UNIVERSIDADE DE SO PAULO

Instituto de Fsica
Laboratrio de Estrutura da Matria Fsica 5 FNC-313

Raios-X

Raios-X I

Emisso, Fluorescncia e Absoro I-Introduo: Nas experincias a serem realizadas, a emisso de raios-X produzida por tubos em alto vcuo, no qual um filamento aquecido libera eltrons que so acelerados por um campo eltrico associado a uma diferena de potencial (da ordem de dezenas de kV) aplicada entre o filamento e o anodo (fig. 1). Os eltrons acelerados pelo campo eltrico penetram no anodo, perdem velocidade e transferem energia aos tomos com os quais interagem, provocando, em particular, ejeo de eltrons (ionizao) das diversas camadas profundas (K, L, M) dos tomos. Como conseqncia disto observa-se a emisso de ftons de raios-X originados no volume irradiado do anodo, cujo espectro pode ser classificado em dois tipos: contnuo e caracterstico.

Fig. 1 Esquema de um tubo emissor de raios-X. Estas experincias devem ser realizadas em trs sesses. Na primeira sesso haver uma introduo terica e devem realizar-se as experincias (a), na segunda as (b) e na terceira as (c) do Captulo II. Os alunos devem trazer respondidas as questes do Apndice I na segunda sesso e as do Apndice II na terceira sesso. As respostas das questes do Apndice I e II devem fazer parte do relatrio, que dever ser entregue duas semanas aps terminada a experincia.

Espectro contnuo de emisso A perda de velocidade dos eltrons quando penetram no anodo faz eles emitirem ftons de raios-X com espectro contnuo de energia (ou comprimento de onda). A parte contnua do espectro de emisso chamada bremsstrahlung. Nos diversos processos possveis de gerao de ftons, como conseqncia da variao da velocidade do eltron, tem-se o caso extremo no qual um eltron perde o total de sua energia, num nico processo, e cria-se um s fton. Em processos mais complexos a energia dos ftons produzidos sempre menor do eltron incidente no anodo. A energia Ef de um fton est relacionada com a sua freqncia e com o seu comprimento de onda associados, por

= h = h

onde h a constante de Plank e c a velocidade da luz no vcuo. A energia cintica Ec, que ganha um eltron quando acelerado por uma diferena de potencial V, dada por:

Ec = eV
Onde e a carga do eltron.

Fig.2 Intensidade de um espectro de emisso de raios-X em funo da energia (a) e do comprimento de onda (b) dos ftons. O valor mximo de energia de um fton Efmax = hmax correspondente ao espectro de emisso contnua (Fig. 2), est associado ao processo de criao de um fton com energia Ef igual a energia cintica Ec do eltron:

E f max = Ec eV = h mas = h

min

Estas equaes relacionam a voltagem de acelerao dos eltrons no tubo de raios-X com a energia mxima, e o comprimento de onda mnimo dos ftons correspondentes ao espectro contnuo de emisso. Em conseqncia, o espectro contnuo depende da voltagem V aplicada ao tubo de raios-X. Esta parte do espectro contnuo porque ftons com qualquer energia Ef < Ef Max (ou > min ) so tambm produzidos pelos eltrons desacelerados, nos numerosos possveis processos elementares que envolvem a transformao parcial da energia dos eltrons em energia eletromagntica. Espectro caracterstico de emisso Os tubos de raios-X emitem tambm ftons de energia bem definida, que constituem o espectro de linhas ou caracterstico, associado com as transies eletrnicas nos tomos ionizados pelas colises dos eltrons incidentes no anodo. As energias dos ftons correspondentes ao espectro caracterstico de raios-X, com picos estreitos, dependem exclusivamente da estrutura de nveis de energia eletrnicos profundos dos tomos ( ver Apndice I ).

Fig.3 Esquema dos nveis de energia dos eltrons nos tomos.

