Cap 08 - Teste Da Funçao Sobrecorrente

PROTEO DE LINHAS DE TRANSMISSO TEORIA E PRTICA
Parte II: Sistema Automatizado de Teste
Cap 08 : Teste da Funo Sobrecorrente

Resumo
Este captulo aborda passo a passo a montagem dos procedimentos de teste da funo sobrecorrente. (50/51), utilizando o mdulo de teste Overcurrent da OMICRON. So destacados todas os itens de parametrizao do teste, mostrando as opes de configurao. Entrada protegido de dados do elemento
1.2. Subestao Nome e endereo da subestao onde o elemento esta localizado. 1.3. Bay Entre com o endereo e o nome do bay onde o elemento esta localizado 1.4. Valores Nominais Entre com os valores nominais (tenso, corrente, freqncia, corrente primria e tenso primria e numero de fases) Para o teste de rels convencionais, a corrente nominal (1 ou 5 A) deve ser ajustada aqui. 1.5. Tenso
1. PARMETROS DA PROTEO DE SOBRECORRENTE

Iniciando o primeiro passo da Lei de OHM descrita no captulo 3 acessando o cone Parmetros do equipamento em teste, conforme mostra a figura 1.
Figura 1 - Parmetros do equipamento em teste - localizao So apresentados passo a passo os itens da tela Ajuste do Dispositivo. Esta uma tela de registro geral dos dados do ensaio, como as informaes do rel, de sua localizao e classificao, da funo a ser testada, dentre outros. Tambm so ajustados os valores de tenses e correntes do sistema. importante ressaltar que esta tela, de uso geral, sempre estar presente nos outros mdulos de software. 1.1. Dispositivo
: ADIMARCO Representaes e Servios LTDA
Residual/Fator
de
Corrente
Esses parmetros somente so relevantes se o rel tem transformadores de potencial / corrente separados para a tenso / corrente residual (para o aumento da sensibilidade). A relao desses transformadores separados em relao relao dos transformadores das fases expressa com um fator que ser ajustado aqui. O ajuste padro :
CAP 08: Testes da Funo Sobrecorrente
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VLN 1,732 = VN 3
(1) como a tenso de fase forma a tenso residual na conexo delta aberto, e
IN
(2)
I nom
=1
Esses fatores so suportados pelos mdulos de Distancia e Distancia Avanado.
Figura 1 Ajustes do dispositivo 1.6. Limites Neste item so ajustados os mximos valores de tenso e corrente que o dispositivo de teste capaz de fornecer (mximos valores possveis so determinados pela configurao de hardware ajustada pelo usurio). 1.7. Filtros Debounce/Deglitch Entre com os tempos de Debounce e Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses valores so usados onde os sinais do algoritmo de suavizao so implementados.
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1.. Sinal antes do filtro
2.. Sinal aps o filtro
Figura 2 Debounce ou Deglich time A mesma influncia da tolerncia 2. PROTECTION DEVICE de corrente no intervalo de tempo resultante, aplicado ao ponto onde a 2.1. Tolerncia de Corrente caracterstica tende ao infinito. A tolerncia da corrente definida como tolerncia absoluta e relativa. A tolerncia de corrente relativa definida em % da corrente de pickup nominal, e a tolerncia de corrente absoluta definida em I/In. Para cada ponto a ser testado, o mdulo de teste selecionar o maior de dois intervalos para ser a tolerncia valida. A tolerncia de corrente tem influencia na avaliao do teste no caso de pontos de testes que esto dentro das bordas da regio de trip ( ITOL). 2.2. Avaliao
Figura 3 Tolerncias de Zona Pontos fora da faixa ou out of range, ou pontos que esto fora da faixa de tempo, so considerados Aprovados, para permitir a avaliao automtica do teste. Se alguns pontos no puderem ser testados por alguma razo, o software adiciona a mensagem correspondente no relatrio. O software considera o conjunto de testes como aprovado se todos pontos forem avaliados com aprovados. Para efeito da avaliao automtica do teste e uma rpida avaliao visual aps a realizao do teste, o software utiliza cones, apresentados a seguir.
