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Boletim Eletrnico da ABRACOR Nmero 6. Maio de 2012.

A FSICA APLICADA ANLISE E ESTUDO DOS OBJETOS DO PATRIMNIO HISTRICO E ARTSTICO


Mrcia de Almeida Rizzutto
Graduada em Fsica pela Universidade de So Paulo em 1986, Mestre em 1989 e doutora em 1994 em Fsica Nuclear Bsica (Estrutura Nuclear) tambm pela Universidade de So Paulo. PsDoutorado em Fsica Nuclear Aplicada com Aceleradores na Universidade de So Paulo, em Fsica Nuclear Experimental no Istituto Nazionale de Fisica Nucleare (Sezione di Padova/Itlia) e em Arqueometria na Universidade de Sassari (Itlia). Atualmente professora/doutora da Universidade de So Paulo e desenvolve pesquisas principalmente na rea de Fsica Nuclear Aplicada com Aceleradores utilizando mtodos de feixes inicos para anlise e caracterizao de materiais. O principal tema atual de sua pesquisa Arqueometria utilizando diferentes anlises no destrutivas. Contato: rizzutto@if.usp.br

Introduo Os museus renem em seus acervos um importante patrimnio histrico e cultural com diferentes colees de obras artsticas, objetos, documentos iconogrficos e textuais nacionais e internacionais, de valor cultural e etnolgico imensurvel. Essas obras so constitudas de materiais diversos, o que acarreta uma problemtica para a sua conservao. Os museus possuem laboratrios de conservao e restauro que buscam recursos tcnico-cientficos para a melhor caracterizao, identificao e conservao destes acervos. Deste modo, para entender os materiais e suas modificaes ao longo do tempo h necessidade um estudo sistemtico dos acervos para auxiliar as reas de conservao e restauro e assim determinar diretrizes com embasamento tcnico-cientfico. A estreita colaborao entre pesquisadores das cincias exatas, conservadores, restauradores, curadores e historiadores da arte tem sido eficaz e de grande valia para a pesquisa cientfica nos diferentes museus do mundo. Estudos sistemticos com tcnicas cientficas em obras de arte so rotineiramente realizados na Europa e Estados Unidos h algumas dcadas. No Brasil, alguns trabalhos cientficos sistemticos neste tema s comearam no final da dcada de 1990. Um estudo sistemtico e metdico em uma obra de arte, documento textual, ou objeto arqueolgico nos ajuda a compreender os materiais e tcnicas empregadas na sua produo e o que aconteceu com ele(s) ao longo do tempo. Interpretar as informaes obtidas atravs das anlises cientficas, concomitantemente com o conhecimento da sua trajetria, nos permite situar o objeto no c ontexto de sua prpria poca, e compreend-lo hoje na sua dimenso material. Dentro deste intuito de anlises sistemticas e metodologias fsicas, o Grupo de Fsica Aplicada com Acelerados do Instituto de Fsica da Universidade de So Paulo (GFAA-IF), desde 2003 tem realizado anlises e estudos de objetos de arte e do patrimnio artstico e cultural. Inicialmente os estudos destes objetos eram restritos aos mtodos no destrutivos utilizando-se os feixes de ons do Laboratrio de Anlise de Materiais (LAMFI) [1] que permite a caracterizao dos elementos qumicos presentes nos objetos de arte. As tcnicas atmico-nucleares atualmente utilizadas pelo grupo de Fsica aplicada com aceleradores (GFAA-IF) so a de emisso de Raios X ou Gama Induzida por Partculas (PIXE e PIGE) e a tcnica de Fluorescncia de Raios X por Disperso de Energia (EDXRF). Estas tcnicas atmico-nucleares so teis para identificar e caracterizar os elementos qumicos presentes nas camadas superficiais de materiais de diversas naturezas como

