Tema 5

INTRODUCCIN A LA FIABILIDAD

ESTRUCTURA DEL TEMA

1. Introducci on 2. Funci on de abilidad 3. Funci on tasa de fallos 4. Modelos en abilidad 4.1. Modelo exponencial 4.2. Modelo de Weibull 5. Fiabilidad de sistemas 5.1. Sistemas en serie 5.2. Sistemas en paralelo 5.3. Sistemas mixtos

1. INTRODUCCIN
Para un empresario industrial es fundamental observar el comportamiento de los productos fabricados. Sobre todo, interesa estudiar las causas por las que los productos fallan, los efectos que producen los fallos y los aspectos de diseno, fabricaci on y mantenimiento que pueden afectar a los fallos. Uno de los objetivos en la industria es disenar y mantener un producto de forma tal que dure el mayor tiempo posible.

1. INTRODUCCIN
El concepto m as simple de abilidad es aquel que comprueba que el producto cumple ciertas especicaciones y, cuando e sto ocurre, es enviado al cliente. El cliente, por su parte, acepta que el producto puede fallar con el paso del tiempo y, en algunos casos, el periodo de garant a es una forma de prever esta posibilidad a corto plazo. Evidentemente, fallos continuados, incluso durante el periodo de garant a, producen altos costes tanto al proveedor como al comprador, y e sto sin considerar la probable p erdida de imagen de la empresa fabricante.

1. INTRODUCCIN
Todo e sto conduce a la necesidad de considerar un control de calidad basado en el tiempo. El control de calidad habitual, o de inspecci on, no tiene continuidad temporal: el producto pasa un control o no lo pasa. Pero no garantiza que vaya a fallar pasado un cierto tiempo. El estudio de fallos de los productos en el dominio del tiempo es el campo de la abilidad.

1. INTRODUCCIN
Denici on de abilidad: Capacidad de los productos o servicios de comportarse en la forma requerida bajo condiciones establecidas y durante un tiempo determinado. Dicho de otro modo: permanencia de la Calidad de los productos o servicios a lo largo del tiempo.

1. INTRODUCCIN
Diferencias entre calidad y abilidad: La calidad garantiza que el producto sale de f abrica en buenas condiciones. La abilidad garantiza que el producto permanezca en buenas condiciones durante un periodo razonable de tiempo. Evidentemente, la calidad de un producto contribuye a la abilidad del mismo.

1. INTRODUCCIN
La calidad carece de la dependencia temporal de la abilidad. Esta dependencia temporal introduce una incertidumbre en la denici on de abilidad, es decir, saber si un producto funcionar a a lo largo de un periodo de tiempo es una cuesti on de PROBABILIDAD.

2. FUNCIN DE FIABILIDAD
Sea T la variable aleatoria que representa el tiempo de fallo, tiempo de vida, tiempo de duraci on o tiempo de funcionamiento de un determinado producto. Ejemplos: Duraci on de un componente el ectrico. Supervivencia de un paciente a un tratamiento. Tiempo que una persona est a desempleada. Vida de una persona en un determinado pa s.

2. FUNCIN DE FIABILIDAD
T es una variable aleatoria positiva y continua. Si notamos por f a su funci on de densidad y por F a su funci on de distribuci on, tenemos que: F (t) = P (T t) =
t 0

f (x)dx

2. FUNCIN DE FIABILIDAD
La funci on de abilidad (Reliability Function) de dicho producto en un tiempo t se dene como la probabilidad de que dicho producto funcione m as all a del tiempo t, y se suele denotar por R(t). As , R(t) = P (T > t) = 1 P (T t) = 1 F (t) o R(t) = P (T > t) =
t

f (x)dx = 1

t 0

f (x)dx

Teniendo en cuenta las anteriores igualdades: R (t) = F (t) = f (t)

2. FUNCIN DE FIABILIDAD
Ejemplo: Las siguientes funciones representan las abilidades, en miles de horas, de dos tipos de dispositivos A y B.
1.0

0.8

0.6

0.4

0.2

0.5

1.0

1.5

2.0

2.5

3.0

Cu al de los dos dispositivos es m as able?

2. FUNCIN DE FIABILIDAD
Ejemplo: Y si las funciones de abilidad, en miles de horas, de los dispositivos A y B fuesen las de la gr aca siguiente.
1.0

0.8

0.6

0.4

0.2

0.2

0.4

0.6

0.8

Cu al de los dos dispositivos es m as able?

