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MESURE NON DESTRUCTIVE DE LA CONDUCTIVITE ELECTRIQUE DES METAUX FERREUX

L MINH-QUANG SCIENSORIA 7, rue Ravel F-35170 BRUZ France tl. : 02 99 57 19 71 fax. : 02 99 57 18 78 e-mail : info@sciensoria.fr, Internet : http://www.sciensoria.fr Bertrand BOUTTIER VEOLIA ENVIRONNEMENT Centre de recherche sur leau Chemin de la digue BP 76 78603 Maisons Laffitte Cedex tl. : 01 34 93 31 91 fax. : 01 34 93 31 18 e-mail : bertrand.bouttier@veolia.com Internet : http://www.veolia.com Rsum Jusqu prsent, la mesure non destructive des mtaux ferreux tels que les fontes dacier par la mthode des courants de Foucault nest pas propose sur le march. Ceci est d la difficult rsultant des caractristiques magntiques extrmement variables des mtaux ferreux. Nous avons rcemment mis en uvre un systme permettant de saffranchir de cet obstacle grce un logiciel de calcul multi-paramtres et lapplication dun champ magntique de polarisation. La mesure non destructive de la conductivit lectrique ouvre la voie dautres applications trs importantes telles que la mesure de lpaisseur rsiduelle des produits en fonte dacier.

1 Introduction
Les mtaux ferreux tels que les diverses nuances dacier et de fontes dacier possdent des caractristiques magntique et lectrique extrmement variables, ce qui empche nombre dapplications du contrle non destructif par courants de Foucault. A titre dexemple, aucun instrument commercial ninclut la mesure de la conductivit lectrique par courants de Foucault dans ses applications. Or, la conductivit lectrique peut tre trs rvlatrice sur les paramtres de qualit du produit, tels que sa mallabilit ou sa rsistance mcanique. De plus, la connaissance de la conductivit lectrique dun matriau permet daccder dautres paramtres trs importants, tel que lpaisseur dun produit. Pour ltude de la corrosion interne dune plaque dacier par exemple, on peut mesurer aisment sa rsistance lectrique apparente en y injectant un courant I et en mesurant la chute de tension entre 2 points A et B. La rsistance RAB est dtermine par la formule :

RAB =VAB (1) I


Cependant, relever la rsistance lectrique ne donne quune indication incomplte de ltat de la corrosion car on ne connat pas exactement lpaisseur du produit. En effet, la relation entre la rsistance et lpaisseur est la suivante :

RAB = L (2) S
o est la rsistivit du matriau (unit : ohm*mtre), L la longueur du segment AB et S la section du segment AB. Si lchantillon mesur est rectangulaire, de hauteur H et de lpaisseur E, S sera dtermine par la relation S= H*E. Lquation (2) devient

RAB = L (3) H *E

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Pour dterminer E, il est ncessaire de connatre la rsistivit , qui nest autre que linverse de la conductivit lectrique (unit : siemens/mtre). Une mesure pralable de la conductivit lectrique du matriau simpose. Cette mesure doit tre forcment non destructive.

2 Principe de fonctionnement du contrle non destructif par courants de Foucault


Le contrle non destructif par courants de Foucault consiste soumettre le matriau un champ magntique alternatif de frquence f afin dy crer des courants de Foucault. Ces courants circulent dans le matriaux et servent de sondes : leur intensit dpend des caractristiques du matriau. On peut connatre ltat des courants de Foucault grce au champ magntique secondaire quils crent. Ce champ peut tre mesur indirectement, travers limpdance de la bobine dexcitation, ou directement, grce un capteur de champ magntique. Limpdance de la bobine dexcitation dpend des caractristiques de la bobine, de la frquence du courant dexcitation, et des caractristiques du matriau sond tels que sa conductivit lectrique, sa permabilit magntique, son paisseur, et du lift-off (distance bobine-cible). Il sagit dune fonction multi-paramtres :

Z = f(,,e,lift off)
Z est une grandeur complexe, qui comporte une partie relle R et une partie imaginaire X. En reportant R et X sur 2 axes cartsiens, on obtient le plan dimpdance. En observant lvolution de R et de X, il est possible de dduire les caractristiques du matriau contrl. Il sagit de lanalyse de signature. On peut galement talonner les volutions observes par rapport aux matriaux talons afin dlaborer des quations destines automatiser lanalyse de signature par des programmes informatiques.

