Universidad Autnoma de Nuevo Len

Facultad de Ingeniera Mecnica y Elctrica

Ciencia de los Materiales
Evidencia #2: Sntesis de las Estructuras Cristalinas de los Materiales.

Equipo: 2
Integrantes:
Morales Barboza Jess Israel

1555787

Leyva Escobedo Jess Alejandro

1568420

Maldonado Morales Ricardo

1568473

Sandoval de la Garza Luis Ivn

1568745

Cavazos Ruiz Krissel Alejandra

1646323

Aguilar Ramos Marco Antonio

1524622

Instructor: Dra. Laura Ortiz Rivera.

Hora: M5-LMV

Saln: 7-117

Cd. Universitaria, Nuevo Len

22 de Febrero de 2013
1

INDICE
RESUMEN

MARCO TEORICO

ANALISIS DE INFORMACIN

ESTRUCTURAS CRISTALINAS
ESTRUCTURAS CRISTALINAS EN METALES
ORIENTACIN CRISTALOGRFICA
MATERIALES CRISTALINOS Y NO CRISTALINOS
IMPERFECCIONES EN SLIDOS
MICROSCOPA
PROBLEMAS DE APLICACION

9
10
13
17
22
24
26

RESULTADOS

30

CONCLUSIONES REFLEXIVAS

32

REFERENCIAS

33

RESUMEN
Es importante estudiar la estructura de un material para conocer sus propiedades, la
estructura depende del orden de sus tomos, as como el tipo de enlace que los une.
Una estructura que se repite en un orden repetitivo largo forma materiales cristalinos, y
al contrario si no tiene orden o si este se repite en un corto alcance se le conoce como
amorfo o no cristalino.
La red de tomos de un material se estudia en base a celdas unitarias, la cual define la
estructura en base a su forma geomtrica y el acomodo de sus tomos.
De acuerdo a su geometra se pueden formar 7 sistemas cristalinos: cbico, tetragonal,
ortorrmbico, rombodrico, hexagonal, monoclnico y triclnico.
De acuerdo al acomodo de sus tomos se pueden clasificar en: sencillas, centradas en
las caras, centradas en los cuerpos y centradas en las bases.
Los metales solidos son materiales cristalinos por excelencia, gracias a su especial
enlace que mantiene a los tomos ordenados y muy juntos. Estos normalmente tienen
solo 3 tipos de celdas unitarias: cbica centrada en las caras (FCC), cbica centrada en
el cuerpo (BCC) y hexagonal compacta (HC).
Caractersticas

FCC

BCC

HC

tomos

FEA
No. de

0.74

0.68

0.74

12

12

Coordinacin

Cobre
Metales conocidos

Cromo

Aluminio

Hierro

Plata

Tungsteno

Oro

Cadmio
Magnesio
Titanio
Cinc

El FEA es el Factor de Empaquetamiento Atmico que es la suma de los volmenes del

total de tomos por celda dividida entre el volumen de la celda como un cubo.
3

El nmero de coordinacin indica la cantidad de tomos vecinos para cada tomo

individual en una celdilla unidad.
Pero adems existen materiales que presentan ms de un tipo estructura cristalina esto
es un fenmeno conocido como polimorfismo, o bien alotropa si se presenta en solido
elemental.
A veces es importante referirnos a un punto o regin dentro de una celda unidad por lo
que la celda es divida en un sistema de 3 ejes. El origen es el vrtice de la celda, la
arista sobre el eje

ser a , sobre eje

ser b

y la del eje

Para referirnos a un punto en la celda se usan las coordenadas

z,c .

P(qrs ) para cada eje

respectivamente.
Cuando buscamos especificar una direccin se utiliza un vector que parte del origen y
se identifica por los ndices

[uvw ] . Aunque en los cristales hexagonales se usa un

sistema diferente llamado Miller-Bravais y se aade otro ndice quedando

[uvtw ] .

Ahora en los planos cristalogrficos se especifica usando los ndices de Miller de esta
forma

(hkl) , y nuevamente para los cristales hexagonales se agrega otro ndice

(hkil) .

Hay otra forma de representar a las estructuras FCC y HC, adems de la celda de
unidad, y es como planos atmicos compactos. En donde los planos se apilan y las
estructuras diferencian por las secuencias de planos que se forman.
En los materiales cristalinos se encuentran los monocristales y los policristales. Los
primeros son cuando los tomos estn acomodados en un patrn repetitivo y las celdas
de unidad estn orientadas igual. En los policristales se encuentran muchos cristales
pequeos los cuales crecen cada uno en una direccin u orientacin diferente, en
donde se llegan a formar defectos conocidos como lmites de grano.

Dentro de los monocristales puede suceder que las propiedades fsicas del material
sean dependientes de la orientacin que tome la celda, esto se le conoce como
anisotropa.
Toda esta informacin sobre la estructura de los materiales cristalinos se ha podido
obtener gracias a las nuevas tecnologas, una de las ms importantes es la tcnica de
difraccin de rayos x. Se usan rayos x debido a que su longitud de onda

es de

tamao muy similar al de un tomo lo que permite explorar entre ellos. Pero para medir
es difraccin se usa un aparato conocido como difractometro, que mide el ngulo as
como otras caractersticas de los rayos x despus de haber entrado en contacto con los
tomos de una estructura cristalina.
Adems se han podido detectar defectos o imperfecciones dentro de los cristales,
porque aunque un cristal tiene un acomodo repetitivo de tomos, no hay un material
perfecto.
Entre estos se pueden encontrar defectos puntuales, errores en los tomos; defectos de
lnea, errores en una dimensin; y defectos interfaciales y lmites de granos, errores en
dos dimensiones.
Los defectos de punto pueden ser de dos formas: vacantes o autointersticiales. Las
vacantes como su nombre lo indica son espacios vacos donde debera ir un tomo. En
los autointersticiales ocurre lo opuesto en un pequesimo espacio vaco entre los
tomos se acomoda un tomo extra.
En los defectos lineales se producen dislocaciones pueden ser de cua o helicoidal. En
la dislocacin de cua un semiplano de tomos se inserta dentro del espacio de un
cristal agregando filas y comprimiendo la estructura. Mientras que la helicoidal
distorsiona la estructura una unidad atmica debido a un esfuerzo cizallante.
Los lmites intersticiales son lmites bidimensionales que se presentan entre dos granos
con diferente orientacin de sus cristales. Y los lmites de grano son los que nos
referimos en los policristales, cuando cristales con diferente orientacin se encuentran
con cierto grado de desalineamiento de los tomos.

