a. Describir todos los mtodos de medicin de tamao de grano para aleaciones ferrosas.

Existen tcnicas que especifican el tamao de grano en funcin del promedio del volumen, del dimetro o del rea del grano. Se puede calcular el tamao de grano utilizando el mtodo de interseccin: en varias fotomicrografas que muestran la estructura granular del material, se trazan lneas rectas de igual longitud y se cuenta la cantidad de granos atravesados por cada lnea. Luego, se divide la longitud de la lnea por el nmero medio de granos cortados por cada segmento. El dimetro medio del grano se obtiene dividiendo el resultado anterior por el aumento de las fotomicrografas. Otro mtodo, muy utilizado, es el mtodo de comparacin, desarrollado por la American Society for testing and Materials (ASTM). La ASTM tiene preparadas 10 cartas normalizadas con granos de diferente tamao medio de grano. Se le ha asignado a cada carta un ndice del 1 al 10, denominado ndice de tamao de grano; el mayor ndice se corresponde con el mayor tamao de grano. Para utilizar este mtodo, las probetas se tienen que preparar cuidadosamente para revelar la estructura granular fotografiada a 100X (aumentos). El tamao del grano se asigna por comparacin con el ndice de grano de la carta ms parecida a la fotomicrografa. Este mtodo es muy utilizado en siderurgia. Y el ltimo es el mtodo planimtrico: Es el ms antiguo procedimiento para medir el tamao de grano de los metales. El cual consiste en que un circulo de tamao conocido (generalmente 19.8 mm f, 5000 mm2 de rea) es extendido sobre una microfotografa o usado como un patn sobre una pantalla de proyeccin. Se cuenta el nmero de granos que estn completamente dentro del crculo n1 y el nmero de granos que interceptan el circulo n2 para un conteo exacto los granos deben ser marcados cuando son contados lo que hace lento este mtodo.

b. Determinar el tamao de grano, en mm de las micrografas que se reproduce en las figuras suponiendo un aumento de 100X por el mtodo de la interseccin media de una lnea.

Micrografa 1: Longitud de lnea: Nmero de granos por lnea: Lnea 1: 7 granos; lnea 2: 4 granos; lnea 3: 7 granos. Nmero medio de granos por lnea: Aumento: Dimetro medio de grano:

Micrografa 2: Longitud de lnea: Nmero de granos por lnea: Lnea 1: 10 granos; lnea 2: 7 granos; lnea 3: 12 granos. Nmero medio de granos por lnea: Aumento: Dimetro medio de grano:

c. En una fotomicrografa de un metal a 100X se calcul que el nmero medio de granos por pulgada cuadrada es 24. Calcular el nmero ASTM para el tamao del grano de esta aleacin. La asignacin del ndice del tamao de grano mediante las diferentes cartas se realiza como sigue. El ndice del tamao de grano se designa por n y el nmero medio de granos por pulgada cuadrada a 100 aumentos por N. ambos parmetros estn relacionados por la siguiente expresin:

Tengo como dato en nmero medio de granos por pulgada cuadrada:

por lo tanto,

Aplico logaritmo en ambos miembros y despejo n: ( ) ( ( ) ( ) ( )

) ( )

Nmero ATSM para el tamao del grano de la aleacin:

d. Teora de los defectos en las estructuras cristalinas (desde los puntuales hasta los volumtricos). Identificar los defectos cristalinos en las siguientes micrografas:

Teora de defectos en las estructuras cristalinas: Defectos de punto (sin elementos extraos):

El ms simple de los defectos puntuales es la vacante, o vacante de red, lugar normalmente ocupado por un tomo ahora ausente. Las vacantes se producen durante la solidificacin y 3

tambin como consecuencia de las vibraciones, que desplazan los tomos de sus posiciones reticulares normales. El nmero de vacantes crece exponencialmente segn la ecuacin: ( ) la

Donde N es el nmero total de lugares ocupados por tomos, es la energa de activacin, temperatura absoluta y es la constante de Boltzman (de los gases).