2.1

Inducsens

Sciensoria commercialise Inducsens, un logiciel construit autour des quations qui dcrivent trs prcisment le comportement de Z en fonction des paramtres , , e, lift-off. Inducsens permet de simuler rapidement le comportement dun capteur courants de Foucault. De plus, ce logiciel est dot dune fonction importante : il peut calculer les paramtres , , e, lift-off partir des donnes mesures. Il sagit de linversion de donnes exprimentales. Le procd de linversion est itratif : on ajuste les paramtres recherchs jusqu ce que les valeurs dimpdance Z calcules soient le plus proches possible des valeurs mesures exprimentalement. Comme plusieurs paramtres sont rechercher en mme temps, la recherche ne peut tre manuelle mais doit suivre des algorithmes prcis, ou une combinaison de diffrents algorithmes. La figure suivante dcrit la recherche itrative des paramtres :

Lorsquil y a convergence, les mesures exprimentales sont approches suffisamment par les valeurs de limpdance thorique, et les paramtres proposs seront considrs comme proches de ceux du matriau contrl. Ceci nest possible qu condition que le calcul dimpdance soit prcis et que le capteur soit sensible au paramtres recherchs.

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3 Mise en uvre dune mesure non destructive de conductivit lectrique par courants de Foucault
Dans le cas dune mesure de conductivit lectrique dun chantillon de mtal ferreux (fonte dacier), il y a 4 paramtres en jeu : Dabord, la conductivit lectrique dterminer Les 3 autres paramtres nont aucun intrt : la distance capteur-cible (lift-off), la permabilit magntique, lpaisseur de lchantillon. Cependant, il faut les dterminer afin de pouvoir complter les calculs.

Lpaisseur dun chantillon peut tre dtermine manuellement afin dallger les calculs. Le lift-off, la permabilit magntique peuvent tre dtermins par le procd dinversion. En pratique, lorsque la permabilit magntique () est grande, limpdance est trs non linaire par rapport aux paramtres dterminer. Afin de rduire les non linarits, le matriau contrl est soumis un champ magntique externe. La chane dinstrumentation se compose comme ci-dessous :

Les mesures sont effectues sur des chantillons de fonte dacier fournis par le groupe Volia environnement. Ces chantillons proviennent des canalisations du rseau deau potable du groupe. Les nuances de fonte dacier de ces canalisations sont extrmement variables, ce qui est d leurs ges. Ces chantillons sont des barreaux dune vingtaine centimtres de longueur et de 2 centimtres de largeur. Ils ont des paisseurs variant de 2,5 mm 4 mm. Lpaisseur de chaque barreau est mesur manuellement et entr dans Inducsens comme paramtre fixe. Les autres paramtres (lift-off et permabilit magntique) sont dfinis comme variables et sont mis jour chaque itration. Il est important de noter quaucune correction ou talonnage na t effectu pendant la mesure avec la mthode non destructive. Les donnes brutes sont directement entres dans Inducsens, lequel sort directement des valeurs estimes de paramtres du matriau. Pour un procd industriel particulier, une correction des erreurs systmatiques permettrait dobtenir des rsultats plus prcis.

4 Rsultat de mesure
La comparaison des valeurs de rsistivit (linverse de la conductivit lectrique) mesures par Volia avec la mthode de 4 points traditionnelle et celles mesures par la mthode non destructive courants de Foucault est donne ci-dessous.

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Rsistivit (ohm*m) Mesure avec la mthode de 4 points (par Volia) 0,674 0,792 0,96 0,682 0,667 0,481 0,481 0,928 0,721 0,865 0,74 0,655 Mesure avec la mthode non destructive courants de Foucault (Inducsens) 0,623 0,667 0,780 0,609 0,531 0,401 0,403 0,788 0,618 0,704 0,640 0,492

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5 Conclusion
Avec Inducsens, on peut mesurer sans talonnage pralable la conductivit lectrique des mtaux ferreux. Ceci a t possible grce la fonction destimation multi-paramtres que possde le logiciel, ainsi qu lapplication dun champ magntique externe au matriaux mesurs. Lexprience a t men en aveugle, sans information priori sur les chantillons, et sans talonnage, ce qui conforte son objectivit et qui dmontre son aptitude pour une application industrielle. La mesure de conductivit par cette mthode non destructive est moins contraignante que la mthode traditionnelle des 4 points car elle ne ncessite pas la prparation dchantillons filiformes mais uniquement une petite surface. De mme, elle ne ncessite pas dlectrodes, ce qui vite les problmes de mauvais contacts.

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