LA TRANFORMADA DE FOURIER DISCRETA Y SU RELACION CON OTROS METODOS La tcnica de anlisis de Fourier que se usa ms comnmente en el mundo es la llamada

transformada rpida de Fourier que es un algoritmo eficiente para calcular la transformada de Fourier discreta (TFD), que es casi idntica a la SFTD. Las nicas diferencias reales son un factor de escala y la suposicin de que la primera muestra de la seal en TC ocurre en el tiempo t = 0. La SFTD de un conjunto de muestras x[n] = x(nTs), O n < NF, a partir de la seal x(f) en TC se define mediante el par de transformadas

donde x[n] = x(NTS). La funcin armnica X [ k ] de la SFTD es peridica con periodo fundamental NF,y, en general, la representacin X[n] es slo vlida para O n < Np Si x[n] es peridica con periodo fundamentalN0 y Np= N0, entonces la representacin X[n] es vlida para toda n. La TFD de ese mismo conjunto de muestras se define mediante el par de trasformadas

De modo que la relacin entre la funcin armnica de la SFTD y la TFD es

Una de las aplicaciones prcticas ms importantes de la T FD es su uso como una aproximacin de la TFTC. En el desarrollo de la relacin entre la TFTC y la T FD que sigue, todas las etapas de procesamiento desde la funcin en TC original hasta la T FD se ilustrarn mediante una seal de ejemplo. Considere una seal x(f) en TC que se muestrea y que el nmero total de muestras que se toman

donde Tf es el tiempo de muestreo total y fs es la frecuencia de muestreo. Entonces el tiempo entre muestras es Ts donde

La seal original del ejemplo tanto en el dominio del tiempo como en el de la frecuencia se muestra en la figura

El primer paso del proceso en la conversin de la TFTC en la TFD consiste en muestrear la seal x() en TC para formar una seal xs[n] en TD.

La contraparte en el dominio de la frecuencia de la funcin en TD es su TFTD. Si se emplean las relaciones entre los mtodos de Fourier que se obtuvieron en el tema de la trasformada de furier, es posible escribir la TFTD de xs[n], Xs( F), en trminos de la TFTC de x(f), X ( f ) . sta es

una versin escalada en frecuencia y repetida peridicamente de X(f)

A continuacin debe limitarse el ntimero de muestras a aquellas que ocurren en el tiempo de muestreo A^^ en TD total. Considere que el tiempo de la primera muestra es n = 0. (sta es la suposicin que se hace por regla en la TFD. Podran utilizarse otras referencias de tiempo, pero el efecto de una referencia de tiempo diferente es slo un desplazamiento de fase que vara linealmente con la frecuencia.) Esto puede llevarse a cabo multiplicando xs.[n] por una funcin de ventana,

como se ilustra en la figura 7.55. Esta funcin de ventana tiene exactamente A^^ valores distintos de cero, el primero de los cuales ocurre en un tiempo discreto n = 0. Llmese a la seal en TD muestreada y ventaneada xmv.[n]. Entonces

El proceso de hmitar una seal a un intervalo fmito Np- en tiempo discreto recibe el nombre de ventaneo, porque slo se considera una parte de la seal muestreada que puede ser vista a travs de una ventana en TD de longiUid finita. La funcin de ventana no necesita ser un rectngulo. A menudo se utilizan en la prctica otras formas de ventana para minimizar un efecto llamado fuga (que se describir despus) en el dominio de la frecuencia. La TFTD de xmv [n] es la convolucin peridica de la TFTD de la seal x[n] en TD y la TFTD de la funcin de ventana w[n],

La TFTD de la funcin de ventana es

o, empleando el hecho de que una convolucin peridica con una seal peridica es equivalente a una convolucin no peridica con un periodo fundamental de la seal peridica,

De modo que el efecto en el dominio de la frecuencia en TD del ventaneo en empo discreto es que la transformada de Fourier de la seal muestreada en el tiempo se ha convolucionado de manera peridica con

La convolucin tender a dispersar X^{F) en el dominio de la frecuencia en TD, lo cual provoca que la potencia de X^(F) a cualquier frecuencia se fugue hacia frecuencias adyacentes en X^.^ (F). De ah es de donde proviene el trmino fuga. El uso de una funcin de ventana diferente cuya TFTD est ms confinada en el dominio de la frecuencia en TD, minimiza (pero nunca puede eliminar por completo) la fuga. Como puede verse en la figura 7.56, cuando aumenta el niimero de muestras A^^, el ancho del lbulo principal de cada periodo fundamental de esta funcin disminuye, lo cual reduce la fuga. De modo que otra forma de reducir la fuga es usar un conjunto de muestras ms grande. En este punto del proceso se tiene una secuencia finita de nmeros de la seal en TD, aunque la TFTD de la seal ventaneada es una funcin peridica en la frecuencia F en TD continua y, por lo tanto, no es apropiada para su almacenamiento y manipulacin en computadora. El hecho de que la funcin en el dominio en TD se haya vuelto de tiempo limitado mediante el proceso de ventaneo y el hecho de que la funcin en el dominio de la frecuencia en TD sea peridica permite muestrear en el dominio de la frecuencia en TD para un periodo fundamental con el fin de describir de forma completa la funcin en el dominio de la frecuencia en TD. Resulta natural en este punto preguntar cmo debe muestrearse una funcin en el dominio de la frecuencia para reconstruirla a partir de sus muestras. La respuesta es casi idntica a la del muestreo de seales en el dominio del tiempo salvo porque el tiempo y la frecuencia han intercambiado papeles. La nica diferencia es que las funciones en el dominio de la frecuencia son un poco ms generales pues suelen ser complejas y no puramente reales como las seales en el dominio del tiempo usuales. Las relaciones entre los dominios del tiempo y la frecuencia son casi idnticas debido a la dualidad de las transformadas de Fourier directa e inversa.