Tcnicas de Caracterizao

de Materiais
DEMEC TM175
Prof Adriano Scheid
Anlise Metalogrfica
Anlise Metalogrfica
Histrico
Henry Clifton Sorby 1863 observou pela primeira vez uma
microestrutura em microscpio.
Metalografia o ramo a cincia que estuda e interpreta a estrutura
interna dos metais e ligas metlicas, relacionando a mesma com a
composio qumica, propriedades fsicas e mecnicas.
A Metalografia largamente usada para a avaliao de:
1- Vazios (rechupes, microrechupes e poros)
2- Segregaes
3- Estruturas: Tamanho e forma dos gros
4- Incluses: Tipo, Tamanho, forma, distribuio
5- Fases e constituintes
6- Defeitos (trincas e fraturas)
7- Extenso de tratamentos superficiais e revestimentos
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Seleo dos Corpos de Prova
A seo a ser retirada para a metalografia deve ser representativa
da pea e funo dos dados e fenmenos a serem analisados. O
corte poder ser longitudinal, transversal ou oblquo.
Os principais mtodos usados para o corte, classificados quanto ao
grau de alterao da superfcie so:
- Maarico Mximo
- Cisalhamento
- Serragem
- Abraso a seco ou a mido
- Eletroeroso
- Qumico ou eletroltico Mnimo
Grau de
Alterao
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Montagem Metalogrfica
A montagem metalogrfica necessria para facilitar a preparao,
pois as amostras so, em geral, muito pequenas, facilmente
desagregveis, irregulares, porosas.
Razes adicionais para a montagem:
1- Padronizao dos Corpos de Prova,
2- Lixamento e polimento com aparelhos automticos
3- Evitar o arredondamento de cantos ou arestas
4- Evitar o rasgamento de lixas de panos de polimento
5- Evitar acidentes com o metalgrafo.
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Embutimento em Resinas
a tcnica mais usada para a montagem metalogrfica. Pode ser
dividida em:
A quente -> Resinas Termoplsticas -> Acrlicos
-> Resinas Termofixas -> Baquelite
A frio -> Resinas autopolimerizantes -> Epxi
-> Polister
-> Metil Metacrilato
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Marcao e Identificao
Na preparao de grande nmero de amostras em procedimentos
experimentais de mestrado e doutorado, importante a
identificao clara e no destrutvel das mesmas.
As maneiras mais usadas para a identificao so:
- Gravador vibratrio
- Gravador com fresa
- Lpis eltrico
- Puno
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Lixamento Metalogrfico
Lixamento o corte por gros abrasivos. O objetivo do lixamento
a remoo de todo o material deformado na etapa de corte obtendo-
se, ao final, uma superfcie plana e livre de deformaes.
Anlise Metalogrfica
Lixamento Metalogrfico
O lixamento deve ser realizado em papel abrasivo, com a rotao de
90 a cada avano para a prxima lixa.
A seqncia usual de lixas : #100, #220, #320, #400, #600, #1000.
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Polimento Metalogrfico
O polimento, assim como o lixamento, o corte por gros
abrasivos. A diferena que a granulometria dos abrasivos
utilizados menor e varia de 0,25 a 10m.
Abrasivos: So geralmente usados abrasivos de Alumina (Al
2
O
3
) ou
pasta de diamante.
Procedimento manual: O polimento realizado a partir da rotao
da amostra sobre discos cobertos com panos (feltro ou nylon) com
uma suspenso abrasiva.
O lubrificante mais usado para polimento com pasta de diamante
o lcool ou lcool + 1% de glicerina. J para polimento com alumina
usado gua.
OBS: Nunca deixe a amostra parada sobre o disco em movimento
rotativo, pois surgiro rabos de cometa na superfcie polida,
dificultando a anlise e piorando a qualidade da metalografia.
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Ataque Metalogrfico
Geralmente, uma superfcie metlica polida pode ser usada para
avaliao de incluses, trincas, poros e outros defeitos que possam
ser identificados e distinguidos sem ataque apropriado.
Microestruturas (fases presentes) normalmente precisam de um
ataque especfico para a sua observao adequada.
Ataque:
a dissoluo, colorao ou qualquer outro efeito que permita
distinguir as diversas fases ou constituintes do material em
estudo.
O mtodo mais comum o ataque qumico com reagentes
apropriados.
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Microscopia tica
Observao dos contornos de gro do material, a partir de ataque
especfico.
Anlise Metalogrfica
Anlise Metalogrfica
Padro ASTM para Tamanho de Gro
Anlise Metalogrfica
Macrografia
Microscopia
Microscopia Eletrnica de Varredura
Desde a sua inveno na dcada de 60, o microscpio eletrnico de
varredura (MEV) tem se tornado essencial aos analistas de
materiais e pesquisadores no desenvolvimento de novos materiais
e anlise de falhas. Permite a observao de estruturas
tridimensionais que so facilmente interpretadas.
Princpio de Operao:
Existem trs grandes sees:
1- Coluna eletro-ptica
2- Sistema de vcuo
3- Sistema de exibio e eletrnica
MEV
Coluna Eletro-ptica
1- Canho de eltrons
2- Disco andico
3- Lentes condensadoras
4- Bobina de varredura
5- Lentes objetivas
6- Amostra em anlise
7- Detector
Sistema de exibio e eletrnica
8- Amplificador de sinal
9- Gerao de forma de onda
10- Controle de magnificao
11- Espiras de varredura
12- CRT Controle de brilho
13- CRT Sistema de exposio / tela
14- Conexo do sistema de vcuo
MEV
Descrio Canho de eltrons
O sistema tico do instrumento a coluna eletro-ptica. No h luz
no MEV, tendo como fonte geradora da imagem uma emisso de
eltrons. O feixe de eltrons emitido produzido em um canho de
eltrons.
Principais partes do canho de eltrons:
1- Filamento de Tungstnio
2- Cilindro (sistema Wehnelt) Ctodo
3- Isolamento
4- Fonte
5- Envoltrio da Coluna
6- Vedao de vcuo
Sistema Wehnelt , na prtica, uma capa com um furo por onde
os eltrons emitidos pelo ctodo saem formando o feixe.
MEV
Canho de eltrons
Um filamento de Tungstnio aquecido at 2700C, gerando
eltrons excitados e aptos a escapar. Este fenmeno chamado
emisso termoinica.
Aplicando-se uma tenso entre 2 e 25KV entre o filamento e o disco
andico, os eltrons sero acelerados para fora do filamento. A
partir do vcuo existente na coluna, os eltrons podem percorrer
grandes distncias.
Sistema de vcuo
No interior da coluna do microscpio existe vcuo (mnimo 10
-4
Torr), a fim de permitir que o feixe de eltrons seja dispersado e
tambm que ocorra a oxidao do filamento emissor que opera em
elevada temperatura.
MEV
Esquema do MEV com sistema de vcuo
MEV
Coluna
a parte do equipamento que gera a imagem do corpo de prova.
Um feixe de eltrons gerado e focalizado pelo sistema de lente
eletromagntica sobre o corpo de prova.
O feixe com dimetro mnimo entre 40 a 50m varre ou explora o
corpo de prova e os sinais produzidos pela amostra so detectados
e amplificados, gerando imagem em tela.
Lente Eletromagntica
Entre o Wehnelt e o nodo (amostra) forma-se um campo eltrico
que atua como lente convergente focalizando os eltrons emitidos
pelo filamento.
MEV
Imagens em MEV
Imagens de Superfcies de Fratura
Imagens em MEV
Microestruturas