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2.
Introduccin
Como se explic en la unidad anterior, cuando una sustancia qumica absorbe un
tipo de radiacin, sus electrones pasan de un estado basal a un estado electrnico
excitado. Al suceder el fenmeno de absorcin muchas sustancias disipan el
exceso de energa en forma de calor, sin embargo, solo un grupo de especies
pierde una cantidad del exceso de energa en forma de calor, y emite la energa
restante en forma de radiacin electromagntica de distinta longitud de onda que
la absorbida, a una longitud de onda mayor, puede utilizarse con fines analticos.
De acuerdo con este fenmeno de emisin remanente de energa con que
cuentan las especies qumicas luego de ser irradiadas, es que se puede emplear
la espectroscopia de emisin atmica (E.E.A.) y la espectroscopa de
Fluorescencia tanto para la identificacin de sustancias atmicas como para la
cuantificacin de las mismas. Al igual que la tcnica instrumental de absorcin
atmica, la E.E.A. genera espectros de emisin conformados por picos muy
estrechos, los cuales explican las transiciones energticas de los electrones que
conforman los tomos de un elemento en particular. Tambin, estos espectros
representan una huella digital inequvoca de los elementos metlicos, al igual que
cualquier otra propiedad fsica, como por ejemplo, el punto de fusin, el ndice de
refraccin, etc.
En el ltimo captulo se abordaran algunas tcnicas espectroscpicas modernas
de caracterizacin y anlisis de superficies actualmente utilizadas como son
espectroscopia fotoelectrnica de rayos X (XPS), microscopia electrnica de
barrido (SEM) y Microscopia Electrnica de Transmisin (TEM).
En la presenta unidad se abordar la informacin necesaria para entender el
fenmeno de emisin de energa a escala atmica y todo lo relacionado con la
tcnica de anlisis instrumental de superficies.
B
Figura 55. A. Explicacin de las transiciones electrnicas; B. Espectro de emisin
del hierro.
Esto ocurre cuando una muestra es sometida a una descarga elctrica
suministrada por una fuente de excitacin. El proceso descrito puede expresarse
Ecuacin 2.1
Donde:
4.17.1
Ventajas
4.17.2
Desventajas
4.17.3
Fuentes de energa.
Las fuentes de energa para la emisin pueden ser provocadas por energa
trmica o elctrica. Esta fuente ejerce una gran influencia en el tipo de
intensidades de los picos que constituyen el espectro de cada uno de los
elementos. De acuerdo a lo anterior se puede decir que la fuente de energa tiene
dos funciones:
4.17.3.1
Energa de excitacin
Resulta evidente que para que un elemento en estado de oxidacin cero emita
una nica lnea espectral, es necesario que previamente haya absorbido una
energa equivalente a su potencial de excitacin, que es la energa necesaria para
subir un electrn del estado fundamental al primer estado excitado; pero para que
un elemento muestre una emisin completa, debe absorber una energa
equivalente a su potencial de ionizacin. Como cada fuente de energa tiene una
cantidad de energa fija, los potenciales de ionizacin pueden servir como va para
conocer las sensibilidades relativas de los distintos elementos en espectroscopia
de emisin. As, aquellos elementos que tienen bajos potenciales de ionizacin,
como son los alcalinos, se podrn determinar con gran sensibilidad, mientras que
los elementos no metlicos con alto potencial de ionizacin, se determinarn con
poca sensibilidad.
Por lo expresado anteriormente se puede concluir que la complejidad de los
espectros de emisin depender de la configuracin electrnica del elemento, por
lo que los metales alcalinos presentan espectros muy simples, mientras que los de
transicin los presentan muy complejos.
4.18.1
Fuentes de excitacin
4.18.1.1
La llama
Proporciona una menor temperatura por lo que solo se excitarn unas cuantas
lneas, principalmente los elementos con baja energa de ionizacin, como los
metales alcalinos y alcalinos trreos, pero esto puede constituir una ventaja, ya
que las interferencias que pueden producir otros elementos quedan eliminadas al
estos no emitir energa.
