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ENSAYO DE FOTOELASTICIDAD

JESUS ANTONIO ANICHIARICO PEREZ XAVIER JIMENEZ BAYRON PADILLA JOSE GABRIEL GUERRERO LAMBERTINEZ

ING. EDGARDO PATERNINA

FACULTAD DE INGENIERA MECNICA

UNIVERSIDAD PONTIFICIA BOLIVARIANA

MONTERA CORDOBA

MAYO DEL 2011

FOTOELASTICIDAD La fotoelasticidad es una tcnica para el anlisis de esfuerzos, resulta particularmente til en estructuras o mquinas que posean geometra complicada, condiciones de cargas complejas o en ambos casos, en los cuales los mtodos analticos resultan muy engorrosos. El principio bsico de la fotoelasticidad se debe al descubrimiento efectuado por David Brewster en 1816. Utilizando una pieza de vidrio cargada y haciendo pasar a travs del vidrio luz polarizada, l observ que apareca un contorno coloreado causado por las tensiones presentes en la pieza. El nombre de fotoelasticidad refleja la naturaleza de este mtodo experimental, el cual implica la utilizacin de rayos luminosos y tcnicas pticas para el estudio de los esfuerzos y deformaciones en los cuerpos elsticos. PRINCIPIO DE FOTOELASTICIDAD La fotoelasticidad es una tcnica ampliamente usada en todos los campos para determinar con precisin deformaciones superficiales para determinar los esfuerzos en una parte o estructurar durante ensayos estticas o dinmicas. Existen dos mtodos de realizar el ensayo de fotoelasticidad: transmisin y reflexin. El primero consiste en reproducir la pieza o estructura de estudio con un material birrefringente, el segundo y ms usado ltimamente consiste en adherir un plstico especial sensible al esfuerzo en la parte de estudio. Cuando se aplican las cargas de prueba o servicio, se ilumina la pieza de ensayo con una luz polarizada desde un polariscopio. Cuando se ve a travs del polariscopio, los esfuerzos se muestran en colores, se revela la distribucin total de esfuerzos y se determinan las reas con altos esfuerzos. Con un transductor ptico (compensador) unido al polariscopio, el anlisis de esfuerzo cuantitativo puede ser rpidamente y fcilmente realizado. Con la fotoelasticidad, se puede: Instantneamente identificar las reas crticas, resaltando regiones con sobreesfuerzo y bajo-esfuerzo. Medir con precisin los esfuerzos mximos y determinar las concentraciones de traccin alrededor de agujeros, muescas, filetes, y otros sitios de falla. Optimizar la distribucin de esfuerzos en partes y estructuras para minimizar el peso y maximizar la confiabilidad. Medir los esfuerzos principales y direcciones a cualquier punto de la pieza estudiada. Estudiar repetidamente bajo las condiciones de carga variantes. Hacer mediciones de esfuerzo en laboratorio o en campo inafectado por humedad o tiempo.

Identificar y medir la concentracin de esfuerzos y esfuerzos residuales. Detectar fluencia, y observar la redistribucin de esfuerzos en el rango plstico de deformacin. La fotoelasticidad tiene una historia establecida de aplicaciones exitosas en casi todos los campos de fabricacin y construccin dnde el anlisis de esfuerzo es empleado, tales como: automotriz, maquinaria agrcola, aviacin y aeroespacial, construccin de edificios, mquinas, recipientes a presin, barcos, equipos de oficina, puentes, instrumentos y muchos otros. BIRREFRINGENCIA El mtodo foto-elstico est basado en una importante propiedad, que poseen ciertos materiales, la cual consiste en descomponer un haz de luz en dos componentes ortogonales y transmitirlas a diferentes velocidades. Esto es conocido como birrefringencia o doble refraccin. LUZ POLARIZADA La luz o rayos luminosos son vibraciones electromagnticas similares a ondas de radio. Una fuente incandescente emite energa radiante la cual se propaga en todas las direcciones y contiene un espectro completo de vibraciones de diferentes frecuencias o longitud de ondas. Una porcin de este espectro, longitudes de ondas entre 400 y 800 nm (15 y 30 x 10-6 pulgadas), es til dentro de los lmites de perfeccin humana. La vibracin asociada con la luz es perpendicular a la direccin de propagacin. Una fuente de luz emite un tren de ondas conteniendo vibraciones en todos los planos perpendiculares. Sin embargo, con la introduccin de un filtro polarizado (P), solamente una componente de estas vibraciones ser transmitida (aquella que es paralela al eje privilegio del filtro). Un haz organizado es llamado luz polarizada o plano polarizado porque la vibracin est contenida en un plano. Si otro filtro polarizado (A) es localizado en su camino, una extincin completa del haz puede ser obtenido cuando los ejes de los dos filtros son perpendiculares uno a otro.

