Académique Documents
Professionnel Documents
Culture Documents
ELECTRNICOS
PRIMERA EDICIN
PRESENTACIN
ii
PRESENTACIN
Este libro est dirigido a ingenieros o estudiantes que ya dispongan de conocimientos
en equipos bsicos, como son el multmetro y el osciloscopio analgico y digital, y que estn
interesados en ampliar sus conocimientos en equipos electrnicos singulares utilizados
usualmente en las diversas especialidades de la Ingeniera Electrnica. Se pretende, adems,
profundizar en la problemtica presente en las medidas de bajo nivel as como dotar al lector
de los conocimiento necesarios para la generacin de instrumentos virtuales, la configuracin
de sistemas de instrumentacin y el diseo y ensayo de equipos electrnicos. En este
contexto, el contenido del libro est dividido en siete unidades temticas cuyos contenidos se
resumen a continuacin.
Este texto se inicia con una unidad temtica introductoria en la que se exponen los
principios y trminos bsicos ligados con el concepto de medida. Este bloque temtico consta
de dos temas titulados Principios bsicos de los Equipos Electrnicos y Metrologa y
calibracin. Estndares bsicos. El primero de ellos desarrolla los trminos relativos al
concepto de medida, describe las fuentes de los errores y da la definicin de instrumentacin
y equipo electrnico. A continuacin se hace una clasificacin de los equipos electrnicos
atendiendo a diversos criterios, se presentan de modo global sus bloques constitutivos y se
introducen de forma general los sistemas de instrumentacin. En el segundo tema se definen y
desarrollan los conceptos de metrologa, calibracin y trazabilidad, de gran importancia a la
hora de especificar, valorar o mantener un sistema de medida. Para finalizar este tema se da
una completa lista de unidades y simbologa electrnica acorde con la normativa vigente.
La segunda unidad temtica est dedicada a los equipos electrnicos que trabajan en el
dominio temporal y frecuencial. Se realiza una descripcin del modo de funcionamiento y
utilizacin de los generadores de seal, los frecuencmetros y periodmetros, y los
analizadores de espectros. Este bloque contiene tres temas. El primero de ellos, titulado
Generadores de seal se inicia con el estudio de los generadores de funcin analgicos y
los sintetizadores sinusoidales pasando seguidamente a los sintetizadores de frecuencia
utilizados en aplicaciones de alta frecuencia. En los sucesivos apartados de este tema se
estudia el funcionamiento de los generadores de sntesis muestreada entrando en detalle a la
hora de describir los generadores de funcin arbitraria y los generadores de datos. El tema 4,
segundo de esta unidad temtica, aborda el estudio de los equipos dedicados a la medida de
frecuencias y tiempos haciendo hincapi en las tcnicas utilizadas, las especificaciones y el
anlisis de los errores. El tema 5, titulado Analizadores de espectros, acomete con
profundidad el estudio de los equipos utilizados para el anlisis de la seal en el dominio de la
frecuencia empezando por los analizadores de Fourier y de banco de filtros y finalizando con
los analizadores superheterodinos.
En la tercera unidad temtica se realiza el estudio de los equipos dedicados a la
caracterizacin de redes y componentes que constituye el segundo objetivo bsico del libro.
El tema 6 aborda el estudio de los equipos electrnicos utilizados para la medida de
impedancias tanto en forma escalar como vectorial y concluye con la descripcin del modo de
funcionamiento de los analizadores de impedancia y ganancia-fase. El siguiente tema, titulado
Analizadores de redes trata los equipos y dispositivos utilizados para el anlisis de redes y
componentes a muy altas frecuencias y el tema 8, Fuentes de alimentacin y cargas
electrnicas, estudia las fuentes de alimentacin y las cargas electrnicas o cargas dinmicas
PRESENTACIN
ii
CONTENIDOS
Parte 1 INTRODUCCIN Y CONCEPTOS BSICOS
1.
2.
iii
CONTENIDOS
5.
ANALIZADORES DE ESPECTRO................................................................ 63
5.1. Introduccin.............................................................................................. 63
5.2. Analizadores de Fourier ............................................................................ 64
5.3. Analizador con banco de filtros................................................................. 65
5.4. Analizador superheterodino ...................................................................... 66
5.4.1. Principio de funcionamiento .............................................................. 66
5.4.2. Resolucin en frecuencia y tiempo de barrido .................................... 68
iv
CONTENIDOS
7.
ANALIZADORES DE REDES....................................................................... 91
7.1. Conceptos previos..................................................................................... 91
7.2. Elementos de un analizador de redes......................................................... 93
7.2.1. Generador de seal............................................................................. 94
7.2.2. Separadores de seal .......................................................................... 94
7.2.3. Detectores y receptores ...................................................................... 97
7.2.4. Procesador y visualizador .................................................................. 98
7.3. Anlisis escalar y vectorial........................................................................ 99
7.4. Bibliografa............................................................................................... 99
8.
CONTENIDOS
vi
CONTENIDOS
vii
CONTENIDOS
viii
CONTENIDOS
ix
CONTENIDOS
1.
En este primer tema vamos a realizar un ligero repaso de los conceptos bsicos
relacionado con la medida y sus errores. Tambin introduciremos y clasificaremos los equipos
electrnicos y los actuales complejos sistemas de medida.
1.1.
Proceso de medida.
La medida es un proceso de cuantificacin del mundo que nos rodea [1]. Es una parte
esencial de la interaccin entre la humanidad y el mundo fsico. Las "cosas" de este mundo
tienen diversas caractersticas que pretendemos conocer mediante la medicin. Estas
caractersticas se describen mediante su magnitud asociada cuyo valor numrico es el que nos
ofrece la medida. El proceso de medida surge esencialmente de la comparacin de algo
desconocido con algo conocido, previamente caracterizado y que denominamos estndar o
patrn. La herramienta que nos permite la medida se denomina equipo de medida (a veces
llamado sistema de medida, instrumento, medidor, analizador, etc.).
El estndar o patrn es el elemento de referencia que permite y facilita el proceso de
medida asegurando su repetitividad y trazabilidad.
En la siguiente figura se muestran dos sencillos ejemplos de equipos de medida. El
primero de ellos, la balanza, est destinado a la medida de masas. En uno de los platillos se
colocan los patrones que se comparan con la masa desconocida para realizar la medida. Es un
caso ilustrativo del mtodo de medida por comparacin. En el segundo ejemplo, el
galvanmetro, la medida se realiza por el mtodo de deflexin donde se comprueba el efecto
de la magnitud a medir, una corriente elctrica, sobre un sistema calibrado. La medida no se
realiza mediante la comparacin directa con el patrn que slo es necesario para la calibracin
del equipo.
1.2.
Errores en los estndares. Los patrones pueden estar sujetos a cambios relacionados
con las condiciones ambientales y con su tiempo de vida. As por ejemplo, una barra de
determinado material que se utilizase como patrn de longitud estara influido por las
variaciones de temperatura ambiente que provocaran contracciones o dilataciones. Tambin
es posible que con el paso del tiempo alguna de sus propiedades mecnicas como la dureza,
flexibilidad, etc. cambiase provocando tambin variaciones de su longitud. Siempre ser
posible minimizar estos errores controlando las condiciones ambientales, compensando
posibles cambios o eligiendo materiales adecuados.
Errores sistemticos. Estos errores provienen de la imperfeccin de los equipos de
medida. Cualquier sistema de medida es por naturaleza fsicamente imperfecto. Por ejemplo,
la ganancia de un amplificador puede tener en un momento un determinado valor que puede
cambiar en el momento siguiente. La cota mxima de estos errores se ha de conocer y se
puede compensar o minimizar mediante la calibracin.
Errores de calibracin. Surgen del propio proceso de calibracin que se realiza para
un conjunto limitado de puntos de calibracin y que puede induce a errores en los procesos de
interpolacin entre estos puntos. El impacto de este tipo de error se reduce aumentando al
mximo el nmero de puntos de calibracin.
Errores de deriva (Drift). Est ocasionado por el cambio de las caractersticas del
equipo durante el tiempo o con las condiciones ambiente. Por ejemplo, un oscilador cristal
est caracterizado por una determinada frecuencia que puede variar con la temperatura, el
nmero de ciclos de trabajo o el tiempo total de funcionamiento. Este tipo de errores se
minimiza con una calibracin peridica o con sistemas de compensacin.
Errores aleatorios. Algunos errores de equipos no son constantes y cambian
aleatoriamente en cada medida a causa, por ejemplo, del ruido electromagntico ambiente, la
resistencia de contacto de los conectores de las sondas, etc. Se minimizan haciendo medidas
mltiples y un consiguiente tratamiento estadstico que nos permita promediar los valores
obtenidos o, an mejor, descartar las medidas errneas. Algunos de los equipos digitales
actuales ya contienen procedimientos de este tipo que actan de modo automtico y facilitan
notablemente el proceso de medida.
Errores del operador. El equipo de medida acta como interface entre la naturaleza y
el operador que no esta libre, por su condicin humana, de cometer errores en la lectura de los
resultados, los procesos de calibracin, la seleccin de parmetros de medida, etc.. Un
ejemplo clsico es el error de paralaje consecuencia de la dependencia de la lectura de un
instrumento de aguja con el ngulo de observacin.
1.3.
Instrumentacin: Ciencia que trata de los medios y mtodos utilizados para obtener y
procesar informacin acerca de diversas magnitudes.
Instrumentos electrnicos: Elementos captadores (sensores) basados en principios
electrnicos que se utilizan en instrumentacin.
Equipos electrnicos: Aparatos que incluyen instrumentos electrnicos utilizados en
aplicaciones cientficas o industriales.
Gracias a estas definiciones podemos distinguir fcilmente un instrumento de un
equipo. As por ejemplo, cuando se hable de un amplificador diferencial de instrumentacin o
2
una sonda termopar de temperatura, nos estaremos refiriendo a instrumentos electrnicos. Sin
embargo, cuando hablemos de un multmetro o un electrmetro (que incluye amplificadores
diferenciales) o de un termmetro electrnico (que incluye sondas termopar) nos referiremos
a equipos electrnicos. A continuacin vamos a realizar una clasificacin de los equipos
electrnicos en funcin de diversos criterios.
1.4.
Matriz de conmutacin,
digitalizador y procesador.
A
Ampermetro
Fuente de alimentacin
Visualizador
Otra clasificacin bsica que afecta a la mayora de los equipos actuales es la que
diferencia a los equipos en funcin de la tecnologa de sus componentes. De este modo
podemos diferenciar entre equipos analgicos y digitales. En los equipos analgicos todos los
sensados, clculos, la parametrizacin y la visualizacin se realizan mediante circuitos
analgicos. Mediante circuitos amplificadores, atenuadores, mezcladores, filtros,
multiplicadores y otros circuitos analgicos se realizan todos los clculos. La parametrizacin
se efecta mediante conmutadores y potencimetros y la visualizacin mediante sistemas
analgicos como pueden ser galvanmetros, tubo de rayos catdicos (TRC), etc. Este tipo de
equipos no dispone de memorias ni sistemas estndar de comunicacin.
En los equipos digitales los clculos, la parametrizacin y la visualizacin se realizan
mediante elementos gobernados por un sistema basado en microprocesador. Los instrumentos
y sistemas de sensado siguen siendo, por lo general, analgicos y las seales obtenidas por
ellos se digitalizan mediante convertidores analgico-digital (CAD). Estos equipos permiten
una mayor capacidad de clculo y de visualizacin, existiendo memorias de almacenamiento
y un sistema de comunicaciones basado en protocolos estndares (RS232, IEEE 488, etc.).
1.5.
1.6.
Sistemas de medida.
forman el sistema no tienen utilidad fuera de l, al contrario que los equipos que forman parte
de un sistema distribuido que tiene autonoma funcional propia fuera del sistema.
1.7.
Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
2.
Esta leccin trata de introducir los conceptos bsicos referentes a la metrologa, las
tcnicas de calibracin y los parmetros elementales que describen la calidad de los equipos
electrnicos. Finalmente se har un breve repaso a las unidades y smbolos estndar utilizados
en electrnica.
2.1.
2.2.
Tipos de Calibracin.
Existen dos tipos de calibracin que vienen caracterizadas por los diferentes procesos
a seguir durante el proceso de calibracin:
Con informe de calibracin. En este caso, el organismo encargado del proceso emite
un informe resultado de realizar una serie de medidas para determinar el valor obtenido y su
grado de incertidumbre. Este informe se efecta por un laboratorio certificado y es vlido para
un determinado periodo de tiempo.