4.18.1.2
4.18.1.3
En este caso se utiliza una corriente alterna entre 2000 y 5000 V. con intensidades
comprendidas entre 1 y 5 amperios. El arco se establece entre los electrodos,
separados alrededor de 1 mm, sin necesidad de contacto previo.
Si la frecuencia de la corriente es 50 Hz, el arco se extingue e invierte su direccin
100 veces por segundo, lo cual mejora considerablemente la reproducibilidad
respecto al arco de corriente continua, pues el arco se establece ("pica") en una
zona nueva en cada ciclo. Sin embargo, la naturaleza intermitente de la descarga
hace que la temperatura alcanzada sea inferior a la que se consigue con el arco
de corriente continua, con la correspondiente disminucin de la sensibilidad. De
cualquier forma, este dispositivo no se utiliza demasiado en el trabajo analtico
ordinario.
4.18.1.4
4.18.1.5
La microsonda lser
4.18.2
Monocromadores.
4.18.3
Detectores.
y t es el tiempo
Ar
Ar + + e-
En funcin de como se aporte esta energa externa, se han desarrollado tres tipos
de fuentes de alimentacin: una fuente de corriente continua (DCP), consistente
en dos electrodos sumergidos en la corriente de gas argn, y otras dos que
utilizan potentes campos de microondas (MIP) y de radiofrecuencia (ICP). De las
tres, la de radiofrecuencia (ICP) es la ms interesante desde el punto de vista
analtico.
Bobina de induccin
de radiofrecuencia
Muestra en forma de
aerosol o vaporizada
en argn
Introduccin de la muestra
4.19.2
4.19.3
Aplicaciones de la ICP
4.20.1
4.20.2
chispa
4.20.3
4.20.3.1
4.20.3.2
4.20.3.3
Velocidad de emisin
4.20.3.4
Las fuentes de arco son muy tiles para el anlisis cualitativo y semicuantitativo de
muestras no metlicas, como suelos, muestras vegetales, rocas y minerales.
Normalmente, de 2 a 50 mg de muestra en forma de polvo, molienda, pequeos
trozos o limaduras se mezclan con una cantidad pesada de grafito y se introducen
en la cavidad de los electrodos de grafito, donde generalmente, el electrodo
portamuestras hace de nodo y el segundo contraelectrodo acta de ctodo.
4.20.4
Se han desarrollado diversos circuitos que producen chispas de alta tensin para
espectroscopia de emisin. Una chispa intermitente que siempre se propaga en la
misma direccin proporciona mayor precisin y menor deriva de la emisin
radiante. Se utiliza un conjunto de circuitos de estado slido para el control de la
frecuencia y la duracin de la chispa que por lo general con una corriente de 60 Hz
se producen cuatro descargas de chispa por cada semiciclo.
Con una chispa de alta tensin. La corriente promedio es generalmente bastante
menor que en un arco tpico. Por otra parte, en la fase inicial de la descarga, la
corriente instantnea puede sobrepasar los 1000 A; en este caso, la electricidad
circula por un canal estrecho que ocupa una minscula parte del espacio total en
el que se produce la chispa. La temperatura en esta regin puede llegar a ser de
40 000 K. As, mientras la temperatura media de una fuente de chispa es mucho
menor que la de un arco, la energa en el pequeo volumen del canal puede ser
varias veces mayor. Como consecuencia, los espectros los espectros de iones son
ms pronunciados en una chispa de alta tensin que en un arco.
4.20.4.1
1.
2.
3.
La llama
El arco elctrico con corriente directa
La chispa elctrica con corriente alterna
Los prismas
La microsonda lser
4.
b.
c.
5.
Fuente de plasma
Plasma de acoplamiento inductivo
Can electrnico
Fuentes de chispa
Fuentes de arco
Introduccin
La espectroscopia de fluorescencia atmica (AFS) es una tcnica de emisin que
ofrece una gran sensibilidad en la regin ultravioleta. Sin embargo, su sensibilidad
es mucho menor en la regin visible debido a las intensas interferencias que
experimenta en la lnea base y a procesos de quenching en esta zona espectral.