3. FUNCIN TASA DE FALLOS

La funci on de abilidad se complementa con la funci on tasa de fallos. La funci on tasa de fallos (hazard rate) se dene como: P (t T < t + t | T t) f (t) (t) = lim = t0 t R(t) y representa la velocidad a la cual se producen los fallos en el instante t, es decir, la proporci on de fallos por unidad de tiempo. Es una medida de lo propenso que es el dispositivo a fallar en funci on de su edad.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS

Teniendo en cuenta que F (t) = f (t) R(t) = 1 F (t) R (t) = f (t), la tasa de fallos la podemos calcular de cualquiera de las siguientes formas: f (t) f (t) F (t) (t) = = = R(t) 1 F (t) R(t) F (t) R (t) R (t) = = = 1 F (t) R(t) 1 F (t)

3. FUNCIN TASA DE FALLOS

Conociendo la funci on de densidad, funci on de distribuci on o funci on de abilidad podemos calcular la tasa de fallos. C omo podemos calcular cualquiera de ellas a trav es de la tasa de fallos? Tendremos que resolver la siguiente ecuaci on diferencial: R (t) d(log R(T )) (t) = = R(t) dt R(t) = e Como

t 0

(x)dx

f (t) (t) = f (t) = (t) e R(t)

t 0

(x)dx

3. FUNCIN TASA DE FALLOS: Gracas

En principio cualquier tasa de fallos puede ser adecuada dependiendo del modelo a estimar. Nos podemos encontar tasas de fallo constantes crecientes decrecientes combinaciones de las anteriores dependiendo del producto observado.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS: Gracas

TASA DE FALLOS CONSTANTE:
4

0 0 2 4 6 8 10 12

La probabilidad de fallo instant aneo es la misma a lo largo del tiempo, por tanto, no tiene memoria. Los fallos se producen de forma aleatoria a lo largo del tiempo. Ejemplos: duraciones de un fusible o de un motor Diesel.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS: Gracas

TASA DE FALLOS CRECIENTE:
15

10

0 0.0 0.5 1.0 1.5 2.0

La tasa de fallos creciente indica que la probabilidad de fallo inmediato, teniendo en cuenta que el componente est a funcionando, se incrementa a medida que pasa el tiempo. Surge por desgastes y fatigas, es decir, por un proceso de envejecimiento.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS: Gracas

TASA DE FALLOS DECRECIENTE:
10 8

10

12

14

Se observa en productos cuya probabilidad de fallo es menor cuando aumenta el tiempo de supervivencia. Esto aparece a menudo en algunos tipos de productos: al principio de su funcionamiento la probabilidad de fallo es alta debido a la existencia de posibles defectos ocultos. Ejemplo: supervivencia a intervenciones quirurgicas.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS: Gracas

CURVA DE BANERA (bathtub curve)
Es una curva de tasa de fallo habitual en muchos procesos industriales.

Presenta tres zonas: Zona de tasa de fallos decreciente: zona de mortalidad infantil o de fallos precoces. Zona de tasa de fallos constante: zona de vida util. Zona de tasa de fallos creciente: zona de desgaste o de fallos por envejecimiento.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS

PERIODOS DE GARANTA Y ENSAYOS ACELERADOS Cuando la tasa de fallo del elemento responde a la curva de la banera es conveniente realizar un ensayo acelerado del mismo (en condiciones de stress) para que supere la zona de mortalidad infantil. La empresa se enfrenta a un problema: Sus productos tienen mayor posibilidad de fallo en los primeros momentos de funcionamiento debido a la existencia de defectos ocultos. Sin embargo, la empresa no puede detectar f acilmente estos fallos.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS

PERIODOS DE GARANTA Y ENSAYOS ACELERADOS
Posibilidad interesante: determinar cuando comienza la vida util del producto y ofrecer a los clientes una garant a de funcionamiento durante ese periodo de funcionamiento problem atico. Una vez superado el periodo cr tico, la empresa est a razonablemente segura de que el producto tiene una posibilidad de fallos reducida.

15

Si la tasa de fallos, en cientos de horas, de un determinado producto es la de la gura, la empresa garantizar a el producto durante al menos, 400 horas.

