Tema9 Red

PTICA
Motivacin
1) Con sistemas interferenciales

podemos medir espesores muy
finos, detectar irregularidades en
el tallado de lentes, determinar
si un cristal unixico es positivo
o negativo..
2) Otras aplicaciones:
holografa, localizacin de
fuentes estelares, biomedicina.
3) Recubrimientos
antireflectantes: monocapa
y multicapa.
Tema 9. Fenmenos de interferencia.
PTICA
Tema 9: Fenmenos de interferencia.
1 Interferencia de dos haces por divisin del frente de onda.

1.1.
1.2.
1.3
1.4.
Introduccin
Experimento de Young.
Visibilidad de las franjas.
Dispositivos interferomtricos por divisin del frente de ondas.
2. Interferencia de dos haces por divisin de amplitud.

2.1.Interferencias en lminas de espesor constante.
2.2. Interferencias en lminas de espesor variable.
2.3. Localizacin de las franjas.
2.4. Interfermetros de doble haz y aplicaciones.
3. Interferencias con haces mltiples.

3.1.
3.2.
3.3.
3.4.
Lminas de espesor constante: frmulas de Airy.

Antirreflejantes monocapa y filtros interferenciales..
Interfermetro de Fabry-Perot.
Multicapas.
1.1. Introduccin
PTICA
1.1.1. Definicin de interferencias.

-Fenmeno relacionado con la naturaleza ondulatoria de la luz
Superposicin de haces de luz en un mismo punto bajo ciertas

condiciones
- Intensidad resultante: no es la suma de las intensidades

- Depende de la posicin del punto de superposicin respecto
a las fuentes
1.1. Introduccin
PTICA
Superposicin de haces (provenientes de la misma fuente)

- Divisin del frente de ondas: fuentes de pequea extensin Divisin de amplitud : fuentes pequeas o extensas
- Dos haces o haces mltiples
1.1. Introduccin
PTICA
Superposicin de ondas monocromticas de igual frecuencia, con

vectores elctricos paralelos (repaso tema 6)
I 01 2 + 02 2 + 201 02 cos
I= 1 + 2 + 2 1 2 cos
- Igual amplitud: I 4 E 2 cos 2
0
2
Concordancia de fase
- Mximos de intensidad:
2m
- Mnimos de intensidad:
(2m 1) Oposicin de fase
1.1. Introduccin
PTICA
Diferencias de fase por diferencias en camino ptico
n(d 2 d1 )
Concordancia de fase
I 4 E cos
2
0
Oposicin de fase
mo
(2m 1)
o
2
- Redistribucin de energa
PTICA
1.1. Introduccin
1.1.2. Condiciones de interferencia.
1) Coherencia de ambas ondas

Si = (t)
estable en el tiempo
I = 01 2 + 02 2 + 201 02 cos = 01 2 + 02 2
No hay interferencia
- Fuente extensa: conjunto de emisores
- Ms correlacionados cuanto ms prximos entre s
- Divisin del frente de ondas de una fuente coherente:
Hay coherencia espacial
- Fuentes casi-monocromticas: mayor coherencia temporal
1.1. Introduccin
PTICA
2) Vectores campo elctrico paralelos o formando un pequeo ngulo
I 01 2 + 02 2 + 201 02 cos
- Perpendiculares: no hay interferencia
- Trmino de interferencia mayor cuanto ms paralelos sean
Er1
Er2
Eo2
Eo1
1 2
Puede darse interferencia para luz natural ? Por qu?

1.1. Introduccin
PTICA
- Fresnel y Arago: deduccin del carcter transversal de las

ondas e.m. Observando que no hay interferencia para vectores E
perpendiculares
3) Frecuencias iguales para las dos ondas que se superponen
Si 1 2
Et 2 Eo cos(
t kz i (t kz )
)e
2
- Fluctuaciones rpidas: no hay interferencia apreciable

Puede darse interferencia para luces no monocromticas?
1.1. Introduccin
PTICA
-Justificacin del uso de la teora escalar

-Vectores elctricos paralelos o casi-paralelos
Eo2
Eo1
-Puede prescindirse del carcter

vectorial en el tratamiento terico
Teora escalar
10
1.2. Experimento de Young
PTICA
s1
y2 a2 (x
s2
y2 a2 (x
d 2
)
2
d 2
)
2
s2 s1
2xd
s2 s1
- Si a>>d: s s xd
2
1
a
- Diferencia de camino ptico:
n( s2 s1 )
nxd
a
- Desfase:
- ngulo (S1,S2,P) pequeo
I 4 E cos
2
0
2 nxd
o a
2
11
I 4 E02 cos 2
PTICA
Mximos de intensidad 2m
Posiciones de
mximo:
Mnimos de intensidad
Posiciones de
xmMax
mo a
nd
(2m 1)
mnimo:
nxd
mo
a
xmMin
m: orden interferencial
(2m 1)
o
2
(2m 1)o a
2nd
- = (x). Distribucin de I: franjas de x=cte (segmentos en la direccin

