GERENCIA DE DISTRIBUCION

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CAPITULO 6
BOQUILLAS (BUSHINGS)
6.1 RESISTENCIA DE AISLAMIENTO.

La prueba de resistencia de aislamiento a boquillas sirve para detectar imperfecciones en la estructura de la misma. 6.1.1 PREPARACION DE LA BOQUILLA PARA LA PRUEBA.

Considerar lo establecido en el punto 2.3.1 sobre las recomendaciones generales para realizar pruebas. Limpiar perfectamente la boquilla y colocarla sobre una base firme en posicin vertical y apoyada de su brida. 6.1.2 CONEXIONES PARA REALIZAR LA PRUEBA.

Primera prueba.- Aterrizar la brida de la boquilla, conectar la terminal de Lnea del Megger a la terminal de la boquilla y la terminal de Tierra a la brida de la boquilla. Segunda prueba.- Manteniendo aterrizada la brida, conectar la terminal de Lnea del Megger a la terminal de la boquilla y la terminal de Tierra al Tap capacitivo. El voltaje de prueba en este caso debe de ser de 500 volts. El tiempo de duracin para la prueba es de un minuto, debido a que las boquillas no tienen absorcin dielctrica. Precaucin. Al terminar la prueba de aislamiento de las boquillas que tengan Tap capacitivo, verificar que ste, quede perfectamente aterrizado. En la figura No. 6.1, se ilustra la manera de realizar la prueba.

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TAP CAPACITIVO BRIDA

MEGOHMETRO

Fig. 6.1 BOQUILLAS (NO INSTALADAS) PRUEBA DE RESISTENCIA DE AISLAMIENTO UTILIZAR FORMATO DE PRUEBA No. SE-06-01

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6.1.3

INTERPRETACION DE RESULTADOS.

Como una gua prctica para interpretacin de resultados, los valores deben ser mayores de 40,000 Megaohms. En caso de no contar con valores de referencia, comparar los valores obtenidos con valores de boquillas similares.

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6.2

FACTOR DE POTENCIA.

Las boquillas de cualquier equipo pueden probarse por cualquiera de los siguientes mtodos: a) Prueba de equipo aterrizado (GROUND). Esta es una medicin de las cualidades aislantes del aislamiento entre el conductor central de la boquilla y la brida de sujecin. La prueba se realiza energizando la terminal de la boquilla por medio del la terminal de alta tensin del medidor y la terminal de baja tensin del medidor a la brida de sujecin, la brida debe de estar aterrizada. b) Prueba de equipo no aterrizado (UST). Esta es una medicin del aislamiento entre el conductor central y el tap capacitivo. Esta prueba se aplica a boquillas que cuentan con un condensador devanado a lo largo de la boquilla. El objeto principal del capacitor, es controlar la distribucin del campo elctrico, tanto interno con externo de la boquilla. CAPACITANCIAS DE UNA BOQUILLA. La capacitancia C1 de una boquilla, es el valor expresado en picofaradios entre el conductor principal y el tap, La prueba incluye aislamiento principal C1 del nucleo. La capacitancia C2, es el valor expresado en picofaradios entre el tap y la brida, la prueba incluye, tap de aislamiento, aislamiento del nucleo entre la capa del tap y la manga de tierra del aislador, porcion del liquido o compound de relleno, porcion de barrera aislante. La capacitancia C, es el valor expresado en picofaradios entre el conductor principal y la brida.La prueba incluye, aislamiento principal C1 del nucleo, barrera de aislamiento, ventanilla, aislante inferior, porcion de liquido o compuesto de relleno. Los conceptos anteriores son ilustrados para mayor claridad en la figura 6.2. Para voltajes de 34.5 KV en adelante, se utilizan boquillas de tipo capacitor llenas o impregnadas de aceite.

