El efecto fotoelctrico

La emisin de electrones por metales iluminados con luz de determinada frecuencia fue observada a finales del siglo XIX por Hertz y Hallwachs. El proceso por el cual se liberan electrones de un material por la accin de la radiacin se denomina efecto fotoelctrico o emisin fotoelctrica. Sus caractersticas esenciales son:

Para cada sustancia hay una frecuencia mnima o umbral de la radiacin electromagntica por debajo de la cual no se producen fotoelectrones por ms intensa que sea la radiacin. La emisin electrnica aumenta cuando se incrementa la intensidad de la radiacin que incide sobre la superficie del metal, ya que hay ms energa disponible para liberar electrones.

En los metales hay electrones que se mueven ms o menos libremente a travs de la red cristalina, estos electrones no escapan del metal a temperaturas normales por que no tienen energa suficiente. Calentando el metal es una manera de aumentar su energa. Los electrones "evaporados" se denominan termoelectrones, este es el tipo de emisin que hay en las vlvulas electrnicas. Vamos a ver que tambin se pueden liberar electrones (fotoelectrones) mediante la absorcin por el metal de la energa de radiacin electromagntica. El objetivo de la prctica simulada es la determinacin de la energa de arranque de los electrones de un metal, y el valor de la constante de Planck. Para ello, disponemos de un conjunto de lmparas que emiten luz de distintas frecuencias y placas de distintos metales que van a ser iluminadas por la luz emitida por esas lmparas especiales.
Descripcin

Sea la energa mnima necesaria para que un electrn escape del metal. Si el electrn absorbe una energa E, la diferencia E-, ser la energa cintica del electrn emitido.

Einstein explic las caractersticas del efecto fotoelctrico, suponiendo que cada electrn absorba un cuanto de radiacin o fotn. La energa de un fotn se obtiene multiplicando la constante h de Planck por la frecuencia fde la radiacin electromagntica. E=hf Si la energa del fotn E, es menor que la energa de arranque , no hay emisin fotoelctrica. En caso contrario, si hay emisin y el electrn sale del metal con una energa cintica Ek igual a E-.

Por otra parte, cuando la placa de rea S se ilumina con cierta intensidad I, absorbe una energa en la unidad de tiempo proporcional a IS, basta dividir dicha energa entre la cantidad hfpara obtener el nmero de fotones que inciden sobre la placa en la unidad de tiempo. Como cada electrn emitido toma la energa de un nico fotn, concluimos que el nmero de electrones emitidos en la unidad de tiempo es proporcional a la intensidad de la luz que ilumina la placa

Mediante una fuente de potencial variable, tal como se ve en la figura podemos medir la energa cintica mxima de los electrones emitidos, vase el movimiento de partculas cargadas en un campo elctrico. Aplicando una diferencia de potencial V entre las placas A y C se frena el movimiento de los fotoelectrones emitidos. Para un voltaje V0 determinado, el ampermetro no marca el paso de corriente, lo que significa que ni an los electrones ms rpidos llegan a la placa C. En ese momento, la energa potencial de los electrones se hace igual a la energa cintica.

Variando la frecuencia f, (o la longitud de onda de la radiacin que ilumina la placa) obtenemos un conjunto de valores del potencial de detencin V0. Llevados a un grfico obtenemos una serie de puntos (potencial de detencin, frecuencia) que se aproximan a una lnea recta. La ordenada en el origen mide la energa de arranque en electrn-voltios /e. Y la pendiente de la recta es h/e. Midiendo el ngulo de dicha pendiente y usando el valor de la carga del electrn e= 1.6 10-19 C, obtendremos el valor de la constante de Planck, h=6.63 10-34 Js.