Na emisso dos tubos de raios-X convencionais, observa-se um espectro caracterstico composto por picos associados s transies entre as camadas eletrnicas L K e M K, sendo a camada K a mais profunda dos tomos (fig. 3 ). Estas transies originam linhas de emisso chamadas K e K, respectivamente. Estudos

espectroscpicos de alta resoluo mostram que essas emisses esto compostas por vrias linhas de comprimento de onda vizinhos. Estes picos complexos de emisso esto associados estrutura fina dos nveis de energia eletrnicos.

Difrao de raios-X A difrao de raios-X se produz quando h interferncia construtiva no processo de espalhamento dos ftons pelos tomos de uma estrutura cristalina. Esquematizando a estrutura peridica dos cristais por planos cristalogrficos, tem-se condies de difrao, ou reflexo de Bragg, quando: B = I = R e 2 d sen = n com n = 1, 2, ... (Lei de Bragg)

onde o comprimento de onda dos ftons, I e R os ngulos de incidncia e de espalhamento, respectivamente, e d a distncia interplanar dos planos cristalogrficos. Os nmeros n = 1, 2, ... definem a ordem da reflexo ( 1 ordem, 2 ordem, etc.).

Fig. 4 Esquema mostrando os raios incidentes e refletidos por planos cristalinos de espaamento d.

A lei de Bragg implica, quando ela satisfeita, que a diferena de caminho tico entre os feixes espalhados pelos diversos planos cristalogrficos igual ao comprimento de onda ( A-B-C na figura 4 ) ou a um mltiplo dele (por exemplo AB-C). Nas direes tais que essa relao no se verifica (2 d sen n ), a interferncia entre as ondas espalhadas destrutura e no se observa intensidade de espalhamento significante. Um cristal, orientado de tal maneira a satisfazer I = R, pode ser usado como um analisador de um espectro de emisso de raios-X. Supondo como dominante a reflexo de primeira ordem, a lei de Bragg se escreve 2 d sen = . Isto implica que numa varredura do ngulo o cristal atua como um filtro que reflete apenas a radiao com comprimento de onda num entorno do valor de que satisfaz a lei de Bragg especificada acima. No laboratrio utiliza-se um conjunto tubo-gonimetro-detector. O gonimetro dispe de duas rotaes, - 2, que fazem o cristal manter o mesmo ngulo i) com a direo do feixe incidente e ii) com a direo do feixe refletido e medido pelo detector (ver desenho na Seo IIb). Absoro de raios-X Os ftons de raios-X so absorvidos pela matria. No domnio de energia correspondente aos raios-X (5 a 30 keV nestas experincias), o principal processo de absoro dos tomos com Z na faixa de 23 a 30, utilizados neste trabalho prtico, o efeito fotoeltrico, pelo qual os ftons ionizam tomos transferindo a sua energia aos eltrons das diversas camadas de nveis atmicos. Para cada camada atmica (K, L, M) existe um limiar de energia do fton incidente para que o efeito fotoeltrico seja possvel. Essa energia igual energia de ligao ou de ionizao correspondente respectiva camada de eltrons. A probabilidade de um fton ser absorvido e, conseqentemente, o coeficiente mssico de absoro dos ftons funo decrescente da energia dos ftons Ef e depende tambm do tipo de tomo que compe o material. Esse coeficiente pode ser medido utilizando a relao:

IT = Io e-(E) x

(Lei de Lambert-Beer)

onde a densidade do material, Io a intensidade de ftons incidentes e IT a intensidade transmitida por uma lmina de espessura x (Fig. 5a). O coeficiente mssico de absoro especificado em tabelas usualmente em cm2/g. A absortncia A de um I certo material definida como: A = o . A absortncia A (E, , x) depende da natureza IT dos tomos presentes e funo da energia do fton incidente e da espessura e densidade da lmina absorvedora.