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AISLAMIENTO PRINCIPAL "C1"

AISLAMIENTO DEL TAP "C2" CH CI CJ CK BRIDA

CA CONDUCTOR CENTRAL V1

CB

CC

CD

CE

CF

CG

V2

V3

V4

V5

V6

V7

V8

V9

V10

VOLTAJE DEL SISTEMA LINEA A TIERRA

ELECTRODO DEL TAP (NORMALMENTE CERRADO)

NOTAS : 1. LAS CAPACITANCIAS IGUALES DE "CA" A "CJ" DISTRIBUYEN EN FORMA IGUAL EL VOLTAJE DESDE EL CONDUCTOR CENTRAL ENERGIZADO A LAS CAPAS DE CONDUCTOR Y LA BRIDA ATERRIZADAS

CA CB CC CD CE CF CG CH CI CJ CK

2. EL TAP EN EL ELECTRODO ES NORMALMENTE ATERRIZADO EN SERVICIO, EXCEPTO LOS DISEOS Y BOQUILLAS USADOS CON DISPOSITIVO DE POTENCIA. 3. PARA LAS BOQUILLAS CON TAPS DE POTENCIAL, LA CAPACITANCIA "C2" ES MUCHO MAYOR QUE "C1" PARA BOQUILLAS CON TAP DE FACTOR DE POTENCIA . LAS CAPACITANCIAS C1 Y C2 DEBERAN SER DE LA MISMA MAGNITUD.

ELECTRODO DEL TAP. CAPAS DE FLANGE ATERRIZADO CAPAS DE FLANGE ATERRIZADO

Fig. 6.2 DISEO TIPICO DE UNA BOQUILLA TIPO CONDENSADOR

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6.2.1

PREPARACION DE LA BOQUILLA PARA LA PRUEBA.

Limpiar perfectamente la boquilla y colocarla sobre una base firme en posicin vertical apoyada en su brida. 6.2.2 CONEXIONES PARA REALIZAR LA PRUEBA.

En las figuras 6.3 y 6.4 se ilustran las pruebas para determinar las capacitancias C1 y C2 de una boquilla tipo condensador. En las figuras 6.5 y 6.6, se muestran las conexiones para las pruebas de factor de potencia a boquillas.

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CABLE HV

ICI +I H2+ICH` +I CHL

H1

H2

(UST)

GUARDA ATERRIZADA

TERMINAL LV. MEDIDOR I & W

I CI

CL

I H2 +I CH`+I CHL
C HL C H`

IH2 +ICH`+ICHL CABLE HV.

IC1 +I H2+ICH` +ICHL I C1

CHL

(UST)

C1

CH2 TERMINAL LV. I C1 I H2 +I CH` +I CHL H1 TAP DEL BUSHING C2

C H`

CL

ESQUEMATICO
Fig. 6.3 METODO DE PRUEBA UST PARA AISLAMIENTO C1 DE BOQUILLA EN TRANSFORMADOR

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HV BUS

A GUARDA

C AIRE

Ie

I
CABLE HV

C1+Ie

IC1 +IC2
(GST)

I e
GUARDA MEDIDOR I&W

IC2

* NO APLICAR MAS DE 500 VOLTS.

HV BUS Ie CONDUCTOR CENTRAL DEL BUSHING

I C1 +I e

IC1 CABLE HV

C1 TAP DEL BUSHING

IC1 +IC2

(GST)

IC2

C2

Ie

IC2

ESQUEMATICO

Fig. 6.4 PRUEBA DE AISLAMIENTO DE LA TERMINAL DEL TAP CAPACITIVO C2

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T.A.T. (HV)
CABLE HV CONDUCTOR CENTRAL DEL BUSHING.

(UST)

I C1

CI

I CI Ie

TERMINAL LV

TAP DEL BUSHING C2

ESQUEMATICO

BRIDA T.B.T. (LV)

F.P.

