UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA, CARACTERIZACIN DE DIELCTRICOS, LNEAS Y ANTENAS, DICIEMBRE 2011 1

Caracterizacin de materiales dielctricos

mediante lneas de transmisin
Nicols Lpez R., 222953-Ingeniera Elctrica, dnlopezr@unal.edu.co
ResumenA partir de una implementacin en microcinta se
caracterizar un material dielctrico para hallar la constante
dielctrica relativa y su tangente de prdidas considerando un
barrido frecuencial en el rango de 2 GHz a 3 GHz a partir de los
parmetros S arrojados por un analizador vectorial ya que la
permitividad es una funcin respuesta de variables frecuenciales
y termodinmicas. Mediante aproximacines experimentales
que modelan la estuctura geomtrica de la microcinta que
son producto de resolver las ecuaciones de Maxwell para dicha
geometra, se calcularn las dimensiones iniciales de la lnea
de transmisin para su diseo e implementacin.
Palabras ClaveAnalizador vectorial (VNA), constante dielc-
trica, funcin respuesta, lnea de transmisin, parmetros de
dispersin.
I. INTRODUCCIN
D
ADO que todos los materiales son dispersivos, su
caracterstica de polarizacin vara con la frecuencia
y con la temperatura. Para el caso de un campo elctrico
incidente variable con el tiempo se tiene la relacin con-
stitutiva como la convolucin

D(x, y, z, t ) =
_
t

(t t

E(x, y, z, t ) dt

(1)
En el dominio de la frecuencia, la ecuacin 1 se tiene
como la multiplicacin

D(x, y, z, ) =()

E(x, y, z, ) (2)
Tambin vale la pena mencionar que los materiales
poseen una histresis de acuerdo a la intensidad de
campo elctico incidente lo cual da a lugar a campos de
polarizacin no lineales los cuales deben ser linealizados
mediante una combinacin lineal de varias componentes
frecuenciales o armnicas [1], [2]. Los materiales pueden
cambiar sus direcciones polarizantes de acuerdo a la
naturaleza del campo modicando sus componentes
tensoriales de susceptibilidad elctrica, es decir sus
condiciones de anisotropa. Dado que la temperatura es
producto de una oscilacin molecular en la estructura
interna del material, la permitividad depende de la
temperatura [2], pero no se considerar esta caracterstica.
Para hallar la constante dielctrica solo se tomar
el modelo frecuencial, adicionalmente se considera que
el medio es homogneo e isotrpico y se partir del
hecho que se tiene un modelo causal sin historiales de
polarizacin y temperatura ambiente constante.
II. METODOLOGA
A partir de una lnea de transmisin impresa (microcinta)
en un sustrato dielctrico de tal manera que se garantice su
operacin en el rango de frecuencia de 2 GHz a 3 GHz, se
tendr una longitud de acuerdo a la longitud de onda con
valor

2
y se establecern las dimensiones de la lnea para
denir su geometra. Seguidamente se procede a calcular
y simular por computadora los parmetros de dispersin S
relevantes (S
11
y S
21
) para hallar la constante de propa-
gacin como una funcin de la frecuencia y nalmente
obtener la constante dielctrica. Con base en lo calculado
se implementar una lnea en un sustrato dielctrico para
medir sus parmetros S con el analizador vectorial y repi-
tiendo el proceso descrito en la etapa de diseo para hallar
la constante dielctrica experimental.
III. PROCEDIMIENTO Y RESULTADOS
Se consider el material FR4 (conglomerado epxico de
bra de vidrio) con permitividad relativa y 4.3 y tangente de
prdidas 0.022 a 1 GHz [10] para el sustrato dielctrico de la
lnea de transmisin. A partir de las ecuaciones experimen-
tales que son producto de las soluciones de las ecuaciones
de Maxwell las cuales relacionan las dimensiones de la
lnea, su permitividad relativa y la impedancia de la lnea,
se hallan las dimensiones de la lnea con Z

y
r
conocidos.
Para ello se tendr en cuenta la siguiente formulacin para
las lneas microcinta.
A. Permitividad relativa efectiva
En la lnea microcinta se tienen dos medios con diferente
permitividad lo cual provoca que los campos elctricos sean
discontnuos generando un cambio en la velocidad de fase
y la longitud de onda, esto hace que no se tenga un modo
TEM estricto sino una condicin hbrida de modos TE y
TM, pero dado que el campo elctrico transversal en la lnea
es prcticamente nulo se puede hacer una aproximacin a
un modo TEM cuasiesttico por lo tanto se integrarn la ve-
locidad de fase y la longitud de onda a un medio dielctrico
nico que emule esta condicin TEM cuasiesttico, dicho
medio cticio tiene una permitividad relativa efectiva
r e
[1], descrita por la ecuacin experimental [1].