perpendicular a S1S2
- Franjas NO LOCALIZADAS
12
PTICA
- Interfranja: distancia entre dos mximos (o mnimos)

adyacentes
if
o a
nd
if
13
PTICA
- Interfranja: efecto de aumentar d

Doble_rendija2.avi
Ejemplo 1: Determinar la interfranja de un patrn de franjas

de Young obtenido para una fuente monocromtica de longitud
de onda 455 nm, con distancia entre fuentes secundarias de 2
mm y la pantalla situada a 3 m.
Ejemplo 2: Determinar si para el patrn anterior, la posicin
x=1.75 mm corresponde a un mximo o mnimo interferencial,
y el orden correspondiente.
14
PTICA
- Programa de Matlab para ver efectos de variar d, y D

- Si no hacemos la aproximacin a>>d: hiperboloides de I=cte
- Cortes con la pantalla: hiprbolas
- Rendijas ideales (s, s1 y s2, segmentos): mismo patrn interferencial
Conjunto de fuentes puntuales incoherentes

entre s, pero coherentes dos a dos
15
PTICA
Ejemplo 3: En un experimento de Young, se coloca la fuente

de 633 nm en el foco objeto de una lente convergente, a
continuacin las dos rendijas separadas 0.1 mm, y se observan
las franjas en el foco imagen de una segunda lente
convergente de 1.5 m de focal. Calcular la interfranja.
16
PTICA
1.3. Visibilidad de las franjas
- Contraste o visibilidad de las franjas:

C
I max I min
I max I min
1.3.1. Efecto de la extensin espacial de la fuente.

- Si se aumenta la anchura de la rendija: configuraciones
superpuestas desplazadas
a
- Aproximacin x<<a, d<<a:

nxM d nx ' d
a
a'
- Tolerancia desplazamiento x para
mximos (n=1): de interfranja
=
4
17
PTICA
- Efecto de abrir las rendijas:

se pierde visibilidad
1.3.2. Efecto de la monocromaticidad.

- Rendija lineal iluminada con luz blanca: desplazamiento mximos
xmax
ma
nd
18
PTICA

- Luz casimonocromtica:
1 xmax i f
(salvo rdenes muy elevados)

- Las configuraciones con luz blanca permiten localizar la
posicin de la franja correspondiente a orden cero
(diferencia nula de camino ptico)
Aplicaciones: medida de espesores diferenciales en superficies

Aplicaciones: medida de ndices de refraccin de gases
19
PTICA
Aplicaciones de interferometra por divisin del frente de onda

Medida de ndices de refraccin de gases: interfermetro de Rayleigh
(ng 1) L
- Luz blanca para calibrado
- Medida: rotacin de C2
20
PTICA
Ejemplo 4: Calcular la interfranja para un interfermetro de

Rayleigh con las rendijas separadas 2 cm, que opera con luz de
500 nm y con L1 de distancia focal 10 cm. Qu distancia focal
deber tener L2 , situada a 3 mm del plano de las franjas, si el
tamao apreciable de interfranja debe ser 0.5 cm?
21
PTICA
1.4. Dispositivos interferomtricos

Doble rendija de Young
Aplicaciones: medida de longitudes de onda a partir de la

interfranja, conociendo a y d.
d 2bsen
a a1 b cos
Espejos de Fresnel
S
S1
b
b
d
a1
S2
22
PTICA
http://physics.kenyon.edu/EarlyApparatus/Optics/Fresnel_Mirrors/Fresnel_Mirrors.html
http://commons.wikimedia.org/wiki/File:Fresnel_double_mirror.png
23
PTICA
Ejemplo 5: Calcular la interfranja del patrn interferencial producido

por un dispositivo de espejos de Fresnel con ngulo 15, para luz de
Na (=589.3 nm) y situando la pantalla a 1.5m y la fuente a 0.25 m
del segmento de unin de ambos espejos.
Espejo de Lloyd
d 2bsen
a a1 L b cos
S1
b
S2
a1
Ejemplo 6: Calcular el nmero mximo de franjas visibles en una

pantalla situada a 1.25 m de un espejo de Lloyd de 50 cm de
longitud, que opera con fuente de 500 nm situada a 2 mm de altura
sobre el eje y a 75 cm de distancia del extremo izquierdo del espejo.
24
PTICA
http://en.wikipedia.org/wiki/Lloyd's_mirror
Patrn generado en un
experimento con doble
espejo de Lloyd (muy
similar en diseo al
doble espejo de
Fresnel)
https://www.fzu.cz/en/oddeleni/department-of-x-ray-lasers/research-subjects/double-lloyd-s-mirror
25
PTICA

