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ENSAYOS DE FIABILIDAD

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TEMA 6:

ENSAYOS DE FIABILIDAD.




6.1. INTRODUCCIN.

A lo largo de las etapas de definicin, diseo, fabricacin de prototipos,
produccin y uso de un componente, equipo o sistema, se ha realizado siempre
gran cantidad de ensayos conocidos tradicionalmente como ensayos de
factibilidad. Bsicamente son ensayos de actuaciones, simples pruebas
funcionales o ensayos ambientales que sirven para determinar si un dispositivo
funciona correctamente y es capaz de soportar determinados esfuerzos internos y
ambientales. En general, tales ensayos no bastan para establecer conclusiones
cuantitativas o cualitativas sobre la fiabilidad del dispositivo. Por ello, a los
ensayos tradicionales se han aadido los ensayos de fiabilidad, encaminados
especficamente a la obtencin de datos cuantitativos y cualitativos de fiabilidad.

6.2 CLASES DE ENSAYOS DE FIABILIDAD.

Los ensayos de fiabilidad pueden clasificarse en:
1. Ensayos de medicin y demostracin de la fiabilidad.
2. Ensayos de medicin de la variacin de los parmetros.
3. Ensayos de investigacin de los modos y mecanismos de fallo.
4. Ensayos de cribado de componentes.

6.2.1 ENSAYOS DE MEDICIN Y DEMOSTRACIN DE LA
FIABILIDAD

Por la medicin de la fiabilidad se entiende la estimacin estadstica de la misma
o de los parmetros que la determinan. Cuando existe un requisito previo de
fiabilidad, una contrastacin estadstica puede demostrar, con determinado nivel
de confianza, que el dispositivo lo cumple.
Los dispositivos a ensayar para medir o demostrar su fiabilidad pueden ser del
tipo que slo ha de usarse una vez (dispositivos one-shot). Dentro de este tipo
hay dispositivos que pueden ensayarse antes de su utilizacin, como el sistema
de desplegado de los mstiles de un satlite, el sistema de guiado de misiles, etc,
y dispositivos cuya utilizacin implica su destruccin (fusibles, elementos
pirotcnicos, etc.), de forma que no pueden someterse a un ensayo previo a su
utilizacin. En este caso es necesario un muestreo por atributos (xito-fracaso), o
por variables (medidas). Las piezas cuya fiabilidad puede estudiarse mediante un
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modelo esfuerzo-resistencia pueden ensayarse a rotura para determinar la
distribucin de su resistencia utilizando un plan de muestreo por variables, que
exige un tamao muestral menor. Otras veces se ensayan hasta un nivel de
esfuerzo de prueba mediante un plan por atributos.
Los dispositivos cuya fiabilidad depende del tiempo se someten a ensayos de
duracin de vida. Cuando se conoce la forma de la distribucin del tiempo hasta
el fallo, los ensayos de duracin de vida tienen por objeto la determinacin de
los parmetros que definen tal distribucin.
En cualquier caso, los datos utilizados en los ensayos de medicin y
demostracin deben ser analizados cuidadosamente, a fin de asegurarse de que
son resultado de un muestreo aleatorio, es decir, si son una buena representacin
de la poblacin de dispositivos, o si son de esperar sesgos indeseables.


6.2.2. ENSAYOS DE VARIACIN DE PARMETROS.

Para la prediccin de la fiabilidad respecto de fallos por deriva de parmetros, es
preciso conocer cmo varan los parmetros de los componentes por efecto del
envejecimiento, que es funcin de los esfuerzos y del tiempo. Los ensayos de
variacin de parmetros de los componentes consisten en mediciones sucesivas
de los parmetros a lo largo de extensos periodos de funcionamiento. La
variacin que se observe entre los valores de los parmetros de las unidades de
una muestra se traducirn en distribuciones estadsticas.

6.2.3 ENSAYOS DE INVESTIGACIN DE MODOS Y MECANISMOS DE
FALLO.

Con estos ensayos se pretende conocer mejor las causas fsicas de fallo de los
componentes para mejorar su diseo. Es frecuente aprovechar para estos anlisis
los fallos ocurridos en ensayos realizados con otros fines, as como los fallos en
funcionamiento real. Cuando se aplican factores de aceleracin para obtener
mayor nmero de fallos en menor tiempo, es preciso tener en cuenta que la
elevacin del nivel de esfuerzos puede hacer aparecer averas que no se observan
en utilizacin normal, e incluso eliminar otras que se producen a niveles
normales de esfuerzos.

6.2.4 ENSAYOS DE CRIBADO.

La criba tiene por objeto eliminar las unidades con taras infantiles y aquellas que
presentan sntomas indicativos de vida corta. Se efectan sometiendo a toda la
poblacin a una serie de pruebas e inspecciones, con lo que se espera retener a
los individuos ms aptos para el servicio. La extensin del cribado puede
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reducirse a un solo ensayo o abarcar una serie de pruebas e inspecciones, cada
uno de cuyos pasos es eliminatorio.