Ley de Bragg
La ley de Bragg permite estudiar las direcciones en las que la difraccin de rayos X sobre la superficie de un cristal produce interferencias constructivas, dado que permite predecir los ngulos en los que los rayos X son difractados por un material con estructura atmica peridica (materiales cristalinos). Fue derivada por los fsicos britnicos William Henry Bragg y su hijo William Lawrence Bragg en 1913. La ley de Bragg confirma la existencia de partculas reales en la escala atmica, proporcionando una tcnica muy poderosa de exploracin de la materia, la difraccin de rayos X. Los Bragg fueron galardonados con el Premio Nobel de Fsica en 1915 por sus trabajos en la determinacin de la estructura cristalina del NaCl, el ZnS y el diamante.

Interferencia y difraccin
Cuando los rayos X alcanzan un tomo interaccionan con sus electrones exteriores. Estos reemiten la radiacin electromagntica incidente en diferentes direcciones y con la misma frecuencia (en realidad debido a varios efectos hay pequeos cambios en su frecuencia). Este fenmeno se conoce como dispersin de Rayleigh (o dispersin elstica). Los rayos X reemitidos desde tomos cercanos interfieren entre s constructiva o destructivamente. Este es el fenmeno de la difraccin. En el diagrama que sigue se esquematizan rayos X que inciden sobre un cristal. Los tomos superiores reemiten la radiacin tras ser alcanzados por ella. Los puntos en los que la radiacin se superpone constructivamente se muestran como la zona de interseccin de los anillos. Se puede apreciar que existen ngulos privilegiados en los cuales la interferencia es constructiva, en este caso hacia la derecha con un ngulo en torno a 45.

La radiacin incidente llega a tomos consecutivos con un ligero desfase (izquierda). La radiacin dispersada por los tomos (crculos azules) interfiere con radiacin dispersada por tomos adyacentes. Las direcciones en las que los crculos se superponen son direcciones de interferencia constructiva.

Ley de Bragg

La interferencia es constructiva cuando la diferencia de fase entre la radiacin emitida por diferentes tomos es proporcional a 2. Esta condicin se expresa en la ley de Bragg:

Donde

n es un nmero entero, es la longitud de onda de los rayos X, d es la distancia entre los planos de la red cristalina y, es el ngulo entre los rayos incidentes y los planos de dispersin.

De acuerdo al ngulo de desviacin (2), el cambio de fase de las ondas produce interferencia constructiva (figura izquierda) o destructiva (figura derecha).

Deduccin de la Ley de Bragg

Consideramos la figura de abajo conformada por planos de tomos distanciados a una longitud d. Para el primer plano, las rayos 1 y 1a golpean los tomos K y P los cuales son dispersados en todas la direcciones; pero para cierta direccin, estos rayos (1 y 1a') se encuentran en fase y por lo tanto se cumple que:

Esta condicin se cumple para cada plano. Para analizar los rayos dispersados por tomos en diferentes planos se toma los rayos 1 y 2 de la figura de arriba. Estos rayos son dispersados por los tomos K y L, la diferencia en sus caminos pticos es:
4

As estos rayos estarn completamente en fase si su diferencia de caminos es igual a un nmero entero (n) de longitudes de onda , de tal manera que se cumple que:

Otra manera de deducir la Ley de Bragg es considerar ahora una diferencia de fase. Para dos rayos difractados se tiene que la diferencia de fase es igual:

Donde

, r es la distancia de separacin entre los planos y K es el vector

de onda. Para la Fig. de arriba, . Para que haya una interferencia constructiva r R es un mltiplo de uno de tal manera que:

Analoga
Se puede expresar esta ley considerando una analoga con un caso ms simple. Consideremos que los planos cristalogrficos son representados por espejos semi transparentes en los que la radiacin incidente es reemitida en parte en cada uno de los planos. Las interferencias formadas entonces se rigen por la ley de Bragg. De hecho, la frmula de Bragg es idntica a las interferencias producidas en una capa delgada de aire obtenidas en un interfermetro de Michelson. De manera ms estricta hay que tener en cuenta que las ondas son dispersadas por tomos individuales alineados de manera peridica.

Referencias

B. D. Cullity (1967). Elements of X-Ray Diffraction. Addison-Wesley Publishing Company, Inc.. Thomas Heimburg (2007). Thermal Biophysics of membranes. WILEY-VCH Verlag GmbH & Co.