Abstract

La Difraccin de Rayos X est basada en las interferencias pticas que se producen cuando una radiacin monocromtica atraviesa una rendija de espesor comparable a la longitud de onda de la radiacin. Los Rayos X tienen longitudes de onda de Angstroms, del mismo orden que las distancias interatmicas de los componentes de las redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a analizar, los Rayos X se difractan con ngulos que dependen de las distancias interatmicas. El mtodo analtico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste en irradiar con Rayos X sobre una muestra formada por multitud de cristales colocados al azar en todas las direcciones posibles. Para ello es aplicable la Ley de Bragg: n = 2d. sen.

X-ray diffraction is based on the optical interference which occur when monochromatic radiation passes through a slit of thickness comparable to the wavelength of the radiation. Xrays have wavelengths Angstroms, the same order as the interatomic distances of components of the crystal lattices. By being irradiated onto the sample to be analyzed, the X-rays are diffracted at angles that depend on the interatomic distances. The analytical method Random Dust or Debye-Scherrer is irradiated with X-rays on a sample of many crystals placed randomly in all possible directions. This applies Bragg Law: n = 2d. sen.

DIFRACCION DE RAYOS X
1. Objetivos(s).

Comprobar la ley de Bragg Identificar la naturaleza ondulatoria de los Rayos X Explicar la Difraccin de los Rayos X

2. Marco terico

La difraccin es un fenmeno caracterstico de las ondas que consiste en el curvado y esparcido de estas al encontrarse con un obstculo, si este obstculo es de un tamao comparable a la longitud de onda entonces se presentara interferencia. Para los rayos X los slidos en estado cristalino funcionan como rendija de difraccin, pues la distancia entre los diferentes planos atmicos del cristal es comprable a la longitud de onda de estos (ente 10 y0,1 nm). Y segn la ley de Bragg cuando estos inciden a diferentes ngulos se da la difraccin con una interferencia constructiva para cierta longitud de onda del espectro generado. Ley de Bragg:

Donde des la distancia entre los diferentes planos atmicos del cristal;

el ngulo en el cual inciden los rayos sobre el cristal,

nun entero positivo correspondiente a los rdenes de difraccin, y

la longitud de onda para la cual la interferencia es constructiva en este determinado ngulo. Valor terico de la distancia entre las capas del cristal de NaCl: d = 282,01pm.

Valor terico de la longitud del lado de la celda cubica del cristal de LiF: a o= 407,2pm. Valores tericos para las longitudes de onda caractersticas del molibdeno (Mo): K =71,08pm; K

= 63,09pm

3. Materiales y equipos.

Aparato bsico de rayos X Tubo de rayos X Colimador con diagrama de rendija Porta muestras Mesa giratoria Escala goniomtrica Filtro de zircn Monocristal de NaCl o Lif Tubo contador para rayos Indicador de Valor se medio Contador digital

4. Procedimiento

4.1. Introduzca en la abertura de salida de los rayos x el colimador con diafragma de rendija para limitar a un estrecho haz de rayos x. En el curso de este, colocar el filtro de zirconio para monocromatizar la radiacin, es decir, permitir el paso de la radiacin K de molibdeno: =0.71 x 10 m
-10

4.2. Colocar el monocristal sobre la mesa giratoria y sujetarlo entre esta y el porta muestras.

4.3. Conectar convenientemente el tubo contador en su respectivo soporte. Empujar la escala goniomtrica hasta el tope derecho. Soltar el acoplamiento entre los ejes de giro para la muestra de cristal y para el portador del tubo contador en el tornillo moleteado. Colocar ambos indicadores, del gonimetro y del tubo contador, de tal forma que las puntas de los indicadores, indiquen exactamente sobre el punto cero de la escala angular. Luego acoplar entre si los ejes a travs del tornillo moleteado.

4.4. Conectar correctamente el indicador de valor medio en los valores U=460 V y f=1000imp/s e igualmente el contador digital en 1s, sensibilidad>1.5 Vss y posicin start.

4.5. Verificando esta operacin, encender el aparato de rayos X, colocar el tiempo de funcionamiento en una hora. Encender la alta tensin. Pasar el selector de alta tensin a la posicin 7 y el selector de corriente de emisin a la posicin 1mA

4.6. Colocar la disposicin del cristal giratorio sobre el ngulo de cristal =3 (indicador
o

corto) y medir el nmero de impulsos de 1s, por lo menos 3 veces.

4.7. Aumentar al ngulo en pasos de 0.5 hasta los 30 y medir cada vez el nmero de
o o

impulsos.

4.8. Registre los datos en la hoja tcnica

TABULACION DE DATOS

Con los datos obtenidos, resmalos en el siguiente cuadro de valores:

Cristal: Fluoruro de Litio Inclinacin del cristal Impulsos N S-1 72 7 26 56 46 34 47 554 68 3.0 4.0 5.0 6.0 7.0 8.0 9.0 10.0 11.0

12.0

13.0

14.0

15.0

16.0

17.0

18.0

19.0

20.0

21.0

22.0

38

31

20

16

15

18

15

15

13

44

15

23.0

24.0

25.0

26.0

27.0

28.0

29.0

30.0

14

13

12

11

13

PREGUNTAS
A. Construya un grfico Impulsos Inclinacin del cristal y efecte un estudio de l.

