Dispersin Elastica

Jess Romo Rico

Universidad Autnoma de Nuevo Len
Facultad de Ingeniera Mecnica y Elctrica
Maestra en Ciencias de la Ingeniera Mecnica con Especialidad en Materiales
6 de junio de 2014
1. Introduccin
Dado que el ojo humano es capaz de percibir una parte del espectro electro-
magntico (visible), el uso de mtodos alternativos de microscopia son necesa-
rios, en este caso nos referimos al TEM (Microscopia Electrnica de Transmisin)
donde una muestra es atravesada por un haz de electrones lanzado a gran
velocidad. Para poder identicar la muestra no es solo necesario que la muestra
sea atravesada por los electrones, si no que estos choquen con la materia de
distintas maneras ocasionando fenmenos de dispersin con el n de recolec-
tar la informacin dada por los distintos ngulos, energa y velocidades que
estos electrones generan. De esta manera una imagen es reconstruida y as es
como podemos saber cmo est conformado el material a estala atmica. A
continuacin se describe el proceso de dispersin elstica de electrones.
1
1.1. Ondas y partculas
Como ya sabemos, los electrones tienen como cualidad, la dualidad onda
partcula, es decir, estos se pueden comportar como onda o como partcula, de
esta manera cuando haz de electrones interacta con una muestra en el TEM,
podemos considerar un haz como una sucesin de partculas o como un numero
de ondas.
Cuando los electrones se comportan como partculas estos tienen las siguien-
tes caractersticas.
Estos tienen seccin trasversal de dispersin y una seccin transversal de
dispersin diferencial.
Estos pueden dispersar en diferentes ngulos.
Los electrones interactan con el ncleo a travs de las fuerzas de Coulomb.
Cuando los electrones se comportan como ondas tienen las siguientes carac-
tersticas:
Ondas son difractadas por tomos o centros de dispersin.
Que tan fuerte una onda es dispersada por un tomo es determinada por
la amplitud atmica dispersada.
Podemos relacionar un proceso de dispersin de rayos X u otro anlisis
de este tipo.
Dispersin y difraccin pueden ser algo confusos, pero la denicin por el
diccionario Collins dene difraccin como la desviacin en la direccin de una
onda con el borde de un obstculo en su trayectoria mientras que dispersin es
denido como el proceso en el cual las partculas, tomos, etc, son desviados
como resultado de la colisin. El fenmeno de dispersin aplica mejor para
partculas y el fenmeno de difraccin a ondas, sin embargo ambos trminos
son trminos que aplican a electrones.
1.2. Mecanismos de dispersin elstica
Los mecanismos de dispersin elstica pueden ser explicados considerando
la dispersin de un solo tomo y despus la dispersin de varios tomos en
2
conjunto. En el caso de la dispersin de un solo tomo, la dispersin puede
ocurrir de dos maneras en las que ambas involucran las fuerzas de Coulomb.
Un electrn puede interactuar con una nube de electrones resultando una
desviacin angular pequea. De otra manera si un electrn penetra la nube de
electrones y se acerca al ncleo, ser fuertemente atrado y puede ser dispersado
en un ngulo mayor, en ciertos casos puede alcanzar 180

. La segunda forma
de dispersin elstica ocurre cuando ondas de electrones interactan con el
espcimen completo. Este tipo de dispersin es particularmente importante en
pequeos ngulos. No debemos olvidar que la difraccin involucra el trato de
un haz de electrones como onda. Podemos imaginar cada tomo en el espcimen
acta como fuente de ondas que comienzan en cero, incrementan y vuelven
a cero. Este tipo de ondas refuerzan otras en ciertas direcciones angulares
y cancelando otras. De esta manera la distribucin de dispersin de ngulos
pequeos es modicada por la estructura cristalina del espcimen y la difraccin
intensa de haces surge de ciertos ngulos especcos.
1.3. Dispersin de tomos aislados
Si consideramos un electrn, dispersado desde un tomo aislado; la dis-
persin entre electrn-electrn y electrn-ncleo puede ser expresado por dos
simples ecuaciones (1) y (2).

