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Fontes eletrnicas para a soldagem com eletrodos revestidos: avaliao de um controle da corrente de curto-circuito

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Jesualdo Pereira Farias Amrico Scotti Valtair Feraresi

Resumo O objetivo deste trabalho foi avaliar a eficcia do ajuste dos parmetros de controle da corrente de curto-circuito em fontes eletrnicas para soldagem manual de eletrodos revestidos. Uma srie de soldagens de simples deposio foram realizadas, variando-se o tipo de eletrodo, a relao dimetro do eletrodo corrente, a velocidade de soldagem e os parmetros de controle (corrente de curto-circuito e tenso de referncia). Utilizou-se para o planejamento experimental e anlise dos dados a tcnica estatstica do Experimento Robusto (Taguchi), tendo como caracterstica principal de qualidade a produo. O rendimento de deposio foi utilizado como caracterstica secundria de qualidade. Os resultados indicam que, para as condies empregadas neste trabalho, no h benefcio significativo no uso dos ajustes da corrente de curtocircuito e da tenso de referncia. Conclui-se ainda que os fatores mais influentes sobre as caractersticas de qualidade dos eletrodos so o tipo e o dimetro do eletrodo. Abstract The objective of this work was to assess the efficacy of the parameter settings of the short- circuiting current control in electronic power supplies used for shielded metal arc welding. A series of bead-on-plate welds was made, by varying the electrode type, the electrode diameter-current ratio, the travel speed and the control parameters (short-circuiting current and voltage reference). The statistic Robust Design technique (Taguchi's) was employed for experimental planning and data analysis. Production was used as the main quality characteristic and deposition efficiency was treated as a secondary quality characteristic. The results indicate that, for the given conditions, there is no significant improvement of the quality characteristics due to the short-circuiting current and reference voltage settings. It was concluded that electrode type and diameter are the most influential factors on the quality characteristics.

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Introduo Nas fontes convencionais de soldagem (eletromagnticas) para eletrodos revestidos, o usurio no dispe de maiores opes para a sua regulagem. Neste caso, apenas a caracterstica esttica da fonte pode ser selecionada. A corrente e tenso de soldagem, para uma dada posio da curva de caracterstica esttica da fonte, dependero basicamente do tipo e dimetro do eletrodo, assim como do comprimento do arco. J as fontes controladas eletronicamente proporcionam outras caractersticas. Uma destas a corrente de curto-circuito (Icc), a qual influencia a transferncia metlica durante o contato da gota com a poa de fuso. O ajuste adequado da Icc pode reduzir a salpicagem, evitar a colagem do eletrodo na pea e facilitar a soldagem fora de posio plana, resultando em maior produtividade. A forma mais prtica de se controlar a corrente de curto-circuito nestes tipos de fontes de soldagem, permitir que a corrente do arco aumente controladamente durante o tempo em que a gota permanece em contato com a poa de fuso. Isto possvel fixando-se uma tenso de referncia (Uref), abaixo da qual considerase que o processo est em curto-circuito. Normalmente, os valores de Icc e Uref j vem pr-definidos na maioria das fontes comerciais. Entretanto, existem produtos que permitem o usurio fazer este ajuste. Apesar das vantagens aclamadas para fontes com controle de Icc, no existem muitas informaes sobre o correto ajuste do valor da Uref e da Icc. No h meios de se avaliar se este ajuste realmente eficaz. Do ponto de vista de produo, a situao ideal seria aquela em que o ajuste Icc e Uref no apresentassem efeitos relevantes e os respectivos valores pudessem vir pr-selecionados, como em muitas fontes comerciais. Este caso apresentaria uma reduo de tempo e de custo na seleo de parmetros e no treinamento de pessoal. Em um trabalho recente [01], observou-se que a existncia do controle da Icc no exerce efeito significante sobre a performance do processo de soldagem, exceto para eletrodos celulsicos. Em outro trabalho com eletrodos bsicos [02], verificou-se que a fonte afeta a transferncia metlica e a produo dos eletrodos. No entanto, as fontes de soldagem utilizadas nestes trabalhos no permitiam variaes da Icc e da Uref em funo da corrente de soldagem.

