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5. PERFIS COM ELETRODOS GALVNICOS 5.

1 Introduo A condutividade eltrica de uma substncia qualquer a medida da habilidade no transporte de cargas eltricas livres, sob a ao de um campo externo. Ela definida pela Lei experimental de Ohm, que estabelece o relacionamento linear entre os vetores colineares da densidade da corrente (J), em um ponto qualquer do condutor, e o campo eltrico (), naquele mesmo ponto. A constante de proporcionalidade () denominada de condutividade dessa substncia. Isto : r r J= (5.1)

Em meios anisotrpicos, a condutividade varia conforme a direo da medio: r r J= (5.2) ij


A referida lei expressa, tambm, a relao direta entre o fluxo da corrente eltrica (i) e a diferena de potencial (E) que ocasiona tal fluxo. A constante de proporcionalidade introduzida a resistncia eltrica (r) do material considerado. Isto ,
r= E i onde r =R L , S e finalmente R= E S . i L

(5.3)

sendo, L o comprimento, S a rea transversal e R a resistividade, inversa da condutividade (). O potencial E expresso em Volts, a corrente i em Ampres, a resistncia r em ohm e a resistividade em ohm.m. Na tcnica de perfilagem usa-se, preferentemente, o termo resistividade no lugar de condutividade. Os perfis com eletrodos galvnicos medem a resistncia passagem da corrente eltrica atravs das camadas localizadas entre um eletrodo que se desloca no poo e outro estacionrio na superfcie (ou mesmo dentro do poo a uma distncia considerada infinita). Como a corrente enviada ao eletrodo emissor mantida constante, o que a curva registra, na realidade, o potencial, estando o eletrodo de retorno no infinito, ou a diferena de potencial (DDP), estando o eletrodo de retorno dentro do poo ou prximo ao emissor. Posteriormente, esse potencial, ou DDP, convertido em valores de resistividade eltrica usando-se a equao (5.3). 5.2 Eletrodo em um Meio Homogneo

i B

A
L

x+dx

Figura 5.1 Esquema mostrando duas esferas equipotenciais, concntricas ao eletrodo emissor A, sendo uma de raio x e outra de raio x+dx.

onde, A = raio do eletrodo; L = dimetro total; x = raio da esfera equipotencial interna; x+dx = raio da esfera equipotencial externa; V = DDP entre o eletrodo e a primeira interna; V+dv

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= DDP entre o eletrodo e a esfera externa; r = resistncia do terreno (ohm); R = resistividade do terreno (ohm.m). A medida do DDP entre A e L define a resistividade do volume de material localizado entre ambos. Da Lei de Ohm e da relao entre r, resistncia e R, resistividade, pode-se calcular a DDP entre um eletrodo cilndrico e uma esfera equipotencial concntrica de raio L, em meio um homogneo e infinito.

V=

i.R 4

1 L

(5.4)

Considerando-se em (5.4), i = 6 Ampres, R = 10 ohm.m, o raio de A = 0,1m e variando-se o raio L, sucessivamente, de 1, 2, 10 metros at o infinito, verifica-se que toda esfera equipotencial de raio superior a 10 vezes o raio do eletrodo "A", promove apenas um pequeno acrscimo (cerca de 10%) na diferena de potencial entre "A" e a esfera considerada. Em outras palavras, 90% do DDP entre um eletrodo emissor de corrente e uma esfera situada em L ocorre, no mximo, at 10 vezes o raio do eletrodo A. O termo dentro do parntesis da equao (5.4) multiplicado por i/4, a constante ferramental ou geomtrica K , definida em funo da configurao dos eletrodos e da corrente usada. 5.3 Tipos de Perfis com Eletrodos Galvnicos Podemos classificar os perfis em Macro e Microvolumtricos, os quais, por sua vez, podem ter seus eletrodos configurados nos sistemas Mono ou Multieletrodos. A diferena entre as configuraes operacionais dos Macros e os Microperfis reside to somente na distncia que separa os eletrodos, de modo que os princpios e as equaes ferramentais de aquisio continuam os mesmas. 5.4 - Sistemas Monoeletrodos Monoeletrodo aquele sistema eltrico de perfilagem que tem apenas o eletrodo de corrente (A) dentro do poo, a exemplo do ilustrado na figura 5.1. Um gerador na superfcie emite uma corrente constante, alternada e de baixa freqncia, que desce pelo cabo at A e espalha-se em todas as direes, para retornar superfcie atravs das camadas e fechar o circuito no eletrodo de retorno (B), dentro de um buraco com lama. A resistncia oferecida passagem da corrente eltrica, entre A e B, est em srie com uma bateria e um voltmetro. Quando a resistncia do pacote intermedirio de rocha baixa (por exemplo, rocha portadora de gua salgada), a corrente em B tem um alto valor e o perfil registra uma curva bastante sensvel. Quando a resistncia das rochas alta (portadora de gua doce ou hidrocarboneto), a corrente pequena. Este fato diminui a sensibilidade da curva. Isto , uma deflexo de 5 ohm.m registrada entre 10 e 20 ohm muito maior do que uma deflexo, de mesmo valor, entre 100 e 120 ohm.m. A falta de linearidade na reposta d aos monoeletrodos um carter meramente qualitativo. Devido utilizao de corrente constante, o potencial inversamente proporcional resistncia ente os eletrodos A e B. Conforme a equao (5.4), 90% da resposta (raio de investigao) deste sistema, em um meio homogneo e isotrpico, corresponde a uma esfera de raio igual a 10 vezes o raio do eletrodo emissor. Guyod,1952, demonstrou que a resistncia medida pelos monoeletrodos consiste de vrias resistncias em srie: a do semi-hemisfrio do eletrodo A, a da lama, a das rochas que circundam o eletrodo A (at uma distncia 10 vezes o seu raio), a resistncia das rochas localizadas entre 10xA, finalmente, do semi-hemisfrio do eletrodo B, na superfcie.
5.4.1 - Limitaes dos Monoeletrodos - Devido ao pequeno dimetro dos eletrodos, e por conseqncia do raio de investigao, eles so fortemente influenciados pelo volume