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metais, cermicas e pigmentos utilizados pelos artistas nas pinturas de cavalete entre outros. As atuais anlises feitas com os mtodos atmico-nucleares baseados em feixes inicos foram expandidas para outras tcnicas de anlise como Fluorescncia de Raios X, muito adequada para anlises in situ, com o equipamento porttil recentemente obtido pelo grupo [2] e anlise por imageamento digital de alta resoluo (luz visvel, fluorescncia de ultravioleta e reflectografia de Infravermelho e radiografias). Estas tcnicas acopladas permitem estudar e entender melhor os objetos do patrimnio cultural e artstico examinando os seus componentes principais, seu estado de conservao e caractersticas do processo criativo do artista. Estas anlises no-destrutivas esto sendo desenvolvidas de forma rotineira e vrios trabalhos j esto sendo desenvolvidos entre o GFAA e os museus da USP e a Pinacoteca do Estado de So Paulo [3,4,5,6,7].

Materiais e Mtodos As anlises realizadas pelo GFAA com feixes inicos utilizam feixes de prtons de energia de dezenas de MeV (Milhes de eltrons-Volts) que so produzidos em um acelerador de partculas. Uma nova linha de feixe externo foi construda e instalada no laboratrio LAMFI para anlises de objetos artsticos, histricos e arqueolgicos especificamente em ar, seguindo a proposta de Lahanier [8] sobre que caractersticas os mtodos de anlise devem ter: No-destrutivos - pois devem respeitar a integridade fsica do objeto. Vrios especialistas frequentemente priorizam as investigaes dos objetos de valores que podem ser feitas com anlises que no resultam em nenhum dano ao objeto. E geralmente preferem os mtodos que eliminam completamente a retirada de amostras; Rpidos - pois deste modo vrios objetos similares podem ser analisados comparativamente ou um nico objeto pode ser analisado em diferentes pontos em sua superfcie. Este procedimento permite discernir entre as tendncias gerais dos dados ou dos pontos analisados; Universal - de modo que possa ser aplicado em muitos materiais e objetos de qualquer forma e dimenso e possa ser analisado com o mnimo de pr-tratamento de amostra; Verstil - de tal modo que possa fornecer anlises localizadas (reas micromtricas) e gerais para verificao de heterogeneidade; Sensvel - pois deve ser capaz de determinar concentraes baixas de vrios elementos ao mesmo tempo, isto , ser capaz de determinar os elementos majoritrios e traos que servem como impresses digitais destes; Mutielementar - capaz de determinar o mximo de elementos qumicos simultaneamente. A determinao da composio qumica dos diferentes materiais como pedras, vidros, cermicas, papis, madeira, camadas de corroso em objetos metlicos, incrustaes em objetos, pinturas e mudanas de cor nas superfcies das pinturas so alguns dos exemplos de problemas a serem resolvidos pelas diferentes tcnicas fsico-qumicas. No arranjo externo, o feixe de prtons ultrapassa uma janela de alumnio, atingindo as amostras no ar. Na interao deste feixe inico com uma amostra, vrios processos podem acontecer como o retro-espalhamento do prprio on, a emisso de radiao eletromagntica como luz (ionluminescncia), radiao X (PIXE) e radiao gama (PIGE). Nesta canalizao foi priorizada a utilizao de mtodos no-destrutivos, e para a realizao dos experimentos so usados diferentes detectores, cada um com sua especificao (detectores de partcula para medidas RBS), detectores para radiao gama (GeHp e NaI),

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detectores de radiao X (Si-PIN (RX1 e RX2)), detector para medidas de luminescncia, lasers para posicionamento da amostra e uma webcam para monitoramento - todos posicionados para focarem um mesmo ponto da amostra como pode ser visualizado na figura 1.

