GRADO EN FSICA

LABORATORIO DE FSICA III

CURSO 2014-2015

1er CUATRIMESTRE

CURSO 2010-2011

1ER CUATRIMESTRE

LABORATORIO DE PTICA
PRCTICA CONVENCIONAL 5: ngulo de Brewster
1. Objetivos:
Determinacin del eje de transmisin de un polarizador
Medida del ndice de refraccin de un dielctrico
Reflexin en una superficie metlica
2. Fundamentos fsicos:
Cuando una onda electromagntica propagndose en un medio de ndice de refraccin n 0, incide sobre un
medio de ndice de refraccin nn0, parte de la luz se transmite y parte de la luz se refleja. Si la onda es plana
y est linealmente polarizada, ver Fig. 1(a), la relacin entre la amplitud del campo incidente A y reflejado R,
viene expresada por las frmulas de Fresnel [1-4]:

tan( ')
A
tan( ')

donde el ngulo de incidencia

sin( ')
A
sin( ')

(1)
(2)

y el de refraccin estn relacionados por la ley de Snell 0 () =

(). Los subndices y hacen referencia a las componentes del campo paralelo y perpendicular al
plano de incidencia, respectivamente. El plano de incidencia est formado por las direcciones del haz incidente,
reflejado, transmitido. Este plano est sealado en la Fig. 1. Tambin se muestra el azimut del haz incidente,

y reflejado, r, definido desde el plano de incidencia.

Si los dos medios son dielctricos, es decir medios no absorbentes con ndices de refraccin reales (por
ejemplo, vidrios, plsticos, etc), existe un ngulo de incidencia llamado ngulo de Brewster, B, para el cual
la componente del campo reflejado paralela al plano de incidencia se anula. As, la luz reflejada estar
linealmente polarizada perpendicular al plano de incidencia, independientemente del estado de polarizacin
del haz incidente. Esto se debe a que Los ngulos

y son reales, y por tanto las funciones trigonomtricas

de las ecuaciones (1-2) tambin lo son, con lo cual, si el haz incidente est linealmente polarizado

tambin lo estar el reflejado. Este fenmeno se muestra en la Fig. 1(b).

Figura 1: Amplitud del campo incidente y reflejado y sus respectivos azimuts, y r para incidencia con un
ngulo arbitrario (a) y con el ngulo de Brewster B (b). En el caso (b) el haz reflejado est linealmente
polarizado con componente perpendicular al plano de incidencia

Para que la componente paralela al plano de incidencia se anule en ngulo de Brewster, el denominador de la
ecuacin 1 se debe hacer infinito, es decir

B / 2 . Teniendo en cuenta esta relacin trigonomtrica

y la ley de Snell, es fcil llegar a la expresin que relaciona B, con los ndices de refraccin de los dos medios

tan B

n
.
n0

(3)

En la Fig. 1(b) se representa esquemticamente los campos reflejados para

al ngulo
(tg A / A) , y

incidente est linealmente polarizado y llamamos azimut

elctrico incidente con el plano de incidencia

= . Si suponemos que el haz

que forma la direccin del campo

azimut r

(tg r R / R)

al

correspondiente en el haz reflejado, se obtiene de las ecuaciones (1) y (2) la expresin

tan r

cos( ')
tan
cos( ')

(4)

que indica cmo cambia la polarizacin lineal reflejada en funcin de la polarizacin lineal incidente segn el

. A partir de esta expresin, midiendo r como funcin de tambin es posible

determinar el ngulo de Brewster B (que corresponde a r= 900), que se relaciona con el ndice de refraccin
ngulo de incidencia

del medio n a travs de la ecuacin (3).

En la Fig. 2(a) se grafica la dependencia de las componentes reflejadas del campo con el ngulo de incidencia
para una reflexin en la frontera airedielctrico. Se observa que la componente perpendicular no se anula
para ningn ngulo, mientras que la componente paralela se anula justamente en el ngulo de Brewster.

Figura 2. Reflectividad (mdulo cuadrado de las componentes del campo) para luz incidente paralela
perpendicular

|| y

^ en funcin del ngulo de incidencia , en los casos: a) reflexin aire- dielctrico (vidrio
n 15
. ); b) aire-metal (oro y plata).

