Fernando M. Flores Ch. 6782530LP D. Israel Arispe G.

6170029LP
Jos Eduardo Poma B. 834875 LP | 8vo semestre |04 de agosto del
2014
PREINFROME DE
LABORATORIO #1: ADC
SISTEMAS DE CONTROL II
PREINFROME DE LABORATORIO #1: ADC
SISTEMAS DE CONTROL II
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PG. 1
PREINFORME DE LABORATORIO
#1: ADC
1. OBJETIVO.
1.1. OBJETIVO ESPECFICO.
Reconocer las caractersticas bsicas del muestreo con el teorema de Nyquist
para el control.
1.2. OBJETIVOS GENERALES.
- Disear un circuito ADC.
- Controlar las frecuencias de muestreo y de la seal para poder realizar el
teorema de Nyquist.
- Verificar la implementacin del ADC por osciloscopio.
2. MARCO TERICO.
2.1. MUESTREO.
Muestrear es llevar una seal continua a discreta en el tiempo, para esto se
necesita medir la seal en momentos precisos en el tiempo, para lo cual
recurrimos al teorema de Nyquist-shannon.
2.2. TEOREMA DE NYQUIST-SHANNON.
Matemticamente, para poder replicar una seal con exactitud se necesita
tomar muestras, pero estas muestras deben cumplir:

Es un proceso reversible, su reconstruccin es exacta y no aproximada.
Este teorema demuestra que la informacin de una seal dentro de un
intervalo de tiempo entre dos muestras es descrita en su totalidad siempre y
cuando dicha seal sea peridica y no tengo componentes superiores a la
mitad de la tasa de muestreo o de frecuencia igual.
Prcticamente no existen componentes ideales, entonces se deja un margen
entre la frecuencia mxima que se desea registrar y la frecuencia de Nyquist
(frecuencia crtica); dicho margen nace de las limitaciones fsicas de los
componentes y de su margen para la reconstruccin real.
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Para el audio, han aparecido conversiones con PCM para no tener prdida en la
compresin con tasas de muestreo ms altas, adems que son ms baratos.
2.3. MUESTREO PARA AUDIO Y VIDEO.
En audio, la frecuencia mxima perceptible para el humano es cercano a los
20K[Hz], teniendo una frecuencia de muestreo terica de 40K[Hz], pero para
una correcta reproduccin se estandarizo 44100 muestras por segundo,
observndose que la frecuencia de muestreo es superior a la establecida que
compensa los filtros utilizados
Transmitir una informacin "inteligente" y pueda ser recibida por receptores
en la misma frecuencia..
En video la frecuencia entre fotogramas define la frecuencia de muestreo de la
imagen, vara en cuanto a los pixeles individuales; la frecuencia de muestreo es
el ritmo de repeticin del periodo de integracin
2.4. EFECTO ALISASING.
Es cuando la frecuencia de muestreo es inferior a la frecuencia mxima,
generndose distorsiones o ruidos, entonces se aplican filtros pasa bajos para
eliminar estos efectos.

2.5. VELOCIDAD DE TRANSMISIN.
La velocidad de transmisin es definida por:

El nmero de bits tambin indica el tamao de la muestra.
2.6. OSCILADOR ASTABLE CON CI 555.
El circuito integrado 555 es utilizad en variedad de aplicaciones y es aplicado
para generar pulsos y oscilaciones
2.6.1. MULTIVIBRADOR ASTABLE.
La configuracin de multivibrador astable del circuito integrado 555 es
caracterizado por una salida de onda cuadrada contina.
La seal tiene un nivel alto por un tiempo T1 y un nivel bajo por un tiempo T2,
estos tiempos dependern de los valores de R1, R2 y C, segn:

() (

) []

((

) )[]

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[]
Entonces la seal de salida tendr una frecuencia de:

)
[]
Con una configuracin:

Ilustracin 1: Configuracin de 555 ASTABLE.
Fuente: http://gzaloprgm.com.ar/555astable/
2.7. INTEGRADOR ANALGICO.
El circuito que se emplear en laboratorio es un circuito en serie RC, es decir:

Ilustracin 2: Circuito RC serie.
Fuente: http://es.wikipedia.org/wiki/Circuito_RC
Es un circuito que cumple con:

Los bornes del condensador se comporta como un circuito pasa bajo.
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2.8. REGISTROS
Un registro es una memoria de alta velocidad y poca capacidad, generalmente
se miden por la cantidad de bits que pueden almacenar. Estn formados por un
conjunto de FLIP-FLOPS y utilizados en aplicaciones que precisan almacenar y
transferir daos dentro de un sistema.
Un registro tiene dos funciones bsicas:
- Almacenar datos.
- Mover datos.
2.8.1. REGISTRO DE ENTRARA PARALELA Y SALIDA SERIE.
Bsicamente realiza la siguiente tarea:

Ilustracin 3: Proceso de registro paralelo-serie.
Fuente: Registros de desplazamientos- Ing. Marn Thames, Arturo.
Posee para el ejemplo cuatro lneas de entrada de datos y una entrada
SHIFT/LOAD que permite cargar en paralelo los cuatro bits de datos en el
registro.

