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Introduction la compatibilit
lectromagntique (CEM)
5. Blindage
J . Unger heig-vd 2006
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Dfinition
Un blindage est une enveloppe conductrice
continue, entourant un circuit
Empche les missions du circuit de rayonner lextrieur
(mission rayonne)
Empche les champs EM de parvenir dans le circuit et dy
crer des perturbations (immunit aux rayonnements)
Cest donc le moyen idal pour liminer les rayonnements, que ce soit
pour respecter les normes dmission, rendre le circuit insensible
(immunit totale), ou encore pour liminer les auto-perturbations entre les
diffrentes parties dun systme (intgrit des signaux).
Malheureusement, une enveloppe continue, entourant totalement un
circuit est impossible raliser.
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Blindage rel
Laisse passer une partie des champs
Toutes les ouvertures dgradent leffet de protection
Un blindage rel ne peut que sapprocher dun blindage idal:
Dune part le matriau du blindage na jamais une conduction infinie (ou
une rsistivit nulle), il laissera donc une partie des champs le traverser.
Dautre part, pour assure le fonctionnement, il est ncessaire de percer
des ouvertures (boutons, affichage, passage de cble, de prvoir des
portes et parois dmontable pour laccs aux lments, ainsi que des
ouvertures daration, par lesquelles passe une partie importante des
champs EM.
Nous verrons plus loin leffet de ces trous, fentes et passages de cbles,
et comment tenter de remdier leur effet dsastreux.
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Efficacit dun blindage - dfinition
Rapport entre le champ incident et le
champ transmis de lautre cot ou
Rapport entre le champ sans blindage et
le champ aprs introduction du blindage
SE =10 Log (P
i
/P
t
) =20 Log(E
i
/E
t
)
Champ lectrique E : SE
E
=20 Log(Ei/Et)
Champ magntique H : SE
H
=20 Log
(Hi/Ht)
En champ lointain les deux valeurs sont
identiques (E/H=Zw=377)
En champ proche on utilise gnralement
la dfinition pour le champ lectrique
SE est positif (E
i
>E
t
), il correspond une
attnuation dinsertion idalement il
tend vers linfini (pas de champ transmis).
La figure illustre ce qui se passe lorsquune onde EM atteint, et traverse
une paroi de blindage (suppose infinie), elle nest utile ici que pour dfinir
les champs incidents (indice i) et transmis (indice t).
En gnral la mesure de lefficacit se fait daprs la seconde dfinition :
mesure( en un point particulier) des champs avec et sans blindage, puis
calcul du rapport en dB.
Lefficacit dun blindage est la combinaison de lefficacit du matriau du
blindage (suppos sans ouverture), et de sa dgradation par la prsence
des ouvertures. Nous traiterons dabord lefficacit du matriau.
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Efficacit intrinsque du matriau
Si = Sr+Sa+Sm
Hypothses
Paroi infinie
Epaisseur t
Matriau : ,,
Sr : Rflexions
Entre
Sortie
Sa : Absorption
Sm:Rfl. multiples
La paroi infinie isole compltement la gauche de la droite.
Le matriau est caractris par sa conductibilit , sa permabilit (en
gnral =
o
, permablit du vide) et sa permettivit .
On constate quaux changements de milieu ( air matriau puis
matriau air) une partie des champs incidents sont rflchis en direction
de lmetteur et que seule une partie est transmise dans le nouveau
matriau. Le rapport global Sr reprsente leffet des rflexions lentre et
la sortie du blindage.
Dans le matriau, londe sattnue par dissipation (pertes par conduction
et par hystrse) si bien quelle ne parvient lautre face quattnue. Ce
facteur est dsign par Sa.
Enfin, londe rflchie linterface de sortie, revient (en sattnuant dans
le matriau) vers la face dentre o elle subit nouveau, rflexion et
transmission. Si le matriau est mince, on voit que des rflexions multiples
entre les deux faces du matriau vont provoquer une lgre augmentation
du champ transmis, donc Smsera ngatif: le champ transmis est
lgrement plus grand que sans les rflexions multiples.
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Rflexions : coefficients de transmission
A linterface, on passe de limpdance Zw Zm puis,
aprs traverse, de Zm Zw
Au passage air - matriau le coefficient de rflexion
(rapport entre londe rflchie et londe incidente) vaut
Le coefficient de transmission, aprs deux interfaces,
se calcule donc :
Zm Zw
Zm Zw
+