Figura 1. Fotografia da canalizao do feixe externo com os diferentes detectores montados. Na parte inferior temos em detalhe a nova montagem dos detectores acoplados. Luminescncia por ons (Ion Luminescence - IL) um fenmeno de luminescncia que induzido por partculas de um feixe de ons energticos quando da interao destes com material slido. Ao contrrio dos processos que produzem raios X ou raios gama, em que os eltrons internos ou o ncleo so envolvidos no processo, a luminescncia geralmente relacionada com os eltrons de valncia da camada mais externa do tomo. A luz emitida neste processo devido s recombinaes das camadas eletrnicas externas dos tomos do material. Assim, o processo de luminescncia quimicamente, opticamente e eletronicamente sensvel ao estado qumico dos ons, e das condies locais de ligao qumica na amostra, ou ainda das condies da rede cristalina. As medidas IL podem fornecer informaes sobre a forma qumica do material, permitem a identificao de alguns elementos e terras-raras com o limite de alguns ppm. O sistema de IL atualmente utilizado no Laboratrio LAMFI composto por dois conjuntos de sistema da Ocean Optics com intervalo de comprimento de onda na faixa de 200 a 840nm que estende de UV at o IR prximo. As vantagens do uso de um arranjo de feixe externo esto nas medidas imediatas, pois no h necessidade de preparao das amostras, bem como nas medidas de objetos de diferentes tamanhos e formas complexas, permitindo fcil manuseio destas amostras. Como as medidas so realizadas em ar, e no em vcuo, no h problemas trmicos ou de ressecamento que causariam danos nas amostras e h, ainda, a possibilidade de medidas de pequenas reas da ordem de 3-4 mm2.
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Em conjunto com as anlises com feixes inicos e XRF, tem-se utilizado o diagnstico por imagens para as anlises dos objetos do patrimnio histrico e artstico. As tcnicas de imageamento aplicadas em obras de arte so feitas atravs da obteno de imagem com luz visvel, reflectografia de infravermelho prximo (NIV), fluorescncia visvel com radiao de ultravioleta (UV), luz rasante, luz transmitida e radiografia digitalizada. O imageamento tem desempenhado um papel importante na avaliao do estado de conservao das pinturas e auxilia no diagnstico de eventuais anomalias e/ou caractersticas do processo de construo, detectando desenhos subjacentes e alteraes do prprio artista, e no exame de autenticidade [9,10]. A Reflectografia de Infravermelho (IV) - uma tcnica ptica no destrutiva na qual a imagem obtida atravs de uma cmera digital com sensor CCD e um filtro IV, acoplado lente. A imagem observada resulta da conjuno dos fenmenos de reflexo, absoro e transmisso da camada superficial revelando peculiaridades escondidas. A visualizao dos desenhos depende de dois aspectos: contraste e transparncia. O contraste est relacionado ao material utilizado no desenho, e a refletividade com a base de preparao. A transparncia est relacionada com a camada pictrica e depende da composio dos pigmentos. Quando o meio utilizado para o desenho base de carbono, a sua absoro do IV alta, deste modo aumenta a diferena da refletividade com a base de preparao, evidenciando caractersticas escondidas, neste caso, possvel que o desenho seja bem visvel, mesmo que a capa pictrica seja pouco transparente. Fluorescncia Visvel de Ultravioleta (UV) - Como cada cor ou composto emite sua prpria fluorescncia quando irradiada, a imagem obtida por UV de uma pintura pode revelar informaes no antes observadas a olho nu de um modo surpreendente. Manifesta-se na forma de luzes coloridas, de frequncia fraca com tendncias para tons violceos que so caractersticos dos materiais. Os tons de fluorescncia de uma pintura no so de fcil interpretao, mas podem auxiliar na identificao das reas de retoque, bem como de certos pigmentos e/ou os diferentes tipos de vernizes. A anlise da imagem por UV pode ser capaz de propiciar as primeiras avaliaes qualitativas das alteraes morfolgicas e qumicas da superfcie de uma pintura. reas mais recentemente retocadas se apresentam tipicamente mais escuras sob a iluminao UV. A emisso UV induzida resultado de vrios fatores como: a fonte de luz UV utilizada, o pigmento/corante, o meio de ligao, camada de verniz (se houver), a sua interao com o material e o seu envelhecimento. As informaes da anlise de fluorescncia UV sobre um objeto so obtidas sem necessidade de entrar em contato direto com este, atravs do fato que os materiais empregados refletem, absorvem e emitem radiao eletromagntica de maneira que depende de sua composio molecular. Este mtodo de diagnstico usado principalmente para observar a superfcie de uma pintura, revelar a presena de camadas antigas de vernizes e mostrar que onde h uma falta de fluorescncia podem existir reas retocadas ou recm-pintadas. No entanto, com mais esforo, a fluorescncia induzida por UV visvel, por sua prpria natureza, poderia nos dizer mais sobre a real composio qumica e conservao dos materiais da pintura. A radiografia - uma tcnica que aplicada ao estudo de objetos de arte e arqueolgicos devido facilidade de revelar detalhes escondidos na camada interna, da composio e estrutura interna das esculturas e/ou objetos. Uma grande vantagem desta tcnica analisar o interior dos objetos sem destru-los, como por exemplo, cermicas, madeiras, metais, pinturas, etc. O processo de anlise atravs de imagem de radiografia permite tambm responder questes relacionadas ao processo de manufatura de determinado objeto, bem como o estado de conservao do objeto, como nas peas de cermica do MAE analisadas para visualizar seus processos de manufatura [6,11]. As imagens com radiografias digitalizadas so feitas em colaborao com o Laboratrio de Dosimetria do Departamento de Fsica Nuclear do Instituto de Fsica da USP. O sistema consiste de um tubo de raios X Philips MG 450 com intervalo de tenso (varivel) de 20 a 420 kV e corrente

