Académique Documents
Professionnel Documents
Culture Documents
METODOLOGI PENELITIAN
22
23
ditimbang
digerus
ditimbang
digerus
dipanaskan
digerus
Tahap I
Frit
disaring
digerus
OV
Pasta CuO-Fe2O3
Screen printing
Firing
Film tebal
Karakterisasi:
Tahap II
- XRD
- Struktur mikro (SEM)
Analisis
Gambar 3.1 Diagram alir penelitian
Pemberian kontak
Karakterisasi
sifat listrik
24
3.5.2 Bahan
Bahan yang digunakan diantaranya:
1. CuO
2. Fe2O3
3. SiO
4. H3BO3
5. PbO
6. Substrat alumina
25
7. Aseton
8. Hexanon
26
27
4 oC.menit-1.
3.6.2 Tahap II
Pada tahap kedua ini, dilakukan karakterisasi yang meliputi XRD (X-Ray
Diffraction) untuk mengetahui nilai parameter kisi kristal keramik CuFe2O4 yang
terbentuk. Selain untuk mengetahui parameter kisi kristalnya, data hasil
karakterisasi XRD digunakan untuk mengetahui struktur kristal yang terbentuk.
Setelah itu, dilakukan karakterisasi SEM (Scanning Electron Microscope)
untuk mengetahui struktur mikro keramik CuFe2O4. Hasil dari karakterisasi SEM
juga untuk menentukan besar ukuran butir kristal CuFe2O4 yang terbentuk pada
saat proses sintering. Penentuan ukuran butir rata-rata menggunakan metode garis
Heyn (Anom, 2005):
3.1
28
dimana:
3
2
1.Ohmmeter
2.Pengontrol suhu
3.Pemanas
4. Film tebal keramik
CuFe2O4
5.Termokopel
29
bagi antara
dengan
30
beberapa garis uji dengan cara menarik garis melintang pada foto hasil SEM
dengan jarak antargaris yang sama. Setelah itu, membuat garis potong yang
memotong setiap butir yang dilalui garis uji. Garis uji yang dibuat diukur
panjangnya. Panjang garis uji, jumlah garis uji, jumlah garis potong dan
pembesaran foto disubstitusikan ke persamaan 3.1 sehingga diperoleh ukuran
butir rata-rata.
Pengolahan data hasil karakterisasi listrik dilakukan dengan membuat
grafik R=f(T). Setelah itu grafik ln R=f(T-1) dibuat untuk menentukan nilai
konstanta termistor B. Sensitivitas termistor dihitung berdasarkan persamaan 2.14
untuk nilai suhu tertentu.