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Percebe-se, portanto, que este assunto precisa ainda ser suficientemente explorado. Analisando-se a questo, ainda do ponto de vista da produo, trs situaes podem surgir a partir de futuras investigaes neste campo. Na primeira, os resultados podem indicar que no h influncia significativa da Icc e da Uref nas caractersticas do processo Eletrodo Revestido. Neste caso, melhor sacrificar uma pequena parcela da produo do que aumentar os problemas relacionados com a seleo de um novo parmetro. Na segunda, pode haver um efeito relevante e previsvel destes parmetros, independente do tipo de eletrodo. Por exemplo, dimetros maiores, por exigirem maiores correntes, deveriam tambm requerer maiores valores de Icc e menores valores da Uref. O soldador seria facilmente treinado para ajustar os parmetros seguindo as novas regras. Na terceira situao, os resultados poderiam indicar um efeito significante da Icc e da Uref, mas sem nenhuma relao bem estabelecida. Devido a este fato e ao nmero de possveis combinaes dos diversos parmetros de soldagem, armazenar os possveis ajustes na EPROM do sistema de controle da mquina seria impraticvel do ponto de vista da construo de um banco de dados. O usurio poderia selecionar as suas condies prticas mais usuais e determinar as melhores combinaes de parmetros para cada situao. Os diferentes ajustes poderiam ser eventualmente armazenados no sistema de controle da mquina de soldagem ou em um banco de dados externo. Outra soluo seria usar filosofias alternativas de controle tais como redes neurais, para se obter um auto ajuste dos parmetros (controle sinrgico). Neste sentido, o objetivo principal deste trabalho verificar se diferentes ajustes nos valores da Icc e da Uref podem afetar as caractersticas operacionais e econmicas do processo de soldagem com eletrodos revestidos de diferentes classes e dimetros. Caso exista efeito significativo, um segundo objetivo seria demonstrar que possvel encontrar os melhores ajustes da Icc e da Uref para uma dada condio. Materiais e mtodos A tcnica denominada Projeto Robusto [03], desenvolvida por Taguchi, uma ferramenta poderosa na otimizao de produtos ou processos. Ela visa determinar as variveis (denominadas de fatores) que mais influenciam a variabilidade do processo ou produto. O controle destes fatores garante a qualidade do processo/produto (menor variabilidade), alm da otimizao da sua performance.
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No presente caso, o que se procura verificar o quanto os parmetros do controle da Icc afetam a performance do produto (fonte), visando a otimizao do seu ajuste. Maiores detalhes sobre este mtodo estatstico podem ser encontrados em bibliografia especializada. O primeiro passo desta tcnica a definio do que se espera otimizar (denominado caracterstica de qualidade). Para este trabalho, a caracterstica de qualidade selecionada foi a Produo (P), uma vez que se trata do aspecto mais importante para o aumento da produtividade (relacionada com o tempo necessrio para preencher a junta). A produo pode ser expressa como o produto da Taxa de Fuso (TF) pelo Rendimento de Deposio (RD). Existem outras caractersticas que afetam a produtividade, tais como o tempo gasto para a remoo da escria e dos salpicos. O rendimento de deposio pode ser considerado um bom parmetro para avaliar a quantidade de salpicos, e esta pode ser uma caracterstica de qualidade secundria. Deve-se ressaltar que no faz sentido ter-se uma elevada produo se a solda est cheia de defeitos, tais como mordeduras e falta de penetrao. O re-trabalho, neste caso, reduz significativamente a produtividade. Logo, as grandezas indicativas da geometria da solda poderiam tambm ser tomadas como caractersticas de qualidade secundria, mas s sero discutidas em futuros trabalhos. Seleo dos fatores Considerando-se que a principal caracterstica de qualidade a produo, decidiuse, com base em critrios tcnicos e econmicos, selecionar para este trabalho os seguintes fatores: o tipo e o dimetro do eletrodo, a corrente mdia de soldagem (Im), a velocidade de soldagem (Vsold), a corrente de curto-circuito (Icc) e a tenso de referncia (Uref). A corrente, para um dado tipo de eletrodo, uma varivel dependente do seu dimetro. Para reduzir o nmero de experimentos, a soluo foi escolher a combinao dimetro-corrente (D-I) como um dos fatores, ao invs do emprego de dois fatores separados (dimetro e corrente). Neste caso, o valor da corrente ser o valor mdio, indicado pelo fabricante, para cada tipo e dimetro de eletrodo. Uma vez definidos os fatores, a prxima tarefa seria a escolha do nmero de nveis para cada fator. Os tipos de eletrodos selecionados so os mais comumente empregados ou seja: o Rutlico AWS E6013, o Bsico AWS E7018 e o Celulsico AWS E6011.

