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EP 0 960 526 B1

FASCICULE DE BREVET EUROPEEN

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(45) Date de publication et mention

(51) Int Cl.:

H04N 5/335 (2011.01)

de la dlivrance du brevet:
10.12.2014 Bulletin 2014/50

G01T 1/24 (2006.01)

(86) Numro de dpt international:


PCT/FR1998/000272

(21) Numro de dpt: 98908178.1

(87) Numro de publication internationale:

(22) Date de dpt: 12.02.1998

WO 1998/036579 (20.08.1998 Gazette 1998/33)

(54) DISPOSITIF ET PROCEDE DE TRAITEMENT DE SIGNAUX DUN DETECTEUR DE


RAYONNEMENTS A SEMI-CONDUCTEURS
VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR SIGNALVERARBEITUNG EINES
HALBLEITERSTRAHLUNGSDETEKTORS
DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING SIGNALS OF A RADIATION DETECTOR WITH
SEMICONDUCTORS
(84) Etats contractants dsigns:

CHAPUIS, Alain
F-38950 Saint Martin le Vinoux (FR)
MONNET, Olivier
F-38210 Tullins (FR)
LEBRUN, Franois
F-94500 Champigny sur Marne (FR)

DE GB IT

(30) Priorit: 14.02.1997 FR 9701745


(43) Date de publication de la demande:
01.12.1999 Bulletin 1999/48

(74) Mandataire: Ahner, Philippe et al


(73) Titulaire: Commissariat lnergie Atomique
et aux nergies Alternatives
75015 Paris (FR)

(72) Inventeurs:

EP 0 960 526 B1

MESTAIS, Corinne
F-38660 La Terrasse (FR)

BREVALEX
95, rue dAmsterdam
75378 Paris Cedex 8 (FR)

(56) Documents cits:


EP-A- 0 589 467
EP-A- 0 637 759

EP-A- 0 626 590


US-A- 5 440 130

Il est rappel que: Dans un dlai de neuf mois compter de la publication de la mention de la dlivrance du brevet
europen au Bulletin europen des brevets, toute personne peut faire opposition ce brevet auprs de l'Office europen
des brevets, conformment au rglement d'excution. L'opposition n'est rpute forme qu'aprs le paiement de la taxe
d'opposition. (Art. 99(1) Convention sur le brevet europen).
Printed by Jouve, 75001 PARIS (FR)

EP 0 960 526 B1
Description
Domaine technique
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[0001] La prsente invention se rapporte un dispositif et un procd de traitement de signaux dun dtecteur de
rayonnements semi-conducteurs. Linvention sapplique plus prcisment des dtecteurs tels que des dtecteurs
de rayonnement gamma () comprenant une pluralit de dtecteurs lmentaires juxtaposs selon une surface ou un
volume de dtection.
[0002] Un dispositif ou un procd de traitement de signaux conforme linvention peuvent notamment tre utiliss
dans le domaine de limagerie mdicale pour des gamma-camras dtecteurs du type CdTe ou CdZnTe.
Etat de la technique antrieure

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[0003] La figure 1 annexe montre le principe de fonctionnement dun dtecteur lmentaire semi-conducteurs du
type CdTe.
[0004] Le dtecteur en semi-conducteur 10 est quip de deux lectrodes 12, 14 disposes respectivement sur deux
faces opposes. Les lectrodes 12 et 14 sont la fois des lectrodes de polarisation du dtecteur et des lectrodes de
lecture des signaux de dtection.
[0005] Pour assurer la polarisation du dtecteur les lectrodes 12 et 14 sont respectivement relies un potentiel de
rfrence de masse 16 et une source de tension 18. La diffrence de potentiel applique sur les faces opposes du
semi-conducteur permettent dy gnrer un champ lectrique.
[0006] Ainsi, lorsquun rayonnement atteint le matriau semi-conducteur et y cre des paires lectron-trou, ces porteurs
lectriques ne se recombinent pas mais sont entrans, sous leffet du champ lectrique, vers les lectrodes 12, 14. Sur
les lectrodes est alors prlev un signal lectrique qui est reprsentatif de lnergie cde par le rayonnement au semiconducteur.
[0007] Comme le montre la figure 1, le signal de dtection est prlev sur llectrode 14 et, aprs avoir t mis en
forme par un circuit amplificateur 22, est dirig vers des moyens de traitement du signal 24.
[0008] Dans la suite du texte on dsigne par vnement toute interaction entre un rayonnement et le dtecteur lors
de laquelle le rayonnement cde la matire tout ou partie de son nergie.
[0009] Dans une tte de dtection comprenant une pluralit de dtecteurs lmentaires juxtaposs la localisation
gographique des vnements est donne par les coordonnes des dtecteurs sur une surface de dtection. Ainsi, une
image de la source de rayonnement, perue par la tte de dtection peut tre tablie par des moyens dimagerie adapts.
[0010] On peut se reporter ce sujet aux documents (1), (2) et (3) dont les rfrences sont indiques la fin de la
prsente description.
[0011] Dans le cas de la dtection de rayonnements gamma () on distingue, un premier ordre, deux types dinteractions.
[0012] On dsigne dans la suite du texte par "interaction photolectrique" le premier type dinteraction lors duquel un
rayonnement gamma atteignant le dtecteur, appel "rayonnement incident", cde toute son nergie au matriau du
dtecteur.
[0013] Par ailleurs, on dsigne par "interaction compton" un deuxime type dinteraction lors duquel un rayonnement
incident ne cde quune partie de son nergie.
[0014] Dans la suite du texte on dsigne par rayonnement incident le rayonnement provenant dune cible dobservation
et atteignant le dtecteur. On dsigne par ailleurs par "rayonnement induit" le rayonnement rsultant dune interaction
compton lors de laquelle le rayonnement incident na cd quune partie de son nergie. Le rayonnement induit peut
galement interagir avec la matire et lui cder son nergie. Dans ce cas, lnergie totale du rayonnement incident est
cde en plusieurs (gnralement deux) interactions.
[0015] Lorsquun rayonnement lectromagntique tel quun rayonnement gamma atteint une tte de dtection forme
dune pluralit de dtecteurs lmentaires juxtaposs on distingue trois cas diffrents de dtection reprsents trs
schmatiquement aux figures 2A 2C. Pour des raisons de simplification seuls les dtecteurs lmentaires sont reprsents sur ces figures.
[0016] Dans le premier cas, illustr la figure 2A, linteraction dun rayonnement 30 avec le semi-conducteur 10 du
dtecteur est une interaction de type photolectrique telle que dcrite ci-dessus. Le rayonnement incident 30 cde toute
son nergie en une seule interaction repre avec la rfrence 31. Le signal de dtection obtenu correspond alors
lnergie totale du rayonnement.
[0017] Dans un deuxime cas, illustr la figure 2B, linteraction est une interaction compton. Le rayonnement incident
30 cde une partie de son nergie lors dune premire interaction repre par la rfrence 31 et un rayonnement induit
33 apparat. Le rayonnement induit 33 cde son tour son nergie lors dune deuxime interaction qui, dans cet exemple
est de type photolectrique repre avec la rfrence 35. On note qu la fois la premire et la deuxime interaction ont

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lieu dans le mme dtecteur lmentaire.