La luz se propaga en vaco o en aire a una velocidad C de 3x10 10 cm/sg. En otros cuerpos transparentes, la velocidad V es ms baja y la relacin C / V es llamada ndice de refraccin. En un cuerpo homogneo, este ndice es considerado constante de la direccin de propagacin o plano de vibracin. Sin embargo, en cristales el ndice depende de la orientacin de vibracin con respecto al ndice axial. Ciertos materiales, notablemente plsticos se comportan isotrpicamente cuando estn sin deformacin, pero llegan a ser ptimamente anisotropicos cuando estn deformados. El cambio en el ndice de refraccin es una funcin del resultado de esfuerzos, anlogo al cambio de resistencia en una galga de deformacin.

FUNCIONAMIENTO DEL POLARISCOPIO Cuando un haz polarizado se propaga a travs de un plstico transparente de espesor t, donde X y Y son las direcciones de los esfuerzos principales en un punto bajo consideracin, el vector luz se divide y dos haces polarizados son propagados en los planos X y Y (ver figura 85). Si la intensidad de la deformacin a lo largo de X y Y es X y Y y la velocidad de la luz vibrando en estas direcciones es Vx y Vy, respectivamente, el tiempo necesario para cruzar el plato para cada uno ser t / V, y la retardacin relativa entre estos dos haces es:

Donde n es el ndice de refraccin. La ley de Brewster establece que: el cambio relativo en el ndice de refraccin es proporcional a la diferencia de las deformaciones principales La constante K es llamada coeficiente de deformacin ptica y caracteriza una propiedad fsica del material. Es una constante adimensional usualmente establecida por calibracin y puede ser considerada similar al Factor Gage de los extensmetros de resistencia elctrica. Combinando las ecuaciones arriba, se tiene: (En transmisin) reflexin) Consecuentemente, la relacin bsica para medir la deformacin usando la tcnica de fotoelasticidad es: (En

Donde q es una constante igual a 1 si se utiliza un polariscopio de transmisin e igual a 2 si se utiliza en un polariscopio de reflexin .Debido a la retardacin relativa (), las dos ondas no son tan largas en fase cuando emergen del plstico. El analizador A transmitir solamente una componente de estas ondas (aquella paralela a A) como se muestra en la figura 85. Estas ondas interferirn y la intensidad de luz resultante ser una funcin de: La retardacin . El ngulo entre el plano y la direccin de esfuerzos principales (-).

En el caso de polariscopio plano, la intensidad de luz emergiendo ser:

La intensidad de luz llega a ser cero cuando b=a, o cuando el arreglo polarizador/analizador estn paralelos a la direccin de esfuerzos principales. As, el arreglo polariscopio plano es usado para medir la direccin de esfuerzos principales (isoclinas).Agregando filtros pticos conocidos como un cuarto de puente en el recorrido de la luz de propagacin produce luz polarizada circular, y la imagen observada no es influenciada por la direccin de esfuerzos principales. La intensidad de luz emergente as llega a ser:

En un polariscopio circular la intensidad de luz llega a ser cero cuando = 0, 1, 2., o en general:

Este nmero N es tambin llamado orden de franja y expresa el tamao de . Conocido , la diferencia de las deformaciones principales es obtenida por:

Donde el valor de franja, f, contiene todas las constantes y N es el resultado de las mediciones.