Pero los defectos no son exclusivamente malos, las impurezas en los slidos pueden
formar aleaciones que dan caractersticas especiales que un material por s solo no
tiene.
Los defectos a veces se pueden percibir a simple vista pero esto no es muy comn,
normalmente so microscpicos pralo cuales se usan aparatos especiales como el
microscopio ptico, el electrnico y el de barrido con sonda. El ptico usa efectos de luz
y lentes para aumentar el tamao de las imgenes. El electrnico usa electrones a alta
velocidad que atraviesan la probeta a examinar. Mientras que el barrido de sonda
examina con un haz de electrones el material para generar un mapa topogrfico.

MARCO TEORICO
La solidificacin es el proceso fsico en el cual la materia pasa de estado lquido a
slido por una disminucin de temperatura o una compresin.
Los electrones externos de valencia son los electrones ubicados en la ltima capa
electrnica de un tomo; stos pueden ser liberados fcilmente para que el tomo
consiga estabilidad.
Las coordenadas son los parmetros que permiten determinar la ubicacin de un punto
en un plano o eje.
Un vector es una representacin geomtrica de una magnitud fsica que posee adems
direccin y sentido.
Una estructura simtrica presenta correspondencia o proporcin entre las partes de un
todo.
Aleacin se le llama a la combinacin de dos o ms metales o de un metal(es) y un no
metal(es)
Ferromagnetismo es un fenmeno fsico de ordenamiento magntico de los momentos
magnticos de un cuerpo.
La longitud de onda describe que tan larga o corta es una onda, se mide entre dos
crestas o dos valles consecutivos.
A.J. Bravais: (Annonay, 1811-Versalles, 1863) Fsico y mineralogista francs. Profesor
de fsica y de astronoma, estableci la teora reticular. Escribi Estudios
cristalogrficos (1851).
Conrad Roentgen: (27 de marzo de 1845, Remscheid, 10 de febrero de 1923, Mnich)
fsico alemn, de la Universidad de Wrzburg, produjo radiacin electromagntica
(rayos X).
La cristalgrafa estudia la estructura y propiedades del estado cristalino.
7

Un Difractmetro de rayos X es capaz de detectar la radiacin que emana una muestra

determinada al ser excitada por una fuente de energa. Est compuesto de un
portamuestras mvil que ir moviendo el objeto estudiado con el fin de variar el ngulo
de incidencia de los rayos X.
La Ley de Bragg estudia las direcciones en las que la difraccin de rayos X sobre la
superficie de un cristal produce interferencias constructivas, dado que permite predecir
los ngulos en los que los rayos X son difractados por un material con estructura
atmica peridica (materiales cristalinos).
Miller: William Hallowes Miller (1801-1880). Cristalgrafo ingls que public en 1839 un
Treatiseon Crystallography, utilizando ejes cristalogrficos de referencia paralelos a
las aristas del cristal y aplicando ndices recprocos.
BCC son las siglas en ingls para 'Body-Centered Cubic', tipo de celda cristalina
centrada en el cuerpo.
FCC son las siglas en ingls para 'Face-Centered Cubic', tipo de celda cristalina
centrada en el cuerpo.
Densidad planar se refiere al nmero equivalente de tomos cuyos centros estn
cortados por un rea seleccionada y dividido por el rea seleccionada.
Densidad linear se refiere al nuevos de tomos cuyos centros se encuentran en una
direccin especfica de una arista especfica del cubo unidad.
El Polimorfismo representa la capacidad de un metal de existir en dos o ms
estructuras cristalinas.
Los semicristalinos no son materiales con regiones de estructura cristalina dispersa en
la regin amorfa circundante
Dislocacin es un defecto cristalino en el que una distorsin de la red se encuentra
centrada alrededor de una lnea.
El microscopio ptico se sirve de la luz visible para crear una imagen aumentada del
objeto. El microscopio ptico ms simple es la lente convexa doble con una distancia
focal corta.
Microscopio electrnico de barrido (SEM): instrumento empleado para examinar la
superficie de un material con una ampliacin muy grande mediante electrones
incidentes.
Microscopio electrnico de transmisin (TEM): instrumento empleado para estudiar
estructuras defectuosas internas mediante el paso de electrones a travs de pelculas
delgadas de materiales.
Microscopia de sonda de barrido (SPM): tcnicas de microscopia como STM y AFM que
permiten el trazado de mapas de la superficie de un material a escala atmica.

ANALISIS DE INFORMACIN
Estructuras Cristalinas
Las propiedades de los materiales dependen de su estructura. Cuando los tomos de
un slido existen en un arreglo tridimensional con una disposicin peridica o repetitiva
a lo largo de grandes distancias atmicas, se dice que el material es cristalino. Todos
los metales, muchos cermicos y ciertos polmeros presentan estructuras cristalinas en
condiciones normales de solidificacin.
La estructura de un material depende de cmo estn ordenados los tomos y de cul
enlace los una. Existen dos tipos principales de enlaces atmicos: primarios y
secundarios. Los enlaces primarios se subdividen en: inicos, covalentes y metlicos.
Si los tomos estn ordenados con un patrn que se repita sucesivamente, es un orden
de largo alcance (OLA) y a estos materiales se les llama cristalinos. En cambio, si el
material slo esta ordenado parcialmente o en un espacio reducido, tiene un orden de
corto alcance (OCA) y se le llama amorfos o no cristalinos.
La forma de ordenar a los tomos se puede representar en una red tridimensional,
llamada red espacial. En un cristal, los puntos de red de un tomo son iguales a los
puntos de red de cualquier tomo del material. Una celda unitaria o celdilla unidad es la
base de la red, y en ella se encuentra especificada la posicin de los tomos de la red,
define el tipo de estructura por el acomodo de tomos y su forma geomtrica.
Existen 7 tipos de sistema cristalino: cbico, tetragonal, ortorrmbico, rombodrico,
hexagonal, monoclnico y triclnico. A.J. Bravais demostr que de estos 7 sistemas,
9

derivan 14 especies de celdas unitarias, y que con estas 14 celdas, se puede describir
cualquier red espacial. Las celdas unitarias se clasifican en: sencillas, centradas en las
caras, centradas en los cuerpos y centradas en las bases. Se caracterizan y diferencian
por la relacin de las medidas de sus aristas y los ngulos que los separan.