TAP CAPACITIVO

EJEMPLO: PRUEBA 1

COLLAR: 2 FALDON

CONEXIONES DE PRUEBA PRUEBA T.A.T. T.B.T. SELECTOR 1 TERM. BOQUILLA TAP CAPACITIVO UST 2 TERM. BOQUILLA BRIDA GROUND TERM. BOQUILLA 3 TAP CAPACITIVO GUARDA TERM. BOQUILLA 4 COLLAR GROUND

KV. DE PRUEBA 2.5 o 10 kV 2.5 o 10 kV 500 V 2.5 o 10 kV

MIDE C1 C C2 P

Fig. 6.5 BOQUILLAS (TIPO CONDENSADOR) PRUEBA FACTOR DE POTENCIA UTILIZAR FORMATO DE PRUEBA No. SE-06-02 (para 2.5 KV) SE-06-03 (para 10 KV)

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COMPLETA T.B.T. (LV)

T.A.T. (HV)

BRIDA

F.P.

PRUEBA DE COLLAR CALIENTE MULTIPLE PRUEBA 1 T.A.T. COLLARES CONEXIONES DE PRUEBA T.B.T. TERM. BOQUILLA SELECTOR GROUND

T.A.T. (HV) COLLAR CALIENTE T.B.T. (LV)

2 FALDON

F.P.

PRUEBA DE COLLAR COLIENTE SENCILLO PRUEBA 1 T.A.T. COLLAR CONEXIONES DE PRUEBA T.B.T. SELECTOR GROUND TERMINAL BOQUILLA

Fig. 6.6 BOQUILLAS SOLIDAS PRUEBA DE FACTOR DE POTENCIA UTILIZAR FORMATO DE PRUEBA No. SE-06-02 (para 2.5 KV) SE-06-03 (para 10 KV)

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6.2.3

INTERPRETACION DE RESULTADOS.

Los siguientes valores de prdidas se dan como una referencia general: VALOR 0.05 a 9 9 a 19 Mayor de 19 mW mW mW KV. PRUEBA 2.5 2.5 2.5 10 10 10 CONDICION Buena Investigar Sustituir Buena Investigar Sustituir

0.01 a 0.15 mW 0.15 a 0.30 mW Mayor de 0.30 mW

En las pruebas de tap capacitivo, a partir de los miliamperes o milivoltamperes se determina la capacitancia. La capacitancia se obtiene multiplicando los MVA por 0.425 para voltaje de prueba de 2.5 KV, y por 265 para voltajes de prueba de 10 KV. Para boquillas tipo condensador modernas, el valor del factor de potencia es del orden de 0.5 % despus de realizar la correccin a 20 C. El valor de la capacitancia deber estar entre el 5 y 10 % del valor de placa (referirse al valor de C1). Un incremento en el factor de potencia indica contaminacin o deterioro del aislamiento del condensador; un aumento en el valor de la capacitancia indica la posibilidad de capas del condensador en cortocircuito. Una disminucin en el valor de la capacitancia indica la posibilidad de una alta resistencia entre el tap capacitivo y tierra (deficiente aterrizamiento del tap). Un incremento en las prdidas indica contaminacin del aislamiento. Una disminucin en las prdidas indica, vas resistivas a tierra (efecto negativo).

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6.3

PRUEBA DE COLLAR CALIENTE A BOQUILLAS.

Es una medicin de la condicin de una seccin del aislamiento de la boquilla, entre la superficie de los faldones y el conductor. Se lleva a cabo energizando uno o mas collares situados alrededor de la porcelana de la boquilla y aterrizando el conductor central (terminal) de la misma. Esta prueba es de gran utilidad para detectar fisuras en la porcelana o bajo nivel del lquido o compound. Prueba de collar sencillo. Refleja informacin relacionada con la condicin del aislamiento de la parte superior de la boquilla. Si se obtienen valores elevados de prdidas, se recomienda hacer la prueba en cada faldn para analizar la magnitud de la falla. Prueba de collar mltiple. Proporciona informacin de la condicin del aislamiento en general entre la brida y el conductor central. 6.3.1 INTERPRETACION DE RESULTADOS.

Una gua general para pruebas de collar caliente, es la de considerar como mximo 6.0 mW de prdidas a 2.5 KV y 0.1 Watts de prdidas a 10 KV. Valores de Watts (W) a 10KV: menores a 0.1 W De 0.11 W a 0.3 W De 0.31 W a 0.5 W menor o iguial a 6 mW De 6 a 19 mW De 19 a 31 mW Satisfactorio. Investigar. Cambiar boquilla. Satisfactorio. Investigar. Cambiar boquilla.