El ensayo de cribado ms tpico es la purga, que consiste en someter al lote a un
funcionamiento de envejecimiento para inducir fallos infantiles. Los
componentes que no acusen inicialmente una tasa de fallo decreciente no deben
someterse a purga. La duracin de la purga para componentes electrnicos suele
ser de una semana (168 horas) o ms. En general, si la misin del dispositivo
debe durarh horas, el tiempo ptimo de purga debe ser tal que la fiabilidad de
misin sea mxima:
o
t
( )

=

+h t
t
o
dt t z Mx R Mx
0
) ( exp ,
lo que equivale a encontrar el valor de que hace mnimo el valor absoluto del
exponente:
0
t

+h t
t
dt t z Min
0
0
) (
Aparte de eliminar las unidades falladas en las pruebas, la criba desecha aquellas
que en las inspecciones y mediciones de parmetros revelan condiciones
inadecuadas o indicaciones de bajo potencial de tiempo de funcionamiento
correcto. Finalmente, sealar que la criba proporciona un conjunto de unidades
mucho ms estable y homogneo.

6.3 ENSAYOS DE DURACIN DE VIDA.

Como ya se ha dicho, los dispositivos cuya fiabilidad depende del tiempo se
someten a ensayos de vida para medir o demostrar su fiabilidad. Este tipo de
ensayos suele ser largo y costoso, pues exige mantener en funcionamiento, en
condiciones ambientales especficas, una muestra hasta que fallen todas o parte
de las unidades.
Si se puede aceptar razonablemente una hiptesis sobre la forma de la
distribucin de tiempos hasta el fallo, o entre fallos, para el dispositivo en
cuestin, la finalidad del ensayo sera estimar los parmetros dela distribucin.
En caso de no poder admitir una hiptesis de distribucin, los ensayos no
paramtricos resultan todava ms costosos. Por otra parte, los ensayos de
fiabilidad, que suelen ser los ms largos de todos, exigen condiciones
ambientales similares a las esperadas en utilizacin real.

6.3.1.HIPTESIS DE DISTRIBUCIN.

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Las distribuciones que suelen representar ms comnmente el tiempo hasta el
fallo o el tiempo entre fallos son: la exponencial, la normal, la de Weibull y la
gamma o de Erlang. La validez de los resultados obtenidos en los ensayos
basados en una hiptesis de distribucin, depende, claro est, de una buena
eleccin de dicha hiptesis. Tal eleccin puede apoyarse en experiencias
anteriores con el mismo tipo de dispositivo, o bien en mtodos analticos, como
los contrastes de bondad de ajuste, o tambin en procedimientos grficos, como
el papel probabilstico.

6.3.2. ESFUERZOS Y CONDICIONES AMBIENTALES.

Para conocer la fiabilidad de un dispositivo sometido a determinados esfuerzos y
condiciones ambientales es necesario ensayarlo con esos esfuerzos y en ese
ambiente precisamente. Por ello, parece necesario realizar el ensayo en campo
de utilizacin real. No obstante, suele ser ms prctico realizar los ensayos en
laboratorio, aplicando los esfuerzos internos especificados y simulando el
ambiente de aplicacin real. Cuando no sea posible tal simulacin, el ensayo
deber realizarse necesariamente en ambiente operativo, como ocurre en el caso
de los ensayos de fiabilidad de un avin completo.
Las especificaciones de demostracin de la fiabilidad deben contener detalles
completos sobre los esfuerzos y niveles ambientales a aplicar durante los
ensayos.

6.3.3. ENSAYOS ACELERADOS.

Se entiende por aceleracin de un ensayo de vida al aumento de la exposicin al
fallo por unidad de tiempo. Este aumento se puede conseguir elevando el nivel
de esfuerzos internos, la severidad ambiental o la frecuencia de aplicacin de
estas solicitaciones. Por ejemplo, en ingeniera aeronutica es familiar el proceso
de ensayo de fatiga de cabinas a presin mediante agua. Este mtodo permite
simular en un tiempo razonable la vida de servicio de un avin aplicando ciclos
de presurizacin y despresurizacin. Se consigue as envejecer el material de
forma acelerada.
En los ensayos acelerados es necesario mantener los esfuerzos y parmetros
ambientales dentro de ciertos lmites para no cambiar los mecanismos de fallo.
Se pretende que todo ocurra igual que en condiciones normales, pero en menos
tiempo, algo que realmente es difcil de conseguir.

6.4 PROGRAMAS DE ENSAYOS DE FIABILIDAD.

Los diversos ensayos de fiabilidad especificados para el desarrollo y produccin
de un dispositivo deben programarse cuidadosamente para acercarse lo ms
posible a la obtencin de un mximo de informacin con un mnimo de costo.
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Los ensayos de fiabilidad suelen realizarse desde las fases iniciales de desarrollo
de un producto. Para establecer un programa de ensayos de demostracin de
fiabilidad, que son los ms frecuentes, es necesario determinar por completo una
serie de aspectos:
1. Definicin del dispositivo a ensayar. Descripcin de su funcionamiento y
manejo. Definir lo que constituye un fallo.
2. Requisitos de fiabilidad. Valores especificados para la medida de fiabilidad
(porcentaje de xitos, vida media, tasa de fallos, etc.)
3. Condiciones ambientales de ensayo. Factores ambientales y sus niveles.
4. Procedimientos operativos. Instrucciones y especificaciones de manejo del
dispositivo y del equipo de ensayo. Mantenimiento preventivo a aplicar, si
corresponde, al dispositivo.
5. Mtodos estadsticos. Hiptesis de distribucin. Diseo estadstico del
experimento. Seleccin de un plan de muestreo ya existente o diseo de uno
especial.
6. Registro, anlisis y explotacin de datos. Clculos necesarios para la
estimacin de parmetros o contrastacin de hiptesis.
7. Anlisis de fallos. Determinacin de modos, mecanismos, causas de fallos.
Informes de fallos.
8. Informes de ensayo.
9. Costos de ensayo. Muestra, equipos, personal.