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Os dimetros de eletrodos mais comumente empregados so 2,5, 3,25 e 4,0 mm, e sero considerados como nveis para este fator. A experincia com o processo SMAW sugere trs nveis para a tenso de referncia ou seja: 5.0, 9.0 e 14.0 V. A mesma sugesto pode ser aplicada para a corrente de curto-circuito, mas considerando-se o fato de que este fator depende da corrente mdia de soldagem Im. Com base em experimentos anteriores, usando eletrodos bsicos em diferentes fontes de soldagem [02], percebeu-se que valores intermedirios de Icc no afetam muito o comportamento do arco. Por isso, decidiu-se empregar um nvel equivalente corrente de soldagem, Icc = Im; o segundo seria Icc = 1.8 x Im e o maior como sendo Icc = 2.5 x Im. Nos dois ltimos casos, foram feitos arredondamentos para se obter valores mltiplos de 5. Os nveis para a velocidade de soldagem (Vsold) seriam uma funo do dimetro do eletrodo. Para aqueles de 2.5 e 3.25 mm adotaram-se as velocidades de 15.0; 20.0 e 25.0 cm/min, enquanto para os eletrodos de 4.0 mm empregam-se os nveis 20.0; 25.0 e 29.0 cm/min. Seleo da matriz experimental Resumindo, tem-se cinco fatores a trs nveis. Para este caso, optou-se por um arranjo ortogonal L27 (para at treze fatores a trs nveis). O emprego de uma matriz L27 possibilita a anlise de possveis interaes entre os fatores. Outro fator positivo ao se usar uma matriz ortogonal maior, com muitos graus de liberdade para os erros, que se pode julgar mais facilmente a aditividade dos efeitos dos diversos fatores sobre a resposta [03]. Empregando-se um procedimento subjetivo, os fatores dimetro-corrente (A), corrente de curto-circuito (B), tenso de referncia (C), tipo de eletrodo (D) e velocidade de soldagem (E), foram distribudos nas colunas 2, 7, 8, 1 e 4. Usando a tabela de interaes para esta matriz [03], as colunas 5 e 11 foram designadas para as interaes A x C, as colunas 3 e 12 para as interaes B x C, as colunas 9 e 10 para a interao C x D enquanto as colunas 6 e 13 para uma possvel interao entre E x C. A matriz experimental resultante apresentada na Tabela 1. As soldagens em CC+, de simples deposio na posio plana, com ngulo de avano do eletrodo de 15o puxando, foram realizadas em corpos de prova de ao ABNT 1020 com 150 x 50 x 6 mm. Empregou-se um simulador de soldagem automtica (SAS) para eliminar o fator soldador. A fonte usada foi uma multiprocesso chaveada no secundrio, de fabricao nacional. Esta fonte permite os ajustes independentes de Icc e Uref. Um sistema de aquisio de dados fazia medies instantneas dos valores da tenso e da corrente do arco (em 12 bits, freqncia de 9,7 kHz/canal, durante 5,7 segundos).