ANLISIS DE LOS PATRONES DE FRANJAS La fotoelasticidad ofrece la capacidad para el siguiente tipo de anlisis y medida: - Interpretacin completa de los patrones de franjas, permitiendo el ensamble general de las magnitudes nominales de esfuerzos o deformaciones y gradientes. - Medicin cuantitativa:

- Las direcciones de las deformaciones y esfuerzos principales en la parte estudiada. - La magnitud y esfuerzo del esfuerzo tangencial a lo largo de bordes libres (sin carga) y en todas las regiones donde el estado de esfuerzo es uniaxial. - En un estado de esfuerzos biaxial, la magnitud y signo de la diferencia de las deformaciones y esfuerzos principales en cualquier punto seleccionado de la superficie de estudio. Generacin de franjas Cuando un polariscopio circular es observado, el patrn de franjas aparece como bandas de diferentes colores sucesivas y continuas (isocromticas) en la que cada banda representa un diferente grado de birrefringencia correspondiente a la deformacin de la parte o pieza estudiada. As, el color identifica la birrefringencia, u orden de franja (y nivel de deformacin), a lo largo de esa banda. Con un seguimiento de la invariable secuencia en la cual los colores aparecen, el patrn de franjas puede ser ledo tal como un mapa topogrfico para visualizar la distribucin de esfuerzos sobre la superficie de estudio. Comenzando con la condicin de libre de carga, y aplicando carga, o cargas, en incrementos, las franjas aparecern primero en los puntos de altos esfuerzos. Cuando la carga es incrementada y las nuevas franjas aparecen, las primeras franjas son desplazadas hacia la zona de ms bajos esfuerzos. Con ms cargas, franjas adicionales son generadas en la regin de ms altos esfuerzos y se mueven hacia la zona de cero esfuerzos o bajos esfuerzos hasta que el valor mximo de carga es alcanzado. Las franjas pueden ser designadas por nmeros ordinales (primera, segunda, tercera, etc.) cuando ellas aparecen, y conservan su identificacin individual (orden) a travs de la secuencia de cargas. No slo son franjas ordenadas, son continuas, nunca se cruzan una con otra y mantienen su respectiva posicin en la secuencia ordenada.

INCREMENTO DE CARGA EN PIEZA DE PRUEBA

Identificacin de franjas Luz blanca ( = 575 nm = 22.7 x 10-6n in), generalmente es usada para la interpretacin completa de patrones de franja, est compuesta de todas las longitudes de onda en el espectro visual. As la retardacin relativa la cual causa extincin de una longitud de onda (color) generalmente no extingue otras. Cuando incrementa la birrefringencia, cada color es extinguido de acuerdo a su longitud de onda, el observador ve el color complementario. Son estos colores complementarios que hacen visible el patrn de franja en la luz blanca. Las franjas ms altas llegan a ser ms claras que las primeras, y se quedan en el rea de transicin entre rojo y verde. Ordenes de franja superiores a cuatro o cinco no son distinguidos por color en luz blanca. Aunque ordenes de franja superiores a 3 son raramente encontrados (o necesitados) en anlisis de esfuerzos con fotoelasticidad.

INTERPRETACIN COMPLETA DE LA DISTRIBUCIN DE ESFUERZOS. Adems de la capacidad de obtener una medicin precisa de las deformaciones, la fotoelasticidad provee otra capacidad importante al anlisis de esfuerzos. Esta es la capacidad para reconocer inmediatamente las magnitudes nominales de las deformaciones (esfuerzos), gradientes de deformacin y en general la distribucin de esfuerzos, incluyendo las reas de sobre-esfuerzos y bajos-esfuerzos. Este atributo extremadamente valuable se conoce como interpretacin completa. Su exitosa aplicacin depende del reconocimiento de los rdenes de franja por color y un entendimiento de las relaciones entre orden de franja y magnitud de deformacin.

