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DIFRACTROMETRIA DE RAYOS X

Aunque el descubrimiento de la radiacin X por el fsico alemn ROENTGEN data del ao


1895,recin en 1912 un grupo de fsicos, los alemanes LAUE,KNIPPING Y FRIEDRICH y
el ingles W.L.BRAGG,aclararon exactamente la naturaleza de los rayos X, y los
fenmenos que se producen cuando estos inciden sobre un cristal.
El descubrimiento de que los cristales actan como una red difractante tridimensional
frente a la radiacin electromagntica de los rayos X, con longitudes de onda parecidas a
las distancias interplanares de los cristales, no solo sirvi para comprobar el carcter
ondulatorio de los rayos X,sino creo,con los mtodos de difraccin de rayos X, una
herramienta que revoluciono la investigacin de la estructura fina de la materia.
Resulto que la difraccin es un fenmeno de dispersin de rayos X en el cual participan
todos los tomos de la sustancia irradiada. Debido al ordenamiento peridico de los
tomos en una estructura cristalina, los rayos dispersados en distintos tomos llevan entre
si un cierto desfase. Interfiriendo estos rayos dispersados en su trayectoria posterior, la
mayora de ellos es extinguida porque su diferencia de fases = n (n=1,2,3), y solo
en algunas direcciones, donde las diferencias de fase son = n

se forman por

interferencia constructiva rayos difractados. Como deriva fcilmente de la fig.1, las


condiciones para la interferencia constructiva, en donde para una diferencia de fase n .
entre ondas diferentes se cumple solo cuando
n.=2dsen
=longitud de onda del haz incidente de rayos X.
d=distancia entre los planos difractantes en cuestin, en donde la distancia interplanar o el
espaciado del grupo de planos reticulares sobre el cual incide la radiacin.