INFORME LABORATORIOS DE LA UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER UIS

Si bien la Universidad Industrial de Santander (UIS) es una organizacin de alta calidad en formacin profesional de personas en principio, generando y adecuando conocimientos, proporcionando a la comunidad educativa la participacin liderando procesos de cambio por el progreso. La UIS ha sido una de las universidades que ha proporcionado grandes investigaciones y aportes en todo el pas, pues cuenta con ciertos laboratorios de calidad que permite promover la investigacin en Colombia. Los laboratorios cuentan con los mejores aparatos y dispositivos tecnolgicos importados de diferentes lugares, utilizados para la realizacin investigaciones por parte de la comunidad educativa, como tambin de universidades o entidades, pblicas o privadas, que requieran de los aparatos con fines investigativos. Es importante destacar que la UIS se preocupa por la construccin de conocimiento a travs de investigaciones, sin embargo la utilizacin de los mejores equipos para su produccin es auto sostenible, pues esta ofrece diferentes serviosos a clientes que lo necesiten, es por ello que dentro de su organizacin, la Coordinacin de Programas y Proyectos ofrece asistencia tcnica y administrativa en la administracin financiera de los proyectos de investigacin. Ahora bien, dentro de los laboratorios encargados de proporcionar investigaciones se encuentra el Laboratorio de Difraccin de Rayos X. este laboratorio desarrolla y proporciona investigaciones a la comunidad educativa o a clientes en particular, sobre la identificacin y cuantificacin de fases cristalinas usando la tcnica de Difraccin de Rayos-X de muestras policristalinas, de acuerdo con los mtodos Hanawalt, Boolean-search y Rietveld, as como realizar investigacin cientfica y apoyo a la docencia.

El laboratorio de Difraccin de Rayos X realiza diferentes funciones y ofrece a las investigaciones de la comunidad cientfica y a clientes externos, stas funciones son:

Identificacin y cuantificacin de fases cristalinas NO arcillosas1. Identificacin y cuantificacin de fases cristalinas arcillosas (tratamientos trmicos y qumicos). Identificacin de formas polimrficas en frmacos. Separacin de Picos. Toma de datos. Indexado. Determinacin del grupo espacial y refinamiento.

Segn las diferentes funciones que se realicen en el laboratorio, se obtienen ciertas pruebas que describen los procedimientos realizados, entre estos se encuentran anlisis cualitativos y cuantitativos de diferentes muestras. Respecto a los anlisis cualitativos de las fases que se encuentren en las muestras que se estudian, se realiza un comparacin del perfil observado, es decir con los resultados que arroja el laboratorio en el anlisis, con los perfiles de difraccin reportados en la base de datos que se han actualizado constantemente del International Centre for Diffraction Data (ICDD), empleando un mtodo grfico conocido como el Mtodo Boolean. Este anlisis en general, permite identificar la muestra con la que se va a trabajar. En el caso de muestras arcillosas, se realizan procesos iguales al anterior, se realizan tratamientos trmicos y qumicos con el fin de lograr identificar plenamente la fraccin arcillosa de la no arcillosa. Por otro lado, los anlisis cuantitativos de las fases identificadas se realiza mediante el refinamiento por el Mtodo de Rietveld del perfil observado sobre un perfil calculado, por medio de mnimos cuadrados, dnde se hace un anlisis de los picos obtenidos en el procedimiento segn su ensanchamiento, habindole agregado a la muestra una cantidad conocida de un estndar interno. Este anlisis en general, permite observar la cantidad de la concentracin de la muestra. Durante la prctica de laboratorio en Drifraccion de rayos X, donde se obtienen resultados diferentes para diversas muestras, como resultados en su exposicin se observan difractogramas, se realiza la indexacin e identificacin de sustancias y mezclas. Finalmente en algunos casos se obtiene el grado de cristalinidad en un polmero. El fundamento de esta tcnica reside en el fenmeno conocido como dispersin scattering de una radiacin X cuando incide sobre la materia (la muestra). Este fenmeno consiste en que parte de la radiacin X incidente se desva de su direccin original por interaccin con el material irradiado.

constituido por agregados de silicatos de aluminio hidratados, procedentes de la descomposicin de minerales de aluminio.