Calibracin por tolerancia lmite. El organismo que realiza la calibracin etiqueta el
equipo tras asegurase que el equipo mide "dentro de tolerancias". Se requiere una calibracin
previa durante la cual se compara la medida del equipo con el patrn. Si existe una desviacin
mayor que la tolerada se realiza una reparacin o ajuste del equipo y posteriormente se
recalibra el sistema. Este proceso se repite tantas veces como sea necesario hasta conseguir
poner la medida dentro de tolerancias. En este punto podemos encontrar la diferencia que
existe entre dos trminos, calibracin y ajuste, que a menudo se confunden. La calibracin es
un simple proceso de comparacin, sin embargo, el ajuste (o reajuste) implica actuar sobre
algn parmetro o circuito del equipo.
2.3.
Requerimientos de la calibracin.
de corrosin, humedad, etc. Muestras todas de una condicin no normal de uso que
posiblemente sean consecuencia de fallos que exijan la recalibracin del equipo.
- Defecto elctrico. De un modo anlogo hemos de calibrar los equipos que hayan
sufrido algn dao elctrico como por ejemplo, rotura de fusibles, averas de los
sistemas de alimentacin, etc.
- Abuso de operacin. Tambin se recomienda la calibracin de aquellos equipos que
han sufrido las posibles consecuencias de un abuso de operacin como puede ser su
funcionamiento en ambientes extremos, transporte indebido, sobrecarga de los
circuitos de salida o saturacin de los de entrada, etc.
- Ajuste desautorizado. Aquellos equipos en los que personal no autorizado ha
10
2.4.
Metodologa de calibracin.
Generador
EP
Calibracin de un generador.
Medidor
EP
Generador
EC
Calibracin de un transductor.
Generador
EP
Transductor
EC
Medidor
EP
obligatorio ya que no es posible conectar en paralelo las salidas de los generadores. Lo mismo
puede ocurrir durante la calibracin del transductor asumiendo que estos equipos ofrecen una
baja impedancia de salida (al igual que los generadores). En ambos casos hemos representado
entre parntesis el nmero correspondiente al orden de conexin durante la calibracin.
Calibracin de un medidor.
Medidor
EC
Generador
Medidor
EP
Calibracin de un generador.
Generador
EC
Generador
EP
Medidor
(1)
(2)
Calibracin de un transductor.
Generador
Transductor
EC
Transductor
EP
(1)
Medidor
EP
(2)
12
2.5.
no requieren un proceso real de calibracin como pueden ser las dimensiones, color,
peso, etc.
- Especificacin de evaluacin. Se verifican determinadas caractersticas una sola vez
2.6.
La seleccin del equipo patrn depende del tipo de calibracin a efectuar. En el caso
de la calibracin por tolerancia lmite hay que tener en cuenta que en el peor de los casos, el
error que se obtiene en una determinada medida realizada es la suma de todos los errores
(tolerancias) posibles, esto es:
ET =
E
n =1
donde:
ET
E1
E2
E3
error total.
Tolerancia lmite.
Tolerancia a fondo de escala.
Tolerancia del tiempo de establecimiento de la medida.
13
(2.1)
E4
E5
E RSS = En2
n =1
(2.2)
En este caso, una relacin de exactitud de 1:4 (error de patrn 25% como mximo del
total) asegura que el termino (E5)2 sea totalmente despreciable. Este es el criterio inicial que
permite elegir la exactitud mnima del equipo patrn en los procesos de calibracin por
tolerancia lmite. Una vez realizado el proceso de calibracin se requiere un anlisis posterior
de los resultados para conocer si la eleccin del patrn con el criterio anterior es suficiente o
no. La metodologa utilizada para ello es la siguiente:
1. Si el error observado en la medicin es menor que (E1E5) la eleccin es correcta.
2. Si el error observado en la medicin es mayor que (E1+E5) la eleccin no es
correcta.
3. Si el error observado en la medicin es mayor que (E1E5) pero menor que (E1+E5)
se recomienda mejorar la exactitud del equipo patrn.
En cuanto a la calibracin con informe de calibracin, en general, se acepta la eleccin
de un equipo patrn cuya relacin de exactitud se igual o mejor que 1:10 (error del 10% del
especificado para el equipo de medida a calibrar).
2.7.
2.8.
14
15
16
17
2.9.
Los smbolos grficos que se debe utilizar en los diagramas electrnicos vienen
determinados por la norma IEC 60617 dictada por el organismo IEC (International
Electrotechnical Commission). Esta norma contiene una base de datos de cerca de 1400
smbolos grficos. Cada uno de ellos est descrito por una ficha como la que se presenta en la
figura 2.3.
18
IEC 60617-10 (1996) Graphical symbols for diagrams - Part 10: Telecommunications:
Transmission
IEC 60617-11 (1996) Graphical symbols for diagrams - Part11: Architectural and
topographical installation plans and diagrams
IEC 60617-12 (1991) Graphical symbols for diagrams - Part 12: Binary logic elements
IEC 60617-13 (1993) Graphical symbols for diagrams - Part 13: Analogue elements
(IEC 61734 (1997) Application of IEC60617-12 and
IEC 60617-13 standards)
19
NTC
PTC
CONDENSADOR NO POLARIZADO
TRANSISTOR PNP
CONDENSADOR POLARIZADO
TRANSISTOR NPN
CRISTAL
MOSFET P
RESISTENCIA
MOSFET N
RESISTENCIA VARIABLE
TIRISTOR
RESISTENCIA NTC
TRIAC
RESISTENCIA PTC
REL
POTENCIMETRO
CONMUTADOR
FUSIBLE
PULSADOR
LMPARA
TRANSFORMADOR
BATERA
AMPERMETRO
DIODO
VOLTMETRO
DIODO SCHOTTKY
FUENTE DE CORRIENTE
DIODO ZENER
FUENTE DE TENSIN
DIODO LED
OPTOACOPLADOR
3
2
1
2
1
2
6
3
5
4
7
6
3
5
4
5
4
3
6
7
12
11
14
15
+
-
&
S
C1
1D
R
S
1J
C1
1K
R
1
2
1
2
EN1
S2
R 1,2
2
9
10
1
2.10. Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] http//www.iec.ch, pgina web del International Electrotechnical Commission
(IEC).
[3] http//www.bipm.fr, pgina web del Bureau International des Poids et Mesures
(BIPM).
[4] The International System of Units (SI), Organisation Intergouvernementale de la
Convention du Mtre. BIPM.
[5] Librera IEC\Device.olb y otras de OrCAD Capture, OrCAD. Inc.
21
22
3.
GENERADORES DE SEAL
3.1.
Introduccin.
Adems se deben exigir otros requisitos opcionales que varan segn el tipo de
generador de seal y que enumeraremos en los apartados correspondientes.
3.2.
Generadores de funcin.
23
Ajuste de
frecuencia
Ajuste de
amplitud
VCO
Modulacin
FM
Ciclo til
Seleccin de
forma de onda
Modulacin
AM
3. GENERADORES DE SEAL
amplificador operacional OAMP acta como inversor) mientras que el comparador COMP2
determina la descarga hasta el valor V2 mediante la fuente superior atendiendo al cronograma
de la figura 3.4. Por lo tanto, se obtiene una seal triangular Vt cuya amplitud y nivel de
tensin de offset se puede fijar mediante la programacin de los valores V1 y V2. Adems, se
obtiene una seal rectangular Vc en la salida del biestable. La frecuencia de las salidas viene
determinada por la tensin de entrada Vf y el ciclo de trabajo por el ajuste de la entrada D
(con valores de 0 a 1) que fija el valor de la tensin de control de cada VCCS.
+Vcc
C
Vt
VCCS
D
Vf/D
Vf
Vf/(1-D)
SW
+
-
2
3
1
V1
VCCS
3
2
+
-
OAMP
COMP1
Vc
V2
2
3
+
-
-Vcc
COMP2
V1
Vt
V2
Vc
T1
T2
T1 =
f =
kVf
1
=
T1 + T2 C (V1 V2 )
25
(3.1)
(3.2)
(3.3)
DnA
DnB
RnA
RnA
RnB
RnB
+Vsn
-Vs2
D2A
R2A
D2B
R2A
R2B
R2B
+Vs2
-Vs1
D1A
CELDA
BSICA
R1A
D1B
R1A
R1B
R1B
R2
2
3
+
-
Ve
R1
+Vs1
RiA=RiB i=1..n
1
Vs
2
A2 VOk
(3.4)
Vi
donde VOk es la tensin de cada uno de los umbrales de conduccin de los diodos a partir del
cual cambia la ganancia G de circuito. A es la amplitud de la seal sinusoidal generada y Vi es
la amplitud de la seal triangular de entrada. El signo negativo se justifica puesto que la
configuracin del circuito elegido es inversora.
G (VOk ) =
26
3. GENERADORES DE SEAL
Vs2
Vs1
Vs1
Vs3
Vs2
Vs1
3.3.
Sintetizador de frecuencia.
27
1/N
DF
F(s)
VCO
f0
1/M
Figura 3.8. Sintetizador indirecto bsico de frecuencia.
Para el circuito anterior la frecuencia de salida viene dada por: f 0 = f r
tanto, la resolucin es:
M
y por lo
N
fr
N
28
3. GENERADORES DE SEAL
fr
1/N
DF
F(s)
f0
1/P
VCO
1/M
fr
1/N
fr
N
f2
, la frecuencia de
P2
M1 M 2
f 1
F1(s)
1/P1
VCO
f0
1/M1
1/P2
DF
F2(s)
VCO
1/M2
M
i
i =1
n
j =1
Pj
f
f n
donde se asume que f i 1 > i . La resolucin viene dada por: r Pi
Pi
N i =1
29
(3.5)
1
fr
1/N
DF
F1(s)
1/P1
VCO
f0
1/M1
1/P2
DF
F2(s)
VCO
1/M2
1/Pn
DF
Fn(s)
VCO
1/Mn
3.4.
Sntesis muestreada.
La teora del muestreo nos dice que es posible reconstruir una seal a partir de una
secuencia uniformemente espaciada de datos almacenados en memoria y provenientes de una
adquisicin previa. El criterio de Nyquist limita tericamente la frecuencia mxima de esta
seal al menos a la mitad de la frecuencia de muestreo, aunque en la prctica se exige un
sobremuestreo para mejorar la calidad de la seal. En el proceso de la sntesis muestreada,
30
3. GENERADORES DE SEAL
tambin llamada sntesis digital directa (DDS), se utiliza una tabla de datos, correspondientes
a una determinada forma de onda, cuya variable de entrada es la fase y cuya salida es la
amplitud correspondiente que pasa a la salida a travs de un convertidor digital analgico y un
filtro paso bajo el cual realiza un proceso de interpolacin analgica para eliminar los
escalones de la forma de onda provenientes de la conversin.
En la siguiente figura podemos ver el diagrama de bloques de un generador por
sntesis muestreada.
Constante
de frecuencia
+
Acumulador
de fase
Registro
Reloj
Tabla de la
forma de onda
D/A
FPB
Salida
sintetizada
31
Figura 3.14. Proceso de sntesis de una seal sinusoidal. (1) Seal ideal. (2)
Salida del D/A. (3) Salida filtrada.
A continuacin vamos a enumerar las ventajas de la sntesis muestreada:
-
Gran velocidad de cambio de frecuencia ya que el tamao del paso de fase puede
cambiar de uno al siguiente y, por lo tanto, la frecuencia de la seal de salida.
32
3. GENERADORES DE SEAL
-
Calidad de seal (signal purity). Esta especificacin afecta a todos los sistemas que,
como estos, trabajan en el dominio de la frecuencia y determina la degradacin del
espectro de la seal de salida respecto del espectro ideal. Se suelen dar los siguientes
parmetros:
-
33
3.5.
Seales espreas. Son seales no armnicas que aparecen en la salida que suelen
provenir del defecto de filtrado de los escalones entre los diferentes niveles de
salida del convertidor digital analgico. Tambin aparecen cuando se selecciona un
cambio de frecuencia de salida. Se suele especificar tambin en magnitud
logartmica.
Este tipo de generadores (en ingls AFG arbitrary function generator o AWG arbitrary
waveform generator) basados en el funcionamiento de los generadores de sntesis muestreada,
permite generar seales con formas de onda diversas almacenadas en memoria o con otras de
generacin manual (configuradas desde panel frontal o teclado) o adquiridas mediante
diversas herramientas (sistemas de clculo matemtico, simulacin, CAD, etc.) o equipos
electrnicos (osciloscopios digitales, analizadores lgicos, etc.).