do sobrecorrente
teste
de
Para avaliao do teste, o software compara cada ponto do tempo de operao de resposta do rel durante o teste (tempo atual) com o tempo de operao nominal. Se o tempo de operao atual esta dentro do tempo especificado de tolerncia, o ponto avaliado como Aprovado caso contrrio como Reprovado. Para pontos que esto dentro das regies das bordas de trip (dentro da faixa de +ITOL e -ITOL), a faixa de tempo de operao permitida menor ou maior que o tempo permitido para ambos intervalos, como mostrado a seguir.
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Figura 4 Simbologia da avaliao automtica 2.3. Tolerncia de Tempo As tolerncias de tempo so definidas como tolerncias absolutas e relativas. A tolerncia de tempo relativa definida em % do tempo de trip nominal. O intervalo de tempo resultante definido pelo tempo de trip nominal menos uma percentagem e pelo tempo de trip nominal mais a percentagem definida. A tolerncia de tempo absoluta definida em segundos. Para a avaliao do teste, o software selecionar o maior de dois intervalos de tempo. Na borda da regio de trip, o intervalo de tempo combinado valido. Quando os pontos de teste so ajustados, As faixas de tempo permitidas so desenhadas como linhas verticais no diagrama I / t para cada ponto. Figura 4 Avaliao pelas tolerncias 2.4. Seleo do Grupo de Falta Os parmetros correspondentes do grupo de falta so mostrados dependendo qual grupo selecionado. Esses grupos podem ser editados na caixa Fault Group Parameters. Existem quatro grupos de faltas disponveis no software :
Line Neutral Define os parametros para falhas monofsicas (A-N, B-N, C-N) Line Line Define os parametros para falhas bifsicas (A-B, B-C, C-A) e falhas trifsicas. Negative Sequence Define os parametros para faltas de sequencia negativa (I2). Zero Sequence Define os parametros para faltas de sequencia zero (I0).
Para cada grupo de faltas, os parmetros dos grupos precisam ser preenchidos separadamente.
2.4.1.
Modelos de Falta
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FALTAS MONOFSICAS Para faltas monofsicas (no exemplo mostrado na figura 5 - falta A-N), a corrente de teste ITEST aplicada na fase faltosa (no exemplo IA). As outras duas correntes so ajustadas para a corrente de carga com 120 graus de defasagem. A tenso para a fase faltosa igual tenso de falta selecionada. As outras duas fases so ajustadas para valores nominais, com 120 graus de defasagem. Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste. VA = Tenso de falta 0 VB = Tenso Nominal -120 VC = Tenso Nominal 120 IA = ITEST j IB = Corrente de carga -120 +j IC = Corrente de carga 120 +j
VA = Tenso de falta 0 VB = Tenso Nominal -120 VC = Tenso Nominal 120 IA = 0 IB = ITEST -90 + j IC = ITEST 90 + j
Figura 6 Falta Bifsica FALTAS TRIFSICAS Para faltas trifsicas, a corrente de teste ITEST aplicada em todas fases, com 120 graus de defasagem entre elas. As tenses so iguais a tenso de falta selecionada.
Figura 5 Falta Monofsica FALTAS BIFSICAS Para falhas bifsicas (no exemplo falta B-C), a corrente de teste I TEST aplicada das duas correntes das fases afetadas ( no exemplo IB e IC ) com 180 graus de defasagem. As tenses formam um sistema balanceado e so ajustadas para valores nominais. O arranjo dos vetores mostrado no exemplo a seguir. Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste:
Figura 7 Falta Trifsica Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste. VA = VB = VC = IA = Tenso de falta 0 Tenso Nominal -120 Tenso Nominal 120 ITEST j
90