Para la exposicin de sistemas cristalinos, existen unos fundamentos tericos necesarios para la prctica, estos fundamentos giran alrededor del estado cristalino inicialmente. El estado cristalino En la mayora de los slidos, las grandes fuerzas de atraccin o cohesin que existen entre las partculas que lo componen, hacen que stas se distribuyan regular y simtricamente en el espacio. Estos slidos reciben el nombre de slidos cristalinos o cristales. Existen algunos slidos, llamados slidos amorfos o vidrios, a los que les falta la ordenacin de largo alcance de los slidos cristalinos. Estructuralmente, podran considerarse como lquidos con una gran viscosidad, recibiendo a veces el nombre de lquidos sobre enfriados. Existen tambin un gran nmero de sustancias que, en estado lquido, posee una gran regularidad interna (monodimensional o bidimensional), intermedia entre el desorden de un lquido ordinario y la ordenacin peridica de un slido cristalino. Estas fases lquidas reciben el nombre de cristales lquidos. De acuerdo a lo anterior, el cristal tiene unas propiedades y caractersticas que permiten realizar con naturalidad el anlisis de las muestras. Si bien es cierto, un cristal se puede considerar formalmente descrito por un sistema de tomos o de iones o de molculas, peridicamente ordenados en el espacio. Un cristal es una sustancia homognea, es decir, en cualquier parte del cristal, cada tomo, in o molcula tiene un entorno idntico que puede relacionarse con otros por sencillas operaciones de repeticin (simetra).Un cristal con estas caractersticas slo es estrictamente homogneo si la periodicidad de la repeticin se extiende hasta el infinito, en cuyo caso se define un cristal ideal. Un cristal es anistropo. Sus distintas propiedades fsicas como dureza, dilatacin trmica, conductividad, etc, dependen dela direccin en que se midan. Muchas sustancias cristalinas presentan isotropa (metales, muchos minerales, etc.), pero esto es debido a que estn formadas por un elevado nmero de pequeos cristalitos estadsticamente desorientados unos respecto a otros. Este tipo de sustancias reciben el nombre de policristalinas. Segn las anteriores caractersticas de los cristales y su ordenacin en el espacio, las redes espaciales que forman los cristales se pueden representar en n conjunto infinito de puntos materiales (puntos con masa) homogneamente ordenados en el espacio. A esta representacin se la denomina red espacial.

Desde un punto de vista geomtrico, una red plana puede considerarse originada por la sucesiva aplicacin a un punto de una serie de traslaciones coplanares definidas por los vectores a y b como se observa en la figura 1.

De igual modo, una red espacial puede considerarse originada por la sucesiva aplicacin a un punto de una serie de traslaciones no coplanares definidas por los vectores a, by c como se observa en la figura 2.
Figura 1. Red plana

Figura 2. Red espacial

A partir de las redes espaciales, existen unos parmetros cristalogrficos que se determinan uniendo entre s los puntos de una red, as es posible dividir el espacio en las mnimas secciones (paraleleppedos elementales) con simetra (figura 2). La red, por tanto, podra considerarse generada tambin por traslaciones de uno de estos paraleleppedos, representando cualquiera de ellos las caractersticas de la red en todos sus aspectos. A estos paraleleppedos elementales se los denomina celdilla unidad. Si tomamos como origen uno de sus vrtices, la celdilla unidad queda definida por las direcciones y los mdulos de los vectores de traslacin a, b y c que definen los ejes cristalogrficos. Entonces, para describir una celdilla unidad se necesita conocer las longitudes a, b y c y los ngulos , y que forman entre s los tres vectores; estas seis magnitudes reciben el nombre de parmetros de celdilla, parmetros

cristalogrficos o parmetros de red, ver figura 3.

