

D
C

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DIFRAO DE RAIOS-X

R. Caram - 7

LEI DE BRAGG
l
= BC = CD
2

l
= dhkl sen
2

n = BC + CD

n = 2 dhkl sen

dhkl

l / 2
n=no inteiro

=comprimento
de onda

Raio-X
Incidente

Raio-X
Difratado

l=distncia
adicional

dhkl=distncia
entre planos
B

d hkl

=ngulo de
incidncia

C
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EXERCCIO
UMA AMOSTRA DE FERRO CCC FOI EXAMINADA EM UM
DIFRATMETRO DE RAIOS-X COM =0,1541 nm. A
DIFRAO DO PLANO (110) FOI OBTIDA EM 2=44,7o.
CALCULE O VALOR DO PARMETRO DE REDE Fe CCC.
ASSUMA n=1.

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DIFRATMETRO DE RAIOS-X

Tubo de Raios-X
Porta-Amostras

Detetor

Refrigerao

Escala de
Medida

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DIFRATOGRAMA
MOLIBDNIO

(110)

12000
10000

(211)

6000
4000
2000

(220)

(200)

Intensidade

8000

0
0

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

110

2
R. Caram - 11

DIFRATOGRAMA

R. Caram - 12

DISTNCIAS INTERPLANARES
PLANO ABC, COM I.M.(hkl)

Y
Z

h=1/u

k=1/v

c
v

l=1/w
C
w
3
O

2
B

A
u

X
R. Caram - 13

DISTNCIAS INTERPLANARES
CBICO

1
d2

TETRAGONAL

d2

HEXAGONAL

1
d2

ROMBODRICO

1
d2

h2 + k2 + l2
a2

h2 + k 2 l2
+ 2
a2
c

4 h2 + hk + k2 l2
+ 2

3
a2
c

(h2 + k2 + l2) sen2 + 2(hk + kl + hl)(cos2 - cos )


a2 (1 - 3 cos2 + 2 cos3 )

ORTORRMBICO

h2 k2 l2
+
=
+
d2 a2 b2 c2
1

MONOCLNICO

1
d2

TRICLNICO

1
2

1
V2

h2 k2 sen2 l2
+
+ 2
sen2 a2
b2
c
1

(S11h2 + S22 k2 + S33 l2 + 2 S12 hk + 2 S23 kl + 2 S13 hl)

V=Volume da clula;
S11=b c sen S22=a2c2sen2 S33=b2c2sen2
S12=abc2(cos cos - seng)
S23=a2bc(cos cos - sen)
S13=ab2c(cos cos sen)
2 2

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DIFRAO DE RAIOS-X
DIFRAO NO OCORRE SE A LEI DE BRAGG NO
SATISFEITA
DIFRAO NO NECESSARIAMENTE OCORRE SE A LEI DE
BRAGG SATISFEITA
INTENSIDADE DE DIFRAO DEPENDE DA POSIO DE CADA
TOMO E DO FATOR DE ESPALHAMENTO DE CADA TOMO (F)
F MEDIDA DA EFICINCIA DE COOPERAO DOS
ELTRONS DE UM TOMO NO ESPALHAMENTO DA
RADIAO INCIDENTE
NEM TODOS OS PLANOS PROVOCAM DIFRAO
C.S. - TODOS OS PLANOS DIFRATAM
C.C.C. - PLANOS CORRESPONDENTES A (h+k+l)=PAR
C.F.C. PLANOS ONDE h, k, l SO TODOS PARES OU TODOS
MPARES

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PLANOS DE DIFRAO
Famlia

(h2+k2+l2)

Planos de Difrao
CCC
CFC

{100}

{110}

{111}

{200}

{210}

{211}

{220}

{221}

{310}

10

X
X
X

X
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DETERMINAO DE ESTRUTURAS
ESTRUTURAS CBICAS PODEM SER DETERMINADAS A
PARTIR DAS LINHAS DE DIFRAO
CLCULO DOS VALORES DE SEN2
VALORES DE SEN2 EM ORDEM CRESCENTE
VALORES DE (h2+k2+l2) EM ORDEM CRESCENTE
QUANDO SEN21/ SEN22=0,5 ESTRUTURA C.C.C.
QUANDO SEN21/ SEN22=0,75 ESTRUTURA C.F.C.

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EXERCCIO
UM DIFRATOGRAMA DE RAIOS-X DE UM ELEMENTO DE
ESTRUTURA CBICA TEM PICOS DE DIFRAO EM 2=
40o; 58o; 73o; 86,8o; 100,4o E 114,7o. CONSIDERANDO QUE
=0,154 nm E 1a ORDEM DE DIFRAO, DETERMINE:
ESTRUTURA
PARMETRO DE REDE
RAIO ATMICO DO ELEMENTO

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