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Todas as medies foram realizadas no tempo correspondente a 15 s de soldagem. Foram determinadas a Taxa de Fuso Absoluta (TF = quantidade de eletrodo fundido, incluindo o revestimento, por unidade de tempo), a Produo (P = quantidade de material efetivamente incorporado solda, por unidade de tempo) e o Rendimento de Deposio (RD = relao entre a P e a TF, expresso em porcentagem). Resultados e discusso O mtodo de Projeto Robusto, como idealizado por Taguchi, tem por princpio otimizar a qualidade do produto pela minimizao da variao da suas respostas devido aos rudos (fatores no controlveis, ou de pequena importncia), enquanto maximiza a variao da resposta frente aos fatores de controle (fatores que so controlados ou ajustados pelo operador). Ou seja, o objetivo maximizar a razo denominada "S/N ratio" (signal factors/noise factors). Taguchi demonstra que a caracterstica da qualidade do produto (no caso a produo) mais bem representada na forma de transformadas que procuram a otimizao da razo S/N, considerando que o desvio da qualidade uma funo quadrtica e no funo degrau. Taguchi props diversas transformadas, de acordo com os objetivos. Uma delas a chamada funo "quanto maior melhor", expressa pela relao h = -10 log (1/n1/y2), onde h a transformada da resposta, y a resposta para cada condio de ensaio e n, o nmero de repetio do ensaio [03]. Anlise da Influncia dos fatores principais sobre a Produo Na Tabela 2 encontram-se os resultados das caractersticas medidas. Na Figura 1 verifica-se, atravs de grficos das mdias, a relao esperada entre cada fator principal e a Produo. Como se v, o tipo de eletrodo e a combinao dimetrocorrente mdia (D-I) so os fatores que mais influenciam a resposta, ou seja, alterao em seus nveis provoca uma variao na produo muito mais acentuada do que variaes da Vsold, da Icc e da Uref. Esta tendncia confirmada pela Anlise de Varincia apresentada na Tabela 3. O tipo de eletrodo e a combinao D-I explicam sozinhos cerca de 97,5% da resposta. Outros fatores no considerados na anlise (rudos) representam cerca de 2,0 % da resposta, sobrando muito pouco para a influncia da Vsold, Icc e Uref. Estes resultados poderiam levar concluso de que os ajustes da Icc e da Uref quase nada contribuem para a melhoria do desempenho da fonte, j que pouco afetam a varincia da resposta desejada. Mas, antes de se iniciar uma anlise dos dados usando a matriz ortogonal, preciso verificar se h interao marcante entre os fatores.
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Uma forma de verificar isto comparando graficamente dois fatores, como ilustrado na Figura 2. Este procedimento mostrou falta de interao ente os pares de fatores Elet x Uref, D-I x Icc e Vsold x Icc. Pequenas interaes, do tipo sinergstica (portanto tolerveis), foram encontradas para os pares Vsold x Uref, Elet x D Elet x Icc, D x Vsold. As nicas interaes -I, -I importantes, do tipo assinergstica, foram encontradas entre os pares D-I x Uref (pouca), Elet x Vsold (muita) e Icc x Uref (muita). Uma vez que o tipo de eletrodo um fator controlvel (no varia continuamente), pode-se considerar que as interaes no devem afetar a aditividade da resposta, e portanto, a matriz poderia ser usada para predizer a combinao (ou combinaes) que proporciona o mximo de produo. Porm, esta aditividade s pode ser confirmada comparando resultados estimados com valores reais. A Tabela 4 mostra o resultado comparativo em relao a 3 ensaios de confirmao (combinaes diferentes das usadas na matriz experimental). Como pode ser verificado, os resultados estimados deram muito prximo dos resultados mdios encontrados nos ensaios de confirmao. O maior desvio foi o do eletrodo E6013, mesmo assim com menos que 9% de erro. Deve-se lembrar que os ensaios de confirmao mostraram uma varincia de 2 a 4%. Uma vez que a faixa que se poderia encontrar para os valores estimados muito grande (faixa de valores estimveis), pode-se considerar os resultados bem satisfatrios. Alm disto, assumindo que o objetivo deste procedimento encontrar os fatores que mais afetam a varincia da resposta, no caso a produo (princpio bsico do Projeto Robusto), e no fazer previses de valores, est claro que o procedimento utilizado foi correto. Entretanto, pode-se explicar porque os fatores no explicam toda a resposta (falta de aditividade total). Como visto no procedimento experimental, a escolha da matriz experimental levou em considerao a possibilidade de haver algumas interaes entre os parmetros. Algumas colunas da matriz, deixadas em branco, permitem a existncia de interaes sem confundir com os fatores de controle. Como no havia possibilidade de se prever colunas vazias para todas possveis interaes, a escolha destas colunas foi feita conforme expectativas do projetista. No caso, as colunas 5, 3, 6 e 9 foram deixadas, respectivamente, para as interaes D-I x Uref, Icc x Uref, Vsold x Uref e Elet x Uref. Todas estas combinaes mostraram-se interativas pela anlise grfica, exceto a ltima.