Impulsos - Inclinacion del cristal

600 500 Impulsos 400 300 200 100 0 0 5 10 15 20 25 30 35 Inclinacion del cristal

ANLISIS
Mediante la grfica podemos darnos cuenta donde se producen los mximos y mnimos y a qu grado se producen

B. Analticamente demuestre los mximos en base a la ecuacin de Bragg considerando los siguientes datos:

CRISTAL 2d(pm)

NaCl 593.94

liF 402.76

Cristal:

LiF

2d:

402,76x10-12m

Siendo que para =13 el mximo de impulsos fue 12: ( )

El valor terico de

el error porcentual ser:

C. Explique el razonamiento que permiti a W.L. Bragg explicar la difraccin de Rayos X

Bragg al ver que para algunas longitudes de onda muy cortas no era posible construir una rejilla de difraccin con una distancia d tan pequea para las longitudes de onda de rayos x del orden de 0.1 nm, distancia que ya era localizada entre tomos, propuso usar a los tomos de los cristales como rejillas de difraccin, debido a que los cristales posean esa distancia . Para un haz de rayos x, los espacios regulares entre los tomos de un cristal, constituyen una rejilla de difraccin tridimensional. Los rayos x se reflejan de los tomos individuales en todas direcciones, pero solo en una de las ondas secundarias interferirn constructivamente para producir un haz reflejado.

D. Por qu en la difraccin de Rayos X se mide el ngulo entre el rayo incidente y la cara del cristal y no la normal a la cara, que se usa para explicar la reflexin?

Debido a que mientras se toman las medidas de los ngulos reflejados se pueden medir los mximos de intensidad producidos por las interferencias constructivas de las longitudes de onda.

E. Por qu se admite que el rayo dispersado, abandona la superficie formando un ngulo igual al de incidencia. Qu pasara si no fuera si?
Debido a que cuando el rayo choca debe tener cierto tipo de ngulo para conservar la cantidad de energa, si no de lo contrario la longitud de onda no seria pequea

F. Explique en que consiste la reflexin la difraccin y la dispersin. REFLEXION .- Se refiere al fenmeno por el cual un rayo de luz que incide sobre
una superficie es reflejado. El ngulo con la normal a esa superficie que forman los rayos incidente y reflejado son iguales. Se produce tambin un fenmeno de absorcin diferencial en la superficie, por el cual la energa y espectro del rayo reflejado no coinciden con la del incidente.

DIFRACCIN.- es un fenmeno caracterstico de las ondas que consiste en la

dispersin y curvado aparente de las ondas cuando encuentran un obstculo. La difraccin ocurre en todo tipo de ondas, desde ondas sonoras, ondas en la superficie de un fluido y ondas electromagnticas como la luz y las ondas de radio. Tambin sucede cuando un grupo de ondas de tamao finito se propaga; por ejemplo, por causa de la difraccin, un haz angosto de ondas de luz de un lser deben finalmente divergir en un rayo ms amplio a una distancia suficiente del emisor.

DISPERSIN.- Es el fenmeno por el cual un conjunto de partculas que se mueve

en una direccin determinada rebota sucesivamente con las partculas del medio por el que se mueve hasta perder una direccin privilegiada de movimiento.

G. An cuando la ecuacin de Bragg, para el retculo de difraccin cristalino, es parecido a la ecuacin para los retculos planos, es sustancialmente diferente. Explique por qu?
Porque usa en sustitucin de la rejilla de difraccin, a los tomos en un cristal ya que las distancias d entre ellos cumplan las exigencias para las longitudes de onda mnimas en los rayos x.

H. Explique el mecanismo de difraccin propuestos por Debye y Scherrer

El mecanismo que utilizaron para el experimento fue usar el polvo de un cristal, ya que es lo mismo girar el cristal que pulverizarlo, puesto se necesita incidir los rayos x en cualquier direccin.

I. Como se explica que las mediciones de difraccin de Rayos X sirvan para determinar la longitud de onda del haz de Rayos X y a partir de aqu se utilice para determinar la estructura de un solido
Esto se explica ya que solo para ciertos ngulos las ondas difractadas van a tener una interferencia constructiva, y al conocer las distancias entre tomos se puede, utilizando la ley de Bragg, obtener la longitud de onda de los rayos x. Para determinar la estructura de un cuerpo se hace un proceso similar solo que ahora lo que conocemos la longitud de onda.

CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES
Se pudo comprobar experimentalmente que la ley de Bragg se cumple. Al chocar una onda con un cristal cuyo espacio entre planos sea comparable con la longitud de onda esta se difractara Los Rayos X producen gran cantidad de radiaciones, se deben tomar ciertos consideraciones al realizar esta practica

 La longitud de onda de los rayos X es mucho menor que la longitud de onda que es producida por la luz visible

BIBLIOGRAFA
Fsica Universitaria - Zemasnky George Gamow. Biografa de la Fsica. Alianza Editorial.1980. Hey, T & Walter Patrick. El Universo Cuntico, Alianza Editorial. 1989. http://es.wikipedia.org/wiki/Ley_de_Bragg http://es.wikipedia.org/wiki/Difracci%C3%B3n_de_rayos_X