Analizador de espectros AL3G.

Alejandra Landa Hernndez, Lorena Cruz Saldaa, Maria Guadalupe Hernndez Hernndez. Asesores: Gustavo Alonso Martnez Escalante, Maria Graciela Hernndez y Ordua. Instituto Tecnolgico Superior De Misantla. Km. 1.8 Carretera a Loma del Cojolite, C. P. 93821 Misantla, Veracruz. Resumen. El analizador de espectros AL3G es la elaboracin de un dispositivo que servir de apoyo para los estudiantes del Instituto Superior de Misantla en el aprendizaje de Matemticas. Que se elaborara a partir de una interfaz, capaz de captar seales mediante una tarjeta de adquisicin de datos para procesarla por un convertidor analgico-digital La seal convertida a datos digitales es almacenada en una memoria FIFO; despus los datos son correlacionados hasta obtener cada uno de los elementos necesarios de la funcin. El resultado de la correlacin es enviada a la computadora donde se realiza la transformada Rpida de Fourier. Los datos son desplegados por medio del programa de adquisicin y control del instrumento. Introduccin. El siguiente proyecto tiene la finalidad de desarrollar un dispositivo electrnico capaz de adquirir seales temporales del medio ambiente y mostrarnos su contenido espectral de potencia, este tipo de seal puede ser elctrica, acstica u ptica. Este tipo de dispositivos permite visualizar en pantalla todas las seales de manera simultnea, as como sus caractersticas principales como son potencia, frecuencia, ancho de banda, entre otros. El analizador de espectros proveer una grfica en funcin de la frecuencia y la seal de entrada, que podr ser expresada en unidades que considere el usuario. Para analizar esta problemtica es necesario mencionar sus causas, una de ellas es la visualizacin en pantalla de diferentes seales. Se entiende que por medio de la pantalla del analizador de espectro, se desea mostrar la seal espectral as como sus respectivas representaciones grficas. El Analizador de espectros-AL3G funcionar a travs de la transformada de Fourier ya que tiene una gran aplicacin en diferentes reas de la ingeniera y hace uso de los componentes espectrales de frecuencia de una seal dada, se puede optimizar el diseo de un sistema para la seal portadora del mismo. Planteamiento del problema. Todas las carreras de Ingeniera del Instituto Tecnolgico Superior de Misantla y dems dependencias tecnolgicas que en su momento llevan incorporado en el plan de estudio la materia de Matemticas V, pero solo se ve como una materia terica ms, en la que los alumnos no tienen conciencia de lo til que puede ser en nuestros das y en los amplios campos en los que se podra inmiscuir. Por ello es necesario que el alumno conozca la aplicacin de las Matemticas V, que van desde las

comunicaciones ms sencillas hasta las ms sofisticadas formas de comunicacin como el uso de la telefona, Internet entre otros. Todas las aplicaciones antes mencionadas tienen su principio en los analizadores de espectros, dispositivos con los cuales nuestra institucin por el momento no cuenta, debido al costo elevado de cada uno de ellos.Por lo cual nos hemos dado a la tarea de la construccin de dicho dispositivo que no solo va a facilitar la comprensin de las Matemticas V, sino que tambin de algunas materias ms. Desarrollo Matemtico. Se presenta la simulacin del analizador de espectros AL3G. El sistema se basa en la aplicacin de la funcin de correlacin a datos digitales. Sea f1(t) una seal real variante en el tiempo y f2(t)= f1(t) . La autocorrelacin de estas seales esta determinada por:
R11 ( = t( f( d ) f 1)1t ) t

seal f1(t) conduce al espectro de energa, lo cual es conocido como el teorema de Wiener-Khintchine. Descripciones de Proyecto. 1 1 MICROCON 0 F 0 TROLADOR I ADC DSP 1 F FPGA 1 O 1 1 0 0
OSCILA DOR

Figura 1: Arquitectura del Analizador De Espectros.

Este es el general figura 1 del analizador de espectros AL3G nos muestra cmo funciona este dispositivo primero una seal en el tiempo f( t) es captada por nuestro analizador, las seales deben ser elctrica por el momento, al ser captada por nuestro instrumento. Primero ser muestreada por nuestro adc apoyada de un oscilador que funciona a 40MGz el cual es nuestra base de tiempo, en lo que respecta a nuestra seal de entrada debe ser como mxima a 20MGz para que el teorema de muestreo se cumpla, el cual dice que la frecuencia de muestreo debe ser el doble de la frecuencia de entrada, en otras palabras multiplica la seal de entrada por un tren de pulsos.