[0018] Ainsi, comme ces deux interactions sont quasiment simultanes, le signal fourni aux bornes du dtecteur
correspond finalement la somme des nergies cdes lors des premire et deuxime interactions, cest--dire
lnergie du rayonnement incident 30.
[0019] Dans un troisime cas illustr la figure 2C, lnergie du rayonnement incident 30 est galement cde lors
de deux interactions 31 et 35. Toutefois la diffrence de la figure 2B, les deux interactions 31 et 35 nont pas lieu dans
le mme dtecteur mais dans deux dtecteurs voisins 10 et 10a de la tte de dtection.
[0020] Le signal dlivr par le premier dtecteur 10 dans lequel a lieu la premire interaction correspond lnergie
cde lors de la premire interaction, cest--dire lnergie du rayonnement incident 31 diminue de lnergie du rayonnement induit. Le signal dlivr par le deuxime dtecteur 10a ne correspond qu lnergie du rayonnement induit,
cde la matire lors de la deuxime interaction. Finalement aucun des signaux des premier et second dtecteurs
10, 10a ne reflte dans ce cas lnergie du rayonnement incident.
[0021] En imagerie mdicale, on injecte gnralement un patient un isotope radioactif mettant des rayonnements
gamma une nergie connue et dtermine.
[0022] Les rayonnements gamma mis dans le patient peuvent galement interagir avec le tissu environnant de
lorgane examin du patient et y provoquer des interactions de type compton telles que dcrites.
[0023] Ainsi, le rayonnement provenant du patient et atteignant la tte de dtection dune gamma-camra comporte
non seulement le rayonnement de lisotope avec lnergie dtermine et connue mais aussi des rayonnements induits,
ou rayonnements "compton" dont lnergie est infrieure.
[0024] Pour viter la prise en compte des rayonnements induits ou compton produits dans le patient, et considrs
comme parasites, on effectue la sortie des dtecteurs une discrimination en nergie de faon ne retenir que les
signaux correspondant lnergie connue de lisotope radioactif inject au patient, cest--dire correspondant des
rayonnements dits "utiles".
[0025] On comprend ainsi que le cas dune dtection dun rayonnement telle que dcrite au sujet de la figure 2C est
particulirement gnant.
[0026] En effet, lorsquun rayonnement incident dont lnergie est gale lnergie dtermine correspondant lisotope inject au patient, produit deux interactions dans deux dtecteurs diffrents, le signal reu de chaque dtecteur
correspond une nergie infrieure celle du rayonnement incident comme indiqu ci-dessus. Or, ces signaux sont
alors limins lors de la discrimination en nergie voque prcdemment.
[0027] Ainsi, la contribution dun rayonnement "utile" est limine par erreur comme sil sagissait dun rayonnement
provenant dune interaction de type compton dans le patient.
[0028] En raison du fait quune dose de produit radioactif injecte au patient doit pour des raisons de sant tre
relativement limite, on comprend quil convient de ne pas liminer un trop grand nombre de rayonnements incidents
utiles. En effet, comme le temps dacquisition de donnes pour former une image mdicale ne peut pas tre trop longue,
notamment pour des raisons de confort du patient, un nombre trop limit de rayonnements utiles conduit une dtrioration de la qualit de limage finalement obtenue.
[0029] La prsente invention se propose donc de rsoudre le problme de la perte de linformation lie aux rayonnements qui interagissent dans deux dtecteurs lmentaires distincts de la tte de dtection.
[0030] La demande de brevet EP-A-0 589 467 dcrit un dispositif dimagerie mdicale capable deffectuer une correction des informations collectes afin de tenir compte dune dispersion des interactions, due notamment leffet
Compton. En particulier, le dispositif comporte un dtecteur, tel quun scintillateur, associ des photomultiplicateurs
aptes dlivrer des informations de position (en X, Y) et dnergie des interactions dtectes. Une image sous la forme
dune matrice de pixels est forme partir de ces informations. Pour chaque pixel on prend en compte une contribution
pondre dun ensemble dinteractions ayant lieu sensiblement simultanment et correspondant ce pixel. Le poids
attribu chaque interaction dpend de son nergie. Ce dispositif permet de dlivrer pour chaque rayonnement incident
une donne reprsentative de lensemble des interactions induites par ce rayonnement.
Expos de linvention

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[0031] La prsente invention a pour objet un dispositif de traitement de signaux de dtection dinteractions pour un
dtecteur de rayonnements semi-conducteurs comprenant une pluralit de dtecteurs lmentaires juxtaposs selon
une surface ou un volume de dtection sensibles aux nergies cdes, en une ou plusieurs interactions, par les rayonnements dits rayonnements incidents, et aptes dlivrer des signaux de dtection dinteraction, caractris en ce que
le dispositif comprend des moyens dits de traitement pour dlivrer en rponse chaque rayonnement incident dtect
au moins une donne dnergie correspondant la somme des nergies cdes lors de chaque interaction induite par
ledit rayonnement incident sur un dtecteur lmentaire principal et des nergies des interactions ayant lieu sensiblement
au mme moment sur des dtecteurs lmentaires voisins au dtecteur principal et en ce que les moyens de traitement
comportent :

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des premiers moyens pour associer chaque signal de dtection dinteraction dun dtecteur lmentaire des
donnes de position de linteraction, dnergie de linteraction et de date de linteraction,
des moyens de slection pour slectionner des interactions ayant une mme donne de date dinteraction et des
donnes de position dinteraction correspondant des dtecteurs lmentaires voisins de la surface ou du volume
de dtection, et
des moyens sommateurs pour additionner les donnes dnergie des interactions slectionnes et tablir une
donne dite de somme dnergie correspondant la somme des nergies cdes lors de chaque interaction induite
par le rayonnement incident.