Valores de miliWatts (mW) a 2.5 KV:

Los valores de referencia son para boquillas montadas o desmontadas.

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FECHA ULTIMA PRUEBA

BOQUILLAS (BUSHING)
PRUEBA DE RESI STENCI A DE AI SLAMI ENTO

REPORTE No. DIVISION ZONA

SUBESTACION EQUIPO PROBADO

FECHA MARCA VOLTAJE NOMINAL

TIPO

TEMP. AMBIENTE HUMEDAD RELATIVA CONDICIONES DEL TIEMPO EQUIPO TIPO No. SERIE

C %

EQUIPO DE PRUEBA : MARCA SERIE No.

TIPO

VOLTAJE DE PRUEBA

No. DE PRUEBA

CONEXIONES LINEA GUARDA TIERRA

LECTURAS 60 SEG.

VALOR MEGAOHMS (M) *

* CONSIDERADOS FORMA DE CONEXIN (DIBUJAR) MULTIPLICADOR MEGGER: FACTOR DE CORRECCIN POR TEM: OBSERVACIONES:

PROBO:

REVISO: FORMATO SE-06-01

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BO Q U ILLA S
PRU EBAD EFA CTO RD EPO TEN CIA
BO Q U ILLA SM O N TA D A S:

FECH A LTIM APRU EBA R EPO R TEN o. D IV ISI N ZO N A

SI:

N O
FECH A : EQ U IPOD EPR U EB AM A R CA : N o. D ESERIE: C M O D ELO :

SU BESTA C I N : EQ U IPO(C LA V E): N o. D ESER IE: TEM P. A M B IEN TE:

C1 A ISLA M IEN TOPRIN CIPA LD ELABO Q U ILLA .

A .T.

C 2A ISLA M IEN TOD ELTA PC A PA CITIV O .

C.C. CO LLA RCA LIEN TE. % FA CTO R D E PO TEN CIA

B.T. TER

N o. D E SERIE

C 1
K VD E PRU EB A

PRU EBAA2.5 K V .
M ILIV O LTA M PERES
LECTU RA M U LTIPLICA D O R M ED ICI N

BOQUILLA

M ILIW A TTS
LECTU RA M U LTIPLICA D O R M ED ICI N

.C 2 C.C

M V A

M W

M ED ID O

CO RR. A20 C.

C A PA CITA N CIA (pF)

C O N D . D E A ISLA M .

O B SER V A CIO N ES:

FASE
81 06 26

PR O B : REV IS . EN V IA RCO PIA SA :

FO R M A TOSE-06-02

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BO Q U ILLA S
PRU EBAD EFA CTO RD EPO TEN CIA
BO Q U ILLA SM O N TA D A S:

FECH A LTIM APRU EBA R EPO R TEN o. D IV ISI N ZO N A

SI:

N O
FECH A : EQ U IPOD EPR U EB AM A R CA : N o. D ESERIE: C M O D ELO :

SU BESTA C I N : EQ U IPO(C LA V E): N o. D ESER IE: TEM P. A M B IEN TE:

C1 A ISLA M IEN TOPRIN CIPA LD ELABO Q U ILLA .

A .T.

C 2A ISLA M IEN TOD ELTA PC A PA CITIV O .

C.C. CO LLA RCA LIEN TE. % FA CTO R D E PO TEN CIA

B.T. TER

N o. D E SERIE

C 1
K VD E PRU EB A

PRU EB AA10K V .
M ILIA M PERES
LECTU RA M U LTIPLICA D O R M ED ICI N

BOQUILLA

W A TTS

.C 2 C.C

M a

LECTU RA M U LTIPLICA D O R M ED ICI N

M ED ID O

CO RR. A20 C.

C A PA CITA N CIA (pF)

C O N D . D E A ISLA M .

O B SER V A CIO N ES:

FASE
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PR O B : REV IS . EN V IA RCO PIA SA :

FO R M A TOSE -06-03

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