Vous êtes sur la page 1sur 7

UNIVERSIDAD AUTONOMA DE NUEVO LEON

FACULTAD DE INGENIERIA MECANICA Y ELECTRICA

LABORATORIO FISICA MODERNA

LABORATOR

IO FISICA IV

ESTUDIO DEL FENMENO DE DIFRACCIN DE LA LUZ

DIEGO ARMANDO MUOZ PERALES

MATRICULA : 1612119 BRIGADA : 604

DRA. NORMA ESTHELA FLORES MORENO

4 DE MAYO DEL 2013

ESTUDIO DEL FENMENO DE DIFRACCIN DE LA LUZ


OBJETIVO Observar las caractersticas del patrn de difraccin por una rendija y determinar el ancho de una rendija a partir de la medicin de la posicin de los mnimos de la intensidad. MARCO TERICO

En algunos fenmenos pticos la luz se comporta como una onda electromagntica. Estos son los fenmenos de interferencia, difraccin y polarizacin. En sta prctica estudiaremos el caso de la difraccin de la luz en rendijas. La difraccin puede definirse como: La desviacin de la propagacin rectilnea de la luz en las cercanas de un objeto opaco. La difraccin puede ocurrir en diversos objetos que se interpongan en la trayectoria de la luz como: rendijas, objetos circulares, agujeros, etc. Sin embargo aunque el fenmeno puede ocurrir en ocasiones no podemos observarlo claramente debido a que los efectos que produce son poco apreciables. Cuando se observan los efectos de la difraccin se podr apreciar que la no es una lnea recta, como ocurra en los casos estudiados en la ptica Geomtrica, y adems se podrn apreciar zonas de mayor iluminacin (llamados mximos de intensidad) y zonas de mnima iluminacin (llamados mnimos de intensidad). El fenmeno de difraccin tiene gran utilizacin prctica entre las cuales podemos mencionar la determinacin de las medidas de objetos o aberturas muy pequeas, tan pequeas que no es posible

medirlas directamente, utilizando las caractersticas del patrn de difraccin que se obtiene al interactuar la luz con este objeto. De la misma forma pueden determinarse las caractersticas algn objeto o superficie observando las propiedades del patrn de difraccin obtenido. Por ejemplo esta tcnica es utilizada para determinar la calidad del procesamiento mecnico realizado a superficies metlicas.

DESARROLLO: Para esta prctica de laboratorio se utilizar como fuente de luz un lser de He-Ne, por lo cual los estudiantes deben leer atentamente, antes de realizar la prctica, las medidas de seguridad orientadas para el trabajo con ste equipo. Este lser emite luz visible de color rojo con una longitud de onda de 632.8nm y una potencia de 1.5mw.

El esquema bsico de la instalacin experimental para la realizacin de esta practica se muestra en la figura :

Para mostrar una de las aplicaciones que tiene el fenmeno de la difraccin utilizaremos el mismo para calcular el ancho de las rendijas. Para realizar esta tarea debe seleccionar una de las rendijas. Para realizar esta tarea debe seleccionar una de las rendijas que tiene la dispositiva, a la cual le va a determinar su ancho. La frmula que permite calcular la posicin de los mnimos de difraccin en el patrn producido por una rendija tiene la forma: aSen =+ m donde:
a.- ancho de la rendija .- ngulo de la direccin en la cual se encuentra el mnimo, segn el esquema .- longitud de onda de la luz del lser ya conocida. m.- nmero entero que da el orden del mnimo, contando a partir del centro del patrn y que es igual a 1,2, 3, etc.

El ngulo se puede determinar por medio del siguiente esquema:

HIPTESIS: La hipotesis planteada en la mesa de trabajo fue la siguiente ;la difraccin es un elemento caracterstico de las ondas al momento de propagarse y se encuentra algn objeto como obstculo se desviaran. En datos ledos anteriormente nos dice que la difraccin ocurre en todo tipo de ondas desde ondas sonoras hasta ondas en los fluidos por lo tanto al momento de ponerse de obstculo la rejilla se propagaran las ondas desviando el punto obstruido y amplificara las ondas . MEDICIONES a = ancho de rejilla 1nm= 1X 10 -9 m L=860mm a = .02mm =632.8nm =.0006328 mm m= 1

CALCULOS
aSen =+ m a= _m _ Sen tg =_ x_ L =tan-1 X L

CONCLUSIONES
Concluya acerca de las caractersticas del fenmeno observado

Haga un listado de las caractersticas que sealo del patrn de disfraccion de una rendija . demuestre algunas de estas caractersticas mediante el grafico de intensidad de la luz en funcin de la posicin en la pantalla . en el centro del patrn hay un minimo o un mximo de intensidad?

Concluya acerca de cmo cambiaron las caractersticas del patrn al modificar el ancho de la rendija .Al hacer mas estrecha la rendija el patrn se acerco o se alejo del centro ?

Explique este hecho utilizando la formula de la posicin de los minimos de disfraccion en una rendija dada arriba .

Comente acerca del mtodo utilizando para determinar el ancho de la rendija . considera el mtodo adecuado . Por qu resulta mas fcil determinar las dimensines de objetos pequeos?

Si en lugar de una sola rendija se situara en el haz del laser dos rendijas estrechas y muy cercanas Cmo cree UD seria el patrn que se observara ?Qu nuevo fenmeno tiene lugar en este caso ?

EXTRA

En fsica, la difraccin es un fenmeno caracterstico de las ondas que se basa en la desviacin de estas al encontrar un obstculo o al atravesar una rendija. La difraccin ocurre en todo tipo de ondas, desde ondas sonoras, ondas en la superficie de un fluido y ondas electromagnticas como la luz visible y las ondas de radio. Tambin sucede cuando un grupo de ondas de tamao finito se propaga; por ejemplo, por causa de la difraccin, un haz angosto de ondas de luz de un lser deben finalmente divergir en un rayo ms amplio a una cierta distancia del emisor.

Comparacin entre los patrones de difraccin e interferencia producidos por una doble rendija (arriba) y cinco rendijas (abajo). La interferencia se produce cuando la longitud de onda es mayor que las dimensiones del objeto, por tanto, los efectos de la difraccin disminuyen hasta hacerse indetectables a medida que el tamao del objeto aumenta comparado con la longitud de onda.