[0032] On entend par surface de dtection aussi bien une surface de dtection plane quune surface de dtection qui
nest pas plane. Par ailleurs, on considre quun volume de dtection peut comporter plusieurs surfaces de dtection
ventuellement superposes.
[0033] Un rayonnement incident peut interagir soit avec un seul dtecteur lmentaire soit avec un dtecteur lmentaire et avec les dtecteurs lmentaires voisins.
[0034] Grce aux moyens dits de gestion dinformation, lensemble de lnergie du rayonnement incident est pris en
compte, quel que soit le type dinteraction avec les dtecteurs.
[0035] Ainsi, tout rayonnement incident ayant lnergie correspondant lisotope inject au patient peut tre pris en
compte indpendamment du fait quil donne lieu une seule ou plusieurs interactions dans des dtecteurs lmentaires
distincts.
[0036] Les donnes de position sont dtermines en fonction de lemplacement des dtecteurs lmentaires dans la
surface ou le volume de dtection. A cet effet, les premiers moyens peuvent comporter au moins un circuit apte dlivrer
les donnes de position en fonction dune localisation dans la surface ou le volume de dtection du dtecteur lmentaire
ayant dtect ladite interaction et fourni le signal.
[0037] A titre dexemple, dans une tte de dtection de type matricielle, chaque dtecteur peut tre repr par deux
coordonnes de position. Ces coordonnes sont alors affectes en tant que donnes de position chaque interaction
ayant lieu dans ce dtecteur.
[0038] Les donnes dnergie dinteraction correspondent lnergie cde lors de chaque interaction dans un dtecteur donn. Lorsque deux interactions provenant dun mme rayonnement incident ont lieu dans un mme dtecteur
lmentaire, la donne dnergie correspond automatiquement la somme des nergies cdes par ces deux interactions, en raison notamment de leur quasi-simultanit.
[0039] Pour dterminer les donnes dnergie, en particulier lorsque les dtecteurs sont du type CdTe, les premiers
moyens peuvent comporter :
-

au moins un circuit pour former des donnes damplitude et de temps de monte des signaux de dtection, et
au moins un circuit dit de correction pour calculer une donne dnergie dinteraction fonction des donnes damplitude et de temps de monte des signaux de dtection.

[0040] Pour une description plus dtaille du principe de fonctionnement des circuits de correction, on peut se reporter
aux documents (1), (2) et (3) dj mentionns.
[0041] Enfin, la donne de date de linteraction permet dapprcier la simultanit des interactions. Pour tablir cette
donne, les premiers moyens peuvent comporter au moins un compteur, pilot par une horloge, pour dlivrer une donne
de date dinteraction correspondant chaque signal de dtection.
[0042] Comme indiqu prcdemment, lorsquun rayonnement incident provoque deux ou plusieurs interactions, ces
interactions sont quasiment simultanes et ont lieu soit dans un mme dtecteur lmentaire, soit dans des dtecteurs
plus proches voisins.
[0043] Ainsi, lorsque deux interactions ont lieu quasi-simultanment et dans des dtecteurs voisins, on considre
quils proviennent dun mme rayonnement incident.
[0044] Le cas o deux interactions dues des rayonnements incidents distincts ont lieu simultanment dans des
dtecteurs lmentaires voisins est trs peu probable. Ce cas nest ainsi pas pris en compte. Dans le domaine dnergie
considr pour limagerie mdicale (40-600 keV) et pour des dtecteurs lmentaires avec une dimension caractristique
de lordre de quelques millimtres, on considre que les dtecteurs sont voisins lorsquils ont une frontire commune.
On ne prend ainsi en compte que les dtecteurs "plus proches voisins".
[0045] Dans une ralisation particulire du dispositif de linvention, les moyens de slection peuvent comporter une
mmoire prsentant une pluralit de pages respectivement associes une pluralit de priodes de temps ou de dates
successives, des moyens dcriture des donnes dnergie et de position de chaque interaction respectivement une
page dont la priode de temps comprend la date de ladite interaction et des moyens de lecture, page par page, des
donnes crites dans la mmoire.
[0046] A titre dexemple, la priode de temps associe chaque page peut correspondre la dure sparant deux

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impulsions successives dune horloge, cest--dire deux dates successives.


[0047] De plus, les moyens de slection peuvent comporter des comparateurs de donnes de position. Ces comparateurs sont alors prvus pour comparer les donnes de positions inscrites sur une mme page de la mmoire, cest-dire qui correspondent des vnements ayant sensiblement la mme date dinteraction. Grce aux comparateurs,
il est possible de vrifier si des interactions simultanes proviennent ou non de dtecteurs lmentaires voisins.
[0048] Le dispositif de linvention peut comporter en outre des deuximes moyens pour dlivrer en rponse chaque
rayonnement incident une donne de position sur la surface ou le volume de dtection.
[0049] Ces deuximes moyens peuvent tre quips dun calculateur capable de calculer ladite donne de position
du rayonnement incident comme une combinaison linaire des donnes de position des interactions quasi-simultanes
et ayant lieu dans des dtecteurs lmentaires voisins. Le calcul de la donne de position du rayonnement incident peut
tre pondr en fonction des donnes dnergie des interactions slectionnes.
[0050] Dans une mise en oeuvre simplifie, la donne de position du rayonnement incident peut se rsumer lune
des positions de lune des interactions, par exemple celle de linteraction dont lnergie est la plus importante. La donne
de position du rayonnement incident peut aussi tre calcule comme une combinaison de type barycentrique tenant
compte de toutes les donnes de position des interactions induites par ce rayonnement incident.
[0051] La prsente invention a galement pour objet un dtecteur de rayonnement comprenant une pluralit de dtecteurs lmentaires juxtaposs selon la surface ou le volume de dtection et un dispositif de traitement de signaux
de dtection des dtecteurs lmentaires tel que dcrit ci-dessus.
[0052] Selon des ralisations particulires, la pluralit des dtecteurs peut tre ralise partir dun ou plusieurs
cristaux semi-conducteurs, par exemple du type CdTe ou CdZnTe.
[0053] Selon une premire possibilit, chaque dtecteur lmentaire comporte un matriau de semi-conducteur et
des lectrodes de polarisation et de lecture mnages sur des faces opposes du matriau.
[0054] Selon une variante, le dtecteur peut aussi comporter une pluralit dlectrodes spares et juxtaposes sur
au moins une face du matriau, chaque lectrode formant avec une portion du matriau un dtecteur lmentaire.
[0055] Linvention a galement pour objet une gamma-camra comportant un dtecteur de rayonnement et un systme
de formation dimages tels que dcrits ci-dessus.
[0056] Enfin, linvention a pour objet un procd de traitement de signaux de dtection dinteractions dun dtecteur
de rayonnements semi-conducteurs comprenant une pluralit de dtecteurs lmentaires juxtaposs selon une surface
ou un volume de dtection, sensibles aux nergies cdes, en une ou plusieurs interactions, par les rayonnements, dits
rayonnements incidents, et aptes dlivrer des signaux de dtection dinteraction, caractris en ce que :
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on associe chaque signal de dtection dinteraction dun dtecteur lmentaire des donnes de position de
linteraction, dnergie de linteraction et de date de linteraction,
on slectionne des interactions ayant une mme donne de date dinteraction et des donnes de position dinteraction
correspondant des dtecteurs lmentaires voisins de la surface ou du volume de dtection, et
on additionne les donnes dnergie des interactions slectionnes et on tablit une donne dite de somme dnergie
correspondant la somme des nergies cdes lors de chaque interaction induite par le rayonnement incident.