Para que pueda producirse el proceso de emisin fluorescente, previamente debe
haber tenido lugar un proceso de absorcin que implicar dos o ms transiciones
electrnicas. El proceso emisivo fluorescente puede producirse de diversas formas
lo que implica que existan distintos tipos de fluorescencia: fluorescencia
resonante, fluorescencia sensibilizada, fluorescencia Stokes o anti-Stokes,
fluorescencia retardada.
La fluorescencia es un proceso de emisin en el cual las molculas son excitadas
por la absorcin de radiacin electromagntica. Las especies excitadas se relajan
al estado fundamental, liberando su exceso de energa en forma de fotones. Una
de las caractersticas ms atractivas de los mtodos de fluorescencia es su
sensibilidad inherente, la cual es, con frecuencia, de uno a tres rdenes de
magnitud mejor que las de la espectroscopia de absorcin. No obstante, los
mtodos de fluorescencia se aplican mucho menos que los mtodos de absorcin
debido al nmero relativamente limitado de sistemas qumicos que se pueden
hacer fluorescer.
Relajacin vibracional
Relajacin no radiante
Conversin interna
5.21.2
5.21.2.1
Rendimiento cuntico
5.21.2.2
Estructura
Frmula
Longitud de onda de
la fluorescencia, nm
Intensidad relativa de
la fluorescencia
Benceno
C6H6
270-310
10
Tolueno
C6H5CH3
270-320
17
Propilbenceno
C6H5C3H7
270-320
17
Fluorobenceno
C6H5F
270-320
10
Clorobenceno
C6H5Cl
275-345
Bromobenceno
C6H5Br
290-380
Iodobenceno
C6H5I
Fenol
C6H5OH
285-365
18
Ion fenolato
C6H5O
310-400
10
Anisol
C6H5OCH3
285-345
20
Anilina
C6H5NH2
310-405
20
Ion anilinio
C6H5NH3
Acido benzoico
C6H5COOH
310-390
Benzonitrilo
C6H5CN
280-360
20
Nitrobenceno
C6H5NO2
5.21.2.3
Rigidez estructural
Fluoreno
Binefilo
5.21.2.4
Temperatura y disolvente
5.21.2.5
Efecto del pH
5.21.2.6
Efecto de la concentracin
Ecuacin 2.6
Ecuacin 2.8
Ecuacin 2.9
y si P0 se mantiene constante,
Ecuacin 2.11
Cuando c es suficientemente elevada como para que la absorbancia multiplicada
por 2'303 sea mayor que 0'05, los trminos de mayor orden de la expresin
anterior no son despreciables y la linealidad se pierde. Este efecto es un resultado
de autoapagamiento, en el cual las molculas del analito absorben la fluorescencia
producida por otras molculas de analito.
5.22.1
Los prismas
5.22.2
Las cubetas
Son utilizadas para contener la muestra, suelen ser de cuarzo para permitir el
paso de la radiacin ultravioleta. Las ms tpicas son de 1 cm de espesor, como
las utilizadas para medidas de absorcin, excepto que todas las caras son
transparentes a la radiacin (estn pulidas), ya que generalmente las medidas de
fluorescencia se realizan en un ngulo de 90 respecto a la radiacin incidente; a
otros ngulos, la dispersin por la disolucin y las propias paredes de la cubeta
puede originar mayor ruido de fondo.
5.22.3
Los detectores
Ecuacin 2.14
[
(
Ecuacin 2.16
de donde,
[
Ecuacin 2.17
5.23.1
Autoatenuacin.
5.23.2
Autoabsorcin.
En este caso, la fluorescencia de una molcula es absorbida por otra molcula del
mismo soluto en estado fundamental, y la probabilidad de tales eventos crece al
aumentar la concentracin. La auto-absorcin reduce la intensidad de
fluorescencia, salvo que f sea la unidad. Por ello, la representacin grfica de If
frente a C puede hacerse incluso descendente para altos valores de C.
