INSTRUMENTACIN

El microscopio electrnico de barrido se encuentra conformado por caones de

electrones y sistemas pticos como se observa en la figura .

Fig. () Estructura del microscopio electrnico de barrido

Para su funcionamiento un haz de electrones es generado por la fuente,
la cual puede ser un filamento de tungsteno o caones de emisin de campo,
stos ltimos empleados cuando se requiere alta resolucin. De tal manera
que los electrones en este proceso son acelerados a energas que van desde 1
a 30 keV formando un haz que cruza un sistema de lentes magnticas
condensadoras cuya funcin es concentrar an ms el dimetro del haz de 2 a
10 nm. Dicho sistema puede constar de una o ms lentes el cual se encarga de
que el haz de electrones llegue a la lente del objetivo y posteriormente por
medio de dos pares de bobinas electromagnticas se lleve a cabo el barrido
de la muestra, la columna en la cual se encuentra el sistema se encuentra a un
vaco alrededor de 10-7 torr.
El barrido se lleva a cabo gracias a que un par de bobinas desva el haz en
direccin x y el otro par lo desva en la direccin y. Mientras que el barrido es
controlado por una seal elctrica que llega a un par de bobinas, de modo que
el haz de electrones choca con la muestra a un lado del eje central del sistema

de lentes. Es decir, si se vara la seal elctrica de las bobinas del eje x en

funcin del tiempo, el haz de electrones se desplaza en una lnea recta por la
muestra y luego regresa a su posicin original. Tras completar el barrido lineal
las bobinas del eje y desvan ligeramente el haz y se repite el barrido.
Las seales que generan las bobinas de barrido pueden ser analgicas o
digitales estas ltimas teniendo la ventaja de que se puede reproducir el
movimiento y la ubicacin del haz de electrones ya que la seal procedente de
la muestra se puede codificar y almacenar en forma digital junto con las
representaciones digitales de las posiciones x y y del haz. Por el contrario si las
seales de barrido son analgicas, los electrones secundarios emitidos por la
muestra son captados por un colector de electrones que registra la intensidad
de electrones y posteriormente por medio de un circuito electrnico se amplifica
la seal y se proyecta con un cinescopio que es un tubo de rayos catdicos el
cual se encuentra sincronizado con el sistema de barrido de tal manera que
cada punto que se muestra en el CRT corresponde a un punto de la muestra.
INTERACCIONES DE LOS HACES DE ELECTRONES
La versatilidad de la microscopa electrnica de barrido en el estudio de
slidos proviene de la amplia variedad de seales que se generan cuando el
haz de electrones interacciona con el slido y que dan lugar a la imagen.
Estas seales pueden ser clasificadas en los siguientes tres grupos:

Fig. () Interacciones de haces de electrones en la muestra por MEB

1) Electrones retrodispersados
Que se originan debido a que un electrn proveniente del haz puede
colisionar elsticamente con un tomo, cambiando su direccin con un
ngulo comprendido entre 0 y 180 pero manteniendo la misma
velocidad. El haz formado a partir de estos electrones presenta un
dimetro mayor al haz incidente, este hecho es el que limita la
resolucin de un microscopio electrnico.
2) Electrones secundarios:
Estos se producen como resultado de interacciones entre los electrones
del haz altamente energticos y los electrones de conduccin del slido
que se encuentran dbilmente enlazados, dando lugar a la expulsin de
la banda de conduccin con energa de unos pocos electrovolts. Tales
electrones secundarios se pueden producir solo a una profundidad de 50
a 500

y salen con un haz ligeramente mayor al incidente.