[0057] Dautres caractristiques et avantages de linvention ressortiront mieux de la description qui va suivre, en
rfrence aux figures des dessins annexs, donne titre purement illustratif et non limitatif.
Brve description des figures
[0058]

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La figure 1, dj dcrite, est un schma de principe de fonctionnement dun dtecteur semi-conducteurs dune
tte de dtection.
Les figures 2A, 2B et 2C, dj dcrites, sont des vues schmatiques de dtecteurs semi-conducteurs et illustrent
trois types dinteractions dun rayonnement incident avec le matriau semi-conducteur des dtecteurs.

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La figure 3 est une vue schmatique dune tte de dtection planaire utilisable avec le dispositif de linvention pour
former une gamma-camra.
La figure 4 est une vue schmatique dune autre tte de dtection galement utilisable avec le dispositif de linvention.
La figure 5 est un schma de fonctionnement gnral du dispositif de linvention.
La figure 6 est un schma dtaill partiel de moyens de slection du dispositif de linvention.

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Description dtaille de modes de ralisation de linvention

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[0059] La figure 3 montre un ensemble de dtecteurs lmentaires 9 juxtaposs dans un plan de dtection 11 pour
former une tte de dtection.
[0060] Chaque dtecteur lmentaire est construit partir dun bloc de matriau semi-conducteur 10 indpendant.
On peut se reporter ce sujet la figure 1 dj dcrite.
[0061] Une telle tte peut quiper, par exemple, une gamma-camra comprenant le dispositif de linvention. Chaque
dtecteur lmentaire comporte une premire lectrode 12 dispose sur lune des faces parallle au plan de dtection
et une deuxime lectrode 14 dispose sur une face oppose galement parallle au plan de dtection. Des conducteurs
lectriques 13, 15 relient respectivement les lectrodes de chaque dtecteur lmentaire un dispositif de traitement
des signaux 17 conforme linvention reprsent de faon non dtaille.
[0062] Les conducteurs lectriques 13, 15 relient galement chaque dtecteur lmentaire respectivement la masse
et une source de polarisation 18.
[0063] Selon une variante, illustre la figure 4, une pluralit de dtecteurs 9a adjacents sont forms dans un seul
bloc de matriau de semi-conducteur 10a.
[0064] Chaque dtecteur 9a est dfini par une lectrode 14a forme sur une premire face du cristal. Ces lectrodes
14a sont juxtaposes et spares les unes des autres de faon dfinir un rseau de dtecteurs lmentaires 9a.
[0065] Une contre-lectrode 12a, commune tous les dtecteurs lmentaires 9a est forme sur une face oppose
du cristal 10a.
[0066] Les lectrodes 14a et 12a sont prvues pour polariser les dtecteurs 9a partir dune source de polarisation
18 et pour collecter les signaux ce dtection. Ces signaux sont dirigs vers une unit de traitement 17 conforme
linvention.
[0067] La figure 5 montre de faon plus dtaille les principaux lments de lunit de traitement 17.
[0068] Lunit de traitement comporte une pluralit de circuits 100 dits de formation de donnes dinteraction relis
respectivement chacun des dtecteurs lmentaires 9 de la tte de dtection.
[0069] Les circuits de formation de donnes ont une double fonction.
[0070] Une premire fonction est la mise en forme des signaux de dtection des dtecteurs lmentaires. Une deuxime fonction est dassocier chaque signal dintgration un ensemble de donnes.
[0071] Pour chaque signal reu, les circuits de formation de donnes 100 dlivrent une donne de position de linteraction dans le plan de dtection, une donne de temps de monte du signal, une donne damplitude maximum du
signal et une donne de date.
[0072] Les donnes de position sont simplement les coordonnes (Xi, Yi) selon deux directions qui correspondent
la position sur la surface de dtection du (ime) dtecteur lmentaire ayant dlivr le signal de dtection.
[0073] Les donnes de temps de monte et damplitude maximum sont directement dtermines partir du signal
de dtection mis en forme.
[0074] Enfin, la donne de date est dlivre par un compteur de datation 102 associ chaque circuit 100.
[0075] Les compteurs de datation 102 sont relis une horloge de synchronisation 104.
[0076] Les compteurs de datation 102 sont, par exemple, des compteurs 12 bits pilots par une horloge fonctionnant,
par exemple, une frquence de 10 MHz.
[0077] On dfinit des cycles de datation. Au cours dun tel cycle les sorties des compteurs de datation sont augments
dune unit chaque impulsion dhorloge. A la fin de chaque cycle les compteurs sont remis zro pour entamer un
nouveau cycle de datation.
[0078] Dans lexemple donn, avec des compteurs 102 de 12 bits et une horloge 104 fonctionnant 10 MHz, la dure
dun cycle de datation est de lordre de 410 msc.
[0079] La sortie de chacun des circuits 100 de formation de donnes dinteraction est relie un multiplexeur 106 qui
collecte ainsi les donnes correspondant tous les vnements ayant lieu sur la ttededtection. Les donnes pour
un vnement i sont notes (Xi, Yi, Ai, Ti, Di) o Xi, Yi, Ai, Ti et Di dsignent respectivement les coordonnes de position,
lamplitude, le temps de monte et la date.
[0080] La mesure de lnergie de linteraction nest pas fournie directement par le signal des dtecteurs lmentaires.
En effet, dans le semi-conducteur, lnergie dpose par linteraction provoque la formation de paires lectron-trou. Ces
porteurs de charge migrent vers les lectrodes du dtecteur sous leffet dun champ lectrique maintenu entre ces
lectrodes. Or, la mobilit des trous tant infrieure celle des lectrons, leur contribution au signal peut tre diffre
selon la profondeur de linteraction dans la matire du dtecteur. Ainsi, le signal nest pas directement utilisable pour la
mesure de lnergie.
[0081] Toutefois, grce un circuit 108, dit de correction, lnergie de linteraction est calcule partir des donnes
Ai de lamplitude du signal et Ti de temps de monte du signal. Le circuit de correction 108 est connect la sortie du
multiplexeur 106.
[0082] Le circuit de correction tablit ainsi pour chaque signal une donne dnergie note par la suite Ei pour linte-

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raction i.
[0083] A la sortie du circuit de correction 108, les donnes Xi, Yi, Ei et D i sont diriges vers des moyens de slection
110 dont le fonctionnement est encore expliqu plus loin en rfrence la figure 6.
[0084] Les moyens de slection 110 permettent de slectionner les donnes des interactions ayant eu lieu sensiblement la mme date et ayant eu lieu dans des dtecteurs lmentaires voisins.
[0085] Dans une ralisation particulire on ne prend en compte que les dtecteurs plus proches voisins. Ceci est le
cas notamment lorsque la probabilit est trs faible quune deuxime interaction ait lieu une distance suprieure la
taille dun dtecteur lmentaire de la premire interaction induite par le mme rayonnement.
[0086] La slection des interactions ayant eu lieu dans des dtecteurs voisins est effectue par des circuits comparateurs.
[0087] A titre dexemple, lorsquon considre deux interactions dont les donnes de position sont (X1, Y1) et (X2, Y2),
on dfinit les grandeurs X et Y suivantes :

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o |X1-X2| et |Y1-Y2| dsignent les valeurs absolues des diffrences.