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Infelizmente, no se havia previsto interao significativa entre Elet x Vsold, que pela anlise grfica mostrou-se importante. Esta pode ser a causa de no se ter alcanado a aditividade total. Este aspecto fica melhor explicado pela Tabela 5, em cuja anlise de varincia foram introduzidos os efeitos das interaes previstas. Como se v, as interaes Icc x Uref e D-I x Uref mostram ser significativamente importante na composio da resposta, apesar de baixo peso. Vsold tambm passou a ter significncia. O peso destes trs fatores juntos representa menos de 2% da resposta. Mas, o mais importante que a introduo destas interaes de fatores na anlise de varincia fez reduzir ainda mais o peso do erro, aumentando a confiabilidade da anlise (mesmo sem saturar o modelo). Concluindo, maior produo passa pela escolha correta do tipo de eletrodo e de um maior dimetro. Desta forma, poderia-se concluir agora pela no necessidade da incluso da regulagem do Icc e Uref no projeto do equipamento. Entretanto, dois aspectos deveriam ser analisados. Primeiro, poderiam os fatores que no mostraram significncia no controle da robustez contribuir para um acrscimo da resposta desejada? Segundo, poderiam estes dois fatores afetar outra caracterstica de qualidade? Quanto ao primeiro ponto, importante lembrar que, em Projeto Robusto, a modelagem precisa da resposta mdia no to importante como achar os nveis dos fatores de controle que otimizam a robustez. Isto porque, aps a varincia ter sido reduzida, a resposta mdia pode ser facilmente ajustada com a ajuda de um fator que pouco afeta a varincia [03]. A Tabela 6 mostra o quanto cada um dos fatores Icc e Uref poderia contribuir para o aumento da produo (tomou-se como base a combinao que fornece a maior produo para cada eletrodo, que independe do D-I, ou seja D-I = mximo, Vsold = mximo, Icc = mximo e Uref = mnimo, e a funo objetivo com transformada). Como se pode ver, existe uma contribuio individual, apesar de pequena. Entretanto, a otimizao dos dois fatores ao mesmo tempo j mostra um valor mais significativo, acima de 4%. Quanto ao segundo ponto, a gerao de respingo um fator importante na produtividade. No h vantagem em se aumentar a produo com maior gerao de respingos, j que a limpeza dos mesmos acarreta em tempo e custos. Tambm tem o efeito econmico, ou seja, quanto mais respingo, mais quantidade do eletrodo desperdiado (custo). Em soldagens com eletrodo revestido, a avaliao de respingos no uma tarefa fcil, j que juntamente com ele h perdas por escria e volatilizao do revestimento.
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Entretanto, o uso do rendimento de deposio pode ser considerado eficaz, j que para o ponto de vista econmico da produtividade, no se importa muito se parte do eletrodo comprado se perde por respingos ou por outro meio. Desta forma, o rendimento de deposio deve ser analisado como uma segunda caracterstica de qualidade. Anlise da Influncia Deposio dos fatores principais sobre o Rendimento de