Figura 3. Parmetros Cristalogrficos

Los diferentes sistemas cristalinos pueden tener diferentes planos reticulares que son determinados a travs de los ndices de Miller. A travs de una red cristalina pueden trazarse series de infinitos planos paralelos y equidistantes entre s, conteniendo cada uno de ellos sucesiones lineales de puntos reticulares como se muestra en la figura 4. La distancia d entre dos planos consecutivos de una misma familia se denomina distancia interplanar o, simplemente espaciado. La posicin y orientacin de cada familia de Figura 3. Parmetros cristalogrficos planos respecto a los ejes cristalogrficos vienen dadas por los ndices h, k y l denominados ndices de Miller, y se escriben entre parntesis (hkl). Cada familia deplanos paralelos divide a los ejes cristalogrficos en un nmero entero de partes iguales; los ndices de Miller se hallan directamente reduciendo a los menores nmeros enteros los valores inversos de las intersecciones fraccionarias del plano con los ejescristalogrficos. Teniendo claro como son las caractersticas de los sistemas cristalinos que se utilizan como muestra para el anlisis en el laboratorio, se puede hablar de las tcnicas difractomtricas, segn el tipo de fuente de partculas empleada se Figura 4. Red bidimensional mostrando puede hablar de difraccin de rayos X, distintas familias de planos reticulares difraccin de neutrones y difraccin de electrones. De stas, la difraccin de rayos X es la tcnica de aplicacin ms general y la ms ampliamente utilizada para la identificacin de especies cristalinas, determinacin de estructuras cristalinas, etc. El mtodo ms habitual y prctico de produccin de rayos X, se basa en el hecho de que cuando una partcula, con masa muy pequea y dotada de una gran energa cintica, choca contra un material, una pequea parte de dicha energa se invierte en la produccin de rayos X. Las partculas ms utilizadas para este bombardeo son los electrones, y el dispositivo instrumental utilizado se conoce con el nombre de tubo de rayos X. Existen distintos tubos

de rayos X, pero los ms utilizados son los de ctodo incandescente, cuyo esquema se muestra en la figura 5. Los elementos bsicos de este tipo de tubos son: un filamento capaz de emitir electrones por calentamiento, que hace de ctodo, y un nodo metlico, situados ambos dentro de una ampolla de vidrio en la que se ha hecho un elevado vaco. El calentamiento del ctodo, normalmente una espiral de wolframio, se logra haciendo pasar una corriente elctrica de intensidad i (10 60 mA). Si entre el filamento y el nodo se aplica una diferencia de potencial de varios kV (10 60 kV), los electrones emitidos por el filamento incandescente son fuertemente acelerados hacia el nodo, produciendo, en la interaccin con l, la emisin de rayos X en todas las direcciones.
Figura 5. Esquema de un tubo de rayos X de ctodo incandescente

La mayor parte de la energa cintica de los electrones (

. V = diferencia

de potencial; e = carga del electrn; m = masa del electrn y v = velocidad del electrn), se invierte en la produccin de calor en el nodo, y slo una pequea porcin de la misma (menos del 1%) se invierte en la produccin de rayos X. El considerable calor que se produce en el nodo sera suficiente para fundirlo en un corto espacio de tiempo. Esto hace que sea necesario refrigerarlo (suele hacerse mediante una circulacin forzada de agua), y adems restringe mucho el tipo de materiales que se pueden utilizar como nodo (deber tener un punto de fusin elevado y conducir bien el calor). Debido al grave peligro que representa la radiacin X, la ampolla de vidrio se encuentra recubierta por una envoltura de plomo que absorbe la radiacin producida en la mayora de las direcciones, saliendo sta al exterior del tubo a travs de una o ms ventanas, realizadas con un material muy transparente a la radiacin (normalmente berilio). El filamento que hace de ctodo suele estar rodeado de una pantalla metlica llamada focalizador, abierta slo en la direccin de salida de los electrones hacia el nodo y mantenida a potencial negativo con objeto de repeler los electrones que van en otras direcciones y dirigirlos hacia el nodo. El espectro de rayos X emitido por estos tubos como se muestra en la figura 6 est constituido por radiaciones de distintas longitudes de onda que se extienden de forma