Si la reflexin se produce en la interfase dielctrico-metal, las ecuaciones 1 y 2 siguen siendo vlidas. Pero en
este caso el ndice de refraccin n es complejo porque el metal es muy absorbente. Al aplicar la ley de Snell
aparece un valor complejo para el ngulo . Como consecuencia, los campos elctricos dados por las
ecuaciones 1 y 2, tambin son complejos y se pueden expresar como un mdulo (amplitud del campo) y una
exponencial compleja que lleva la informacin de la fase del campo. As, tras la reflexin en un metal, las
componentes del campo se ven afectadas de una fase que no tiene que ser coincidente. Es decir aparece un
desfase relativo entre componentes, por lo que el estado de polarizacin de la luz cambia.
Si se incide con luz linealmente polarizada sobre un metal, tras la reflexin el campo tendr en general
polarizacin elptica. Notar que hay dos casos particulares, incidencia con luz linealmente polarizada contendida
en y perpendicular al plano de incidencia, en el que el estado de polarizacin tras la reflexin se mantiene
inalterado. Para el caso de reflexin en metales no existe un ngulo que anule el denominador de
la ecuacin 1, pero si existe un mnimo en la reflexin de la componente paralela. A este ngulo, por analoga
con el caso dielctrico-dielctrico, se le denomina ngulo de Brewster. En la Fig. 2(b) se muestran las
componentes del campo reflejado en la interfase aire-metal en funcin del ngulo de incidencia.
3. Mtodo experimental:
En esta prctica estudiamos la reflexin en la frontera aire dielctrico y posteriormente la reflexin en la
frontera aire-metal.
Se dispone de una lmpara de Na como fuente de luz, un gonimetro, dos polarizadores lineales dicroicos, un
vidrio de ndice de refraccin conocido, un medio dielctrico de ndice desconocido y una superficie metlica.
En el Documento de anexos, tambin en el Campus Virtual, se explica en detalle el funcionamiento de la
lmpara de Na, del gonimetro (lectura y colimacin), as como de los polarizadores lineales dicroicos. Las
lminas se introducen de forma vertical sobre la plataforma del gonimetro enfrentando la cara pulida al
colimador para los dielctricos, y la superficie metalizada para el metal.
De acuerdo con la Fig. 3, una onda colimada incide sobre la superficie de la lmina que vamos a estudiar la
reflexin. La luz reflejada por la lmina se ve a travs del anteojo. Para ajustar el ngulo de incidencia

debemos considerar la relacin trigonomtrica 2 + = , donde es el ngulo que forma el anteojo medido
desde la posicin en el que est enfrentado al colimador. Este ngulo es el que nico que podemos medir con
el gonimetro, por lo que todas las medidas las tenemos que referenciar a .
Los polarizadores se pueden introducir tanto en el anteojo como en el colimador, cuando sea necesario.

Figura 3. Procedimiento de medida con el gonimetro.

4. Tareas a realizar
a) Determinacin del eje de transmisin del polarizador P 1:
Cuando se introduce un polarizador en el anteojo desconocemos a priori el valor del ngulo de su escala
graduada que hace que su eje est contenido en el plano de incidencia. En este primer apartado vamos a
encontrar este valor. Notar que necesitamos calibrarlo para determinar los campos paralelos y perpendiculares
al plano de incidencia.
Se colocar la lmina de vidrio de ndice de refraccin conocido nV=1.553 sobre la plataforma del gonimetro.
Dispondremos el ngulo del gonimetro para que el ngulo de incidencia sobre la lmina, , sea el ngulo
de Brewster. Para ello vamos a utilizar la expresin 3. El haz reflejado por la lmina est linealmente polarizado.
A continuacin se colocar uno de los polarizadores, que llamaremos P1, en el anteojo. Idee un mtodo para
determinar el valor en la escala del polarizador,

1, que hace que su eje est contenido en el plano de

incidencia.
b) Medida del ndice de refraccin de un dielctrico
Disponga la lmina de ndice de refraccin desconocido en la plataforma y coloque el polarizador en la posicin
determinada en el apartado anterior. Si giramos la plataforma del gonimetro observaremos cmo cambia la
ntensidad de luz observada. Razone y explique qu debemos buscar para poder obtener el ngulo de Brewster.
Determine el ndice de refraccin del medio a partir de la medida del ngulo de Brewster.
Se le ocurre otro mtodo experimental para determinar el ndice de refraccin utilizando el otro polarizador
introducido en el colimador? Ntese que con el par de polarizadores se puede controlar/determinar el azimut
del haz incidente/reflejado.

c) Reflexin en una superficie metlica.