Como ya se vio, If es proporcional a la absortividad molar: a mayor absorcin,
mayor fluorescencia. Sin embargo, cuando la absorcin es demasiado grande y la
disolucin bastante concentrada, la porcin de la disolucin ms prxima a la
fuente luminosa absorbe mucha radiacin, de forma que queda muy poca
disponible para el resto. Si la concentracin es tan grande que toda la radiacin
incidente es absorbida, If = k f (Po P) = k f Po, en cuyo caso, If tiende al valor
de k Po (ver Figura 68).
Muchas molculas aromticas (especialmente aquellas con grupos funcionales
capaces de unirse por enlaces de hidrgeno) forman dmeros u otros agregados
en disolucin. Esta tendencia, lgicamente ser mayor a altas concentraciones de
soluto. Considerando que, con frecuencia, los dmeros son menos fluorescentes
que el correspondiente monmero, se observar un descenso de I f como
consecuencia de la formacin de estas especies dmeras.
Por otra parte, ciertos compuestos en estado singulete excitado tienen tendencia a
formar asociaciones con molculas de su misma especie en estado fundamental.
El espectro de emisin de estas asociaciones suele estar desplazado hacia
mayores longitudes de onda respecto al del correspondiente monmero.
5.24.1
Sustancias inorgnicas
5.24.1.1
Anlisis directo
5.24.1.2
Reactivo
Sensibilidad (g/mL)
Butilrodamina S
0.01
3+
Morina
0.05
3+
Rojo de alizarina
0.007
Luminocupferrn
0.1
8-hidroxiquinolena
0.2
Flavonol
0.1
Especie
Ag
Al
Al
2+
Cu
Li
4+
Sn
Determinaciones indirectas
Reactivo
Sensibilidad (g/mL)
Nitrato de uralino
1.0
Al-morina
0.2
Al-morina
0.05
Especie
Cl
F
3-
PO4
5.24.1.3
Determinaciones indirectas.
5.24.2
Sustancias orgnicas
Reactivo
ex
em
Fluorescencia nativa
340
480
B1
+ ferricianuro
365
445
B2
Fluorescencia nativa
370
440
B6
+ KMnO4
350
450
B12
Fluorescencia nativa
275
305
Ac. Dehidroascrbico +
o-fenilendiamina
350
430
D3
+ Ac. tricloroactico
390
480
Fluorescencia nativa
270
370
--
--
--
D2
Dentro del grupo de vitaminas B, las hay que presentan fluorescencia nativa, como
la B2 (riboflavina) y la B12 (cianocobalamina), mientras que otras, como la B1
(tiamina) y la B6 (piridoxina) necesitan una transformacin previa, lo cual se
consigue por oxidacin con ferricianuro y permanganato respectivamente.
5.24.3
Qumica clnica
5.24.4
Anlisis forense
Condiciones
ex (nm)
em (nm)
Sensibilidad (g/mL)
Adrenalina
pH 1
295
335
0.1
Ac. saliclico
pH 11
310
435
0.1
Ampicilina
Hidrlisis
346
422
0.05
Aspirina
HAc-CHCl3
280
335
0.01
Atropina
eosina
365
556
1.0
Codeina
pH 1
245.285
350
0.1
Digital
HCl-glicerina
350
465
0.1
Estreptomicina
pH 13
366
445
0.1
LSD
pH 7
325
365
0.002
Morfina
pH 1
285
350
0.1
Pentotal
pH 13
315
530
0.1
Quinina
pH 1
350
450
0.002
5.24.5
Qumica Agroalimentaria
Tambin se utilizan las tcnicas luminiscentes con cierta extensin. As, por
ejemplo, los antioxidantes son sustancias que se aaden a los alimentos que
contienen grasas o aceites para evitar su degradacin durante el proceso de
elaboracin. Una de las sustancias empleadas es el hidroxianisol butilado (BHA).
Esta sustancia est permitida por la legislacin vigente y puede separarse por
destilacin con arrastre en corriente de vapor y determinarla directamente en el
destilado por espectrofluorimetra ( ex=293 nm; em=323 nm).