PERFIL DE DEFORMACIN IDENTIFICADO CON FRANJAS

CARACTERISTICAS DE LAS BANDAS ISOCROMTICAS

Importancia cuantitativa de las franjas Las franjas foto-elsticas tienen comportamiento caracterstico los cuales son tiles en la interpretacin de las franjas. Por ejemplo, las franjas son bandas continuas ordinariamente, forma o lazos cerrados o lneas curvadas. Las franjas de orden cero estn usualmente puntos alejados, lneas, reas rodeadas por franjas de orden superior. Las franjas nunca se interceptan, o de lo contrario pierden su identificacin, y adems el orden de franja y nivel de deformacin son uniformes en cada punto en la franja. Las franjas siempre existen en una secuencia continua por ambos nmero y color. En otras palabras, si la primera y tercera franja son identificadas la segunda debe estar entre stas. La secuencia de color en cualquier direccin establece si el orden de franja y nivel de deformacin crece o decrece en esa direccin. Medicin de las direcciones principales de deformacin Las direcciones principales de deformacin son siempre medidas con referencia a una lnea establecida, eje o plano. Adems el paso inicial para la determinacin de la direccin de la deformacin (o esfuerzo) principal ser seleccionar una conveniente referencia. En la mayora de los casos, la direccin de referencia es sugerida como el eje de simetra de la pieza o estructura de estudio. En otros casos una lnea vertical u horizontal bastar. Observando la parte de esfuerzos a travs del polariscopio plano, lneas negras (incluso reas) aparecen. Estas lneas son llamadas isoclinas. En cada punto de las isoclinas la direccin de las deformaciones principales estn paralelas a la direccin de polarizacin A y P. Con respecto al

eje de referencia seleccionado, la medida de las direcciones a un punto es simplemente acoplado por la rotacin de A y P juntos hasta que las isoclinas negras aparezcan en un punto donde las direcciones son medidas. Si las isoclinas son estrechas y agudamente definidas, esto significa que las direcciones de x y y varan rpidamente de una localizacin a otra. Las isoclinas forman una angosta lnea negra o rea que indica que las direcciones de x y y varan lentamente en esa regin. Cuando esto ocurre, el borde alrededor de la isoclina ser marcado. En el caso de una probeta a traccin la isoclina ser vista como un rea entera donde el eje polarizado coincide con el eje de la probeta.

(a) Isoclinas (b) Isocromticas MAGNITUD DE LOS ESFUERZOS Y DEFORMACIONES Como ya se mencion los rdenes de franja observados son proporcionales a la diferencia de los esfuerzos principales. La ecuacin tambin puede ser escrita en trminos del esfuerzo de corte. Donde yxy es el esfuerzo de corte mximo. Simplemente reconociendo el orden de franja y multiplicando por el valor de franja del material se puede obtener la diferencia de los esfuerzos o el esfuerzo de corte mximo en la superficie de estudio. Ingenieros y diseadores a menudo trabajan ms con esfuerzos que con deformaciones.

Donde, x - y Esfuerzos en principales en la superficie de la pieza de prueba. E Mdulo de Young del material de prueba. u Relacin de Poisson del material de prueba Y, sabiendo el esfuerzo de corte mximo, tmax, en el plano de la superficie de prueba en cualquier punto es (x y)/2

Ests ecuaciones son ecuaciones preliminares usadas en el anlisis de esfuerzos, dan solamente la diferencia de esfuerzos y deformaciones principales, no las cantidades individuales. Para determinar las magnitudes individuales y signos o de las deformaciones o de los esfuerzos generalmente requiera, para los estados de esfuerzos biaxiales, una segunda medida. Hay muchos casos, sin embargo, donde estas ecuaciones proveen toda la informacin necesaria para el anlisis de esfuerzos, ya que la relacin de los esfuerzos puede ser inferida de otras consideraciones, por ejemplo: en torsin se sabe que x/y = -1, en cilindros de paredes delgadas la relacin x/y = 2, en estado de esfuerzos es uniaxial, x y son cero.