electron
= r
2
e
= (
e
V
)
2
(1)

nucleus
= r
2
e
= (
e
V
)
2
(2)
Podemos ver que el numero atmico Z del tomo controla la interaccin
elstica con el ncleo; pero la dispersin electrn-electrn esta mas en funcin
de la energa del haz incidente de electrones. La energa del haz de electrones
puede controlar el contraste de la imagen en cierto grado.
1.4. La seccin trasversal de Rutherford
La interaccin electrn ncleo anloga a la dispersin de partculas alfa
desde una hoja de metal fue observada por Geiger y Rutherford, por lo que
derivaron una expresin para el diferencial de la seccin transversal para la dis-
persin de un ngulo grande. La expresin (4) asume que un electrn incidente
no pierde una cantidad de energa signicante a travs de procesos inelsticos.
d()

=
e
4
Z
2
14(E
2
0
)sin
4

2
(3)
Podemos sustituir valores apropiados para varias constantes e integrar el
rea de seccin diferencial desde 0 a para obtener el total de seccin transversal
nuclear elstica, en una forma ms precisa.
3
Figura 1: Variacin logaritmica de la seccin transversal de Rutherford con
angulos dispersados para diferentes elementos a 100 keV, Cu con diferentes
voltajes de TEM.

nucleus
= 1,62X10
24
(
Z
E
0
)
2
cot
2

2
(4)
De nuevo podemos ver que la energa (E
0
), elngulodedispersin, el numero
atmico Z, todo afecta la probabilidad de que un electrn puede ser dispersado
por el ncleo de tomos que conforman una muestra.
1.5. Coherencia de los electrones dispersados de Rutherford
Los electrones dispersados de Rutherford son incoherentes, las fases de las
ondas de electrones no estn en fase. De esta manera la dispersin incoherente es
importante en dos aspectos. Primero el gran ngulo consecuente a la dispersin
puede ser usado en una forma excepcional en imgenes de alta resolucin de un
espcimen cristalino el cual el contraste de la imagen es debido a un valor de Z;
no en orientacin con la muestra, como vemos en este caso un pequeo ngulo
coherente, como el contraste Z de imgenes provee una resolucin cualitativa
de microanlisis en adicin con la resolucin atmica el detalle que interere
entre regiones diferentes de Z. Segundo, el gran ngulo de electrones retro
dispersados puede ser usado para formar imgenes de la entrada del haz en la
supercie de la espcimen en cual el contraste es no solo debido a las diferencias
en Z, pero tambin a cambios en la topografa de la supercie de la espcimen.
Imgenes de electrones retro dispersados son raramente usados en TEM ya que
su seal es pequea.
4
1.6. El factor de dispersin atmica
El acercamiento del factor de dispersin es complementario a la seccin
diferencial de Rutherford, ya que es ms til para describir el ngulo pequeo de
dispersin elstica donde el modelo de Rutherford es inapropiado. Usualmente
el factor de dispersin es denido por la ecuacin 5,
f() = 1 +
E
mc
2
8