=
Zw
Zm
Zm Zw
ZwZm
E
E
i
t
4
) (
4
2

+
= Si Zm << Zw
Que lon soit linterface de deux milieux homognes (air et matriau du
blindage) ou dans un cble de transmission le coefficient de rflexion se
calcule partir des impdances caractristiques des matriaux
considrs. est le rapport entre le champ rflchi E
r
et le champ incident
E
i
. Le coefficient de transmission (1- ) reprsente alors le rapport entre
le champ transmis E
t
et le champ incident E
i
de part et dautre de la
surface.
Ce qui nous intresse ici, cest le rapport entre le champ transmis au
champ incident, aprs 2 interfaces. On fait donc le produit des coefficients
de transmission des 2 surfaces successives:
(1-
1
) =1-(Z
w
-Z
m
)/(Z
w
+Z
m
) =2Z
m
/(Z
w
+Z
m
) et (1-
2
) =1-(Z
m
-
Z
w
)/(Z
w
+Z
m
) =2Z
w
/(Z
w
+Z
m
)
Pour un cble limpdance caractristique est la racine du rapport entre
son inductance linique et sa capacit liniques (dcoulant de et mais
galement dpendant des dimensions du cble), alors que la 2e
impdance considrer est limpdance localise chargeant le cble. Par
contre les phnomnes sont identiques.
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Rflexions : impdances donde
Dans lair, Zwa dj t dfini
En champ lointain Zw=
o
=120 =377
En champ proche haute impdance (diple
lectrique, couplage capacitif) Zw=
o
/(2r)
En champ proche basse impdance (diple
magntique, couplage inductif) Zw=
o
(2r)/
Dans un matriau quelconque
Isolant
Conducteur


j
j
Zm
+
=

Zm

Zm
Si limpdance donde en champ lointain est bien connue, les formules
donnes en champ proche ne sont que de grossires approximations.
Dans un isolant est ngligeable, et gnralement son impdance
caractristique est proche de celle du vide. Lattnuation par rflexion sera
donc trs faible.
Dans un matriau conducteur, au contraire, est prpondrant, abaissant
limpdance du matriau de trs petites valeurs. La consquence en est
une forte attnuation par rflexion.
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Caractristiques relatives au cuivre
Rappel pour le cuivre
= 5.82 10
-7
S/m
= 4 10
-7
H/m
= 8.85 10
-12
F/m
Les tables donnent
les valeurs relatives
au cuivre
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Sr efficacit par rflexion
Champ lointain
Pente 10 dB/dc
F
limite
=c/(2r) r =distance source blindage ; c =3 10
8
m/s
Champ proche haute impdance (couplage C)
Pente 30 dB/dc
Champ proche basse impdance (couplage L)
Pente +10 dB/dc

+ =
f
Log Sr
r
r

10 168

+ =
2 3
10 322
r f
Log Sr
r
r

+ =
r
r
fr
Log Sr

2
10 6 . 14
On remplace Z
w
et Z
m
dans lexpression de lattnuation par rflexion S
r
=
20 Log(Z
w
/(4Z
m
)), et on met en vidence les termes constants ( valeurs du
cuivre y compris):
Champ lointain Z
w
=Z
o
=377 ; Z
m
=(/)
Champ proche haute impdance Z
w
=Z
o
/(2r) avec =c/f =3
E8
/f
Champ proche basse impdance Z
w
=Z
o
(2r)/
Remarquons que dans le dernier cas, notre hypothse Z
m
<<Z
w
nest pas
toujours vrifie.
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Sr pour du cuivre d = 1m ou 30m
Plus la source est proche, plus lintersection de 3 droites se fait haute
frquence.
En champ lointain lefficacit par rflexion diminue de 10 dB/dcade.
Si la source est haute impdance, la diminution est de 30 dB/dcade,
mais lefficacit reste trs importante. En basse frquence lefficacit est
quasi-totale. Ceci confirme notre raisonnement de protection contre le
couplage capacitif: en basse frquence, lenveloppe conductrice du
blindage devient une quipotentielle. Relier le blindage au point commun,
revient liminer tout couplage.
Si la source est basse impdance, on constate que lefficacit tend vers
0 en basse frquence, confirmant nos affirmations que le blindage ne
protge pas contre un couplage inductif (en BF).
Remarquons que la droite devrait traverser le 0 dB en trs basse
frquence. Ceci nest que la consquence du fait que notre hypothse Z
m
<<Z
w
nest plus vrifie. En pratique, nous nous contenterons de
considrer que le blindage na plus deffet (S
r
considr comme nul).
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Absorption
Dissipation de lnergie par
hystrse et par conduction
: lamplitude des champs
dcroit exponentiellement
avec la profondeur.
Profondeur de pntration =
distance laquelle
lamplitude est divise par e
Pour un matriau
dpaisseur t le facteur
dattnuation est
r r
f f

