Determinaci on de la longitud de onda de un l aser a partir de la difracci on de un haz de luz generado por una rendija y una rejilla.

Carlos L. Cruz and Alex Rodriguez

Escuela de F sica, Universidad Nacional de Trujillo, Per u (Dated: Realizaci on: Noviembre 13, 2013 Entrega: Noviembre 21,2013)

I.

INTRODUCCION

La difracci on es uno de los fen omenos m as importantes relacionados con el car acter ondulatorio de la luz que se observa cuando un frente de onda ondas se encuentra con un obst aculo o una rendija de dimensiones comparables a su longitud de onda (). El obst aculo, que puede ser un pequen o objeto (pelo, hilo no, etc.), interrumpe el paso de una pequen a porci on del frente de onda mientras la rendija permite el paso s olo a una pequen a parte del mismo. Si utilizamos obst aculos o rendijas recytangulares muy estrechos y ondas incidentes planas, observaremos, a una distancia sucientemente grande, la difracci on de Fraunhofer, es un fen omeno que recibi o su nombre por Joseph von Fraunhofer (1787-1826), f sico alem an que fue uno de los pioneros en el estudio de la difracci on. Este fen omeno nos permitir a relacionar de forma matem aticamente sencilla el ancho de la rendija y la longitud de onda con las caraceristicas del patr on de difracci on observado. Si irradiamos varios obst aculos o rendijas se produce adem as la interferencia de las ondas difreactadas por cada rendija. El patron correspondiente es un patr on de interferencia que est a modulado por la difracci on.

Para ilustrar lo anterior se puede pensar un sencillo experimento en el cual la luz procedente de una fuente puntual se hace incidir sobre una pantalla en la cual se haya abierto una ranura. Mientras la ranura sea bastante amplia, sobre otra pantalla paralela a la primera se formar a una franja iluminada que puede correctamente interpretarse como la proyecci on geom etrica de la ranura (Fig. 1, izquierda y centro); tambi en podr a observarse que dicha franja iluminada var a su anchura seg un la ranura se haga m as amplia o m as estrecha. Ocurre sin embargo que si la ranura se hace muy estrecha entonces la zona de iluminaci on en la pantalla se ampl a evidenciando as que, en este caso, la luz no se propaga en forma rectil nea (Fig. 1 derecha); este fen omeno llamado difracci on se presenta cuando una onda (cualquiera que sea su naturaleza) se encuentra con obst aculos cuyas dimensiones son comparables con la longitud de onda.

II.

DIFRACCION

Figura 1. Obtenci on de un patr on de difracci on

El principio de propagaci on rectil nea de la luz ha sido fundamental para la descripci on de los fen omenos desde el punto de vista de la optica geom etrica. Gracias a ese principio las ondas luminosas se pueden reemplazar con los rayos que representan las direcciones de propagaci on de los frentes de onda y con base en esto se puede obtener relaciones sencillas que dan cuenta, con buena aproximaci on, del comportamiento de algunos sistemas opticos. Sin embargo, ya desde el siglo XVII Grimaldi hab a observado que la luz ten a la capacidad de bordear obst aculos de la misma forma como lo hacen las ondas que se propagan sobre la supercie de un estanque; este hecho contradec a el principio de propagaci on rectil nea y reforzaba la teor a acerca de la naturaleza ondulatoria de la luz.

El fen omeno de la difracci on establece el l mite de aplicabilidad de las leyes de la optica geom etrica porque esta se basa en el principio de propagaci on rectil nea que es el que precisamente falla cuando los obst aculos y/o rendijas que se interponen al paso de la luz tienen dimensiones comparables con su longitud de onda. Por u ltimo el fen omeno de la difracci on es un fen omeno de tipo interferencial y como tal requiere la superposic on de ondas coherentes entre s . Los efectos de la difracci on disminuyen hasta hacerse indetectables a medida que el tama no del objeto aumenta comparado con la longitud de onda.

carloscp 19 @hotmail.com leo warlion@hotmail.com

Figura 2. Patr on de difracci on

2
DE FRESNEL VS DIFRACCION DIFRACCION DE FRAUNHOFER

Despejando y desarrollando sen se obtiene lo siguiente, sen = m a (2)