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e pela condutividade da lama. Em desmoronamentos, cavernas ou fraturas, os monoeletrodos registram apenas a resistividade da lama e no das camadas entre eletrodos. Caso o intervalo perfilado tenha uma resistncia maior que a da lama, apenas uma pequena parte da corrente fluir pelas rochas, O restante permanecer circulando dentro do poo, o meio mais condutivo. Camadas finas e/ou interlaminaes resistivas afetaro, tambm, o fluxo da corrente dificultando seus reconhecimentos e quantificaes.
5.4.2 - Principais Usos dos Monoeletrodos - Os monoeletrodos devem ser utilizados para correlao entre poos, definio de variaes litolgicas, determinao da espessura das camadas e, eventualmente, identificao de intervalos fraturados em rochas cristalinas ou de porosidade matricial nula. Concluso - so perfis de natureza qualitativa, ensejando quantificaes puramente especulativas.

5.5 - Sistemas Multieletrodos


So equipamentos com 4 eletrodos. Um emissor (A) e um receptor (B) de corrente e dois (M e N) medindo o potencial ou a diferena de potencial entre si. Quando a separao entre os eletrodos A e M da ordem de 16 ou mais polegadas, o denominamos de Perfil Eltrico Convencional (ES ou EL). Quando a separao da ordem de uma polegada, o denominamos de Micro Perfil Eltrico (MEL).

i B M L E N S A

Figura 5.2 - Esquema usado nos laboratrios para a medio da resistividade em testemunhos. Imaginar este mesmo esquema, em posio vertical dentro de um poo.

Este mesmo esquema (fig. 5.2), quando usado em laboratrios, implica em a amostra ficar envolta por ar ou material isolante, fato este que obriga as linhas de corrente circularem, somente, entre A e B. A relao R = K / V , da equao (5.4), define a resistividade real da amostra, enquanto S / L, define a geometria do corpo analisado. Em um poo, muito embora o arranjo dos eletrodos seja o idntico ao do laboratrio, no h confinamento das linhas de corrente geometria cilndrica da amostra, mas sim um espalhamento pelo conjunto condutor infinito lama/rocha. Desta forma, a constante geomtrica K no mais ser obtida pela razo S/L, a no ser em raros casos de isotropia e homogeneidade de todo o meio envolvido no sistema. O efeito combinado das propriedades distorsivas da coluna de lama e poo inserem na medio uma constante geomtrica G (diferente de K), fazendo que resistividade seja aparente (Ra):

Ra = G.

E i

(5.5)

Para cada arranjo entre os eletrodos de medio e de corrente, estabelecido por qualquer que seja a companhia de perfilagem, bem como para qualquer espaamento entre eles, haver sempre um valor numrico diferente para G. Todavia, no importa qual seja o arranjo usado, todas elas devero registrar, em um mesmo poo, idnticos valores de resistividades aparentes, segundo as normas do Instituto Americano do Petrleo (API).
5.5.1 - Principais Sistemas Multieletrodos - Dois so os arranjos dos multieletrodos: o Normal e o Lateral - O Macro Sistema Normal tem o eletrodo de retorno (B) e o de

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medio (N) posicionados a uma grande distncia de A e M (na realidade, N e B ficam prximos , ou na, superfcie), portanto, no infinito eltrico. Este sistema mede o potencial entre A e M e est subdividido em Normal Curto (distncia AM igual a 16 polegadas) e Normal Longo (distncia AM igual a 64 polegadas). Em ambos os casos as resistividades aparentes normal curta (denominadas de RSN ou R16) e longa (RLN ou R64) sero dadas por:

R16 ou 64 = 4 AM .

V i

(5.6)

No Macro Sistema Lateral, os eletrodos (A, M e N), esto posicionados na prpria sonda que desce ao poo, enquanto que B permanece na superfcie. A distncia entre o eletrodo A e o ponto mdio entre M e N de 18 ps e 8 polegadas, da sua tambm denominao de R18.8. Este sistema mede o diferencial de potencial entre as esferas que passam em M e N. Nesse caso a resistividade aparente lateral (RLat ou R18.8) ser:
4V (5.7) 1 1 i ( ) AM AN Como, de um modo geral, o meio em que os eletrodos esto localizados no eletricamente homogneo, nem uniforme (lama + rochas), as leituras, em qualquer um dos sistemas eltricos discutidos acima, depender das resistividades radialmente dispostas (ou em srie) entre os eletrodos A e B. Isto : lama (Rm) + reboco (Rmc) + zona invadida pelo filtrado da lama (Rxo) + zona virgem (Ro ou Rt) + demais camadas entre os dois eletrodos. RLAT ou 18' 8" =
5.5.2 - Limitaes dos Multieletrodos - O principal problema destes perfis a distoro do campo eltrico, devido s diferenas radiais entre as resistividades da lama (Rm) e da rocha (Rt ou Ro), as quais influenciam a leitura final da resistividade (Ra), afastando-a cada vez mais dos valores reais desejados (Rt ou Ro). Caso uma camada, defronte aos eletrodos tenha pequena espessura, haver uma forte influncia das camadas soto e sobrepostas. Alm do mais, devido ao processo de invaso do filtrado da lama, quando permoporosas, suas resistividades variam radialmente. A resistividade verdadeira somente ser estabelecida quando se usa sistema de grandes profundidades de investigao radial, tais como os de princpio eletromagntico (Indutivos). Por sua vez, quanto maior for o afastamento entre os eletrodos de medio, maior dever ser a espessura da camada para que se possa obter Rt. Esta foi a razo principal pela qual os perfis eltricos convencionais foram montados com distintos espaamentos entre eletrodos, no intuito de varrerem lateralmente as camadas, negligenciando, todavia, a resoluo vertical (ou espessura) das camadas. Teoricamente, em meio homogneo, a RSN tem uma resoluo radial da ordem de 16 (0,4064m) a partir do eixo da ferramenta, a RLN de 64 (1,6256m) e a RLAT de 18 ps e 8 (5,6896m). Compreende-se que para que as trs citadas curvas leiam dentro de uma mesma camada, ela dever ter no mnimo a espessura do dobro da maior investigao vertical (aproximadamente 12 metros). Caso contrrio, cada curva realizar leituras verticais e radiais diferentemente e influenciadas pelas camadas sobre e sotopostas, prejudicando os clculos quantitativos e as estimativas qualitativas. Portanto, a ferramenta ideal de resistividade deve ser aquela que tenha uma mesma investigao vertical (resoluo vertical ou de espessura) e diferentes profundidades de investigao radial (resoluo lateral). Durante duas dcadas, aps 1927, as macro curvas normais e a lateral foram as nicas disponveis para indstria, na determinao da resistividade das camadas. Apesar de suas inmeras limitaes acima discutidas, e dificuldades interpretativas, muito petrleo foi descoberto em todo o mundo. 5.5.3 - Principais Usos dos Multieletrodos os macros perfis multieletrodos devem ser usados para correlaes geolgicas (pelas mesmas razes dos monoeletrodos) e,