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(varivel) de 0 a 15 mA. O sistema de raio X tambm possui acoplado um sistema de processamento de imagens de alta qualidade.

Resultados e Discusso Um exemplo de anlises feitas no LAMFI, com o arranjo de feixe externo (figura 2), a anlise PIXE de 36 vasos cermicos arqueolgicos da Cultura Chimu pertencentes ao acervo do Museu de Arqueologia e Etnologia da USP MAE/USP [6]. As anlises permitiram identificar os elementos qumicos presentes na pasta cermica e superfcie das amostras. Atravs da anlise estatstica multivariada e de componentes principais, foi possvel separar as peas em dois grandes grupos: A e B, que possuem diferentes correlaes entre os elementos qumicos identificados. Dentro do grupo B houve ainda uma separao entre 2 novos grupos denominados B1 e B2, sendo este ainda separado em B2a e B2b. A figura 3 mostra exemplos de agrupamento feitos nos diferentes grupos a partir da determinao dos elementos qumicos com o mtodo PIXE. As amostras foram reunidas em grupos que possuem quantidades semelhantes de um conjunto de elementos como Al, Ti, K e Si.

Figura 2. Imagens das medidas PIXE feitas com o arranjo de feixe externo para medidas de cermicas Chimu do MAE/USP [6]

A aplicao de anlises simultneas de PIXE e ionluminescncia (IL) em algumas pedras brasileiras como sodalitas (2 amostras) e jadeitas (5 amostras) foram realizadas utilizando um feixe de prtons 2,4 MeV com uma corrente mdia de 5nA e tempo de aquisio de 5 minutos e um espectrmetro USB4000 (200-850 nm) [12]. As amostras de sodalitas e os resultados das anlises realizadas podem ser vistas na figura 4 e 5. A amostra S1 possui colorao azul com incrustaes brancas enquanto a amostra S2 possui cor azul escura e preta sem incrustaes. No espectro PIXE (figura 4a) foram identificados os elementos Al, Si, Cl, K, Ca, Mn e Fe, o pico de Ar esta relacionado ao argnio do ar.

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Grupo A

Grupo B1

Grupo B2a

Grupo B2b

Figura 3. Separao nos diferentes grupos de cermicas Chimu do MAE/USP em funo da concentrao dos elementos qumicos Al,Ti, K e Si presentes, determinados por PIXE.

Figura 4. A) e B) Fotografias das amostras de pedras sodalitas estudadas com a tcnica PIXE. C) Espectros PIXE das duas amostras estudadas (S1 e S2).