r e
=

r
+1
2
+

r
1
2
_
1+12
h
W
_

1
2
(3)
donde h y W son el grosor del sustrato y el ancho de la
microcinta respectivamente.
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B. Impedancia caracterstica de la microcinta
Al modelar la estructura como una lnea de transmisin
se tendr una impedancia caracterstica en funcin de la
permitividad relativa efectiva y los parmetros anterior-
mente descritos mediante la ecuaciones 4 y 5
Z

=
60

r e
ln
_
8h
W
+
W
4h
_
W
h
<1 (4)
Z

=
120

r e
_
W
h
+1.393+0.667ln
_
W
h
+1.444
__ (5)
si
W
h
>1.
C. Ecuaciones para el diseo de la microcinta
Con un valor de impedancia caracterstica dado se tiene
la relacin
W
h
=u con las ecuaciones 6 y 7
u =
8e
A
e
2A
2
(6)
si u <2
u =
2

_
B 1ln(2B 1) +

r
1
2
r
C
_
(7)
si u >2, donde
A =
Z

60
_

r
+1
2
+

r
1

r
+1
_
0.23+
0.11

r
_
(8)
B =
377
2Z

r
(9)
C =ln(B 1) +0.39
0.61

r
(10)
Para el diseo de la microcinta se considera Z

=50
para minimizar el riesgo de desacople con el analizador
vectorial ya que sus impedancias de entrada en las sondas
son de 50 teniendo en cuenta tambin que el desacople
no incurre en problemas en la medicin sino en un au-
mento en la magnitud de S
11
. Asumiendo la condicin de la
ecuacin 6, considerando las ecuaciones 3, 8, un grosor de
sustrato de h=1.6 mm y un grosor de cinta de t =35 m [9]
se tienen las dimensiones de la microcinta y la permitividad
relativa efectiva para cada material en la tabla I
TABLA I
PARMETROS DE MICROCINTA
Sustrato Wmm L mm
r e
FR-4 3.11184 41.499 3.3158
Lo anterior puede validarse mediante las simulaciones
por computadora empleando la herramienta TransCalc de
Qucs donde se introducen los datos hallados en la tabla
I para determinar la consistencia de las dimensiones con
base a la impedancia de lnea asignada y el desfase de 180

esperados para el sustrato lo cual se ilustra en las gura 1.

Empleando Qucs se simula la lnea de transmisin me-
diante un barrido de frecuencia de 2 GHz a 3 GHz para
Fig. 1. Vericacin y simulacin mediante TransCalc para el sustrato
FR-4.
P1
Num=1
Z=50 Ohm
P2
Num=2
Z=50 Ohm
MS1
Subst=Subst1
W=3.11184 mm
L=41.499 mm
S parameter
simulation
SP1
Type=lin
Start=2 GHz
Stop=3 GHz
Points=50
Subst1
er=4.3
h=1.6 mm
t=35 um
tand=0.022
rho=0.022e-6
D=0
Fig. 2. Simulacin de la microcinta para el sustrato FR-4 mediante Qucs.
obtener los parmetros de dispersin relevantes S
11
y S
21
los
cuales se considerarn como los datos reales. En la gura
2 se ilustra el esquemtico junto con su sustrato.
Como modelo comparativo a la seal medida se generar
una seal de entrada con base en un SNR (Signal-to-Noise
Ratio) de 30 dB la cual ser una seal modicada a partir
de la original donde se adicionan componentes aleatorios
de origen gaussiano. La nueva entrada puede sintetizarse
si se conoce la funcin de transferencia que describa la
dinmica de la microcinta o bien, modicar los parmetros
de dispersin a partir de una desviacin que se tiene a
partir del SNR mediante 11. Apelando a la segunda opcin
se cosnsideran los parmetros reales donde se construyen
sus ruidos en magnitud y fase en la gura 3 para el FR-4.
STD =|S
mR
S
r R
| =10

SNR
20
(11)
donde S
mR
y S
r R
son valores de referencia medido y real
donde el valor medido se asume que es de mdulo unitario
y el valor real es desconocido. Lo anterior se tiene con base
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a una medida de eciencia de la red descrita por [4]
S
11
S