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quando as camadas forem bastante espessas, para a uma aproximao da resistividade verdadeira das rochas (Ro ou Rt) a partir da RLAT. Havendo a necessidade de se tentar aproximar quantitativamente da resistividade verdadeira (Rt) de uma camada, com as ferramentas eltricas convencionais, deve-se dar preferncia aos multieletrodos, porquanto eles realizam leituras que envolvem reas e comprimentos relativamente estimados, o que no possvel nos monoeletrodos. Resguarde-se, entretanto, a falta de homogeneidade do meio em que eles esto situados e os problemas distorsivos que se abatem sobre as linhas de corrente (ou campo eltrico), fazendo com que as equaes (5.6 e 5.7), pr-estabelecidas para volumes esfricos compostos de materiais homogneos e isotrpicos, calculem valores irreais ou aparentes.

4xSN SP

RLAT

RLN

RSN
14m

10xRSN 10xRLN

10xRLAT

Figura 5.3 Exemplo de um Macro Perfil Eltrico Convencional (ES ou EL), com a litologia e curvas identificadas. Ser discutido, em aula, sua interpretao quantitativa.
5.5.4 - Resumo do Macro Perfil Eltrico Convencional (ES ou EL)

Apresentao SP na primeira faixa; na segunda, as curvas RSN e RLN e na terceira, a curva RLAT. Havendo necessidade aparecero as curvas back up, na figura 5.3, denominadas de 10xRSN e 10xRLN e 10xRLAT. Medio - RLAT mede a DDP das camadas localizadas entre duas esferas equipotenciais vizinhas. RSN e RLN medem o potencial entre o emissor e uma esfera equipotencial, respectivamente, prxima ao emissor ou na superfcie. Unidade: ohm.m Usos - Correlao entre poos, leituras aproximadas de Rxo (RSN) e Ri (RLN), leitura aproximada de Rt (RLAT), anlise qualitativa de zonas com gua e/ou hidrocarbonetos (espessuras > 12 m). Problemas - Poos com lama salgada (> 35.000 ppm), camadas finas ( < 12 metros), distores das linhas de fluxo de corrente pela falta de isotropia do meio ambiente,
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correes exageradas para a obteno de Rt e/ou Rxo. Perfil de natureza mais qualitativa que quantitativa. 5.6 Sistemas Eltricos Focalizados As correntes das curvas eltricas convencionais (RSN, RLN e RLAT), sadas dos eletrodos emissores em direo aos de retorno, tendem a se espalhar perpendicular e radialmente (em meio homogneo) ou a permanecer na lama (bem mais condutiva que as rochas). Em outras palavras, tais perfis por no serem focalizadas, so influenciados por efeitos ambientais: dimetro do poo, sal ou leo na lama, relao espessura da camada/separao entre eletrodos, camadas sobre e sotopostas etc. Em vista disso, as companhias de perfilagem desenvolveram ferramentas onde as correntes eltricas teriam que ser, de algum modo, foradas (ou focalizadas) para dentro das camadas, mesmo em situaes adversas, como em lamas condutivas (a base de sal).
5.6.1 Focalizao da Corrente - O primeiro perfil de resistividade com um sistema de focalizao foi o Macro Lateroperfil-3 (LL-3). Tal sistema consistia em um eletrodo cilndrico central de corrente (Ao), com potencial fixo, posicionado entre dois outros (A1 e A1), monitorados e mantidos com o mesmo potencial de Ao. Tal configurao promove um bloqueio eltrico, onde as linhas de correntes sadas de Ao no ultrapassam no sentido acima ou abaixo das posies de A1 e A1 sendo, portanto, foradas para dentro das camadas. Este sistema proporciona maior profundidade de investigao radial que a observada nos macro perfis eltricos (ES ou EL). Na figura 5.4, eletrodos cilndricos (cor cinza), isoladamente separados (cor preta), do origem a linhas de corrente normais superfcie. Devido aproximao fsica das cargas de mesma polaridade, as linhas de corrente entre eles sofrem repulso. Esta repulso natural d origem a um disco radial de corrente (focalizao), de modo uniforme e omnidirecional, cuja espessura ser igual distncia entre os eletrodos (F). A resistividade medida pela ferramenta ser o resultado do produto da constante ferramental K vezes a razo Vo/io, onde Vo o potencial usado para ativar a ferramenta e io, a corrente sada do eletrodo central Ao.