Fig. 5 (a) Intensidade transmitida atravs de uma lmina de espessura x. (b) Funo absortncia para tomos com diferentes nmeros atmicos em funo da energia dos ftons incidentes. Em geral o coeficiente de absoro e a absortncia diminuem para energias dos ftons crescentes. Existem porm, nos espectros de absoro, certas descontinuidades ou bordas associadas a um abrupto acrscimo na absoro para energias dos ftons crescentes (Fig. 5b). Estas descontinuidades se produzem quando a energia dos ftons tem um valor suficiente para conseguir ionizar camadas adicionais dos tomos absorvedores. Em conseqncia, as chamadas bordas K, L, M, etc. dos espectros de absoro correspondem s energias de ionizao das respectivas camadas eletrnicas. Ftons com energia menor que a energia de ionizao das diversas camadas podem eventualmente excitar tomos promovendo transies eletrnicas a nveis de energia superiores desocupados. Estas transies do origem a picos de absoro em energias inferiores s das descontinuidades pode-se observar tambm, no caso de tomos em matria condensada, a presena de oscilaes associadas estrutura geomtrica dos tomos. Estes efeitos no sero considerados na anlise dos resultados experimentais do trabalho prtico. Fluorescncia de raios-X Aps a ionizao por efeito fotoeltrico, os tomos tendem a voltar a seu estado fundamental, de mnima energia, mediante vrios processos. Aquele pelo qual a vacncia eletrnica simplesmente eliminada pela sua ocupao por um eltron de uma camada superior, com a conseqente emisso de um fton, denomina-se fluorescncia. A emisso de ftons de raios-X por fluorescncia , como conseqncia da ionizao dos tomos pelos ftons incidentes, corresponde s mesmas linhas de emisso provocadas pelos eltrons incidindo no anodo do tubo de raios-X. As energias dos ftons de

fluorescncia emitidos dependem exclusivamente da estrutura de energia eletrnica de cada tomo. Caracterizao do detector de ftons Geiger e da estabilidade da fonte de Raios-X Para a realizao das experincias de emisso, difrao, absoro e fluorescncia de raios-X ser utilizado um detector Geiger. Para o seu uso se deve conhecer o plateau, para fixar a voltagem de trabalho, e determinar o seu tempo morto. Um esquema de um grfico tpico de Taxa de Contagem de Ftons versus Voltagem apresentado na Figura 6a. Sabendo que a intensidade de emisso de um tubo de raio-X proporcional corrente eletrnica, o tempo morto do detector pode ser determinado a partir de um grfico de Taxa de Contagem de Ftons (R) versus Corrente(I) do tubo de raios-X, mantendo todos os outros parmetros constantes. Se o tempo morto do detector for nulo, a taxa de contagem R deveria ser proporcional corrente I:

R=KI
Em caso de ser 0 mede-se uma taxa aparente, R*, relacionada com R por

R=

R* 1 R *

Na Figura 6b esto esquematizadas funes tpicas R(I) e R*(I).

Fig. 6 (a) Plateau do detector Geiger. (b) Taxas de contagem real e aparente em funo da corrente eletrnica no tubo de raios-X. (c) Histograma de freqncia do nmero de contagens. A estabilidade de uma fonte pode ser estimada a partir de um estudo experimental do nmero de ftons N que se mede para um tempo fixo quando todos os parmetros de controle so mantidos constantes. Deve-se medir N um nmero M elevado de vezes e fazer um histograma da funo F que representa o nmero de vezes em que o nmero

de ftons contados corresponde aos diversos intervalos N do histograma (Fig. 6c). Do histograma experimental de F obten-se a funo Pe como

Pe ( N ) =

F (N ) Fi ( N ) N

no caso de ser N << N , no limite de M a funo Pe(N) tende funo de distribuio terica P(N). Esta funo representa uma densidade de probabilidade. P(N)N a probabilidade de medir um certo nmero de ftons compreendido entre N e N+N. Segundo a teoria estatstica P(N), quando N >> 0, deve satisfazer:

1 P( N ) = 2

( N N )2 2 2

onde =

O valor de representa o desvio padro associado a uma contagem N de ftons. Um valor experimentalde sensivelmente maior que N indica a presena de inestabilidades eltricas ou mecnicas da montagem experimental afetando as medies.
Condies de trabalho do tubo de raios-X

Somente uma pequena parte de potncia eletrnica P do tubo de raios-X (P=VI, onde V a voltagem e I a corrente eletrnica do tubo de raios-X) transformada em radiao (inferior a 1%). O resto se transforma em calor que aquece o anodo. A corrente eletrnica I no tubo de raios-X utilizado deve ser pequena para que o aquecimento do anodo no seja excessivo. Em geradores de raios-X de uso mdico e cientfico, que precisam de altas correntes (dezenas ou centenas de mA), necessrio esfriar, mediante circulao de gua, o anodo para conseguir evacuar o calor produzido. O gerador utilizado na presente experincia no tem sistema de resfriamento, por isso a corrente eletrnica deve ser limitada at um mximo de 80A
II Experincias

Para a realizao das experincias utilizado um aparelho gerador de raios-X com acessrios Tel-X-ometer. O anodo do tubo de Cu. Duas voltagens podem ser escolhidas para a acelerao dos eltrons no tubo de raios-X: 20 ou 30 kV. Antes de ser ligado o aparelho deve-se conectar um microampermetro para medir a corrente eletrnica e cuidar para que no ultrapasse o valor mximo de 80A. O Tel-X-ometer dispe de um gonimetro no centro do qual se colocam os cristais. No brao do mesmo se posiciona o detector Geiger para medir a intensidade do feixe emitido, espalhado ou transmitido pelo material estudado. A rotao do cristal e a rotao 2 do detector

esto acopladas para assegurar, para todo ngulo, que o ngulo de incidncia e de reflexo so iguais (I = R). Esta igualdade representa uma condio necessria para a verificao da lei de Bragg ( = 2 d sen ).
a) Caracterizao do detector de ftons

Para determinar a voltagem de trabalho do detector deve-se fazer incidir nele um feixe de raios-X e registrar o nmero de ftons em funo da voltagem de alimentao. Escolhida e fixada a voltagem, deve-se medir a taxa de contagem para fluxos de ftons crescentes para analisar o efeito do tempo morto do detector. Medies repetidas em condies equivalentes permitiro estudar a estatstica de contagem.

i) Determinao da voltagem de trabalho e do tempo morto do detector Elementos necessrios: Fenda de definio de 1mm, cristal de LiF, Fenda de resoluo de 3mm, detector. Ligar o aparelho (30kV). Variando a posio angular do detector e utilizando o Ratemeter, buscar um dos mximos na intensidade de raios-X espalhada pelo cristal. Utilizar a fenda de resoluo de 3mm de tal maneira de obter uma taxa de contagem de aproximadamente 300 c/s. Variar a corrente eletrnica do tubo de raios-X se necessrio ( sem ultrapassar 80A ). Medir durante 10s utilizando o Counter a taxa de ftons recebida pelo detector para voltagens crescentes a partir de V=300V at um mximo de 500V, com intervalos de 10V. Fazer grfico da taxa R versus V. Escolher como voltagem de trabalho um valor de V que corresponda ao plateau (aproximadamente 40V acima do limiar inferior). Fixar inicialmente a corrente eletrnica no tubo em 80A e, variando o ngulo do gonimetro, obter uma taxa entre 500 e 1000 c/s. Medir as taxas de ftons variando a corrente eletrnica no tubo de raios-X mantendo o resto do aparelho em condies constantes (variar a corrente entre 0 e 80A). Graficar a taxa de contagem aparente R* (c/s) versus a corrente I (A). Considerando que, para baixas taxas de contagens de ftons (I 0), a taxa real de ftons R igual a taxa aparente R*, e que as duas taxas so R = R* = KI (K = constante, para taxas baixas), graficar a taxa R versus I, extrapolando a parte do grfico correspondente a valores de I 0. A partir da expresso de R em funo de R*, citada na introduo terica, deduzir o valor do tempo morto .

ii) Estatstica de contagens de ftons Verificar-se- a validade da teoria que conduz determinao do erro estatstico
= N , utilizado nas experincias dos itens precedentes.