La diferencia bsica entre AFG y AWG estriba nicamente en la potencia de
almacenamiento, adquisicin y edicin del generador. En un AFG se dispone de una librera
bsica de formas de onda y los procesos de adquisicin y edicin de nuevas formas de onda
esta limitado. Para un AWG todas estas caractersticas estn notablemente mejoradas. Todas
las caractersticas y especificaciones introducidas para los sintetizadores de muestreo son
vlidas para describir a los generadores de funcin arbitraria. En la figura 3.15 se muestra el
frontal de uno de estos equipos.
34
3. GENERADORES DE SEAL
Constante
de frecuencia
+
Acumulador
de fase
Registro
Reloj
Carga de formas
de onda
Tabla en RAM de la
forma de onda
FPB
D/A
Salida
sintetizada
Acumulador
de fase
Memoria
DAC
Filtro
Ampl.
Visualizacin
y control
Comunicaciones
35
3.6.
Edicin grfica.
Escalado.
Operadores algebraicos.
Generadores de datos.
Este ltimo tipo de fuente de seal, los generadores de datos DG (data generator), es
una herramienta especializada para los ensayos de equipos digitales donde los generadores
36
3. GENERADORES DE SEAL
37
AFG o AWG ningn convertidor digital/analgico puesto que no son necesarios ya que la
salida de un DG es digital.
(a)
(b)
(c)
3.7.
Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] An Overview of Signal Source Technology and Applications, Tektronix (nota
de aplicacin).
38
3. GENERADORES DE SEAL
Anexo 1
A. Determinacin de la ganancia de las celdas de un sintetizador sinusoidal.
Inicialmente simbolizamos el circuito sintetizador de onda sinusoidal como el de la
figura 3.22, un amplificador de ganancia G cuya entrada es la seal triangular Vi y su salida la
seal VO.
Vi
Vi
VO
2
T
(3.6)
As se debe de cumplir:
dV
VO ' = O = A cos( t )
(3.7)
dt
Combinando adecuadamente las anteriores expresiones y utilizando una relacin
trigonomtrica se obtiene:
2
2
'
VO VO
+
=1
A A
Adems, a partir de la figura 3.22 es fcil deducir:
2 Vi
G Vi
= 2 G Vi f =
T
(3.8)
(3.9)
G Vi
2
VO +
(3.10)
=A
Despejando el valor de G, tomando valores (tantos como celdas bsicas contenga el
circuito) y teniendo en cuenta el signo menos correspondiente a la caracterstica negativa de la
ganancia del circuito de la figura 3.5 se obtiene la expresin final de la ecuacin 3.4.
2
2
A2 VOk
(3.11)
Vi
donde k es el ndice correspondiente a cada una de las n celdas y, por lo tanto, k = 1 .. n.
G (VOk ) =
39
40
4.
4.1.
Introduccin.
Esta leccin trata del anlisis de los equipos que se encargan de medir tiempo y
frecuencia. Realizaremos un estudio de la configuracin bsica de estos equipos, el contador
convencional, de los tipos de medida que con l se pueden realizar, de los circuitos auxiliares
y de acondicionamiento de la seal necesarios y de las fuentes de error, de la exactitud de las
medidas y dems especificaciones abordando, adems, el estudio de modernas tcnicas de
medida que minimicen los errores (contadores recprocos). Tambin se introducirn los
equipos para la medicin de frecuencias en el espectro de las microondas.
4.2.
Contadores convencionales.
4.2.1. Conceptos bsicos.
n
t
(4.1)
41
42
T =
t
n
(4.2)
43
44
Figura 4.5. Medida del intervalo de tiempo th mediante el ajuste del nivel de
disparo.
En las figura 4.6 se muestra como ejemplo otros usos de medidores de intervalo de
tiempo para la medicin de desfases o retrasos entre seales (a) y de tiempos de subida (o
bajada) de los flancos de una seal (b).
(a)
(b)
Figura 4.6. Medida de la fase entre seales (a) y del tiempo de subida (b).
4.2.6. Otras funciones del contador convencional.
Contador en modo totalizador. En este caso la puerta principal est controlada por
una seal Start/Stop proveniente del panel frontal de control del contador o de una entrada
auxiliar. Durante el estado activo de esta seal la entrada pasa al registro que acumula la
cuenta de la totalidad de los eventos de la seal de entrada durante este tiempo. Ntese que en
este tipo de contadores no se utiliza la base de tiempos.
Contadores normalizadores. Estn configurados como frecuencmetros y visualizan
un valor que corresponde a la medida de la frecuencia multiplicada por una constante
previamente especificada. Se utilizan para calibrar una medida fsica que se obtiene mediante
45
un determinado sensor con salida en frecuencia. Como ejemplo se pueden citar los medidores
RPM (revoluciones por minuto) o los caudalmetros rotativos.
Contadores preseteados. Son aquellos a los que se les ha aadido un circuito auxiliar
cuya salida informa si la cuenta acumulada en el registro excede un valor previamente
determinado (preset). Un ejemplo sera el del medidor RPM de un automvil capaz de cortar
la inyeccin de combustible al sobrepasar un determinado valor de revoluciones del motor.
Contadores preescalados. En un contador convencional configurado como
frecuencmetro existen varios circuitos que limitan la mxima frecuencia que es posible
medir. Si nos olvidamos momentneamente de las limitaciones que provienen del circuito de
acondicionamiento de entrada, los lmites vienen dados principalmente por la velocidad de la
puerta principal y del registro de almacenamiento. Una posible solucin para aumentar el
lmite superior del rango de frecuencias se plantea en la figura 4.7 en la que se ha intercalado
un divisor por N (preescalado) de la seal de entrada justo antes de la puerta. Una correcta
configuracin de la indicacin en el visualizador (multiplicada por N) permite mostrar la
frecuencia real.
En este caso se realiza una medida de frecuencia promedio que permite aumentar el
rango de frecuencias (multiplicada por N) sin tener que mejorar las prestaciones de la
circuitera digital del contador y, por lo tanto, su coste. Como contrapartida, se pierde
resolucin y velocidad de medida (ambas divididas por N). En este tipo de contadores no ser
posible realizar cuentas totalizadas en el extremo superior del rango de frecuencias ampliado.
4.3.
Elementos y
convencional.
especificaciones
(prestaciones)
de
un
contador
46
EON EOFF
2 2
(4.3)
47
y (c) s, ya que se han tomado valores adecuados del nivel de disparo VC respecto del
nivel de referencia.
49
Los osciladores RTXO son aquellos que han sido fabricados para tener un cambio
mnimo de su frecuencia de resonancia en un determinado rango de temperatura de
operacin normal (tpico entre 0C y 50C). Con una buena seleccin y tallado de los
cristales se pueden conseguir osciladores RTXO de calidad con variaciones de
frecuencia de 2,5 10-6 (2,5 ppm o 2,5 partes por milln) sobre un rango de 0C y 50C.
La figura 4.14 muestra el circuito equivalente de un cristal de cuarzo. Todos los
componentes estn determinados por las propiedades fsicas del cristal y dependen,
entre otros factores, principalmente de la temperatura.
C0
C1
L1
R1
50
2.
3.
51
52
4.4.
EOFF
T1
T2
2.
Error de retraso por nivel de trigger. Para medidas de tiempo aparece este error
que es consecuencia de la incertidumbre sobre el nivel real de la seal de entrada
donde se produce la transicin a la salida del Schmitt. Este error no est producido
por ruido sino por offset o derivas del nivel de disparo o por el insuficiente
conocimiento del actual valor de la histresis del comparador que queda definido
al configurar la sensibilidad del contador. En la figura 4.19 se ofrece un ejemplo
para el cual el error de retraso por nivel de trigger TLTE queda definido por el
cociente entre la incertidumbre de nivel de disparo y la pendiente de trnsito (slew
rate) de la seal de entrada en las proximidades del nivel de trigger seleccionado.
En la mayora de los casos no es posible medir el valor del nivel real de disparo
(actual trigger point) con lo que se puede aproximar el error de nivel de trigger
(trigger level error) como la mitad de la amplitud de la histresis definida en el
comparador Schmitt.
(4.4)
(4.5)
1,4 x 2 + e n
V T
(4.6)
(4.7)
55
(x
(V
+ e nA
T ) A
) + (x
2
(V
+ e nB
T ) B
)
2
(4.8)
4.5.
Contadores recprocos
Los contadores recprocos son una nueva clase de circuitos que mejoran la exactitud
en la medida de frecuencias que se que realiza de modo indirecto (inversa aritmtica) a travs
de la medicin del periodo de la seal de entrada. Este mtodo aporta dos ventajas
fundamentales:
-
Se puede realizar una medida de frecuencia en tiempo real ya que sta se obtiene
mediante la contabilizacin de la duracin de cada uno de los periodos de la seal de
entrada.
56
4.6.
57
N
N
T = N 0 + 1 2 100 ns
1000 1000
(4.9)
N
M
con N Z y M = N + 1 TTPO = T0 1 +
N
(4.10)
(N1 N 2 )
T = T0 N 0 +
N
(4.11)
59
4.7.
4.8.
Bibliografa.
[1] Fundamentals of the Electronic Counters. AN 200. Hewlett-Packard Company.
1997.
[2] Fundamentals of Quartz Oscillators. AN 200-2. Hewlett-Packard Company.
1997.
[3] Fundamentals of Time Interval Measurements. AN 200-3. Hewlett-Packard
Company. 1997
61
62
5.
ANALIZADORES DE ESPECTRO
5.1.
Introduccin.
En esta leccin vamos a abordar el estudio de los equipos que analizan la seal en el
dominio de la frecuencia, en concreto de los analizadores de espectro. Todas las seales
elctricas pueden describirse en el dominio del tiempo o de la frecuencia. La funcin del
analizador de espectros es mostrar las caractersticas frecuenciales de las seales de entrada
mediante clculos u otras operaciones.
63
5.2.
Analizadores de Fourier.
5. ANALIZADORES DE ESPECTRO
despus de que la forma de onda de entrada estuviese presente. Por otra parte, se considera
que la seal es peridica, con lo que se obtiene un espectro de lneas. Finalmente, el rango de
frecuencias de entrada debe restringirse a no ms de la mitad de la frecuencia de muestreo
para evitar el 'aliasing'. Por ello, y dadas las limitaciones de velocidad de los ADC, estos
analizadores estn restringidos a bajas frecuencias ( < 200kHz).
5.3.
65
5.4.
Analizador superheterodino.
5.4.1. Principio de funcionamiento.
66
5. ANALIZADORES DE ESPECTRO
Level y se usa el escalado por divisin (control Scale Factor) para asignar valores a las otras
posiciones de la retcula.
67
5. ANALIZADORES DE ESPECTRO
Cuanto menor sea este cociente ms selectivo es el filtro y, por tanto, podr resolver
seales de distinta amplitud ms fcilmente. Con filtros analgicos se puede conseguir una
selectividad que vara desde 25:1 en filtros estndar hasta 11:1 en los filtros de perfil ms
estrecho.
Para determinar la capacidad de un filtro para resolver seales prximas en frecuencia
se puede utilizar la expresin 5.1 que proporciona la diferencia de amplitud mnima que deben
de tener las seales para que puedan ser observadas en funcin de la separacin de sus
frecuencias y de las caractersticas del filtro.
3dB
donde:
Offset
BW3dB
BW60dB
Dif60,3dB
=
=
=
=
BW3dB
2
Dif 60, 3dB
BW3dB
Offset
BW60 dB
2
(5.1)
69
SPAN
RBW 2
(5.2)
5. ANALIZADORES DE ESPECTRO
Figura 5.20. Deteccin de un grupo de seales dentro del ancho de banda del
filtro IF.
Los analizadores muestran las seales ms su propio ruido interno. Para reducir el
efecto del ruido en la amplitud de la seal mostrada a menudo se suaviza o promedia, lo que
se consigue con el filtro de vdeo. Este filtro es un filtro pasabajos que est a continuacin del
detector. A medida que el ancho de banda del filtro se hace igual o menor al ancho de banda
72
5. ANALIZADORES DE ESPECTRO
del filtro de resolucin seleccionado, el sistema de vdeo no puede seguir las rpidas
variaciones de la envolvente de la seal que pasa a travs de la cadena IF. El resultado es un
promediado o suavizacin de la seal.
Figura 5.21. Visualizacin de una seal sin filtrado de vdeo (izquierda) y con un
filtrado de vdeo de 300 Hz (derecha).
El filtro de vdeo debe tener, para ser efectivo, una ancho de banda VBW (video band
width) menor o igual que el RBW. El VBW influye en la velocidad de barrido de igual modo
que el RBW. As, se puede volver a escribir la ecuacin 5.2 teniendo en cuenta el filtrado de
vdeo como:
ST = k
SPAN
SPAN
k
RBW VBW
RBW 2
(5.3)
Figura 5.22. Visualizacin de una seal con filtrado de vdeo (izquierda) y con
promediado de vdeo (derecha).