Biprisma de Fresnel
d 2a1tg
(n 1)
d
a a1 a2
a1
a2
Video de patrn de
biprisma de Fresnel
a
http://www.ub.edu/javaoptics/recursos/recursosEn.ht
ml
Ejemplo 7: Determinar la longitud de onda incidente y el

nmero mximo visible de franjas para un biprisma de Fresnel
con los siguientes datos: a1=11.1 cm; a2=1.1 m; n=1.523;
=2.5. I=142 m
26
PTICA

Semilentes de Billet
a2
P
Ejemplo 8: Determinar la expresin general para la interfranja en un
dispositivo de semilentes de Billet, en funcin del aumento lateral
introducido por las mismas, la separacin lentes-pantalla, la longitud
de onda incidente, la separacin vertical entre las dos semilentes, la
distancia objeto y la focal de las semilentes. Aplicar al caso de fuente
situada en el punto antiprincipal objeto de la lente original.
27
PTICA
http://www.optique-ingenieur.org/en/courses/OPI_ang_M02_C05/co/Contenu_14.html
28
PTICA

1.1.
1.2.
1.3
1.4.
Introduccin


3.1.
3.2.
3.3.
3.4.

Multicapas.
29
PTICA
2.1. Interferencias en lminas de esp. cte.

-Lmina dielctrica transparente de espesor d
Er1
Er2
n1
C
E
n
n1
Superposicin de haces de luz reflejada (slo 2 primeros)
n( AB BC ) n1 AD
2nd cos '

30
PTICA

Desfase total (con salto de fase por reflexin)
4 nd
cos t
n1
C
E
-Patrn interferencial localizado en el infinito

4 nd
cos t 2m
2nd cos t
- Mnimos de intensidad:
4 nd
cos t (2m 1)
2nd cos t
n
n1
1
( m )
2
2
Franjas de igual inclinacin (Haidinger) sobre el plano de

observacin
31
PTICA
Simetra circular de iluminacin: anillos concntricos
- Mximo orden: central

(incidencia normal)
2nd
S
mo
P
- Fuente puntual: franjas

deslocalizadas (muy poco
visibles con fuente extensa)
32
PTICA
http://www.astrosurf.com/aras/fringing/schlatter/ripple.htm
- Experimento para generar anillos de Haidinger con lser,

pantalla difusora, divisor de haz y lmina plano-paralela situada
frente al sensor de la cmara
33
PTICA

-Igual inclinacin, recogidas con
lente (o el ojo)
- Visibles sobre pequea porcin
- Si d crece, AC crece:
desaparece el patrn
AC
- Con fuente extensa:

- Visibles sobre porcin extensa
34
PTICA

Ejemplo 9: Determinar la interfranja de un patrn de franjas
de Haidinger para orden 55, recogido sobre el plano focal de
una lente convergente de 10 cm de focal, para una lmina de
0.01 mm de espesor, de metacrilato (n=1.713) sumergida en
aire. La lmina se ilumina con luz de Na (=589.3 nm).
Er1
Er2
D
A
n1
C
n
n1
35
PTICA

Importancia de la monocromaticidad de la fuente
-Mayor cuanto mayor sea el espesor de la lmina
36
PTICA
2.2. Interferencias en lminas de esp. var.

2.2.1. Franjas de Fizeau
-Cua de dielctrico, de ngulo

n1
n
V
2nd cos '
4 nd
2
nd
cos
'
m
2
d x
cos '
1
d max xmax (m )
2 2n
- Mnimos de intensidad: 2nd cos ' (m 1 ) d x m

min
min
2
2
2n
37
PTICA

-Cua de dielctrico, de ngulo : franjas paralelas a la arista
- Espaciado fijo
xmax
2n
-Control de irregularidades en superficies: interfermetro de Fizeau

-Ej. espejos planos, o superficie final de pernos de Al
38
PTICA

Fuente
diafragma
-Control de irregularidades en
superficies: interfermetro
de Fizeau
Divisor de haz
Lente
Placa superior
Superficie test
39
PTICA

-Franjas de Fizeau con un escner
40
PTICA

Ejemplo 10: Observa la imagen de franjas de Fizeau obtenidas en la
capa de aire entre dos lminas de vidrio iluminadas con luz
fluorescente.
A) Cul ser previsiblemente el patrn que obtendremos
presionando la punta del bolgrafo sobre la primera lmina? Por qu?
B) cmo sera el patrn resultante si una pequea burbuja de agua
queda atrapada en la capa de aire?
C) Por qu crees que no se observan franjas en la parte inferior de la
foto?
41
PTICA

2.2.2. Anillos de Newton
2d m
R
R
dm m
1
( m )
2
2
rm 2 Rd m Rm
- Anillos concntricos
rm
dm
- Espaciado variable
- Clculo de R para conocida
42
PTICA