Si el borde no est libre de esfuerzos pero se conoce la presin aplicada, entonces se tiene un esfuerzo principal y se puede calcular el otro. Ahora si el borde no est libre y la presin aplicada es desconocida, es necesario usar tcnicas de separacin para determinar ambos esfuerzos. Las tensiones en los bordes libres juegan un papel muy importante, en el anlisis de esfuerzos, puesto que los valores crticos de los esfuerzos en un cuerpo se presentan muy a menudo en un punto de borde. En una esquina libre, la ausencia total de fuerzas exteriores debe ir acompaada de ausencia completa de fuerzas resistentes y por lo tanto de esfuerzos. As x- y= 0 en las esquinas externas y el orden de la banda isocromtica es siempre cero. El conocimiento previo del orden de una franja en algn punto resulta, a menudo, de grandsima ayuda para interpretar un dibujo de isocromticas que se ha previamente fotografiado, particularmente cuando no se ha observado la evolucin durante la aplicacin de la carga.

MTODO PARA LA SEPARACIN DE LAS DEFORMACIONES/ESFUERZOS PRINCIPALES Los mtodos usualmente aplicados para obtener los valores de las deformaciones o esfuerzos principales son usando extensmetros (galgas) o experimentalmente creando un borde artificial libre llamado abertura. Mtodo de separador galgas de deformacin Si la suma de las deformaciones puede ser determina en el mismo punto donde la diferencia es medida, entonces los valores de las deformaciones principales sern obtenidas resolviendo simplemente las ecuaciones. El separador de galgas est basado en el principio fundamental de mecnica. La rejilla de la galga consiste de dos elementos perpendiculares conectados en serie. El indicador de deformacin de la galga corresponde a ( x+ y)/2 indiferente de la orientacin de la galga en la superficie de estudio. La seal de salida de la galga es:

En aplicaciones prcticas el procedimiento habitual es completar el anlisis de fotoelasticidad y medir los rdenes de franja. Seguidamente, se adhiere el separador de galgas en la pieza de estudio (o en el plstico espacial adherido a la pieza de estudio) en los puntos crticos establecidos en el anlisis de fotoelasticidad. Las cargas son aplicadas nuevamente sobre la pieza y se toman las mediciones del indicador de deformacin.

