Revista de Investigacin de Fsica 14, 111401752 (2011)

Interferometra ptica para medidas de traslacin piezoelctrica

Albert Reyna Ocas1 , Ilich Contreras Verstegui1 y Whualkuer Lozano Bartra1,2
Laboratorio de ptica No Lineal, Facultad de Ciencias Fsicas, Universidad Nacional Mayor de San
Marcos, Ap. Postal 14-0149, Lima, Per
2
Facultad de Ciencias Naturales y Matemtica, Universidad Nacional del Callao, Bellavista, Callao,
Per

Recibido 2 abril 2011 Aceptado 28 junio 2011

En este trabajo usamos un simple interfermetro de Michelson para caracterizar la deformacin de un

material piezoelctrico en funcin del voltaje y la frecuencia aplicada. Se obtuvieron los parmetros
de los factores de calidad del piezoelctrico, tales como, la frecuencia de resonancia, la constante de
amortiguamiento y el factor de mrito, modelando su comportamiento como un oscilador forzado.
Palabras claves: Interfermetro de Michelson, piezoelectricidad, oscilador forzado.

Optical interferometry for piezoelectric translation measurements

In this work we used a simple Michelson interferometer to characterize the deformation of a piezoelectric material in function of voltage and frequency. We obtained the piezoelectric quality factors
parameters, such as, the resonance frequency, the damping constant and the quality factor by simulating its behaviour like a driven oscillator.
Keywords: Michelson interferometry, piezoelectricity, forced oscillator.

versatil para realizar mediciones precisas sin perturbar

las mismas por el contacto fsico entre el aparato de
medicin y la muestra [3].
En este trabajo presentamos los resultados experimentales de mediciones de desplazamiento de un material piezoelctrico en funcin de la frecuencia y voltaje
aplicado y determinamos la frecuencia de resonancia y
el factor de mrito del material usando un interfermetro bsico de Michelson.

Introduccin
Las tcnicas de triangulacin en los sistemas de
tiempo de vuelo son mtodos no coherentes para mediciones de distancia en el orden de los milmetros. Sin
embargo, desde la invencin del lser en 1960, se ha
usado esta radiacin de gran coherencia para mediciones de distancia en la escala nanomtrica. Esta herramienta ptica como unidad fundamental de medida sigue siendo la base de la metrologa ptica [1], disciplina que consiste de una gran variedad de tcnicas de
medicin que permite caracterizar los desplazamientos
de dispositivos de translacin desde resolucin micromtrica hasta nanomtrica basados en el fenmeno de
interferencia ptica. Mediciones rigurosas de gran resolucin son exigidas y demandadas por la industria para
la calibracin de mquinas, herramientas, sistemas de
topografa, robtica, etc. [2], por tanto, se han desarrollado varios mtodos de medicin, basados en la interferencia de radiaciones de mltiples longitudes de onda o
interferencia de luz blanca, para realizar mediciones y
verificaciones de distancias absolutas. La interferometra ptica se caracteriza por ser la herramienta ms

Teora
Albert Abraham Michelson dise el interfermetro para medir conjuntamente con Edward Morley el
movimiento del ter respecto al movimiento de la tierra [4]. Las medidas de la velocidad de la luz obtenidas
con la extrema resolucin de este instrumento permiti
deducir la no existencia del ter. Desde entonces, este
dispositivo se ha convertido en uno de los instrumentos
ms difundidos para las mediciones de desplazamientos
muy pequeos. La implementacin del lser dentro de
este aparato hizo posible realizar mediciones precisas
del orden de /2. El fenmeno de interferencia produce

whualkuer@yahoo.com.br

Rev. Inv. Fis. 14, 111401752 (2011)

un patrn de imgenes oscuras y brillantes a las que

llamamos franjas de interferencia destructiva y constructiva, respectivamente, las cuales son el resultado de
la superposicin de dos frentes de onda [5, 6], donde las
intensidades del campo elctrico de las ondas reflejadas y transmitidas con frecuencias en un punto de
interferencia P se expresan como
E1

E0 sen(t) ,

(1)

E2

E0 sen(t + ) ,

(2)

con una diferencia de fase que depende de la diferencia de camino ptico = 2x(t) recorridas por las
ondas reflejadas y transmitidas como se muestran en la
Fig.(1), segn la relacin
=

2
2
=
2x(t) ,

(3)

donde es la longitud de onda del lser.