Se deben utilizar los polarizadores P1 y P2 y la superficie metlica: estudie cmo debe colocar los
polarizadores para poder verificar que la luz reflejada por la superficie metlica est linealmente polarizada,
y cmo puede hacerse esta comprobacin.
Por otra parte, colocando el polarizador P2 en la posicin perpendicular a la anterior posicin, en qu
estado de polarizacin est ahora la luz reflejada por la lmina metlica? Razona la respuesta.
Si colocamos el polarizador P2 en cualquier otra posicin distinta a las dos anteriores, averige el estado
de polarizacin de la luz reflejada por la lmina, y de todos los parmetros para caracterizarlo.
En vista de lo obtenido en los apartados b) y c) describa comparativamente los resultados obtenidos para
el medio dielctrico y la lmina metlica.

5. Bibliografa:
[1] J. M. Cabrera, F. J. Lpez y F. Agull Lpez, ptica electromagntica (Addison-Wesley Iberoamericana,
Wilmington, EE.UU., 1998) ; pginas 259-279.
[2] J. Casas, ptica (Librera Pons, Universidad de Zaragoza, 1994) ; pginas 189-204.
[3] A. Jenkins y H. E. White, Fundamentos de ptica (McGraw-Hill, New York, EE.UU., 1964) ; pginas 531552.
[4] E. Hecht, optics (Addison Wesley, San Francisco, EE.UU., 2002; pginas 348-352).
[5] J. Torrent, Deteccin de pelculas nanomtricas por microscopia de ngulo de Brewster.
6. Quiero saber ms
El nombre de ngulo de Brewster, tambin conocido como de polarizacin mxima, debe su nombre al
cientfico britnico David Brewster (1781-1868) que realiz investigaciones relevantes sobre polarizacin de la
luz entre otras cosas, adems de ser el inventor del caleidoscopio o endoscopio. Enunci la denominada ley

de Brewster en el ao 1815.
Existen multitud de experimentos que usan el ngulo de Brewster con diferentes aplicaciones. Una de las ms
conocidas, tal y cmo se ha visto en el apartado 4.b es la determinacin del ndice de refraccin de un
dielctrico.
De una manera similar puede emplearse tambin este principio fsico para la determinacin del ndice de
refraccin de metales para ms informacin ver Documento de anexos) o la microscopia de ngulo de
Brewster.
6.1 Microscopia de ngulo de Brewster para la deteccin de pelculas nanomtricas
La microscopia de ngulo de Brewster (BAM) es una tcnica ptica que permite la observacin y deteccin de
pelculas a partir de unos pocos nanmetros de grosor [5], siendo muy til para caracterizar pelculas orgnicas
sobre agua o un medio acuoso, como es el caso de los lpidos y otros compuestos especialmente amfiflicos,
y que por extensin puede aplicarse a la capa lipdica de la pelcula lagrimal.
Si sobre el substrato se encuentra una pelcula delgada con un ndice de refraccin distinto del substrato,
entonces no se cumple la condicin del ngulo de Brewster, ni en la interfaz aire/pelcula ni en la interfaz
pelcula/substrato. Sin embargo, algunas reflexiones ocurren en ambas interfaces, y tambin puede haber

reflexiones mltiples en la pelcula. Todas estas reflexiones se superponen coherentemente y producen una
seal que puede ser detectada con un sensor (por ejemplo, con una cmara CCD).