IB = Corrente de carga +j IC = Corrente de carga +j SEQNCIA NEGATIVA
-120 120
tenses esto em fase com as outras. Desta forma, a tenso de seqncia zero aparece, igual a tenso da falta selecionada. Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste: VA = Tenso de falta 0 VB = Tenso de falta 0 VC = Tenso de falta 0 IA = Itest/3 j IB = Itest/3 j IC = Itest/3 j
Para falta de seqncia negativa, a corrente de teste ITEST aplicada em todas as fases com 120 graus de defasagem entre elas. As correntes IB e IC so trocadas, de forma que aparea a corrente de seqncia negativa. Todas tenses tm tenses iguais tenso de falta com 120 graus de defasagem. As defasagnes dos fasores VB e VC so trocadas, de forma que esteja configurada a seqncia negativa.
Figura 9 Seqncia Zero
2.5. Comportamento Direcional Este ajuste influencia a tenso de sada. Se este parmetro ajustado para : Figura 8 Seqncia Negativa Os valores mostrados sero considerados pelo dispositivo de teste. VA = Tenso de falta 0 VB = Tenso Nominal 120 VC = Tenso Nominal -120 IA = ITEST j IB = ITEST 120 + j IC = ITEST -120 + j SEQNCIA ZERO Para as faltas de seqncia zero, a corrente de teste ITEST aplicada em todas fases, com 0 graus de defasagem. As correntes esto em fase com as outras. Desta forma, a corrente de seqncia zero aparece igual a ITEST selecionado. As tenses so iguais as tenses de falta, com 0 graus de defasagem, as
Direcional: Tenses sero consideradas segundo o tipo de falta selecionada e o estado da corrente na seqncia de shot. No-Direcional: Nenhuma tenso de sada aparecer
A seqncia de shot consiste em pr-falta, falta e ps-falta. O detalhamento de cada estado de teste, ou a transio de um estado par o prximo mostrado abaixo.
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ps-falta pode ser ajustada atuando do Delay Time. 2.6. Conexo Ponto de Neutro TC A conexo dos TCs somente relevante para rels de sobrecorrente direcionais. Isto influencia a defasagem entre as correntes e tenses. Se este parmetro ajustado para:
Figura 9 Comportamento de Falta Durante o estado de pr-falta, todas tenses so ajustadas para o sistema balanceado, com magnitude igual tenso nominal, e Ajuste de VA igual a 0 graus. A durao do estado de pr-falta pode ser ajustado no Tempo de Pr-falta; se for ajustado para zero, nenhum estado de pr-falta considerado. Durante o estado de falta, as correntes e tenses so consideradas de acordo com o ajuste do tipo de falta ou a aplicao do modelo de falta (item 2.4) (L-N, L-L,L-L-L, I2, I0). O ltimo estado da falta at a condio de trigger ser encontrada ou o mximo tempo de falta ter transcorrido. O estado de ps-falta projetado para permitir o reset do objeto testado. Durante o estado de ps-falta, existem duas possibilidades:
Em direo linha, A corrente possui uma defasagem em relao a tenso ajustada pelo parmetro ngulo (I) na caixa direo na pgina de parametrizao da Falta. Em direo barra, A corrente tem uma defasagem da tenso A corrente possui uma defasagem em relao a tenso de um angulo (I) + 180 graus.
cada uma das tenses nominais no sistema balanceado com corrente zero, ou ambas tenses e correntes sero ajustadas para 0.
Isto pode ser ajustado com o parmetro Conexo TP na tela de parametrizao.A durao do estado de
Figura 10 - Exemplo de Conexo: Conexo Ponto de Neutro TC em direo a barra
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Figura 11 Dispositivo de proteo 2.7. Parmetros I/t do Grupo de usados para o teste da caracterstica de tempo inverso.
Falta Selecionado
Nesta caixa, os parmetros do grupo de falta selecionados podem ser ajustados. Para mostrar ou editar os parmetros de diferentes grupos de falta, o grupo de falta necessita ser selecionado na caixa de seleo do grupo de falta. Cada regio de trip (I>, I>>, I>>>) pode ser ativada ou desativada pela marcao ou no do checkbox . Como padro, as regies I> e I>> so ativadas e a regio I>>> desativada. O tempo de trip para as regies de trip (I>, I>>, I>>>) pode ser ajustados. Para a regio de trip I> o ajuste de tempo tambm representado. O tempo de trip em segundos para a caracterstica de tempo definido ou o index da curva de tempo (dial de tempo)
3. DEFINIO CARACTERSTICA
DA
Os elementos desta caixa dependem do ajuste do grupo de falta e do tipo da caracteristica. Como padro associada a caracteristica de tempo inversa. O nome do grupo de falta mostrado na parte superior esquerda desta caixa. Se desejar mudar o grupo de falta, necessrio mudar para a pgina de parmetros de sobrecorrente. 3.1. Definio
da
Equao
Caracterstica
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Pode-se escolher dentre das seguintes opes para definir a equao caracterstica:
caracterstica pode ser importa de um arquivo DCC. 3.2. Termos
da Caracterstica
Equao
Figura 12 Opes para Equao Caracterstica Copiar - Pressione este boto para abrir um dialogo, onde a caracterstica de diferentes grupos de falta pode ser copiada para o grupo de falta selecionado. Novo - Pressione este boto para abrir uma nova caixa de dialogo, onde a nova caracterstica pode ser criada para o grupo de falta corrente selecionado. Pr-definido - Pressione este boto para abrir uma caixa de dialogo, onde uma caracterstica predefinida pode ser escolhida para o grupo de falta corrente selecionado. O mdulo de teste de sobrecorrente tem quatro caractersticas pr-definidas :

