ASDN-Laborator Numarul 02

Porti Logice

XOR

X1 X2 Y
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 0

NAND

X1 X2 Y
0 0 1
0 1 1
1 0 1
1 1 0

AND

X1 X2 Y
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1

OR

X1 X2 Y
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 0
NOT

X Y
0 1
1 0

DELAY

Yn=Xn-1

TRIGGER

Yn=~Xn-1

RS (primul circuit secvential)

R S Yn-1 Yn
0 0 0 0
0 0 1 1
0 1 0 1
0 1 1 1
1 0 0 0
1 0 1 0
1 1 0 *
1 1 1 *
(* adica nu ne intereseaza valoarea)

R=0 si S=0 rezulta Yn=Yn-1

R=1 si S=0 rezulta Yn=0
R=0 si S=1 rezulta Yn=1
R=1 si S=1 rezulta Yn=nedefinit
JK

J K Yn-1 Yn
0 0 0 0
0 0 1 1
0 1 0 0
0 1 1 0
1 0 0 1
1 0 1 1
1 1 0 1
1 1 1 0

J=0 si K=0 rezulta Yn=Yn-1

J=1 si K=0 rezulta Yn=1
J=0 si K=1 rezulta Yn=0
J=1 si K=1 rezulta Yn=~Yn-1

Yn=J~Yn-1 + ~KYn-1

Detectarea defectelor

Se da urmatoarea functie
f=xy+z

Fie reprezentarea cu porti logice a functiei de mai sus:

atunci cand apare 0 avem m0

atunci cand apare 1 avem m1
Daca la intrare avem 011 si f are valoarea 1 atunci este OK. Daca f are valoare 0 atunci
inseamna ca a aparut un defect.

X Y
0 0
0 0
0 1
0 1
1 0
1 0
1 1
1 1
Z f
0 0
1 1
0 0
1 1
0 0
1 1
0 1
1 1

Tabelul defectelor ce pot sa apara:

XYZ Vm0 Vm1 Vn0 Vn1 Vp0 Vp1 Vq0 Vq1

000 * *
Æ 001 *
Æ 010 * * *
011 *
Æ 100 * * *
101 *
Æ 110 * * *
111

Se alege numarul minim de secvente de intrare astfel incat sa se acopere toate testele
pentru identificarea defectelor.

Stelutele de pe linii reprezinta defectele ce pot apare si pot fi detectate. Atunci secventa
de intrare pentru detectarea defectelor este:

Σm(001,010,100,110)=Σm(1,2,4,6)
Diagrama de testare

TEMA

Fie o functie f=Σm(2,5,7,9,11,13). Sa se determine o secventa minima de testare si sa se

deseneze diagrama de testare.