10

10

12

14

3. FUNCIN TASA DE FALLOS

PERIODOS DE GARANTA Y ENSAYOS ACELERADOS
Algunas empresas est an desarrollando estrategias comerciales basadas en ampliar el periodo de garant a a la vida util del producto. Si un producto tiene una tasa de fallos muy baja durante su vida util, como es muy probable que el producto empiece a fallar cuando alcance la zona de desgaste, la empresa puede prolongar a muy bajo coste la garant a incluyendo una importante parte de la zona util del producto, resaltando que el producto es muy able. Estrategia para coches, electrodom esticos, etc.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS

PERIODOS DE GARANTA Y ENSAYOS ACELERADOS Algunos productos, sin embargo no pueden fallar: Componentes clave de determinados procesos como por ejemplo v alvulas de centrales nucleares, aviones, mecanismos de seguridad, etc, no pueden tener problemas en los primeros momentos de su aplicaci on que ocasionen una tasa de fallos decreciente. Una posibilidad en estos casos: Probar el componente sometido a condiciones l mite.

3. FUNCIN TASA DE FALLOS

PERIODOS DE GARANTA Y ENSAYOS ACELERADOS Por ejemplo, si una v alvula en una central nuclear debe funcionar a 10 atm osferas de presi on y 100o C de temperatura, se somete las v alvulas a un ensayo de funcionamiento a 30 atm osferas y 200o C. Los defectos ocultos que provocan la mortalidad infantil aoran y la abilidad del aparato aumenta. Las pruebas aceleradas o bajo stress se realizan unicamente en sistemas que requieren una alta abilidad desde el principio.

4. MODELOS EN FIABILIDAD
Ajustaremos modelos de probabilidad para poder generalizar los conocimientos que tenemos a partir de una pequena muestra de componentes. El criterio de elecci on de un modelo se basar a en t ecnicas descriptivas y especialmente en el conocimiento te orico que tengamos del proceso. Este conocimiento nos permitir a saber en muchas ocasiones que el proceso tiene tasa de fallos creciente, decreciente, constante o en forma de banera.

4. MODELOS EN FIABILIDAD
Los principales modelos que utilizamos en abilidad dependen de c omo sea la tasa de fallos. Estudiaremos dos tipos de funciones de tasa de fallos (t) = > 0 tasa de fallos constante Si > 1 tasa de fallos creciente (t) = t 1 Si < 1 tasa de fallos decreciente , > 0 Si = 1 tasa de fallos constante

4.1. MODELO EXPONENCIAL

Supongamos (t) = > 0 f (t) = (t) e Como

t 0

, entonces =e

t 0

(x)dx

dx

= et ,

por lo que T Exp(). f (t) f (t) (t) = R(t) = = et R(t) (t)

El modelo exponencial se caracteriza por tener una tasa de fallos constante (recordar propiedad de falta de memoria de la distribuci on exponencial).

4.1. MODELO EXPONENCIAL

2.0

1.5

1.0

0.5

0 0 2 4 6 8 10 12

Tasa de fallos (t) = 2

Funci on de densidad de T Exp(2)

4.2. MODELO DE WEIBULL

Supongamos (t) = t 1 con , > 0 entonces f (t) = (t) e

t 0 t 0

(x)dx

=t

[x ]

=t
t 0

x 1 dx t

=t

La variable aleatoria cuya densidad tiene la expresi on anterior decimos que se distribuye segun una Weibull de par ametros y . Por tanto, T W (, ). f (t) f (t) t Como (t) = R(t) = =e R(t) (t)

4.2. MODELO DE WEIBULL

2.0 80 1.5 60 1.0 40

20

0.5

0.5

1.0

1.5

2.0

0.5

1.0

1.5

2.0

Tasa de fallos y funci on de densidad de W (1, 4), W (2, 4) y W (3, 4)

80 80

60 60

40

40

20

20

0.02

0.04

0.06

0.08

0.10

0.02

0.04

0.06

0.08

0.10

Tasa de fallos y funci on de densidad de W (1, 0.5), W (2, 0.5) y W (4, 0.5)

RESUMEN MODELOS EN FIABILIDAD

Modelo exponencial T Exp(), > 0 f (t) = et , t > 0 (t) = tasa de fallos constante R(t) = et Modelo de Weibull T W (, ), , > 0 f (t) = t (t) = t 1 R(t) = e
t 1

Si > 1 tasa de fallos creciente Si < 1 tasa de fallos decreciente Si = 1 modelo exponencial

5. FIABILIDAD DE SISTEMAS
Hasta ahora hemos estudiado la abilidad de componentes. En la pr actica los componentes suelen formar parte de equipos m as complejos o sistemas. Para formar estos equipos las componentes se conectan formando sistemas: en serie, en paralelo, o mixtos

5.1. SISTEMAS EN SERIE

Supongamos un sistema S formado por n componentes o subsistemas C1 , C2 , . . . , Cn que operan de forma independiente, con tiempos de fallo Ti , i = 1, 2, . . . , n y con abilidades Ri (t) = P (Ti > t), i = 1, 2, . . . , n. El sistema opera en serie cuando para su correcto funcionamiento, las n componentes del sistema operan correctamente.