- Control de irregularidades en lentes
- Video
http://www.youtube.com/watch?v=ZqABNlA5d6I
http://physical-optics.blogspot.com.es/2011/06/newtons-rings.html
43
PTICA
Ocular
Objetivo
- Imagen de anillos de Newton obtenida a travs de un ocular

micromtrico (cedida por M. Gloria Garv, curso 2008-2009)
44
PTICA

Ejemplo 11: Se forman anillos de Newton colocando una lente planoconvexa de radio de curvatura R1 sobre la cara cncava de una lente
divergente de radio de curvatura R2. La lmina de aire as formada
est iluminada normalmente por un haz paralelo de longitud de onda
de 546 nm. Cul es el dimetro del 10 anillo negro si R1 1 m, y
R2 =2 m?.
R2
R2
R1
R1
rm
dR1
dm
dR2
45
PTICA
- Depende de las condiciones de iluminacin y observacin
- Fuente puntual: suelen ser no localizadas (todos los rayos

coherentes)
- Fuente extensa: suelen ser localizadas

46
PTICA
- Distancia al plano de la cua: depende del ngulo de

incidencia y del ngulo y espesor de la cua.
n1
xn12 sen cos2

AP ' 2
n n12 sen2
n
x
P
A
- Cua de aire entre vidrios delgados:
AP ' xsen
- P en un crculo de radio OS1 (reflejo de la fuente en la primera cara)

- Fuente lejana (slo rayos paralelos en primera cara): P en plano
que pasa por el vrtice de la cua
47
PTICA
- Fuente lejana (slo rayos paralelos en primera cara): P en

plano que pasa por el vrtice de la cua
- ngulo de incidencia casi normal: franjas sobre la cua.
Ejemplo 12: Determinar la localizacin de las franjas y la ecuacin
de la figura de corte de dicha superficie con el plano de incidencia
para una fuente colimada incidiendo a 30 sobre una cua de ngulo
2.5 de vidrio (n=1.523) sumergida en aire.
n1
n
x
48
PTICA
2.4. Interfermetros de doble haz y aplic..

2. 4.1. Interfermetro de Michelson
E2
E1
http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbase/phyopt/michel.html
49
PTICA
50
PTICA

2d
2d cos
d
E2
E1
51
PTICA

- Configuracin: anillos claros y oscuros alternados (fuente
casi-monocromtica)
- Desplazamiento espejos: variacin
- crece: surgen anillos
- disminuye: desaparecen anillos
(m2 m1 )
cos 2 cos 1
2d
- Los anillos se van estrechando

por los bordes
52
PTICA

Utilidades
- Medida de distancias por desplazamiento espejos
- Medida de ndices de refraccin de lminas delgadas
- Medida de variaciones de ndices de refraccin de gases con la

presin
53
PTICA

Complicaciones prcticas
- Espejos no paralelos: franjas en vez de anillos
- Anillos no localizados con fuente puntual
- COHERENCIA de la fuente
Ejemplo 13: Determinar qu ocurre en la configuracin de un

Interfermetro de Michelson iluminado con lser de He-Ne (632.8
nm) si extraemos aire de la cmara de 5 mm situada en su brazo
ms corto. Si el ndice del aire es 1.002, determinar el ndice del
mismo cuando han surgido 3 anillos brillantes por el centro.
54
PTICA

2.4.2 Interfermetro de Twyman-Green
- Michelson modificado para trabajar con haces colimados
E1
- Campo uniforme
q
C
55
PTICA

- Aplicaciones en control de superficies planas
http://mbdaps.com/precisionoptical//data/ta006.htm
- Medidas de calidad de sistemas convergentes
http://www.dmphotonics.com/Adaptive_Optics/astigmatism.htm
56
PTICA

- Control de superficies en prismas
Ejemplo 14: Estudiar la disposicin adecuada del interfermetro

de Twyman-Green para control de calidad en superficies de
prismas. Por qu obtenemos el patrn de franjas que se muestra
en la figura? Qu nos indica el resultado expuesto sobre la
calidad del prisma?
57
PTICA

2.4.3. Interfermetro de Mach-Zender
- Estructura cuadrada o
rectangular: no se recorre el
camino dos veces
- Ligera inclinacin de los

espejos para conseguir
patrn de referencia
58
PTICA

- Aplicacin en medida de variaciones de ndice (densidad) en flujos de gas
(n ' n)ds f (n ' n) f ( )

s
http://strangepaths.com/the-quantum-eraser-experiment/2007/03/20/en/
59
PTICA

- Aplicaciones en ptica integrada: control de intensidad en
circuitos de fibra, sensores
- Configuracin en disposicin Mach-Zender
60
PTICA

2.4.4. Interfermetro de Sagnac
- Estructura cuadrada con tres espejos: camino recorrido en

sentidos opuestos
- Control de efectos NO RECPROCOS
- Campo magntico en
uno de los sentidos y
luz circularmente
polarizada
61
PTICA

- Interfermetro rotatorio de Sagnac: medida de velocidades de giro
Fuente
Fuente
Detector
http://www.conspiracyoflight.com/Sagnac/Sagnac.html
2ntr
- En cada vuelta:
giro
2 r
4 n 2 r 2
2n
r
v
c
- Muchas espiras de fibra de slice para que el efecto sea apreciable