Ilustracin 4: Ejemplo de registro de desplazamiento paralelo-serie
Fuente: Registros de desplazamientos- Ing. Marn Thames, Arturo.
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3. MATERIALES.
Se usarn:
- Fuente de alimentacin de 5[V].
- Cables de conexin.
- Protoboard.
- Circuito integrado 555.
- Circuitos integrados 74LS74.
- Circuito integrado 74LS76.
- Resistencias de 10[], 10k[].
- Capacitores de 470[F], 0.1[F], 100n[F].
- Compuertas lgicas 74LS08, 74LS04, 74LS32.
- Circuito integrado ADC0804.
- Potencimetro de 150K [].
4. PROCEDIMIENTO.
Para el presente laboratorio se armar el siguiente circuito:

D0
D7
D1
D2
D3
D4
D5
D6
SS
SA
D0
SS
D1
SS
SA
S1
SS
SA
FF1
O1
O2
D3
S4
SS
SA
S3
D2
O4
O5
O6
O7
SS
D4
S5
SA
SS
D5
S6
SA
O11
O10 SS
O9
O8
SS
D6
S7
SA
D7
O12
O13
O14
FF2
FF1 S1
S2
FF5
FF4
FF3
S5
S4
S3 FF6 S6
FF7
O1
O2
S2
SA
FF2
O3
O3
O4
FF3 O6
O5
O7
O8 O12
O9
FF4
O10
O11
FF5 FF7
FF6
O13
O14
FF8
FF8
S7
R
4
DC
7
Q
3
G
N
D
1
V
C
C
8
TR
2
TH
6
CV
5
U5
555
83%
RV1
150K
A
B
C
D
RX
10
CS
470u
RS
10
CX
470u
J
4
Q
15
CLK
1
K
16
Q
14
S
2
R
3
U1:A
7476
VIN+
6
VIN-
7
VREF/2
9
CLK IN
4
A GND
8
RD
2
WR
3
INTR
5
CS
1
D GND
10
DB7(MSB)
11
DB6
12
DB5
13
DB4
14
DB3
15
DB2
16
DB1
17
DB0(LSB)
18
CLK R
19
VCC
20
U1
ADC0804
C3
150p
R10
10k
SW1(NC)
INIT=HIGH
START=0
COUNT=-1
CLOCK=60
C4
100n
RST
CLK
CE
RST
CLK
CE
C1
100nF
C2
0.1uF
R1
10k
SW1
SW-SPDT
O
F
F
O
N
1 2
4 3
DSW1
DIPSW_2
R2
10k
D
2
Q
5
CLK
3
Q
6
S
4
R
1
U2:A
74LS74
D
12
Q
9
CLK
11
Q
8
S
1
0
R
1
3
U2:B
74LS74
D
2
Q
5
CLK
3
Q
6
S
4
R
1
U3:A
74LS74
D
12
Q
9
CLK
11
Q
8
S
1
0
R
1
3
U3:B
74LS74
D
2
Q
5
CLK
3
Q
6
S
4
R
1
U4:A
74LS74
D
12
Q
9
CLK
11
Q
8
S
1
0
R
1
3
U4:B
74LS74
D
2
Q
5
CLK
3
Q
6
S
4
R
1
U6:A
74LS74
D
12
Q
9
CLK
11
Q
8
S
1
0
R
1
3
U6:B
74LS74
U7
NOT
1
2
3
U8:A
7408
4
5
6
U8:B
7408
9
10
8
U8:C
7408
12
13
11
U8:D
7408
1
2
3
U9:A
7408
4
5
6
U9:B
7408
9
10
8
U9:C
7408
12
13
11
U9:D
7408
1
2
3
U10:A
7408 4
5
6
U10:B
7408
9
10
8
U10:C
7408
12
13
11
U10:D
7408
1
2
3
U11:A
7408
4
5
6
U11:B
7408
U12
OR
U13
OR
U14
OR
U15
OR
U16
OR
U17
OR
U18
OR
U19
OR
U1(VCC)
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La salida del CI 555 (con salida de 60 Hz):

Hallamos los tiempos y la frecuencia:

((

) )[]

(( ) )[]

[]

[]

[]
[]
Entonces la seal de salida tendr una frecuencia de:

)
[]

( )
[]
[]
En R2 dejamos con un potencimetro para poder variar la frecuencia de ~46.55Hz
hasta ~1443Hz.
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Despus de una salida del JK para dividir la frecuencia a 30Hz:


Como podemos observar, la salida no es perfecta debido a la carga de los
capacitores pero se logr el objetivo de bajar la frecuencia a la mitad.
Despus de la integracin para lograr una seal senoidal:

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Conversin ADC:

Donde el V
in
es dado por la salida integrada, WR e INT son dados por el CLK.
Registro de desplazamiento:

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Comparacin de la entrada al ADC y salida en serie:

Bsicamente el funcionamiento del circuito es principalmente dado por el circuito
integrado 555, ya que el genera la seal a muestrear (salida integrada a la salida de
un JK que divide la frecuencia de la salida entre 2) y un reloj de frecuencia X; cada
que vara la frecuencia del reloj en X+Y
1
, la frecuencia de la seal vara en (X+Y)/2,
cumplindose de esta manera el teorema de Nyquist-Shannon.

BIBLIOGRAFA
Apuntes de Sistemas Digitales II, Ing. Marn Thames Arturo.
http://es.wikipedia.org/wiki/Frecuencia_de_muestreo
http://ceres.ugr.es/~alumnos/luis/mycuan.htm
http://es.wikipedia.org/wiki/Circuito_integrado_555
http://es.wikipedia.org/wiki/Circuito_RC

1
X: frecuencia del reloj que se obtiene o desea, Y: aumento en frecuencia X.