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Lo ms interesante de este dispositivo es que en el colector tendremos una corriente proporcional a la corriente de base: IC = IB, es decir, ganancia de corriente cuando >1. Para transistores normales de seal, Figura 5 Anlisis AC para V (b)/V(A) vara entre 100 y 300. 3.Amplificador base comn Circuito:
Procedimiento:
Procedimos a montar los siguientes circuitos:
1.Circuito base:
Curva simulada:
Figuras 7 y 8 7. Curva simulada, notamos que la onda de salida se desfasa muy levemente con respecto a la entrada. 8. Anlisis AC para V (b)/V(c) Figura 2 curva simulada
2.
Vout=5.04V
Curva simulada:
3.
Vout =171.7mV
Av fH,Av Avs
Figura 11- circuito filtro pasa alto
fH,Avs
Curva simulada:
Figura 12 curva simulada, notamos que la onda de salida se desfasa con respecto a la entrada.
Observaciones y Resultados:
1.
VB VE VC IE IC r'e
Circuito base.
Analytic 3,6 V 3V 10,2 V 0.5 mA 0.5 mA 52 LTSpice 3,61 V 2,98 V 10,25 V 0.491 mA 0.491 mA 53 Experiment 3,56 V 2,93 V 10,24 V 0.489 mA 0.493 mA 50.7 Av fH,Av Avs fH,Avs
4.
Vout=76.3mV
Bias Parameter
Circuito base:
Para VC:
Figura 15 Ganancia Vs. Frecuencia del circuito para AV.
Para VE:
Para IE:
Para IC:
Figura 16 Ganancia Vs. Frecuencia del circuito para Avs.
Para r'e:
5.
Filtro pasa alto. Analytic 3,46 V 2,8 V 9,65 V 1mA 1 mA LTSpice 3,473 V 2,82 V 9,6631 V 1,06 mA 1,038 mA Experiment 3.36 V 2.72 V 10 V 0.6 mA 0.45 mA
Al tener porcentajes de error por debajo del 5% consideraremos el experimento como ejecutado correctamente y los resultados simulados como fieles.
Bias Parameter VB VE VC IE IC
2.
Para Av:
Tabla 5 Datos analticos, simulados y experimentales del circuito para las condiciones en DC; Re = 41.66.
Para Avs:
Como los porcentajes de error para Av y fH, Av estn por debajo del 5% podemos considerar el experimento parcialmente vlido, para Avs consideraremos un error en la toma de datos. Para este experimento en particular no podemos considerar la simulacin como confiable.
Figura 17 Ganancia Vs. Frecuencia del circuito para AV.
3.
Para VE:
Para IE:
Para IC:
Para Avs:
Al estar los porcentajes de error de los voltajes entre el 0 y el 5% podemos considerar este experimento como vlido, aunque los valores de corriente difieran en un alto porcentaje, sigue siendo aceptable para valores tan bajos de corriente. Adems consideraremos la simulacin como aceptable. Para el ciclo AC, se da el experimento como vlido y se garantiza el funcionamiento del filtro pasa alto en seales de frecuencia alta, adems se puede observar la cada en decibeles con el aumento de la frecuencia.
Como la mayora de los porcentajes de error estn por encima del 10% este experimento lo tomaremos como fallido, no podemos sacar conclusiones sobre la simulacin; no se garantiza la amplificacin de voltaje en seales de frecuencia alta, sin embargo se pudo ver la cada en decibeles a medida que se aumenta la frecuencia. Una posible razn para el fracaso del experimento sera el parmetro beta del dispositivo usado, el cual no permite dicha amplificacin a frecuencias altas.
Conclusiones:
Los valores ideales de los dispositivos utilizados afecta severamente el resultado simulado. En los dispositivos electrnicos usados, se debe analizar muy bien la potencia que resisten para su correcta manipulacin. Un buen barrido de frecuencia se debe superar los 20 MHz. El dispositivo por ser un semiconductor se ve severamente afectado por la temperatura, es por esto que su uso continuo lleva un desgaste del mismo. Cada dispositivo BJT tiene un beta caracterstico y esto puede afectar las medidas hechas cuando las frecuencias son realmente altas (superiores a 1MHz). Las simulaciones de circuitos tan complejos empiezan a no ser confiables si usamos componentes ideales, se sugiere entonces buscar la aproximacin de LTspice a cada componente real.
4.
Para Av:
Para Avs:
Como ambos porcentajes de error se encuentran por debajo del 10% podemos estimar el experimento como vlido, y al modelo como una buena aproximacin, sin embargo los errores en las frecuencias son bastante grandes, por tanto concluimos que hay un error en la toma de las medidas.
Bibliografa:
Boylestad, R .y Nashelsky, L Electrnica Teora de Circuitos. Prentice Hall. Allan R. Hambley Electronics. Prentice Hall. Electrnica Integrada. Editorial hispano Europeo, S.A. A. Instrumentacin Electrnica. Interamericana.
5.
Para VB:
Para VC: