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Escuela Politcnica Nacional

FACULTAD DE CIENCIAS
Laboratorio de ptica

Luis Gualco

PRCTICA 2: MEDICIN DEL NDICE DE REFRACCIN POR EL MTODO DE PFUND


1. Objetivo

Determinar usando el mtodo de Pfund, el ndice de refraccin de tres placas transparentes de diferentes materiales.
2. Introduccin

El ndice de refraccin de un material trasparente es una de las propiedades fsicas ms importantes. Existen varios mtodos para hacer esto. Un mtodo para hacer la determinacin del ndice de refraccin de una placa transparente se debe a Pfund. En el mtodo de Pfund se hace incidir un haz de luz de manera perpendicular al a supercie de la placa transparente, la misma que reposa sobre alguna supercie clara. La luz del haz lser se reeja de manera dispersiva desde la supercie clara y atraviesa la placa nuevamente en direccin contraria a la de incidencia del haz. La luz se emite en todas direcciones desde el punto de impacto del haz en la supercie del fondo y por lo tanto llega a la supercie superior de la placa transparente bajo todos los ngulos desde 0 hasta 90 . Debido a la existencia del ngulo crtico, desde la parte superior de la placa se observa entonces un crculo obscuro rodeado de un halo de luz difusa alrededor del punto de incidencia del haz. El tamao de este crculo est ntimamente relacionado con el ndice de refraccin de la placa.
3. Materiales

Placas transparentes de materiales diferentes, Lser, soporte, calibrador, computadora para el proceso de los datos y preparacin del reporte.
4. Marco terico

Sea una lmina planoparalela cuya supercie inferior es difusora de la luz (Figura1). Un haz de luz incide sobre un punto P donde reejar de forma difusa, en todas las direcciones. Parte de ella alcanzar la supercie superior de la lmina y ser transmitida al aire (rayo 1). Otra porcin de la misma ser reejada, volviendo a incidir sobre la supercie difusora (rayo 2). Esta situacin slo ocurre para ngulos de incidencia inferiores al ngulo lmite de reexin total, L . Para valores superiores a ste, no habr componente transmitida en la interfase superior, siendo reejada toda la luz incidente (rayo 3), volviendo a incidir nuevamente sobre la supercie difusora, convirti ndose en focos difusores secundarios, de intensidad muy inferior a la del foco 1

principal. Una caracterstica del sistema es su simetra de revolucin respecto a 1a normal a la supercie (eje de revolucin que pasa por el punto P, en la gura). Esta situacinn implica que visto desde arriba, se observa un punto P muy luminoso, originado por la incidencia directa del haz incidente, rodeado por un crculo de intensidad moderada (circulo oscuro),procedente de la reexin parcial de los rayos que inciden en la supercie superior con ngulo inferior al de reexin total. Finalmente, se observa en la periferia una regin iluminada ms dbilmente. El dimetro del crculo oscuro est relacionado con el espesor de la lmina planoparalela y los ndices de refraccin de los medios que forman la interfase.

Figura 1: Diagrama del mtodo de Pfund La ley de Snell permite calcular el ngulo lmite en funcin de los ndices de refraccin de los medios que separa la interfase

Figura 2: Ley de Snell: 2 sen2 = 1 sen

Para nuestro caso, podemos obtener el ngulo lmite en funci n de t: espesor de la lmina y D: dimetro de la zona de iluminacin dbil.
senL = D/4 t2 + D 4
2

Finalmente se tiene: D =

4t 2 1
2

Figura 3: Esquema para el clculo del dimetro


5. Desarrollo

5.1. Determinacin del ancho de las placas plsticas


Material Medida 1 [cm] Medida 2 [cm] Promedio [cm] Polmero 1 0, 381 0, 382 0, 382 Polmero 2 0, 400 0, 380 0, 390 Vidrio de Crown 1, 550 1, 544 1, 547

5.2. Consideraciones hechas en el montaje experimental


Como el rayo incidente es perpendicular a la mesa, debemos ser cuidadosos en ubicarlo lo ms recto posible, para que e l crculo resultante en la reexin interna no sea difuso. Para ello se ajusto la base usando tacos de papel.

5.3. Medicin de los dimetros para cada material


5.3.1. Polmero 1

Tabla1:Clculo del dimetro de reexin para el polmero 1 con t =


i = 1, 529 [cm] y (Di D )2 = 0, 005 con lo que = Con lo que se obtiene D 5 0, 031 [cm] As se ha calculado un dimetro reexivo para el polmero #1 de 1, 529 [cm] 0, 031 [cm]
5.3.2. Polmero 2

Di [cm] 1, 584 1, 500 1, 520 1, 502 1, 540

)2 cm2 (Di D 0, 003 0, 001 0, 000 0, 001 0, 000

)2 (D D

Di [cm] 1, 944 1, 992 1, 874 1, 878 1, 834

)2 cm2 (Di D 0, 003 0, 001 0, 000 0, 001 0, 000

Tabla1:Clculo del dimetro de reexin para el polmero 2 con t = 3, 82 [cm]


i = 1, 904 [cm] y (Di D )2 = 0, 016 con lo que = Con lo que se obtiene D 5 0, 056 [cm] As se ha calculado un dimetro reexivo para el polmero #2 de 1, 904 [cm] 0, 056 [cm]
5.3.3. Vidrio de Crown

)2 (D D

Tabla1:Clculo del dimetro de reexin para el vidrio de Crown con t = 3, 90 [mm]


i = 5, 538 [cm] y (Di D )2 = 0, 013 con lo que = Con lo que se obtiene D 5 0, 051 [cm]. As se ha calculado un dimetro reexivo para vidrio de Crown de 5, 538 [cm] 0, 051 [cm]

Di [cm] 5, 572 5, 752 5, 544 5, 438 5, 565

)2 cm2 (Di D 0, 003 0, 001 0, 000 0, 001 0, 000

)2 (D D

5.4. Clculo del ndice de refraccin


Partimos de la ley de Snell y hacemos que el ngulo de refraccin para el segundo medio sea :1    90 (condicin de reexin total interna) porlo que: placa senplaca = aire sen aire
:   aire De donde sencritico = 
1

Del esquema mostrado en la gura 3 se dedujo la frmula para el ngulo crtico. De las dos igualdades anteriores se tiene: placa = Con los datos encontrados anteriormente se tiene: D [cm] t [cm] Medido terico Error absoluto Error relativo ( %)
1, 529 1, 904 5, 538
6.

placa

1 = sencritico

1+

4t d

0, 382 0, 390 1, 547

1, 414 1, 293 1, 5

1, 44 1, 31 1, 525

0, 026 0, 017 0, 025

1, 823 % 1, 314 % 1, 672 %

Cuestionario

6.1. Hay algn lmite de espesor de la placa para despus del cual no sea posible usar el mtodo?
Segun la frmula descrita anteriormente se nota que no hay ningun impedimento en primera instancia, lo que hay que tomar en cuenta es la intensidad del lser, pues si es muy dbil es posible q no sea claro el reejo circular de la luz.

6.2. En qu tipo de materiales no sera posible usar este mtodo ?


En materiales opacos y/o con fricciones o daos internos En placas de material no homogeneo En uidos turbulentos 4

6.3. Qu sensitividad tiene su mtodo, esto es, cul es la mnima diferencia de que usted puede determinar conablemente ?
Basado en el experimento dira que la sensibilidad del mtodo es de dcimas teniendo alta conabilidad, puesto que la cifra correspondiente a las centsimas podra no ser precisa debido a irregularidades e impurezas en el material.

6.4. Qu efecto tendra la temperatura sobre los resultados en este mtodo


Primero debemos tomar en cuenta las dimensiones en estudio, puesto que la dilatacin de los materiales depende de las dimensiones iniciales, y dado que: en estos materiales tanto el dimetro como el espesor no sobrepasan los 6 [cm] no se esperara una variacin notoria sobre el ndice de refraccin. Segundo, el coeciente de dilatacin en las placas, por poner un ejemplo del vidrio Pyrex es 0,3 105 C 1 por lo que el cambio de temperatura hara que las dimensiones del material crezcan casi imperceptiblemente haciendo que el coeciente vare innitesimalmente dando como resultado un ndice de refraccin independiente de la temperatura.

6.5. Se puede denir el ngulo crtico para ondas electromagnticas que no sean las de la luz visible, es decir microondas, ondas de radio, etc ?
Dado que tomamos a las ondas como trazados geomtricos diria que si se puede denir un ngulo crtico pra las ondas electromagnticas de longitud de onda distinta a las que corresponde al espectro visible.

6.6. Hasta qu punto est satisfecho con el mtodo y sus resultados? Hay algo que preferira hacer diferente para hacer una mejor medicin de esta importante magnitud fsica?
Con los datos obtenidos no estoy muy satisfecho porque slo pudimos sacar 5 mediciones para cada material, adems pienso que el mtodo para medir el dimetro del crculo fue el inadecuado, entonces esa pate la cambiara para tener algo ms preciso y exacto. Respecto a la base terica del experimento para realizarlo de esa manera fue muy bueno e ingenieso porque se pudo aprovechar la geometra del material.
7. Conclusiones

Se nota que el ndice de refraccin del vidrio de Crown es mejor calculado con este mtodo porque el crculo formado fue bastante claro, puesto que la reexin ntida gracias a la homogeneidad del material. Nuevamente se puede ver que mientras md denso es el material ms grande es su indice de refraccin. Este mtodo sera til en materiales gruesos, pues a diferencia del mtodo anteriror se minimiza la dispersin del haz de luz incidente, donde usando materiales gruesos la luz se difractaba y se cometan errores en el clculo del ndice de refraccin.
8. Bibliografa

Serway Raymond & Beichner Robert, Fsica para Ciencias e Ingeniera,Quinta Edicin, Volumen 2, McGraw-Hill Editores, Mxico, 2001

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