Figura 1.1
14 Redes de Bravais con sus respectivas relaciones entre aristas y ngulos.
De Brown, Frederick C., Fsica de los Slidos. Barcelona: Editorial Revert, 2004, pp. 28

Estructuras cristalinas en metales

En los metales en estado slido, los tomos estn ordenados relativamente muy juntos
en una ordenacin sistemtica. Los tomos estn tan juntos que sus electrones
externos de valencia son atrados por los ncleos de sus numerosos vecinos y se
encentran dispersos entre los tomos en forma de una nube de carga electrnica de
baja densidad. Los metales slidos, por tanto, se consideran como constituidos por
ncleos de iones positivos (tomos sin sus electrones de valencia) y por electrones de
valencia dispersos en forma de nube electrnica. Esta disposicin de los tomos les da
sus propiedades caractersticas y la estructura cristalina que vamos a estudiar.
Aproximadamente el 90% de los metales cristalizan en solo tres tipos de celdas
unitarias: cbica centrada en las caras (FCC), cbica centrada en el cuerpo (BCC) y
hexagonal compacta (HC). El ordenamiento de la celda cbica centrada en el cuerpo le
10

permite acomodar 2 tomos en la misma celda. El ordenamiento de la celda cbica

centrada en las caras le permite acomodar 4 tomos en la misma celda, teniendo un
factor de empaquetamiento atmico (FEA) mayor al de BCC. La celda unitaria
hexagonal compacta contiene 6 tomos en su espacio.
Dos parmetros importantes son el nmero de coordinacin y el factor de
empaquetamiento atmico (FEA). El nmero de coordinacin indica la cantidad de
tomos vecinos para cada tomo individual en una celdilla unidad. El factor de
empaquetamiento atmico es la suma de los volmenes del total de tomos por celda
dividida entre el volumen de la celda como un cubo.
FEA=

volumen de lostomos por celdaunitaria

volumen de la celdaunitaria

Otro parmetro de gran importancia es la densidad

( )

de un slido metlico, que se

puede obtener con los datos de la celda unitaria y, a su vez, alguno de estos datos se
pueden obtener conociendo la densidad del slido y otros valores y constantes.
= Densidad
=

nA n=
Nmero de tomos por celdilla
VC NA
unidad

La estructura cristalina cbica centrada en las caras (FCC)

localiza un tomo centrado en cada vrtice del cubo y en los
centros de todas las caras del cubo. Los tomos de los
vrtices se comparten entre 8 celdillas unidad y los de las
caras se comparten entre 2, entonces, la cantidad de tomos
que la estructura FCC contiene son: 8 octavos y 6 mitades
sumando as 4 tomos por celdilla unidad. Los tomos - o
todo el cristal - se tocan a lo largo de la diagonal entre

Figura 2
Estructura Cbica Centrada en las
Caras (FCC) y la relacin de sus
radios atmicos.

vrtices del cubo, esto genera una relacin entre el arista del

Ohring, Milton. Engineering Materials Science.

New Jersey: Academic Press, 1995, pp. 77.

bien ncleos inicos ya que sus electrones estn libres por

11

cubo (o parmetro de red) y los radios de los ncleos inicos que lo componen
permitiendo as calcular el volumen total de los tomos en la celda y el volumen de la
celda como un cubo.
a=2 R 2V =a3
El nmero de coordinacin para esta estructura es 12 y su factor de empaquetamiento
es de 0.74, el mximo posible para un arreglo de esferas rgidas. Cobre, aluminio, plata
y oro presentan estructura FCC.
La estructura cbica centrada en el cuerpo (BCC)
contiene ocho tomos compartidos en cada vrtice, es
decir, ocho octavos de tomo por cada celda unidad; y un
tomo al centro que no es compartido, sumando 2
tomos por celdilla unidad. La longitud de la arista del
cubo y el radio de los tomos que lo conforman se
relacionan de la siguiente manera:
Figura 3
Estructura Cbica Centrada en el
Cuerpo (BCC) y la relacin de sus
radios atmicos.
Ohring, Milton. Engineering Materials Science. New
Jersey: Academic Press, 1995, pp. 77.

a=

4R
3

El nmero de coordinacin de estos tomos es 8 y el

factor de empaquetamiento es de 0.68, menor al de FCC.

El cromo, el hierro, el tungsteno, el tntalo y el molibdeno cristalizan en BCC.

La estructura hexagonal compacta HC es otro
tipo de arreglo presente en los metales el cual
su forma geomtrica no es un cubo. Se asemeja
ms a un prisma hexagonal con un plano
triangular al centro. El total de tomos por
celdilla unidad es de 6 tomos, 12 sextas partes
en cada vrtice del prisma, dos mitades en
cada cara y tres tomos en el plano triangular
del centro.
Figura 4
Estructura Hexagonal Compacta.(HCP)

12

De: "Materiales Metlicos", aulatecnologa.com

El nmero de coordinacin de HC es 12 al igual que en FCC as como su factor de

empaquetamiento que es igual a 0.74. Cadmio, cinc, cobalto, y titanio cristalizan en HC.
Algunos metales y no metales pueden presentar diferentes tipos de estructuras, hecho
conocido como polimorfismo. En un slido elemental esto se conoce como alotropa y
un claro ejemplo son los diferentes altropos del carbono elemental: diamante, grafito,
grafeno y fullereno. El polimorfismo y la alotropa se manifiestan generalmente bajo
diferentes condiciones de temperatura y presin.

Orientacin cristalogrfica
En algunos casos, ser necesario localizar un punto o un plano dentro de la celdilla
unidad. Por esto, es til saber el sistema para denominar las coordenadas puntuales,
las direcciones cristalogrficas y los planos cristalogrficos. Estas se basan en un
sistema de tres ejes, cuyo origen es el vrtice de la celdilla.
Para obtener la coordenada puntual, primero debemos saber la longitud de las aristas
de la celdilla. La arista sobre el eje
x

ser

a , la arista del eje

ser

z ,

y la del eje

c . La coordenada del punto ser

qrs , donde
fraccionaria de

es la longitud
x ,

longitud fraccionaria de
,

la

longitud

de

es la

z .

s
La

coordenada no se separa con

Figura 5
Estructura cbica con algunos parmetros indicados
Ohring, Milton. Engineering Materials Science. New Jersey: Academic Press, 1995, pp. 91.

comas o algn signo de puntuacin.

13

1 1
1
4 2 . Este punto estara a un cuarto de la longitud total

Una coordenada podra ser

de a, estara en el extremo y de la celdilla, y a la mitad del eje

z .

Pasando al siguiente punto, una direccin cristalogrfica se puede definir como una
lnea entre dos puntos o un vector. Para determinar los ndices de la direccin, primero,
obviamente, debemos trazar el vector. Este debe ser de una longitud adecuada y debe
partir del origen. Todo vector se puede trasladar por toda la red cristalina, si se mantiene
el paralelismo, es decir, que no se cambie el ngulo de inclinacin. Despus, se
determinar la longitud del vector en trminos de los tres ejes, en funcin de las
dimensiones

a ,

c . Los tres nmeros obtenidos se multiplicaran o reducirn

hasta conseguir los valores enteros ms pequeos posibles. Los tres ndices se
encierran entre corchetes y sin separacin entre ellos. La manera correcta es
donde u , v

y w

corresponden al eje

x ,

[uvw ] ,

z , respectivamente.