continua en un amplio intervalo espectral (espectro continuo, no depende del elemento que forma el nodo), y superpuestas a stas aparecen unos mximos de intensidad que corresponden a las lneas caractersticas de rayos X del elemento que forma el nodo (espectro caracterstico). La posicin de la longitud de onda mnima slo depende de la diferencia de potencial aplicada al tubo, mientras que su intensidad total slo depende de la diferencia de potencial y de la intensidad de corriente aplicadas. Espectro caracterstico: la posicin de sus distintos mximos de intensidad (1, 2,) slo dependen del elemento que forma el nodo del tubo; su
Figura 6. Espectro de rayos X emitido por un tubo de rayos X

intensidad depende tambin de la diferencia de potencial y de la intensidad de corriente aplicadas.

Una vez se ha visto qu son los rayos X, cmo se producen, y cmo es el espectro emitido por ste, se analizan los fenmenos que ocurren cuando los hacemos incidir sobre un material la radiacin. Uno de estos fenmenos es el de la difraccin que se produce cada vez que la luz pasa a travs de una estructura peridica que posee caractersticas que se repiten regularmente o cuando la luz es reflejada por una estructura de esta clase. Para que la difraccin sea observable, la distancia que se repite en la estructura peridica debe ser aproximadamente igual a la longitud de onda de la luz utilizada. Una red cristalina es una estructura peridica tridimensional, en donde la distancia que se repite es aproximadamente cm, distancia que hay entre tomos. As, pues, debemos esperar, y ciertamente se encuentran, patrones de difraccin cuando los rayos X de cm de longitud de onda aproximadamente, pasan a travs de los cristales. Cuando los rayos X de longitud de onda inciden sobre dos planos de tomos paralelos de ndices de Miller (hkl), como en la figura 7, y son difractados en un ngulo . Las ondas difractadas producirn intensidad mxima en un detector si ambos llegan en fase al detector (con una cresta o con un valle), es decir si la diferencia entre las trayectorias de los rayos es un nmero entero de veces la longitud de onda de los rayos X empleados, n, donde n es un nmero entero.

Figura 7. Difraccin de los rayos X por los planos de un cristal

La figura 7 muestra cmo puede derivarse la condicin necesaria para obtener una intensidad difractada mxima. En dicha figura vemos que la diferencia del recorrido de las dos ondas es , donde es la distancia entre los dos planos de la familia con ndices de Miller (hkl). As tenemos (1) Para la condicin que debe cumplirse a fin de obtener un mximo de intensidad difractada. A la ecuacin (1) se la llama ecuacin de Bragg. Luego si se representa la intensidad de radiacin que llega al detector, frente al ngulo , aparecer un pico cuando se cumpla la condicin de Bragg, ec. (1), a dicha representacin se la denomina diagrama de difraccin o difractograma. La direccin en la que sale el haz difractado forma tambin un ngulo con la superficie de la familia de planos que difractan, es decir, un ngulo 2con la direccin de incidencia del haz de rayos X. Adems, la direccin del haz incidente y la direccin del haz difractado estn contenidas en un plano que es perpendicular a la familia de planos que difractan. Como en un cristal hay distintas familias de planos, con distintos espaciados, existirn tambin distintas direcciones de difraccin. Al ser el conjunto de espaciados de un cristal caracterstico para cada especie cristalina, si decamos que no existen dos sustancias cristalinas que tengan un diagrama de difraccin idntico. Se dice que el diagrama de difraccin es como una huella dactilar de las sustancias cristalinas En la obtencin de la informacin que nos proporciona la difraccin de rayos X pueden distinguirse dos aspectos