62
PTICA

Ejemplo 15: Si consideramos que podemos apreciar el efecto sobre la
configuracin de un interfermetro rotatorio de Sagnac de un cambio de
un dcimo de interfranja, calcular el nmero de espiras necesario si la
velocidad angular mnima que quiere poder detectarse es 0.02/h, la
fibra de vidrio tiene un n=1.5, el radio es 20 cm y la longitud de onda de
operacin 633 nm.
2.4.5. Interfermetro de Jamin

- Medidas de NDICES (Rayleigh)
- Sin configuracin de
referencia (ajustes
mediante retculo del
telescopio)
63
PTICA
http://pi.physik.unibonn.de/~kortmann/Optik/029%20Interferenz%20Beugung/1160%20Interferometer/0470_Jamin%20Interferometer.htm
64
PTICA

- Medida de Efecto Pockels (efecto
electro-ptico)
- Determinacin de L
absoluto en funcin de
la temperatura de la
pieza de prueba
Ejemplo 16: Si en un interfermetro de Jamin medimos un

desplazamiento de 0.5 franjas cuando se introduce un gas en uno de
los tubos, de longitud 20 cm, iluminando con luz de Na: determinar el
ndice de refraccin del gas introducido.
65
PTICA

2.4.6. Aplicaciones
Determinacin de gradientes de temperatura

- Llama situada en uno de los brazos de un interfermetro
Michelson
T n L m
- Si hay cambio gradual
de L: podemos contar
franjas para determinar
el cambio de orden
correspondiente
66
PTICA

Medidas de grosor de pelculas delgadas
- Pelcula delgada depositada sobre un sustrato M en un Twyman
L m 2d
- Creacin de franjas de referencia con elementos no paralelos (cuas)

67
PTICA

- Directamente sobre una capa de aire entre dos de Ag
68
PTICA

Interferogramas con medios cristalinos anistropos
- Lmina de material anistropo entre dos polarizadores con
un cierto ngulo entre los ejes de transmisin, iluminada con
fuente extensa
- Isogiras: sup. de =cte
-Isocromas: sup. de =cte: extincin

para =m
69
PTICA
70
PTICA

Ejemplo 17: Determinar la posicin del eje ptico y (cualitativamente) el grado
de birrefringencia de los siguientes medios unixicos:
71
PTICA

1.1.
1.2.
1.3
1.4.
Introduccin


3.1.
3.2.
3.3.
3.4.

Multicapas.
72
PTICA
3.1. Lminas de espesor constante: frmulas de Airy
Superposicin de haces de luz reflejada (r alto: N haces)

Er1
n1 i
d n
Er2
Er3
Er4
Er 2 Eott ' r ' ei (t )
r, t
n1
Er1 Eo reit
r, t
ErN Eott ' r '(2 N 1) ei (t N )
r
'
tt
'
e
it
E
E
e
r
- Resultado superposicin
r
o
2 i
1
r
'
e
(serie geomtrica):
tt ' 1 r 2
r
(1
e
)
it
Er Eo e
2 i
1
r
e
73
PTICA
Intensidad reflejada
Er1
n1 i
d n
n1
Er2
Er3
2
sen
2
2
I r Er Er Eo
2 2
(1 r ) sen 2
Er4
4r 2
2
r, t
Et1 Eott ' eit
r, t
Et2 Et3
Et1
Luz transmitida:
Et4
Eo 2
I t Et Et
2
4r
2
1
sen
(1 r 2 ) 2
2
EtN Eott ' r '2( N 1) ei (t ( N 1) )

Frmulas de Airy
74
PTICA
-Principio de conservacin de la energa

-Recogida en plano focal lente colectora.
Intensidad reflejada:
-Max: sen /2=1
-MNIMO NULO: sen /2=0
2
sen
2
2
I r Er Er Eo
2 2
(1 r ) sen 2
4r 2
2
http://wyant.optics.arizona.edu/MultipleBeamInterference/MultipleBeamInterferenceNotes.html
75
PTICA
Intensidad transmitida:
E
o
I t Et Et
2
4r
-Max: Io, si sen /2=0
2
1
sen
2 2
(1
r
)
2
-MNIMO NO NULO: sen /2=1

- Conforme crece r, el pico se
estrecha y el mnimo se aproxima
a cero
http://wyant.optics.arizona.edu/MultipleBeamInterference/MultipleBeamInterferenceNotes.html
76
PTICA
-Factor de Fineza:
4r 2
F
(1 r 2 ) 2
-Controla el contraste y la anchura de pico para It

4
-Desfase para I=Io/2:

F
medida de la anchura del pico
-Separacin o Fineza:
Recubrimientos metlicos:
A 2
I
(1
)
2
o
1
r
It
2 m
1 Fsen
F
2
R T A 1
4 nd cos '
-Menos Imax
-Dependencia del desfase adicional con el ngulo de incidencia