73
74
5. ANALIZADORES DE ESPECTRO
La figura de ruido proporciona la diferencia entre el caso real y el ideal: una figura de
ruido de valor NF significar que una seal sinusoidal debe estar NFDB por encima de los
-174dBm para ser igual al ruido medio mostrado. Para determinar la figura de ruido del
analizador a partir de la sensibilidad se deber medir la potencia de ruido en algn ancho de
banda, calcular la que se habra medido en un ancho de banda de l Hz y compararla con los
-174dBm.
Una razn para introducir la figura de ruido es que ayuda a determinar el provecho que
se puede derivar de utilizar un preamplificador. Colocando un preamplificador adecuado
frente al analizador, puede obtenerse un sistema (preamplificador/analizador) con una figura
de ruido menor que la del analizador solo. Sin embargo, se reduce el rango dinmico de
medida.
75
de entrada pueden generarse seales espreas mientras que hasta el punto de ldB pueden
hacerse medidas exactas, sin obtener errores en la amplitud de salida.
5.4.6. Rango dinmico.
El rango dinmico del analizador se define como el rango de seales entre la ms
pequea que puede ser detectada por encima del nivel de ruido del sistema y la mayor seal
que no provoca seales espreas mayores que la menor seal que puede ser observada. Uno
de los factores que afectan al rango dinmico del analizador es el comportamiento no lineal
del mezclador, que introduce distorsin armnica e intermodulacin.
Tpicamente las seales espreas son debidas a la intermodulacin.
La
intermodulacin de segundo orden no acostumbra a ser un problema (los productos cruzados
resultantes estn muy separados de las frecuencias de inters), siendo la de tercer orden la ms
importante. El punto de interseccin de tercer orden (third order intercept, TOI) es un trmino
que describe la habilidad de un analizador de mostrar seales que entran en el primer
mezclador sin crear productos de distorsin. Este es el punto en que los productos de
distorsin de tercer orden creados por el mezclador son iguales en amplitud a la propia seal.
Aunque este punto nunca se alcanza en la prctica porque el mezclador se satura mucho antes,
su conocimiento permite predecir el nivel de seales espreas que se producirn cuando una
seal de una determinada amplitud se aplica al primer mezclador.
76
5. ANALIZADORES DE ESPECTRO
5.4.7.
Una vez descrita la estructura del analizador y las especificaciones que de ella se
derivan, veamos a continuacin la exactitud en las medidas de frecuencia y amplitud, tanto
absolutas como relativas.
En cuanto a la frecuencia absoluta, se especifica generalmente la incerteza en la
frecuencia central. Para la frecuencia relativa se debe considerar la incerteza en el span, que
se refiere a la incerteza en la separacin de dos componentes cualesquiera en la pantalla.
Debe tenerse en cuenta que no puede darse un error exacto para la frecuencia a no ser
que se sepa algo sobre la referencia de la frecuencia. As, por ejemplo, se requiere saber
cundo fue ajustado el oscilador por ltima vez y cmo de cerca se ajust a la frecuencia
nominal, as como su deriva con el tiempo (que el fabricante especifica).
La exactitud absoluta en las medidas de amplitud queda fundamentalmente afectada
por la calibracin. Los factores que afectan a la exactitud de las medidas relativas de
amplitud son: la respuesta en frecuencia (o flatness), la fidelidad de la visualizacin (que
incluye la caracterstica del amplificador logartmico y la linealidad del detector y de los
circuitos de digitalizacin), y los posibles errores que se puedan inducir al cambiar los
controles durante la medida.
5.4.8.
Medida de ruido.
Para acabar, nos centraremos en las medidas de ruido, es decir, ahora es el ruido
aleatorio presente en la entrada del analizador la seal a medir. Debido a la naturaleza del
ruido, el analizador superheterodino proporciona un valor que es menor que el valor real.
Analizaremos el caso de ruido aleatorio con una distribucin gaussiana. El ruido
blanco gaussiano a la entrada (con valor rms ) se limita en banda a medida que atraviesa la
cadena IF, de forma que el valor medio de su envolvente es 1.253. Pero el analizador es un
voltmetro que responde al valor de pico calibrado para indicar el valor rms de una onda
sinusoidal. Para convertir el valor de pico a rms, el analizador escala su lectura en un factor
0.707 (-3dB). El valor medio del ruido se escala por el mismo factor, proporcionando una
lectura que es igual a 0.886, es decir, 1.05dB por debajo de . As, debe aadirse 1.05dB al
valor mostrado para corregir el error cometido.
Normalmente se utiliza el analizador en el modo logartmico, que aade un error
adicional en la medida de ruido. Se ha estimado que el valor medio que se obtiene en este
caso est otros 1.45dB por debajo. De este modo, en la visualizacin logartmica, el valor
medio del ruido se muestra 2.5dB por debajo del real.
Otros factores que pueden requerir la adicin de correcciones adicionales son el hecho
de que el analizador proporciona una medida que es la suma de las potencias de ruido interno
y externo y que el ancho de banda de resolucin no coincide con el ancho de banda de ruido
equivalente. Muchos analizadores controlados por microprocesador realizan automticamente
todas estas correcciones, proporcionando la potencia de ruido normalizada a un ancho de
banda de l Hz.
5.5.
Bibliografa.
[1]
77
[2]
[3]
78
6.
MEDIDORES DE IMPEDANCIA
En esta leccin vamos a mostrar los equipos bsicos para la medicin de la impedancia
de componentes o redes para una frecuencia dada, como se hace en los distintos medidores de
impedancia que estudiaremos, o para un rango amplio de frecuencias, como se hace en los
llamados analizadores de impedancias. Iniciaremos este estudio introduciendo conceptos
bsicos y dando mtodos de modelizacin y caracterizacin de impedancias reales. Se
mostraran, por lo tanto, equipos que determinan los valores de inductancia y capacidad de
determinadas impedancias (dipolos) en un caso, o del mdulo y fase del vector impedancia en
otro. Extendiendo este tipo de equipos a circuitos cuadripolos se mostraran tambin los
equipos denominados medidores de ganancia /fase,
6.1.
Introduccin.
79
Figura 6.2. Expresiones para las combinacin serie y paralelo de parte real e
imaginaria en el uso de impedancias y admitancias.
La reactancia tiene dos formas: inductiva (XL) y capacitiva (XC) en funcin del signo
de la parte imaginaria de la impedancia positivo en el primer caso (Z=R+jXL) y negativo en el
segundo (Z=RjXC). Por definicin se tiene que XL=L=2fL y XC=1/(C)=1/(2fC) donde
f es la frecuencia, L la inductancia y C la capacidad. De un modo similar se pueden dar
expresiones equivalentes para la admitancia como puede verse el la figura 6.3, donde adems
aparece definido el factor de calidad (Q) que sirve para evaluar la pureza de un componente
reactivo (condensador o inductancia).
80
6. MEDIDORES DE IMPEDANCIA
6.2.
Circuitos equivalentes.
81
6.3.
Mtodos de deflexin.
Vin
V
R
RVin
2
R +
2fC
2
82
luego
C=C(V)
(6.1)
6. MEDIDORES DE IMPEDANCIA
L
Vin
V
R
RVin
R + (2fL )
2
luego L=L(V)
(6.2)
Para conseguir una medida correcta hemos de tener una amplitud de V suficiente para
asegurar la resolucin y minimizar errores. Esto no es siempre posible. Por ejemplo: para
valores grandes de C y una determinada frecuencia de Vin, podemos obtener amplitudes de V
muy pequeas. Sin embargo, siempre podremos tener unos valores distintos calibrados de R o
de la frecuencia de Vin para conseguir una correcta medida.
6.3.2. Mtodo del desfase.
Ahora vamos a evaluar el valor de la L o C desconocida midiendo el desfase entre una
seal de excitacin de amplitud y frecuencia conocida y la obtenida en el punto medio de la
conexin serie de la impedancia y una resistencia calibrada.
Para medir condensadores el circuito es como el de la figura 6.9:
Vin
FASMETRO
R
C
= arctg C = arctg
R
2 f R C
(6.3)
1
2 f R C
83
(6.4)
y por lo tanto:
C
1
2 f R
(6.5)
Vin
FASMETRO
R
L
R
R
(6.6)
teniendo en cuenta la aproximacin del arcotangente para ngulo pequeos se puede expresar:
2 f L
R
(6.7)
R
2 f
(6.8)
y por lo tanto:
L
V2
=1
XOR
Vout
C
84
6. MEDIDORES DE IMPEDANCIA
V1
V2
Vout
2 f L X
;
RX
f =
1
2 LX C
(6.9)
f =
85
1
2 LC X
(6.10)
En este caso el oscilador tiene que ser de corriente y la medicin de Q se hace con un
ampermetro en serie con el condensador, ya que Q es igual al cociente entre la corriente del
condensador (o del inductor + resistencia) y la del oscilador que se puede normalizar
(amplitud unidad).
6.3.4. Otros mtodos por deflexin.
Adems de los ya citados existen otros mtodos como son:
-
Vin
V
I
(6.11)
Cx
V(t)
V (t ) = V (1 e )
(6.12)
A
I(t)
I
R
Lx
6. MEDIDORES DE IMPEDANCIA
donde:
I (t ) = I (1 e )
(6.13)
6.4.
Mtodo de comparacin.
(6.14)
Z1 Z 3
Z2
(6.15)
y por lo tanto:
ZX =
Z1 Z 3
Z2
X = 1 + 3 2
87
(6.16)
6.5.
CAG
|V|
|Z|
Vin
|I|
BPF
FASMETRO
arg Z
6.6.
Analizadores de impedancia.
CAG
|V|
|Z|
Vin
|I|
BPF
FASMETRO
CONTROL
88
arg Z
6. MEDIDORES DE IMPEDANCIA
6.7.
BPF
CAG
|V2|
CUADRIPOLO
|G|
Vin
|V1|
BPF
FASMETRO
arg G
CONTROL
6.8.
Bibliografa
[1] Agilent Technologies. Impedance Measurement Handbook 2nd Edition.
[2] Greg Amorese. RF Impedance Measurement Basics. Hewlett-Packard Company.
89
90
7.
ANALIZADORES DE REDES
En esta leccin vamos a mostrar los equipos bsicos para la medicin de redes y
componentes a altas frecuencias donde la longitud de onda de las seales son del mismo orden
que las dimensiones del circuito bajo ensayo. Para frecuencias bajas y medias las redes
elctricas se comportan como circuitos clsicos formados por sus componentes bsicos ms
los correspondientes elementos parsitos. Sin embargo, para frecuencias por encima de 1
GHz la energa puede ser considerada como ondas de luz y los circuitos como lentes o
similares. En estos casos, en vez de medir tensiones o corrientes en el circuito, resulta ms
apropiado describir cmo se transmiten o reflejan las ondas a travs de los componentes o
conductores del circuito. Los analizadores de redes NA (network analyzer) son los equipos
dedicados a caracterizar estos circuitos en funcin de la frecuencia en el rango de radio
frecuencias (hasta 3 GHz) o microondas (de 3 a 30 GHz).
7.1.
Conceptos previos.
Dado un dispositivo para muy altas frecuencias (por ejemplo una lente para el caso de
ondas de luz) sometido a una onda incidente R, sta se transforma en otras dos: una reflejada
A desde el dispositivo y otra transmitida B a travs de l. Para medir las relaciones entre las
diferentes amplitudes y las fases relativas entre estas ondas es necesario definir algunas
magnitudes como las que aparecen en la figura 7.1.
VINCIDENTE
VREFLEJADA
Z0
ZL
=
=
=
=
=
VREFLEJADA Z L Z 0
=
VINCIDENTE Z L + Z 0
coeficiente de reflexin
onda incidente al dispositivo bajo ensayo (DBE)
onda reflejada por el DBE
Impedancia caracterstica del medio de transmisin
Impedancia de entrada del dispositivo bajo ensayo
=
donde:
(7.2)
donde:
(7.1)
1+
1
(7.3)
VTRANSMITIDA
VINCIDENTE
(7.4)
(7.5)
donde:
T = coeficiente de transmisin
VTRANSMITIDA = onda transmitida a travs del DBE
=T
donde:
donde:
(7.6)
(7.7)
(7.8)
(7.9)
7. ANALIZADORES DE REDES
7.2.
94
7. ANALIZADORES DE REDES
95
96
7. ANALIZADORES DE REDES
La entrada del power splitter se separa equilibradamente entre sus dos ramas con una
atenuacin de 6dB en cada una. Mediante este circuito se realiza una medida con muy buena
adaptacin a la fuente (resistencias de 50) adems de tener una buena respuesta en
frecuencia en todo el rango de medida. Por esta razn este tipo de separadores es apropiado en
el rango bajo de las frecuencias de un analizador de redes.