Na Figura 3 percebe-se, atravs de grficos das mdias, a relao esperada entre cada fator principal e o rendimento de deposio. Como se v, o tipo de eletrodo e a combinao dimetro-corrente mdia (D-I) so novamente os fatores que mais influenciam a resposta, apesar de que a importncia do dimetro do eletrodo passa a ser maior. Esta tendncia confirmada pela Anlise de Varincia apresentada na Tabela 7, usando como transformada a funo "quanto maior melhor". Diferentemente da anlise para a produo, o efeito do erro significativo, indicando que h presena de fatores no controlados. Mas mesmo assim, o tipo de eletrodo e a combinao D-I explicam sozinho quase que 88% da resposta. A Tabela 8 mostra o resultado comparativo em relao aos ensaios de confirmao. Como pode ser verificado, os resultados estimados deram muito prximos dos resultados mdios encontrados nos ensaios de confirmao, o que credencia a aplicao deste procedimento para prever a influncia dos fatores sobre o rendimento de deposio. Novamente a questo se centra nas vantagens ou desvantagens da introduo ou no da regulagem do Icc e Uref no projeto do equipamento, j que a sua influncia pequena. A Tabela 9 mostra o quanto cada um dos fatores Icc e Uref poderia contribuir para o aumento do rendimento de deposio (tomou-se como base a combinao que fornece o maior rendimento de deposio para cada eletrodo, que independe do D ou seja D-I = Mdio, Vsold = -I, mnimo, Icc = mnimo e Uref = mnimo, e a funo objetivo com transformada). Como se pode ver, existe uma pequena contribuio individual e a otimizao dos dois fatores ao mesmo tempo mostra um acrscimo de 2.5 a 3% no rendimento de deposio.

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Discusso final e concluso Pelo menos para as condies de soldagem empregadas neste ensaio (posio plana, cordo sobre chapa, sem tecimento), o benefcio do uso do controle e ajuste de Icc e Uref pequeno, mas parece independer do tipo e dimetro de eletrodo. O melhor ajuste para Uref parece ser de 5V. Entretanto, o ponto timo de ajuste para Icc de Icc = 2.5 In, para se obter a mxima produo (justificvel pelo aumento da corrente mdia monitorada), e de Icc = In, para se obter o maior rendimento de deposio. Em um trabalho anterior [01] foi verificado que a produo e o rendimento de deposio pouco se alteram ao se soldar com uma mquina eletrnica com uso do controle de Icc em relao a uma fonte convencional. Apesar de no se conhecer o mtodo empregado pelo fabricante para este controle e nem os valores e Icc e Uref empregados, os resultados aqui apresentados parecem estar de acordo com os deste trabalho anterior. Ou seja, muito mais importante do que o equipamento de soldagem para se aumentar a produo e produtividade a escolha correta do tipo de eletrodo e dimetro, (concluso do presente trabalho) e do valor de corrente [01]. A verificao da influncia deste controle em outras condies de soldagem (juntas com chanfro, soldagens fora de posio e tecimento do cordo) poderia levar a resultados diferentes, e esta proposta objeto da continuidade deste trabalho. Pelos presentes dados, somente apresentando outras vantagens se justificaria o uso deste controle. E esta vantagem estaria no uso de uma Icc elevada para evitar a colagem do eletrodo, fato j verificado em equipamentos com esta capacidade [01]. Considerando esta vantagem e que a otimizao deste controle pode at melhorar um pouco as propriedades operacionais, o uso deste controle nos equipamentos uma questo apenas econmica do ponto de vista do custo do mesmo. Referncias bibliogrficas 1) SANTOS, Marcelo Gomes; FARIAS, Jesualdo Pereira; SCOTTI, Amrico. Comparison Between Inverter and Electromagnetic Power Sources for SMAW. In: SEVENTH INTERNATIONAL CONFERENCE FOR THE JOINING OF MATERIALS (1995: Helsingor, Denmark). Anais... Helsingor: International Association for Joining Materials, 1995.

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2) FARIAS, Jesualdo Pereira e DUTRA, Jair Carlos. Efeito do tipo de fonte de energia sobre a estabilidade do arco de eletrodos revestidos. In: XII CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA MECNICA (1993, Braslia). Anais... Braslia: ABCM, 1993. 3) PHADKE, M. S. Quality Engineering Using Robust Design. Prentice Hall, USA, 1989.