5.24.6
Contaminacin ambiental
Ejemplo
Se desea analizar vitamina B1 en un preparado comercial de 2.000 g por el
mtodo del tiocromo. Se extrae con HCl y fosfatasa y se diluye a 100 mL. Se
purifica una alcuota de 15 mL pasndola por una columna cromatogrfica, y por
causas inherentes al proceso se diluye a 25 mL. De la anterior solucin, se forman
dos porciones de 5 mL, una de ellas se trata con ferricianuro y ambas se aforan a
10 mL para examen fluorimtrico. Una solucin de referencia de 0.2 ppm de
tiamina se somete al mismo tratamiento que la muestra problema, con excepcin
de que la porcin introducida en la columna conserva su volumen original. Se
toman dos alcuotas de 5 mL y una se oxida y ambas se aforan a 10 mL. Se mide
la fluorescencia de ambas muestras dando lugar a intensidades de fluorescencia
de 18 y 13 unidades de fluorescencia, respectivamente. Calcular los ppm de
vitamina B1 en la muestra.
Solucin:
Como el tratamiento del patrn y de la muestra problema son idnticos, salvo la
dilucin de 15 a 25 mL en la columna cromatogrfica, hacemos referencia a la
concentracin de patrn de 0.2 ppm de tiamina, que da una fluorescencia de 13
Esta concentracin debe ser corregida por la exclusiva dilucin cromatogrfica que
sufre la muestra problema. Luego la concentracin de tiamina en los 100 mL es:
(
Ejemplo
En ausencia de autoabsorcin, la intensidad de fluorescencia de una muestra es
proporcional a la concentracin, solo a concentraciones bajas. Calcular el
porcentaje de error que se comete suponiendo que la respuesta es lineal cuando
se mide la intensidad relativa de fluorescencia de disoluciones 2.5x10 -5 y 2.5x10-6
M de un compuesto cuya e=4000 L mol-1 cm-1 si el valor de b es 1 cm.
Solucin:
Tericamente, la intensidad de fluorescencia, IF, es proporcional a la eficacia
cuntica, F, y a la intensidad de radiacin absorbida por la muestra (I0-I),
diferencia entre la intensidad incidente y la intensidad transmitida:
(
Ecuacin 2.20
Por tanto:
(
por lo tanto
( )
( )
( )
( )
( )
( )
Entonces
(
(
)
- Si la concentracin es 2.5x10-5 M:
que supera el valor de 0.05
(
- Si la concentracin es 2.5x10-6 M:
1.
2.
Irel
Irel
Irel
Irel
=
=
=
=
19,45 cNADH
20,65 cNADH
22,35 cNADH
21,43 cNADH
+
+
+
+
2,8 x 10-4
6,1 x 10-4
3,6 x 10-4
2,5 x 10-4
0,1747 y 0,2696
0,2134 y 0,2576
0,1853 y 0,2787
0,2046 y 0,2448
3.
4.
0.614 M
0.454 M
0.735 M
0.544 M
6,42 x 10-34 M
3,46 x 10-34 M
2,36 x 10-34 M
5,63 x 10-34 M
5.
Introduccin
Mediante ste captulo se pretende introducir al estudiante en una nueva rama de
la qumica analtica: la qumica analtica de superficies o anlisis de superficies. Su
presentacin como entidad propiamente dicha, ha surgido gracias a dos
eventualidades preponderantes: 1. El desarrollo de tecnologas cada vez ms
complejas ha permitido el diseo y utilizacin de instrumentos poderosos que
pueden revelar la estructura atmica y la composicin qumica de las superficies;
2. la informacin que se obtiene a partir de los anlisis de superficies e interfaces,
se ha constituido como una base potente para conocer procesos qumicos
fundamentales de gran importancia, tales como: corrosin, adsorcin,
quimisorcin, reactividad, oxidacin, pasivacin, o difusin entre otros, lo que ha
permitido avanzar enormemente en el desarrollo de otras ramas de la Ciencia y la
Tecnologa
(produccin
de
catalizadores,
semiconductores,
circuitos
microelectrnicos, polmeros, etc.).