Ajustar a corrente eletrnica para obter uma taxa de contagem de aproximadamente 100 c/s. Realizar como mnimo 100 medidas do numero de ftons em 10s, em condies experimentais equivalentes. Fazer histograma da freqncia das diversas contagens. Utilizar para o histograma um passo N
N . 3

Determinar e graficar a funo normalizada Pe (Ver Introduo). Calcular o valor mdio do nmero de ftons N e representar no mesmo grfico a curva da densidade de probabilidade P esperada utilizando = N (Ver Introduo). Comparar o histograma experimental com a curva terica e discutir as eventuais discrepncias.

b) Determinao do espectro de emisso de raio-X do Cu

determinado o espectro de emisso (incluindo as partes contnuas e caractersticas) do Cu, utilizando um cistal nico de LiF, do qual se supe conhecida a distncia interplanar d = 2.015. O cristal de LiF atua como monocromador ou analisador, selecionando para cada ngulo um comprimento de onda ou energia do fton. O comprimento de onda do feixe espalhado pelo cristal de LiF, para cada ngulo , aquele que satisfaz a lei de Bragg = 2 d sen . A energia do fton se deduz a hc partir da relao E f = .

Fig.7 Esquema da montagem experimental do analizador de raios-X.

Elementos necessrios: fenda de definio de 1mm vertical, cristal de LiF, gonimetro - 2, fenda de resoluo de 3mm vertical, detector Geiger, contador. Fazer uma varredura com o gonimetro - 2 e, utilizando detector Geiger (Fig. 7), determinar a intensidade de difrao por um cristal de LiF da radiao produzida por um tubo de Cu com I1 80A, V1 = 30kV, em funo do ngulo de difrao 2. Fazer a varredura a partir de 2min at 60 com passo de 0,50 nos picos de emisso e de 1 entre eles. Fazer outra curva como a indicada no item precedente com V2 = 20kV e I2 80A. Utilizando a lei de Bragg, supondo conhecido d =2,015 para o LiF, determinar a energia dos ftons Ef para cada ngulo . Graficar num mesmo diagrama as duas curvas If (ftons / segundo) versus E (kV) determinadas nos itens precedentes. Identificar os dois picos correspondentes s transies K e K e determinar a energia e o comprimento de onda dos ftons emitidos. Comparar com os valores de tabela (ver Apndice I). Comparar os espectros contnuo e caracterstico obtidos a 20kV e 30kV, com correntes eletrnicas de 80A, e comentar as suas caractersticas. Medir com maior detalhe a parte do espectro contnuo correspondente a baixos ngulos (ou altas energias dos ftons) para V = 20kV e I = 80A. A partir do valor experimental de 2min, e supondo conhecidos d, E e c, deduzir o valor da cosntante de Planck h.

c) Fluorescncia e absoro de raios-X

determinada a absortncia de ftons de raios-X por lminas (ou filtros) compostas por diversos elementos atmicos, para diferentes radiaes de fluorescncia geradas por vrias fontes monoatmicas. Utilizar-se- para isso a montagem experimental descrita na Fig. 8.

Fig. 8 Montagem experimental para a experincia de fluorescncia e absoro de raios-X.