Algo que vale la pena decir es que en cada eje, existen coordenadas positivas o
negativas. Si tenemos un ndice negativo, se demuestra dibujando una raya sobre el
nmero, como por ejemplo

[1 11]
, donde

es negativo. Si en todos los ndices se

cambian el signo, obtenemos una direccin antiparalela, que es la direccin totalmente

opuesta a la direccin original.
En algunas estructuras, varias direcciones son equivalentes, esto quiere decir que el
espacio atmico a lo largo de cada direccin es el mismo. Un ejemplo de esto son las

direcciones [200], [020], [0 2 0 , [002], [ 2 00 , [00 2 ] en las que el espacio

atmico mide 2. Por facilidad, estas direcciones se agrupan en familias y se agrupan
entre parntesis angulares

200 . En los cristales cbicos, las direcciones son

equivalentes cuando existe el mismo ndice, no importa el orden ni el signo.

14

Los cristales hexagonales son diferentes porque no tienen el mismo conjunto de

ndices. Para estos cristales, se usa el sistema de Miller-Bravais, que consiste en
colocar cuatro ejes. Los primeros tres ejes se colocan en el mismo plano (plano basal,
en la base del hexgono), son llamados
entre s. El eje

y tienen ngulos de 120

es perpendicular al plano basal. Uno de los ejes de la base tendr

valor de 0, por mera lgica, y los dems obtenidos se conseguirn convirtiendo del
sistema de tres ndices al de cuatro ndices. Se obtendrn
el punto del eje

y u y

[u v w ]

son los puntos de los ejes

donde
1

w
y

es
a

excluyendo aquel que no nos sirva. Un ejemplo es si la direccin est entre el eje a 2 y
a1, el eje a3 se excluir por no sernos til.

Ya obtenido

[u v w ] , sustituiremos en las siguientes frmulas:

1
'
'
u= (2 u v )
3
1
v = (2 v ' u ' )
3
t=(u +v )
w=w '

15

Donde obtendremos el punto

[uvtw ] .

Si se

necesita reducir o aumentar los nmeros, se

har como ya se ha explicado.
Respecto a los planos cristalogrficos, la
orientacin de stos se representa de manera
muy parecida a lo que ya se ha explicado.
Para todos los sistemas, exceptuando el
hexagonal, los planos se especifican mediante
Figura 6

(hkl) , que son los ndices de Miller. Para

determinar

estos

ndices,

primero

Ejemplos de planos cristalogrficos.

Ohring, Milton. Engineering Materials Science. New Jersey: Academic
Press, 1995, pp. 90.

se

selecciona un origen y si el plano pasa por este origen, entonces se trazara otro plano
paralelo o se escoge un nuevo origen. Despus, se determinara la longitud de los
segmentos de las intersecciones del plano para cada eje en funcin de los parmetros
de red

a ,

b ,y

c . Si es paralelo a un eje, se tomar como . Se escribirn los

recprocos de estos nmeros y finalmente se conseguirn mediante factor comn los

nmeros enteros ms pequeos posibles. Los ndices se escriben como

(hkl).

Tambin, as como en las direcciones, existen las familias de planos cristalogrficos.

Esta contiene todos los planos que tienen el mismo empaquetamiento atmico y se
designa por ndices colocados entre llaves como

{100 } . Solamente en el sistema

cbico ocurre que los planos con los mismos ndices sean familia, no importa el signo ni
el orden.
Para los cristales hexagonales, se usa el sistema de Miller-Bravais. Esto ayuda a
identificar ms fcilmente la orientacin del plano y se convierte en los ndices

(hkil).

Al contrario de las direcciones, es mucho ms simple obtener un plano hexagonal, ya

16

que el ndice extra (la i ) se determina por la suma de

ndice h , k

y l

h y

k . Mientras tanto, el

son iguales que en el sistema de Miller.

Otro tema conectado con los anteriores es el de la densidad lineal y planar. Las
direcciones equivalentes y los planos equivalentes tienen densidades lineales idnticas
y densidades planares idnticas, respectivamente.
La densidad linear

( DL)

es el nmero de tomos que ha por unidad de longitud y su

frmula es:
DL=

a tomos en el vector
longitud del vector

La densidad planar

( DP)

es como la densidad lineal, pero en la planar se toma el

nmero de tomos por cada unidad de rea.

DP=

a t omos en el plano
a rea del plano

Como se haba explicado anteriormente, las estructuras FCC y HC tienen un factor de

empaquetamiento de 0.74, siendo el ms eficiente para tomos o esferas de igual
tamao. Ambas estructuras se generan colocando planos con la mxima densidad de
empaquetamiento uno encima del otro y la diferencia entre estas estructuras es la
secuencia de apilamiento.
Para explicar las secuencias, se le llamar

a los centros de los tomos que

designan un plano compacto. Quedaran dos tipos de vaco, uno con forma de triangulo
hacia arriba, el cual se llamar

B , y tringulos hacia abajo, llamados

C . La

principal diferencia entre FCC y HC es que la secuencia de FCC son los centros en
ABCABCABC , mientras que en la estructura HC, la secuencia sera
, o lo que es lo mismo,

ACACACAC .
17

ABABABABAB

Materiales Cristalinos y No Cristalinos

Dentro de los materiales cristalinos podemos encontrar dos tipos de materiales: los
monocristales y los policristales.
Un monocristal se forma cuando un slido cristalino tiene sus tomos acomodados en
un patrn repetitivo y peridico. Para que esto suceda las celdas de unidad deben tener
la misma orientacin y estar relacionadas del mismo modo.
Estos monocristales pueden tomar la forma de una figura regular geomtrica de caras
planas, bajo la condicin de que se dejen crecer sin ninguna interferencia externa.
Aunque los monocristales pueden encontrarse de forma natural, en su mayora los
slidos cristalinos toman la forma de un policristal.
Los policristales, como su nombre lo indica, se refiere a la los slidos cristalinos
formados por muchos cristales diminutos, tambin llamados granos. Estos cristales
empiezan tomando una posicin aleatoria a partir de la cual irn extendindose, debido
a los tomos de lquido que los rodean.
Sin embargo, a diferencia de los monocristales cuyos tomos tienen la misma
orientacin, cada uno de estos pequeos cristales toma una orientacin propia, y al ir
extendindose llegara el punto en donde los cristales se encontraran uno junto al otro,
lo que finalizara la solidificacin.
Esta regin donde los granos se tocan tiene una estructura atmica irregular y se le
conoce como lmite de grano, que es un tipo de defecto en los slidos del cual se
hablara ms adelante.
Ahora, en los monocristales puede suceder un fenmeno llamado anisotropa, el cual
provoca que las propiedades fsicas del material sean diferentes dependiendo en qu
direccin sea medida. Esto debido a que el espacio entre los tomos vara de acuerdo a
la direccin cristalogrfica.