066 . 0 1
= =
[ ] dB f t Sa
r r
=132
La profondeur de pntration est galement lie leffet pelliculaire: en
haute frquence le courant dans un conducteur tend se concentrer
sous la surface de celui-ci.
La rsistance HF dun conducteur cylindrique se calcule, en premire
approximation, par la rsistance DC du cylindre de mme diamtre que le
fil et dpaisseur gale la profondeur de pntration . Soit r
w
le rayon
du fil de longueur l, en DC on aura R
DC
=l/((r
w)
2
), alors quen HF : R
HF
=
l /(2r
w
); elle augmente avec f ds que r
w
> 2
De mme linductance propre du fil est influence par : L
BF
=
o
l/(8) et
L
HF
=L
BF
2/r
w
qui dcroit avec f ds que r
w
> 2
On constate alors que ds que lpaisseur du matriau est grande vis--
vis de , lattnuation par absorption devient trs grande. Dans la partie
suprieure du domaine de frquence CEM, des paisseurs dune dizaine
de m suffisent protger le systme. Un dpt de surface conducteur
suffit.
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Sa : comparaison cu et ac
Une paisseur de 0.125 inch correspond environ 3 mm
Une paisseur de 0.02 inch correspond environ 0.5mm
On constate que dj pour le cuivre une paisseur de 0.5 mm assure une
bonne protection partir de quelques MHz.
Avec un botier en ac, la diminution de conductivit est largement
compense par laugmentation de permabilit , et une paisseur de 0.5
mm protge dj mieux quune paisseur de 3 mm en cuivre !!
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Rflexions multiples
Si le matriau est plus mince que la profondeur
de pntration , alors les rflexions multiples
contribuent une lgre augmentation du
champ transmis (Smest ngatif):
[ ] dB e Log Sm
t

2
1 20
Lattnuation sur un aller-retour dans le matriau est x =exp(-2t/) <1.
La somme des composantes successives chaque aller-retour vaut Tot
=lim
i=0..
x
i
=1/(1-x) (... si x1)
Smreprsente le rapport entre la composante initiale (premier trajet) et la
somme des composante (Tot), exprime en dB
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Efficacit intrinsque
Si = Sr + Sa +Sm
Sr ne peut devenir ngatif (les hypothses ne sont
plus vrifies, cas du champ proche basse
impdance)
Leffet de Smnest visible quen basse frquence
A partir de quelques 10 kHz cest labsorption qui
devient prpondrante
En HF (10Mhz 1GHz) une mince couche suffit,
mais tout peut tre dgrad par les trous
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Blindage Alu 3mm, source E r = 100
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Couche Cu 10m source H r = 100
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Rduction du champ magntique
en basse frquence
a) Dtourner les lignes de champ, avec un
matriau haute permabilit
b) Annuler le flux par une boucle en court-
circuit
En BF lefficacit du matriau devient trs faible, il faut donc se protger
par dautres mthodes.
a) un matriaux haute permablilt permet de dtourner les lignes de
champ, si bien quil ny a presque plus de flux magntique intercept
par le circuit victime. Dans ce cas on est trs vite confront aux
problmes de saturation magntique dans le matriaux, ayant pour
effet de diminuer la permabilit apparente, donc lefficacit de la
mthode. De plus ces matriaux sont sensibles aux dformation: plier
une tle haute permabilit change ses proprits et diminue
fortement la permabilit effective de lenveloppe !!
b) Une boucle en court-circuit, soumise variation de flux sera parcourue
par un courant induit. Celui-ci gnre un champ magntique
sopposant celui qui a cr le courant induit. Dans la surface interne
de la boucle, le champ magntique et le flux ont donc tendance
sannuler. On peut donc chercher protger un circuit en plaant des
boucles en court-circuit de par et dautre de la victime,
perpendiculairement aux lignes de champ magntique perturbant. De
mme on peut diminuer le rayonnement dune source de champ
magntique par ce principe.
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Matriaux haute permabilit
Mu-mtal, Permalloy, Hypernick