A1
V=0

A0

F
V=0

A1

Figura 5.4 O Lateroperfil 3 (LL-3). F = 32 polegadas (81,28 cm).

Io linear e inversamente proporcional resistividade medida ou diretamente proporcional condutividade do meio. O LL-3 , portanto, uma ferramenta com caractersticas de condutividade. Embora a medida da resistividade tenha sido melhorada com esta configurao (em relao aos perfis eltricos convencionais), havia um problema denominado de SBR (shoulder bed resistivity) ou influncia das resistividades das camadas sobre e sotopostas aquelas defronte a Ao, principalmente se resistivas. A corrente injetada por Ao perdia a focalizao (V0) e migrava em busca das camadas mais condutivas, ainda que o sistema de monitoramento A1-Ao-A1 estivesse acionado, para retorno a situao anterior (V=0). Alm do mais, o comprimento dos eletrodos interferiam com as curvas de induo e SP, caso estivessem acopladas.

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A1

M2 M1

V=0

A0 M1 M2 A1

V=0

Devido a tais dificuldades foi desenvolvido o LL7 (figura 5.5), com sete eletrodos cilndricos bem mais curtos. Dois dos eletrodos monitoram a corrente acima (M2 e M1) e abaixo (M2 e M1) do emissor Ao. Dois outros (A1 e A1), fazem um bloqueio, porque tm suas correntes ajustadas de tal modo que o potencial entre os monitores de cada par seja zerado, criando uma superfcie equipotencial bastante prxima daquela do eletrodo central. Em ambos os Lateroperfis, o potencial medido entre um dos eletrodos monitores e o eletrodo central. F manteve igual distncia da ferramenta anterior, isto , 32 polegadas.

Figura 5.5 O Lateroperfil 7

Posteriormente foi desenvolvido o DLL (Duplo Lateroperfil), onde dois sistemas LL-7 foram montados em uma mesma ferramenta, usando distintas freqncias de trabalho (35 Hz e 280 Hz) denominados, respectivamente, de LLD (Deep) e LLS (Shallow). A medio das resistividades feita por um sistema denominado de potncia constante, no qual, tanto a corrente de medio como a voltagem variam, permanecendo constante o produto entre elas

LLD

LLS

Figura 5.6 O Duplo Lateroperfil e a conformao das linhas de corrente, originando as investigaes rasa (LLS) e profunda (LLD). Schlumberger, 1989.
5.6.2 Princpio da Medio dos Macros Lateroperfis - A equao base da investigao dos Lateroperfis dada por :

R=

K . Vo

io

(5.7)

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a qual poder corresponder as seguintes situaes operacionais :

caso io seja constante (LL-3 e LL-7), ento Vo ser diretamente proporcional resistividade medida. Para tanto, basta a leitura de Vo para a sua resoluo; caso Vo seja constante (LL-3 e as ferramentas de focalizao esfrica, a discutir mais adiante), ento io ser diretamente proporcional condutividade e inversamente proporcional resistividade, e caso Vo e io sejam variveis (LLD e LLS), ento se mede tanto Vo como io, as quais devem resultar em um valor constante (constant power).

A ltima gerao desta ferramenta, o Lateroperfil Azimutal de Alta Resoluo, detecta uma componente azimutal adicional, onde cada eletrodo est subdividido em oito ou mais, separados e arranjados de modo a proporcionar leituras direcionais das resistividades mais profundas das camadas. Acopla-se a esta ferramenta um inclinmetro para a orientao geogrfica dos eletrodos, recurso bastante til para o caso de poos direcionais.
5.6.3 Usos dos Lateroperfis - Obteno de Rt das camadas. uma ferramenta que l resistividades em srie. Como o erro de leitura muito baixo, eles so recomendados para altas resistividades e lamas condutivas (base de sal). recomendvel o uso de uma curva de Rxo para que se possam efetuar correes ambientais nas leituras rasa e profunda (DLL), por meio dos grficos conhecidos como Tornados.

5.7 - Perfis de Microresistividades


5.7.1 Introduo - Os macroperfis de resistividades visam investigar grandes volumes de rocha para a obteno da resistividade das zonas virgens das camadas (Rt). Os perfis de microresistividade so miniaturas das macroferramentas. Tal artifcio, por conseqncia, diminui sensivelmente o raio de investigao e investiga apenas as zonas prximas s paredes do poo (Rmc e Rxo). Existe uma total analogia entre os princpios fsicos, configuraes e medies das macro e microferramentas. Os principais microperfis de resistividade so, por ordem de entrada na indstria : Microperfil Eltrico (MEL), MicroLateroperfil (MLL), Proximidade (PL) e Microperfil Esfrico Focalizado (MSFL). Os quatro ltimos perfis so denominados perfis de Rxo, conforme ser discutido adiante. Atualmente, na indstria do petrleo, usa-se apenas o Microesfrico (MSFL) para a obteno de Rxo, estando os demais obsoletos. Apesar de no serem mais corridos ainda existem nos arquivos das empresas para uso em reinterpretaes.