18

Hay que agregar que entre ms simtrica sea una estructura menor grado de
anisotropa tiene, o viceversa. Por lo que se puede deducir que una estructura triclnica,
que tiene tanto sus lados como los ngulos entre ellos completamente diferentes el uno
del otro, posee una gran anisotropa.
As tambin cuando queremos referirnos a los materiales cuyas propiedades fsicas no
estn determinadas por la direccin cristalogrfica en que se mide, se les llama
materiales isotrpicos.
Existen diferentes tcnicas para determinar una estructura cristalina, aqu nicamente
nos enfocaremos en la tcnica de difraccin de rayos x.
Aun antes de que se descubrieran los rayos X por Conrad Roentgen en 1895, los
cristalgrafos haban deducido ciertas caractersticas sobre los materiales cristalinos
como su perfecta disposicin atmica y otras relaciones con los ngulos entre las
caras del cristal. Entonces con la ayuda de los rayos X, se podra decir que hasta
podan ver dentro de los cristales, lo que les permiti determinar las estructuras
cristalinas y las celdas unitarias.

19

Los

rayos

son

radiacin

electromagntica que se mueven en

lnea recta y tienen un comportamiento
ondulatorio, que adems no poseen
carga por lo que no pueden ser
dispersados por campos magnticos o
elctricos. Pero la caracterstica que
los hacen tan tiles en la deteccin de

Figura 7
Nelson, Stephen (2011,19 de Octubre), Sin Ttulo. {Imagen en lnea} Disponible: {Recuperada el 20 de febrero de 2013}

la estructura cristalina es que su

Nelson, Stephen (2011,19 de Octubre), Sin Ttulo. {Imagen en lnea} Disponible: {Recuperada el 20 de febrero de 2013}

Figura 8
Nelson, Stephen (2011,19 de Octubre), Sin Ttulo. {Imagen en lnea} Disponible: {Recuperada el 20 de febrero de 2013}

longitud de onda es muy similar al tamao de los tomos, lo que hace posible explorar
dentro de los cristales.
En un haz de rayos X se tienen un grupo de ondas separadas, las cuales interactan
entre s, esta interaccin se le conoce como inferencia y puede ser constructiva o
destructiva.
En una inferencia constructiva las ondas en el haz estn en fase, es decir, que las
amplitudes y las crestas tienen la misma posicin, cuando esto ocurre se produce una
onda resultante cuya amplitud se duplica. (Figura 7)
Mientras que en la inferencia destructiva las ondas no estn en fase y la onda
resultante no tiene amplitud, es decir, que se destruye. (Figura 8)
Esta inferencia sucede cuando los tomos de un cristal y las ondas de rayos X
interactan, lo que se percibe como las ondas siendo reflejadas. Aunque estos tomos

20

los percibimos ms bien como planos, debido al orden tan perfecto en los cristales
parecen planos continuos, que se identifican con los ndices de Miller

(h kl) .

Consideremos un haz de rayos X

que se encuentra con la superficie
de

un

ngulo

cristal

determinado

, en la Figura 3 vemos

2 rayos siendo difractados por los

planos de tomos, y la distancia
Figura 9
Nelson, Stephen (2011,19 de Octubre), Sin Ttulo. {Imagen en lnea} Disponible: {Recuperada el 20 de febrero de 2013}

entre estos planos se identifica

como

d . El rayo 1 es reflejado

por el plano superior, a un ngulo

igual con el que entro en contacto con el plano. Igualmente ocurre con el rayo 2

solo que este logra entrar al segundo plano antes de ser reflejado, y como se muestra
en la imagen avanza una distancia de
Si se cumple la condicin:

2a

antes de salir del cristal.

n=2 a

Entonces los rayos 1 y 2 estn en fase y es una inferencia constructiva.

En donde

es equivalente a:

a=d sin

Y sustituyendo en la frmula original tenemos que:

n=2 d sin

En donde,

y cuando sin

es el orden de reflexin que puede tomar cualquier valor entero siempre

sea menor a 1.

21

Esta ecuacin resultante es conocida como la Ley de Bragg, la cual establece una
relacin entre la longitud de onda incidente, el ngulo de difraccin y el espacio entre
los planos atmicos.
Expresado de otra manera podemos determinar el espacio entre los planos con la
formula despejada:
d=

n
2 sin

Pero esta relacin ocurre nicamente si las ondas estn en fase al ser reflejadas.
Ahora, para medir esta difraccin de rayos X utilizamos un aparato llamado
difractmetro. En la Figura 4 se muestra el esquema de un difractmetro de rayos X.
En F se encuentra un filamento que al calentarse producir un haz electrnico, y para
hacer que estos electrones se muevan al nodo A se debe provocar un alto voltaje entre
estos dos puntos. Para
que

los

rayos

alineen

se

correctamente

en un haz se usan unos

diafragmas de plomo, D.
Estos rayos se reflejan
en el cristal, C, de la

Figura 10

figura

Gonzales Alcudia, Michel (2005), Fig. 3.4 Funcionamiento de un difractometro de rayos x. {Imagen en lnea}
Disponible:
http://itzamna.bnct.ipn.mx:8080/dspace/bitstream/123456789/929/1/MICHELGONZALEZ.PDF
{Recuperado el 20 de febrero de 2013}

ngulo

forman

un

solo en las

longitudes de onda que cumplan la ley de Bragg. Este haz resultante se vuelve a alinear
por otro grupo de diafragmas, D, para finalmente entrar en una cmara de ionizacin, I.
Ah los rayos pasan entre un par de placas de modo que el gas ah dispuesto queda
ionizado, estos iones son atrados a una placa aislada, gracias a la batera B que
produce un campo magntico, todo lo anterior resulta en una corriente que pasa por el
galvanmetro G.

22

En donde la potencia de esta corriente es proporcional a la intensidad del haz reflejado.