Separador de Galgas para fotoelasticidad

VENTAJAS Y DESVENTAJAS

El panorama general que ofrece la fotoelasticidad sirve de confirmacin para mtodos computacionales que analizan concentracin de esfuerzos. Es un mtodo que se ha considerado por mucho tiempo de fcil instalacin y buena versatilidad, debido a que no requiere de especificaciones ambientales rigurosas para su aplicacin, sin embargo, la fotoelasticidad tiene como principal desventaja, respecto a extensometra que es difcil o imposible realizar anlisis en zonas ocultas. Eso sin tomar en cuenta que se requiere experiencia para interpretar los resultados. PROPIEDADES DE LOS MATERIALES FOTOELASTICOS Uno de los factores ms importantes en el anlisis foto-elstico es la seleccin del material apropiado para la elaboracin de los modelos foto-elsticos. Existen muchos tipos de materiales que pueden ser empleados para fines foto-elsticos, todos ellos con propiedades diferentes, y le toca al analista de esfuerzos seleccionar el adecuado de acuerdo a sus requerimientos. A continuacin se mencionan las principales propiedades de dichos materiales: Ser transparente a la luz empleada en el polariscopio. Tambin existen algunos opacos para luz infrarroja y ultravioleta. Ser suficientemente sensible a esfuerzos o deformaciones, lo cual viene indicado por el valor de franja (f). A menor valor de f el material es ms sensible. El material debe exhibir caractersticas lineales con respecto a: esfuerzo vs. deformacin, diferencia de esfuerzos principales (x-y) vs. orden de franja y diferencia de deformaciones principales ( x - y) vs. orden de franja. Debe poseer isotropa mecnica, isotropa ptica y ser homogneo. No debe escurrir excesivamente, esto es que el material no debe deformarse en el tiempo para cargas aplicadas constantes y adems la recuperacin debe ser lo ms rpido posible. Debe exhibir alto mdulo de elasticidad y alto lmite proporcional. La sensibilidad del material (f) no debe ser afectada por pequeos cambios de temperatura. El material no deber perder sus caractersticas con el tiempo. El material debe presentar fcil maquinabilidad, ya que de lo contrario encarece y dificulta el proceso de preparacin de los modelos, adems de que se puede producir distorsin en el espectro foto-elstico debido a esfuerzos residuales ocasionados por maquinado. Debe estar libre de esfuerzos residuales, producidos probablemente por moldeo, maquinado, almacenamiento, etc. Estos esfuerzos son muy difciles de eliminar, ya que se requiere un tratamiento realmente delicado.

Poseer birrefringencia. Los materiales utilizados para la elaboracin de modelos foto-elsticos se fabrican comnmente con resinas epxicas, polister o de poliuretano, las que pueden dosificarse con el fin de producir una gran variedad del mdulo de elasticidad y respuesta foto-elstica a diferentes deformaciones del material. CALIBRACIN DE MATERIALES FOTOELASTICOS Los valores de franja del material (sensibilidad), dependen de varios factores entre los que se mencionan: cantidad de resina, temperatura, envejecimiento, espesor, etc. Por esta razn es recomendable calibrar el material cerca del tiempo de realizacin de la prueba. Para ello se deben emplear modelos en los cuales se conozca bien su distribucin de esfuerzos terica. Adems, dicho modelo, deber ser fcil de maquinar y simple de cargar. El modelo empleado para la calibracin debe ser cargado en incrementos de carga y tanto las bandas de colores y las cargas deben ser anotadas y desde sta informacin se puede determinar los valores de f.

CALIBRACIN

ANTECEDENTES La fotoelasticidad fue desarrollada a principios del siglo XX. El primer trabajo fue de E. Coker y de L. Filon en la universidad de Londres, y permiti a la fotoelasticidad convertirse rpidamente en una tcnica viable para el anlisis cualitativo de los esfuerzos. Se le encontr una gran aplicacin en la industria, en dos dimensiones rebas al resto de las tcnicas en confiabilidad, alcance y factibilidad. Ningn otro mtodo tena la misma precisin visual y cobertura de los patrones de esfuerzo. El desarrollo de polariscopios digitales usando los LED y los diodos laser permiti la supervisin continua de las estructuras y la fotoelasticidad dinmica. Los progresos en el proceso de imagen permiten que la informacin de los esfuerzos sea extrada automticamente de su patrn. El desarrollo de la esterolitografia, que utiliza un mtodo llamado rapid prototyping permite la generacin de modelos tridimensionales exactos de un polmero lquido, lo cual permiti sustituir el mtodo de vaciado tradicional. El advenimiento del procesamiento por computadora con su superior potencia de clculo ha revolucionado el anlisis de esfuerzos, haciendo que se extienda el uso de mtodos numricos. En particular, el modelado por el anlisis de elementos finitos (FEM) se ha convertido en la herramienta dominante, eclipsando muchas tcnicas tradicionales para el anlisis de los esfuerzos. A pesar del avance del FEM, la fotoelasticidad -uno de los ms viejos mtodos para el anlisis experimental de los esfuerzos-, se ha restablecido con progresos recientes y nuevos usos.