C1

C2

C3
Sistema S

Cn

5.1. SISTEMAS EN SERIE

Si notamos por RS a la abilidad del sistema S, tenemos que: RS (t) = P ((T1 > t) (T2 > t) (Tn > t)) =
n ind

= P (T1 > t)P (T2 > t) P (Tn > t) =

Ri (t)
i=1

El aumento del numero de componentes de un sistema en serie disminuye la abilidad del mismo.

5.2. SISTEMAS EN PARALELO

Supongamos un sistema P formado por n componentes o subsistemas C1 , C2 , . . . , Cn que operan de forma independiente, con tiempos de fallo Ti , i = 1, 2, . . . , n y con abilidades Ri (t) = P (Ti > t), i = 1, 2, . . . , n. C1 El sistema opera en paralelo cuando C2 para su correcto funcionamiento opera correctamente, al menos, una de . . las componentes del sistema, es decir, . el sistema falla si las n componentes del sistema fallan. Cn Sistema P

5.2. SISTEMAS EN PARALELO

Si notamos por RP a la abilidad del sistema P, tenemos que: RP (t) = P ((T1 > t) (T2 > t) (Tn > t)) = = 1 P ((T1 t) (T2 t) (Tn t)) = = 1 P (T1 t)P (T2 t) P (Tn t) =
n ind

=1

i=1

(1 Ri (t))

El aumento del numero de componentes de un sistema en paralelo aumenta la abilidad del mismo. Es por ello, que esta conexi on se utiliza en el diseno de productos que requieren una alta abilidad.

5.3. SISTEMAS MIXTOS

Dividimos el sistema en subsistemas puros (serie o paralelo). Ejemplo: Calcular la abilidad del sistema S, sabiendo que la abilidad de cada una de las componentes es Ri (t) para t = 1, 2, 3, 4, 5.
C1 C2 C4 C3 C5

S1 = {C2 , C3 } en paralelo S2 = {S1 , C4 } en serie S = {S3 , C5 } en serie S3 = {C1 , S2 } en paralelo

Sistema S

5.3. SISTEMAS MIXTOS

S1 = {C2 , C3 } en paralelo S2 = {S1 , C4 } en serie RS1 (t) = 1 (1 R2 (t)) (1 R3 (t)) RS2 (t) = RS1 (t) R4 (t)

S3 = {C1 , S2 } en paralelo S = {S3 , C5 } en serie

RS3 (t) = 1 (1 R1 (t)) (1 RS2 (t)) RS (t) = RS3 (t) R5 (t)

5.3. SISTEMAS MIXTOS

Ejemplo: Calcular la abilidad del sistema S, sabiendo que la tasa de fallos, en horas, de cada una de las componentes es 1 (t) = 4 (t) = t, 2 (t) = 3 (t) = 2. S1 = {C2 , C3 } en paralelo
C4 C3

C2 C1

S = {C1 , S1 , C4 } en serie

Sistema S

5.3. SISTEMAS MIXTOS

Calculemos las abilidades de cada una de las componentes: R2 (t) = R3 (t) = e2t porque al ser las tasas de fallo constantes, corresponden al modelo exponencial. En el caso de C1 y C4 tenemos que calcularlas: f1 (t) = 1 (t) e 0 =te 2 f1 (t) t2 R1 (t) = =e = R4 (t) 1 (t)

1 (x)dx

t 0

xdx

=te

t2

5.3. SISTEMAS MIXTOS

S1 = {C2 , C3 } en paralelo S = {C1 , S1 , C4 } en serie =e
t2

RS1 (t) = 1 (1 R1 (t))(1 R2 (t)) = 1 (1 e2t )2 RS (t) = R1 (t)RS1 (t)R4 (t) = (e (e

4t t2 /2 2

+ 2e

2t

)=e

t2 2t

1 (1 e2t )2

(2 e2t )