5.7.1.1 Microperfil Eltrico (MEL) - Uma almofada, de borracha preenchida com leo, pressionada contra a parede do poo por meio de braos articulados que permitem registrar seu dimetro (cliper). Na face externa da almofada esto trs minsculos botes eletrodos separados por uma polegada, sendo denominados de A, M1 e M2. O eletrodo A, envia uma corrente constante (Io) contra as paredes do poo, enquanto que M1 e M2 so os de medida. As curvas registradas pelo MEL so: uma MicroLateral (denominada de MicroInversa - MI ou M1x1) e uma MicroNormal (MN ou M2). A MicroInversa , na realidade, um macrolateral de dimenses reduzidas, onde a corrente aps atravessar o reboco de resistividade Rmc, retorna na parte posterior metlica da almofada, que o eletrodo de retorno (B). A medida do DDP obtida entre os microeletrodos M1 e M2. A MI bastante influenciada pela resistividade do reboco (Rmc). A MicroNormal uma macronormal de dimenses reduzidas, na qual a corrente aps atravessar o reboco (Rmc) e parte da zona lavada (Rxo), retorna ao eletrodo N2 no infinito eltrico. A medida do potencial feita entre os microeletrodos M2 e N2. A MN influenciada tanto por Rmc como Rxo. Devido ao maior espaamento entre os eletrodos, a MN tem maior penetrao que a MI. Como resultado, admite-se que a profundidade de investigao da ordem de 1,5 para

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a microinversa e de 2 para a micronormal. Como tanto MI como MN so medies realizadas em srie e como Rmc < Rxo, diz-se que MN tende a Rxo, enquanto MI, a Rmc. O sistema de emisso de corrente do mlcroperfil difere operacionalmente um pouco do eltrico convencional, no que diz respeito ao fato de os eletrodos no serem cilndricos e por estarem pressionados contra as paredes do poo. Deste modo a constante ferramental de cada sistema no pode ser calculada, mas sim medida empiricamente. A compresso das molas contra a parede do poo elimina, parcialmente, o efeito curto circuitante da lama (Rm). Ainda assim, permanece a influncia da espessura do reboco (tmc ou hmc). 5.7.1.2 - Limitaes do Microperfil Eltrico - Como o maior raio de investigao deste perfil da ordem de 2, caso o tmc > 1 (1/2 para cada lado do poo), as duas curvas tendero a ler o Rmc condutivo e no Rxo. Por outro lado, quando Rxo >> Rmc (Rxo/Rmc > 20) a ferramenta perde a sensibilidade pela distoro das linhas de corrente que permanecem no meio mais condutivo, no caso o reboco. As vrias limitaes deste perfil o levaram ao obsoletismo no petrleo, porm ainda continua com uso adequado na indstria da gua, para definio de espessuras (preciso de frao de polegada) e para uma indicao qualitativa da permeabilidade das camadas, por meio da separao entre as curvas MI e MN. Este ltimo conceito baseia-se no fato de que Rxo de uma camada saturada (Sxo=1) com filtrado sempre maior do que a Rmc saturada com o mesmo filtrado (Rmf). Assim, considera-se que uma camada tem permeabilidade qualitativa quando Rxo > Rmc, ou seja, MN > MI. A este tipo de separao diz-se positiva. Para que seja eliminada a possibilidade de falsas separaes positivas, devido interposio de um filme de lama entre a almofada e a parede do poo (quando no houver reboco presente), a micronormal eletricamente ajustada para realizar leituras menos sensveis (da ordem de 10%) do que a mlcrolnversa. Uma conseqncia disto que em um meio homogneo, como em alguns folhelhos ou quando a almofada estiver totalmente fechada dentro de um poo direcional, por exemplo, a MN poder ler um valor absoluto um pouco menor do que a MI, dando origem a uma separao negativa. Convm lembrar porm que separaes positivas podero acontecer em camadas impermeveis, caso a almofada no esteja bem comprimida contra a parede do poo. Portanto, muita ateno nas zonas desmoronadas, as quais sero facilmente identificadas pelo cliper que deve sempre acompanhar este perfil. Como este um cliper de apenas 2 braos, ele registra sempre o maior dimetro, principalmente nos poos ovalizados. O Microperfil foi inicialmente desenvolvido para a obteno da Rxo (desde que Sxo = 1), e indiretamente a porosidade, com base na equao do fator de formao. Entretanto, devido a dificuldades inerentes a leituras confiveis de Rxo, aos poucos este perfil passou para um segundo plano a proporo em que foram sendo desenvolvidos perfis diretamente relacionados porosidade, tais como o Snico, o Densidade e os Neutrnicos. O Microperfil no foi desenvolvido para altas resistividades. Pelo fato de no ser uma ferramenta focalizada, a corrente de medio entrar em curto-circuito, atravs do reboco, quando a relao Rxo/Rmc for muito alta. Em funo destes problemas, o Microperfil no deve ser usado para identificar qualitativamente camadas permeveis quando inexiste reboco, invaso nula ou ainda quando Rt << Rmc. 5.7.1.3 Interpretao Qualitativa do Microperfil - Uma zona impermevel (folhelho, anidrita, etc.) no sofre invaso nem apresenta zonas de separao fluida. As curvas registradas pelo Microperfil, nesse caso, devero ter, aproximadamente, o mesmo valor de resistividade da camada. Se for um folhelho no consolidado, com bastante gua, ambas resistividades sero baixas. Caso seja uma anidrita, uma dolomita ou um calcrio, impermeveis, ou rocha de baixa porosidade, as leituras de ambas curvas sero altas. Uma zona permevel, por outro lado, facilita naturalmente o processo da invaso. A investigao mais rasa (MI), influenciada pelo reboco, apresentar um valor mais baixo que aquela curva de investigao mais profunda (MN). Assim, as curvas mostraro uma separao visual entre si, que foi convencionada de positiva.