[0088] On estime que les interactions ont lieu dans des dtecteurs voisins si les quations suivantes sont vrifies :
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[0089] Il est possible pour une dfinition diffrente des dtecteurs lmentaires voisins de modifier ces quations, et
de prendre par exemple X=Y=1 comme critre supplmentaire de dfinition de dtecteurs voisins.
[0090] Le calcul des grandeurs X et Y et la vrification des quations dfinissant les dtecteurs lmentaires voisins
peuvent tre effectus par un calculateur ou par un circuit lectronique comparateurs spcialement conu pour cette
tche.
[0091] Les moyens de slection sont relis des moyens sommateurs 112. Ces moyens comportent des circuits
additionneurs pour additionner les donnes dnergie des interactions slectionnes, cest--dire des interactions ayant
eu lieu quasi-simultanment dans des dtecteurs lmentaires voisins.
[0092] Ainsi, lnergie tablie pour une interaction multiple de type compton telle que dcrite dans la partie introductive
du texte est la somme de lnergie cde lors de deux ou plusieurs interactions successives et est bien gale lnergie
totale du rayonnement incident.
[0093] Lorsque les donnes de position ne correspondent pas des dtecteurs voisins, les interactions sont des
interactions de type photolectrique ou Compton seul ayant eu lieu simultanment dans des dtecteurs distincts. (On
dsigne par interaction "Compton seul" une interaction telle que reprsente la figure 2C, dans laquelle la deuxime
interaction 35 na pas lieu dans un des dtecteurs). Ces interactions ne sont pas slectionnes par les moyens de
slection mais sont traites classiquement en dirigeant leur donnes de position et dnergie vers des moyens dimagerie
116 connus en soi. Dans ce cas, les donnes de position et dnergie de chaque interaction sont galement celles du
rayonnement ayant provoqu linteraction.
[0094] Les moyens de slection 110 sont relis des moyens 114 pour calculer une donne de position affecte non
pas aux interactions mais au rayonnement incident dont on connat dsormais lnergie totale.
[0095] Les moyens 114 pour calculer la donne de position comportent un calculateur capable de calculer la donne
de position du rayonnement incident partir des donnes de position des interactions auxquelles elle a donne lieu.
[0096] Dans une mise en oeuvre simplifie, les donnes de position du rayonnement peuvent tre les coordonnes
de linteraction induite dont lnergie est la plus grande.
[0097] Selon un autre exemple, les donnes de positon X, Y du rayonnement peuvent tre calcules selon les formules
suivantes :

EP 0 960 526 B1

[0098] Selon une mise en oeuvre plus perfectionne, le calcul barycentrique peut aussi tre pondr en fonction de
lnergie des interactions. On a alors par exemple :

10

15

20

25

30

35

40

45

50

[0099] Dans les quations X1 Y1, E1, X2, Y2, E2 dsignent les donnes de position et dnergie respectivement dune
premire et dune deuxime interaction provoques par un rayonnement incident, quasiment la mme date dans des
dtecteurs voisins.
[0100] Les moyens sommateurs 112 et les moyens 114 pour calculer les donnes de position pour les interactions
peuvent tre relis un dispositif dimagerie 116.
[0101] Le dispositif dimagerie dun type connu en soi permet de former une image gamma avec les donnes de
position et ventuellement dnergie des rayonnements incidents.
[0102] La figure 6 illustre schmatiquement le fonctionnement dune partie des moyens de slection 110. Ces moyens
comportent une mmoire vive RAM (Random Access Memory) 120 dans laquelle peuvent tre crites et depuis laquelle
peuvent tre lues notamment les donnes de position et dnergie des interactions dtectes.
[0103] La mmoire est subdivise en une pluralit de pages 122. Plus prcisment, dans une mise en oeuvre particulire de linvention, le nombre de pages 122 est gal au nombre de dates diffrentes possibles dans un cycle de
datation. A titre dexemple, la mmoire 120 peut comporter 4096 pages et chaque page correspond une date.
[0104] Lorsque lhorloge de pilotage 104 fonctionne une frquence de 10 MHz, deux dates successives sont spares
dans le temps de 100 nsec.
[0105] Lors dun cycle de datation, les donnes associes tous les signaux de dtection sont inscrits dans la mmoire
120. Ladresse dcriture des donnes est dicte par la donne de date Di associe chaque signal de dtection par
un compteur de datation 102 (voir figure 5).
[0106] Ainsi, toutes les donnes de toutes les interactions ayant eu lieu une mme date D i sont crites dans la
mmoire une mme page correspondant cette date.
[0107] Sur la figure 6, la rfrence 126 indique un registre dcriture. Ce registre reoit les donnes (Xi, Yi, Ei, Di) des
moyens de correction 108 et crit les donnes (Xi, Yi, Ei) la page Di dans la mmoire.
[0108] Lorsque le cycle de datation est achev, toutes les dates correspondant aux pages 122 ont dfil sur les
compteurs 102 (voir figure 5). Les compteurs sont alors remis zro.
[0109] La mmoire 120 est ensuite lue page par page par un registre de lecture non reprsent. Toutes les donnes
lues une mme page sont considres comme correspondant des vnements simultans. Si le nombre dvnements dune page est suprieur 1, les donnes sont diriges vers des circuits comparateurs 128 des moyens de
slection, pour vrifier si les donnes correspondent des signaux provenant de dtecteurs voisins. Lorsque le nombre
dvnements dont les donnes sont une mme page de la mmoire est gal 1, il sagit dune unique interaction de
type photolectrique ou de type Compton seul. Les donnes sont diriges directement vers le dispositif dimagerie 116
(voir figure 5).
[0110] Avantageusement, les moyens de slection peuvent disposer de plusieurs mmoires 120, 120a. Ainsi les
mmoires peuvent fonctionner en alternance de sorte que lune des mmoires peut tre adresse pour lcriture de
nouvelles donnes pendant que des donnes sont lues dans la seconde mmoire, et rciproquement.
[0111] Dans une ralisation pratique du dispositif de traitement de linvention, lensemble des circuits lectroniques
assurant les fonctions dcrites ci-dessus peut tre ralis sous la forme dun circuit intgr application spcifique du
type ASIC.
DOCUMENTS CITES
[0112]

55

(1) The 1996 US Workshop on the Physics and Chemistry of II-VI Materials - Las Vegas 1996 "New Developments
of CdTe and CdZnTe detectors for X and -ray application" de L. Verger et coll.

EP 0 960 526 B1
(2) 9th international workshop on room temperature semiconductor X and detectors associated electronics & application "A novel ASIC for readout electronics in semiconductor -ray detection" de J.P. Bonnefoy et coll.
(3) Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 000 (1996) "A CdTe gamma-camera for the space
observatory INTEGRAL : software charge-loss corrections" de F. Lebrun et coll.