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O histograma da figura 5a mostra a relao das reas relativas obtidas nos espectros PIXE em funo dos elementos detectados nas duas amostras. Todos os elementos apresentam pouca variao nas amostras, somente o clcio apresentou significativa diferena na amostra S1, provavelmente devido s incrustaes brancas existentes. O espectro IL (figura 5b) mostra picos luminescentes na regio de UV com os picos centrados em 358,07(14) nm e 355,89(24) nm para S1 e S2 respectivamente, apesar da similaridade do comprimento de onda possuem diferena significativa de intensidade de luz emitida.

Figura 5. A) Histograma com as reas relativas medidas com PIXE em funo dos elementos determinados para as amostras de sodalitas S1 e S2. B) Espectro de intensidade luminosa obtido pela tcnica de ionluminescncia para as amostras S1 e S2.

Figura 6. "So Lucas So Lucas Escrevendo o Evangelho, autor desconhecido, leo sobre tela. Acervo da Pinacoteca do Estado de So Paulo, SP. (a) Fotografia antes do restauro, (b) radiografia, (c) fotografia do detalhe do rosto e (d) radiografia do detalhe do rosto. Fotos: E. M. Kajiya.

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As anlises com imageamento (fotografia com luz visvel, UV e radiografia) tm auxiliado a observar o estado de conservao da obra e as alteraes que esta sofreu durante os anos fornecendo novas ferramentas para o processo de restaurao como exemplificado nas figuras 6 e 7. Na figura 6, pode-se observar na radiografia melhores detalhes da veste do padre com o livro, pois existem dobras que no esto mais observadas na fotografia inicial. Outro detalhe que se pode notar o rosto do jovem padre da parte inferior do quadro que na fotografia est alterada em comparao com a radiografia (fotos do detalhe do rosto). As imagens com fluorescncia UV destacam as reas que foram restauradas ou sofreram alteraes recentes, como pode ser observado na figura 7.

Figura 7. "So Lucas So Lucas Escrevendo o Evangelho, autor desconhecido, leo sobre tela. Acervo da Pinacoteca do Estado de So Paulo, SP. (a) Fotografia de fluorescncia UV depois do restauro, (b) fotografia com luz visvel depois do restauro. Fotos: E. M. Kajiya

As anlises com infravermelho esto se mostrando uma ferramenta poderosa para analisar pinturas de cavalete, pois possibilitam detectar desenhos subjacentes realizados pelo artista e no visveis a olho nu, um exemplo mostrado na figura 8 abaixo [13].

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Figura 8. "A adivinha, 1924, leo sobre Madeira, 45,7 x 45,8 cm, Autor: Achille Funi. Acervo do Museu de Arte Contempornea da Universidade de So Paulo, So Paulo. (a) fotografia com luz visvel, (b) fotografia com reflectografia de Infravermelho. Fotos: E. M. Kajiya

Concluses As anlises com metodologias no destrutivas atmico-nucleares e imageamento tm possibilitado estudar e analisar diferentes materiais existentes nas obras de arte e objetos de valor histrico-cultural. As anlises no objetivam substituir os especialistas, como conservadores e restauradores, alm dos pesquisadores de arte, mas sim trabalhar em parceria e oferecer ferramentas para que possam auxiliar nos processos de restaurao e conservao, interrompendo processos de degradao que possam estar ocorrendo, ou iro ocorrer, em uma obra ou objeto de arte. Auxiliam tambm a compreender os mtodos e materiais utilizados na produo de uma obra de arte, para melhor apreender como armazen-la, de tal maneira que o meio externo exera pouca ou nenhuma influncia sobre a obra. As informaes geradas permitem situar o objeto dentro do contexto de sua prpria poca, e compreend-lo hoje como o vemos. Podemos tambm confrontar essas informaes com o que j conhecido sobre as obras, com base em evidncias na histria da arte. Este trabalho envolve a colaborao entre os especialistas de arte e cientistas de um modo interdisciplinar fornecendo informaes importantes sobre os artistas e as obras, dos diferentes acervos dos museus.