r
diminue avec la frquence

r
diminue avec les grand H
(saturation)
Ncessit dutiliser plusieurs
couches :
grand
r
, vite satur
faible
r
, difficilement satur
Les proprits des matriaux hautement permables sont illustres ici:
Le fait que la permabilit diminue avec la frquence nest pas trs grave:
ces frquences lefficacit intrinsque du matriaux est suffisante, et lon
na plus besoin de guider et concentrer les lignes de champ dans
lenveloppe.
Par contre leffet de saturation magntique peut conduire des surprises
dsagrables. Lutilisation de plusieurs couches permet dassurer une
permabilit minimum, mme en prsence de grands champs.
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Boucle en court-circuit
Une bande conductrice est
enroule autour de la
source de champ, de
manire intercepter un
maximum de flux.
Le courant induit gnre
un champ de signe
oppos, annulant
lextrieur les champs
rayonns
La prsence dun entrefer
peut exiger une 2e boucle
orthogonale
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Effet des trous
Lefficacit intrinsque est gnralement
compltement dgrade par les trous et fentes
Leur prsence dforme le trajet des courants
induits, si bien quun rayonnement existe,
dpendant de la longueur du trou et de leur
direction.
Les images a) d) illustre la dformation de courant verticaux par
diffrentes fentes.
En b) et c) la dformation est quasi la mme, presque indpendante de la
largeur de la fente.
En d) la fente parallle aux lignes de courant ne provoque presque pas de
dformation.
De mme en e) un rseau de petits trous dformera beaucoup moins les
lignes de courant (quelque soit leur direction), quune ouverture unique de
mme surface totale.
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Leffet de Babinet
Si lon remplace un trou dans un cran, excit
par une ligne de transmission, par sa structure
complmentaire, les rayonnements obtenus
sont quivalents.
Cet effet nous permet danalyser linfluence des trous partir du
rayonnement dantennes de mme forme que le trou.
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Ouvertures du blindage
Le trou ou la fente rayonne donc comme une antenne
de mmes dimensions
Ce rayonnement est maximum quand la longueur de
lantenne est D =/2
D est la longueur maximum de louverture
Norton indique alors une efficacit de 0 dB. Pour D <
/2, il calcule lefficacit du blindage
Indice
o
pour Ouverture

=
D
Log S
o
2
20

On considre ainsi quune ouverture dont la plus grande dimension est
gale une demi longueur donde, transmet lintgralit du champ
incident. Le blindage ne sert plus rien !!!
Ce nest que lorsque la dimension de louverture est faible vis--vis de la
longueur donde que le champ transmis est attnu.
Remarquons que le critre est donn par la plus grande des dimensions
de louverture, indpendamment de la largeur de louverture. Par
consquent le fentes de jointure (couvercle, faces avant juxtapose) sont
les plus dangereuses.
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Rseau douvertures
Si un rseau de N fentes est un pas < /2,
alors il y a augmentation proportionnelle N
En rsum : Lefficacit globale S
eff
(matriau
avec trous) est donne par par le minimum de
lefficacit intrinsque et de celle due aux trous
) ( 10
2
20 N Log
D
Log S
o

=

{ }
o i eff
S S S ; min =
En prsence dun rseau douvertures, si le pas dans le rseau est
infrieur /2, alors il ny a plus cumulation des effet de chaque
ouverture. Si les ouvertures sont de dimension assez faible on conserve
une certaine efficacit.
En basse frquence (grandes longueurs donde) on rejoint lefficacit
intrinsque du matriau constituant le blindage. Cest ce quexprime la 2
e
formule
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Moyens de protection
Rduire la longueur des ouvertures
J oints EMI, comprims ( Gasket )
Doigts de contact (bronze-bryllium)
Rparations avec feuille Cu ou Alu autocollante
Allonger le chemin de pntration
Tles recouvrantes,
Tube guide donde (arations)
Matriaux spciaux
Verre conducteur (crans daffichage)
Plastic fibre conductrices
Mtallisation de surface, peinture conductrice
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Joints EMI
Mousse conductrice ou enrobe dun tricot conducteur
doit assurer le contact travers louverture, par pression sur
des surfaces nues
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Rseau de doigts de contact
Lorsquun accs frquent doit
tre garanti (porte)
Exige un frottement pour
assurer un bon contact
Risque de rupture ou de
pliage (=ouverture)
Doit rester propre (exempt de
graisse)
!! Entretien rgulier !!
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Allongement du trajet
Tles avec recouvrement (+joint EMI)
Blindage interne
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Guides donde
Guide donde en dessous de f
c
Mode TE10
section carre de cot d
Longueur l
f
c
=c/(2d)
En dessous de f
c
lattnuation vaut
S = 27.2 (l/d)
Aration en nid dabeille
En augmentant la longueur du trajet dans louverture, on a un effet de
guide donde permettant de prdire une attnuation en basse frquence.
Cette solution semploie pour les ouvertures daration.