Estes sos os fatores das equaes para a definio de cada uma das caractersticas inversas na equao IEEE entendida (fatores A, B, P, Q, K1 e K2) ou da caracterstica IT (fatores A, Q, P) representando a equao IEEE padro. Estes fatores so necessrios para ajustar a caracterstica de acordo com a especificao do fabricante. Basta acesssar o boto Novo para abrir uma janela e escolher a nova caracterstica, conforme mostra a figura 13.
Definite Time IEC Normal Inverse IEC Very Inverse IEC Extremely Inverse Figura 13 Nova caracterstica Para os fatores dos rels de uma planta, favor consultar o manual do rel ou pergunte ao fabricante do mesmo. Aps a escolha na tela mostrada na figura 13, basta preencher os valores dos fatores das equaes, conforme mostrado nas figuras 14 e 15.
Essas caractersticas no podem ser modificadas. Tambm, a caracterstica pode ser definida pelo usurio. As caractersticas predefinidas IEC seguem as equaes IEEE standart. A tabela a seguir mostra os parmetros usados.
Caracterstica
A B P Q K1 0.1 0.0 0.0 1 0 4 2 IEC Very Inverse 13. 0.0 1.0 1 0 5 IEC Extremely 80. 0.0 2.0 1 0 Inverse 0 Tabela 1 Parmetros das curvas
IEC Normal Inverse
K2 0 0 0
Importar - Pressione este boto para abrir uma caixa de dialogo, onde a
94

Figura 14 Termos da Equao Caracterstica IEEE extendida
A corrente de teste ITEST para um ponto de teste simples pode ser especificada aqui pela entrada do valor desejado. Clicando o boto esquerdo do mouse no diagrama da caracterstica de sobrecorrente o valor correspondente transferido para este campo. O ponto de teste pode ser adicionado pressionando o boto Adiconar. O valor pode ser especificado em MTS ou em Corrente absoluta (Veja Vista/Correntes Absolutas).
Figura 15 Termos da Equao Caracterstica IEEE padro 3.3. ndice de tempo (Time Index) O ndice de tempo mostrado. Para muda-lo, v para a pagina de parmetros de sobrecorrente e mude o valor na coluna de tempo da regio de trip I>.
Figura 16 Correntes Absolutas Para adicionar um ponto de teste clique o boto esquerdo do mouse no diagrama de sobrecorrente pressionando a tecla Ctrl.
5. FALTA
5.1. Ajustes de Falta
4. PARAMETRIZAO DO TESTE
4.1. Tipo de Falta Clicando em uma destas opes selecione o tipo de falta. O ajusta para o tipo de falta um ajuste de teste geral e, portanto vlido para todos os pontos definidos na tabela abaixo. De acordo com o ajuste do tipo de falta, o modelo de falta apropriado usado para o calculo dos valores de teste. Modelos de falta para falhas monofsicas, bifsicas, trifsicas, falhas com seqncia negativa e seqncia zero esto disponveis. 4.2. Corrente de Teste - ITEST
5.1.1. Tempo Mximo Absoluto e Tempo Mximo Relativo