2
a
0
(
sin

2
)
2
(Zf
x
)(5)
La variacin de un tomo simple aislado representa la gura, el punto
importante a recordar es que la seccin transversal y el factor de dispersin son
simplemente medidos y como la intensidad de la dispersin electrnica vara
con .
5
1.7. El factor de estructura
El factor de estructura f mide la amplitud de la dispersion de una celda
unitaria de una estructura cristalina; debido a aue la amplitud como f? tiene
dimensiones de longitud. Podemos denir f? en terminos de la suma de factores
de numeros atomicos dispersados de todos los atomos i en una celda unitaria
multiplicado por el factor de fase aue tiene en cuenta la diferencia en fase entre
ondas dispersadas de atomos en diferentes planos con indices de miller hkl.
Todo esto nos dice que la amplitud de la dispercin es inuenciada por el tipo
de tomo, la posicin del tomo en la celda x,y,z y los planos especicos hkl que
hacen una estructura cristalina, lo cal produce bajo ciertas circunstancias la
amplitud de dispersin sea cero, lo cal facilita la determinacin de estructuras
critstalinas por medio de TEM.
1.8. Conceptos de difraccin simple
La difraccin de electrones es el fenomeno mas importante de dispersion en
TEM, ya que podemos utilizar la difraccin para determinar el espaciamiento en
los planos cristalinos. Los espacios interplanares en diferentes estructuras crista-
linas son caracteristicos de la estructura. Como resultado podemos distinguir
entre diferentes estructuras cristalinas observando y midiendo los patrones de
difraccin. Podemos ver que las posiciones de los rayos difractados de electrones
son determinados por el tamao y forma de la celda unitaria y las intensidades
de los hazes difractados que son gobernados por la distribucin; nmero y
tipos de tomos en el especimen. Tambien podemos ver que los procesos de
difraccin tratan con el contraste en las imgenes de TEM y que se relacionan
con la orientacin de la cristalinidad de la muestra La combinacin de un patron
de difraccin y la imagen es la herramienta mas importante para caracterizar los
cristales y sus defectos. Es facil ver en una manera cualitativa, como la difrac-
cin modica la distribucin de dispersion de bajo angulo decrito por el factor
de estructura . Cuando consideramos el efecto de arreglo de tomos en una
muestra; los tomos son casi arreglados aleatoriamente. Un arreglo aleatorio
puede resultar en una graca similar; pero hay ciertos espacios interatomicos
que tienden a ocurrir en una estructura amorfa, como resultado la amplitud de
la difraccin es mas fuerte en algunos angulos que otros, los cuales podemos
ver como anillos de intensidad y en un patron de difraccin. Si la muestra es
cristalina entonces la intensidad de los rayos difractados son maximos a angulos
especicos ya que los espacios interplanares son qjustados.
1.9. Interferencia con ondas de electrones
Para interpretar el bajo angulo de dispersion elastica es mejor pensar en
terminos de ondas de electornes y no en terminos de interacciones de partculas
que caracterizan los altos angulos; Si vamos a la gura ?? podemos ver un
arreglo periodico unidimensional de los centros de dispersion, una onda mo-
nocromatica arregalada en ? que avanza hacia los centros; cada apertura actua
6
como una nueva fuente de ondas de la misma ?. De esta manera nuevas ondas
son creadas y cuando mas de una onda es presente, las ondas pueden interferir
unas con otras; este proceso pasa en especimenes delgadas y es enteramente un
fenomeno de onda que no necesita conceptos en la seccion transversalcomo se
aplica cuando pensamos en un electron como particula Una regla de la teoria de
ondas es que las ondas se refuerzan unas con otras cuando estas estan en fase;
(coherentes) cuando ellas estan fuera de fase tienen una interferencia destructiva
Hay un orden zero invariable el cual procede en la misma direccion que la onda
incidente; como en el TEM nos referimos como un rayo directo de electrones.
Tambien hay un orden alto de ondas que propagan en direcciones que estan
ajustadas a cierto angulo de la onda incidente y les llamamos haces difractados.
De esta manera la difraccion crea muchos haces de electrones que viajan en
angulos especicos relativos a un has simple monocromatico.
7
1.10. Ecuaciones de difraccin
La idea de usar difraccion para comprobar la estructura atomica fueron
descritas por von Laue en alemania en 1912, sin embargo otros como Ewald
trabajaron en ideas similares al mismo tiempo. Von laues sugirio que un cristal
de sultato de cobre irradiado es el primero en observar la difraccion de pla-
nos cristalinos, de esta manera es remarcable un golpe de suerte que CuSO4
difractando en rayos x del todo genera ecuaciones aue goviernan la difraccion
Von Lque uso lqs bien lq optica para obtener un acerca,iento que dice que las
ondas difractadas en fase si el patron es diferente entre las ondas dispersadas y
las dispersiones adjacentes en el centro como un numero enero de longitudes
de onda h? donde h es un integrador. Como podemos ver en la g 3.8 so mps
ce,trps de dispercion B y C tienen espacios en ciertas distancias q qparte y el
rayo incidente genera un angulo ?1 con una linea conectando los centros de
dispersion y es difractado en un angulo ?2 entonces la diferencia de trayectoria
es (AB - CD) es entonces:
a(cos cos) = h (6)
Ahora en 3 dimensiones, dos mas que las ecuaciones de Laue pueden ser
escritas por dos mas distancias b y c; y con angulos apropiados ?n
b(cos cos) = k (7)
c(cos cos) = l (8)
Estas son 3 simultaneas ecuaciones de von Laue y por su trabajo el recibio
el premio nobel; si en una muestra de TEM; las 3 ecuaciones de laue satisfacen
simultaneamente.
8