Tambin se puede poner la corriente en funcin del ngulo

Ahora, para cerrar un poco el tema hablaremos brevemente de los slidos no

cristalinos.
Los slidos no cristalinos, como su nombre lo dice, son materiales que se oponen a la
forma de un material cristalino, ya que no poseen una estructura peridica u ordenada
en largas distancias atmicas, lo que
las hace muy complejas y difciles de
clasificar. Es por eso que otro de sus
nombres es materiales amorfos, porque
es muy difcil encontrar una secuencia o
forma caracterstica.
Figura 11
Ayala, Y. Estay, G. (2009, 1 de Octubre), Sin Ttulo. {Imagen en lnea} Disponible: {Recuperado el 20 de febrero de 2013}

Lo que determina si un material es

cristalino o amorfo es en gran medida
de la facilidad para adquirir un estado

ordenado durante el proceso de solidificacin. Pero tambin es posible forzar un

material a ser amorfo bajando la temperatura de un material a niveles de congelacin
en un periodo muy corto de tiempo, el material se vuelve amorfo porque no le da tiempo
suficiente de ordenarse.
A continuacin podemos notar la
facilidad de cada tipo de material
de ser amorfo o cristalino:

Cristalinos

Cermicos (Figura 11)

Semicristalinos - Cermicos

o Polmeros
Amorfos

Metales

Polmeros

Figura 12
Ayala, Y. Estay, G. (2009, 1 de Octubre), Sin Ttulo. {Imagen en lnea} Disponible: {Recuperado el 20 de febrero de 2013}

Cermicos (Figura 12)

23

De este modo nos damos cuenta que un material metlico siempre tendr una
estructura cristalina, los polmeros pueden ser amorfos o semicristalinos, mientras que
los cermicos pueden pertenecer a cualquiera de los tres.

Imperfecciones en slidos
Ningn material presenta una cristalizacin perfecta. La calidad y las propiedades de un
material se ven afectadas por imperfecciones o defectos en el acomodo de los tomos.
Las imperfecciones o impurezas no siempre van a influir de forma negativa y pueden
mejorar las capacidades de un slido, por ejemplo, las aleaciones.
Los defectos en los cristales son irregularidades de tamao atmico que pueden ocurrir
puntualmente, con uno o dos tomos desplazados; en dimensin lineal o en dos
dimensiones.
Dentro de los defectos de punto estn las vacantes de red, que son espacios vacos
donde hace falta un solo tomo. Se originan para aumentar la aleatoriedad de un cristal
y son ocurrencias de 1 en cada 10,000 para los metales, por ejemplo. Los
autointersticiales son otro tipo de defecto de punto menos probable que se presenta
cuando un tomo ocupa un espacio vaco que no debera estar ocupado y causa gran
distorsin en el arreglo.
Es imposible conseguir un metal de pureza 100% ya que siempre habr un mnimo
porcentaje de impurezas. La mayora de los metales utilizados estn en aleacin, una
disolucin solida que mejora las propiedades del material. En una aleacin, los tomos

24

de la impureza se esparcen dentro de la estructura cristalina y generan defectos

puntuales que pueden ser intersticiales o de sustitucin.
Cuando se tiene una aleacin o una disolucin
slida es importante reportar la composicin del
material respecto a cada elemento y en funcin de
su peso o nmero de moles.
Figura 13
Defectos puntuales
Ohring, Milton. Engineering Materials Science. New Jersey:
Academic Press, 1995, pp. 104.

Una dislocacin es otro tipo de imperfeccin que

puede ocurrir en una dimensin de un cristal.
Cuando existe una dislocacin de cua o arista, un

semiplano de tomos se inserta dentro del espacio de un cristal agregando filas y

comprimiendo la estructura. Una dislocacin helicoidal distorsiona la estructura una
unidad atmica debido a un esfuerzo cizallante. En general, la mayora de las
dislocaciones presentes en un material son combinacin de ambos tipos.
Las

dislocaciones

pueden

darse

durante

la

solidificacin, la deformacin plstica o el rpido

enfriamiento de cualquier material cristalino. Las
tcnicas de microscopio nos permiten identificar los
defectos en los materiales cristalinos con mayor
Figura 14
Dislocaciones lineales
Ohring, Milton. Engineering Materials Science. New Jersey:
Academic Press, 1995, pp. 106.

detalle.
Los lmites intersticiales son lmites bidimensionales

que se presentan entre dos granos con diferente orientacin de sus cristales. En las
superficies externas se presentan estos tipos de lmites, ya que la energa de los
tomos en los bordes del cristal es mayor.
Otra imperfeccin se presenta en los lmites de
grano, donde cristales con diferente orientacin se
encuentran con cierto grado de desalineamiento de
los tomos; aqu la energa tambin incrementa
debido a que los tomos no estn enlazados con el
nmero mximo de vecinos posibles.

25

Figura 14
Dislocaciones lineales
Ohring, Milton. Engineering Materials Science. New Jersey:
Academic Press, 1995, pp. 106.

En los lmites de macla la red de tomos de un lado del lmite es una imagen en espejo
de la del lado opuesto.
Pueden ocurrir otros tipos de defectos como fallos en la apilacin, donde se altera el
orden

ABCABC ; lmites de fase, donde ocurren cambios sbitos de propiedades

fsicas y/o qumicas; o las paredes de dominios ferromagnticos que dividen partes con
diferente comportamiento magntico.
Durante los procesos de obtencin y fabricacin se pueden generar otro tipo de
deformaciones en los materiales, como poros, grietas, inclusiones extraas y fases
diferentes.

Microscopa
Las caractersticas y defectos estructurales de un material se pueden observar y
analizar de diferentes formas. Las macroscpicas son apreciables a simple vista como
el tamao, la forma o el dimetro promedio de un grano de gran tamao. Sin embargo,
la mayora de los granos de un material son del orden de los micrmetros y se deben
estudiar con aparatos especiales para observar estructuras microscpicas. Los ms
comunes son el microscopio ptico, el electrnico y el de barrido con sonda.
Siempre es importante analizar la estructura microscpica de

un material para

identificar la relacin entre sus propiedades y estructura, tomando en cuenta los

defectos y as determinar si un material ha sido procesado correctamente.
En la microscopa ptica se usan los efectos de la luz visible y un sistema de lentes
para magnificar las imgenes de superficies de muestras previamente pulidas hasta
que queden como espejo y sometidas a un ataque qumico que revele su
microestructura.
El microscopio electrnico consigue superar los
2000 aumentos de un microscopio ptico utilizando
haces de electrones a alta velocidad con una
longitud de onda mnima.

26
Figura 15
Imagen en SEM de slice (SiO2)
Caltech.edu

En un microscopio electrnico de transmisin, un haz de electrones atraviesa una

probeta muy delgada del material y revelan los detalles de la microestructura y sus
defectos gracias a la difractacin o dispersin de los haces. Puede conseguir aumentos
de hasta 1 000 000x.
El microscopio electrnico de barrido examina con un haz de electrones que barre la
superficie del material, esta superficie debe ser conductora o ser recubierta por alguna
capa fina de un conductor. El barrido con sonda consiste en una sonda que va
barriendo a nanmetros de distancia una superficie y generando un mapa topogrfico
atmico.
El tamao de grano es una propiedad de un material policristalino y se determina en
funcin del volumen, el dimetro o el rea promedio del grano. Para calcularse se usan
el mtodo de intersecciones o las cartas de comparacin estandarizadas aplicadas en
fotomicrografas.