Revendications
10

1.

15

Dispositif de traitement de signaux de dtection dinteractions pour un dtecteur de rayonnements semi-conducteurs comprenant une pluralit de dtecteurs lmentaires (9, 9a) juxtaposs selon une surface ou un volume de
dtection (11) sensibles aux nergies cdes, en une ou plusieurs interactions, par les rayonnements dits rayonnements incidents, et aptes dlivrer des signaux de dtection dinteraction, caractris en ce que le dispositif
comprend des moyens dits de traitement pour dlivrer en rponse chaque rayonnement incident dtect au moins
une donne dnergie correspondant la somme des nergies cdes lors de chaque interaction induite par ledit
rayonnement incident sur un dtecteur lmentaire principal et des nergies des interactions ayant lieu sensiblement
au mme moment sur des dtecteurs lmentaires voisins au dtecteur principal et en ce que les moyens de
traitement comportent :
- des premiers moyens (100) pour associer chaque signal de dtection dinteraction dun dtecteur lmentaire
(9, 9a) des donnes de position (X, Y) de linteraction, dnergie de linteraction et de date (D) de linteraction,
- des moyens de slection (110) pour slectionner des interactions ayant une mme donne de date dinteraction
et des donnes de position (X, Y) dinteraction correspondant des dtecteurs lmentaires voisins de la
surface ou du volume de dtection, et
- des moyens sommateurs (112) pour additionner les donnes dnergie des interactions slectionnes et tablir
une donne dite de somme dnergie correspondant la somme des nergies cdes lors de chaque interaction
induite par le rayonnement incident.

20

25

2.

Dispositif selon la revendication 1, caractris en ce quil comporte en outre des deuximes moyens (114) pour
dlivrer en rponse chaque rayonnement incident une donne de position sur la surface ou dans le volume de
dtection.

3.

Dispositif selon la revendication 2, dans lequel les moyens pour dlivrer en rponse chaque rayonnement incident
une donne de position, comportent un calculateur capable de calculer ladite donne de position du rayonnement
incident comme une combinaison linaire des donnes de position des interactions fonction des donnes dnergie
des interactions slectionnes.

4.

Dispositif selon la revendication 1, dans lequel les moyens de slection (110) comportent au moins une mmoire
(120, 120a) prsentant une pluralit de pages (122) respectivement associes une pluralit de priodes de temps
successives, des moyens dcriture des donnes dnergie et de position de chaque interaction respectivement
une page dont la priode de temps comprend la date de ladite interaction et des moyens de lecture, page par page,
des donnes crites dans la mmoire.

5.

Dispositif selon la revendication 1, dans lequel les moyens de slection (110) comportent des comparateurs de
donnes de positions.

6.

Dispositif selon la revendication 1, dans lequel les premiers moyens comportent au moins un circuit apte dlivrer
les donnes de position en fonction dune localisation sur la surface ou le volume de dtection du dtecteur lmentaire ayant dtect ladite interaction.

7.

Dispositif selon la revendication 1, dans lequel les premiers moyens comportent :

30

35

40

45

50

- au moins un circuit (100) pour former des donnes damplitude et de temps de monte des signaux de dtection,
- au moins un circuit (108) dit de correction pour calculer une donne dnergie dinteraction fonction des
donnes damplitude et de temps de monte des signaux de dtection.

55

8.

Dispositif selon la revendication 1 dans lequel les premiers moyens comportent au moins un compteur (102), pilot
par une horloge (104) pour dlivrer une donne de date dinteraction correspondant chaque signal de dtection.

EP 0 960 526 B1
9.

10

Dispositif selon la revendication 6 comprenant une pluralit de circuits (100) pour former des donnes damplitude
et de temps de monte des signaux, un tel circuit tant associ chaque dtecteur lmentaire.

10. Dispositif selon la revendication 7, dans lequel un unique circuit de correction (108), commun, est associ lensemble des dtecteurs lmentaires (9, 9a) et dans lequel un multiplexeur (106) est connect entre la pluralit des
circuits de formation de donnes damplitude et de temps de monte des signaux et le circuit de correction (108).
11. Dtecteur de rayonnement comprenant une pluralit de dtecteurs lmentaires (9, 9a) juxtaposs selon une surface
ou un volume de dtection (11) et un dispositif (17) de traitement de signaux de dtection des dtecteurs lmentaires
conforme la revendication 1.
12. Dtecteur de rayonnement selon la revendication 11, dans lequel chaque dtecteur lmentaire comporte un matriau (10) de semi-conducteur de dtection et des lectrodes (12, 14) de polarisation et de lecture mnages sur
des faces opposes du dtecteur (10).

15

13. Dtecteur de rayonnement selon la revendication 11 comportant au moins un matriau semi-conducteur de dtection
et une pluralit dlectrodes spares (14a) et juxtaposes sur au moins une face du matriau semiconducteur,
chaque lectrode formant avec une portion du matriau semiconducteur un dtecteur lmentaire (9a).
20

14. Dtecteur selon lune des revendications 12 ou 13, dans lequel le matriau semi-conducteur est un cristal de CdTe
ou CdZnTe.
15. Gamma-camra comportant un dtecteur de rayonnements et un systme de formation dimages (116), caractrise en ce que le dtecteur de rayonnement est conforme la revendication 11.

25

16. Procd de traitement de signaux de dtection dinteractions dun dtecteur de rayonnements semi-conducteurs
comprenant une pluralit de dtecteurs lmentaires juxtaposs selon une surface ou un volume de dtection,
sensibles aux nergies cdes, en une ou plusieurs interactions, par les rayonnements, dits rayonnements incidents,
et aptes dlivrer des signaux de dtection dinteraction, caractris en ce que :
30

- on associe chaque signal de dtection dinteraction dun dtecteur lmentaire (9, 9a) des donnes de
position (X, Y) de linteraction, dnergie de linteraction et de date (D) de linteraction,
- on slectionne des interactions ayant une mme donne de date dinteraction et des donnes de position (X,
Y) dinteraction correspondant des dtecteurs lmentaires voisins de la surface ou du volume de dtection, et
- on additionne les donnes dnergie des interactions slectionnes et on tablit une donne dite de somme
dnergie correspondant la somme des nergies cdes lors de chaque interaction induite par le rayonnement
incident.

35

40

45

17. Procd selon la revendication 16, dans le cas dune surface de dtection, dans lequel on tablit en outre une
donne de position en rponse chaque rayonnement incident, la donne de position correspondant une combinaison linaire de donnes de position des interactions sur la surface de dtection en fonction des nergies des
interactions induites par le rayonnement.

Patentansprche
1.

