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ESTRUCTURA
Difraccin de rayos X Determinacin de estructura cristalina Espectroscopia FT-IR Espectroscopa Raman
Determinacin de fases y/o compuestos
, , Al2O3, Fe3C
Cualitativa Cuantitativa
Rayos X
Son una forma de radiacin electromagntica de elevada energa y pequea longitud de onda; del orden de los espacios interatmicos de los slidos.
Cu o Mo
Generador de alta tensin (50.000 V)
Ocurre difraccin cuando una onda encuentra una serie de obstculos, separados regularmente, que son capaces de dispersar la onda.
Continan en fase, se refuerzan, se suman sus amplitudes. Fenmeno de difraccin Un electrn de alta energa puede producir la salida de un electrn cercano al ncleo. La vacante as producida se rellena por el salto de otro electrn de una capa superior, con mayor energa. Esa diferencia de energa entre niveles (caracterstica del tomo) se transforma en radiacin X caracterstica, con una longitud de onda (energa) determinada.
05/06/2012
Difractmetro de rayos x
Detector
Difractograma
Fuente de rayos X
2
Planos de tomos paralelos ndices de Miller (hkl)
dhkl Muestra
Las muestras pueden ser: Polvo fino policristalino. Material policristalino compacto (soportado lminas delgadas). Material policristalino con forma irregular.
=2dhklsen
Ley de Bragg
: ngulo de Bragg o ngulo de difraccin. Mitad entre el ngulo del haz difractado y la direccin original del haz d: Distancia interplanar, funcin directa de los ndices de Miller del plano
No existen dos sustancias cristalinas que tengan un diagrama de difraccin idntico. Se dice que el diagrama de difraccin es como una huella dactilar de las sustancias cristalinas
*D
()
3000
2000
1000
0 20 30 40 50 Position [ 2Theta] 60 70 80
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d()
Bibliografa
Skoog, D. Anlisis instrumental, instrumental 4taEd. 1994. McGraw-Hill/interamericana de Espaa, S.A http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-oin/caracterizacionde-materiales ASKELAND, Donald. Ciencia e ingeniera de los Materiales. Ed. Thompson. Cuarta edicin. 2004