27

PROBLEMAS DE APLICACION

Un metal con una estructura cubica tiene una densidad de

atmico de

87.62 g /mol

y un parmetro de red de

2.6 g/cm3 , un peso

6.0849 . Un tomo est

asociado con cada uno de los puntos de la red. Determine la estructura del metal.
V =a3=( 6.0849 108)3

Datos:
=2.6 g /cm3

V =2.2529 1022 cm 3

A=87.62 g/mol

=
8

nA
VcN A

n=

VcN A
A

a=6.0849 =6.0849 10 cm

( 2.6 ) ( 2.2529 1022 ) (6.023 10 23)

n=
87.62

23

N A =6.023 10
Operaciones:

n=4.026 4 atomos

Respuesta: Estructura Cristalina Cubica Centrada en las Caras (FCC)

28

1.892 g /cm3 , un peso

Un metal con una estructura cubica tiene una densidad de

atmico de

132.91 g /mol

6.13 . Un tomo est asociado

y un parmetro de red de

con cada punto de la red. Determine la estructura cristalina del metal.

Datos:

V =a3=( 6.13 108 )3

=1.892 g/cm3

V =2.3034 1022 cm3

A=132.91 g/ mol

nA
VcN A

n=

( 1.892 ) ( 2.3034 1022 ) (6.023 10 23)

132.91

n=

VcN A
A

a=6.13 =6.13 10 cm
23

N A =6.023 10
Operaciones:

n=1.97 2 atomos
Respuesta: Estructura Cristalina Cubica Centrada en el Cuerpo (BCC)

El Bismuto tiene una estructura hexagonal con

densidad es de

9.808 g/cm

a0 =0.4546 nm

y el peso atmico de

N A =6.023 1023

=9.808 g /cm3
A=208.98 g /mol

a0 =0.4546 nm=0.4546 107 cm

Operaciones:
V =a02 c 0

c 0=1.186 nm=1.186 107 cm

29

c 0=1.186 nm

, la

208.98 g /mol . Determine: a) el

volumen de la celda unitaria; b) el nmero de tomos por celda.

Datos:

V =(0.4546 107 )2 (1.186 107 )

22

V =2.4510 10
=

nA
VcN A

n=

cm

n=

( 9.808 ) ( 2.4510 1022) (6.023 1023)

208.98

n=6.0001 6 atomos

VcN A
A

Respuestas:
Volumen de la celda unitaria

22

2.4510 10

cm

Nmero de tomos por celda 6 tomos.

El galio tiene una estructura ortorrmbica con

c 0=0.76570 nm

, el radio atmico es de

el peso atmico es de

0.1218 nm

a0 =0.45258 nm

b0 =0.45186 nm

la densidad es de

5.904 g/cm3 ,

69.72 g /mol . Determine: a) el nmero de tomos por celda; b)

el factor de empaquetamiento.

30

Datos:
=5.904 g /cm3

c 0=0.76570 nm=0.76570 107 cm

A=69.72 g/mol

r=0.1218nm=0.1218 10 cm

a0 =0.45258 nm=0.45258 107 cm

N A =6.023 10

23

b0 =0.45186 nm=0.45186 107 cm

Operaciones:
V =a0 b0 c 0

nA
VcN A

n=

( 5.904 ) ( 1.5658 1022) (6.023 1023)

208.98

n=

VcN A
A

V =( 0.45258 107 ) ( 0.45186 107 )

(0.76570 107 )
V =1.5658 1022 cm 3

n=7.98 8 atomos

4 3 4
7 3
V esfera = r = (0.1218 10 )
3
3

FEA=

V esfera =7.5688 1024 cm 3

FEA=0.38

V A =8 ( 7.5688 1024 )=6.055 1023 cm 3

Respuestas:
Nmero de tomos por celda 8 tomos.
Factor de Empaquetamiento 0.38

31

V A 6.055 1023
=
V C 1.5658 1022

El berilio tiene una estructura cristalina hexagonal

el radio atomico es de
de

a0 =0.22858 nm

0.1143 n m , la densidad es de

1.848 g /cm3

c 0=0.35842 nm

y el peso atmico

9.01 g /mol . Determine: a) el nmero de tomos por celda; b) el factor de

empaquetamiento.
Datos:
=1.848 g/cm3

c 0=0.35842 nm=0.35842 107 cm

A=9.01 g /mol

r=0.1143 nm=0.1143 10 cm

a0 =0.22858 nm=0.22858 107 cm

N A =6.023 1023

Operaciones:
2

V =a0 c 0

nA
VcN A

n=

( 1.848 ) ( 1.6218 1023 ) (6.023 10 23)

9.01

n=

VcN A
A

V =(0.22858 107 )2 (0.35842 107)

23

V =1.6218 10

cm

n=2.003 2 atomos
4
4
V esfera = r 3 = (0.1143 107 )3
3
3
24

V esfera =6.2549 10

cm

FEA=

V A 1.2509 1023
=
V C 1.6218 1023

FEA=0.77

V A =2 ( 6.2549 1024 )=1.250 1023 cm 3

32

Respuestas:
Nmero de tomos por celda 2 tomos.
Factor de Empaquetamiento 0.77

RESULTADOS
Las estructuras cristalinas son aquellas en las que la disposicin, es decir, el acomodo
de los tomos es repetitivo o peridico a lo largo de largas distancias. Para ordenar
estos tomos, se representa mediante la llamada red espacial. La base de esta red son
las celdillas unitarias. Gracias a esta celdilla, se puede identificar la posicin de los
tomos y la estructura de la sustancia o elemento.
Tenemos 7 tipos de sistema cristalino, de los cuales se derivan 14 tipos de celdilla, con
las que se puede describir cualquier red espacial, por lo que son las nicas que
necesitamos. De los 14 tipos de celdilla, 3 son las ms comunes en los metales: la
FCC, que es centrada en las caras; la BCC, centrada en el cuerpo; y la HC, hexagonal
compacta. Estos tipos de celdilla tienen factores muy importantes como lo son el
nmero de coordinacin (el nmero de tomos por celdilla), el factor de
empaquetamiento, que se determina dividiendo el volumen de los tomos entre el
volumen total, y la densidad, que es los gramos de sustancia por centmetro cbico.
Cuando debamos localizar un punto sobre la ya mencionada celdilla unitaria, se usar
una coordenada puntual, localizndola mediante los ejes

x ,

de la celdilla.