50

55

Vorrichtung zur Verarbeitung von Signalen zur Erfassung von Interaktionen fr einen Halbleiter-Strahlungsdetektor,
aufweisend eine Mehrzahl von Detektorelementen (9, 9a), die entlang einer Erfassungsflche oder einem Erfassungsvolumen (11) nebeneinander angeordnet sind und die empfindlich sind fr die Energien, welche bei einer
oder mehreren Interaktionen durch die Strahlung, die als einfallende Strahlungen bezeichnet werden, abgegeben
werden, und geeignet sind, Interaktionserfassungssignale auszugeben, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung Einrichtungen aufweist, die als Verarbeitungseinrichtungen bezeichnet werden, die zum Ausgeben, ansprechend auf eine jeweilige erfasste einfallende Strahlung, mindestens einer Energieangabe dienen, welche der
Summe der Energien, die whrend einer jeweiligen Interaktion abgegeben werden, welche durch die auf ein Haupterfassungselement einfallende Strahlung induziert wird, und der Energien der Interaktionen entspricht, die im Wesentlichen gleichzeitig auf den zum Hauptdetektor benachbarten Detektorelementen stattfinden, und dadurch, dass
die Verarbeitungseinrichtungen aufweisen:

10

EP 0 960 526 B1
erste Einrichtungen (100), um mit jedem Interaktionserfassungssignal eines Detektorelements (9, 9a) Angaben
einer Position (X, Y) der Interaktion, einer Energie der Interaktion und eines Zeitpunkts (D) der Interaktion zu
assoziieren,
Auswhleinrichtungen (110) zum Auswhlen von Interaktionen, die eine gleiche Interaktionszeitangabe aufweisen und deren Interaktionspositionsangaben (X, Y) Detektorelementen entsprechen, die zur Erfassungsflche oder dem Erfassungsvolumen benachbart angeordnet sind, und
Summierungseinrichtungen (112), um die Energieangaben der ausgewhlten Interaktionen zu addieren und
eine Angabe zu erstellen, die als Energiesumme bezeichnet wird, welche der Summe der Energien entspricht,
die whrend einer jeweiligen durch die einfallende Strahlung induzierten Interaktion abgegeben werden.

10

2.

Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass sie weiter zweite Einrichtungen (114) aufweist, um,
ansprechend auf jede einfallende Strahlung, eine Angabe einer Position auf der Erfassungsflche oder in dem
Erfassungsvolumen auszugeben.

15

3.

Vorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Einrichtungen, die zum Ausgeben, ansprechend auf jede einfallende
Strahlung, einer Positionsangabe dienen, eine Berechnungseinrichtung aufweisen, die fhig ist, die Angabe einer
Position der einfallenden Strahlung zu berechnen, und zwar in der Art einer linearen Kombination von Positionsangaben der Interaktionen, abhngig von Angaben einer Energie der ausgewhlten Interaktionen.

20

4.

Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Auswhleinrichtungen (110) aufweisen: mindestens eine Speichereinrichtung (120, 120a), die eine Mehrzahl von Seiten (122) aufweist, welche jeweils mit einer Mehrzahl von aufeinanderfolgenden Zeitrumen assoziiert sind, Einrichtungen, um Angaben einer Energie und einer Position einer jeweiligen
Interaktion jeweils auf eine Seite zu schreiben, deren Zeitraum den Zeitpunkt dieser Interaktion beinhaltet, und
Einrichtungen, um Angaben, die in die Speichereinrichtung geschrieben sind, seitenweise zu lesen.

5.

Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Auswhleinrichtungen (110) Vergleichseinrichtungen von Positionsangaben aufweisen.

6.

Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die ersten Einrichtungen mindestens eine Schaltung aufweisen, die fhig ist,
die Positionsangaben auszugeben, abhngig von einer Lokalisierung auf der Erfassungsflche oder dem Erfassungsvolumen des Detektorelementes, von dem diese Interaktion erfasst wurde.

7.

Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die ersten Einrichtungen aufweisen:

25

30

mindestens eine Schaltung (100), um Angaben einer Amplitude und einer Anstiegszeit von Erfassungssignalen
zu erzeugen,
mindestens eine Schaltung (108), die als Korrekturschaltung bezeichnet wird, um eine Angabe einer Interaktionsenergie zu berechnen, abhngig von Angaben einer Amplitude und einer Anstiegszeit von Erfassungssignalen.

35

40

45

50

55

8.

Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die ersten Einrichtungen mindestens eine Zhleinrichtung (102) aufweisen,
die durch einen Taktgeber (104) angesteuert wird, um eine Angabe eines einem jeweiligen Erfassungssignal entsprechenden Interaktionszeitpunkts auszugeben.

9.

Vorrichtung nach Anspruch 6, die eine Mehrzahl von Schaltungen (100) aufweist, um Angaben einer Amplitude und
einer Anstiegszeit von Signalen zu erzeugen, wobei eine derartige Schaltung mit jedem Erfassungselement assoziiert ist.

10. Vorrichtung nach Anspruch 7, bei der eine einzige, gemeinsame, Korrekturschaltung (108) mit der Gesamtheit der
Detektorelemente (9, 9a) assoziiert ist und bei der ein Multiplexer (106) zwischen der Mehrzahl von Schaltungen
zur Erzeugung von Angaben einer Amplitude und einer Anstiegszeit von Signalen und der Korrekturschaltung (108)
angeschlossen ist.
11. Strahlungsdetektor, aufweisend eine Mehrzahl von Detektorelementen (9, 9a), die entlang einer Erfassungsflche
oder einem Erfassungsvolumen (11) nebeneinander angeordnet sind, und eine Vorrichtung (17) zur Verarbeitung
von Erfassungssignalen von Detektorelementen gem Anspruch 1.
12. Strahlungsdetektor nach Anspruch 11, bei dem jedes Detektorelement ein Halbleiterdetektormaterial (10) sowie

11

EP 0 960 526 B1
Polarisations- und Lese-Elektroden (12, 14) aufweist, die auf entgegengesetzten Flchen des Detektors (10) ausgebildet sind.

13. Strahlungsdetektor nach Anspruch 11, aufweisend mindestens ein Halbleiterdetektormaterial und eine Mehrzahl
von separaten Elektroden (14a), die nebeneinander auf mindestens einer Seite des Halbleitermaterials angeordnet
sind, wobei jede Elektrode mit einem Abschnitt des Halbleitermaterials ein Detektorelement (9a) bildet.
14. Detektor nach einem der Ansprche 12 oder 13, bei dem das Halbleitermaterial ein Kristall aus CdTe oder CdZnTe ist.

10

15. Gammakamera, die einen Strahlungsdetektor und ein Bilderzeugungssystem (116) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlungsdetektor gem Anspruch 11 ausgebildet ist.