Agradecimentos Gostaria de agradecer ao grupo de fsica aplicada com aceleradores, Dr. M.H. Tabacniks, Dr. N. Added e aos alunos J.F. Curado, P.H.O.V. Campos, A. Caccione, pelos diferentes trabalhos realizados em conjunto; equipe tcnica do LAMFI pelo auxlio no uso do acelerador; conservadora e restauradora Elizabeth A. M. Kajiya pela valiosa colaborao nos trabalhos; equipe de conservao e restauro da Pinacoteca do Estado de So Paulo em nome de Valria Mendona e Dra. A. Magalhes do Museu de Arte Contempornea da USP pela possibilidade de anlise das obras dos acervos destas instituies; Dra. Silvia

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Cunha Lima pela parceria nos trabalhos com o acervo do Museu de Arqueologia e Etnologia da USP; Dra. Martha Aldred e Dra. Elisabeth Yoshimura pelo manuseio e autorizao de uso do sistema de radiografia do Laboratrio de Dosimetria da USP. FAPESP e CNPq pelo apoio financeiro nos projetos envolvidos.

Referncias Bibliogrficas [1] LAMFI Laboratrio de Anlise de Materiais por Feixes Inicos http://www.if.usp.br/lamfi/ - acesso em novembro de 2011 [2] RIZZUTTO, M. A. Ensino e aplicaes de tcnicas atmico-nucleares no-destrutivas para anlise de obras de arte, arqueolgicas e de bens culturais, Programa PrEquipamentos Institucional/CAPES, projeto cientfico 2010. [3] RIZZUTTO, M. A., TABACNIKS, M. H., ADDED, N., et al. "The External Beam Facility used to characterize Corrosion Products in Metallic Statuettes, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, v.240, pp. 549-553, 2005. [4] RIZZUTTO, M. A., TABACNIKS, M. H., ADDED, N., et al. PIXE Externo para Analises de Objetos de Arte e Arqueologia, Revista Brasileira de Arqueometria, Restaurao e Conservao, v.1, pp. 309-312, 2007. [5] KAJIYA, E., RIZZUTTO, M. A., PAGLIARO et. al. Images Analysis Coupled with PIXE Technique for Picture Characterization. In: XVIII International Materials Research Congress (IMRC2009) and 2nd Latin-American Symposium on Physical and Chemical Methods in Archaeology, Art and Cultural Heritage Conservation & Archaeological and Arts Issues in Materials Science, Mexico 2009. [6] LIMA, S. C.; RIZZUTTO, M. H.; ADDED, N.; et al. Pre -Hispanic ceramics analyzed using PIXE and radiographic techniques, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, v.269, pp. 3025-303, 2011. [7] PIVETTA, M. Pinturas Escondidas, Revista FAPESP, n. 188, pp. 78-81, 2011. [8] LAHANIER, Ch., PREUSSER, F.D., VAN ZELST, L. Study and conservation of museum objects: use of classical analytical techniques, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, v.14, pp. 1-9, 1986. [9] BALAS, C., PAPADAKIS, V., PAPADAKIS, N.S., et al. A novel hyper-spectral imaging apparatus for the non-destructive analysis of objects of artistic and historic value, Journal of Cultural Heritage v.4, pp. 330s-337s, 2003. [10] CABRAL, J. M. P., Exame Cientfico de Pinturas de Cavalete, Fundao Calouste Gulbenkian Publisher, Conferncia: http://www.hdl.handle.net/123456789/214, acesso janeiro de 2011. [11] CURADO, J. F., Estudo e Caracterizao Fsica de Cermicas Indgenas Brasileiras. Tese de Doutorado, Instituto de Fsica, Universidade de So Paulo, So Paulo, SP, Brasil, 2012. [12] CURADO, J. F.,Ionluminiscence Applied at Studies in Gemstone: Studies of cases. In: VIII Latin American Symposium on Nuclear Physics and Applications. Santiago, Chile, dezembro de 2009. [13] MAGALHES, A. G., Achille Funi nella collezione del MAC-USP, Revista L'Uomo Nero (UNIMI - Milo)

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