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UNIVERSIDAD AUTNOMA DE SAN LUIS

POTOS



TRANSFORMACIONES DE FASES


INGENIERO METALURGISTA Y DE MATERIALES






RAYOS X






DR. GARCA ROCHA JORGE

ALUMNO:
ROBLEDO RIVERA ZABDIEL

JUEVES 28 DE AGOSTO DEL 2014






Los rayos X son ondas electromagnticas de longitud de onda muy corta. Su
gama abarca las distancias interatmicas en materiales cristalinos, tpicamente
de 0,5 a 2,5 A, que permiten el anlisis de los materiales amorfos y cristalinos
en menor grado por difraccin de rayos X (XRD). Cuando los tomos se
irradian con radiacin de energa suficiente, emiten espectros caractersticos de
rayos X, fluorescencia, que se analizan en el anlisis de fluorescencia de rayos
X (XRF) para dar el anlisis de elementos. Electrones individuales son emitidos
desde una superficie irradiada con energas relacionadas con los niveles de
electrones en el tomo. Las energas de estos electrones se analizan en la
espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) para proporcionar un
anlisis elemental de tomos de la superficie junto con informacin sobre la
unin qumica entre ellos

Excitacin de los rayos x

Los rayos X son producidos (excitado) cuando un electrn experimenta una
aceleracin repentina o (ms comnmente en la prctica) de desaceleracin
como, por ejemplo, cuando un haz de electrones en rpido movimiento golpea
un tomo. La frecuencia v o longitud de onda X de la radiacin producida como
resultado de la prdida de energa E viene dada por la ecuacin:

E=hv=hc

El valor mximo de E, Emax, y el correspondiente valor ms pequeo de X se
produce cuando toda la energa de los electrones se pierde en el impacto, es
decir

Emax= Ve= hc/
swl

donde V = voltaje de aceleracin y
swl
= lmite de longitud de onda corta o
longitud de onda de corte. La sustitucin de valores numricos da

swl
= 12.34/V

donde
swl
se expresa en unidades Amstrongs y V en kilovoltios.
Sin embargo, la mayora de los electrones se someten a las colisiones de las
prdidas de energa variando repiten hasta que finalmente se detuvo
dando lugar a toda una serie de

valores - la radiacin o la llamada 'blanco'
'Brehmstrallung'.
Si la intensidad de la radiacin se representa frente a la longitud de onda, para
aplicado relativamente bajo tensiones de un curva se obtiene aumentando
desde cero hasta un mximo de ms o menos pronunciada en una longitud de
onda de alrededor de 4/3
swl
, cayendo de nuevo a un valor bajo con el
aumento de longitud de onda . Se ha encontrado que para esta curva de la
llamada 'radiacin blanca' tanto la radiacin total y la intensidad del pico son
estrechamente proporcional al nmero atmico del material objetivo. As, si se
requiere radiacin blanca en blanco de uno de los metales pesados se debe
elegir, y ya que la intensidad total (el rea bajo la curva) es proporcional al
cuadrado de la tensin aplicada esta ltima debe ser lo ms alto posible.
Al aumentar el voltaje ms all de un cierto lmite, que es diferente para
diferentes objetivos, un espectro de lneas comienza a aparecer, superpuesto
sobre el espectro continuo o blanco, las longitudes de onda de las lneas que
se estn constante y caracterstica de la diana. La tensin crtica ms baja a la
que aparecen estas lneas es la que dota a los electrones que bombardean con
slo suficiente energa para expulsar los electrones de una de las capas
internas en los tomos del blanco. Cada oferta de empleo ya que se produce
es llenado por un electrn
saltando desde una de las capas exteriores, el salto est acompaado por una
emisin de la energa de la frecuencia v dada por la relacin Bohr

hv= W
1
-W
2


donde W
1
-W
2
representa el cambio en la energa potencial del sistema y h es la
constante de Planck. La serie K de lneas es excitado cuando los electrones
son expulsados de la capa K y sus lugares tomada por electrones de la L, M o
N . Constituido principalmente por cinco lneas K
1
, K
2
, K
1
, K
3
y K
2
, las
lneas de un ser asociados con los saltos de la capa L,
1
y
3
con los de la
cscara M, y
2
con los de la capa N. Otra serie de lneas se emiten cuando los
electrones que bombardean expulsan electrones de las capas L, M o N . Las
emisiones K que son los ms intensos son generalmente
utilizado en XRD mientras que todos los espectros se emplean en XRF.
Si Vo es el voltaje crtico en el que los espectros de K aparece primero y e es la
carga del electrn, entonces
la energa necesaria para quitar un electrn de la capa K es V
oe
que es
equivalente a la radiacin de la frecuencia Vk y longitud de onda dada por

V
oe=
hvk
=
hc/
k

donde c es la velocidad de la luz. Esta
k
longitud de onda crtica, denominada
borde de absorcin K del material, junto con las longitudes de onda ligeramente
ms cortos estn fuertemente absorbidas en el material. En XRD, para evitar la
fluorescencia (alto fondo) y la baja penetracin en la muestra se elige una
radiacin que est en el lado de longitud de onda larga de cualquier borde de
absorcin de la muestra.

I=K(V-V
o
)

donde K es una constante, se refiere la intensidad, I de la radiacin
caracterstica a la diferencia entre la tensin del tubo V y la tensin Vo crtico
del material objetivo. Se ha encontrado que la intensidad relativa de la
radiacin caracterstica a la de la longitud de onda continua (blanco) de
radiacin es mayor para voltajes de tubo de aproximadamente cuatro veces el
voltaje crtico. Un mtodo de lograr monocromatizacin parcial del haz de rayos
X es reducir la intensidad de la radiacin K

con respecto a la de la K


mediante el uso de un filtro de un elemento con borde de absorcin K entre las
longitudes de onda K

y K

. El espesor del filtro se elige generalmente para
reducir la intensidad de K

a aproximadamente 1/600 de la K

transmitida.
Generalmente, el elemento anterior del elemento de destino en la tabla
peridica actuar como un filtro de K

. Los filtros no pueden separar el 1 y 2
componentes y en la que no se resuelven en un patrn de difraccin, d valores
se calculan utilizando una longitud de onda promedio ponderado dnde 1, el
ms fuerte de los dos, se da dos veces el peso de 2 .

Tcnicas de rayos X

Las tcnicas que involucran, los rayos X, que se emplean comnmente en la
investigacin de materiales de metal-LIC son radiografa de rayos X, anlisis de
difraccin de rayos X, de rayos X de dispersin de ngulo pequeo,
fluorescencia de rayos X, y la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
(XPS).

Difraccin de rayos X

Los efectos de difraccin se producen cuando un haz de rayos X pasa a travs
de la matriz tridimensional de tomos que constituye un cristal. Cada tomo
dispersa una fraccin de los haces incidentes, y si ciertas condiciones se
cumplen entonces las ondas dispersas reforzar para dar un haz difractado.
Estas condiciones son expresadas por la ecuacin de Bragg:

n= 2d
hkl
sen





Bibliografa

X- ray analysis of metalic materials (PDF)