25

16. Verfahren zur Verarbeitung von Signalen zur Erfassung von Interaktionen eines Halbleiter-Strahlungsdetektors,
aufweisend eine Mehrzahl von Detektorelementen, die entlang einer Erfassungsflche oder einem Erfassungsvolumen nebeneinander angeordnet sind und die empfindlich sind fr die Energien, welche bei einer oder mehreren
Interaktionen durch die Strahlung, die als einfallende Strahlungen bezeichnet werden, abgegeben werden, und
geeignet sind, Interaktionserfassungssignale auszugeben, dadurch gekennzeichnet, dass
mit jedem Interaktionserfassungssignal eines Detektorelements (9, 9a) Angaben einer Position (X, Y) der Interaktion,
einer Energie der Interaktion und eines Zeitpunkts (D) der Interaktion assoziiert werden,
Interaktionen ausgewhlt werden, die eine gleiche Interaktionszeitangabe aufweisen und deren Interaktionspositionsangaben (X, Y) Detektorelementen entsprechen, die zur Erfassungsflche oder dem Erfassungsvolumen benachbart angeordnet sind, und
die Energieangaben der ausgewhlten Interaktionen addiert werden und eine Angabe erstellt wird, die als Energiesumme bezeichnet wird, welche der Summe der Energien entspricht, die whrend einer jeweiligen durch die einfallende Strahlung induzierten Interaktion abgegeben werden.

30

17. Verfahren nach Anspruch 16, im Fall einer Erfassungsflche, bei der weiter eine Positionsangabe, ansprechend
jeweils auf eine einfallende Strahlung, erstellt wird, wobei die Positionsangabe einer linearen Kombination von
Positionsangaben der Interaktionen auf der Erfassungsflche entspricht, abhngig von den durch die Strahlung
induzierten Interaktionsenergien.

15

20

Claims
35

1.

40

A device for processing interaction detection signals for a radiation detector with semiconductors that comprises a
plurality of elementary detectors (9, 9a) placed side by side along a surface or volume of detection (11) sensitive to
the energies given up in one or more interactions by rays called incident rays and which are capable of supplying
interaction detection signals, characterized in that the device comprises means called processing means to supply,
in response to each incident ray detected, at least one energy datum corresponding to the sum of the energies given
up during each interaction induced by said incident ray on a main elementary detector and interaction energies
having taken place substantially at the same moment on elementary detectors that are neighbors to the main detector
and in that the processing means comprise :
- first means (100) to associate with each interaction detection signal of an elementary detector (9, 9a), interaction
position data (X, Y), interaction energy data and an interaction date datum (D),
- selection means (110) to select the interactions that have substantially one and the same interaction date
datum and interaction position data (X, Y) that correspond to neighboring elementary detectors in the surface
or the volume of detection, and
- summation means (112) to add the energy data of the selected interactions and to establish a datum
- called the energy sum datum which corresponds to the sum of the energies given up during each interaction
induced by the incident ray.

45

50

2.

A device according to Claim 1, characterized in that, in addition, it comprises second means (114) to supply, in
response to each incident ray, a datum of position on the surface or in the volume of detection.

3.

A device according to Claim 2, in which, the means of supplying, in response to each incident ray, a position datum,
comprise a calculating device capable of calculating said position datum of the incident ray as a linear combination
of the interaction position data in relation to the selected interactions energy data.

55

12

EP 0 960 526 B1
4.

A device according to Claim 1, in which, the selection means (110) comprise at least one memory (120, 120a) having
a plurality of pages (122) respectively associated with a plurality of successive periods of time, means of writing
energy and position data for each interaction respectively on a page whose period of time includes the date of said
interaction and means of reading, page by page, the data written into the memory.

5.

A device according to Claim 1, in which, the selection means (110) comprise position data comparators.

6.

A device according to Claim 1, in which, the first means comprise at least one circuit capable of supplying position
data as a function of a location on the surface or the volume of detection of the elementary detector that has detected
said interaction.

7.

A device according to Claim 1, in which, the first means comprise :

10

- at least one circuit (100) to form the amplitude and the rise time data for the detection signals
- at least one circuit (108) called a correction circuit to calculate an interaction energy datum as a function of
the amplitude and rise time data of the detection signals.

15

8.

A device according to Claim 1, in which, the first means comprise at least one counter (102), controlled by a clock
(104) to supply an interaction date datum that corresponds to each detection signal.

9.

A device according to Claim 6 comprising a plurality of circuits (100) to form amplitude and rise time data for the
signals, such a circuit being associated with each elementary detector.

20

25

30

10. A device according to Claim 7, in which a single common correction circuit (108) is associated with the assembly
of elementary detectors (9, 9a) and into which a multiplexer (106) is connected between the plurality of circuits for
the formation of the amplitude and rise time data for the signals and the correction circuit (108).
11. A radiation detector comprising a plurality of elementary detectors (9, 9a) placed side by side along a surface or a
volume of detection (11) and a device (17) for processing detection signals from elementary detectors conforming
to Claim 1.
12. A radiation detector according to Claim 11, in which each elementary detector includes a semiconductor detection
material (10) and polarization and reading
electrodes (12, 14), created on opposite faces of the detector (10).

35

13. A radiation detector according to Claim 11 comprising at least one semiconductor detection material and a plurality
of electrodes (14a) separated and placed side by side on at least one face of the semiconductor material, each
electrode forming with a portion of the semiconductor material, an elementary detector (9a).
40

14. A detector according to one of Claims 12 or 13, in which the semiconductor material is a crystal of CdTe or CdZnTe.
15. A gamma camera comprising a radiation detector and a system for forming images (116) characterized in that the
radiation detector conforms to Claim 11.

45

16. A method of processing interaction detection signals from a radiation detector with semiconductors comprising a
plurality of elementary detectors placed side by side along a surface or a volume of detection, sensitive to the
energies given up in one or more interactions by the rays, called incident rays, and capable of supplying interaction
detection signals, characterized in that :

50

- one associates with each interaction detection signal from an elementary detector (9, 9a), position data (X,
Y) for the interaction, energy for the interaction and a date datum (D) for the interaction
- one selects interactions having one and the same interaction date datum and interaction position data (X, Y)
that correspond to elementary detectors that
- are neighbors on the surface or volume of detection, and
- one adds the energy data of the selected interactions and one establishes a datum called an energy sum
datum that corresponds to the sum of the energies given up during each interaction induced by the incident ray.

55

17. A method according to Claim 16, in the case of a detection surface, in which, in addition, one establishes a position

13

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datum in response to each incident ray, the position datum corresponding to a linear combination of position data
for the interactions on the detection surface as a function of energies of the interactions induced by the ray.

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RFRENCES CITES DANS LA DESCRIPTION
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Documents brevets cits dans la description

EP 0589467 A [0030]

Littrature non-brevet cite dans la description

L. VERGER. New Developments of CdTe and


CdZnTe detectors for X and -ray application. The
1996 US Workshop on the Physics and Chemistry of
II-VI Materials - Las Vegas, 1996 [0112]
J.P. BONNEFOY. A novel ASIC for readout electronics in semiconductor -ray detection. 9th international
workshop on room temperature semiconductor X and
detectors associated electronics & application [0112]

19

F. LEBRUN. A CdTe gamma-camera for the space


observatory INTEGRAL : software charge-loss corrections. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 000, 1996 [0112]

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