Entonces la transformada de Fourier de la autocorrelacin de dos seales esta definida como: j (1) R1 ) d [ R1 ] = e ( 1

Desarrollando la ecuacin anterior :

R11( = [ )]

f (t) f(t
1 1

)e

j dtd

Haciendo un cambio de variable x = (t-), se tiene que = t-x as como d = -dx.

[ R11( )]= [ R11( )]=

f1(t)
1

f ( x)e
1 jt

j (t x )

dtdx
x j

f (t)e

dt f1 ( x)e

dx
2

[ R11( )]= F1( ) F1( = F ) ) 1( Es decir que la transformada de Fourier de la autocorrelacin de la

De esta manera la seal analgica original estar descrita por una serie de muestras, resultado del proceso de muestreo. Posteriormente el ADC convertir el muestreo a seales digitales. La seal convertida a datos digitales es almacenada en una memoria FIFO, que funciona como un buffer de almacenamiento con capacidad de 130Kbp a una frecuencia de entrada de igual al del oscilador en este caso de 40MGz y de la frecuencia de salida menor a la entrada. Despus estos datos son enviados a un microcontrolador que puede ser un PIC o un DSP o FPGA ah son correlacionados hasta obtener cada uno de los elementos necesarios de la funcin. El resultado de la correlacin es enviada a la computadora donde se realiza la transformada Rpida de Fourier. Los datos son desplegados por medio del programa de adquisicin y control del instrumento. Resultados. Usando matlab se hizo un programa para simular una aplicacin de la funcin de autocorrelacin a dos seales digitales. Dicho programa se basa en le siguiente diagrama de flujo.

Los resultados programa son

2 1 .5

obtenidos del los siguientes:

0 .5

-0 .5

-1

-1 .5

-2 2.1 2 .1 5 2 .2 2.25 2 .3 2 .3 5 2 .4 2 .4 5 2.5 2 .5 5 x 10

-5

Figura2: Seal vectores A y B.

contenida

en

los

Se gener una seal temporal la cual contiene dos seales senoidales de 2 y 10 MHz, muestreadas a 80 MHz.
1 0.8 0.6 0.4 0.2 0 -0.2 -0.4 -0.6 -0.8 -1

500

1000

1500

2000

2500

3000

3500

4000

4500

Figura 3. Autocorrelacin de la seal generada.

La figura 3, muestra la autocorrelacin de la seal generada, se puede observar el resultado es simtrico. Lo cual, ayudara mucho a la implementacin del algoritmo, debido a que al ser una funcin par, el nmero de operaciones que se tienen que hacer es solo la mitad, mejora la velocidad del proceso de autocorrelacin y a su vez reduce el nmero de datos necesarios para enviar a la computadora. Si aplicamos la transformada rpida de Fourier al resultado de la autocorrelacin tenemos el espectro de potencia de la seal medida.
0.25 0.2

Referencias. Tratamiento digital de seales, Principios, algoritmos y aplicaciones. John G. Proakis & Dimitris G. Manolakis, Tercera Edicion, Prentice Hall, Madrid 1998, ISBN:84-8322-000-8 Anlisis de Fourier. HWEI P. HSU Primera Edicin, Prentice Hall, Mxico 1998, ISBN: 968 444 356 0 Analisis Nmerico y Visualizacin Grfica con Matlab. Shoichiro Nakamura, Prentice Hall, Mexico, 1996; ISBN :0-13-051518-3 Fourier series and Boundary value problems James Ward Brown, Ruel V. Churchill McGraw Hill Sexta Edicin (2001). Fourier Optics an Introduction E. G. Steward Dover Publications, Inc. (2004) Segundo Edicin

0.15

0.1

0.05

0.5

1.5

2.5

3.5

4
7

x Figura 4. Transformada de Fourier10 de la autocorrelacin de la seal.

