Durante uma atividade em sala, o grupo recebeu uma folha onde constava um grfico de difratograma de um material desconhecido e algumas

instrues acerca de como interpretar e quais clculos deveriam ser feitos para se chegar ao objetivo esperado. Chegando ao trmino do exerccio, o grupo tornou-se apto a reproduzi-lo para um outro material desconhecido, recebendo dados do site da disciplina em forma de um grfico parecido com o analisado em sala de aula, porm com apenas 3 picos. A sequncia dos clculos est em seguida, apenas de forma algbrica e o resultado final, sem detalhamento numrico das passagens. O primeiro passo foi extrair os valores de 2 para os picos de intensidade fornecidos pelo grfico. Aps esse procedimento, os dados foram anotados em uma planilha no software Excel, previamente feita pelo grupo para receber os dados e fazer os clculos automaticamente. O segundo passo foi anotar os valores de intensidade correspondentes queles valores de 2 que foram extrados do grfico fornecido. O pico de maior intensidade foi de 3730nm, o qual foi considerado como referncia para o clculo da Intensidade Relativa, prximo item da planilha. Ou seja, o valor 3730nm foi atribudo a 100%. Em terceiro lugar, os valores de intensidade obtidos pela rgua foram convertidos para um valor de referncia, em porcentagem, em relao ao valor 3730mm (100%), usando regra de trs simples. Em quarto lugar os ngulos 2 foram divididos por 2 para obter-se o valor de . Em seguida foram calculados os valores de sin. O quinto passo foi calcular o valor de distncia interplanar (dhkl) atravs da Lei de Bragg, segundo Callister[1]:

Com os valores de sin, foram calculados os valores de sin. O stimo passo foi consultar a tabela dada no verso da folha do grfico que o grupo recebeu em sala, para obter os valores de Soma (S) dos ndices de Miller, para os trs tipos de estruturas cristalinas cbicas, CS, CCC e CFC, atravs da seguinte equao, segundo Callister[1]:

Cada estrutura cristalina possui planos cristalinos diferentes, portanto cada uma possui um S diferente. Estes ento foram includos na planilha como SCS,SCCC e SCFC. E ento o oitavo passo foi incluir os ndices de Miller referente aos planos cristalinos utilizados na equao anterior. Em seguida foi calculada a razo de sin por S de cada uma das estruturas cristalinas e seus respectivos planos, atravs da seguinte equao,

onde a = CS (Cbica Simples), CCC (Cbica e Corpo Centrado) ou CFC (Cbica de Face Centrada). Em nono lugar veio o reconhecimento de qual seria a estrutura correta do material analisado. Para esse trabalho foram verificados os valores de x para cada uma das estruturas e seus planos correspondentes, aquele que possuir o menor desvio, ou seja, o que se manter prximo de uma constante a estrutura correta do material. Aps a analise foi concludo que a estrutura correta a Cbica de Corpo Centrado, com um desvio de 0,0001, contra 0,0002 da estrutura CS e 0,0229 da CFC. Finalmente foi calculado o parmetro de rede(a), onde a mdia dos parmetros de rede obtidos para cada plano, atravs da seguinte equao, segundo Callister[1]:

O valor obtido foi Molibdnio se aproxima desse valor, analisado.

ou 3,1470. Comparando com a literatura, o segundo [2], portanto o material

Bibliografia: [1] Callister Jr., W.D., Cincia e Engenharia dos Materiais, uma Introduo, 7 Edio, Ed. Guanabara, 2008.

[2] Elements of X-Ray Diffraction B.D Cullity and S. R. Stock, 3ed. Prentice Hall, USA (2001).