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Controle de

Processo
Plano de Controle
Controle Estatstico de Processo
Anlise de Capabilidade de Processo
Faculdade Univrtix

Plano de Controle

Faculdade Univrtix

Plano de Controle
O Plano de Controle derivado do FMEA;

O Plano de Controle inclui todos controles previstos em cada

operao listada no Fluxograma de Processo;


Tcnicas Prova de Erro (Poka Yoke / Mistake Proofing)
devem ser preferidas a controles convencionais;
Estabelecer as caractersticas a serem verificadas, os
mtodos e o plano de reao em cada etapa aplicvel do
processo;
Pode ser incorporado s Folhas de Processos.

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Formulrio
Cabealho

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Formulrio

Identificao da
Etapa do
Processo onde o
controle
aplicado

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Formulrio

Descrio das
caractersticas
controladas
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Caractersticas Especiais
Controle Robusto
Dispositivo Prova
de Erro

Controle Estatstico de
Processo

Poka Yoke /
Mistake Proofing

Cartas de Controle e Anlise de


Capabilidade

Preferencial

Recomendvel
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Inspeo 100%

Conteno (85% eficaz)

Formulrio

Detalhes sobre o
mtodo de
controle
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Formulrio

Plano de Reao

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Exemplos

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Exemplos

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Interface com outros documentos


Fluxograma de Processo

PFMEA

Plano de Controle
Op. 30
Colocar
gua na
cuia

Cevar a
erva

Queimar a
erva

Gosto
amargo

gua muito
quente

Chiado
da
chaleira

Experiment
ar
chimarro

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Folhas
de
Processo

Controle Estatstico de Processos CEP


Controle Estatstico de Processo (Statistical Process Control

SPC).
Definio: mtodo preventivo de se comparar, continuamente,

os resultados de um processo com referenciais, identificando a


partir de dados estatsticos as tendncias para variaes
significativas, a fim de eliminar ou controlar essas variaes;
Objetivo: reduzir a variabilidade de um processo atravs da

eliminao das causas especiais de variao.

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Conceitos Bsicos
Variao;

Distribuio Normal;
Causas Especiais e Causas Comuns;
Controle estatstico.

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Variao (Disperso)

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Medidas de Variao
Amplitude (A ou R):

R = Maior leitura menor leitura


Desvio padro (s):informa quanto os dados

esto dispersos em torno da mdia. Para


variaes pequenas o desvio padro
pequeno.
2

x
1

i
2

S
x

i
n 1
n

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Distribuio Normal

Desvio
Padro
Mdia

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Tipos de Variao
Aleatria:
Inerentes ao processo;
Podem ser eliminadas
somente atravs de
melhorias no
processo;
Tipicamente 15% dos
problemas;
Causas comuns.

No Aleatria:
Devido a razes
identificveis
(assinalveis);
Podem ser eliminadas
atravs de aes do
operador ou da
gerncia;
Tipicamente 85% dos
problemas;
Causas especiais.

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Causas comuns x Causas especiais

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Variabilidade e Previsibilidade
Todos os processos

tm variao... Mas
somente variao
devido a causas
comuns previsvel.
Um processo est sob
controle estatstico
quando somente
causas comuns esto
presentes.

Processo sob ao de
causas comuns

Processo sob ao de
causas especiais

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Controle de Processo
Processo sob controle:
Causas especiais eliminadas
Presena somente de causas comuns de variao
Processo estvel
Processo previsvel
Processo fora de controle:
Presena de causas especiais
Processo instvel
Implementao de
Processo no previsvel
Controle de Processo

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Grfico de Controle
Causa
Especial

LSE
LSC

Mdia

Grficos de
controle mostram
a variao do
processo ao
longo do tempo

LIC
LIE
1

Nmero da Amostra
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10

Cartas de Controle: objetivo

Identificar causas especiais


de variao.

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Principais Tipos de Cartas de Controle


Dados Tipo Atributos

Para itens defeituosos (carta p)


Para defeitos (carta c)

Dados Tipo Variveis

X e AM (individuais e amplitude mvel)


X e R (mdia e amplitude)

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Cartas: apresentao
Composta de dois grficos:
Grfico das mdias (X) ou dos valores
individuais (I)

Mostram a localizao do processo


Tipicamente possuem Limites Inferiores e
Superiores de Controle (LIC / LSC)

Grfico das amplitudes (R) ou amplitude

mvel (mR)

Mostram a variao (dispero) do processo


Possuem somente Limite Superior de
Controle (LSC)
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Processo Estvel = Sob Controle


Histograma: fotografia
do processo

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Carta de controle:
comportamento ao longo
do tempo

Determinao dos Limites de Controle


Limites para grfico Xbar

x1 + x2 + ... xk
=
x=
k
=
LSC = x + A2R

=
LIC = x - A2R

Onde:

Aproximadamente igual a 3
Desvios Padro

=
x = mdia das mdias das amostras

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Critrios para identificao de causas especiais nas


cartas de controle

8 ou mais pontos acima ou abaixo


da Linha Central
Possveis causas:
Mudana no ajuste de mquina
Processo, mtodo ou material diferente
Avaria de um componente na mquina
Quebra de mquina
Grande variao no material recebido

6 ou mais pontos Subindo ou


Descendo
Possveis causas:
Desgaste de Ferramenta
Gradual desgaste do equipamento
Desgaste relacionado ao
instrumento de medio

Pontos fora dos Limites de Controle


Possveis causas:
Erro na medio ou digitao
Quebra de ferramenta
Instrumento de medio desregulado
Operador no consegue identificar a medida

Deslocamento da Mdia
Possveis causas:
Novo Mtodo
Nova Mquina
Melhoria de Qualidade
Novo Lote de Material

Periodicidade dos Pontos


Possveis causas:
No-uniformidade na matria-prima recebida
Rodzio de Operadores, Gabaritos e
instrumentos
Diferena entre turnos
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Processo Instvel = Fora de Controle


Presena de causas
especiais

Presena de causas
especiais

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Exemplos
Criao de uma carta:

Virtual Machine
Formulrio Carta de Controle
Exemplo 1
Exemplo 2

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Seleo de Cartas de Controle

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Capabilidade de Processo - Conceitos

Tolerncias: especificaes de engenharia que representam requisitos do


produto.
Capabilidade do Processo: representa o melhor desempenho do processo e
determinada pela variao das causas comuns. Isso demonstrado quando o
processo est sendo operado sob controle estatstico.

A capabilidade potencial do processo (Cp) a entre tolerncia e a


variabilidade do processo.
A capabilidade efetiva do processo (Cpk) mede a localizao da variao do
processo com relao aos limites de especificao. a condio real de
operao do processo. Considera a variao dentro dos subgrupos sc (desvio
padro estimado por Rbar/d2) estudo de curto prazo.

Desempenho do Processo: representa o desempenho geral do processo


considerando todas as variaes presentes.

O desempenho potencial e efetivo do processo (Pp/Ppk) tem conceito similar


ao da capabilidade, porm utiliza a variao entre os subgrupos sp, que a
variao total do processo (desvio padro amostral s longo prazo.

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Clculo da Capabilidade do Processo

ndice de Capabilidade Potencial


do Processo
Amplitude da tolerncia
Cp = Amplitude do processo
LSE LIE
Cp =
6sc
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Onde:_
sc = R
d2

Calculando Cp
Exemplo:
Dimenso = 9,0mm 0.5mm
Mdia do processo = 8,80 mm
Amplitude mdia = 0,33 mm
Tamanho da amostra = 5

LSE LIE

Cp =

6sc

Onde:_
sc = R
d2

9.5 - 8.5
= 1,17
Cp =
6 (0,33/2,326)
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Clculo da Capabilidade do Processo


ndice de Capabilidade efetiva
do Processo
_

Cpk = mnimo

x - LIE
LSE - x
;
3sc
3sc
Onde:_
sc = R
d2
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Calculando Cpk
Exemplo:
Dimenso = 9,0mm 0.5mm
Mdia do processo = 8,80 mm
Amplitude mdia = 0,33 mm
Tamanho da amostra = 5
_

Cpk = mnimo

x - LIE
LSE - x
;
3sc
3sc
0,70

Cpk = mnimo

8.80 - 8.50
3 (0,33/2,326)
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1,64

9.50 - 8.80
3 (0,33/2,326)

= 0,70

Representao da Capabilidade

Cp = 1,17
Cpk = 0,70
LIE

8,5

LSE

_
X

9,0

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9,5

Processos capazes e no capazes


Limites de
Especificao

(a) Variao natural


excede os limites de
especificao; processo
no capaz de atender
as especificaes o tempo
todo.
Processo
Limites de
Especificao

(b) Limites de especificao e


variao natural so iguais;
processo capaz de atender
as especificaes a maior
parte do tempo.
Processo
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Processos capazes e no capazes


Limites de
Especificao

(c) Limites de especificao


maiores que a variao
natural do processo; o
processo capaz de
atender a especificao
ao longo do tempo.
Processo

(d) Limites de especificao


maiores que a a variao natural
do processo, mas o processo
est descentralizado. Processo
capaz mas alguns resultados
no vo atender o limite
superior de especificao.

Limites de
Especificao

Processo
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Anlise da capabilidade
Cp < 1: a capabilidade do

processo inadequada
tolerncia exigida.
1 Cp 1,33: a
capabilidade do processo
est em torno da diferena
entre as especificaes.
Cp > 1,33: a capacidade do
processo adequada
tolerncia exigida (resta 30%
de folga na tolerncia).

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Desempenho do Processo
ndice de Desempenho Potencial
do Processo
Amplitude da tolerncia
Pp = Amplitude do processo
LSE LIE
Pp =
6sp
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Onde: sp = s

Resultados da Anlise de Capabilidade

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