claramente diferenciados y complementarios: por una parte, la geometra de las direcciones de difraccin, que est condicionada nicamente por el tamao y la forma de la celdilla unidad del cristal. Conociendo estas direcciones ser posible averiguar el sistema cristalino y las dimensiones de la celdilla. El otro aspecto viene dado por las intensidades de estos rayos difractados, que estn ntimamente relacionadas con la naturaleza de los tomos y con las posiciones que stos ocupan en la red cristalina, de forma que su medida constituye un procedimiento para obtener informacin tridimensional acerca de la estructura interna del cristal. Procedimiento Experimental En el laboratorio se siguen una serie de procesos para el anlisis de muestras y estudios de difraccin de rayos X, inicialmente se prepara la muestra, para ello la muestra cristalina se muele hasta obtener un polvo fino homogneo. De esta manera, el enorme nmero de pequeos cristales est orientado en todas las direcciones posibles; y por tanto, cuando un haz de rayos X atraviesa el material, se puede esperar que un nmero significativo de partculas est orientado de tal manera que cumpla la condicin de Bragg para la reflexin de todos los espaciados interplanares posibles. Las muestras se colocan en tubos capilares de paredes finas de vidrio o de celofn y stos se introducen en el haz. Alternativamente, se puede mezclar la muestra con un soporte adecuado no cristalino y moldearla dndole una forma adecuada. Seguidamente se procede a identificar las sustancias cristalinas, se coloca la muestra en la mquina de difraccin, la identificacin de especies a partir de su figura de difraccin de polvo cristalino se basa en la posicin de las lneas (entrminos de o 2) y de sus intensidades relativas. La mquina se encuentra asociada a un software que permite la lectura del difractograma, entonces Con una regla milimetrada se mide el ngulo 2 (eje de abscisas) de cada reflexin, as como su intensidad (altura) y los valores de espaciado obtenidos, a partir de los valores de 2, mediante la expresin de Bragg (ecuacin 1) para obtener los difractogramas se ha empleado radiacin de Cu, = 1,5405 ). Se encuentran los valores de las intensidades relativas, obtenidas como porcentaje de la ms intensa. Con los valores de espaciado de las tres reflexiones ms intensas se consultan las fichas ASTM o tablas que se tengan a mano (base de datos), viendo cual es la que ms se ajusta a la sustancia problema y confirmando con el resto de las reflexiones medidas. A partir de los difractogramas obtenidos para las muestras problema con el difractmetro se puede decir que: a) Sustancias puras:

Leer el difractograma e identificar mediante las fichas ASTM adjuntas de qu sustancia se trata. Decir a qu planos cristalogrficos corresponde cada una de las reflexiones que se encuentran en el difractograma y dibujarlos en las correspondientes celdas unidad. Calcular el volumen, el factor de empaquetamiento y la densidad de la celda unidad, una vez que se conoce su simetra.

b) Mezclas Leer el difractograma e identificar mediante las fichas adjuntas de qu sustancias se trata.

Texto Willard, H.H.; Merritt, L.L. jr.; Dean, J.A. y Settle, F.A. jr. "Mtodos Instrumentales de Anlisis", Grupo Editorial Iberoamerica. Mejico, 1991 Albella, J.M.; Cintas, A.M.,; Miranda, T. y Serratosa, J.M. "Introduccin a la Ciencia de Materiales: Tcnicas de preparacin y caracterizacin". Textos Universitarios n 20, C.S.I.C., Madrid 1993. Miguel Angel Llorente Uceta y Arturo Horta Zubiaga.Tcnicas de Caracterizacin de polmeros. UNED, Madrid, 1991 Figuras [1] Figura tomada de: ALBELLA, J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA, T. y SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales". C.S.I.C., 1993. [2] Figura tomada de: ALBELLA,J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA, T. y SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales". C.S.I.C., 1993. [3] Figura tomada de: ALBELLA, J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA, T. y SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales". C.S.I.C., 1993. [4] Figura tomada de: ALBELLA, J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA, T. y SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales". C.S.I.C., 1993. [5] Figura tomada de: ALBELLA, J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA, T. y SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales". C.S.I.C., 1993.

[6] Figura tomada de: ALBELLA, J.M.; CINTAS, A.M.; MIRANDA, T. y SERRATOSA, J.M.: "Introduccin a la ciencia de materiales". C.S.I.C., 1993.