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es/Noticias/Avances-en-microscopia-de-fuerzas-atomicas-mejoran-laresolucion-nanometrica
Avances en microscopa de fuerzas atmicas mejoran la resolucin nanomtrica
Un equipo del Consejo Superior de Investigaciones Cientficas (CSIC) ha impulsado el desarrollo
de un nuevo mtodo de microscopa de fuerzas atmicas, un instrumento mecano-ptico
empleado en nanociencia y nanotecnologa para tomar imgenes de los tomos y las molculas
de la superficie de un material. La tcnica, cuya patente ya est en fase de explotacin
comercial, aparece en el ltimo nmero de la revista Nature Nanotechnology.
FOTOGRAFAS
El nuevo desarrollo permite reconstruir con mayor fidelidad la topografa y las propiedades
mecnicas del material examinado. La tcnica bimodal aumenta la capacidad para recoger y
separar informacin sobre la muestra. Adems, es menos invasiva porque se ejercen fuerzas ms
pequeas sobre el material durante la observacin, agrega Garca.
Un cambio de paradigma
El artculo, publicado en Nature Nanotechnology, describe las contribuciones ms relevantes del
nuevo tipo de microscopa de fuerzas basado en la multifrecuencia, que permite abordar
problemas relevantes en energa y nanomedicina. Por ejemplo, se menciona cmo a travs de la
medicin de las propiedades nanomecnicas de diversas clulas es posible desarrollar nuevos
mtodos que detecten las primeras etapas de la migracin de clulas cancergenas.
Un aspecto muy novedoso de las tcnicas de multifrecuencia es su versatilidad. Por una parte,
pueden proporcionar con resolucin casi molecular medidas de propiedades mecnicas de
protenas en medios casi fisiolgicos y escalas de tiempo de milisegundos. Otras aplicaciones
aprovechan la sensibilidad y resolucin de estas microscopas para caracterizar y mejorar las
prestaciones de las bateras de litio, seala el investigador.
Referencia bibliogrfica:
Ricardo Garca y Elena T. Herruzo. "The emergence of multifrequency force microscopy". Nature
Nanotechnology, 2012. DOI: 10.1038/nnano.2012.38.