Debido a que el piezoelctrico responde a una seal
sinusoidal suministrada por un generador de funciones a
una frecuencia de excitacin f0 , el desplazamiento x(t)
del material piezoelctrico, viene expresado por
x(t) = A sen(2f0 t) ,

(4)

donde A es la amplitud del desplazamiento. De acuerdo

a las ecuaciones (1), (2) y al principio de superposicin,
la intensidad del campo elctrico resultante en un punto
P est definido como


 

sen t +
.
(5)
Ep = 2E0 cos
2
2
Debido a que la intensidad de una onda es proporcional al cuadrado de la amplitud resultante del campo
elctrico en el punto de interferencia, tenemos que
 



2
2
2
2
I E0 = 4E0 cos
sen t +
.
(6)
2
2
Por lo tanto, usando las ecuaciones (3), (4) y (6) obtenemos la intensidad promedio en funcin del tiempo
en el punto P ,


2
A sen (2f0 t) .
(7)
I(t) = I0 cos2

Posteriormente, para analizar la curva de resonancia del material piezoelctrico, se recurre a un modelo
mecnico de un oscilador armnico forzado con amortiguamiento cuyo desplazamiento se describe mediante
la ecuacin diferencial
m
x + m x +

m02 x

= F cos (t) ,

(8)

donde 0 es la frecuencia natural de oscilacin del material piezoelctrico, es la frecuencia de la seal inyectada, m es la masa de la parte mvil del piezoelctrico

y F es la fuerza que se ejerce sobre el mismo. Una solucin particular de la Ec.(7) es dada tambin por la
Ec.(3). Luego de un desarrollo matemtico escribimos
la amplitud de oscilacin del material piezoelctrico como
1
1 F
q
(9)
A() =

2 ,
4 2 m
(02 2 )2 +
2

donde 0 es la frecuencia de resonancia, = /2 es el

coeficiente de amortiguamiento que define la calidad o
agudeza de la curva de resonancia y Q = 0 /2 es el
factor de mrito. La razn F/m define la amplitud de
la curva Lorentziana.

Resultados y discusin
En la figura 1, se aprecia un esquema del interfermetro de Michelson. Los brazos usados en el experimento fueron de 15 cm de longitud aproximadamente.
Usamos como fuente de luz, un lser de He-Ne de longitud de onda en 633 nm y 5.0 mW de potencia media. La
luz del lser fue dividida por un divisor de haz 50:50 hacia los espejos recubiertos de plata en primera fase M1 y
M2 . El espejo M1 es adherido al material piezoelctrico
que, tambin, est conectado a un generador de funciones Tektronix AFG310. La seal resultante debido a la
interferencia de estos dos haces es llevada directamente
a un detector rpido DET100A de la empresa Thorlabs
el cual est conectado a un osciloscopio digital Tektronix TDS1002, y este a un computador personal para la
adquisicin de datos.
Generador de
Funciones

Espejo M1
(Piezoelctrico)

Compensador

Espejo
M2

Divisor de Haz
Osciloscopio

Foto detector

xxx
xxx
Computador

Figura 1: Esquema del interfermetro de Michelson.

La figura 2 muestra la traslacin del material piezoelctrico en funcin del voltaje aplicado, donde la lnea
roja punteada son los puntos mostrando las oscilaciones
experimentales de las franjas de interferencia segn el

Rev. Inv. Fis. 14, 111401752 (2011)

Experimental
Terico

9
8
7
6
5
4

f =100Hz
25
20

15
10

5
0
0,2

0,4

0,6

0,8

1,0

1,2

1,4

1,6

Voltaje (V)

2
1

Figura 4: Dependencia lineal del desplazamiento del pie-

0
0,0070

0,0075

0,0080

0,0085

0,0090

Tiempo (s)

Figura 2: Las amplitudes de oscilacin del material piezoelctrico en funcin del tiempo.

En la figura 3, mostramos los desplazamientos que

experimenta el material piezoelctrico para voltajes de
0.3 V a 1.5 V para una frecuencia constante de 100
Hz. Tambin realizamos medidas para diferentes valores de la frecuencia, pero manteniendola constante para
el rango de voltajes aplicados 0.3-1.5 V. De esta forma,
pudimos observar que los valores de las amplitudes de
desplazamiento del material piezoelctrico se comportan de manera lineal con respecto al voltaje suministrado, tal como se muestra en la Fig.4.

zoelctrico respecto al voltaje aplicado a la frecuencia de 100

Hz.

Para obtener los puntos experimentales de la frecuencia de resonancia del material piezoelctrico mostrados en azul, se realizaron mediciones variando la frecuencia en un rango de 10.0 a 100.0 Hz, manteniendo
constante la amplitud del generador de funciones para
diferentes valores de frecuencia.