11
+S
21
S

21
1 (12)
La anterior desigualdad es estrictamente menor a la
unidad si se tienen prdidas en la red ya sean trmicas o
por radiacin. El parmetro medido puede describirse en el
plano complejo mediante una circunferencia de radio STD
y centro en S
m
donde cada valor real esta contenido en la
circunferencia. Los Parmetros S arrojados por el analizador
vectorial (VNA) tienden a tener ms ruido en su magnitud
que en la fase obedeciendo entonces tener una variacin
independiente de la direccin para la magnitud. Lo anterior
se ilustra en la gura 3 donde se describen magnitud y fase
para los parmetros S
11
y S
21
para las tres seales.
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
80
60
40
20
0
M
a
g
n
i
t
u
d

[
d
B
]
s11


Real
SNR
VNA
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
200
100
0
100
200
Frecuencia [Ghz]
F
a
s
e

[
d
e
g
]
s11
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
10
5
0
5
M
a
g
n
i
t
u
d

[
d
B
]
s21


Real
SNR
VNA
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
200
100
0
100
200
Frecuencia [Ghz]
F
a
s
e

[
d
e
g
]
s21
Fig. 3. Parmetros de dispersin para FR-4 con la seales SNR y VNA.
El dispositivo bajo prueba DUT 4 cumple con las es-
pecicaciones dimensionales calculadas a partir de las
ecuaciones 3 a 10 y la validacin de TransCalc el cual
arroja los parmetros experimentales etiquetados con VNA
en 3 el cual fue conectado al analizador vectorial a travs
de conectores SMA (SubMiniature version A) y sondas
cuya fase adicional ya fue corregida restando la fase del
parmetro S
21
correspondiente a la red compuesta por la
combinacin SMA-sondas a las fases del los parmetros
del DUT, procedimiento llamado correccin vectorial [8]
para la remocin de errores sistemticos. Cabe anotar que
el SWR de estos conectores se encuentra alrededor de 1.2
aumentando la reexin de la onda y por ende elevando la
magnitud del parmetro S
11
experimental.
Fig. 4. Lnea de transmisin impresa en un sustrato FR-4 con los
conectores SMA hembra.
Con lo anterior ya es posible calcular los dems parmet-
ros requeridos para caracterizar el material en funcin de
la frecuencia. A partir de las ecuaciones telegrcas en
trminos de tensin y corriente se halla la constante de
propagacin mediante la ecuacin 13 [7]
e
l
=S
21
_
A +1
2
_

(S
11
1)(S
11
+S
11
A A +1)
2S
11
(13)
donde A se describe con 14.
A =
_

S
2
11
+2S
11
S
2
21
+1
S
2
11
+2S
11
+S
2
21
1
(14)
Estableciendo la direccin de propagacin positiva se
tiene la constante de fase y atenuacin como 15 y 16.
=
_

1
l
ln
_
S
21
_
A+1
2
_

(S
11
1)(S
11
+S
11
AA+1)
2S
11
__
(15)
=
_

1
l
ln
_
S
21
_
A+1
2
_

(S
11
1)(S
11
+S
11
AA+1)
2S
11
__
(16)
Se debe tener especial cuidado al tomar el logaritmo nat-
ural del vector complejo ya que su parte imaginaria es una
funcin peridica y puede tomar diversos valores adi-
cionales siendo stos mltiplos enteros de 2 que tambin
son solucin. El mltiplo entero debe restarse al argumento
ya que se est agregando una fase adicional lo cual se
podra traducir en un aumento de la longitud elctrica para
la lnea de transmisin. Los valores de y para la lnea
se tienen como vectores en funcin de la frecuencia para
posteriormente caracterizar el comportamiento del sustrato
con su permitividad relativa y su tangente de prdidas
donde la permitividad relativa efectiva en funcin de la
frecuencia se tiene como

r e
=
_

k
0
_
2
=
_
c
2f
_
2
(17)
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Mediante diferencias nitas es posible resolver la
ecuacin de Laplace para la geometra de la microcinta
con ciertas condiciones de frontera aprovechando la aprox-
imacin de TEM cuasiesttico para el sustrato FR-4 con las
dimensiones de la tabla I.
10 5 0 5 10
10
8
6
4
2
0
2
4
6
8
10
Color: V Height: V

0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
Fig. 5. Distribucin del potencial electrosttico normalizado para FR-4.
El vector de campo elctrico es normal a la supercie
equipotencial donde su mayor concentracin se presenta
debajo de la microcinta. Tambin es posible notar la dis-
contiuidad en el potencial y en el campo debido al cambio
de medio donde la lnea negra divisoria ilustra la interfaz
dielctrica aire-sustrato por lo tanto se resuelve la ecuacin
de Laplace