Tambin, se puede localizar una direccin, usando los ndices de Miller para casi todas
las estructuras, excepto las hexagonales donde se usaran los ndices Miller-Bravais; en

ambos ndices, se encerraran entre corchetes

([ ]) para mostrar que es una

direccin. Ser lo mismo para los planos, donde la mxima diferencia es que se
encerraran entre llaves los ndices

({}).

Tanto en las direcciones como en los planos

cristalogrficos existen las familias. En las direcciones, una familia es toda direccin
que sea equivalente con otra; mientras tanto, en los planos, una familia es el grupo de
planos con el mismo empaquetamiento atmico.
Otro tema importante fue el acomodamiento de las estructuras FCC y HC, lo que
muestra porque tienen el mismo factor de empaquetamiento, pero son diferentes.
Los monocristales se forman cuando un slido tiene sus tomos en orden repetitivo y
peridico. En su contraparte, los policristales son slidos cristalinos formados por
muchos cristales diminutos que empiezan tomando una posicin aleatoria.
Un fenmeno que slo sucede en los monocristales es la anisotropa, que provoca que
las propiedades de los materiales sean diferentes dependiendo de la direccin en que
sea medida.
Los rayos X son radiacin electromagntica que viaja en lnea recta y se comporta
como onda. Su ms importante caracterstica es su longitud de onda, que es muy
similar al tamao de los tomos, lo que permite explorar dentro de los cristales.
En un haz de rayos X, cuando hay interaccin entre las ondas, puede haber una
inferencia constructiva, en la que la amplitud se duplica, o destructiva, que provoca que
la onda se destruya.
Tambin tenemos la ley de Bragg, que es una ecuacin que establece una relacin
entre la longitud de onda, el ngulo de difraccin y el espacio entre planos atmicos.
Todo esto se refiere a los slidos cristalinos, pero tambin se toc el tema de los no
cristalinos. Los materiales no cristalinos son aquellos que no adquieren un orden de
tomos en su proceso de solidificacin. Los materiales que ms fcilmente son
cristalinos son metales y los ms fcilmente amorfos son los polmeros.

Ningn material es 100% perfecto, por lo que hay imperfecciones o deformaciones. Aun
as, stas pueden ser buenas porque mejoran las caractersticas del material.
Los defectos que pueden ocurrir son las vacantes de red, que son espacios vacios
donde falta un tomo; los autointersticiales que es cuando un tomo ocupa un espacio
que no debe ocupar; una impureza, como lo son las aleaciones; una dislocacin, que es
cuando un semiplano de tomos se inserta comprimiendo toda la estructura; fallos en la
apilacin, entre otros.
Para analizar la estructura microscpica de un material, se usan microscopios pero hay
4 tipos. En el microscopio ptico, se usa un sistema de lentes para magnificar. En el
electrnico, se utiliza un haz de electrones con una longitud de onda mnima. En el
electrnico de transmisin, un haz de electrones atraviesa una probeta delgada de
material y se revelan detalles de la microestructura. Finalmente, en el microscopio
electrnico de barrido, la superficie de material se recubre de un conductor y luego un
haz de electrones barre la superficie.

CONCLUSIONES REFLEXIVAS
En el desarrollo de este trabajo, enfocado a las estructuras cristalinas que presentan los
materiales, repasamos temas relacionados con la estructura atmica y enlaces
interatmicos, estructuras de los slidos cristalinos y sobre las Imperfecciones en los
slidos. Con ello aprendimos las principales caractersticas bsicas de un slido
cristalino.
Tratamos primero con los enlaces debido a que es indispensable conocerlos para la
comprensin de los temas tratados referente a estructuras cristalinas.
Al terminar el estudio ya poseemos el conocimiento sobre las estructuras cristalinas, los
metales ms comunes que cristalizan y las tres principales estructuras cristalinas
metlicas relativamente simples las cuales son: Cubica centrada en las caras (FCC),
Cubica centrada en el cuerpo (BCC) y Hexagonal compacta (HC).
Ahora conocemos acerca de direcciones cristalogrficas y planos cristalogrficos, los
puntos, las direcciones y los planos especificados mediante ndices. La determinacin

de los ndices se basa en un sistema de ejes coordenados definidos por la celdilla

unidad para la estructura cristalina particular. De igual manera contamos con el
conocimiento sobre las deformaciones e imperfecciones que pueden aparecer en un
arreglo cristalino y repercutir en las propiedades del material.
Adems para que el lector tuviese una mejor perspectiva sobre lo relatado,
explicaciones con lenguaje bsico para entenderlo y que fuese entendido por cualquier
tipo de lector haciendo todo lo posible para que lo presentado fuera de gran inters y
coherente para el interesado.
Es clara ahora para nosotros la importancia de una estructura cristalina y su tipo en el
comportamiento de un material. Conocemos ya las principales celdas cristalinas, somos
conscientes de los parmetros que definen a una celda y las imperfecciones que
pueden afectar a un arreglo.

REFERENCIAS
Ayala, Y. Estay, G. (2009, 1 de Octubre), Sin Ttulo. {Imagen en lnea} Disponible:
http://quimicajcb.blogspot.mx/2009/10/diferencias-entre-solidos-cristalinos-y.html
{Recuperado el 20 de febrero de 2013}
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Limusa-Wiley, 2012.
Callister, William D. Fundamentals of Materials Science and Engineering, Nueva York:
John Wiley & Sons, 2001.
Caltech.edu
Smith, William F. y Hashemi, Javad. "Introduccin a la ciencia e ingeniera de los
materiales". Fundamentos de la ciencia e ingeniera de materiales. Mxico: McGraw
Hill, 2006.

Gonzlez Alcudia, Michel (2005, Abril), Crecimiento y caracterizacin de pelculas

delgadas de cdte:al. Maestra en Tecnologa Avanzada. Centro de Investigacin en
Ciencia Aplicada y Tecnologa Avanzada, Instituto Politcnico Nacional, Tamaulipas.
Gonzales Alcudia, Michel (2005), Fig. 3.4 Funcionamiento de un difractometro de rayos
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lnea}
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Nelson, Stephen (2011, 19 de Octubre), X-Ray Crystallography. Recuperado el 20 de
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Nelson, Stephen (2011,19 de Octubre), Sin Ttulo. {Imagen en lnea} Disponible:
http://www.tulane.edu/~sanelson/eens211/x-ray.htm {Recuperada el 20 de febrero de
2013}
Ohring, Milton. "Introduction to materials science and engineering" Engineering
Materials Science. New Jersey: Academic Press, 1995, pp. 1-24.