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Geofsica General 2012

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Trabajo Prctico N 22

Mtodos elctricos de prospeccin


1. Deducir la expresin para la resistividad aparente a de un medio semiinfinito
homogneo en funcin de la diferencia de potencial medida V y la corriente
inyectada en el terreno i para el dispositivo Wenner y para el dispositivo
Schlumberger (ver Anexo). Dibujar los esquemas de ambos dispositivos.
Nota: en el dispositivo Schlumberger, la hiptesis r >> a significa que se puede despreciar a
2

frente a r
2
cuando se hace el clculo de la resistividad.

2. Completar los datos faltantes en las siguientes tablas de mediciones realizadas con
dispositivos Wenner y Schlumberger.
Dispositivo Wenner Dispositivo Schlumberger
a (m) i (mA) V (mV) a (m) AB (m) MN (m) i (mA) V (mV) a (m)
2 26,2 61,5 4 1 4,2 13,5
5 53,8 66,8 10 1 9,8 45,9
13 56,4 68,2 26 1 115,0 33,2
32 178,0 19,1 64 10 69,0 8,3
40 9,4 19,0 80 10 12,2 42,5
65 165,0 17,1 130 10 156,0 66,8
80 289,0 10,8 160 10 187,0 7,1

3. Esquematizar en el siguiente grfico bilogartmico la curva de resistividad aparente
(CRA) que corresponde al dispositivo Schlumberger del ejercicio 2.


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4. a. Asumiendo que la siguiente curva fue obtenida con un dispositivo Schlumberger
(considerar al eje x, r = AB/2), determinar para el punto P1 el valor de V entre
los electrodos de potencial si se encontraban separados 1 m y la i fue 130 mA.
b. Si ahora se asume que la curva fue obtenida con un dispositivo Wenner
(considerar al eje x como a), determinar para el punto P2 el valor de i entre los
electrodos de corriente si la V registrada fue 40 mV.















5. El modelo utilizado para representar el semiespacio inferior a la ubicacin de un
dispositivo electrdico se constituye de un cierto nmero de capas planas
homogneas y horizontales. A partir de las curvas de resistividad aparente (CRA)
obtenidas en el campo se busca obtener este tipo de modelos determinando la
resistividad i y el espesor Ei de cada capa. La ltima capa es semiinfinita y slo se
determina la resistividad de la misma. El grfico de la resistividad de cada capa en
funcin de la profundidad recibe el nombre de curva de resistividad verdadera (CRV).
a. En la Figura 1 se presentan las CRA correspondientes a 4 mediciones distintas
(A, B, C y D), mientras que en la Figura 2 se muestran las CRV de los modelos
interpretados para estas curvas (M1, M2, M3 y M4). Determinar qu CRV se
corresponde con cada CRA y los parmetros de cada modelo interpretado
(espesor y resistividad de cada capa).
b. A partir de los modelos del inciso anterior, determinar hasta qu profundidad
es necesario perforar en cada uno de los lugares donde se realizaron los
perfilajes para encontrar agua de buena calidad si se supone que est en
aquellas capas con resistividad elctrica entre 40 y 90 m.

6. En los alrededores de La Plata se extrae agua de un acufero (el Puelche) que suele
presentar un espesor de 15-20 m y una resistividad de 30-40 m. Por encima se
encuentra una capa (el Pampeano) de menor resistividad ( 10 m) pero mayor
espesor ( 30 m). La capa ms superficial (suelo) es ms resistiva que el Pampeano.
En esta zona se hizo un sondeo elctrico vertical con un dispositivo Schlumberger y
la Figura 3 ilustra la CRA obtenida (curva azul). Tambin se grafica un modelo
interpretado (CRV) a partir de los datos (curva celeste) y la CRA que corresponde a
este modelo (curva verde). Sin embargo, debido a las ambigedades del mtodo se
sabe que, aunque ambas CRA son muy parecidas, el modelo es incorrecto. Qu
parmetro(s) del modelo est(n) mal?
P1
P2

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Figura 1


Figura 2


Figura 3

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V
B A
M N
i
r1 r2
r4 r3

Anexo

El objetivo de los mtodos elctricos de prospeccin es conocer el subsuelo a travs del estudio
de la resistividad () de las distintas capas. Este parmetro describe el comportamiento de un
material frente al paso de corriente elctrica, por lo que da una idea de lo buen o mal conductor
que es. En unidades del SI, la resistividad se mide en ohm metro (m).