3) Rayos X
La regin que penetran los electrones se conoce como volumen de
interaccin, aun cuando la radiacin se genera dentro de dicho volumen,
esta no ser generada a menos de que escape de la muestra. Y ya que
los rayos X no se absorben con facilidad estos salen.
Asimismo las interacciones del slido con el haz de electrones se clasifican
como interacciones elsticas, las cuales afectan la trayectoria de los electrones
sin alterar su energa de manera significativa e interacciones inelsticas que
son resultado de la transferencia total o parcial de la energa de los electrones
al slido. De tal manera que el slido excitado emite electrones secundarios,
electrones Auger, rayos X y en ocasiones fotones de longitudes de onda ms
largas

ORGANIZACIN Y PROCESO DE DATOS

Estas tareas estn en funcin del tipo de microscopio empleado, es

decir, si es analgico o si es un instrumento digital ms reciente.
El microscopio analgico emplea dos monitores de imgenes, el primero de
ellos le permite al operador observar la imagen barrida para identificar las
caractersticas de inters de la muestra as como enfocar y mejorar el sistema.
Dicha inspeccin se realiza a velocidades de inspeccin de 50 cuadros por
segundo de tal manera que la imagen se asocia a la que arroja una televisin.

Fig.() Tubo de rayos catdicos, permite visualizar imgenes mediante un haz de rayos
catdicos constante

Mientras que el segundo monitor es un tubo de rayos catdicos de alta

resolucin para registro fotogrfico con una velocidad baja para obtener una
imagen de alta calidad. Por otro lado los microscopios ms modernos la
imagen se construye registrando cada pixel sobre un elemento de memoria de
trama formando con ello un mapa de bits que permite intensificar el contraste,
inversin, mezcla, sustraccin y codificacin de color.

Fig. () Fotografa de polen tomada con MEB

APLICACIONES:

Fig. () Fotografa de una diatomea por MEB

Las aplicaciones del microscopio electrnico de barrido son muy

variadas, y van desde la industria petroqumica o la metalurgia hasta la
medicina forense. Sus anlisis proporcionan datos como textura, tamao y
forma de la muestra. Dentro de las reas de aplicacin se pueden encontrar:
Geologa:

Para

realizar

investigaciones

geomineras,

cristalogrficas,

mineralgicas y petrolgicas, as como estudios morfolgicos y estructurales de

las muestras.
Estudio de materiales: Para la caracterizacin microestructural de materiales,
identificacin, anlisis de fases cristalinas y transiciones de fases en diversos
materiales

tales

como

metales,

cermica,

materiales

compuestos,

semiconductores, polmeros y minerales. Composicin de superficies y tamao

de grano. Valoracin del deterioro de materiales, determinacin del grado de
cristalinidad y presencia de defectos, identificacin del tipo de degradacin ya
sea fatiga, corrosin entre otros.
Metalurgia: Para realizar el control de calidad y estudio de fatiga de materiales,
caractersticas texturales, as como el anlisis de fractura en materiales.
Odontologa: Dentro de este campo son muchas las aplicaciones de las
caracterizaciones morfolgicas que se pueden realizar con el microscopio
electrnico de barrido, una aplicacin especfica es cuando se estudia la
direccionalidad de las varillas de esmalte dental, adems de que se pueden
analizar a travs de MEB las alteraciones que producen los cidos producidos
por la entrada de microorganismos y restos de alimentos en las superficies
vestibulares de los dientes.
Paleontologa y Arqueologa: Caracterizacin de aspectos morfolgicos.
Control de Calidad: En este campo la MEB es de gran importancia para el
seguimiento morfolgico de procesos y su aplicacin en el control de calidad de
productos de uso y consumo, algunas industrias que lo emplean son las
siguientes:
Fibras: Dentro de esta industria se emplea para examinar:

Detalles superficiales de fibras.

Modificaciones en las formas de las fibras o en detalles superficiales.
Daado de fibras.
Construccin de hilos y tejidos.
Fractografa de fibras rotas por diferentes causas.
Urdimbre
Dimensiones de caractersticas de fibras desde diferentes ngulos.

Medicina Forense y Peritaje: se emplea para el anlisis morfolgico de

pruebas.
Botnica, Biomedicina y Medicina:

BIBLIOGRAFIA