Elementos necessrios: fenda de definio de 1mm carrossel contendo elementos com 23 < Z < 30 , controle externo e suporte, filtros de V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu e Zn, detector Geiger situado em posio angular fixa 2 90 graus. Colocar o carrossel contendo as lminas de V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu e Zn que produziro a fluorescncia, frente ao tubo de raios-X, no eixo do gonimetro (retirar previamente as peas que foram utilizadas nas experincias precedentes para fixar os cristais). Fixar o carrossel de tal maneira que os materiais fluorescentes estejam com as suas superfcies a 45 graus com respeito ao feixe incidente. O detector Geiger deve ser posicionado a 90 graus com respeito ao feixe incidente para receber os ftons produzidos pela fluorescncia dos materiais situados no carrossel. Irradiar os diversos materiais colocados no carrossel, com o feixe produzido pelo tubo de raios-X de Cu, para excitar os tomos do alvo e eles produzirem os ftons caractersticos de fluorescncia. Utilizar o dispositivo de controle externo para a mudana dos alvos. Medir com o detector Geiger, para cada elemento emissor situado no carrossel, a intensidade de fluorescncia Io emitida. Graficar a intensidade de fluorescncia Io produzidas pelos diferentes elementos emissores do carrossel ( sem absorvedor ou filtro ). Medir com o detector Geiger, para cada elemento emissor, a intensidade transmitida IT atravs de uma lmina de V. Determinar a absortncia Io / IT da lmina de V para os ftons de fluorescncia dos diversos elementos atmicos do carrossel (23 < Z < 30). Realizar os mesmos procedimentos dos dois itens precedentes utilizando filtros de Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu e Zn. Graficar as funes absortncia, A = Io / IT , dos diversos filtros versus o nmero atmico Z dos elementos fluorescentes. Supondo que a fluorescncia composta essencialmente pelas emisses K dos diversos elementos, graficar, utilizando os valores de EK da tabela (Apndice I), a funo A versus Ef, para todos os filtros estudados. Analisar os grficos dos itens precedentes e verificar que as descontinuidades da funo A se encontram nas posies esperadas (consultar tabela do Apndice).

Apndice I

Distncias interplanares de cristais de estrutura cbica: LiF NaCl d = 2,015 d = 2,820

Comprimentos de onda associados s linhas de emisso K e K de vrios elementos e comprimento de onda associado descontinuidade K (K). Este valor

est associado energia de ligao ou de ionizao correspondente aos eltrons da c camada K: Ek = h .

Elemento Smbolo V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Z 23 24 25 26 27 28 29 30 2,55 2,29 2,10 1,94 1,79 1,66 1,54 1,44

Emisso
K () K ()

Borda de absoro
K ()

2,28 2,08 1,91 1,76 1,62 1,49 1,39 1,29

2,27 2,07 1,89 1,74 1,61 1,48 1,38 1,28

- Valores da energia dos ftons (espectro caracterstico) emitidos pelos tomos com 23 < Z < 30 e esquema de nveis de energia eletrnica.

a) Completar o seguinte quadro:

Elemento V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn

Z 23 24 25 26 27 28 29 30

EK (keV)

EK (keV)

EK (keV)

b) Completar (em escala) os esquemas de nveis de energia eletrnica correspondentes s camadas profundas (K, L, M), sem considerar a estrutura fina das mesmas.

Apndice II

Questes 1) Qual a voltagem mxima que pode ser aplicada a um tubo de raios-X de Cu para ele produzir um espectro contnuo sem as linhas caractersticas K e K? 2) Discutir o fato de que, na determinao do espectro de emisso de um tubo de raios-X utilizando por exemplo um cristal de LiF e um detector Geiger, a parte do espectro experimental correspondente a energias Emax/2 < E <Emax no contm erros associados existncia de contribuies harmnicas. 3) A partir dos dados da Tabela, demonstrar graficamente a lei de Mosley ( Ef = C ( Z s ) , C e s constantes) para emisses K e K. Determinar C e s.