6.25.2
Figura 74. (Izquierda) Superficie irradiada con una fuente de fotones de alta
energa que provoca la emisin de electrones. (Derecha) El fotn imparte su
energa a un electrn de un nivel electrnico interior, y este es emitido
Ecuacin 2.21
Donde EB es la energa de enlace del electrn en el tomo, h es la energa de la
fuente de rayos X, y KE es la energa cintica del electrn detectado que es
medida por el espectrmetro del XPS.
Un electrn cargado negativamente se unir al tomo por atraccin con su ncleo
positivo. Cuanto ms interno es el electrn, ms fuerte ser su enlace. La energa
de enlace de un electrn variar segn el tipo de tomo (valor absoluto de su
carga nuclear) y de los tomos que a l se unan (los cuales pueden alterar la
distribucin electrnica). En el caso de los istopos, estos poseen distinto nmero
de neutrones pero igual carga nuclear, por tanto no vara la energa de enlace.
Las interacciones dbiles entre tomos, como fuerzas de cristalizacin o enlace de
hidrgeno, no alteran suficientemente la distribucin electrnica como para que se
pueda observar un cambio en la energa de enlace medible. La energa de enlace
que se mide por XPS se asocia siempre a enlaces de tipo inico o covalente entre
tomos.
Para los gases, la energa de enlace de un electrn es igual a su energa de
ionizacin. En cambio, en los slidos existe una influencia por parte de la
superficie, y una energa adicional es necesaria para remover un electrn de la
misma, esta energa extra es denominada funcin de trabajo. Cuando un slido es
irradiado por rayos X, tambin puede ocurrir la emisin de electrones Auger. Estos
electrones se diferencian de los fotoelectrones, y se caracterizan porque su
energa es independiente de la energa de irradiacin.
( )
Ecuacin 2.21
( )
Ecuacin 2.23
Figura 75. (a) Ajuste qumico para el orbital 1s del S vs estado de oxidacin en
especies inorgnicas. (b) Energa de enlace del orbital 2p del S vs carga calculada
en especies inorgnicas y orgnicas de azufre.
6.25.3.1
Ecuacin 2.25
Se necesita medir la energa cintica y conocer la funcin de trabajo del
espectrmetro, siendo EBf la energa de enlace referenciada al nivel de Fermi.
Para muestras conductoras se ajusta el espectrmetro mediante el empleo de Au
estndar, conociendo que los valores de su energa de enlace son E f = 0.0 eV,
4f7/2 = 83.98 eV. Para conseguir una linealidad en la escala de la energa de
enlace se ajusta la diferencia de energa entre lneas bastante separadas de una
muestra, por ejemplo los picos 3s y 2p3/2 del Cu.
La calibracin se realiza por medidas reiteradas y al ultra alto vaco, que nos
asegure que las superficies de las muestras no tienen contaminacin alguna.
Decir que la tcnica XPS es sensible a la superficie. Esto se debe a que los
electrones poseen menos habilidad para atravesar slidos que los rayos X. As,
una radiacin X de 1 KeV puede penetrar ms de 1000 nm en un slido, mientras
que electrones de esta energa slo penetran unos 10 nm. Por tanto los electrones
que son emitidos por los rayos X que han penetrado ms all de las primeras
capas de la superficie, no pueden escapar de la muestra y alcanzar el detector.
( )
( )
Ecuacin 2.25
Donde,
- Iij es el rea del pico j para el elemento i.
- K es una constante instrumental que contiene magnitudes como el flujo de rayos X, el
rea de muestra irradiada, y el ngulo slido de fotoelectrones aceptado por el
analizador.
- T(KE) es la funcin de transmisin del analizador, que incluye la eficiencia de
captacin de las lentes, y la energa de analizador y eficiencia del detector.
- Lij () representa el factor de asimetra angular para un orbital j de un elemento i. Tiene
en cuenta el tipo de orbital desde el cual un electrn es emitido, y el ngulo existente
entre la radiacin X incidente y los electrones fotoemitidos.