Puntas de prueba de alta impedancia. Su uso se limita a aquellos circuitos cuyas
impedancias caractersticas sean distintas de las tpicas de 50 o 75 (baja impedancia). Es
importante que la impedancia de la punta de prueba sea suficientemente grande respecto de la
del circuito bajo ensayo para minimizar el efecto de carga.
7.2.3. Detectores y receptores.
La misin de estos circuitos es convertir la seal de alta frecuencia (RF o microondas)
en una seal de menor frecuencia susceptible de un anlisis ms sencillo. Existen bsicamente
dos tipos para analizadores de redes que son:
Diodo detector. Es la solucin ms simple y econmica en la que se aprovecha la
caracterstica propia del diodo para detectar la amplitud de la seal.
97
a)
b)
Figura 7.13. Comparacin de las respuesta del detector diodo (a) y receptor
sintonizado (b).
7.2.4. Procesador y visualizador.
Una vez se ha detectado la seal de RF o microondas, el siguiente paso a realizar
dentro del analizador de redes consiste en el proceso y visualizacin de las cantidades
medidas. Para ello se recurre a sistemas digitales basados en circuitos con DSP o
microprocesador que, partiendo de la seal de salida del receptor o detector previamente
digitalizada (ver etapa de salida en figura 7.12), realizan los clculos pertinentes para obtener
los parmetros elegidos para describir el comportamiento de la red bajo ensayo.
Los analizadores de redes actuales son receptores multicanal que utilizan uno de los
canales como referencia y al menos otro ms como canal de ensayo. El proceso interno
permite la medida de nivel absoluto de amplitud de los canales o medidas relativas tanto de
amplitud como de fase entre canales. Las medidas relativas se dan en dB y las fases en grados,
determinando el canal de referencia el origen de fases.
Tambin es posible configurar el analizador para el uso de marcadores, cursores y
lneas de lmite, para la visualizacin en formato lineal o logartmica, o para la obtencin de
diagramas polares, cartas de Smith, etc. En la figura 7.14 se muestra un ejemplo de la
visualizacin de un actual analizador de redes.
98
7. ANALIZADORES DE REDES
7.3.
7.4.
Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] Network Analyzer Basics, David Ballo. Hewlett-Packard Company 1998.
[3] S-Parameter Design, AN 154, Agilent Technologies, 2000.
99
100
8.
8.1.
Introduccin.
8.2.
8.3.
102
FUENTE DE
ALIMENTACIN
a)
FUENTE DE
ALIMENTACIN
b)
FUENTE DE
ALIMENTACIN
c)
8.4.
Topologas bsicas.
106
107
Especificaciones.
rea de trabajo. Define la porcin del plano EOUT (tensin de salida) e IOUT
(corriente de salida) donde la fuente puede trabajar de modo continuo y seguro. En
principio este rea de trabajo est definido nicamente por la tensin mxima y
corriente mxima que la fuente puede alcanzar de modo simultneo. sta es la
definicin del rea de trabajo convencional (figura 8.13, A). Puesto que en la mayora
de los casos la limitacin de funcionamiento es una limitacin trmica del
semiconductor (o semiconductores) utilizado para la regulacin que es funcin de la
potencia disipada, se puede obtener un rea denominada extendida, limitada en parte
por una curva de potencia de salida constante (figura 8.13, B).
La ventaja del rea extendida frente a la convencional estriba en que en el primer caso
se puede obtener potencia mxima de la fuente para un mayor nmero de condiciones
que en las fuentes convencionales donde se puede extraer esta potencia mxima slo
en un punto, el caracterizado por la tensin y corriente mxima. La extensin de rea
de trabajo es normalmente posible para las fuentes de alimentacin conmutadas donde
el rendimiento es ms o menos constante a partir de una potencia de salida
determinada (alrededor del 50%) y, por lo tanto, las prdidas y el estrs trmico de los
semiconductores son directamente proporcionales a la potencia de salida. En el caso
de fuentes de alimentacin lineales el rendimiento baja, para una corriente dada, al
reducir la tensin de salida con lo que resulta difcil que este tipo de fuentes tengan un
rea de trabajo extendida a no ser que se incluya algn tipo de regulacin no lineal
(conmutacin de tomas de transformador, regulacin en el lado de alterna, etc.)
Rizado y ruido de salida. PARD. Es la combinacin mxima del rizado y del ruido
de tensin que aparece en la salida de una fuente de alimentacin. Se trata, por lo
tanto, de la componente de alterna superpuesta a la salida continua de la fuente. El
trmino PARD es el acrnimo del ingls Periodic And Random Deviation y se
suele dar en valor RMS y/o en pico a pico medido sobre una determinada banda de
frecuencia (habitualmente de 20Hz a 20 o 30MHz).
111
Conexin en paralelo.
En la figura 8.18 se puede ver el diagrama de bloques correspondiente a este tipo de
conexin y un ejemplo de realizacin para dos fuentes. Lo ms importante es
conseguir que la tensin de salida de todas la fuentes sea la misma para evitar
desequilibrios de sus corrientes de salida. En el ejemplo de realizacin de la figura
8.18 se ha incluido un lazo de realimentacin que hace que la tensin de salida de la
fuente slave sea la misma que la de la fuente master que es la nica que recibe la
consigna de regulacin del sistema. Otra solucin ms adecuada para este tipo de
conexin corresponde a la inclusin en cada fuente de un circuito denominado
current sharing que acta sobre las realimentaciones individuales de modo que todas
las corrientes de salida sean iguales.
Conexin tracking.
En este caso una o ms fuentes se conectan a cargas individuales referenciadas a un
mismo punto de modo que una de las fuentes acta como master y las dems slave
regulan automticamente sus salidas con tensiones iguales o proporcionales a la de la
master que es la nica que recibe la consigna externa. En la figura 8.19 se puede ver el
diagrama de bloques correspondiente a este tipo de conexin y un ejemplo de
realizacin para dos fuentes.
112
Conexin en serie.
En este tipo de conexin, cuyo diagrama de bloques y ejemplo de realizacin se
muestra en la figura 8.20, las fuentes se conectan en serie sobre una carga nica. Se ha
de conseguir que la tensin comandada en la fuente master se repita igual o
proporcionalmente en el resto de las fuentes. Este circuito de regulacin se denomina
voltage sharing y es dual al expuesto para la conexin de fuentes en paralelo.
113
8.5.
Topologa bsica.
114
8.5.2.
Especificaciones.
El ancho de banda usual de este tipo de equipos abarca frecuencias entre 45 y 1000
Hz. Los valores mximos de tensin y corriente de salida vienen dados por el rea de trabajo
que se da en valores RMS y valores instantneos como se muestra en la siguiente figura.
115
8.6.
Configuraciones bsicas.
116
L1
L2
L3
- 48V dc
Salida A1
Salida A2
2
AC
AC
DC
AC
DC
DC
Salida An
Salida B1
Salida B2
3
8
5
Salida Bm
9
7
1 Bastidor
2 Rectificadores
3 Embarrados
CONTROL
CENTRAL
4 Bateras
5 Contactor DBT
6 Disyuntor batera
Alarmas
remotas
7 Disyuntores cargas
8 Conexin a otro bastidor
9 Control central
Passive standby. Se trata de SAI en los que el inversor est conectado en paralelo
y acta nicamente cuando hay una interrupcin del suministro principal. Su
diagrama de bloques se muestra en la figura 8.26. Se distinguen dos modos de
funcionamiento: modo normal (normal mode) y modo de energa almacenada
(stored-energy mode).
117
Especificaciones.
Entrada
Tensin y frecuencia nominal
Mrgenes de tensin y frecuencia
Factor de potencia
230V 50Hz
V(+10% -15%), f(5%)
> 0,85
Salida
230 V
V(3%), f(0,5%)
ver figura 8.29
3 5 (mximo)
175 %
Fiabilidad
Ruido acstico
Comunicaciones
Rendimiento
120
100
Carga (%)
80
60
40
20
0
0
20
40
60
80
100
120
8.7.
Cargas electrnicas.
Las cargas electrnicas son aquellos equipos destinados al ensayo (en la salida) de
generadores y fuentes de alimentacin. Las ms usuales son las de continua cuyo diagrama de
bloques se muestra en la figura 8.30.
Mediante este tipo de equipos se pueden comprobar tanto caractersticas estticas
como dinmicas de los dispositivos bajo ensayo (DBE). A la vista del diagrama anterior, es
importante notar que los potenciales de referencia del lado de control primario y de la etapa
de potencia y su control pueden ser distintos y, por lo tanto se requiere aislamiento. La etapa
tpica de una carga electrnica de continua es un transistor (bipolar, MOSFET o IGBT)
120
trabajando en su zona activa con lo que es posible regular su resistencia equivalente y por lo
tanto actuar como carga ajustable. En el caso de cargas electrnicas alternas o bipolares se
debe utilizar una etapa de potencia adecuada.
TIERRA DE LA ACOMETIDA (CHASIS)
RED
ELECTRICA
MEDIDA
REALIMENTACIN Y
PROTECCIONES
ALIMENTACION
DE PRIMARIO
PANEL
FRONTAL
CONTROL
REMOTO
GPIB
CONTROL
PRIMARIO
AISLAMIENTO
COMUNICA
CIONES
CONTROL
SECUNDARIO
ETAPA DE
POTENCIA
121
8.7.1.
Modos de funcionamiento.
Las cargas electrnicas pueden configurarse para actuar como cargas de corriente
constante (a), de resistencia constante (b), de tensin contante (c) o de potencia constante (d).
En los casos a y c se debe de regular la magnitud principal de control (I o V) mientras que la
otra (V o I) se deja libre y se supervisa para evitar que alcance valores mximos. En el caso b
y d la magnitud de control se calcula como cociente (b) o producto (d) de la tensin y la
corriente que se dejan libres y se supervisan para evitar que se alcancen valores mximos.
a)
b)
c)
Especificaciones.
limitada por la respuesta dinmica de la carga electrnica que suele ser de decenas
de kilohertzios.
Proteccin de sobretensin.
Proteccin de sobrecorriente.
Proteccin de sobrepotencia.
Proteccin de sobretemperatura.
Proteccin contra tensin inversa.
123
8.8.
Conmutada
Regulacin
< 0,1%
< 0,5%
Rendimiento
< 50%
>70%
Factor de potencia
Ancho de banda
Fiabilidad
>0,95
>10 kHz
<10 kHz
>300.000 h
EMC
Filtro
Peso/Volumen
<5 gr/W
Coste
>0,3 /W
Rizado y ruido
<1%
Multisalidas
>1%
Si son fijas
Salida bipolar o CA
Alta potencia
<100 W
<10 kW
8.9.
Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] Dc Power Supply Handbook, Application Note 90B, Agilent Technologies,
10/2000.
[3] UPS Topologies and Standards, J.P. Beaudet, J.N. Fiorina, O. Pinon (MGE UPS
Systems, 11/1999).
124
9.
ANALIZADORES LGICOS
9.1.
Introduccin.
Las funciones especficas que poseen los analizadores lgicos confieren a stos una
serie de posibilidades que no poseen otros equipos electrnicos de medida. En este tema se
describen los distintos tipos de analizadores utilizados en el dominio digital. Se realiza una
comparacin previa con los osciloscopios indicando sus similitudes y diferencias y su
utilizacin ms idnea en funcin de la aplicacin de medida. Posteriormente se inicia la
descripcin exhaustiva de los analizadores lgicos destinados al anlisis del funcionamiento
de sistemas digitales complejos en los que se requiere la observacin simultnea de multitud
de canales y una gran potencia en sus sistemas de adquisicin, disparo y presentacin.
Tras mostrar el diagrama de bloques bsico de un analizador lgico, se describen los
diferentes modos de presentacin con los cuales se pueden obtener cronogramas, tablas de
estados o visualizacin de los mnemotcnicos correspondientes a las instrucciones de un
determinado microprocesador. Seguidamente se estudian los diferentes modos de adquisicin
y disparo, y los mtodos de muestreo con los que poder analizar seales digitales con un
consumo ptimo de memoria sin perder resolucin horizontal. Tambin se tratan los aspectos
concernientes a los sistemas de sondas y puntas de prueba que hacen posible el acceso a las
seales de inters en sistemas digitales complejos.
9.1.1.
Clasificacin inicial.
Sondas lgicas. Son equipos muy simples destinados a detectar estados lgicos de
uno o varios nodos del circuito bajo ensayo de modo esttico, es decir, sin tener
registro de la evolucin temporal de los estados detectados.