4) Quais so as diferenas esperadas num espectro de emisso I versus (parte contnua e caracterstica) correspondente a dois elementos A e B, tais que ZA > ZB para V = 20kV? 5) Determinar a energia mxima dos ftons e o ngulo mnimo de difrao associados ao espectro contnuo para = 1,54 , quando se usa V1 = 20kV e V2 = 30kV, utilizando cristais de LiF e NaCl. 6) Explicar (experincia c) porque no se devem observar as descontinuidades de absoro do Cu e do Zn em experincias de absoro de raios-X nas quais se utiliza radiaes incidentes K de elementos com 23 Z 30. 7) Excitando a fluorescncia atmica de elementos com 23 Z 30 com um tubo de raios-X com anodo de Cu, observa-se valores menores de intensidade emitida para emisses com Z 28. Justificar esta observao. 8) Partindo do conhecimento independente da estrutura cbica do NaCl e sabendo que a) a intensidade do cristal = 2,16 g/cm3, e b) a reflexo de Bragg com n = 1, utilizando um feixe de raios-X de desconhecido observada para 2 = 40,24, determinar o comprimento de onda do feixe de raios-X utilizado.

Bibliografia

Os espectros de emisso estudados nestas experincias foram analisados associandoos a transies entre estados de simples ionizao (linhas de emisso de primeira ordem). Utilizando espectrmetros mais sensveis outras linhas de emisso mais fracas podem ser detectadas. Elas esto associadas a transies entre estados de ionizao mltipla. Mais detalhes sobre Espectroscopia de Raios-X e, em particular, sobre as caractersticas dos espectros de emisso (contnuo e caracterstico) de raios-X podem ser encontrados nos livros seguintes: Introduction to Modern Physics F. K. Richtmyer, E. H. Kennard, T. Lauritsen. Introduction to Atomic Physics O. Oldemberb Principles of Modern Physics R. Leighton

Raios-X Tpicos da entrevista (Alm das questes da apostila)

1) Tubos de Raios-X: Descrio, princpio de funcionamento. 2) Analisador de Raios-X: Funo e descrio do cristal monocromador-analisador. Lei de Bragg (deduo). Gonimetro - 2 (necessidade do seu uso, descrio, fendas de definio e resoluo). 3) Detector de Raios-X (Geiger): Descrio. Princpio de funcionamento. Plateau. tempo morto (definio, determinao, correo de taxas de contagem de ftons por tempo morto). Estatstica de contagem de ftons (Determinao de histograma de freqncias). 4) Espectro de Emisso de Raios-X: Caractersticas (espectro de linhas ou caracterstico e espectro contnuo). Origens do espectro de linhas. Conexo entre o espectro de linhas e a estrutura de nveis de energia eletrnicos. Origem do espectro contnuo. Determinao da constante de Planck a partir de (2)min do espectro contnuo. Esquemas qualitativos de espectros de emisso I versus f e versus Ef para diversos elementos atmicos e diversas voltagens do tubo de Raios-X. 5) Fluorescncia e Absoro de Raios-X: Origem e caractersticas de um espectro de emisso de fluorescncia de Raios-X. Descrio qualitativa da funo Absortncia versus Energia dos ftons incidentes (estes ftons gerados pela fluorescncia de vrios elementos: 23 Z 30), para vrios elementos atmicos (V, Mn, etc.), supondo o espectro de emisso de fluorescncia de Raios-X como monocromtico (I( K) >> I( K)). 6) Relao entre a Emisso e a Absoro de Raios-X com as Estruturas de Nveis de Energias Eletrnicas: Determinao das energias associadas s transies K e K e borda de absoro K, e os comprimentos de onda K, K e K, a partir do conhecimento das estruturas de nveis de energia eletrnicos dos tomos. Determinao das energias associadas s camadas eletrnicas K, L e M a partir das medies dos valores das energias dos ftons emitidos (EK e EK) e da energia da borda K (EK) (ou K, K e K).