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Existem outros perfis de microresistividade, a apresentar oportunamente que, por possurem uma nica curva, no indicam a permeabilidade como o MEL, somente Rxo. 5.7.1.4 - Apresentao de um Microperfil Na figura 5.7, observa-se na primeira faixa os Raios Gama, para uma visualizao da litologia. Na segunda e terceira faixas, as curvas microinversa (MI - linha cheia) e micronormal (MN - linha pontilhada). Separaes positivas, aquelas em que MN>MI (zonas escuras) so lndicativas da presena de reboco (menos resistivo) defronte s camadas. Quaisquer que sejam as larguras das separaes positivas jamais devero ser traduzidas em milidarcies ou equivalentes.

Eletrodos

Figura 5.7 - Exemplo de um perfil MEL (esquerda) e foto de uma ferramenta (direita). 5.7.2 - Microlateroperfil (MLL) - O prprio nome j revela seu princpio e finalidades. Adaptou-se em uma almofada rgida a mesma configurao, porm reduzida, dos 7 eletrodos do LL-7, dispostos concentricamente. Por causa da focalizao as linhas de correntes penetram profundamente na zona lavada (liberadas da permanncia obrigatria dentro dos rebocos ou lamas condutivas, como no caso do MEL). Por registrar uma s curva, o MLL no d ao intrprete a opo de estimar qualitativamente a permeabilidade das camadas, a exemplo do MEL, mas somente Rxo. O sistema de focalizao desta ferramenta similar ao empregado no Lateroperfil-3. Um eletrodo central (Ao) emite uma corrente (lo). Uma outra corrente, ajustada automaticamente, enviada pelos dois eletrodos mais externos (A1 e A2), de tal forma que a diferena de potencial entre os eletrodos de controle M1 e M2 seja mantida igual a zero. O fluxo da corrente Io ao ultrapassar o eletrodo M1 no pode atingir o eletrodo M2, sendo forada a penetrar mais fundo na camada. A medio do potencial ento realizada entre Ao e M1 ou M2.
5.7.3 - Proximidade (PL) - Tendo em vista o MLL no ser recomendado para espessuras de reboco maiores que 3/8 de polegada, foi desenvolvido o Proximidade, capaz de sobrepor tal problema admitindo-se que poderia fornecer valores mais exatos de Rxo. Subtende-se que em casos de pequena invaso, o PL no ser ideal, porque tender a ler Rt, dada a sua maior capacidade de penetrao radial, em relao ao MLL. A focalizao das correntes do PL para proporcionar maior penetrao radial, utiliza um sistema de corrente mais potente que os anteriores.

5.7.3.1 - Apresentao do PL e MLL - Ambos perfis so apresentados nas faixas 2 e

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3 em escala logartmica. Simultaneamente, pode-se registrar um MEL na faixa 1. Convm chamar ateno para o fato de que neste tipo de apresentao, a escala de resistividade do Microperfil, na faixa 1, estar invertida, ou seja, aumenta para a esquerda, donde se conclui que separaes positivas estaro ao contrrio do padro normal do MEL, discutido anteriormente. Em termos de apresentao, visualmente, ambos perfis se assemelham bastante, a diferena est no cabealho e na identificao de cada uma das curvas. Na realidade o PL e o MLL eram intercambiveis. Isto , fazia-se um ou outro perfil com praticamente as mesmas ferramentas, bastando para isto, trocar o patim onde estavam posicionados os eletrodos. As ferramentas de Rxo, a exemplo do MLL e PL, tm limitaes, principalmente sob as condies adversas de espessura de reboco (tmc ou hmc), dimetro de invaso (Di) e contraste de resistividades (Rxo/Rmc).
5.7.4 - Microesfrica Focalizada (MSFL) - A ferramenta Microesfrica Focalizada (MSFL) foi idealizada no sentido de promover uma configurao esfrica na distribuio da corrente enviada ao poo. A corrente de localizao ou de bloqueio (lb) passa de Ao para A1, preferentemente por dentro do reboco, tomando uma forma aproximada de uma esfera. A corrente de medio (Io) fica ento confinada a uma trajetria diretamente para dentro da formao, onde se espalha e retorna a um eletrodo (B), localizado no prprio corpo da sonda. Para que isto seja possvel, a corrente de bloqueio (lb) ajustada de modo que a voltagem nos monitores permanea sempre igual a zero. Com esse sistema, o efeito do reboco minimizado ao mximo e a ferramenta ainda permanece com uma investigao bastante rasa, sendo entre as ferramentas de microresistividades a que mais se aproxima de Rxo, a no ser quando o dimetro de invaso for muito pequeno. Os grficos Rxo's (ver cartas da Schlumberger), mostram os efeitos de contraste (Rxo/Rm) e da espessura do reboco (tmc ou hmc), sobre as leituras das trs ferramentas de Rxo (MLL, PL e MSFL). Desde as primeiras lies, observamos que o desenvolvimento de uma nova ferramenta tem por objetivo eliminar os obstculos apresentados pelas antecessoras. O que vantajoso para uma ferramenta pode ser desvantajoso para outra. Este raciocnio tecnolgico persiste at os tempos atuais, fazendo com que as companhias de servio sejam dinmicas na busca de processos e equipamentos de ponta, lanando com rapidez sistemas hoje atuantes e aceitos pela comunidade cientfica, no obsoletismo.