Un defecto autointersticial es un tomo en un cristal que se ha desplazado un lugar intersticial, un espacio vaco pequeo que normalmente no est ocupado. En los metales, estos defectos introducen distenciones relativamente grandes en los alrededores de la red debido a que los tomos suelen ser mucho mayores que los espacios intersticiales donde se sitan.

Figura 1: Defectos puntuales sin objetos extraos

Defectos de punto (con elementos extraos):

Se crea un defecto sustitucional cuando se reemplaza un tomo por otro de un tipo distinto. El tomo permanece en la posicin original. Cuando su tamao es mayor al de los dems tomos de la red, los tomos circundantes se comprimen; en cambio si son ms pequeos, quedan en distensin. Para que ocurra la sustitucin, los radios atmicos no deben diferir en un 15%, las estructuras cristalinas deben ser las mismas y las electronegatividades similares. Tambin pueden ocurrir defectos intersticiales, cuando tomos extraos (muchas veces llamados impurezas) llenan un vaci o los intersticios atmicos de la red cristalina. Para que esto ocurra, los dimetros atmicos de las impurezas intersticiales deben ser considerablemente menores que los de los tomos de la red.

Figura 2: Defectos puntuales con objetos extraos

Defectos lineales:

Una dislocacin es un defecto lineal o unidimensional en torno a algunos tomos alineados. Existen dos tipos bsicos de defectos lineales: La dislocacin de cua o de arista, que es un defecto lineal centrado alrededor de la lnea definida por el extremo del semiplano de tomos extra (figura 3). A veces se denomina dislocacin de lnea.

Figura 3: Dislocacin de lnea

Los tomos situados arriba de la dislocacin de lnea estn comprimidos, mientras que los situados abajo estn sometidos a traccin; eso se refleja en la ligera curvatura de los planos verticales de tomos, alrededor del semiplano extra. El semiplano tambin puede estar en la parte inferior del cristal y se designa como T. La distancia de desplazamiento de los tomos en torno a una dislocacin se llama vector de Burgers y es perpendicular a la lnea de dislocacin de cua. Otro tipo de dislocacin lineal, es la llamada dislocacin helicoidal. Se forma al aplicar un esfuerzo cizallante, como se ve en la figura 4:

Figura 4: Dislocacin helicoidal dentro de un cristal

La parte superior de la regin frontal del cristal desliza una unidad atmica a la derecha respecto a la parte inferior. Aqu el vector de Burgers o de desplazamiento es paralelo a la lnea de dislocacin. Las mayoras de las dislocaciones que existen en materiales cristalinos no son propiamente ni de cua ni de hlice, sino que presentan componentes de ambos tipos. De denominan dislocaciones mixtas. Defectos superficiales:

La superficie externa constituye uno de los lmites ms evidentes, se considera una imperfeccin puesto que representa el lmite de la estructura cristalina, donde termina. Los tomos de la superficie no estn enlazados con el mximo de vecinos ms prximos y, por lo tanto, se encuentran en un estado superior de energa que los tomos de las posiciones interiores. Otro defecto de superficie es el lmite de grano, es el lmite que separa dos pequeos granos o cristales que tienen diferentes orientaciones cristalogrficas en metales policristalinos (figura 5).

Figura 5: Lmites de grano

Son posibles varios grados de desalineamiento cristalogrfico entre granos vecinos. Cuando la diferencia de orientaciones es pequea (del orden de unos pocos grados), de denomina lmite de grano de ngulo pequeo (figura 6).

Figura 6: Lmite de grano de ngulo pequeo

Un lmite de macla es un tipo especial de lmite de grano a travs del cual existe una simetra de red especular; esto es, los tomos de un lado del lmite son como imgenes especulares de los tomos del otro lado (figura 7). La regin de material entre estos lmites se denomina macla. Las maclas se generan por desplazamientos atmicos producidos al aplicar fuerzas mecnicas cizallantes y tambin durante tratamientos trmicos. El maclaje ocurre en un plano cristalogrfico y direccin definidos, ambos dependen de la estructura cristalina.