77
PTICA
Ejemplo 18: Determinar la intensidad transmitida y las intensidades

transmitidas mxima y mnima para la longitud de onda central del
espectro visible en una lmina de ndice 1.5 y espesor 0.25 m, con
coeficiente de reflexin de 0.05 e incidencia de 10. Igual para la luz
reflejada.
Ejemplo 19: Determinar las intensidades transmitidas mxima y

mnima para la longitud de onda central del espectro visible en una
lmina de Ag con coeficiente de reflexin de 0.77. Igual para la luz
reflejada. El factor de absorcin es de un 15%.
78
PTICA
-Ejemplos y experiencias en pelculas de espesor

variable: pompas de jabn y pelculas de aceite:
79
PTICA
3.2. Antirreflejantes monocapa y filtros interferenciales..
3.2.1. Recubrimientos antirreflejantes monocapa

-Objetivo: minimizar reflexiones parsitas en s.o. para una longitud de onda
-Depsito monocapa sobre vidrio: 1<n<nv , incidencia aprox.
normal
4 nd cos '
n, n1
2m
o
1
o
4n
Recubrim
nv
Sustrato
Espesor mnimo
-En fase 2,3,.... y en oposicin de fase con respecto a 1.
80
PTICA
-Suma de amplitudes 2,3,4,.... igual a la amplitud 1.

r rv
nv
Ejemplo 20: Calcular el ndice y espesor mnimo necesario para

construir un recubrimiento antirreflectante monocapa sobre una
superficie de vidrio Crown (nv =1.523) para la longitud de onda
central del espectro visible. Crees que es fcil encontrar materiales
que cumplan los requisitos necesarios?
-Iluminacin con luz blanca: generalmente hay determinadas longitudes de
onda en mximo dentro del visible
-ptica azul para instrumentos
-Variacin con las distintas superficies para

evitar la descompensacin cromtica en la
imagen
81
PTICA
3.2.2. Filtros interferenciales

-Iluminacin con luz blanca: condiciones para filtrar el haz
Espesor pequeo, r
elevado
d
2nd
-Paso en mximo para: max
m
-Paso en mnimo para:

min
-En general, se verifica:
2nd
1
m
2
-d grande: espectro acanalado

-d pequeo: slo una longitud
de onda en mximo
2nd max
82
PTICA
-Suelen utilizarse recubrimientos multicapa de alto r

Caractersticas filtros:
Longitud onda pico
Anchura espectral
Transmitancia de pico
-Menor anchura implica generalmente menor transmitancia

Longitud onda
pico
Anchura a mitad de
pico
Transmitancia
6500
35
0.80
6600
20
0.50
83
PTICA
Ejemplo 21: Determinar el coeficiente de reflexin de las caras

internas y el espesor mnimo en un filtro interferencial de criolita
(n=1.46) que transmita en mximo la longitud de onda de 500 nm
con una transmitancia mnima del 2% en incidencia normal.
84
PTICA
3.3. Interfermetro Fabry-Perot.

3.3.1. Descripcin general
-Espectroscopa de alta resolucin, cavidad resonante Lser
d
Superficies de alta reflectancia
Espesor d de aire
85
PTICA
-Recubrimientos metlicos: m
A
I
(1
)
2
o
1 r
It
2 m
1 Fsen
4 nd cos t
-Incidencias prximas a normal:
-Max It: sen /2=0
constante Despreciable
frente a d/
2nd cos i m
-Mnimos It: sen /2=1

-Mximo orden: crculo central
mmax
2nd
-Efecto de variar n d: desplazamiento de los anillos hacia el

centro o hacia la periferia
86
PTICA
-Efecto de variar r: visibilidad de la configuracin

-Interfermetro Fabry-Perot: d variable
-Etaln o cavidad Fabry-Perot: d constante
Ejemplo 22: Calcular el orden mximo para una cavidad

Fabry-Perot de 0.8 cm de espesor iluminada con luz de Na. Si
los anillos se recogen con una lente de focal 15 cm, calcular el
radio sobre la pantalla del tercer anillo oscuro a partir del
crculo central.
87
PTICA
3.3.2. Poder resolutivo espectral.

-Luz no monocromtica: configuraciones superpuestas
-Dos longitudes de onda prximas: mnima

separacin para poder resolverlas con un FabryPerot?
Poder resolutivo espectral
-Distribucin de intensidades para un orden dado:
-Criterio de resolucin (Rayleigh): son justamente

separables si el primer mnimo de una corresponde con el
mximo de pico de la otra distribucin (supuestas iguales las
intensidades mximas)
88
PTICA
P 2m
Q P
M P
-En M, la intensidad es la mitad de la mxima

-Suponiendo pequeo:
2(1 r 2 )

r
-Relacin con el poder resolutivo espectral:

aproximacin pequeo
m r
1 r2
-A mayor r, mayor poder separador para el Fabry-Perot