Lgica TTL. Est caracterizada por utilizar circuitos alimentados a +5 V. El nivel alto
(H) corresponde a tensiones superiores a 2V (40% de VCC) mientras que el nivel bajo
(L) a tensiones inferiores a 0,8 V (16% de VCC). Los valores de tensin intermedios
definen un estado indeterminado.
125
9.2.
Sondas lgicas.
9. ANALIZADORES LGICOS
acstica. Otras sondas lgicas podran indicar esta circunstancia mediante una indicacin
especial.
9.3.
Analizadores lgicos.
Como hemos dicho anteriormente, los analizadores lgicos deben permitir realizar un
estudio dinmico de la evolucin temporal de varios nodos de un circuito digital.
127
9.3.2.
Captura y muestreo. Las seales del DBE se capturan mediante sondas o puntas de
prueba especficas. El gran nmero de estas puntas de prueba hace que usualmente se
presenten agrupadas en canales denominados pods que permiten conectar 8, 16
ms seales cada uno. Suele existir un pod especfico (de menor efecto de carga y
mejor ancho de banda) para las seales especiales externas (seales de reloj,
interrupciones, etc.). Las seales analgicas recogidas por las puntas de prueba se
convierten en datos tras pasar por los ADC (comparadores) y el registro de muestreo.
P. prueba
del reloj
externo
ADC
Selector de
reloj
Registros de
muestreo
Memoria de
adquisicin
Anlisis y
visualizacin
Lgica de
disparo
Control
memoria
Reloj
interno
9. ANALIZADORES LGICOS
Seal de
entrada
Reloj de
muestreo
Forma de onda
mostrada
Datos
Muestreo sncrono (state anlyzer mode). Una de las seales de entrada se toma
como reloj de muestreo, por lo tanto, los datos introducidos en la memoria de
adquisicin estn determinados por las transiciones del reloj externo. Grupos
predeterminados de estas entradas pueden representar variables estado del DBE.
El analizador lgico muestra la evolucin de estos estados con formatos
preestablecidos componiendo tablas de estados en diversos formatos (decimal,
hexadecimal, mnemotcnicos (lenguaje ensamblador), etc. Este modo es utilizado para
analizar el funcionamiento de microprocesadores o dispositivos digitales especficos.
129
Sistema de disparo.
Una vez muestreadas las seales de entrada se ha de decidir cuales son de inters para
el anlisis y determinar as su registro en la memoria de adquisicin. Esto se realiza gracias al
sistema de disparo. En este apartado se realizar un estudio de los mtodos de disparo
usualmente utilizados en modo asncrono (timing analyzer).
T
T
a)
T
b)
c)
T1
d)
T2
T
e)
f)
130
9. ANALIZADORES LGICOS
Disparo por defecto de amplitud (runt pulse triggering). Una vez definido un
determinado nivel umbral de amplitud mnima se puede disparar el sistema tras la
deteccin de pulsos defectuosos de escasa amplitud (figura 9.7. f).
Adquisicin de datos.
132
9. ANALIZADORES LGICOS
9.3.6.
En cada uno de los pods del analizador se conecta un cable plano o cilndrico
multiconductor en cuyo extremo se sitan las sondas o puntas de prueba a conectar a los
nodos de inters del DBE. En un sistema estndar para analizadores lgicos se realiza la
conexin al DBE mediante micro-pinzas que se conectan normalmente a los pines de los
circuitos integrados, como se muestra en la figura 9.12.
DBE
6-8 pF
100k
LA
133
9. ANALIZADORES LGICOS
9.4.
Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] Feeling Confortable with Logic Analyzers, Nota de aplicacin 1337. Agilent
Technologies.
[3] The XYZs of Logic Analyzers, Nota de aplicacin de Tektronix. 2001.
135
136
(10.1)
1
P = v(t ) i(t ) dt
T 0
137
(10.2)
(10.3)
(10.4)
P
=
S
1
Q2
1+ 2
P
(10.5)
(10.6)
(10.7)
(10.8)
PF =
P
= cos
S
(10.9)
(10.10)
(10.11)
Vatmetros electromecnicos.
Se utiliza para la medida de frecuencias bajas, sobre todo de frecuencias de red (50 o
60 Hz), y se basan en la respuesta del electrodinammetro. El electrodinammetro, que se
muestra en la figura 10.2, se compone de dos bobinas. Una de las bobinas es fija (bobina 1), y
la otra es mvil (bobina 2). Por esta razn tambin se denominan galvanmetros SCMC
(Stationary Coil, Movable Coil). La bobina mvil, con gran nmero de espiras de hilo fino,
est dispuesta en el interior de la bobina fija (devanada con hilo ms grueso y de pocas
espiras). Sobre el eje de la bobina mvil se encuentra la aguja indicadora. En los instrumentos
de este tipo se utiliza usualmente un amortiguador de aire que consiste de una aleta (solidaria
a la parte mvil) desplazndose en una cmara cerrada.
138
(10.12)
donde Lm y Lf representan las inductancias de las bobinas bm y bf respectivamente, y M
la mutua entre ambas. Derivando la ecuacin 10.12 respecto del ngulo , obtenemos la
expresin para el par motor sobre la bobina bm:
(10.13)
En la prctica se intenta que la distribucin de las bobinas sea tal que, en el rango de
variacin de , M resulte proporcional a . De este modo resulta M/ = C, constante, por
lo que la expresin para el par motor resulta la enunciada ms arriba, Mm = C im if.
139
El ancho de banda del electrodinammetro se reduce como mximo a unos pocos Hz.
Esto se debe a la inercia mecnica del instrumento. Por tanto, tendremos que el
electrodinammetro es un medidor de valor medio. Esto significa que el par motor que rige la
ecuacin del movimiento de la bobina mvil del instrumento es el valor medio del par motor
instantneo:
(10.14)
El ngulo de equilibrio de la aguja vendr dado por la ecuacin M ant = M m o sea:
(10.15)
Por lo tanto, el ngulo de desviacin de la aguja indicadora resulta proporcional al
valor medio del producto de las corrientes if e im:
(10.16)
Supongamos ahora que se quiere medir la potencia media entregada a un circuito de
carga. Sean u(t) e i(t) la tensin y la corriente, respectivamente, en bornes del circuito de
carga. De la ecuacin 10.16 tendremos que el ngulo de desviacin resultar proporcional a la
potencia media entregada si se logran las siguientes condiciones:
(10.17)
Estas condiciones se logran aproximadamente con la configuracin de la figura 10.4.
En sta, el devanado de la bobina fija est conectado en serie al circuito de carga, y el
devanado de la bobina mvil en paralelo. Se conecta una resistencia rad en serie con el
devanado de bobina mvil.
140
(10.18)
tendremos que la ecuacin 10.16 se transforma en:
(10.19)
siendo P la potencia media (activa) entregada al circuito.
Como el ngulo de desviacin es proporcional a la potencia, tenemos que el
electrodinammetro conectado como en la figura 10.4 resulta ser un vatmetro con escala
lineal. El devanado de la bobina conectada en paralelo (bobina mvil) se denomina devanado
voltimtrico, y el devanado de la bobina conectada en serie (bobina fija) se denomina
devanado amperimtrico.
10.3.2.
Vatmetros electrnicos.
Pinst
Vin
LPF
Z
RMS
RMS
SQRT
Sensor de potencia
Potencia
absorbida por
el sensor
Termistor
Termoacoplador
Diodo Detector
Seal cc o de
baja frecuencia
Medidor
de
Potencia
Display
Figura 10.6. Medidas por absorcin con dispositivos especficos. Diagrama de bloques.
10.4.1.
Calormetros.
(10.20)
(10.21)
Balmetros. Termistores.
+
RF
T
R
143
posible realizar su conexin al puente a travs de un condensador de desacoplo para evitar que
la Irf se introduzca en el circuito de medida.
VC2 Vrf2
4R
(10.22)
Potencia de radiofrecuencia.
Tensin aplicada al puente de compensacin.
Tensin aplicada al puente de radiofrecuencia.
Resistencia del termistor balanceado.
144
10.4.3.
Termoacopladores.
Metal 1
Unin
caliente
Campo E
Vh
Electrones de difusin
Metal 2
Unin fria
V2
V0 = V + V - V 2
1
h
Cc
Resistencia
de pelcula
metlica
RF
caliente
Semiconductor
tipo N
Contactos
dorados
Potencia
de RF Contactos
dorados
Semiconductor
tipo N
Unin
caliente
Resistencia
de pelcula
metlica
fria
Termoacopladores
Al Voltmetro CC
Cb
Diodos detectores.
que para pequeos valores de tensin (milivoltios) esta caracterstica es cuadrtica. Se utilizan
diodos Schottky para mejorar el rango dinmico del sensor. En la figura siguiente se muestra
en azul la respuesta de pequea seal de diodo y su comparacin con la respuesta cuadrtica
(lnea punteada). VT es un parmetro caracterstico de pequea seal del diodo que suele tener
valores comprendidos entre 25 y 35 mV para diodos Schottky.
Rs
Vs
Rm
Cb
Vo
Zona lineal
Zona cuadrtica
VO (log)
Vo PIN
Ruido de
fondo
0.1 nW
-70 dBm
0.01 mW
-20 dBm
P IN [w]
RF
Diodo
Detector
CC
Diodo Sensor
Chopper
BPF
Atenuador
Detector
Sncrono
Medidor
LPF
ADC
CA
AUTOCERO
Generador
de onda
cuadrada
220
Hz
Procesador
DAC
Rango extendido
usando atenuador
Diodo detector
(zona cuadrtica)
Rango extendido
usando atenuador
--60
-50
-40
-30
-20
-10
+10
+20
+30
+40
+50[dBm]
E = P(t ) d (t )
(10.23)
t1
Sistemas electromecnicos.
148
genera a partir de las corrientes parsitas que se producen por el movimiento del disco
respecto de un imn permanente.
10.5.2.
Sistemas electrnicos.
Vin
Pinst
LPF
VCO
1/N
CONTADOR
888
10.6. Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] Fundamentals of RF and Microwave Power Measurements Application Note
64-1C Agilent Technologies.
[3] Voltage and Power Measurements. Fundamentals, Definitions, Products
Rohde&Schwarz.
149
150
Rs
Fuente ideal
de tensin
Vs
Voltmetro
fuente
151
k
T
B
(11.1)
kT BR
(11.2)
donde V est dado en trminos RMS y representa el valor eficaz del ruido de tensin en la
resistencia R.
De modo anlogo se puede deducir la siguiente expresin:
I =2
kT BR
(11.3)
donde I est dado en trminos RMS y representa el valor eficaz del ruido de corriente en la
resistencia R.
Mediante razonamientos estadsticos se puede demostrar que, para una temperatura de
300K, se cumplen las siguientes expresiones para los valores de pico a pico del ruido:
V P P = 6,5 10 10
I P P = 6,5 10 10
RB
(11.4)
B
R
(11.5)
A la vista de las ecuaciones 11.2 y 11.3 se aprecia que para reducir el ruido de Johnson
en las medidas de tensin y de corriente se debe reducir o aumentar, respectivamente, el valor
de la resistencia. Esto se consigue cuando las fuentes de tensin o de corriente tienden a ser
ideales puesto que una fuente de tensin ideal tiene impedancia de salida nula (RS = 0) y una
fuente de corriente tiene impedancia de salida infinita (RS = ).
En cualquier caso, tambin se puede reducir el ruido si se baja la temperatura o el
ancho de banda. As, si se reduce la temperatura ambiente del sistema de medida hasta una
valor de 270C (3K) el ruido de tensin se reduce 10 veces respecto al existente en
condiciones normales de temperatura. Refrigerando con nitrgeno lquido (77K) se consigue
una reduccin a la mitad. Sin embargo, resulta ms sencillo bajar el ancho de banda de la
medida sobre todo si se realizan mediciones en cc. En este caso, siempre es posible utilizar
sistemas de bajo ancho de banda promediando medidas sobre un periodo extendido o
introduciendo entre la seal y el equipo de medida filtros pasa-bajo.
Para calcular el ancho de banda del equipo de medida se puede utilizar el siguiente
criterio que determina que el B es aproximadamente el ms pequeo de:
-
152
153
DMM. Son los equipos ms populares puesto que permiten realizar medidas tanto de
tensin como de corriente y resistencia con coste reducido, y precisin y sensibilidad
suficiente en la mayora de los casos. Sin embargo, su caracterstica de efecto de carga
no es suficientemente buena en caso de medidas en condiciones de alta impedancia.
En la figura 11.3 se muestra la funcin y los rangos de medida de los diversos equipos
anteriormente citados. En la primera columna se expresa la magnitud de medida (V=tensin,
I=corriente, R=resistencia, Q=carga elctrica) y en la ltima la unidad principal
correspondiente.