Figura 7: Lmite de macla

Otros defectos superficiales son los fallos de apilamiento, lmites de fase y paredes de dominios ferromagnticos. Los defectos de apilamiento en FCC aparecen cuando se interrumpe la secuencia ABCABCABC de apilamiento de planos atmicos. Lis lmites de fase aparecen en materiales polifsicos donde aparece un cambio radican en las caractersticas fsicas y/o qumicas. En los materiales ferromagnticos y ferrimagnticos, los lmites que separan regiones que tienen diferentes direcciones de magnetizacin se denominan paredes de dominio.

Defectos de volumen:

Son defectos de tres dimensiones, distorsionan fuertemente la red. Por lo general, estn formados por agrupaciones de defectos puntuales. Los poros y grietas son huecos generados por la oclusin de gases, contracciones durante la solidificacin o tensiones causadas en el proceso de fabricacin de la pieza (figura 8). Las inclusiones se forman por la reaccin de impurezas proveniente de la materia prima, se clasifican por su origen, tamao y composicin qumica, se pueden observar (como puntos) en la figura 8.

Figura 8: Poros, grietas e inclusiones

Las otras fases fases secundarias se forman en las aleaciones metlicas debido a la disminucin de solubilidad de las soluciones slidas (figura 9).

Figura 9: Fases secundarias

Micrografa 1 Lmite de grano Maclas Inclusiones

Defectos identificados Micrografa 2 Poros

Micrografa 3 Lmite de grano Grieta Maclas Inclusiones

e. Indicar cules son los reactivos que se utilizan para macro y microataque qumico de muestras de aleacin de cobre, aluminio y aceros consultar normas ASTM E-340 y E407.

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f.

Describir el mtodo mediante el cual se determina el nivel de inclusiones. Clasificar las diferentes inclusiones no metlicas en las siguientes micrografas:

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CORRECCIONES
2. Determinar el tamao de grano, en mm de las micrografas que se reproduce en las figuras suponiendo un aumento de 100X por el mtodo de la interseccin media de una lnea. Micrografa 2: Longitud de lnea: Nmero de granos por lnea: Lnea 1: 10 granos; lnea 2: 7 granos; lnea 3: 12 granos. Nmero medio de granos por lnea: Aumento: Dimetro medio de grano:

6. Describir el mtodo mediante el cual se determina el nivel de inclusiones. Clasificar las diferentes inclusiones no metlicas en las siguientes micrografas: El acero contiene inclusiones no metlicas debido a la naturaleza del proceso de elaboracin en el estado lquido. Estas inclusiones pueden ser xidos, sulfuros, nitruros, carburos, etc. Segn la norma IRAM-IAS U500-126, para medir el nivel de inclusiones no metlicas estn el mtodo 1, 2 y 3. Para el mtodo 1 y 2 se utilizan lminas de referencia que muestran campos de observacin tipo. Se determina el nivel de inclusiones a partir de la comparacin de la probeta con imgenes tipo de las lminas Jernkontoret (lminas JK). Las imgenes correspondes a campos de visin de 0,8mm de dimetro tomados de un corte longitudinal y con un aumento de 100X. El mtodo 3 es para inclusiones no metlicas en aceros laminados o forjados utilizando laminas de referencia que muestran campos de observacin tipo, y se entiende que las inclusiones microscpicas tienen un rea de 0,03mm2 sobre la superficie pulida, y son de un corte longitudinal con un aumento de 100X. Inclusiones no metlicas en micrografas: a. Sulfuros de magnesio. b. xidos de aluminio. c. Silicatos complejos de hierro. d. No se puede determinar ya que el corte es transversal.

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