A mxima durao da falta pode ser ajustada com sendo um valor absoluto em Tempo max, ou como um valor relativo em percentual do mximo tempo de trip em Tmax realtivo.
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Durante o estado de pr-falta, todas tenses so ajustadas para o sistema balanceado, com magnitude igual tenso nominal, e ajuste de VA em 0 graus. A durao do estado de pr-falta pode ser ajustada em T de pr-falta; se este ajuste for 0, o estado de pr-falta no considerado.
5.2.2.
Tempo de Atraso
O estado de ps-falta projetado para permitir o reset do objeto testado. Durante o estado de ps-falta, existem duas possibilidades:
Figura 17 Configuraes de Falta O mximo tempo de trip ajustado na caixa Tolerncia de Tempo na tela de parametrizao de sobrecorrente, Dispositivo de Proteo. Ver item 2.3. O ajuste percentual dever ser adicionado ao mximo tempo de trip (P.ex. o valor de 10% resultar em um mximo tempo de falta de 1,10 x Tmax). O sistema sempre utiliza a menor dos dois valores de tempo. O sistema permite o teste atravs de uma larga faixa de corrente e tempo de operao sem danificar o rel.
cada uma das tenses nominais no sistema balanceado com corrente zero, ou ambas tenses e correntes sero ajustadas para 0.
Isto pode ser ajustado com o parmetro Conexo do TP na tela de parametrizao. A durao do estado de ps-falta pode ser ajustada no item Tempo de Atraso. 5.3. Direo
5.3.1. Tenso de Falta, Tenso Nominal
ngulo,
5.1.2.
Corrente de Carga
Esta corrente ser considerada para todas fases durante o estado de prfalta na seqncia de shot. Durante o estado de falta esta corrente somente ser considerada para as fases sem falta para faltas monofsicas. 5.2. Ajustes Adicionais
Como a tenso de falta ser usada para formar a tenso de fase de falta, depende do modelo de falta correspondente. O angulo (I) o angulo entre as tenses e correntes no estado de falta. Com a tenso nominal tambm usada para o calculo da falta, ela mostrada aqui.
6. GERAL
6.1. Teste de Pick up Na tela de parmetros gerais, o teste de pickup pode ser ativado. Se o 96
5.2.1.
:
Tempo de Pr-Falta
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teste de pickup habilitado, ele ser executado antes do primeiro ponto da tabela de teste. O teste de pickup projetado para determinar os limites de operao do objeto sob teste. Em passos, a corrente aumentada/diminuda. Em cada passo, o valor considerado corresponde ao tipo de falta selecionado.
sem o contato de partida, ou seja, para rels digitais ou eletromecnicos.
6.1.1. Determinao do pickup/dropout em rels com contato de partida

INFORMAES
PICKUP GERAIS SOBRE O TESTE DE
Para este teste, necessrio que o contato geral de partida seja designado. Caso contrrio, o modulo de teste ira reportar hardware insuficiente e o teste no ser executado. O estado de pr-falta no relevante para este teste e, portanto no ser considerado. DETERMINAO
DO VALOR DE
DROP-OUT
Figura 18 Configuraes de Falta GERAL A tenso, se habilitada, ser tambm considerada de acordo com o ajuste da tenso de falta. Se a pr-falta selecionada, o programa ir aplicar os valores de prfalta durante o tempo de pr-falta, para que o rel seja preparado para o teste. Para a avaliao automtica, o teste ser sempre considerado como aprovado. Entretanto, se o teste de Pickup/Dropout o nico teste selecionado no modulo, ento o teste somente ser aprovado se os valores de pickup e dropout forem encontrados com xito. Existem dois tipos de teste, com a determinao de pickup e dropout com e
Para determinar o valor de dropout, o modulo partir a corrente de falta para (1.15 x IPICKUP.). Isto causar a operao do contato de partida. Se o contato de partida no estiver operado aps o tempo assinalado em Resoluo o teste ser cancelado. A corrente de teste ser reduzida em degraus com tamanho de (0.01 x IPICKUP), at o contato de partida abrir ou at o valor de (0.8 x IPICKUP ) ser alcanado. Se o contato no aberto, os valores de pickup/dropout no podem ser determinados e o teste cancelado. Se o contato abre, o valor da corrente gravado como o valor de dropout do rel. DETERMINAO
DO VALOR DE
PICKUP
Usando o mesmo tamanho de passo e tempo, at que o contato de partida opere ou o valor de (1.15 x IPICKUP.) seja alcanado. Se o contato de partida no esta ativo, o teste ser cancelado, e somente o valor de dropout ser gravado. Entretanto, o valor para que o contato de partida opere gravado como o valor de pickup do rel.
97

Figura 19 Determinao do valor de Pickup e Dropout com contato de partida Caso o rel opere, o valor O mdulo de teste segue os gradualmente reduzido at 0.8 x I PICKUP, seguintes critrios: caso no haja a desoperao do contato o teste cancelado. Se o contato de partida parte da condio de trigger, o mdulo de teste ir considerar o contato ativo e fechado ou ativo e aberto de acordo como foi definido na condio de trigger (1 ou 0 respectivamente). Se o contato definido como No usado (X), o mdulo de teste ir considerar como contato fechado. 6.1.2 - Determinao dos valores de Pickup/Dropout para rels sem contato de partida INFORMAES PICKUP
GERAIS SOBRE O TESTE DE
Figura 20 - Valores de Pickup e Dropout no encontrados. USO

