MATERIALES

JHON YESID NIO GUERRERO COD2011236037

ESCUELA COLOMBIANA DE CARRERAS INDUSTRIALES

ENSANYO

BOGOTA AGOSTO 2012

MATERIALES

JHON YESID NIO GUERRERO COD 2011236037

ENSAYO ESTRUCTURAS CRISTALINAS Profesor: WILLIAM HINCAPIE CAMPOS

ESCUELA COLOMBIANA DE CARRERAS INDUSTRIALES

BOGOTA AGOSTO 2012

INTRODUCCION

En el siguiente texto hablaremos sobre las caractersticas de las estructuras cristalinas, Como se estudia sus estructuras que pruebas se realizar y mtodos utilizados para esto. pueden

Las estructuras cristalinas pueden identificarse por medio de la aplicacin de tcnicas de difraccin de rayos x .Esto funciona haciendo que el rayo incida en una estructura cristalina haciendo que los tomos tomen una radiacin electromagntica todos de la misma longitud de onda.

Para lograr observar esto utilizan una herramienta llamado difractometro de rayos x este permite identificar las estructuras cristalinas , lo que se hace con esta herramienta dejando en el porta muestras normalmente plana, con las obtenciones en forma de polvo, lo cual quiere decir que est compuesta por muchos cristales de esta manera los proyectan en un Angulo de 20 grados, utilizando una cmara especial para as saber la posicin de los tomos en la estructura, esto a la vez cuando se somete a la prueba la idea es que cada lnea que se proyecta ocupe un espacio en la estructura de esta manera conocer a cual corresponde; pero si por lo contrario hay lneas externas, los expertos tienen clculos para mirar si es debido a otro rayo x o por causa del filtro aunque en algunos casos puede ser por los tubos de la misma herramienta que en llegado caso puede estar viejo y esto ocasiona que los datos no sean exactos, otra falla puede ser la mala colocacin de la muestra por hendiduras o distorsiones el valor que arroja en sin deja errores pequeos pero a veces esos errores en estructuras que no son cubicas esas fallas pueden presentar problemas. Mirando los procesos para determinar la estructura vemos que a veces se presentan Fallas por lneas externas que entorpecen en una manera los clculos establecidos al utilizar la tabla de DAVEY Y BUNN.

Entonces decimos que para que esto salga bien debemos tener una marca en la franja del papel de la misma forma que la curva de la tabla establecida, si de alguna forma esto no aplica podemos decir que no es correcta, claro que esto en todos los casos no aplica ya que hay franjas que son muy dbiles y no quedan registradas en la curva de la tabla. Igual la posicin de los tomos se puede calcular en la celda haciendo irradiacin difractadas estas intensidades son determinadas por la posicin del tomo esto quiere decir que nosotros no podemos computarizar el factor de la estructura en un valor absoluto. Las posiciones de los tomos solo se pueden saber mediante pruebas de ensayo y error, cuando se toman tomos para pruebas no siempre son alentador los resultados el cientfico debe tomar varias realizar las pruebas segn el caso y de esta manera deducir cual puede ser parecida a la que ya se conoce. Muchas veces para facilitar al cientfico este toma la teora de espacio grupo as excluye varias clases de planos para agilizar la bsqueda de la estructura deseada. Ya que todas las propiedades no son entendidas si no se mira la estructura de esta, ejemplo claro son las protenas que aun los que estudian sus estructuras no han definido por completo su estructura.

Otros tipos de componentes no se les puede observar su estructura de una forma fcil a veces se demoran das, meses y hasta aos, para esto se utiliza de la mejor tecnologa para avanzar hacia el descubrimiento de los mismos las que son muy complejas las estudian expertos en cristalografa quien determina tcnicas especiales desde la matemticas.

DEFECTOS PUNTUALES:

Podemos decir que son los espacios que quedan en los planos por distorsin de los tomos, y de la misma manera podemos ver que puede haber ms tomos, exceso de ellos en los planos a esto se les llama auto intersticial, se podr decir que por cada 10.000 lugares ocupados puede quedar una vacante o un lugar con exceso de tomos en el plano.

DEFECTOS LINEALES: Los defectos lineales son producidos por dislocaciones, los tomos se desalinean formando un camino espiral o helicoidal haciendo que la estructura se vea distorsionada esto producto de la presin ejercida en esa zona.

DEFECTOS SUPERFICIALES: Son lmites de grano que tienen dos direcciones y normalmente separa regiones del material que tiene cristalogrfica. Como las superficies externas son muy evidentes delimitan su estructura no se enlaza con el mximo de sus vecinos. Los lmites de mocla, estos son formados por causas mecnicas cizallantes o por tratamientos trmicos en los materiales