NANOVOLTMETRO
ELECTRMETRO
SMU
DMM
PICOAMPERMETRO
ELECTRMETRO
SMU
DMM
MICROHMETRO
MEGAHMETRO
ELECTRMETRO
SMU
DMM
Q
10
ELECTRMETRO
-15
10 -12
10 -9
C
10 -6
10 -3
10 0
10 3
10 6
10 9
154
10 12
10 15
Como se ha visto hasta ahora, una determinada medida se puede realizar con ms de
un tipo de equipo, sin embargo, la eleccin del ms oportuno depende (dejando de lado
criterios de coste, versatilidad y otros) de las condiciones del ensayo. En el ejemplo de la
figura 11.4 se estudia la exactitud (en la ltima columna) alcanzada por diversos equipos de
medicin de tensin, considerando diversos parmetros del sistema de medida. RS es la
resistencia de la fuente VS, CIN y RIN son, respectivamente, la capacidad y resistencia
equivalentes de entrada del equipo de medida y eN y IN representan los offset de tensin y
corriente. De este modo, y considerando los diversos valores que toman estos parmetros para
cada equipo, vemos que la mejor eleccin es, en este caso, la del electrmetro.
10M
1mV
Equipo
RIN
DMM
1G
nVmetro
1G
Electrmetro
10T
eN
1V
-1%
0.1%
-1%
0.001%
-0.0001%
1%
10nV
10V
IN
100pA
100%
50pA
50%
10fA
0.01%
11.4. Especificaciones.
A continuacin vamos a revisar las especificaciones ms importantes de los equipos
destinados a las medidas de bajo nivel.
-
Resolucin = 1/4096
Resolucin = 1/ 200.000 = 1/400.000
155
Sensibilidad. Viene dada por el ms pequeo de los cambios que pueda ser detectado
en la seal medida. Se especifica en las unidades de la medida que se est realizando y
depende, por lo tanto, del rango configurado en el equipo.
Ejemplo:
Sensibilidad = 1mV
Sensibilidad = 1nA
NMRR. (Normal Mode Rejection Ratio). Es el factor de rechazo del ruido en modo
diferencial. Se expresa usualmente en dB y viene dado por :
pico del ruido DM
NMRR = 20 log
(11.6)
156
(11.7)
158
Fuente de
tensin
externa o
SMU
Electrmetro
picoampermetro
o SMU
V1
I
Rx
Fuente de
corriente
externa o
SMU
Electrmetro
voltmetro o
SMU
I
N
Rx
V1
Vo
VC
VC
11.6. Bibliografa.
[1] Low Level Measurements, 5 edicin. Keithley.
[2] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
159
160
VM
Vs
CN
RN
IN
R R
+ I N N S
RS + RN
(12.1)
V1
IM
Is
Rs
CN
IN
(12.2)
HI
Rs
Vs
Rs
VM
L
LO
R IN
Vs
VM
RL
LO
R IN
casos, despreciar su efecto de carga. Sin embargo, la resistencia RL tiene valores variables y
en ocasiones altos en funcin de las caractersticas del sistema de conexin del equipo a la
fuente.
El uso de las denominadas guardas resulta ser un buen mtodo para minimizar el
efecto de carga de estas resistencias. En la figura 12.4 se muestra el esquema de conexin de
la guarda para reducir el efecto de carga resistivo.
HI
+
-
Rs
RL
VM
Vs
LO
Figura 12.4. Conexin del terminal de guarda para minimizar el efecto de carga
resistivo.
El terminal de guarda corresponde con la salida del amplificador de ganancia unidad
incluido en el circuito de medida y suele estar presente en todos los equipos para medidas de
bajo nivel. En este caso se cumple la siguiente relacin:
ARL
VM = VS
RS + ARL
(12.3)
V M = V S 1 e t / RS C L
(12.4)
QIN = VS C L
(12.5)
HI
Q IN
Rs
Vs
VM
CL
LO
163
En la figura 12.6 se muestra dicha evolucin temporal exponencial y una tabla con los
valores de VM alcanzados para diferentes tiempos de medida.
VM (Vs)
1,00
t normalizado
VM en %
a RSCL
respecto de Vs
1
63%
2
86%
3
95%
4
98%
5
99,3%
0,90
0,80
0,70
0,60
0,50
0,40
0,30
0,20
0,10
0,00
0
t (RSCL)
V M = V S 1 e A t / RS C L
QIN =
(12.6)
VS C L
A
(12.7)
Rs
Vs
+
-
CL
VM
G
LO
Figura 12.7. Conexin del terminal de guarda para minimizar el efecto de carga
capacitivo.
12.2.2. Resistencia de aislamiento.
Para mejorar en lo posible el efecto de carga de las resistencias externas al equipo de
medida se puede, adems, realizar una adecuada eleccin de los materiales aislantes
dedicados a la construccin de los cables y los elementos de conexin y sujecin. Para
realizar esta eleccin se han de consultar, entre otros, los siguientes parmetros del material
aislante:
-
164
Material
Resistividad
volumtrica
( cm)
Resistencia a
la absorcin de
agua
Zafiro
> 1018
Muy buena
Tefln
> 1018
Muy buena
Polietileno
Poliestireno
16
10
16
> 10
Buena
Buena
Cermico
1014 1015
Mala
Nylon
1013 1014
Mala
Epoxy
> 1013
Mala
PVC
5 1013
Muy buena
IM
Is
Rs
IOE
I OI
165
IM
Is
Rs
ISU
I OE
Figura 12.9. Uso de una fuente auxiliar para suprimir el offset de corriente.
En cualquier caso se han de conocer y mitigar en lo posible las fuentes de offset
externas, tambin denominadas fuentes de corrientes generadas y que se estudian en el
siguiente apartado.
12.2.4. Generacin de corrientes de offset.
A continuacin se estudian algunas de las ms importantes fuentes de corrientes
generadas.
-
Figura 12.12. Uso de una fuente auxiliar para suprimir el offset de corriente.
Para minimizar este efecto se deben elegir materiales de bajo coeficiente de absorcin
de agua, reducir los niveles de humedad ambiente y mantener limpio el circuito
mediante disolventes puros.
En la figura 12.13 se muestra un grfico comparativo de los niveles de la corriente
generada por diferentes efectos y materiales en contraste con el ruido de corriente de
Johnson para altos valores de RS.
IM
V
IM
(12.8)
RL
IM
V
IR
; RM =
V V I R
=
I M I R I R + I RL
(12.9)
168
VM
I
VM
I
(12.10)
VM
R
RL
R IN
LO
En este caso se comete un error que se puede calcular teniendo en cuenta la siguiente
expresin:
RM =
RN
VM
= R
I
R + RN
(12.11)
RL RIN
RL + RIN
(12.12)
RL
R
VM
I
LO
12.4. Bibliografa.
[1] Low Level Measurements, 5 edicin. Keithley.
[2] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
170
Rs
VOFFSET
VM
Vs
(13.1)
T2
A
T1
VEMF
B
VM
T2
.
(13.2)
La siguiente tabla muestra los valores del coeficiente de Seebeck para diferentes
materiales. Kovar es una aleacin especial (cobalto, nquel y hierro) utilizada frecuentemente
para la fabricacin de termopares.
MATERIALES
Cu Cu
0,2 V/K
Cu Ag
0,3 V/K
Cu Au
0,3 V/K
Cu Pb/Sn
1 3 V/K
Cu Si
400 V/K
Cu Kovar
40 70 V/K
Cu CuO
1000 V/K
Eliminar los gradientes de temperatura entre las distintas partes del circuito utilizando
elementos adecuados de refrigeracin y acoplo trmico.
No realizar las medidas hasta que se haya alcanzado el equilibrio trmico de los
diversos componentes del circuito. Para ello se debe utilizar un adecuado control de la
temperatura ambiente y de los dispositivos del circuito.
Rs
VEMF1 VEMF2
VM
Vs
VEMF4 VEMF3
VEMF
Va
VM
Vb
VM
Vb
(13.3)
(13.4)
Y si calculamos la media entre las dos medidas se observa que el termino que incluye
el error debido al potencial termoelctrico se cancela.
V1 V2 V EMF + Va Vb V EMF Vb + Va
=
= V a Vb
2
2
(13.5)
173
(13.6)
VM
DBE
( )
174
rea encerrada A
HI
LO
Voltmetro
Mantener los valores de B y A tan pequeos como sea posible reduciendo el rea
encerrada por los cables de sistema de medida y alejndolo de las fuentes del campo
magntico.
En la figura 13.7 se muestra una sencilla manera de reducir las tensiones generadas
por los campos magnticos trenzando los cables de medida. La tensin generada en mucho
menor que en el circuito superior cuyo cableado encierra una gran superficie.
Rs
HI
LO
Vs
Rs
Voltmetro
HI
LO
Vs
Voltmetro
(13.8)
VIN
VS
DBE
.
Voltmetro
.
Tierra 1
Tierra 2
VG
VIN
VS
DBE
.
ZCM
Voltmetro
Conexin
simple de
tierra
I
VG
V2 Ca V 1
DBE
HI
Z LO
LO
Lnea
Neutro
Fuente de
alimentacin
176
(13.9)
Para minimizar en lo posible este efecto se debe de garantizar la correcta conexin del
DBE a los terminales de entrada del equipo de medida. En la figura 13.11 se muestra un
ejemplo en el cual se pretende medir la tensin en el punto central del divisor formado por R1
y R2. En el circuito correspondiente al diagrama superior la corriente en modo comn ICM no
genera errores mientras que en el siguiente circuito, donde las conexiones se han
intercambiado, la corriente ICM atraviesa las resistencias del divisor provocando errores.
R1
HI
V
VM
R2
LO
I
R1
HI
VM
R2
LO
I
Figura 13.11. Efecto del intercambio de los cables sobre el modo comn.
En cualquier caso, para reducir los efectos de la corriente en modo comn siempre es
posible aislar convenientemente el DBE del potencial de tierra. De este modo se corta el
camino de retorno de la corriente en modo comn.
13.2.9. Efecto de los contactos no hmicos.
Los contactos no hmicos corresponden a uniones entre conductores que permanecen
cubiertos de lminas de xido. De este modo se consiguen conexiones no lineales que se
pueden comportar como rectificador de seales alternas (campos magnticos, EMI, etc.)
177
generando offsets de tensin continua. Para reducir este efecto se deben de utilizar contactos
limpios libres de oxido o materiales nobles como el indio o el oro.
En la figura 13.12 se muestra un grfico comparativo de la magnitud de las tensiones
de error generadas por los distintos efectos anteriormente estudiados. Se observa que los
bucles de tierra y los potenciales termoelctricos son los ms importantes con amplitudes que
pueden alcanzar valores de incluso un milln de veces superior a la tensin del ruido de
Johnson.
I
HI
RC
VM
VM
VR
R
LO
.
RC
178
VM
= R + 2 RC
I
(13.10)
Source HI
RC
Sense HI
.
RC
VR
VM
VM
Sense LO
.
RC
Source LO
RC
VR VM
= RM
I
I
(13.11)
VMVEMF
VM
VM
179
VM + = V EMF + IR
(13.12)
En una segunda medida se conecta la fuente de corriente con polaridad inversa. Ahora
el resultado de la medida es:
VM = V EMF IR
(13.13)
VM + VM
= IR
2
R=
(13.14)
VM
I
(13.15)
Otro mtodo equivalente consiste en realizar la segunda medida sin fuente de corriente
de modo que se cumplen las siguientes ecuaciones donde, nuevamente, se cancela el efecto
del potencial termoelctrico.
VM 1 = V EMF + IR
(13.16)
VM 2 = VEMF
(13.17)
(13.18)
R=
VM
I
(13.19)
Ciclo de
medida
Fuente de
corriente
VM1
VEMF
I
VM
VM2
VEMF
VM
I
Source HI
RC
RREF
Sense HI
RC
VM
R
Sense LO
RC
VSH
Vs
RSH
Source LO
RC
VM
VM
=
I VS
V
SH
RREF RSH
(13.20)
Mediante este mtodo se garantiza que la tensin (< 20mV) y la corriente (< 100mA)
de prueba no destruyen la posible pelcula aislante existente entre los contactos y que falseara
el ensayo.
13.4. Bibliografa.
[1] Low Level Measurements, 5 edicin. Keithley.
[2] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
181
182
Tensin residual
x 100 %
Tensin de carga
(14.1)
VM
I
183
VR
t1
t2
t3
S2
R2
LO
Electrmetro
184
6
4
2
0
-400
-200
0
mV
200
400
VM
I
A (rea del
electrodo)
.
.