2
=0 (18)
con las condiciones de frontera de tensin nula en el
cuadriltero arbitrario que limita el exterior y un potencial
normalizado en la microcinta (V=1 V). El campo elctrico
y la densidad de carga supercial se denen [2]

E = (19)
=
r e
n =
r e

n
(20)
donde el vector normal a la supercie de la microcinta n
se encuentra en direccin

j y se evala la derivada normal
a la supercie en la ubicacin de la microcinta segn la
referencia dispuesta. Los vectores de campo elctrico se
ilustran en la gura 6.
Como sustituto de la ley de Gauss para hallar la distribu-
cin de carga, es posible realizar una integral de lnea con
una trayectoria arbitraria que encierre la microcinta para
hallar la carga por unidad de longitud de tal suerte que se
obtenga nalmente la capacitancia efectiva por unidad de
longitud con la tensin de la supercie de la microcinta,
de esta forma se obtiene la perimitividad relativa efectiva
como [5]
10 5 0 5 10
10
8
6
4
2
0
2
4
6
8
10


Contour: V Height: V Vector field: E
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
Fig. 6. Distribucin del campo elctrico normalizado (echas rojas) para
FR-4.
Z
0

r e
=
1
V
p
C
e
(21)
Evaluando la integral de lnea cerrada sobre la microcinta
se obtiene la carga por unidad de longitud

_


dl =
q

r e
(22)

r e
=cZ
0
CL =3.3442 (23)
donde C=29.55 pF, Z
0
es la impedancia del aire y L es la
longitud de la microcinta.
A partir del valor de la permitividad relativa efectiva
se puede hallar la permitividad relativa en funcin de la
frecuencia a partir de la ecuacin 3. Asignando
x =
_
1+12
h
W
_

1
2
(24)
se tiene
r
como

r
=
2
r e
+x 1
1+x
(25)
Para el sustrato se ilustra su permitividad relativa en
funcin de la frecuencia en la gura 7 donde es posible
notar que a 2 GHz se obtiene con una ligera variacin
el valor de la permitividad de 4.3 para el FR-4 con los
parmetros reales. Para los parmetros VNA se obtiene una
permitividad por debajo del valor esperado.
La tangente de prdidas se obtiene aproximadamente
con [3]

d
=
K
0

r
(
r e
1) tan
2

r e
(
r
1)
(26)

c
=
R
s
Z

W
(27)
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2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
3
3.5
4
4.5
Frecuencia [Ghz]
P
e
r
m
i
t
i
v
i
d
a
d

r
e
l
a
t
i
v
a


Real
SNR
VNA
Fig. 7. Permitividad relativa en funcin de la frecuencia para las tres
seales.
donde R
s
es la resistencia supercial del conductor y sta
es dada por
R
s
=
_

2
(28)
El Valor de hallado corresponde a la adicin de las
atenuaciones en el dielctrico y en el conductor
=
d
+
c
(29)
nalmente, la tangente de prdidas en funcin de la
frecuencia se obtiene
tan =
_

R
s
Z

W
_
2

r e
(
r
1)
k
0

r
(
r e
1)
(30)
Para las tres seales se caracteriza la tangente de prdidas
a partir de la gura 8 con lo cual se obtienen los valores
esperados muy aproxiamdamente de 0.022 para las seales
real y SNR 2 GHz, para los parmetros VNA se tiene una
mayor tangente de prdidas.
IV. ANLISIS DE INCERTIDUMBRE
Como fuentes conocidas de error en los anlisis de trans-
misin/reexin descritos por los parmetros de dispersin
se tienen [6]
1) Errores en la magnitud y fase de los parmetros de
dispersin
2) Incertidumbre en las dimensiones de la microcinta
3) Acoplamientos indeseados en modos de propagacin
de orden superior
La incertidumbre diferencial para la permitividad relativa
la cual relaciona de manera eucldea las incertidumbres
debidas a los parmetros S y las dimensiones relevantes
de la microcinta se tiene como
r
r
=
1
r
_
_
r
|Si j |
|S
i j
|
_
2
+
_
r
L
L
_
2
+
_
r
W
W
_
2
+
_
r
h
h
_
2
(31)
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
0.45
Frecuencia [GHz]
t
a
n
(

)