89
PTICA
-Si es grande (prximo a 2), se solapan mximos de

diferentes rdenes para ambas longitudes de onda
Rango espectral libre

-Separacin mxima de longitudes de onda
hasta el solapamiento
rs
-FINEZA (finesse): cociente entre la separacin entre dos

mximos y la anchura a mitad de altura de cada mximo,
para una longitud de onda dada
F
F
2
r
1 r2
rs
2
min
-A mayor fineza, mayor poder separador para el Fabry-Perot

90
PTICA
-Separacin de configuraciones para diferentes longitudes de

onda: adicin de prisma tras la cavidad
Clculo de la estructura fina de una lnea espectral: se opera

en discordancia
Mximos de coincidentes con
mnimos de +
-Midiendo el desplazamiento de los
espejos entre dos posiciones de
discordancia, puede obtenerse la
estructura fina ()
91
PTICA
Ejemplo 23: Comparar las prestaciones como espectrmetros de dos

Fabry-Perot con las siguientes caractersticas, y calcular su fineza.
A) r=0.96, m=8000
B) r=0.92, m=4000
Son capaces de resolver estas dos longitudes de onda: 550 y 550.2 nm?
Ejemplo 24: Determinar razonadamente cul de las dos

configuraciones de Fabry-Perot corresponde a un mayor coeficiente de
reflexin del recubrimiento interno:
92
3.4. Multicapas.
PTICA
-Recubrimientos metlicos: elevada absorcin

-Multicapas: material dielctrico transparente que proporciona
globalmente r elevado sin absorcin alta
3.4.1. Aplicaciones.
Multicapas antirreflejantes
-Exigimos r=0 para una longitud de onda.
-Recubrimiento monocapa: obtenemos la relacin conocida n
-Matriz caracterstica monocapa (espesor /4):
-Recubrimiento bicapa
(espesores /4 ):
n2
n
M 1
n1
n2
in
nv
i
n
n22
nv 2
n1
93
3.4. Multicapas.
PTICA
Ejemplo 25: Determinar el ndice de refraccin necesario para un

recubrimiento bicapa con la segunda capa de ndice n2=1.65. Qu
espesor deben tener las capas si queremos que no refleje el centro
del espectro visible?
-Posibles combinaciones materiales

y espesores: podemos conseguir un
R bajo en amplias zonas del
espectro
94
3.4. Multicapas.
PTICA
-Mejores prestaciones con un mayor nmero de capas
http://www.phys.uconn.edu/~gibson/Notes/Section5_3/Sec5_3.htm
95
PTICA
3.4. Multicapas.
Multicapas de alta reflectancia

-Combinando materiales de alto y bajo ndice alternados (N
lminas L bicapa de ndices nA y nB), con espesores de cuarto
o media onda, para simplificar el clculo de las matrices
caractersticas
nB
n
ML A
nA
nB
n N
B
nA
MT
-Coeficiente de reflexin
(sumergida en aire):
N
nA

n
B
nB
nA
r
nB
nA
nA
n
B
N
N
nA

nB
96
3.4. Multicapas.
PTICA
-Factor de reflexin (sumergida en aire):

n
1 A
nB
R
1 n A
nB
2N
2N
-Tiende a la unidad para N grande
http://www.thehourglasses.com/lenses-info.php
97
3.4. Multicapas.
PTICA
Filtros interferenciales
-Combinacin de multicapas de alta reflectancia y centro con
lminas de espesor e ndices alternados:
-Para un filtro sumergido en aire:
r0
t 1
98
3.4. Multicapas.
PTICA
-Normalmente, tenemos vidrio protector y recubrimiento a los

lados del filtro, con lo que no es ideal, pero pueden conseguirse
anchos de banda muy reducidos.
Espejos dicroicos
-Multicapas de alta R para una zona
del espectro (R,G,B)
99
3.4. Multicapas.
PTICA
Espejos multicapa para rayos X
El color de las mariposas
100
3.4. Multicapas.
PTICA
-Efecto tilt dependiente del ngulo de incidencia
-Mezcla de colores segn zonas
101
PTICA
Bibliografa
Bibliografa bsica:
- Born, M. y Wolf, E. Principles of Optics. Cap. 7, 14.