Desplazamiento al cuadrado (nm)

Intensidad (unidades arbitrarias)

10

30

Amplitud del piezoelctrico (Pm)

valor de la amplitud aplicada en el generador de funciones y la lnea slida azul es el ajuste terico obtenido a
partir de la Ec.(6).

60
50
40
30
20
10

Amplitud del Piezoelctrico (Pm)

30

0
0,000

1,50 V
25

0,002

0,004

0,006

0,008

0,010

Frecuencia al cuadrado (kHz)

Figura 5: Determinacin de la frecuencia natural del ma-

20

1,00 V

terial piezoelctrico.

15

0,70 V
10

0,50 V
5

0,30 V

0
1,260

1,265

1,270

1,275

1,280

1,285

Tiempo (s)

Figura 3: Desplazamientos del material piezoelctrico desde 0.30 V hasta 1.5 V para una frecuencia constante de 100
Hz.

En la Fig. 5, podemos observar que el valor experimental de la frecuencia de resonancia promedia es 53.0
Hz. Se observ que la amplitud de desplazamiento del
material piezoelctrico aumentaba cuando la frecuencia
se aproximaba a la frecuencia de resonancia y disminuye cuando la frecuencia se alejaba de la frecuencia de
resonancia. La lnea roja slida es el ajuste terico de
la funcin lorentziana obtenida a travs de la Ec.(8),
esta curva nos permite estimar el coeficiente de amortiguamiento y el factor de mrito Q con valores de
100.0 2.0 Hz y 3.5 0.4 del material piezoelctrico,

Rev. Inv. Fis. 14, 111401752 (2011)

respectivamente. Para analizar el comportamiento de la

amplitud del piezoeltrico con respecto a la frecuencia,
realizamos mediciones de la frecuencia desde 10.0 Hz
hasta 1.0 kHz, tal como se muestra en la Fig. 6.

lo que inferimos que para valores mayores de 400 Hz la

amplitud de desplazamiento del material piezoelctrico
es aproximadamente constante.

Conclusiones
Amplitud del piezoelctrico (Pm)

60
f
f
f
f
f
f

50
40

=
=
=
=
=
=

150 Hz
170 Hz
200 Hz
400 Hz
600 Hz
1 000 Hz

30
20
10
0
0

10

12

Voltaje (V)

Figura 6: Respuesta lineal del material piezoelctrico a

diferentes frecuencias.

Aqu se observa que, para valores lejanos de la frecuencia de resonancia la amplitud de desplazamiento de
material piezoelctrico no varia significativamente. Por

Referencias
[1] Richard K. Leach, Fundamental Principles of
Engineering Nanometrology, Elsevier, Amsterdam
(2010).

La medicin experimental de los valores de la amplitud de desplazamiento de un material piezoelctrico

han sido obtenidos para diferentes valores de voltaje y
hemos observado que para frecuencias mayores a 400 Hz
la amplitud de desplazamiento del material piezoelctrico es constante. Observamos, tambin, que el valor
de la frecuencia de resonancia y factor de mrito para un altavoz de 6 pulgadas puede ser simulado por
el modelo del oscilador oscilador armnico forzado con
amortiguamiento. Por su simplicidad, este experimento
de enseanza es adecuado para ser implementado en un
curso de laboratorio de ptica moderna para estudiantes de pregrado.

Agradecimientos
Este trabajo fue parcialmente financiado por el Vicerrectorado Acadmico y por el Vicerrectorado de Investigacin, a travs del Consejo Superior de Investigacin de la UNMSM.

electrnica de patrones de moteado. Departamento

de Metrologa ptica, Centro de Investigaciones en
ptica, Len, Mxico y Centro de Investigacin en
Matemticas, Guanajuato, Mxico.

[2] Hernn M. Miranda, Martn Coronel, Jorge R. Torga, Caracterizacin de desplazamientos en un sistema de translacin por mtodos pticos. IV Conferencia Panamericana de Ensayos No Destructivos,
Buenos Aires (2007).

[4] A. Michelson, H. Lorentz, The Astrophysical Journal, LXVII, 5 (1928).

[3] R. Rodrguez, J. Rayas, A. Martnez, A. Dvila. Algunas aplicaciones industriales de la interferometra

[6] Eugene Hecht, ptica, Addison Wesley Iberoamericana, Madrid (2000).

[5] Mara L. Calvo, ptica Avanzada, Editorial Ariel

Ciencia, Barcelona (2002).