L
VA
(14.2)
donde:
= Conductividad (Siemens/m).
A = Seccin de la superficie de enfrentamiento de los electrodos (m2).
L = Distancia de separacin de los electrodos (m).
Para mejorar la medida se debe de utilizar una corriente tan pequea como sea posible
y alternar la polaridad para prevenir la polarizacin de los electrodos.
185
IM
V
IM
186
HI
HI
LO
IM
LO
KV V
eI
(14.3)
donde:
Los contacto del til de medida ms cercanos a los bordes de la lmina se consideran
como guardas del circuito y se conectan al terminal LO para que las corrientes a travs de las
superficies de los bordes del material no pasen por el pico-ampermetro.
Para medir la resistividad superficial se deben hacer unas pequeas variaciones en el
circuito anterior tal y como muestra la figura 14.9. En este caso se mide la resistividad de la
superficie inferior del material y el contacto superior del til de medida se considera como
guarda para que el pico-ampermetro no detecte las prdidas a travs del volumen del
material.
HI
HI
LO
LO
IM
187
KS V
I
(14.4)
donde:
Q
V
(14.5)
de donde resulta inmediato despejar el valor de la capacidad del condensador C. Para evitar
interferencias electrostticas durante la medida el condensador se suele situar en el interior de
una caja apantallada conectada al terminal LO.
14.5.2. Medidas de muy baja corriente.
Es posible utilizar coulombmetros para realizar medidas de muy baja corriente. Para
ello se puede construir un circuito de medida como el mostrado en la figura 14.11.
Q
I
188
Par de
materiales
Cobre/Constantan Hierro/Constantan
Nquel(1)
cromo/Alumel (2)
Rango de
temperatura
-150 C 350 C
0 C 700 C
0 C 1200 C
Sensibilidad
40 V/ C
50 V/ C
40 V/ C
189
V
.
e.
VA
IL
donde:
14.8. Bibliografa.
[1] Low Level Measurements, 5 edicin. Keithley.
190
(14.7)
191
INSTRUMENTACIN VIRTUAL
Disp. A
Disp. B
Disp. C
Disp. A
Disp. D
Disp. B
Disp. C
Configuracin lineal
Configuracin en estrella
193
INSTRUMENTACIN VIRTUAL
Un
GPIB
Voltmetro
digital
gpib0
Otro
GPIB
Plotter
gpib1
Impresora
194
7
0
6
TA
5
LA
4
3
2
1
0
Direccin primaria GPIB (de 0 a 30)
INSTRUMENTACIN VIRTUAL
Figura 15.6. Distribucin de las lneas en el conector estndar del bus GPIB.
Las ocho lneas de datos, DIO1 hasta DIO8, llevan mensajes con datos o comandos.
Las tres lneas de handshake de hardware controlan de forma asncrona la transferencia de
mensajes entre dispositivos, garantizando la ausencia de errores en las lneas de transmisin
de datos. La siguiente tabla muestra las lneas de handshake.
Lnea
NRFD (not ready for data)
NDAC (not data accepted)
DAV (data valid)
Descripcin
El dispositivo receptor est/no est preparado para recibir un
byte del mensaje. Tambin se usa por el Talker para
transferencias a alta velocidad.
El dispositivo receptor ha/no ha aceptado un byte del mensaje.
El dispositivo emisor indica que las seales en las lneas de
datos son estables (vlidas).
Descripcin
El Controller pone ATN a Verdadero cuando enva comandos y a
Falso cuando enva datos.
El Controller configura la lnea IFC para inicializar el bus.
El Controller usa la lnea REN para configurar los dispositivos en
modo local o remoto.
Cualquier dispositivo puede usar la lnea SRQ para solicitar
servicio del Controller de forma asncrona.
Un Talker usa la lnea EOI para marcar el final de un mensaje de
datos. El Controller usa EOI cuando controla la identificacin de
los dispositivos del bus.
Tabla 15.3. Lneas de management bus.
196
15.4. Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] LabVIEW 6i. Programacin Grfica para el Control de Instrumentos. A. Mnuel.
Paraninfo. Madrid, 2001. ISBN 84-238-2817-X.
[3] National Instruments: http://www.ni.com.
[4] Agilent: http://www.agilent.com.
197
INSTRUMENTACIN VIRTUAL
198
Diseo fsico en la que se selecciona y desarrolla una de las ideas iniciales dotndola
de estructura y contenido de modo que se cumplan las especificaciones iniciales y
atendiendo a adecuados criterios de calidad, fiabilidad, manufacturabilidad, ergonoma
y apariencia esttica.
199
Fase de ensayo en donde los prototipos sern probados para verificar las
especificaciones del diseo.
200
201
202
Repetitividad del proceso de diseo ya que se utilizarn siempre las mismas tcnicas y
criterios.
Mantenibilidad del diseo puesto que el uso de herramientas CAD facilita los procesos
de actualizacin del diseo.
Aumento de la fiabilidad del diseo ya que las herramientas de diseo asistido pueden
ayudar a la deteccin de errores.
Ensayos en la peor condicin para conocer los lmites del funcionamiento del diseo.
Ensayos ambientales para conocer el efecto sobre el equipo de los factores ambientales
(temperatura, vibracin, polvo, lluvia, radiacin solar, etc.).
204
De entre los anteriores factores los dos ltimos son, sin duda, los ms importantes. Por
lo tanto, conviene recordar algunos conceptos referentes a la fiabilidad y la seguridad del
diseo.
La fiabilidad R(t) es la probabilidad de que un dispositivo funcione adecuadamente
durante un perodo de tiempo dado t en su aplicacin prevista y viene dada por la siguiente
expresin:
t
R (t ) = e
( t ) dt
0
(16.1)
La tasa de fallos (t) es el nmero de dispositivos o equipos que fallan por unidad de
tiempo referido al nmero de ellos que sobrevive en el instante t o, expresado de forma ms
habitual, la velocidad de fallo de un dispositivo. En la figura siguiente se muestra la evolucin
temporal tpica de la tasa de fallos de un equipo electrnico. Es la habitualmente denominada
curva baera.
205
La zona de mortalidad infantil (early life). Esta zona est definida para un tiempo
pequeo y en ella se observa un alto porcentaje de fallos debido a fallos de diseo o
bien a falta de calidad en el proceso de fabricacin.
La zona de vida til (useful life). En esta zona la tasa de fallo (t) es aproximadamente
constante. Los fallos que ocurren en esta zona se deben fundamentalmente a causas
accidentales o aleatorias.
La zona de envejecimiento (wear out). En esta zona el perodo de vida del componente
o sistema termina y su tasa de fallos crece muy rpidamente debido al envejecimiento
de los componentes cuya fiabilidad ha sido mermada por el desgaste de los mismos
durante el perodo de funcionamiento del equipo.
MTBF = R(t ) dt =
0
(16.3)
Su significado real se deduce sin ms que sustituir t por MTBF en la ecuacin 16.2:
R( MTBF ) = e 1 = 0,3678
(16.4)
Es decir, el MTBF es un tiempo tal que el dispositivo de que se trate tiene una
probabilidad de sobrevivir del 36,78%.
Si se trata de sistemas compuestos de varios dispositivos o equipos, la tasa de fallos
total T se calcular sumando las tasas de fallos de los n dispositivos que lo componen:
T = 1 + 2 + .... + n
(16.5)
1
1
1
1
+
+ .... +
MTBF1 MTBF2
MTBFn
(16.6)
Documentacin de produccin.
Listas de piezas.
Instrucciones de montaje y ensayo.
Documentacin parcial especfica del diseo fsico.
Documentacin de mantenimiento.
Listas de repuesto.
Instrucciones de mantenimiento y reparacin.
Documentacin parcial especfica del diseo fsico.
Documentacin comercial.
Documentacin promocional.
Listas de precios de coste y mantenimiento.
Disponibilidad del producto.
16.5. Bibliografa.
[1] Electronic Instrument Design. K. R. Fowler. (Oxford University Press).
[2] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
207
208
210
214
215
IK00 IK01 IK02 IK03 IK04 IK05 IK06 IK07 IK08 IK09 IK10
Energa de
impacto (J)
sin
0,15
proteccin
0,2
0,33
0,5
0,7
10
20
Los principales efectos provocados por los factores ambientales son los siguientes:
-
Por ello se debe someter a los equipos a ensayos que simulen diversos factores
ambientales mediante cmaras climticas, cmaras de choque trmico, cmaras de niebla
salina, sistemas electrodinmicos para ensayos de vibracin y choque, sonmetros, recintos
para la realizacin de ensayos de grados de proteccin IP (polvo y lluvia), etc. La norma de
referencia para la mayora de estos ensayos es la EN 60080.
17.7.3. Ensayos de compatibilidad electromagntica.
A travs de la Directiva Comunitaria 89/336/CEE relativa a EMC, se pretende
proteger a los sistemas de comunicacin, dispositivos o equipos cuyo funcionamiento pueda
verse perjudicado por interferencias electromagnticas, ya que pueden ocasionar tanto un
riesgo en la seguridad de instalaciones y personas en caso de fallo del equipo, como un grave
problema tcnico y comercial para el fabricante.
Los ensayos de EMC se llevan cabo en cmaras semianecoicas (para ensayos de
emisin e inmunidad radiadas) y cmaras apantalladas (para ensayos de emisin e inmunidad
conducidas) mediante equipos de ensayo especficos. La normativa aplicable es muy amplia y
depende del tipo de equipo bajo ensayo.
17.7.4. Ensayos de seguridad.
A travs de la Directiva Comunitaria 73/23/CEE relativa a Baja Tensin, se pretende
que los equipos que funcionen a tensin peligrosa (ms de 75 Vcc 50 Vca), cubran los
riesgos elctricos, mecnicos, qumicos, etc. que pudieran derivarse por el uso de material
elctrico. La Seguridad Elctrica, est orientada a prevenir choques elctricos, calentamientos,
aristas cortantes, as como un posible mal funcionamiento del equipo. Tambin se han de
tener en cuentas las directivas DC 89/392/CEE de seguridad de mquinas, y las DC
97/263/CEE relativa a terminales de telecomunicacin. Al igual que en los ensayos de EMC,
la normativa de ensayo es diversa y depende del mbito de aplicacin del equipo.
Asimismo, es un aspecto, junto con EMC, a tener en cuenta en el proceso del Marcado
CE, para poder comercializar los productos en cualquier pas de la Unin Europea.
218
(T1) = AT (T 0)
donde AT ( factor de aceleracin) viene dada por:
AT = e
1 1
Ea T 0 T 1
siendo:
Ea: Energa de activacin de los electrones en eV.
K: constante de Bolzmann.
T: Temperatura absoluta.
Los ensayos Burn-in se apoyan en el modelo anterior para comprobar la fiabilidad
pronosticada. Se trata, por lo tanto, de un ensayo de funcionamiento continuo del equipo en
condiciones extremas de temperatura para acelerar su proceso de envejecimiento.
17.8. Bibliografa.
[1] Electronic Instrumentation Handbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] Reglamento electrotcnico de baja tensin (RBT). Real Decreto 842/2002.
219
Anexo I
A. Indice de proteccin IP. Criterios y ensayos.
Recordemos la especificacin de la primera cifra del ndice IP que indica
simultneamente la proteccin de las personas contra el acceso a las partes peligrosas y la
proteccin de los equipos contra la penetracin de cuerpos extraos. Para verificar la
conformidad a una primera cifra, es necesario pues utilizar dos calibres (un calibre de
accesibilidad y un calibre-objeto) con las categoras de aplicacin especificadas por la norma,
o con un mismo calibre utilizado con dos criterios de aplicacin. Los diferentes grados
corresponden a las protecciones siguientes:
IP 1X: se trata de un enrejado o de una envolvente cuya abertura mayor no permite el
paso de una bola de 50 mm de dimetro. Esto corresponde aproximadamente al paso
de la mano.
IP 2X: el enrejado de proteccin tiene unas mallas ms finas y el dimetro del calibre
objeto es de 12,5 mm. Adems, el dedo de prueba articulado debe de quedar a
distancia suficiente de las partes peligrosas.
que est permitido que el agua penetre en la envolvente si no provoca efectos perjudiciales.
Los diferentes grados de la segunda cifra corresponden a las situaciones siguientes:
IP X1: este primer grado corresponde a la proteccin contra la cada vertical de agua a
la que pueden quedar expuestos los materiales del interior por fugas o gotas de
condensacin en la parte alta del habitculo o en tuberas que pasen encima de la
envolvente.
IP X2: este grado corresponde tambin a las cadas de agua, pero con un mayor caudal
y bajo un ngulo de hasta 15. Este es el caso, por ejemplo, del material embarcado
sobre los navos.
221
222