DO CONTATO DE PARTIDA
O algoritmo utilizado leva vantagem, pois considera a inrcia de dispositivos eletromecnicos ao determinar os valores de pickup e dropout.
98

Para detectar o trip, o mdulo de teste usa a condio de trigger. Tal condio considera o trip no rel quando a entrada binria realizar a condio de trigger, ou cosidera o no trip quando isto no ocorrer. DETERMINAO
DO VALOR DE PICKUP
O mdulo de teste ocasiona o trip no rel pelo mtodo da falta valores de IPICKUP (valores de trip). Esta falta ser processada com sendo um ponto de teste normal. Entretanto, ela ter um tempo de trip nominal, e o mximo tempo de falta derivado. Os valores de falta (aps a prfalta, se escolhida), so aplicados ao rel at ocorrer trip ou at o mximo tempo de falta esgotar. Para este caso particular, nenhum teste para o tempo fora da faixa feito. Se o rel no d trip dentro do mximo tempo de falta, o teste de pickup cancelado. Depois que o trip detectado, os geradores sero desligados para a Resoluo adotada ou at a condio de trip no estar mais presente. Isto ser reaplicado com valores de 1,15 x IPICKUPS at que o rel atue com o trip novamente ou decorra 3 segundos, quando o temporizador expira.
Assim, a seqncia repetida para valores de 1.14, 1.13 x I PICKUPS em diante, at que para um deles no atue o trip do rel. O ltimo valor para o qual ocorre a atuao de trip do rel gravado como o valor de pickup. Se a seqncia alcana 0.8 x I PICKUPS detectando trip para todos pontos, o valor de pickup no pode ser determinado e o teste cancelado. DETERMINAO
DO VALOR DE
DROP-OUT
Aps a determinao do valor de pickup, 1.15 x IPICKUPS aplicado at o trip do rel operar ou passado o tempo de 10 segundos o temporizador expira. Se o temporizador expirar, o valor de dropout no pode ser determinado e o teste cancelado. Se o trip do rel opera, o mdulo de teste reduz o valor da falta em pasos de 0,01 x IPICKUP , com o passo de tempo igual ao adotado em Resoluo, at que a condio de trip desaparea ou o alcance 0.8 x IPICKUP . No ltimo caso, o valor de dropout no pode ser determinado, e o teste cancelado. Entretanto, o passo em que a condio de trip desapareceu ser gravado como valor de dropout.
99

Figura 21 - Determinao do valor de Pickup e Dropout sem contato de partida
Tempo mximo de falta

Figura 22 Atuao do tempo mximo de falta
100

Tempo de Resoluo
Figura 21 Atuao do tempo de resoluo Os contatos de TRIP e PARTIDA devem ser pr-definidos poir estes contatos so necessrios para a realizao do teste. Para mudar a designao dos contatos binarios de entrada deve-se acessar a configurao de hardware (pressione Ctrl + H) ou acesse o icone.
Figura 22 Acesso Configuraao de Hardware
101

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1. PARMETROS DA PROTEO DE SOBRECORRENTE

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Esses fatores so suportados pelos mdulos de Distancia e Distancia Avanado.

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1.. Sinal antes do filtro

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IB = Corrente de carga +j IC = Corrente de carga +j SEQNCIA NEGATIVA

Figura 9 Seqncia Zero

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Figura 10 - Exemplo de Conexo: Conexo Ponto de Neutro TC em direo a barra

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caracterstica pode ser importa de um arquivo DCC. 3.2. Termos

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Figura 14 Termos da Equao Caracterstica IEEE extendida

5.1.1. Tempo Mximo Absoluto e Tempo Mximo Relativo

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5.3.1. Tenso de Falta, Tenso Nominal

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sem o contato de partida, ou seja, para rels digitais ou eletromecnicos.

6.1.1. Determinao do pickup/dropout em rels com contato de partida

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Figura 20 - Valores de Pickup e Dropout no encontrados. USO

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Figura 21 - Determinao do valor de Pickup e Dropout sem contato de partida

Tempo mximo de falta

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Figura 22 Acesso Configuraao de Hardware

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