5.8 - Resumo das Condies Ideais dos Perfis de Rxo (MLL, PL, MSFL) Para obteno de Rxo com as microferramentas, deve-se observar os valores mostrados na tabela abaixo (Schlumberger, 1989), que resumem as condies ideais de cada perfil de Rxo.
PERFIL RMLL / Rmc Espessura Reboco (polegadas) < 3/8 < 3/4 < 3/8 Dimetro de Invaso (pol) (em poo de 8 pol.) > 23 > 40 > 40

MLL PL MSFL

8 at 15 2 at 30 5 at 100

5.9 - Utilizao Prtica dos perfis de Rxo


5.9.1 - Mtodo do leo Mvel (Movable Oil Plot - MOP") - Observar, na figura 5.8, o comportamento de uma rocha permoporosa, antes e aps a invaso do filtrado da lama e suas respectivas variaes volumtricas. As saturaes Swirr e SOR representam, respectivamente, a gua irredutvel e o leo residual, incapazes de se deslocarem sob a

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influncia do filtrado. Swf e SOM, respectivamente, a gua livre interporosa e o leo mvel, portanto, facilmente deslocveis, dentro do diferencial de presso existente nos poos preenchidos por lama.
Swi Swf MATRIZ SOM SOR SOR FILTRADO MATRIZ Sxo Swi

Figura 5.8 A camada permoporosa antes (a esquerda) e aps (a direita) da invaso pelo filtrado. Onde: Sw Swf Swirr So SOM SOR Sxo = Saturao total em gua = Swf + Swirr = Saturao em gua mvel (livre interporosa) = Saturao em gua irredutvel (adsorvida aos gros) = Saturao de leo total (mvel e/ou residual) = SOM + SOR = Saturao de leo Mvel (livre para ser explotado) = Saturao de leo Residual (imvel sob condies normais) = Saturao de filtrado (que desloca os fluidos mveis originais)

Do exposto, conclui-se: Swf + Swirr = 1 - (SOM + SOR) = 1 So (5.8) Fazendo-se o balano dos materiais obtm-se: a) Antes da invaso : Swf + Swi + SOR + SOM = 1 b) Aps a invaso : SOR + Swirr + Sxo = 1 isto : Sxo = 1 - SOR Swi (5.9) Como, tanto antes como aps a invaso, Swi um valor constante, no participativo da movimentao fluida, podemos, simplificadamente, dizer ento que: Sxo = 1 SOR (5.10) principalmente, nos casos de camadas com granulometria mdia a grosseira, onde Swi tende a apresentar baixos valores. Caso a rocha seja de granulometria fina a sltica, ou ainda muito argilosa, sua rea especfica (volume da superfcie externa porosa/volume de rocha) ser bastante elevada e Swirr ter valor numrico no mais desprezvel, devendo ser levada em considerao nas equaes acima. Sabe-se, tambm, que nas formaes limpas:

a Rw Sw n = m Rt

ana log amente,

a Rmf Sxon = m Rxo

(5.11)

Dividindo-se uma pela outra se obtm a Equao da Mobilidade, que correlaciona as saturaes nas zonas virgem e lavada :

Sw Sxo

Rxo Rw . Rt Rmf

(5.12)

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Observemos agora esta equao sob trs aspectos distintos


1o. caso: Sw / Sxo = 1

ou

Analisando-se este resultado pode-se imaginar a seguinte situao : Sw/(1-SOR) = 1 Sw + SOR = 1, isto , a rocha portadora de leo residual e gua, somente.

Entretanto, para um mesmo resultado de Sw/Sxo = 1, pode-se ter duas situaes distintas : (a)

Sw 0,9 = 1 , trata-se de uma camada predominantemente saturada com gua. = Sxo 0,9 Sw 0,3 = 1 , trata-se de uma camada portadora de hidrocarboneto, residual. = Sxo 0,3

(b)

De qualquer modo, no h interesse para hidrocarboneto em ambas situaes. A ocorrncia de 90% gua na camada (caso a), recomendaria o seu abandono imediato. A ocorrncia de 90% de leo residual (caso b), recomendaria anlises de risco/retorno mais apurada, pelo fato deste tipo de hidrocarboneto exigir elevados investimentos adicionais para a sua recuperao.
2. Caso: Sw / Sxo > 1

Neste caso, o valor calculado de Sw maior que o de Sxo, isto : Sw / (1-SOR) > 1 ou Sw + SOR > 1

Observando-se a figura 5.8, esta situao foge completamente ao modelo observado. Normalmente quando Sw + SOR > 1, admite-se ter ocorrido algum erro na escolha dos parmetros (Rmf, Rw, a, m e n) ou ento nos clculos propriamente dito. Na maioria das vezes, trata-se de uma zona sem interesse comercial, portadora de gua.
3. caso: Sw / Sxo < 1

Neste caso, o valor calculado de Sw menor do que o de Sxo. Observando-se a figura 5.8, esta situao mostra que ainda falta um certo volume de fluido para completar os 100% do balano das saturaes. Obviamente, deve ser leo mvel (SOM) : Sw / (1-SOR) < 1 ou Sw + SOR < 1 Conclui-se que esta situao a mais indicativa da presena de hidrocarbonetos mveis. Este ltimo caso o mais importante, e economicamente significante, de todos os trs acima analisados. Assim, quando se tem Sw / Sxo < 1 porque a zona tem certamente leo mvel dentro de seus poros e que camada poder produzi-lo por empuxo de gua, teoria pela qual se baseia o mtodo do leo mvel. Se o filtrado invade uma camada deslocando o leo mvel, este poder deslocar aquele quando o poo estiver em produo. Na prtica, a experincia e estudos estatsticos, adota-se as seguintes relaes:

Sw >1 Sxo

Camada no produtora de hidrocarbonetos.

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0,8 <

Sw < 0,9 Sxo

Camada a ser testada para confirmao de capacidade produtiva.

Sw < 0,7 Sxo

Camada produtora por excelncia, sem muita necessidade de confirmao por testes de formao.