Tabela 1 - Planejamento experimental a partir de uma matriz ortogonal L27


Experimento 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 Eletrodo AWS 6013 6013 6013 6013 6013 6013 6013 6013 6013 7018 7018 7018 7018 7018 7018 7018 7018 7018 6010 6010 6010 6010 6010 6010 6010 6010 6010 D ( m m) - I (A) 2,50 - 80 2,50 - 80 2,50 - 80 3,25 - 115 3,25 - 115 3,25 - 115 4,00 - 155 4,00 - 155 4,00 - 155 2,50 - 85 2,50 - 85 2,50 - 85 3,25 - 130 3,25 - 130 3,25 - 130 4,00 - 167 4,00 - 167 4,00 - 167 2,50 - 78 2,50 - 78 2,50 - 78 3,25 - 110 3,25 - 110 3,25 - 110 4,00 - 140 4,00 - 140 4,00 - 140 Vsold (cm/min) 15,0 15,0 15,0 20,0 20,0 20,0 29,0 29,0 29,0 25,0 25,0 25,0 15,0 15,0 15,0 25,0 25,0 25,0 20,0 20,0 20,0 25,0 25,0 25,0 20,0 20,0 20,0 Icc (A) 80 145 200 115 210 290 155 280 390 215 85 155 325 130 235 420 167 300 140 195 78 200 275 110 250 350 140 U ref (V) 5,0 9,0 14,0 9,0 14,0 5,0 14,0 5,0 9,0 5,0 9,0 14,0 9,0 14,0 5,0 14,0 5,0 9,0 5,0 9,0 14,0 9,0 14,0 5,0 14,0 5,0 9,0

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Tabela 2- Resultados referentes s caractersticas medidas


Exp. N 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27
o

Im (A) 79 81 82 113 117 118 153 156 157 86 84 86 131 128 129 168 165 167 78 78 76 111 114 108 143 143 138

Um (A) 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 24 28 28 28 28 28 28 28 28 27

TF (kg/h) 0,98 1,00 1,05 1,53 1,63 1,64 1,99 2,02 2,11 1,03 1,06 1,08 1,54 1,58 1,58 1,84 1,80 1,79 1,02 1,06 1,00 1,47 1,55 1,44 1,84 1,97 1,81

P (kg/h) 0,61 0,62 0,65 1,02 1,07 1,10 1,24 1,32 1,28 0,62 0,69 0,66 1,01 1,05 1,04 1,11 1,16 1,12 0,68 0,71 0,68 1,08 1,16 1,08 1,30 1,4 8 1,30

RD (%) 62,2 62,0 61,9 66,7 65,6 67,0 62,3 65,3 60,7 60,2 65,1 61,1 65,6 66,4 65,8 60,3 64,4 62,6 66,7 67,0 68,0 73,5 74,8 75,0 70,6 75,1 71,8

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Tabela 3 - Anlise de Varincia para a produo usando a transformada


Eletrodo D-I Vsold Icc U ref Erro Total Gra u de Liberdade 2 2 2 2 2 16 26 SS 3,6745 153,6315 0,5235 0,2759 0,0803 3,4351 161.6207 MS 1,8372 76,8157 0,2617 0,1380 0,0402 0,2147 6,2162 F 8,5576 357,7951 1,2192 0,6426 0,1871 Razo-F (%) 2,27 95,06 0,33 0,17 0,05 2,13

Obs.: nmeros em negrito indicam que o F significante a 1%.

Tabela 4 - Comparao entre valores da produo estimados e experimentais (kg/h)


D-I (m m - A) Vsold (cm/min) Icc (A) U ref (V) Faixa de valores estimveis (todas combinaes) Valor estimado Valor encontrado E6013 4,00 - 155 20 390 5 0,62 a 1,31 1,24 0,07 1,36 0,03 E7018 3,25 - 130 15 235 9 0,54 a 1,25 0.99 0,06 0,94 0,02 E6010 4,00 - 140 20 140 5 0,65 a 1,37 1,32 0,07 1,37 0,06