- Casas, J. ptica. Cap. 10.
- Hecht-Zajac. ptica. Cap. 9.
- Pedrotti, F.L., Pedrotti, L.S. Introduction to Optics. Cap 10, 11, 19.
-Jenkins, F.A. y White, H.E. Fundamentals of Optics, Cap. 13, 14.
-Daz Navas, J.A. y Medina Ruiz, J.M. Ondas de luz, Cap. 8.
-Kenyon, I.R. The light fantastic, Cap. 5.
http://www.ub.es/javaoptics/version1/applets/youngEs.jnlp
http:// www.chara.gsu.edu/CHARA/
http://micro.magnet.fsu.edu/primer/lightandcolor/interferenceintro.html
http://www.colorado.edu/physics/2000/applets/twoslitsa.html
http://www.phy.ntnu.edu.tw/ntnujava/viewtopic.php?t=36
http://earth.esa.int/applications/interferometry.html
102
PTICA
Actividades dirigidas
-Investigar sobre aspectos recientes y aplicaciones de los
recubrimientos antireflejantes para superficies pticas, y las
tcnicas de fabricacin y depsito sobre las superficies.
-Cmo puede medirse la transmitancia espectral de un filtro
interferencial? Investigacin y aplicacin prctica: medida
para tres fiiltros interferenciales de longitudes de onda azul,
verde y rojo (medida de la transmitancia y estimacin del
ancho de pico) para dos fuentes diferentes. Determinacin de
la transmitancia espectral en cada caso. Discusin de los
resultados.
-Cazadores de interferencias: encontrar, documentar y
explicar al menos un ejemplo de patrones interferenciales no
creados por vosotros en vuestro entorno.
103
PTICA
-Montaje y discusin de resultados de una experiencia de
Young similar a la realizada originalmente, con luz solar y
dividiendo fsicamente el haz. Documentacin histrica sobre
la presentacin de resultados realizada por Young ante la
Royal Society en los primeros aos del s. XIX. Documentacin
y presentacin ante la clase.
- Presentar ejemplos de tres aplicaciones recientes de
interferometra con luz blanca o policromtica para diferentes
tcnicas de medida de gran sensibilidad.
- Construccin de un dispositivo para observacin de anillos
de Newton con luz blanca o casi-monocromtica. Discusin de
los resultados obtenidos utilizando diferentes fuentes.
104
PTICA
-Resolver el siguiente problema: cul debe ser la longitud
mnima de los escalones de un anfiteatro romano si queremos
que se produzca interferencia constructiva por reflexin en
sucesivos escalones para la frecuencia de 680 Hz? Investigar
sobre si los romanos tenan los efectos de interferencia en
cuenta a la hora de disear sus teatros.
-Escribir un problema sobre el dispositivo interferencial por
divisin del frente de ondas que ms llame la atencin.
Proponerlo a la clase y presentar la solucin.
-Preparar una cua de aire entre dos lminas de vidrio y
producir franjas de Fizeau con luz de Na en el laboratorio.
Documentar la experiencia y mostrar a la clase.
105
PTICA
-Invertigar sobre los experimentos de Fresnel y Arago sobre
interferencias con luz polarizada. Intentar una demostracin
prctica sobre este fenmeno con el material presente en el
laboratorio y lminas polaroides auxiliares.
106

Tema9 Red

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PTICA

1) Con sistemas interferenciales

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1 Interferencia de dos haces por divisin del frente de onda.

2. Interferencia de dos haces por divisin de amplitud.

3. Interferencias con haces mltiples.

Lminas de espesor constante: frmulas de Airy.

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1.1.1. Definicin de interferencias.

Superposicin de haces de luz en un mismo punto bajo ciertas

- Intensidad resultante: no es la suma de las intensidades

Superposicin de haces (provenientes de la misma fuente)

- Dos haces o haces mltiples

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

Superposicin de ondas monocromticas de igual frecuencia, con

(2m 1) Oposicin de fase

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

Diferencias de fase por diferencias en camino ptico

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1.1.2. Condiciones de interferencia.

1) Coherencia de ambas ondas

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

2) Vectores campo elctrico paralelos o formando un pequeo ngulo

Puede darse interferencia para luz natural ? Por qu?

- Fresnel y Arago: deduccin del carcter transversal de las

- Fluctuaciones rpidas: no hay interferencia apreciable

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

-Justificacin del uso de la teora escalar

-Puede prescindirse del carcter

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1.2. Experimento de Young

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1.2. Experimento de Young

- = (x). Distribucin de I: franjas de x=cte (segmentos en la direccin

1.2. Experimento de Young

- Interfranja: distancia entre dos mximos (o mnimos)

1.2. Experimento de Young

- Interfranja: efecto de aumentar d

Ejemplo 1: Determinar la interfranja de un patrn de franjas

1.2. Experimento de Young

- Programa de Matlab para ver efectos de variar d, y D

- Rendijas ideales (s, s1 y s2, segmentos): mismo patrn interferencial

Conjunto de fuentes puntuales incoherentes

1.2. Experimento de Young

Ejemplo 3: En un experimento de Young, se coloca la fuente

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1.3. Visibilidad de las franjas

- Contraste o visibilidad de las franjas:

1.3.1. Efecto de la extensin espacial de la fuente.

- Aproximacin x<<a, d<<a:

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1.3. Visibilidad de las franjas

- Efecto de abrir las rendijas:

1.3.2. Efecto de la monocromaticidad.

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1.3. Visibilidad de las franjas

(salvo rdenes muy elevados)

Aplicaciones: medida de espesores diferenciales en superficies

Tema 9. Fenmenos de interferencia.

1.3. Visibilidad de las franjas

Aplicaciones de interferometra por divisin del frente de onda

- Luz blanca para calibrado

Tema 9. Fenmenos de interferencia.