- ij, es la seccin transversal de fotoionizacin, e indica la probabilidad en que la
radiacin X crear un fotoelectrn a partir de un orbital j de un elemento i.
- ni (z) indica la concentracin de un elemento i a una distancia z por debajo de la
superficie.
-
6.25.5
Instrumentacin
Las muestras son introducidas en una primera cmara donde se procede a vaciar
la atmsfera existente y acercarse a un vaco de 10 -6 torr. Alcanzar el ultra-alto
vaco es una operacin lenta, cuya duracin oscila entre varios minutos y horas.
La colocacin de la muestra en el interior de la cmara se realiza mediante una
barra unida a un portamuestras. Dentro de la cmara principal, la muestra puede
6.25.6
6.26.1
Antecedentes
6.26.2
Funcionamiento
acelerados salen del can, y son enfocados por la lente condensadora y objetiva,
cuya funcin es reducir la imagen del filamento, de manera que incida en la
muestra un haz de electrones lo ms pequeo posible (para as tener una mejor
resolucin). Con las bobinas deflectoras se barre este fino haz de electrones sobre
la muestra, punto por punto y lnea por lnea.
Cuando el haz incide sobre la muestra, se producen muchas interacciones entre
los electrones del mismo haz, y los tomos de la muestra; puede haber por
ejemplo, electrones rebotados como las bolas de billar. Por otra parte, la energa
que pierden los electrones al "Chocar" contra la muestra puede hacer que otros
electrones salgan despedidos (electrones secundarios), y producir rayos X,
electrones Auger, etc. El ms comn de stos es el que detecta electrones
secundarios, y es con el que se hacen la mayora de las imgenes de
microscopios de barrido.
Podemos tambin adquirir la seal de Rayos X que se produce cuando se
desprenden estos mismos de la muestra, y posteriormente hacer un anlisis
espectrogrfico de la composicin de la muestra.
6.27.1
Formacin de la imagen
Las aplicaciones del microscopio electrnico de barrido son muy variadas, y van
desde la industria petroqumica o la metalurgia hasta la medicina forense. Sus
anlisis proporcionan datos como textura, tamao y forma de la muestra. Entre las
reas de aplicacin de esta tcnica, se pueden mencionar:
6.27.2
Geologa
6.27.3
Estudio de materiales
6.27.4
Metalurgia
6.27.5
Odontologa
6.27.6
Control de Calidad
6.28.1
Instrumentacin
6.28.1.1
Can electrnico
6.28.1.2
Condensadores
Los dos condensadores son capaces de dar una amplia gama de intensidad
ajustando el can electrnico. Esto reduce el rea iluminada en la muestra. Sin
embargo, otras partes de la muestra tambin sufren los efectos del haz
electrnico. El primer condensador reduce la imagen de la fuente mientras que el
segundo condensador obtiene la adecuada intensidad de iluminacin.
6.28.1.3
6.28.1.4
Objetivo
6.28.1.5
Lente intermedia
6.28.1.6
Lente de proyeccin
6.28.1.7
Cmara de observacin
6.28.1.8
Cmara fotogrfica
6.28.2
Por otra parte con este microscopio se puede obtener un diagrama de difraccin
de la muestra, lo que nos aporta una valiosa informacin sobre la estructura
cristalina de la misma. Esto es posible si hacemos incidir el haz de electrones
sobre un cristal con un ngulo capaz de satisfacer la ley de Bragg para una
determinada distancia entre planos atmicos dhkl. Ya que la longitud de onda de
los electrones es muy pequea ese ngulo tambin lo es por lo que el haz debe
incidir prcticamente paralelo a los planos reticulares. El diagrama de difraccin
est formado por los puntos de corte de los haces difractados y transmitido con el
plano de la pantalla. Representa, por tanto, la seccin de la red recproca del
cristal en el plano normal al haz de electrones.
1.
2.
( )
( )
( )
( )
( )
( )
3.
Sistema de vaco,
La fuente de rayos X,
Analizador de energa del electrn
Monocromador
Sistema de datos.
Al
Mg
Ag
Na
Zr