Entrando en detalle, cuando se presenta difracci on (caso de la Fig.1 derecha), en la pantalla se observa un conjunto de franjas brillantes y oscuras, que conforman el llamado patrn de difraccin producido por una rendija. Este patrn de difraccin presenta una franja central relativamente ancha y brillante y, a ambos lados, otras franjas brillantes de intensidad decreciente (Fig.2). Si la fuente de luz y la pantalla se encuentran muy lejos de la abertura se dice que se presenta difracci on de Fraunhofer (o de campo lejano); si alguna de ellas o ambas no esta sucientemente lejos, se dice que se presenta difracci on de Fresnel (o de campo cercano). En este laboratorio se har a un montaje experimental que corresponde a la difracci on de Fraunhofer.

y m = d a donde despejando y se obtiene, y= m d a

(3)

(4)

ademas se sabe que z = 2y y para m = 1 se tiene, z = 2( d ) a (5)

POR ABERTURA DIFRACCION RECTANGULAR

Posiciones de los m nimos intensidad. En el caso de la difracci on de Fraunhofer a trav es de una rendija rectangular estrecha de ancho a, se puede demostrar que los m nimos de intensidad se presentan para aquellas posiciones que cumplen la condici an expresada en la siguiente ecuaci on: asen() = m ; m = 1, 2, ... (1)

la ec(5) nalmente queda expresada en las variables que vamos a medir para la rendija. Si utilizamos dos o m as rendijas tendremos un conjunto de ondas difratadas proveniente de cada rendija, lo cuanl signica que al fen omeno de difracci on (Fig.4) se an ade el fenomeno de interferencia (Fig.5), que produce una subdivisi on de los l obulos (Fig.6). El patr on correspondiente es un patr on de interferencia que esta modulado por la difracci on y que presenta m aximos de interferencia cuyas intensidades est an determinadas por el patr on de difracci on.

En la Fig. 3 se ilustra el signicado de cada una de las magnitudes presentes en esta expresi on. Aqu es la longitud de onda de la luz monocrom atica empleada (en nuestro caso, luz de un l aser).

As la ec.(1) queda expresada en funci on de las nuevas variables, bsen() = n ; n = 1, 2, ... (6)

donde b es la distancia entre las rendijas. Realizando el mismo procedimiento anterior se obtiene lo siguiente, y=( nd ) b (7)

conociendo la longitud de onda del laser utilizado, mediante el primer proceso, se mide la frecuencia de a rejilla expresada en terminos de 1/d.

III.

INSTRUMENTOS Y MATERIALES

L aser (ver Fig.4) Banco optico L = 100cm 0.1cm

Figura 3. Patr on de difracci on

Rendijas y rejillas de difracci on (ver Fig.5 y 6)

Figura 6. Rejilla de difracci on (n = 250)

Figura 4. L aser = (650 10)nm, max output < 5mW , Clase: IIIA

Figura 7. Esquema experimental para la difracci on con una rendija

Figura 5. A la izquierda: rendija de difracci on (a = 0.12mm), al centro: rendija de difracci on (a = 0.25mm), a la derecha: rejilla de difracci on (n = 100)

Observar el espectro de difracci on, medir las distancia de cada punto y con su respectivo orden n y tabular.
V. ANALISIS DE RESULTADOS

IV.

METODOLOG IA EXPERIMENTAL

Difracci on por una Rendija Rectangular

Para ambas experiencias se obtuvo los valores de las variables necesarias para los c alculos respectivos. Los cuales se tabulados se muestran en las siguientes tablas.
Tabla I. Valores de las variables medidas y estimadas a nivel experimental de un fen omeno de difracci on con una rendija. Con una precisi on para d = 0.5cm y z = 0.5mm a = 0.12mm d z cm mm 254.5 27.0 249.5 26.0 244.5 25.0 239.5 24.0 234.5 23.0 229.5 22.5 234.5 22.0 a = 0.25mm d z cm mm 254.5 13.0 249.5 12.0 244.5 11.0 239.5 10.0 234.5 9.5 229.5 9.0

Montar el equipo segun el diseo exerimental. (Ver Fig.7) Asegurarse de que la pantalla este perpendicular al haz l aser para aumentar la precisi on en la toma de datos. Colocar la rendija lo mas alejada posible de la pantalla hasta ubicar un patr on de difracci on que pueda ser objeto de medici on. Medir el ancho o z del m aximo para diferentes distancias d respectivamente y tabular.