5.10 - Correo de Rt pelo Efeito da Invaso Pode-se obter melhores resultados de Rt, quando se tem valores precisos de Rxo, as quais auxiliam na correo (ou recuperao) do valor real de Rt. Dentro das suas condies ideais, os lateroperfis tm como respostas: RLLD = J . Rxo + (1 - J) . Rt (5.13) e o induo:

1 G (1 - G) = + RILD Rxo Rt

(5.13)

onde, J e G so seus respectivos fatores geomtricos, pode-se, ento, com o uso de grficos denominados de "tornados" reconstruir os valores de Rt e Rxo, a partir das relaes RILM/RILD (ou RLLS/RLLD) e Rferramenta de RXO/RILD (ou Rferramenta de RXO/RLLD), lidas diretamente dos perfis, e determinar ainda o dimetro de invaso das camadas. Ver estes grficos na pgina www.connect.slb.com/Docs/connect/reference/Chartbook. 5.11 - Grfico ou Perfil do leo Mvel Nos Itens anteriores estudou-se a possibilidade de se ter uma idia qualitativa da mobilidade dos hidrocarbonetos, baseados na razo Sw / Sxo. Existem, todavia, meios pelos quais se pode quantificar os hidrocarbonetos deslocados da zona lavada pelo filtrado da lama, durante a perfurao do poo. Esta quantificao realizada em relao ao volume total da rocha. Os conceitos de porosidade e saturao fluida so respectivamente: Porosidade a relao entre o volume de vazios (Vv) de uma rocha e seu volume total (Vt). Saturao Fluida a relao entre o volume de fluido (Vw = gua ou Vxo = filtrado) e o volume de vazios (Vv) da rocha. Em outras palavras:

Vv , Vt

Sw =

Vw , Vv

SXO =

Vxo Vv

SOM = SXO - Sw

Os volumes totais fluidos envolvidos sero, de acordo com a figura 5.8 :

Vw Vt Vxo . SXO = Vt . SOM = (SXO - Sw )

. Sw =

O perfil do leo mvel (Movable Oil Plot - MOP) uma resoluo grfica das equaes acima, composto de 3 curvas em uma mesma faixa, escalas e sentido, representando: (1) a porosidade total (t), (2) o volume total de filtrado (.Sxo) e, (3) o volume total de gua (.Sw). A separao entre as curvas (1) e (2) indica a frao do volume total da zona lavada preenchida por hidrocarboneto residual:

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- . SXO = . (1- SXO) = . SOR


A separao entre as curvas (2) e (3) indica a frao do volume total da zona virgem preenchida por hidrocarboneto mvel:

.SXO - .Sw = (SXO - Sw) = .SOM

A separao entre as curvas (1) e (3) indica a frao do volume total de hidrocarboneto (SO = mvel e residual) da formao:

- . Sw = . (1 - Sw ) = . SO

Este perfil pode ser efetuado ainda na prpria locao, distinguindo visualmente os fluidos dos intervalos estreis ou no, dos portadores de hidrocarbonetos. Lembrar que esta anlise s vlida para os casos em que Swirr pode ser considerada desprezvel, isto , naquelas rochas de granulometria arenosa. Sua validade se torna comprometida nos casos de granulometria sltica ou argilosa, quando Swirr atinge valores considerveis. 5.12 - Resumo das Ferramentas de Microresistividade ou de RXO
5.12.1 - O que estas ferramentas medem : Microvolumes de rochas, por meio de sistemas eltricos focalizados ou no (ML), acondicionados em patins ou sapatas, pressionados contra as paredes dos poos. So por tal razo denominados os perfis de Rxo, exceto o Microperfil por no ser focalizado. 5.12.2 - Utilizao : Corrigir Rt e Rxo pelo efeito da invaso; Corrigir porosidades pelo efeito dos hidrocarbonetos; Determinao do dimetro de invaso; Essenciais nas interpretaes nos casos de HC + gua doce; Eventuais na quantificao da porosidade; Eventuais na identifica fraturas; Essenciais na confeco do M.O.P e interpretaes avanadas dos perfis que exijam Rt e RXO. 5.12.3 Apresentao : Isoladamente ou acoplados aos perfis de macroresistividade. Nestes casos, por no possurem a mesma resoluo vertical, suas leituras so submetidas a programas de coerncia/ponderao. 5.12.4 Problemas: Desmoronamentos/rugosidades; rebocos espessos; invaso rasa. Altos contrastes Rxo/Rmc favorecem a desfocalizao da ferramenta perdendo sua razo de ser. 5.13 - Bibliografia Recomendada

Asquith, G.; C. Gibson, 1982, Basic Well Log Analysis for Geologists, AAPG, Tulsa, 216 pp Bateman, R.M., 1985, Openhole Log Analysis and Formation Evaluation, IHRDC, Boston, 647 pp. Brock, J., 1986, Applied Open-Hole Log Analysis, Gulf, Houston, 284 pp. Desbrandes, R., 1984, Encyclopedia of Well Logging, Gulf, Houston, 584 pp. Dresser Atlas, 1982, Well Logging and Interpretation Techniques, Dresser Ind. Inc., 500 pp Ellis, D.V., 1987, Well Logging for Earth Scientists, Elsevier, New York, 532 pp. Hearst, J.R.; P.H. Nelson, 1985, Well Logging for Physical Properties, McGraw-Hill, 571 pp. Hilchie, D.W., 1984, Applied Openhole Log Interpretation, Inst. for Energy Development, Oklahoma City, 350 pp. Keys, W.S., 1990, Borehole geophysics applied to ground-water investigations, Tech. of Water-Resour. Inves. of the U.S. Geol. Surv. Chap. E2, Book 2, Denver, CO, 150 pp. Schlumberger, 1984, Resistivity Measurement Tools, M-089020, SMP-9020. Schlumberger, 1986, Log Interpretation Charts, Schlumberger Well Services, Houston. Schlumberger, 1989, Log Interpretation Principles/Applications, Schlumberger Educational Services, Houston. Tittman, J., 1986, Geophysical Well Logging, Academic Press, 192 pp.

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