Tabela 5 - Anlise de Varincia incluindo as interaes


Eletrodo D-I Icc x U ref Vsold D-I x U ref Vsold x Uref Icc Uref Elet x Uref Erro Total Gra u de Liberdade 2 2 2 2 2 2 2 2 2 8 26 SS 3,6745 153,6315 1,5640 0,5235 1,1941 0,2930 0,2759 0,0803 0,1203 0,2636 161.6207 MS 1,8372 76,8157 0,7820 0,2617 0,5970 0,1465 0,1380 0,0402 0,0601 0,0330 6,2162 F 55,7479 2330,8398 23,7290 7,9422 18,1162 4,4457 4,1859 0,2190 1,8247 Razo-F (%) 2,27 95,06 0,97 0,32 0,74 0,18 0,17 0,07 0,07 0,16

Obs: nmeros em negrito indicam que o F significante a 1%. O nmero grifado indica que o F significante a 5%.

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Tabela 6 - Clculo da contribuio de Uref e Icc no valor estimado da produo (Kg/h)


Eletrodo Max. valor estimado (U ref = 5; Icc = mximo) 1,29 1,25 1,38 Valor estimado com U ref = 14 e Icc = mximo 1,27 1,23 1,36 Contrib. Mxima. De U ref (%) Valor estimado com Icc = mdio e Uref=5 1,26 1,22 1,35 Contrib. Mxima. de Icc (%) Valor estimado com Icc = mdio e U ref=14 1,24 1,20 1,33 Contrib. Mxima. de Icc e U ref (%) 4,13 4,43 4,09

E6013 E7018 E6010

1,34 1,63 1,30

2,54 2,84 2,50

Tabela 7 - Anlise de Varincia para o rendimento de deposio (RD)


Eletrodo D-I Icc x Uref Vsold D-I x U ref Vsold x U ref Icc U ref Elet x U ref Erro Total Gra u de Liberdade 2 2 2 2 2 2 2 2 2 8 26 SS 6,2407 2,0852 0,1754 0,1278 0,2442 0,0113 0,0946 0,1249 0,0335 0,2271 9,3648 MS 3,1203 1,0426 0,0877 0,0639 0,1221 0,0056 0,0473 0,0625 0,0168 0,0284 0,3602 F 109,9156 37,7266 3,0893 2,2515 4,3010 0,1986 1,6670 2,1999 0,5904 Razo -F (%) 66,63 22,27 1,87 1,36 2,61 0,12 1,01 1,33 0,36 2,43

Obs: nmeros em negrito indicam que o F significante a 1%. Tabela 8 - Comparao entre valores estimados e experimentais para o rendimento de deposio (RD)
D-I (m m - A) Vsold (cm/min) Icc (A) U ref Faixa de valores estimveis (todas combinaes) Valor estimado Valor encontrado E6013 4,00 - 155 20 390 5 59,9 a 66,0 62,9 1,3 64.1 0,6 E7018 3,25 - 130 15 235 9 61,7 a 68,0 65.0 1,4 61.9 0.8 E6010 4,00 - 140 20 140 5 69,6 a 76,8 73,1 1,5 74.2 1,7

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Tabela 9 - Clculo da contribuio da Uref e da Icc no valor estimado do rendimento de deposio RD (%)
Eletrodo Max. valor estimado (U ref = 5; Icc = mnimo) 66,9 66,6 75,1 Valor estimado com Uref=14 e Icc= mn. 65,7 65,3 73,7 Contrib. Mxima. De Uref (%) 2.0 2.0 2.0 Valor estimado com Icc = mxim o e U ref=5 65,9 65,6 73,9 Contrib. mxima de Icc (%) Valor estimado com Icc = mxim o e U ref = 9 65,3 64,8 73,0 Contrib. Mxima. de Icc e U ref (%) 2,5 2,9 2,9

E6013 E7018 E6010

1,6 1,6 1,6

Figura 1 - Efeito dos fatores sobre a produo dos eletrodos

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Figura 2 - Ilustrao de interaes entre fatores principais, do tipo assinergstica (D-I x tipo de eletrodo) e sinergstica (Vsold x tipo de eletrodo)

Figura 3 - Efeito dos fatores sobre o rendimento de deposio (RD) dos eletrodos

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