Los resultados obtenidos muestran la factibilidad del desarrollo y utilizacin del algoritmo diseado por medio de un sistema autocorrelador. La importancia del teorema de Wiener-Khintchine, en este tipo de dispositivos es de gran importancia ya que permite por medio de una cantidad relativamente pequea de datos de la seal bajo estudio, realizar un anlisis completo de la misma en el dominio de la frecuencia. Lo cual queda demostrado en nuestras simulaciones realizadas.

Mathematical methods for physicists and engineers Royal Eugene Collins Dover publications, Inc. (1999) Segunda edicin corregida The ALMA Correlator: Performance and Science Impact in the Millimetre/Submillimetre Baudry, Alain AA(University of Bordeaux, LAB, France; European ALMA Project Office, ESO) The Messenger, vol. 135, p. 5-12 (Msngr Homepage) 03/2009 ESO 2009Msngr.135....5B

On-The-Fly Observing System of the Nobeyama 45-m and ASTE 10m Telescopes. Sawada, Tsuyoshi; Ikeda, Norio; Sunada, Kazuyoshi; Kuno, Nario; Kamazaki, Takeshi; Morita, KohIchiro; Kurono, Yasutaka; Koura, Norikazu; Abe, Katsumi; Kawase, Sachiko; Maekawa, Jun; Horigome, Osamu; Yanagisawa, Kiyohiko AA(Nobeyama Radio Observatory, National Astronomical Observatory, 462-2 Nobeyama, Minamimaki, Minamisaku, Nagano 384-1305; sawada@nro.nao.ac.jp) AB(Nobeyama Radio Observatory, National Astronomical Observatory, 462-2 Nobeyama, Minamimaki, Minamisaku, Nagano 384-1305; Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency, 3-1-1 Yoshinodai, Sagamihara, Kanagawa 229-8510; Department of Astronomical Science, Graduate University for Advanced Studies, 221-1 Osawa, Mitaka, Tokyo 1818588) AC(Nobeyama Radio Observatory, National Astronomical Observatory, 462-2 Nobeyama, Minamimaki, Minamisaku, Nagano 384-1305; Mizusawa VERA Observatory, National Astronomical Observatory, 2-12 Hoshigaoka, Mizusawa, Oshu, Iwate 023-0861) AD(Nobeyama Radio Observatory, National Astronomical Observatory, 462-2 Nobeyama, Minamimaki, Minamisaku, Nagano 384-1305) AE(ALMA-J Project Office, National Astronomical Observatory, 2-21-1 Osawa, Mitaka, Tokyo 181-8588) AF(Nobeyama Radio Observatory, National Astronomical Observatory, 462-2 Nobeyama, Minamimaki, Minamisaku, Nagano 384-1305; ALMA-J Project Office, National Astronomical Observatory, 2-21-1 Osawa, Mitaka, Tokyo 181-8588) AG(Nobeyama Radio Observatory, National Astronomical Observatory,

462-2 Nobeyama, Minamimaki, Minamisaku, Nagano 384-1305; Department of Astronomy, Graduate School of Science, The University of Tokyo, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033) AH(Fujitsu Ltd., 19-3 Nakase, Mihama, Chiba, Chiba 261-8588) AI(Fujitsu Ltd., 1-9-3 Nakase, Mihama, Chiba, Chiba 2618588) AJ(Fujitsu Ltd., 1-9-3 Nakase, Mihama, Chiba, Chiba 261-8588) AK(Maekawa Co., Ltd., 8240-6078 Nishi-Ide, Oizumi, Hokuto, Yamanashi 409-1501) AL(Fujitsu Nagano Systems Engineering Ltd., 1415 Tsurugamidori-cho, Nagano, Nagano 380-0813) AM(Fujitsu Nagano Systems Engineering Ltd., 1415 Tsurugamidori-cho, Nagano, Nagano 380-0813) Publications of the Astronomical Society of Japan, Vol.60, No.3, pp.445455 (PASJ Homepage) 06/2008 PASJ (c) 2008: Astronomical Society of Japan 2008PASJ...60..445S http://www.home.agilent.com/agilent /product.jspx?nid=536902952.709579.00&cc=US&lc=e ng http://focus.ti.com/lit/ds/symlink/ads8 31.pdf http://www.coilcraft.com/pdfs/wbc.pd f http://www.foxonline.com/pdfs/f1100 elf.pdf