Se define al ohm () como la resistencia elctrica que existe entre dos puntos de un conductor
cuando una diferencia de potencial constante de 1 voltio (V) aplicada entre estos dos puntos
produce, en dicho conductor, una corriente de intensidad 1 ampere (A), cuando no haya fuerza
electromotriz en el conductor.
2
3 2
V m kg
=
A s A
=


Se conoce como dispositivos o arreglos electrdicos a un conjunto de electrodos empleados para
realizar la estimacin de la resistividad aparente a travs del pasaje de una corriente elctrica por
el terreno y la medicin de la diferencia de potencial mediante un voltmetro. Cuando se utilizan
cuatro electrodos el dispositivo recibe el nombre de tetraelectrdico, y se emplean dos para el
pasaje de la corriente (A y B) y dos para medir la diferencia de potencial (M y N). Si se disponen
todos sobre una misma recta los dispositivos electrdicos reciben adems el nombre de lineales.
Para un medio semiinfinito y homogneo, la relacin entre los parmetros del arreglo y la
resistividad viene dada por:


1 2 3 4
1 1 1 1
2
i
V
r r r r

| | | |

=
` | |
\ \ )



donde V es la diferencia de potencial que se mide entre los electrodos M y N, la cual se genera
al circular una corriente i por el suelo (inyectada por los electrodos A y B). Si se mide la
diferencia de potencial, la corriente inyectada y las distancias entre electrodos, se puede conocer
la resistividad del terreno. En la realidad, el medio en el que se mide no es homogneo sino que
est conformado por varias capas de distintas resistividades. Por lo tanto se dice que lo que se
observa es una resistividad aparente, a.

Existen dos dispositivos clsicos en la prospeccin elctrica, los cuales son:
- Dispositivo Wenner: todos los electrodos estn separados por la misma distancia separados
entre s por la misma distancia a. Es decir, r1 = r4 = a y r2 = r3 = 2a.
- Dispositivo Schlumberger: los electrodos M y N estn separados por una distancia MN = a, y
los de corriente A y B por el doble de la distancia r = AO = OB (= AB/2) medida desde el
centro O del segmento MN y r >> a. Es decir r2 = r3 = r + a/2 y r1 = r4 = r a/2.
Si se grafica la resistividad aparente medida en funcin del parmetro geomtrico del
dispositivo electrdico (distancia r para el dispositivo Schlumberger y distancia a para el
dispositivo Wenner) se obtiene una curva de resistividad aparente (CRA). Esta curva se suele
representar en un grfico bilogartmico (ambos ejes estn en escala logartmica).

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B

V
i
A N
a a a
B
M V
i
A N
r
a

Respuestas

1. Wenner Schlumberger







2
a
V
a
i


=
2
a
r V
a i


=
2.
Dispositivo Wenner Dispositivo Schlumberger
a (m) i (mA) V (mV) a (m) AB (m) MN (m) i (mA) V (mV) a (m)
2 26,2 61,5 29,5 4 1 4,2 13,5 40,4
5 25,3 53,8 66,8 10 1 16,8 9,8 45,9
13 56,4 47,1 68,2 26 1 115,0 7,2 33,2
32 178,0 19,1 21,6 64 10 69,0 8,3 38,7
40 124,3 9,4 19,0 80 10 144,3 12,2 42,5
65 165,0 6,9 17,1 130 10 156,0 7,8 66,8
80 289,0 10,8 18,8 160 10 187,0 7,1 76,3

4. a. V = 4,65 mV
b. i = 251,3 mA

5. a. C1 M4 : 1 = 10 m E1= 8 m; 2 = 80 m E2 = 32 m; 3 = 500 m
C2 M3 : 1 = 70 m E1= 15 m; 2 = 45 m E2 = 60 m; 3 = 350 m
C3 M1 : 1 = 700 m E1= 25 m; 2 = 90 m E2 = 175 m; 3 = 20 m
C4 M2 : 1 = 15 m E1= 5 m; 2 = 150 m E2 = 65 m; 3 = 60 m
b. M1: hasta 25 m
M2: hasta 70 m
M3: superficie
M4: hasta 8 m