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Recognize
Define
Measure
Analyze
Improve
Control
Un discriminador de la competitividad
Six Sigma, A Quest for Process Perfection
Meet Goals and Attack Variation
\DataFile|Camshaft.mtw
\DataFile\proccap.mtw
\DataFile\Poisson Process Capability.mtw
INSTITUTO PARA LA CALIDAD 2010. Prohibida su reproduccin total o parcial sin permiso del autor y del Instituto para la Calidad de
la Pontificia Universidad Catlica del Per.
Que aprenderemos
Capacidad de Proceso
1. Lo bsico
Definiciones
Principios
Precisin y exactitud
El desplazamiento del proceso
Capacidad vs inspeccin
2. Calculando la capacidad
La trasnformacin normal estndar
Usando Z para calcular la capacidad
Ejercicios
3. Usando Minitab para realizar Anlisis de
Capacidad del Proceso
4. Ejemplos de Capacidad de Proceso
Para datos continuos
Para datos de atributo
INSTITUTO PARA LA CALIDAD 2010. Prohibida su reproduccin total o parcial sin permiso del autor y del Instituto para la Calidad de
la Pontificia Universidad Catlica del Per.
Definiciones de Capacidad de
Procesos
ST = Corto Plazo (Dentro)
LT = Largo Plazo (General)
6sST
6sLT
Cpk=
Menor de:
USL - X
3sST
Ppk=
Menor de:
USL - X
3sLT
X - LSL
3sST
X - LSL
3sLT
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Precisin de Proceso(Centrado) y
T
1.235
1.239
LSL
El ancho del
proceso es
independiente
del ancho del
diseo. La
precisin
inherente de un
proceso no est
determinada por
las
especificaciones
del diseo.
1.241
1.245
USL
1.233
1.235
1.239
LSL
1.241
1.245
USL
El centro de
proceso es
independiente
del centro de
diseo. La
capacidad de un
proceso de
repetir cualquier
condicin dada
de centrado es
independiente de
las
especificaciones
del diseo.
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El desplazamiento ocurre
Capacidad de Proceso
Largo Plazo
Capacidad Proceso
LSL
Corto Plazo
-6s
-4s
-2s
USL
2s
4s
6s
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LSL
-3s
Short Term
Process Capability
Long Term
Process Capability
USL
-2s
-1s
1s
2s
3s
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La transformacin normal
estndar
Calculando capacidad
Convertir cualquier data normal en normal estndar para
( X m)
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Z del Proceso
Calculando capacidad
USL-LSL
Process Z=
2s
LSL
USL
Z ShortTerm
Recuerde que un proceso six
sigma tiene Zst = 6 y Zlt =
4.5 (asumiendo un
desplazamiento de 1.5 s)
Cp
USL LSL
2s st
Z ShortTerm
Z Long Term
Z Largo Plazo =
USL - LSL
2slt
Pp
3
Z Short Term 1.5
Z Long Term
3
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Ejercicio en clase
Dados los datos que se muestran ms abajo, use las frmulas vistas
en Definiciones para estimar valores de:
Cp
Cpk
Pp
Ppk
Parte 1 datos corto plazo
X=5
s=2
LSL = 0
USL = 10
Parte 2:
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.8333
6s st
6* 2 12
C pk
5
C pk
.8333
3* 2 6
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USL LSL
Pp
6s lt
Z st
Z lt 3* Pp
Z lt Z st 1.5
LSL-USL 10 0 10
2.5
2s st
2* 2
4
s lt 5
USL LSL 10 0 10
Pp
.33333
6s lt
6*5 30
Ppk
10 5
.3333
15
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.75
6s st
6* 2 12
C pk
4
C pk
.6667
3* 2 6
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USL - LSL
6s lt
10 1
USL - LSL
Z lt =
=.75 =
2slt
2slt
.75*slt = 4.5
slt = 6
Zlt
10 1
9
USL - LSL
= .25 Pp =
=
Pp =
=
3
36
6*6
6slt
3slt
.75
= .25
3
1 - 5 4 .2222
=
= =
18
18
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Estudio de capacidad de
Proceso
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Desarrollando el anlisis
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Target
USL
Within
Overall
Process Data
LSL
595.00000
Target
600.00000
USL
605.00000
Sample Mean
600.23000
Sample N
100
StDev(Within)
1.70499
StDev(Overall)
1.87861
2.40
2.78
2.54
0.85
0.88
Worksheet: Camshaft.MTW
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Anlisis de Capacidad de
atributos
La compaa XYZ tiene datos de atributo
para su defecto principal, rajaduras en el
acabado.
La data para todo el ao est en :
\DataFile\Procap.mtw
P Chart
Rate of Defectives
12
UCL=0.10885
_
P=0.09916
0.10
1
0.08
1
%Defective
Proportion
0.12
6 7 8
Sample
LCL=0.08948
10
8
6000
9 10 11 12
8000
Sample Size
10000
Dist of %Defective
Summary Stats
%Defective
10.5
10.0
9.5
9.0
8.5
2
6
8
Sample
10
12
%Defective:
Lower CI:
Upper CI:
Target:
PPM Def:
Lower CI:
Upper CI:
Process Z:
Lower CI:
Upper CI:
9.92
9.73
10.11
0.00
99164
97291
101061
1.2863
1.2755
1.2971
Tar
4.8
3.6
2.4
1.2
0.0
10
12
Worksheet: PROCCAP.MTW
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Los
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Stat>Quality Tools>Capability
Analysis>Poisson
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0.045
U Chart
1
1
Poisson Plot
11
11 1 1
11
1 1
1 11
Expected Defects
UCL=0.03887
0.030
0.015
2 22
2
2
_
U=0.00955
0.000
LCL=0
4.5
3.0
1.5
0.0
0
1 00 00 00 00 00 00 00 00 00 00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Sample
Cumulative DPU
Dist of DPU
Summary Stats
(using 95.0% confidence)
0.0100
DPU
0.0075
0.0050
0.0025
0.0000
0
200
400
600
Sample
2
4
Observed Defects
800
1000
Mean Def:
Lower CI:
Upper CI:
Mean DPU:
Lower CI:
Upper CI:
Min DPU:
Max DPU:
Targ DPU:
0.9550
0.8954
1.0175
0.0096
0.0090
0.0102
0.0000
0.0500
0.0000
400
Tar
300
200
100
0
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Que aprendimos
Capacidad de Proceso
1. Lo bsico
Definiciones
Principios
Precisin y exactitud
El desplazamiento del proceso
Capacidad vs inspeccin
2. Calculando la capacidad
La trasnformacin normal estndar
Usando Z para calcular la capacidad
Ejercicios
3. Usando Minitab para realizar Anlisis de
Capacidad del Proceso
4. Ejemplos de Capacidad de Proceso
Para datos continuos
Para datos de atributo
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Soluciones
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USL LSL 10 0 10
.8333
6s ST
6 * 2 12
USL X
X LSL
Cpk Min
or
3
s
3
s
ST
ST
10 5 5 0 5
Cpk Min
or
.8333
3* 2 6
3* 2
Nota:
Cpk = Cp cuando el
proceso est
centrado.
Cpk no puede ser
mayor que Cp.
Cpk puede ser
negativo o positivo.
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USL LSL 10 1 9
.75
6s ST
6 * 2 12
USL X
X LSL
Cpk Min
or
3
s
3
s
ST
ST
10 5 5 1 4
Cpk Min
or
.6667
3* 2 6
3* 2
Nota:
INSTITUTO PARA LA CALIDAD 2010. Prohibida su reproduccin total o parcial sin permiso del autor y del Instituto para la Calidad de
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