Real
SNR
VNA
Fig. 8. Tangente de prdidas para las tres seales.
donde el primer trmino de la raz es la aproximacin
de primer orden de la variacin de la magnitud de la
permitividad relativa respecto del parmetro S
i j
donde
debe considerarse STD =|S
i j
| y los dems trminos corre-
sponden a sus variaciones debidas a las dimensiones de la
microcinta y cada delta corresponde a la incertidumbre de
la medida, con lo anterior se debe asumir que las derivadas
existen dentro de la circunferencia es decir, sean funciones
analticas. De manera anloga la incertidumbre diferencial
para la tangente de prdidas es dada por [6]
tan
tan
=
1
tan
_
_
t an
|Si j |
|S
i j
|
_
2
+
_
tan
L
L
_
2
+
_
tan
W
W
_
2
+
_
tan
h
h
_
2
(32)
De esta manera, las incertidumbres diferenciales para
la permitividad y la tangente de prdidas relativas a las
medidas SNR y VNA se ilustran en la gura 9
Es notorio a partir de las grcas 9 que la incertidumbre
diferencial se mantiene en un promedio de 5% para la
permitividad dado que las desviaciones en las magnitudes
de los parmetros S se encuentran alrededor de 0.03 con
respecto a SNR y la contribucin de las incertidumbres
dimensionales para estas tolerancias es nma. Alrededor
de 2.84 GHz se presenta un pico que llega hasta el 10% de-
bido a una discontinuidad en la pendiente para la derivada
parcial de la permitividad con respecto a la magnitud de
S
11
. En el caso de la seal VNA se tiene una incertidumbre
mucho ms grande debido a la diferencia signicativa
que se tiene con los parmetros reales y medidos en el
parmetro S
11
generando una mayor desviacin |S
11
|. Es
posible realizar un anlisis anlogo para la tangente de
prdidas. En la gura 9 se tienen ordenadas en la izquierda
y en la derecha para SNR y VNA respectivamente con el n
de conservar la presicin para cada incertidumbre.
V. CONCLUSIONES
Dado que la seal real fue calculada a partir de un
sistema lineal de transmisin considerando condiciones
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2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
0.04
0.06
0.08
0.1
S
N
R
Frecuencia [Ghz]

r
/
r
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
0
50
100
150
V
N
A
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
0
0.01
0.02
0.03
0.04
S
N
R
Frecuencia [Ghz]
tan()/tan()
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
x 10
9
0
10
20
30
40
V
N
A
Fig. 9. Incertidumbres diferenciales para la permitividad y la tangente de
prdidas en funcin de la frecuencia relativas a las seales medidas SNR
y VNA.
ideales para el sustrato y condiciones de acoplamiento
entrada/salida se obtuvo mediante simulacin el par trans-
misin/reexin que caracteriza el DUT con respuestas
limpias y con muy poca prdida energtica para la banda
de frecuencia de inters en cual se desea hallar la variacin
de la permitividad compleja con la frecuencia. Los datos
reales calculados les fue adicionado un SNR de 30 dB el
cual emule una condicin de medida con valores aleatorios
para observar la propagacin que puede tener dicho ruido
en los clculos de permitividad y tangente de prdidas.
A partir del diseo e implementacin de un DUT
para caracterizar su sustrato dielctrico se obtuvieron sus
parmetros S a partir de una analizador vectorial para
comparar los datos procesados y simulados, dichos parme-
tos S experimentales que aumentaron hasta 40 dB de los
simulados y con diferencias de fase hasta de 180

se asocian
a
1) Tolerancias adicionales en la implementacin de la
microcinta
2) Condiciones de no linealidad inherentes al material
o por la seal de entrada generada por el analizador
vectorial
3) Condiciones ambientales que modiquen las los re-
sultados de la prueba [4] del dielctrico ya sean
temperatura y/o humedad
4) Error sistemtico aadido por los conectores SMA y
las sondas de comunicacin con el analizador vecto-
rial, el cual debe ser corrgido vectorialmente mediante
la eliminacin de su fase transmitida en todos los
parmetros del DUT
5) Incertidumbres de procesamiento presentes en el
analizador.
Lo anterior modica los resultados para los clculos de la
permitividad compleja dado que los parmetros obtenidos
son ms altos que los simulados lo cual se traduce en
un desacople del DUT con el analizador aumentando la
reexin de la seal incidente como tambin las prdidas
dado que la transmisin S
21
disminuye. Dichas prdidas
incluyen las del conductor, dielctrico y radiacin lo cual es
visible en el aumento de la tangente de prdidas en la gura
8. La permitividad relativa est asociada directamente con
la constante de fase la cual debe ser corregida eliminando la
fase adicional para disminuir la longitud elctrica de la lnea
que sta le otorga. l constituye una recta que intercepta
el origen pero debido a la caracterstica no lineal de los
parmetros del DUT hay fases residuales que alteran el
resultado de la permitividad.
REFERENCIAS
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