Figura 6
La intensidad reflejada depende del espesor de la pelcula y de sus parmetros pticos.
En el caso de una tpica monocapa orgnica sobre agua (espesor 2 nm) la intensidad reflejada es del orden
de una millonsima parte de la intensidad incidente. Esto no es mucho pero es an suficiente para producir,
mediante un objetivo de microscopio, imgenes bien contrastadas y con una buena resolucin espacial.
El sistema BAM debe ser visto sobretodo como un microscopio, puesto que su sistema de formacin de
imgenes se realiza a travs de un objetivo de microscopio sobre una cmara CCD. Lo diferente respecto a
los microscopios convencionales es que la iluminacin se realiza con un ngulo de incidencia de
aproximadamente 53 grados y la observacin y la captura de imgenes con una inclinacin tambin de
aproximadamente 53 grados para captar la luz reflejada especularmente en la muestra.
El BAM utiliza el principio del ngulo de Brewster aire/agua como sistema de mejora del contraste en las
imgenes, lo que da lugar a buenos contrastes en capas muy delgadas, incluso cuando estas capas son
monomoleculares, lo que le convierte en un instrumento de muy alta sensibilidad para obtener imgenes de
pelculas muy delgadas y estructuras superficiales que se formen sobre materiales dielctricos transparentes,
sobre todo los que se forman sobre la superficie del agua. Ello permite adems obtener informacin
cuantitativa de las imgenes (por ejemplo, la distribucin del tamao de los dominios) con una resolucin
lateral de hasta una micra, dependiendo del objetivo de microscopio utilizado.
A continuacin se muestran dos ejemplos de imgenes obtenidas mediante esta tcnica.

Figura 7
6.2 Otras aplicaciones de uso habitual
6.2.1 En la imagen siguiente se muestra la imagen reflejada de unas lentes de plstico que son iluminadas
mediante luz polarizada (procedente de un monitor de ordenador). La cmara est cercana al ngulo de
Brewster, lo que hace sea sensible a los desfases que sufre la luz producidos por la tensin de la montura.
Inducen un cambio en la birrefringencia del medio, provocando el

patrn

coloreado (http://www.osa-

opn.org/home/gallery/photo_contests/2008/gallery08_1_jpg/).

Figura 8.
6.2.2 A causa de la polarizacin de la luz reflejada, las gafas de sol hechas de material polarizador son eficaces
para producir deslumbramiento. Si la luz es reflejada por una superficie aproximadamente horizontal, el campo
elctrico de la luz reflejada es mayormente horizontal, por lo que unas gafas de sol polarizadas con sus ejes
verticales ayudan a disminuir la luz reflejada, y por tanto mejoran la visin de determinados objetos. Esto es
til, por ejemplo en la pesca deportiva, tal y como se aprecia en el vdeo siguiente:
http://www.youtube.com/watch?v=6eKbYVs6x-k.
6.2.3 Es habitual en los lseres de gas poner los espejos de los extremos en ngulo de Brewster respecto al
eje ptico para conseguir que la radiacin polarizada perpendicular al plano del haz sea emitida fuera del
medio activo del lser tras la primera reflexin, consiguiendo que entre los espejos del lser no haya prdidas
por reflexin, ya que entre los espejos slo viaja el haz transmitido polarizado (http://www.um.es/leq/laser/Ch7/F7s5t1p6.htm).

Figura 9.

Plantilla
Determinacin del eje de transmisin del polarizador P 1
Especifique clara y brevemente el procedimiento experimental para determinar el eje de transmisin del
polarizador P1.
Por qu ha elegido este procedimiento?
Exponga los resultados de todas las medidas realizadas.
Exprese claramente el resultado final y su incertidumbre justificando cmo ha llegado a ellos.
Se le ocurre alguna otra forma de determinar el eje del polarizador?
Medida del ndice de refraccin de un dielctrico
Especifique clara y brevemente el procedimiento experimental para determinar el ndice de refraccin del
dielctrico de ndice desconocido.
Exponga los resultados de todas las medidas realizadas.
Exprese claramente el resultado final y su incertidumbre justificando cmo ha llegado a ellos.
Se le ocurre otro mtodo experimental para determinar el ndice de refraccin utilizando el otro polarizador
introducido en el colimador? Ntese que con el par de polarizadores se puede controlar/determinar el azimut
del haz incidente/reflejado.
Reflexin en una superficie metlica
Determine la lectura del polarizador P2 que hace que su eje est contenido en el plano de incidencia.
Determine el o los ngulos del polarizador P2 que hace que el estado de polarizacin se conserve tras la
reflexin en la lmina metlica. Cmo ha realizado esa comprobacin?
Si colocamos el polarizador en cualquier otra posicin distinta a la del/los casos anteriores, comente cmo es
el estado de polarizacin de la luz reflejada por la lmina metlica, y cmo ha realizado esa comprobacin.
Exponga los resultados de todas las medidas realizadas.
Describa comparativamente los resultados obtenidos para el medio dielctrico y la lmina metlica.

Debe aadir aqu algo que haya observado o ideado y que no est incluido en lo anterior