Difracci on por rejilla

Realizar el montaje de la misma manera que el proceso anterior (ver Fig.4), solo cambiando la rendija por una rejilla. Incidir el l aser sobre rejilla hasta observar en la pantalla un patr on claro de difracci on. La distancia d debe ser grande.

con los datos obtenidos anteriormente se realiza un an alisis gr aco el cual debe arrojar una pendiente la cual representa una constante de la cual se obtendra la longitud de onda del l aser utilizado, segun la ec.(5) Las gr acas obtenidas de la Tab.I, muestran la relaci on lineal que existe entre d y z la cual asu vez permite obtener experimentalmente la longitud de onda () del l aser. La ecuaci on de tal relaci on queda expresada en, y = mx + b (8)

4
Tabla II. Valores de las variables medidas y estimadas a nivel experimental de un fen omeno de difracci on con una rejilla. Con una precisi on para y = 0.5cm a = 0.12mm d z cm cm 1 3.80 2 7.55 3 11.40 4 15.20 5 18.95 6 22.85 7 26.65 8 30.55 9 34.45 10 38.35 a = 0.25mm d z cm cm 1 1.5 2 3.0 3 4.5 4 6.0

rejilla de n = 250 la frecuencia es 1/d = 7.52 105 .

1 3

( z )

v s

1 2

z ( m m )

1 1

1 0

R e n d ija d = 0 .2 5 m m
9

2 3 0

2 3 5

2 4 0

2 4 5

2 5 0

2 5 5

d (c m )

2 7

( z )

v s

Figura 9. Gr aca que representa los datos para una rendija a = 0.25mm

2 6

4 0 3 5

v s

2 5

z ( m m )

3 0 2 4 2 5

Y (c m )

2 3

2 0 1 5 1 0

2 2

R e n d ija d = 0 .1 2 m m
2 2 0 2 2 5 2 3 0 2 3 5 2 4 0 2 4 5 2 5 0 2 5 5

r e jilla n = 2 5 0
5 0

d (c m )

Figura 8. Gr aca que representa los datos para una rendija a = 0.12mm

1 0

donde y = z y x = d, y el valor de a pendiente m = 2/a, entonces con un simple c alculo el valor de la longitud de onda es para la Fig.8 es = 1020nm 103 m y para la Fig.9 es = 2000nm 103 m, lo cual representa un resultado muy distante al valor real que tiene este l aser, lo cual se fundamenta en error en la medida de los datos producto de la precis on de los equipos lo cual es caracter stico en los equipos al tratar de determinar valores muy pequen os como la longitud de onda de un laser. Adem as utilizando el valor encontrado de la longitud de onda del l aser, se determin o la frecuencia de las rejillas, para lo cual se realiz o un an alisis de los datos medidos en la Tab.II, Finalmente luego de este an alisis gr aco se pudo obtener la frecuencia para las dos rejillas, para la rejilla de n = 100 la frecuencia es 1/d = 2.95 105 y para la

Figura 10. Gr aca que representa los datos para una rejilla n = 250

VI.

CONCLUSIONES

Se realizo el experimento de una forma muy facil, lo cual reduce el tiempo de la toma de datos, pero a su vez genera un gran error, al contar con instrumentos de medici on con una precisi on muy grande comparada con rango del valor nal que queremos encontrar, lo cual genera que obtengamos los resultados antes vistos. El fen omeno fue observado con gran detalle, entendiendo en su totalidad y en detalle porqu e y c omo se genera una difracci on. Finalmente se recomienda utilizar instrumentos como vernier para la medici on de la longitud de cada linea luminosa.

[1] E. Hecht, Optica, Madrid (2000)

Addison-Wesley Iberoamericana,

[2] Alonso, M. Finn, E, F sica, Addison Wesley Iberoameri-

Y
5

v s

cana, Madrid, 1992. [3] http://www.ual.es/ mjgarcia/redesdifraccion.pdf [4] http://www.sc.ehu.es/sbweb/sica/ondas/redes/redes.htm

Y (c m )
3

r e jilla n = 1 0 0
2

1 1 .0 1 .5 2 .0 2 .5 3 .0 3 .5 4 .0

Figura 11. Gr aca que representa los datos para una rejilla n = 100